JPH0627743B2 - 自動分析装置 - Google Patents
自動分析装置Info
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- JPH0627743B2 JPH0627743B2 JP60060145A JP6014585A JPH0627743B2 JP H0627743 B2 JPH0627743 B2 JP H0627743B2 JP 60060145 A JP60060145 A JP 60060145A JP 6014585 A JP6014585 A JP 6014585A JP H0627743 B2 JPH0627743 B2 JP H0627743B2
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
- G01N35/00584—Control arrangements for automatic analysers
- G01N35/00594—Quality control, including calibration or testing of components of the analyser
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
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- G01N35/00584—Control arrangements for automatic analysers
- G01N35/00594—Quality control, including calibration or testing of components of the analyser
- G01N35/00603—Reinspection of samples
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
- G01N35/02—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
- G01N35/025—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations having a carousel or turntable for reaction cells or cuvettes
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- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は自動分析装置に係り、特に順次移送される複数
の反応容器中に収容された反応液の特性値を移送過程で
順次反応容器ごと測定する自動分析装置に関する。
の反応容器中に収容された反応液の特性値を移送過程で
順次反応容器ごと測定する自動分析装置に関する。
現在実施されている化学分析法、特に病院等の臨床検査
に実施されている化学分析法では、一定量の被検試料を
反応容器に分注し、これに試薬を添加して化学反応を起
させ、分光光度計等によつて比色測定あるいは反応速度
測定が行なわれている。そして、この測定結果により査
検試料の分析成分（分析項目）の濃度値あるいは特定の
単位として分析結果を得ることができるようにするもの
が多い。
に実施されている化学分析法では、一定量の被検試料を
反応容器に分注し、これに試薬を添加して化学反応を起
させ、分光光度計等によつて比色測定あるいは反応速度
測定が行なわれている。そして、この測定結果により査
検試料の分析成分（分析項目）の濃度値あるいは特定の
単位として分析結果を得ることができるようにするもの
が多い。
このような化学分析法においては、化学反応が試料に試
薬を添加後に正常に行なわれていることを前提にしてい
る。したがつて、分析において、例えば試料や試薬が不
足していたり、また試薬の劣化等の何らかの異常が発生
していたりすると、分析結果としては正しい値が得られ
ないことになる。
薬を添加後に正常に行なわれていることを前提にしてい
る。したがつて、分析において、例えば試料や試薬が不
足していたり、また試薬の劣化等の何らかの異常が発生
していたりすると、分析結果としては正しい値が得られ
ないことになる。
上記の分析を分析者が用手法により行なつている場合
は、測定前に異常に気付くか、または測定結果により異
常に気付くことができる。しかしながら、分析を自動分
析装置で行なつている場合には、多数検体についての測
定を装置が自動的に行なうために、測定結果として異常
な値が得られた時点で、その原因を究明することにな
る。このことは一般的に容易なことではない。
は、測定前に異常に気付くか、または測定結果により異
常に気付くことができる。しかしながら、分析を自動分
析装置で行なつている場合には、多数検体についての測
定を装置が自動的に行なうために、測定結果として異常
な値が得られた時点で、その原因を究明することにな
る。このことは一般的に容易なことではない。
そこで従来の自動分析装置では、測定する前に試料量や
試薬量を確認し、仮に量が不足していたならば、その旨
の警報を出したり、測定結果にその旨のマークを付すこ
とが行なわれていた。このようにして比較的単純な異常
を容易に究明することができる。
試薬量を確認し、仮に量が不足していたならば、その旨
の警報を出したり、測定結果にその旨のマークを付すこ
とが行なわれていた。このようにして比較的単純な異常
を容易に究明することができる。
しかし、さらに複雑な異常、例えば化学反応が十分進行
していないことや、反応過剰の場合や、または試料その
ものの異常などに基づく測定結果の異常については、測
定結果を見ただけでは反応が既に終了している為にその
異常原因究明は容易なことではない。そこで従来は、試
料や試薬の分注系または試料そのものの色などを点検す
る等の方法がとられていた。しかしこのような方法で
は、短時間でかつ正確に異常原因を究明することは非常
に困難である。
していないことや、反応過剰の場合や、または試料その
ものの異常などに基づく測定結果の異常については、測
