JP2000275254A - 自動分析装置 - Google Patents
自動分析装置Info
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- JP2000275254A JP2000275254A JP11079587A JP7958799A JP2000275254A JP 2000275254 A JP2000275254 A JP 2000275254A JP 11079587 A JP11079587 A JP 11079587A JP 7958799 A JP7958799 A JP 7958799A JP 2000275254 A JP2000275254 A JP 2000275254A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 種々の反応異常を検知して告知でき、分析の
信頼性を向上できると共に、試料や試薬の浪費および分
析効率の低下をきたすことがないようにした自動分析装
置を提供する。 【解決手段】 測定すべき試料または測定する項目に応
じた試薬を反応容器１に分注する分注手段（１３，１
７）と、反応容器１内の液体の反応過程を時系列的に測
光する測光手段５と、該測光手段５での測光値に基づい
て測定結果を演算すると共に、特定の時系列範囲での測
光値変化を演算する演算手段２３と、測光値変化と基準
となる反応データの変化率とを比較して、測光値変化が
異常であるか否かを判定する判定手段２４と、この判定
手段２４での判定結果に基づいて異常を告知する告知手
段２５とを有する。
信頼性を向上できると共に、試料や試薬の浪費および分
析効率の低下をきたすことがないようにした自動分析装
置を提供する。 【解決手段】 測定すべき試料または測定する項目に応
じた試薬を反応容器１に分注する分注手段（１３，１
７）と、反応容器１内の液体の反応過程を時系列的に測
光する測光手段５と、該測光手段５での測光値に基づい
て測定結果を演算すると共に、特定の時系列範囲での測
光値変化を演算する演算手段２３と、測光値変化と基準
となる反応データの変化率とを比較して、測光値変化が
異常であるか否かを判定する判定手段２４と、この判定
手段２４での判定結果に基づいて異常を告知する告知手
段２５とを有する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、例えば酵素反応
における反応過程での吸光度を時系列的に測定し、その
単位時間当たりの変化率に基づいて被検成分を測定する
自動分析装置に関するものである。
における反応過程での吸光度を時系列的に測定し、その
単位時間当たりの変化率に基づいて被検成分を測定する
自動分析装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】例えば、酵素反応では、基質濃度Ｓがミ
カエリス定数Ｋｍに対して十分低い状態（Ｓ≪Ｋｍ）に
あれば、反応速度は基質濃度に比例することから、酵素
活性の測定においては、反応が直線となる領域での単位
時間当たりの吸光度変化を演算するレート法が一般に採
用されている。
カエリス定数Ｋｍに対して十分低い状態（Ｓ≪Ｋｍ）に
あれば、反応速度は基質濃度に比例することから、酵素
活性の測定においては、反応が直線となる領域での単位
時間当たりの吸光度変化を演算するレート法が一般に採
用されている。
【０００３】しかし、基質濃度が高いと、基質と酵素と
が平衡状態に達して、基質濃度が生成物に比例するよう
になり、図６に示すように、反応が直線的でなく二次曲
線状になる。このため、このような場合に、レート法に
よって酵素活性を測定すると、正確な分析結果が得られ
なくなる。
が平衡状態に達して、基質濃度が生成物に比例するよう
になり、図６に示すように、反応が直線的でなく二次曲
線状になる。このため、このような場合に、レート法に
よって酵素活性を測定すると、正確な分析結果が得られ
なくなる。
【０００４】このようなレート法による分析の問題点を
解決し得るものとして、例えば特公平６−２７７４３号
公報には、図７に示すように、時系列的に測定された吸
光度（ＯＤ）を反応前半部と反応後半部とに分けてそれ
