JP2013140996A - 基板保持部材及び基板接合装置 - Google Patents

基板保持部材及び基板接合装置 Download PDF

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Abstract

【課題】永久磁石の吸引力により接合基板を挟む基板保持部材を用いて基板を接合する。
【解決手段】位置合わせして積層された一対の基板を保持する基板保持部材であって、一対の基板の一方を保持する第1保持部材と、第1保持部材に連結された複数の被結合部材と、一方に対向させて一対の基板の他方を保持する第2保持部材と、被結合部材に作用する吸着力を有して、被結合部材の位置に対応して第2保持部材に連結された複数の結合部材と、吸着力を、一対の基板が位置合わせされるまで規制する吸着規制部とを備える。
【選択図】図22

Description

本発明は、基板保持部材、基板接合装置、積層基板製造装置、基板接合方法、積層基板製造方法および積層型半導体装置製造方法に関する。なお、本出願は、下記の日本出願に関連する。文献の参照による組み込みが認められる指定国については、下記の出願に記載された内容を参照により本出願に組み込み、本出願の一部とする。
特願2007−281200 出願日 2007年10月30日
特願2008−199553 出願日 2008年8月1日
特願2008−199554 出願日 2008年8月1日
半導体装置の実効的な実装密度を向上させる技術のひとつとして、複数のダイを積層させた構造がある。パッケージング前のダイを積層した積層半導体モジュールは、回路および素子の実装密度向上に止まらず、チップ相互の配線長を短縮して高速な処理をも実現する。更に、積層半導体モジュールを製造する場合は、ダイ単位で接合する場合もあるが、ウエハ単位で接合した後に積層モジュールを切り分ける手順により、生産性を向上させることができる。
積層半導体モジュールの材料としてのウエハは、面積に対して厚さが薄く機械的な強度は決して高くない。そこで、ウエハを損傷させることなく取り扱う目的で、平坦な吸着面を有する固定部材に固定した状態で、固定部材と共に取り扱う。また、ウエハを接合する場合も、固定部材を介してウエハ接合させた上で、固定部材により接合ウエハを挟んで保持することにより、接合ウエハの操作を容易にしている。
下記の特許文献1には、吸着力を発生する結合部材を各々が備え、接合されたウエハを挟んで結合する一対のウエハホルダが記載される。これにより、相対位置を合わせて接合された一対のウエハを、その状態を維持したまま保持させることができる。
特開2006−339191号公報
しかしながら、吸着力の発生源として永久磁石を用いた場合、永久磁石は磁性体に対して不断に吸引力を発生するので、基板の相対位置を調整する場合に、相互の位置決めに磁力が影響を及ぼす場合がある。また、永久磁石および磁性体が結合する場合に、磁性体に対する吸引力が強く作用すると、基板どうしが接合した瞬間に大きな衝撃が発生して、基板が損傷する場合があった。
そこで、上記課題を解決すべく、本発明の第1の態様として、位置合わせして積層された一対の基板を保持する基板保持部材であって、一対の基板の一方を保持する第1保持部材と、第1保持部材に連結された複数の被結合部材と、一方に対向させて一対の基板の他方を保持する第2保持部材と、被結合部材に作用する吸着力を有して、被結合部材の位置に対応して第2保持部材に連結された複数の結合部材と、吸着力を、一対の基板が位置合わせされるまで規制する吸着規制部とを備え、一対の基板が位置合わせして接合された後に被結合部材および結合部材が相互に吸着する基板保持部材が提供される。
また、本発明の第2の態様として、一対の基板を位置合わせして積層する基板接合装置であって、一対の基板の一方を保持する第1保持部材を支持する第1保持部材支持部と、第1保持部材に連結された複数の被結合部材と、一方に対向させて一対の基板の他方を保持する第2保持部材を支持する第2保持部材支持部と、被結合部材の位置に対応して第2保持部材に連結され、被結合部材に作用する吸着力を有する複数の結合部材と、一対の基板を相互に位置合わせする位置合わせ駆動部と、第1保持部材支持部および第2保持部材支持部の一方を他方に向かって駆動する積層駆動部と、吸着力を、一対の基板が位置合わせされるまで規制する吸着規制部とを備え、位置合わせ駆動部により一対の基板が位置合わせされ、積層駆動部により一対の基板が積層された後に、吸着規制部が被結合部材および結合部材の吸着の規制を解除する基板接合装置が提供される。
更に、本発明の第3の態様として、上記接合装置と、接合装置において位置合わせして積層された一対の基板を加圧して貼り合わせる加圧装置とを備える積層基板製造装置が提供される。
また更に、本発明の第4の態様として、一対の基板を互いに位置合わせして積層する基板接合方法であって、被結合部材を有する第1保持部材に一対の基板の一方を保持させる段階と、被結合部材に作用する吸着力を発生する結合部材を有する第2保持部材に、一対の基板の一方に対向して一対の基板の他方を保持させる段階と、一対の基板を相互に位置合わせする段階と、吸着力を作用させて被結合部材および結合部材を吸着させ、第1保持部材および第2保持部材の間に、位置合わせされた一対の基板を積層した状態で保持する段階とを含む基板接合方法が提供される。
また、本発明の第5の態様として、上記基板接合方法に続いて、第1保持部材および第2保持部材を介して一対の基板を加圧して貼り合わせる段階を更に含む積層基板製造方法が提供される。
更に、本発明の第6の態様として、各々が素子および電極を有して互いに積層された一対の半導体基板を含む積層型半導体装置を製造する積層型半導体装置製造方法であって、被結合部材を有する第1保持部材に一対の半導体基板の一方を保持させる段階と、被結合部材に作用する吸着力を発生する結合部材を有する第2保持部材に、一対の半導体基板の一方に対向して一対の基板の他方を保持させる段階と、一対の半導体基板の対応する電極を相互に位置合わせする段階と、吸着力を作用させて被結合部材および結合部材を吸着させ、第1保持部材および第2保持部材の間に、位置合わせされた一対の半導体基板を積層した状態で保持する段階と第1保持部材および第2保持部材を介して一対の半導体基板を加圧して貼り合わせる段階とを含む積層型半導体装置製造方法が提供される。
上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではない。また、これらの特徴群のサブコンビネーションも発明となり得る。
積層基板製造装置10を概略的に示す説明図である。 一方のウエハ16(17)を概略的に示す平面図である。 第1ホルダ部材19および第2ホルダ部材20を示す平面図である。 板バネ部材30の作用を示すアライメント機構12の縦断面図である。 搬送アーム24の把持部25を概略的に示す側面図である。 接合機構13の状態を概略的に示す側面図である。 板バネ部材30を概略的に示す平面図である。 磁性部材40および磁石41の近傍を拡大して示す縦断面図である。 結合部材31を概略的に示す斜視図である。 板バネ部材30が変形した状態を概略的に示す斜視図である。 プッシュピン46を概略的に示す縦断面図である。 積層型半導体装置51を概略的に示す斜視図である。 他の板バネ部材30を示す平面図である。 また他の板バネ部材30を示す平面図である。 他の板バネ部材30を示す平面図である。 板バネ部材30および磁性部材40を示す断面図である。 ウエハ16、17接合のひとつの段階における接合機構13の断面図である。 板バネ部材30および磁性部材40の他の断面を示す断面図である。 ウエハ16、17接合の次の段階における接合機構13の断面図である。 上記段階における板バネ部材30および磁性部材40を示す断面図である。 ウエハ16、17接合のまた次の段階の接合機構13の断面図である。 ウエハ16、17接合の更に次の段階の接合機構13の断面図である。 ウエハ16、17接合の更に次の段階の接合機構13の断面図である。 上記段階における板バネ部材30および磁性部材40を示す断面図である。 基板接合装置100の構造を模式的に示す断面図である。 位置検出機構200の構造を示す斜視図である。 基板接合装置100の制御系300の構造を模式的に示す図である。 基板接合装置100を用いた接合手順を示す流れ図である。 ステップS105における固定部材を抜き出して示す図である。 図29に示す状態で形成される磁気回路を模式的に示す図である。 ステップS106における固定部材を抜き出して示す図である。 図31に示す状態で形成される磁気回路を模式的に示す図である。 ステップS107における固定部材を抜き出して示す図である。 図33に示す状態で形成される磁気回路を模式的に示す図である。 高透磁率部材181の他の形態を示す図である。 他の実施形態に係る磁界制御部180の非結合状態を示す図である。 図36に示した磁界制御部180の結合状態を示す図である。 また他の実施形態に係る磁界制御部180の非結合状態を示す図である。 図38に示した磁界制御部180の結合状態を示す図である。 結合部材174の他の形態を示す断面図である。 他の実施形態に係る磁界制御部180の構造を示す図である。 図41に示した磁界制御部180の動作を説明する図である。 他の実施形態に係る基板接合装置100の一部を抜き出して示す図である。 図43に示した基板接合装置100の動作を説明する図である。
10 積層基板製造装置、11 基板、12 アライメント機構、13 接合機構、14 基板ホルダ、15 搬送機構、16 ウエハ、17 ウエハ、18 小領域、19 第1ホルダ部材、20 第2ホルダ部材、21 テーブル部材、22 テーブル部材、23 ブロック体、24 搬送アーム、25 把持部、26 支持板、27 板、28 支柱、29a 下部加圧部材、29b 上部加圧部材、30 板バネ部材、31 結合部材、32 スリット、33 帯状部、34 固定部、35 ネジ部材、36 挿通孔、37 固定部材、38 挿入孔、39 貫通孔、40 磁性部材、41 磁石、42 カバー部材、43 収容部、44 端壁、45 結合規制部、46 プッシュピン、47 ハウジング、48 ピン部材、49 エアーポンプ、50 開口、51 積層型半導体装置、52 締結具、53 結合部、54 チップ、100 接合装置、110 枠体、112 天板、114 支柱、116 底板、120 第1駆動部、122 シリンダ、124 ピストン、126 案内レール、130 加圧ステージ、132 第1固定部材保持部、134 球面座、136 Xステージ、138 Yステージ、140 受圧ステージ、142 第2固定部材保持部、144 懸架部材、150 圧力検知部、160 第1基板組立体、161 板バネ、162 第1基板、163 止め具、164 被結合部材、166 第1固定部材、170 第2基板組立体、172 第2基板、173 永久磁石、174 結合部材、175 取付部材、176 第2固定部材、177 磁界発生コイル、178 ケース、180 磁界制御部、181 高透磁率部材、182 支持部材、183 貫通穴、184 平行アーム、185 滑動部材、186 第2駆動部、187 ブラケット、188 プッシュピン、189 軸支部、200 位置検出機構、212、222 撮像部、214、224 照明部、216、226 コネクタ、218、228 電源ケーブル、300 制御系、301 板バネ群、310 位置制御部、320 近接検知部
以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定しない。また、実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決に必須であるとは限らない。
図1は、積層基板製造装置10を概略的に示す説明図である。積層基板製造装置10は、二つの基板11(図1には、一方の基板11が示されている。)の間の相対位置を合わせるためのアライメント機構12と、該アライメント機構により位置合わせされた各基板11を互いに接合するための接合機構13とを備える。更に、積層基板製造装置10は、アライメント機構12により位置合わせされた各基板11をそれぞれ位置合わせされた状態に保持するための基板ホルダ14と、該基板ホルダにより保持された各基板11をそれぞれアライメント機構12から接合機構13に搬送するための搬送機構15とを備える。
