JP2015169848A - 反射防止フィルム、偏光板、画像表示装置、及び反射防止フィルムの製造方法 - Google Patents

反射防止フィルム、偏光板、画像表示装置、及び反射防止フィルムの製造方法 Download PDF

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Abstract

【課題】簡便に製造でき、反射率が低い、モスアイ構造を有する反射防止フィルムの提供、及びこの反射防止フィルムを有する偏光板、画像表示装置、並びに反射防止フィルムの製造方法を提供する。
【解決手段】光透過性基材1と、光透過性基材とは反対側の表面に凹凸構造を有する反射防止層2とを有する反射防止フィルム10であって、反射防止層の凹凸構造は、分子内に重合性基を2つ以上有する電離放射線硬化性モノマー(A)の硬化物からなる海部3と、電離放射線硬化性モノマー(A)とは異なる電離放射線硬化性モノマー(B)の硬化物からなり、海部から突出して凸部を形成する島部4とからなる海島状の相分離構造によるものであり、反射防止層の最表面の海部と島部の面積比(海部の面積/島部の面積)が1.0よりも大きく、凸部を形成する島部の大きさ及び凸部間隔の周期は、380nm以下であり、かつ表面ヘイズが1.0%未満である反射防止フィルム。
【選択図】図1

Description

本発明は、反射防止フィルム、偏光板、画像表示装置、及び反射防止フィルムの製造方法に関する。
陰極管表示装置(CRT)、プラズマディスプレイ(PDP)、エレクトロルミネッセンスディスプレイ(ELD)、蛍光表示ディスプレイ(VFD)、フィールドエミッションディスプレイ(FED)、及び液晶表示装置(LCD)のような画像表示装置では、表示面での外光の反射によるコントラスト低下や像の映り込みを防止するために反射防止フィルムを設けることがある。
ディスプレイの表面に配置され、外光の反射や像の映り込みによるコントラスト低下を防止するために低い反射率が要求される。また、高い物理強度(耐擦傷性など)や、透明性等も要求されている。そのため、反射防止フィルムは、一般に、基材上にハードコート層や高屈折率層などの機能層と、基材より低い屈折率を有する適切な膜厚の低屈折率層がこの順で形成されたものである。
反射防止フィルムとして、基材表面に周期が可視光の波長以下の微細な凹凸形状を有する反射防止フィルム、いわゆるモスアイ(moth eye)構造を有する反射防止フィルムが知られている。モスアイ構造により、擬似的に空気から基材の内部のバルク材料に向かって屈折率が連続的に変化する屈折率傾斜層を作り出し、屈折率界面を持たないことで、光の反射を防止することができる。
モスアイ構造を有する反射防止フィルムとして、特許文献1には、光透過性基板上に直接、分子量と官能基数を規定したバインダーからなる反射防止組成物を形成し、反射防止フィルム製造用金型を用いて、反射防止層の表面に可視光領域の波長以下の周期で形成された凹凸形状を賦型し、反射防止フィルム製造用金型を剥離する、という基板との密着性に優れたモスアイ構造を有する反射防止フィルムの製造方法が記載されている。
特許文献2には、金型を使用せずに特定構造のポリマーを2種使用することで、液相からのスピノーダル分解により相分離構造を形成して、続いて上記前駆体を硬化させることで、表面凹凸構造を有する防眩フィルムの製造方法の記載がある。
特許文献3には、複雑な金型を使用せずに、光学的に大きな凹凸構造ではなく、可視光波長以下の周期のモスアイ構造を形成する方法として、反射防止組成物に遠赤外線を輻射することで、対流によらず微細な凹凸構造を形成する方法が記載されている。
特開2011−70116号公報 特許第5038748号公報 特開2013−693号公報
しかし、特許文献1に記載の発明は、優れた反射防止能を発現するためには、可視光波長以下の周期で形成された微細な凹凸形状を持つ金型を作る必要があり、かつその金型の凹凸構造を常に維持したまま、連続的に繰り返し使用するという管理の難しい複雑な工程を経なければ、モスアイ構造を持つ反射防止フィルムを連続生産することができないという課題がある。
特許文献2に記載の方法は、簡便な凹凸形成方法ではあるが、特許文献2の相分離構造のドメイン間の平均距離は1〜70μmとなっているため、防眩性のように光学的に大きな凹凸構造は得られても、可視光領域以下の微細な周期の凹凸構造が必要とされるモスアイ構造を有する反射防止フィルムは得られない。
特許文献3に記載の発明は、実際に得られたフィルムの凹凸の周期が1μmとなっており、可視光の波長を超えているため特に可視光波長域の短波長側の反射率が低下せず、モスアイ構造を形成しているとは言えない。また、特許文献3に記載された発明は、遠赤外線を輻射するために遠赤外線乾燥装置が必要となり、製造方法として簡便ではない。
したがって、金型を使用した複雑な工程も経ずに、かつ遠赤外線乾燥装置のような特殊な装置も使用せずに、簡便な方法で可視光領域の短波長側よりも小さな周期の凹凸構造(モスアイ構造)を有する反射防止フィルムを製造する技術が望まれていた。
すなわち、本発明の課題は、簡便に製造でき、反射率が低い、モスアイ構造を有する反射防止フィルムを提供することにある。
本発明者らは、上述の課題を解消すべく鋭意検討した結果、(A)分子内に重合性基を2つ以上有する電離放射線硬化性モノマーと、(B)分子中に重合性基を2つ以上有し、(A)の電離放射線硬化性モノマーよりもSP値が0.5以上低くかつ(A)の電離放射線硬化性モノマーよりも粘度が100mPas以上高い、質量平均分子量が1000以上の電離放射線硬化性ポリマーとを用いることにより、上記(A)を海部とし、上記(B)を島部とし、反射防止層の最表面の海部と島部の面積比(海部の面積/島部の面積)が1.0よりも大きくなるように調整し、この島部の大きさを可視光領域の短波長よりも小さく形成させ、島部と島部の間隔(凸の周期)を可視光領域の短波長よりも小さくした相分離構造を形成させた上で、上記(A)を下層にしみ込ませ、更に電離放射線照射による硬化の際に、(B)が低収縮であり、かつ(A)が高収縮である性質を利用することで、島部を凸部とし、海部を凹部としたモスアイ構造を形成できることを見出し、本発明を完成させた。
本発明の課題は下記構成によって達成される。
[1]
光透過性基材と、上記光透過性基材とは反対側の表面に凹凸構造を有する反射防止層とを有する反射防止フィルムであって、
上記反射防止層の凹凸構造は、
下記(A)の硬化物からなる海部と、
下記(B)の硬化物からなり、上記海部から突出して凸部を形成する島部と
からなる海島状の相分離構造によるものであり、
反射防止層の最表面の海部と島部の面積比(海部の面積/島部の面積)が1.0よりも大きく、
上記凸部を形成する島部の大きさ及び凸部間隔の周期は、380nm以下であり、かつ
表面ヘイズが1.0%未満である反射防止フィルム。
(A)分子内に重合性基を2つ以上有する電離放射線硬化性モノマー
(B)分子中に重合性基を2つ以上有し、上記(A)の電離放射線硬化性モノマーよりもSP値が0.5以上低くかつ上記(A)の電離放射線硬化性モノマーよりも粘度が100mPas以上高い、質量平均分子量が1000以上の電離放射線硬化性ポリマー
[2]
上記反射防止層の膜厚が0.05〜0.78μmである[1]に記載の反射防止フィルム。
[3]
上記反射防止層が、更に、下記(D)成分を含有する[1]又は[2]に記載の反射防止フィルム。
(D)シランカップリング剤で表面処理された平均粒子径が10〜300nmの無機微粒子
[4]
上記(D)成分の上記シランカップリング剤の分子量が90〜600である[3]に記載の反射防止フィルム。
[5]
上記(D)成分のシランカップリング剤の表面修飾率αが0.1%〜25%である[3]又は[4]に記載の反射防止フィルム。
[6]
上記(D)成分の無機微粒子が、少なくとも粒子の表面にケイ素を構成成分として有し、屈折率1.46以下の金属酸化物微粒子である[3]〜[5]のいずれか一項に記載の反射防止フィルム。
[7]
上記(B)分子中に重合性基を2つ以上有する電離放射線硬化性ポリマーが下記一般式(1)で表される含フッ素ポリマーである[1]〜[6]のいずれか一項に記載の反射防止フィルム。
一般式(1):
(MF1)a−(MF2)b−(MF3)c−(MA)d−(MB)e−(MC)f−(MD)g
一般式(1)中、a〜fは、それぞれ各構成単位のモル分率を表し、gは含フッ素ポリマー中の質量%を表し、0≦a≦70、0≦b≦70、0≦c≦80、30≦a+b+c≦90、1≦d≦50、0≦e≦50、0≦f≦50、0≦g≦15の関係を満たす値を表す。
(MF1):CF=CF−Rfで表される単量体から重合される構成単位を示す。Rfは炭素数1〜5のパーフルオロアルキル基を表す。
(MF2):CF=CF−ORf12で表される単量体から重合される構成単位を示す。Rf12は炭素数1〜30の含フッ素アルキル基を表す。
(MF3):CH=CRo−L−Rf13で表される単量体を重合して得られる構成単位を示す。Roは水素原子、ハロゲン原子又はメチル基を表し、Lは2価の連結基を表し、Rf13は、炭素数1〜20の含フッ素アルキル基を表す。
(MA):不飽和二重結合を有する基及び開環重合反応性基の少なくとも一方を有する構成単位を表す。
(MB):非架橋性の構成単位を表す。
(MC):下記一般式(2)のポリアルキレンオキシド基を少なくとも1つ有する単量体から重合される構成単位を表す。
Figure 2015169848
一般式(2)中、Roは水素原子、ハロゲン原子又はメチル基を表し、Lは2価の連結基を表し、Rcは水素原子又は炭素数1〜10のアルキル基を表し、mは2以上50以下の整数を表し、nは1以上5以下の整数を表す。なお、mが2以上のとき、複数の−(C2n−O)−はそれぞれ異なる繰り返し単位であっても良い。
(MD):ポリシロキサン構造を少なくとも1つ有する構成単位を表す。
[8]
上記一般式(2)中のLが、炭素数1〜9の2価の連結基である[7]に記載の反射防止フィルム。
[9]
光透過性基材と、上記光透過性基材とは反対側の表面に凹凸構造を有する反射防止層とを有する反射防止フィルムの製造方法であって、
光透過性基材上に、下記(A)、(B)、(C)及び(E)を含有する組成物を塗布し、
下記(A)及び(B)を海島状に相分離させ、
下記(A)の一部を光透過性基材又は下層に浸透させ、
電離放射線を照射して下記(A)及び(B)を硬化することで、
下記(A)の硬化物からなる海部と、
下記(B)の硬化物からなり、上記海部から突出して凸部を形成する島部と
からなる海島状の相分離構造によるものであり、
反射防止層の最表面の海部と島部の面積比(海部の面積/島部の面積)が1.0よりも大きく、
上記凸部の島の大きさ及び凸部の周期は、380nm以下である凹凸構造を有する反射防止層を形成する、反射防止フィルムの製造方法。
(A)分子内に重合性基を2つ以上有する電離放射線硬化性モノマー
(B)分子中に重合性基を2つ以上有し、上記(A)の電離放射線硬化性モノマーよりもSP値が0.5以上低くかつ上記(A)の電離放射線硬化性モノマーよりも粘度が100mPas以上高い、質量平均分子量が1000以上の電離放射線硬化性ポリマー
(C)重合開始剤
(E)光透過性基材又は下層に対して浸透性を有する溶剤
[10]
上記(E)溶剤が、沸点が100℃を超える溶剤を含有する[9]に記載の反射防止フィルムの製造方法。
[11]
偏光膜と上記偏光膜の少なくとも一方の面を保護する少なくとも1枚の保護フィルムを有する偏光板であって、上記保護フィルムが[1]〜[8]のいずれか一項に記載の反射防止フィルム、又は[9]若しくは[10]に記載の製造方法によって製造された反射防止フィルムである偏光板。
[12]
[1]〜[8]のいずれか一項に記載の反射防止フィルム、[9]若しくは[10]に記載の製造方法によって製造された反射防止フィルム、又は[11]に記載の偏光板を有する画像表示装置。
本発明によれば、簡便な方法で製造でき、反射率が低い、モスアイ構造を有する反射防止フィルムを提供することができる。
本発明の反射防止フィルムの一例を示す断面模式図である。
本発明の反射防止フィルムは、光透過性基材と、光透過性基材とは反対側の表面に凹凸構造を有する反射防止層とを有する反射防止フィルムであって、
反射防止層の凹凸構造は、
下記(A)の硬化物からなる海部と、
下記(B)の硬化物からなり、海部から突出して凸部を形成する島部と
からなる海島状の相分離構造によるものであり、
反射防止層の最表面の海部と島部の面積比(海部の面積/島部の面積)1.0よりも大きく、
凸部を形成する島部の大きさ及び凸部間隔の周期は、380nm以下であり、
表面ヘイズが1.0%未満である。
(A)分子内に重合性基を2つ以上有する電離放射線硬化性モノマー
(B)分子中に重合性基を2つ以上有し、(A)の電離放射線硬化性モノマーよりもSP値が0.5以上低くかつ(A)の電離放射線硬化性モノマーよりも粘度が100mPas以上高い、質量平均分子量が1000以上の電離放射線硬化性ポリマー
また、本発明の反射防止フィルムの製造方法は、光透過性基材と、光透過性基材とは反対側の表面に凹凸構造を有する反射防止層とを有する反射防止フィルムの製造方法であって、
光透過性基材上に、下記(A)、(B)、(C)、及び(E)を含有する組成物を塗布し、
組成物における(A)と(B)の面積比(海部の面積/島部の面積)である(A)/(B)が1.0よりも大きく、
下記(A)及び(B)を海島状に相分離させ、
下記(A)の一部を光透過性基材又は下層に浸透させ、
電離放射線を照射して下記(A)及び(B)を硬化することで、
下記(A)の硬化物からなる海部と、
下記(B)の硬化物からなり、海部から突出して凸部を形成する島部と
からなる海島状の相分離構造によるものであり、
反射防止層の最表面の海部と島部の面積比(海部の面積/島部の面積)が1.0よりも大きく、
凸部の島の大きさ及び凸部の周期は、380nm以下である凹凸構造を有する反射防止層を形成するものである。
(A)分子内に重合性基を2つ以上有する電離放射線硬化性モノマー
(B)分子中に重合性基を2つ以上有し、(A)の電離放射線硬化性モノマーよりもSP値が0.5以上低くかつ(A)の電離放射線硬化性モノマーよりも粘度が100mPas以上高い、質量平均分子量が1000以上の電離放射線硬化性ポリマー
(C)重合開始剤
(E)光透過性基材又は下層に対して浸透性を有する溶剤
以下、本発明の反射防止フィルム及び反射防止フィルムの製造方法について詳細に説明する。
本発明の反射防止フィルムの一例の断面模式図を図1に示す。
図1の反射防止フィルム10は、光透過性基材1と、光透過性基材1の反対側の表面に凹凸構造を有する反射防止層2とを有する反射防止フィルムである。反射防止層2は、下記(A)の硬化物からなる海部3と、下記(B)の硬化物からなり、海部3から突出して凸部を形成する島部4とからなる海島状の相分離構造によるものである。
島部(凸部)4の周期Lは、380nm以下である。
(A)分子内に重合性基を2つ以上有する電離放射線硬化性モノマー
(B)分子中に重合性基を2つ以上有し、(A)の電離放射線硬化性モノマーよりもSP値が0.5以上低くかつ(A)の電離放射線硬化性モノマーよりも粘度が100mPas以上高い、質量平均分子量が1000以上の電離放射線硬化性ポリマー
本発明の反射防止フィルムは、反射防止層の表面の凹凸構造における凸部の周期が380nm以下である。ここで、凸部の周期とは、隣り合う凸部の頂点間の距離(図1のL)を50点測長して算出した平均値である。隣り合う凸部の頂点間の距離は、反射防止フィルムの断面SEM観察により測定することができる。反射防止フィルム試料をミクロトームで切削して断面を出し、適切な倍率(50000倍程度)でSEM観察する。観察し易いように、試料にはカーボン蒸着、エッチング等適切な処理を施してもよい。
凸部の周期が380nm以下であることで、モスアイ構造とすることができ、可視光の反射率を低減することができる。
凸部の周期は、380nm以下であることが好ましく、200nm以下であることがより好ましく、152nm以下であることが更に好ましい。
凸部の周期の下限値については、特に制限はないが、反射率低減の観点からは凸部同士は接触しないことが好ましい。この観点からは凸部の周期は凸部の大きさよりも1nm以上大きいことが好ましく、凸部の大きさよりも10nm以上大きいことがより好ましい。