定結果を見ただけでは反応が既に終了している為にその
異常原因究明は容易なことではない。そこで従来は、試
料や試薬の分注系または試料そのものの色などを点検す
る等の方法がとられていた。しかしこのような方法で
は、短時間でかつ正確に異常原因を究明することは非常
に困難である。
そのため最近では、化学反応が正しく進行しているかど
うかを確認するために、試薬添加後からの全反応過程を
時系列時にモニター等に表示し、反応が正しく進行して
いるか否かを監視するという方法がとられてきている。
しかしながら上記の従来例では新しい分析項目の開発や
試薬の開発等を主目的としたものであつたため、装置の
前に常時分析機の操作者がついていて、反応過程を確認
することを前提にしている。したがつて、全試料の全分
析項目について化学反応が正しく行なわれているか否か
を監視するためには、操作者が装置の前で常時反応過程
を見ていなければならず、操作者の負担を考えると、実
際上は不可能なものであつた。
うかを確認するために、試薬添加後からの全反応過程を
時系列時にモニター等に表示し、反応が正しく進行して
いるか否かを監視するという方法がとられてきている。
しかしながら上記の従来例では新しい分析項目の開発や
試薬の開発等を主目的としたものであつたため、装置の
前に常時分析機の操作者がついていて、反応過程を確認
することを前提にしている。したがつて、全試料の全分
析項目について化学反応が正しく行なわれているか否か
を監視するためには、操作者が装置の前で常時反応過程
を見ていなければならず、操作者の負担を考えると、実
際上は不可能なものであつた。
この為に従来の化学分析装置では反応の異常原因を迅速
に究明することが困難となつていた。
に究明することが困難となつていた。
本発明の目的は化学反応の過程で何らかの異常が発生し
た場合に、異常発生の原因を容易にかつ速やかに発見で
きる自動分析装置を提供することにある。
た場合に、異常発生の原因を容易にかつ速やかに発見で
きる自動分析装置を提供することにある。
上記目的を達成するため本発明は、被検試料が分注され
た複数の反応容器を順次に移送可能な移送手段と、当該
反応容器が移送される過程で各反応容器に前記被検試料
中に含まれる所定の分析項目と化学反応を生ずる反応試
薬を添加する試薬添加手段と、前記化学反応の特性値を
時系列的に測定する測定手段と、当該時系列的に測定さ
れた特性値を記憶する記憶手段と、前記時系列的に記憶
された特性値について前半と後半における反応吸光度変
化率をそれぞれ求め、前半の反応吸光度変化率と後半の
反応吸光度変化率の差を求める演算手段と、前記分析項
目毎に設定された反応吸光度変化率の差の基準値と前記
演算手段で求められ反応吸光度変化率の差に基づいて両
者を比較し、当該特性値が正常か異常かを識別する識別
手段と、前記分析項目毎に設定された反応限界吸光度の
基準値と前記記憶された特性値とを比較し当該特性値が
正常か異常かを識別する識別手段と、該識別手段によっ
て識別された異常な特性値の全時系列的値を記憶する異
常値記憶手段と、メモリ領域が前記異常値記憶手段にお
ける異常データを格納するメモリ領域より小さく形成さ
れ、前記識別手段によって識別された正常な特性値の全
時系列的値を記憶する正常値記憶手段と、該異常値記憶
手段によって記憶された特性値を表示する表示手段とを
備えてなることを特徴とする自動分析装置である。
た複数の反応容器を順次に移送可能な移送手段と、当該
反応容器が移送される過程で各反応容器に前記被検試料
中に含まれる所定の分析項目と化学反応を生ずる反応試
薬を添加する試薬添加手段と、前記化学反応の特性値を
時系列的に測定する測定手段と、当該時系列的に測定さ
れた特性値を記憶する記憶手段と、前記時系列的に記憶
された特性値について前半と後半における反応吸光度変
化率をそれぞれ求め、前半の反応吸光度変化率と後半の
反応吸光度変化率の差を求める演算手段と、前記分析項
目毎に設定された反応吸光度変化率の差の基準値と前記
演算手段で求められ反応吸光度変化率の差に基づいて両
者を比較し、当該特性値が正常か異常かを識別する識別
手段と、前記分析項目毎に設定された反応限界吸光度の
基準値と前記記憶された特性値とを比較し当該特性値が
正常か異常かを識別する識別手段と、該識別手段によっ
て識別された異常な特性値の全時系列的値を記憶する異
常値記憶手段と、メモリ領域が前記異常値記憶手段にお
ける異常データを格納するメモリ領域より小さく形成さ
れ、前記識別手段によって識別された正常な特性値の全
時系列的値を記憶する正常値記憶手段と、該異常値記憶
手段によって記憶された特性値を表示する表示手段とを
備えてなることを特徴とする自動分析装置である。
上記本発明の構成において、分析動作中に常時全試料の
全分析項目について異常の有無を監視し、異常がある場
合には、当該分析項目に関する全反応過程の特性値デー
タを記憶し、かつ入力により、記憶した上記データを出
力可能とすることができる為に、異常の原因例えば反応
の異常、試薬の異常、試料の異常等を容易にかつ正確に
究明することができる。すなわち、測定した特性値が正
常か異常かを識別した後、識別結果が異常の場合、全時
系列的値が異常値記憶手段に記憶され、全反応過程をい
つでも表示、チェック可能としたので、測定者が測定時
に測定の場所にいなくても前記記憶された異常データに
より異常発生の原因を速やかに発見できる。
全分析項目について異常の有無を監視し、異常がある場
合には、当該分析項目に関する全反応過程の特性値デー
タを記憶し、かつ入力により、記憶した上記データを出
力可能とすることができる為に、異常の原因例えば反応
の異常、試薬の異常、試料の異常等を容易にかつ正確に
究明することができる。すなわち、測定した特性値が正
常か異常かを識別した後、識別結果が異常の場合、全時
系列的値が異常値記憶手段に記憶され、全反応過程をい
つでも表示、チェック可能としたので、測定者が測定時
に測定の場所にいなくても前記記憶された異常データに
より異常発生の原因を速やかに発見できる。
更に、異常があった場合多くのデータを記憶し、正常な
場合は最新のもののみ記憶するようにすればよいため、
本発明では正常値記憶手段における正常データを格納す
