JP2013522874A5 - - Google Patents
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Claims (14)
- ベース基板と、
前記ベース基板の表面上に配置された第1導電性トレース層と、
前記第1トレース層上に配置されかつ前記ベース基板の前記表面に結合された第1電気絶縁材料剛性層と、
前記第1絶縁材料層内に埋め込まれた導電性の第1ビアであって、前記第1ビアの各々は、前記1トレース層の前記トレースのうちの1つに接合され、前記第1絶縁材料層の外面まで延在するワイヤスタッドのスタック又はワイヤを含み、
前記第1絶縁材料層は、前記第1ビアのワイヤスタッドの前記スタックの各々又は前記ワイヤの各々の周りに流し込まれ、前記第1ビアのワイヤスタッドの前記スタックの各々又は前記ワイヤの各々は、前記第1絶縁材料層に埋め込まれる、
多層配線基板。 - 前記第1絶縁材料層は、硬化エポキシを含む、請求項1に記載の多層配線基板。
- 前記第1ビアは、前記第1トレース層の前記トレースのうちの1つに接合されたワイヤを含む、請求項1又は2に記載の多層配線基板。
- 前記ワイヤの各々の本体部は、前記第1トレース層の前記トレースのうちの1つから、前記ベース基板の前記表面に対し実質的に垂直に延在する、請求項3に記載の多層配線基板。
- 前記ワイヤの各々の本体部は、前記第1トレース層の前記トレースのうちの1つから、前記ベース基板の前記表面に対して15から75度の角度で延在する、請求項3に記載の多層配線基板。
- 前記第1絶縁材料層の前記外面上の第2導電性トレース層をさらに含み、前記第2トレース層の前記トレースの各々は、前記第1ビアのうちの1つに電気的に接続される、請求項1〜5のいずれかに記載の多層配線基板。
- 前記第2トレース層及び前記第1絶縁材料層の前記外面上に配置された第2電気絶縁材料層と、
前記第2絶縁材料層内に埋め込まれた導電性の第2ビアであって、前記第2ビアの各々は、前記第2トレース層の前記トレースのうちの1つに接合されかつ前記第2絶縁材料層の外面まで延在するワイヤスタッドのスタック又はワイヤを含み、
前記第2絶縁材料層は、前記第2ビアのワイヤスタッドの前記スタックの各々又は前記ワイヤの各々の周りに流し込まれ、前記第2ビアのワイヤスタッドの前記スタックの各々又は前記ワイヤの各々は前記第2絶縁材料層に埋め込まれる、請求項6に記載の多層配線基板。 - 前記第2絶縁材料層の外面上の第3導電性トレース層をさらに含み、前記第3トレース層の前記トレースは、前記第2ビアに電気的に接続される、請求項7に記載の多層配線基板。
- 前記第1ビアの各々は、ワイヤスタッドの一つの前記スタック又は一つの前記ワイヤのみから構成される、請求項1〜8のいずれかに記載の多層配線基板。
- 前記第1ビアは、第1トレース層の前記トレースのうちの1つに接合されたワイヤスタッドのスタックを、それぞれ含む、請求項1〜9のいずれかに記載の多層配線基板。
- ワイヤスタッドの各々の前記スタックは、他のワイヤスタッドの上部に積み重ねられた少なくとも三つのワイヤスタッドを含む、請求項1〜10のいずれかに記載の多層配線基板。
- 前記第1絶縁材料層は、前記第1ビアのワイヤスタッドの前記スタックの各々又は前記ワイヤの各々の周りに粘性状態で流し込まれた、固められた材料である、請求項1〜11のいずれかに記載の多層配線基板。
- 前記第1絶縁材料層は、シリカ粒子を含む、請求項1〜12のいずれかに記載の多層配線基板。
- 前記第1絶縁材料層内の前記シリカ粒子の濃度は、50〜90重量%である、請求項1〜13のいずれかに記載の多層配線基板。
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US4771537A (en) * | 1985-12-20 | 1988-09-20 | Olin Corporation | Method of joining metallic components |
US5229549A (en) * | 1989-11-13 | 1993-07-20 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Ceramic circuit board and a method of manufacturing the ceramic circuit board |
US5310965A (en) * | 1991-08-28 | 1994-05-10 | Nec Corporation | Multi-level wiring structure having an organic interlayer insulating film |
US6295729B1 (en) * | 1992-10-19 | 2001-10-02 | International Business Machines Corporation | Angled flying lead wire bonding process |
US5371654A (en) * | 1992-10-19 | 1994-12-06 | International Business Machines Corporation | Three dimensional high performance interconnection package |
US6064213A (en) * | 1993-11-16 | 2000-05-16 | Formfactor, Inc. | Wafer-level burn-in and test |
US7282945B1 (en) * | 1996-09-13 | 2007-10-16 | International Business Machines Corporation | Wafer scale high density probe assembly, apparatus for use thereof and methods of fabrication thereof |
US5828226A (en) * | 1996-11-06 | 1998-10-27 | Cerprobe Corporation | Probe card assembly for high density integrated circuits |
JP3192619B2 (ja) * | 1997-10-07 | 2001-07-30 | 日本特殊陶業株式会社 | 配線基板及びその製造方法 |
JP3188876B2 (ja) * | 1997-12-29 | 2001-07-16 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレ−ション | プロダクト・チップをテストする方法、テスト・ヘッド及びテスト装置 |
JPH11317383A (ja) * | 1998-05-06 | 1999-11-16 | Dexter Kk | 樹脂で封止した半導体チップの分断方法 |
US6372999B1 (en) * | 1999-04-20 | 2002-04-16 | Trw Inc. | Multilayer wiring board and multilayer wiring package |
JP3865115B2 (ja) * | 1999-09-13 | 2007-01-10 | Hoya株式会社 | 多層配線基板及びその製造方法、並びに該多層配線基板を有するウエハ一括コンタクトボード |
US6309912B1 (en) * | 2000-06-20 | 2001-10-30 | Motorola, Inc. | Method of interconnecting an embedded integrated circuit |
US7480988B2 (en) * | 2001-03-30 | 2009-01-27 | Second Sight Medical Products, Inc. | Method and apparatus for providing hermetic electrical feedthrough |
US6729019B2 (en) * | 2001-07-11 | 2004-05-04 | Formfactor, Inc. | Method of manufacturing a probe card |
US6821625B2 (en) * | 2001-09-27 | 2004-11-23 | International Business Machines Corporation | Thermal spreader using thermal conduits |
US6857880B2 (en) * | 2001-11-09 | 2005-02-22 | Tomonari Ohtsuki | Electrical connector |
JP2003152133A (ja) * | 2001-11-12 | 2003-05-23 | Toppan Printing Co Ltd | 半導体パッケージ用基板及びその製造方法 |
US6831371B1 (en) * | 2002-03-16 | 2004-12-14 | Amkor Technology, Inc. | Integrated circuit substrate having embedded wire conductors and method therefor |
JP3925283B2 (ja) * | 2002-04-16 | 2007-06-06 | セイコーエプソン株式会社 | 電子デバイスの製造方法、電子機器の製造方法 |
US6739879B2 (en) * | 2002-07-03 | 2004-05-25 | Intel Corporation | Ball grid array circuit board jumper |
US7047638B2 (en) * | 2002-07-24 | 2006-05-23 | Formfactor, Inc | Method of making microelectronic spring contact array |
US6920689B2 (en) * | 2002-12-06 | 2005-07-26 | Formfactor, Inc. | Method for making a socket to perform testing on integrated circuits |
US7682970B2 (en) * | 2003-07-16 | 2010-03-23 | The Regents Of The University Of California | Maskless nanofabrication of electronic components |
US7024763B2 (en) * | 2003-11-26 | 2006-04-11 | Formfactor, Inc. | Methods for making plated through holes usable as interconnection wire or probe attachments |
US20050108875A1 (en) * | 2003-11-26 | 2005-05-26 | Mathieu Gaetan L. | Methods for making vertical electric feed through structures usable to form removable substrate tiles in a wafer test system |
US7375978B2 (en) * | 2003-12-23 | 2008-05-20 | Intel Corporation | Method and apparatus for trace shielding and routing on a substrate |
KR20050065038A (ko) * | 2003-12-24 | 2005-06-29 | 삼성전기주식회사 | 비수직 비아가 구비된 인쇄회로기판 및 패키지 |
JP2005327986A (ja) * | 2004-05-17 | 2005-11-24 | Seiko Epson Corp | クロスオーバ配線構造およびその電子回路装置 |
JP4441325B2 (ja) * | 2004-05-18 | 2010-03-31 | 新光電気工業株式会社 | 多層配線の形成方法および多層配線基板の製造方法 |
JP2006013223A (ja) * | 2004-06-28 | 2006-01-12 | Seiko Epson Corp | 配線構造 |
KR100663942B1 (ko) * | 2005-03-24 | 2007-01-02 | 삼성전기주식회사 | 적층 세라믹 콘덴서 및 그 제조 방법 |
KR100596602B1 (ko) * | 2005-03-30 | 2006-07-04 | 삼성전기주식회사 | 적층 세라믹 콘덴서 및 그 제조 방법 |
TWM274641U (en) * | 2005-04-01 | 2005-09-01 | Lingsen Precision Ind Ltd | Packaging carrier for integrated circuit |
JP2007059184A (ja) * | 2005-08-24 | 2007-03-08 | Citizen Electronics Co Ltd | キーシートモジュール |
US20070152685A1 (en) * | 2006-01-03 | 2007-07-05 | Formfactor, Inc. | A probe array structure and a method of making a probe array structure |
US7532391B2 (en) * | 2006-01-20 | 2009-05-12 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Optical amplification module and laser light source designed to suppress photodarkening |
JP4950500B2 (ja) * | 2006-02-06 | 2012-06-13 | キヤノン株式会社 | プリント配線基板の接合構造 |
US7520757B2 (en) * | 2006-08-11 | 2009-04-21 | Tyco Electronics Corporation | Circuit board having configurable ground link and with coplanar circuit and ground traces |
US7836587B2 (en) * | 2006-09-21 | 2010-11-23 | Formfactor, Inc. | Method of repairing a contactor apparatus |
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KR101243837B1 (ko) * | 2009-10-23 | 2013-03-20 | 한국전자통신연구원 | 다층 배선 연결 구조 및 그의 제조 방법 |
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