凸部の周期が凸部の大きさよりも1nm以上大きければ、凸部同士の距離(図1のL)に対して凸部の高さ(図1のH)が0.5L以上になり、空気から反射防止層内部にかけてより緩やかに屈折率が変化する屈折率傾斜層を作ることができるため、反射率の低減効果が大きくできる。
凸部の周期を制御するためには、3つの因子があり、
(1)(A)硬化性モノマーと、(A)の硬化性モノマーよりも疎水性の(B)硬化性ポリマーとの親水性と疎水性の差が1つ目の因子で、親水性と疎水性の差が大きくなれば、(B)硬化性ポリマーの島部は硬化性モノマーの海部の中で、より接触面積が小さくなるため、凸部の周期は広がる方向に動く。
(2)2つ目の因子は各素材の分子量で、(B)硬化性ポリマーの分子量が大きくなれば、1個の島部のサイズは大きくなるので、凸部(島部)の周期は小さくなる方向に動く。また(A)硬化性モノマーの分子量が小さくなれば海部の粘度が低くなる方向のため、(B)硬化性ポリマーはより集まり易くなり、凸部(島部)の周期は大きくなる方向に動く。
(3)3つ目の因子は(A)親水性モノマー/疎水性ポリマーの組成比で、組成比が大きくなれば、海部の面積が拡大するため、凸部(島部)の周期は広がる方向に動く。
反射防止層の凹凸構造は、下記(A)の硬化物からなる海部と、下記(B)の硬化物からなり、海部から突出して凸部を形成する島部とからなる海島状の相分離構造によるものである。
(A)分子内に重合性基を2つ以上有する電離放射線硬化性モノマー
(B)分子中に重合性基を2つ以上有し、(A)の電離放射線硬化性モノマーよりもSP値が0.5以上低くかつ(A)の電離放射線硬化性モノマーよりも粘度が100mPas以上高い、質量平均分子量が1000以上の電離放射線硬化性ポリマー
(A)と(B)とは、(A)を海部とし、(B)を島部とする海島状の相分離構造を形成する。
(A)が下層(光透過性基材又は他の機能層)にしみ込むことと、電離放射線による硬化において、(A)が高収縮性を有し、かつ(B)が低収縮性を有することで、(B)の硬化物からなる島部が(A)の硬化物からなる海部から突出して凸部となる。
本発明の反射防止フィルムの表面ヘイズは、明室コントラストおよび黒締りの観点から1.0%未満であり、0.8%〜0.05%が好ましく、0.6%〜0.1%がより好ましい。
<(A)分子内に重合性基を2つ以上有する電離放射線硬化性モノマー>
反射防止層の海部(凹部)を形成する(A)分子内に重合性基を2つ以上有する電離放射線硬化性モノマー((A)成分ともいう)について説明する。
(A)成分の好ましい一例としては、電離放射線により架橋する反応性基を有するモノマーが好ましく、2官能基以上を有する多官能モノマーがより好ましく、3官能基以上を有する多官能モノマーを有する樹脂成分がさらに好ましい。(A)成分は分子内にフッ素原子を含有しないことが好ましい。
(A)成分としては、下記(B)成分より表面自由エネルギーが大きいことが好ましい。30mN/m以上の表面自由エネルギーを有する硬化層を形成可能な硬化性モノマーであることが好ましく、35〜80mN/mの範囲がより好ましく、40〜60mN/mの範囲が特に好ましい。また、下記(B)成分と(A)成分の表面自由エネルギーの差が、5mN/m以上であることが好ましく、10mN/m以上40mN/m以下であることがより好ましい。この範囲とすることにより、本発明の塗布組成物を用いた場合に相分離構造がより形成し易くなる。硬化後の表面自由エネルギーが高すぎても、低すぎても、反射率の低下、ムラなどが発生することがある。表面自由エネルギーは、強度、塗布性の観点から、上記の好ましい下限以上とすることが好ましい。
(A)成分と(B)成分による海島状相分離構造を形成するためには、(B)成分と(A)成分の分離性が大きい方が好ましい。
(B)成分と(A)成分の分離性は熱力学的及び動力学的考察によって予測することができる。例えば、フローリー・ハギンスの格子理論で分離性の指標である混合自由エネルギー(ΔG=ΔH−T・ΔS)を求めると、重合度、体積分率(φ:文献では組成分率とも呼ばれる)、及び相互作用パラメータ(χ)の関数として予測することが知られている(たとえば、Batesの「Polymer−Polymer Phase Behavior」、Science、Vol.251 pp.898−905、1991、又は、ストローブルの「高分子の物理」シュプリンガー・フェアラーク東京、1998、参照)。
ΔGはゼロより大きいと、2成分は分離する方向に進み、ゼロより小さいと、2成分は混合する方向に進むことを意味している。本発明において、(A)成分と(B)成分による海島状相分離構造を形成するためには、(B)成分と(A)成分のΔGはゼロより大きいことがより好ましく、より分離を促進させ、相界面の乱れを軽減させるという観点で、ΔGは0.01以上がさらに好ましい。
(A)成分が有する官能基としては、光、電子線、放射線重合性のものが好ましく、中でも光重合性官能基が好ましい。
光重合性官能基としては、具体的には、(メタ)アクリロイル基、ビニル基、スチリル基、アリル基等の不飽和の重合性官能基等が挙げられ、中でも、反応性の点から(メタ)アクリロイル基が好ましい。
耐擦傷性向上の観点から、また海島状相分離構造を固定化する観点から、(A)成分としては、分子内に少なくとも2つ以上の不飽和二重結合を有する化合物を含有することが好ましい。
光重合性官能基を有する(A)成分の具体例としては、
ネオペンチルグリコールアクリレート、1,6−ヘキサンジオール(メタ)アクリレート、プロピレングリコールジ(メタ)アクリレート等のアルキレングリコールの(メタ)アクリル酸ジエステル類;
トリエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、ジプロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、ポリエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、ポリプロピレングリコールジ(メタ)アクリレート等のポリオキシアルキレングリコールの(メタ)アクリル酸ジエステル類;
ペンタエリスリトールジ(メタ)アクリレート等の多価アルコールの(メタ)アクリル酸ジエステル類;
2,2−ビス{4−(アクリロキシ・ジエトキシ)フェニル}プロパン、2−2−ビス{4−(アクリロキシ・ポリプロポキシ)フェニル}プロパン等のエチレンオキシドあるいはプロピレンオキシド付加物の(メタ)アクリル酸ジエステル類;
等を挙げることができる。
さらにはエポキシ(メタ)アクリレート類、ウレタン(メタ)アクリレート類、ポリエステル(メタ)アクリレート類も、光重合性多官能モノマーとして、好ましく用いられる。
中でも、多価アルコールと(メタ)アクリル酸とのエステル類が好ましい。さらに好ましくは、1分子中に3個以上の(メタ)アクリロイル基を有する多官能モノマーが好ましい。具体的には、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、トリメチロールエタントリ(メタ)アクリレート、1,2,4−シクロヘキサンテトラ(メタ)アクリレート、ペンタグリセロールトリアクリレート、ペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、(ジ)ペンタエリスリトールトリアクリレート、(ジ)ペンタエリスリトールペンタアクリレート、(ジ)ペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート、(ジ)ペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート、トリペンタエリスリトールトリアクリレート、トリペンタエリスリトールヘキサトリアクリレート等が挙げられる。本明細書において、「(メタ)アクリレート」、「(メタ)アクリル酸」、「(メタ)アクリロイル」は、それぞれ「アクリレート又はメタクリレート」、「アクリル酸又はメタクリル酸」、「アクリロイル又はメタクリロイル」を表す。
(A)成分としては、各層の屈折率を制御するために、屈折率の異なるモノマーを用いることが出来る。特に高屈折率モノマーの例としては、ビス(4−メタクリロイルチオフェニル)スルフィド、ビニルナフタレン、ビニルフェニルスルフィド、4−メタクリロキシフェニル−4’−メトキシフェニルチオエーテル等が含まれる。
また、例えば特開2005−76005号、同2005−36105号に記載されたデンドリマーや、例えば特開2005−60425号記載のようなノルボルネン環含有モノマーを用いることもできる。
多官能モノマーは、二種類以上を併用してもよい。
<(B)分子中に重合性基を2つ以上有し、(A)の電離放射線硬化性モノマーよりもSP値が0.5以上低くかつ100mPas以上高粘度の質量平均分子量が1000以上の電離放射線硬化性ポリマー>
反射防止層の島部(凸部)を形成する(B)分子中に重合性基を2つ以上有し、(A)の電離放射線硬化性モノマーよりもSP値が0.5以上低くかつ(A)の電離放射線硬化性モノマーよりも粘度が100mPas以上高い、質量平均分子量が1000以上の電離放射線硬化性ポリマー((B)成分ともいう)について説明する。
(B)成分のポリマーは島部を硬化する必要があるため、少なくとも重合性基を分子中に2つ以上有しなければならない。実際は重合性基の密度が多いほど硬化後の島部の硬度が高くなるので、1分子中の重合性基の数は多いほど好ましい。
また(B)成分は、含フッ素ポリマーでなくても良いが、下記一般式(1)または一般式(3)で表される含フッ素ポリマーであることがSP値が低くなり、好ましい。
〔一般式(1)で表される、分子中にポリアルキレンオキシド基を有する含フッ素ポリマー〕
一般式(1):
(MF1)a−(MF2)b−(MF3)c−(MA)d−(MB)e−(MC)f−(MD)g
一般式(1)中、a〜fは、それぞれ各構成単位のモル分率を表し、gは含フッ素ポリマー中の質量%を表し、0≦a≦70、0≦b≦70、0≦c≦80、30≦a+b+c≦90、1≦d≦50、0≦e≦50、0≦f≦50、0≦g≦15の関係を満たす値を表す。
(MF1):CF=CF−Rfで表される単量体から重合される構成単位を示す。Rfは炭素数1〜5のパーフルオロアルキル基を表す。
(MF2):CF=CF−ORf12で表される単量体から重合される構成単位を示す。Rf12は炭素数1〜30の含フッ素アルキル基を表す。
(MF3):CH=CRo−L−Rf13で表される単量体を重合して得られる構成単位を示す。Roは水素原子、ハロゲン原子又はメチル基を表し、Lは2価の連結基を表し、Rf13は、炭素数1〜20の含フッ素アルキル基を表す。
(MA):不飽和二重結合を有する基、及び開環重合反応性基の少なくとも1つを有する構成単位を表す。
(MB):非架橋性の構成単位を表す。
(MC):下記一般式(2)のポリアルキレンオキシド基を少なくとも1つ有する単量体から重合される構成単位を表す。
Figure 2015169848
一般式(2)中、Roは水素原子、ハロゲン原子又はメチル基を表し、Lは2価の連結基を表し、Rcは水素原子又は炭素数1〜10のアルキル基を表し、mは2以上50以下の整数を表し、nは1以上5以下の整数を表す。なお、mが2以上のとき、複数の−(C2n−O)−はそれぞれ異なる繰り返し単位であっても良い。)
(MD):ポリシロキサン構造を少なくとも1つ有する構成単位を表す。
含フッ素ポリマーとしては、含フッ素炭化水素を含有する基、及び含フッ素炭化水素を含有するモノマー単位(含フッ素炭化水素を含む単量体から得られる単位)などの含フッ素炭化水素構造を有するポリマーが挙げられる。
含フッ素炭化水素構造としては、含フッ素脂肪族炭化水素基、含フッ素芳香族炭化水素基、含フッ素脂肪族炭化水素を含有するモノマー単位、及び含フッ素芳香族炭化水素を含有するモノマー単位が挙げられ、含フッ素脂肪族炭化水素基又は含フッ素脂肪族炭化水素を含有するモノマー単位が好ましい。
含フッ素炭化水素構造の分子量は500〜100000が好ましく、より好ましくは1000〜80000であり、更に好ましくは2000〜50000である。含フッ素炭化水素構造の分子量の調節は、含フッ素炭化水素を含有するモノマー単位の場合は、含フッ素ビニルモノマーの重合度を変えて行うことが容易であり好ましい。含フッ素ビニルモノマーとしては、例えばフルオロオレフィン類(例えばフルオロエチレン、ビニリデンフルオライド、テトラフルオロエチレン、パーフルオロオクチルエチレン、ヘキサフルオロプロピレン等)、(メタ)アクリル酸の部分又は完全フッ素化アルキルエステル誘導体類(例えばビスコート6FM(大阪有機化学製)やM−2020(ダイキン製)等)、ビニルエーテル類の部分又は完全フッ化物等が挙げられる。
(B)成分において、含フッ素炭化水素構造は単独でも、複数種が混合されていてもよい。
〔(B)成分の合成方法〕
(B)成分の合成方法の好ましい態様について詳細に説明する。
本発明における(B)成分の合成方法の好ましい態様としては、一般式(2)で表される不飽和二重結合を含有する重合性のポリアルキレンオキシド化合物(Y)((Y)成分ともいう。)と含フッ素炭化水素構造を有する不飽和二重結合を含有する重合性の化合物(Z)とを反応させる合成方法である。
−(Y)一般式(2)で表される化合物−
(Y)成分である一般式(2)で表される化合物は、無機微粒子との相互作用が十分でありかつ塗布組成物を調製するための溶媒への溶解性を十分なものとするために、一般式(2)中のnは2≦n≦4が好ましく、2≦n≦3が更に好ましい。mは3≦m≦20が好ましく、5≦m≦10が更に好ましい。
Roは水素原子、ハロゲン原子又はメチル基を表し、水素原子又はメチル基が好ましい。
Rcは水素原子又は炭素数1〜10のアルキル基を表し、アルキル基としては炭素数1〜6のアルキル基が好ましい。
Lは2価の連結基を表し、炭素数1〜10のアルキレン基、炭素数6〜10のアリーレン基、−O−、−S−、−N(R)−、−CO−及びこれらを2種以上組み合わせて得られる2価の連結基が好ましい。ただし、Rは水素原子又は炭素数1〜5のアルキル基を表す。Lとしては、立体障害が小さく、無機微粒子との相互作用を阻害させないようにする観点から、炭素数1〜9の2価の連結基であることが好ましく、炭素数1〜7の2価の連結基であることがより好ましい。Lとして特に好ましくは−COO−、−CONH−、−CO−S−であり、最も好ましくは−COO−である。
本発明において(Y)成分としては、例えば、モノマーの例としてはメトキシポリエチレングリコールアクリレートおよびメタクリレート、(メトキシポリエチレングリコール)アクリルアミドおよびメタクリルアミド、メトキシポリ(プロピレン−ブロック−エチレン)グリコールアクリレートおよびメタクリレート、(メトキシポリ(プロピレン−ブロック−エチレン)グリコール)アクリルアミドおよびメタクリルアミド、エトキシポリエチレングリコールアクリレートおよびメタクリレート、(エトキシポリエチレングリコール)アクリルアミドおよびメタクリルアミド、エトキシポリ(プロピレン−ブロック−エチレン)グリコールアクリレートおよびメタクリレートおよび(エトキシポリ(プロピレン−ブロック−エチレン)グリコール)アクリルアミドおよびメタクリルアミドが挙げられる。ポリアルキレングリコール側鎖の全長は、この側鎖の平均分子量が30〜4300g/mol、好ましくは132〜1440g/mol、より好ましくは220〜580g/molとなるようにするのが有利である。これらのモノマーの中では、数平均分子量が好ましくは100〜4500、より好ましくは200〜1600、更に好ましくは300〜700であるメトキシポリアルキレングリコールアクリレートおよびメタクリレートが好ましい。具体例としては、ブレンマーPE−20、PE−200、PE−350、PME−100、PME−200、PME−400、AE−350(以上日本油脂(株)製)MA−30、MA−50、MA−100、MA−150、RA−1120、RA−2314、RMA−564、RMA−568、RMA−1114、MPG130−MA(以上、日本乳化剤(株)製)などが挙げられる。また、市販のヒドロキシポリ(オキシアルキレン)材料、例えば商品名“プルロニック”[Pluronic(旭電化工業(株)製)、アデカポリエーテル(旭電化工業(株)製)“カルボワックス[Carbowax(グリコ・プロダクス)]、”トリトン“[Toriton(ローム・アンド・ハース(Rohm and Haas製))及びP.E.G(第一工業製薬(株)製)として販売されているものを公知の方法でアクリル酸、メタクリル酸、アクリルクロリド、メタクリルクロリド又は無水アクリル酸等と反応させることによって製造することもできる。なお以上に例記した単量体は一種または二種以上を併用して使用する事ができる。