図2は、一方のウエハ16(17)を概略的に示す平面図である。二つの基板11は、図示の例では、それぞれ単一のウエハ16、17を含む。ウエハ16、17は、図2に示すように、半導体材料である単結晶シリコンからなる円形の薄板部材Bの一面にマトリックス状に区画形成された複数の小領域18内にそれぞれ図示しないトランジスタ、抵抗体およびキャパシタ等の回路素子が形成されている。前記回路素子は、リソグラフィ技術を中核として、薄膜形成技術、エッチング技術および不純物拡散技術等の成形技術を用いて形成される。
図3は、第1ホルダ部材19および第2ホルダ部材20を示す平面図である。図3(a)は第1ホルダ部材19を概略的に示し、図3(b)は第2ホルダ部材20を概略的に示す。
基板ホルダ14は、図3(a)および(b)に示すように、二つのウエハ16、17のうち一方のウエハ16を支持する第1ホルダ部材19と、他方のウエハ17を支持する第2ホルダ部材20とを備える。
図4は、板バネ部材30の作用を示すアライメント機構12の縦断面図である。図4(a)は、板バネ部材30の変形が規制された状態を概略的に示し、図4(b)は、板バネ部材30の変形の規制が解除された状態を概略的に示す。
第1ホルダ部材19および第2ホルダ部材20は、それぞれ円盤状をなしている。また、第1ホルダ部材19および第2ホルダ部材20の各々は、それぞれの一面にウエハ16、17を吸着させる吸着面19a、20aを有し、図4(a)および図4(b)に示すように、該各吸着面が互いに対向し且つ板厚方向が互いに一致するように重なって配置されている。
各ウエハ16、17は、それぞれ前記回路素子が形成された一面16a、17aとは反対側の他面16b、17bが吸着面19a、20aに吸着される。また、各ウエハ16、17は、それぞれ第1ホルダ部材19および第2ホルダ部材20に設けられた図示しない電極に電圧が印加されることによって第1ホルダ部材19および第2ホルダ部材20の各々の吸着面19a、20aに生じる静電吸着力により各吸着面19a、20aに吸着される。これにより、各ウエハ16、17は、それぞれ前記回路素子が形成された一面16a、17aがそれぞれ対向した状態で第1ホルダ部材19または第2ホルダ部材20に一体的に支持される。
各吸着面19a、20aへの各ウエハ16、17の吸着位置は、図示の例では、各ウエハ16、17の中心が第1ホルダ部材19および第2ホルダ部材20の各々の中心にそれぞれ一致し、且つ、第1ホルダ部材19および第2ホルダ部材20の各々にそれぞれ設けられた図示しない基準マークが後述するように互いに整合したときに各ウエハ16、17の各小領域18の配列が両ウエハ16、17間の該両ウエハに沿った平面に関して面対称となるように規定されている。
アライメント機構12は、図4(a)および(b)に示すように、第1ホルダ部材19を支持する第1テーブル部材21と、第2ホルダ部材20を支持する第2テーブル部材22とを備える。第1テーブル部材21は、図4で見て上下方向および左右方向への移動が可能となるように設けられている。
第2テーブル部材22は、アライメント機構12の天板112(図25参照)から懸架されており、第2ホルダ部材20を下面に支持する。また、天板112および第2テーブル部材22の間には、複数の圧力検知部150が間挿される。圧力検知部150は、ウエハ16、17を接合する場合にウエハ16、17にかかる圧力を検出する。
アライメント機構12は、第1ホルダ部材19および第2ホルダ部材20に支持されたウエハ16、17の位置合わせを行う場合に、例えば、図示しない顕微鏡を用いて第1ホルダ部材19および第2ホルダ部材20に設けられた前記基準マークを検出し、該基準マークの位置が第1ホルダ部材19および第2ホルダ部材20の間で整合するように第1テーブル部材21を移動させる。
前記各基準マークを整合させる場合は、前記したように、各ウエハ16、17の各小領域18の配列が両ウエハ16、17間の該両ウエハに沿った平面に関して面対称となることから、各ウエハ16、17は、前記各基準マークの相互の整合により、一方のウエハ16の各小領域18がそれぞれ他方のウエハ17の各小領域18のうち対応する該小領域に対向し且つ前記一方のウエハ16の各小領域18の前記回路素子の電極が前記他方のウエハ17の各小領域18の前記回路素子の電極のうち対応する電極に対向する適正な位置に配置される。
また、アライメント機構12は、各ウエハ16、17の位置合わせ時、第1テーブル部材21の移動により、両ウエハ16、17間に僅かな隙間Sが形成されるように該両ウエハを近接させる。
各ウエハ16、17は、互いの相対位置が位置合わせされた後、基板ホルダ14の後述する保持作用により、位置合わせされた状態に保持される。基板ホルダ14と該基板ホルダにより保持された各ウエハ16、17とで、ブロック体23が形成される。
図5は、各ウエハ16、17および基板ホルダ14を把持する把持部25を概略的に示す側面図である。搬送機構15は、図1に示すように、搬送アーム24と、該搬送アームの一端24aに設けられ、ブロック体23を把持する把持部25とを備える。
把持部25は、図5に示すように、搬送アーム24の一端24aから伸び、ブロック体23をその下方から支持する支持板26と、ブロック体23をその上方から押える押え板27とを有する。支持板26には、図示しない電極が設けられている。ブロック体23は、支持板26の前記電極に電圧が印加されることにより生じる静電吸着力によって支持板26に吸着されて固定される。押え板27は、支持板26の基端26aに設けられた支柱28に図5で見て上下方向に移動可能に取り付けられている。支持板26に固定されたブロック体23に押え板27から押圧力を与えることにより、ブロック体23が支持板26および押え板27間に挟持される。
搬送機構15は、支持板26および押え板27間にブロック体23を挟持した状態で搬送アーム24を作動させることにより、ブロック体23をアライメント機構12から接合機構13に搬送する。
図6は、ウエハ16、17および基板ホルダ14が装填された接合機構13の状態を概略的に示す側面図である。接合機構13は、第1ホルダ部材19の下方に配置された下部加圧部材29aと、第2ホルダ部材20の上方に配置された上部加圧部材29bとを備える。上部加圧部材29bは、図示の例では、下部加圧部材29aと協働してブロック体23を加圧すべく下部加圧部材29aに近接する方向に移動できる。
下部加圧部材29aおよび上部加圧部材29bには、それぞれ図示しない発熱体が内蔵されている。上部加圧部材29bの移動によりブロック体23を下部加圧部材29aおよび上部加圧部材29b間で加圧した状態で前記発熱体を発熱させることにより、各ウエハ16、17の互いに密着した前記電極が溶着する。これにより、各ウエハ16、17の前記電極がそれぞれ接合される。
第1ホルダ部材19には、図3(a)に示すように、複数の板バネ部材30が設けられている。また、第2ホルダ部材20には、図3(b)に示すように、各板バネ部材30との間に吸着力を作用させることにより該各板バネ部材30と所定の位置関係で結合する結合部材31が設けられている。
図7は、板バネ部材30を概略的に示す平面図である。各板バネ部材30は、図示の例では、それぞれ高強度析出硬化型ステンレス鋼(SUS631)からなり、図7に示すように、円形をなしている。図示の例では、各板バネ部材30の直径は、22mmであり、各板バネ部材30の厚さ寸法は0.1mmであった。
各板バネ部材30には、互いに同一方向に沿って伸び且つ伸長方向に直交する方向へ間隔をおいて配置された一対のスリット32が形成されている。各スリット32は、各板バネ部材30の中心からの距離が互いに等しくなるように該各板バネ部材に形成されている。各板バネ部材30への各スリット32の形成により、各板バネ部材30には、各板バネ部材30の中心を含み且つ各板バネ部材30の径方向に伸びる帯状部33が、各スリット32間で形成されている。各板バネ部材30は、図3(a)に示すように、それぞれ各スリット32の伸長方向が第1ホルダ部材19の径方向に沿うように、第1ホルダ部材19の吸着面19aの縁部19b上に配置されている。
図3(a)に示す例では、6つの板バネ部材30が第1ホルダ部材19に設けられており、2つの板バネ部材30で一つの板バネ群301を形成する。3つの板バネ群301は、それぞれを形成する各板バネ部材30間の間隔が各板バネ群301間で等しく且つ該各板バネ群間の間隔が第1ホルダ部材19の周方向に等しくなるように配置されている。
各板バネ部材30は、図7に示すように、第1ホルダ部材19に固定される固定部34を有する。固定部34は、図示の例では、各板バネ部材30の帯状部33と各スリット32の延長線(図7に一点鎖線で示されている。)間の領域30cとを除く領域に、帯状部33の中心部分33aの位置に関して点対称となる位置にそれぞれ配置されている。
また、固定部34は、図示の例では、各板バネ部材30の周縁部30aから各スリット32の伸長方向に直交する方向に沿って各板バネ部材30の径方向外方へ張り出している。各固定部34には、それぞれネジ部材35の挿通を許す挿通孔36が形成されている。各固定部34がそれぞれネジ部材35により第1ホルダ部材19に固定されることにより、各板バネ部材30がそれぞれネジ部材35を介して第1ホルダ部材19に固定される。
図8は、磁性部材40および磁石41の近傍を拡大して示す縦断面図である。図8(a)は、結合部材31および板バネ部材30がそれぞれ第1ホルダ部材19および第2ホルダ部材20に取り付けられた状態を概略的に示し、図8(b)は磁性部材40が結合部材31に吸着した状態を概略的に示す。
各板バネ部材30の中心部すなわち帯状部33の中心部分33aには、図8(a)に示すように、それぞれ固定部材37が挿入される挿入孔38が形成されている。各固定部材37は、例えば、ネジを用いることができる。各固定部材37の一端部37aは、第1ホルダ部材19に各板バネ部材30の挿入孔38に対応して形成された貫通孔39内に遊びをもって挿入されている。
各固定部材37の他端部37bは、それぞれ吸着面19aから突出している。各板バネ部材30は、それぞれの挿入孔38内に固定部材37の他端部37bが螺合することにより固定部材37に固定されている。また、各固定部材37の他端部37aには、各板バネ部材30上に配置された磁性部材40が取り付けられている。
磁性部材40は、図示の例では、円盤状をなしており、その中心で固定部材37の他端部37bに固定されている。これにより、各磁性部材40は、それぞれの中心が帯状部33の中心部分33a上に位置した状態で、固定部材37を介して各板バネ部材30にそれと一体的に固定されている。
各結合部材31は、図9に示すように、それぞれ磁石41と、該磁石を収容するカバー部材42とを有する。また、各結合部材31は、図3(b)に示すように、第2ホルダ部材20の吸着面20aの縁部20b上に各板バネ部材30に対応して配置されている。
磁石41は、図示の例では、それぞれ円柱状をなした永久磁石からなり、8[N]の大きさの磁力を有する。磁石41の中心には、後述するピン部材48の挿通を許す挿通孔41aが形成されている。また、第2ホルダ部材20には、図8(a)に示すように、それぞれ挿通孔41aに整合する挿通孔20cが形成されている。
図9は、結合部材31を概略的に示す斜視図である。カバー部材42は、図9に示すように、磁石41が収容される円筒状の収容部43と、該収容部に形成された一対の取付部45とを有する。磁石41は、その軸線が収容部43の軸線に沿うように収容部43内に収容される。収容部43は、その一端43aに円形の端壁44を有する。端壁44の中心には、磁石41の挿通孔41aに整合する挿通孔44aが形成されている。
取付部45aの各々は、それぞれ収容部43の周壁から互いに反対方向へ突出している。取付部45aの各々は、図8(a)に示すように、それぞれネジ部材のような締結具52によって第2ホルダ部材20に固定される。
第1ホルダ部材19への各板バネ部材30の配置位置および第2ホルダ部材20への各磁石41の配置位置は、アライメント機構12による各ウエハ16、17の位置合わせ時に、第1ホルダ部材19および第2ホルダ部材20の前記基準マークが互いに整合したときに、各磁石41の挿通孔41aがそれぞれ帯状部33の中心部分33aの上方に位置するように設定されている。