るメモリ領域を異常値記憶手段における異常データを格
納するメモリ領域より小さく形成したことによって、メ
モリの使用効率を上げることができる。
場合は最新のもののみ記憶するようにすればよいため、
本発明では正常値記憶手段における正常データを格納す
るメモリ領域を異常値記憶手段における異常データを格
納するメモリ領域より小さく形成したことによって、メ
モリの使用効率を上げることができる。
次に本発明に係る自動分析装置の一実施例について添付
図面に従つて詳説する。
図面に従つて詳説する。
第１図はその実施例の構成図であり、反応過程における
吸光度を測定して反応の異常チエツクを行おうとする実
施例の構成図である。
吸光度を測定して反応の異常チエツクを行おうとする実
施例の構成図である。
まず本実施例の構成について説明する。
自動分析装置は主に反応テーブル４とサンプルテーブル
２と反応容器１０とコンピユータ１９より構成されてい
る。
２と反応容器１０とコンピユータ１９より構成されてい
る。
上記サンプルテーブル２には試料容器１が設けられ、前
記反応テーブル４には反応容器３が設けられている。
記反応テーブル４には反応容器３が設けられている。
上記反応テーブル４およびサンプルテーブル２は前記コ
ンピユータ１９からの制御信号１００により回転駆動す
る。
ンピユータ１９からの制御信号１００により回転駆動す
る。
前記反応テーブル４は恒温槽１２中に設けられており、
この恒温槽１２の近傍側壁には攪拌器１３が設けられて
いる。反応テーブル４の途中には光源１４、多波長光度
計１５回折格子１６受光素子１７からなる吸光度測定部
が設けられている。また反応テーブル４には反応容器３
を洗浄する洗浄器２１が設けられている。
この恒温槽１２の近傍側壁には攪拌器１３が設けられて
いる。反応テーブル４の途中には光源１４、多波長光度
計１５回折格子１６受光素子１７からなる吸光度測定部
が設けられている。また反応テーブル４には反応容器３
を洗浄する洗浄器２１が設けられている。
前記反応テーブル４とサンプルテーブル２の間には検体
サンプリングノズル５が設けられており、この検体サン
プリングノズル５にはピペツタ６Ａが接続されている。
なお、前記洗浄器２１には洗浄機構２３が接続されてい
る。そして前記恒温槽１２には恒温水循環器１１が接続
されている。
サンプリングノズル５が設けられており、この検体サン
プリングノズル５にはピペツタ６Ａが接続されている。
なお、前記洗浄器２１には洗浄機構２３が接続されてい
る。そして前記恒温槽１２には恒温水循環器１１が接続
されている。
前記反応テーブル４の隣接近傍には試薬テーブル９が設
けられている。そして、反応テーブル４の反応容器３と
試薬テーブル９の間を移動する移動機構８Ａおよび８Ｂ
がピペツタ６Ｒに接続されて設けられている。
けられている。そして、反応テーブル４の反応容器３と
試薬テーブル９の間を移動する移動機構８Ａおよび８Ｂ
がピペツタ６Ｒに接続されて設けられている。
前記ピペツタ６Ａ、洗浄機構２３、ピペツタ６Ｒは前記
コンピユータ１９からの制御信号１０１がそれぞれに出
力されている。
コンピユータ１９からの制御信号１０１がそれぞれに出
力されている。
前記吸光度測定部からの吸光度信号はＡ／Ｄ変換器１８
に入力され、Ａ／Ｄ変換器１８からのデジタル信号が前
記コンピユータ１９に出力されている。
に入力され、Ａ／Ｄ変換器１８からのデジタル信号が前
記コンピユータ１９に出力されている。
前記コンピユータ１９にはプリンター２０ＡおよびＣＲ
Ｔ２０Ｂが接続されている。
Ｔ２０Ｂが接続されている。
次に本実施例の具体的な動作について説明する。本実施
例に係る自動分析装置は多項目少数検体用であり、少数
の分注器を用いて、次々と異なる試薬を分注する試薬ピ
ペツテイング方式を採用している。
例に係る自動分析装置は多項目少数検体用であり、少数
の分注器を用いて、次々と異なる試薬を分注する試薬ピ
ペツテイング方式を採用している。
前述のように多数の試料容器１を同心円上に設置したサ
ンプルテーブル２と、多数の反応容器３を同心円上に設
置した反応テーブル４とは隣接して設置してあり、これ
らはコンピユータ１９の指令１００により、間欠的に互
いに関連するように回転している。この２個のテーブル
２，４の間の側方には検体サンプリングノズル５が設置
してあり、ピペツタ６Ａの作動によつて吸引と吐出の動
作を反復する。その間にコンピユータ１９の指令によつ
てサンプリングノズル５が回動し、サンプルテーブル２
上の試料容器１中の試料からその一定量を吸引して、反
応テーブル４上の反応容器３に吐出する。分注動作を終
了した後は、図示していない洗浄装置によつてサンプリ
ングノズル５の内外が洗浄される。
ンプルテーブル２と、多数の反応容器３を同心円上に設
置した反応テーブル４とは隣接して設置してあり、これ
らはコンピユータ１９の指令１００により、間欠的に互
いに関連するように回転している。この２個のテーブル
２，４の間の側方には検体サンプリングノズル５が設置
してあり、ピペツタ６Ａの作動によつて吸引と吐出の動
作を反復する。その間にコンピユータ１９の指令によつ
てサンプリングノズル５が回動し、サンプルテーブル２
上の試料容器１中の試料からその一定量を吸引して、反
応テーブル４上の反応容器３に吐出する。分注動作を終
了した後は、図示していない洗浄装置によつてサンプリ
ングノズル５の内外が洗浄される。
反応テーブル４は、間欠的に所定角度ずつ回動する。そ
の間に試薬ノズル７を取付けてある一対の移動機構８
Ａ，８Ｂが左右に移動し、試薬テーブル９内に収容して
ある試薬容器１０より所定量の試薬を採取して反応容器
３に添加する。なお、反応テーブル４は、恒温水循環器
１１に接続してある恒温槽１２の中を回動するようにし
てあるので、反応容器３は所定時間加温され、最後に攪
拌器１３によつて攪拌されて反応を完結させる。
の間に試薬ノズル７を取付けてある一対の移動機構８
Ａ，８Ｂが左右に移動し、試薬テーブル９内に収容して
ある試薬容器１０より所定量の試薬を採取して反応容器
３に添加する。なお、反応テーブル４は、恒温水循環器
１１に接続してある恒温槽１２の中を回動するようにし
てあるので、反応容器３は所定時間加温され、最後に攪
