JP2001091612A - 磁界強度センサとセンサが組込まれた非接触磁気式計測装置 - Google Patents
磁界強度センサとセンサが組込まれた非接触磁気式計測装置Info
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- JP2001091612A JP2001091612A JP26778399A JP26778399A JP2001091612A JP 2001091612 A JP2001091612 A JP 2001091612A JP 26778399 A JP26778399 A JP 26778399A JP 26778399 A JP26778399 A JP 26778399A JP 2001091612 A JP2001091612 A JP 2001091612A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 広い温度範囲に亘り温度補償可能な(すなわ
ち温度誤差が解消された)磁界強度センサと非接触磁気
式計測装置を提供すること。 【解決手段】 この磁界強度センサ10は、外部磁界Hex
に対応した電気信号を出力する磁界検出素子11と、磁界
検出素子の近傍に設けられ検出しようとする外部磁界と
同等の強さの磁界を発生できる磁界発生用コイル12と、
入力側に磁界検出素子が接続され出力側に磁界発生用コ
イルが接続されると共に磁界検出素子からの電気信号を
増幅して磁界発生用コイルに対し外部磁界と逆向きの磁
界が発生する方向に電流を流すアンプ13とでその主要部
が構成されることを特徴とする。また非接触磁気式計測
装置は、上記磁界強度センサが組込まれていることを特
徴とする。
ち温度誤差が解消された)磁界強度センサと非接触磁気
式計測装置を提供すること。 【解決手段】 この磁界強度センサ10は、外部磁界Hex
に対応した電気信号を出力する磁界検出素子11と、磁界
検出素子の近傍に設けられ検出しようとする外部磁界と
同等の強さの磁界を発生できる磁界発生用コイル12と、
入力側に磁界検出素子が接続され出力側に磁界発生用コ
イルが接続されると共に磁界検出素子からの電気信号を
増幅して磁界発生用コイルに対し外部磁界と逆向きの磁
界が発生する方向に電流を流すアンプ13とでその主要部
が構成されることを特徴とする。また非接触磁気式計測
装置は、上記磁界強度センサが組込まれていることを特
徴とする。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ホール素子、磁気
抵抗素子等の磁界検出素子を用いた磁界強度センサとこ
の磁界強度センサが組込まれた非接触磁気式ポテンショ
メータ、エンコーダ等の非接触磁気式計測装置に係り、
特に、広い温度範囲に亘り温度補償可能な(すなわち、
温度誤差が解消された)磁界強度センサと非接触磁気式
計測装置に関するものである。
抵抗素子等の磁界検出素子を用いた磁界強度センサとこ
の磁界強度センサが組込まれた非接触磁気式ポテンショ
メータ、エンコーダ等の非接触磁気式計測装置に係り、
特に、広い温度範囲に亘り温度補償可能な(すなわち、
温度誤差が解消された)磁界強度センサと非接触磁気式
計測装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】磁界強度を検出する簡便で安価な方法と
して、従来、ホール素子や磁気抵抗素子を用いる方法が
広く利用されている。この方法は、上記ホール素子が磁
界の強さに応じて電圧を発生させる機能、および、磁気
抵抗素子が磁界の強さに応じてその電気抵抗を変化させ
る機能を用いたものである。
して、従来、ホール素子や磁気抵抗素子を用いる方法が
広く利用されている。この方法は、上記ホール素子が磁
界の強さに応じて電圧を発生させる機能、および、磁気
抵抗素子が磁界の強さに応じてその電気抵抗を変化させ
る機能を用いたものである。
【0003】また、ホール素子や磁気抵抗素子のこれ等
機能を利用し、永久磁石と組合わせることで、回転角、
距離等の変化量、あるいは、回転速度、移動速度等の変
化速度を非接触で計測する非接触磁気式ポテンショメー
タやエンコーダ等の非接触磁気式計測装置を構成させる
ことができる。
機能を利用し、永久磁石と組合わせることで、回転角、
距離等の変化量、あるいは、回転速度、移動速度等の変
化速度を非接触で計測する非接触磁気式ポテンショメー
タやエンコーダ等の非接触磁気式計測装置を構成させる
ことができる。
【0004】図8〜図11はこれ等非接触磁気式計測装
置の概略構成を示すものである。
置の概略構成を示すものである。
【0005】すなわち、ロータリー型非接触磁気式ポテ
ンショメータは、図8に示すように、ハンドル、アクセ
ル(図示せず)等計測対象における回転軸の角度変位が