従って、各ウエハ16、17間の相対位置が前記適正な位置に合わせられたとき、前記したように、第1ホルダ部材19および第2ホルダ部材20が互いに近接していることから、各磁石41の磁力が該各磁石に対応する板バネ部材30に設けられた磁性部材40に作用する。また、各板バネ部材30には、各磁石41の磁力が帯状部33の中心部分33aを磁石41に向けて引っ張る引張り力として各磁性部材40から作用する。
図10は、板バネ部材30が変形した状態を概略的に示す斜視図である。各板バネ部材30にそれぞれ一対のスリット32が形成されていることから、帯状部33の中心部分33aが受ける引張り力により、図8(b)および図10に示すように、各板バネ部材30の周縁部30aの各スリット32の伸長方向で互いに対向する二つの部分30bが近づくように各板バネ部材30が両固定部34を通る線分L(図7参照。)を変形の基点として弾性変形すると同時に中心部分33aが浮き上がるように帯状部33が弾性変形する。
このとき、前記したように、各固定部材37がそれぞれ第1ホルダ部材19の貫通孔39内に遊びをもって挿入されていることから、帯状部33の弾性変形が各固定部材37により妨げられることはない。この帯状部33の弾性変形により、各結合部材31へ向けての各磁性部材40の移動が許される。各磁性部材40がそれぞれ結合部材31に向けて移動して該結合部材の磁石41にカバー部材42の端壁44を介して吸着されることにより、帯状部33の中心部分33aが磁性部材40を介して結合部材31に結合される。すなわち、帯状部33の中心部分33aは、各結合部材31に所定の位置関係で結合される結合部53を形成する。
尚、図示の例では、板バネ部材30と結合部材31との前記所定の位置関係とは、各板バネ部材30と各結合部材31とがそれぞれ結合されるとき、それらの間に磁性部材40の厚さ寸法に相当する大きさの間隔がおかれる関係を意味する。
更に、本実施例では、アライメント機構12は、図4(a)および図4(b)に示すように、両ウエハ16、17の位置合わせ時に各結合部材31への各板バネ部材30の結合を規制するための結合規制部45を有する。結合規制部45は、図示の例では、第2テーブル部材22を貫通する複数のプッシュピン46により形成される。
図11は、プッシュピン46を概略的に示す縦断面図である。各プッシュピン46は、それぞれ第2ホルダ部材20が第2テーブル部材22に支持された状態で第2ホルダ部材20の各結合部材31に対応するように配置されている。また、各プッシュピン46は、図11に示すように、それぞれ第2テーブル部材22に固定されるハウジング47と、該ハウジング内から第2ホルダ部材20に向けて突出可能に収容された前記したピン部材48とを有する。更に、各プッシュピン46は、ピン部材48をハウジング47内から第2ホルダ部材20に向けて付勢する付勢部を有する。
なお、図4に示すように、プッシュピン46は、天板112から懸架される。また、ピン部材48は、第2テーブル部材22および磁石41を貫通して、被結合部材31に当接する。このような構造により、ピン部材48が磁石41を押した状態でウエハ16、17を接合する場合に、ロードセル150の検出値が磁石41の磁力の影響を受けることがない。
ハウジング47は、ピン部材48の挿通を許す開口50を有し、該開口が第2ホルダ部材20に向けて開放するように配置されている。ピン部材48は、図示の例では、フッ素樹脂のような摩擦係数が低い合成樹脂材料で形成されている。フッ素樹脂には、例えばいわゆるテフロン(登録商標)が含まれる。
付勢部は、図示の例では、ハウジング47内の気圧を調整するエアーポンプ49により形成される。エアーポンプ49に作動によりハウジング47の気圧が上昇すると、ピン部材48がハウジング47内からその外方へ開口50を経て押し出される。ピン部材48が受ける圧力の大きさは、磁石41から板バネ部材30に作用する引張り力の大きさよりも大きい。
アライメント機構12による両ウエハ16、17の位置合わせ時には、ピン部材48は、図4(a)に示すように、ハウジング47内から押し出され、第2テーブル部材22に支持された第2ホルダ部材20、磁石41およびカバー部材42のそれぞれの挿通孔20c、41aおよび44aを経てカバー部材42の端壁44から突出する。端壁44からのピン部材48の突出量は、両ウエハ16、17の位置合わせ時に該両ウエハ間に確保すべき隙間Sの大きさにほぼ等しくなるように設定されている。結合規制部45の規制作用については、後に詳述する。
以下に、上記した基板ホルダ14を用いて各ウエハ16、17を互いに接合する接合方法について説明する。
各ウエハ16、17を互いに接合する際、先ず、基板支持工程が実施される。基板支持工程では、第1ホルダ部材19および第2ホルダ部材20の前記電極にそれぞれ電圧を印加することにより、各ウエハ16、17をそれぞれ第1ホルダ部材19および第2ホルダ部材20に吸着させることにより支持する。
次に、アライメント機構12を用いて両ウエハ16、17の位置合わせを行うアライメント工程に進む。
両ウエハ16、17の位置合わせを行う際、先ず、第1ホルダ部材19および第2ホルダ部材20をそれぞれ第1テーブル部材21および第2テーブル部材22に支持し、各プッシュピン46のピン部材48を結合部材31のカバー部材42の端壁44から予め突出させておく。
次に、第1テーブル部材21を上下方向に沿って第2テーブル部材22に向けて移動させることにより第1ホルダ部材19および第2ホルダ部材20を互いに近接させ、図4(a)に示すように、各ピン部材48の先端48aをそれぞれ各磁性部材40に当接させる。
更に、第1テーブル部材21を第2テーブル部材22に向けて移動させることにより、各板バネ部材30を第1ホルダ部材19に押し付ける押圧力を各板バネ部材30に磁性部材40を介して作用させる。このとき、ピン部材48が受ける圧力の大きさが、前記したように、磁石41から板バネ部材30に作用する引張り力の大きさよりも大きいことから、該引張り力に抗して各板バネ部材30をそれぞれ第1ホルダ部材19に押し付けることができる。これにより、各板バネ部材30は、それぞれ弾性変形していない無負荷の状態に保持されるので、各磁性部材40と各結合部材31との結合が規制される。また、端壁44からのピン部材48の突出量が、前記したように、両ウエハ16、17間に確保すべき隙間Sの大きさにほぼ等しくなるように設定されていることから、各板バネ部材30をそれぞれ第1ホルダ部材19に押し付けた状態では、両ウエハ16、17の前記回路素子が互いに接触することが防止される。
続いて、各ピン部材48の先端48aを各磁性部材40に当接させた状態で、第1テーブル部材21を左右方向に移動させることにより、各ウエハ16、17の相対位置を前記適正な位置に合わせる。
第1テーブル部材21の移動により各ピン部材48の先端48aが各磁性部材40上を摺動したとき、ピン部材48が、前記したように、フッ素樹脂のような摩擦係数が低い合成樹脂材料で形成されていることから、各ピン部材48の先端48aと各磁性部材40との間に大きな摩擦力が生じることが防止される。これにより、各ピン部材48および各磁性部材40間の摩擦が両ウエハ16、17間の位置合わせの妨げになることが抑制されるので、各磁性部材40上での各ピン部材48の摺動が円滑になる。
また、前記回路素子の電極が互いに接触することなく両ウエハ16、17が互いに近接した状態で該両ウエハの位置合わせをすることから、位置合わせ後に該各ウエハ16、17を近接させる場合のような各ウエハ16、17間の位置ずれが防止され且つ両ウエハ16、17を互いに接触させた状態で位置合わせをする場合のような各ウエハ16、17の前記回路素子の電極の破損が防止される。
両ウエハ16、17間の位置合わせが完了した後、各ウエハ16、17をそれぞれ位置合わせされた状態に保持する保持工程に進む。
保持工程では、先ず、第1テーブル部材21を第2テーブル部材22に向けて更に移動させて第1ホルダ部材19および第2ホルダ部材20をそれぞれ更に近接させることにより、各ウエハ16、17の前記回路素子の互いに対応する前記電極同士を接触させる。
次に、各プッシュピン46のエアーポンプ49の作動によりハウジング47内の気圧を下げることにより、各ピン部材48から各板バネ部材30に作用する前記押圧力を解除する。これにより、各板バネ部材30が前記引張り力により弾性変形することによって、各磁性部材40がそれぞれ前記したように結合部材31に吸着することにより結合する。
各磁性部材40がそれぞれ結合部材31に結合した状態では、各板バネ部材30に生じる弾性反力の大部分は、該各板バネ部材30から第1ホルダ部材19および第2ホルダ部材20の各々に該各ホルダ部材を互いに近づかせる力として各磁性部材40を介して作用し、各ウエハ16、17には該各ウエハをそれぞれ板厚方向に挟み込む挟持力として第1ホルダ部材19および第2ホルダ部材20の各々から作用する。
これにより、両ウエハ16、17は、それぞれ第1ホルダ部材19および第2ホルダ部材20の間に挟み込まれるので、位置合わせされた状態に保持される。
また、板バネ部材30がそれぞれ円形であり、各固定部34の位置がそれぞれ帯状部33の中心部分33aすなわち各板バネ部材30の中心の位置に関して点対称であることから、各板バネ部材30の前記線分で区切られる二つの部分の面積が互いに等しくなる。これにより、各磁性部材40をそれぞれ結合部材31に結合させるべく各板バネ部材30の前記二つの部分を弾性変形させるとき、この各変形部分に作用させるべき力の大きさが等しくなる。すなわち、各結合部材31から受ける吸着力である磁力により前記各変形部分が弾性変形したとき、該各変形部分に生じる弾性反力の大きさが等しくなる。
更に、各固定部34の位置が各板バネ部材30の中心の位置に関して点対称であることから、前記各変形部分がそれぞれ弾性変形したとき、該各変形部分から各結合部材31を介して第2ホルダ部材20に作用する弾性反力の各成分のうち第1ホルダ部材19および第2ホルダ部材20の各々の板厚方向に直交する方向すなわち第1ホルダ部材19および第2ホルダ部材20の間の相対位置をずらす方向への成分が互いに反対方向を向く。
従って、各結合部材31から磁性部材40を介して受ける引張り力により前記各変形部分が弾性変形したとき、該各変形部分に生じる弾性反力の各成分のうち第1ホルダ部材19および第2ホルダ部材20の相対位置をずらす方向への成分が相殺される。これにより、各板バネ部材30の弾性反力が第2ホルダ部材20に第1ホルダ部材19および第2ホルダ部材20の相対位置をずらす力として作用することはない。
各磁性部材40がそれぞれ結合部材31に吸着される際、例えば、各磁性部材40がそれぞれ磁石41に直接当接する場合、吸着時の衝撃により磁石41に破損が生じる虞があるが、本実施例では、各磁石41がそれぞれカバー部材42内に収容されていることから、各磁性部材40はそれぞれ各磁石41に当接することなくカバー部材42の端壁44に当接するので、吸着時の衝撃による磁石41の破損が防止される。
また、各結合部材31への各磁性部材40の吸着時、各結合部材31へ向けての各板バネ部材30の変形量を変化させることにより、各磁性部材40の移動量を、保持する各ウエハ16、17の厚さ寸法に対応させることができる。これにより、各ウエハ16、17の厚さ寸法に拘らず該各ウエハを確実に保持できる。
更に、各板バネ部材30を各結合部材31に向けて変形させることにより各磁性部材40を磁石41に容易に吸着させることができるので、板厚寸法が大きいウエハを保持する場合でも、磁石41の磁力を大きくする必要はない。これにより、両ウエハに大きな挟持力が作用することはないので、該挟持力による前記回路素子の破損が防止される。
これに対し、例えば、板バネ部材30とは異なり変形しない部材を磁石41に単に引き寄せる場合、特に板厚寸法が大きいウエハを保持するときのように第1ホルダ部材19および第2ホルダ部材20の間の間隔が大きくなるときには、磁石41の磁力を強くすることが求められる。しかし、磁力が強いと、第1ホルダ部材19および第2ホルダ部材20の各々に該両ホルダ部材を互いに近接させる方向に作用する力が大きくなるので、第1ホルダ部材19および第2ホルダ部材20の各々が両ウエハを挟み込む挟持力が大きくなる。このため、各ウエハに設けられた前記回路素子が前記挟持力により破損する虞がある。
各磁性部材40を各結合部材31に結合した後、第1テーブル部材21を第2テーブル部材22から離れる方向へ移動させることにより、基板ホルダ14と各ウエハ16、17とで形成されるブロック体23を第1テーブル部材21および第2テーブル部材22の間から取り外す。
