JP2015036433A - 電子・電気機器用銅合金、電子・電気機器用銅合金薄板、電子・電気機器用部品、端子およびバスバー - Google Patents
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Abstract
【課題】高い導電率と高い耐力とを有するとともにビッカース硬さが高く、コネクタ等の端子やリレー、バスバー等の電子・電気機器用部品に適したCu−Zr系合金からなる電子・電気機器用銅合金、並びに、この電子・電気機器用銅合金からなる電子・電気機器用銅合金薄板、電子・電気機器用部品、端子およびバスバーを提供する。【解決手段】Zrを0.01mass%以上0.11mass%未満、Siを0.002mass%以上0.03mass%未満、含有し、残部がCuおよび不可避的不純物からなる組成を有し、Zrの含有量(mass%)とSiの含有量(mass%)との比Zr/Siが2以上30以下の範囲内とされていることを特徴とする。【選択図】なし
Description
本発明は、半導体装置のコネクタや、その他の端子、電磁リレーの可動導電片、リードフレーム、バスバーなどの電子・電気機器用部品として使用される電子・電気機器用銅合金、それを用いた電子・電気機器用銅合金薄板、電子・電気機器用部品、端子およびバスバーに関するものである。
従来、電子機器や電気機器等の小型化及び軽量化にともない、これら電子機器や電気機器等に使用されるコネクタ等の端子、リレー、リードフレーム、バスバー等の電子・電気機器用部品の小型化および薄肉化が図られている。このため、電子・電気機器用部品を構成する材料として、ばね性、強度、曲げ加工性に優れた銅合金が要求されている。特に、非特許文献1に記載されているように、コネクタ等の端子、リレー、リードフレーム、バスバー等の電子・電気機器用部品として使用される銅合金としては、耐力が高いものが望ましい。
また、特に高い導電率が要求される用途の場合には、CDA合金No.15100(Cu−Zr系合金)が用いられている。また、特許文献1−3には、上述のCu−Zr系合金をベースとしてさらに特性を向上させた銅合金が提案されている。
これらのCu−Zr系合金は、析出硬化型の銅合金であり、高い導電率を維持したまま強度が向上されており、さらに耐熱性にも優れている。
これらのCu−Zr系合金は、析出硬化型の銅合金であり、高い導電率を維持したまま強度が向上されており、さらに耐熱性にも優れている。
野村幸矢、「コネクタ用高性能銅合金条の技術動向と当社の開発戦略」、神戸製鋼技報Vol.54No.1(2004)p.2−8
ところで、コネクタ等の端子、リレー、リードフレーム、バスバー等の電子・電気機器用部品は、例えば銅合金の板材に対してプレス打ち抜きを行い、さらに必要に応じて曲げ加工等が施されて製造されている。このため、上述の銅合金には、プレス打ち抜き等において、プレス金型の摩耗やバリの発生を抑制できるように、良好なせん断加工性も求められている。
ここで、上述のCu−Zr系合金は、高い導電率を確保するために純銅に近い組成を有しており、延性が高く、せん断加工性が良好ではなかった。詳述すると、プレス打ち抜きを行った際に、バリが発生し、寸法精度良く打ち抜きを行うことができないといった問題があった。さらに、金型が摩耗しやすいといった問題や、打ち抜き屑が多く発生するといった問題もあった。
ここで、上述のCu−Zr系合金は、高い導電率を確保するために純銅に近い組成を有しており、延性が高く、せん断加工性が良好ではなかった。詳述すると、プレス打ち抜きを行った際に、バリが発生し、寸法精度良く打ち抜きを行うことができないといった問題があった。さらに、金型が摩耗しやすいといった問題や、打ち抜き屑が多く発生するといった問題もあった。
特に、最近では、電子機器や電気機器等のさらなる小型化および軽量化にともない、これら電子機器や電気機器等に使用されるコネクタ等の端子、リレー、リードフレーム、バスバー等の電子・電気機器用部品のさらなる小型化および薄肉化が要求されている。このため、電子・電気機器用部品を寸法精度良く成形する観点から、これら電子・電気機器用部品を構成する材料として、せん断加工性を十分に向上させた銅合金が求められている。ここで、銅合金のビッカース硬さを向上させるとせん断加工性が向上することになる。さらに、銅合金のビッカース硬さを向上させると表面の傷つき難さ(耐摩耗性)も向上する。そのため、電子・電気機器用部品として使用される銅合金としては、上述のビッカース硬さが高いことが望まれる。
また、コネクタ等の端子においては、接圧を確保するために厳しい曲げ加工を行う必要があり、従来よりも優れた耐力が要求されている。
さらに、ハイブリッド自動車や電機自動車等に用いられる消費電力の大きな電子・電気機器用部品においては、通電時の抵抗発熱を抑制するために、高い導電率を確保する必要がある。
また、コネクタ等の端子においては、接圧を確保するために厳しい曲げ加工を行う必要があり、従来よりも優れた耐力が要求されている。
さらに、ハイブリッド自動車や電機自動車等に用いられる消費電力の大きな電子・電気機器用部品においては、通電時の抵抗発熱を抑制するために、高い導電率を確保する必要がある。
本発明は、以上のような事情を背景としてなされたものであって、高い導電率と高い耐力とを有するとともにビッカース硬さが高く、コネクタ等の端子やリレー、バスバー等の電子・電気機器用部品に適したCu−Zr系合金からなる電子・電気機器用銅合金、並びに、この電子・電気機器用銅合金からなる電子・電気機器用銅合金薄板、電子・電気機器用部品、端子およびバスバーを提供することを目的としている。
この課題を解決するために、本発明者らは鋭意研究を行った結果、Cu−Zr系合金に少量のSiを添加し、Zr/Siの質量比を適正化することにより、導電率及び耐力を向上させることができるとともに、ビッカース硬さを大幅に向上させることが可能であるとの知見を得た。
本発明は、かかる知見に基づいてなされたものであって、本発明の電子・電気機器用銅合金は、Zrを0.01mass%以上0.11mass%未満、Siを0.002mass%以上0.03mass%未満、含有し、残部がCuおよび不可避的不純物からなる組成を有し、Zrの含有量(mass%)とSiの含有量(mass%)との比Zr/Siが2以上30以下の範囲内とされていることを特徴としている。
上述の構成の電子・電気機器用銅合金によれば、ZrとSiを上述の範囲内で含有しているので、析出硬化により、高い導電率を維持したまま耐力の向上を図ることができる。あるいは、高い耐力を維持したまま導電率をさらに高くすることができる。また、析出物粒子が銅の母相中に分散されることにより、ビッカース硬さを向上させることができる。
また、Zrの含有量(mass%)とSiの含有量(mass%)との比Zr/Siを2以上30以下の範囲内としているので、余剰なSiやZrが存在せず、銅の母相中にSiやZrが固溶して導電率が低下することを抑制できる。
また、Zrの含有量(mass%)とSiの含有量(mass%)との比Zr/Siを2以上30以下の範囲内としているので、余剰なSiやZrが存在せず、銅の母相中にSiやZrが固溶して導電率が低下することを抑制できる。
ここで、本発明の電子・電気機器用銅合金においては、CuとZrとSiを含有するCu-Zr-Si粒子を有することが好ましい。
CuとZrとSiを含有するCu-Zr-Si粒子としては、溶解鋳造時に晶出または偏析した粒径1μm以上50μm以下の粗大な粒子と、その後の熱処理等において析出した粒径1nm以上500nm以下の微細な粒子が存在する。
粒径1μm以上50μm以下程度の比較的粗大なCu-Zr-Si粒子は、強度向上には寄与しないが、プレス打ち抜き等に代表されるせん断加工を実施した際に破壊の起点となるため、せん断加工性を大幅に向上させることが可能となる。