伝達される回転棒1と、この回転棒1に装着され一方の
半円部がN極、他方の半円部がS極である円盤形状の永
久磁石2と、この永久磁石2の近傍に配置されたホール
素子、磁気抵抗素子等の磁界検出素子3とでその主要部
が構成されている。
ンショメータは、図8に示すように、ハンドル、アクセ
ル(図示せず)等計測対象における回転軸の角度変位が
伝達される回転棒1と、この回転棒1に装着され一方の
半円部がN極、他方の半円部がS極である円盤形状の永
久磁石2と、この永久磁石2の近傍に配置されたホール
素子、磁気抵抗素子等の磁界検出素子3とでその主要部
が構成されている。
【0006】そして、計測対象における回転軸の角度変
位が伝達される回転棒1の回転に伴い上記磁界検出素子
3と永久磁石2との位置関係が変化し、かつ、この位置
関係の変化に起因して磁界検出素子3により検出される
磁界強度も変化するため、上記磁界検出素子3からの出
力信号に基づきハンドル、アクセル等計測対象の変化量
(回転角)、変化速度(回転速度)の計測が可能とな
る。
位が伝達される回転棒1の回転に伴い上記磁界検出素子
3と永久磁石2との位置関係が変化し、かつ、この位置
関係の変化に起因して磁界検出素子3により検出される
磁界強度も変化するため、上記磁界検出素子3からの出
力信号に基づきハンドル、アクセル等計測対象の変化量
(回転角)、変化速度(回転速度)の計測が可能とな
る。
【0007】尚、円盤形状の永久磁石2に代えて、図9
に示すようにその厚み寸法が回転方向に亘り連続的に変
化する永久磁石4が組込まれたロータリー型非接触磁気
式ポテンショメータも知られている。
に示すようにその厚み寸法が回転方向に亘り連続的に変
化する永久磁石4が組込まれたロータリー型非接触磁気
式ポテンショメータも知られている。
【0008】また、直線型非接触磁気式ポテンショメー
タは、一点鎖線で示す方向へ直線変位する計測対象(図
示せず)に取付けられたホール素子、磁気抵抗素子等の
磁界検出素子5と、計測対象の変位方向に亘り配置され
かつその厚み寸法が連続的に変化する帯状の永久磁石6
とでその主要部が構成されている(図10参照)。
タは、一点鎖線で示す方向へ直線変位する計測対象(図
示せず)に取付けられたホール素子、磁気抵抗素子等の
磁界検出素子5と、計測対象の変位方向に亘り配置され
かつその厚み寸法が連続的に変化する帯状の永久磁石6
とでその主要部が構成されている(図10参照)。
【0009】そして、この直線型非接触磁気式ポテンシ
ョメータにおいても、計測対象の変位に伴い上記磁界検
出素子5と永久磁石6との間の距離(d1、d2)が変
化し、かつ、この変化に起因して磁界検出素子5により
検出される磁界強度も変化するため、上記磁界検出素子
5からの出力信号に基づき計測対象の変化量(距離)、
変化速度(移動速度)の計測が可能となる。
ョメータにおいても、計測対象の変位に伴い上記磁界検
出素子5と永久磁石6との間の距離(d1、d2)が変
化し、かつ、この変化に起因して磁界検出素子5により
検出される磁界強度も変化するため、上記磁界検出素子
5からの出力信号に基づき計測対象の変化量(距離)、
変化速度(移動速度)の計測が可能となる。
【0010】尚、帯状の永久磁石6に代えて、図11に
示すようにその厚み寸法は一定で幅寸法が長さ方向に亘
り連続的に変化する永久磁石7を組込んだ直線型非接触
磁気式ポテンショメータも知られている。
示すようにその厚み寸法は一定で幅寸法が長さ方向に亘
り連続的に変化する永久磁石7を組込んだ直線型非接触
磁気式ポテンショメータも知られている。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】ところで、これ等非接
触磁気式ポテンショメータ、エンコーダ等の非接触磁気
式計測装置は、接触型の計測装置と比較して、非接触で
あるために動作寿命が長く、回転トルクあるいはフリク
ションも小さく、高速応答性に優れ、摺動アークの発生
がなく防爆性がある等の長所を有しているが、その反
面、以下のような欠点も有していた。
触磁気式ポテンショメータ、エンコーダ等の非接触磁気
式計測装置は、接触型の計測装置と比較して、非接触で
あるために動作寿命が長く、回転トルクあるいはフリク
ションも小さく、高速応答性に優れ、摺動アークの発生
がなく防爆性がある等の長所を有しているが、その反
面、以下のような欠点も有していた。
【0012】すなわち、上記ホール素子、磁気抵抗素子
等の磁界検出素子は大きな温度依存性を有し、これに起
因して磁界検出素子が組込まれた非接触磁気式ポテンシ
ョメータ、エンコーダ等の非接触磁気式計測装置も温度
依存性を有するため、計測精度、すなわち、計測対象の
角度、距離に対する電気信号出力の直線性が劣る問題点
を有していた。
等の磁界検出素子は大きな温度依存性を有し、これに起
因して磁界検出素子が組込まれた非接触磁気式ポテンシ
