JP2012248265A - メモリ装置のリフレッシュ方法、リフレッシュアドレス生成器及びメモリ装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】メモリ装置のリフレッシュ方法、リフレッシュアドレス生成器及びメモリ装置を提供する。
【解決手段】リフレッシュレバレッジングを利用してメモリ装置をリフレッシュするように、リフレッシュアドレスがリフレッシュ周期で生成される。リフレッシュアドレスが第2アドレスの時、第2アドレスを有する第1ストロングセルの代わりに第1アドレスを有するウィークセルに対するリフレッシュが実行される。リフレッシュアドレスが第3アドレスの時、第1ストロングセルまたは、第3アドレスを有する第2ストロングセルのうち、いずれか1つに対するリフレッシュが実行される。メモリ容量が減少するように、第1、第2及び第3アドレスうち、ただ1つに対するアドレス情報が保存される。他の実施形態において、リフレッシュレバレッジングを実行するように、リフレッシュアドレスが少なくとも1つの所定のアドレスの時、フラグによってウィークセル、第1ストロングセルまたは、第2ストロングセルのうち、いずれか1つに対するリフレッシュが実行される。
【選択図】 図1
【解決手段】リフレッシュレバレッジングを利用してメモリ装置をリフレッシュするように、リフレッシュアドレスがリフレッシュ周期で生成される。リフレッシュアドレスが第2アドレスの時、第2アドレスを有する第1ストロングセルの代わりに第1アドレスを有するウィークセルに対するリフレッシュが実行される。リフレッシュアドレスが第3アドレスの時、第1ストロングセルまたは、第3アドレスを有する第2ストロングセルのうち、いずれか1つに対するリフレッシュが実行される。メモリ容量が減少するように、第1、第2及び第3アドレスうち、ただ1つに対するアドレス情報が保存される。他の実施形態において、リフレッシュレバレッジングを実行するように、リフレッシュアドレスが少なくとも1つの所定のアドレスの時、フラグによってウィークセル、第1ストロングセルまたは、第2ストロングセルのうち、いずれか1つに対するリフレッシュが実行される。
【選択図】 図1
Description
本発明はメモリ装置でのリフレッシュの実行に係り、ウィークメモリセルのために複数のストロングメモリセルを利用するリフレッシュレバレッジング(leveraging)に関する。
動的ランダムアクセスメモリ(Dynamic Random Access Memory;DRAM)のような揮発性メモリ装置は保存されたデータを維持するためにリフレッシュ動作を実行する。揮発性メモリ装置のメモリセルがリフレッシュ動作のリフレッシュ周期より短い保持時間(Retention Time)を有する場合、メモリセルを含むメモリセルローは、冗長セル(Redundancy Cell)ローに交替しなければならない。
一方、メモリセルのサイズが減少することによって、リフレッシュ周期より短い保持時間を有するメモリセルの数が増加し、これに伴って、リダンダンシセルの数を増加させなければならないという問題がある。しかし、リダンダンシセルの数を増加させると、揮発性メモリ装置のサイズ及び複雑度を増加させる。
本発明の一目的は消費電力を増加させずに、リダンダンシセルの数を減少させることのできるメモリ装置のリフレッシュ方法を提供することにある。
本発明の他の目的は消費電力を増加させずに、リダンダンシセルの数を減少させることのできるリフレッシュアドレス生成器を提供することにある。
本発明のまた他の目的は消費電力を増加させずに、リダンダンシセルの数を減少させることのできるメモリ装置を提供することにある。
前記一目的を達成するために、本発明の実施形態に係るメモリ装置のリフレッシュ方法において、リフレッシュアドレスがリフレッシュ周期で生成される。前記リフレッシュアドレスが第2アドレスの時、前記第2アドレスを有する第1ストロングセルの代わりに第1アドレスを有するウィークセルに対するリフレッシュが実行される。前記リフレッシュアドレスが第3アドレスの時、前記第1ストロングセルまたは、前記第3アドレスを有する第2ストロングセルのうち、いずれか1つに対するリフレッシュが実行される。前記第1、第2及び第3アドレスのうち、ただ1つに対するアドレス情報が保存される。
一実施形態において、前記第1、第2及び第3アドレスのうち、いずれか1つだけが保存され、前記第1、第2及び第3アドレスのうち、保存されなかった2つのアドレスは前記保存されたアドレスとの所定のビット関係によって決定できる。
一実施形態において、前記第1及び第2ストロングセルの各々は複数のリフレッシュ周期の間、1回リフレッシュされ、前記ウィークセルは1つのリフレッシュ周期の間、複数回、リフレッシュできる。
一実施形態において、前記リフレッシュアドレスが前記第2及び第3アドレスのうちの1つであるかを決定するために前記リフレッシュアドレスと前記アドレス情報とを比較することができる。
一実施形態において、前記ウィークセルは前記リフレッシュ周期より短い保持時間を有し、前記第1及び第2ストロングセルの各々は前記リフレッシュ周期の2倍より長い保持時間を有することができる。
一実施形態において、前記リフレッシュアドレスが前記第3アドレスの時、フラグによって前記第1ストロングセルまたは前記第2ストロングセルのうち、いずれか1つに対するリフレッシュを実行することができる。
一実施形態において、前記第1アドレスと前記第2アドレスは最上位ビットだけが互いに異なり、前記第2アドレスと前記第3アドレスは最下位ビットだけが互いに異なることができる。
一実施形態において、前記第1、第2及び第3アドレスの各々は、ローアドレスであり、前記リフレッシュアドレスが前記第2アドレスの時、前記第2アドレスを有する第1ストロングローの代わりに前記第1アドレスを有するウィークローに対するリフレッシュを実行し、前記リフレッシュアドレスが前記第3アドレスの時、前記第1ストロングローまたは前記第3アドレスを有する第2ストロングローのうち、いずれか1つに対するリフレッシュを実行することができる。
一実施形態において、前記第1アドレスと前記第2アドレスは、最上位ビットだけが互いに異なり、前記第2アドレスと前記第3アドレスは前記最上位ビットを除いた他の1つのビットだけが互いに異なることができる。
一実施形態において、前記第3アドレスは前記第1及び第2アドレスのうち、いずれか1つの少なくとも2つの最下位ビットによって定義される範囲を有するアドレスのプール(pool)から選択できる。
一実施形態において、前記リフレッシュアドレスが前記第2アドレスの時、フラグによって前記ウィークセルまたは前記第1ストロングセルのうち、いずれか1つに対するリフレッシュを実行し、前記リフレッシュアドレスが前記第3アドレスの時、前記フラグによって前記ウィークセルまたは前記第2ストロングセルのうち、いずれか1つに対するリフレッシュを実行することができる。
一実施形態において、前記リフレッシュアドレスが前記第2アドレスの時、選択されたメモリバンクにおいて前記第1ストロングセルの代わりに前記第1アドレスを有する前記ウィークセルに対するリフレッシュを実行し、選択されなかったメモリバンクにおいて前記第2アドレスを有するメモリセルに対するリフレッシュを実行することができる。
一実施形態において、前記リフレッシュアドレスが前記第3アドレスの時、前記選択されたメモリバンクにおいて前記第1及び第2ストロングセルのうち、いずれか1つに対するリフレッシュを実行し、前記選択されなかったメモリバンクにおいて前記第3アドレスを有するメモリセルに対するリフレッシュを実行することができる。
一実施形態において、前記リフレッシュアドレスが複数の第2アドレスのうち、いずれか1つである時、前記複数の第2アドレスを有するそれぞれのメモリセルの代わりに前記ウィークセルに対するリフレッシュを実行されることができる。
一実施形態において、前記リフレッシュアドレスが複数の第3アドレスのうち、いずれか1つである時、前記複数の第2アドレスを有するそれぞれのメモリセルまたは前記複数の第3アドレスを有するそれぞれのメモリセルのうち、いずれか1つに対するリフレッシュを実行することができる。
一実施形態において、前記リフレッシュアドレスが前記第3アドレスの時、前記複数の第2アドレスを有するそれぞれのメモリセルまたは、前記第2ストロングセルのうち、いずれか1つに対するリフレッシュを実行されることができる。
一実施形態において、前記リフレッシュアドレスと比較される前記複数の第2アドレスを保存することができる。
一実施形態において、前記リフレッシュアドレスが前記複数の第2アドレスのうち、いずれか1つである時、選択されたメモリバンクにおいて前記複数の第2アドレスを有するそれぞれのメモリセルの代わりに前記ウィークセルに対するリフレッシュを実行することができる。
前記一目的を達成するために、本発明の実施形態に係るメモリ装置のリフレッシュ方法で、リフレッシュアドレスがリフレッシュ周期で生成される。前記リフレッシュアドレスが第2アドレスの時、前記第2アドレスを有する第1ストロングセルの代わりに第1アドレスを有するウィークセルに対するリフレッシュが実行される。前記リフレッシュアドレスが第3アドレスの時、前記第1ストロングセルまたは、前記第3アドレスを有する第2ストロングセルのうち、いずれか1つに対するリフレッシュが実行される。前記第3アドレスは前記第1及び第2アドレスのうち、いずれか1つの少なくとも2つの最下位ビットによって定義される範囲を有するアドレスのプールから選択される。
前記他の目的を達成するために、本発明の実施形態に係るリフレッシュアドレス生成器はカウンタ、アドレス変更部及び保存部を含む。前記カウンタはリフレッシュ周期で最初リフレッシュアドレスを生成する。前記アドレス変更部は前記最初リフレッシュアドレスが第2アドレスの時、前記第2アドレスを有する第1ストロングセルの代わりに第1アドレスを有するウィークセルがリフレッシュできるように最終リフレッシュアドレスとして前記第1アドレスを生成し、前記最初リフレッシュアドレスが第3アドレスの時、前記第1ストロングセルまたは前記第3アドレスを有する第2ストロングセルのうち、いずれか1つがリフレッシュできるように前記最終アドレスとして前記第2及び第3アドレスのうち、いずれか1つを生成する。前記保存部は前記第1、第2及び第3アドレスのうち、ただ1つに対するアドレス情報を保存する。
一実施形態において、前記保存部は前記第1、第2及び第3アドレスのうち、いずれか1つだけを保存し、前記第1、第2及び第3アドレスのうち、保存されなかった2つのアドレスは前記保存されたアドレスとの所定のビット関係によって決定することができる。
一実施形態において、前記第1及び第2ストロングセルの各々は複数のリフレッシュ周期の間に1回リフレッシュされ、前記アドレス変更部は、前記ウィークセルが1つのリフレッシュ周期の間、複数回、リフレッシュできるように、前記最初リフレッシュアドレスが前記第2アドレスの時、及び前記最初リフレッシュアドレスが前記第1アドレスの時、前記最終リフレッシュアドレスとして前記第1アドレスを生成することができる。
一実施形態において、前記リフレッシュアドレス生成器は前記最初リフレッシュアドレスが前記第2及び第3アドレスのうち、いずれか1つであるかを決定するように、前記最初リフレッシュアドレスを前記アドレス情報と比較する比較部をさらに含むことができる。
一実施形態において、前記ウィークセルは前記リフレッシュ周期より短い保持時間を有し、前記第1及び第2ストロングセルの各々は前記リフレッシュ周期の2倍より長い保持時間を有することができる。
一実施形態において、前記アドレス変更部は、前記最初リフレッシュアドレスが前記第3アドレスの時、フラグにより前記最終リフレッシュアドレスとして前記第2及び第3アドレスのうち、いずれか1つを生成することができる。
一実施形態において、前記第1アドレスと前記第2アドレスは最上位ビットだけが互いに異なり、前記第2アドレスと前記第3アドレスは最下位ビットだけが互いに異なることができる。
一実施形態において、前記第1、第2及び第3アドレスの各々はローアドレスであり、前記最初リフレッシュアドレスが前記第2アドレスの時、前記第2アドレスを有する第1ストロングローの代わりに前記第1アドレスを有するウィークローに対するリフレッシュを実行し、前記最初リフレッシュアドレスが前記第3アドレスの時、前記第1ストロングローまたは前記第3アドレスを有する第2ストロングローのうち、いずれか1つに対するリフレッシュを実行されることができる。
一実施形態において、前記第1アドレスと前記第2アドレスは最上位ビットだけが互いに異なり、前記第2アドレスと前記第3アドレスは前記最上位ビットを除いた他の1つのビットだけが互いに異なることができる。
一実施形態において、前記第3アドレスは前記第1及び第2アドレスのうち、いずれか1つの少なくとも2つの最下位ビットによって定義される範囲を有するアドレスのプールから選択することができる。
一実施形態において、前記アドレス変更部は、前記最初リフレッシュアドレスが前記第2アドレスの時、フラグにより前記最終リフレッシュアドレスとして前記第1及び第2アドレスのうち、いずれか1つを生成し、前記最初リフレッシュアドレスが前記第3アドレスの時、前記フラグにより前記最終リフレッシュアドレスとして前記第1及び第3アドレスのうち、いずれか1つを生成することができる。
一実施形態において、前記保存部は少なくとも1つのメモリバンクに対するバンクアドレス情報を保存し、前記最初リフレッシュアドレスが前記第2アドレスの時、前記バンクアドレス情報によって指示される選択されたメモリバンクで前記第1ストロングセルの代わりに前記ウィークセルに対するリフレッシュを実行し、選択されなかったメモリバンクにおいて前記第2アドレスを有するメモリセルに対するリフレッシュを実行することができる。
一実施形態において、前記最初リフレッシュアドレスが前記第3アドレスの時、前記選択されたメモリバンクにおいて前記第1及び第2ストロングセルのうち、いずれか1つに対するリフレッシュを実行し、前記選択されなかったメモリバンクにおいて前記第3アドレスを有するメモリセルに対するリフレッシュを実行することができる。
一実施形態において、前記アドレス変更部は、前記最初リフレッシュアドレスが複数の第2アドレスのうち、いずれか1つである時、前記最終リフレッシュアドレスとして前記第1アドレスを生成することができる。
一実施形態において、前記アドレス変更部は、前記最初リフレッシュアドレスが複数の第3アドレスのうち、いずれか1つである時、前記最終リフレッシュアドレスとして前記複数の第2アドレス及び前記複数の第3アドレスのうち、いずれか1つを生成することができる。
一実施形態において、前記アドレス変更部は、前記最初リフレッシュアドレスが前記第3アドレスの時、前記最終リフレッシュアドレスとして前記複数の第2アドレス及び前記第3アドレスのうち、いずれか1つを生成することができる。
一実施形態において、前記保存部は、前記最初リフレッシュアドレスと比較される前記複数の第2アドレスを保存することができる。
一実施形態において、前記最初リフレッシュアドレスが前記複数の第2アドレスのうち、いずれか1つである時、選択されたメモリバンクで前記複数の第2アドレスを有するそれぞれのメモリセルの代わりに前記ウィークセルに対するリフレッシュを実行することができる。
前記他の目的を達成するために、本発明の実施形態に係るリフレッシュアドレス生成器は、カウンタ及びアドレス変更部を含む。前記カウンタはリフレッシュ周期で最初リフレッシュアドレスを生成する。前記アドレス変更部は前記最初リフレッシュアドレスが第2アドレスの時、前記第2アドレスを有する第1ストロングセルの代わりに第1アドレスを有するウィークセルがリフレッシュされるように最終リフレッシュアドレスとして前記第1アドレスを生成し、前記最初リフレッシュアドレスが第3アドレスの時、前記第1ストロングセルまたは、前記第3アドレスを有する第2ストロングセルのうち、いずれか1つがリフレッシュされるように前記最終アドレスとして前記第2及び第3アドレスのうち、いずれか1つを生成する。前記第3アドレスは前記第1及び第2アドレスのうち、少なくとも2つの最下位ビットによって定義される範囲を有するアドレスのプールから選択される。
前記他の目的を達成するために、本発明の実施形態に係るメモリ装置は、セルアレイ及び前記セルアレイをリフレッシュするためのリフレッシュアドレス生成器を含む。前記リフレッシュアドレス生成器は、リフレッシュ周期で最初リフレッシュアドレスを生成するカウンタ、前記最初リフレッシュアドレスが第2アドレスの時、前記第2アドレスを有する第1ストロングセルの代わりに第1アドレスを有するウィークセルがリフレッシュされるように最終リフレッシュアドレスとして前記第1アドレスを生成し、前記最初リフレッシュアドレスが第3アドレスの時、前記第1ストロングセル、または、前記第3アドレスを有する第2ストロングセルのうち、いずれか1つがリフレッシュされるように前記最終アドレスとして前記第2及び第3アドレスのうち、いずれか1つを生成するアドレス変更部、並びに前記第1、第2及び第3アドレスのうち、ただ1つのみに対するアドレス情報を保存する保存部を含む。
一実施形態において、前記保存部は、前記第1、第2及び第3アドレスのうち、いずれか1つのみを保存し、前記第1、第2及び第3アドレスのうち、保存されなかった2つのアドレスは、前記保存されたアドレスとの所定のビット関係によって決定することができる。
一実施形態において、前記第1及び第2ストロングセルの各々は複数のリフレッシュ周期の間、1回リフレッシュされ、前記アドレス変更部は、前記ウィークセルが1つのリフレッシュ周期の間、複数回リフレッシュされるように、前記最初リフレッシュアドレスが前記第2アドレスの時、及び前記最初リフレッシュアドレスが前記第1アドレスの時、前記最終リフレッシュアドレスとして前記第1アドレスを生成することができる。
一実施形態において、前記リフレッシュアドレス生成器は、前記最初リフレッシュアドレスが前記第2及び第3アドレスのうち、いずれか1つであるか、決定するように前記最初リフレッシュアドレスを前記アドレス情報と比較する比較部をさらに含むことができる。
一実施形態において、前記ウィークセルは前記リフレッシュ周期より短い保持時間を有し、前記第1及び第2ストロングセルの各々は前記リフレッシュ周期の2倍より長い保持時間を有することができる。
一実施形態において、前記アドレス変更部は、前記最初リフレッシュアドレスが前記第3アドレスの時、フラグによって前記最終リフレッシュアドレスとして前記第2及び第3アドレスのうち、いずれか1つを生成することができる。
一実施形態において、前記第1アドレスと前記第2アドレスは、最上位ビットのみが互いに異なり、前記第2アドレスと前記第3アドレスは最下位ビットのみが互いに異なることができる。
一実施形態において、前記第1、第2及び第3アドレス各々は、ローアドレスであり、前記最初リフレッシュアドレスが前記第2アドレスの時、前記第2アドレスを有する第1ストロングローの代わりに前記第1アドレスを有するウィークローに対するリフレッシュを実行し、前記最初リフレッシュアドレスが前記第3アドレスの時、前記第1ストロングローまたは、前記第3アドレスを有する第2ストロングローのうち、いずれか1つに対するリフレッシュを実行することができる。
一実施形態において、前記第1アドレスと前記第2アドレスは、最上位ビットのみが互いに異なり、前記第2アドレスと前記第3アドレスは、前記最上位ビットを除いた他の1つのビットのみが互いに異なることができる。
一実施形態において、前記第3アドレスは前記第1及び第2アドレスのうち、いずれか1つの少なくとも2つの最下位ビットによって定義される範囲を有するアドレスのプールから選択することができる。
一実施形態において、前記アドレス変更部は、前記最初リフレッシュアドレスが前記第2アドレスの時、フラグによって前記最終リフレッシュアドレスとして前記第1及び第2アドレスのうち、いずれか1つを生成し、前記最初リフレッシュアドレスが前記第3アドレスの時、前記フラグによって前記最終リフレッシュアドレスとして前記第1及び第3アドレスのうち、いずれか1つを生成することができる。
一実施形態において、前記保存部は少なくとも1つのメモリバンクに対するバンクアドレス情報を保存し、前記最初リフレッシュアドレスが前記第2アドレスの時、前記バンクアドレス情報によって指示される選択されたメモリバンクで前記第1ストロングセルの代わりに前記ウィークセルに対するリフレッシュを実行し、選択されなかったメモリバンクで前記第2アドレスを有するメモリセルに対するリフレッシュを実行することができる。
一実施形態において、前記最初リフレッシュアドレスが前記第3アドレスの時、前記選択されたメモリバンクで前記第1及び第2ストロングセルのうち、いずれか1つに対するリフレッシュを実行し、前記選択されなかったメモリバンクで前記第3アドレスを有するメモリセルに対するリフレッシュを実行することができる。
一実施形態において、前記アドレス変更部は、前記最初リフレッシュアドレスが複数の第2アドレスのうち、いずれか1つである時、前記最終リフレッシュアドレスとして前記第1アドレスを生成することができる。
一実施形態において、前記アドレス変更部は、前記最初リフレッシュアドレスが複数の第3アドレスのうち、いずれか1つである時、前記最終リフレッシュアドレスとして前記複数の第2アドレス及び前記複数の第3アドレスのうち、いずれか1つを生成することができる。
一実施形態において、前記アドレス変更部は、前記最初リフレッシュアドレスが前記第3アドレスの時、前記最終リフレッシュアドレスとして前記複数の第2アドレス及び前記第3アドレスのうち、いずれか1つを生成することができる。
一実施形態において、前記保存部は前記最初リフレッシュアドレスと比較される前記複数の第2アドレスを保存することができる。
一実施形態において、前記最初リフレッシュアドレスが前記複数の第2アドレスのうち、いずれか1つである時、選択されたメモリバンクで前記複数の第2アドレスを有するそれぞれのメモリセルの代わりに前記ウィークセルに対するリフレッシュを実行することができる。
前記他の目的を達成するために、本発明の実施形態に係るメモリ装置は、セルアレイ、及び、前記セルアレイをリフレッシュするためのリフレッシュアドレス生成器を含む。前記リフレッシュアドレス生成器は、リフレッシュ周期で最初リフレッシュアドレスを生成するカウンタ、及び、前記最初リフレッシュアドレスが第2アドレスの時、前記第2アドレスを有する第1ストロングセルの代わりに第1アドレスを有するウィークセルがリフレッシュされるように最終リフレッシュアドレスとして前記第1アドレスを生成し、前記最初リフレッシュアドレスが第3アドレスの時、前記第1ストロングセルまたは、前記第3アドレスを有する第2ストロングセルのうち、いずれか1つがリフレッシュされるように前記最終アドレスとして前記第2及び第3アドレスのうち、いずれか1つを生成するアドレス変更部を含む。前記第3アドレスは前記第1及び第2アドレスのうち、いずれか1つの少なくとも2つの最下位ビットによって定義される範囲を有するアドレスのプールから選択される。
前記一目的を達成するために、本発明の実施形態に係るメモリ装置のリフレッシュ方法であり、リフレッシュアドレスがリフレッシュ周期で生成される。前記リフレッシュアドレスが第2アドレスの時、フラグにより第1アドレスを有するウィークセルまたは、前記第2アドレスを有する第1ストロングセルに対するリフレッシュを実行する。前記リフレッシュアドレスが第3アドレスの時、前記フラグにより前記ウィークセルまたは、前記第3アドレスを有する第2ストロングセルに対するリフレッシュを実行する。
一実施形態において、前記リフレッシュアドレスが前記第2アドレスであり、前記フラグが第1所定レベルの時、前記第1ストロングセルに対するリフレッシュを実行し、前記リフレッシュアドレスが前記第2アドレスであり、前記フラグが第2所定レベルの時、前記第1ストロングセルの代わりに前記ウィークセルに対するリフレッシュを実行し、前記リフレッシュアドレスが前記第3アドレスであり、前記フラグが前記第1所定レベルの時、前記第2ストロングセルの代わりに前記ウィークセルに対するリフレッシュを実行し、前記リフレッシュアドレスが前記第3アドレスであり、前記フラグが前記第2所定レベルの時、前記第2ストロングセルに対するリフレッシュを実行することができる。
一実施形態において、前記第1及び第2ストロングセルの各々は複数のリフレッシュ周期の間、1回リフレッシュされ、前記ウィークセルは1つのリフレッシュ周期の間、複数回リフレッシュされることができる。
一実施形態において、前記ウィークセルは前記リフレッシュ周期より短い保持時間を有し、前記第1及び第2ストロングセルの各々は前記リフレッシュ周期の2倍より長い保持時間を有することができる。
前記他の目的を達成するために、本発明の実施形態に係るリフレッシュアドレス生成器は、カウンタ及びアドレス変更部を含む。前記カウンタはリフレッシュ周期で最初リフレッシュアドレスを生成する。前記アドレス変更部は、前記最初リフレッシュアドレスが第2アドレスの時フラグにより最終リフレッシュアドレスとしてウィークセルの第1アドレスまたは、第1ストロングセルの前記第2アドレスのうち、いずれか1つを生成し、前記最初リフレッシュアドレスが第3アドレスの時、前記フラグに従がって前記最終リフレッシュアドレスとして前記第1アドレスまたは第2ストロングセルの前記第3アドレスのうち、いずれか1つを生成する。前記最終リフレッシュアドレスに対応する前記ウィークセルまたは、前記第1及び第2ストロングセルのうち、いずれか1つがリフレッシュされる。
一実施形態において、前記アドレス変更部は、前記リフレッシュアドレスが前記第2アドレスであり、前記フラグが第1所定レベルの時、前記最終リフレッシュアドレスとして前記第2アドレスを生成し、前記リフレッシュアドレスが前記第2アドレスであり、前記フラグが第2所定レベルの時、前記最終リフレッシュアドレスとして前記第2アドレスの代わりに前記第1アドレスを生成し、前記リフレッシュアドレスが前記第3アドレスであり、前記フラグが前記第1所定レベルの時、前記最終リフレッシュアドレスとして前記第3アドレスの代わりに前記第1アドレスを生成し、前記リフレッシュアドレスが前記第3アドレスであり、前記フラグが前記第2所定レベルの時、前記最終リフレッシュアドレスとして前記第3アドレスを生成することができる。
一実施形態において、前記第1及び第2ストロングセルの各々は複数のリフレッシュ周期の間、1回リフレッシュされ、前記ウィークセルは1つのリフレッシュ周期の間、複数回リフレッシュされることができる。
一実施形態において、前記ウィークセルは前記リフレッシュ周期より短い保持時間を有し、前記第1及び第2ストロングセルの各々は前記リフレッシュ周期の2倍より長い保持時間を有することができる。
前記また他の目的を達成するために、本発明の実施形態に係るメモリ装置はセルアレイ、及び前記セルアレイをリフレッシュするためのリフレッシュアドレス生成器を含む。前記リフレッシュアドレス生成器は、リフレッシュ周期で最初リフレッシュアドレスを生成するカウンタ、及び前記最初リフレッシュアドレスが第2アドレスの時にフラグによって最終リフレッシュアドレスとしてウィークセルの第1アドレスまたは第1ストロングセルの前記第2アドレスのうち、いずれか1つを生成し、前記最初リフレッシュアドレスが第3アドレスの時、前記フラグによって前記最終リフレッシュアドレスとして前記第1アドレスまたは第2ストロングセルの前記第3アドレスのうち、いずれか1つを生成するアドレス変更部を含む。前記最終リフレッシュアドレスに対応する前記ウィークセル、または前記第1及び第2ストロングセルのうち、いずれか1つがリフレッシュされる。
一実施形態において、前記アドレス変更部は、前記リフレッシュアドレスが前記第2アドレスであり、前記フラグが第1所定レベルの時、前記最終リフレッシュアドレスとして前記第2アドレスを生成し、前記リフレッシュアドレスが前記第2アドレスであり、前記フラグが第2所定レベルの時、前記最終リフレッシュアドレスとして前記第2アドレスの代わりに前記第1アドレスを生成し、前記リフレッシュアドレスが前記第3アドレスであり、前記フラグが前記第1所定レベルの時、前記最終リフレッシュアドレスとして前記第3アドレスの代わりに前記第1アドレスを生成し、前記リフレッシュアドレスが前記第3アドレスであり、前記フラグが前記第2所定レベルの時、前記最終リフレッシュアドレスとして前記第3アドレスを生成することができる。
一実施形態において、前記第1及び第2ストロングセルの各々は複数のリフレッシュ周期の間、1回リフレッシュされ、前記ウィークセルは1つのリフレッシュ周期の間、複数回リフレッシュできる。
一実施形態において、前記ウィークセルは前記リフレッシュ周期より短い保持時間を有し、前記第1及び第2ストロングセルの各々は、前記リフレッシュ周期の2倍より長い保持時間を有することができる。
本発明の実施形態に係るメモリ装置のリフレッシュ方法、リフレッシュアドレス生成器、及びメモリ装置はストロングセルの代わりにウィークセルをリフレッシュすることによって、リフレッシュ電流及びリフレッシュ電力の増加なしでウィークセルをリフレッシュ周期より短い所定の周期でリフレッシュすることができる。
また、本発明の実施形態に係るメモリ装置のリフレッシュ方法、リフレッシュアドレス生成器、及びメモリ装置は、ウィークセルをリフレッシュ周期より短い所定の周期でリフレッシュすることでよって、リダンダンシセルに交替されるべきメモリセルの数を減少させることができる。
本明細書に開示されている本発明の実施形態に対して、特定の構造的ないし機能的説明は、単に本発明の実施形態を説明するための目的で例示されたものであり、本発明の実施形態は多様な形態で実施することができ、本明細書に説明された実施形態に限定されるものではない。
本発明は多様な変更を加えることができ、種々の形態を有することができるが、特定の実施形態を図面に例示して本明細書に詳細に説明する。しかし、これは本発明を特定の開示形態に限定しようとするものではなく、本発明の思想及び技術範囲に含まれる全ての変更、均等物ないし代替物を含むと理解するべきである。
本明細書において、第1、第2等の用語は多様な構成要素を説明するのに使用することができるが、これらの構成要素がこのような用語によって限定されてはならない。これらの用語は1つの構成要素を他の構成要素から区別する目的で使われる。例えば、本発明の権利範囲から逸脱せずに第1構成要素は第2構成要素と命名することができ、同様に第2構成要素も第1構成要素と命名することができる。
ある構成要素が他の構成要素に「連結されて」いる、または「接続されて」いると言及された場合には、その他の構成要素に直接的に連結されていたり、接続されていることも意味するが、中間に他の構成要素が存在する場合も含むと理解するべきである。一方、ある構成要素が他の構成要素に「直接連結されて」いる、または「直接接続されて」いると言及された場合には、中間に他の構成要素が存在しないと理解すべきである。構成要素の間の関係を説明する他の表現、即ち、「〜間に」と「すぐに〜間に」または「〜に隣接する」と「〜に直接隣接する」等も同じように解釈すべきである。
本明細書で使用した用語は単に特定の実施形態を説明するために使用したもので、本発明を限定するものではない。単数の表現は文脈上明白に異なるように意味しない限り、複数の表現を含む。本明細書で、「含む」または「有する」等の用語は明細書上に記載された特徴、数字、段階、動作、構成要素、部品または、これを組み合わせたのが存在するということを示すものであって、1つまたはそれ以上の他の特徴や数字、段階、動作、構成要素、部品または、これを組み合わせたものなどの存在または、付加の可能性を、予め排除するわけではない。
また、別に定義しない限り、技術的或いは科学的用語を含み、本明細書中において使用される全ての用語は本発明が属する技術分野で通常の知識を有する者であれば、一般的に理解するのと同一の意味を有する。一般的に使用される辞書において定義する用語と同じ用語は関連技術の文脈上に有する意味と一致する意味を有するものと理解するべきで、本明細書において明白に定義しない限り、理想的或いは形式的な意味として解釈してはならない。
以下、添付図面を参照して、本発明の望ましい実施形態をより詳細に説明する。図面上の同一構成要素に対しては同一または類似する参照符号を使用する。
図1は本発明の実施形態に係るリフレッシュレバレッジングを利用する揮発性メモリ装置のリフレッシュ方法を示すフローチャートである。
図1を参照すれば、揮発性メモリ装置がターン−オンされると、リフレッシュ動作が開始される(S110)。例えば、パワー−アップシークエンスが完了した後、または、パワーダウンモードが終了した後、リフレッシュ動作を開始することができる。実施形態により、リフレッシュ動作は、実質的に周期的に印加されるリフレッシュコマンド(REF)に応答してリフレッシュローアドレスを生成して、リフレッシュローアドレスに対応するメモリセルローをリフレッシュするオートリフレッシュ動作や、セルフリフレッシュ進入コマンドSREに応答してセルフリフレッシュモードに進入し、セルフリフレッシュモードでビルト−インタイマを利用してメモリセルローを周期的にリフレッシュするセルフリフレッシュ動作とすることができる。また、実施形態により、リフレッシュ動作は、リフレッシュサイクルが所定の周期的なリフレッシュ間隔(tREFI)を有する分散リフレッシュ(Distributed Refresh)を実行したり、複数のリフレッシュサイクルが連続するバーストリフレッシュ(Burst Refresh)を実行したりすることができる。
リフレッシュ動作が開始されると、少なくとも1つのウィークセルローは、リフレッシュ周期より短い第1周期でリフレッシュされ(S130)、少なくとも2つのストロングセルローはリフレッシュ周期より長い第2周期でリフレッシュされる(S170)。ここで、各ウィークセルローはリフレッシュ周期より短い第1保持時間(Retention Time)を有する少なくとも1つのメモリセルを含むメモリセルのローを示し、各ストロングセルローはリフレッシュ周期より長い第2保持時間を有するメモリセルのみを含むメモリセルのローを示す。また、リフレッシュ周期は揮発性メモリ装置の標準によって定義される周期として、例えば、64ms、32msなどでありうる。例えば、第1保持時間はリフレッシュ周期より短くてリフレッシュ周期の半分より長くすることができ、第2保持時間はリフレッシュ周期の2倍より長くすることもできる。この場合、各ウィークセルローに対する第1周期はリフレッシュ周期の半分に相当させ、各ストロングセルローに対する第2周期は前記リフレッシュ周期の2倍に相当させることができる。
各ウィークセルローは、少なくとも2つのストロングセルローと関連し、毎リフレッシュ周期毎に関連したストロングセルローのうち、少なくとも1つの代わりにリフレッシュできる。一方、ウィークセルローをストロングセルローの代わりにリフレッシュさせるのは、「リフレッシュレバレッジング(Refresh Leveraging)」と呼ぶことができる。
一実施形態において、ウィークセルローは、第1及び第2ストロングセルローと関連し、リフレッシュカウンタによって第1ストロングセルローに対するリフレッシュローアドレスが生成されるごとに、第1ストロングセルローの代わりにウィークセルローをリフレッシュできる。また、リフレッシュカウンタによって第2ストロングセルローに対するリフレッシュローアドレスが生成されるごとに、第1ストロングセルロー及び第2ストロングセルローを交互にリフレッシュできる。これによって、ウィークセルローは、ウィークセルローに対するリフレッシュローアドレスが生成される時、及び第1ストロングセルローに対するリフレッシュローアドレスが生成される時、リフレッシュされるので、リフレッシュ周期の半分に相当する第1周期でリフレッシュできる。また、第1及び第2ストロングセルロー各々は、リフレッシュ周期の2倍に相当する第2周期でリフレッシュできる。
他の実施形態において、ウィークセルローは、奇数番目リフレッシュ周期で第1ストロングセルローの代わりにリフレッシュされ、偶数番目リフレッシュ周期で第2ストロングセルローの代わりにリフレッシュできる。これによって、ウィークセルローはリフレッシュ周期ごとに2回リフレッシュできる。また、第1及び第2ストロングセルローの各々は2回のリフレッシュ周期ごとに1回ずつリフレッシュできる。
ウィークセルロー及びストロングセルローを除いたメモリセルローは、リフレッシュ周期でリフレッシュされる(S150)。即ち、一般的なメモリセルローは、揮発性メモリ装置の標準で定義されたリフレッシュ周期でリフレッシュできる。ここで、各メモリセルローは、1つのワードラインに連結されたメモリセルのローを示す。
一方、本発明は各々1つのワードラインに連結されたメモリセルのローに対して説明するが、本発明はリフレッシュ周期より短い保持時間を有するウィークメモリセルを有するメモリセルの任意のグループ及びリフレッシュ周期より長い保持時間を有するメモリセルの任意の第1及び第2グループに適用することができる。例えば、本発明は、リフレッシュ周期より短い保持時間を有するウィークメモリセル及びリフレッシュ周期より長い保持時間を有する第1及び第2ストロングメモリセルに適用することができる。