一方、粒径1〜500nm程度の微細なCu-Zr-Si粒子は、強度向上に寄与し、高い導電率を維持したまま耐力の向上を図ることができる。あるいは、高い耐力を維持したまま導電率をさらに高くすることができる。また、ビッカース硬さを高くすることによって、母相中に転位密度の高い組織が形成され、せん断加工の際に容易に破断にいたるため、ダレやバリの大きさが抑制され、せん断加工性が向上する。
CuとZrとSiを含有するCu-Zr-Si粒子としては、溶解鋳造時に晶出または偏析した粒径1μm以上50μm以下の粗大な粒子と、その後の熱処理等において析出した粒径1nm以上500nm以下の微細な粒子が存在する。
粒径1μm以上50μm以下程度の比較的粗大なCu-Zr-Si粒子は、強度向上には寄与しないが、プレス打ち抜き等に代表されるせん断加工を実施した際に破壊の起点となるため、せん断加工性を大幅に向上させることが可能となる。
一方、粒径1〜500nm程度の微細なCu-Zr-Si粒子は、強度向上に寄与し、高い導電率を維持したまま耐力の向上を図ることができる。あるいは、高い耐力を維持したまま導電率をさらに高くすることができる。また、ビッカース硬さを高くすることによって、母相中に転位密度の高い組織が形成され、せん断加工の際に容易に破断にいたるため、ダレやバリの大きさが抑制され、せん断加工性が向上する。
また、本発明の電子・電気機器用銅合金においては、前記Cu-Zr-Si粒子の少なくとも一部は、粒径が1nm以上500nm以下の範囲内とされていることが好ましい。
上述のように、粒径が1nm以上500nm以下の範囲内とされた微細なCu-Zr-Si粒子は、強度の向上に大きく寄与することになる。よって、高い導電率を維持したまま耐力の向上を図ることができる。あるいは、高い耐力を維持したまま導電率をさらに高くすることができる。
上述のように、粒径が1nm以上500nm以下の範囲内とされた微細なCu-Zr-Si粒子は、強度の向上に大きく寄与することになる。よって、高い導電率を維持したまま耐力の向上を図ることができる。あるいは、高い耐力を維持したまま導電率をさらに高くすることができる。
また、本発明の電子・電気機器用銅合金においては、さらに、Ag,Sn,Al,Ni,Zn,Mgのうちのいずれか1種または2種以上を合計で0.005mass%以上0.1mass%以下の範囲内で含んでいてもよい。
この場合、これらの元素が銅の母相中に固溶することによって、さらに耐力を向上させることができる。なお、含有量が0.1mass%以下とされているので、高い導電率を維持することができる。
この場合、これらの元素が銅の母相中に固溶することによって、さらに耐力を向上させることができる。なお、含有量が0.1mass%以下とされているので、高い導電率を維持することができる。
また、本発明の電子・電気機器用銅合金においては、さらに、Ti,Co,Crのうちのいずれか1種または2種以上を合計で0.005mass%以上0.1mass%以下の範囲内で含んでいてもよい。
この場合、これらの元素が単独であるいは化合物として析出することによって、導電率を低下させることなく、さらに耐力を向上させることができる。
この場合、これらの元素が単独であるいは化合物として析出することによって、導電率を低下させることなく、さらに耐力を向上させることができる。
また、本発明の電子・電気機器用銅合金においては、さらに、P,Ca,Te,Bのうちのいずれか1種または2種以上を合計で0.005mass%以上0.1mass%以下の範囲内で含んでいてもよい。
この場合、これらの元素は溶解鋳造時に晶出および偏析によって粗大粒子が形成され、銅の母相中に分散されることになる。これらの粗大粒子は、プレス打ち抜き等に代表されるせん断加工を実施した際に破壊の起点となるため、せん断加工性を大幅に向上させることが可能となる。
この場合、これらの元素は溶解鋳造時に晶出および偏析によって粗大粒子が形成され、銅の母相中に分散されることになる。これらの粗大粒子は、プレス打ち抜き等に代表されるせん断加工を実施した際に破壊の起点となるため、せん断加工性を大幅に向上させることが可能となる。
また、本発明の電子・電気機器用銅合金においては、導電率が80%IACS以上であることが好ましい。
この場合、析出物粒子が母相中に十分に分散していることになり、耐力を確実に向上させることが可能となる。また、特に高い導電率が要求される電子・電気用部品の素材として使用することができる。
この場合、析出物粒子が母相中に十分に分散していることになり、耐力を確実に向上させることが可能となる。また、特に高い導電率が要求される電子・電気用部品の素材として使用することができる。
さらに、本発明の電子・電気機器用銅合金においては、0.2%耐力が300MPa以上の機械的特性を有することが好ましい。
0.2%耐力が300MPa以上である場合には、容易に塑性変形しなくなるため、コネクタ等の端子、リレー、リードフレーム、バスバー等の電子・電気機器用部品に特に適している。
0.2%耐力が300MPa以上である場合には、容易に塑性変形しなくなるため、コネクタ等の端子、リレー、リードフレーム、バスバー等の電子・電気機器用部品に特に適している。
さらに、本発明の電子・電気機器用銅合金においては、100HV以上のビッカース硬さを有することが好ましい。
ビッカース硬さを100HV以上にすることによって、より確実に母相中に転位密度の高い組織が形成され、せん断加工の際に容易に破断にいたるため、ダレやバリの大きさが抑制され、せん断加工性が向上することになる。
ビッカース硬さを100HV以上にすることによって、より確実に母相中に転位密度の高い組織が形成され、せん断加工の際に容易に破断にいたるため、ダレやバリの大きさが抑制され、せん断加工性が向上することになる。
本発明の電子・電気機器用銅合金薄板は、上述の電子・電気機器用銅合金の圧延材からなり、厚みが0.05mm以上1.0mm以下の範囲内にあることを特徴としている。
このような構成の電子・電気機器用銅合金薄板は、コネクタ、その他の端子、電磁リレーの可動導電片、リードフレーム、バスバーなどの素材として好適に使用することができる。
ここで、本発明の電子・電気機器用銅合金薄板においては、表面にSnめっきまたはAgめっきが施されていてもよい。
このような構成の電子・電気機器用銅合金薄板は、コネクタ、その他の端子、電磁リレーの可動導電片、リードフレーム、バスバーなどの素材として好適に使用することができる。
ここで、本発明の電子・電気機器用銅合金薄板においては、表面にSnめっきまたはAgめっきが施されていてもよい。
本発明の電子・電気機器用部品は、上述の電子・電気機器用銅合金からなることを特徴とする。なお、本発明における電子・電気機器用部品とは、端子、コネクタ、リレー、リードフレーム、バスバー等を含むものである。
また、本発明の端子は、上述の電子・電気機器用銅合金からなることを特徴とする。なお、本発明における端子は、コネクタ等を含むものである。
さらに、本発明のバスバーは、上述の電子・電気機器用銅合金からなることを特徴とする。
この構成の電子・電気機器用部品(例えば、コネクタ等の端子、リレー、リードフレーム、バスバー)、特にコネクタ等の端子およびバスバーは、導電率、耐力、ビッカース硬さが高いので、寸法精度に優れ、小型化および薄肉化しても優れた特性を発揮することができる。
また、本発明の端子は、上述の電子・電気機器用銅合金からなることを特徴とする。なお、本発明における端子は、コネクタ等を含むものである。
さらに、本発明のバスバーは、上述の電子・電気機器用銅合金からなることを特徴とする。
