JP2010261822A - 自動分析装置、及び分析方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】データ処理手段が、前記吸光度と前記吸光度が計測された時刻を時系列データとして記憶し、吸光度をx、時間をtと、乗算を表す記号を*とする時、関数x=a0+a1*exp(−k1*t)+a2*exp(−k2*t)により算出される前記測定時刻における前記吸光度と、前記時系列データとの差が小さくなるように前記式中のパラメータa0,a1,a2,ai,k1,k2の値を算出し、前記パラメータの値に基づき異常の有無を判定する。
【選択図】 図1
Description
(1)標準液を使用したキャリブレーション
各項目の試薬ボトルごとに校正を実施する。ブランク液と標準液を測定して、原点の決定,単位濃度あたりの吸光度を算出し、換算係数(Kファクターと以下は略す。)を算出する。一般的には、吸光度の大きさ,Kファクターの経時的な変動を臨床検査技師が確認して、キャリブレーション結果の良否を判断する。
(2)精度管理
キャリブレーション後に濃度既知の精度管理試料を測定し、基準値との差を確認する。また、患者検体を測定中は、一定時間ごとに定期的に精度管理試料を測定して、許容値とのずれを確認する。許容値を超えたときに、試薬,装置、いずれかに問題が発生しているとして点検する。
x=A/(1+kt)+B …(数3)
x=a0+Σ{ai*exp(−ki*t)} …(数5)
x=a0+Σ[n]{ai*exp(−ki*t)}+Σ[m]{bi/(ci+di*t)}
+Σ[l]{(pi/(exp(qi*t)+ri)) …(数6)
(1)日常の検査データで攪拌機構の性能評価
日常の検査データ,精度管理試料データ,患者検体データの反応過程から近似式のパラメータ値を算出する。パラメータ値は記憶され日々のパラメータ値をモニタリングする。パラメータ値に基づき異常が検出された場合には、攪拌機構などの不良の可能性を指し示すことができる。本発明によれば、パラメータ値の経時変化から攪拌機構などの性能管理が可能になり装置の性能維持に貢献することができる。
(2)試薬劣化の検知
本発明によれば、試薬の反応性を精度管理試料の結果や日常の検査における患者検体データから近似式パラメータをモニタリングすることによって、試薬の反応性を評価することができる。装置使用者が誤って、別の試薬を混入させてしまった場合や試薬ボトル中の試薬が希釈されてしまった場合、反応が緩慢になり本発明によってその緩慢反応を試薬劣化として検知することが可能になる。装置には日々の各項目の近似式計算パラメータが記録されており、あるテストにおいてあらかじめ定められた近似式計算パラメータの数値から逸脱した場合、試薬劣化を検知しアラームを発し装置使用者に知らせることができる。あらかじめ定められた数値ではなく、数日間分の各項目における近似式計算パラメータからその閾値を自動的に定めるようにしてもよい。
(3)試薬ロット変更の記録
本発明によれば、装置使用者が前回と異なるロットの試薬を補充すると試薬の反応性が異なり、近似式パラメータによって検知することができる。試薬のロットが変わるときキャリブレーションを行わないと間違った測定値が算出されてしまう危険性がある。本発明を搭載した装置では、試薬ロットの変更を自動検知しキャリブレーションが行われなかった場合にアラームを発し、キャリブレーションを行うように促し間違った測定値の算出を防ぐことが可能になる。試薬ロット変更およびキャリブレーションの実施は装置の記憶部に記録される。これまでは装置使用者が試薬のロット変更情報を装置外のリストで管理していたが、本発明の機能を搭載することによって装置が試薬ロット変更を検知するため、その記録をもとに試薬の使用頻度を認識し試薬発注や在庫状況の把握を支援することが可能になる。
(4)試薬反応性の評価
本発明によれば、購入する試薬を検討する際に同一項目において複数種類の試薬から近似式パラメータを算出し、パラメータ値に基づいた反応性評価が可能になる。また、試薬開発においても近似式パラメータにより試薬の反応性を評価することが可能になり反応が良く、安定的な試薬の基準を定めることができる。
(5)精度管理の指標
本発明によれば、各測定項目において標準液とコントロールの反応過程から近似式パラメータを算出し、それをモニタリングすることにより精度管理試料の指標とすることができる。
(6)各試薬の特性と攪拌レベルの評価方法
本発明の評価方法によれば、各測定項目の各試薬の特性に対して最適な攪拌レベルを検討することができる。
(7)試薬プローブの洗浄水による試薬希釈検知
測定値だけでは試薬が希釈されたことにより生じた緩慢反応をチェックできず測定値が高値になってしまっていることに気付き難い。日常業務において臨床検査技師が全テストの反応過程を目視チェックすることは困難であり、特に緩慢反応は測定値が正常値の範囲以内であれば見落とされ、精確性の低い結果を出してしまう可能性がある。本発明によれば、試薬プローブの洗浄水によって試薬が希釈されてしまった場合、反応過程から得られた近似式計算パラメータの数値で反応の緩慢度を数値で評価することができる。測定値と一緒に緩慢度の評価値を表示させることにより反応状況を把握することができるため精確な結果を報告することができる。緩慢反応を検知できることは、下記の機能を可能にすることである。
・試薬劣化の定量的評価機能
・洗浄水で試薬が希釈されたことを検知する機能
・装置使用者が、誤って別の試薬を混入させたことを検知する機能
(8)検査データの信頼性保証