ョメータ、エンコーダ等の非接触磁気式計測装置も温度
依存性を有するため、計測精度、すなわち、計測対象の
角度、距離に対する電気信号出力の直線性が劣る問題点
を有していた。
【0013】尚、非接触磁気式計測装置の温度特性を補
正する方法として、従来、サーミスターを用いる方法、
磁界検出素子を複数用いる方法等が提案されかつ実用化
されているが、これ等の方法では広い温度範囲に亘り温
度補償をすることは困難で、例えば、ハンドル、アクセ
ル等が設置される自動車内の想定される温度範囲(例え
ばマイナス40℃からプラス125℃)に亘り、温度依
存性を含めた直線性の誤差を±1%以内にすることは困
難であった。
正する方法として、従来、サーミスターを用いる方法、
磁界検出素子を複数用いる方法等が提案されかつ実用化
されているが、これ等の方法では広い温度範囲に亘り温
度補償をすることは困難で、例えば、ハンドル、アクセ
ル等が設置される自動車内の想定される温度範囲(例え
ばマイナス40℃からプラス125℃)に亘り、温度依
存性を含めた直線性の誤差を±1%以内にすることは困
難であった。
【0014】本発明はこの様な問題点に着目してなされ
たもので、その課題とするところは、広い温度範囲に亘
り温度補償可能な(すなわち、温度誤差が解消された)
磁界強度センサと非接触磁気式計測装置を提供すること
にある。
たもので、その課題とするところは、広い温度範囲に亘
り温度補償可能な(すなわち、温度誤差が解消された)
磁界強度センサと非接触磁気式計測装置を提供すること
にある。
【0015】
【課題を解決するための手段】すなわち、請求項1に係
る発明は、磁界検出素子を用いた磁界強度センサを前提
とし、外部磁界に対応した電気信号を出力する磁界検出
素子と、この磁界検出素子の近傍に設けられた磁界発生
用コイルと、入力側に磁界検出素子が接続され出力側に
磁界発生用コイルが接続されると共に上記磁界検出素子
からの電気信号を増幅して磁界発生用コイルに対し上記
外部磁界と逆向きの磁界が発生する方向に電流を流すア
ンプとを備えることを特徴とする。
る発明は、磁界検出素子を用いた磁界強度センサを前提
とし、外部磁界に対応した電気信号を出力する磁界検出
素子と、この磁界検出素子の近傍に設けられた磁界発生
用コイルと、入力側に磁界検出素子が接続され出力側に
磁界発生用コイルが接続されると共に上記磁界検出素子
からの電気信号を増幅して磁界発生用コイルに対し上記
外部磁界と逆向きの磁界が発生する方向に電流を流すア
ンプとを備えることを特徴とする。
【0016】また、請求項2に係る発明は、請求項1記
載の発明に係る磁界強度センサを前提とし、上記磁界発
生用コイルにより発生する磁界の磁界検出素子における
位置での強度Hcoil(A/m)と上記外部磁界強度Hex
(A/m)との関係を示す下記数式4において、1<<
[α(1+β・dT)・k・Aamp]の条件を満たすよ
うに上記アンプの増幅率Aamp(A/V)が設定されて
いることを特徴とする。
載の発明に係る磁界強度センサを前提とし、上記磁界発
生用コイルにより発生する磁界の磁界検出素子における
位置での強度Hcoil(A/m)と上記外部磁界強度Hex
(A/m)との関係を示す下記数式4において、1<<
[α(1+β・dT)・k・Aamp]の条件を満たすよ
うに上記アンプの増幅率Aamp(A/V)が設定されて
いることを特徴とする。
【0017】 Hex={1+1/[α(1+β・dT)・k・Aamp]}・Hcoil (4) 但し、磁界検出素子の感度をα(V・m/A)、その温
度係数をβ(1/℃)、磁界発生用コイルに流れる電流
をi(A)、基準温度と磁界強度検出時の温度差をd
T、および、Hcoil=k・i[kは定数(1/m)]と
する。
度係数をβ(1/℃)、磁界発生用コイルに流れる電流
をi(A)、基準温度と磁界強度検出時の温度差をd
T、および、Hcoil=k・i[kは定数(1/m)]と
する。
【0018】尚、本発明において適用できる磁界検出素
子としては、ホール素子(請求項3)、磁気抵抗素子
(請求項4)等が挙げられる。但し、磁気抵抗素子を適
用した場合、この磁気抵抗素子における感度向上を図る
ため、磁気抵抗素子にバイアス磁界を作用するバイアス
磁界形成手段(永久磁石)を設けることを要する。
子としては、ホール素子(請求項3)、磁気抵抗素子
(請求項4)等が挙げられる。但し、磁気抵抗素子を適
用した場合、この磁気抵抗素子における感度向上を図る
ため、磁気抵抗素子にバイアス磁界を作用するバイアス
磁界形成手段(永久磁石)を設けることを要する。
【0019】次に、請求項5に係る発明は、互いに相対
変位する永久磁石と磁界強度センサを備え、かつ、その
一方が計測対象に取付けられると共に、磁界強度センサ
により検出された永久磁石の磁界強度に基づく出力信号
により上記計測対象の変化量若しくは変化速度を計測す