(Y)成分である一般式(2)で表される不飽和二重結合を有する重合性のポリアルキレンオキシ化合物の例を挙げるが、これらに限定されるものではない。化合物中アルキレンオキシ基の繰り返し単位は質量平均での平均値に最も近い整数を表す。
Figure 2015169848
Figure 2015169848
−(Z)不飽和二重結合を含有する重合性の含フッ素炭化水素化合物を有する成分−
本発明において(Y)の化合物と反応させて(B)成分を形成するために(Z)不飽和二重結合を含有する重合性の含フッ素炭化水素化合物を有する成分((Z)成分ともいう。)を用いることができる。
(Z)成分としては、不飽和二重結合を有する含フッ素炭化水素系のモノマーが挙げられる。
不飽和二重結合を有する含フッ素炭化水素系のモノマーとしては、後述する一般式(1−1)、一般式(1−2)及び一般式(1−3)で表される化合物などが挙げられる。
本発明の好ましい製造方法においては、また、(B)成分の質量平均分子量としては1000〜100000が好ましく、2000〜50000がより好ましく、更に好ましくは3000〜30000である。
ここで、質量平均分子量及び分子量は、TSKgel GMHxL、TSKgel G4000HxL、TSKgel G2000HxL(何れも東ソー(株)製の商品名)のカラムを使用したGPC分析装置により、溶媒THF、示差屈折計検出によるポリスチレン換算で表した分子量である。
本発明の(B)成分は公知慣用の方法で製造することができる。例えば不飽和二重結合を有する含フッ素炭化水素系のモノマーと不飽和二重結合を有する含フッ素炭化水素系のモノマーを有機溶媒中、汎用のラジカル重合開始剤を添加し、重合させることにより製造できる。若しくは場合によりその他の付加重合性不飽和化合物を添加して上記と同じ方法にて製造することができる。各モノマーの重合性に応じ、反応容器にモノマーと開始剤を滴下しながら重合する滴下重合法なども、均一な組成のポリマーを得るために有効である。
本発明における(B)成分としては、合成の容易性、塗布組成物中に低屈折率硬化性材料を併用した場合に材料との相溶性に優れるという観点から、分子内にポリアルキレンオキシド基を有し、かつ含フッ素炭化水素構造を有する重合単位を含有する共重合体であることがより好ましい。
一般式(1)で表される含フッ素ポリマーは、ランダム共重合体でもブロック共重合体でもよい。
一般式(1)の(MF1)〜(MF3)における各単量体(下記一般式(1−1)〜(1−3)で表される化合物)について説明する。
(MF1);CF=CF−Rf:一般式(1−1)
式中、Rfは炭素数1〜5のパーフルオロアルキル基を表す。
一般式(1−1)の化合物としては重合反応性の観点からは、パーフルオロプロピレン又はパーフルオロブチレンが好ましく、入手性の観点からパーフルオロプロピレンであることが特に好ましい。
(MF2);CF=CF−ORf12:一般式(1−2)
式中、Rf12は炭素数1〜30の含フッ素アルキル基を表す。含フッ素アルキル基は置換基を有していてもよい。更に、Rf12は炭素−炭素間にエーテル結合を有するものであってもよい。
Rf12は、好ましくは炭素数1〜20、より好ましくは炭素数1〜10の含フッ素アルキル基であり、更に好ましくは炭素数1〜10のパーフルオロアルキル基である。Rf12の具体例としては、下記のもの等が挙げられるが、これらに限定されない。
−CF、−CFCF、−CFCFCF、−CFCF(OCFCFCF)CF
(MF3):CH=CRo−L−Rf13:一般式(1−3)
Roは水素原子、ハロゲン原子又はメチル基を表し、Lは2価の連結基を表し、Rf13は、炭素数1〜20の含フッ素アルキル基を表す。
Rf13は、好ましくは炭素数1〜15の含フッ素アルキル基であり、直鎖(例えば、−CFCF、−CH(CF)4H、−CH(CF)8CF、−CHCH(CFH等)であっても、分岐構造(例えば、−CH(CF、−CHCF(CF、−CH(CH)CFCF、−CH(CH)(CFCFH等)であっても、また脂環式構造(好ましくは5員環または6員環、例えば、パーフルオロシクロへキシル基、パーフルオロシクロペンチル基またはこれらで置換されたアルキル基等)であってもよい。)
(MF3)は下記一般式(1−3−1)、又は(1−3−2)で表される単量体を重合して得られる構成単位であることが好ましい。
Figure 2015169848
一般式(1−3−1)中、Roは水素原子、ハロゲン原子又はメチル基を表し、Lは2価の連結基を表し、n1は0以上20以下の整数を表し、n2は1以上30以下の整数を表す。)
Figure 2015169848
一般式(1−3−2)中、Roは水素原子、ハロゲン原子又はメチル基を表し、Lは2価の連結基を表し、n3は0以上20以下の整数を表し、n4は1以上30以下の整数を表す。)
一般式(1−3−1)及び(1−3−2)におけるRo及びLの好ましい範囲は一般式(2)におけるものと同様である。n1は好ましくは1〜10の整数であり、より好ましくは1〜6の整数である。n2は好ましくは1〜25の整数であり、より好ましくは1〜18の整数である。n3は好ましくは1〜10の整数であり、より好ましくは1〜6の整数である。n4は好ましくは1〜20の整数であり、より好ましくは2〜15の整数である。
MF3に使用可能な上記一般式(1−3−1)、又は(1−3−2)の具体例を挙げるが、本発明に用いることができる化合物は以下の具体例によってなんら制限されるものではない。
Figure 2015169848
Figure 2015169848
一般式(1)の(MA)は、不飽和二重結合を有する基及び開環重合反応性基の少なくとも一方を有する構成単位を表す。本発明における塗布液を用いて形成される塗膜の強度向上の点で、(A)成分である含フッ素ポリマーは、ポリマー分子内にこれら反応性基を有する繰り返し単位を含むことが好ましい。
反応性不飽和二重結合を有する基としては、(メタ)アクリロイル基、アリル基、ビニルオキシ基等、開環重合反応性基としては、エポキシ基、オキセタニル基、オキサゾリル基等が挙げられる。(MA)はより好ましくは反応性不飽和二重結合を有する基である。
以下に、上記一般式(1)中の(MA)で表される構成成分の好ましい具体例を示すが、本発明はこれらに限定されるものではない。
Figure 2015169848
Figure 2015169848
一般式(1)における(MB)は非架橋性の構成単位を表す。非架橋性基からなる構成単位とは、本発明における含フッ素ポリマーを構成する他の構成成分と共に共重合などにより含フッ素ポリマーを形成した後に構成成分が非架橋性であることを表す。(MB)は、脱水縮合反応や加水分解反応等により、三次元ネットワーク構造が形成されることを防ぐために、塗布組成物の安定性、溶剤への溶解性、無機微粒子との親和性、無機微粒子の分散安定性などの観点から適宜選択することができる。
(MB)を形成するための単量体としては、例えば、メチルビニルエーテル、エチルビニルエーテル、n−ブチルビニルエーテル、シクロへキシルビニルエーテル、イソプロピルビニルエーテル等のビニルエーテル類、酢酸ビニル、プロピオン酸ビニル、酪酸ビニル、シクロヘキサンカルボン酸ビニル等のビニルエステル類、(メタ)アクリル酸メチル、(メタ)アクリル酸エチルの(メタ)アクリル酸エステル等が挙げられる。
一般式(1)における(MD)はポリシロキサン構造を少なくとも1つ有する構成単位を表す。ポリシロキサン構造を含むことにより、本発明における無機微粒子の上部偏在性を高めることができ、更に面状故障の原因となる下層に微量残存する無機微粒子を低減することができる。
すなわち、(A)成分が、分子内に含フッ素炭化水素単位及びポリシロキサン単位の両方を含有することが好ましく、より具体的には、(MD)は、主鎖又は側鎖に下記一般式(20)で表されるポリシロキサン繰り返し単位を含むことが好ましい。
一般式(20)
Figure 2015169848
式中、R及びRは、それぞれ独立にアルキル基又はアリール基を表す。
アルキル基としては、炭素数1〜4が好ましく、置換基を有していてもよい。具体的には、メチル基、トリフルオロメチル基、エチル基等が挙げられる。
アリール基としては炭素数6〜20が好ましく、置換基を有していてもよい。具体的には、フェニル基、ナフチル基が挙げられる。
及びRは、メチル基又はフェニル基であることが好ましく、メチル基であることがより好ましい。
pは2〜500の整数を表し、好ましくは5〜350であり、より好ましくは8〜250である。
側鎖に一般式(20)で表されるポリシロキサン構造を有するポリマーは、例えばJ.Appl.Polym.Sci.2000,78,1955、特開昭56−28219号公報等に記載のごとく、エポキシ基、水酸基、カルボキシル、酸無水物基等の反応性基を有するポリマーに対して、相対する反応性基(例えばエポキシ基、酸無水物基に対してアミノ基、メルカプト基、カルボキシル基、水酸基等)を片末端に有するポリシロキサン(例えばサイラプレーンシリーズ、チッソ株式会社製等)を高分子反応によって導入する方法や、ポリシロキサン含有シリコンマクロマーを重合させる方法によって合成することができる。
主鎖にポリシロキサン構造を有するポリマーは、例えば特開平6−93100号公報に記載のアゾ基含有ポリシロキサンアミド(市販のものでは、例えばVPS−0501、1001、和光純薬工業(株)社製)等のポリマー型開始剤を用いる方法、重合開始剤、連鎖移動剤由来の反応性基(例えばメルカプト基、カルボキシル基、水酸基等)をポリマー末端に導入した後、片末端あるいは両末端反応性基(例えばエポキシ基、イソシアネート基等)含有ポリシロキサンと反応させる方法として、ヘキサメチルシクロトリシロキサン等の環状シロキサンオリゴマーをアニオン開環重合にて共重合させる方法等が挙げられる。中でもポリシロキサン部分構造を有する開始剤を利用する手法が容易であり好ましい。
一般式(1)中、a〜fは、それぞれ各構成単位のモル分率を表し、gは含フッ素ポリマー中の質量%を表し、0≦a≦70、0≦b≦70、0≦c≦80、30≦a+b+c≦90、1≦d≦50、0≦e≦50、0≦f≦50、0≦g≦15の関係を満たす値を表す。
(MF1)成分、(MF2)成分、及び(MF3)成分のモル分率(%)a+b+cを高めることでポリマーの表面自由エネルギーが低下し、ポリマーによって修飾された無機微粒子が島部偏在し易くなるが、無機微粒子への吸着性、汎用溶剤への溶解性などの点で30≦a+b+c≦90が好ましく、40≦a+b+c≦80がより好ましい。
(MF1)の導入は無機微粒子の島部偏在性能に寄与する。前述のように(MF1)成分のモル分率aは0≦a≦50であり、好ましくは5≦a≦40である。
また、(MF2)の導入も無機微粒子の島部偏在性能に寄与する。前述のように(MF2)成分のモル分率bは0≦b≦50であり、好ましくは5≦c≦40である。
また、(MF3)の導入も無機微粒子の島部偏在性能に寄与する。前述のように(MF3)成分のモル分率cは0≦c≦50であり、好ましくは5≦c≦40である。
(MC)で表されるポリアルキレンオキシド基を少なくとも1つ以上有する構成成分は、ポリマーの無機微粒子への被覆性が十分でありかつ無機微粒子の島部偏在性に必要な含フッ素成分の量も確保できるという点で、そのモル分率は0≦f≦50の範囲であることが好ましく、より好ましくは0.5≦f≦40、更に好ましくは1≦f≦30である。また、共重合体形成時の含フッ素共重合体のモノマー組成により塗布溶媒への溶解性が十分に高い場合には、ポリアルキレンオキシド基を有するモノマーの比率を高めることができ、好ましくは6≦f≦40にすることもできる。なお、一般式(2)中の(MC)成分が有するL,Roは、(MF3)が有するL,Roと同じであっても異なっていてもよい。
(MA)で表される不飽和二重結合を有する基、及び開環重合反応性基の少なくとも1つを有する構成成分は、塗膜の硬度上昇の点でポリマーに導入することが好ましい。(MA)成分のモル分率は1≦d≦50の範囲であることが好ましい。本発明では特に、(A)成分としては、分子内に重合性の官能基を有することが好ましい。そのため、dの好ましい下限値は5であり、特に5≦d≦40の範囲であることがより好ましく、5≦d≦30の範囲であることが特に好ましい。
(MB)で表される非架橋性基からなる構成成分のモル分率eは0≦e≦50の範囲であることが好ましく、0≦e≦20の範囲であることがより好ましく、0≦e≦10の範囲であることが更に好ましい。
(MC)は一般式(2)のポリアルキレンオキシド基を少なくとも1つ有する単量体から重合される構成単位を表す。(MC)における一般式(2)の好ましい範囲は上記と同様である。
(MD)で表されるポリシロキサン構造を導入することが微粒子の島部偏在性及び塗膜面状改良の点で好ましい。含フッ素ポリマー中のポリシロキサン構造の含有率は全ポリマーに対して0.5〜15質量%が好ましく、1〜10質量%が更に好ましい。
含フッ素ポリマーの質量平均分子量は、1000〜100000が好ましく、より好ましくは2000〜50000であり、更に好ましくは3000〜30000である。
ここで、質量平均分子量は、TSKgel GMHxL、TSKgel G4000HxL、TSKgel G2000HxL(いずれも東ソー(株)製の商品名)のカラムを使用したGPC分析装置により、溶媒THF、示差屈折計検出によるポリスチレン換算で表した分子量である。
以下に、本発明の(B)成分である一般式(1)で表される含フッ素共重合体の具体例を示すが、本発明はこれらに限定されない。なお、表1には、重合することにより一般式(1)の(MF1)、(MF2)、(MF3)、(MC)、(MA)、(MB)、又は(MD)を形成する単量体の組合せとして表記する。表中a〜fは、各成分の単量体のモル比(%)を表す。表中(MD)成分でwt%の記載があるものは、全重合体中の成分の質量%を示す。
Figure 2015169848
上記表中の略号は、以下を表す。
HFP:ヘキサフルオロプロピレン
FPVE:パーフルオロプロピルビニルエーテル
EVE:エチルビニルエーテル
VPS―1001:アゾ基含有ポリジメチルシロキサン、ポリシロキサン部の分子量約1万、(株)和光純薬工業製
FM−0721:片末端メタクリロイル変性ジメチルシロキサン、平均分子量5000、(株)チッソ製
〔一般式(3)で表される、分子中にポリアルキレンオキシド基を含有しない含フッ素ポリマー〕
一般式(3):
(MF1)a−(MF2)b−(MF3)c−(MA’)d−(ME)h
一般式(3)中、a〜d、及びhは、それぞれ各構成成分のモル分率を表し、0≦a≦70、0≦b≦70、30≦a+b≦70、0≦c≦50、5≦d≦50、0≦h≦50の関係を満たす値を表す。
(MF1):CF=CF−Rfで表される単量体から重合される構成単位を示す。Rfは炭素数1〜5のパーフルオロアルキル基を表す。
(MF2):CF=CF−ORf12で表される単量体から重合される構成単位を示す。Rf12は炭素数1〜30の含フッ素アルキル基を表す。
(MF3):CH=CRo−L−Rf13で表される単量体を重合して得られる構成単位を示す。Roは水素原子、ハロゲン原子又はメチル基を表し、Lは2価の連結基を表し、Rf13は、炭素数1〜20の含フッ素アルキル基を表す。
(MA’):架橋性基を少なくとも1つ有する構成単位を表す。
(ME):任意構成単位を表す。
(MF1)〜(MF3)については、前述の一般式(1)の含フッ素ポリマーで述べたものと同様であり、好ましい構造等も同様である。
一般式(3)で表される含フッ素ポリマーは、架橋性部位を有する繰り返し単位を含むことが必須であり、架橋性部位が、反応性不飽和二重結合を有する基、開環重合反応性基、活性水素原子を有する基、求核剤によって置換され得る基、及び酸無水物の少なくともいずれかであることがより好ましい。
一般式(3)の(MA’)は、架橋性部位(架橋反応に関与しうる反応性部位)を少なくとも1つ以上含有する構成成分を表す。
架橋性部位としては、例えば、反応性不飽和二重結合を有する基((メタ)アクリロイル基、アリル基、ビニルオキシ基等)、開環重合反応性基(エポキシ基、オキセタニル基、オキサゾリル基等)、活性水素原子を有する基(たとえば水酸基、カルボキシル基、アミノ基、カルバモイル基、メルカプト基、β―ケトエステル基、ヒドロシリル基等)、酸無水物、求核剤によって置換され得る基(活性ハロゲン原子、スルホン酸エステル等)等が挙げられる。