このとき、第1テーブル部材21および第2テーブル部材22ら第1ホルダ部材19および第2ホルダ部材20への支持力が解放される。前記したように、各板バネ部材30の弾性反力が第2ホルダ部材20に第1ホルダ部材19および第2ホルダ部材20間の相対位置をずらす力として作用することはないことから、前記支持力が解放されたとき、両ウエハ16、17間の相対位置が前記適正な位置からずれることはない。
各結合部材31への各磁性部材40の結合により各ウエハ16、17をそれぞれ位置合わせされた状態に保持した後、ブロック体23を搬送する搬送工程に移る。
搬送工程では、搬送機構15の把持部25でブロック体23を前記したように把持し、搬送アーム24の作動によりブロック体23をアライメント機構12から接合機構13に搬送する。
搬送アーム24が始動する場合および停止する場合には、ブロック体23に慣性力が作用する。このとき、第1ホルダ部材19および第2ホルダ部材20に作用する慣性力の大きさに差が生じた場合、磁力によって結合部材31に一体的に結合された板バネ部材30には、第1ホルダ部材19および第2ホルダ部材20の各々の板厚方向に直交する方向への力が作用する。
各板バネ部材30の帯状部33は、その長手方向で互いに対向する各端部で板バネ部材30の帯状部33を除く部分に連結されているので、帯状部33にその長手方向に沿った力が作用したとき、該力の大部分は、帯状部33と前記部分との間でそれらを圧縮する圧縮力として受け止められる。
他方、板バネ部材30には一対のスリット32が形成されていることから、帯状部33の幅方向で互いに対向する各側縁部は板バネ部材30の前記部分に連結されていない。このため、帯状部33にその幅方向に沿った力が作用したとき、該力の大部分は、板バネ部材30の前記部分に受け止められず、一対のスリット32のうち一方のスリット32の幅を大きくし且つ他方のスリット32の幅を小さくするように弾性変形させる力として作用する。従って、各帯状部33は、それぞれの長手方向に沿った力が作用したときに比べて、幅方向に力が作用したときの方が変形しやすい。
本実施例では、前記したように、各板バネ部材30は、それぞれ各スリット32の伸長方向が第1ホルダ部材19の径方向に沿うように配置されている。このことから、第1ホルダ部材19および第2ホルダ部材20に作用する慣性力の大きさに差が生じたときに各板バネ部材30のうち一の板バネ部材30に作用する力の方向がたとえ該板バネ部材の帯状部33の幅方向であったとしても、他の板バネ部材30の各々の帯状部33に作用する力の大部分はそれらの幅方向に作用することなく他の方向に作用する。
これにより、他の板バネ部材30の各々により前記力が受け止められるので、板バネ部材30の変形による第1ホルダ部材19および第2ホルダ部材20の間の位置ずれが防止される。従って、搬送アーム24が始動する場合および停止する場合にブロック体23に作用する慣性力の方向に拘らず、両ウエハ16、17間の相対位置にずれを生じさせることなくブロック体23を搬送できる。
これに対し、例えば、各スリット32の伸長方向が同一方向を向くように各板バネ部材30が配置されている場合、第1ホルダ部材19および第2ホルダ部材20に作用する慣性力の大きさに差が生じたときに板バネ部材30に作用する力の方向が各帯状部33の幅方向であったとき、帯状部33の各々が第1ホルダ部材19および第2ホルダ部材20の各々の板厚方向に直交する方向へ変形する虞がある。各帯状部33がそれぞれ変形すると、第1ホルダ部材19および第2ホルダ部材20の各々の相対位置が適正な位置からずれ、両ウエハ16、17間の相対位置が適正な位置からずれてしまう。
尚、搬送工程では、第1ホルダ部材19および第2ホルダ部材20に設けられた前記電極に電圧が印加された状態でブロック体23を搬送する。
搬送工程に続いて、搬送された各ウエハ16、17を互いに接合する接合工程に進む。
接合工程では、接合機構13を用いて、各ウエハ16、17の電極をそれぞれ前記したように溶着する。これにより、両ウエハ16、17の相互の接合が終了する。
また、上記した基板ホルダ14を用いて積層型半導体装置を製造する際、先ず、基板形成工程を実施する。基板形成工程では、図2に示す薄板部材Bの一面を複数の小領域18に区画し、該各小領域内にそれぞれ複数の前記回路素子を形成することにより、接合すべきウエハ16、17を形成する。
次に、前記した基板支持工程、アライメント工程、保持工程および接合工程を経た後、分離工程に進む。
図12は、積層型半導体装置51を概略的に示す斜視図である。分離工程では、互いに接合された各ウエハ16、17を、図示しない専用のカッターを用いて図2に示す点線に沿って切断することにより、複数の小領域18に分離する。これにより、図12に示すように、積層された二つのチップ54を含む積層体すなわち積層型半導体装置51が形成される。
その後、図示しないが、積層型半導体装置51をリードフレームに貼り付けるマウント工程、および、積層型半導体装置51とリードとを接続するボンディング工程等を経ることにより、積層型半導体装置51をパッケージングする。
本実施例によれば、前記したように、各板バネ部材30から第2ホルダ部材20に作用する力による第1ホルダ部材19および第2ホルダ部材20間の相対位置のずれが確実に抑制される。これにより、第1ホルダ部材19および第2ホルダ部材20の各々に支持された各ウエハ16、17間の相対位置が、一方のウエハ16に設けられた複数の前記回路素子の前記電極が他方のウエハ17に設けられた前記各回路素子の対応する前記電極位置からずれることを、確実に抑制できる。従って、両ウエハ16、17を互いに接合したときに、両ウエハ16、17間に電気的な接触不良が生じることを確実に防止できる。
また、前記したように、各結合部材31がそれぞれ磁石41を有し、各板バネ部材30にはそれぞれ磁性部材40が設けられていることから、該磁性部材をそれぞれ磁石41に吸着させることにより、各板バネ部材30と各結合部材31とを容易に結合できる。
更に、前記したように、3つの板バネ群301は、それぞれを形成する各板バネ部材30間の間隔が各板バネ群301間で等しく且つ該各板バネ群間の間隔が第1ホルダ部材19の周方向に等しくなるように、第1ホルダ部材19の吸着面19aの縁部19b上に配置されている。このことから、各板バネ部材30と各結合部材31との結合状態で、各板バネ部材30から各ウエハ16、17に該各ウエハを板厚方向に挟み込む挟持力を第1ホルダ部材19および第2ホルダ部材20の周方向にほぼ均一に作用させることができる。
また、前記したように、各板バネ部材30の周縁部30aの互いに対向する位置に形成された一対の固定部34で各板バネ部材30をそれぞれ第1ホルダ部材19に固定することにより、各板バネ部材30は、それぞれの周縁部30aの各スリット32の伸長方向で互いに対向する二つの部分が近づくように各板バネ部材30が両固定部34を通る線分Lを変形の基点として弾性変形すると同時に帯状部33の中心部分33aが浮き上がるように弾性変形する。このことから、板バネ部材30の変形量が変化したとき、帯状部33の中心部分33aの軌跡は、第1ホルダ部材19および第2ホルダ部材20の板厚方向に伸びる直線を描く。これにより、各板バネ部材30の変形量を大きくさせることが求められた場合でも、各板バネ部材30の変形に伴って、各結合部材31のカバー部材42の端壁44への各板バネ部材30の接触面積が増減することはない。従って、各結合部材31と各板バネ部材30との接触面積が減少することによる第1ホルダ部材19および第2ホルダ部材20の間の保持力の低減を確実に防止できる。
これに対し、従来のように、各板バネ部材がそれぞれ片持ち梁状態である場合、各板バネ部材は、その一端を基点として、磁石が設けられた他端が一端を中心に回転するように変形するため、各板バネ部材が変形したとき、他端の軌跡は弧を描く。このため、各ホルダ部材に挟持される基板の厚さ寸法の大きさが大きくなるに従って各ホルダ部材間の間隔が大きくなるときのように板バネ部材の変形量を大きくさせることが求められた場合は、各板バネ部材のその一端を中心とした回転角度が大きくなる。回転角度が大きくなると、一方の磁石の吸着面が他方の磁石の吸着面に対して傾くので、磁石が互いにいわゆる片当たりする。磁石が片当たりすることによって両磁石間に隙間が形成されると、磁石の吸着面が互いに全面で接触する場合に比べて各磁石がそれぞれ他の磁石から受ける磁力の大きさが小さくなる。このため、各磁石による各ホルダ部材間の保持力が低減してしまう。
図13は、他の板バネ部材30を示す平面図である。図13(a)および図13(b)は、それぞれ別の形態を概略的に示す。本実施例では、各固定部34が、それぞれ各板バネ部材30の周縁部30aから各スリット32の伸長方向に直交する方向に沿って各板バネ部材30の径方向外方へ張り出した例を示した。
これに代えて、例えば、図13(a)に示すように、二つの固定部34を、それぞれ各板バネ部材30に各スリット32の伸長方向に直交する方向で互いに対向する位置で形成できる。この場合、各固定部34の位置は、結合部53である帯状部33の中心部分33aに関して点対称となる位置に配置される。図示の例では、各固定部34にそれぞれネジ部材35の挿通を許す挿通孔36が形成されている。
図13(a)に示す例によれば、各板バネ部材30は、各磁石41から各磁性部材40を介して引張り力を受けたとき、前記したと同様に、両固定部34を通る線分Lを変形の基点として、周縁部30aの各スリット32の伸長方向で互いに対向する二つの部分30bが近づくように弾性変形すると同時に、帯状部33の中心部分33aが浮き上がるように弾性変形する。
図13(a)に示す例に代えて、図示しないが、各固定部34をそれぞれ各板バネ部材30の帯状部33と各スリット32の延長線間の領域30cとを除く領域に前記各部分30b以外の部分で帯状部33の中心部分33aに関して点対称となるように配置できる。
また、本実施例では、各板バネ部材30にそれぞれ二つの固定部34が配置された例を示したが、これに代えて、各板バネ部材30にそれぞれ単一の固定部34を配置できる。
例えば図13(b)に示す例では、固定部34は、各板バネ部材30の帯状部33と各スリット32の延長線間の二つの領域30cとを含み、各板バネ部材30の径方向に沿って伸びる。図示の例では、固定部34の両端部すなわち各板バネ部材30の前記延長線間領域30cにそれぞれネジ部材35の挿通を許す挿通孔36が形成されている。
この場合、各板バネ部材30は、各磁石41から引張り力を受けたとき、各挿通孔36を通る線分L2を変形の基点として、周縁部30aの各スリット32の伸長方向に直交する方向で互いに対向する二つの部分30dすなわち線分L2に関して線対称となる各部分30dが互いに近づくように弾性変形する。すなわち、各板バネ部材30の前記各部分30dがそれぞれ結合部材31に結合される前記した結合部53となる。従って、図13(b)に示す例においては、前記各部分30dにそれぞれ磁性部材40が取り付けられる。
更に、本実施例では、各板バネ部材30にそれぞれ一対のスリット32が形成された例を示したが、スリット32を省くこともできる。図14は、また他の板バネ部材30を示す平面図である。図14(a)および図14(b)は、それぞれ別の形態を概略的に示す。
この場合、例えば図14(a)に示すように、各板バネ部材30の中心部に固定部34を配置し、該固定部の位置に関して点対称となる位置にそれぞれ結合部53を配置できる。固定部34には、ネジ部材35の挿通を許す挿通孔36が形成されている。この場合、固定部材37省くことができる。
また、図14(a)に示す例に代えて、例えば図14(b)に示すように、板バネ部材30の中心を含み且つ板バネ部材30の径方向に伸びる部分を固定部34に設定し、該固定部の両端部である板バネ部材30の周縁部30aの互いに対向する一対の部分にそれぞれ挿通孔36を形成できる。この場合、固定部材37を省くことができる。
図14(b)に示す例によれば、各板バネ部材30は、各磁石41から引張り力を受けたとき、各挿通孔36および各板バネ部材30の中心を通る線分L3を変形の基点として、該線分により隔てられた二つの半円の頂部30eすなわち線分L3に関して線対称となる各頂部30eが互いに近づくように弾性変形する。すなわち、各板バネ部材30の前記各頂部30eがそれぞれ結合部53となる。従って、前記各頂部30eにそれぞれ磁性部材40が取り付けられる。
図1から図14までに示す例では、各板バネ部材30がそれぞれ円形をなした例を示したが、これに代えて、矩形状をなした板バネ部材を適用できる。