る非接触磁気式計測装置を前提とし、上記磁界強度セン
サが請求項1〜4のいずれかに記載の磁界強度センサに
より構成されていることを特徴とする。
変位する永久磁石と磁界強度センサを備え、かつ、その
一方が計測対象に取付けられると共に、磁界強度センサ
により検出された永久磁石の磁界強度に基づく出力信号
により上記計測対象の変化量若しくは変化速度を計測す
る非接触磁気式計測装置を前提とし、上記磁界強度セン
サが請求項1〜4のいずれかに記載の磁界強度センサに
より構成されていることを特徴とする。
【0020】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して詳細に説明する。
て図面を参照して詳細に説明する。
【0021】図1は本発明に係る磁界強度センサ10の
概略構成を示す説明図である。
概略構成を示す説明図である。
【0022】すなわち、この磁界強度センサ10は、外
部磁界(Hex)に対応した電気信号を出力する磁界検出
素子11と、この磁界検出素子11の近傍(例えば、磁
界検出素子11に重ねて、あるいは磁界検出素子11の
隣接部若しくは内部等)に設けられ検出しようとする外
部磁界と同等の強さの磁界を発生させることのできる磁
界発生用コイル12と、入力側に磁界検出素子11が接
続され出力側に磁界発生用コイル12が接続されると共
に上記磁界検出素子11からの電気信号を増幅して磁界
発生用コイル12に対し外部磁界と逆向きの磁界が発生
する方向に電流を流すアンプ13とでその主要部が構成
されている。
部磁界(Hex)に対応した電気信号を出力する磁界検出
素子11と、この磁界検出素子11の近傍(例えば、磁
界検出素子11に重ねて、あるいは磁界検出素子11の
隣接部若しくは内部等)に設けられ検出しようとする外
部磁界と同等の強さの磁界を発生させることのできる磁
界発生用コイル12と、入力側に磁界検出素子11が接
続され出力側に磁界発生用コイル12が接続されると共
に上記磁界検出素子11からの電気信号を増幅して磁界
発生用コイル12に対し外部磁界と逆向きの磁界が発生
する方向に電流を流すアンプ13とでその主要部が構成
されている。
【0023】尚、上記磁界検出素子11には上述したホ
ール素子、磁気抵抗素子が一般に適用されるが、ホール
素子、磁気抵抗素子以外にも外部磁界に応じた電気信号
が得られるものであれば適用可能である。また、磁界発
生用コイル12の形状については、電流に比例した磁界
を発生できるものなら任意である。
ール素子、磁気抵抗素子が一般に適用されるが、ホール
素子、磁気抵抗素子以外にも外部磁界に応じた電気信号
が得られるものであれば適用可能である。また、磁界発
生用コイル12の形状については、電流に比例した磁界
を発生できるものなら任意である。
【0024】そして、検出しようとする外部磁界をHex
(A/m)、上記磁界検出素子11の感度をα(V・m
/A)、その温度係数をβ(1/℃)、磁界発生用コイ
ル12に流れる電流をi(A)、磁界発生用コイル12
により発生する磁界の磁界検出素子11における位置で
の強度をHcoil(A/m)=k・i[kは定数(1/
m)]、アンプ13の増幅率をAamp(A/V)、およ
び、基準温度と磁界強度検出時の温度差をdTとする
と、上記磁界強度センサ10において磁界発生用コイル
12に流れる電流iは、以下の数式1により求められ
る。
(A/m)、上記磁界検出素子11の感度をα(V・m
/A)、その温度係数をβ(1/℃)、磁界発生用コイ
ル12に流れる電流をi(A)、磁界発生用コイル12
により発生する磁界の磁界検出素子11における位置で
の強度をHcoil(A/m)=k・i[kは定数(1/
m)]、アンプ13の増幅率をAamp(A/V)、およ
び、基準温度と磁界強度検出時の温度差をdTとする
と、上記磁界強度センサ10において磁界発生用コイル
12に流れる電流iは、以下の数式1により求められ
る。
【0025】 (Hex−Hcoil)・α(1+β・dT)・Aamp=i (1) また、数式1に上記式、Hcoil(A/m)=k・iを代
入すると、 (Hex−Hcoil)・α(1+β・dT)・Aamp・k=Hcoil (2) となる。
入すると、 (Hex−Hcoil)・α(1+β・dT)・Aamp・k=Hcoil (2) となる。
【0026】そして、この数式2から、 Hex・α(1+β・dT)・Aamp・k= [1+α(1+β・dT)・k・Aamp]・Hcoil (3) となり、また、この数式3から、 Hex={1+1/[α(1+β・dT)・k・Aamp]}・Hcoil (4) が導かれる。尚、この数式4から、図1に示した磁界検
出素子11の回路はフィードバックループを構成する。
出素子11の回路はフィードバックループを構成する。
【0027】そして、1<<[α(1+β・dT)・k