ぞれの変化率を求め、その両者の変化率の差と、予め設
定した基準値との比較に基づいて酵素反応が正常か異常
か、すなわち反応が直線的であるか否かを判定するよう
にしたものが開示されている。
解決し得るものとして、例えば特公平６−２７７４３号
公報には、図７に示すように、時系列的に測定された吸
光度（ＯＤ）を反応前半部と反応後半部とに分けてそれ
ぞれの変化率を求め、その両者の変化率の差と、予め設
定した基準値との比較に基づいて酵素反応が正常か異常
か、すなわち反応が直線的であるか否かを判定するよう
にしたものが開示されている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、レート
法による反応異常は、基質濃度の増加による直線性の低
下だけでなく、試薬分注、攪拌、測光といった反応系に
異常をきたした場合にも生じる。この場合、図８に示す
ように、反応自体は直線的であるが、中間にノイズや段
差が入った形状となる。このような反応の場合、上記の
従来例におけるように、反応の前半部と後半部との吸光
度の変化率の差に基づいて反応の異常を検出しようとす
ると、両者の変化率の差が小さいため、反応が直線的と
判定されて異常を告知することができず、分析の信頼性
が低下するという問題がある。
法による反応異常は、基質濃度の増加による直線性の低
下だけでなく、試薬分注、攪拌、測光といった反応系に
異常をきたした場合にも生じる。この場合、図８に示す
ように、反応自体は直線的であるが、中間にノイズや段
差が入った形状となる。このような反応の場合、上記の
従来例におけるように、反応の前半部と後半部との吸光
度の変化率の差に基づいて反応の異常を検出しようとす
ると、両者の変化率の差が小さいため、反応が直線的と
判定されて異常を告知することができず、分析の信頼性
が低下するという問題がある。
【０００６】また、オペレータは、異常が告知された場
合には、たとえ反応系に異常（装置の故障に起因するも
の）があっても、再測定を行なってしまうことから、試
料や試薬の浪費および分析効率の低下を招くという問題
がある。
合には、たとえ反応系に異常（装置の故障に起因するも
の）があっても、再測定を行なってしまうことから、試
料や試薬の浪費および分析効率の低下を招くという問題
がある。
【０００７】この発明は、上述した従来の問題点に着目
してなされたもので、種々の反応異常を検知して告知で
き、したがって分析の信頼性を向上できると共に、試料
や試薬の浪費および分析効率の低下をきたすことがない
よう適切に構成した自動分析装置を提供することを目的
とするものである。
してなされたもので、種々の反応異常を検知して告知で
き、したがって分析の信頼性を向上できると共に、試料
や試薬の浪費および分析効率の低下をきたすことがない
よう適切に構成した自動分析装置を提供することを目的
とするものである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項１に係る自動分析装置は、測定すべき試料ま
たは測定する項目に応じた試薬を反応容器に分注する分
注手段と、前記反応容器内の液体の反応過程を時系列的
に測光する測光手段と、該測光手段での測光値に基づい
て測定結果を演算すると共に、特定の時系列範囲での測
光値変化を演算する演算手段と、前記測光値変化と基準
となる反応データの変化率とを比較して、前記測光値変
化が異常であるか否かを判定する判定手段と、この判定
手段での判定結果に基づいて異常を告知する告知手段と
を有することを特徴とするものである。
め、請求項１に係る自動分析装置は、測定すべき試料ま
たは測定する項目に応じた試薬を反応容器に分注する分
注手段と、前記反応容器内の液体の反応過程を時系列的
に測光する測光手段と、該測光手段での測光値に基づい
て測定結果を演算すると共に、特定の時系列範囲での測
光値変化を演算する演算手段と、前記測光値変化と基準
となる反応データの変化率とを比較して、前記測光値変
化が異常であるか否かを判定する判定手段と、この判定
手段での判定結果に基づいて異常を告知する告知手段と
を有することを特徴とするものである。
【０００９】さらに、請求項２に係る自動分析装置は、