拌器１３によつて攪拌されて反応を完結させる。
このような反応容器３が所定の測定位置に回動されてく
ると、光源１４からの光は透過させて多波長光度計１５
に導入される。その光は、多波長光度計１５の凹面回折
格子１６によつて分光され、スペクトル結線面に設置し
てある複数個の受光素子１７によつて輝線の光量が検出
される。この受光素子１７は、試料液中の被検成分量に
比例する吸光度を検出し、その検出信号はＡ／Ｄ変換器
１８でデジタル量に変換された後、コンピユータ１９に
送られ、プリンタ２０ＡやＣＲＴ２０Ｂ等の出力装置に
出力される。なお、ピペツタ６Ｒが作動して試薬ノズル
７が試薬を吸入した後は、試薬ノズル７は移動機構８
Ａ，８Ｂによつて反応容器３まで移動させられ、ここで
試薬が分注された後、図示していない洗浄装置により洗
浄される。また反応器３が洗浄器２１の位置までくる
と、洗浄機構２３の作動により洗浄され、再使用が可能
となる。
ると、光源１４からの光は透過させて多波長光度計１５
に導入される。その光は、多波長光度計１５の凹面回折
格子１６によつて分光され、スペクトル結線面に設置し
てある複数個の受光素子１７によつて輝線の光量が検出
される。この受光素子１７は、試料液中の被検成分量に
比例する吸光度を検出し、その検出信号はＡ／Ｄ変換器
１８でデジタル量に変換された後、コンピユータ１９に
送られ、プリンタ２０ＡやＣＲＴ２０Ｂ等の出力装置に
出力される。なお、ピペツタ６Ｒが作動して試薬ノズル
７が試薬を吸入した後は、試薬ノズル７は移動機構８
Ａ，８Ｂによつて反応容器３まで移動させられ、ここで
試薬が分注された後、図示していない洗浄装置により洗
浄される。また反応器３が洗浄器２１の位置までくる
と、洗浄機構２３の作動により洗浄され、再使用が可能
となる。
次に第２図により、吸光度の測定について説明する。こ
の図はひとつの反応容器に注目した場合の吸光度測定方
法を時系列的に示したものである。
の図はひとつの反応容器に注目した場合の吸光度測定方
法を時系列的に示したものである。
まず試料の注入３０と第１試薬の添加３１の後、第１図
における反応テーブル４の回動により第１回目の測光を
行なう。この時の時間、すなわち試料の注入と第１試薬
添加後からの時間をｔ１とし、その時測定された吸光度
をＡ１とする。以下反応テーブル４が回動するにつれて
次々と吸光度が測光されていく。この時の測定時間をｔ
２，ｔ３，……ｔ３１とし、その時測定された吸光度を
それぞれＡ２，Ａ３，……Ａ３１とする。また第２試薬
の添加３２の後に最初に測光する時間をｔ１５とし、そ
の時の測定吸光度をＡ１５とする。
における反応テーブル４の回動により第１回目の測光を
行なう。この時の時間、すなわち試料の注入と第１試薬
添加後からの時間をｔ１とし、その時測定された吸光度
をＡ１とする。以下反応テーブル４が回動するにつれて
次々と吸光度が測光されていく。この時の測定時間をｔ
２，ｔ３，……ｔ３１とし、その時測定された吸光度を
それぞれＡ２，Ａ３，……Ａ３１とする。また第２試薬
の添加３２の後に最初に測光する時間をｔ１５とし、そ
の時の測定吸光度をＡ１５とする。
この図からわかるように、本分析機構では１つの反応容
器について、時間ｔ１，ｔ２，……ｔ３２の間隔で吸光
度を計３１回測定している。
器について、時間ｔ１，ｔ２，……ｔ３２の間隔で吸光
度を計３１回測定している。
次に、本実施例における反応異常確認の一例として吸光
度データの異常確認方法の実際を第３図ないし第５図を
用いて具体的に説明する。これらはいずれも試薬添加後
の化学反応の速度を測定することにより、被検試料にお
ける当該分析項目の濃度を求める場合の例である。
度データの異常確認方法の実際を第３図ないし第５図を
用いて具体的に説明する。これらはいずれも試薬添加後
の化学反応の速度を測定することにより、被検試料にお
ける当該分析項目の濃度を求める場合の例である。
第３図は時間ｔ１５からｔ３１までにおける化学反応が
直線的でない場合の例である。
直線的でない場合の例である。
まずはじめに分析機におけるデータの異常確認である反
応直線性チエツクの方法について述べる。第３図に示す
ように、第２試薬添加後、すなわちｔ１５からｔ３１ま
での間をｔ２３で２分割する。そして、時間ｔ１５から
ｔ２３までの吸光度の平均変化率をΔＡ１とし、時間ｔ
２３からｔ３１までの吸光度の平均変化率をΔＡ２とす
ると、ΔＡ１とΔＡ２は次のような方法で求めた値とな
る。
応直線性チエツクの方法について述べる。第３図に示す
ように、第２試薬添加後、すなわちｔ１５からｔ３１ま
での間をｔ２３で２分割する。そして、時間ｔ１５から
ｔ２３までの吸光度の平均変化率をΔＡ１とし、時間ｔ
２３からｔ３１までの吸光度の平均変化率をΔＡ２とす
ると、ΔＡ１とΔＡ２は次のような方法で求めた値とな
る。
ΔＡ１：時間ｔ１５〜ｔ２３において測定した吸光度デ
ータをそれぞれＡ１５〜Ａ２３とした時、ｔ１５〜ｔ
２３およびＡ１５〜Ａ２３について最小自乗法により求
めた単位時間当りの吸光度変化率。
ータをそれぞれＡ１５〜Ａ２３とした時、ｔ１５〜ｔ
２３およびＡ１５〜Ａ２３について最小自乗法により求
めた単位時間当りの吸光度変化率。
ΔＡ２：ΔＡ１と同じようにｔ２３〜ｔ３１およびＡ
２３〜Ａ３１について最小自乗法により求めた単位時間
当りの吸光度変化率。
２３〜Ａ３１について最小自乗法により求めた単位時間
当りの吸光度変化率。
以上のようにして求めたΔＡ１とΔＡ２を比較して第４
図のフローチヤートに従い反応の直線性をチエツクす
る。
図のフローチヤートに従い反応の直線性をチエツクす
る。
第４図ではまずΔＡ１の計算４１およびΔＡ２の計算４
２を行なう。次にΔＡ１とΔＡ２の差ΔＡ３の計算４３
を行う。
２を行なう。次にΔＡ１とΔＡ２の差ΔＡ３の計算４３
を行う。
次にΔＡ１とΔＡ２を合せた全体の吸光度変化率に対す
るΔＡ３の割合の絶対値Ｌを計算４４で求めた後、Ｌの
大きさにより反応の直線性をチエツクする。まず判定４
５によりＬと分析項目毎に設定されている直線性の許容
値とを比較し、もしＬが許容値より大きいならば、対応
する分析項目に直線性エラーのセツト４６を行なう。エ
ラーがセツトされたか、またはＬが許容値以下のときは