(MA’)の架橋性基は、好ましくは重合性基であり、より好ましくは反応性不飽和二重結合を有する基又は開環重合反応性基であり、更に好ましくは反応性不飽和二重結合を有する基である。(MA’)で表される構成成分の好ましい具体例は前述の一般式(1)におけるMA−1〜MA−23である。これら以外の(MA’)で表される構成成分の好ましい具体例を示すが、本発明はこれらに限定されるものではない。
Figure 2015169848
一般式(3)における(ME)は任意の構成単位を表す。(ME)は、(MF1)、(MF2)、(MF3)で表される構成単位を形成する単量体及び(MA)で表される構成単位を形成する単量体と共重合可能な単量体から得られる構成単位であれば特に制限はなく、基材への密着性、ポリマーのTg(皮膜硬度に寄与する)、溶剤への溶解性、透明性、滑り性、防塵・防汚性等種々の観点から適宜選択することができる。
(ME)を形成するための単量体としては、例えば、メチルビニルエーテル、エチルビニルエーテル、n−ブチルビニルエーテル、シクロへキシルビニルエーテル、イソプロピルビニルエーテル等のビニルエーテル類、酢酸ビニル、プロピオン酸ビニル、酪酸ビニル、シクロヘキサンカルボン酸ビニル等のビニルエステル類等が挙げられる。
(ME)は、ポリシロキサン構造を有する構成成分を含むことが好ましい。(ME)としてポリシロキサン構造を含むことにより、塗膜中で上部偏在しやすくなり、得られる膜の低反射化、塗膜面状改良などの効果を有する。またポリシロキサン構造を有するため積層体の滑り性、防汚性を向上させることができる。
ポリシロキサン構造の導入方法は、一般式(1)の化合物で述べた方法と同様の方法を用いることができる。
一般式(3)中、a〜d及びhは、それぞれ各構成成分のモル分率を表し、0≦a≦70、0≦b≦70、30≦a+b≦70、0≦c≦50、5≦d≦50、0≦h≦50の関係を満たす値を表す。
低屈折率化のためには(MF1)成分及び(MF2)成分のモル分率(%)a+bを高めることが望まれるが、重合反応性の点で一般的な溶液系ラジカル重合反応では50〜70%程度の導入が限界でありこれ以上は一般に困難である。本発明においては、a+bの下限は40以上であることが好ましく、45以上であることがより好ましい。
また、(MF3)の導入も低屈折率化に寄与する。上記のように(MF3)成分のモル分率cは0≦c≦50であり、好ましくは5≦c≦20である。
a〜cの含フッ素モノマー成分のモル分率の和は、40≦a+b+c≦90の範囲であることが好ましく、50≦a+b+c≦75であることがより好ましい。
(MA’)で表される重合体単位の割合が少なすぎると硬化膜の強度が弱くなる。本発明では特に、(MA’)成分のモル分率は5≦d≦40の範囲であることが好ましく、15≦d≦30の範囲であることが特に好ましい。
(ME)で表される任意の構成成分のモル分率hは0≦h≦50の範囲であることが好ましく、0≦h≦20の範囲であることがより好ましく、0≦h≦10の範囲であることが更に好ましい。
本発明において、塗膜面状改良、膜の耐擦傷性改良の点から、一般式(3)で表される含フッ素ポリマーは、分子内に極性の高い官能基を有することが好ましい。従って、(ME)として、分子内に極性の高い官能基を有することが好ましい。極性の高い官能基としては、水酸基、アルキルエーテル基、グリシジル基、オキサタニル基、カルボキシル基を有することが好ましく、更に好ましくは、水酸基、アルキルエーテル基である。
これら官能基を有する重合単位は、モル分率として0.1〜15%が好ましく、更に好ましくは1〜10%である。
また、前述のように含フッ素ポリマー中には、ポリシロキサン構造を導入することが塗膜面状及び耐擦傷性の点で好ましい。含フッ素ポリマー中のポリシロキサン構造の含有率は全ポリマーに対する質量比で0.5〜15質量%が好ましく、1〜10質量%が更に好ましい。
含フッ素ポリマーの数平均分子量は、1,000〜1,000,000が好ましく、より好ましくは5,000〜500,000であり、更に好ましくは10,000〜100,000である。
以下に、一般式(3)で表される共重合体の具体例を示すが、本発明はこれらに限定されない。なお、下記表2には、重合することにより一般式(3)のフッ素含有構成単位を形成する単量体(MF1)、(MF2)、(MF3)、及び構成成分(MA’)、及び(ME)の組合せとして表記する。表中a〜dは、各成分の単量体のモル比(%)を表す。表中(ME)成分でwt%の記載があるものは、全重合体中の成分の質量%を示す。表2中「(ME)」の欄でEVE以外の成分については、全重合体中の成分の含有率(質量%:wt%)を、「h」の欄にEVEのモル比につづいて左から順に記載した。
Figure 2015169848
上記表中の略号は、以下を表す。
HFP:ヘキサフルオロプロピレン
FPVE:パーフルオロプロピルビニルエーテル
EVE:エチルビニルエーテル
VPS―1001:アゾ基含有ポリジメチルシロキサン、ポリシロキサン部の分子量約1万、(株)和光純薬工業製
FM−0721:メタクリロイル変性ジメチルシロキサン、平均分子量5000、(株)チッソ製
FM−0725:片末端メタクリロイル変性ジメチルシロキサン、平均分子量10000、(株)チッソ製
VPS−0501:アゾ基含有ポリジメチルシロキサン、ポリシロキサン部の分子量約5000、(株)和光純薬工業製
<(C)重合開始剤>
本発明の反射防止フィルムの反射防止層を形成するための組成物は、(C)重合開始剤((C)成分ともいう)を含有することが好ましい。
重合開始剤としては、光重合開始剤が好ましい。
光重合開始剤としては、アセトフェノン類、ベンゾイン類、ベンゾフェノン類、ホスフィンオキシド類、ケタール類、アントラキノン類、チオキサントン類、アゾ化合物、過酸化物類、2,3−ジアルキルジオン化合物類、ジスルフィド化合物類、フルオロアミン化合物類、芳香族スルホニウム類、ロフィンダイマー類、オニウム塩類、ボレート塩類、活性エステル類、活性ハロゲン類、無機錯体、クマリン類などが挙げられる。光重合開始剤の具体例、及び好ましい態様、市販品などは、特開2009−098658号公報の段落[0133]〜[0151]に記載されており、本発明においても同様に好適に用いることができる。
「最新UV硬化技術」{(株)技術情報協会}(1991年)、p.159、及び、「紫外線硬化システム」加藤清視著(平成元年、総合技術センター発行)、p.65〜148にも種々の例が記載されており本発明に有用である。
反射防止層を形成する組成物中の光重合開始剤の含有量は、組成物に含まれる重合可能な化合物を重合させるのに十分多く、かつ開始点が増えすぎないよう十分少ない量に設定するという理由から、組成物中の全固形分に対して、0.5〜8質量%が好ましく、1〜5質量%がより好ましい。
反射防止層を形成する組成物を光透過性基材上に塗布すると、(A)モノマー成分、(B)ポリマー成分の親疎水性差、組成比、粘度差の要因から(A)成分は海部を形成し、(B)は島部を形成し、海島状の相分離構造を形成する。この際、(B)成分は球状に集まって島部を形成することが好ましい。
次に、光透過性基材または下層(ハードコート層、帯電防止層、防眩層、もしくはその組み合わせ)に対する浸透性を有する溶媒が光透過性基材または下層中に浸透する。この際、一部の(A)成分も光透過性基材または下層中に浸透する。その後、電離放射線照射により(A)成分及び(B)成分を硬化させて、反射防止層を形成する。反射防止層中には、(B)成分と(A)成分が含まれるが、前述のように一部の(A)成分が光透過性基材又は下層へ浸透しているため、反射防止層中の(A)成分に対する(B)成分の割合は、組成物中の(A)成分に対する(B)成分の割合よりも大きくなっており、(B)成分による島部が、(A)成分による海部から突出して凸部を形成する。
光透過性基材または下層中に浸透する(A)成分は、反射防止層を形成する組成物に含まれる(A)成分のうち50質量%以上にすることが好ましい。
<(D)分子量が600以下のシランカップリング剤で表面処理された平均粒子径が10〜300nmの無機微粒子>
本発明の反射防止フィルムの反射防止層は、(D)分子量が600以下のシランカップリング剤で表面処理された平均粒子径が10〜300nmの無機微粒子((D)成分ともいう)を含有することが好ましい。
(D)成分を含有することで、島部の硬化時の体積収縮が減ることにより反射率を更に低下させることができる。また、(D)成分を含有することで反射防止層の硬度を向上させることができる。
上記体積収縮差及び硬度向上の観点から、(D)成分は、海部より島部に多く存在することが好ましく、海部における(D)成分の含有率/島部における(D)成分の含有率は、0〜0.3が好ましく、0〜0.1がより好ましい。
本発明に用いられる(D)成分の無機微粒子は、その平均粒径が10〜300nmの無機微粒子であることが好ましく、より好ましくは平均粒径が10nm以上100nm以下の無機微粒子であり、更に好ましくは10nm以上80nm以下の無機微粒子である。
無機微粒子の形状は、球形が最も好ましいが、本発明で形成する所望の凹凸形状を得ることができる限り、非球形や不定形であっても用いることができる。
無機微粒子は分散された状態であると凸部の周期の乱れが抑えられるため好ましく用いることができる。
また、無機微粒子の平均粒径は光散乱法や電子顕微鏡による観察(顕微鏡法)により測定することができる。
本発明においては顕微鏡法によって観察された粒子を球形近似した場合の直径の平均値を平均粒径として用いた。
無機微粒子の組成に特に制限はなく、例えばケイ素、チタン、アルミニウム、スズ、亜鉛、アンチモンなどの酸化物又はそれらの混合物を用いることができるが、金属酸化物微粒子であることが好ましく、少なくとも粒子表面にケイ素を構成成分とする金属酸化物が含まれることがより好ましい。例えば表面が二酸化ケイ素からなるコアシェル粒子であっても、ケイ素とその他無機元素との混晶を形成していてもよい。特に低屈折率化の点からは二酸化ケイ素(シリカ)の粒子であることが好ましい。
本発明における(D)成分の無機微粒子の屈折率は、2.00以下、より望ましくは屈折率1.15〜1.52、特に好ましくは1.15〜1.46、更に好ましくは1.15〜1.40、最も好ましくは1.17〜1.35が好ましい。(D)成分の無機微粒子は、反射防止層の島部に偏在して、耐擦傷性の向上、屈折率の低下に寄与するため、低屈折率であることが望ましい。
なお、無機微粒子の屈折率はアッベ屈折率計[アタゴ(株)製]にて測定することができ、25℃、D線での値である。
(D)成分の無機微粒子は、中空構造であっても良い。中空構造の無機微粒子の場合に屈折率は外殻の無機質のみの屈折率を表すものではなく、粒子全体の平均の値を示す。この場合、粒子内の空孔の半径をa、粒子外殻の半径をbとすると空隙率xは下記数式(II)で表される。
(数式II): x=(4πa/3)/(4πb/3)×100
空隙率xは好ましくは10〜60%、より好ましくは20〜60%、更に好ましくは30〜60%である。この空隙率の範囲にすることで、低屈折率性と粒子自身の強度を好適な範囲にすることができる。
(D)成分の無機微粒子は、分散液中あるいは塗布液中で、分散安定化を図るために、あるいは(B)成分との親和性、結合性を高めるために、分子量が600以下のシランカップリング剤で表面処理された無機微粒子であることが好ましい。(B)成分との相互作用を阻害せず、分散液又は塗布液中での分散安定性を十分なものとし、(B)成分との親和性、結合性を高めるために、シランカップリング剤の分子量は、90以上600以下が好ましく、更に好ましくは100以上400以下、最も好ましくは120以上300以下である。本発明においてシランカップリング剤の分子量とは、無機微粒子表面との結合に寄与するシランカップリング剤のSi原子に結合している加水分解可能な基がシラノール基(Si−OH)に加水分解された状態での分子量を表す。
好ましいシランカップリング剤としては、例えば、トリメチルメトキシシラン、トリエチルメトキシシラン、トリメチルエトキシシラン、トリエチルエトキシシラン、メチルトリメトキシシラン、ジメチルジメトキシシラン、ビニルトリメトキシシラン、ビニルトリエトキシシラン、2−(3,4−エポキシシクロへキシル)エチルトリメトキシシラン、3−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、3−アクリロイルオキシプロピルトリメトキシシラン、3−メタクリロイルオキシプロピルトリメトキシシラン、3−メタクリロイルオキシオクチルトリメトキシシラン等が挙げられる。シランカップリング剤のなかでも、アルキル基または重合性の官能基を有するアルキル基を有するものが好ましい。重合性の官能基としては、エポキシ基、ビニル基、(メタ)アクリロイル基などが好ましく、最も好ましくはアクリロイル基である。これら官能基導入により、無機微粒子の島部偏在層の塗膜強度が向上できる。
(D)成分の無機微粒子は、分散液中あるいは塗布液中で、分散安定化と(B)成分との相互作用をさせるために立体的な反発を抑える観点で、無機微粒子の表面修飾率αが0.1%〜25%が好ましく、1%〜23%がより好ましく、3%〜20%が更に好ましく、4%〜15%が特に好ましい範囲である。
無機微粒子の表面修飾率は固体29Si CP−MAS NMR等の公知の手法で測定することができる。CP−MAS法は1H核を励起した後、その磁化を交互分極によって29Si核に移動させ、それを観測する間接法である。これは最表面のSiのピーク挙動を測定することができ、得られた化学シフトの異なるピークの大きさを調べることで、固体中の結合様式がわかる。表面修飾率αはカップリング剤の種類によって、後述のM/Q、D/Q、T/Q(カップリング剤由来のピーク/シリカピークの強度比)で表現でき、例えば、トリメチルシランの表面修飾率α1は分子中に1つのアルコキシ基を含有するのでM/Qで求められ、γ−アクリロイルオキシプロピルトリメトキシシランの表面修飾率α2は分子中に3つのアルコキシ基を含有するのでT/Qで求めることができる。
Siの固体NMRを測定することで、Siを含む粒子の表面状態を定量的に評価することが可能である。始めに固体29Si CP−MAS NMRによって得られる情報について述べる。29Si−NMRではSiの結合する相手により化学シフトが異なるため、それぞれのピークの大きさを調べることで、固体中の結合様式が分かる。慣用的に4官能のSiをQ、3官能はT,2官能はD,1官能はMと表す。また、酸素原子を介していくつのSiと結合するかについて上付き数字で表す。構造式と対応する表記例を以下の式に示す。
Figure 2015169848
上記式中、R、R、R、RはSiと直接結合する元素が酸素原子でない置換基を表し、X、X、Xは酸素原子と直接結合する元素がSi原子でない置換基を表す。
分子量600以下のシランカップリング剤で表面処理することにより、Si原子を含む無機微粒子表面のシラノ−ル基が減少しSi−O−Si結合が生成するためにNMRピークに変化が現れる。分散されたシリカ粒子を評価する場合には、溶媒を25℃で減圧して溶媒を蒸発させてシリカの粉体を得て、それを測定に用いる。
NMR測定は、29Si CP−MAS法で行い、以下の装置を用いて測定した値を用いた。
Bruker社製AVANCE−300型コンソール、BL−7 CP−MASプローブ、
測定幅:18000Hz
観測周波数:59.621MHz
MAS回転速度:4000Hz
1H−90°パルス幅:5.0ms
コンタクト時間:5ms
パルス繰り返し時間:5s
固体高分解能NMRのCPおよびMASの手法については、現代化学 増刊11「高分解能NMR −基礎と新しい展開−」斎藤肇・森島績 偏 東京化学同人 1987版 P.40〜P.50に記載がある。
このようにして測定したNMRシグナルのピーク面積を用いて以下の値を算出決定する。
M/Qは以下の様に定義され、表面Si原子に対して1官能のシランカップリング剤が化学結合している割合の目安となる。このM/Qが大きいほど表面の処理量が大きいことを示す。
M/Q=M/(Q1+Q2+Q3+Q4)
(式中Mは構造Mに対するNMRシグナルのピーク面積を表す。)
D/Qは以下の様に定義され、表面Si原子に対して2官能のシランカップリング剤が化学結合している割合の目安となる。このD/Qが大きいほど表面の処理量が大きいことを示す。
D/Q=(D1+D2)/(Q1+Q2+Q3+Q4)
(式中Dは構造Dに対するNMRシグナルのピーク面積を表す。)