この構成の電子・電気機器用部品(例えば、コネクタ等の端子、リレー、リードフレーム、バスバー)、特にコネクタ等の端子およびバスバーは、導電率、耐力、ビッカース硬さが高いので、寸法精度に優れ、小型化および薄肉化しても優れた特性を発揮することができる。
本発明によれば、高い導電率と高い耐力とを有するとともにビッカース硬さが高く、コネクタ等の端子やリレー、バスバー等の電子・電気機器用部品に適したCu−Zr系合金からなる電子・電気機器用銅合金、並びに、この電子・電気機器用銅合金からなる電子・電気機器用銅合金薄板、電子・電気機器用部品、端子およびバスバーを提供することができる。
以下に、本発明の一実施形態である電子・電気機器用銅合金について説明する。
本実施形態である電子・電気機器用銅合金は、Zrの含有量が0.01mass%以上0.11mass%未満、Siの含有量が0.002mass%以上0.03mass%未満とされ、残部がCuおよび不可避的不純物からなる組成を有し、Zrの含有量(mass%)とSiの含有量(mass%)との比Zr/Siが2以上30以下の範囲内とされている。
本実施形態である電子・電気機器用銅合金は、Zrの含有量が0.01mass%以上0.11mass%未満、Siの含有量が0.002mass%以上0.03mass%未満とされ、残部がCuおよび不可避的不純物からなる組成を有し、Zrの含有量(mass%)とSiの含有量(mass%)との比Zr/Siが2以上30以下の範囲内とされている。
なお、本実施形態である電子・電気機器用銅合金は、Ag,Sn,Al,Ni,Zn,Mgのうちのいずれか1種または2種以上を合計で0.005mass%以上0.1mass%以下の範囲内で含んでいてもよい。
また、本実施形態である電子・電気機器用銅合金は、Ti,Co,Crのうちのいずれか1種または2種以上を合計で0.005mass%以上0.1mass%以下の範囲内で含んでいてもよい。
さらに、本実施形態である電子・電気機器用銅合金は、P,Ca,Te,Bのうちのいずれか1種または2種以上を合計で0.005mass%以上0.1mass%以下の範囲内で含んでいてもよい。
また、本実施形態である電子・電気機器用銅合金は、Ti,Co,Crのうちのいずれか1種または2種以上を合計で0.005mass%以上0.1mass%以下の範囲内で含んでいてもよい。
さらに、本実施形態である電子・電気機器用銅合金は、P,Ca,Te,Bのうちのいずれか1種または2種以上を合計で0.005mass%以上0.1mass%以下の範囲内で含んでいてもよい。
そして、本実施形態である電子・電気機器用銅合金においては、CuとZrとSiを含有するCu−Zr−Si粒子を有している。Cu−Zr−Si粒子としては、粒径が1μm以上50μm以下の範囲内とされた比較的粗大な粒子と、粒径が1nm以上500nm以下の範囲内とされた微細な粒子が存在している。
また、本実施形態である電子・電気機器用銅合金においては、導電率が80%IACS以上とされ、0.2%耐力が300MPa以上とされている。
また、本実施形態である電子・電気機器用銅合金においては、導電率が80%IACS以上とされ、0.2%耐力が300MPa以上とされている。
ここで、上述のように成分組成、組織等を規定した理由について以下に説明する。
(Zr)
Zrは、上述のCu−Zr−Si粒子を形成し、導電率を維持したまま耐力を向上させる作用効果、あるいは、耐力を維持したまま導電率を向上させる作用効果を有する元素である。また、ビッカース硬さを向上させることができる。
ここで、Zrの含有量が0.01mass%未満の場合には、その作用効果を十分に奏功せしめることができない。一方、Zrの含有量が0.11mass%以上の場合には、導電率が大幅に低下してしまうおそれがあるとともに、溶体化が困難となり、熱間加工時や冷間加工時に断線や割れ等の欠陥が発生するおそれがある。
以上のことから、本実施形態では、Zrの含有量を0.01mass%以上0.11mass%未満の範囲内に設定している。なお、Cu−Zr−Si粒子の個数を確保して強度を確実に向上させるためには、Zrの含有量を0.04mass%以上とすることが好ましく、0.05mass%以上とすることがさらに好ましい。また、導電率の上昇や加工時の欠陥等を確実に抑制するためには、Zrの含有量を0.10mass%以下とすることが好ましい。
Zrは、上述のCu−Zr−Si粒子を形成し、導電率を維持したまま耐力を向上させる作用効果、あるいは、耐力を維持したまま導電率を向上させる作用効果を有する元素である。また、ビッカース硬さを向上させることができる。
ここで、Zrの含有量が0.01mass%未満の場合には、その作用効果を十分に奏功せしめることができない。一方、Zrの含有量が0.11mass%以上の場合には、導電率が大幅に低下してしまうおそれがあるとともに、溶体化が困難となり、熱間加工時や冷間加工時に断線や割れ等の欠陥が発生するおそれがある。
以上のことから、本実施形態では、Zrの含有量を0.01mass%以上0.11mass%未満の範囲内に設定している。なお、Cu−Zr−Si粒子の個数を確保して強度を確実に向上させるためには、Zrの含有量を0.04mass%以上とすることが好ましく、0.05mass%以上とすることがさらに好ましい。また、導電率の上昇や加工時の欠陥等を確実に抑制するためには、Zrの含有量を0.10mass%以下とすることが好ましい。
(Si)
Siは、上述のCu−Zr−Si粒子を形成し、導電率を維持したまま耐力を向上させる作用効果、あるいは、耐力を維持したまま導電率を向上させる作用効果を有する元素である。また、ビッカース硬さを向上させることができる。
ここで、Siの含有量が0.002mass%未満の場合には、その作用効果を十分に奏功せしめることができない。一方、Siの含有量が0.03mass%以上の場合には、導電率が大幅に低下してしまうおそれがある。
以上のことから、本実施形態では、Siの含有量を0.002mass%以上0.03mass%未満の範囲内に設定している。なお、Cu−Zr−Si粒子の個数を確保して強度を確実に向上させるためには、Siの含有量を0.003mass%以上とすることが好ましく、0.004mass%以上とすることがさらに好ましい。また、導電率の上昇を確実に抑制するためには、Siの含有量を0.025mass%以下とすることが好ましく、0.02mass%以下とすることがさらに好ましい。
Siは、上述のCu−Zr−Si粒子を形成し、導電率を維持したまま耐力を向上させる作用効果、あるいは、耐力を維持したまま導電率を向上させる作用効果を有する元素である。また、ビッカース硬さを向上させることができる。
ここで、Siの含有量が0.002mass%未満の場合には、その作用効果を十分に奏功せしめることができない。一方、Siの含有量が0.03mass%以上の場合には、導電率が大幅に低下してしまうおそれがある。
以上のことから、本実施形態では、Siの含有量を0.002mass%以上0.03mass%未満の範囲内に設定している。なお、Cu−Zr−Si粒子の個数を確保して強度を確実に向上させるためには、Siの含有量を0.003mass%以上とすることが好ましく、0.004mass%以上とすることがさらに好ましい。また、導電率の上昇を確実に抑制するためには、Siの含有量を0.025mass%以下とすることが好ましく、0.02mass%以下とすることがさらに好ましい。
(Zr/Si)
上述のように、ZrとSiをCu中に添加することにより、Cu−Zr−Si粒子が形成され、導電率を維持したまま耐力を向上させる、あるいは、耐力を維持したまま導電率を向上させることができる。また、ビッカース硬さを向上させることができる。