以上のルーチンが終了する。
るΔＡ３の割合の絶対値Ｌを計算４４で求めた後、Ｌの
大きさにより反応の直線性をチエツクする。まず判定４
５によりＬと分析項目毎に設定されている直線性の許容
値とを比較し、もしＬが許容値より大きいならば、対応
する分析項目に直線性エラーのセツト４６を行なう。エ
ラーがセツトされたか、またはＬが許容値以下のときは
以上のルーチンが終了する。
以上の操作により分析機の操作者は当該分析項目におい
て直線性エラー発生の有無を確認できる。
て直線性エラー発生の有無を確認できる。
次に、反応異常チエツクの他の実施例について説明する
第５図は第２試薬添加後の反応が過剰に進んだかどうか
をチエツクして反応異常か否かを確認する方法を示した
ものである。
第５図は第２試薬添加後の反応が過剰に進んだかどうか
をチエツクして反応異常か否かを確認する方法を示した
ものである。
第５図において吸光度ＡＥは分析項目毎に設定されてい
る化学反応の限界吸光度である。図からわかるように、
化学反応が過剰に進行したため時間ｔ３１以前で、吸光
度ＡＥを越えている。このような場合には第４図で示し
たルーチンと同様に当該分析項目の測定結果に反応限界
オーバーの異常マークを付けて出力している。
る化学反応の限界吸光度である。図からわかるように、
化学反応が過剰に進行したため時間ｔ３１以前で、吸光
度ＡＥを越えている。このような場合には第４図で示し
たルーチンと同様に当該分析項目の測定結果に反応限界
オーバーの異常マークを付けて出力している。
次に第１図で示した実施例の自動分析機における測定過
程で得られた吸光度データがコンピユータ１９のメモリ
に記憶される方法を第６図に従い説明する。
程で得られた吸光度データがコンピユータ１９のメモリ
に記憶される方法を第６図に従い説明する。
第６図は、その概略フローチヤートを示した図である。
このフローチヤートにしたがつて行なわれるルーチンは
化学反応の速度により分析項目の濃度を求める場合の他
に、化学反応の結果を比色測定して分析項目の濃度を求
める場合等にも適用することができる。
このフローチヤートにしたがつて行なわれるルーチンは
化学反応の速度により分析項目の濃度を求める場合の他
に、化学反応の結果を比色測定して分析項目の濃度を求
める場合等にも適用することができる。
第６図において、まず、分析開始６１の後、第１図にお
ける反応テーブル４の回動に従つて、反応容器３毎に全
反応過程についての吸光度測定６２を行なう。次に測定
した全吸光度データについて、第３図ないし第５図で述
べたような吸光度データのチエツク６３を行なう。ここ
におけるチエツクには第３図ないし第５図におけるチエ
ツクの他に、試料不足や試薬不足等のチエツクや吸光度
が異常に高い場合のチエツク等も含ませることができ
る。
ける反応テーブル４の回動に従つて、反応容器３毎に全
反応過程についての吸光度測定６２を行なう。次に測定
した全吸光度データについて、第３図ないし第５図で述
べたような吸光度データのチエツク６３を行なう。ここ
におけるチエツクには第３図ないし第５図におけるチエ
ツクの他に、試料不足や試薬不足等のチエツクや吸光度
が異常に高い場合のチエツク等も含ませることができ
る。
吸光度データのチエツク６３が終つた後は、吸光度デー
タに異常があつたかどうかの判定６４を行なう。もし吸
光度データに異常がなければ、当該分析項目の全反応過
程の吸光度データを正常用テーブルへの格納６５を行な
い、もし異常があれば、今度は吸光度データを異常用テ
ーブルへの格納６６を行なう。以上の格納が終了した
後、分析項目毎に求めた濃縮値を出力する。この場合、
吸光度データのチエツク６３において、異常があつたな
らば出力結果には異常マークを付ける。
タに異常があつたかどうかの判定６４を行なう。もし吸
光度データに異常がなければ、当該分析項目の全反応過
程の吸光度データを正常用テーブルへの格納６５を行な
い、もし異常があれば、今度は吸光度データを異常用テ
ーブルへの格納６６を行なう。以上の格納が終了した
後、分析項目毎に求めた濃縮値を出力する。この場合、
吸光度データのチエツク６３において、異常があつたな
らば出力結果には異常マークを付ける。
最後に、分析終了の有無チエツク６８を行ない、分析を
続ける場合は、吸光度測定６２へ戻つて上記の処理を繰
り返し、もし分析終了ならば、分析を終了する。
続ける場合は、吸光度測定６２へ戻つて上記の処理を繰
り返し、もし分析終了ならば、分析を終了する。
次に、第７図において、分析機に組込まれているコンピ
ユータ１９周辺のブロツク図を説明する。
ユータ１９周辺のブロツク図を説明する。
まず、キーボード７１を押すことにより発生した信号は
ＣＰＵ７６へ伝えられる。次にこの信号はＲＯＭ７２に
貯えられているプログラムに応じてＣＲＴ２０Ｂに表示
されたり、ＲＡＭ７３に貯えられたりする。次に分析開
始後、第１図のサンプルテーブル２、反応テーブル４、
ピペツタ６Ａ、洗浄機構２３、ピペツタ６Ｂの機構系７
５は機構制御部７４を通して、ＣＰＵ７６により、ＲＯ
Ｍ７２に貯えられたプログラムに応じて制御される。ま
た分析動作の過程で測定された吸光度データはその都
度、分析項目別にＲＡＭ７３へ貯えられる。次にある分
析項目について全反応過程の吸光度を測定した後は、Ｒ
ＯＭ７２に貯えられているプログラムに従つて吸光度デ
ータは第４図のように演算処理される。そして演算の結
果得られた該分析項目についての濃度値がプリンタ２０
ＡやＣＲＴ２０Ｂへ出力される。
ＣＰＵ７６へ伝えられる。次にこの信号はＲＯＭ７２に
貯えられているプログラムに応じてＣＲＴ２０Ｂに表示
されたり、ＲＡＭ７３に貯えられたりする。次に分析開
始後、第１図のサンプルテーブル２、反応テーブル４、
ピペツタ６Ａ、洗浄機構２３、ピペツタ６Ｂの機構系７
５は機構制御部７４を通して、ＣＰＵ７６により、ＲＯ
Ｍ７２に貯えられたプログラムに応じて制御される。ま
た分析動作の過程で測定された吸光度データはその都
度、分析項目別にＲＡＭ７３へ貯えられる。次にある分
析項目について全反応過程の吸光度を測定した後は、Ｒ
ＯＭ７２に貯えられているプログラムに従つて吸光度デ
ータは第４図のように演算処理される。そして演算の結
果得られた該分析項目についての濃度値がプリンタ２０