また、図1から図14までに示す例では、各板バネ部材30がそれぞれSUS631からなる例を示したが、これに代えて、少なくとも結合部53が磁性を有する板バネ部材を適用できる。この場合、結合部53を磁性材料で形成でき、または、磁性を有さない材料で結合部53を形成しその材料に磁性体を混入できる。
結合部53が磁性を有する場合、磁性部材40を省くことができる。また、この場合、各結合部53は、それぞれに対応する磁石41から受ける引張り力によって該磁石に直接吸着することにより該磁石に結合する。
また、この場合、結合部53に限って磁性を持たせることに代えて、板バネ部材30自体を磁性材料で形成し、または、磁性を有さない材料で板バネ部材30を形成しその材料に磁性体を混入できる。
尚、この例では、板バネ部材30と結合部材31との所定の位置関係とは、各板バネ部材30と各結合部材31とがそれぞれ結合されるとき、それらが互いに直接当接する位置関係を意味する。
更に、図1から図14までに示す例では、結合部材31の磁石41は永久磁石により形成されたが、これに代えて、磁石41を電磁石で形成できる。
また、図1から図14までに示す例では、結合部材31が磁石41の磁力を用いて各板バネ部材30を吸引する例を示したが、これに代えて、例えば真空吸着のように空気圧力を用いて各板バネ部材30を吸引する結合部材を適用できる。
更に、図1から図14までに示す例では、プッシュピン46のピン部材48がフッ素樹脂のような摩擦係数が低い合成樹脂材料で形成された例を示したが、これに代えて、ピン部材48の少なくとも先端48aの周面にテフロン(登録商標)加工を施すことができる。
また、図1から図14までに示す例では、ピン部材48をハウジング47内から第2ホルダ部材20に向けて付勢する付勢部49が、ハウジング47内の気圧を調整するエアーポンプ49により形成された例を示したが、これに代えて、磁石41から板バネ部材30に作用する引張り力の大きさよりも大きいバネ力を有する圧縮コイルスプリングのように、エアーポンプ49を用いない構造で付勢部49を形成できる。
更に、図1から図14までに示す例では、結合規制部45がプッシュピン46で形成された例を示したが、これに代えて、例えば各結合部材31と各磁性部材40との間にそれぞれ配置されるスペーサ部材で結合規制部45を形成できる。
この場合、前記各スペーサ部材の厚さ寸法は、両ウエハ16、17の位置合わせ時に該両ウエハ間に確保すべき隙間Sの大きさにほぼ等しくなるように設定される。また、この場合、磁石41およびカバー部材42の挿通孔41a、44aを省くことができる。
この例によれば、前記各スペーサは、それぞれ両ウエハ16、17の位置合わせ時に各結合部材31と各磁性部材40との間に挿入され、それらの間に挟持される。このとき、各結合部材31から各板バネ部材30に作用する押圧力により、磁石41から板バネ部材30に作用する引張り力に抗して各板バネ部材30をそれぞれ第1ホルダ部材19に押し付けることができる。これにより、各板バネ部材30は、それらの間に前記所定の間隔が維持された状態に保持される。
また、両ウエハ16、17の位置合わせをする場合に、前記所定の位置関係での各結合部材31と各板バネ部材30との結合を規制できれば、プッシュピン46および前記スペーサ部材以外の部材で結合規制部45を形成できる。
また、図1から図14までに示す例では、互いに接合される二つの基板11がそれぞれ単一のウエハ16、17で形成された例を示したが、これに代えて、各基板11の一方を単一のウエハで形成し、各基板11の他方を、重なり合った複数のウエハが接合されることにより形成された積層体とし、または、両基板11をそれぞれ前記積層体で形成できる。
更に、図1から図14までに示す例では、第1ホルダ部材19および第2ホルダ部材20の両方が円盤状をなした例を示したが、これに代えて、いずれか一方を例えば矩形状のように円形以外の形状をなすように形成できる。この場合、例えば第1ホルダ部材19を円盤状に形成し、第2ホルダ部材20を矩形状に形成したとき、第1ホルダ部材19に設けられた各板バネ部材30の配置位置に対応する位置で各結合部材31をそれぞれ第2ホルダ部材20に設けることができる。
図15は、他の形態を有する板バネ部材30を示す平面図である。なお、図7の板バネ部材30と同じ要素には同じ参照番号を付して重複する説明を省く。
この板バネ部材30も、一対のスリット32を有する。ただし、このスリット32は、後述するように板バネ部材30が変形した場合に磁性部材40と干渉することを避ける目的で、片側が円弧状に形成される。この円弧は、磁性部材40の外周よりも僅かに大きい径を有する。また、板バネ部材30の帯状部33は、挿入孔38を挟んで一対の段差30dを有する。
図16は、図15に示した板バネ部材30に磁性部材40を装着した状態を示す断面図である。この断面は、図15に示すK−K断面に相当する。また、図15と共通の要素には同じ参照番号を付す。
図示のように、段差30dにより、帯状部33の中央部は、板バネ部材30の他の部分から隆起する。これにより、板バネ部材30の固定部34が帯状部33に対して上方に変形した場合も、板バネ部材30と磁性部材40とが干渉しない。
図17は、上記のような板バネ部材30を含むアライメント機構12の構造を模式的に示す断面図である。なお、図4と共通の要素には同じ参照番号を付して重複する説明を省く。
図4に示したアライメント機構12に対して、このアライメント機構12は、ウエハ16を保持した第1ホルダ部材19がテーブル部材21に搭載された場合に、板バネ部材30および磁性部材40を下方へと吸引する吸引部64を有する。吸引部64は、図示されていない真空源に接続され、有効にされた場合に内部に負圧を生じる。
図17は、アライメント機構12に、接合前のウエハ16、17が装填された状態を示す。ウエハ16、17は、それぞれ第1ホルダ部材19および第2ホルダ部材20のいずれかに保持されて、テーブル部材21、22に支持されている。また、ウエハ16、17の間には間隙があり、降下したピン部材48の下端は磁性部材40の上面に当接している。
図18は、図17に示した状態のアライメント機構12における板バネ部材30および磁性部材40を拡大して示す断面図である。板バネ部材30の断面は、図15に示すL−L断面に相当する。また、図15と共通の要素には同じ参照番号を付す。
図示のように、ピン部材48の下端が磁性部材40に当接しているので、磁石41の磁力が作用しても、磁性部材40は磁石に吸着されない。従って、磁石41および磁性部材40の間には間隙Dが形成される。また、板バネ部材30は、殆ど変形せずに平坦になっている。
図19は、ウエハ16、17の接合における次の段階のアライメント機構12の状態を示す断面図である。図示のように、図18に示した状態に比較すると、ピン部材48は更に降下して磁性部材40を押し下げている。
図20は、図19に示した状態のアライメント機構12において、磁性部材40の周囲を拡大して示す断面図である。図示のように、ピン部材48に押し下げられた磁性部材40は、吸引部64の上端に接して、吸引部64に吸着される。これにより、磁石41および磁性部材40の間の間隙が大きくなり、磁性部材40に作用する磁力は小さくなる。
なお、磁性部材40が押し下げられることにより板バネ部材30が変形して、磁性部材40の下面は、板バネ部材30の上面よりも低い位置に変位している。従って、磁石41および磁性部材40の間は拡がって間隙Dが形成される。しかしながら、図15に示したスリット32の形状により、板バネ部材30の長手方向において磁性部材40および板バネ部材30が干渉することはない。また、図16に示したように、板バネ部材30の帯状部33の中央が隆起しているので、帯状部33の延在方向においても、磁性部材40および板バネ部材30が干渉することはない。
図21は、ウエハ16、17の接合における次の段階のアライメント機構12の状態を示す断面図である。図示のように、図19に示した状態に比較すると、ピン部材48が上昇して磁性部材40から離間している。しかしながら、磁性部材40は吸引部64に吸着されて、磁石41から間隙Dをおいて大きく離れている。
これにより、磁性部材40に作用する磁力が小さく、ピン部材48が離れても、磁性部材40が磁石41に吸着されることがない。また、ピン部材48が磁性部材40から離間したので、上側および下側のテーブル部材21、22の間で接触する部材はなくなる。従って、例えば下側のテーブル部材21を移動させて、ウエハ16をウエハ17に対して精密に位置合わせできる。
図22は、ウエハ16、17の接合におけるまた次の段階のアライメント機構12の状態を示す断面図である。図示のように、ウエハ16、17の位置合わせが完了すると、下側のテーブル部材21が上昇して、ウエハ16、17が接合される。
また、下側のテーブル部材21が上昇することにより、第1ホルダ部材19も上昇して、磁性部材40が磁石41に接近する。しかしながら、ピン部材48が降下して、磁性部材40が磁石41に吸着されることを規制する。従って、磁石41に接近することにより磁性部材40に作用する磁石41の磁力が強くなった場合も、磁性部材40が磁石41に吸着されることが抑制される。
図23は、ウエハ16、17の接合における更に次の段階のアライメント機構12の状態を示す断面図である。図示のように、ウエハ16、17が既に接合された状態で、ピン部材48が引き上げられる。ピン部材48を引き上げる場合に、その上昇速度を低く保ち、ピン部材48を徐々に上昇させることにより、磁性部材40は、衝撃を生じることなく磁石41に吸着される。
図24は、図23に示した状態における磁石41の下端および磁性部材40の近傍を拡大して示す断面図である。図示のように、磁性部材40に作用する磁石41の磁力が強くなるので、板バネ部材30は変形し、磁石41の下面と磁性部材40の上面とが相互に密着する。これにより、磁性部材40は、磁石41に強く吸着される。従って、接合された状態で第1ホルダ部材19および第2ホルダ部材20に挟まれたウエハ16、17の位置合わせが確実に保持される。
図25は、第1基板162および第2基板172を接合する場合に用いる基板接合装置100の構造を模式的に示す断面図である。基板接合装置100は、枠体110の内側に配置された、第1駆動部120、加圧ステージ130、受圧ステージ140、圧力検知部150および磁界制御部180を備える。なお、基板接合装置100には、接合する第1基板162および第2基板172と、それらを保持した第1固定部材166および第2固定部材176とが装填されている。
枠体110は、互いに平行で水平な天板112および底板116と、天板112および底板116を結合する複数の支柱114とを備える。天板112、支柱114および底板116は、それぞれ剛性が高い材料により形成され、後述する接合における第1基板162および第2基板172への加圧の反力が作用した場合も変形しない。
枠体110の内側において、底板116の上には、第1駆動部120が配置される。第1駆動部120は、底板116の上面に固定されたシリンダ122と、シリンダ122の内側に配置されたピストン124とを有する。ピストン124は、図示されていない流体回路、カム、輪列等により駆動されて、図中に矢印Zにより示す方向に、シリンダ122に沿って昇降する。
ピストン124の上端には、加圧ステージ130が搭載される。加圧ステージ130はYステージ138、Xステージ、球面座134および第1固定部材保持部132を有する。Yステージ138は、案内レール126を介してピストン124の上端に装着され、紙面に対して垂直なY方向に変位する。Xステージ136は、Yステージ138の上面に装着され、紙面と平行に変位する。球面座134は、Xステージ136の上に搭載され、Xステージ136の上で揺動する。更に、Xステージ136の上には第1固定部材保持部132が形成される。
第1固定部材保持部132には、第1基板162を吸着して保持する第1固定部材166が搭載される。第1固定部材166は、上面を第1基板162に密着させてこれを保持する。また、第1固定部材166は、第1基板162の外側の領域に、磁性体により形成された複数の被結合部材164を備える。即ち、第1基板162、被結合部材164および第1固定部材166を含む第1基板組立体160は、基板接合装置100に対して装入または搬出できる。