上述通り、本発明の実施形態に係る揮発性メモリ装置のリフレッシュ方法において、各ウィークセルローがストロングセルローのうち、少なくとも1つの代わりにリフレッシュされるので、1つのリフレッシュ周期の間、実行される全体リフレッシュの数が増加しない。これによって、オートリフレッシュ電流(IDD5)または、セルフリフレッシュ電流(IDD6)の増加なしで、また、リフレッシュ消費電力の増加なしでウィークセルローのリフレッシュ周期を減少させることができる。また、本発明の実施形態に係る揮発性メモリ装置のリフレッシュ方法において、ウィークセルローのリフレッシュ周期をウィークセルローの保持時間以下に減少させることによって、ウィークセルローがリダンダンシセルローに代替されないこともある。これによって、揮発性メモリ装置のリダンダンシセルアレイ及びリダンダンシ回路のサイズを減少させることができる。
図2は各メモリセルローに含まれたメモリセルのうち、最小保持時間を有するメモリセルの保持時間に係るメモリセルローの分布を示す図であり、図3は本発明の実施形態に係る図1のリフレッシュ方法により実行されるメモリセルローのリフレッシュの一例を説明するためのタイミング図である。
図2及び図3を参照すれば、揮発性メモリ装置の標準で定義されたリフレッシュ周期(RP)より短くて第1周期P1より長いか、または、同じ最小保持時間を有するメモリセルローはウィークセルロー201と設定することができる。ウィークセルロー201に対するリフレッシュ210は第1周期P1で実行することができる。これによって、ウィークセルロー201が最小保持時間より短い第1周期P1でリフレッシュされるので、ウィークセルロー201は、リダンダンシセルローに代替されないこともある。
各ウィークセルロー201ごとに少なくとも2つのメモリセルローがストロングセルロー202、203と設定される。一方、第2周期P2より長いか、または、同じ最小保持時間を有するメモリセルローがストロングセルロー202、203と設定することができる。ストロングセルロー202、203は、リフレッシュ周期(RP)より長い第2周期P2でリフレッシュされてもデータを保持することがあるので、リフレッシュの一部230のみがストロングセルロー202、203に対して実行され、残りリフレッシュはウィークセルロー201に対して実行することができる。一方、図2に図示したように、大部分のメモリセルローは第2周期P2(例えば、リフレッシュ周期(RP)の2倍)より長いか、または、同じ最小保持時間を有することができる。これに従って、製造工程の一部としてのテスト過程の間、ウィークセルロー201が検索されると、ウィークセルロー201に相応対応するストロングセルロー202、203は任意の方式で決定することができる。
リフレッシュ周期(RP)より長いか、または、同じ最小保持時間を有するメモリセルローのうち、ストロングセルロー202、203を除いたメモリセルローは、揮発性メモリ装置の標準で定義されたリフレッシュ周期(RP)でリフレッシュできる。即ち、リフレッシュカウンタによって各メモリセルローに対するリフレッシュローアドレスが生成される時、メモリセルローに対するリフレッシュ220をリフレッシュ周期(RP)で実行することができる。
一実施形態において、第1周期P1より短い最小保持時間を有するメモリセルローは、リダンダンシセルローに代替されることができる。他の実施形態において、第1周期P1より短い最小保持時間を有するメモリセルローが存在する場合、メモリセルローを少なくとも3つのストロングセルローと関連させることによって、メモリセルローのリフレッシュ周期を最小保持時間以下に減少させることができる。これによって、メモリセルローはリダンダンシセルローに代替されなくてもデータを保持することができる。
図4は本発明の実施形態に係るリフレッシュレバレッジングを実行する本発明の実施形態に係る揮発性メモリ装置を示すブロック図である。
図4を参照すれば、揮発性メモリ装置300は制御ロジック310、アドレスレジスタ320、バンク制御ロジック330、ローアドレスマルチプレクサ340、コラムアドレスラッチ350、ローデコーダ、コラムデコーダ、メモリセルアレイ、センスアンプ部、入出力ゲーティング回路390、データ入出力バッファ395、及びリフレッシュアドレス生成器400を含む。メモリセルアレイは、第1〜第4バンクアレイ380a、380b、380c、380dを含むことができる。また、ローデコーダは、第1〜第4バンクアレイ380a、380b、380c、380dに各々連結された第1〜第4バンクローデコーダ360a、360b、360c、360dを含み、コラムデコーダは、第1〜第4バンクアレイ380a、380b、380c、380dに各々連結された第1〜第4バンクコラムデコーダ370a、370b、370c、370dを含み、センスアンプ部は、第1〜第4バンクアレイ380a、380b、380c、380dに各々連結された第1〜第4バンクセンスアンプ385a、385b、385c、385dを含むことができる。第1〜第4バンクアレイ380a、380b、380c、380d)、第1〜第4バンクセンスアンプ385a、385b、385c、385d、第1〜第4バンクローデコーダ360a、360b、360c、360d及び第1〜第4バンクコラムデコーダ370a、370b、370c、370dは、第1〜第4バンクを各々構成することができる。図4には4つのバンクを含む揮発性メモリ装置300の例が図示されているが、実施形態に従がって、揮発性メモリ装置300は任意の数のバンクを含むことができる。
また、実施形態により、揮発性メモリ装置300は、DDR SDRAM(Double Data Rate Synchronous Dynamic Random Access Memory)、LPDDR(Low Power Double Data Rate)SDRAM、GDDR(Graphics Double Data Rate)SDRAM、RDRAM(Rambus Dynamic Random Access Memory)などのような動的ランダムアクセスメモリ(Dynamic Random Access Memory:DRAM)または、リフレッシュ動作が必要な任意の揮発性メモリ装置であってもよい。
アドレスレジスタ320は、メモリコントローラ(図示せず)からバンクアドレスBANK_ADDR、ローアドレスROW_ADDR、及びコラムアドレスCOL_ADDRを含むアドレスADDRを受信することができる。アドレスレジスタ320は、受信したバンクアドレスBANK_ADDRをバンク制御ロジック330に提供し、受信したローアドレスROW_ADDRをローアドレスマルチプレクサ340に提供し、受信したコラムアドレスCOL_ADDRをコラムアドレスラッチ350に提供することができる。
バンク制御ロジック330は、バンクアドレスBANK_ADDRに応答してバンク制御信号を生成することができる。バンク制御信号に応答して、第1〜第4バンクローデコーダ360a、360b、360c、360dのうち、バンクアドレスBANK_ADDRに対応するバンクローデコーダが活性化し、第1〜第4バンクコラムデコーダ370a、370b、370c、370dのうち、バンクアドレスBANK_ADDRに対応するバンクコラムデコーダが活性化することができる。
ローアドレスマルチプレクサ340は、アドレスレジスタ320からローアドレスROW_ADDRを受信し、リフレッシュアドレス生成器400からリフレッシュローアドレスCREF_ADDRを受信することができる。ローアドレスマルチプレクサ340は、ローアドレスROW_ADDRまたは、リフレッシュローアドレスCREF_ADDRを選択的に出力することができる。ローアドレスマルチプレクサ340から出力されたローアドレスは第1〜第4バンクローデコーダ360a、360b、360c、360dに各々印加されることができる。
第1〜第4バンクローデコーダ360a、360b、360c、360dのうち、バンク制御ロジック330によって活性化したバンクローデコーダは、ローアドレスマルチプレクサ340から出力されたローアドレスをデコーディングしてローアドレスに対応するワードラインを活性化することができる。例えば、活性化したバンクローデコーダは、ローアドレスに対応するワードラインにワードライン駆動電圧を印加することができる。
コラムアドレスラッチ350は、アドレスレジスタ320からコラムアドレスCOL_ADDRを受信し、受信したコラムアドレスCOL_ADDRを一時的に保存することができる。また、コラムアドレスラッチ350は、バーストモードにおいて、受信したコラムアドレスCOL_ADDRを徐々に増加させることができる。コラムアドレスラッチ350は、一時的に保存、または、徐々に増加したコラムアドレスCOL_ADDRを第1〜第4バンクコラムデコーダ370a、370b、370c、370dに各々印加することができる。
第1〜第4バンクコラムデコーダ370a、370b、370c、370dのうち、バンク制御ロジック330により活性化したバンクコラムデコーダは入出力ゲーティング回路390を通じてバンクアドレスBANK_ADDR及びコラムアドレスCOL_ADDRに対応するセンスアンプを活性化させることができる。
入出力ゲーティング回路390は、入出力データをゲーティングする回路と共に、入力データマスクロジック、第1〜第4バンクアレイ380a、380b、380c、380dから出力されたデータを保存するための読み出しデータラッチ、及び第1〜第4バンクアレイ380a、380b、380c、380dにデータを記入するための記入ドライバを含むことができる。
第1〜第4バンクアレイ380a、380b、380c、380dのうち、いずれか1つのバンクアレイから読出されたデータDQは、1つのバンクアレイに対応するセンスアンプによって感知され、読み出しデータラッチに保存することができる。読み出しデータラッチに保存されたデータDQは、データ入出力バッファ395を通じてメモリコントローラに提供することができる。第1〜第4バンクアレイ380a、380b、380c、380dのうち、いずれか1つのバンクアレイに記入されるデータDQは、メモリコントローラからデータ入出力バッファ395に提供されることができる。データ入出力バッファ395に提供されたデータDQは、記入ドライバを介して1つのバンクアレイに記入することができる。
制御ロジック310は、揮発性メモリ装置300の動作を制御することができる。例えば、制御ロジック310は、揮発性メモリ装置300が記入動作または読み出し動作を遂行するように制御信号を生成することができる。制御ロジック310は前記メモリコントローラから受信されるコマンドCMDをデコーディングするコマンドデコーダ311及び揮発性メモリ装置300の動作モードを設定するためのモードレジスタ312を含むことができる。例えば、コマンドデコーダ311は、記入イネーブル信号(/WE)、ローアドレスストロボ信号(/RAS)、コラムアドレスストロボ信号(/CAS)、チップ選択信号(/CS)などをデコーディングしてコマンドCMDに対応する前記制御信号を生成することができる。また、制御ロジック310は、同期方式で揮発性メモリ装置300を駆動するためのクロック信号(CLK)及びクロックイネーブル信号(/CKE)をさらに受信することができる。また、制御ロジック310は、リフレッシュコマンド(REF)に応答してリフレッシュアドレス生成器400がオートリフレッシュ動作を実行するように制御したり、セルフリフレッシュ進入コマンドSREに応答してリフレッシュアドレス生成器400がセルフリフレッシュ動作を実行するように制御することができる。
リフレッシュアドレス生成器400はリフレッシュローアドレスを生成し、リフレッシュローアドレスをストロングセルローアドレスに比べて、リフレッシュローアドレスがストロングセルローアドレスに一致する場合、リフレッシュローアドレスをウィークセルローアドレスに変更することができる。これに従って、第1〜第4バンクローデコーダ360a、360b、360c、360dの各々にストロングセルローアドレスの代わりにウィークセルローアドレスが印加され、第1〜第4バンクアレイ380a、380b、380c、380dの各々で、ストロングセルローアドレスに対応するストロングセルローの代わりにウィークセルローアドレスに対応するウィークセルローがリフレッシュできる。即ち、ウィークセルローは、リフレッシュ周期ごとに、ウィークセルローアドレスが生成される時、及びストロングセルローアドレスが生成される時、リフレッシュできる。一実施形態において、ストロングセルローアドレスが生成される時、少なくとも1つの選択されたバンクのみにウィークセルローアドレスが印加され、他のバンクにはストロングセルローアドレスを印加することができる。この場合、選択されたバンクのみでウィークセルローがストロングセルローの代わりにリフレッシュされ、他のバンクではストロングセルローがリフレッシュできる。
これに従って、本発明の実施形態に係る揮発性メモリ装置300は、リフレッシュ電流及びリフレッシュ消費電力の増加なしでウィークセルローのリフレッシュ周期を減少させることができる。また、本発明の実施形態に係る揮発性メモリ装置300において、リダンダンシセルアレイ及びリダンダンシ回路のサイズを減少させることができる。
図5は図4の揮発性メモリ装置に含まれた本発明の実施形態に係るリフレッシュアドレス生成器を示すブロック図である。
図5を参照すれば、リフレッシュアドレス生成器400は、アドレス保存部410、リフレッシュカウンタ430、比較部450及びアドレス変換部470を含む。
アドレス保存部410は、少なくとも1つのウィークセルローに対するアドレス情報ADDR_INFOを保存することができる。アドレス保存部410に保存されたアドレス情報ADDR_INFOの数は、メモリセルアレイに含まれたウィークセルローの数に対応させることができる。アドレス保存部410は、各ウィークセルローに対しウィークセルローのウィークセルローアドレスまたは、ウィークセルローアドレスと関連した2つ以上のストロングセルローアドレスのうち、少なくとも1つに対するアドレス情報ADDR_INFOを保存することができる。一実施形態において、アドレス保存部410は、ウィークセルローアドレス及びストロングセルローアドレスのうち、ただ1つのみに対するアドレス情報ADDR_INFOを保存することができる。この場合、保存されなかったウィークセルローアドレス及びストロングセルローアドレスは、保存されたアドレスとの所定のビット関係から決定することができる。
一実施形態において、アドレス情報ADDR_INFOは、揮発性メモリ装置のパッケージング前にアドレス保存部410に保存することができる。他の実施形態において、アドレス情報ADDR_INFOは、前記揮発性メモリ装置のパッケージング後、アドレス保存部410に保存されることができる。実施形態により、アドレス保存部410は、電気的プログラマブルフューズメモリ、レーザー−プログラマブルフューズメモリ、アンチ−フューズメモリ、ワン−タイムプログラマブルメモリ、フラッシュメモリなどのような多様な種類の不揮発性メモリ装置で具現することができる。
一実施形態において、アドレス保存部410に保存されたアドレス情報ADDR_INFOは、ウィークセルローアドレス、または、ストロングセルローアドレスのうち、少なくとも1つを含むことができる。例えば、ウィークセルローアドレスは、第1及び第2ストロングセルローアドレスと関連することができ、アドレス保存部410は、第1ストロングセルローアドレスを保存することができる。他の実施形態において、アドレス保存部410に保存されたアドレス情報ADDR_INFOは、ウィークセルローアドレス、第1ストロングセルローアドレス、及び/または、第2ストロングセルローアドレスに対し実行された所定の演算(例えば、XOR演算)の結果を含むことができる。
リフレッシュカウンタ430は、カウンティング動作を実行してリフレッシュローアドレスREF_ADDRを生成することができる。リフレッシュローアドレスREF_ADDRは、Nビット(Nは、2以上の自然数)を有することができる。例えば、リフレッシュカウンタ430は、リフレッシュローアドレスREF_ADDRを徐々に増加させ、リフレッシュローアドレスREF_ADDRが最大ローアドレスより大きくなった場合、リフレッシュローアドレスREF_ADDRを最小ローアドレス(例えば、「0」)に初期化することができる。また、リフレッシュカウンタ430は、ストロングセルローのリフレッシュを制御するためのストロングセルフラグSTR_FLAGを生成することができる。リフレッシュカウンタ430は、リフレッシュローアドレスREF_ADDRが初期化されるごとに、ストロングセルフラグSTR_FLAGのロジックレベルを変更することができる。一実施形態において、リフレッシュカウンタ430は、(N+M)ビットカウンタ(Mは、1以上の自然数)で具現され、(N+M)ビットカウンタで生成されたカウンティング信号の下位Nビットは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRとして活用され、カウンティング信号の上位Mビットは、ストロングセルフラグSTR_FLAGとして活用することができる。例えば、リフレッシュカウンタ430は、(N+1)ビットカウンタで具現され、(N+1)ビットカウンタで生成されるカウンティング信号の最上位ビットMSBはストロングセルフラグSTR_FLAGとして活用することができる。
比較部450は、リフレッシュカウンタ430から受信したリフレッシュローアドレスREF_ADDRをアドレス保存部410から読み出ししたアドレス情報ADDR_INFOと比較することができる。比較部450は、比較の結果及び/または、ストロングセルフラグSTR_FLAGに基づいてマッチ信号(MATCH)を生成することができる。例えば、リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第1ストロングセルローアドレスが一致する場合、比較部450は第1マッチ信号をアドレス変更部470に提供することができる。また、比較部450は、リフレッシュローアドレスREF_ADDRを第2ストロングセルローアドレスに比べて、比較の結果及びストロングセルフラグSTR_FLAGに基づいて第2マッチ信号を生成することができる。例えば、比較部450は、リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第2ストロングセルローアドレスが一致して、ストロングセルフラグSTR_FLAGがロジックハイレベルを有する場合、ロジックハイレベルの第2マッチ信号を出力することができる。
アドレス変換部470は、比較部450から提供されたマッチ信号(MATCH)に応答してリフレッシュローアドレスREF_ADDRを変更することができる。例えば、アドレス変換部470は、第1マッチ信号に応答してリフレッシュローアドレスREF_ADDRをウィークセルローアドレスに変更でき、第2マッチ信号に応答してリフレッシュローアドレスREF_ADDRを第1ストロングセルローアドレスに変更することができる。 実施形態に従って、アドレス変換部470は、アドレス保存部410から読み出ししたアドレス情報ADDR_INFOに基づいてリフレッシュローアドレスREF_ADDRを変更したり、または、所定のロジック演算を実行するロジックゲートを利用してリフレッシュローアドレスREF_ADDRを変更することができる。
アドレス変換部470は、リフレッシュローアドレスREF_ADDRを変更して変更されたリフレッシュローアドレスCREF_ADDRを出力することができる。変更されたリフレッシュローアドレスCREF_ADDRは、図4のローアドレスマルチプレクサ340を通じてバンクローデコーダ360a、360b、360c、360dに提供され、複数のバンクアレイ380a、380b、380c、380dで変更されたリフレッシュローアドレスCREF_ADDRに対応するメモリセルローがリフレッシュできる。
上述した通り、本発明の実施形態に係るリフレッシュアドレス生成器400は、リフレッシュカウンタ430がストロングセルローアドレスのうち、いずれか1つを生成する時、ウィークセルローアドレスを出力することによって、ストロングセルローの代わりにウィークセルローがリフレッシュされるようにすることができる。これによって、リフレッシュ電流及びリフレッシュ消費電力の増加なしでウィークセルローのリフレッシュ周期を減少させることができる。
図6は本発明の一実施形態に係るリフレッシュレバレッジングを利用する揮発性メモリ装置のリフレッシュ方法を示すフローチャートである。一実施形態に係るリフレッシュ方法を実行する揮発性メモリ装置において、任意のメモリセルローがウィークセルローで判定されて前記ウィークセルローに対するウィークセルローアドレスWEAK_ADDRが決定されると、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1は、ウィークセルローアドレスWEAK_ADDRの最上位ビットMSBを反転させたアドレスに決定され、第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2は、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1の最下位ビットLSBを反転させたアドレスに決定することができる。
図6を参照すれば、リフレッシュ動作が開始されると、リフレッシュカウンタが初期化されることができる(S510)。例えば、リフレッシュローアドレスREF_ADDRが「0」に初期化され、ストロングセルフラグSTR_FLAGをロジックローレベルに初期化することができる。リフレッシュローアドレスREF_ADDRはN個(Nは2以上の自然数)のビットを有することができる。
リフレッシュローアドレスREF_ADDRのN−1個の上位ビットと第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1のN−1個の上位ビットを比較することができる(S520)。リフレッシュローアドレスREF_ADDRのN−1個の上位ビットと第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1のN−1個の上位ビットが一致しない場合(S520:いいえ)、リフレッシュローアドレスREF_ADDRに対応するメモリセルローがリフレッシュできる(S540)。メモリセルローに対するリフレッシュが完了すれば、リフレッシュカウンタは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRを「1」だけ増加させることができる(S570)。
リフレッシュローアドレスREF_ADDRのN−1個の上位ビットと第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1のN−1個の上位ビットが一致する場合(S520:はい)、リフレッシュローアドレスREF_ADDRの最下位ビットLSBと第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1の最下位ビットLSBとを比較することができる(S525)。実施形態により、リフレッシュローアドレスREF_ADDRのN−1個の上位ビットと第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1のN−1個の上位ビットの比較(S520)及びリフレッシュローアドレスREF_ADDRのLSBと、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1のLSBとの比較(S525)は、実質的に同時に実行することができる。
リフレッシュローアドレスREF_ADDRのN−1個の上位ビット及び最下位ビットLSBと、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1のN−1個の上位ビット及び最下位ビットLSBとが一致する場合(S525:はい)、即ち、リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1とが一致する場合、リフレッシュローアドレスREF_ADDR(即ち、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1)の最上位ビットMSBを反転させてウィークセルローアドレスWEAK_ADDRを生成することができる(S550)。また、ウィークセルローアドレスWEAK_ADDRに基づいてウィークセルローがリフレッシュできる(S555)。ウィークセルローに対するリフレッシュが完了すれば、リフレッシュカウンタは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRを「1」だけ増加させることができる(S570)。
リフレッシュローアドレスREF_ADDRのN−1個の上位ビットと第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1のN−1個の上位ビットが一致し(S520:はい)、リフレッシュローアドレスREF_ADDRの最下位ビットLSBと第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1の最下位ビットLSBとが一致しない場合(S525:いいえ)、即ち、リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2とが一致する場合、ストロングセルフラグSTR_FLAGに従がって、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1に対応する第1ストロングセルローまたは、第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2に対応する第2ストロングセルローを選択的にリフレッシュすることができる。例えば、リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2が一致する場合(S520:はい、S525:いいえ)、ストロングセルフラグSTR_FLAGのロジックレベルが確認できる(S530)。ストロングセルフラグSTR_FLAGが、第1ロジックレベル(例えば、ロジックローレベル)を有する場合(S530:はい)、リフレッシュローアドレスREF_ADDR、即ち、第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2に対応する第2ストロングセルローがリフレッシュできる(S540)。第2ストロングセルローに対するリフレッシュが完了すれば、リフレッシュカウンタはリフレッシュローアドレスREF_ADDRを「1」だけ増加させることができる(S570)。
一方、リフレッシュローアドレスREF_ADDRがメモリセルアレイに含まれたメモリセルローのローアドレスの最大値の最大ローアドレスMAX_ADDRより大きくなると(S580:はい)、リフレッシュローアドレスREF_ADDRが再び初期化され、ストロングセルフラグSTR_FLAGのロジックレベルを反転することができる(S585)。これによって、ストロングセルフラグSTR_FLAGは、リフレッシュ周期ごとに反転するロジックレベルを有することができる。例えば、ストロングセルフラグSTR_FLAGが、ロジックローレベル(即ち、「0」)を有している場合、ストロングセルフラグSTR_FLAGを、ロジックハイレベル(即ち、「1」)に反転することができる。これと共に、リフレッシュローアドレスREF_ADDRが再び初期化されることによって、メモリセルアレイに含まれたメモリセルローが再び順次にリフレッシュできる。
リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2とが一致し(S520:はい、S525:いいえ)、ストロングセルフラグSTR_FLAGが第2ロジックレベル(例えば、ロジックハイレベル)を有する場合(S530:いいえ)、リフレッシュローアドレスREF_ADDR(即ち、第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2)の最下位ビットLSBを反転させて第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1を生成することができる(S560)。また、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1に基づいて前記第1ストロングセルローがリフレッシュできる(S565)。
このようなリフレッシュ動作は、揮発性メモリ装置がターン−オフされる時まで繰り返して実行することができる。一方、図2に図示したように、大部分のメモリセルローは、リフレッシュ周期(RP)の2倍より長かったり、または、同じ最小保持時間を有したりすることができる。これにより、任意のメモリセルローがウィークセルローとして判定されて前記ウィークセルローに対するウィークセルローアドレスWEAK_ADDRが決定されると、図6のリフレッシュ方法と同様に、ウィークセルローアドレスWEAK_ADDRの最上位ビットMSBを反転させたアドレスに対応するメモリセルローはリフレッシュ周期(RP)の2倍に対応する最小保持時間を有することができ、これによって、メモリセルローは第1ストロングセルローになることができる。また、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1の最下位ビットLSBを反転させたアドレスに対応するメモリセルローはリフレッシュ周期(RP)の2倍に対応する最小保持時間を有することができ、これに従って、メモリセルローは前記第2ストロングセルローになることができる。
上述した通り、本発明の一実施形態に係る揮発性メモリ装置のリフレッシュ方法において、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1が生成される時、第1ストロングセルローの代わりにウィークセルローがリフレッシュできる。これによって、リフレッシュ電流及びリフレッシュ消費電力の増加なしでウィークセルローのリフレッシュ周期を減少させることができる。
図7は本発明の一実施形態に係る図6のリフレッシュ方法により実行されるウィークセルロー、第1ストロングセルロー、及び第2ストロングセルローのリフレッシュの一例を説明するためのタイミング図である。
図7を参照すれば、ウィークセルローは、リフレッシュ周期(RP)の半分に対応する周期(RP/2)でリフレッシュできる。即ち、ウィークセルローに対するアドレスが生成される時、ウィークセルローに対するリフレッシュ510を実行し、また、第1ストロングセルローに対するアドレスが生成される時、前記ウィークセルローに対するリフレッシュ515をさらに実行することができる。即ち、第1ストロングセルローに対するリフレッシュ520の代わりにウィークセルローに対するリフレッシュ515を実行することによって、ウィークセルローはリフレッシュ周期(RP)ごとに2回ずつリフレッシュできる。
第1ストロングセルロー及び第2ストロングセルローの各々は、リフレッシュ周期(RP)の2倍に対応する周期(2RP)でリフレッシュできる。即ち、リフレッシュ周期(RP)ごとに第1ストロングセルローまたは、第2ストロングセルローが交互にリフレッシュできる。例えば、奇数番目リフレッシュ周期で第2ストロングセルローに対するリフレッシュ530が実行され、偶数番目リフレッシュ周期で第2ストロングセルローに対するリフレッシュ535の代わりに第1ストロングセルローに対するリフレッシュ525を実行することができる。即ち、第1ストロングセルロー及び第2ストロングセルローの各々は2回のリフレッシュ周期(RP)ごとに1回ずつリフレッシュできる。
図8は本発明の一実施形態に係るウィークセルロー、第1ストロングセルロー及び第2ストロングセルローを含むメモリセルアレイの例を示す図である。図8はメモリセルアレイに含まれた各バンクアレイ600aを図示する。図8において、ローアドレスの最上位ビットMSBは、バンクアレイ600aの上部と下部を区分することができ、ローアドレスの最下位ビットLSBは隣接したメモリセルローを区分することができる。
図8を参照すれば、任意のメモリセルローがウィークセルロー610aと判定されてウィークセルロー610aに対するウィークセルローアドレスWEAK_ADDRが決定されると、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1は、ウィークセルローアドレスWEAK_ADDRの最上位ビットMSBを反転させたアドレスに決定され、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1に対応するメモリセルローを第1ストロングセルロー620aに決定することができる。
第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2は、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1の最下位ビットLSBを反転させたアドレスに決定され、第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2に相応するメモリセルローを第2ストロングセルロー630aに決定させることができる。
一方、図2に図示したように、大部分のメモリセルローは、リフレッシュ周期(RP)の2倍より長いか、または、同じ最小保持時間を有することができる。これによって、図8に図示したように、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1及び第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2を決定しても、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1及び第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2に各々対応するメモリセルロー620a、630aは、リフレッシュ周期(RP)の2倍に対応する最小保持時間を有することができる。
図9は図6のリフレッシュ方法を実行するための本発明の一実施形態に係るリフレッシュアドレス生成器を示す図である。
図9を参照すれば、リフレッシュアドレス生成器400aは、アドレス保存部410a、リフレッシュカウンタ430a、比較部450a及びアドレス変換部470aを含む。
アドレス保存部410aは、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1を保存する第1保存領域411aを含むことができる。実施形態により、アドレス保存部410aは第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1の代わりにウィークセルローアドレスWEAK_ADDRまたは、第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2を保存することができる。アドレス保存部410aは、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1の第1〜第Nビット(SA11、SA12、SA1N)を比較部450aに出力することができる。実施形態により、アドレス保存部410aは、電気的プログラマブルフューズメモリ、レーザー−プログラマブルフューズメモリ、アンチ−フューズメモリ、ワン−タイムプログラマブルメモリ、フラッシュメモリなどのような多様な種類の不揮発性メモリ装置で具現することができる。一方、図9には、1つのウィークセルローアドレスWEAK_ADDRと関連した第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1を保存するアドレス保存部410aが図示されているが、アドレス保存部410aは、1つ以上のウィークセルローアドレスと各々関連した1つ以上の第1ストロングセルローアドレスを保存することができる。
リフレッシュカウンタ430aは、カウンティング動作を実行してリフレッシュローアドレスREF_ADDR及びストロングセルフラグSTR_FLAGを生成することができる。リフレッシュカウンタ430aは、(N+1)ビットカウンタで具現することができ、カウンティング信号の最上位ビットMSBをストロングセルフラグSTR_FLAGとして活用し、カウンティング信号のN個の下位ビットをリフレッシュローアドレスREF_ADDRで活用することができる。
比較部450aは、リフレッシュカウンタ430aからリフレッシュローアドレスREF_ADDRを受信し、アドレス保存部410aから第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1を受信することができる。比較部450aはリフレッシュローアドレスREF_ADDRと第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1を比較して第1マッチ信号MATCH1を生成し、比較の結果及びストロングセルフラグSTR_FLAGに基づいて第2マッチ信号MATCH2を生成することができる。第1マッチ信号MATCH1は、リフレッシュローアドレスREF_ADDRが第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1と一致する時、ロジックハイレベルを有し、第2マッチ信号MATCH2はリフレッシュローアドレスREF_ADDRが第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2と一致し、ストロングセルフラグSTR_FLAGがロジックハイレベルを有する時、ロジックハイレベルを有することができる。