請求項１記載の自動分析装置において、前記判定手段
は、測光ポイント間の測光値の変化率のうち、異常を示
す変化率を特定して異常の種類を判定し、前記告知手段
は、前記判定手段が判定した異常の種類を識別し得るよ
うに告知するよう構成されていることを特徴とするもの
である。
請求項１記載の自動分析装置において、前記判定手段
は、測光ポイント間の測光値の変化率のうち、異常を示
す変化率を特定して異常の種類を判定し、前記告知手段
は、前記判定手段が判定した異常の種類を識別し得るよ
うに告知するよう構成されていることを特徴とするもの
である。
【００１０】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、この発明
の実施形態について説明する。図１は、この発明に係る
自動分析装置の一実施形態の概略構成を示すものであ
る。この自動分析装置は、複数個の反応容器１を同一円
周上に等間隔に保持したターンテーブル２を有し、この
ターンテーブル２を所定のシーケンスに従って、順次の
サイクルで例えば反時計方向に（３６０°−１反応容器
分）づつ回動するように、各サイクルの中で時計方向お
よび反時計方向に所定ステップ回動させながら、各反応
容器１に希釈液、サンプル（試料）および試薬を順次分
注し、希溶液分注後の反応容器１内の液体を全反応過程
測光方式により一定時間間隔で所要の波長の光で当該反
応容器１を通してダイレクト測光し、その時系列的な吸
光度データを取り込んで被検成分の測定を行うと共に、
測定の終了した反応容器１を洗浄して繰り返し使用する
ようにしたものである。
の実施形態について説明する。図１は、この発明に係る
自動分析装置の一実施形態の概略構成を示すものであ
る。この自動分析装置は、複数個の反応容器１を同一円
周上に等間隔に保持したターンテーブル２を有し、この
ターンテーブル２を所定のシーケンスに従って、順次の
サイクルで例えば反時計方向に（３６０°−１反応容器
分）づつ回動するように、各サイクルの中で時計方向お
よび反時計方向に所定ステップ回動させながら、各反応
容器１に希釈液、サンプル（試料）および試薬を順次分
注し、希溶液分注後の反応容器１内の液体を全反応過程
測光方式により一定時間間隔で所要の波長の光で当該反
応容器１を通してダイレクト測光し、その時系列的な吸
光度データを取り込んで被検成分の測定を行うと共に、
測定の終了した反応容器１を洗浄して繰り返し使用する
ようにしたものである。
【００１１】このため、ターンテーブル２の周辺部分に
は、反応容器１に対して機能するように、希釈液分注部
３、攪拌部４、測光部５、サンプル分注部６、試薬分注
部７および洗浄部８を設け、各反応容器１に対して、先
ず、希釈液分注部３で希釈液を分注し、その後、攪拌部
４で攪拌する。希釈液が分注された反応容器１に対して
は、一定時間間隔で測光部５に位置決めされる毎に、被
検成分（分析項目）に対応する波長の光で該反応容器１
を通して測光しながら、次に、サンプル分注部６におい
て、サンプルホルダ１１に保持されて所定の搬送通路に
沿って搬送されるサンプルカップ１２からサンプル分注
器１３により血清等のサンプルを分注し、その後、攪拌
部４で攪拌する。
は、反応容器１に対して機能するように、希釈液分注部
３、攪拌部４、測光部５、サンプル分注部６、試薬分注
部７および洗浄部８を設け、各反応容器１に対して、先
ず、希釈液分注部３で希釈液を分注し、その後、攪拌部
４で攪拌する。希釈液が分注された反応容器１に対して
は、一定時間間隔で測光部５に位置決めされる毎に、被
検成分（分析項目）に対応する波長の光で該反応容器１
を通して測光しながら、次に、サンプル分注部６におい
て、サンプルホルダ１１に保持されて所定の搬送通路に
沿って搬送されるサンプルカップ１２からサンプル分注
器１３により血清等のサンプルを分注し、その後、攪拌
部４で攪拌する。
【００１２】次に、試薬分注部７において、試薬テーブ
ル１５にセットされたそれぞれ異なる被検成分と反応す
る試薬を収容する複数の試薬タンク１６のうちから、分
析すべき被検成分に対応する試薬を試薬分注器１７によ
り分注し、その後、攪拌部４で攪拌して反応させる。所
定の反応時間が経過した後は、洗浄部８において、反応