・Aamp]の条件を満たすように上記アンプの増幅率Aa
mp(A/V)を十分大きく設定すると、上記数式4か
ら、 Hex=Hcoil=k・i (5) が成り立つ。
・Aamp]の条件を満たすように上記アンプの増幅率Aa
mp(A/V)を十分大きく設定すると、上記数式4か
ら、 Hex=Hcoil=k・i (5) が成り立つ。
【0028】すなわち、数式5から、図1に示した磁界
検出素子11においては磁界検出素子11の感度αや温
度特性(すなわち温度係数β)に依存せず、磁界発生用
コイル12に流れる電流iが検出しようとする外部磁界
(Hex)に比例することになる。従って、磁界発生用コ
イル12に流れる電流iを検出しこれに定数kを掛ける
(すなわち、k・i)ことにより、精度よく外部磁界を
検出(測定)することが可能となる。
検出素子11においては磁界検出素子11の感度αや温
度特性(すなわち温度係数β)に依存せず、磁界発生用
コイル12に流れる電流iが検出しようとする外部磁界
(Hex)に比例することになる。従って、磁界発生用コ
イル12に流れる電流iを検出しこれに定数kを掛ける
(すなわち、k・i)ことにより、精度よく外部磁界を
検出(測定)することが可能となる。
【0029】
【実施例】以下、本発明の実施例について具体的に説明
する。
する。
【0030】[実施例1]この実施例は、ホール素子を
用いて図2に示すような磁界強度センサを構成してい
る。
用いて図2に示すような磁界強度センサを構成してい
る。
【0031】すなわち、この磁界強度センサ20は、外
部磁界(Hex)に対応した電気信号を出力するホール素
子21と、このホール素子21の近傍に設けられ検出し
ようとする外部磁界と同等の強さの磁界を発生させるこ
とのできる磁界発生用コイル22と、入力側にホール素
子21が接続され出力側に磁界発生用コイル22が接続
されると共に上記ホール素子21からの電気信号を増幅
して磁界発生用コイル22に対し外部磁界と逆向きの磁
界が発生する方向に電流を流すアンプ23とでその主要
部が構成されている。尚、図2中、24は電流検出抵
抗、25は電圧測定端子(電圧計)を示している。ま
た、電圧測定端子(電圧計)での出力信号をEとする。
部磁界(Hex)に対応した電気信号を出力するホール素
子21と、このホール素子21の近傍に設けられ検出し
ようとする外部磁界と同等の強さの磁界を発生させるこ
とのできる磁界発生用コイル22と、入力側にホール素
子21が接続され出力側に磁界発生用コイル22が接続
されると共に上記ホール素子21からの電気信号を増幅
して磁界発生用コイル22に対し外部磁界と逆向きの磁
界が発生する方向に電流を流すアンプ23とでその主要
部が構成されている。尚、図2中、24は電流検出抵
抗、25は電圧測定端子(電圧計)を示している。ま
た、電圧測定端子(電圧計)での出力信号をEとする。
【0032】そして、25℃、−40℃、125℃にお
いて、外部磁界(Hex)を0〜16kA/mまで変化さ
せ、外部磁界に対する信号の直線性を測定した。
いて、外部磁界(Hex)を0〜16kA/mまで変化さ
せ、外部磁界に対する信号の直線性を測定した。
【0033】すなわち、25℃、16kA/mにおけ
る、E/Hex=k(上記数式5に基づく)を基準とし、
25℃(温度条件は25℃であるが外部磁界が16kA
/m以外の場合)、−40℃、125℃におけるk値の
誤差の絶対値を%で計算した。
る、E/Hex=k(上記数式5に基づく)を基準とし、
25℃(温度条件は25℃であるが外部磁界が16kA
/m以外の場合)、−40℃、125℃におけるk値の
誤差の絶対値を%で計算した。
【0034】その結果、k値の誤差は、25℃で最大
0.25%、−40℃で最大0.5%、125℃で最大
0.4%となった。
0.25%、−40℃で最大0.5%、125℃で最大
0.4%となった。
【0035】[実施例2]この実施例に係る磁界強度セ
ンサ30は、図3に示すようにホール素子に代えて2つ
の磁気抵抗素子31、32が適用されている点を除き、
実施例1に係る磁界強度センサ20と略同一である。
ンサ30は、図3に示すようにホール素子に代えて2つ
の磁気抵抗素子31、32が適用されている点を除き、
実施例1に係る磁界強度センサ20と略同一である。
【0036】尚、図3中、33は磁界発生用コイル、3
4はアンプ、35は電流検出抵抗、36は電圧測定端子
(電圧計)、37はバイアス磁界形成手段としての永久
磁石を示している。
4はアンプ、35は電流検出抵抗、36は電圧測定端子
(電圧計)、37はバイアス磁界形成手段としての永久
磁石を示している。
【0037】また、この磁界強度センサ30においてバ
イアス磁界形成手段としての永久磁石37が設けられて
いるのは以下の理由による。すなわち、磁気抵抗素子の
磁界検出素子が適用された場合、図4に示すように外部