ＡやＣＲＴ２０Ｂへ出力される。
次に全反応過程の吸光度データをＲＡＭ７３へ記憶する
方法について第８図（ａ）に従い説明する。
方法について第８図（ａ）に従い説明する。
まず図において、分析項目毎に測定された全反応過程の
吸光度データはサンプル番号と項目番号８１に対応して
記憶されている。また吸光度データはそれぞれのデータ
が測定された時間対応で記憶されている。第２図で説明
したように、測定時間としてｔ１〜ｔ３１まであるの
で、合計３１ケの吸光度データが格納されていることに
なる。ここで、具体的な測定時間としてはｔ１が２０秒
であり、以下、ｔ２が４０秒、……ｔ１５が３００秒、
……ｔ３１が６２０秒である。
吸光度データはサンプル番号と項目番号８１に対応して
記憶されている。また吸光度データはそれぞれのデータ
が測定された時間対応で記憶されている。第２図で説明
したように、測定時間としてｔ１〜ｔ３１まであるの
で、合計３１ケの吸光度データが格納されていることに
なる。ここで、具体的な測定時間としてはｔ１が２０秒
であり、以下、ｔ２が４０秒、……ｔ１５が３００秒、
……ｔ３１が６２０秒である。
次に第８図（ｂ）に示すように、第６図の吸光度データ
のチエツク６３の結果が異常なしだつた場合に全反応過
程の吸光度データは正常用テーブル８２に格納される。
ここでは、第８図（ａ）のデータを１つとして計１０個
の格納が可能である。
のチエツク６３の結果が異常なしだつた場合に全反応過
程の吸光度データは正常用テーブル８２に格納される。
ここでは、第８図（ａ）のデータを１つとして計１０個
の格納が可能である。
一方、第８図（Ｃ）に示すように第６図の吸光度データ
のチエツク６３の結果が異常ありだつた場合には全反応
過程の吸光度データが異常用テーブル８３に格納され
る。ここでは第８図（ａ）のデータが計１００個格納可
能である。
のチエツク６３の結果が異常ありだつた場合には全反応
過程の吸光度データが異常用テーブル８３に格納され
る。ここでは第８図（ａ）のデータが計１００個格納可
能である。
以上のことからわかるように、正常用テーブル８２は異
常用テーブル８３に比べ１０分の１と小さい。これは異
常があつた場合はできるだけ多くの吸光度データを記憶
するようにし、正常の場合は最新のもののみ記憶するよ
うにすればよいことになるためである。これによりメモ
リの使用効率を上げることができる。
常用テーブル８３に比べ１０分の１と小さい。これは異
常があつた場合はできるだけ多くの吸光度データを記憶
するようにし、正常の場合は最新のもののみ記憶するよ
うにすればよいことになるためである。これによりメモ
リの使用効率を上げることができる。
以上、第２図から第８図までに述べたように、吸光度デ
ータに異常があればメモリへ全反応過程の吸光度データ
を記憶する。そして、その記憶した全反応過程の吸光度
データはＣＲＴ画面で表示される。
ータに異常があればメモリへ全反応過程の吸光度データ
を記憶する。そして、その記憶した全反応過程の吸光度
データはＣＲＴ画面で表示される。
第９図はそのＣＲＴ画面図である。この画面ではまず初
めに、表示させたい試料の識別番号であるサンプル番号
９１を入力する。次にこの試料中の測定成分のうち表示
させたい分析項目例えば酵素ＧＯＴの項目番号９２を入
力する。この画面では項目番号９２を入力することの項
目番号に対応した項目名を表示するようにしてある。以
上の入力により必要とする分析項目の全反応過程図９４
が表示される。
めに、表示させたい試料の識別番号であるサンプル番号
９１を入力する。次にこの試料中の測定成分のうち表示
させたい分析項目例えば酵素ＧＯＴの項目番号９２を入
力する。この画面では項目番号９２を入力することの項
目番号に対応した項目名を表示するようにしてある。以
上の入力により必要とする分析項目の全反応過程図９４
が表示される。
次に全反応過程図の表示の方法について説明する。
第９図の画面では縦軸が吸光度を示し、横軸が時間を示
す。吸光度の単位は10000倍されており、時間の単位は
秒である。まず、第８図（ａ）のように格納されている
吸光度データを指定された分析項目について検索し、各
測定時間に応じて第９図のようにプロツトする。この場
合縦軸の吸光度は分析項目毎に決められた値で目盛られ
ている。
す。吸光度の単位は10000倍されており、時間の単位は
秒である。まず、第８図（ａ）のように格納されている
吸光度データを指定された分析項目について検索し、各
測定時間に応じて第９図のようにプロツトする。この場
合縦軸の吸光度は分析項目毎に決められた値で目盛られ
ている。
さらに第９図の画面では、吸光度データにおける異常の
有無にかかわらず表示可能である。これは第９図におい
て表示すべき分析項目を指定された場合、まず第８図
（ｂ）の正常用テーブルについて該当データがあるかを
検索し、見つかればそのデータを表示し、もし見つから
なければ、第８図（ｃ）の異常用テーブルについて該当
データを検索し、見つかればそのデータを表示するよう
になつているからである。もしいずれのテーブルにおい
ても見つからなければグラフ表示はしない。
有無にかかわらず表示可能である。これは第９図におい
て表示すべき分析項目を指定された場合、まず第８図
（ｂ）の正常用テーブルについて該当データがあるかを
検索し、見つかればそのデータを表示し、もし見つから
なければ、第８図（ｃ）の異常用テーブルについて該当
データを検索し、見つかればそのデータを表示するよう
になつているからである。もしいずれのテーブルにおい
ても見つからなければグラフ表示はしない。
ところで、第２図で述べたように本分析機における吸光
度測定度は各分析項目につき３１点であるが、第９図に
おける反応過程図では、測定点と測定点の間を直線で近
似して結び連続した線として表示するようにしてある。
度測定度は各分析項目につき３１点であるが、第９図に
おける反応過程図では、測定点と測定点の間を直線で近
似して結び連続した線として表示するようにしてある。
さらに第９図はプリント印字９３の入力部があるが、こ
れは全反応過程の吸光度データをプリンタに出力するた
めのものである。第９図の画面では表示の分解能の関係
で見つかりにくい異常等をより詳細にチエツクする場合