比較部450aは複数の比較器451a、452a、453a及び複数のロジックゲート461a、462a、463a、464aを含むことができる。第1比較器451aはリフレッシュローアドレスREF_ADDRの第1ビットRA1と第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1の第1ビットSA11を比較して、第2比較器452aは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRの第2ビットRA2と第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1の第2ビットSA12を比較して、第N比較器453aは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRの第NビットRANと第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1の第NビットSA1Nを比較することができる。第1ANDゲート461aは、第1〜第N比較器451a、452a、453aの出力信号にAND演算を実行して第1マッチ信号MATCH1を生成することができる。これに従がって、第1ANDゲート461aは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRの第1〜第NビットRA1、RA2、RANが、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1の第1〜第NビットSA11、SA12、SA1Nと一致する時、ロジックハイレベルの第1マッチ信号MATCH1を生成することができる。
インバータ462aは、第1比較器451aの出力信号を反転させて、第2ANDゲート463aは、インバータ462aの出力信号及び第2〜第N比較器452a、453aの出力信号にAND演算を実行することができる。これに従って、第2ANDゲート463aは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRの第1ビットRA1(即ち、LSB)が第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1の第1ビットSA11と一致しないで、リフレッシュローアドレスREF_ADDRの第2〜第NビットRA2、RANが、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1の第2〜第NビットSA12、SA1Nと一致する時、ロジックハイレベルの出力信号を生成することができる。即ち、第2ANDゲート463aは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRが、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1と最下位ビットだけが違うアドレス、即ち、第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2と一致する時、ロジックハイレベルの出力信号を生成することができる。第3ANDゲート464aは、ストロングセルフラグSTR_FLAG及び第2ANDゲート463aの出力信号にAND演算を実行して第2マッチ信号MATCH2を生成することができる。これに従って、第3ANDゲート464aは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRが第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2と一致してストロングセルフラグSTR_FLAGがロジックハイレベルを有する時、ロジックハイレベルの第2マッチ信号MATCH2を生成することができる。
一方、図9には、リフレッシュローアドレスREF_ADDRを1つのウィークセルローアドレスWEAK_ADDRと関連した第1及び第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1、STR_ADDR_2と比較するための複数の比較器451a、452a、453a及び複数のロジックゲート461a、462a、463a、464aの1つの集合を含む比較部450aが図示されているが、比較部450aは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRを1つ以上のウィークセルローアドレスと関連した1つ以上の第1ストロングセルローアドレス及び1つ以上の第2ストロングセルローアドレスと比較するための比較器及びロジックゲートの1つ以上の集合を含むことができる。
アドレス変更部470aは、リフレッシュカウンタ430aからリフレッシュローアドレスREF_ADDRを受信し、比較部450aから第1マッチ信号MATCH1及び第2マッチ信号MATCH2を受信することができる。アドレス変更部470aは、第1マッチ信号MATCH1及び第2マッチ信号MATCH2がロジックローレベルを有する時、リフレッシュローアドレスREF_ADDRをそのまま出力することができる。また、アドレス変更部470aは、第1マッチ信号MATCH1がロジックハイレベルを有する時、リフレッシュローアドレスREF_ADDRをウィークセルローアドレスWEAK_ADDRに変更して変更されたリフレッシュローアドレスCREF_ADDRとしてウィークセルローアドレスWEAK_ADDRを出力し、第2マッチ信号MATCH2がロジックハイレベルを有する時、リフレッシュローアドレスREF_ADDRを第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1に変更して、変更されたリフレッシュローアドレスCREF_ADDRとして第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1を出力することができる。
アドレス変更部470aはリフレッシュローアドレスREF_ADDRの第1ビットRA1を変更するための第1インバータ471a及び第1マルチプレクサ472aを含み、リフレッシュローアドレスREF_ADDRの第NビットRANを変更するための第2インバータ473a及び第2マルチプレクサ474aを含むことができる。第2インバータ473aは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRの第NビットRANを反転させて、第2マルチプレクサ474aは、第1マッチ信号MATCH1に応答して変更されたリフレッシュローアドレスCREF_ADDRの第NビットCRANとしてリフレッシュローアドレスREF_ADDRの第NビットRAN、または反転した第Nビットを選択的に出力することができる。これに従って、アドレス変更部470aは、第1マッチ信号MATCH1がロジックハイレベルを有する時、リフレッシュローアドレスREF_ADDRの第NビットRAN(即ち、MSB)を反転させて、変更されたリフレッシュローアドレスCREF_ADDRとしてウィークセルローアドレスWEAK_ADDRを出力することができる。
第1インバータ471aは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRの第1ビットRA1を反転させ、第1マルチプレクサ472aは、第2マッチ信号MATCH2に応答して変更されたリフレッシュローアドレスCREF_ADDRの第1ビットCRA1としてリフレッシュローアドレスREF_ADDRの第1ビットRA1または反転した第1ビットを選択的に出力することができる。これに従って、アドレス変更部470aは、第2マッチ信号MATCH2がロジックハイレベルを有する時、リフレッシュローアドレスREF_ADDRの第1ビットRA1(即ち、LSB)を反転させて、変更されたリフレッシュローアドレスCREF_ADDRとして第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1を出力することができる。
実施形態により、アドレス変更部470aは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRの第2〜第(N−1)ビットRA2、RA(N−1)を遅延させて、変更されたリフレッシュローアドレスCREF_ADDRの第2〜第(N−1)ビットCRA2、CRA(N−1)を出力するための複数のインバータ481a、482a、483a、484aをさらに含むことができる。
上述した通り、リフレッシュアドレス生成器400aは、リフレッシュカウンタ430aが第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1を生成する時、ウィークセルローアドレスWEAK_ADDRを出力し、リフレッシュカウンタ430aが第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2を生成する時、リフレッシュ周期ごとに第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1、または、第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2を交互に出力することができる。これに従って、本発明の一実施形態に係るリフレッシュアドレス生成器400aは、第1ストロングセルローの代わりにウィークセルローがリフレッシュされるようにすることによって、リフレッシュ電流及びリフレッシュ消費電力の増加なしで前記ウィークセルローのリフレッシュ周期を減少させることができる。また、第1及び第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1、STR_ADDR_2が予め決定された方式のとおり決定されることによって(例えば、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1がウィークセルローアドレスWEAK_ADDRのMSBを反転させたアドレスに決定され、第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2が第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1のLSBを反転させたアドレスに決定される)、本発明の一実施形態に係るリフレッシュアドレス生成器400aの複雑も及びサイズが最小化されることができる。
図10は本発明の一実施形態に係る図6のリフレッシュ方法がバーストリフレッシュに適用されること例を示すタイミング図である。
図10を参照すれば、本発明の実施形態に係るリフレッシュ方法はバーストリフレッシュ(Burst Refresh)に適用することができる。例えば、メモリセルアレイに含まれたメモリセルローの第1半分が連続的にリフレッシュされ、リフレッシュ周期の半分(RP/2)後、メモリセルローの第2半分が連続的にリフレッシュできる。この場合、ウィークセルローに対する第1リフレッシュ510は、メモリセルローの第1半分が連続的にリフレッシュされる時、実行され、ウィークセルローに対する第2リフレッシュ515は、メモリセルローの第2半分が連続的にリフレッシュされる時、実行することができる。これに従って、バーストリフレッシュ動作が実行されても、ウィークセルローはリフレッシュ周期(RP)の半分に対応する周期(RP/2)で実行すれることができる。
図11は本発明の他の実施形態に係るリフレッシュレバレッジングを利用する揮発性メモリ装置のリフレッシュ方法を示すフローチャートである。他の実施形態に係るリフレッシュ方法を実行する揮発性メモリ装置において、任意のメモリセルローがウィークセルローで判定されてウィークセルローに対するウィークセルローアドレスWEAK_ADDRが決定されると、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1はウィークセルローアドレスWEAK_ADDRの最上位ビットMSBを反転させたアドレスに決定され、第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2は、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1のM番目ビット(ここでMは、1以上(N−1)以下の自然数)を反転させたアドレスに決定することができる。図11のリフレッシュ方法は、第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2が第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1のM番目ビットを反転させたアドレスに決定されること以外に、図6のリフレッシュ方法と実質的に類似することができる。
図11を参照すれば、リフレッシュ動作が開始されると、リフレッシュカウンタが初期化される(S710)。例えば、リフレッシュローアドレスREF_ADDRが「0」で初期化され、ストロングセルフラグSTR_FLAGがロジックローレベルで初期化される。
リフレッシュローアドレスREF_ADDRのM番目ビットを除いたビットと、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1のM番目ビットを除いたビットとが比較され(S720)、リフレッシュローアドレスREF_ADDRのM番目ビットと、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1のM番目ビットとが比較される(S725)。実施形態により、リフレッシュローアドレスREF_ADDRのM番目ビットを除いたビットと、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1のM番目ビットを除いたビットとの比較(S720)、及び、リフレッシュローアドレスREF_ADDRのM番目ビットと、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1のM番目ビットとの比較(S725)は実質的に同時に実行することができる。
リフレッシュローアドレスREF_ADDRのM番目ビットを除いたビットと、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1のM番目ビットを除いたビットとが一致しない場合(S720:いいえ)、リフレッシュローアドレスREF_ADDRに対応するメモリセルローがリフレッシュできる(S740)。
リフレッシュローアドレスREF_ADDRのM番目ビットを除いたビットと第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1のM番目ビットを除いたビットが一致し(S720:はい)、リフレッシュローアドレスREF_ADDRのM番目ビットと第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1のM番目ビットが一致する場合(S725:はい)、即ち、リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1が一致する場合、リフレッシュローアドレスREF_ADDR(即ち、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1)の最上位ビットMSBを反転させてウィークセルローアドレスWEAK_ADDRを生成することができる(S750)。また、ウィークセルローアドレスWEAK_ADDRに基づいてウィークセルローがリフレッシュできる(S755)。
リフレッシュローアドレスREF_ADDRのM番目ビットを除いたビットと、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1のM番目ビットを除いたビットとが一致し(S720:はい)、リフレッシュローアドレスREF_ADDRのM番目ビットと、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1のM番目ビットとが一致しない場合(S725:いいえ)、即ち、リフレッシュローアドレスREF_ADDRと、第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2とが一致する場合、ストロングセルフラグSTR_FLAGにより第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1に対応する第1ストロングセルロー、または、第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2に対応する第2ストロングセルローが選択的にリフレッシュできる。ストロングセルフラグSTR_FLAGがロジックローレベルを有する場合(S730:はい)、リフレッシュローアドレスREF_ADDR、即ち、第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2に対応する前記第2ストロングセルローがリフレッシュできる(S740)。
各メモリセルローがリフレッシュされるごとに、リフレッシュローアドレスREF_ADDRは、1ずつ増加することができ(S770)、リフレッシュローアドレスREF_ADDRが最大ローアドレスMAX_ADDRより大きくなると(S780:はい)、リフレッシュローアドレスREF_ADDRが再び初期化され、ストロングセルフラグSTR_FLAGのロジックレベルを反転することができる(S785)。これに従って、ストロングセルフラグSTR_FLAGは、リフレッシュ周期ごとに反転するロジックレベルを有することができる。
リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2が一致し(S720:はい、S725:いいえ)、ストロングセルフラグSTR_FLAGがロジックハイレベルを有する場合(S730:いいえ)、リフレッシュローアドレスREF_ADDR(即ち、第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2)のM番目ビットを反転させて第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1を生成することができる(S760)。また、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1に基づいて第1ストロングセルローがリフレッシュできる(S765)。
上述した通り、本発明の他の実施形態に係る揮発性メモリ装置のリフレッシュ方法において、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1が生成される時、第1ストロングセルローの代わりにウィークセルローがリフレッシュできる。これに従って、リフレッシュ電流及びリフレッシュ消費電力の増加なしでウィークセルローのリフレッシュ周期を減少させることができる。
図12は本発明の他の実施形態に係るウィークセルロー、第1ストロングセルロー、及び第2ストロングセルローを含むメモリセルアレイの例を示す図である。図12はメモリセルアレイに含まれた各バンクアレイ600bを図示する。
図12を参照すれば、任意のメモリセルローがウィークセルロー610bで判定されてウィークセルロー610bに対するウィークセルローアドレスWEAK_ADDRが決定されると、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1は、ウィークセルローアドレスWEAK_ADDRの最上位ビットMSBを反転させたアドレスに決定され、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1に対応するメモリセルローを第1ストロングセルロー620bに決定することができる。
第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2は、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1のM番目ビットを反転させたアドレスに決定され、第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2に対応するメモリセルローを第2ストロングセルロー630bに決定することができる。
図13は図11のリフレッシュ方法を実行するための本発明の他の実施形態に係るリフレッシュアドレス生成器を示す図である。
図13を参照すれば、リフレッシュアドレス生成器400bはアドレス保存部410b、リフレッシュカウンタ430b、比較部450b、及びアドレス変換部470bを含む。図13のリフレッシュアドレス生成器400bは、第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2のM番目ビットを反転させて、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1を生成すること以外に、図9のリフレッシュアドレス生成器400aと実質的に類似させることができる。
アドレス保存部410bは第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1を保存する第1保存領域411bを含むことができる。リフレッシュカウンタ430bはカウンティング動作を実行してリフレッシュローアドレスREF_ADDR及びストロングセルフラグSTR_FLAGを生成することができる。一方、図13には、1つのウィークセルローアドレスWEAK_ADDRと関連した第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1を保存するアドレス保存部410bが図示されているが、アドレス保存部410bは、1つ以上のウィークセルローアドレスと各々関連した1つ以上の第1ストロングセルローアドレスを保存することができる。
比較部450bはリフレッシュローアドレスREF_ADDRと、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1とを比較して第1マッチ信号MATCH1を生成し、比較の結果及びストロングセルフラグSTR_FLAGに基づいて第2マッチ信号MATCH2を生成することができる。比較部450bは複数の比較器451b、452b、453b、及び、複数のロジックゲート461b、462b、463b、464bを含むことができる。
一方、図13には、リフレッシュローアドレスREF_ADDRを1つのウィークセルローアドレスWEAK_ADDRと関連した第1及び第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1、STR_ADDR_2と比較するための複数の比較器451b、452b、453b、及び、複数のロジックゲート461b、462b、463b、464bの1つの集合を含む比較部450bとが図示されているが、比較部450bは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRを1つ以上のウィークセルローアドレスと関連した1つ以上の第1ストロングセルローアドレス、及び、1つ以上の第2ストロングセルローアドレスと比較するための比較器、並びに、ロジックゲートの1つ以上の集合を含むことができる。
アドレス変更部470bは、第1マッチ信号MATCH1がロジックハイレベルを有する時、リフレッシュローアドレスREF_ADDRの第NビットRANを反転させて変更されたリフレッシュローアドレスCREF_ADDRとしてウィークセルローアドレスWEAK_ADDRを出力し、第2マッチ信号MATCH2がロジックハイレベルを有する時、リフレッシュローアドレスREF_ADDRの第MビットRAMを反転させて変更されたリフレッシュローアドレスCREF_ADDRとして第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1を出力することができる。アドレス変更部470bは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRの第MビットRAMを変更するための第1インバータ471b及び第1マルチプレクサ472bを含み、リフレッシュローアドレスREF_ADDRの第NビットRANを変更するための第2インバータ473b及び第2マルチプレクサ474bを含むことができる。また、アドレス変更部470bは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRの第2〜第(N−1)ビットRA2、RA(N−1)を遅延させて変更されたリフレッシュローアドレスCREF_ADDRの第2〜第(N−1)ビットCRA2、CRA(N−1)を出力するためのインバータ481b、482b、483b、484bをさらに含むことができる。
上述した通り、リフレッシュアドレス生成器400bは、リフレッシュカウンタ430bが第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1を生成する時、ウィークセルローアドレスWEAK_ADDRを出力し、リフレッシュカウンタ430bが第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2を生成する時、リフレッシュ周期ごとに第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1、または、第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2を交互に出力することができる。これに従って、本発明の他の実施形態に係るリフレッシュアドレス生成器400bは、第1ストロングセルローの代わりにウィークセルローがリフレッシュされるようにすることによって、リフレッシュ電流及びリフレッシュ消費電力の増加なしでウィークセルローのリフレッシュ周期を減少させることができる。
図14は本発明のまた他の実施形態に係るリフレッシュレバレッジングを利用する揮発性メモリ装置のリフレッシュ方法を示すフローチャートである。また、他の実施形態に係るリフレッシュ方法を実行する揮発性メモリ装置において、ウィークセルローアドレスWEAK_ADDRは、メモリセルローの最小保持時間によって決定され、ウィークセルローアドレスWEAK_ADDRに対応する第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1及び第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2を、任意のメモリセルローに対するアドレスに決定することができる。
図14を参照すれば、リフレッシュ動作が開始されると、リフレッシュカウンタが初期化されることができる(S810)。例えば、リフレッシュローアドレスREF_ADDRが「0」に初期化され、ストロングセルフラグSTR_FLAGがロジックローレベルに初期化されることができる。
リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1が比較され(S820)、リフレッシュローアドレスREF_ADDRが第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2と比較することができる(S825)。実施形態により、リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1との比較(S820)、及び、リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2との比較(S825)は、実質的に同時に実行することができる。
リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1が一致せず(S820:いいえ)、リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2が一致しない場合(S825:いいえ)、リフレッシュローアドレスREF_ADDRに対応するメモリセルローがリフレッシュできる(S840)。
リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1とが一致する場合(S820:はい)、ウィークセルローアドレスWEAK_ADDRに対応するウィークセルローがリフレッシュできる(S850)。
リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2とが一致する場合(S825:はい)、ストロングセルフラグSTR_FLAGにより第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1に対応する第1ストロングセルロー、または、第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2に対応する第2ストロングセルローが選択的にリフレッシュできる。ストロングセルフラグSTR_FLAGがロジックローレベルを有する場合(S830:はい)、リフレッシュローアドレスREF_ADDR、即ち、第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2に対応する前記第2ストロングセルローがリフレッシュできる(S840)。
各メモリセルローがリフレッシュされるごとに、リフレッシュローアドレスREF_ADDRは1ずつ増加することができ(S870)、リフレッシュローアドレスREF_ADDRが最大ローアドレスMAX_ADDRより大きくなれば(S880:はい)、リフレッシュローアドレスREF_ADDRがまた初期化され、ストロングセルフラグSTR_FLAGのロジックレベルを反転させことができる(S885)。これに従って、ストロングセルフラグSTR_FLAGは、リフレッシュ周期ごとに反転するロジックレベルを有することができる。
リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2とが一致し(S825:はい)、ストロングセルフラグSTR_FLAGがロジックハイレベルを有する場合(S830:いいえ)、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1に対応する前記第1ストロングセルローがリフレッシュできる(S865)。
上述した通り、本発明のまた他の実施形態に係る揮発性メモリ装置のリフレッシュ方法において、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1が生成される時、第1ストロングセルローの代わりに前記ウィークセルローがリフレッシュできる。これに従って、リフレッシュ電流及びリフレッシュ消費電力の増加なしでウィークセルローのリフレッシュ周期を減少させることができる。
図15は本発明のまた他の実施形態に係るウィークセルロー、第1ストロングセルロー及び第2ストロングセルローを含むメモリセルアレイの例を示す図である。図15は、メモリセルアレイに含まれた各バンクアレイ600cを図示する。
図15を参照すれば、任意のメモリセルローがウィークセルロー610cと判定されて、ウィークセルロー610cに対するウィークセルローアドレスWEAK_ADDRを決定することができる。
第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1は、第1ストロングセルロー620cがウィークセルロー610cから所定間隔ITVほど離隔されるように選択することができる。所定の間隔ITVは、ウィークセルロー610cの最小保持時間により決定することができる。例えば、バンクアレイ600cがN個のメモリセルローを有し、ウィークセルロー610cの最小保持時間がリフレッシュ周期(RP)の3/4に対応する場合、第1ストロングセルロー620cは、ウィークセルロー610cから両方向にN/4個のメモリセルローに対応する間隔以上離隔できるように選択することができる。第1ストロングセルロー620cが、ウィークセルロー610cからN/3つのメモリセルローに対応する間隔だけ離隔された場合、ウィークセルロー610cに対するリフレッシュはリフレッシュ周期(RP)の1/3に対応する第1時間間隔及びリフレッシュ周期(RP)の2/3に対応する第2時間間隔を有することができる。即ち、ウィークセルロー610cに対するリフレッシュの間の最大時間間隔がリフレッシュ周期(RP)の2/3に対応するので、最大時間間隔は、ウィークセルロー610cの最小保持時間のリフレッシュ周期(RP)の3/4より短いこともある。このように、第1ストロングセルロー620cがウィークセルロー610cから所定の間隔ITVほど離隔されるように選択される場合、ウィークセルロー610cは、最小保持時間が経過する前に繰り返してリフレッシュできる。
第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2は、任意のメモリセルロー630cに対するアドレスに決定されることができる。
図16は図14のリフレッシュ方法を実行するための本発明のまた他の実施形態に係るリフレッシュアドレス生成器を示す図である。
図16を参照すれば、リフレッシュアドレス生成器400cは、アドレス保存部410c、リフレッシュカウンタ430c、比較部450c及びアドレス変換部470cを含む。
アドレス保存部410cは、ウィークセルローアドレスWEAK_ADDRを保存する第1保存領域411c、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1を保存する第2保存領域412c、及び第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2を保存する第3保存領域413cを含むことができる。リフレッシュカウンタ430cは、カウンティング動作を実行してリフレッシュローアドレスREF_ADDR及びストロングセルフラグSTR_FLAGを生成することができる。一方、図16には、1つのウィークセルローアドレスWEAK_ADDR、1つの第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1、及び1つの第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2を保存するアドレス保存部410cが図示されているが、アドレス保存部410cは1つ以上のウィークセルローアドレス、1つ以上の第1ストロングセルローアドレス、及び、1つ以上の第2ストロングセルローアドレスを保存することができる。
比較部450cは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1を比較して第1マッチ信号MATCH1を生成し、リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2との比較の結果、及び、ストロングセルフラグSTR_FLAGに基づいて第2マッチ信号MATCH2を生成することができる。
比較部450cは複数の第1比較器451c、452c、複数の第2比較器453c、454c、及び複数のロジックゲート461c、462c、463cを含むことができる。複数の第1比較器451c、452cは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1とを比較することができる。第1ANDゲート461cは、複数の第1比較器451c、452cの出力信号にAND演算を実行して第1マッチ信号MATCH1を生成することができる。これによって、第1ANDゲート461aは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1とが一致する時、ロジックハイレベルの第1マッチ信号MATCH1を生成することができる。
複数の第2比較器453c、454cは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2とを比較することができる。第2ANDゲート462cは複数の第2比較器453c、454cの出力信号にAND演算を遂行することができる。これに従って、第2ANDゲート462cは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2とが一致する時、ロジックハイレベルの出力信号を生成することができる。第3ANDゲート463cは、ストロングセルフラグSTR_FLAG及び第2ANDゲート462cの出力信号にAND演算を実行して第2マッチ信号MATCH2を生成することができる。これによって、第3ANDゲート463cは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2とが一致してストロングセルフラグSTR_FLAGがロジックハイレベルを有する時、ロジックハイレベルの第2マッチ信号MATCH2を生成することができる。