磁界の強度は求められるもののその磁界の方向が求めら
れないため(磁気抵抗素子は磁界の強さに応じて電気抵
抗が変化する性質を備えているに過ぎないため)、磁気
抵抗素子31、32にバイアス磁界(HB)を作用する
永久磁石37を設けて磁界の向きについても検出可能に
する(すなわち、磁気抵抗素子31、32の感度向上を
図る)ためである。
イアス磁界形成手段としての永久磁石37が設けられて
いるのは以下の理由による。すなわち、磁気抵抗素子の
磁界検出素子が適用された場合、図4に示すように外部
磁界の強度は求められるもののその磁界の方向が求めら
れないため(磁気抵抗素子は磁界の強さに応じて電気抵
抗が変化する性質を備えているに過ぎないため)、磁気
抵抗素子31、32にバイアス磁界(HB)を作用する
永久磁石37を設けて磁界の向きについても検出可能に
する(すなわち、磁気抵抗素子31、32の感度向上を
図る)ためである。
【0038】そして、この磁界強度センサ30におい
て、上記k値の誤差は、25℃で最大0.12%、−4
0℃で最大0.2%、125℃で最大0.15%となっ
た。
て、上記k値の誤差は、25℃で最大0.12%、−4
0℃で最大0.2%、125℃で最大0.15%となっ
た。
【0039】尚、この実施例においては2つの磁気抵抗
素子31、32が適用されているが、一方の磁気抵抗素
子(すなわち磁気抵抗素子31)については普通の抵抗
素子に代えてもよい。
素子31、32が適用されているが、一方の磁気抵抗素
子(すなわち磁気抵抗素子31)については普通の抵抗
素子に代えてもよい。
【0040】[実施例3]この実施例は、実施例2の磁
界強度センサ30を組込んで図5(A)に示すようなロ
ータリー型非接触磁気式ポテンショメータ40を構成し
ている。
界強度センサ30を組込んで図5(A)に示すようなロ
ータリー型非接触磁気式ポテンショメータ40を構成し
ている。
【0041】すなわち、このロータリー型非接触磁気式
ポテンショメータ40は、計測対象(図示せず)におけ
る回転軸の角度変位が伝達される回転棒1と、この回転
棒1に装着され一方の半円部がN極、他方の半円部がS
極である円盤形状の永久磁石41と、この永久磁石41
の近傍に配置された磁界強度センサ30とでその主要部
が構成されいる。
ポテンショメータ40は、計測対象(図示せず)におけ
る回転軸の角度変位が伝達される回転棒1と、この回転
棒1に装着され一方の半円部がN極、他方の半円部がS
極である円盤形状の永久磁石41と、この永久磁石41
の近傍に配置された磁界強度センサ30とでその主要部
が構成されいる。
【0042】尚、図5(B)は、このロータリー型非接
触磁気式ポテンショメータ40における角度変位(θ)
と信号出力(E)との関係を示すグラフ図である。
触磁気式ポテンショメータ40における角度変位(θ)
と信号出力(E)との関係を示すグラフ図である。
【0043】また、上記永久磁石41の材料としては温
度係数の小さなアルニコ磁石が適用され、更に整磁材料
を用いることで永久磁石41における発生磁界の温度係
数を0.007%/℃としている。
度係数の小さなアルニコ磁石が適用され、更に整磁材料
を用いることで永久磁石41における発生磁界の温度係
数を0.007%/℃としている。
【0044】そして、−40℃、125℃における角度
変位(θ)に対する信号出力(E)の誤差を、25℃に
おける信号出力(E)を基準として測定したところ、−
40℃で+0.65%、125℃で−0.89%の僅か
な誤差が確認された。
変位(θ)に対する信号出力(E)の誤差を、25℃に
おける信号出力(E)を基準として測定したところ、−
40℃で+0.65%、125℃で−0.89%の僅か
な誤差が確認された。
【0045】[比較例1]磁界検出素子としてホール素
子21を適用し、このホール素子21に直列に抵抗29
を入れて温度補正を行なう図6に示すような比較例1に
係る磁界強度センサ20’を作製した。
子21を適用し、このホール素子21に直列に抵抗29
を入れて温度補正を行なう図6に示すような比較例1に
係る磁界強度センサ20’を作製した。
【0046】そして、実施例1と同様な測定を行なった
結果、k値の誤差は、25℃で最大1.3%、−40℃
で最大1.9%、125℃で最大3.4%となった。
結果、k値の誤差は、25℃で最大1.3%、−40℃
で最大1.9%、125℃で最大3.4%となった。
【0047】この結果、比較例1に係る磁界強度センサ
20’に較べて実施例1に係る磁界強度センサ20の優
位性が確認された。
20’に較べて実施例1に係る磁界強度センサ20の優
位性が確認された。
【0048】[比較例2]磁界検出素子として2つの磁
気抵抗素子31、32を適用し、図7に示すような比較
例2に係る磁界強度センサ30’を作製した。
気抵抗素子31、32を適用し、図7に示すような比較