上記のような構造により、第1基板組立体160として加圧ステージ130に搭載された第1基板162を、Xステージ136およびYステージ138の作用により、底板116と平行なX方向およびY方向に変位させることができる。また、球面座134の作用により、第1基板162を揺動させることができる。更に、第1基板162は、第1駆動部120の作用により、底板116に対して昇降させることができる。
一方、枠体110の内側において、天板112の下面には、受圧ステージ140および磁界制御部180が配置される。受圧ステージ140は、懸架部材144および第2固定部材保持部142を有する。第2固定部材保持部142は、天板112から垂下された複数の懸架部材144により、下面から支持される。これにより、第2固定部材保持部142は、上方へは変位自在でありながら、所定の位置に固定される。
第2固定部材保持部142には、第2基板172を吸着して保持する第2固定部材176が固定される。第2固定部材176は、下面を第2基板172に密着させてこれを保持する。また、また、第2固定部材176は、第2基板172の外側の領域に、永久磁石173含む複数の結合部材174を備える。即ち、第2基板172、結合部材174および第2固定部材176を含む第2基板組立体170は、基板接合装置100に対して装入または搬出できる。
なお、第1固定部材保持部132および第2固定部材保持部142は、静電吸着、負圧吸着等による吸着機構を有する。これにより、第1基板組立体160および第2基板組立体170を吸着して保持する。
圧力検知部150は、天板112および第2固定部材保持部142の間に挟まれた複数のロードセルを含む。圧力検知部150は、第2固定部材保持部142の上方への移動を規制すると共に、第2固定部材保持部142対して印加された圧力を検出する。
磁界制御部180は、第2駆動部186、平行アーム184、支持部材182および高透磁率部材181を有して規制部材を形成する。第2駆動部186は、天板112に固定される。平行アーム184は、上端を第2駆動部186に、下端を支持部材182に結合される。これにより、第2駆動部186を動作させた場合に、支持部材182は、略水平に変位する。
また、支持部材182の先端には、高透磁率部材181が支持される。高透磁率部材181は、少なくとも被結合部材164よりも高い透磁率を有する材料により形成される。また、図示の状態において、高透磁率部材181は、結合部材174の下面を覆う位置に配される。この状態で第2駆動部186が動作した場合、高透磁率部材181は、結合部材174の下方の領域から側方に退避する。
図26は、基板接合装置100に装着される位置検出機構200の構造を示す斜視図である。位置検出機構200は、一対の撮像部212、222および一対の照明部214、224を用いて形成される。撮像部212、222および照明部214、224は、第1基板162および第2基板172の互いに対向する接合面に平行な面内において、第1基板162および第2基板172を挟んで対向する位置に配置される。
撮像部212、222の各々は、コネクタ216、226を介して、撮像した画像を外部へ送り出す。照明部214、224は、電源ケーブル218、228を介して電力の供給を受ける。
上記のように配置された撮像部212、222が撮像した画像から、第1基板162に対する第2基板172の位置と傾きを検出できる。即ち、第1基板162が傾斜している場合は、その映像が撮像部212により撮像される。また、加圧ステージ130が上昇して第1基板162および第2基板172が当接した場合には、第1基板162および第2基板172の間で照明光が遮られるので、撮像部212、222のいずれかが撮像した画像から、第1基板162および第2基板172の接触を検知できる。
ただし、撮像部212、222の解像度は、その光学系および撮像素子の解像度に依存する。従って、第1基板162および第2基板172の間隙が撮像部212、222の解像度よりも小さい場合は、第1基板162および第2基板172が接触したタイミングと接触検知のタイミングとがずれる場合がある。しかしながら、撮像部212、222の検出限界に達しない間隙は非常に狭いので、第1基板162および第2基板172の間隙を撮像できなくなった場合は、第1基板162および第2基板172が接触したと看做しても差し支えない。
なお、上記した位置検出機構200の構造は一例に過ぎず、他の構造で同様の機能を形成することもできる。例えば、撮像部212、222に換えて干渉計を用いることにより、より分解能の高い位置検出機構200を形成できる。一方、リニアスケールを用いて、より簡潔な位置検出機構200を形成することもできる。これらの種々の構造は、目的とする接合基板の仕様に応じて当業者が適宜選択できる。
図27は、基板接合装置100の制御系300の構造を模式的に示す図である。制御系300は、位置検出機構200を含む基板接合装置100に対して設けられた、位置制御部310、および近接検知部320を含む。
位置制御部310は、位置検出機構200が検出した第1基板162の位置および傾きを参照しつつ、加圧ステージ130の各部の動作を制御する。即ち、第1駆動部120を制御することにより第1基板162の高さを変化させ、Yステージ138およびXステージ136を制御することにより第1基板162の面方向の位置を変化させ、更に、球面座134を制御することにより、第1基板162の傾きを変化させる。これらの動作により、第1基板162の位置を第2基板172の位置に位置合わせすると共に、第1基板162および第2基板172を互いに平行にする。
一方、近接検知部320は、位置制御部310による第1基板162の位置合わせが完了した旨の通知を受けて、第2駆動部186を動作させる。これにより、互いに結合する結合部材174および被結合部材164の間に高透磁率部材181が挟まれる前に、高透磁率部材181を結合部材174の下面を覆う位置から退避させる。
図28は、上記のような位置検出機構200および制御系300を備えた基板接合装置100を用いて、第1基板162および第2基板172を接合する場合の手順を示す流れ図である。第1基板162および第2基板172を接合する場合は、まず、第1基板162および第2基板172の各々に第1固定部材166および第2固定部材176を装着する(ステップS101)。これにより、厚さに対する面積が大きいシリコンウエハ等の第1基板162および第2基板172を、安全且つ容易に取り扱うことができる。
次に、第1基板162を保持した第1固定部材166を、第1固定部材保持部132に搭載する(ステップS102)。第1固定部材保持部132は、雰囲気の吸引等により第1固定部材166を吸着して保持、固定する。また、第2基板172を保持した第2固定部材176を、第2固定部材保持部142に装入する(ステップS102)。第2固定部材保持部142も、雰囲気の吸引等により第2固定部材176を吸着して保持、固定する。
続いて、第2駆動部186を動作させて、高透磁率部材181を移動させる(ステップS103)。これにより、高透磁率部材181は、結合部材174の下面を覆う非結合位置に移動され、その位置が保持される。なお、ステップS103における基板接合装置100の状態は、図25に示されている。
次に、第1駆動部120を動作させて、加圧ステージ130を上昇させる(ステップS104)。これにより、第1基板162は、第2基板172に徐々に接近する。続いて、第1基板162および第2基板172を接触させることなく、両者の面方向の位置合わせをすると共に、第2基板172に対して平行になるように第1基板162の傾きを調整する(ステップS105)。これにより、第1基板162および第2基板172は、互いに位置合わせされ、接合し得る状態となる。
そこで、位置制御部310から位置合わせの完了を通知された近接検知部320は、第2駆動部186を動作させる。これにより、高透磁率部材181は、結合部材174の下面を覆う非結合位置から、結合位置へと退避する(ステップS106)。
こうして、第1基板162および第2基板172の位置合わせが完了して、高透磁率部材181が退避した状態で、第1駆動部120により加圧ステージ130を再び上昇させることにより、第1基板162および第2基板が接合される(ステップS107)。このとき、高透磁率部材181が退避して直接に対面した結合部材174および被結合部材164も互いに結合される。これにより、第1基板162および第2基板172は、被結合部材164および結合部材174に結合された第1固定部材166および第2固定部材176に挟まれて、接合された状態で保持される。
このようにして、第1基板162および第2基板172を重なり合った状態にする接合方法であって、磁性体を含む被結合部材164を有する第1固定部材166に第1基板162および第2基板172の一方を支持させる段階と、永久磁石173を含み被結合部材164に結合される結合部材174を有する第2固定部材176に第1基板162および第2基板172の他方を支持させる段階と、被結合部材164および結合部材174が互いに近接した場合に、被結合部材164および結合部材174の間隔が所定の間隔になるまで、被結合部材164および結合部材174の吸着を規制する段階とを含む接合方法が実行される。これにより、磁力による影響を受けることなく第1基板162および第2基板172を精密に位置合わせできる一方で、接合された第1基板162および第2基板172を、第1固定部材166および第2固定部材176により自律的に保持させることができる。
図29は、ステップS105における基板接合装置100の状態を示す図である。この図では、抜き出した第1基板組立体160、第2基板組立体170および磁界制御部180が拡大して描かれる。また、図25と共通の構成要素には同じ参照番号を付して重複する説明を省く。
ステップS105の段階においては、図25に示したステップS103の状態に比較すると、第1基板162が上昇して第2基板172に接近している。ただし、この段階では、第1基板162および第2基板はまだ離間しており、結合部材174および被結合部材164もまだ離間している。また、高透磁率部材181は、結合部材174および被結合部材164の間に位置している。
図30は、図29に示す状態において、結合部材174および被結合部材164の周囲に形成される磁気回路を模式的に示す図である。結合部材174は、永久磁石173と、永久磁石173を第2固定部材176に対して固定する取付部材175とを含む。また、高透磁率部材181は、結合部材174の幾何学的中心に対応する位置に貫通穴183を有する。
永久磁石173は、第1基板162および第2基板172の面方向に直交する方向に分極するように着磁されている。これにより、結合部材174の周囲には、弧を描いて永久磁石173の磁極を結ぶ磁力線Mにより磁界が形成される。
しかしながら、結合部材174および被結合部材164の間には、結合部材174の下面を覆うように高透磁率部材181が間挿されている。これにより、結合部材174の下側に分布する磁力線の大部分は高透磁率部材181の内部を通過する。このため、高透磁率部材181の下側には磁界が拡がらず、永久磁石173の磁力による吸引力が、被結合部材164に及ばない。
このように、高透磁率部材181が永久磁石173の磁界を被結合部材164から遠ざけることにより、結合部材174および被結合部材164が接近しているにもかかわらず、両者が引き合う力が非常に弱くなる。従って、位置制御部310は、結合部材174の磁力の影響を受けることなく、精密に位置合わせを実行できる。
なお、第1基板162および第2基板172の接合工程においては温度が上昇する場合もあるので、永久磁石173としては耐熱磁石を用いることが好ましい。また、図示のように、永久磁石の幾何学的中心の位置では、永久磁石173が発生する磁力線の密度が低い。従って、この位置に貫通穴183を設けて高透磁率部材181を除いても機能に影響はない。
図31は、ステップS106における基板接合装置100の状態を示す図である。この図も、抜き出した第1基板組立体160、第2基板組立体170および磁界制御部180が拡大して描かれる。また、図25と共通の構成要素には同じ参照番号を付して重複する説明を省く。
ステップS106の段階においては、第1基板162および第2基板はまだ離間しており、結合部材174および被結合部材164もまだ離間している。ただし、この段階では、結合部材174および被結合部材164の間の被結合位置から、高透磁率部材181が結合位置に退避する。これにより、結合部材174および被結合部材164は、互いに直接に対面する。