容器１を洗浄して次の分析に備える。
ル１５にセットされたそれぞれ異なる被検成分と反応す
る試薬を収容する複数の試薬タンク１６のうちから、分
析すべき被検成分に対応する試薬を試薬分注器１７によ
り分注し、その後、攪拌部４で攪拌して反応させる。所
定の反応時間が経過した後は、洗浄部８において、反応
容器１を洗浄して次の分析に備える。
【００１３】以上の各部の動作は、演算制御部２１のＣ
ＰＵ等の制御手段２２により所定のシーケンスに従って
制御する。この実施形態では、演算制御部２１に、演算
手段２３、判定手段２４および告知手段２５を設け、演
算手段２３により測光部５からの各反応容器１の時系列
的な測光データを吸光度に変換して、その吸光度に基づ
いて各サンプル中の被検成分の測定結果を演算すると共
に、特定の時系列範囲での吸光度変化を演算し、判定手
段２４により演算手段２３で演算された吸光度変化と基
準となる反応データの変化率とを比較して吸光度変化が
異常であるか否かを判定し、告知手段２５により判定手
段２４での判定結果に基づいて異常を告知するようにす
る。
ＰＵ等の制御手段２２により所定のシーケンスに従って
制御する。この実施形態では、演算制御部２１に、演算
手段２３、判定手段２４および告知手段２５を設け、演
算手段２３により測光部５からの各反応容器１の時系列
的な測光データを吸光度に変換して、その吸光度に基づ
いて各サンプル中の被検成分の測定結果を演算すると共
に、特定の時系列範囲での吸光度変化を演算し、判定手
段２４により演算手段２３で演算された吸光度変化と基
準となる反応データの変化率とを比較して吸光度変化が
異常であるか否かを判定し、告知手段２５により判定手
段２４での判定結果に基づいて異常を告知するようにす
る。
【００１４】図２は、図１に示す演算制御部２１の演算
手段２３および判定手段２４の一例の要部の構成を示す
ブロック図である。この演算手段２３は、測光部５から
の各反応容器１に対応する測光データを吸光度に変換し
て格納する吸光度メモリ３０と、この吸光度メモリ３０
に格納された吸光度データに基づいて各サンプル中の被
検成分の測定結果を演算する測定結果演算回路３１と、
特定の時系列範囲における測光ポイント間での吸光度の
増減を演算する増減演算回路３２と、反応に関わる全測
定範囲における測光ポイントの吸光度から測光ポイント
間での吸光度の変化率を演算する変化率演算回路３３
と、これら増減演算回路３２および変化率演算回路３３
での演算結果を比較して特定の時系列範囲での吸光度変
化を演算する比較演算回路３４とを有する。
手段２３および判定手段２４の一例の要部の構成を示す
ブロック図である。この演算手段２３は、測光部５から
の各反応容器１に対応する測光データを吸光度に変換し
て格納する吸光度メモリ３０と、この吸光度メモリ３０
に格納された吸光度データに基づいて各サンプル中の被
検成分の測定結果を演算する測定結果演算回路３１と、
特定の時系列範囲における測光ポイント間での吸光度の
増減を演算する増減演算回路３２と、反応に関わる全測
定範囲における測光ポイントの吸光度から測光ポイント
間での吸光度の変化率を演算する変化率演算回路３３
と、これら増減演算回路３２および変化率演算回路３３
での演算結果を比較して特定の時系列範囲での吸光度変
化を演算する比較演算回路３４とを有する。
【００１５】また、判定手段２４は、時系列的に測定さ
れる測光ポイント間の吸光度の変化率の許容限界を示す
閾値を格納する閾値メモリ３５と、この閾値メモリ３５
からの閾値と比較演算回路３４からの吸光度変化とを比
較する比較回路３６と、この比較回路３６の出力に基づ
いて吸光度変化が異常であるか否かを判定して、その判
定結果を測定値演算回路３１および告知手段２５に出力
する判定回路３７とを有する。
れる測光ポイント間の吸光度の変化率の許容限界を示す
閾値を格納する閾値メモリ３５と、この閾値メモリ３５
からの閾値と比較演算回路３４からの吸光度変化とを比
較する比較回路３６と、この比較回路３６の出力に基づ
いて吸光度変化が異常であるか否かを判定して、その判
定結果を測定値演算回路３１および告知手段２５に出力
する判定回路３７とを有する。
【００１６】このようにして、この実施形態では、図３
にフローチャートを示すように、先ず、サンプルの分析
を開始するのに先立って、閾値メモリ３５に被検成分毎
に時系列的に測定される測光ポイント間の吸光度の変化
率の許容限界を示す閾値を格納する（ステップＳ１）。
その後、分析の開始により、各反応容器毎に測光部５か
ら得られる測光データを吸光度に変換して吸光度メモリ
３０に格納して（ステップＳ２）、測定結果演算回路３
１で被検成分の測定結果を演算する（ステップＳ３）と
共に、増減演算回路３２において特定の時系列範囲にお
ける測光ポイント間での吸光度の増減を演算し（ステッ
プＳ４）、さらに変化率演算回路３３において全測定範
囲における測光ポイント間での吸光度の変化率を演算し
て（ステップＳ５）、増減演算回路３２での演算結果と
変化率演算回路３３での演算結果とを比較演算回路３４
に供給して特定の時系列範囲での吸光度変化を比較演算
する（ステップＳ６）。ここで、ステップＳ３〜Ｓ５は
任意の順序で行うことができる。また、比較演算回路３
４では、増減演算回路３２における演算結果をα、変化
率演算回路３３における演算結果をβとするとき、例え
ば、（α／β）×１００を演算するようにする。
にフローチャートを示すように、先ず、サンプルの分析
を開始するのに先立って、閾値メモリ３５に被検成分毎
に時系列的に測定される測光ポイント間の吸光度の変化
率の許容限界を示す閾値を格納する（ステップＳ１）。
その後、分析の開始により、各反応容器毎に測光部５か
ら得られる測光データを吸光度に変換して吸光度メモリ
３０に格納して（ステップＳ２）、測定結果演算回路３
１で被検成分の測定結果を演算する（ステップＳ３）と
共に、増減演算回路３２において特定の時系列範囲にお
ける測光ポイント間での吸光度の増減を演算し（ステッ
プＳ４）、さらに変化率演算回路３３において全測定範
囲における測光ポイント間での吸光度の変化率を演算し
て（ステップＳ５）、増減演算回路３２での演算結果と
変化率演算回路３３での演算結果とを比較演算回路３４
に供給して特定の時系列範囲での吸光度変化を比較演算
する（ステップＳ６）。ここで、ステップＳ３〜Ｓ５は
任意の順序で行うことができる。また、比較演算回路３
４では、増減演算回路３２における演算結果をα、変化
率演算回路３３における演算結果をβとするとき、例え
ば、（α／β）×１００を演算するようにする。
【００１７】その後、比較回路３６において、比較演算
回路３４からの吸光度変化と閾値メモリ３５からの閾値
とを比較し（ステップＳ７）、その比較結果に基づいて
判定回路３７において、例えば吸光度変化が閾値を越え
ているときは異常、閾値以下のときは正常と判定する
（ステップＳ８）。ここで、吸光度変化が正常と判定さ
れた場合には、測定結果演算回路３１で演算した当該被
検成分の測定結果を出力させ（ステップＳ９）、異常と
判定された場合には告知手段２５により異常内容に応じ
て告知する（ステップＳ１０）。なお、告知手段２５に
よる異常内容の告知は、例えば、ブザー等による警報、
ＣＲＴ等の画面表示、あるいは測定結果を出力する報告
書等への印刷表示によって行う。また、この告知手段２
５での告知情報は、その有無や内容を何時でも読み出せ
るように、装置内外の記憶手段に記憶するようにしても
よい。
回路３４からの吸光度変化と閾値メモリ３５からの閾値
とを比較し（ステップＳ７）、その比較結果に基づいて
判定回路３７において、例えば吸光度変化が閾値を越え
ているときは異常、閾値以下のときは正常と判定する
（ステップＳ８）。ここで、吸光度変化が正常と判定さ
れた場合には、測定結果演算回路３１で演算した当該被
検成分の測定結果を出力させ（ステップＳ９）、異常と
判定された場合には告知手段２５により異常内容に応じ
て告知する（ステップＳ１０）。なお、告知手段２５に
よる異常内容の告知は、例えば、ブザー等による警報、
ＣＲＴ等の画面表示、あるいは測定結果を出力する報告
書等への印刷表示によって行う。また、この告知手段２
５での告知情報は、その有無や内容を何時でも読み出せ
るように、装置内外の記憶手段に記憶するようにしても
よい。
【００１８】以下、この実施形態による異常検出の具体
例について、図４，図５および表１，表２を参照して、