例2に係る磁界強度センサ30’を作製した。
【0049】そして、実施例1と同様な測定を行なった
結果、k値の誤差は、25℃で最大2.3%、−40℃
で最大2.6%、125℃で最大6.7%となった。
結果、k値の誤差は、25℃で最大2.3%、−40℃
で最大2.6%、125℃で最大6.7%となった。
【0050】この結果、比較例2に係る磁界強度センサ
30’に較べて実施例2に係る磁界強度センサ30の優
位性が確認された。
30’に較べて実施例2に係る磁界強度センサ30の優
位性が確認された。
【0051】
【発明の効果】請求項1〜4記載の発明に係る磁界強度
センサによれば、構成部品であるホール素子、磁気抵抗
素子等磁界検出素子の感度や温度特性に依存することな
く外部磁界を検出(測定)できるため、広い温度範囲に
亘り外部磁界強度を高精度で検出(測定)できる効果を
有する。
センサによれば、構成部品であるホール素子、磁気抵抗
素子等磁界検出素子の感度や温度特性に依存することな
く外部磁界を検出(測定)できるため、広い温度範囲に
亘り外部磁界強度を高精度で検出(測定)できる効果を
有する。
【0052】また、請求項5記載の発明に係る非接触磁
気式計測装置によれば、非接触磁気式計測装置に組込ま
れる磁界強度センサが、請求項1〜4に係る磁界強度セ
ンサにより構成されているため、計測対象の変化量若し
くは変化速度について広い温度範囲に亘り高い精度で計
測できる効果を有する。
気式計測装置によれば、非接触磁気式計測装置に組込ま
れる磁界強度センサが、請求項1〜4に係る磁界強度セ
ンサにより構成されているため、計測対象の変化量若し
くは変化速度について広い温度範囲に亘り高い精度で計
測できる効果を有する。
【図1】本発明に係る磁界強度センサの概略構成を示す
説明図。
説明図。
【図2】実施例1に係る磁界強度センサの概略構成を示
す回路説明図。
す回路説明図。
【図3】実施例2に係る磁界強度センサの概略構成を示
す回路説明図。
す回路説明図。
【図4】実施例2において適用した磁気抵抗素子におけ
る外部磁界Hexと電気抵抗Rとの関係を示すグラフ図。
る外部磁界Hexと電気抵抗Rとの関係を示すグラフ図。
【図5】図5(A)は実施例3に係るロータリー型非接
触磁気式ポテンショメータの概略構成を示す説明図、図
5(B)はこのロータリー型非接触磁気式ポテンショメ
ータにおける角度変位θと信号出力Eとの関係を示すグ
ラフ図。
触磁気式ポテンショメータの概略構成を示す説明図、図
5(B)はこのロータリー型非接触磁気式ポテンショメ
ータにおける角度変位θと信号出力Eとの関係を示すグ
ラフ図。
【図6】比較例1に係る磁界強度センサの概略構成を示
す回路説明図。
す回路説明図。
【図7】比較例2に係る磁界強度センサの概略構成を示
す回路説明図。
す回路説明図。
【図8】従来例に係るロータリー型非接触磁気式ポテン
ショメータの概略構成を示す説明図。
ショメータの概略構成を示す説明図。
【図9】他の従来例に係るロータリー型非接触磁気式ポ
テンショメータの概略構成を示す説明図。
テンショメータの概略構成を示す説明図。
【図10】従来例に係る直線型非接触磁気式ポテンショ
メータの概略構成を示す説明図。
メータの概略構成を示す説明図。
【図11】他の従来例に係る直線型非接触磁気式ポテン
ショメータの概略構成を示す説明図。
ショメータの概略構成を示す説明図。
10 磁界強度センサ 11 磁界検出素子 12 磁界発生用コイル 13 アンプ
Claims (5)
- 【請求項1】磁界検出素子を用いた磁界強度センサにお
いて、 外部磁界に対応した電気信号を出力する磁界検出素子
と、この磁界検出素子の近傍に設けられた磁界発生用コ
イルと、入力側に磁界検出素子が接続され出力側に磁界
発生用コイルが接続されると共に上記磁界検出素子から
の電気信号を増幅して磁界発生用コイルに対し上記外部
磁界と逆向きの磁界が発生する方向に電流を流すアンプ
とを備えることを特徴とする磁界強度センサ。 - 【請求項2】上記磁界発生用コイルにより発生する磁界
の磁界検出素子における位置での強度Hcoil(A/m)
と上記外部磁界強度Hex(A/m)との関係を示す下記
数式4において、1<<[α(1+β・dT)・k・A
amp]の条件を満たすように上記アンプの増幅率Aamp
(A/V)が設定されていることを特徴とする請求項1
記載の磁界強度センサ。 Hex={1+1/[α(1+β・dT)・k・Aamp]}・Hcoil (4) 但し、磁界検出素子の感度をα(V・m/A)、その温
度係数をβ(1/℃)、磁界発生用コイルに流れる電流
をi(A)、基準温度と磁界強度検出時の温度差をd
T、および、Hcoil=k・i[kは定数(1/m)]と
する。 - 【請求項3】上記磁界検出素子がホール素子で構成され
ていることを特徴とする請求項1または2記載の磁界強