などに利用する。
れは全反応過程の吸光度データをプリンタに出力するた
めのものである。第９図の画面では表示の分解能の関係
で見つかりにくい異常等をより詳細にチエツクする場合
などに利用する。
以上述べたように本実施例によれば、通常の分析動作中
において、全分析項目についての全吸光度データを監視
し、かつ吸光度に異常があれば、該当する分析項目の全
吸光度データをメモリに記憶し、異常がなければ最新分
析項目の吸光データのみを記憶するため、メモリが効率
よく利用できかつ全異常データを記憶しているため、分
析機の操作者が反応過程を常時監視する必要がなく、作
業能率が向上する。
において、全分析項目についての全吸光度データを監視
し、かつ吸光度に異常があれば、該当する分析項目の全
吸光度データをメモリに記憶し、異常がなければ最新分
析項目の吸光データのみを記憶するため、メモリが効率
よく利用できかつ全異常データを記憶しているため、分
析機の操作者が反応過程を常時監視する必要がなく、作
業能率が向上する。
また本実施例では反応過程図として吸光度が下がる場合
について述べたが、これに限られるものではなく、吸光
度が上昇する分析項目や第１試薬のみ添加するような分
析項目などにも適用できる。また本実施例では反応容器
を直接測定する方式について述べているが、直接測光方
式に限らず、反応液をフローセルに吸引し、フローセル
ごと吸光度を測定する方式のものにも適用できる。また
本実施例では全反応過程の吸光度データを内部メモリの
ＲＡＭへ記憶しているが、これを外部メモリ、例えばプ
ロツピーデイスク等に記憶すればさらに大量の検体につ
いての吸光度データが記憶可能となる。
について述べたが、これに限られるものではなく、吸光
度が上昇する分析項目や第１試薬のみ添加するような分
析項目などにも適用できる。また本実施例では反応容器
を直接測定する方式について述べているが、直接測光方
式に限らず、反応液をフローセルに吸引し、フローセル
ごと吸光度を測定する方式のものにも適用できる。また
本実施例では全反応過程の吸光度データを内部メモリの
ＲＡＭへ記憶しているが、これを外部メモリ、例えばプ
ロツピーデイスク等に記憶すればさらに大量の検体につ
いての吸光度データが記憶可能となる。
以上説明したように本発明によれば、全試料の全分析項
目について反応特性値のデータのチエツクを行ない、異
常があつた場合には、当該分析項目についての全反応過
程のデータを記憶し、かつキーボードの入力によりＣＲ
Ｔまたはプリンタに出力できるため、異常データの発生
原因を速やかにかつ正確に究明できる。従つて、分析機
の稼動効率を向上することができる。また、正常データ
を格納するメモリ領域を異常データを格納するメモリ領
域より小さく形成したので、メモリの使用効率を上げる
ことができる。
目について反応特性値のデータのチエツクを行ない、異
常があつた場合には、当該分析項目についての全反応過
程のデータを記憶し、かつキーボードの入力によりＣＲ
Ｔまたはプリンタに出力できるため、異常データの発生
原因を速やかにかつ正確に究明できる。従つて、分析機
の稼動効率を向上することができる。また、正常データ
を格納するメモリ領域を異常データを格納するメモリ領
域より小さく形成したので、メモリの使用効率を上げる
ことができる。
第１図は本発明に係る自動分析装置の一実施例を示す構
成図、第２図は第１図の自動分析装置での吸光度測定の
時間的関係を示す図、第３図および第５図は測定時間と
吸光度の関係を示すグラフ、第４図は第３図で示された
吸光度の異常判定のルーチンを示すフローチヤート、第
６図は吸光度データの異常有無チエツクのルーチンを示
すフローチヤート、第７図は第１図で示した自動分析装
置のコンピユータ周辺のブロツク図、第８図は吸光度デ
ータが格納されたメモリの構成図、第９図は全反応過程
を表示するＣＲＴの画面図である。 ２……サンプルテーブル、３……反応容器、４……反応
テーブル、９……試薬テーブル、１０……試薬容器、１
９……コンピユータ、２０Ａ……プリンタ、２０Ｂ……
ＣＲＴ、７２……ＲＯＭ、７３……ＲＡＭ、８２……正
常データ用格納テーブル、８３……異常データ用格納テ
ーブル、９４……全反応過程表示図。
成図、第２図は第１図の自動分析装置での吸光度測定の
時間的関係を示す図、第３図および第５図は測定時間と
吸光度の関係を示すグラフ、第４図は第３図で示された
吸光度の異常判定のルーチンを示すフローチヤート、第
６図は吸光度データの異常有無チエツクのルーチンを示
すフローチヤート、第７図は第１図で示した自動分析装
置のコンピユータ周辺のブロツク図、第８図は吸光度デ
ータが格納されたメモリの構成図、第９図は全反応過程
を表示するＣＲＴの画面図である。 ２……サンプルテーブル、３……反応容器、４……反応
テーブル、９……試薬テーブル、１０……試薬容器、１
９……コンピユータ、２０Ａ……プリンタ、２０Ｂ……
ＣＲＴ、７２……ＲＯＭ、７３……ＲＡＭ、８２……正
常データ用格納テーブル、８３……異常データ用格納テ
ーブル、９４……全反応過程表示図。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭55−136958（ＪＰ，Ａ) 特開 昭58−103665（ＪＰ，Ａ) 特開 昭60−161560（ＪＰ，Ａ) 特開 昭59−164909（ＪＰ，Ａ) 特開 昭58−189787（ＪＰ，Ａ)
Claims (1)
- 【請求項１】被検試料が分注された複数の反応容器を順
次に移送可能な移送手段と、 当該反応容器が移送される過程で各反応容器に前記被検
試料中に含まれる所定の分析項目と化学反応を生ずる反
応試薬を添加する試薬添加手段と、 前記化学反応の特性値を時系列的に測定する測定手段
と、 当該時系列的に測定された特性値を記憶する記憶手段
と、 前記時系列的に記憶された特性値について前半と後半に
おける反応吸光度変化率をそれぞれ求め、前半の反応吸
光度変化率と後半の反応吸光度変化率の差を求める演算
手段と、 前記分析項目毎に設定された反応吸光度変化率の差の基
準値と前記演算手段で求められた反応吸光度変化率の差
に基づいて両者を比較し、当該特性値が正常か異常かを