さらに詳細に説明する。図４は、図７と同じ反応の時系
列的吸光度変化を示し、表１はその各測光ポイントにお
ける吸光度（ＯＤ）および順次の測光ポイント間の吸光
度差（変化率）を示している。
例について、図４，図５および表１，表２を参照して、
さらに詳細に説明する。図４は、図７と同じ反応の時系
列的吸光度変化を示し、表１はその各測光ポイントにお
ける吸光度（ＯＤ）および順次の測光ポイント間の吸光
度差（変化率）を示している。
【００１９】
【表１】
【００２０】図４の場合、全測光ポイントを用いて最小
二乗法によりポイント間の吸光度変化率を求めると、
０．０５となる。ここで、この反応に求められる精度
を、±２０％と想定すると、閾値は、下限が０．０４、
上限が０．０６となるので、測光ポイント２〜４および
８〜１０での吸光度変化率が閾値を越え、反応異常とし
て検出される。なお、閾値は、試薬や分析装置の性能に
応じて、パラメータとして予め設定しておく。
二乗法によりポイント間の吸光度変化率を求めると、
０．０５となる。ここで、この反応に求められる精度
を、±２０％と想定すると、閾値は、下限が０．０４、
上限が０．０６となるので、測光ポイント２〜４および
８〜１０での吸光度変化率が閾値を越え、反応異常とし
て検出される。なお、閾値は、試薬や分析装置の性能に
応じて、パラメータとして予め設定しておく。
【００２１】図５は、図８と同じ反応の時系列的吸光度
変化を示し、表２はその各測光ポイントにおける吸光度
（ＯＤ）および順次の測光ポイント間の吸光度差（変化
率）を示している。
変化を示し、表２はその各測光ポイントにおける吸光度
（ＯＤ）および順次の測光ポイント間の吸光度差（変化
率）を示している。
【００２２】
【表２】
【００２３】図５の場合、全測光ポイントを用いて最小
二乗法によりポイント間の吸光度変化率を求めると、
０．０１１５となる。ここで、この反応に求められる精
度を、±２０％と想定すると、閾値は、下限が０．００
９２、上限が０．０１３８となるので、測光ポイント６
での吸光度変化率が閾値を越え、反応異常として検出さ
れる。
二乗法によりポイント間の吸光度変化率を求めると、
０．０１１５となる。ここで、この反応に求められる精
度を、±２０％と想定すると、閾値は、下限が０．００
９２、上限が０．０１３８となるので、測光ポイント６
での吸光度変化率が閾値を越え、反応異常として検出さ
れる。
【００２４】また、図４の場合のように、測光ポイント
の開始点および終了点で閾値を越えた場合には、０次反
応の終了が考えられ、また、図５の場合のように、測光
ポイントの中心付近で１点だけ閾値を越えた場合には、
試薬分注、攪拌、測光等の反応系不良が考えられる。し
たがって、閾値を越えた測光ポイントから直線性の異常
の種類を判定して、推定される原因を反応系の不良であ
ることが識別し得るように警報として画面に表示した
り、あるいはプリンタに出力して測定結果に記号、色
調、濃淡、文字、数字を用いて識別処理を施すこともで
きる。
の開始点および終了点で閾値を越えた場合には、０次反
応の終了が考えられ、また、図５の場合のように、測光
ポイントの中心付近で１点だけ閾値を越えた場合には、
試薬分注、攪拌、測光等の反応系不良が考えられる。し
たがって、閾値を越えた測光ポイントから直線性の異常
の種類を判定して、推定される原因を反応系の不良であ
ることが識別し得るように警報として画面に表示した
り、あるいはプリンタに出力して測定結果に記号、色
調、濃淡、文字、数字を用いて識別処理を施すこともで
きる。
【００２５】なお、この発明は、上述した実施形態にの
み限定されるものではなく、幾多の変形または変更が可
能である。例えば、吸光度により反応結果を得る以外
に、蛍光や発光を測定するようにしてもよい。また、反
応容器中に予め試薬が収容されている場合には、試料の
みを分注するようにしてもよい。また、分析のために、
複数の試薬を段階的に分注して複数段階の反応を経て測
定する分析原理においては、第１反応のみの時系列を測
定してもよいし、第２反応以後の反応開始時点を第２反
応以後の試薬添加時機に応じて決定して第２反応以後の
測定のみ、あるいは第１反応を含む複数段階の反応全体