ここで、Zrの含有量(mass%)とSiの含有量(mass%)との比Zr/Siが2未満の場合には、Zrの含有量に対してSiの含有量が多く、過剰なSiによって導電率が低下してしまうおそれがある。一方、Zr/Siが30を超える場合には、Zrの含有量に対してSiの含有量が少なく、Cu−Zr−Si粒子を十分に形成することができず、上述の作用効果を十分に奏功せしめることができない。
以上のことから、本実施形態では、Zrの含有量(mass%)とSiの含有量(mass%)との比Zr/Siを2以上30以下の範囲内に設定している。なお、導電率の低下を確実に抑制するためには、Zr/Siを3以上とすることが好ましい。また、Cu−Zr−Si粒子の個数を確保して強度を確実に向上させるためには、Zr/Siを25以下とすることが好ましく、20以下とすることがさらに好ましい。
上述のように、ZrとSiをCu中に添加することにより、Cu−Zr−Si粒子が形成され、導電率を維持したまま耐力を向上させる、あるいは、耐力を維持したまま導電率を向上させることができる。また、ビッカース硬さを向上させることができる。
ここで、Zrの含有量(mass%)とSiの含有量(mass%)との比Zr/Siが2未満の場合には、Zrの含有量に対してSiの含有量が多く、過剰なSiによって導電率が低下してしまうおそれがある。一方、Zr/Siが30を超える場合には、Zrの含有量に対してSiの含有量が少なく、Cu−Zr−Si粒子を十分に形成することができず、上述の作用効果を十分に奏功せしめることができない。
以上のことから、本実施形態では、Zrの含有量(mass%)とSiの含有量(mass%)との比Zr/Siを2以上30以下の範囲内に設定している。なお、導電率の低下を確実に抑制するためには、Zr/Siを3以上とすることが好ましい。また、Cu−Zr−Si粒子の個数を確保して強度を確実に向上させるためには、Zr/Siを25以下とすることが好ましく、20以下とすることがさらに好ましい。
(Ag,Sn,Al,Ni,Zn,Mg)
Ag,Sn,Al,Ni,Zn,Mgといった元素は、銅の母相中に固溶し、強度を向上させる作用効果を有する。よって、さらなる強度向上を図る場合には、適宜添加することが好ましい。
ここで、Ag,Sn,Al,Ni,Zn,Mgのうちのいずれか1種または2種以上の含有量の合計が0.005mass%未満の場合には、上述した作用効果を確実に奏功せしめることができないおそれがある。一方、Ag,Sn,Al,Ni,Zn,Mgのうちのいずれか1種または2種以上の含有量の合計が0.1mass%を超える場合には、導電率が大幅に低下するおそれがある。
以上のことから、Ag,Sn,Al,Ni,Zn,Mgといった元素を添加して強度の向上を図る場合には、Ag,Sn,Al,Ni,Zn,Mgのうちのいずれか1種または2種以上の含有量の合計を0.005mass%以上0.1mass%以下の範囲内とすることが好ましい。
Ag,Sn,Al,Ni,Zn,Mgといった元素は、銅の母相中に固溶し、強度を向上させる作用効果を有する。よって、さらなる強度向上を図る場合には、適宜添加することが好ましい。
ここで、Ag,Sn,Al,Ni,Zn,Mgのうちのいずれか1種または2種以上の含有量の合計が0.005mass%未満の場合には、上述した作用効果を確実に奏功せしめることができないおそれがある。一方、Ag,Sn,Al,Ni,Zn,Mgのうちのいずれか1種または2種以上の含有量の合計が0.1mass%を超える場合には、導電率が大幅に低下するおそれがある。
以上のことから、Ag,Sn,Al,Ni,Zn,Mgといった元素を添加して強度の向上を図る場合には、Ag,Sn,Al,Ni,Zn,Mgのうちのいずれか1種または2種以上の含有量の合計を0.005mass%以上0.1mass%以下の範囲内とすることが好ましい。
(Ti,Co,Cr)
Ti,Co,Crといった元素は、析出物粒子を形成し、導電率を維持したまま強度を大幅に向上させる作用効果を有する。よって、さらなる強度向上を図る場合には、適宜添加することが好ましい。
ここで、Ti,Co,Crのうちのいずれか1種または2種以上の含有量の合計が0.005mass%未満の場合には、上述した作用効果を確実に奏功せしめることができないおそれがある。一方、Ti,Co,Crのうちのいずれか1種または2種以上の含有量の合計が0.1mass%を超える場合には、導電率が低下するおそれがある。
以上のことから、Ti,Co,Crといった元素を添加して強度の向上を図る場合には、Ti,Co,Crのうちのいずれか1種または2種以上の含有量の合計を0.005mass%以上0.1mass%以下の範囲内とすることが好ましい。
Ti,Co,Crといった元素は、析出物粒子を形成し、導電率を維持したまま強度を大幅に向上させる作用効果を有する。よって、さらなる強度向上を図る場合には、適宜添加することが好ましい。
ここで、Ti,Co,Crのうちのいずれか1種または2種以上の含有量の合計が0.005mass%未満の場合には、上述した作用効果を確実に奏功せしめることができないおそれがある。一方、Ti,Co,Crのうちのいずれか1種または2種以上の含有量の合計が0.1mass%を超える場合には、導電率が低下するおそれがある。
以上のことから、Ti,Co,Crといった元素を添加して強度の向上を図る場合には、Ti,Co,Crのうちのいずれか1種または2種以上の含有量の合計を0.005mass%以上0.1mass%以下の範囲内とすることが好ましい。
(P,Ca,Te,B)
P,Ca,Te,Bといった元素は、溶解鋳造時に晶出および偏析によって比較的粗大な粒子を形成し、せん断加工性を大幅に向上させる作用効果を有する。よって、せん断加工性をさらに向上させる場合には、適宜添加することが好ましい。
ここで、P,Ca,Te,Bのうちのいずれか1種または2種以上の含有量の合計が0.005mass%未満の場合には、上述した作用効果を確実に奏功せしめることができないおそれがある。一方、P,Ca,Te,Bのうちのいずれか1種または2種以上の含有量の合計が0.1mass%を超える場合には、導電率が低下するおそれがある。
以上のことから、P,Ca,Te,Bといった元素を添加してせん断加工性の向上を図る場合には、P,Ca,Te,Bのうちのいずれか1種または2種以上の含有量の合計を0.005mass%以上0.1mass%以下の範囲内とすることが好ましい。
P,Ca,Te,Bといった元素は、溶解鋳造時に晶出および偏析によって比較的粗大な粒子を形成し、せん断加工性を大幅に向上させる作用効果を有する。よって、せん断加工性をさらに向上させる場合には、適宜添加することが好ましい。
ここで、P,Ca,Te,Bのうちのいずれか1種または2種以上の含有量の合計が0.005mass%未満の場合には、上述した作用効果を確実に奏功せしめることができないおそれがある。一方、P,Ca,Te,Bのうちのいずれか1種または2種以上の含有量の合計が0.1mass%を超える場合には、導電率が低下するおそれがある。
以上のことから、P,Ca,Te,Bといった元素を添加してせん断加工性の向上を図る場合には、P,Ca,Te,Bのうちのいずれか1種または2種以上の含有量の合計を0.005mass%以上0.1mass%以下の範囲内とすることが好ましい。
(不可避不純物)
なお、上述した元素以外の不可避不純物としては、Fe,Mn,Sr,Ba,Sc,Y,Hf,V,Nb,Ta,Mo,W,Re,Ru,Os,Se,Rh,Ir,Pd,Pt,Au,Cd,Ga,In,Li,Ge,As,Sb,Tl,Pb,C,Be,N,H,Hg,Tc,Na,K,Rb,Cs,O,S,Po,Bi,ランタノイド等が挙げられる。これらの不可避不純物は、総量で0.3mass%以下であることが望ましい。