近似式計算パラメータは、各検査データの反応過程を用いて各々を評価するため、分析した患者検体の測定結果について正常反応の確信度の評価値と成り得る。例えば生化学自動分析装置による患者検体の測定においてある項目の前回値と今回の測定値が異なった場合、検査技師はその他の関連する項目やその項目の反応過程を見て、再検するかどうかを判断する。その場合の指標の1つとして近似式計算パラメータの値が正常反応の分布内に存在する場合にはわざわざ再検することなく、試料と検体との反応性に問題はないという結果を報告することができる。
1 x′2 x″2
1 x′3 x″3
: : :
1 x′(m−1) x″(m−1)
X=AR …(数11)
2 試薬ディスク
3 反応ディスク
4 反応槽
5 サンプリング機構
6 ピペッティング機構
7 攪拌機構
8 測光機構
9 洗浄機構
10 表示部
11 入力部
12 記憶部
13 制御部
14 圧電素子ドライバ
15 攪拌機構コントローラ
16 試料容器
17,19 円形ディスク
18 試薬ボトル
20 保冷庫
21 反応容器
22 反応容器ホルダ
23 駆動機構
24,27 プローブ
25,28 支承軸
26,29 アーム
31 固定部
32 電極
33 ノズル
34 上下駆動機構
110 時間の経過を表す軸
120 吸光度を表す軸
140 各時点において計測された吸光度を表す記号
150 近似式による算出された吸光度を表す曲線
220 計測された吸光度と近似式により算出された吸光度の誤差を表す軸
230 (数1)を近似式として用いた場合の計測された吸光度と近似式により算出された吸光度の誤差を表す曲線
240 (数2)を近似式として用いた場合の計測された吸光度と近似式により算出された吸光度の誤差を表す曲線
250 (数4)を近似式として用いた場合の計測された吸光度と近似式により算出された吸光度の誤差を表す曲線
310 (数4)のパラメータk1の値を表す軸
320 (数4)のパラメータk2の値を表す軸
330 正常な攪拌条件における近似式パラメータk1,k2の値を表す記号
340 異常な攪拌条件における近似式パラメータk1,k2の値を表す記号
350 正常な攪拌条件における近似式パラメータと、異常な攪拌条件における近似式パラメータとを識別するための直線の例
360 正常な攪拌条件における近似式パラメータの分布範囲
410 (数1)のパラメータA1の値を表す軸
420 (数1)のパラメータkの値を表す軸
430 正常な攪拌条件における近似式パラメータA1,kの値を表す記号
440 異常な攪拌条件における近似式パラメータA1,kの値を表す記号
Claims (11)
- 測定項目毎、または検体毎に対応付けられた、測定値の時間変化の近似式を記憶する記憶機構と、
実測値に対応するように前記記憶機構に記憶された近似式のパラメータを最適化するパラメータ最適化機構と、
前記パラメータ最適化機構で最適化されたパラメータに基づき異常の有無を判定する判定機構と、
を備えたことを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1記載の自動分析装置において、
前記近似式の1つが、測定時刻をt、計算値をx、乗算を表す記号を*とする時、式
x=a0+a1*exp(−k1*t)+a2*exp(−k2*t)
であり、測定時刻における実測値と、上記近似式で求められる計算値との差が小さくなるように該式中のパラメータa0,a1,a2,k1,k2の値を算出し、該パラメータの値に基づき、前記判定機構で異常の有無を判定することを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1記載の自動分析装置において、
前記近似式の1つが、測定時刻をt、計算値をxとし、Σ{ }を{ }内の式のiを1からnまで変化させ、加算した和を表す記号とし、nを1以上の整数とし、乗算を表す記号を*とする時、式
x=a0+Σ{ai*exp(−ki*t)}
であり、測定時刻における実測値と、上記近似式で求められる計算値との差が小さくなるように前記式中のパラメータa0,ai,kiの値を算出し、該パラメータの値に基づき、前記判定機構で異常の有無を判定することを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1記載の自動分析装置において、
前記近似式の1つが、測定時刻をt、計算値をxとし、Σ[n]{ }を{ }内の式のiを1からnまで変化させ、加算した和を表す記号とし、Σ[m]{ }を{ }内の式のiを1からmまで変化させ、加算した和を表す記号とし、Σ[l]{ }を{ }内の式のiを1からlまで変化させ、加算した和を表す記号とし、n,m,lを1以上の整数とし、乗算を表す記号を*とする時、式
x=a0+Σ[n]{ai*exp(−ki*t)}+Σ[m]{bi/(ci+di*t))
+Σ[l]{(pi/(exp(qi*t)+ri))
であり、測定時刻における実測値と、上記近似式で求められる計算値との差が小さくなるように前記式中のパラメータa0,ai,ki,bi,ci,di,pi,qi,riの値を算出し、該パラメータの値に基づき、前記判定機構で異常の有無を判定することを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1記載の自動分析装置において、
前記近似式の一次または二次以上の時間微分を計算し、測定時刻をt、計算値をxとし、該計算値の時刻tにおけるn次時間微分をx[n](t)、Σ{ }を{ }内の式のiを0からnまで変化させ、加算した和を表す記号、nを整数、乗算を表す記号を*とする時、式