を測定してもよい。また、この発明は、ディスポーザブ
ルな反応容器を用いた分析装置にも適用できる。また、
この発明は、反応容器の形状、個数、搬送サイクル等を
種々変更した例にも適用できる。また、この発明は、適
宜の複数種の分析モジュールを一体化した分析装置にお
いては、分析モジュール毎に異常を判定して、モジュー
ル毎に異常を区別できるよう告知様式（音量、音色、リ
ズム等）を設定するのが好ましい。
み限定されるものではなく、幾多の変形または変更が可
能である。例えば、吸光度により反応結果を得る以外
に、蛍光や発光を測定するようにしてもよい。また、反
応容器中に予め試薬が収容されている場合には、試料の
みを分注するようにしてもよい。また、分析のために、
複数の試薬を段階的に分注して複数段階の反応を経て測
定する分析原理においては、第１反応のみの時系列を測
定してもよいし、第２反応以後の反応開始時点を第２反
応以後の試薬添加時機に応じて決定して第２反応以後の
測定のみ、あるいは第１反応を含む複数段階の反応全体
を測定してもよい。また、この発明は、ディスポーザブ
ルな反応容器を用いた分析装置にも適用できる。また、
この発明は、反応容器の形状、個数、搬送サイクル等を
種々変更した例にも適用できる。また、この発明は、適
宜の複数種の分析モジュールを一体化した分析装置にお
いては、分析モジュール毎に異常を判定して、モジュー
ル毎に異常を区別できるよう告知様式（音量、音色、リ
ズム等）を設定するのが好ましい。
【００２６】
【発明の効果】請求項１に係る発明によれば、特定の時
系列範囲での測光値変化と基準となる反応データの変化
率とを比較して、測光値変化が異常であるか否かを判定
するようにしたので、測定中に生じた反応異常を検出す
ることができる。したがって、分析の信頼性を向上でき
ると共に、無駄な再測定を防止でき、試料や試薬の浪費
および分析効率の低下をきたすことがなくなる。
系列範囲での測光値変化と基準となる反応データの変化
率とを比較して、測光値変化が異常であるか否かを判定
するようにしたので、測定中に生じた反応異常を検出す
ることができる。したがって、分析の信頼性を向上でき
ると共に、無駄な再測定を防止でき、試料や試薬の浪費
および分析効率の低下をきたすことがなくなる。
【００２７】さらに、請求項２に係る発明によれば、反
応系の異常か否かを告知することができるので、オペレ
ータにおいて異常発生に簡単かつ正確に対処することが
できるようになる。
応系の異常か否かを告知することができるので、オペレ
ータにおいて異常発生に簡単かつ正確に対処することが
できるようになる。
【図１】 この発明に係る自動分析装置の一実施形態の
概略構成を示す図である。
概略構成を示す図である。
【図２】 図１に示す演算手段および判定手段の一例の
要部の構成を示すブロック図である。
要部の構成を示すブロック図である。
【図３】 図２に示す演算手段および判定手段での動作
を示すフローチャートである。
を示すフローチャートである。
【図４】 図１に示す実施形態による異常検出の一具体
例を説明するための図である。
例を説明するための図である。
【図５】 同じく、他の具体例を説明するための図であ
る。
る。
【図６】 酵素反応における基質濃度が高い場合と低い
場合との吸光度変化を示す図である。
場合との吸光度変化を示す図である。
【図７】 従来の酵素反応における異常検出方法を説明
するための図である。
するための図である。
【図８】 従来の異常検出方法における問題点を説明す
るための図である。
るための図である。
１ 反応容器 ２ ターンテーブル ３ 希釈液分注部 ４ 攪拌部 ５ 測光部 ６ サンプル分注部 ７ 試薬分注部 ８ 洗浄部 １１ サンプルホルダ １２ サンプルカップ １３ サンプル分注器 １５ 試薬テーブル １６ 試薬タンク １７ 試薬分注器 ２１ 演算制御部 ２２ 制御手段 ２３ 演算手段 ２４ 判定手段 ２５ 告知手段
Claims (2)
- 【請求項１】 測定すべき試料または測定する項目に応
じた試薬を反応容器に分注する分注手段と、前記反応容
器内の液体の反応過程を時系列的に測光する測光手段
と、該測光手段での測光値に基づいて測定結果を演算す
ると共に、特定の時系列範囲での測光値変化を演算する