一方、図16には、リフレッシュローアドレスREF_ADDRを1つのウィークセルローアドレスWEAK_ADDRと関連した第1及び第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1、STR_ADDR_2と比較するための複数の第1比較器451c、452c、複数の第2比較器453c、454c、及び複数のロジックゲート461c、462c、463cの1つの集合を含む比較部450cが図示されているが、比較部450cはリフレッシュローアドレスREF_ADDRを1つ以上のウィークセルローアドレスと関連した1つ以上の第1ストロングセルローアドレス及び1つ以上の第2ストロングセルローアドレスと比較するための第1比較器、第2比較器、及びロジックゲートの1つ以上の集合を含むことができる。
アドレス変更部470cは、第1マッチ信号MATCH1がロジックハイレベルを有する時、変更されたリフレッシュローアドレスCREF_ADDRとしてウィークセルローアドレスWEAK_ADDRを出力し、第2マッチ信号MATCH2がロジックハイレベルを有する時、変更されたリフレッシュローアドレスCREF_ADDRとして第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1を出力することができる。
アドレス変更部470cは、複数のロジックゲート471c、472c、473c、複数の第1マルチプレクサ481c、483c、及び複数の第2マルチプレクサ482c、484cを含むことができる。インバータ471cは、第1マッチ信号MATCH1を反転させて、第4ANDゲート472cは、第1マッチ信号MATCH1の反転信号及び第2マッチ信号MATCH2にAND演算を実行して第1選択信号SEL1を生成することができる。第4ANDゲート472cは、第1マッチ信号MATCH1がロジックハイレベルを有する時、ロジックローレベルの第1選択信号SEL1を生成し、第2マッチ信号MATCH2がロジックハイレベルを有する時、ロジックハイレベルの第1選択信号SEL1を生成することができる。複数の第1マルチプレクサ481c、483cは、第1選択信号SEL1に応答してウィークセルローアドレスWEAK_ADDRのビットWA1、WAN、または、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1のビットSA11、SA1Nを選択的に出力することができる。即ち、複数の第1マルチプレクサ481c、483cは、第1マッチ信号MATCH1がロジックハイレベルを有する時、ウィークセルローアドレスWEAK_ADDRを出力し、第2マッチ信号MATCH2がロジックハイレベルを有する時、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1を出力することができる。
ORゲート473cは、第1マッチ信号MATCH1及び第2マッチ信号MATCH2にOR演算を実行して第2選択信号SEL2を生成することができる。ORゲート473cは、第1マッチ信号MATCH1、または、第2マッチ信号MATCH2がロジックハイレベルを有する時、ロジックハイレベルの第2選択信号SEL2を生成することができる。複数の第2マルチプレクサ482c、484cは、第2選択信号SEL2に応答してリフレッシュローアドレスREF_ADDRまたは、複数の第1マルチプレクサ481c、483cの出力アドレスを選択的に出力することができる。複数の第2マルチプレクサ482c、484cは、第1マッチ信号MATCH1及び第2マッチ信号MATCH2が全部ロジックローレベルを有する時、リフレッシュローアドレスREF_ADDRをそのまま出力することができる。また、複数の第2マルチプレクサ482c、484cは、第1マッチ信号MATCH1がロジックハイレベルを有する時、変更されたリフレッシュローアドレスCREF_ADDRとしてウィークセルローアドレスWEAK_ADDRを出力し、第2マッチ信号MATCH2がロジックハイレベルを有する時、変更されたリフレッシュローアドレスCREF_ADDRとして第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1を出力することができる。
上述した通り、リフレッシュアドレス生成器400cは、リフレッシュカウンタ430cが第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1を生成する時、ウィークセルローアドレスWEAK_ADDRを出力し、リフレッシュカウンタ430cが第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2を生成する時、リフレッシュ周期ごとに第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1または、第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2を交互に出力することができる。これに従って、本発明のまた他の実施形態に係るリフレッシュアドレス生成器400cは、第1ストロングセルローの代わりにウィークセルローがリフレッシュされるようにすることによって、リフレッシュ電流及びリフレッシュ消費電力の増加なしでウィークセルローのリフレッシュ周期を減少させることができる。
図17は本発明のまた他の実施形態に係るウィークセルロー、第1ストロングセルロー及び第2ストロングセルローを含むメモリセルアレイの例を示す図である。図17はメモリセルアレイに含まれた各バンクアレイ600dを図示する。
図17を参照すれば、任意のメモリセルローがウィークセルロー610dと判定されて、ウィークセルロー610dに対するウィークセルローアドレスWEAK_ADDRを決定することができる。
ウィークセルローアドレスWEAK_ADDRが決定されると、ウィークセルローアドレスWEAK_ADDRの最上位ビットMSBを反転させて第1及び第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1、STR_ADDR_2を選択するためのストロングセルプールを決定することができる。ストロングセルプールはウィークセルローアドレスWEAK_ADDRの最上位ビットMSBを反転させたアドレスでM個(Mは2以上の自然数)の下位ビットだけが互いに異なるアドレスを含むことができる。即ち、ローアドレスがNビットを有する時、ストロングセルプールに属するアドレスは、(N−M)個の上位ビットが互いに同一であり、M個の下位ビットが互いに異なることができる。また、ストロングセルプールに属するアドレスが最上位ビットMSBを除いた第(M+1)〜第(N−1)ビットがウィークセルローアドレスWEAK_ADDRと同一であるようにストロングセルプールを決定することができる。
例えば、ローアドレスが13つのビットを有し、ストロングセルプール4つの下位ビットが互いに異なるアドレスを含む場合、ストロングセルプールは、最上位ビットMSBがウィークセルローアドレスWEAK_ADDRと異なり、第5〜第12ビットがウィークセルローアドレスWEAK_ADDRと同一の16個のアドレスを含むことができる。また、第1ストロングセルロー620d及び第2ストロングセルロー630dは、16個のアドレスに対応する16個のメモリセルローのうち、最小保持時間がリフレッシュ周期(RP)の2倍より長いか、または、同じメモリセルローに決定することができる。
図18は図14のリフレッシュ方法を実行するための本発明のまた他の実施形態に係るリフレッシュアドレス生成器を示す図である。図18には、第1及び第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1、STR_ADDR_2が、図17に図示された16個のアドレスを含むストロングセルプールから選択された場合の図14のリフレッシュ方法を実行するリフレッシュアドレス生成器400dの一例が図示されている。
図18を参照すれば、リフレッシュアドレス生成器400dはアドレス保存部410d、リフレッシュカウンタ430d、比較部450d、及びアドレス変換部470dを含む。
アドレス保存部410dは第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1を保存する第1保存領域411d、第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2の4つの下位ビットを保存する第2保存領域412d、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1の4つの下位ビットとウィークセルローアドレスWEAK_ADDRの4つの下位ビットに、第1XOR演算が実行された第1XOR演算の結果を保存する第3保存領域413d、及び第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1の4つの下位ビットと第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2の4つの下位ビットに、第2XOR演算が実行された第2XOR演算の結果を保存する第4保存領域414dを含むことができる。一方、図18には、1つのウィークセルローアドレスWEAK_ADDRと関連した第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1、第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2の4つの下位ビット、第1XOR演算の結果、及び、第2XOR演算の結果を保存するアドレス保存部410dが図示されているが、アドレス保存部410dは、1つ以上のウィークセルローアドレスと各々関連した1つ以上の第1ストロングセルローアドレス、第2ストロングセルローアドレスの下位ビット、第1XOR演算の結果、及び第2XOR演算の結果を保存することができる。
リフレッシュカウンタ430dは、カウンティング動作を実行してリフレッシュローアドレスREF_ADDR及びストロングセルフラグSTR_FLAGを生成することができる。
比較部450dは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1を比較して第1マッチ信号MATCH1を生成し、比較の結果及びストロングセルフラグSTR_FLAGに基づいて第2マッチ信号MATCH2を生成することができる。
比較部450dはN個の第1比較器451d、452d、453d、454d、4つの第2比較器456d、457d、及び複数のロジックゲート461d、462d、463dを含むことができる。 N個の第1比較器451d、452d、453d、454dは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1を比較することができる。第1ANDゲート461dはN個の第1比較器451d、452dの出力信号にAND演算を実行して第1マッチ信号MATCH1を生成することができる。これに従って、第1ANDゲート461dは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1が一致する時、ロジックハイレベルの第1マッチ信号MATCH1を生成することができる。
4つの第2比較器456d、457dは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRの4つの下位ビットRA1、RA4と、第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2の4つの下位ビットSA21、SA24とを比較することができる。第2ANDゲート462dは、N個の第1比較器451d、452d、453d、454dのうち、第5〜第Nビットに対応する比較器453d、454dの出力信号と4つの第2比較器456d、457dの出力信号にAND演算を実行することができる。これに従って、第2ANDゲート462dは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2とが一致する時、ロジックハイレベルの出力信号を生成することができる。第3ANDゲート463dは、ストロングセルフラグSTR_FLAG及び第2ANDゲート462dの出力信号にAND演算を実行して第2マッチ信号MATCH2を生成することができる。これに従って、第3ANDゲート463dは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2とが一致してストロングセルフラグSTR_FLAGがロジックハイレベルを有する時、ロジックハイレベルの第2マッチ信号MATCH2を生成することができる。
図18には、リフレッシュローアドレスREF_ADDRを1つのウィークセルローアドレスWEAK_ADDRと関連した第1及び第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1、STR_ADDR_2と比較するためのN個の第1比較器451d、452d、453d、454d、4つの第2比較器456d、457d、及び複数のロジックゲート461d、462d、463dの1つの集合を含む比較部450dが図示されているが、比較部450dはリフレッシュローアドレスREF_ADDRを1つ以上のウィークセルローアドレスと関連した1つ以上の第1ストロングセルローアドレス及び1つ以上の第2ストロングセルローアドレスと比較するための第1比較器、第2比較器及びロジックゲートの1つ以上の集合を含むことができる。
アドレス変更部470dは、第1マッチ信号MATCH1がロジックハイレベルを有する時、変更されたリフレッシュローアドレスCREF_ADDRとしてウィークセルローアドレスWEAK_ADDRを出力し、第2マッチ信号MATCH2がロジックハイレベルを有する時、変更されたリフレッシュローアドレスCREF_ADDRとして第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1を出力することができる。
アドレス変更部470dは、4つの第1ANDゲート471d、476d、4つの第2ANDゲート472d、477d、4つのORゲート473d、478d、5つのインバータ474d、479d、481d、及び5つのマルチプレクサ475d、480d、482dを含むことができる。4つの第1ANDゲート471d、476dは第3保存領域413dから受信した第1XOR演算の結果の4つのビットSWX1、SWX4と第1マッチ信号MATCH1にAND演算を各々実行されることができる。また、4つの第2ANDゲート472d、477dは、第4保存領域414dから受信した第2XOR演算の結果の4つのビットSSX1、SSX4と第2マッチ信号MATCH2にAND演算を各々実行することができる。4つのORゲート473d、478dは、4つの第1ANDゲート471d、476dの出力信号と4つの第2ANDゲート472d、477dの出力信号にOR演算を各々実行することができる。これに従って、ORゲート473d、478dは、第1マッチ信号MATCH1がロジックハイレベルを有する時、第1XOR演算の結果を出力し、第2マッチ信号MATCH2がロジックハイレベルを有する時、第2XOR演算の結果を出力することができる。
5つのインバータ474d、479d、481dは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRの第1ビットRA1、第2ビットRA2、第3ビットRA3、第4ビットRA4、及び第NビットRANを各々反転させることができる。ローアドレスの第Nビットに対応するマルチプレクサ482dは、第1マッチ信号MATCH1に応答して変更されたリフレッシュローアドレスCREF_ADDRの第NビットCRANとしてリフレッシュローアドレスREF_ADDRの第NビットRANまたは、これの反転ビットを選択的に出力でき、ローアドレスの第1〜第4ビットに対応するマルチプレクサ475d、480dは、ORゲート473d、478dの出力信号に応答して変更されたリフレッシュローアドレスCREF_ADDRの第1〜第4ビットCRA1、CRA4としてリフレッシュローアドレスREF_ADDRの第1〜第4ビットRA1、RA4、または、これらの反転ビットを各々選択的に出力することができる。また、アドレス変更部470dはリフレッシュローアドレスCREF_ADDRの第5〜第(N−1)ビットRA5、RA(N−1)を遅延させるためのインバータ483d、484d、485d、486dをさらに含むことができる。
これに従って、第1マッチ信号MATCH1がロジックハイレベルを有する時、即ち、リフレッシュローアドレスREF_ADDRが第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1である時、リフレッシュローアドレスREF_ADDR(即ち、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1)の第NビットRANが反転し、リフレッシュローアドレスREF_ADDRの第1〜第4ビットRA1、RA4のうち、ウィークセルローアドレスWEAK_ADDRの相応するビットと他の値を有するビットが反転することができる。従って、アドレス変更部470dは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRが第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1である時、変更されたリフレッシュローアドレスCREF_ADDRとしてウィークセルローアドレスWEAK_ADDRを出力することができる。また、第2マッチ信号MATCH2がロジックハイレベルを有する時、即ち、リフレッシュローアドレスREF_ADDRが第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2であり、ストロングセルフラグSTR_FLAGがロジックハイレベルを有する時、リフレッシュローアドレスREF_ADDR(即ち、第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2)の第1〜第4ビットRA1、RA4のうち、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1の相応するビットと他の値を有するビットが反転することができる。従って、アドレス変更部470dは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRが第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2であり、ストロングセルフラグSTR_FLAGがロジックハイレベルを有する時、変更されたリフレッシュローアドレスCREF_ADDRとして第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1を出力することができる。
上述した通り、リフレッシュアドレス生成器400dは、リフレッシュカウンタ430dが第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1を生成する時、ウィークセルローアドレスWEAK_ADDRを出力し、リフレッシュカウンタ430dが第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2を生成する時、リフレッシュ周期ごとに第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1または、第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2を交互に出力することができる。これに従って、本発明のまた他の実施形態に係るリフレッシュアドレス生成器400dは、第1ストロングセルローの代わりにウィークセルローがリフレッシュされるようにすることによって、リフレッシュ電流及びリフレッシュ消費電力の増加なしでウィークセルローのリフレッシュ周期を減少させることができる。また、第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2はウィークセルローアドレスWEAK_ADDR及び/または、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1の少なくとも2つの最下位ビットによって定義される範囲を有するアドレスの中から選択することができる。
図19は本発明のまた他の実施形態に係るリフレッシュレバレッジングを利用する揮発性メモリ装置のリフレッシュ方法を示すフローチャートである。また他の実施形態に係るリフレッシュ方法を実行する揮発性メモリ装置において、ウィークセルローは、奇数番目リフレッシュ周期で第1ストロングセルローの代わりにリフレッシュされ、偶数番目リフレッシュ周期で第2ストロングセルローの代わりにリフレッシュできる。
図19を参照すれば、リフレッシュ動作が開始されると、リフレッシュカウンタを初期化することができる(S910)。例えば、リフレッシュローアドレスREF_ADDRが「0」に初期化され、ストロングセルフラグSTR_FLAGがロジックローレベルに初期化することができる。
リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1とが比較され(S920)、リフレッシュローアドレスREF_ADDRを第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2と比較することができる(S930)。実施形態により、リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1との比較(S920)及びリフレッシュローアドレスREF_ADDRと第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2との比較(S930)は、実質的に同時に実行することができる。
リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1が一致せず(S920:いいえ)、リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2とが一致しない場合(S930:いいえ)、リフレッシュローアドレスREF_ADDRに対応するメモリセルローがリフレッシュできる(S940)。
リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1が一致する場合(S920:はい)、ストロングセルフラグSTR_FLAGによって第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1に対応する第1ストロングセルローまたは、ウィークセルローアドレスWEAK_ADDRに対応するウィークセルローが選択的にリフレッシュできる(S925、S940、S950)。例えば、ストロングセルフラグSTR_FLAGが第1ロジックレベル(例えば、ロジックハイレベル)を有する場合(S925:いいえ)、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1に対応する第1ストロングセルローがリフレッシュされ(S940)、ストロングセルフラグSTR_FLAGが第2ロジックレベル(例えば、ロジックローレベル)を有する場合(S925:はい)、ウィークセルローアドレスWEAK_ADDRに対応するウィークセルローがリフレッシュできる(S950)。
また、リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2とが一致する場合(S930:はい)、ストロングセルフラグSTR_FLAGによって第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2に対応する第2ストロングセルローまたは、ウィークセルローアドレスWEAK_ADDRに対応するウィークセルローが選択的にリフレッシュできる(S935、S940、S950)。例えば、ストロングセルフラグSTR_FLAGが第2ロジックレベルを有する場合(S935:いいえ)、第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2に対応する第2ストロングセルローがリフレッシュされ(S940)、ストロングセルフラグSTR_FLAGが第1ロジックレベルを有する場合(S935:はい)、ウィークセルローアドレスWEAK_ADDRに対応するウィークセルローがリフレッシュできる(S950)。
各メモリセルローがリフレッシュされるごとにリフレッシュローアドレスREF_ADDRは1ずつ増加することができ(S970)、リフレッシュローアドレスREF_ADDRが最大ローアドレスMAX_ADDRより大きくなれば(S980:はい)、リフレッシュローアドレスREF_ADDRが再び初期化され、ストロングセルフラグSTR_FLAGのロジックレベルが反転することができる(S985)。これに従って、ストロングセルフラグSTR_FLAGは、リフレッシュ周期ごとに反転するロジックレベルを有することができる。
上述した通り、本発明のまた他の実施形態に係る揮発性メモリ装置のリフレッシュ方法において、ウィークセルローアドレスWEAK_ADDRに対応するウィークセルロー、ストロングセルフラグSTR_FLAGが第1ロジックレベルを有する時、第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2に対応する第2ストロングセルローの代わりにリフレッシュされ、ストロングセルフラグSTR_FLAGが第2ロジックレベルを有する時、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1に対応する第1ストロングセルローの代わりにリフレッシュできる。これに従って、リフレッシュ電流及びリフレッシュ消費電力の増加なしでウィークセルローのリフレッシュ周期が減少することができる。
図20は本発明のまた他の実施形態に係る図19のリフレッシュ方法により実行されるウィークセルロー、第1ストロングセルロー及び第2ストロングセルローのリフレッシュの一例を説明するためのタイミング図である。
図20を参照すれば、ウィークセルローは、リフレッシュ周期(RP)ごとに2回ずつリフレッシュできる。例えば、奇数番目リフレッシュ周期で、ウィークセルローに対するアドレスが生成される時、ウィークセルローに対するリフレッシュ910が実行され、また、第1ストロングセルローに対するアドレスが生成される時、第1ストロングセルローに対するリフレッシュ920の代わりにウィークセルローに対するリフレッシュ915をさらに実行することができる。また、偶数番目リフレッシュ周期で、ウィークセルローに対するアドレスが生成される時、ウィークセルローに対するリフレッシュ910が実行され、また、第2ストロングセルローに対するアドレスが生成される時、第2ストロングセルローに対するリフレッシュ935の代わりにウィークセルローに対するリフレッシュ916をさらに実行することができる。一方、ウィークセルローから所定の間隔以上離隔されたメモリセルローを第1ストロングセルロー及び第2ストロングセルローに設定することによって、ウィークセルローの最小保持時間が経過する前にウィークセルローにリフレッシュが実行するようにすることができる。例えば、ウィークセルローに対するアドレスの最上位ビットを反転させたアドレスに対応するメモリセルローに実質的に隣接したメモリセルローを第1ストロングセルロー及び第2ストロングセルローに設定する場合、ウィークセルローのリフレッシュ周期は、標準で定義されたリフレッシュ周期(RP)の約半分に対応することができる。
第1ストロングセルロー及び第2ストロングセルローの各々はリフレッシュ周期(RP)の2倍に対応する周期(2RP)でリフレッシュできる。例えば、奇数番目リフレッシュ周期ごとに第2ストロングセルローに対するリフレッシュ930が実行されることによって、第2ストロングセルローはリフレッシュ周期(RP)の2倍に対応する周期(2RP)でリフレッシュされ、偶数番目リフレッシュ周期ごとに第1ストロングセルローに対するリフレッシュ925を実行することによってリフレッシュされることにより、第1ストロングセルローはリフレッシュ周期(RP)の2倍に対応する周期(2RP)でリフレッシュできる。即ち、第1ストロングセルロー及び第2ストロングセルローの各々は2回のリフレッシュ周期(RP)ごとに1回ずつリフレッシュできる。
図21は図19のリフレッシュ方法を実行するための本発明のまた他の実施形態に係るリフレッシュアドレス生成器を示す図である。図21には、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1がウィークセルローアドレスWEAK_ADDRの最上位ビットMSBを反転させたアドレスに決定され、第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2が第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1の最下位ビットLSBを反転させたアドレスに決定された場合の図19のリフレッシュ方法を実行するリフレッシュアドレス生成器400eの一例を図示している。
図21を参照すれば、リフレッシュアドレス生成器400eはアドレス保存部410e、リフレッシュカウンタ430e、比較部450e、及びアドレス変換部470eを含む。図21のリフレッシュアドレス生成器400eは、ロジックゲート462e、463e、473eをさらに含むこと以外に、図9のリフレッシュアドレス生成器400aと実質的に類似させることができる。
アドレス保存部410eは第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1を保存する第1保存領域411eを含むことができる。一方、図21には、1つのウィークセルローアドレスWEAK_ADDRと関連した第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1を保存するアドレス保存部410eが図示されているが、アドレス保存部410eは1つ以上のウィークセルローアドレスと各々関連した1つ以上の第1ストロングセルローアドレスを保存することができる。リフレッシュカウンタ430eは、カウンティング動作を実行してリフレッシュローアドレスREF_ADDR及びストロングセルフラグSTR_FLAGを生成することができる。
比較部450eは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1とを比較した結果及びストロングセルフラグSTR_FLAGに基づいて第1マッチ信号MATCH1を生成し、リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2とを比較した結果及びストロングセルフラグSTR_FLAGに基づいて第2マッチ信号MATCH2を生成することができる。比較部450eは複数の比較器451e、452e、453e、及び、複数のロジックゲート461e、462e、463e、464e、465e、466eを含むことができる。
複数の比較器451e、452e、453eは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1とを比較することができる。第1ANDゲート461eは、複数の比較器451e、452e、453eの出力信号にAND演算を実行することができる。第1インバータ462eはストロングセルフラグSTR_FLAGを反転させることができる。第2ANDゲート463eは、第1ANDゲート461eの出力信号及びストロングセルフラグSTR_FLAGの反転信号にAND演算を実行して第1マッチ信号MATCH1を生成することができる。これに従って、第1マッチ信号MATCH1は、リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1とが一致し、ストロングセルフラグSTR_FLAGがロジックローレベルを有する時、ロジックハイレベルを有することができる。
第2インバータ464eは、第1比較器451eの出力信号を反転させることができる。第3ANDゲート465eは、第2〜第N比較器452e、453eの出力信号及び第2インバータ464eの出力信号にAND演算を実行することができる。第3ANDゲート465eは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRが第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1と最下位ビットLSBだけが違う時、即ち、リフレッシュローアドレスREF_ADDRが第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2である時、ロジックハイレベルの出力信号を生成することができる。第4ANDゲート466eは、第3ANDゲート465eの出力信号及びストロングセルフラグSTR_FLAGにAND演算を実行して第2マッチ信号MATCH2を生成することができる。これに従って、第2マッチ信号MATCH2は、リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2とが一致し、ストロングセルフラグSTR_FLAGがロジックハイレベルを有する時、ロジックハイレベルを有することができる。
一方、図21には、リフレッシュローアドレスREF_ADDRを1つのウィークセルローアドレスWEAK_ADDRと関連した第1及び第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1、STR_ADDR_2と比較するための複数の比較器451e、452e、453e、及び、複数のロジックゲート461e、462e、463e、464e、465e、466eの1つの集合を含む比較部450eが図示されているが、比較部450eはリフレッシュローアドレスREF_ADDRを1つ以上のウィークセルローアドレスと関連した1つ以上の第1ストロングセルローアドレス及び1つ以上の第2ストロングセルローアドレスと比較するための比較器及びロジックゲートの1つ以上の集合を含むことができる。
アドレス変更部470eは、第1マッチ信号MATCH1がロジックハイレベルを有する時、リフレッシュローアドレスREF_ADDRの第NビットRANを反転させて変更されたリフレッシュローアドレスCREF_ADDRとしてウィークセルローアドレスWEAK_ADDRを出力し、第2マッチ信号MATCH2がロジックハイレベルを有する時、リフレッシュローアドレスREF_ADDRの第1ビットRA1及び第NビットRANを反転させて変更されたリフレッシュローアドレスCREF_ADDRとしてウィークセルローアドレスWEAK_ADDRを出力することができる。
アドレス変更部470eは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRの第1ビットRA1を変更するための第1インバータ471e及び第1マルチプレクサ472eを含み、リフレッシュローアドレスREF_ADDRの第NビットRANを変更するためのORゲート473e、第2インバータ474e、及び第2マルチプレクサ475eを含むことができる。第1インバータ471e及び第1マルチプレクサ472eは、第2マッチ信号MATCH2に応答して変更されたリフレッシュローアドレスCREF_ADDRの第1ビットCRA1としてリフレッシュローアドレスREF_ADDRの第1ビットRA1を反転させて出力することができる。ORゲート473e、第2インバータ474e及び第2マルチプレクサ475eは、第1マッチ信号MATCH1、または、第2マッチ信号MATCH2に応答して変更されたリフレッシュローアドレスCREF_ADDRの第NビットCRANとしてリフレッシュローアドレスREF_ADDRの第NビットRANを反転させて出力することができる。また、アドレス変更部470eは、リフレッシュローアドレスCREF_ADDRの第2〜第(N−1)ビットRA2、RA(N−1)を遅延させるためのインバータ481e、482e、483e、484eをさらに含むことができる。
上述した通り、リフレッシュアドレス生成器400eは、毎リフレッシュ周期で第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1、または、第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2のうち、いずれか1つの代わりにウィークセルローアドレスWEAK_ADDRを出力することができる。これに従って、本発明のまた他の実施形態に係るリフレッシュアドレス生成器400dは、第1ストロングセルロー、または、第2ストロングセルローの代わりにウィークセルローがリフレッシュされるようにすることによって、リフレッシュ電流及びリフレッシュ消費電力の増加なしでウィークセルローのリフレッシュ周期を減少させることができる。
図22は本発明のまた他の実施形態に係るウィークセルロー、第1ストロングセルロー及び第2ストロングセルローを含むメモリセルアレイの例を示す図である。図22はメモリセルアレイに含まれた各バンクアレイ600fを図示する。
図22を参照すれば、任意のメモリセルローがウィークセルロー610fに判定されてウィークセルロー610fに対するウィークセルローアドレスWEAK_ADDRが決定されることができる。