T/Qは以下の様に定義され、表面Si原子に対して3官能のシランカップリング剤が化学結合している割合の目安となる。このT/Qが大きいほど表面の処理量が大きいことを示す。
T/Q=(T1+T2+T3)/(Q1+Q2+Q3+Q4)
(式中Ti(i=1〜3)は構造Tiに対するNMRシグナルのピーク面積を表す。)
無機微粒子が分散物状態で表面処理された場合には、分散溶媒を25℃で減圧下で除去することにより得られる粒子を用いて上記NMRを測定することができる。
(D)成分の無機微粒子と(B)成分の比率
(B)成分の(D)成分に対する量は、10〜200質量%が好ましく、15〜150質量%がより好ましく、更に好ましくは50〜150質量%である。この範囲にすることで、粒子の上部偏在性、塗膜強度の観点で好ましい。
反射防止層を形成する組成物においては、(A)成分と(B)成分と(D)成分との含有量は、[(B)成分+(D)成分]/[(A)成分]の質量比率が、1/199〜60/40であることが好ましく、より好ましくは1/199〜50/50、更に好ましくは1/99〜19/81、特に好ましくは1/99〜10/90である。
反射防止層を形成するための組成物に用いられる(A)成分と(B)成分と(C)成分と後述する(D)成分の質量比は、[(A)成分+(B)成分+(C)成分]/[(E)成分]=1/199〜60/40が好ましく、1/199〜50/50がより好ましく、1/99〜19/81が更に好ましく、1/99〜10/90が特に好ましい。
<(E)溶剤>
反射防止層を形成するための組成物は、(E)溶剤((E)成分ともいう)を含有することが好ましい。(E)成分としては、各成分を溶解又は分散可能であること、塗布工程、乾燥工程において均一な面状となり易いこと、液保存性が確保できること、適度な飽和蒸気圧を有すること、等の観点で選ばれる各種の溶剤が使用できる。
溶媒は1種類でも良いし、2種類以上を混合して用いても良い。
(E)成分としては、以下の2種の混合溶剤を含有することが好ましい。
(E−1):(A)成分と(B)成分のいずれか一方との溶解性パラメータの差が1〜10である揮発性溶剤
(E−2):沸点が100℃以下の揮発性溶剤
また、(E−3):沸点が100℃を超える揮発性溶剤を含有することも、後述の基材浸透性溶媒を含有することも好ましい。
特に、乾燥負荷の観点から、常圧室温における沸点が100℃以下の溶剤を主成分とし、乾燥速度の調整のために沸点が100℃以上の溶剤を少量(沸点が100℃以下の溶剤100質量部に対して沸点が100℃以上の溶剤1〜50質量部、より好ましくは2〜40質量部、特に好ましくは3〜30質量部)含有させることが好ましい。2種の溶媒の沸点の差が25℃以上であることが好ましく、35℃以上が特に好ましく、50℃以上が更に好ましい。沸点の異なる有機溶剤を少なくとも2種併用することで、(A)成分と(B)成分の相分離がし易くなる。さらに(A)成分又は(B)成分と溶解性パラメータ差が1.0以上10以下の溶剤を少量(沸点が100℃以下の溶剤100質量部に対して1〜50質量部、より好ましくは2〜40質量部、特に好ましくは3〜30質量部)含有させることが好ましい。溶解性の悪い溶剤を添加することで、(A)成分と(B)成分の相分離性が促進される。
沸点が100℃以下の溶剤としては、例えば、ヘキサン(沸点68.7℃)、ヘプタン(98.4℃)、シクロヘキサン(80.7℃)、ベンゼン(80.1℃)などの炭化水素類;ジクロロメタン(39.8℃)、クロロホルム(61.2℃)、四塩化炭素(76.8℃)、1,2−ジクロロエタン(83.5℃)、トリクロロエチレン(87.2℃)などのハロゲン化炭化水素類;ジエチルエーテル(34.6℃)、ジイソプロピルエーテル(68.5℃)、ジプロピルエーテル (90.5℃)、テトラヒドロフラン(66℃)などのエーテル類;ギ酸エチル(54.2℃)、酢酸メチル(57.8℃)、酢酸エチル(77.1℃)、酢酸イソプロピル(89℃)、炭酸ジメチル(90.3℃)などのエステル類;アセトン(56.1℃)、メチルエチルケトン、79.6℃)などのケトン類;メタノール(64.5℃)、エタノール(78.3℃)、2−プロパノール(82.4℃)、1−プロパノール(97.2℃)などのアルコール類;アセトニトリル(81.6℃)、プロピオニトリル(97.4℃)などのシアノ化合物類;二硫化炭素(46.2℃)などがある。このうちケトン類、エステル類が好ましく、特に好ましくはケトン類である。ケトン類の中ではメチルエチルケトンが特に好ましい。
沸点が100℃以上の溶剤としては、例えば、オクタン(125.7℃)、トルエン(110.6℃)、キシレン(138℃)、テトラクロロエチレン(121.2℃)、クロロベンゼン(131.7℃)、ジオキサン(101.3℃)、ジブチルエーテル(142.4℃)、酢酸イソブチル(118℃)、シクロヘキサノン(155.7℃)、2−メチル−4−ペンタノン(MIBKと同じ、115.9℃)、1−ブタノール(117.7℃)、N,N−ジメチルホルムアミド(153℃)、N,N−ジメチルアセトアミド(166℃)、ジメチルスルホキシド(189℃)などがある。好ましくは、シクロヘキサノン、2−メチル−4−ペンタノンである。
(光透過性基材または下層に対する浸透性を有する溶媒)
本発明における光透過性基材または下層に対する浸透性を有する溶媒(浸透性溶媒)について説明する。
光透過性基材または下層に対する浸透性を有する溶媒とは、光透過性基材または下層の表面に対する溶解能及び膨潤能を有する溶剤である。
溶媒が光透過性基材または下層の表面に対して溶解能及び膨潤能を有することで、(A)成分が光透過性基材または下層に浸透し、モスアイ構造を均一に形成することがができる。
ここで、本発明において光透過性基材または下層に対して溶解能を有する溶剤とは、24mm×36mm(厚み80μm)の大きさの基材フィルムを溶剤の入った15ccの瓶に室温下(25℃)で60秒浸漬させて取り出した後に、浸漬させた溶液をゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)で分析したとき、基材成分(基材が複数の層を有している場合には、その表面の成分)のピーク面積が400mV/sec以上である溶剤のことを意味する。若しくは24mm×36mm(厚み80μm)の大きさの基材フィルムを溶剤の入った15ccの瓶に室温下(25℃)で24時間経時させ、適宜瓶を揺らすなどして、フィルムが完全に溶解して形をなくすものも、基材に対して溶解能を有する溶剤を意味する。
基材浸透性溶媒としては、光透過性基材または下層を構成する成分によって異なるが、セルロースアシレート基材の場合は、メチルエチルケトン(MEK)、炭酸ジメチル、酢酸メチル、アセトン、メチレンクロライド等を好ましく用いることが出来るが基材を溶解しうるものであればこれによらない。メチルエチルケトン(MEK)、炭酸ジメチル、酢酸メチルがより好ましい。
アクリル基材の場合は、炭酸ジメチル、炭酸メチルエチル、炭酸ジエチル、アセトン、メチルエチルケトン(MEK)、シクロペンタノン、シクロヘキサノン酢酸メチル、酢酸エチル等が好ましい。
反射防止層を形成するための組成物において、(A)成分の浸透を阻害せず塗布性を付与する観点から、基材または下層への浸透性溶媒の含有量は、反射防止層を形成するための組成物の全質量に対して、5質量%以上90質量%以下であることが好ましい。
反射防止層を形成するための組成物の固形分濃度は、塗布適性の観点から、2質量%以上70質量%以下であることが好ましい。
反射防止層を形成するための組成物において、反射防止層全体の硬度の観点から、(A)成分の含有量は、反射防止層を形成するための組成物の全固形分の質量に対して、5質量%以上97質量%以下であることが好ましく、10質量%以上80質量%以下であることがより好ましい。(B)成分の含有量は、反射防止層を形成するための組成物の全固形分の質量に対して、5質量%以上97質量%以下であることが好ましく、10質量%以上80質量%以下であることがより好ましい。
((A)成分と(B)成分のいずれか一方との溶解性パラメータの差が1〜10である揮発性溶剤(E−1))
本発明においては、(A)成分と(B)成分のいずれか一方とのSP値(溶解性パラメータ)の差が1〜10である揮発性溶剤を用いることが好ましい。
(B)成分と溶解性パラメータ差が1.0以上10以下の溶剤としては、溶解性パラメータの絶対値が20以上30以下の溶剤が好ましく、より好ましくは21以上27以下、更に好ましくは22以上26以下の溶剤である。例えば、プロピレングリコールモノエチルエーテル(溶解性パラメータ=23.1)、酢酸エチル(溶解性パラメータ=23.7)、メタノール(溶解性パラメータ=28.2)、エタノール(溶解性パラメータ=25.7)、2−ブタノール(溶解性パラメータ=22.7)、などがある。好ましくはプロピレングリコールモノエチルエーテルである。
塗布組成物を塗布し、乾燥が進んでいく過程において、溶解性パラメータの絶対値が20以上の溶剤は(B)成分との相溶性が低くなる傾向が強く、相分離性を高めるために溶解性パラメータ差が1.0以上の溶剤を用いることが適している。また塗布組成物の調液の際に、溶解性パラメータの絶対値が30以上の溶剤は(B)成分を溶解しにくい傾向が高いため溶解性パラメータ差が10以下の溶剤を用いることが適している。
また、(A)成分と溶解性パラメータ差が1.0以上10以下の溶剤としては、溶解性パラメータの絶対値が10以上20以下の溶剤が好ましく、より好ましくは12以上18以下の溶剤である。
これら溶剤として、例えば、1,1,2,2−テトラフルオロ−1−(2,2,2−トリフルオロエトキシ)エタン(溶解性パラメータ=14.5)トリフルオロメチルベンゼン(溶解性パラメータ=16.8)、パーフルオロヘプチルエチルアセテート(溶解性パラメータ=14.8)、1,1,2,2,3,3,4,4,5,5,6,6−ドデカフルオロヘキシルエチルアセテート(溶解性パラメータ=16.7)、トリフルオロ酢酸メチル(溶解性パラメータ=15.7)などがある。好ましくは1,1,2,2−テトラフルオロ−1−(2,2,2−トリフルオロエトキシ)エタンである。溶解性パラメータ差が1.0以上10以下の溶剤を併用することにより、適度な相分離性を保ちつつ必要最低限の溶解性を満足することが容易である。
−溶解性パラメータ−
溶解性パラメータとはどれだけ溶媒などに溶けやすいかということを数値化したものであり、有機化合物ではよく使われる極性と同様の概念で、この溶解性パラメータが大きい程、極性が大きいことを表す。本発明で利用する(B)成分は、好ましくは含フッ素ポリマーであり、Fedorの推算法で計算した溶解性パラメータは例えば19以下となる。上記でいうSP値はFedorの推算法(SP値基礎・応用と計算方法 p.66:山本秀樹著:情報機構(2005.3.31発行)で計算した値である。
粘度はB型粘度計、振動粘度計、E型粘度計、せん断粘度計など各種市販の粘度計を使用して計測することができる。本発明では、振動粘度計CVJ−5000((株)エーアンドデイ製)を用いて粘度計測した。測定環境も任意の温度、湿度を選択することができるが、本発明では25℃60RH%での測定値を記載した。
質量平均分子量及び分子量は、TSKgel GMHxL、TSKgel G4000HxL、TSKgel G2000HxL(何れも東ソー(株)製の商品名)のカラムを使用したGPC分析装置により、溶媒THF、示差屈折計検出によるポリスチレン換算で表した分子量である。
本発明の塗布組成物中の(E)成分である有機溶剤の配合割合は、塗布組成物の固形分濃度が2〜70質量%になるように添加するのが好ましく、3〜60質量%になるように添加するのがより好ましく、5〜50質量%になるように添加するのが特に好ましい。固形分濃度が低すぎると塗膜の乾燥工程に時間がかかる、乾燥工程において膜厚ムラ(厚みムラ)が生じ易いなどの懸念がある。また、固形分濃度が高すぎると塗膜中で無機微粒子の偏在が十分に起こらない、塗布量が少なくなり、塗布ムラが出易いなどの懸念がある。
<塗布組成物の調製方法>
本発明の塗布組成物を調製する際には、各成分を溶剤に溶解又は分散したものを混合することができ、(B)成分のポリマーと(D)成分の無機微粒子とを(E)成分の溶剤と共にあらかじめ混合した後に(A)成分のモノマーと混合することが好ましい。
[反射防止フィルムの構造]
上記(A)〜(E)成分を混合してなる組成物を光透過性基材上に塗布し塗膜を形成する工程、塗膜から溶剤を揮発させ乾燥する工程、塗膜を硬化し硬化層を形成する工程をこの順に有することによって、海島状の相分離構造を有する硬化膜が得られる。これらの分離形成された海島状の相分離構造は、(B)成分の硬化物が空気界面側に偏在し、凸部となった島部と、(A)成分の硬化物からなる海部とから構成されている。島部が(B)成分と(D)成分を主成分として構成され、海部が(A)成分を主成分として構成されていることが好ましい。島部には、(B)及び(D)成分が反射防止層を形成するための組成物から形成される塗膜全層の平均密度の1.5倍以上の濃度で存在していることが好ましく、更に好ましくは2.0倍以上、最も好ましくは3.0〜200倍である。また、島部には、(D)成分は、20〜90体積%の密度で存在することが好ましく、更に好ましくは30〜80体積%以上、最も好ましくは40〜70体積%である。
本発明の反射防止フィルムの海島状の相分離構造は、例えば、得られたフィルムの表面DFMで観察することにより確認することができる。表面DFM測定からは(A)成分と(B)成分の滑り性の差より表面分布状態を観察することができる。
反射防止層を形成するための組成物を塗布し、乾燥させていったときに、(B)成分由来の成分と混合自由エネルギーがゼロ以上の(A)成分は相分離を起こし、分離が開始される。(B)成分がフッ素成分又はシリコーン成分を有する場合は、これらの表面エネルギーが低いため、(B)成分由来の成分は表面積を小さくするために凝集し、分子量600以下のシランカップリング剤で表面処理された(D)成分も同時に(B)成分の塗膜の中の上部に偏在することで実質的に(B)成分と(D)成分が偏在している島部が形成できる。同時に、(A)成分は下層(基材界面側)に偏在することになるので、実質的に(A)成分由来の成分が主成分として構成された海部を形成することができる。
反射防止層の膜厚は、0.05〜0.78μmであることが好ましく、0.1〜0.38μmであることがより好ましくい。相分離による海島構造で体積収縮の少ない凸部を反射防止層の膜厚とする。
本発明の反射防止フィルムは、反射防止層以外の機能層を有していも良い。例えば、ゴミ付きを防止するための帯電防止機能層、物理的強度を付与するためのハードコート層、防眩性を付与するための防眩層等を目的に応じて設けることができる。
反射防止フィルムの態様としては、〔光透過性基材/反射防止層〕、〔光透過性基材/ハードコート層/反射防止層〕、〔光透過性基材/帯電防止層/反射防止層〕、〔光透過性基材/帯電防止ハードコート層/反射防止層〕、〔光透過性基材/防眩性ハードコート層/反射防止層〕の構成が例示できる。
〔光透過性基材〕
光透過性基材としては種々の層を積層可能であればどのようなものでも良いが、連続搬送による高生産性の観点からフィルム基材が好ましい。
フィルム基材は、可視光の光線透過率に優れ(好ましくは光線透過率90%以上)、透明性に優れるもの(好ましくはヘイズ値1%以下)であれば特に制限はない。具体的には、例えば、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート等のポリエステル系ポリマー;ジアセチルセルロース、トリアセチルセルロース等のセルロース系ポリマー;ポリカーボネート系ポリマー;ポリメチルメタクリレート等のアクリル系ポリマー;等の透明ポリマーからなるフィルムが挙げられる。また、ポリスチレン、アクリロニトリル・スチレン共重合体等のスチレン系ポリマー;ポリエチレン、ポリプロピレン、環状ないしノルボルネン構造を有するポリオレフィン、エチレン・プロピレン共重合体等のオレフィン系ポリマー;塩化ビニル系ポリマー;ナイロンや芳香族ポリアミド等のアミド系ポリマー;等の透明ポリマーからなるフィルムも挙げられる。更に、イミド系ポリマー、スルホン系ポリマー、ポリエーテルスルホン系ポリマー、ポリエーテルケトン系ポリマー、ポリフェニレンスルフィド系ポリマー、ビニルアルコール系ポリマー、塩化ビニリデン系ポリマー、ビニルブチラール系ポリマー、アリレート系ポリマー、ポリオキシメチレン系ポリマー、エポキシ系ポリマーやポリマーのブレンド物等の透明ポリマーからなるフィルム等も挙げられる。特に光学的に複屈折の少ないものが好適に用いられる。