図32は、図31に示す状態で形成される磁気回路を模式的に示す図である。高透磁率部材181は、結合部材174および被結合部材164の間から退避しているので、永久磁石173が発生した磁力線Mは、結合部材174の下方に拡がった磁界を形成する。これにより、永久磁石173の磁力線Mが被結合部材164におよび、被結合部材164は結合部材174に吸引される。このように、高透磁率部材181を結合位置に退避させることにより、結合部材174および被結合部材164は、永久磁石173の磁力により引き合うようになる。
図33は、ステップS107における基板接合装置100の状態を示す図である。この図も、抜き出した第1基板組立体160、第2基板組立体170および磁界制御部180が拡大して描かれる。また、図25と共通の構成要素には同じ参照番号を付して重複する説明を省く。
ステップS107の段階においては、第1基板162および第2基板は相互に密着して接合されている。また、結合部材174および被結合部材164も直接に結合している。これにより、これにより、第1基板162および第2基板172は、被結合部材164および結合部材174に結合された第1固定部材166および第2固定部材176に挟まれて、接合された状態で保持される。
図34は、図33に示す状態で形成される磁気回路を模式的に示す図である。結合部材174および被結合部材164は既に結合しているので、永久磁石173が発生した磁力線Mは、結合部材174に密着した被結合部材164の内部を通過する。これにより、被結合部材164は結合部材174に強固に結合され、第1基板162および第2基板172の接合された状態を保持する。
このようにして、第1基板162および第2基板172を重なり合った状態にする基板接合装置100であって、磁性体を含む被結合部材164を有して第1基板162および第2基板172の一方を支持する第1固定部材166を保持する第1固定部材保持部132と、永久磁石173を含み被結合部材164に結合される結合部材174を有して第1基板162および第2基板172の他方の基板を支持する第2固定部材176を保持する第2固定部材保持部142と、第1固定部材保持部132および第2固定部材保持部142の一方を他方に向かって駆動する第1駆動部120と、被結合部材164および結合部材174が互いに近接した場合に、被結合部材164および結合部材174の間隔が所定の間隔になるまで、被結合部材164および結合部材174の吸着を規制する磁界制御部180とを備える基板接合装置100が形成される。これにより、磁力による影響を受けることなく第1基板162および第2基板172を精密に位置合わせできる一方で、接合された第1基板162および第2基板172を、第1固定部材166および第2固定部材176により自律的に保持させることができる。
なお、上記の基板接合装置100においては、磁界制御部180を、基板接合装置100に装備させた構造とした。しかしながら、磁界制御部180を第1固定部材166および第2固定部材176の少なくとも一方に設けることにより、基板接合装置100に依存することなく上記の作用を発揮する基板保持部材を形成できる。
この場合、第2駆動部186は、一部を第1固定部材166または第2固定部材176に設け、外部から電力、圧力等を供給することにより高透磁率部材181を操作してもよい。また、電池等のエネルギー源を第1固定部材166または第2固定部材176に装備させてもよい。
こうして、第1基板162および第2基板172を重なり合った状態に保持する基板保持部材であって、磁性体を含む被結合部材164を有し、第1基板162および第2基板172の一方を支持する第1固定部材166と、永久磁石173を含み被結合部材164に結合される結合部材174を有し、第1基板162および第2基板172の他方を支持する第2固定部材176と、被結合部材164および結合部材174を互いに結合させるために近接させた場合に、被結合部材164および結合部材174の間隔が所定の間隔になるまで、被結合部材164および結合部材174の吸着を規制する磁界制御部180を備える基板保持部材が形成される。これにより、磁力による影響を受けることなく第1基板162および第2基板172を精密に位置合わせできる一方で、接合された第1基板162および第2基板172を、第1固定部材166および第2固定部材176により自律的に保持させることができる基板保持部材が提供される。
図35は、高透磁率部材181の他の形態を示す図である。なお、同図において、他の実施形態と共通の要素には同じ参照番号を付して重複する説明を省く。
図35(a)は、非結合位置に在って高透磁率部材181により下面を覆われた結合部材174を下方から見上げた様子を示す。図示のように、高透磁率部材181は、結合部材174の幾何学的中心に対応する位置に貫通穴183を有する。また、高透磁率部材181は、長手方向に別れるように中央で分割されている。
図35(b)は、上記の高透磁率部材181が結合位置に移動した状態を、図35(a)と同じ視点から示す。図示のように、分割された高透磁率部材181は、互いに反対の方向に退避して、結合部材174の下面を露出させる。なお、この形態における高透磁率部材181の移動方向は、図25から図34までに示した高透磁率部材181の移動方向に直交する方向、即ち、第1基板162および第2基板172の接線方向となる。
このような構造により、高透磁率部材181が非結合位置から結合位置に移動する場合の移動量を抑制して、移動時間を短縮させることができる。また、高透磁率部材181が移動する場合に、結合部材174が発生した磁界に与える影響も対称的になるので、第1基板162および第2基板172の位置合わせに与える影響が一層小さくなる。
このように、高透磁率部材181は、結合部材174の幾何学的中心に対応する位置に配置された貫通穴183を有してもよい。これにより、高透磁率材料を節約して、材料コストを低減できる。
また、高透磁率部材181は、非結合位置から結合位置に向かって移動する場合に、第1基板162および第2基板172の面方向に係る第1固定部材166の幾何学的中心に対して、対称な方向に移動する複数の部分を含んでもよい。これにより、高透磁率部材181の移動時間を短縮できると共に、第1基板162および第2基板172の位置合わせに与える影響が一層小さくなる。
図36は、他の実施形態に係る磁界制御部180において、高透磁率部材181が非結合位置にある状態を示す図である。この磁界制御部180は、永久磁石173を挿通させる内径を有する筒状の高透磁率部材181により形成される。また、高透磁率部材181は、その下端が永久磁石173の下端よりも低くなる位置を非結合位置とする。
これにより、永久磁石173が発生する磁力線Mは、被結合部材164に面した永久磁石173の下端側において高透磁率部材181の内部を通過する。これにより、磁力線Mにより形成される磁界は、被結合部材164から遠ざけられるので、永久磁石173の磁力による吸引力が被結合部材164に及ぶことがない。
なお、高透磁率部材181の内面は、摩擦抵抗が少ない材料により形成された滑動部材185により覆われている。これにより、高透磁率部材181および永久磁石173が接触した場合でも、高透磁率部材181の移動が滞ることが防止される。
図37は、図36に示した磁界制御部180において、高透磁率部材181が結合位置にある状態を示す図である。この磁界制御部180において、高透磁率部材181は、その下端が永久磁石173の下端よりも高くなる位置を結合位置とする。これにより、永久磁石173が発生する磁力線Mは、被結合部材164に向かって拡がり、被結合部材164は、磁力線Mにより形成される磁界の内部に位置するようになる。従って、被結合部材164は、結合部材174に吸着される。
このように、高透磁率部材181は、第1基板162および第2基板172の面方向について結合部材174よりも大きな寸法を有する貫通穴183を有し、非結合位置から結合位置に向かって移動する場合に、結合部材174を貫通穴183に挿通させてもよい。これにより、結合部材174が発生する磁界の対称性を維持しつつ、結合位置および非結合位置の間を移動できる。また、結合部材174の寸法が大きくなった場合でも、高透磁率部材181の移動量が増すことがない。
図38は、他の実施形態に係る磁界制御部180において、高透磁率部材181が非結合位置にある状態を示す図である。この磁界制御部180は、第1基板162および第2基板172の面方向に分極した複数の永久磁石173を備える。永久磁石173の各々は、隣接する永久磁石173に対して、同極を対面させるように配置される。
また、磁界制御部180は、非結合位置において永久磁石173の各々の下面を個別に覆って継鉄を形成する複数の高透磁率部材181を備える。これにより、永久磁石173の各々の磁極は、高透磁率部材181により個別に直結され、永久磁石173の各々が発生する磁力線Mは、高透磁率部材181の外部に磁界を形成しない。従って、磁界が被結合部材164に及ばないので、被結合部材164は永久磁石173に吸引されない。
図39は、図38に示した磁界制御部180において、高透磁率部材181が結合位置にある状態を示す図である。この磁界制御部180において、高透磁率部材181は結合位置に水平に移動して、隣接する永久磁石173の同極を結合する。これにより、永久磁石173が発生する磁力線Mは、被結合部材164に向かって拡がり、被結合部材164は、磁力線Mにより形成される磁界の内部に位置するようになる。従って、被結合部材164は結合部材174に吸着される。
このように、結合部材174は、第1基板162および第2基板172の面方向に分極し、且つ、互いに同極を対面させて配列された複数の永久磁石173を含み、高透磁率部材181は、非結合位置において複数の永久磁石173の個々の異極を結び、結合位置において、複数の永久磁石173のうちの隣接する永久磁石173の同極を結んでもよい。これにより、結合位置にある場合の被結合部材164に対する吸引力を高くできると共に、被結合位置にある場合に磁力線を効率よく遮断できる。
なお、上記の実施形態は、高透磁率部材181を用いて規制部材を形成したが、規制部材の構造がこれに限定されるわけではない。例えば、他の永久磁石、電磁石等を用いて、永久磁石173の発生する磁界を打ち消すことにより磁界を被結合部材164から遠ざけることもできる。ただし、稼動する電磁石は熱を発生するので、第1基板162および第2基板172の位置決めに影響を与える場合がある。従って、電磁石を用いる場合は、その稼動時間が短くなるように用いることが好ましい。
図40は、結合部材174の他の形態を示す断面図である。この結合部材174は、ケース178の内部に、同心状に収容された永久磁石173および磁界発生コイル177を有する。
永久磁石173は、その下端および上端が特定の磁極を示すように着磁されている。図示の場合は、下端をS極、上端をN極としているが、この向きに限られるわけではない。
一方、磁界発生コイル177は、電流が流れた場合に、永久磁石173と極性が反転した磁界を発生する。これにより、磁界発生コイル177が発生する磁界は、永久磁石173が発生する磁界と打ち消し合い、ケース178の外部に対して磁力を及ぼさなくなる。
このような結合部材174を接合装置100に装着した場合、第1基板162および第2基板172の位置合わせが完了するまでは磁界発生コイル177を動作させて、被結合部材164を吸着する磁力を発生させない。一方、位置合わせが完了して第1基板162および第2基板172が接合された場合は、磁界発生コイル177の発生する逆極性の磁界を徐々に減じて、衝撃を発生させることなく被結合部材164を吸着できる。また、磁界発生コイル177を動作させる期間は、第1基板162および第2基板172の位置合わせをする期間に限られるので、磁界発生コイル177から生じる熱が位置合わせ精度に与える影響は抑制される。
図41は、他の実施形態に係る磁界制御部180の構造を示す図である。なお、磁界制御部180が第2基板組立体170に装着されている点を除くと、図示の第1基板組立体160および第2基板組立体170の構造は、他の実施形態と変わらない。そこで、共通の構成要素には同じ参照番号を付して重複する説明を省く。
磁界制御部180は、ブラケット187、軸支部189、支持部材182および高透磁率部材181を含む。ブラケット187は、第2固定部材176の側方端面に装着され、第2固定部材176の径方向外側に向かって延在する。軸支ブラケット187は、ブラケット187から下方に向かって垂直に延在する。
支持部材182の一端は、軸支部189の下端近傍において、水平な面内で回転自在に支持される。支持部材182の他端は、高透磁率部材181を支持する。図示の状態では、高透磁率部材181が、結合部材174の下端面の直下に位置している。
これにより、図30を参照して既に説明したように、永久磁石173が発生する磁束の多くは高透磁率部材181の内部を通過する。従って、永久磁石173の磁界は、第1基板組立体160側の被結合部材164から遠ざけられ、結合部材174に吸着されない。換言すれば、永久磁石173の磁界の影響を受けることなく、第1基板組立体160を第2基板組立体170に対して位置決めできる。
図42は、図41に示した磁界制御部180の動作を説明する図である。図示のように、支持部材182を軸支部189の周りに回転させることにより、高透磁率部材181は結合部材174から遠ざけられる。これにより、永久磁石173の磁界は下方に拡がり、被結合部材164を吸着する。従って、第1固定部材166に固定された第1基板162は、第2基板172に向かって押しつけられ、第1基板162および第2基板172が接合される。
図43は、他の実施形態に係る基板接合装置100の一部を抜き出して示す図である。以下に説明する部分を除いて、基板接合装置100は、他の実施形態と共通の構造を有する。そこで、同じ要素には同じ参照番号を付して重複する説明を省く。
基板接合装置100において、第2固定部材保持部142は、永久磁石173および取付部材175を垂直に貫通して、結合部材174の下方まで延在するプッシュピン188を備える。プッシュピン188の下端は、第1基板組立体160の被結合部材164上面に当接する。これにより、被結合部材164が結合部材174に吸引されても、吸着されることは規制される。従って、第1基板162および第2基板172が接合することも規制される。
また、基板接合装置100においては、止め具163により第1固定部材166に対して両端を固定された板バネ161を介して被結合部材164が装着されている。板バネ161は、第1固定部材166に接近する方向に被結合部材164を付勢する。これにより、図示の状態では、被結合部材164および板バネ161は、第1固定部材166に略密着する。
図44は、図43に示した基板接合装置100の動作を説明する図である。図示のように、プッシュピン188を第2固定部材保持部142に対して上昇させることにより、被結合部材164に対する規制が解かれ、被結合部材164は結合部材174に吸着される。
更に、結合部材174の被結合部材164に対する吸引力は、板バネ161を変形させる。これにより、板バネ161が元の平坦な形状を取り戻そうとする付勢力が、第1固定部材166を第2固定部材176に向かって引きつける。従って、第1固定部材166および第2固定部材176に挟まれた第1基板162および第2基板172は相互に押しつけられて接合される。
これにより、第1固定部材166の第2固定部材176に対する位置決めが完了するまで、被結合部材164および結合部材174の吸着を規制できる。また、被結合部材164が結合部材174に吸引されて吸着されるまでの過程で、第1基板組立体160の移動速度を抑制して、吸着する瞬間の衝撃を緩和できる。
なお、プッシュピン188を昇降させる駆動部の図示は省いたが、作動流体あるいは電磁力を利用するアクチュエータを任意に選択し得る。ただし、結合部材174の被結合部材164に対する吸引力に抗して被結合部材164の吸着を規制するという作用に鑑みて、吸着力に抗し得る静止力を有するアクチュエータを選択することが好ましい。
以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加え得ることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。
特許請求の範囲、明細書、および図面中において示した装置、システム、プログラム、および方法における動作、手順、ステップ、および段階等の各処理の実行順序は、特段「より前に」、「先立って」等と明示しておらず、また、前の処理の出力を後の処理で用いるのでない限り、任意の順序で実現しうることに留意すべきである。特許請求の範囲、明細書、および図面中の動作フローに関して、便宜上「まず」、「次に」等の言葉を用いて説明したとしても、この順の実施が必須であることを意味するものではない。

Claims (24)

  1. 位置合わせして積層された一対の基板を保持する基板保持部材であって、
    前記一対の基板の一方を保持する第1保持部材と、
    前記第1保持部材に連結された複数の被結合部材と、
    前記一方に対向させて前記一対の基板の他方を保持する第2保持部材と、
    前記被結合部材に作用する吸着力を有して、前記被結合部材の位置に対応して前記第2保持部材に連結された複数の結合部材と、
    前記吸着力を、前記一対の基板が位置合わせされるまで規制する吸着規制部と
    を備え、前記一対の基板が位置合わせして接合された後に前記被結合部材および前記結合部材が相互に吸着する基板保持部材。
  2. 前記被結合部材は磁性体を含み、
    前記結合部材は磁石を含み、
    前記結合部材は、磁力により前記被結合部材を吸着する吸着力を発生する請求項1に記載の基板保持部材。
  3. 前記複数の被結合部材または前記複数の結合部材の各々は、前記一対の基板の面方向と直交する方向に弾性的に支持する複数の弾性部材を介して前記第1保持部材または前記第2保持部材に連結される請求項2に記載の基板保持部材。
  4. 前記弾性部材は、磁性体を含んで前記被結合部材の一部をなす請求項3に記載の基板保持部材。
  5. 前記複数の弾性部材の各々は、
    前記第1保持部材または前記第2保持部材に対して固定された固定部と、
    前記被結合部材または前記結合部材に対して結合された結合部と
    をそれぞれが有し、
    前記結合部および前記固定部の一方の位置は、前記結合部および前記固定部の他方の位置に関して対称であり、
    前記被結合部材および前記結合部材が結合した場合に弾性変形する
    請求項3または請求項4に記載の基板保持部材。
  6. 前記弾性部材は、前記結合部または前記固定部に関して対称に、互いに間隔をおいて配置された一対のスリットを有する板バネである請求項5に記載の基板保持部材。
  7. 前記板バネは、前記一対のスリットに挟まれた領域の外側に、前記結合部または前記固定部に関して対称に配された一対の前記固定部または前記結合部を有する請求項6に記載の基板保持部材。
  8. 前記第1保持部材および前記第2保持部材の一方は円盤状の形状を有し、
    前記板バネは、前記スリットの長手方向が当該円盤の径方向に沿うように配置される請求項6または請求項7に記載の基板保持部材。
  9. 前記第1保持部材および前記第2保持部材の一方は円盤状の形状を有し、
    前記複数の結合部材および前記複数の被結合部材は、当該円盤の周方向についてそれぞれ等間隔に配置される請求項3から請求項8までのいずれかに記載の基板保持部材。
  10. 一対の基板を位置合わせして積層する基板接合装置であって、
    前記一対の基板の一方を保持する第1保持部材を支持する第1保持部材支持部と、
    前記第1保持部材に連結された複数の被結合部材と、
    前記一方に対向させて前記一対の基板の他方を保持する第2保持部材を支持する第2保持部材支持部と、
    前記被結合部材の位置に対応して前記第2保持部材に連結され、前記被結合部材に作用する吸着力を有する複数の結合部材と、
    前記一対の基板を相互に位置合わせする位置合わせ駆動部と、
    前記第1保持部材支持部および前記第2保持部材支持部の一方を他方に向かって駆動する積層駆動部と、
    前記吸着力を、前記一対の基板が位置合わせされるまで規制する吸着規制部と
    を備え、前記位置合わせ駆動部により前記一対の基板が位置合わせされ、前記積層駆動部により前記一対の基板が積層された後に、前記吸着規制部が前記被結合部材および前記結合部材の吸着の規制を解除する基板接合装置。
  11. 前記吸着規制部は、前記位置合わせ駆動部に設けられる請求項10に記載の基板接合装置。
  12. 前記被結合部材は磁性体を含み、
    前記結合部材は磁石を含み、
    前記結合部材は、磁力により前記被結合部材を吸着する吸着力を発生する請求項10または請求項11に記載の基板接合装置。
  13. 前記吸着規制部は、前記被結合部材または前記結合部材に当接しつつ、前記駆動部による駆動の方向に沿って移動する請求項12に記載の基板接合装置。
  14. 前記吸着規制部は、前記被結合部材または前記結合部材の一方を他方から遠ざけた状態を維持する隔離部である請求項12に記載の基板接合装置。
  15. 前記吸着規制部は、前記結合部材または前記被結合部材を弾性的に支持する弾性部材の弾性変形を抑制することにより前記被結合部材の吸着を規制する請求項12に記載の基板接合装置。
  16. 前記吸着規制部は、前記磁性体の透磁率よりも高い透磁率を有する材料により形成され、前記被結合部材および前記結合部材の間隔が所与の間隔になるまで、前記結合部材に発生する磁界を前記被結合部材から遠ざける請求項12に記載の基板接合装置。
  17. 前記吸着規制部は、前記一対の基板の面方向について前記結合部材の幾何学的中心に対して、対称な方向に移動する複数の部分を含む請求項16に記載の基板接合装置。
  18. 前記吸着規制部は、前記一対の基板の面方向について前記結合部材の幾何学的中心に面した位置に形成された貫通穴を有する請求項16または請求項17に記載の基板接合装置。
  19. 前記吸着規制部は、前記面方向について前記結合部材よりも大きな寸法を有して、前記吸着規制部が移動した場合に、前記結合部材を挿通させる貫通穴を有する請求項18に記載の基板接合装置。
  20. 前記結合部材は、前記一対の基板の面方向に分極し、且つ、互いに同極を対面させて配列された複数の永久磁石を含み、
    前記吸着規制部は、前記複数の永久磁石の個々の異極を結ぶ位置と、前記複数の永久磁石のうち隣接する永久磁石の同極を結ぶ位置との間を移動する磁性体を含む請求項16に記載の基板接合装置。
  21. 請求項10から請求項20までのいずれかに記載された接合装置と、
    前記接合装置において位置合わせして積層された一対の基板を加圧して貼り合わせる加圧装置と
    を備える積層基板製造装置。
  22. 一対の基板を互いに位置合わせして積層する基板接合方法であって、
    被結合部材を有する第1保持部材に前記一対の基板の一方を保持させる段階と、
    前記被結合部材に作用する吸着力を発生する結合部材を有する第2保持部材に、前記一対の基板の一方に対向して前記一対の基板の他方を保持させる段階と、
    前記一対の基板を相互に位置合わせする段階と、
    前記吸着力を作用させて前記被結合部材および前記結合部材を吸着させ、前記第1保持部材および前記第2保持部材の間に、位置合わせされた前記一対の基板を積層した状態で保持する段階と
    を含む基板接合方法。
  23. 請求項22に記載された基板接合方法に続いて、前記第1保持部材および前記第2保持部材を介して前記一対の基板を加圧して貼り合わせる段階を更に含む積層基板製造方法。
  24. 各々が素子および電極を有して互いに積層された一対の半導体基板を含む積層型半導体装置を製造する積層型半導体装置製造方法であって、
    被結合部材を有する第1保持部材に前記一対の半導体基板の一方を保持させる段階と、
    前記被結合部材に作用する吸着力を発生する結合部材を有する第2保持部材に、前記一対の半導体基板の一方に対向して前記一対の基板の他方を保持させる段階と、
    前記一対の半導体基板の対応する電極を相互に位置合わせする段階と、
    前記吸着力を作用させて前記被結合部材および前記結合部材を吸着させ、前記第1保持部材および前記第2保持部材の間に、位置合わせされた前記一対の半導体基板を積層した状態で保持する段階と
    前記第1保持部材および前記第2保持部材を介して前記一対の半導体基板を加圧して貼り合わせる段階と
    を含む積層型半導体装置製造方法。
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