第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1は、第1ストロングセルロー620fがウィークセルロー610fから第1所定の間隔ITV1ほど離隔されるように選択され、第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2は、第2ストロングセルロー630fがウィークセルロー610fから第2所定の間隔ITV2だけ離隔されるように選択することができる。第1所定の間隔ITV1及び第2所定の間隔ITV2は、ウィークセルロー610fの最小保持時間によって決定することができる。例えば、バンクアレイ600fがN個のメモリセルローを有し、ウィークセルロー610fの最小保持時間がリフレッシュ周期(RP)の3/4に相当する場合、第1ストロングセルロー620f及び第2ストロングセルロー630fの各々は、ウィークセルロー610fから両方向にN/4個のメモリセルローに対応する間隔以上に離隔できるように選択することができる。第1ストロングセルロー620f及び第2ストロングセルロー630fの各々が、ウィークセルロー610fからN/3つのメモリセルローに対応する間隔だけ離隔された場合、ウィークセルロー610fに対するリフレッシュは、リフレッシュ周期(RP)の1/3に相当する第1及び第2時間間隔、及び、リフレッシュ周期(RP)の2/3に相当する第3及び第4時間間隔を有することができる。即ち、ウィークセルロー610fに対するリフレッシュの間の最大時間間隔がリフレッシュ周期(RP)の2/3に相当するので、最大時間間隔はウィークセルロー610fの最小保持時間のリフレッシュ周期(RP)の3/4より短いこともある。 このように、第1ストロングセルロー620f及び第2ストロングセルロー630fの各々がウィークセルロー610fから所定の間隔ITV1、ITV2だけ離隔されるように選択する場合、ウィークセルロー610fは最小保持時間が経過する前に繰り返してリフレッシュできる。
図23は図19のリフレッシュ方法を実行するための本発明のまた他の実施形態に係るリフレッシュアドレス生成器を示す図である。図23には、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1及び第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2が、任意のローアドレスに決定された場合の図19のリフレッシュ方法を実行するリフレッシュアドレス生成器400fの一例が図示されている。
図23を参照すれば、リフレッシュアドレス生成器400fはアドレス保存部410f、リフレッシュカウンタ430f、比較部450f及びアドレス変換部470fを含む。
アドレス保存部410fは、ウィークセルローアドレスWEAK_ADDRを保存する第1保存領域411f、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1を保存する第2保存領域412f、及び、第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2を保存する第3保存領域413fを含むことができる。一方、図23には、1つのウィークセルローアドレスWEAK_ADDR、1つの第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1、及び1つの第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2を保存するアドレス保存部410fが図示されているが、アドレス保存部410fは、1つ以上のウィークセルローアドレス、1つ以上の第1ストロングセルローアドレス、及び1つ以上の第2ストロングセルローアドレスを保存することができる。リフレッシュカウンタ430fは、カウンティング動作を実行してリフレッシュローアドレスREF_ADDR及びストロングセルフラグSTR_FLAGを生成することができる。
比較部450fは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1を比較した結果、及び、ストロングセルフラグSTR_FLAGに基づいて第1マッチ信号MATCH1を生成し、リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2を比較した結果、及び、ストロングセルフラグSTR_FLAGに基づいて第2マッチ信号MATCH2を生成することができる。比較部450fは、複数の第1比較器451f、452f、複数の第2比較器453f、454f、及び複数のロジックゲート461f、462f、463f、464f、465fを含むことができる。
複数の第1比較器451f、452f、第1ANDゲート461f、インバータ462f、及び第2ANDゲート463fは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1とが一致し、ストロングセルフラグSTR_FLAGがロジックローレベルを有する時、ロジックハイレベルの第1マッチ信号MATCH1を生成することができる。また、複数の第2比較器453f、454f、第3ANDゲート464f、及び第4ANDゲート465fは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2とが一致し、ストロングセルフラグSTR_FLAGがロジックハイレベルを有する時、ロジックハイレベルの第2マッチ信号MATCH2を生成することができる。
一方、図23には、リフレッシュローアドレスREF_ADDRを1つのウィークセルローアドレスWEAK_ADDRと関連した第1及び第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1、STR_ADDR_2と比較するための複数の第1比較器451f、452f、複数の第2比較器453f、454f、及び複数のロジックゲート461f、462f、463f、464f、465fの1つの集合を含む比較部450fが図示されているが、比較部450fは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRを1つ以上のウィークセルローアドレスと関連した1つ以上の第1ストロングセルローアドレス、及び、1つ以上の第2ストロングセルローアドレスと比較するための第1比較器、第2比較器及びロジックゲートの1つ以上の集合を含むことができる。
アドレス変更部470fは、第1マッチ信号MATCH1、または、第2マッチ信号MATCH2がロジックハイレベルを有する時、変更されたリフレッシュローアドレスCREF_ADDRとしてウィークセルローアドレスWEAK_ADDRを出力することができる。アドレス変更部470fは、ORゲート471f、及び、複数のマルチプレクサ472f、473f、474f、475fを含むことができる。ORゲート471fは、第1マッチ信号MATCH1及び第2マッチ信号MATCH2にOR演算を実行して選択信号SELを生成することができる。複数のマルチプレクサ472f、473f、474f、475fは、リフレッシュカウンタ430fからリフレッシュローアドレスREF_ADDRを受信し、アドレス保存部410fからウィークセルローアドレスWEAK_ADDRを受信することができる。複数のマルチプレクサ472f、473f、474f、475fは、選択信号SELに応答して変更されたリフレッシュローアドレスCREF_ADDRとしてリフレッシュローアドレスREF_ADDR、または、ウィークセルローアドレスWEAK_ADDRを選択的に出力することができる。
上述した通り、リフレッシュアドレス生成器400fは、毎リフレッシュ周期で第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1、または、第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2のうちの1つの代わりにウィークセルローアドレスWEAK_ADDRを出力することができる。これに従って、本発明のまた他の実施形態に係るリフレッシュアドレス生成器400fは、第1ストロングセルロー、または、第2ストロングセルローの代わりにウィークセルローがリフレッシュされるようにすることによって、リフレッシュ電流及びリフレッシュ消費電力の増加なしでウィークセルローのリフレッシュ周期を減少させることができる。
図24は本発明のまた他の実施形態に係るリフレッシュレバレッジングを利用する揮発性メモリ装置のリフレッシュ方法を示すフローチャートである。また他の実施形態に係るリフレッシュ方法を実行する揮発性メモリ装置において、ウィークセルローアドレスWEAK_ADDR、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1、及び第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2が、メモリセルアレイのバンク別に設定されることができ、リフレッシュレバレッジングが、バンク別に実行することができる。
図24を参照すれば、リフレッシュ動作が開始されると、リフレッシュカウンタを初期化することができる(S1010)。例えば、リフレッシュローアドレスREF_ADDRが「0」に初期化され、ストロングセルフラグSTR_FLAGがロジックローレベルに初期化することができる。
リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1とが比較され(S1020)、リフレッシュローアドレスREF_ADDRが第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2と比較することができる(S1025)。実施形態により、リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1の比較(S1020)、及び、リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2の比較(S1025)は、実質的に同時に実行することができる。
リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1とが一致せず(S1020:いいえ)、リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2とが一致しない場合(S1025:いいえ)、すべてのバンクでリフレッシュローアドレスREF_ADDRに対応するメモリセルローがリフレッシュできる(S1040)。
リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1とが一致する場合(S1020:はい)、バンク情報に対応する少なくとも1つのバンクでウィークセルローアドレスWEAK_ADDRに対応するウィークセルローがリフレッシュされ、他のバンクでリフレッシュローアドレスREF_ADDRに対応するメモリセルローがリフレッシュできる(S1050)。一実施形態において、バンク情報はアドレス保存部に保存されたバンクアドレスを含むことができる。他の実施形態において、バンク情報は、アドレス保存部に保存されたそれぞれのバンクに対するバンクフラグを含むことができる。
リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2とが一致し(S1025:はい)、ストロングセルフラグSTR_FLAGがロジックローレベルを有する場合(S1030:はい)、すべてのバンクでリフレッシュローアドレスREF_ADDRに対応するメモリセルローがリフレッシュできる(S1040)。
各メモリセルローがリフレッシュされるごとに、リフレッシュローアドレスREF_ADDRは、1ずつ増加することができ(S1070)、リフレッシュローアドレスREF_ADDRが最大ローアドレスMAX_ADDRより大きくなると(S1080:はい)、リフレッシュローアドレスREF_ADDRが、再び初期化され、ストロングセルフラグSTR_FLAGのロジックレベルが反転することができる(S1085)。これに従って、ストロングセルフラグSTR_FLAGは、リフレッシュ周期ごとに反転するロジックレベルを有することができる。
リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2とが一致し(S1025:はい)、ストロングセルフラグSTR_FLAGがロジックハイレベルを有する場合(S1030:いいえ)、少なくとも1つのバンクで第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1に対応する第1ストロングセルローがリフレッシュされ、他のバンクでリフレッシュローアドレスREF_ADDRに対応するメモリセルローがリフレッシュできる(S1060)。
上述した通り、本発明のまた他の実施形態に係る揮発性メモリ装置のリフレッシュ方法において、バンク情報に対応する少なくとも1つのバンクでのみ、第1ストロングセルローの代わりにウィークセルローがリフレッシュできる。
図25は図24のリフレッシュ方法を実行するための本発明のまた他の実施形態に係るリフレッシュアドレス生成器を示す図である。図24には、バンクアドレスBANK_ADDRを利用してメモリバンク別にリフレッシュレバレッジングが実行され、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1が、ウィークセルローアドレスWEAK_ADDRの最上位ビットMSBを反転させたアドレスに決定され、第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2が第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1の最下位ビットLSBを反転させたアドレスに決定された場合の図24のリフレッシュ方法を実行するリフレッシュアドレス生成器400gの一例が図示されている。
図25を参照すれば、リフレッシュアドレス生成器400gはアドレス保存部410g、リフレッシュカウンタ430g、比較部450g、及びアドレス変換部470gを含む。
アドレス保存部410gは、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1を保存する第1保存領域411g、及びバンク情報としてバンクアドレスBANK_ADDRを保存する第2保存領域412gを含むことができる。一方、図25には、1つのウィークセルローアドレスWEAK_ADDRと関連した第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1及びバンクアドレスBANK_ADDRを保存するアドレス保存部410gが図示されているが、アドレス保存部410gは、1つ以上のウィークセルローアドレスと各々関連した1つ以上の第1ストロングセルローアドレス及び1つ以上のバンクアドレスを保存することができる。リフレッシュカウンタ430gは、カウンティング動作を実行してリフレッシュローアドレスREF_ADDR及びストロングセルフラグSTR_FLAGを生成することができる。
比較部450gは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1とを比較した結果に基づいて第1マッチ信号MATCH1を生成し、リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2とを比較した結果、及び、ストロングセルフラグSTR_FLAGに基づいて第2マッチ信号MATCH2を生成することができる。また、比較部450gは、第1マッチ信号MATCH1及び第2マッチ信号MATCH2をバンク365a、365hのうち、バンクアドレスBANK_ADDRに対応するバンクに提供することができる。
比較部450gは、複数の比較器451g、452g、453g、複数のロジックゲート461g、462g、463g、464g、第1デマルチプレクサ466g、及び第2デマルチプレクサ467gを含むことができる。複数の比較器451g、452g、453g、及び、第1ANDゲート461gは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1とが一致する時、ロジックハイレベルの第1マッチ信号MATCH1を生成することができる。また、複数の比較器451g、452g、453g、インバータ462g、第2ANDゲート463g、及び第3ANDゲート464gは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2とが一致し、ストロングセルフラグSTR_FLAGがロジックハイレベルを有する時、ロジックハイレベルの第2マッチ信号MATCH2を生成することができる。第1デマルチプレクサ466gは、バンクアドレスBANK_ADDRに応答して第1マッチ信号MATCH1を複数の第1バンクマッチ信号MATCH1_A、MATCH1_Hのうち、バンクアドレスBANK_ADDRに対応する第1バンクマッチ信号として出力でき、第2デマルチプレクサ467gは、バンクアドレスBANK_ADDRに応答して第2マッチ信号MATCH2を複数の第2バンクマッチ信号MATCH2_A、MATCH2_Hのうち、バンクアドレスBANK_ADDRに対応する第2バンクマッチ信号として出力することができる。これに従って、複数のバンク365a、365hのうち、バンクアドレスBANK_ADDRに対応するバンクに第1マッチ信号MATCH1及び第2マッチ信号MATCH2を印加することができる。
一方、図25には、リフレッシュローアドレスREF_ADDRを1つのウィークセルローアドレスWEAK_ADDRと関連した第1及び第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1、STR_ADDR_2と比較するための複数の比較器451g、452g、453g、複数のロジックゲート461g、462g、463g、464g、第1デマルチプレクサ466g、及び第2デマルチプレクサ467gの1つの集合を含む比較部450gが図示されているが、比較部450gは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRを1つ以上のウィークセルローアドレスと関連した1つ以上の第1ストロングセルローアドレス及び1つ以上の第2ストロングセルローアドレスと比較するための比較器、ロジックゲート及びデマルチプレクサの1つ以上の集合を含むことができる。
リフレッシュカウンタ430gから生成されたリフレッシュローアドレスREF_ADDRは、図4のローアドレスマルチプレクサ340を通じてそれぞれのバンク365a、365hに印加することができる。これに従って、バンク365a、365hは、リフレッシュローアドレスREF_ADDR、第1バンクマッチ信号MATCH1_A、MATCH1_H、及び第2バンクマッチ信号MATCH2_A、MATCH2_Hを各々受信することができる。
アドレス変更部470gは、バンク365a、365hに位置することができる。即ち、アドレス変更部470gはそれぞれのバンク365a、365hに位置した第1インバータ471g、481g、第1マルチプレクサ472g、482g、第2インバータ473g、483g、及び第2マルチプレクサ474g、484gを含むことができる。第1インバータ471g、481gは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRの第1ビットRA1を反転させ、第1マルチプレクサ472g、482gは、第1バンクマッチ信号MATCH1_A、MATCH1_Hに応答して変更されたリフレッシュローアドレスCREF_ADDRの第1ビットCRA1_A、CRA1_HとしてリフレッシュローアドレスREF_ADDRの第1ビットRA1、または、これの反転ビットを選択的に出力することができる。また、第2インバータ473g、483gは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRの第NビットRANを反転させ、第2マルチプレクサ474g、484gは、第2バンクマッチ信号MATCH2_A、MATCH2_Hに応答して変更されたリフレッシュローアドレスCREF_ADDRの第NビットCRAN_A、CRAN_HとしてリフレッシュローアドレスREF_ADDRの第NビットRAN、または、これの反転ビットを選択的に出力することができる。一方、第1バンクマッチ信号MATCH1_A、MATCH1_Hのうち、バンクアドレスBANK_ADDRに対応するバンクに対する第1バンクマッチ信号のみが活性化し、第2バンクマッチ信号MATCH2_A、MATCH2_Hのうち、バンクアドレスBANK_ADDRに対応するバンクに対する第2バンクマッチ信号だけが活性化するので、アドレス変更部470gは、バンクアドレスBANK_ADDRに対応するバンクだけでリフレッシュローアドレスREF_ADDRを変更することができる。一方、アドレス変更部470gから出力される変更されたリフレッシュローアドレスCREF_ADDRは、図4のバンクローデコーダ360a、360b、360c、360dに印加することができる。
上述した通り、リフレッシュアドレス生成器400gは、バンクアドレスBANK_ADDRを利用してバンクアドレスBANK_ADDRに対応するバンクだけで第1ストロングセルローの代わりにウィークセルローがリフレッシュされるようにすることができる。これに従って、リフレッシュレバレッジングがバンク別に実行され、リフレッシュ電流及びリフレッシュ消費電力の増加なしでウィークセルローのリフレッシュ周期を減少させることができる。
図26は図24のリフレッシュ方法を実行するための本発明のまた他の実施形態に係るリフレッシュアドレス生成器を示す図である。図26には、バンクフラグBANKA_FLAG、BANKH_FLAGを利用して、メモリバンク別にリフレッシュレバレッジングが実行され、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1がウィークセルローアドレスWEAK_ADDRの最上位ビットMSBを反転させたアドレスに決定され、第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2が第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1の最下位ビットLSBを反転させたアドレスに決定された場合の図24のリフレッシュ方法を実行するリフレッシュアドレス生成器400hの一例が図示されている。
図26を参照すれば、リフレッシュアドレス生成器400hは、アドレス保存部410h、リフレッシュカウンタ430h、比較部450h、及びアドレス変換部470hを含む。図26のリフレッシュアドレス生成器400hは、バンクフラグBANKA_FLAG、BANKH_FLAGを利用すること以外に、図25のリフレッシュアドレス生成器400gと実質的に類似させることができる。
アドレス保存部410hは、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1を保存する第1保存領域411h、及びバンク情報としてバンクフラグBANKA_FLAG、BANKH_FLAGを保存する第2保存領域412hを含むことができる。バンクフラグBANKA_FLAG、BANKH_FLAGの各々は、対応するバンク365a、365hでリフレッシュレバレッジングが実行されるべきか否かを示す1ビットのデータとすることができる。一方、図26には、1つのウィークセルローアドレスWEAK_ADDRと関連した第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1及びバンクフラグBANKA_FLAG、BANKH_FLAGを保存するアドレス保存部410hが図示されているが、アドレス保存部410hは、1つ以上のウィークセルローアドレスと各々関連した1つ以上の第1ストロングセルローアドレス及びバンクフラグを保存することができる。リフレッシュカウンタ430hは、カウンティング動作を実行してリフレッシュローアドレスREF_ADDR及びストロングセルフラグSTR_FLAGを生成することができる。
比較部450hは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1とを比較した結果に基づいて第1マッチ信号MATCH1を生成し、リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2とを比較した結果、及び、ストロングセルフラグSTR_FLAGに基づいて第2マッチ信号MATCH2を生成することができる。また、比較部450hは、バンクフラグBANKA_FLAG、BANKH_FLAGにより第1マッチ信号MATCH1及び第2マッチ信号MATCH2をバンク365a、365hに選択的に提供することができる。
比較部450hは、複数の比較器451h、452h、453h、及び、複数のロジックゲート461h、462h、463h、464h、465h、466h、467h、468hを含むことができる。複数の比較器451h、452h、453h、及び、第1ANDゲート461hは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRと、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1とが一致する時、ロジックハイレベルの第1マッチ信号MATCH1を生成することができる。また、複数の比較器451h、452h、453h、インバータ462h、第2ANDゲート463h、及び第3ANDゲート464hは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2とが一致し、ストロングセルフラグSTR_FLAGがロジックハイレベルを有する時、ロジックハイレベルの第2マッチ信号MATCH2を生成することができる。第4ANDゲート465h、467hは、第1マッチ信号MATCH1とバンクフラグBANKA_FLAG、BANKH_FLAGにAND演算を実行して複数の第1バンクマッチ信号MATCH1_A、MATCH1_Hを各々生成することができる。また、第5ANDゲート466h、468hは、第2マッチ信号MATCH2とバンクフラグBANKA_FLAG、BANKH_FLAGに、AND演算を実行して複数の第2バンクマッチ信号MATCH2_A、MATCH2_Hを各々生成することができる。これに従って、複数のバンク365a、365hのうち、対応するバンクフラグがロジックハイレベルを有する少なくとも1つのバンクに第1マッチ信号MATCH1及び第2マッチ信号MATCH2とを印加することができる。
一方、図26には、リフレッシュローアドレスREF_ADDRを1つのウィークセルローアドレスWEAK_ADDRと関連した第1及び第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1、STR_ADDR_2と比較するための複数の比較器451h、452h、453h、及び、複数のロジックゲート461h、462h、463h、464h、465h、466h、467h、468hの1つの集合を含む比較部450hが、図示されているが、比較部450hは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRを1つ以上のウィークセルローアドレスと関連した1つ以上の第1ストロングセルローアドレス、並びに、1つ以上の第2ストロングセルローアドレスと比較するための比較器及びロジックゲートの1つ以上の集合を含むことができる。
リフレッシュカウンタ430hから生成されたリフレッシュローアドレスREF_ADDRは、図4のローアドレスマルチプレクサ340を通じてそれぞれのバンク365a、365hに印加されることができる。これに従って、バンク365a、365hは、リフレッシュローアドレスREF_ADDR、第1バンクマッチ信号MATCH1_A、MATCH1_H、及び、第2バンクマッチ信号MATCH2_A、MATCH2_Hを各々受信することができる。
第1バンクマッチ信号MATCH1_A、MATCH1_Hのうち、対応するバンクフラグがロジックハイレベルを有する少なくとも1つのバンクに対する第1バンクマッチ信号だけが活性化し、第2バンクマッチ信号MATCH2_A、MATCH2_Hのうち、少なくとも1つのバンクに対する第2バンクマッチ信号だけが活性化するので、アドレス変更部470hは、バンクフラグBANKA_FLAG、BANKH_FLAGによって、リフレッシュレバレッジングが実行されることと設定された少なくとも1つのバンクでのみリフレッシュローアドレスREF_ADDRを変更することができる。アドレス変更部470hは、バンク365a、365hに位置することができる。即ち、アドレス変更部470hは、それぞれのバンク365a、365hに位置した第1インバータ471h、481h、第1マルチプレクサ472h、482h、第2インバータ473h、483h、及び第2マルチプレクサ474h、484hを含むことができる。一方、アドレス変更部470hから出力される変更されたリフレッシュローアドレスCREF_ADDRは、図4のバンクローデコーダ360a、360b、360c、360dに印加することができる。
上述した通り、リフレッシュアドレス生成器400hは、バンクフラグBANKA_FLAG、BANKH_FLAGを利用してバンクフラグBANKA_FLAG、BANKH_FLAGによってリフレッシュレバレッジングが実行されることと設定された少なくとも1つのバンクでのみ第1ストロングセルローの代わりにウィークセルローがリフレッシュされるようにすることができる。これに従って、リフレッシュレバレッジングが、バンク別に実行され、リフレッシュ電流及びリフレッシュ消費電力の増加なしでウィークセルローのリフレッシュ周期を減少させることができる。
図27は本発明のまた他の実施形態に係るリフレッシュレバレッジングを利用する揮発性メモリ装置のリフレッシュ方法を示すフローチャートである。また他の実施形態に係るリフレッシュ方法を実行する揮発性メモリ装置において、各ウィークセルローの最小保持時間は、「リフレッシュ周期(RP)/(L−1)」より短く、「リフレッシュ周期(RP)/L」より長いか、または、同じであることもある(Lは2以上の自然数)。また、各ウィークセルローアドレスWEAK_ADDRに対して、(L−1)個の第1ストロングセルローアドレスが設定され、少なくとも1つの第2ストロングセルローアドレスを設定することができる。
図27を参照すれば、リフレッシュ動作が開始されると、リフレッシュカウンタを初期化することができる(S1110)。例えば、リフレッシュローアドレスREF_ADDRが「0」に初期化され、ストロングセルフラグSTR_FLAGをロジックローレベルで初期化することができる。
リフレッシュローアドレスREF_ADDRと(L−1)個の第1ストロングセルローアドレスと比較され(S1120)、リフレッシュローアドレスREF_ADDRが少なくとも1つの第2ストロングセルローアドレスと比較することができる(S1125)。実施形態により、リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第1ストロングセルローアドレスの比較(S1120)、及び、リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第2ストロングセルローアドレスの比較(S1125)は、実質的に同時に実行することができる。
リフレッシュローアドレスREF_ADDRが、(L−1)個の第1ストロングセルローアドレスと一致しないで(S1120:いいえ)、リフレッシュローアドレスREF_ADDRが少なくとも1つの第2ストロングセルローアドレスと一致しない場合(S1125:いいえ)、リフレッシュローアドレスREF_ADDRに対応するメモリセルローがリフレッシュできる(S1140)。
リフレッシュローアドレスREF_ADDRが第1ストロングセルローアドレスのうち、いずれか1つと一致する場合(S1120:はい)、ウィークセルローアドレスWEAK_ADDRに対応するウィークセルローがリフレッシュできる(S1150)。
リフレッシュローアドレスREF_ADDRが第2ストロングセルローアドレスと一致し(S1125:はい)、ストロングセルフラグSTR_FLAGがロジックローレベルを有する場合(S1130:はい)、リフレッシュローアドレスREF_ADDRに対応するメモリセルローがリフレッシュできる(S1140)。
各メモリセルローがリフレッシュされる時ごとに、リフレッシュローアドレスREF_ADDRは1ずつ増加することができ(S1170)、リフレッシュローアドレスREF_ADDRが最大ローアドレスMAX_ADDRより大きくなると(S1180:はい)、リフレッシュローアドレスREF_ADDRが再び初期化され、ストロングセルフラグSTR_FLAGのロジックレベルを反転することができる(S1185)。これに従って、ストロングセルフラグSTR_FLAGはリフレッシュ周期ごとに反転するロジックレベルを有することができる。
リフレッシュローアドレスREF_ADDRが第2ストロングセルローアドレスと一致して(S1125:はい)、ストロングセルフラグSTR_FLAGがロジックハイレベルを有する場合(S1130:いいえ)、第1ストロングセルローアドレスのうち、いずれか1つに対応する第1ストロングセルローがリフレッシュできる(S1160)。
上述した通り、本発明のまた他の実施形態に係る揮発性メモリ装置のリフレッシュ方法において、複数の第1ストロングセルローの代わりにウィークセルローがリフレッシュできる。これに従って、ウィークセルローの最小保持時間がリフレッシュ周期(RP)の半分より短くても、ウィークセルローの最小保持時間が経過する前に、リフレッシュが繰り返して実行することができ、ウィークセルローがリダンダンシセルローに代替されないこともある。また、リフレッシュ電流及びリフレッシュ消費電力の増加なしでウィークセルローのリフレッシュ周期を減少させることができる。
図28は本発明のまた他の実施形態に係る図27のリフレッシュ方法により実行されるウィークセルロー、第1ストロングセルロー及び第2ストロングセルローのリフレッシュの一例を説明するためのタイミング図である。図28には、ウィークセルローが3つの第1ストロングセルローの代わりにリフレッシュされ、3つの第1ストロングセルローと3つの第2ストロングセルローがリフレッシュ周期ごとに交互にリフレッシュされる例が図示されている。
図28を参照すれば、ウィークセルローは、毎リフレッシュ周期(RP)ごとに4回ずつリフレッシュできる。即ち、毎リフレッシュ周期(RP)ごとに、ウィークセルローに対するアドレスが生成される時、ウィークセルローに対するリフレッシュ1110が実行され、第1ストロングセルローに対するアドレスが生成される時、第1ストロングセルローに対するリフレッシュ1121、1122、1123の代わりにウィークセルローに対するリフレッシュ1111、1112、1113が実行することができる。
第1ストロングセルロー及び第2ストロングセルローの各々は、リフレッシュ周期(RP)の2倍に対応する周期でリフレッシュできる。例えば、奇数番目リフレッシュ周期ごとに第2ストロングセルローに対するリフレッシュ1131、1132、1133が実行され、偶数番目リフレッシュ周期ごとに第2ストロングセルローに対するリフレッシュ1136、1137、1138の代わりに第1ストロングセルローに対するリフレッシュ1126、1127、1128を実行することができる。
図29は本発明のまた他の実施形態に係るウィークセルロー、第1ストロングセルロー及び第2ストロングセルローを含むメモリセルアレイの例を示す図である。図29はメモリセルアレイに含まれた各バンクアレイ600iを図示する。図29にはウィークセルロー610iの最小保持時間が「リフレッシュ周期(RP)/3」より短く、「リフレッシュ周期(RP)/4」より長いか、または、同じであり、ウィークセルロー610iに対して3つの第1ストロングセル621i、622i、623i、及び、3つの第2ストロングセル631i、632i、633iが設定される例が図示されている。
図29を参照すれば、任意のメモリセルローがウィークセルロー610iと判定されてウィークセルロー610iに対するウィークセルローアドレスWEAK_ADDRが決定されることができる。
3つの第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1_1、STR_ADDR_1_2、STR_ADDR_1_3は、ウィークセルローアドレスWEAK_ADDRの(N−1)番目ビットを反転させたアドレス、ウィークセルローアドレスWEAK_ADDRのN番目ビット(即ち、MSB)を反転させたアドレス、及びウィークセルローアドレスWEAK_ADDRのN番目ビット及び(N−1)番目ビットを反転させたアドレスと設定されることができる。このように設定された第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1_1、STR_ADDR_1_2、STR_ADDR_1_3に相応する第1ストロングセルロー621i、622i、623iの代わりにウィークセルロー610iがリフレッシュされることによって、ウィークセルロー610iは、「リフレッシュ周期(RP)/4」に対応する周期でリフレッシュできる。