なお、上述した元素以外の不可避不純物としては、Fe,Mn,Sr,Ba,Sc,Y,Hf,V,Nb,Ta,Mo,W,Re,Ru,Os,Se,Rh,Ir,Pd,Pt,Au,Cd,Ga,In,Li,Ge,As,Sb,Tl,Pb,C,Be,N,H,Hg,Tc,Na,K,Rb,Cs,O,S,Po,Bi,ランタノイド等が挙げられる。これらの不可避不純物は、総量で0.3mass%以下であることが望ましい。
(Cu−Zr−Si粒子)
CuにZr,Siを添加した場合には、CuとZrとSiを含有するCu−Zr−Si粒子が存在することになる。本実施形態では、上述のように、Cu−Zr−Si粒子として、粒径が1μm以上50μm以下の範囲内とされた比較的粗大な粒子と、粒径が1nm以上500nm以下の範囲内とされた微細な粒子が存在している。
ここで、粒径が1μm以上50μm以下の範囲内とされた粗大なCu−Zr−Si粒子は、溶解鋳造時に晶出または偏析したものと推測される。また、粒径が1nm以上500nm以下の範囲内とされた微細なCu−Zr−Si粒子は、その後の熱処理等において析出したものと推測される。
粒径1μm以上50μm以下の粗大なCu−Zr−Si粒子は、強度向上には寄与しないが、プレス打ち抜き等に代表されるせん断加工を実施した際に破壊の起点となり、せん断加工性を大幅に向上させることが可能となる。
一方、粒径1nm以上500nm以下の微細なCu−Zr−Si粒子は、強度向上に寄与し、高い導電率を維持したまま耐力の向上を図ることができる。あるいは、高い耐力を維持したまま導電率をさらに高くすることができる。また、ビッカース硬さを向上させることができる。
CuにZr,Siを添加した場合には、CuとZrとSiを含有するCu−Zr−Si粒子が存在することになる。本実施形態では、上述のように、Cu−Zr−Si粒子として、粒径が1μm以上50μm以下の範囲内とされた比較的粗大な粒子と、粒径が1nm以上500nm以下の範囲内とされた微細な粒子が存在している。
ここで、粒径が1μm以上50μm以下の範囲内とされた粗大なCu−Zr−Si粒子は、溶解鋳造時に晶出または偏析したものと推測される。また、粒径が1nm以上500nm以下の範囲内とされた微細なCu−Zr−Si粒子は、その後の熱処理等において析出したものと推測される。
粒径1μm以上50μm以下の粗大なCu−Zr−Si粒子は、強度向上には寄与しないが、プレス打ち抜き等に代表されるせん断加工を実施した際に破壊の起点となり、せん断加工性を大幅に向上させることが可能となる。
一方、粒径1nm以上500nm以下の微細なCu−Zr−Si粒子は、強度向上に寄与し、高い導電率を維持したまま耐力の向上を図ることができる。あるいは、高い耐力を維持したまま導電率をさらに高くすることができる。また、ビッカース硬さを向上させることができる。
(導電率:80%IACS以上)
Zr、SiがCuの母相中に固溶している場合には、導電率が大幅に低下することになる。そこで、本実施形態では、導電率を80%IACS以上に規定しているので、上述のCu−Zr−Si粒子が十分に存在していることになり、確実に強度の向上及びせん断加工性の向上を図ることが可能となる。
なお、上述の作用効果を確実に奏功せしめるためには、導電率を85%IACS以上とすることが好ましく、88%IACS以上とすることがさらに好ましい。
Zr、SiがCuの母相中に固溶している場合には、導電率が大幅に低下することになる。そこで、本実施形態では、導電率を80%IACS以上に規定しているので、上述のCu−Zr−Si粒子が十分に存在していることになり、確実に強度の向上及びせん断加工性の向上を図ることが可能となる。
なお、上述の作用効果を確実に奏功せしめるためには、導電率を85%IACS以上とすることが好ましく、88%IACS以上とすることがさらに好ましい。
次に、このような構成とされた本実施形態である電子機器用銅合金の製造方法について、図1に示すフロー図を参照して説明する。
(溶解・鋳造工程S01)
まず、銅原料を溶解して得られた銅溶湯に、Zr、Siを添加して成分調整を行い、銅合金溶湯を溶製する。なお、Zr、Siの添加には、Zr単体およびSi単体やCu−Zr母合金およびCu−Si母合金等を用いることができる。また、ZrおよびSiを含む原料を銅原料とともに溶解してもよい。また、本合金のリサイクル材およびスクラップ材を用いてもよい。なお、Zr,Si以外の元素(例えばAg,Sn,Al,Ni,Zn,Mg,Ti,Co,Cr,P,Ca,Te,B等)を添加する場合にも、同様に各種原料を用いることができる。
まず、銅原料を溶解して得られた銅溶湯に、Zr、Siを添加して成分調整を行い、銅合金溶湯を溶製する。なお、Zr、Siの添加には、Zr単体およびSi単体やCu−Zr母合金およびCu−Si母合金等を用いることができる。また、ZrおよびSiを含む原料を銅原料とともに溶解してもよい。また、本合金のリサイクル材およびスクラップ材を用いてもよい。なお、Zr,Si以外の元素(例えばAg,Sn,Al,Ni,Zn,Mg,Ti,Co,Cr,P,Ca,Te,B等)を添加する場合にも、同様に各種原料を用いることができる。
銅溶湯は、純度が99.99mass%以上とされたいわゆる4NCuとすることが好ましい。また、銅合金溶湯の溶製時には、ZrおよびSiの酸化等を抑制するために、真空炉、あるいは、不活性ガス雰囲気または還元性雰囲気とされた雰囲気炉を用いることが好ましい。
そして、成分調整された銅合金溶湯を鋳型に注入して鋳塊を製出する。なお、量産を考慮した場合には、連続鋳造法または半連続鋳造法を用いることが好ましい。
そして、成分調整された銅合金溶湯を鋳型に注入して鋳塊を製出する。なお、量産を考慮した場合には、連続鋳造法または半連続鋳造法を用いることが好ましい。
(熱処理工程S02)
次に、得られた鋳塊の均質化および溶体化のために熱処理を行う。鋳塊を800℃以上1080℃以下にまで加熱する熱処理を行うことで、鋳塊内において、ZrおよびSiを均質に拡散させたり、ZrおよびSiを母相中に固溶させたりするのである。この熱処理工程S02は、非酸化性または還元性雰囲気中で実施することが好ましい。
加熱後の冷却方法は、特に限定しないが、水焼入など冷却速度が200℃/min以上となる方法を採用することが好ましい。
次に、得られた鋳塊の均質化および溶体化のために熱処理を行う。鋳塊を800℃以上1080℃以下にまで加熱する熱処理を行うことで、鋳塊内において、ZrおよびSiを均質に拡散させたり、ZrおよびSiを母相中に固溶させたりするのである。この熱処理工程S02は、非酸化性または還元性雰囲気中で実施することが好ましい。
加熱後の冷却方法は、特に限定しないが、水焼入など冷却速度が200℃/min以上となる方法を採用することが好ましい。
(熱間加工工程S03)
次に、粗加工の効率化と組織の均一化のために熱間加工を実施する。加工方法は特に限定されないが、最終形状が板、条の場合は圧延を採用することが好ましい。線や棒の場合には押出や溝圧延、バルク形状の場合には鍛造やプレスを採用することが好ましい。熱間加工時の温度も特に限定されないが、500℃以上1050℃以下の範囲内とすることが好ましい。
なお、熱間加工後の冷却方法は、特に限定しないが、水焼入など冷却速度が200℃/min以上となる方法を採用することが好ましい。
次に、粗加工の効率化と組織の均一化のために熱間加工を実施する。加工方法は特に限定されないが、最終形状が板、条の場合は圧延を採用することが好ましい。線や棒の場合には押出や溝圧延、バルク形状の場合には鍛造やプレスを採用することが好ましい。熱間加工時の温度も特に限定されないが、500℃以上1050℃以下の範囲内とすることが好ましい。
なお、熱間加工後の冷却方法は、特に限定しないが、水焼入など冷却速度が200℃/min以上となる方法を採用することが好ましい。