上記フィルム基材の中でも、(メタ)アクリル系樹脂フィルムであることが好ましい。上記(メタ)アクリル系樹脂フィルムは、(メタ)アクリル系樹脂を含む。(メタ)アクリル系樹脂フィルムは、例えば、(メタ)アクリル系樹脂を主成分として含む樹脂成分を含有する成型材料を、押出し成型にて成型して得られる。
上記(メタ)アクリル系樹脂としては、Tg(ガラス転移温度)が、好ましくは115℃以上、より好ましくは120℃以上、さらに好ましくは125℃以上、特に好ましくは130℃以上である。上記(メタ)アクリル系樹脂フィルムは、Tg(ガラス転移温度)が115℃以上である(メタ)アクリル系樹脂を主成分として含むことにより、耐久性に優れたものとなり得る。上記(メタ)アクリル系樹脂のTgの上限値は特に限定されないが、成形性等の観点から、好ましくは170℃以下である。
上記(メタ)アクリル系樹脂としては、任意の適切な(メタ)アクリル系樹脂を採用し得る。例えば、ポリメタクリル酸メチルなどのポリ(メタ)アクリル酸エステル、メタクリル酸メチル−(メタ)アクリル酸共重合体、メタクリル酸メチル−(メタ)アクリル酸エステル共重合体、メタクリル酸メチル−アクリル酸エステル−(メタ)アクリル酸共重合体、(メタ)アクリル酸メチル−スチレン共重合体(MS樹脂など)、脂環族炭化水素基を有する重合体(例えば、メタクリル酸メチル−メタクリル酸シクロヘキシル共重合体、メタクリル酸メチル−(メタ)アクリル酸ノルボルニル共重合体など)が挙げられる。好ましくは、ポリ(メタ)アクリル酸メチルなどのポリ(メタ)アクリル酸C1−6アルキルが挙げられる。より好ましくは、メタクリル酸メチルを主成分(50〜100質量%、好ましくは70〜100質量%)とするメタクリル酸メチル系樹脂が挙げられる。
上記(メタ)アクリル系樹脂の具体例としては、例えば、三菱レイヨン社製のアクリペットVHやアクリペットVRL20A、分子内架橋や分子内環化反応により得られる高Tg(メタ)アクリル系樹脂が挙げられる。
本発明においては、高い耐熱性、高い透明性、高い機械的強度を有する点で、上記(メタ)アクリル系樹脂として、グルタル酸無水物構造を有する(メタ)アクリル系樹脂、ラクトン環構造を有する(メタ)アクリル系樹脂、グルタルイミド構造を有する(メタ)アクリル系樹脂が好ましい。
グルタル酸無水物構造を有する(メタ)アクリル系樹脂としては、特開2006−283013号公報、特開2006−335902号公報、特開2006−274118号公報などに記載の、グルタル酸無水物構造を有する(メタ)アクリル系樹脂が挙げられる。
ラクトン環構造を有する(メタ)アクリル系樹脂としては、特開2000−230016号公報、特開2001−151814号公報、特開2002−120326号公報、特開2002−254544号公報、特開2005−146084号公報などに記載の、ラクトン環構造を有する(メタ)アクリル系樹脂が挙げられる。
グルタルイミド構造を有する(メタ)アクリル系樹脂としては、特開2006−309033号公報、特開2006−317560号公報、特開2006−328329号公報、特開2006−328334号公報、特開2006−337491号公報、特開2006−337492号公報、特開2006−337493号公報、特開2006−337569号公報、特開2007−009182号公報などに記載の、グルタルイミド構造を有する(メタ)アクリル系樹脂が挙げられる。
(メタ)アクリル系樹脂フィルム中の上記(メタ)アクリル系樹脂の含有量は、好ましくは50〜100質量%、より好ましくは50〜99質量%、さらに好ましくは60〜98質量%、特に好ましくは70〜97質量%である。(メタ)アクリル系樹脂フィルム中の上記(メタ)アクリル系樹脂の含有量が50質量%未満の場合には、(メタ)アクリル系樹脂が本来有する高耐熱性、高透明性が十分に反映できないおそれがある。
(メタ)アクリル系樹脂フィルムを成型する際に用いる成型材料中の上記(メタ)アクリル系樹脂の含有量は、好ましくは50〜100質量%、より好ましくは50〜99質量%、さらに好ましくは60〜98質量%、特に好ましくは70〜97質量%である。(メタ)アクリル系樹脂フィルムを成型する際に用いる成型材料中の上記(メタ)アクリル系樹脂の含有量が50質量%未満の場合には、(メタ)アクリル系樹脂が本来有する高耐熱性、高透明性が十分に反映できないおそれがある。
(メタ)アクリル系樹脂フィルムは、上記(メタ)アクリル系樹脂以外に、他の熱可塑性樹脂を含有していてもよい。他の熱可塑性樹脂としては、例えば、ポリエチレン、ポリプロピレン、エチレン−プロピレン共重合体、ポリ(4−メチル−1−ペンテン)等のオレフィン系重合体;塩化ビニル、塩化ビニリデン、塩素化ビニル樹脂等のハロゲン化ビニル系重合体;ポリメタクリル酸メチル等のアクリル系重合体;ポリスチレン、スチレン−メタクリル酸メチル共重合体、スチレン−アクリロニトリル共重合体、アクリロニトリル−ブタジエン−スチレンブロック共重合体等のスチレン系重合体;ポリエチレンテレフタレート、ポリブチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート等のポリエステル;ナイロン6、ナイロン66、ナイロン610等のポリアミド;ポリアセタール;ポリカーボネート;ポリフェニレンオキシド;ポリフェニレンスルフィド;ポリエーテルエーテルケトン;ポリスルホン;ポリエーテルスルホン;ポリオキシベンジレン;ポリアミドイミド;ポリブタジエン系ゴム、アクリル系ゴムを配合したABS樹脂やASA樹脂等のゴム質重合体等が挙げられる。
(メタ)アクリル系樹脂フィルムにおける他の熱可塑性樹脂の含有割合は、好ましくは0〜50質量%、より好ましくは0〜40質量%、さらに好ましくは0〜30質量%、特に好ましくは0〜20質量%である。
(メタ)アクリル系樹脂フィルムは、添加剤を含有していてもよい。添加剤としては、例えば、ヒンダードフェノール系、リン系、イオウ系等の酸化防止剤;耐光安定剤、耐候安定剤、熱安定剤等の安定剤;ガラス繊維、炭素繊維等の補強材;フェニルサリチレート、(2,2’−ヒドロキシ−5−メチルフェニル)ベンゾトリアゾール、2−ヒドロキシベンゾフェノン等の紫外線吸収剤;近赤外線吸収剤;トリス(ジブロモプロピル)ホスフェート、トリアリルホスフェート、酸化アンチモン等の難燃剤;アニオン系、カチオン系、ノニオン系の界面活性剤等の帯電防止剤;無機顔料、有機顔料、染料等の着色剤;有機フィラーや無機フィラー;樹脂改質剤;有機充填剤や無機充填剤;可塑剤;滑剤;帯電防止剤;難燃剤;位相差低減剤等が挙げられる。
(メタ)アクリル系樹脂フィルムにおける添加剤の含有割合は、好ましくは0〜5質量%、より好ましくは0〜2質量%、さらに好ましくは0〜0.5質量%である。
(メタ)アクリル系樹脂フィルムの製造方法としては、特に限定されるものではないが、例えば、(メタ)アクリル系樹脂と、その他の重合体や添加剤等を、任意の適切な混合方法で充分に混合し、予め熱可塑性樹脂組成物としてから、これをフィルム成形することができる。あるいは、(メタ)アクリル系樹脂と、その他の重合体や添加剤等を、それぞれ別々の溶液にしてから混合して均一な混合液とした後、フィルム成形してもよい。
上記熱可塑性樹脂組成物を製造するには、例えば、オムニミキサー等、任意の適切な混合機で上記のフィルム原料をプレブレンドした後、得られた混合物を押出混練する。この場合、押出混練に用いられる混合機は、特に限定されるものではなく、例えば、単軸押出機、二軸押出機等の押出機や加圧ニーダー等、任意の適切な混合機を用いることができる。
上記フィルム成形の方法としては、例えば、溶液キャスト法(溶液流延法)、溶融押出法、カレンダー法、圧縮成形法等、任意の適切なフィルム成形法が挙げられる。これらのフィルム成形法のうち、溶液キャスト法(溶液流延法)、溶融押出法が好ましい。
上記溶液キャスト法(溶液流延法)に用いられる溶媒としては、例えば、ベンゼン、トルエン、キシレン等の芳香族炭化水素類;シクロヘキサン、デカリン等の脂肪族炭化水素類;酢酸エチル、酢酸ブチル等のエステル類;アセトン、メチルエチエルケトン、メチルイソブチルケトン等のケトン類;メタノール、エタノール、イソプロパノール、ブタノール、イソブタノール、メチルセロソルブ、エチルセロソルブ、ブチルセロソルブ等のアルコール類;テトラヒドロフラン、ジオキサン等のエーテル類;ジクロロメタン、クロロホルム、四塩化炭素等のハロゲン化炭化水素類;ジメチルホルムアミド;ジメチルスルホキシド等が挙げられる。これらの溶媒は、単独で用いても2種以上を併用してもよい。
上記溶液キャスト法(溶液流延法)を行うための装置としては、例えば、ドラム式キャスティングマシン、バンド式キャスティングマシン、スピンコーター等が挙げられる。
上記溶融押出法としては、例えば、Tダイ法、インフレーション法等が挙げられる。成形温度は、好ましくは150〜350℃、より好ましくは200〜300℃である。
上記Tダイ法でフィルム成形する場合は、公知の単軸押出機や二軸押出機の先端部にTダイを取り付け、フィルム状に押出されたフィルムを巻取って、ロール状のフィルムを得ることができる。この際、巻取りロールの温度を適宜調整して、押出方向に延伸を加えることで、1軸延伸することも可能である。また、押出方向と垂直な方向にフィルムを延伸することにより、同時2軸延伸、逐次2軸延伸等を行うこともできる。
(メタ)アクリル系樹脂フィルムは、未延伸フィルムまたは延伸フィルムのいずれでもよい。延伸フィルムである場合は、1軸延伸フィルムまたは2軸延伸フィルムのいずれでもよい。2軸延伸フィルムである場合は、同時2軸延伸フィルムまたは逐次2軸延伸フィルムのいずれでもよい。2軸延伸した場合は、機械的強度が向上し、フィルム性能が向上する。(メタ)アクリル系樹脂フィルムは、他の熱可塑性樹脂を混合することにより、延伸しても位相差の増大を抑制することができ、光学的等方性を保持することができる。
延伸温度は、フィルム原料である熱可塑性樹脂組成物のガラス転移温度近傍であることが好ましく、具体的には、好ましくは(ガラス転移温度−30℃)〜(ガラス転移温度+100℃)、より好ましくは(ガラス転移温度−20℃)〜(ガラス転移温度+80℃)の範囲内である。延伸温度が(ガラス転移温度−30℃)未満であると、充分な延伸倍率が得られないおそれがある。逆に、延伸温度が(ガラス転移温度+100℃)超えると、樹脂組成物の流動(フロー)が起こり、安定な延伸が行えないおそれがある。
面積比で定義した延伸倍率は、好ましくは1.1〜25倍、より好ましくは1.3〜10倍である。延伸倍率が1.1倍未満であると、延伸に伴う靭性の向上につながらないおそれがある。延伸倍率が25倍を超えると、延伸倍率を上げるだけの効果が認められないおそれがある。
延伸速度は、一方向で、好ましくは10〜20,000%/min、より好ましく100〜10,000%/minである。延伸速度が10%/min未満であると、充分な延伸倍率を得るために時間がかかり、製造コストが高くなるおそれがある。延伸速度が20,000%/minを超えると、延伸フィルムの破断等が起こるおそれがある。
(メタ)アクリル系樹脂フィルムは、その光学的等方性や機械的特性を安定化させるために、延伸処理後に熱処理(アニーリング)等を行うことができる。熱処理の条件は、任意の適切な条件を採用し得る。
(メタ)アクリル系樹脂フィルムの厚さは、好ましくは5〜200μm、より好ましくは10〜100μmである。厚さが5μm以上であれば強度が低下せず、偏光板の耐久性試験において捲縮が大きくならす好ましい。厚さが200μm以下であれば、透明性が低下せず、透湿性が小さくならず、水系接着剤を用いた場合、その溶剤である水の乾燥速度が遅くならないため好ましい。
(メタ)アクリル系樹脂フィルムの表面の濡れ張力は、好ましくは40mN/m以上、より好ましくは50mN/m以上、さらに好ましくは55mN/m以上である。表面の濡れ張力が少なくとも40mN/m以上であると、例えば本発明の反射防止フィルムを用いた偏光板を作成する際の(メタ)アクリル系樹脂フィルムと偏光膜との接着強度がさらに向上する。表面の濡れ張力を調整するために、任意の適切な表面処理を施すことができる。表面処理としては、例えば、コロナ放電処理、プラズマ処理、オゾン吹き付け、紫外線照射、火炎処理、化学薬品処理が挙げられる。これらの中でも、好ましくは、コロナ放電処理、プラズマ処理である。
光透過性基材の厚さ、幅については適宜に決定し得る。光透過性基材の厚さとしては、一般には強度や取り扱い性等の作業性、薄層性等の点を考慮し、10〜500μm程度である。特に20〜300μmが好ましく、30〜200μmがより好ましい。光透過性基材の巾としては、100〜5000mmのものが好適に用いられ、800〜3000mmであることが好ましく、1000〜2000mmであることがさらに好ましい。更に、光透過性基材の屈折率としては特に制限されず、通常1.30〜1.80程度、特に1.40〜1.70であることが好ましい。
光透過性基材の表面は平滑であることが好ましく、中心線平均粗さRaの値が1μm以下であることが好ましく、0.0001〜0.5μmであることが好ましく、0.001〜0.1μmであることがさらに好ましい。
中心線平均粗さ(Ra)の測定は、JIS B−0601に準じて行うことができる。
〔反射防止フィルムの製造方法〕
本発明の反射防止フィルムの製造方法は、光透過性基材と、光透過性基材とは反対側の表面に凹凸構造を有する反射防止層とを有する反射防止フィルムの製造方法であって、
光透過性基材上に、下記(A)、(B)、(C)、及び(E)を含有する組成物を塗布し、
組成物における(A)と(B)の面積比(海部の面積/島部の面積)である(A)/(B)が1.0よりも大きく、
下記(A)及び(B)を海島状に相分離させ、
下記(A)の一部を光透過性基材又は下層に浸透させ、
電離放射線を照射して下記(A)及び(B)を硬化することで、
下記(A)の硬化物からなる海部と、
下記(B)の硬化物からなり、海部から突出して凸部を形成する島部と
からなる海島状の相分離構造によるものであり、
反射防止層の最表面の海部と島部の面積比(海部の面積/島部の面積)が1.0よりも大きく、
凸部の島の大きさおよび凸部の周期は、380nm以下である凹凸構造を有する反射防止層を形成する、反射防止フィルムの製造方法である。
(A)分子内に重合性基を2つ以上有する親水性の電離放射線硬化性モノマー
(B)分子中に重合性基を2つ以上有し、(A)の電離放射線硬化性モノマーよりもSP値が0.5以上低くかつ(A)の電離放射線硬化性モノマーよりも100mPas以上高い、質量平均分子量が1000以上の電離放射線硬化性ポリマー
(C)重合開始剤
(E)光透過性基材又は下層に対して浸透性を有する溶剤
(A)〜(E)成分については、前述のとおりである。
(塗布工程)
反射防止層を形成するための組成物の塗布方法としては、例えば、ディップコート法、エアーナイフコート法、カーテンコート法、ローラーコート法、ワイヤーバーコート法、グラビアコート法やエクストルージョンコート法(ダイコート法)(米国特許2681294号明細書参照)、マイクログラビアコート法等の公知の方法が用いられ、その中でもマイクログラビアコート法、ダイコート法が高い生産性、塗膜の均一性の観点で好ましく用いられる。
[スロットダイを用いて支持体上に押し出す工程]
本発明の反射防止フィルムを高い生産性で供給するために、エクストルージョン法(ダイコート法)が好ましく用いられる。特に、ハードコート層や反射防止層のような、ウエット塗布量の少ない領域(20mL/m以下)で好ましく用いることができるダイコーターについては、例えば特開2007−293313号公報などを参照することができ、本発明においても同様である。
(乾燥工程)
反射防止層を形成するための組成物を光透過性基材上に塗布した後、溶剤を乾燥するために加熱されたゾーンにウェブで搬送する。その際の乾燥ゾーンの温度としては0℃〜140℃が好ましく、10℃〜120℃が更に好ましく、乾燥ゾーンの前半は比較的低温に、後半は比較的高温にする等の調整をすることも好適である。但し、塗布組成物に含有される溶剤以外の成分の揮発が始まる温度以下とすることは必須である。これらの好ましい乾燥条件以外に乾燥工程の制約はなく、通常の塗布後乾燥に使用できる方法を用いることができる。
(硬化方法)