第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2_1、STR_ADDR_2_2、STR_ADDR_2_3は、リフレッシュ周期(RP)の2倍より長いか、または、同じ最小保持時間を有する任意のメモリセルローに対するアドレスと設定されることができる。例えば、第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2_1、STR_ADDR_2_2、STR_ADDR_2_3は、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1_1、STR_ADDR_1_2、STR_ADDR_1_3の最下位ビットLSBを反転させたアドレスと設定されることができる。図29には、第1及び第2ストロングセルロー621i、622i、623i、631i、632i、633iが、すべてリフレッシュ周期(RP)の2倍より長いか、または、同じ最小保持時間を有する場合の例が図示されている。実施形態により、ストロングセルローがすべてリフレッシュ周期(RP)の4倍より長いか、または、同じ最小保持時間を有する場合、各ウィークセルローに対し3つの第1ストロングセルロー及び1つの第2ストロングセルローが設定されることができる。
図30は図27のリフレッシュ方法を実行するための本発明のまた他の実施形態に係るリフレッシュアドレス生成器を示す図である。図30には、第1及び第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1_1、STR_ADDR_1_2、STR_ADDR_1_3、STR_ADDR_2_1、STR_ADDR_2_2、STR_ADDR_2_3が、図29に図示したように選択された場合の図27のリフレッシュ方法を実行するリフレッシュアドレス生成器400iの一例が図示されている。
図30を参照すれば、リフレッシュアドレス生成器400iは、アドレス保存部410i、リフレッシュカウンタ430i、比較部450i及びアドレス変換部470iを含む。
アドレス保存部410iは、第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1_1、STR_ADDR_1_2、STR_ADDR_1_3のうちの1つSTR_ADDR_1_1を保存する第1保存領域411iを含むことができる。一方、図30には、1つのウィークセルローアドレスWEAK_ADDRと関連した第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1_1を保存するアドレス保存部410iが図示されているが、アドレス保存部410iは、1つ以上のウィークセルローアドレスと各々関連した1つ以上の第1ストロングセルローアドレスを保存することができる。リフレッシュカウンタ430iは、カウンティング動作を遂行してリフレッシュローアドレスREF_ADDR及びストロングセルフラグSTR_FLAGを生成することができる。
比較部450iは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1_1、STR_ADDR_1_2、STR_ADDR_1_3を比較して第1マッチ信号MATCH1_1、MATCH1_2、MATCH1_3を生成し、リフレッシュローアドレスREF_ADDRと第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2_1、STR_ADDR_2_2、STR_ADDR_2_3とを比較した結果、及び、ストロングセルフラグSTR_FLAGに基づいて第2マッチ信号MATCH2_1、MATCH2_2、MATCH2_3を生成することができる。
比較部450iは複数の比較器451i、452i、453i、454i及び複数のロジックゲート455i、456i、457i、458i、459i、460i、461i、462i、463i、464i、465i、466i、467i、468i、469iを含むことができる。複数の比較器451i、452i、453i、454i、第1インバータ458i、459i、463i、及び第1ANDゲート455i、460i、464iは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRが第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1_1、STR_ADDR_1_2、STR_ADDR_1_3のうち、いずれか1つと一致する時、第1マッチ信号MATCH1_1、MATCH1_2、MATCH1_3のうち、対応する第1マッチ信号をロジックハイレベルで活性化させることができる。また、複数の比較器451i、452i、453i、454i、第2インバータ456i、461i、465i、第2ANDゲート457i、462i、466i、及び第3ANDゲート467i、468i、469iは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRが、第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_2_1、STR_ADDR_2_2、STR_ADDR_2_3のうち、いずれか1つと一致し、ストロングセルフラグSTR_FLAGが、ロジックハイレベルを有する時、第2マッチ信号MATCH2_1、MATCH2_2、MATCH2_3のうち、対応する第2マッチ信号をロジックハイレベルに活性化させることができる。
一方、図30には、リフレッシュローアドレスREF_ADDRを1つのウィークセルローアドレスWEAK_ADDRと関連した第1及び第2ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1_1、STR_ADDR_1_2、STR_ADDR_1_3、STR_ADDR_2_1、STR_ADDR_2_2、STR_ADDR_2_3と比較するための複数の比較器451i、452i、453i、454i、及び複数のロジックゲート455i、456i、457i、458i、459i、460i、461i、462i、463i、464i、465i、466i、467i、468i、469iの1つの集合を含む比較部450iが図示されているが、比較部450iは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRを1つ以上のウィークセルローアドレスと関連した第1及び第2ストロングセルローアドレスと比較するための比較器、及び、ロジックゲートの1つの集合を含むことができる。
アドレス変更部470iは、第1マッチ信号MATCH1_1、MATCH1_2、MATCH1_3のうち、いずれか1つがロジックハイレベルを有する時、変更されたリフレッシュローアドレスCREF_ADDRとしてウィークセルローアドレスWEAK_ADDRを出力し、第2マッチ信号MATCH2_1、MATCH2_2、MATCH2_3)のうち、いずれか1つがロジックハイレベルを有する時、変更されたリフレッシュローアドレスCREF_ADDRとして第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1_1、STR_ADDR_1_2、STR_ADDR_1_3のうち、対応する1つを出力することができる。このような動作のために、アドレス変更部470iは、複数のORゲート471i、472i、473i、複数のインバータ481i、483i、485i、487i、488i、及び複数のマルチプレクサ482i、484i、486iを含むことができる。
上述した通り、リフレッシュアドレス生成器400iは、リフレッシュカウンタ430iが第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1_1、STR_ADDR_1_2、STR_ADDR_1_3のうち、いずれか1つを生成する時、ウィークセルローアドレスWEAK_ADDRを出力することができる。これに従って、ウィークセルローの最小保持時間が、リフレッシュ周期(RP)の半分より短くても、ウィークセルローの最小保持時間が経過する前にリフレッシュが繰り返して実行することができ、ウィークセルローがリダンダンシセルローに代替されないこともある。また、リフレッシュ電流及びリフレッシュ消費電力の増加なしでウィークセルローのリフレッシュ周期を減少させることができる。
図31は本発明のまた他の実施形態に係る図27のリフレッシュ方法により実行されるウィークセルロー、第1ストロングセルロー及び第2ストロングセルローのリフレッシュの他の例を説明するためのタイミング図である。図31には、ウィークセルローが3つの第1ストロングセルローの代わりにリフレッシュされ、3つの第1ストロングセルローと1つの第2ストロングセルローが4回のリフレッシュ周期ごとに各々リフレッシュされる例が図示されている。
図31を参照すれば、ウィークセルローは、リフレッシュ周期(RP)ごとに4回ずつリフレッシュできる。即ち、リフレッシュ周期(RP)ごとに、ウィークセルローに対するアドレスが生成される時、ウィークセルローに対するリフレッシュ1110が実行され、第1ストロングセルローに対するアドレスが生成される時、第1ストロングセルローに対するリフレッシュ1121、1122、1123の代わりにウィークセルローに対するリフレッシュ1111、1112、1113を実行することができる。
第1ストロングセルロー及び第2ストロングセルローの各々は、リフレッシュ周期(RP)の4倍に対応する周期でリフレッシュできる。例えば、(4I+1)回目リフレッシュ周期(Iは0以上の整数)で第2ストロングセルローに対するリフレッシュ1131が実行され、(4I+2)回目リフレッシュ周期で第2ストロングセルローに対するリフレッシュ1136の代わりに第1ストロングセルローのうち、いずれか1つに対するリフレッシュ1126が実行され、(4I+3)回目リフレッシュ周期で第2ストロングセルローに対するリフレッシュ1137の代わりに第1ストロングセルローうち、他の1つに対するリフレッシュ1127が実行され、(4I+4)回目リフレッシュ周期で第2ストロングセルローに対するリフレッシュ1138の代わりに第1ストロングセルローうち、また他の1つに対するリフレッシュ1128を実行することができる。前記例において、第1ストロングセルロー及び第2ストロングセルローが4回のリフレッシュ周期で各々リフレッシュされるようにリフレッシュカウンタとして(N+2)ビットカウンタを利用することができる。この場合、(N+2)ビットカウンタから生成されたカウンティング信号の上位2ビットが、第1ストロングセルロー、または、第2ストロングセルローのうち、いずれか1つを選択するための2ビットのストロングセルフラグとして活用することができる。一方、図31に図示されたようにリフレッシュされる第1ストロングセルロー及び第2ストロングセルローの各々は、リフレッシュ周期(RP)の4倍より長いか、または、同じ最小保持時間を有することができる。
図32は本発明のまた他の実施形態に係る図27のリフレッシュ方法がバーストリフレッシュに適用される一例を示すタイミング図である。
図32を参照すれば、本発明の実施形態に係るリフレッシュ方法はバーストリフレッシュ(Burst Refresh)に適用されることができる。例えば、メモリセルアレイに含まれたメモリセルローが4分の1ずつ連続的にリフレッシュされる。この場合、ウィークセルローに対するリフレッシュは、各連続されたリフレッシュ動作ごとに実行することができる。これに従って、バーストリフレッシュ動作が実行されても、ウィークセルローは、リフレッシュ周期(RP)の4分の1に対応する周期RP/4で実行することができる。
図33は図4の揮発性メモリ装置に含まれた本発明の他の実施形態に係るリフレッシュアドレス生成器を示すブロック図である。
図33を参照すれば、リフレッシュアドレス生成器500は、複数のアドレス保存部510_1、510_M、リフレッシュカウンタ530、複数の比較部550_1、550_M、OR演算部590、及びアドレス変換部570を含む。
複数のアドレス保存部510_1、510_Mは、複数のウィークセルローに対する複数のアドレス情報ADDR_INFO_1、ADDR_INFO_Mを各々保存することができる。実施形態により、各アドレス情報ADDR_INFO_1、ADDR_INFO_Mは、ウィークセルローアドレス、または、ウィークセルローアドレスと関連した2つ以上のストロングセルローアドレスのうち、少なくとも1つを含むか、または、ウィークセルローアドレス、及び/または、ストロングセルローアドレスに対して実行された所定の演算(例えば、XOR演算)の結果を含むことができる。実施形態により、複数のアドレス保存部510_1、510_Mは、1つの保存装置で具現するか、または、複数の保存装置で具現することができる。例えば、各保存装置は、電気的プログラマブルフューズメモリ、レーザー−プログラマブルフューズメモリ、アンチ−フューズメモリ、ワン−タイムプログラマブルメモリ、フラッシュメモリなどのような多様な種類の不揮発性メモリ装置のうち、いずれか1つでありうる。
リフレッシュカウンタ530は、カウンティング動作を実行してリフレッシュローアドレスREF_ADDRを生成することができる。リフレッシュローアドレスREF_ADDRは、Nビット(Nは2以上の自然数)を有することができる。また、リフレッシュカウンタ530は、ストロングセルローのリフレッシュを制御するためのストロングセルフラグSTR_FLAGを生成することができる。一実施形態において、リフレッシュカウンタ430は、(N+M)ビットカウンタ(Mは1以上の自然数)で具現することができる。
複数の比較部550_1、550_Mは、複数のアドレス保存部510_1、510_Mに各々連結され、リフレッシュカウンタ430から受信したリフレッシュローアドレスREF_ADDRを複数のアドレス保存部510_1、510_Mから読み出しされた複数のアドレス情報ADDR_INFO_1、ADDR_INFO_Mと各々比較することができる。複数の比較部550_1、550_Mは、比較の結果、及び/または、ストロングセルフラグSTR_FLAGに基づいて複数のマッチ信号MATCH_1、MACTH_Mを各々生成することができる。
OR演算部590は、複数の比較部550_1、550_Mから受信した複数のマッチ信号MATCH_1、MACTH_MにOR演算を実行してマッチ信号MATCHを生成することができる。
アドレス変換部570は、OR演算部590から提供されたマッチ信号MATCHに応答してリフレッシュローアドレスREF_ADDRを変更することができる。例えば、アドレス変換部570は、リフレッシュローアドレスREF_ADDRを、ウィークセルローアドレスに変更したり、または、リフレッシュローアドレスREF_ADDRを第1ストロングセルローアドレスに変更することができる。
上述した通り、本発明の他の実施形態に係るリフレッシュアドレス生成器500は、複数のウィークセルローに対するアドレス情報ADDR_INFO_1、ADDR_INFO_Mを保存でき、ストロングセルローの代わりにウィークセルローがリフレッシュされるようにすることができる。これに従って、リフレッシュ電流及びリフレッシュ消費電力の増加なしでウィークセルローのリフレッシュ周期を減少させることができる。
図34は本発明の他の実施形態に係る図33のリフレッシュアドレス生成器の一例を示す図である。図34には第1ストロングセルローアドレスがウィークセルローアドレスの最上位ビットMSBを反転させたアドレスに決定され、第2ストロングセルローアドレスが第1ストロングセルローアドレスの最下位ビットLSBを反転させたアドレスに決定された場合のリフレッシュアドレス生成器500aの例が図示されている。
図34を参照すれば、リフレッシュアドレス生成器500aは複数のアドレス保存部510_1a、510_Ma、リフレッシュカウンタ530a、複数の比較部550_1a、550_Ma、OR演算部591a、592a、及びアドレス変換部570aを含む。
複数のアドレス保存部510_1a、510_Maは、複数の第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1を保存する複数の保存領域511_1aを各々含むことができる。実施形態により、複数のアドレス保存部510_1a、510_Maは、複数の第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1の代わりに複数のウィークセルローアドレス、または、複数の第2ストロングセルローアドレスを保存することができる。複数のアドレス保存部510_1a、510_Maは、複数の比較部550_1a、550_Maに複数の第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1を各々提供することができる。例えば、第1アドレス保存部510_1aは、1つの第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1の第1〜第NビットSA11_1、SA12_1、SA1N_1を第1比較部550_1aに出力し、第Mアドレス保存部510_Maは、他の1つの第1ストロングセルローアドレスの第1〜第NビットSA11_M、SA12_M、SA1N_Mを第M比較部550_Maに出力することができる。
リフレッシュカウンタ530aは、カウンティング動作を遂行してリフレッシュローアドレスREF_ADDR及びストロングセルフラグSTR_FLAGを生成することができる。リフレッシュカウンタ530aは、(N+1)ビットカウンタで具現することができて、カウンティング信号の最上位ビットMSBをストロングセルフラグSTR_FLAGで活用し、カウンティング信号のN個の下位ビットをリフレッシュローアドレスREF_ADDRで活用することができる。
複数の比較部550_1a、550_Maは、リフレッシュカウンタ450aから受信したリフレッシュローアドレスREF_ADDRを複数の第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1と各々比較して複数の第1マッチ信号MATCH1_1、MATCH1_Mを各々生成することができる。また、複数の比較部550_1a、550_Maは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRと複数の第2ストロングセルローアドレスの比較結果及びストロングセルフラグSTR_FLAGに基づいて複数の第2マッチ信号MATCH2_1、MATCH2_Mを各々生成することができる。複数の比較部550_1a、550_Maの各々は、複数の比較器551a、552a、553a、及び、複数のロジックゲート561a、562a、563a、564aを含むことができる。
OR演算部591a、592aは、複数の第1マッチ信号MATCH1_1、MATCH1_Mに第1OR演算を実行して第1マッチ信号MATCH1を生成する第1ORゲート591a及び複数の第2マッチ信号MATCH2_1、MATCH2_Mに第2OR演算を実行して第2マッチ信号MATCH2を生成する第2ORゲート592aを含むことができる。例えば、リフレッシュローアドレスREF_ADDRが複数の第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1のうち、いずれか1つと一致する場合、複数の第1マッチ信号MATCH1_1、MATCH1_Mのうち、対応する1つがロジックハイレベルを有し、第1ORゲート591aは、ロジックハイレベルの第1マッチ信号MATCH1を出力することができる。また、リフレッシュローアドレスREF_ADDRが複数の第2ストロングセルローアドレスのうち、いずれか1つと一致し、ストロングセルフラグSTR_FLAGがロジックハイレベルを有する場合、複数の第2マッチ信号MATCH2_1、MATCH2_Mのうち、対応する1つがロジックハイレベルを有し、第2ORゲート592aは、ロジックハイレベルの第2マッチ信号MATCH2を出力することができる。
アドレス変更部570aは、第1マッチ信号MATCH1に応答してリフレッシュローアドレスREF_ADDRの最上位ビットMSBを反転させて対応するウィークセルローアドレスを出力し、第2マッチ信号MATCH2に応答してリフレッシュローアドレスREF_ADDRの最下位ビットLSBを反転させて対応する第1ストロングセルローアドレスを出力することができる。アドレス変更部570aはインバータ571a、573a、581a、582a、583a、584a、及び、マルチプレクサ572a、574aを含むことができる。
上述した通り、リフレッシュアドレス生成器500aは、リフレッシュカウンタ530aが複数の第1ストロングセルローアドレスSTR_ADDR_1のうち、いずれか1つを生成する時、対応するウィークセルローアドレスを出力し、リフレッシュカウンタ530aが複数の第2ストロングセルローアドレスのうち、いずれか1つを生成する時、リフレッシュ周期ごとに対応する第1ストロングセルローアドレスまたは、1つの第2ストロングセルローアドレスを交互に出力することができる。これに従って、本発明のまた他の実施形態に係るリフレッシュアドレス生成器500aは、複数の第1ストロングセルローの代わりに複数のウィークセルローがリフレッシュされるようにすることによって、リフレッシュ電流及びリフレッシュ消費電力の増加なしでウィークセルローのリフレッシュ周期を減少させることができる。
図35は本発明の他の実施形態に係る図33のリフレッシュアドレス生成器の他の例を示す図である。図35には第1ストロングセルローアドレスがウィークセルローアドレスの最上位ビットMSBを反転させたアドレスに決定され、第2ストロングセルローアドレスが第1ストロングセルローアドレスの最下位ビットLSBを反転させたアドレスに決定された場合のリフレッシュアドレス生成器500bの例を図示している。
図35を参照すれば、リフレッシュアドレス生成器500bは、複数のアドレス保存部510_1b、510_Mb、リフレッシュカウンタ530b、第1及び第2インバータ581b、582b、複数の比較部550_1b、550_Mb、OR演算部591b、592b、593b、及びアドレス変換部570bを含む。
複数のアドレス保存部510_1b、510_Mbは、複数のウィークセルローアドレスWEAK_ADDRを保存する複数の保存領域511_1bを各々含むことができる。実施形態により、複数のアドレス保存部510_1b、510_Mbは、複数のウィークセルローアドレスWEAK_ADDRの代わりに複数の第1ストロングセルローアドレス、または、複数の第2ストロングセルローアドレスを保存することができる。複数のアドレス保存部510_1b、510_Mbは、複数の比較部550_1b、550_Mbに複数のウィークセルローアドレスWEAK_ADDRを各々提供することができる。
リフレッシュカウンタ530bは、カウンティング動作を実行してリフレッシュローアドレスREF_ADDR及びストロングセルフラグSTR_FLAGを生成することができる。第1インバータ581bは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRの第1ビットRA1を反転させ、第2インバータ582bは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRの第NビットRANを反転させることができる。一方、リフレッシュアドレス生成器500bに含まれたインバータ581b、582bの数及び連結関係は、第1及び第2ストロングセルローアドレスの決定方式、及び/または、複数のアドレス保存部510_1b、510_Mbに保存されたアドレス情報によって多様なこともある。例えば、複数のアドレス保存部510_1b、510_Mbに複数の第1ストロングセルローアドレスが保存される場合、リフレッシュアドレス生成器500bは、第2インバータ582bを含まないことがある。
複数の比較部550_1b、550_Mbは、リフレッシュカウンタ530b及びインバータ581b、582bからリフレッシュローアドレスREF_ADDRの第1ビット、反転した第1ビット、第2〜第(N−1)ビット、及び反転した第Nビットを受信し、複数のアドレス保存部510_1b、510_Mbから複数のウィークセルローアドレスWEAK_ADDRを各々受信することができる。
各比較部550_1b、550_Mbは、第1Nビット比較器551b及び第2Nビット比較器552bを含むことができる。第1 Nビット比較器551bは、第1入力端子IN1でリフレッシュローアドレスREF_ADDRの第1〜第(N−1)ビット及び反転した第Nビットを受信し、第2入力端子IN2でウィークセルローアドレスWEAK_ADDRを受信することができる。リフレッシュローアドレスREF_ADDRの第1〜第(N−1)ビット及び反転した第Nビットと、ウィークセルローアドレスWEAK_ADDRの第1〜第Nビットとが一致する場合、第1Nビット比較器551bは、ロジックハイレベルの出力信号を生成することができる。即ち、第1Nビット比較器551bは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRが第1ストロングセルローアドレスと一致する場合、ロジックハイレベルの出力信号を出力することができる。また、第2Nビット比較器552bは、第1入力端子IN1でリフレッシュローアドレスREF_ADDRの反転した第1ビット、第2〜第(N−1)ビット及び反転した第Nビットを受信し、第2入力端子IN2でウィークセルローアドレスWEAK_ADDRを受信することができる。リフレッシュローアドレスREF_ADDRの反転した第1ビット、第2〜第(N−1)ビット及び反転した第Nビットと、ウィークセルローアドレスWEAK_ADDRの第1〜第Nビットとが一致する場合、第2Nビット比較器552bは、ロジックハイレベルの出力信号を生成することができる。即ち、第2Nビット比較器552bは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRが第2ストロングセルローアドレスと一致する場合、ロジックハイレベルの出力信号を出力することができる。
OR演算部591b、592b、593bは、第1ORゲート591b、第2ORゲート592b、及びANDゲート593bを含むことができる。第1ORゲート591bは、複数の比較部550_1b、550_Mbの第1Nビット比較器551bの出力信号にOR演算を実行して第1マッチ信号MATCH1を生成することができる。第1ORゲート591bは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRが複数の第1ストロングセルローアドレスのうち、いずれか1つと一致する場合、ロジックハイレベルの第1マッチ信号MATCH1を出力することができる。第2ORゲート592bは、複数の比較部550_1b、550_Mbの第2Nビット比較器552bの出力信号にOR演算を実行し、ANDゲート593bは、第2ORゲート592bの出力信号及びストロングセルフラグSTR_FLAGにAND演算を実行することができる。第2ORゲート592b及びANDゲート593bは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRが複数の第2ストロングセルローアドレスのうち、いずれか1つと一致し、ストロングセルフラグSTR_FLAGがロジックハイレベルを有する場合、ロジックハイレベルの第2マッチ信号MATCH2を出力することができる。
アドレス変更部570bは、第1マッチ信号MATCH1に応答してリフレッシュローアドレスREF_ADDRを対応するウィークセルローアドレスに変更し、第2マッチ信号MATCH2に応答してリフレッシュローアドレスREF_ADDRを対応する第1ストロングセルローアドレスに変更することができる。
上述した通り、本発明のまた他の実施形態に係るリフレッシュアドレス生成器500bは、複数の第1ストロングセルローの代わりに複数のウィークセルローがリフレッシュされるようにすることによって、リフレッシュ電流及びリフレッシュ消費電力の増加なしでウィークセルローのリフレッシュ周期を減少させることができる。
図36は本発明の他の実施形態に係る図33のリフレッシュアドレス生成器のまた他の例を示す図である。図36には第1ストロングセルローアドレスがウィークセルローアドレスの最上位ビットMSBを反転させたアドレスに決定され、第2ストロングセルローアドレスが第1ストロングセルローアドレスの最下位ビットLSBを反転させたアドレスに決定された場合のリフレッシュアドレス生成器500cの例を図示している。
図36を参照すれば、リフレッシュアドレス生成器500cは、複数の奇数アドレス保存部510_O_1c、510_O_Lc、複数の偶数アドレス保存部510_E_1c、510_E_Kc、リフレッシュカウンタ530c、第1及び第2インバータ581c、582c、複数の奇数比較部550_O_1c、550_O_Lc、複数の偶数比較部550_E_1c、550_E_Kc、OR演算部591c、592c、複数のロジックゲート593c、594c、595c、596c、597c、598c及び、アドレス変換部570cを含む。
リフレッシュアドレス生成器500cにおいて、アドレス保存部510_O_1c、510_O_Lc、510_E_1c、510_E_Kcが複数のグループに区分され、アドレス保存部510_O_1c、510_O_Lc、510_E_1c、510_E_Kcに保存されるローアドレスは、ローアドレスの少なくとも1つのビットによって対応するグループに含まれたアドレス保存部に保存することができる。例えば、M個のアドレス保存部510_O_1c、510_O_Lc、510_E_1c、510_E_KcがL個の奇数アドレス保存部510_O_1c、510_O_Lc及びK個の偶数アドレス保存部510_E_1c、510_E_Kcに区分され(Lは1以上の自然数、Kは1以上の自然数、MはL+K)、奇数アドレス保存部510_O_1c、510_O_Lcには最下位ビットLSBが「1」である、ウィークセルローアドレスWEAK_ADDRの上位(N−1)ビットを保存し、偶数アドレス保存部510_E_1c、510_E_Kcには最下位ビットLSBが「0」である、ウィークセルローアドレスWEAK_ADDRの上位(N−1)ビットを保存することができる。実施形態により、L及びKは互いに異なる値を有するか、または、M/2と同一値を有することができる。
リフレッシュカウンタ530cは、カウンティング動作を実行してリフレッシュローアドレスREF_ADDR及びストロングセルフラグSTR_FLAGを生成することができる。第1インバータ581cは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRの第1ビットRA1を反転させ、第2インバータ582cは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRの第NビットRANを反転させることができる。一方、リフレッシュアドレス生成器500cに含まれたインバータ581c、582cの数及び連結関係は、第1及び第2ストロングセルローアドレスの決定方式、及び/または、アドレス保存部510_O_1c、510_O_Lc、510_E_1c、510_E_Kcに保存されたアドレス情報により多様なこともある。
比較部550_O_1c、550_O_Lc、550_E_1c、550_E_Kcは、アドレス保存部510_O_1c、510_O_Lc、510_E_1c、510_E_Kcに各々連結することができる。比較部550_O_1c、550_O_Lc、550_E_1c、550_E_Kcは、アドレス保存部510_O_1c、510_O_Lc、510_E_1c、510_E_Kcのように、複数のグループに区分することができる。例えば、M個の比較部550_O_1c、550_O_Lc、550_E_1c、550_E_Kcを、L個の奇数比較部550_O_1c、550_O_Lc及びK個の偶数比較部550_E_1c、550_E_Kcに区分することができる。奇数比較部550_O_1c、550_O_Lcは、リフレッシュカウンタ530cからリフレッシュローアドレスREF_ADDRの第2〜第(N−1)ビット及び反転した第Nビットを受信し、奇数アドレス保存部510_O_1c、510_O_LcからウィークセルローアドレスWEAK_ADDRの上位(N−1)ビットを受信することができる。偶数比較部550_E_1c、550_E_Kcは、リフレッシュカウンタ530cからリフレッシュローアドレスREF_ADDRの第2〜第(N−1)ビット及び反転した第Nビットを受信し、偶数アドレス保存部510_E_1c、510_E_KcからウィークセルローアドレスWEAK_ADDRの上位(N−1)ビットを受信することができる。
各奇数比較部550_O_1c、550_O_Lcは、第1(N−1)ビット比較器551cを含み、各偶数比較部550_E_1c、550_E_Kcは、第2(N−1)ビット比較器552cを含むことができる。第1(N−1)ビット比較器551c及び第2(N−1)ビット比較器552cの各々は、第NビットRAN(即ち、最上位ビットMSB)が反転したリフレッシュローアドレスREF_ADDRの上位(N−1)ビットをウィークセルローアドレスWEAK_ADDRの上位(N−1)ビットと比較することができる。
OR演算部591c、592cは、第1ORゲート591c及び第2ORゲート592cを含むことができる。第1ORゲート591cは、奇数比較部550_O_1c、550_O_Lcの出力信号にOR演算を実行し、第2ORゲート592cは、偶数比較部550_E_1c、550_E_Kcの出力信号にOR演算を実行することができる。
複数のロジックゲート593c、594c、595c、596c、597c、598cは、第1及び第2ORゲート591c、592cの出力信号、リフレッシュローアドレスREF_ADDRの第1ビットRA1及び反転した第1ビット、及びストロングセルフラグSTR_FLAGに基づいて第1マッチ信号MATCH1及び第2マッチ信号MATCH2を生成することができる。第1ANDゲート593cは、第1ORゲート591cの出力信号及びリフレッシュローアドレスREF_ADDRの第1ビットRA1にAND演算を実行し、第2ANDゲート595cは第2ORゲート592cの出力信号及びリフレッシュローアドレスREF_ADDRの反転した第1ビットにAND演算を実行することができる。第1ANDゲート593cは、最上位ビットMSBが反転したリフレッシュローアドレスREF_ADDRの上位(N−1)ビットがウィークセルローアドレスWEAK_ADDRの上位(N−1)ビットと一致し、リフレッシュローアドレスREF_ADDRの第1ビットRA1(即ち、最下位ビットLSB)が「1」の時、ロジックハイレベルの出力信号を生成することができる。一方、奇数アドレス保存部510_O_1c、510_O_Lcには最下位ビットLSBが「1」のウィークセルローアドレスWEAK_ADDRが保存されるので、第1ANDゲート593cは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRとウィークセルローアドレスWEAK_ADDRとが最上位ビットMSBだけが違う場合、即ち、リフレッシュローアドレスREF_ADDRが第1ストロングセルローアドレスと一致する場合、ロジックハイレベルの出力信号を生成することができる。第2ANDゲート595cは、最上位ビットMSBが反転したリフレッシュローアドレスREF_ADDRの上位(N−1)ビットがウィークセルローアドレスWEAK_ADDRの上位(N−1)ビットと一致し、リフレッシュローアドレスREF_ADDRの第1ビットRA1(即ち、最下位ビットLSB)が「0」の時、ロジックハイレベルの出力信号を生成することができる。一方、偶数アドレス保存部510_E_1c、510_E_Kcには最下位ビットLSBが「0」のウィークセルローアドレスWEAK_ADDRが保存されるので、第2ANDゲート595cは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRとウィークセルローアドレスWEAK_ADDRとが最上位ビットMSBだけが違う場合、即ち、リフレッシュローアドレスREF_ADDRが第1ストロングセルローアドレスと一致する場合、ロジックハイレベルの出力信号を生成することができる。第3ORゲート597cは、第1ANDゲート593cの出力信号及び第2ANDゲート595cの出力信号にOR演算を実行して第1マッチ信号MATCH1を生成する。第3 ORゲート597cは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRが複数の第1ストロングセルローアドレスのうち、いずれか1つと一致する時、ロジックハイレベルの第1マッチ信号MATCH1を出力することができる。