(中間加工工程S04/中間熱処理工程S05)
また、熱間加工の後、溶体化の徹底、再結晶組織化または加工性向上のための軟化を目的として中間加工、中間熱処理を加えてもよい。この中間加工工程S04における温度条件は特に限定はないが、冷間加工となる−200℃から200℃の範囲内とすることが好ましい。また、中間加工工程S04における加工率は、最終形状に近似するように適宜選択されることになるが、最終形状を得るまでの中間熱処理工程S05の回数を減らすためには、20%以上とすることが好ましい。また、加工率を30%以上とすることがより好ましい。塑性加工方法は特に限定されないが、例えば圧延、線引き、押出、溝圧延、鍛造、プレス等を採用することができる。
中間熱処理工程S05における熱処理方法は特に限定はないが、好ましくは500℃以上1050℃以下の条件で、非酸化雰囲気または還元性雰囲気中で熱処理を行うことが好ましい。なお、これら中間加工工程S04、中間熱処理工程S05は繰り返し実施してしてもよい。
また、熱間加工の後、溶体化の徹底、再結晶組織化または加工性向上のための軟化を目的として中間加工、中間熱処理を加えてもよい。この中間加工工程S04における温度条件は特に限定はないが、冷間加工となる−200℃から200℃の範囲内とすることが好ましい。また、中間加工工程S04における加工率は、最終形状に近似するように適宜選択されることになるが、最終形状を得るまでの中間熱処理工程S05の回数を減らすためには、20%以上とすることが好ましい。また、加工率を30%以上とすることがより好ましい。塑性加工方法は特に限定されないが、例えば圧延、線引き、押出、溝圧延、鍛造、プレス等を採用することができる。
中間熱処理工程S05における熱処理方法は特に限定はないが、好ましくは500℃以上1050℃以下の条件で、非酸化雰囲気または還元性雰囲気中で熱処理を行うことが好ましい。なお、これら中間加工工程S04、中間熱処理工程S05は繰り返し実施してしてもよい。
(仕上加工工程S06)
次に、上記の工程を施した材料を必要に応じて切断するとともに、表面に形成された酸化膜等を除去するために必要に応じて表面研削を行う。そして、所定の加工率で冷間加工を実施する。なお、この仕上加工工程S06における温度条件は特に限定はないが、−200℃から200℃の範囲内とすることが好ましい。また、加工率は、最終形状に近似するように適宜選択されることになるが、加工硬化によって強度を向上させるためには、加工率を30%以上とすることが好ましく、さらなる強度の向上を図る場合には、加工率を50%以上とすることがより好ましい。塑性加工方法は特に限定されないが、最終形状が板、条の場合は圧延を採用することが好ましい。線や棒の場合には押出や溝圧延、バルク形状の場合には鍛造やプレスを採用することが好ましい。
次に、上記の工程を施した材料を必要に応じて切断するとともに、表面に形成された酸化膜等を除去するために必要に応じて表面研削を行う。そして、所定の加工率で冷間加工を実施する。なお、この仕上加工工程S06における温度条件は特に限定はないが、−200℃から200℃の範囲内とすることが好ましい。また、加工率は、最終形状に近似するように適宜選択されることになるが、加工硬化によって強度を向上させるためには、加工率を30%以上とすることが好ましく、さらなる強度の向上を図る場合には、加工率を50%以上とすることがより好ましい。塑性加工方法は特に限定されないが、最終形状が板、条の場合は圧延を採用することが好ましい。線や棒の場合には押出や溝圧延、バルク形状の場合には鍛造やプレスを採用することが好ましい。
(時効熱処理工程S07)
次に、仕上加工工程S06によって得られた仕上加工材に対して、強度、導電率の上昇のために、時効熱処理を実施する。この時効熱処理工程S07により、粒径1nm以上500nm以下の微細なCu−Zr−Si粒子が析出することになる。
ここで熱処理温度は特に限定しないが、最適なサイズのCu−Zr−Si粒子を均一に分散析出させるために、250℃以上600℃以下の範囲内とすることが好ましい。なお、導電率によって析出状態を把握できることから、所定の導電率となるように、熱処理条件(温度、時間)を適宜設定することが好ましい。
ここで、上述の仕上加工工程S06と時効熱処理工程S07とを、繰り返し実施してもよい。また、時効熱処理工程S07の後に、形状修正や強度向上のために1%から70%の加工率で冷間加工を行ってもよい。さらに、調質や残留ひずみの除去のために熱処理を行ってもよい。なお、熱処理後の冷却方法は、特に限定しないが、水焼入など冷却速度が200℃/min以上となる方法を採用することが好ましい。
次に、仕上加工工程S06によって得られた仕上加工材に対して、強度、導電率の上昇のために、時効熱処理を実施する。この時効熱処理工程S07により、粒径1nm以上500nm以下の微細なCu−Zr−Si粒子が析出することになる。
ここで熱処理温度は特に限定しないが、最適なサイズのCu−Zr−Si粒子を均一に分散析出させるために、250℃以上600℃以下の範囲内とすることが好ましい。なお、導電率によって析出状態を把握できることから、所定の導電率となるように、熱処理条件(温度、時間)を適宜設定することが好ましい。
ここで、上述の仕上加工工程S06と時効熱処理工程S07とを、繰り返し実施してもよい。また、時効熱処理工程S07の後に、形状修正や強度向上のために1%から70%の加工率で冷間加工を行ってもよい。さらに、調質や残留ひずみの除去のために熱処理を行ってもよい。なお、熱処理後の冷却方法は、特に限定しないが、水焼入など冷却速度が200℃/min以上となる方法を採用することが好ましい。
以上のようにして、Cu―Zr―Si粒子を有する電気・電子機器用銅合金が製出されることになる。この電子・電気機器用銅合金においては、0.2%耐力が300MPa以上、ビッカース硬さが100HV以上とされている。
また、仕上加工工程S06における加工方法として圧延を適用した場合、板厚0.05〜1.0mm程度の電子・電気機器用銅合金薄板(条材)を得ることができる。このような薄板は、これをそのまま電子・電気機器用部品に使用してもよいが、板面の一方、もしくは両面に、膜厚0.1〜10μm程度のSnめっきまたはAgめっきを施して、めっき付き銅合金条としてもよい。
さらに、本実施形態である電気・電子機器用銅合金(電子・電気機器用銅合金薄板)を素材として、打ち抜き加工や曲げ加工等を施すことにより、例えばコネクタ等の端子、リレー、リードフレーム、バスバーといった電子・電気機器用部品が成形される。
また、仕上加工工程S06における加工方法として圧延を適用した場合、板厚0.05〜1.0mm程度の電子・電気機器用銅合金薄板(条材)を得ることができる。このような薄板は、これをそのまま電子・電気機器用部品に使用してもよいが、板面の一方、もしくは両面に、膜厚0.1〜10μm程度のSnめっきまたはAgめっきを施して、めっき付き銅合金条としてもよい。
さらに、本実施形態である電気・電子機器用銅合金(電子・電気機器用銅合金薄板)を素材として、打ち抜き加工や曲げ加工等を施すことにより、例えばコネクタ等の端子、リレー、リードフレーム、バスバーといった電子・電気機器用部品が成形される。
以上のような構成とされた本実施形態である電気・電子機器用銅合金によれば、Zrの含有量が0.01mass%以上0.11mass%未満、Siの含有量が0.002mass%以上0.03mass%未満とされ、Zrの含有量(mass%)とSiの含有量(mass%)との比Zr/Siが2以上30以下とされているので、上述のCu−Zr−Si粒子を形成して銅の母中に分散させることにより、導電率を維持したまま耐力を向上させる、あるいは、耐力を維持したまま導電率を向上させることが可能となる。また、ビッカース硬さを向上させることができる。