塗布工程および乾燥工程を経た積層体の塗膜を紫外線照射および/または熱により硬化することができる。ここで紫外線照射による硬化とは、低圧水銀灯、中圧水銀灯、高圧水銀灯、超高圧水銀灯、カーボンアーク灯、メタルハライドランプ、キセノンランプ等、また、ArFエキシマレーザ、KrFエキシマレーザ、エキシマランプまたはシンクロトロン放射光等の光源を用いて乾燥した膜に紫外線を照射して膜を硬化させることをいう。
紫外線照射条件は、紫外線照射に用いるそれぞれのランプによって異なるが、照射光量は20〜10000mJ/cmが好ましく、さらに好ましくは、100〜2000mJ/cmであり、特に好ましくは、150〜1000mJ/cmである。
紫外線照射による硬化の場合、各層を1層ずつ照射してもよいし、積層後に照射しても良い。紫外線照射の際に積層体表面の硬化を促進させる目的で、窒素ガス等のパージをして酸素濃度を低下させることもできる。硬化させる環境の酸素濃度は5体積%以下が好ましく、1体積%以下がより好ましく、0.1体積%以下が更に好ましい。
〔ハードコート層〕
本発明の反射防止フィルムは、物理的強度を付与するために光透過性基材の一方の面にハードコート層を設けることができる。本発明の反射防止フィルムは、光透過性基材と反射防止層の間にハードコート層を有することが好ましい。
ハードコート層の膜厚は、十分な耐久性または耐衝撃性の付与、カール、生産性、コストの観点から、0.5μm〜50μm程度とするのが一般的である。好ましい膜厚としては1μm〜30μmであり、更に好ましくは2μm〜20μmであり、最も好ましくは3μm〜15μmである。
また、ハードコート層の強度は、鉛筆硬度試験で、H以上であることが好ましく、2H以上であることがより好ましく、3H以上であることが更に好ましく、最も好ましくは5H以上である。
さらに、JIS K5400に従うテーバー試験で、試験前後の試験片の摩耗量が少ないほど好ましい。
ハードコート層の屈折率は、光学設計、反射率、色味、ムラ、コストの点から、屈折率が1.48〜1.75の範囲にあることが好ましく、より好ましくは1.49〜1.65であり、更に好ましくは1.50〜1.55である。
〔導電性層〕
本発明の反射防止フィルムにおいては、帯電防止の目的で導電性層を設けることができ、それにより反射防止フィルム表面でのゴミつきを防止することができる。導電性層は各層と別の単独層として設けても良いし、積層した層のいずれかが導電性層を兼ねるような兼用層として設けることも可能である。
導電性層の膜厚は、0.01μm〜10μmが好ましく、0.03μm〜7μmがより好ましく、0.05μm〜5μmが最も好ましい。導電性層の表面抵抗SR(Ω/sq)は、logSRとして、5〜12であることが好ましく、5〜11がより好ましく、6〜10であることが最も好ましい。導電性層の表面抵抗は公知の測定法で測定することができ、例えば四探針法により測定可能である。
〔干渉ムラ防止層〕
本発明の反射防止フィルムにおいては、干渉ムラ防止の目的で干渉ムラ防止層を設けることができ、それにより反射防止フィルム表面での干渉ムラを防止することができる。干渉ムラは基材と基材上に塗布した層(例えばハードコート層)の屈折率差によって反射光が干渉し、膜厚ムラに対応して色味変化してしまうことであり、これを防止するために基材と基材上に塗布した層の間に屈折率を連続的に変化させることで、干渉ムラを防止する方法がある(特開2003−205563号公報、特開2003−131007号公報等参照)。このような干渉ムラ防止層を基材層の上に設けても良い。
〔偏光板用保護フィルム〕
本発明の反射防止フィルムを液晶表示装置に用いる場合は、偏光板を作成するにあたり、反射防止フィルムを偏光膜の表面保護フィルム(偏光板用保護フィルム)として用いるために、反射防止層を有する側とは反対側の光透過性基材の表面、すなわち偏光膜と貼り合わせる側の表面を親水化することで、ポリビニルアルコールを主成分とする偏光膜との接着性を改良することが好ましい。
〔偏光板〕
本発明の反射防止フィルムを用いた偏光板は、偏光膜と偏光膜の表側および裏側の少なくとも一方を保護する保護フィルムとして反射防止フィルムを有する。本発明の反射防止フィルムを用いた偏光板は好ましくは偏光膜の両面を保護する2枚の保護フィルムを有する積層板であって、保護フィルムの少なくとも一方が反射防止フィルムである態様である。
偏光板は、偏光膜の保護フィルム(偏光板用保護フィルム)の少なくとも一方に、反射防止フィルムを有する。反射防止フィルムの透明支持体がポリビニルアルコールやポリエステルウレタンからなる接着剤層を介して偏光膜に接着しており、もう一方の偏光膜の保護フィルムが接着剤層を介して偏光膜の反射防止フィルムが接着している主面とは反対側の主面と接着している。もう一方の保護フィルムの偏光膜と接着している主面と反対側の主面には粘着剤層を有している。
本発明の反射防止フィルムを偏光板用保護フィルムとして用いることにより、物理強度、優れた反射防止機能を有する偏光板が作製でき、大幅なコスト削減が可能となる。
また、本発明の反射防止フィルムを偏光板用保護フィルムの一方に、後述する光学異方性のある光学補償フィルムを偏光膜の保護フィルムのもう一方に用いた偏光板を作製することにより、さらに、液晶表示装置の明室でのコントラストを改良し、上下左右および斜め方向の視野角を非常に広げることができる偏光板を作製できる。
[画像表示装置]
本発明の反射防止フィルムを有する画像表示装置としては、液晶表示装置(LCD)、プラズマディスプレイパネル(PDP)、エレクトロルミネッセンスディスプレイ(OLED)や陰極管表示装置(CRT)、電界放出ディスプレイ(FED)、表面電界ディスプレイ(SED)等が挙げられる。中でも、本発明の反射防止フィルムは、液晶パネル画面の表面フィルムとして使用することが好ましい。本発明の反射防止フィルムを有する偏光板を備えた画像表示装置としては、液晶表示装置(LCD)、エレクトロルミネッセンスディスプレイ(OLED)のような画像表示装置が挙げられる。本発明の反射防止フィルムを有する画像表示装置においては、本発明の反射防止フィルムを有する偏光板を、液晶表示装置の液晶セルのガラスに直接または他の層を介して接着して用いる。
本発明に係る反射防止フィルムを用いた偏光板は、ツイステットネマチック(TN)、スーパーツイステットネマチック(STN)、バーティカルアライメント(VA)、インプレインスイッチング(IPS)、オプティカリーコンペンセイテットベンドセル(OCB)等のモードの透過型、反射型、または半透過型の液晶表示装置に好ましく用いることができる。
また、透過型または半透過型の液晶表示装置に用いる場合には、市販の輝度向上フィルム(偏光選択層を有する偏光分離フィルム、例えば住友3M(株)製のD−BEFなど)と併せて用いることにより、さらに視認性の高い表示装置を得ることができる。
また、λ/4板と組み合わせることで、反射型液晶用の偏光板や、OLED用表面保護板として表面および内部からの反射光を低減するのに用いることができる。
[実施例1]
<反射防止フィルムの作製>
((a)イオン伝導性化合物IP−1の合成)
特許第4600605号公報の合成例2と同様に実施し、特許第4600605号公報の(A−2)に対応する化合物として、エチレンオキサイド鎖を有する4級アンモニウム塩基含有ポリマーであるIP−1(30質量%エタノール溶液)を合成した。
(帯電防止性ハードコート層用塗布液A−1の調製)
下記組成物をミキシングタンクに投入し、攪拌し、孔径0.5μmのポリプロピレン製フィルターで濾過して帯電防止性ハードコート層塗布液A−1(不揮発分濃度50質量%)とした。
酢酸メチル 50質量部
MEK(メチルエチルケトン) 50質量部
A―TMMT 87.5質量部
IP−1 10質量部
IRG127 2.45質量部
フルオロ脂肪族基含有ポリマーFP−13 0.05質量部
(帯電防止性ハードコート層A−1の作製)
光透過性基材(TD60UL:トリアセチルセルロースフィルム、膜厚60μm、富士フイルム製)の上に、帯電防止性ハードコート層用塗布液A−1をダイコーターで、搬送速度30m/分の条件で塗布し、60℃で120秒乾燥の後、窒素パージ(酸素濃度0.03体積%以下)しながら、160W/cmの空冷メタルハライドランプ(アイグラフィックス(株)製)を用いて、照度400mW/cm、照射量60mJ/cmの紫外線を照射して塗布層を硬化させ、厚さ5μmの帯電防止性ハードコート層A−1を形成した。
(反射防止層の作製)
[シリカ粒子分散液 S−1の調製]
シリカ微粒子ゾルA(IPA−ST−ZL、平均粒子径85nm、シリカ濃度30%、日産化学(株)製)333質量部に、γ−アクリロイルオキシプロピルトリメトキシシラン(本文定義の分子量192)10質量部およびジイソプロポキシアルミニウムエチルアセテート1.51質量部、メチルエチルケトン500質量部加えて混合した後に、イオン交換水3質量部を加えた。この混合液を60℃で8時間反応させた後に室温まで冷却し、アセチルアセトン1.8質量部を添加して分散液を得た。その後、シリカの含率がほぼ一定になるようにシクロヘキサノンを添加しながら、圧力30Torrで減圧蒸留による溶媒置換を行い、最後に濃度調整により固形分濃度21.7%(シリカ濃度20%)の重合性官能基を有するシランカップリング剤で表面修飾したシリカ粒子分散液S−1を得た。
[表面処理シリカのNMRによる評価(表面修飾率)]
各無機微粒子の分散液を25℃でロータリーエバポレーターで蒸発乾固させた。その後、前述した方法で固体NMRを測定して表面修飾率α(本シランカップリング剤の場合はα2=T/Q)を求めた。結果を下記表3に示す。
(反射防止層形成用組成物B−1の調製)
下記表4に記載の反射防止層形成用組成物B−1の組成となるように各成分を添加し、得られた組成物をミキシングタンクに投入、攪拌し、孔径0.5μmのポリプロピレン製フィルターで濾過して反射防止層形成用組成物B−1(固形分濃度50質量%)とした。
(反射防止層の作製)
帯電防止性ハードコート層A−1上に、反射防止層形成用組成物B−1をダイコーターで、搬送速度30m/分の条件で塗布し、熱風乾燥炉を用いて120℃で5分乾燥の後、窒素パージ(酸素濃度0.03体積%以下)しながら、240W/cmの空冷メタルハライドランプ(アイグラフィックス(株)製)を用いて、照度600mW/cm、照射量600mJ/cmの紫外線を照射して塗布層を硬化させて反射防止層を形成し、反射防止フィルム試料No.1を作製した。なお、膜厚は、ガラス上に同様の方法で塗布、硬化させたときに0.8μmになる厚さに設定した。
(ハードコート層用塗布液A−2の調製)
下記組成物をミキシングタンクに投入し、攪拌し、孔径0.4μmのポリプロピレン製フィルターで濾過してハードコート層塗布液A−2(不揮発分濃度50質量%)とした。
酢酸メチル 50質量部
MEK(メチルエチルケトン) 50質量部
A―TMMT 87.5質量部
U−4HA 10質量部
IRG127 2.45質量部
フルオロ脂肪族基含有ポリマーFP−13 0.05質量部
(帯電防止性ハードコート層用塗布液A−3の調製)
下記組成物をミキシングタンクに投入し、攪拌し、孔径0.5μmのポリプロピレン製フィルターで濾過して帯電防止性ハードコート層塗布液A−3(不揮発分濃度50質量%)とした。
酢酸メチル 40質量部
MEK(メチルエチルケトン) 40質量部
メタノール 20質量部
A―TMMT 87.5質量部
IP−1 10質量部
IRG127 2.45質量部
フルオロ脂肪族基含有ポリマーFP−13 0.05質量部
(反射防止層用塗布液B−107の調製)
下記組成物をミキシングタンクに投入し、攪拌し、孔径0.5μmのポリプロピレン製フィルターで濾過して反射防止層塗布液B−107(不揮発分濃度4質量%)とした。
MEK(メチルエチルケトン) 70質量部
PGMEA(プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート)
30質量部
DPHA 50質量部
スルーリア2320 45質量部
IRG127 3質量部
X−22−164C 2質量部
[シリカ粒子分散液 S−2の調製]
γ−アクリロイルオキシプロピルトリメトキシシラン(本文定義の分子量192)8質量部およびジイソプロポキシアルミニウムエチルアセテート1.21質量部に変更した以外は、シリカ粒子分散液S−1と同様の方法で、シリカ粒子分散液S−2を得た。
[シリカ粒子分散液 S−3の調製]
γ−アクリロイルオキシプロピルトリメトキシシラン(本文定義の分子量192)5質量部およびジイソプロポキシアルミニウムエチルアセテート0.75質量部に変更した以外は、シリカ粒子分散液S−1と同様の方法で、シリカ粒子分散液S−3を得た。
[シリカ粒子分散液 S−4の調製]
γ−アクリロイルオキシプロピルトリメトキシシラン(本文定義の分子量192)15質量部およびジイソプロポキシアルミニウムエチルアセテート2.27質量部に変更した以外は、シリカ粒子分散液S−1と同様の方法で、シリカ粒子分散液S−4を得た。
[シリカ粒子分散液 S−5の調製]
γ−アクリロイルオキシプロピルトリメトキシシラン(本文定義の分子量192)20質量部およびジイソプロポキシアルミニウムエチルアセテート3.03質量部に変更した以外は、シリカ粒子分散液S−1と同様の方法で、シリカ粒子分散液S−5を得た。
[シリカ粒子分散液 S−6の調製]
γ−アクリロイルオキシプロピルトリメトキシシラン(本文定義の分子量192)をジメチルジメトキシシラン(本文定義の分子量80)に変更した以外は、シリカ粒子分散液S−1と同様の方法で、シリカ粒子分散液S−6を得た。得られたシリカ分散液S−6の表面修飾率α(T/Q)=8.2%であった。
[シリカ粒子分散液 S−7の調製]
γ−アクリロイルオキシプロピルトリメトキシシラン(本文定義の分子量192)10質量部をγ―メタクリロイルオキシオクチルトリメトキシシラン(本文定義の分子量272)14.2質量部に変更した以外は、シリカ粒子分散液S−1と同様の方法で、シリカ粒子分散液S−7を得た。得られたシリカ分散液S−7の表面修飾率α(T/Q)=6.6%であった。
Figure 2015169848
反射防止層形成用組成物B−1と同様の方法で、各成分を下記表4の組成になるように混合して調整し、固形分濃度50質量%の反射防止層形成用組成物B−2〜B−30、B−101〜B−104を作製した。
帯電防止性ハードコート層、ハードコート層及び、反射防止層形成用組成物を表5のように変更した以外は、反射防止フィルム試料No.1と同様の方法で、反射防止フィルム試料No.2〜28、30〜36を作製した。
((メタ)アクリル系樹脂フィルム−1の作製)
[下記式(1A)で表されるラクトン環構造を有する(メタ)アクリル系樹脂{共重合モノマー質量比=メタクリル酸メチル/2−(ヒドロキシメチル)アクリル酸メチル=8/2、ラクトン環化率約100%、ラクトン環構造の含有割合19.4%、重量平均分子量133000、メルトフローレート6.5g/10分(240℃、10kgf)、Tg131℃}90質量部と、アクリロニトリル−スチレン(AS)樹脂{トーヨーASAS20、東洋スチレン社製}10質量部との混合物;Tg127℃]のペレットを二軸押し出し機に供給し、約280℃でシート状に溶融押し出しして、厚さ110μmのラクトン環構造を有する(メタ)アクリル系樹脂シートを得た。この未延伸シートを、160℃の温度条件下、縦2.0倍、横2.4倍に延伸して(メタ)アクリル系樹脂フィルム−1(厚さ:40μm、面内位相差Δnd:0.8nm、厚み方向位相差Rth(550nm):1.5nm)を得た。
Figure 2015169848
(コロナ放電処理)
上記で得られた(メタ)アクリル系樹脂フィルムの片側に、コロナ放電処理(コロナ放電電子照射量:77W/m/min)を施した。
透過性基材を(メタ)アクリル系樹脂フィルム−1に変更し、ハードコート層A−2、及び反射防止層形成用組成物B−26を用いた以外は、反射防止フィルム試料No.1と同様の方法で、反射防止フィルム試料No.29を作製した。
透過性基材をPET(富士フイルム製FD−100M、膜厚105μm)に変更し、ハードコート層を設けず、反射防止層形成用組成物B−101を用いた以外は、反射防止フィルム試料No.1と同様の方法で、反射防止フィルム試料No.101を作製した。反射防止フィルム試料No.101の反射防止層の膜厚は10μmとした。
熱風乾燥炉の代わりに遠赤外線加熱炉(ヤマト科学(株)製DIR631)により、6〜20μmの波長を含む光を輻射して120℃1分乾燥したこと以外は、試料No.101と同様の方法で光学フィルム試料No.102を作製した。
反射防止層形成用組成物を表5のように変更した以外は、反射防止フィルム試料No.1と同様の方法で、反射防止フィルム試料No.103〜107を作製した。
反射防止層形成用組成物B−107に変更した以外は、反射防止フィルム試料No.36と同様の方法で、反射防止フィルムNo.108を作製した。
表4において、溶媒以外の各成分の含有量は、組成物作製時の質量部で表した。
また、各溶媒の含有量は、全溶媒(揮発分)の全質量に対する各溶媒の質量の比率(質量%)で表した。
Figure 2015169848
それぞれ使用した化合物を以下に示す。
A−TMMT:ペンタエリスリトールテトラアクリレート(新中村化学工業(株)NKエステル)、SP値20.7、粘度800mPas。
A−TMM3−LMN:ペンタエリスリトールトリアクリレート(新中村化学工業(株)NKエステル)、SP値21.6、粘度730mPas。
IRG127:イルガキュア127(重合開始剤、BASFジャパン製)
U−4HA:ウレタンアクリレートモノマー(新中村化学工業(株)NKオリゴ)、
ブレンマーGMR−H:日油(株)製、グリセリンジメタクリレート。SP値21.5、粘度40mPas。
DPHA:ジペンタエリスリトールペンタアクリレートとジペンタエリスリトールヘキサアクリレートの混合物(日本化薬(株)製)SP値21.4、粘度6,600mPas。
UV7600B:6官能ウレタンアクリレート(日本合成化学工業(株)製、紫光)SP値22.0、粘度3,000mPas。
HEMA:ヒドロキシエチルメタクリレート(日本触媒(株)製)SP値26.5、粘度5.3mPas。
NFP−1:含フッ素炭化水素構造を含まず、ポリアルキレンオキシド基も含まない化合物((表2のP−17において、HFP/FPVEモノマーに由来する構造単位をEVEモノマーに由来する構造単位に置き換えたポリマー)、質量平均分子量2.2万、SP値21.0、粘度2万mPas以上)
NFP−2:含フッ素炭化水素構造を含まないポリアルキレンオキシド基を有する化合物((表1のIPF−36において、HFPモノマーに由来する構造単位をEVEモノマーに由来する構造単位に置き換えたポリマー)、質量平均分子量2.4万、SP値21.1、粘度1万mPas以上)
P−2:含フッ素炭化水素構造を含有し、ポリアルキレンオキシド基を含まない化合物(表2に記載)、質量平均分子量2.3万、SP値19.2、粘度1万mPas以上)
IPF−4:含フッ素炭化水素構造を含有し、ポリアルキレンオキシド基を含む化合物(表1に記載)、質量平均分子量2.3万、SP値19.0、粘度1万mPas以上)
IPF−37:含フッ素炭化水素構造を含有し、ポリアルキレンオキシド基を含む化合物(表1に記載のIPF−4の分子量違い)、質量平均分子量1.4万、SP値19.0、粘度7000mPas)
IPF−10:含フッ素炭化水素構造を含有し、ポリアルキレンオキシド基を含む化合物(表1に記載)、質量平均分子量2.7万、SP値19.0、粘度1万mPas以上)
IPF−2:含フッ素炭化水素構造を含有し、ポリアルキレンオキシド基を含む化合物(表1に記載)、質量平均分子量2.3万、SP値19.0、粘度1万mPas以上)
IPF−35:含フッ素炭化水素構造を含有し、ポリアルキレンオキシド基を含む化合物(表1に記載)、質量平均分子量2.2万、SP値17.8、粘度1万mPas以上)
BR−50:スチレン共重合メタクリル酸メチル樹脂(三菱レイヨン(株)製)、質量平均分子量6.5万、SP値21.6、粘度3万mPas以上、分子中に重合性基は含有しない。)
IRG907:光重合開始剤、イルガキュア907、BASF製
IRG184:光重合開始剤、イルガキュア184、BASF製
IRG127:光重合開始剤、イルガキュア127、BASF製
IPA−ST−ZL:平均粒子サイズ約15nmのシリカ分散液(固形分濃度30質量%)、溶媒イソプロピルアルコール(IPA)(日産化学工業(株)製)シリカ粒子の屈折率=1.45、表面からの検出基はなし。(本文定義の未処理)。
MIBK−ST:平均粒子サイズ約15nmのシリカ分散液(固形分濃度30質量%)、溶媒メチルイソブチルケトン(MIBK)(日産化学工業(株)製)シリカ粒子の屈折率=1.45、表面よりトリメチルシリル基を検出(本文定義の分子量90)。
MIBK−SD:平均粒子サイズ約15nmのシリカ分散液(固形分濃度30質量%)、溶媒MIBK(日産化学工業(株)製)シリカ粒子の屈折率=1.45、表面よりメタクリロイルオキシプロピル基を検出(本文定義の分子量200)。
MIBK−SD−L:平均粒子サイズ約45nmのシリカ分散液(固形分濃度30質量%)、溶媒MIBK(日産化学工業(株)製)シリカ粒子の屈折率=1.45、表面よりメタリロイルオキシプロピル基を検出(本文定義の分子量200)。
MEK−ST−2040:平均粒子サイズ約200nmのシリカ分散液(固形分濃度30質量%)、溶媒MEK(日産化学工業(株)製)シリカ粒子の屈折率=1.45、表面よりトリメチルシリル基を検出(本文定義の分子量90)。
MEK−ST−3040:平均粒子サイズ約300nmのシリカ分散液(固形分濃度30質量%)、溶媒MEK(日産化学工業(株)製)シリカ粒子の屈折率=1.45、表面よりトリメチルシリル基を検出(本文定義の分子量90)。
OZ−S30K:平均粒子サイズ約7nmのZrO分散液(固形分濃度30質量%)、溶媒MEK(日産化学工業(株)製)ZrO粒子の屈折率=1.90、表面からの検出基はなし。
スルーリア2320:平均粒子サイズ約50nmの中空シリカ分散液(固形分濃度20質量%)、溶媒MEK(日揮触媒化成(株)製)シリカ粒子の屈折率=1.30、表面よりメタクリロイルオキシプロピル基を検出(本文定義の分子量200)。
FP−13:下記構造のフッ素系の界面活性剤で、メチルエチルケトン溶媒に固形分濃度40質量%で溶解しているもの
X−22−164C:重合性基含有シリコーン化合物、信越化学工業(株)製。
Figure 2015169848
Figure 2015169848
(反射防止フィルムの評価)
以下の方法により光学フィルムの諸特性の評価を行った。結果を表2に示す。
(1)相分離構造の確認
反射防止フィルムの表面を、走査型プローブ顕微鏡(SPA400[SIIナノテクノロジー(株)製])のDFM制御(ダイナミック・フォース・モード)にて10μm四方の形状を観察し、相分離構造について評価した。
A・・海島構造がはっきりと区別でき、その島部の大きさが周期よりも小さく、海部/島部面積比が1.0より大きい。
B・・海島構造がぼんやりだが区別でき、その島部の大きさが周期より小さく、海部/島部面積比が1.0より大きい。
C・・島部が連なった形ができ、その島部の大きさが周期より大きい。
D・・全く相分離が確認できない。
(2)モスアイ構造の確認
反射防止フィルムの表面を、走査型プローブ顕微鏡SPA400のAFM制御(原子間力モード)にて10μm四方の形状を観察し、表面形状について評価した。微細構造パターンの周期は、走査型電子顕微鏡写真にランダムに端から端まで直線を引き、その直線上にある隣接する凸部の頂点間の距離をn=50測定した平均値を用い、1桁め(10nm未満)の数値を四捨五入して求めた。凸部が観察できない場合には、「周期無し」と判断した。
A・・モスアイ構造が明確に出来ており、その凹凸高さ/周期距離比が0.9以上1.0以下
B・・モスアイ構造が明確に出来ており、その凹凸高さ/周期距離比が0.7以上0.9未満
C・・モスアイ構造が明確に出来ており、その凹凸高さ/周期距離比が0.5以上0.7未満
D・・モスアイ構造が明確に出来ているが、その凹凸高さ/周期距離比が0.5未満
E・・モスアイ構造ができていない。
(3)膜厚測定
作製した試料をミクロトームで切削して断面を切り出し、約3%の四酸化オスミウム水溶液で一晩染色したのち、再度表面を切り出して断面SEM観察した。反射電子像において、基材側から順に、線状に明るく染色された部分から暗く観察される層の全体を浸透層、その上にある明るく観察される層をハードコート層として、それぞれ膜厚を測長した。
(4)積分反射率測定
反射防止フィルム試料の裏面(支持体側)をサンドペーパーで粗面化した後に黒色インクで処理し、裏面反射をなくした状態で、表面側(反射防止層側)を、分光光度計(日本分光(株)製)を用いて、380〜780nmの波長領域において、入射角5°における積分分光反射率を測定した。結果には450〜650nmの積分反射率の算術平均値を用いた。
(5)鉛筆硬度評価
JIS K 5400に記載の鉛筆硬度評価を行った。反射防止フィルムを温度25℃、湿度60%RHで2時間調湿した後、反射防止層側に対してJIS S 6006に規定する試験用鉛筆を用いて評価した。
(6)表面ヘイズ測定
[1]JIS−K7136に準じて、得られた反射防止フィルムの全ヘイズ値(H)を測定する:日本電色工業(株)製ヘーズメーターNDH5000を用いた。
[2]反射防止フィルムの表面及び裏面に顕微鏡用イマージョンオイル(ニコン(株)製イマージョンオイルTYPE A、屈折率n=1.515)を数滴添加し、厚さ1mmのガラス板(ミクロスライドガラス品番S9111、MATSUNAMI製)を2枚用いて裏表より挟んで、完全に2枚のガラス板と得られた反射防止フィルムを密着し、表面ヘイズを除去した状態でヘイズを測定し、別途測定したガラス板2枚の間にシリコーンオイルのみを挟みこんで測定したヘイズを引いた値をフィルムの内部ヘイズ(Hin)として算出した。
[3]上記[1]で測定した全ヘイズ(H)から上記[2]で算出した内部ヘイズ(Hin)を引いた値をフィルムの表面ヘイズ(Hout)として算出した。
(7)防汚性評価
反射防止フィルムをガラス面上に表面(反射防止層側)が最表面となるように粘着剤で固定し、25℃60RH%の条件下で黒マジック「マッキー極細(商品名:ZEBRA製)」のペン先(細)にて直径5mmの円形を3周書き込み、10秒後に10枚重ねに折り束ねたベンコット(商品名、旭化成(株))でベンコットの束がへこむ程度の荷重で2往復拭き取り、円形のマジック跡の観察状況で防汚性を評価した。
A・・マジック跡が確認できない。
B・・マジック跡が薄く視認できる。
C・・マジック跡がはっきりと視認できる。

Figure 2015169848
1 光透過性基材
2 凹凸構造を有する反射防止層
3 海部
4 島部(凸部)
10 反射防止フィルム
L 凸部の周期
H 凸部の高さ

Claims (12)

  1. 光透過性基材と、前記光透過性基材とは反対側の表面に凹凸構造を有する反射防止層とを有する反射防止フィルムであって、
    前記反射防止層の凹凸構造は、
    下記(A)の硬化物からなる海部と、
    下記(B)の硬化物からなり、前記海部から突出して凸部を形成する島部と
    からなる海島状の相分離構造によるものであり、
    反射防止層の最表面の海部と島部の面積比(海部の面積/島部の面積)が1.0よりも大きく、
    前記凸部を形成する島部の大きさ及び凸部間隔の周期は、380nm以下であり、かつ
    表面ヘイズが1.0%未満である反射防止フィルム。
    (A)分子内に重合性基を2つ以上有する電離放射線硬化性モノマー
    (B)分子中に重合性基を2つ以上有し、前記(A)の電離放射線硬化性モノマーよりもSP値が0.5以上低くかつ前記(A)の電離放射線硬化性モノマーよりも粘度が100mPas以上高い、質量平均分子量が1000以上の電離放射線硬化性ポリマー
  2. 前記反射防止層の膜厚が0.05〜0.78μmである請求項1に記載の反射防止フィルム。
  3. 前記反射防止層が、更に、下記(D)成分を含有する請求項1又は2に記載の反射防止フィルム。
    (D)シランカップリング剤で表面処理された平均粒子径が10〜300nmの無機微粒子
  4. 前記(D)成分の前記シランカップリング剤の分子量が90〜600である請求項3に記載の反射防止フィルム。
  5. 前記(D)成分のシランカップリング剤の表面修飾率αが0.1%〜25%である請求項3又は4に記載の反射防止フィルム。
  6. 前記(D)成分の無機微粒子が、少なくとも粒子の表面にケイ素を構成成分として有し、屈折率1.46以下の金属酸化物微粒子である請求項3〜5のいずれか一項に記載の反射防止フィルム。
  7. 前記(B)分子中に重合性基を2つ以上有する電離放射線硬化性ポリマーが下記一般式(1)で表される含フッ素ポリマーである請求項1〜6のいずれか一項に記載の反射防止フィルム。
    一般式(1):
    (MF1)a−(MF2)b−(MF3)c−(MA)d−(MB)e−(MC)f−(MD)g
    一般式(1)中、a〜fは、それぞれ各構成単位のモル分率を表し、gは含フッ素ポリマー中の質量%を表し、0≦a≦70、0≦b≦70、0≦c≦80、30≦a+b+c≦90、1≦d≦50、0≦e≦50、0≦f≦50、0≦g≦15の関係を満たす値を表す。
    (MF1):CF=CF−Rfで表される単量体から重合される構成単位を示す。Rfは炭素数1〜5のパーフルオロアルキル基を表す。
    (MF2):CF=CF−ORf12で表される単量体から重合される構成単位を示す。Rf12は炭素数1〜30の含フッ素アルキル基を表す。
    (MF3):CH=CRo−L−Rf13で表される単量体を重合して得られる構成単位を示す。Roは水素原子、ハロゲン原子又はメチル基を表し、Lは2価の連結基を表し、Rf13は、炭素数1〜20の含フッ素アルキル基を表す。
    (MA):不飽和二重結合を有する基及び開環重合反応性基の少なくとも一方を有する構成単位を表す。
    (MB):非架橋性の構成単位を表す。
    (MC):下記一般式(2)のポリアルキレンオキシド基を少なくとも1つ有する単量体から重合される構成単位を表す。
    Figure 2015169848
    一般式(2)中、Roは水素原子、ハロゲン原子又はメチル基を表し、Lは2価の連結基を表し、Rcは水素原子又は炭素数1〜10のアルキル基を表し、mは2以上50以下の整数を表し、nは1以上5以下の整数を表す。なお、mが2以上のとき、複数の−(C2n−O)−はそれぞれ異なる繰り返し単位であっても良い。
    (MD):ポリシロキサン構造を少なくとも1つ有する構成単位を表す。
  8. 前記一般式(2)中のLが、炭素数1〜9の2価の連結基である請求項7に記載の反射防止フィルム。
  9. 光透過性基材と、前記光透過性基材とは反対側の表面に凹凸構造を有する反射防止層とを有する反射防止フィルムの製造方法であって、
    光透過性基材上に、下記(A)、(B)、(C)及び(E)を含有する組成物を塗布し、
    下記(A)及び(B)を海島状に相分離させ、
    下記(A)の一部を光透過性基材又は下層に浸透させ、
    電離放射線を照射して下記(A)及び(B)を硬化することで、
    下記(A)の硬化物からなる海部と、
    下記(B)の硬化物からなり、前記海部から突出して凸部を形成する島部と
    からなる海島状の相分離構造によるものであり、
    反射防止層の最表面の海部と島部の面積比(海部の面積/島部の面積)が1.0よりも大きく、
    前記凸部の島の大きさ及び凸部の周期は、380nm以下である凹凸構造を有する反射防止層を形成する、反射防止フィルムの製造方法。
    (A)分子内に重合性基を2つ以上有する電離放射線硬化性モノマー
    (B)分子中に重合性基を2つ以上有し、前記(A)の電離放射線硬化性モノマーよりもSP値が0.5以上低くかつ前記(A)の電離放射線硬化性モノマーよりも粘度が100mPas以上高い、質量平均分子量が1000以上の電離放射線硬化性ポリマー
    (C)重合開始剤
    (E)光透過性基材又は下層に対して浸透性を有する溶剤
  10. 前記(E)溶剤が、沸点が100℃を超える溶剤を含有する請求項9に記載の反射防止フィルムの製造方法。
  11. 偏光膜と前記偏光膜の少なくとも一方の面を保護する少なくとも1枚の保護フィルムを有する偏光板であって、前記保護フィルムが請求項1〜8のいずれか一項に記載の反射防止フィルム、又は請求項9若しくは10に記載の製造方法によって製造された反射防止フィルムである偏光板。
  12. 請求項1〜8のいずれか一項に記載の反射防止フィルム、請求項9若しくは10に記載の製造方法によって製造された反射防止フィルム、又は請求項11に記載の偏光板を有する画像表示装置。
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