第3ANDゲート594cは、第1ORゲート591cの出力信号、リフレッシュローアドレスREF_ADDRの反転した第1ビット、及びストロングセルフラグSTR_FLAGにAND演算を実行し、第4ANDゲート596cは、第2ORゲート592cの出力信号、リフレッシュローアドレスREF_ADDRの第1ビットRA1、及びストロングセルフラグSTR_FLAGにAND演算を実行することができる。第3ANDゲート594cは、最上位ビットMSBが反転したリフレッシュローアドレスREF_ADDRの上位(N−1)ビットがウィークセルローアドレスWEAK_ADDRの上位(N−1)ビットと一致し、リフレッシュローアドレスREF_ADDRの最下位ビットLSBが「0」であり、ストロングセルフラグSTR_FLAGがロジックハイレベルである時、ロジックハイレベルの出力信号を生成することができる。一方、奇数アドレス保存部510_O_1c、510_O_Lcには最下位ビットLSBが「1」のウィークセルローアドレスWEAK_ADDRが保存されるので、第3ANDゲート594cは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRが第2ストロングセルローアドレスと一致し、ストロングセルフラグSTR_FLAGがロジックハイレベルを有する場合、ロジックハイレベルの出力信号を生成することができる。第4ANDゲート596cは、最上位ビットMSBが反転したリフレッシュローアドレスREF_ADDRの上位(N−1)ビットが、ウィークセルローアドレスWEAK_ADDRの上位(N−1)ビットと一致し、リフレッシュローアドレスREF_ADDRの最下位ビットLSBが「1」であり、ストロングセルフラグSTR_FLAGがロジックハイレベルである時、ロジックハイレベルの出力信号を生成することができる。一方、偶数アドレス保存部510_E_1c、510_E_Kcには最下位ビットLSBが「0」のウィークセルローアドレスWEAK_ADDRが保存されるので、第2ANDゲート595cは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRが、第2ストロングセルローアドレスと一致し、ストロングセルフラグSTR_FLAGがロジックハイレベルを有する場合、ロジックハイレベルの出力信号を生成することができる。第4ORゲート598cは、第3ANDゲート594cの出力信号及び第4ANDゲート596cの出力信号にOR演算を実行して第2マッチ信号MATCH2を生成する。第2ORゲート597cは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRが複数の第2ストロングセルローアドレスのうち、いずれか1つと一致し、ストロングセルフラグSTR_FLAGがロジックハイレベルである時、ロジックハイレベルの第2マッチ信号MATCH2を出力することができる。
アドレス変更部570cは、第1マッチ信号MATCH1に応答してリフレッシュローアドレスREF_ADDRを対応するウィークセルローアドレスに変更し、第2マッチ信号MATCH2に応答してリフレッシュローアドレスREF_ADDRを対応する第1ストロングセルローアドレスに変更することができる。
上述した通り、本発明のまた他の実施形態に係るリフレッシュアドレス生成器500cは、複数の第1ストロングセルローの代わりに複数のウィークセルローがリフレッシュされるようにすることによって、リフレッシュ電流及びリフレッシュ消費電力の増加なしでウィークセルローのリフレッシュ周期を減少させることができる。また、比較部550_O_1c、550_O_Lc、550_E_1c、550_E_Kcの各々が1つの(N−1)ビット比較器551c、552cを含むので、リフレッシュアドレス生成器500cの回路サイズ及び複雑度を減少させることができる。
一方、図36にはアドレス保存部及び比較部がウィークセルローアドレスの最下位ビットにより奇数及び偶数グループに区分された例が図示されているが、実施形態により、アドレス保存部及び比較部はウィークセルローアドレスの任意の1つ以上のビットによって区分することができる。例えば、アドレス保存部及び比較部はウィークセルローアドレスの下位2ビットによって4つのグループに区分することができる。この場合、各アドレス保存部にはローアドレス(例えば、ウィークセルローアドレス、第1ストロングセルローアドレスまたは、第2ストロングセルローアドレスのうち、いずれか1つ)の上位(N−2)ビットが保存され、各比較部はリフレッシュローアドレスの上位(N−2)ビットとローアドレスの上位(N−2)ビットを比較する(N−2)ビット比較器を含むことができる。
図37は本発明の他の実施形態に係る図33のリフレッシュアドレス生成器のまた他の例を示す図である。
図37を参照すれば、リフレッシュアドレス生成器500dは、第A〜第Hバンクアドレス保存部510_A_1d、510_A_Md、510_H_1d、510_H_Md、リフレッシュカウンタ530d、第A〜第Hバンク比較部550_A_1d、550_A_Md、550_H_1d、550_H_Md、OR演算部591d、592d、593d、594d、595d、596d、及び、アドレス変換部570dを含む。
リフレッシュアドレス生成器500dにおいて、アドレス保存部510_A_1d、510_A_Md、510_H_1d、510_H_Mdを複数のグループに区分し、アドレス保存部510_A_1d、510_A_Md、510_H_1d、510_H_Mdに保存されるローアドレスは、ウィークセルローを含むバンクにより対応するグループに含まれたアドレス保存部に保存することができる。例えば、アドレス保存部510_A_1d、510_A_Md、510_H_1d、510_H_Mdを、第A〜第Hバンクアドレス保存部510_A_1d、510_A_Md、510_H_1d、510_H_Mdに区分することができる。この場合、第Aバンクアドレス保存部510_A_1d、510_A_MdにはバンクAに含まれたウィークセルローに対するローアドレスを保存し、第Hバンクアドレス保存部510_H_1d、510_H_MdにはバンクHに含まれたウィークセルローに対するローアドレスを保存することができる。
リフレッシュカウンタ530dはカウンティング動作を実行してリフレッシュローアドレスREF_ADDR及びストロングセルフラグSTR_FLAGを生成することができる。リフレッシュローアドレスREF_ADDRは、ローアドレスマルチプレクサ340を通じてそれぞれのバンク365に提供することができる。
比較部550_A_1d、550_A_Md、550_H_1d、550_H_Mdは、アドレス保存部510_A_1d、510_A_Md、510_H_1d、510_H_Mdのように、複数のグループに区分することができる。例えば、比較部550_A_1d、550_A_Md、550_H_1d、550_H_Mdは、第A〜第Hバンク比較部550_A_1d、550_A_Md、550_H_1d、550_H_Mdに区分することができる。第Aバンク比較部550_A_1d、550_A_Mdは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRを第Aバンクアドレス保存部510_A_1d、510_A_Mdから受信したローアドレスと比較し、第Hバンク比較部550_H_1d、550_H_Mdは、リフレッシュローアドレスREF_ADDRを第Hバンクアドレス保存部510_H_1d、510_H_Mdから受信したローアドレスと比較することができる。
OR演算部591d、592d、593d、594d、595d、596dは、第1〜第4ORゲート591d、592d、594d、595d、並びに、第1及び第2ANDゲート593d、596dを含むことができる。第1ORゲート591dは、バンクAに対する第1マッチ信号MATCH1_Aを生成し、第2ORゲート592d及び第1ANDゲート593dは、バンクAに対する第2マッチ信号MATCH2_Aを生成することができる。また、第3ORゲート594dは、バンクHに対する第1マッチ信号MATCH1_Hを生成し、第4ORゲート595d及び第2ANDゲート596dは、バンクHに対する第2マッチ信号MATCH2_Hを生成することができる。
アドレス変換部570dは、それぞれのバンク365に位置することができる。アドレス変換部570dは、それぞれのバンク365に対する第1マッチ信号MATCH1_A、MATCH1_Hに応答して対応するバンクにおいて、リフレッシュローアドレスREF_ADDRをウィークセルローアドレスに変換でき、それぞれのバンク365に対する第2マッチ信号MATCH2_A、MATCH2_Hに応答して対応するバンクにおいて、リフレッシュローアドレスREF_ADDRを第1ストロングセルローアドレスに変換することができる。例えば、バンクAに対する第1マッチ信号MATCH1_Aがロジックハイレベルを有し、他の第1マッチ信号MATCH1_Hがロジックローレベルを有する場合、アドレス変換部570dは、バンクAで変更されたリフレッシュローアドレス(CREF_ADDR_A)としてウィークセルローアドレスを出力し、他のバンクで受信したリフレッシュローアドレスREF_ADDRをそのまま出力することができる。また、バンクHに対する第2マッチ信号MATCH2_Hがロジックハイレベルを有し、他の第2マッチ信号MATCH2_Aがロジックローレベルを有する場合、アドレス変換部570dは、バンクHで変更されたリフレッシュローアドレスCREF_ADDR_Hとして第1ストロングセルローアドレスを出力し、他のバンクで受信したリフレッシュローアドレスREF_ADDRをそのまま出力することができる。
上述した通り、本発明のまた他の実施形態に係るリフレッシュアドレス生成器500dは、複数の第1ストロングセルローの代わりに複数のウィークセルローがリフレッシュされるようにすることによって、リフレッシュ電流及びリフレッシュ消費電力の増加なしでウィークセルローのリフレッシュ周期を減少させることができる。また、リフレッシュアドレス生成器500dは、アドレス保存部及び比較部をバンク別に区分することによって、アドレス保存部にバンク情報を保存しなくても、対応するバンクだけでリフレッシュレバレッジングを実行することができる。
一方、図36にはアドレス保存部及び比較部が保存されるローアドレスにより区分された例が図示されていて、図37にはアドレス保存部及び比較部がバンク別に区分された例が図示されているが、実施形態により、アドレス保存部及び比較部はローアドレスにより区分すると同時にバンク別に区分することができる。
図38は本発明の実施形態に係るリフレッシュレバレッジングを実行する揮発性メモリ装置を含むメモリモジュールを示す図である。
図38を参照すれば、メモリモジュール1200は、複数の揮発性メモリ装置300を含むことができる。実施形態により、メモリモジュール1200は、UDIMM(Unbuffered Dual In−line Memory Module)、RDIMM(Registered Dual In−line Memory Module)、FBDIMM(Fully Buffered Dual In−line Memory Module)、LRDIMM(Load Reduced Dual In−line Memory Module)または、他のメモリモジュールとすることができる。
メモリモジュール1200は、メモリコントローラから複数の信号線を通じてコマンド、アドレス、及びデータを受信し、コマンド、アドレス、及びデータをバッファリングして揮発性メモリ装置300に提供するバッファ1210をさらに含むことができる。
バッファ1210と揮発性メモリ装置300との間のデータ伝送線は、point−toーpoint方式で連結することができる。また、バッファ1210と揮発性メモリ装置300との間のコマンド/アドレス伝送線は、マルチ−ドロップ方式、デイジーチェーン(daisy−chain)方式、または、フライ−バイ(fly−by)デイジーチェーン方式で連結されることができる。バッファ1210がコマンド、アドレス、及びデータを全部バッファリングするので、メモリコントローラはバッファ1210のロードだけを駆動することによってメモリモジュール1200とインターフェースすることができる。これに従って、メモリモジュール1200はより多くのメモリ装置及びメモリランクを含むことができ、メモリシステムはより多くのメモリモジュールを含むことができる。
揮発性メモリ装置300は、リフレッシュレバレッジングを実行することによって、リフレッシュ電流または、リフレッシュ電力を増加しなくてもリフレッシュ周期(RP)より短い周期でウィークセルローをリフレッシュすることができる。
図39は本発明の実施形態に係るリフレッシュレバレッジングを実行する揮発性メモリ装置をモバイルシステムに応用した例を示すブロック図である。
図39を参照すれば、モバイルシステム1400は、アプリケーションプロセッサ1410、通信(Connectivity)部1420、揮発性メモリ装置1430、非揮発性メモリ装置1440、ユーザインタフェース1450及びパワーサプライ1460を含む。実施形態により、モバイルシステム1400は、携帯電話(Mobile Phone)、スマートフォン(Smart Phone)、個人情報端末機(Personal Digital Assistant;PDA)、携帯型マルチメディアプレーヤー(Portable Multimedia Player:PMP)、デジタルカメラ(Digital Camera)、音楽再生機(Music Player)、携帯用ゲームコンソール(Portable Game Console)、ナビゲーション(Navigation)システムなどのような任意のモバイルシステムとすることができる。
アプリケーションプロセッサ1410は、インターネットブラウザ、ゲーム、動画などを提供するアプリケーションを実行することができる。実施形態により、アプリケーションプロセッサ1410は1つのプロセッサコア(Single Core)を含んだり、複数のプロセッサコア(Multi−Core)を含むことができる。例えば、アプリケーションプロセッサ1410は、デュアルコア(Dual−Core)、クアッドコア(Quad−Core)、ヘキサコア(Hexa−Core)などのマルチコア(Multi−Core)を含むことができる。また、実施形態により、アプリケーションプロセッサ1410は、内部または外部に位置したキャッシュメモリ(Cache Memory)をさらに含むことができる。
通信部1420は、外部装置と、無線通信または有線通信を実行することができる。例えば、通信部1420は、イーサネット(登録商標)(Ethernet(登録商標))通信、近距離磁気場通信(Near Field Communication:NFC)、無線識別(Radio Frequency Identification:RFID)通信、移動通信(Mobile Telecommunication)、メモリカード通信、汎用直列バス(Universal Serial Bus:USB)通信などを実行することができる。例えば、通信部1420は、ベースバンドチップセット(Baseband Chipset)を含むことができ、GSM(登録商標)、GPRS、WCDMA、HSxPAなどの通信を支援することができる。
揮発性メモリ装置1430は、アプリケーションプロセッサ1410によって処理されるデータを保存するか、または、動作メモリ(Working Memory)として作動することができる。例えば、揮発性メモリ装置1430は、DDR SDRAM、LPDDR SDRAM、GDDR SDRAM、RDRAMなどのような動的ランダムアクセスメモリや、リフレッシュ動作が必要な任意の揮発性メモリ装置でありうる。揮発性メモリ装置1430は、リフレッシュレバレッジングを実行することによって、リフレッシュ電流または、リフレッシュ電力を増加しなくてもリフレッシュ周期(RP)より短い周期でウィークセルローをリフレッシュすることができる。
不揮発性メモリ装置1440は、モバイルシステム1400をブーティングするためのブートイメージを保存することができる。例えば、不揮発性メモリ装置1440は、EEPROM(Electrically Erasable Programmable Read−Only Memory)、フラッシュメモリ(Flash Memory)、PRAM(Phase Change Random Access Memory)、RRAM(登録商標)(Resistance Random Access Memory)、NFGM(Nano Floating Gate Memory)、PoRAM(Polymer Random Access Memory)、MRAM(Magnetic Random Access Memory)、FRAM(登録商標)(Ferroelectric Random Access Memory)または、これと類似のメモリで具現することができる。
」
ユーザインタフェース1450は、キーパッド、タッチスクリーンのような1つ以上の入力装置、及び/または、スピーカー、ディスプレイ装置のような1つ以上の出力装置を含むことができる。パワーサプライ1460は、モバイルシステム1400の動作電圧を供給することができる。また、実施形態により、モバイルシステム1400は、カメライメージプロセッサ(Camera Image Processor:CIS)をさらに含むことができ、メモリカード(Memory Card)、ソリッドステートドライブ(Solid State Drive:SSD)、ハードディスクドライブ(Hard Disk Drive:HDD)、シディロム(CD−ROM)などのような保存装置をさらに含むことができる。
ユーザインタフェース1450は、キーパッド、タッチスクリーンのような1つ以上の入力装置、及び/または、スピーカー、ディスプレイ装置のような1つ以上の出力装置を含むことができる。パワーサプライ1460は、モバイルシステム1400の動作電圧を供給することができる。また、実施形態により、モバイルシステム1400は、カメライメージプロセッサ(Camera Image Processor:CIS)をさらに含むことができ、メモリカード(Memory Card)、ソリッドステートドライブ(Solid State Drive:SSD)、ハードディスクドライブ(Hard Disk Drive:HDD)、シディロム(CD−ROM)などのような保存装置をさらに含むことができる。
モバイルシステム1400または、モバイルシステム1400の構成要素は、多様な形態のパッケージを利用して実装することができるが、例えば、PoP(Package on Package)、BGAs(Ball grid arrays)、CSPs(Chip scale packages)、PLCC(Plastic Leaded Chip Carrier)、PDIP(Plastic Dual In−Line Package)、Die in Waffle Pack、Die in Wafer Form、COB(Chip On Board)、CERDIP(Ceramic Dual In−Line Package)、MQFP(Plastic Metric Quad Flat Pack)、TQFP(Thin Quad Flat−Pack)、SOIC(Small Outline Integrated Circuit)、SSOP(Shrink Small Outline Package)、TSOP(Thin Small Outline Package)、TQFP(Thin Quad Flat−Pack)、SIP(System In Package)、MCP(Multi Chip Package)、WFP(Wafer−level Fabricated Package)、WSP(Wafer−Level Processed Stack Package)などのようなパッケージを利用して実装することができる。
図40は本発明の実施形態に係るリフレッシュレバレッジングを実行する揮発性メモリ装置をコンピューティングシステムに応用した例を示すブロック図である。
図40を参照すれば、コンピューティングシステム1500は、プロセッサ1510、入出力ハブ1520、入出力コントローラハブ1530、少なくとも1つのメモリモジュール1540及びグラフィックカード1550を含む。実施形態により、コンピューティングシステム1500は、パーソナルコンピュータ(Personal Computer:PC)、サーバーコンピュータ(Server Computer)、ワークステーション(Workstation)、ノートパソコン(Laptop)、携帯電話(Mobile Phone)、スマートフォン(Smart Phone)、個人情報端末機(personal digital assistant:PDA)、携帯型マルチメディアプレーヤー(portable multimedia player:PMP)、デジタルカメラ(Digital Camera)、デジタルTV(Digital Television)、セットトップボックス(Set−Top Box)、音楽再生機(Music Player)、携帯用ゲームコンソール(portable game console)、ナビゲーション(Navigation)システムなどのような任意のコンピューティングシステムであることができる。
プロセッサ1510は、特定計算または、タスクのような多様なコンピューティング機能を実行することができる。例えば、プロセッサ1510は、マイクロプロセッサまたは、中央処理装置(Central Processing Unit:CPU)とすることができる。実施形態により、プロセッサ1510は、1つのプロセッサコア(Single Core)を含んだり、複数のプロセッサコア(Multi−Core)を含むことができる。例えば、プロセッサ1510は、デュアルコア(Dual−Core)、クアッドコア(Quad−Core)、ヘキサコア(Hexa−Core)などのマルチコア(Multi−Core)を含むことができる。また、図40には、1つのプロセッサ1510を含むコンピューティングシステム1500が図示されているが、実施形態により、コンピューティングシステム1500は、複数のプロセッサを含むことができる。また、実施形態により、プロセッサ1510は、内部または外部に位置したキャッシュメモリ(Cache Memory)をさらに含むことができる。
プロセッサ1510は、メモリモジュール1540の動作を制御するメモリコントローラ1511を含むことができる。プロセッサ1510に含まれたメモリコントローラ1511は、集積メモリコントローラ(Integrated Memory Controller;IMC)と呼ぶことができる。メモリコントローラ1511とメモリモジュール1540との間のメモリインターフェースは複数の信号線を含む1つのチャネルで具現するか、または、複数のチャネルで具現することができる。また、各チャネルには1つ以上のメモリモジュール1540を連結することができる。実施形態により、メモリコントローラ1511は、入出力ハブ1520内に位置することができる。メモリコントローラ1511を含む入出力ハブ1520は、メモリコントローラハブ(Memory Controller Hub:MCH)と呼ぶことができる。
メモリモジュール1540はメモリコントローラ1511から提供されたデータを保存する複数の揮発性メモリ装置を含むことができる。揮発性メモリ装置は、メモリコントローラ1511から提供されたリフレッシュコマンドREFに応答してオートリフレッシュ動作を実行するか、または、セルフリフレッシュ進入コマンドSREに応答してセルフリフレッシュ動作を実行することができる。揮発性メモリ装置は、オートリフレッシュ動作または、セルフリフレッシュ動作を実行する時、リフレッシュレバレッジングを実行することによって、リフレッシュ電流または、リフレッシュ電力を増加しなくてもリフレッシュ周期(RP)より短い周期でウィークセルローをリフレッシュすることができる。
入出力ハブ1520は、グラフィックカード1550のような装置とプロセッサ1510との間のデータ伝送を管理することができる。入出力ハブ1520は多様な方式のインターフェースを通じてプロセッサ1510に連結することができる。例えば、入出力ハブ1520とプロセッサ1510は、フロントサイドバス(Front Side Bus:FSB)、システムバス(System Bus)、ハイパートランスポート(HyperTransport)、ライトニングデータトランスポート(Lightning Data Transport:LDT)、QuickPathインターコネクト(QuickPath connect:QPI)、共通システムインターフェース(Common System Interface:CSI)などの多様な標準のインターフェースに連結することができる。図40には1つの入出力ハブ1520を含むコンピューティングシステム1500が図示されているが、実施形態により、コンピューティングシステム1500は複数の入出力ハブを含むことができる。
入出力ハブ1520は、装置との多様なインターフェースを提供することができる。例えば、入出力ハブ1520は、加速グラフィックポート(Accelerated Graphics Port:AGP)インターフェース、周辺構成要素インターフェース−エクスプレス(Peripheral Component Interface−Express:PCIe)、通信ストリーミング構造(Communications Streaming Architecture:CSA)インターフェースなどを提供することができる。
グラフィックカード1550は、AGPまたはPCIeを通じて入出力ハブ1520と連結することができる。グラフィックカード1550は、画像を表示するためのディスプレイ装置(図示せず)を制御することができる。グラフィックカード1550は、イメージデータ処理のための内部プロセッサ及び内部半導体メモリ装置を含むことができる。実施形態により、入出力ハブ1520は、入出力ハブ1520の外部に位置したグラフィックカード1550とともに、または、グラフィックカード1550の代わりに入出力ハブ1520の内部にグラフィック装置を含むことができる。入出力ハブ1520に含まれたグラフィック装置は、集積グラフィック(Integrated Graphics)と呼ぶことができる。また、メモリコントローラ及びグラフィック装置を含む入出力ハブ1520は、グラフィック及びメモリコントローラハブ(Graphics and Memory Controller Hub:GMCH)と呼ぶことができる。
入出力コントローラハブ1530は、多様なシステムインターフェースが効率的に動作するようにデータバッファリング及びインターフェース仲裁を実行することができる。入出力コントローラハブ1530は、内部バスを通じて入出力ハブ1520と連結されることができる。例えば、入出力ハブ1520と入出力コントローラハブ1530は、ダイレクト メディア インターフェース(Direct Media Interface:DMI)、ハブ インターフェース、エンタープライズ サウスブリッジ インターフェース(Enterprise Southbridge Interface:ESI)、PCIeなどを介して連結することができる。
入出力コントローラハブ1530は周辺装置との多様なインターフェースを提供することができる。例えば、入出力コントローラハブ1530は、汎用直列バス(Universal Serial Bus:USB)ポート、直列ATA(Serial Advanced Technology Attachment:SATA)ポート、汎用入出力(General Purpose Input/Output:GPIO)、ローピンカウント(Low Pin Count:LPC)バス、直列周辺インターフェース(Serial Peripheral Interface:SPI)、PCI、PCIeなどを提供することができる。
実施形態により、プロセッサ1510、入出力ハブ1520及び入出力コントローラハブ1530は、各々分離したチップセットまたは、集積回路で具現するか、或いは、プロセッサ1510、入出力ハブ1520または、入出力コントローラハブ1530のうち、2以上の構成要素が1つのチップセットで具現することができる。
以上、添付図面を参照しながら本発明の好適な実施形態について詳細に説明したが、本発明はかかる例に限定されない。本発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者であれば、特許請求の範囲に記載された技術的思想の範疇内において、各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、これらについても、当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。
本発明は、リフレッシュ動作が必要な任意の揮発性メモリ装置及びそれを含むシステムに適用することができる。例えば、本発明は携帯電話(Mobile Phone)、スマートフォン(Smart Phone)、個人情報端末機(personal digital assistant:PDA)、携帯型マルチメディアプレーヤー(portable multimedia player:PMP)、デジタルカメラ(Digital Camera)、ビデオカメラ(Camcoder)、パーソナルコンピュータ(Personal Computer:PC)、サーバーコンピュータ(Server Computer)、ワークステーション(Workstation)、ノートパソコン(Laptop)、デジタルTV(Digital Television)、セットトップボックス(Set−Top Box)、音楽再生機(Music Player)、携帯用ゲームコンソール(Portable Game Console)、ナビゲーション(Navigation)システム、スマートカード(Smart Card)、プリンタ(Printer)などに有用に利用することができる。
300…揮発性メモリ装置
400、400a、400b、400c、400d、400e、400f、400g、400h、400i、500…リフレッシュアドレス生成器
410、410a、410b、410c、410d、410e、410f、410g、410h、410i、510…アドレス保存部
430、430a、430b、430c、430d、430e、430f、430g、430h、430i、530…リフレッシュカウンタ
450、450a、450b、450c、450d、450e、450f、450g、450h、450i、550…比較部
470、470a、470b、470c、470d、470e、470f、470g、470h、470i、570…アドレス変換部
400、400a、400b、400c、400d、400e、400f、400g、400h、400i、500…リフレッシュアドレス生成器
410、410a、410b、410c、410d、410e、410f、410g、410h、410i、510…アドレス保存部
430、430a、430b、430c、430d、430e、430f、430g、430h、430i、530…リフレッシュカウンタ
450、450a、450b、450c、450d、450e、450f、450g、450h、450i、550…比較部
470、470a、470b、470c、470d、470e、470f、470g、470h、470i、570…アドレス変換部
Claims (69)
- リフレッシュ周期でリフレッシュアドレスを生成する段階と、
前記リフレッシュアドレスが第2アドレスの時、前記第2アドレスを有する第1ストロングセルの代わりに第1アドレスを有するウィークセルに対するリフレッシュを実行する段階と、
前記リフレッシュアドレスが第3アドレスの時、前記第1ストロングセル、または、前記第3アドレスを有する第2ストロングセルのうち、いずれか1つに対するリフレッシュを実行する段階と、
前記第1、第2及び第3アドレスのうち、ただ1つに対するアドレス情報を保存する段階と、を含むことを特徴とするメモリ装置のリフレッシュ方法。 - 前記第1、第2及び第3アドレスのうち、いずれか1つだけが保存され、前記第1、第2及び第3アドレスのうち、保存されなかった2つのアドレスは、前記保存されたアドレスとの所定のビット関係によって決定されることを特徴とする請求項1に記載のメモリ装置のリフレッシュ方法。
- 前記第1及び第2ストロングセルの各々は、複数のリフレッシュ周期の間に、1回リフレッシュされ、
前記ウィークセルは1つのリフレッシュ周期の間に複数回リフレッシュされることを特徴とする請求項1に記載のメモリ装置のリフレッシュ方法。 - 前記リフレッシュアドレスが前記第2及び第3アドレスのうち、いずれか1つであるか否かを決定するために前記リフレッシュアドレスを前記アドレス情報と比較する段階をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載のメモリ装置のリフレッシュ方法。
- 前記ウィークセルは、前記リフレッシュ周期より短い保持時間を有し、前記第1及び第2ストロングセルの各々は、前記リフレッシュ周期の2倍より長い保持時間を有することを特徴とする請求項1に記載のメモリ装置のリフレッシュ方法。
- 前記リフレッシュアドレスが前記第3アドレスの時、フラグにより前記第1ストロングセルまたは、前記第2ストロングセルのうち、いずれか1つに対するリフレッシュが実行されることを特徴とする請求項1に記載のメモリ装置のリフレッシュ方法。
- 前記第1アドレスと前記第2アドレスは最上位ビットだけが互いに異なり、前記第2アドレスと前記第3アドレスは、最下位ビットだけが互いに異なることを特徴とする請求項1に記載のメモリ装置のリフレッシュ方法。
- 前記第1、第2及び第3アドレスの各々は、ローアドレスであり、前記メモリ装置のリフレッシュ方法は、
前記リフレッシュアドレスが前記第2アドレスの時、前記第2アドレスを有する第1ストロングローの代わりに前記第1アドレスを有するウィークローに対するリフレッシュを実行する段階と、
前記リフレッシュアドレスが前記第3アドレスの時、前記第1ストロングローまたは、前記第3アドレスを有する第2ストロングローのうち、いずれか1つに対するリフレッシュを実行する段階と、をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載のメモリ装置のリフレッシュ方法。 - 前記第1アドレスと前記第2アドレスは、最上位ビットだけが互いに異なり、前記第2アドレスと前記第3アドレスは、前記最上位ビットを除いた他の1つのビットだけが互いに異なることを特徴とする請求項1に記載のメモリ装置のリフレッシュ方法。
- 前記第3アドレスは、前記第1及び第2アドレスのうち、いずれか1つの少なくとも2つの最下位ビットによって定義される範囲を有するアドレスのプールから選択されることを特徴とする請求項1に記載のメモリ装置のリフレッシュ方法。
- 前記リフレッシュアドレスが前記第2アドレスの時、フラグにより前記ウィークセルまたは、前記第1ストロングセルのうち、いずれか1つに対するリフレッシュを実行する段階と、
前記リフレッシュアドレスが前記第3アドレスの時、前記フラグに従って前記ウィークセルまたは、前記第2ストロングセルのうち、いずれか1つに対するリフレッシュを実行する段階と、をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載のメモリ装置のリフレッシュ方法。 - 前記リフレッシュアドレスが前記第2アドレスの時、選択されたメモリバンクで前記第1ストロングセルの代わりに前記第1アドレスを有する前記ウィークセルに対するリフレッシュを実行する段階と、
選択されなかったメモリバンクで前記第2アドレスを有するメモリセルに対するリフレッシュを実行する段階と、をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載のメモリ装置のリフレッシュ方法。 - 前記リフレッシュアドレスが前記第3アドレスの時、前記選択されたメモリバンクで前記第1及び第2ストロングセルのうち、いずれか1つに対するリフレッシュを実行する段階と、
前記選択されなかったメモリバンクで前記第3アドレスを有するメモリセルに対するリフレッシュを実行する段階と、をさらに含むことを特徴とする請求項12に記載のメモリ装置のリフレッシュ方法。 - 前記リフレッシュアドレスが複数の第2アドレスのうち、いずれか1つである時、前記複数の第2アドレスを有するそれぞれのメモリセルの代わりに前記ウィークセルに対するリフレッシュを実行する段階をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載のメモリ装置のリフレッシュ方法。
- 前記リフレッシュアドレスが複数の第3アドレスのうち、いずれか1つである時、前記複数の第2アドレスを有するそれぞれのメモリセルまたは、前記複数の第3アドレスを有するそれぞれのメモリセルのうち、いずれか1つに対するリフレッシュを実行する段階をさらに含むことを特徴とする請求項14に記載のメモリ装置のリフレッシュ方法。
- 前記リフレッシュアドレスが前記第3アドレスの時、前記複数の第2アドレスを有するそれぞれのメモリセルまたは、前記第2ストロングセルのうち、いずれか1に対するリフレッシュを実行する段階をさらに含むことを特徴とする請求項14に記載のメモリ装置のリフレッシュ方法。
- 前記リフレッシュアドレスと比較される前記複数の第2アドレスを保存する段階さらに含むことを特徴とする請求項14に記載のメモリ装置のリフレッシュ方法。
- 前記リフレッシュアドレスが前記複数の第2アドレスのうち、いずれか1つである時、選択されたメモリバンクで前記複数の第2アドレスを有するそれぞれのメモリセルの代わりに前記ウィークセルに対するリフレッシュを実行する段階をさらに含むことを特徴とする請求項14に記載のメモリ装置のリフレッシュ方法。