ここで、本実施形態においては、粒径1nm以上500nm以下の微細なCu−Zr−Si粒子を有しているので、高い導電率を維持したまま耐力の向上を図ることができる。あるいは、高い耐力を維持したまま導電率をさらに高くすることができる。また、ビッカース硬さを向上させることができる。
さらに、粒径が1μm以上50μm以下の範囲内とされた粗大なCu−Zr−Si粒子を有しているので、せん断加工時に粗大なCu−Zr−Si粒子が破壊の起点となり、せん断加工性を大幅に向上させることができる。
さらに、粒径が1μm以上50μm以下の範囲内とされた粗大なCu−Zr−Si粒子を有しているので、せん断加工時に粗大なCu−Zr−Si粒子が破壊の起点となり、せん断加工性を大幅に向上させることができる。
また、本実施形態である電子・電気機器用銅合金においては、導電率が80%IACS以上とされているので、ZrやSiが銅の母相中に固溶しておらず、Cu−Zr−Si粒子が母相中に十分に分散していることになり、強度を確実に向上させることが可能となる。また、特に高い導電率が要求される電子・電気用部品の素材として使用することができる。
ここで、本実施形態の電子・電気機器用銅合金において、さらにAg,Sn,Al,Ni,Zn,Mgのうちのいずれか1種または2種以上を合計で0.005mass%以上0.1mass%以下の範囲内で含有する場合には、これらの元素が銅の母相中に固溶することによって、さらに耐力を向上させることができる。すなわち、固溶強化によって強度の向上を図ることができるのである。
また、本実施形態の電子・電気機器用銅合金において、さらにTi,Co,Crのうちのいずれか1種または2種以上を合計で0.005mass%以上0.1mass%以下の範囲内で含有する場合には、これらの元素が単独であるいは化合物として析出することによって、導電率を低下させることなく、さらに耐力を向上させることができる。すなわち、析出強化によって強度の向上を図ることができるのである。
さらに、本実施形態の電子・電気機器用銅合金において、さらにP,Ca,Te,Bのうちのいずれか1種または2種以上を合計で0.005mass%以上0.1mass%以下の範囲内含有する場合には、これらの元素が溶解鋳造時に晶出および偏析によって比較的粗大な粒子を形成することになり、この粗大な粒子がせん断加工時に破壊と起点となるため、せん断加工性を大幅に向上させることが可能となる。
さらに、本実施形態である電子・電気機器用銅合金においては、0.2%耐力が300MPa以上の機械特性を有するので、例えば電磁リレーの可動導電片あるいは端子のバネ部のごとく、特に高強度が要求される部品に適している。
本実施形態である電子・電気機器用銅合金薄板は、上述の電子・電気機器用銅合金の圧延材からなることから、耐応力緩和特性に優れており、コネクタ、その他の端子、電磁リレーの可動導電片、リードフレーム、バスバーなどに好適に使用することができる。また、用途に応じて、表面にSnめっきおよびAgめっきを形成して使用してもよい。
本実施形態である電子・電気機器用部品、端子、バスバーは、上述した本実施形態の電子・電気機器用銅合金からなることから、寸法精度に優れ、小型化および薄肉化しても優れた特性を発揮することができる。
以上、本発明の実施形態である電気・電子機器用銅合金について説明したが、本発明はこれに限定されることはなく、その発明の技術的思想を逸脱しない範囲で適宜変更可能である。
例えば、上述の実施形態では、電気・電子機器用銅合金の製造方法の一例について説明したが、製造方法は本実施形態に限定されることはなく、既存の製造方法を適宜選択して製造してもよい。
例えば、上述の実施形態では、電気・電子機器用銅合金の製造方法の一例について説明したが、製造方法は本実施形態に限定されることはなく、既存の製造方法を適宜選択して製造してもよい。
以下に、本発明の効果を確認すべく行った確認実験の結果について説明する。
純度99.99mass%以上の無酸素銅(ASTM F68−Class1)からなる銅原料を準備し、これを高純度グラファイト坩堝内に装入して、Arガス雰囲気とされた雰囲気炉内において高周波溶解した。得られた銅溶湯内に、各種添加元素を添加して表1および表2に示す成分組成に調製し、水冷銅鋳型に注湯して鋳塊を製出した。なお、鋳塊の大きさは、厚さ約20mm×幅約20mm×長さ約100〜120mmとした。
純度99.99mass%以上の無酸素銅(ASTM F68−Class1)からなる銅原料を準備し、これを高純度グラファイト坩堝内に装入して、Arガス雰囲気とされた雰囲気炉内において高周波溶解した。得られた銅溶湯内に、各種添加元素を添加して表1および表2に示す成分組成に調製し、水冷銅鋳型に注湯して鋳塊を製出した。なお、鋳塊の大きさは、厚さ約20mm×幅約20mm×長さ約100〜120mmとした。
得られた鋳塊に対して、Arガス雰囲気中において、均質化と溶体化のために表3および表4に記載の温度条件で4時間の加熱を行う熱処理工程を実施し、その後、水焼き入れを実施した。熱処理後の鋳塊を切断するとともに、酸化被膜を除去するために表面研削を実施した。
その後、表3および表4に記載された加工率、温度にて熱間圧延を行い、水焼き入れを実施した後、表3および表4に記載された条件にて仕上加工工程として冷間圧延を実施し、厚さ約0.5mmの条材を製出した。
そして、得られた条材に対して、表3および表4に記載された温度にて、表5および表6に記載の導電率となるまで時効熱処理を実施し、特性評価用条材を作成した。
そして、得られた条材に対して、表3および表4に記載された温度にて、表5および表6に記載の導電率となるまで時効熱処理を実施し、特性評価用条材を作成した。
(加工性評価)
加工性の評価として、前述の仕上加工工程(冷間圧延時)における耳割れの有無を観察した。目視で耳割れが全くあるいはほとんど認められなかったものを「◎」、長さ1mm未満の小さな耳割れが発生したものを「○」、長さ1mm以上3mm未満の耳割れが発生したものを「△」、長さ3mm以上の大きな耳割れが発生したものを「×」とした。耳割れの長さが1mm以上3mm未満である「△」は実用上問題がないと判断した。
なお、耳割れの長さとは、圧延材の幅方向端部から幅方向中央部に向かう耳割れの長さのことである。評価結果を表5および表6に示す。
加工性の評価として、前述の仕上加工工程(冷間圧延時)における耳割れの有無を観察した。目視で耳割れが全くあるいはほとんど認められなかったものを「◎」、長さ1mm未満の小さな耳割れが発生したものを「○」、長さ1mm以上3mm未満の耳割れが発生したものを「△」、長さ3mm以上の大きな耳割れが発生したものを「×」とした。耳割れの長さが1mm以上3mm未満である「△」は実用上問題がないと判断した。
なお、耳割れの長さとは、圧延材の幅方向端部から幅方向中央部に向かう耳割れの長さのことである。評価結果を表5および表6に示す。
(粒子観察)
Cu、Zr、Siを含有するCu−Zr−Si粒子を確認するため、透過型電子顕微鏡(TEM:日本電子株式会社製、JEM−2010F)を用いて粒子観察し、EDX分析(エネルギー分散型X線分光法)を実施した。
まず、図3に示すように、TEMを用いて20,000倍(観察視野:2×107nm2)で観察した。そして、観察された粒子について、図4に示すように、100,000倍(観察視野:7×105nm2)観察を行った。また、粒径が10nm未満の粒子については、さらに500,000倍(観察視野:3×104nm2)で観察を行った。
また、観察された粒子について、EDX(エネルギー分散型X線分光法)を用いて組成を分析し、Cu−Zr−Si粒子であることを確認した。EDX分析結果の一例を図4に示す。