演算手段と、前記測光値変化と基準となる反応データの
変化率とを比較して、前記測光値変化が異常であるか否
かを判定する判定手段と、この判定手段での判定結果に
基づいて異常を告知する告知手段とを有することを特徴
とする自動分析装置。 - 【請求項２】 前記判定手段は、測光ポイント間の測光
値の変化率のうち、異常を示す変化率を特定して異常の
種類を判定し、 前記告知手段は、前記判定手段が判定した異常の種類を
識別し得るように告知するよう構成されていることを特
徴とする請求項1記載の自動分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11079587A JP2000275254A (ja) | 1999-03-24 | 1999-03-24 | 自動分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11079587A JP2000275254A (ja) | 1999-03-24 | 1999-03-24 | 自動分析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000275254A true JP2000275254A (ja) | 2000-10-06 |
Family
ID=13694135
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11079587A Pending JP2000275254A (ja) | 1999-03-24 | 1999-03-24 | 自動分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000275254A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007501387A (ja) * | 2003-08-05 | 2007-01-25 | イー２ブイ バイオセンサーズ リミティド | 反応条件センサー |
| JP2008058065A (ja) * | 2006-08-30 | 2008-03-13 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置および自動分析方法 |
| JP2009085861A (ja) * | 2007-10-02 | 2009-04-23 | Fujifilm Corp | 位置ずれ判定方法および装置 |
| JP2012026728A (ja) * | 2010-07-20 | 2012-02-09 | Hitachi High-Technologies Corp | 分析装置 |
| WO2013099486A1 (ja) | 2011-12-26 | 2013-07-04 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置および測定値異常検出方法 |
| US9945880B2 (en) | 2013-07-05 | 2018-04-17 | Toshiba Medical Systems Corporation | Automatic analyzer |
| JP2021117191A (ja) * | 2020-01-29 | 2021-08-10 | 日本電子株式会社 | 自動分析装置及び反応異常判定方法 |
-
1999
- 1999-03-24 JP JP11079587A patent/JP2000275254A/ja active Pending
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JP2021117191A (ja) * | 2020-01-29 | 2021-08-10 | 日本電子株式会社 | 自動分析装置及び反応異常判定方法 |
| JP7357557B2 (ja) | 2020-01-29 | 2023-10-06 | 日本電子株式会社 | 自動分析装置及び反応異常判定方法 |
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