p+Σ{pi*x[n](t)}=0
となるようなパラメータp,piの値を算出し、前記パラメータの値に基づき異常の有無を判定することを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1記載の自動分析装置において、
前記近似式の一次または二次以上の時間微分を計算し、測定時刻をt、計算値をxとし、Σ{ }を{ }内の式のiを0からnまで変化させ、加算した和を表す記号、nを1以上の整数、fi(t,x)をtまたはxまたはxの任意の次数の時間微分を含む関数,乗算を表す記号を*とし、fi(t,x)は定数である場合も含む時、式
Σ{qi*fi(t,x)}=0
となるようパラメータqiの値を算出し、前記パラメータの値に基づき異常の有無を判定することを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1記載の自動分析装置において、
前記判定機構は、前記パラメータ最適化機構で最適化されたパラメータを、正常な状態において得られたパラメータの分布と比較し、異常の有無を判定することを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1記載の自動分析装置において、
前記判定機構は、前記パラメータ最適化機構で最適化されたパラメータを、正常な状態において得られたパラメータ値の分布と、異常な状態において得られたパラメータ値の分布の双方と比較し、異常の有無を判定することを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1記載の自動分析装置において、
前記判定機構は、前記パラメータ最適化機構で最適化されたパラメータを、異常原因がわかっている異常な状態において得られたパラメータ値の分布と比較し、異常の原因を推定する異常原因推定機構を備えたことを特徴とする自動分析装置。 - 測定項目毎、または検体毎に記憶された測定値の時間変化の近似式に基づき、実測値に対応するように前記記憶機構に記憶された近似式のパラメータを最適化するパラメータ最適化ステップと、
前記パラメータ最適化ステップで最適化されたパラメータに基づき異常の有無を判定する判定ステップと、
を備えたことを特徴とする分析方法。 - 請求項10記載の分析方法において、
前記判定ステップは更に、前記パラメータ最適化ステップで得られたパラメータ値を、異常原因がわかっている異常な状態において得られたパラメータ値の分布と比較し、異常原因を推定する異常原因推定ステップを有することを特徴とする分析方法。
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Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2012157386A1 (ja) | 2011-05-16 | 2012-11-22 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置及び自動分析プログラム |
JP2013213674A (ja) * | 2012-03-30 | 2013-10-17 | Mitsubishi Chemical Medience Corp | 測定データの異常を検出する方法、及び、測定データの異常検出装置 |
JP2014202608A (ja) * | 2013-04-04 | 2014-10-27 | 日本光電工業株式会社 | 外部精度管理の評価用データの表示方法 |
JP2015045662A (ja) * | 2014-12-08 | 2015-03-12 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置及び自動分析プログラム |
US9476893B2 (en) | 2009-05-20 | 2016-10-25 | Hitachi High-Technologies Corporation | Automatic analysis device and analysis method |
WO2023153032A1 (ja) * | 2022-02-09 | 2023-08-17 | 株式会社日立ハイテク | データ解析方法、データ解析システム、および計算機 |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5193940B2 (ja) * | 2009-05-11 | 2013-05-08 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
CN103091287B (zh) | 2011-10-31 | 2015-04-01 | 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 | 一种血液分析仪测量结果的自诊断方法和装置 |
JP5953164B2 (ja) * | 2012-07-30 | 2016-07-20 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | データ処理装置及びそれを用いた自動分析装置 |
JP6426702B2 (ja) * | 2014-03-14 | 2018-11-21 | テルモ株式会社 | 成分測定装置、方法及びプログラム |
EP3215942A4 (en) * | 2014-11-07 | 2018-06-13 | General Electric Company | Analytic engine for use with remote monitoring data and imperfect asset models |
CN108318436B (zh) * | 2018-02-06 | 2021-05-04 | 迈克医疗电子有限公司 | 反应曲线生成方法、装置及光学检测系统 |
CN112955749B (zh) * | 2018-10-17 | 2023-12-12 | 株式会社日立高新技术 | 异常判定方法和自动分析装置 |
CN111381055A (zh) * | 2018-12-29 | 2020-07-07 | 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 | 一种校准数据显示方法和样本分析装置 |
CN113574390A (zh) * | 2019-03-26 | 2021-10-29 | 株式会社日立高新技术 | 数据解析方法、数据解析系统以及计算机 |
Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57147039A (en) * | 1981-03-09 | 1982-09-10 | Hitachi Ltd | Data discriminating device for photometer |
JPH0359461A (ja) * | 1989-07-27 | 1991-03-14 | Shimadzu Corp | 生化学自動分析装置 |
JPH0450752A (ja) * | 1990-06-20 | 1992-02-19 | Nittec Co Ltd | 自動分析装置 |
JPH06194313A (ja) * | 1992-12-24 | 1994-07-15 | Jeol Ltd | 反応測定方法 |
JPH06249856A (ja) * | 1993-02-26 | 1994-09-09 | Shimadzu Corp | 生化学自動分析装置における測定方法 |
JPH08219984A (ja) * | 1995-02-13 | 1996-08-30 | Jeol Ltd | 生化学分析装置 |
JP2001083081A (ja) * | 1999-09-17 | 2001-03-30 | Hitachi Ltd | 自動化学分析装置における非直線検量線作成方法 |
JP2003057248A (ja) * | 2001-08-21 | 2003-02-26 | Hitachi Ltd | 自動分析装置及び化学分析方法の精度管理方法 |
JP2004347385A (ja) * | 2003-05-21 | 2004-12-09 | Hitachi Ltd | 異常検出システム及び異常検出方法 |
JP2006337125A (ja) * | 2005-06-01 | 2006-12-14 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置,自動分析装置を用いた分析方法 |
JP2009047638A (ja) * | 2007-08-22 | 2009-03-05 | Toshiba Corp | 自動分析装置 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0627743B2 (ja) * | 1985-03-25 | 1994-04-13 | 株式会社日立製作所 | 自動分析装置 |
JP4287753B2 (ja) * | 2004-01-19 | 2009-07-01 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 分析装置 |
CN101087862B (zh) * | 2004-09-02 | 2011-10-26 | 澳大利亚聚合物有限公司 | 包含聚合物取代基的光致变色化合物及其制备方法和用途 |
US20070178504A1 (en) * | 2005-12-22 | 2007-08-02 | Tracey Colpitts | Methods and marker combinations for screening for predisposition to lung cancer |
US20080133141A1 (en) * | 2005-12-22 | 2008-06-05 | Frost Stephen J | Weighted Scoring Methods and Use Thereof in Screening |
JP2009002864A (ja) * | 2007-06-22 | 2009-01-08 | Olympus Corp | 分析装置および分析方法 |
WO2009021178A1 (en) * | 2007-08-08 | 2009-02-12 | Chemimage Corporation | Raman difference spectra based disease classification |
CN102203257B (zh) * | 2007-10-25 | 2014-01-08 | 斯克利普斯研究院 | 3-氨基酪氨酸遗传掺入还原酶 |
JP4654256B2 (ja) * | 2008-02-28 | 2011-03-16 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
-
2009
- 2009-05-08 JP JP2009113138A patent/JP5193937B2/ja active Active
-
2010
- 2010-04-12 US US13/318,535 patent/US9310388B2/en active Active
- 2010-04-12 EP EP10772102.9A patent/EP2428802B1/en active Active
- 2010-04-12 WO PCT/JP2010/002631 patent/WO2010128575A1/ja active Application Filing
- 2010-04-12 CN CN201080020330.7A patent/CN102422162B/zh active Active
Patent Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57147039A (en) * | 1981-03-09 | 1982-09-10 | Hitachi Ltd | Data discriminating device for photometer |
JPH0359461A (ja) * | 1989-07-27 | 1991-03-14 | Shimadzu Corp | 生化学自動分析装置 |
JPH0450752A (ja) * | 1990-06-20 | 1992-02-19 | Nittec Co Ltd | 自動分析装置 |
JPH06194313A (ja) * | 1992-12-24 | 1994-07-15 | Jeol Ltd | 反応測定方法 |
JPH06249856A (ja) * | 1993-02-26 | 1994-09-09 | Shimadzu Corp | 生化学自動分析装置における測定方法 |
JPH08219984A (ja) * | 1995-02-13 | 1996-08-30 | Jeol Ltd | 生化学分析装置 |
JP2001083081A (ja) * | 1999-09-17 | 2001-03-30 | Hitachi Ltd | 自動化学分析装置における非直線検量線作成方法 |
JP2003057248A (ja) * | 2001-08-21 | 2003-02-26 | Hitachi Ltd | 自動分析装置及び化学分析方法の精度管理方法 |
JP2004347385A (ja) * | 2003-05-21 | 2004-12-09 | Hitachi Ltd | 異常検出システム及び異常検出方法 |
JP2006337125A (ja) * | 2005-06-01 | 2006-12-14 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置,自動分析装置を用いた分析方法 |
JP2009047638A (ja) * | 2007-08-22 | 2009-03-05 | Toshiba Corp | 自動分析装置 |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9476893B2 (en) | 2009-05-20 | 2016-10-25 | Hitachi High-Technologies Corporation | Automatic analysis device and analysis method |
WO2012157386A1 (ja) | 2011-05-16 | 2012-11-22 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置及び自動分析プログラム |
JP2012242122A (ja) * | 2011-05-16 | 2012-12-10 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置及び自動分析プログラム |
US9562917B2 (en) | 2011-05-16 | 2017-02-07 | Hitachi High-Technologies Corporation | Automatic analysis device and automatic analysis program |
JP2013213674A (ja) * | 2012-03-30 | 2013-10-17 | Mitsubishi Chemical Medience Corp | 測定データの異常を検出する方法、及び、測定データの異常検出装置 |
JP2014202608A (ja) * | 2013-04-04 | 2014-10-27 | 日本光電工業株式会社 | 外部精度管理の評価用データの表示方法 |
JP2015045662A (ja) * | 2014-12-08 | 2015-03-12 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置及び自動分析プログラム |
WO2023153032A1 (ja) * | 2022-02-09 | 2023-08-17 | 株式会社日立ハイテク | データ解析方法、データ解析システム、および計算機 |
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