- リフレッシュ周期でリフレッシュアドレスを生成する段階と、
前記リフレッシュアドレスが第2アドレスの時、前記第2アドレスを有する第1ストロングセルの代わりに第1アドレスを有するウィークセルに対するリフレッシュを実行する段階と、
前記リフレッシュアドレスが第3アドレスの時、前記第1ストロングセルまたは、前記第3アドレスを有する第2ストロングセルのうち、いずれか1つに対するリフレッシュを実行する段階と、を含み、
前記第3アドレスは前記第1及び第2アドレスのうち、いずれか1つの少なくとも2つの最下位ビットによって定義される範囲を有するアドレスのプールから選択されることを特徴とするメモリ装置のリフレッシュ方法。 - リフレッシュ周期で最初リフレッシュアドレスを生成するカウンタと、
前記最初リフレッシュアドレスが第2アドレスの時、前記第2アドレスを有する第1ストロングセルの代わりに第1アドレスを有するウィークセルがリフレッシュされるように最終リフレッシュアドレスとして前記第1アドレスを生成し、前記最初リフレッシュアドレスが第3アドレスの時、前記第1ストロングセルまたは、前記第3アドレスを有する第2ストロングセルのうち、いずれか1つがリフレッシュされるように前記最終アドレスとして、前記第2及び第3アドレスのうち、いずれか1つを生成するアドレス変更部と、
前記第1、第2及び第3アドレスのうち、いずれか1つに対するアドレス情報を保存する保存部と、を含むことを特徴とするリフレッシュアドレス生成器。 - 前記保存部は前記第1、第2及び第3アドレスのうち、いずれか1つだけを保存し、前記第1、第2及び第3アドレスのうち、保存されなかった2つのアドレスは前記保存されたアドレスとの所定のビット関係によって決定されることを特徴とする請求項20に記載のリフレッシュアドレス生成器。
- 前記第1及び第2ストロングセルの各々は、複数のリフレッシュ周期の間、1回リフレッシュされ、
前記アドレス変更部は、前記ウィークセルが1つのリフレッシュ周期の間に、複数回リフレッシュされるように、前記最初リフレッシュアドレスが前記第2アドレスの時、及び前記最初リフレッシュアドレスが前記第1アドレスの時、前記最終リフレッシュアドレスとして前記第1アドレスを生成することを特徴とする請求項20に記載のリフレッシュアドレス生成器。 - 前記最初リフレッシュアドレスが、前記第2及び第3アドレスのうち、いずれか1つであるか否かを決定するように前記最初リフレッシュアドレスを前記アドレス情報と比較する比較部をさらに含むことを特徴とする請求項20に記載のリフレッシュアドレス生成器。
- 前記ウィークセルは、前記リフレッシュ周期より短い保持時間を有し、前記第1及び第2ストロングセルの各々は、前記リフレッシュ周期の2倍より長い保持時間を有することを特徴とする請求項20に記載のリフレッシュアドレス生成器。
- 前記アドレス変更部は、前記最初リフレッシュアドレスが前記第3アドレスの時、フラグにより前記最終リフレッシュアドレスとして前記第2及び第3アドレスのうち、いずれか1つを生成することを特徴とする請求項20に記載のリフレッシュアドレス生成器。
- 前記第1アドレスと前記第2アドレスは、最上位ビットだけが互いに異なり、前記第2アドレスと前記第3アドレスとは最下位ビットだけが互いに異なることを特徴とする請求項20に記載のリフレッシュアドレス生成器。
- 前記第1、第2及び第3アドレスの各々は、ローアドレスであり、
前記最初リフレッシュアドレスが前記第2アドレスの時、前記第2アドレスを有する第1ストロングローの代わりに前記第1アドレスを有するウィークローに対するリフレッシュが実行され、
前記最初リフレッシュアドレスが前記第3アドレスの時、前記第1ストロングローまたは、前記第3アドレスを有する第2ストロングローのうち、いずれか1つに対するリフレッシュが実行されることを特徴とする請求項20に記載のリフレッシュアドレス生成器。 - 前記第1アドレスと前記第2アドレスは、最上位ビットだけが互いに異なり、前記第2アドレスと前記第3アドレスとは、前記最上位ビットを除いた他の1つのビットだけが互いに異なることを特徴とする請求項20に記載のリフレッシュアドレス生成器。
- 前記第3アドレスは、前記第1及び第2アドレスのうち、いずれか1つの少なくとも2つの最下位ビットによって定義される範囲を有するアドレスのプールから選択されることを特徴とする請求項20に記載のリフレッシュアドレス生成器。
- 前記アドレス変更部は、
前記最初リフレッシュアドレスが前記第2アドレスの時、フラグによって前記最終リフレッシュアドレスとして前記第1及び第2アドレスのうち、いずれか1つを生成し、
前記最初リフレッシュアドレスが前記第3アドレスの時、前記フラグによって前記最終リフレッシュアドレスとして前記第1及び第3アドレスのうち、いずれか1つを生成することを特徴とする請求項20に記載のリフレッシュアドレス生成器。 - 前記保存部は、少なくとも1つのメモリバンクに対するバンクアドレス情報を保存し、
前記最初リフレッシュアドレスが前記第2アドレスの時、前記バンクアドレス情報によって指示される選択されたメモリバンクで前記第1ストロングセルの代わりに前記ウィークセルに対するリフレッシュが実行され、選択されなかったメモリバンクで前記第2アドレスを有するメモリセルに対するリフレッシュが実行されることを特徴とする請求項20に記載のリフレッシュアドレス生成器。 - 前記最初リフレッシュアドレスが前記第3アドレスの時、前記選択されたメモリバンクで前記第1及び第2ストロングセルのうち、いずれか1つに対するリフレッシュが実行され、前記選択されなかったメモリバンクで前記第3アドレスを有するメモリセルに対するリフレッシュが実行されることを特徴とする請求項31に記載のリフレッシュアドレス生成器。
- 前記アドレス変更部は、前記最初リフレッシュアドレスが複数の第2アドレスのうち、いずれか1つである時、前記最終リフレッシュアドレスとして前記第1アドレスを生成することを特徴とする請求項20に記載のリフレッシュアドレス生成器。
- 前記アドレス変更部は、前記最初リフレッシュアドレスが複数の第3アドレスのうち、いずれか1つである時、前記最終リフレッシュアドレスとして前記複数の第2アドレス及び前記複数の第3アドレスのうち、いずれか1つを生成することを特徴とする請求項33に記載のリフレッシュアドレス生成器。
- 前記アドレス変更部は、前記最初リフレッシュアドレスが前記第3アドレスの時、前記最終リフレッシュアドレスとして前記複数の第2アドレス及び前記第3アドレスのうち、いずれか1つを生成することを特徴とする請求項33に記載のリフレッシュアドレス生成器。
- 前記保存部は前記最初リフレッシュアドレスと比較される前記複数の第2アドレスを保存することを特徴とする請求項33に記載のリフレッシュアドレス生成器。
- 前記最初リフレッシュアドレスが、前記複数の第2アドレスのうち、いずれか1つである時、選択されたメモリバンクで前記複数の第2アドレスを有するそれぞれのメモリセルの代わりに前記ウィークセルに対するリフレッシュが実行されることを特徴とする請求項33に記載のリフレッシュアドレス生成器。
- リフレッシュ周期で最初リフレッシュアドレスを生成するカウンタと、
前記最初リフレッシュアドレスが第2アドレスの時、前記第2アドレスを有する第1ストロングセルの代わりに第1アドレスを有するウィークセルがリフレッシュされるように最終リフレッシュアドレスとして前記第1アドレスを生成し、前記最初リフレッシュアドレスが第3アドレスの時、前記第1ストロングセルまたは、前記第3アドレスを有する第2ストロングセルのうち、いずれか1つがリフレッシュされるように前記最終アドレスとして前記第2及び第3アドレスのうち、いずれか1つを生成するアドレス変更部と、を含み、
前記第3アドレスは、前記第1及び第2アドレスのうち、いずれか1つの少なくとも2つの最下位ビットによって定義される範囲を有するアドレスのプールから選択されることを特徴とするリフレッシュアドレス生成器。 - セルアレイと、
前記セルアレイをリフレッシュするためのリフレッシュアドレス生成器と、を含み、
前記リフレッシュアドレス生成器は、
リフレッシュ周期で最初リフレッシュアドレスを生成するカウンタと、
前記最初リフレッシュアドレスが第2アドレスの時、前記第2アドレスを有する第1ストロングセルの代わりに第1アドレスを有するウィークセルがリフレッシュされるように最終リフレッシュアドレスとして前記第1アドレスを生成し、前記最初リフレッシュアドレスが第3アドレスの時、前記第1ストロングセルまたは、前記第3アドレスを有する第2ストロングセルのうち、いずれか1つがリフレッシュされるように前記最終アドレスとして前記第2及び第3アドレスのうち、いずれか1つを生成するアドレス変更部と、
前記第1、第2及び第3アドレスのうち、ただ1つに対するアドレス情報を保存する保存部と、を含むことを特徴とするメモリ装置。 - 前記保存部は前記第1、第2及び第3アドレスのうち、いずれか1つだけを保存し、前記第1、第2及び第3アドレスのうち、保存されなかった2つのアドレスは、前記保存されたアドレスとの所定のビット関係によって決定されることを特徴とする請求項39に記載のメモリ装置。
- 前記第1及び第2ストロングセルの各々は複数のリフレッシュ周期の間1回リフレッシュされ、前記アドレス変更部は、前記ウィークセルが1つのリフレッシュ周期の間複数回リフレッシュできるだけ、前記最初リフレッシュアドレスが前記第2アドレスの時、及び前記最初リフレッシュアドレスが前記第1アドレスの時、前記最終リフレッシュアドレスとして前記第1アドレスを生成することを特徴とする請求項39に記載のメモリ装置。
- 前記リフレッシュアドレス生成器は、
前記最初リフレッシュアドレスが前記第2及び第3アドレスのうち、いずれか1つであるか否かを決定するように前記最初リフレッシュアドレスを前記アドレス情報と比較する比較部をさらに含むことを特徴とする請求項39に記載のメモリ装置。 - 前記ウィークセルは、前記リフレッシュ周期より短い保持時間を有し、前記第1及び第2ストロングセルの各々は前記リフレッシュ周期の2倍より長い保持時間を有することを特徴とする請求項39に記載のメモリ装置。
- 前記アドレス変更部は、前記最初リフレッシュアドレスが前記第3アドレスの時、フラグによって前記最終リフレッシュアドレスとして前記第2及び第3アドレスのうち、いずれか1つを生成することを特徴とする請求項39に記載のメモリ装置。
- 前記第1アドレスと前記第2アドレスは、最上位ビットだけが互いに異なり、前記第2アドレスと前記第3アドレスは、最下位ビットだけが互いに異なることを特徴とする請求項39に記載のメモリ装置。
- 前記第1、第2及び第3アドレスの各々は、ローアドレスであり、
前記最初リフレッシュアドレスが前記第2アドレスの時、前記第2アドレスを有する第1ストロングローの代わりに前記第1アドレスを有するウィークローに対するリフレッシュが実行され、
前記最初リフレッシュアドレスが前記第3アドレスの時、前記第1ストロングローまたは、前記第3アドレスを有する第2ストロングローのうち、いずれか1つに対するリフレッシュが実行されることを特徴とする請求項39に記載のメモリ装置。 - 前記第1アドレスと前記第2アドレスは最上位ビットだけが互いに異なり、前記第2アドレスと前記第3アドレスは、前記最上位ビットを除いた他の1つのビットだけが互いに異なることを特徴とする請求項39に記載のメモリ装置。
- 前記第3アドレスは前記第1及び第2アドレスのうち、いずれか1つの少なくとも2つの最下位ビットによって定義される範囲を有するアドレスのプールから選択されることを特徴とする請求項39に記載のメモリ装置。
- 前記アドレス変更部は、
前記最初リフレッシュアドレスが前記第2アドレスの時、フラグによって前記最終リフレッシュアドレスとして前記第1及び第2アドレスのうち、いずれか1つを生成し、
前記最初リフレッシュアドレスが前記第3アドレスの時、前記フラグにより前記最終リフレッシュアドレスとして前記第1及び第3アドレスのうち、いずれか1つを生成することを特徴とする請求項39に記載に記載のメモリ装置。 - 前記保存部は少なくとも1つのメモリバンクに対するバンクアドレス情報を保存し、
前記最初リフレッシュアドレスが前記第2アドレスの時、前記バンクアドレス情報によって指示される選択されたメモリバンクで前記第1ストロングセルの代わりに前記ウィークセルに対するリフレッシュが実行され、選択されなかったメモリバンクで前記第2アドレスを有するメモリセルに対するリフレッシュが実行されることを特徴とする請求項39に記載のメモリ装置。 - 前記最初リフレッシュアドレスが、前記第3アドレスの時、前記選択されたメモリバンクで前記第1及び第2ストロングセルのうち、いずれか1つに対するリフレッシュが実行され、前記選択されなかったメモリバンクで前記第3アドレスを有するメモリセルに対するリフレッシュが実行されることを特徴とする請求項50に記載のメモリ装置。
- 前記アドレス変更部は、前記最初リフレッシュアドレスが複数の第2アドレスのうち、いずれか1つである時、前記最終リフレッシュアドレスとして前記第1アドレスを生成することを特徴とする請求項39に記載のメモリ装置。
- 前記アドレス変更部は、前記最初リフレッシュアドレスが複数の第3アドレスのうち、いずれか1つである時、前記最終リフレッシュアドレスとして前記複数の第2アドレス及び前記複数の第3アドレスのうち、いずれか1つを生成することを特徴とする請求項52に記載のメモリ装置。
- 前記アドレス変更部は、前記最初リフレッシュアドレスが前記第3アドレスの時、前記最終リフレッシュアドレスとして前記複数の第2アドレス及び前記第3アドレスのうち、いずれか1つを生成することを特徴とする請求項52に記載のメモリ装置。
- 前記保存部は、前記最初リフレッシュアドレスと比較される前記複数の第2アドレスを保存することを特徴とする請求項52に記載のメモリ装置。
- 前記最初リフレッシュアドレスが、前記複数の第2アドレスのうち、いずれか1つである時、選択されたメモリバンクで前記複数の第2アドレスを有するそれぞれのメモリセルの代わりに前記ウィークセルに対するリフレッシュが実行されることを特徴とする請求項52に記載のメモリ装置。
- セルアレイと、
前記セルアレイをリフレッシュするためのリフレッシュアドレス生成器と、を含み、
前記リフレッシュアドレス生成器は、
リフレッシュ周期で最初リフレッシュアドレスを生成するカウンタと、
前記最初リフレッシュアドレスが第2アドレスの時、前記第2アドレスを有する第1ストロングセルの代わりに第1アドレスを有するウィークセルがリフレッシュされるように最終リフレッシュアドレスとして前記第1アドレスを生成し、前記最初リフレッシュアドレスが第3アドレスの時、前記第1ストロングセルまたは、前記第3アドレスを有する第2ストロングセルのうち、いずれか1つがリフレッシュされるように前記最終アドレスとして前記第2及び第3アドレスのうち、いずれか1つを生成するアドレス変更部と、を含み、
前記第3アドレスは前記第1及び第2アドレスのうち、いずれか1つの少なくとも2つの最下位ビットによって定義される範囲を有するアドレスのプールから選択されたことを特徴とするメモリ装置。 - リフレッシュ周期でリフレッシュアドレスを生成する段階と、
前記リフレッシュアドレスが第2アドレスの時、フラグにより第1アドレスを有するウィークセルまたは、前記第2アドレスを有する第1ストロングセルに対するリフレッシュを実行する段階と、
前記リフレッシュアドレスが第3アドレスの時、前記フラグにより前記ウィークセルまたは、前記第3アドレスを有する第2ストロングセルに対するリフレッシュを実行する段階と、を含むメモリ装置のリフレッシュ方法。 - 前記リフレッシュアドレスが前記第2アドレスであり、前記フラグが第1所定のレベルである時、前記第1ストロングセルに対するリフレッシュを実行する段階と、
前記リフレッシュアドレスが前記第2アドレスであり、前記フラグが第2所定のレベルである時、前記第1ストロングセルの代わりに前記ウィークセルに対するリフレッシュを実行する段階と、
前記リフレッシュアドレスが前記第3アドレスであり、前記フラグが前記第1所定のレベルである時、前記第2ストロングセルの代わりに前記ウィークセルに対するリフレッシュを実行する段階と、
前記リフレッシュアドレスが前記第3アドレスであり、前記フラグが前記第2所定のレベルである時、前記第2ストロングセルに対するリフレッシュを実行する段階と、をさらに含むことを特徴とする請求項58に記載のメモリ装置のリフレッシュ方法。 - 前記第1及び第2ストロングセルの各々は、複数のリフレッシュ周期の間に1回リフレッシュされ、
前記ウィークセルは1つのリフレッシュ周期の間に複数回リフレッシュされることを特徴とする請求項59に記載のメモリ装置のリフレッシュ方法。 - 前記ウィークセルは、前記リフレッシュ周期より短い保持時間を有し、前記第1及び第2ストロングセルの各々は、前記リフレッシュ周期の2倍より長い保持時間を有することを特徴とする請求項59に記載のメモリ装置のリフレッシュ方法。
- リフレッシュ周期で最初リフレッシュアドレスを生成するカウンタと、
前記最初リフレッシュアドレスが第2アドレスの時にフラグによって最終リフレッシュアドレスとしてウィークセルの第1アドレスまたは、第1ストロングセルの前記第2アドレスのうち、いずれか1つを生成し、前記最初リフレッシュアドレスが第3アドレスの時、前記フラグにより前記最終リフレッシュアドレスとして前記第1アドレスまたは、第2ストロングセルの前記第3アドレスのうち、いずれか1つを生成するアドレス変更部と、を含み、
前記最終リフレッシュアドレスに相応する前記ウィークセルまたは、前記第1及び第2ストロングセルのうち、いずれか1つがリフレッシュされることを特徴とするリフレッシュアドレス生成器。 - 前記アドレス変更部は、
前記リフレッシュアドレスが前記第2アドレスであり、前記フラグが第1所定のレベルである時、前記最終リフレッシュアドレスとして前記第2アドレスを生成し、
前記リフレッシュアドレスが前記第2アドレスであり、前記フラグが第2所定のレベルである時、前記最終リフレッシュアドレスとして前記第2アドレスの代わりに前記第1アドレスを生成し、
前記リフレッシュアドレスが前記第3アドレスであり、前記フラグが前記第1所定のレベルである時、前記最終リフレッシュアドレスとして前記第3アドレスの代わりに前記第1アドレスを生成し、
前記リフレッシュアドレスが前記第3アドレスであり、前記フラグが前記第2所定のレベルである時、前記最終リフレッシュアドレスとして前記第3アドレスを生成することを特徴とする請求項62に記載のリフレッシュアドレス生成器。 - 前記第1及び第2ストロングセルの各々は、複数のリフレッシュ周期の間に1回リフレッシュされ、
前記ウィークセルは、1つのリフレッシュ周期の間に複数回リフレッシュされることを特徴とする請求項63に記載のリフレッシュアドレス生成器。 - 前記ウィークセルは、前記リフレッシュ周期より短い保持時間を有し、前記第1及び第2ストロングセルの各々は、前記リフレッシュ周期の2倍より長い保持時間を有することを特徴とする請求項63に記載のリフレッシュアドレス生成器。
- セルアレイと、
前記セルアレイをリフレッシュするためのリフレッシュアドレス生成器と、を含み、
前記リフレッシュアドレス生成器は、
リフレッシュ周期で最初リフレッシュアドレスを生成するカウンタと、
前記最初リフレッシュアドレスが第2アドレスの時にフラグによって最終リフレッシュアドレスとしてウィークセルの第1アドレスまたは、第1ストロングセルの前記第2アドレスのうち、いずれか1つを生成し、前記最初リフレッシュアドレスが第3アドレスの時、前記フラグによって前記最終リフレッシュアドレスとして前記第1アドレスまたは、第2ストロングセルの前記第3アドレスのうち、いずれか1つを生成するアドレス変更部と、を含み、
前記最終リフレッシュアドレスに相応する前記ウィークセルまたは、前記第1及び第2ストロングセルのうち、いずれか1つがリフレッシュされることを特徴とするメモリ装置。 - 前記アドレス変更部は、
前記リフレッシュアドレスが前記第2アドレスであり、前記フラグが第1所定のレベルである時、前記最終リフレッシュアドレスとして前記第2アドレスを生成し、
前記リフレッシュアドレスが前記第2アドレスであり、前記フラグが第2所定のレベルである時、前記最終リフレッシュアドレスとして前記第2アドレスの代わりに前記第1アドレスを生成し、
前記リフレッシュアドレスが前記第3アドレスであり、前記フラグが前記第1所定のレベルである時、前記最終リフレッシュアドレスとして前記第3アドレスの代わりに前記第1アドレスを生成し、
前記リフレッシュアドレスが前記第3アドレスであり、前記フラグが前記第2所定のレベルである時、前記最終リフレッシュアドレスとして前記第3アドレスを生成することを特徴とする請求項66に記載のメモリ装置。 - 前記第1及び第2ストロングセルの各々は、複数のリフレッシュ周期の間に1回リフレッシュされ、
前記ウィークセルは1つのリフレッシュ周期の間に複数回リフレッシュされることを特徴とする請求項67に記載のメモリ装置。 - 前記ウィークセルは、前記リフレッシュ周期より短い保持時間を有し、前記第1及び第2ストロングセルの各々は、前記リフレッシュ周期の2倍より長い保持時間を有することを特徴とする請求項67に記載のメモリ装置。
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US13/240,049 US8873324B2 (en) | 2011-05-25 | 2011-09-22 | Method of refreshing a memory device, refresh address generator and memory device |
Publications (1)
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Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013229096A (ja) * | 2012-04-24 | 2013-11-07 | Samsung Electronics Co Ltd | メモリ装置及びメモリコントローラ並びにメモリシステム |
JP2016526748A (ja) * | 2013-06-24 | 2016-09-05 | クアルコム,インコーポレイテッド | 弱保持時間を有するメモリセルのためのリフレッシュ方式 |
JP2016540337A (ja) * | 2013-12-09 | 2016-12-22 | クアルコム,インコーポレイテッド | ネクストビット表を用いたメモリセルのためのリフレッシュ方式 |
JP2017507404A (ja) * | 2014-01-31 | 2017-03-16 | ヒューレット−パッカード デベロップメント カンパニー エル.ピー.Hewlett‐Packard Development Company, L.P. | 消去可能prom用の3次元アドレス指定 |
JP2017521808A (ja) * | 2014-06-09 | 2017-08-03 | 華為技術有限公司Huawei Technologies Co.,Ltd. | ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリ(dram)をリフレッシュするための方法およびシステム、およびデバイス |
Families Citing this family (34)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101893895B1 (ko) * | 2011-12-16 | 2018-09-03 | 삼성전자주식회사 | 메모리 시스템 및 그 동작 제어 방법 |
KR20130117198A (ko) * | 2012-04-18 | 2013-10-25 | 삼성전자주식회사 | 메모리 셀의 리프레쉬 방법 및 이를 이용한 반도체 메모리 장치 |
KR101977665B1 (ko) * | 2012-07-12 | 2019-08-28 | 삼성전자주식회사 | 리프레쉬 주기를 조절하는 반도체 메모리 장치, 메모리 시스템 및 그 동작방법 |
KR20140042362A (ko) * | 2012-09-28 | 2014-04-07 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 장치 및 그 동작 방법 |
KR102048407B1 (ko) * | 2012-10-19 | 2019-11-25 | 삼성전자주식회사 | 리프레쉬 어드레스 생성기 및 휘발성 메모리 장치 |
KR20140076735A (ko) * | 2012-12-13 | 2014-06-23 | 삼성전자주식회사 | 휘발성 메모리 장치 및 메모리 시스템 |
US9183917B1 (en) | 2012-12-21 | 2015-11-10 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Memory device, operating method thereof, and system having the memory device |
KR102125230B1 (ko) * | 2013-03-13 | 2020-06-22 | 삼성전자주식회사 | 디램 및 리프레시 제어방법 |
US9575898B2 (en) | 2013-03-28 | 2017-02-21 | Hewlett Packard Enterprise Development Lp | Implementing coherency with reflective memory |
KR102105894B1 (ko) | 2013-05-30 | 2020-05-06 | 삼성전자주식회사 | 휘발성 메모리 장치 및 그것의 리프레쉬 방법 |
US9685217B2 (en) * | 2013-07-22 | 2017-06-20 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Ltd. | Memory device with over-refresh and method thereof |
KR20150017276A (ko) | 2013-08-06 | 2015-02-16 | 삼성전자주식회사 | 리프레쉬 레버리징 효율을 향상시키는 휘발성 메모리 장치의 리프레쉬 방법 |
KR20150026227A (ko) | 2013-09-02 | 2015-03-11 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 메모리 장치 |
US9396786B2 (en) | 2013-09-25 | 2016-07-19 | SK Hynix Inc. | Memory and memory system including the same |
KR102116980B1 (ko) | 2014-07-02 | 2020-05-29 | 삼성전자 주식회사 | 리던던시 메모리 셀의 리프레쉬 동작을 제어하는 반도체 메모리 장치 |
KR20160069213A (ko) | 2014-12-08 | 2016-06-16 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 메모리 장치 |
KR102252376B1 (ko) | 2014-12-08 | 2021-05-14 | 삼성전자주식회사 | 셀 특성 플래그를 이용하여 리프레쉬 동작을 제어하는 메모리 장치 |
US9349431B1 (en) | 2015-03-17 | 2016-05-24 | Qualcomm Incorporated | Systems and methods to refresh storage elements |
US9601182B2 (en) | 2015-05-08 | 2017-03-21 | Micron Technology, Inc. | Frequency synthesis for memory input-output operations |
KR102389259B1 (ko) * | 2015-10-15 | 2022-04-22 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 메모리 장치 및 메모리 장치의 동작 방법 |
KR20180042488A (ko) | 2016-10-17 | 2018-04-26 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 메모리 장치 |
KR102662764B1 (ko) | 2016-11-17 | 2024-05-02 | 삼성전자주식회사 | 페이지 버퍼, 이를 포함하는 메모리 장치 및 이의 독출 방법 |
GB2560968B (en) * | 2017-03-30 | 2020-07-29 | Advanced Risc Mach Ltd | Control of refresh operation for memory regions |
US10504580B2 (en) | 2017-08-31 | 2019-12-10 | Micron Technology, Inc. | Systems and methods for refreshing a memory bank while accessing another memory bank using a shared address path |
US10332580B2 (en) | 2017-10-12 | 2019-06-25 | Nanya Technology Corporation | DRAM and method for determining binary logic using a test voltage level |
US10127967B1 (en) * | 2017-11-09 | 2018-11-13 | Nanya Technology Corporation | DRAM and method for operating the same |
US10332579B2 (en) | 2017-11-30 | 2019-06-25 | Nanya Technology Corporation | DRAM and method for operating the same |
KR102408867B1 (ko) * | 2017-12-20 | 2022-06-14 | 삼성전자주식회사 | 반도체 메모리 장치, 메모리 시스템 및 반도체 메모리 장치의 동작 방법 |
KR20190139082A (ko) * | 2018-06-07 | 2019-12-17 | 삼성전자주식회사 | 메모리 장치의 비트 에러율 균등화 방법 |
KR102479500B1 (ko) | 2018-08-09 | 2022-12-20 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 메모리 장치, 메모리 시스템 및 그 메모리 장치의 리프레시 방법 |
US10468076B1 (en) * | 2018-08-17 | 2019-11-05 | Micron Technology, Inc. | Redundancy area refresh rate increase |
US10991414B2 (en) * | 2019-04-12 | 2021-04-27 | Western Digital Technologies, Inc. | Granular refresh rate control for memory devices based on bit position |
CN110855894B (zh) * | 2019-12-05 | 2020-12-15 | 中科微至智能制造科技江苏股份有限公司 | 图像数据采集方法和装置 |
US11328752B2 (en) * | 2020-05-20 | 2022-05-10 | Silicon Storage Technology, Inc. | Self-timed sensing architecture for a non-volatile memory system |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6603694B1 (en) * | 2002-02-05 | 2003-08-05 | Infineon Technologies North America Corp. | Dynamic memory refresh circuitry |
US7095669B2 (en) | 2003-11-07 | 2006-08-22 | Infineon Technologies Ag | Refresh for dynamic cells with weak retention |
KR100689708B1 (ko) * | 2005-01-05 | 2007-03-08 | 삼성전자주식회사 | 반도체 장치 |
JP4524645B2 (ja) | 2005-06-01 | 2010-08-18 | エルピーダメモリ株式会社 | 半導体装置 |
US7734866B2 (en) * | 2005-08-04 | 2010-06-08 | Rambus Inc. | Memory with address-differentiated refresh rate to accommodate low-retention storage rows |
US7565479B2 (en) | 2005-08-04 | 2009-07-21 | Rambus Inc. | Memory with refresh cycle donation to accommodate low-retention-storage rows |
KR20130117198A (ko) * | 2012-04-18 | 2013-10-25 | 삼성전자주식회사 | 메모리 셀의 리프레쉬 방법 및 이를 이용한 반도체 메모리 장치 |
-
2011
- 2011-05-25 KR KR1020110049579A patent/KR101879442B1/ko active IP Right Grant
- 2011-09-22 US US13/240,049 patent/US8873324B2/en active Active
-
2012
- 2012-02-14 TW TW101104787A patent/TW201248627A/zh unknown
- 2012-03-02 JP JP2012047122A patent/JP2012248265A/ja active Pending
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013229096A (ja) * | 2012-04-24 | 2013-11-07 | Samsung Electronics Co Ltd | メモリ装置及びメモリコントローラ並びにメモリシステム |
US9653141B2 (en) | 2012-04-24 | 2017-05-16 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method of operating a volatile memory device and a memory controller |
JP2016526748A (ja) * | 2013-06-24 | 2016-09-05 | クアルコム,インコーポレイテッド | 弱保持時間を有するメモリセルのためのリフレッシュ方式 |
JP2016540337A (ja) * | 2013-12-09 | 2016-12-22 | クアルコム,インコーポレイテッド | ネクストビット表を用いたメモリセルのためのリフレッシュ方式 |
JP2017507404A (ja) * | 2014-01-31 | 2017-03-16 | ヒューレット−パッカード デベロップメント カンパニー エル.ピー.Hewlett‐Packard Development Company, L.P. | 消去可能prom用の3次元アドレス指定 |
US9773556B2 (en) | 2014-01-31 | 2017-09-26 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Three-dimensional addressing for erasable programmable read only memory |
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US10007599B2 (en) | 2014-06-09 | 2018-06-26 | Huawei Technologies Co., Ltd. | Method for refreshing dynamic random access memory and a computer system |
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