JP2012242122A - 自動分析装置及び自動分析プログラム - Google Patents

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014202608A (ja) * 2013-04-04 2014-10-27 日本光電工業株式会社 外部精度管理の評価用データの表示方法
JP2015021952A (ja) * 2013-07-23 2015-02-02 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置および分析方法
WO2015098473A1 (ja) * 2013-12-25 2015-07-02 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置及び分析方法
JP2021515291A (ja) * 2018-02-26 2021-06-17 ベクトン・ディキンソン・アンド・カンパニーＢｅｃｔｏｎ， Ｄｉｃｋｉｎｓｏｎ Ａｎｄ Ｃｏｍｐａｎｙ 安全在庫モデリングのための視覚的対話型アプリケーション

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6257418B2 (ja) * 2014-04-01 2018-01-10 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
WO2015160420A1 (en) 2014-04-14 2015-10-22 Becton, Dickinson And Company Reagent calibration system and method
JP6694868B2 (ja) * 2015-03-02 2020-05-20 株式会社日立ハイテク 自動分析装置
WO2017011549A1 (en) 2015-07-15 2017-01-19 Becton, Dickinson And Company System and method for label selection
EP3432314B1 (en) 2017-07-17 2025-09-24 F. Hoffmann-La Roche AG Techniques for determining coagulation results
JP6931574B2 (ja) * 2017-08-31 2021-09-08 株式会社ミツトヨ 熱膨張係数測定装置、及び熱膨張係数測定方法
EP3869203A4 (en) * 2018-10-17 2022-07-13 Hitachi High-Tech Corporation METHOD OF DETERMINING ANOMALIES AND AUTOMATED ANALYZER
CN111380819A (zh) * 2018-12-29 2020-07-07 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 一种反应数据显示方法和样本分析装置
CN111381055A (zh) * 2018-12-29 2020-07-07 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 一种校准数据显示方法和样本分析装置
WO2020142874A1 (zh) * 2019-01-07 2020-07-16 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 样本分析设备和试剂分配的评估方法
JP7188561B2 (ja) * 2019-03-22 2022-12-13 株式会社島津製作所 試料測定装置および測定試料同定方法
CN113574390B (zh) * 2019-03-26 2024-10-11 株式会社日立高新技术 数据解析方法、数据解析系统以及计算机
CN110415756B (zh) * 2019-07-31 2021-06-08 东莞记忆存储科技有限公司 一种测试ssd标签信息的方法及其装置
EP4462127A1 (en) * 2022-01-05 2024-11-13 Hitachi High-Tech Corporation Prediction line calculating device, and prediction line calculation method
EP4478052A1 (en) * 2022-02-09 2024-12-18 Hitachi High-Tech Corporation Data analysis method, data analysis system, and computer

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04191958A (ja) * 1990-11-27 1992-07-10 Toshiba Corp 多変数回帰分析装置
JP2000181903A (ja) * 1998-12-17 2000-06-30 Casio Comput Co Ltd 計算装置及び記憶媒体
JP2010261822A (ja) * 2009-05-08 2010-11-18 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置、及び分析方法
JP2010271095A (ja) * 2009-05-20 2010-12-02 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置及び分析方法

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60161560A (ja) 1983-12-08 1985-08-23 Tokuyama Soda Co Ltd 自動分析装置のデ−タ処理装置
JPH04286940A (ja) 1991-03-15 1992-10-12 Jeol Ltd 生化学自動分析装置
JP3445799B2 (ja) * 1996-12-25 2003-09-08 株式会社日立製作所 パターン認識装置及びパターン認識方法
JP4254323B2 (ja) 2003-04-18 2009-04-15 株式会社デンソー 異物検査方法及び異物検査装置
JP4130905B2 (ja) * 2003-06-23 2008-08-13 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
US20050226782A1 (en) * 2003-09-19 2005-10-13 Reed Mark T High density plate filler
JP4369313B2 (ja) * 2004-07-02 2009-11-18 株式会社日立ハイテクノロジーズ 臨床検査システム
JP4366261B2 (ja) 2004-07-09 2009-11-18 株式会社日立ハイテクノロジーズ 測定反応過程の異常の有無判定方法，該方法を実行可能な自動分析装置及び該方法のプログラムを記憶した記憶媒体
JP4706316B2 (ja) 2005-04-18 2011-06-22 横浜ゴム株式会社 タイヤ試験装置およびタイヤ試験方法
WO2010099170A1 (en) * 2009-02-27 2010-09-02 Ortho-Clinical Diagnostics, Inc. Method for detecting the impending analytical failure of networked diagnostic clinical analyzers
US8762068B2 (en) 2009-07-24 2014-06-24 Lawrence Livermore National Security, Llc Methods for threshold determination in multiplexed assays
JP2011075493A (ja) 2009-10-01 2011-04-14 Ushio Inc 血液分析装置
JP6073117B2 (ja) * 2012-11-26 2017-02-01 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置、自動分析方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04191958A (ja) * 1990-11-27 1992-07-10 Toshiba Corp 多変数回帰分析装置
JP2000181903A (ja) * 1998-12-17 2000-06-30 Casio Comput Co Ltd 計算装置及び記憶媒体
JP2010261822A (ja) * 2009-05-08 2010-11-18 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置、及び分析方法
JP2010271095A (ja) * 2009-05-20 2010-12-02 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置及び分析方法

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014202608A (ja) * 2013-04-04 2014-10-27 日本光電工業株式会社 外部精度管理の評価用データの表示方法
JP2015021952A (ja) * 2013-07-23 2015-02-02 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置および分析方法
WO2015098473A1 (ja) * 2013-12-25 2015-07-02 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置及び分析方法
JPWO2015098473A1 (ja) * 2013-12-25 2017-03-23 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置及び分析方法
US10295555B2 (en) 2013-12-25 2019-05-21 Hitachi High-Technologies Corporation Automatic analysis device and analysis method
JP2021515291A (ja) * 2018-02-26 2021-06-17 ベクトン・ディキンソン・アンド・カンパニーＢｅｃｔｏｎ， Ｄｉｃｋｉｎｓｏｎ Ａｎｄ Ｃｏｍｐａｎｙ 安全在庫モデリングのための視覚的対話型アプリケーション
JP7535455B2 (ja) 2018-02-26 2024-08-16 ベクトン・ディキンソン・アンド・カンパニー 安全在庫モデリングのための視覚的対話型アプリケーション

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