Cu、Zr、Siを含有するCu−Zr−Si粒子を確認するため、透過型電子顕微鏡(TEM:日本電子株式会社製、JEM−2010F)を用いて粒子観察し、EDX分析(エネルギー分散型X線分光法)を実施した。
まず、図3に示すように、TEMを用いて20,000倍(観察視野:2×107nm2)で観察した。そして、観察された粒子について、図4に示すように、100,000倍(観察視野:7×105nm2)観察を行った。また、粒径が10nm未満の粒子については、さらに500,000倍(観察視野:3×104nm2)で観察を行った。
また、観察された粒子について、EDX(エネルギー分散型X線分光法)を用いて組成を分析し、Cu−Zr−Si粒子であることを確認した。EDX分析結果の一例を図4に示す。
Cu−Zr−Si粒子の粒径は、長径(途中で粒界に接しない条件で粒内に最も長く引ける直線の長さ)のと短径(長径と直角に交わる方向で、途中で粒界に接しない条件で最も長く引ける直線の長さ)の平均値とした。
組織観察により、粒径1nm以上50nm以下の範囲内のCu−Zr−Si粒子が観察されたものを○、観察されなかったものを×として評価した。評価結果を表5および表6に示す。
組織観察により、粒径1nm以上50nm以下の範囲内のCu−Zr−Si粒子が観察されたものを○、観察されなかったものを×として評価した。評価結果を表5および表6に示す。
(導電率)
特性評価用条材から幅10mm×長さ60mmの試験片を採取し、4端子法によって電気抵抗を求めた。また、マイクロメータを用いて試験片の寸法測定を行い、試験片の体積を算出した。そして、測定した電気抵抗値と体積とから、導電率を算出した。なお、試験片は、その長手方向が特性評価用条材の圧延方向に対して垂直になるように採取した。測定結果を表5および表6に示す。
特性評価用条材から幅10mm×長さ60mmの試験片を採取し、4端子法によって電気抵抗を求めた。また、マイクロメータを用いて試験片の寸法測定を行い、試験片の体積を算出した。そして、測定した電気抵抗値と体積とから、導電率を算出した。なお、試験片は、その長手方向が特性評価用条材の圧延方向に対して垂直になるように採取した。測定結果を表5および表6に示す。
(機械的特性)
特性評価用条材からJIS Z 2241に規定される13B号試験片を採取し、オフセット法により0.2%耐力、引張強さを測定した。なお、試験片は、引張試験の引張方向が特性評価用条材の圧延方向に対して垂直になるように採取した。
また、ヤング率Eは、前述の試験片にひずみゲージを貼付け、荷重−伸び曲線の勾配から求めた。評価結果を表5および表6に示す。
特性評価用条材からJIS Z 2241に規定される13B号試験片を採取し、オフセット法により0.2%耐力、引張強さを測定した。なお、試験片は、引張試験の引張方向が特性評価用条材の圧延方向に対して垂直になるように採取した。
また、ヤング率Eは、前述の試験片にひずみゲージを貼付け、荷重−伸び曲線の勾配から求めた。評価結果を表5および表6に示す。
(ビッカース硬さ)
JIS Z 2244に規定されているマイクロビッカース硬さ試験方法に準拠し、試験荷重0.98Nでビッカース硬さを測定した。評価結果を表5および表6に示す。
JIS Z 2244に規定されているマイクロビッカース硬さ試験方法に準拠し、試験荷重0.98Nでビッカース硬さを測定した。評価結果を表5および表6に示す。
Zrの含有量が本発明の範囲よりも多い比較例1においては、仕上加工(冷間圧延)時に大きな耳割れが発生した。このため、その後の工程と評価を中止した。
Zrの含有量が本発明の範囲よりも少ない比較例2においては、粒径1nm以上500nm以下のCu−Zr−Si粒子が観察されておらず、0.2%耐力が218MPaと低く、ビッカース硬さも不十分であった。
Zrの含有量(mass%)とSiの含有量(mass%)との比Zr/Siが本発明の範囲よりも小さい比較例3においては、導電率が大きく低下した。
Zrの含有量が本発明の範囲よりも少ない比較例2においては、粒径1nm以上500nm以下のCu−Zr−Si粒子が観察されておらず、0.2%耐力が218MPaと低く、ビッカース硬さも不十分であった。
Zrの含有量(mass%)とSiの含有量(mass%)との比Zr/Siが本発明の範囲よりも小さい比較例3においては、導電率が大きく低下した。
これに対して、本発明例1−44においては、仕上加工(冷間圧延)の際に3mm以上の大きな耳割れは発生しなかった。また、いずれも粒径1nm以上500nm以下のCu−Zr−Si粒子が観察されており、高い導電率と高い耐力とを有していた。さらに、ビッカース硬さが高くなっていた。
以上のことから、本発明例によれば、高い導電率と高い耐力とを有するとともにビッカース硬さが高く、電子・電気機器用部品に適した電子機器用銅合金を提供することができることが確認された。
Claims (14)
- Zrを0.01mass%以上0.11mass%未満、Siを0.002mass%以上0.03mass%未満、含有し、残部がCuおよび不可避的不純物からなる組成を有し、
Zrの含有量(mass%)とSiの含有量(mass%)との比Zr/Siが2以上30以下の範囲内とされていることを特徴とする電子・電気機器用銅合金。 - CuとZrとSiを含有するCu-Zr-Si粒子を有することを特徴とする請求項1に記載の電子・電気機器用銅合金。
- 前記Cu-Zr-Si粒子の少なくとも一部は、粒径が1nm以上500nm以下の範囲内とされていることを特徴とする請求項2に記載の電子・電気機器用銅合金。
- さらに、Ag,Sn,Al,Ni,Zn,Mgのうちのいずれか1種または2種以上を合計で0.005mass%以上0.1mass%以下の範囲内で含んでいることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか一項に記載の電子・電気機器用銅合金。
- さらに、Ti,Co,Crのうちのいずれか1種または2種以上を合計で0.005mass%以上0.1mass%以下の範囲内で含んでいることを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか一項に記載の電子・電気機器用銅合金。
- さらに、P,Ca,Te,Bのうちのいずれか1種または2種以上を合計で0.005mass%以上0.1mass%以下の範囲内で含んでいることを特徴とする請求項1から請求項5のいずれか一項に記載の電子・電気機器用銅合金。
- 導電率が80%IACS以上であることを特徴とする請求項1から請求項6のいずれか一項に記載の電子・電気機器用銅合金。
- 0.2%耐力が300MPa以上であることを特徴とする請求項1から請求項7のいずれか一項に記載の電子・電気機器用銅合金。
- 表面のビッカース硬さが100HV以上であることを特徴とする請求項1から請求項8のいずれか一項に記載の電子・電気機器用銅合金。
- 請求項1から請求項9のいずれか一項に記載の電子・電気機器用銅合金の圧延材からなり、厚みが0.05mm以上1.0mm以下の範囲内にあることを特徴とする電子・電気機器用銅合金薄板。
- 表面にSnめっきまたはAgめっきが施されていることを特徴とする請求項10に記載の電子・電気機器用銅合金薄板。
- 請求項1から請求項9のいずれか一項に記載の電子・電気機器用銅合金からなることを特徴とする電子・電気機器用部品。
- 請求項1から請求項9のいずれか一項に記載の電子・電気機器用銅合金からなることを特徴とする端子。
- 請求項1から請求項9のいずれか一項に記載の電子・電気機器用銅合金からなることを特徴とするバスバー。
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