度センサ。 - 【請求項4】上記磁界検出素子が磁気抵抗素子で構成さ
れかつこの磁界検出素子にバイアス磁界を作用するバイ
アス磁界形成手段が設けられていることを特徴とする請
求項1または2記載の磁界強度センサ。 - 【請求項5】互いに相対変位する永久磁石と磁界強度セ
ンサを備え、かつ、その一方が計測対象に取付けられる
と共に、磁界強度センサにより検出された永久磁石の磁
界強度に基づく出力信号により上記計測対象の変化量若
しくは変化速度を計測する非接触磁気式計測装置におい
て、 上記磁界強度センサが請求項1〜4のいずれかに記載の
磁界強度センサにより構成されていることを特徴とする
非接触磁気式計測装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26778399A JP2001091612A (ja) | 1999-09-21 | 1999-09-21 | 磁界強度センサとセンサが組込まれた非接触磁気式計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26778399A JP2001091612A (ja) | 1999-09-21 | 1999-09-21 | 磁界強度センサとセンサが組込まれた非接触磁気式計測装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001091612A true JP2001091612A (ja) | 2001-04-06 |
Family
ID=17449534
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP26778399A Pending JP2001091612A (ja) | 1999-09-21 | 1999-09-21 | 磁界強度センサとセンサが組込まれた非接触磁気式計測装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2001091612A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006269955A (ja) * | 2005-03-25 | 2006-10-05 | Mitsubishi Electric Corp | 磁界検出装置 |
CN105093138A (zh) * | 2014-05-15 | 2015-11-25 | Tdk株式会社 | 磁场检测传感器及使用其的磁场检测装置 |
CN113391247A (zh) * | 2020-03-13 | 2021-09-14 | Tdk株式会社 | 磁场检测装置、旋转检测装置和电动动力转向装置 |
-
1999
- 1999-09-21 JP JP26778399A patent/JP2001091612A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006269955A (ja) * | 2005-03-25 | 2006-10-05 | Mitsubishi Electric Corp | 磁界検出装置 |
CN105093138A (zh) * | 2014-05-15 | 2015-11-25 | Tdk株式会社 | 磁场检测传感器及使用其的磁场检测装置 |
CN105093138B (zh) * | 2014-05-15 | 2018-11-30 | Tdk株式会社 | 磁场检测传感器及使用其的磁场检测装置 |
CN113391247A (zh) * | 2020-03-13 | 2021-09-14 | Tdk株式会社 | 磁场检测装置、旋转检测装置和电动动力转向装置 |
JP2021143969A (ja) * | 2020-03-13 | 2021-09-24 | Tdk株式会社 | 磁場検出装置、回転検出装置および電動パワーステアリング装置 |
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Legal Events
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A621 | Written request for application examination |
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A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20080605 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20081119 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20090310 |