識別する識別手段と、 前記分析項目毎に設定された反応限界吸光度の基準値と
前記記憶された特性値とを比較し当該特性値が正常か異
常かを識別する識別手段と、 該識別手段によって識別された異常な特性値の全時系列
的値を記憶する異常値記憶手段と、 メモリ領域が前記異常値記憶手段における異常データを
格納するメモリ領域より小さく形成され、前記識別手段
によって識別された正常な特性値の全時系列的値を記憶
する正常値記憶手段と、 該異常値記憶手段によって記憶された特性値を表示する
表示手段とを備えてなることを特徴とする自動分析装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60060145A JPH0627743B2 (ja) | 1985-03-25 | 1985-03-25 | 自動分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60060145A JPH0627743B2 (ja) | 1985-03-25 | 1985-03-25 | 自動分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61218949A JPS61218949A (ja) | 1986-09-29 |
| JPH0627743B2 true JPH0627743B2 (ja) | 1994-04-13 |
Family
ID=13133682
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60060145A Expired - Lifetime JPH0627743B2 (ja) | 1985-03-25 | 1985-03-25 | 自動分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0627743B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0703455A1 (en) | 1994-09-21 | 1996-03-27 | Hitachi, Ltd. | Analyzing apparatus having pipetting device |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2649409B2 (ja) * | 1989-03-14 | 1997-09-03 | 株式会社日立製作所 | 臨床検査用の自動分析方法 |
| JP3020875B2 (ja) * | 1996-07-18 | 2000-03-15 | 株式会社日立製作所 | 自動分析装置 |
| JP3011100B2 (ja) * | 1996-07-18 | 2000-02-21 | 株式会社日立製作所 | 自動分析装置 |
| JP3438607B2 (ja) * | 1998-09-25 | 2003-08-18 | 株式会社日立製作所 | 自動分析装置 |
| JP4654256B2 (ja) * | 2008-02-28 | 2011-03-16 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
| JP5414286B2 (ja) * | 2009-01-16 | 2014-02-12 | 株式会社東芝 | 自動分析装置 |
| JP5380123B2 (ja) | 2009-03-25 | 2014-01-08 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | サンプル分析装置 |
| JP5193937B2 (ja) * | 2009-05-08 | 2013-05-08 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置、及び分析方法 |
| JP6174411B2 (ja) * | 2013-07-29 | 2017-08-02 | 株式会社堀場製作所 | 水質分析装置及び水質分析方法 |
| US11953475B2 (en) * | 2018-04-16 | 2024-04-09 | Shimadzu Corporation | Absorbance detector and liquid chromatograph |
| EP3869203A4 (en) * | 2018-10-17 | 2022-07-13 | Hitachi High-Tech Corporation | METHOD OF DETERMINING ANOMALIES AND AUTOMATED ANALYZER |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55136958A (en) * | 1979-04-14 | 1980-10-25 | Olympus Optical Co Ltd | Automatic analyzer |
| JPS58103665A (ja) * | 1981-12-16 | 1983-06-20 | Olympus Optical Co Ltd | 異常検体の自動判定表示方法および装置 |
| JPS60161560A (ja) * | 1983-12-08 | 1985-08-23 | Tokuyama Soda Co Ltd | 自動分析装置のデ−タ処理装置 |
-
1985
- 1985-03-25 JP JP60060145A patent/JPH0627743B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0703455A1 (en) | 1994-09-21 | 1996-03-27 | Hitachi, Ltd. | Analyzing apparatus having pipetting device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61218949A (ja) | 1986-09-29 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |