JP2015021952A - 自動分析装置および分析方法 - Google Patents
自動分析装置および分析方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2015021952A JP2015021952A JP2013153092A JP2013153092A JP2015021952A JP 2015021952 A JP2015021952 A JP 2015021952A JP 2013153092 A JP2013153092 A JP 2013153092A JP 2013153092 A JP2013153092 A JP 2013153092A JP 2015021952 A JP2015021952 A JP 2015021952A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- curve
- coordinate system
- measurement
- calibration curve
- absorbance
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 title claims abstract description 39
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 203
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 188
- 238000011088 calibration curve Methods 0.000 claims abstract description 108
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims abstract description 93
- 238000002835 absorbance Methods 0.000 claims abstract description 56
- 238000011481 absorbance measurement Methods 0.000 claims abstract description 43
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 90
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 78
- 239000003153 chemical reaction reagent Substances 0.000 claims description 68
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 claims description 28
- 239000012295 chemical reaction liquid Substances 0.000 claims description 26
- 239000013074 reference sample Substances 0.000 claims description 12
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 9
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 17
- 230000008569 process Effects 0.000 description 81
- 230000006870 function Effects 0.000 description 19
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 9
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 6
- 239000004816 latex Substances 0.000 description 5
- 229920000126 latex Polymers 0.000 description 5
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 210000002700 urine Anatomy 0.000 description 3
- 239000000427 antigen Substances 0.000 description 2
- 102000036639 antigens Human genes 0.000 description 2
- 108091007433 antigens Proteins 0.000 description 2
- 239000012472 biological sample Substances 0.000 description 2
- 210000004369 blood Anatomy 0.000 description 2
- 239000008280 blood Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 2
- 210000002381 plasma Anatomy 0.000 description 2
- 210000002966 serum Anatomy 0.000 description 2
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 2
- 0 *=*CCC1CCCC1 Chemical compound *=*CCC1CCCC1 0.000 description 1
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 230000004931 aggregating effect Effects 0.000 description 1
- 238000000149 argon plasma sintering Methods 0.000 description 1
- 239000007795 chemical reaction product Substances 0.000 description 1
- 230000002496 gastric effect Effects 0.000 description 1
- 238000003018 immunoassay Methods 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 239000011259 mixed solution Substances 0.000 description 1
- 238000004451 qualitative analysis Methods 0.000 description 1
- 238000004445 quantitative analysis Methods 0.000 description 1
- 239000000376 reactant Substances 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
Images
Abstract
Description
図1は、本実施の形態に係る自動分析装置の全体構成を概略的に示す図である。
サンプルディスク5には、血液や尿などの分析対象試料(以下、試料と称する)が収容された複数の試料容器6が周方向に並べて配置されている。サンプルディスク5は、図示しない回転駆動機構によって周方向に回転駆動されることにより、試料容器6を試料分注位置などの所定の位置に移動させる。なお、サンプルディスク5の動作は、インタフェース19を介して接続されたコンピュータ18により制御される。
第1及び第2試薬ディスク9A,9Bは、それぞれ、試薬保冷庫26A,26Bを備えており、自動分析装置における分析処理に用いる試薬が収容された複数の試薬容器10A,10Bが周方向に並べて配置されている。第1及び第2試薬ディスク9A,9Bは、図示しない回転駆動機構によって周方向に回転駆動されることにより、試薬容器10A,10Bを試薬分注位置などの所定の位置に移動させる。また、第1及び第2試薬ディスク9A,9Bには、各試薬容器10A,10Bに設けられた試薬識別情報を読み取る読取装置34A,34Bが配置されており、読み取った試薬識別情報は、第1及び第2試薬ディスク9A,9B上における各試薬容器10A,10Bのポジション情報とともにインタフェース19を介してコンピュータ18に送られ、測定日時などと関連付けられてメモリ11に記憶される。試薬識別情報は、例えば、バーコードで表されており、読取装置34A,34Bはバーコード読取装置である。なお、第1試薬ディスク9A、第2試薬ディスク9Bの動作は、インタフェース19を介して接続されたコンピュータ18により制御される。
反応ディスク1は、恒温維持装置4によって所定の温度に制御された恒温槽(反応槽)3を備えており、試料と試薬の混合された反応液が収容される複数の反応容器(反応セル)2が周方向に並べて配置されている。反応ディスク1は、図示しない回転駆動機構によって周方向に回転駆動されることにより、反応容器2を試料分注位置や試薬分注位置、測定位置などの所定の位置に移動させる。なお、反応ディスク1の動作は、インタフェース19を介して接続されたコンピュータ18により制御される。
反応ディスク1の反応容器2の搬送起動上における洗浄位置には、測定の終了した試料(反応液)が収容された反応容器2の洗浄処理を行う洗浄機構17が配置されている。
試料分注機構7は、試料容器6に収容された試料を試料分注位置において反応容器2に分注するものであり、試薬分注機構12A,12Bは、試薬容器10A,10B収容された試薬を試薬分注位置において反応容器2に分注するものである。反応容器2に分注された試料と試薬の混合液(反応液)は、試薬分注機構12A,12Bのそれぞれに対応して設けられた攪拌機構13A,13Bにより攪拌される。なお、試料分注機構7の動作は、試料分注制御部20により制御され、試薬分注機構12A,12Bの動作は、試薬分注機構21により制御される。また、試料分注制御部20及び試薬分注制御部21は、インタフェース19を介して接続されたコンピュータ18により制御される。
図2は、測定部の構成を概略的に示す図であり、図3は測定部の反応ディスクにおける位置関係を概略的に示す図である。
図2及び図3に示すように、散乱光測定部40Aは、散乱光測定用の光源14Aと、散乱光測定用の光源14Aから反応容器2に収容された反応液に照射された光の散乱光量を測定する散乱光度計(散乱光測定機構)15Aとから構成されている。また、散乱光度計15Aは、複数(本例では代表して2つを図示する)の散乱光検出器15A1,15A2により構成されている。
図2及び図3に示すように、吸光度測定部40Bは、吸光度測定用の光源14Bと、吸光度測定用の光源14Bから反応容器2に収容された反応液に照射された光の透過光量から吸光度を測定する吸光光度計(吸光度測定機構)15Bとから構成されている。
自動分析装置には、入力装置としてのキーボード24、表示装置としてのCRTディスプレイ25、印刷出力装置としてのプリンタ22、FDなどの外部出力メディアに記録する記録媒体ドライブ23、記憶装置(記憶部)としてのメモリ11がインタフェース19を介してコンピュータ18を含む各機能部と接続されている。メモリ11は、ハードディスクなどの記憶装置であり、分析結果のほか、オペレータ毎に設定されたパスワードや、画面の表示レベル、分析パラメータ、分析依頼項目内容、キャリブレーション結果などの情報が記憶されている。また、メモリ11には、後述する分析処理に係る各種範囲や基準値、検量線や曲線、変換式などのデータが記憶されている。
コンピュータ18は、自動分析装置全体の動作を制御する制御手段としての機能を有している。また、コンピュータ18は、以下に示すように、分析対象の試料に対する分析を行う分析処理に係る各種機能を有している。
コンピュータ18は、予め用意した成分が既知の基準試料に係る反応液の散乱光測定機構による測定結果から散乱光量検量線を演算する散乱光量検量線演算部としての機能を有している。
コンピュータ18は、基準試料に係る反応液の吸光度測定機構による測定結果から吸光度検量線を演算する吸光度検量線演算部としての機能を有している。
コンピュータ18は、予め定めた演算基準値に基づいて散乱光量検量線及び吸光度検量線の検量線上に求めた変換基準点を用いて、一方の検量線の座標系を他方の検量線の座標系に変換する座標系変換式を演算する変換式演算部としての機能を有している。
コンピュータ18は、座標系変換式を用いて一方の検量線の座標系を他方の検量線の座標系に変換する座標系変換部としての機能を有している。
コンピュータ18は、演算基準点を含む範囲であって、座標系変換式により変換された座標系における一方の検量線と他方の検量線とが重複しているかどうかを判定するために予め定めた重複条件を満たすような範囲を算出する重複範囲演算部としての機能を有している。
コンピュータ18は、重複範囲演算部により算出された重複範囲に基づいて、散乱光測定機構により測定を行う測定範囲と、吸光度測定機構により測定を行う測定範囲とを算出する測定範囲演算部としての機能を有している。また、測定範囲演算部は、重複範囲演算部により算出された重複範囲に基づいて、散乱光測定機構により測定を行う測定範囲と、吸光度測定機構により測定を行う測定範囲とを再算出する。さらに、測定範囲演算部は、曲線重複範囲演算部により算出された重複範囲に基づいて、散乱光測定機構により測定を行う測定範囲と、吸光度測定機構により測定を行う測定範囲とを再算出する。
コンピュータ18は、分析対象の試料に係る反応液の散乱光測定機構による測定結果から、反応液の反応過程における散乱光量の変化を示す散乱光曲線を演算する散乱光量曲線演算部としての機能を有している。
コンピュータ18は、分析対象の試料に係る反応液の吸光度測定機構による測定結果から、反応液の反応過程における吸光度の変化を示す吸光度曲線を演算する吸光度曲線演算部としての機能を有している。
コンピュータ18は、予め定めた曲線用演算基準値に基づいて散乱光量曲線及び吸光度曲線の曲線上に求めた変換基準点を用いて、一方の曲線の座標系を他方の曲線の座標系に変換する曲線用座標系変換式を演算する曲線用変換式演算部としての機能を有している。
コンピュータ18は、曲線用座標系変換式を用いて一方の曲線の座標系を他方の曲線の座標系に変換する曲線用座標系変換部としての機能を有している。
コンピュータ18は、曲線用座標系変換式により変換された座標系における一方の曲線と他方の曲線との重複状態に基づいて、試料の測定結果の異常を判定する第1異常判定部としての機能を有している。
コンピュータ18は、変換式演算部により演算された座標系変換式と、曲線用変換式演算部曲線により演算された曲線用座標系変換式の係数の比較結果に基づいて、試料の測定結果の異常を判定する第2異常判定部としての機能を有している。
コンピュータ18は、曲線用座標系変換式により変換された座標系における一方の曲線と他方の曲線とが重複しているかどうかを判定するために予め定めた曲線重複条件を満たすような範囲を算出する曲線重複範囲演算部としての機能を有している。
本実施の形態の分析処理に係るコンピュータの各処理について説明する。
図4は、コンピュータ18の散乱光量検量線演算部としての機能によって、予め用意した成分が既知の基準試料に係る反応液の散乱光測定部(散乱光測定機構)40Aによる測定結果から演算した散乱光量検量線104を示す図である。図4では、横軸に濃度、縦軸に光散乱の光量をそれぞれ示している。
図5は、コンピュータ18の吸光度検量線演算部としての機能によって、予め用意した成分が既知の基準試料に係る反応液の吸光度測定部(吸光度測定機構)40Bによる測定結果から演算した吸光度検量線105を示す図である。図4では、横軸に濃度、縦軸に吸光度(ABS: Absorbance)をそれぞれ示している。
図6は、散乱光測定処理の検量線((2−1)参照)と吸光度測定処理の検量線((2−2)参照)との相関範囲算出処理の処理フローを示す図である。また、図7は、相関範囲算出処理における各検量線を示す図である。また、図14は、測定範囲演算処理により表示装置に表示される処理結果画面を示す図である。
変換式演算処理は、予め定めた濃度に関する演算基準値a2(図7参照)に基づいて散乱光量検量線104及び吸光度検量線105の検量線上に求めた変換基準点P1,P2(図4、図5参照)を用いて、一方の検量線(例えば、散乱光量検量線104)の座標系を他方の検量線(例えば、吸光度検量線105)の座標系に変換する座標系変換式を演算する処理である。演算基準点P1,P2は、後述する重複範囲(相関範囲)内となるような点を予め実験的・経験的に求めたものであり、メモリ11に記憶されている。
Y=AX+B ・・・・(式1)
を座標系変換式として用いる場合が考えられる。このときの係数A,Bは、濃度に関する演算基準値に基づいて各検量線上に求めた変換基準点を用いて算出される。
座標系変換処理は、変換式演算処理で求めた座標系変換式(式1)を用いて一方の検量線の座標系を他方の検量線の座標系に変換する処理である。図7では、散乱光量検量線104の座標系を変換して散乱光量検量線204とし、吸光度検量線105と重複させた場合を例示している。また、この重複結果は、表示装置であるCRTモニタ25にも表示される(図14参照)。
重複範囲演算処理は、座標系変換処理において変換され重複された各検量線において、演算基準点P3(P1,P2)を含む範囲であって、座標系変換式(式1)により変換された座標系における一方の検量線と他方の検量線とが重複しているかどうか、すなわち、相関関係があるかどうかを判定するために予め定めた重複条件(相関条件)を満たすような範囲(重複範囲)を算出する処理である。
測定範囲演算処理は、重複範囲演算部により算出された重複範囲に基づいて、散乱光測定機構40Bにより測定を行う測定範囲と、吸光度測定機構40Bにより測定を行う測定範囲とを算出する処理である。
図14に示すように、表示装置25に表示される測定範囲演算処理の処理結果画面には、測定範囲演算処理の処理結果114のほかに、測定範囲演算処理の再実行を指示するための再演算ボタン114aと、スケール調整を行うスケールボタン114bと、処理結果画面を閉じるための閉じるボタン114cとが配置されている。例えば、画面上で演算基準値a2の値を調整して、再演算ボタン114aを操作することによって、調整後の演算基準値に基づいた測定範囲演算処理を実施することができる。これにより、オペレータは、測定範囲演算処理の処理結果に基づいて、その処理結果の妥当性を用意に判定できるとともに、演算基準値a2を最適な値に直感的に調整することができる。
図8は、散乱光測定機構40B及び吸光度測定機構40Aにおけるキャリブレータの反応過程の測定結果に対して、変換式演算処理および座標系変換処理と同様の処理を行った場合を示す図である。これらは、表示装置であるCRTモニタ25に表示され、オペレータは測定範囲の妥当性を容易に確認することができる。
図9は、散乱光測定処理における反応過程と吸光度測定処理の反応過程に基づいた測定結果の異常判定処理の処理フローを示す図である。また、図10及び図11は、反応過程における測定ポイントの一例を示す図である。
散乱光量曲線演算処理は、分析対象の試料に係る反応液の散乱光測定機構による測定結果から、反応液の反応過程における散乱光量の変化を示す散乱光曲線を演算する処理である。
吸光度曲線演算処理は、分析対象の試料に係る反応液の吸光度測定機構による測定結果から、反応液の反応過程における吸光度の変化を示す吸光度曲線を演算する処理である。
曲線用変換式演算処理は、散乱光量曲線及び吸光度曲線に対して、検量線に対する変換式演算処理と同様の処理を行うものである。すなわち、曲線用変換式演算処理は、予め定めた曲線用演算基準値に基づいて散乱光量曲線及び吸光度曲線の曲線上に求めた変換基準点を用いて、一方の曲線(例えば、散乱光量曲線)の座標系を他方の曲線(例えば、吸光度曲線)の座標系に変換する曲線用座標系変換式を演算する処理である。曲線用演算基準点は、予め実験的・経験的に求めたものであり、メモリ11に記憶されている。
y=ax+b ・・・・(式2)
を曲線用座標系変換式として用いる場合が考えられる。
曲線用座標系変換処理は、曲線用変換式演算処理で求めた曲線用座標系変換式(式1)を用いて一方の曲線の座標系を他方の曲線の座標系に変換する処理である。図10,図11では、散乱光量曲線の座標系を変換して吸光度曲線と重複させた場合を例示している。また、この重複結果は、表示装置であるCRTモニタ25にも表示される(図15参照)。
第1異常判定処理は、曲線用座標系変換式により変換された座標系における一方の曲線と他方の曲線との重複状態に基づいて、試料の測定結果の異常を判定する処理である。
第2異常判定処理は、変換式演算部により演算された座標系変換式(式1)と、曲線用変換式演算部曲線により演算された曲線用座標系変換式(式2)の係数の比較結果に基づいて、試料の測定結果の異常を判定する処理である。例えば、(式1)の係数A,Bと(式2)の係数a,bとの乖離が、予め定めた閾値よりも大きい場合は、測定結果に異常があると判定する。
曲線重複範囲演算処理は、曲線用座標系変換式により変換された座標系における一方の曲線と他方の曲線とが重複しているかどうかを判定するために予め定めた曲線重複条件を満たすような範囲を算出する処理である。ここで用いる閾値は、予め実験的・経験的に求めたものであり、メモリ11に記憶されている。
測定範囲再演算処理は、曲線重複範囲演算部により算出された重複範囲に基づいて、散乱光測定機構により測定を行う測定範囲と、吸光度測定機構により測定を行う測定範囲とを再算出する処理である。
図15に示すように、表示装置25に表示される曲線用座標演算処理の処理結果画面には、曲線用座標演算処理の処理結果115のほかに、測定範囲演算処理の再実行を指示するための再演算ボタン1115aと、スケール調整を行うスケールボタン115bと、処理結果画面を閉じるための閉じるボタン115cとが配置されている。例えば、画面上で測定ポイントの値を調整して、再演算ボタン115aを操作することによって、調整後の測定ポイントに基づいたキャリブレーションおよび試料濃度測定の再計算を実施する。
以上のように構成した本実施の形態における効果を説明する。
2 反応容器
3 恒温槽(反応槽)
4 恒温維持装置
5 サンプルディスク
6 試料容器
7 試料分注機構
9A 第1試薬ディスク
9B 第2試薬ディスク
10A,10B 試薬容器
11 メモリ
12A 第1試薬分注機構
12B 第2試薬分注機構
13A,13B 攪拌機構
14A,14B 光源
15A 散乱光度計
15A1,15A2 散乱光検出器
16 A/D変換器
17 洗浄機構
18 コンピュータ
19 インタフェース
20 試料分注制御部
21 試薬分注制御部
22 プリンタ
23 記録媒体ドライブ
24 キーボード(入力装置)
25 CRTディスプレイ(表示装置)
26A,26B 試薬保冷庫
34A,34B 読取装置
40 測定部
40A 散乱光測定部
40B 吸光度測定部
Claims (6)
- 分析対象の試料を収容した試料容器と、
試料の分析に用いる試薬を収容した試薬容器と、
前記試料と試薬とを混合した反応液を収容反応する反応容器と、
前記試料容器から前記反応容器に試料を分注する試料分注機構と、
前記試薬容器から前記反応容器に試薬を分注する試薬分注機構と、
散乱光測定用の光源から前記反応容器に収容された反応液に照射された光の散乱光量を測定する散乱光測定機構と、
前記反応容器に収容された反応液の吸光度を測定する吸光度測定機構と、
予め用意した成分が既知の基準試料に係る反応液の前記散乱光測定機構による測定結果から散乱光量検量線を演算する散乱光量検量線演算部と、
前記基準試料に係る反応液の前記吸光度測定機構による測定結果から吸光度検量線を演算する吸光度検量線演算部と、
予め定めた演算基準値に基づいて前記散乱光量検量線及び前記吸光度検量線の検量線上に求めた変換基準点を用いて、一方の検量線の座標系を他方の検量線の座標系に変換する座標系変換式を演算する変換式演算部と、
前記座標系変換式を用いて一方の検量線の座標系を他方の検量線の座標系に変換する座標系変換部と、
前記演算基準点を含む範囲であって、前記座標系変換式により変換された座標系における一方の検量線と他方の検量線とが重複しているかどうかを判定するために予め定めた重複条件を満たすような範囲を算出する重複範囲演算部と、
前記重複範囲演算部により算出された重複範囲に基づいて、前記散乱光測定機構により測定を行う測定範囲と、前記吸光度測定機構により測定を行う測定範囲とを算出する測定範囲演算部と
を備えたことを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1記載の自動分析装置において、
前記分析対象の試料に係る反応液の前記散乱光測定機構による測定結果から、前記反応液の反応過程における散乱光量の変化を示す散乱光曲線を演算する散乱光量曲線演算部と、
前記分析対象の試料に係る反応液の前記吸光度測定機構による測定結果から、前記反応液の反応過程における吸光度の変化を示す吸光度曲線を演算する吸光度曲線演算部と、
予め定めた曲線用演算基準値に基づいて前記散乱光量曲線及び前記吸光度曲線の曲線上に求めた変換基準点を用いて、一方の曲線の座標系を他方の曲線の座標系に変換する曲線用座標系変換式を演算する曲線用変換式演算部と、
前記曲線用座標系変換式を用いて一方の曲線の座標系を他方の曲線の座標系に変換する曲線用座標系変換部と、
前記曲線用座標系変換式により変換された座標系における一方の曲線と他方の曲線との重複状態に基づいて、前記試料の測定結果の異常を判定する第1異常判定部と
を備えたことを特徴とする自動分析装置。 - 請求項2記載の自動分析装置において、
前記変換式演算部により演算された座標系変換式と、曲線用変換式演算部曲線により演算された曲線用座標系変換式の係数の比較結果に基づいて、前記試料の測定結果の異常を判定する第2異常判定部を備えたことを特徴とする自動分析装置。 - 請求項2記載の自動分析装置において、
前記曲線用座標系変換式により変換された座標系における一方の曲線と他方の曲線とが重複しているかどうかを判定するために予め定めた曲線重複条件を満たすような範囲を算出する曲線重複範囲演算部を備え、
測定範囲演算部は、前記曲線重複範囲演算部により算出された重複範囲に基づいて、前記散乱光測定機構により測定を行う測定範囲と、前記吸光度測定機構により測定を行う測定範囲とを再算出する
ことを特徴とする自動分析装置。 - 請求項2〜4の何れか1項記載の自動分析装置において、
前記曲線用座標系変換式を用いて変換された座標系における一方の曲線と他方の曲線とを重複して表示する表示装置と、
前記演算基準値又は前記曲線用演算基準値を再設定する基準値再設定手段と、
前記散乱光測定機構及び前記吸光度測定機構による測定結果、及び、前記基準値再設定手段で再設定された各基準値を用いた前記測定範囲の再計算の実施をオペレータが指示することができる再計算指示手段と
を備えたことを特徴とする自動分析装置。 - 分析対象の試料を収容した試料容器と、
試料の分析に用いる試薬を収容した試薬容器と、
前記試料と試薬とを混合した反応液を収容反応する反応容器と、
前記試料容器から前記反応容器に試料を分注する試料分注機構と、
前記試薬容器から前記反応容器に試薬を分注する試薬分注機構と、
散乱光測定用の光源から前記反応容器に収容された反応液に照射された光の散乱光量を測定する散乱光測定機構と、
前記反応容器に収容された反応液の吸光度を測定する吸光度測定機構と
を備えた自動分析装置の分析方法であって、
予め用意した成分が既知の基準試料に係る反応液の前記散乱光測定機構による測定結果から散乱光量検量線を演算する手順と、
前記基準試料に係る反応液の前記吸光度測定機構による測定結果から吸光度検量線を演算する手順と、
予め定めた演算基準値に基づいて前記散乱光量検量線及び前記吸光度検量線の検量線上に求めた変換基準点を用いて、一方の検量線の座標系を他方の検量線の座標系に変換する座標系変換式を演算する手順と、
前記座標系変換式を用いて一方の検量線の座標系を他方の検量線の座標系に変換し、
前記演算基準点を含む範囲であって、前記座標系変換式により変換された座標系における一方の検量線と他方の検量線とが重複しているかどうかを判定するために予め定めた重複条件を満たすような範囲を算出する手順と、
算出された重複範囲に基づいて、前記散乱光測定機構により測定を行う測定範囲と、前記吸光度測定機構により測定を行う測定範囲とを算出する手順と
を備えたことを特徴とする自動分析装置の分析方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013153092A JP6104746B2 (ja) | 2013-07-23 | 2013-07-23 | 自動分析装置および分析方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013153092A JP6104746B2 (ja) | 2013-07-23 | 2013-07-23 | 自動分析装置および分析方法 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015021952A true JP2015021952A (ja) | 2015-02-02 |
JP2015021952A5 JP2015021952A5 (ja) | 2016-04-21 |
JP6104746B2 JP6104746B2 (ja) | 2017-03-29 |
Family
ID=52486505
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013153092A Active JP6104746B2 (ja) | 2013-07-23 | 2013-07-23 | 自動分析装置および分析方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6104746B2 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017211324A (ja) * | 2016-05-27 | 2017-11-30 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
WO2018016252A1 (ja) * | 2016-07-19 | 2018-01-25 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置及び自動分析方法 |
WO2019130668A1 (ja) * | 2017-12-26 | 2019-07-04 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置および自動分析方法 |
CN111323393A (zh) * | 2020-04-07 | 2020-06-23 | 宁波普瑞柏生物技术股份有限公司 | 一种联合散射比浊法和透射比浊法的测量方法 |
WO2022138249A1 (ja) * | 2020-12-22 | 2022-06-30 | 株式会社日立ハイテク | 自動分析装置および分析方法 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11237179B2 (en) | 2017-10-31 | 2022-02-01 | Canon Medical Systems Corporation | Calibration curve generating method and automatic analyzing apparatus |
Citations (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60154161A (ja) * | 1984-01-24 | 1985-08-13 | Shimadzu Corp | 免疫反応測定に使用する検量線の作成方法 |
JPS61247376A (ja) * | 1985-04-26 | 1986-11-04 | Hitachi Ltd | 自動分析装置 |
JPH06331630A (ja) * | 1993-05-25 | 1994-12-02 | Daikin Ind Ltd | キャリブレーション結果判定方法およびキャリブレーション結果処理方法 |
JP2001141654A (ja) * | 1999-10-08 | 2001-05-25 | Dade Behring Marburg Gmbh | 分光光度・比濁検出ユニット |
JP2001194308A (ja) * | 1999-10-28 | 2001-07-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 溶液濃度計測方法および溶液濃度計測装置 |
JP2001249134A (ja) * | 1999-12-28 | 2001-09-14 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | タンパク質濃度計測用試薬、これを用いたタンパク質濃度計測方法および尿検査方法 |
JP2005201843A (ja) * | 2004-01-19 | 2005-07-28 | Hitachi Ltd | 分析装置 |
JP2008122333A (ja) * | 2006-11-15 | 2008-05-29 | Toshiba Corp | 自動分析装置及びその方法 |
JP2010002398A (ja) * | 2008-06-23 | 2010-01-07 | Horiba Ltd | 分析装置 |
JP2010032505A (ja) * | 2008-06-30 | 2010-02-12 | Arkray Inc | 目的物質の検出方法、それに用いる検出試薬およびその用途 |
JP2011226909A (ja) * | 2010-04-20 | 2011-11-10 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置及び自動分析方法 |
JP2011257243A (ja) * | 2010-06-08 | 2011-12-22 | Shino-Test Corp | 試料中のc反応性蛋白質の測定試薬、測定方法及び測定範囲の拡大方法 |
JP2012242122A (ja) * | 2011-05-16 | 2012-12-10 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置及び自動分析プログラム |
JP2013057587A (ja) * | 2011-09-08 | 2013-03-28 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
JP2013064705A (ja) * | 2011-09-20 | 2013-04-11 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置及び分析方法 |
-
2013
- 2013-07-23 JP JP2013153092A patent/JP6104746B2/ja active Active
Patent Citations (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60154161A (ja) * | 1984-01-24 | 1985-08-13 | Shimadzu Corp | 免疫反応測定に使用する検量線の作成方法 |
JPS61247376A (ja) * | 1985-04-26 | 1986-11-04 | Hitachi Ltd | 自動分析装置 |
JPH06331630A (ja) * | 1993-05-25 | 1994-12-02 | Daikin Ind Ltd | キャリブレーション結果判定方法およびキャリブレーション結果処理方法 |
JP2001141654A (ja) * | 1999-10-08 | 2001-05-25 | Dade Behring Marburg Gmbh | 分光光度・比濁検出ユニット |
JP2001194308A (ja) * | 1999-10-28 | 2001-07-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 溶液濃度計測方法および溶液濃度計測装置 |
JP2001249134A (ja) * | 1999-12-28 | 2001-09-14 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | タンパク質濃度計測用試薬、これを用いたタンパク質濃度計測方法および尿検査方法 |
JP2005201843A (ja) * | 2004-01-19 | 2005-07-28 | Hitachi Ltd | 分析装置 |
JP2008122333A (ja) * | 2006-11-15 | 2008-05-29 | Toshiba Corp | 自動分析装置及びその方法 |
JP2010002398A (ja) * | 2008-06-23 | 2010-01-07 | Horiba Ltd | 分析装置 |
JP2010032505A (ja) * | 2008-06-30 | 2010-02-12 | Arkray Inc | 目的物質の検出方法、それに用いる検出試薬およびその用途 |
JP2011226909A (ja) * | 2010-04-20 | 2011-11-10 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置及び自動分析方法 |
JP2011257243A (ja) * | 2010-06-08 | 2011-12-22 | Shino-Test Corp | 試料中のc反応性蛋白質の測定試薬、測定方法及び測定範囲の拡大方法 |
JP2012242122A (ja) * | 2011-05-16 | 2012-12-10 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置及び自動分析プログラム |
JP2013057587A (ja) * | 2011-09-08 | 2013-03-28 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
JP2013064705A (ja) * | 2011-09-20 | 2013-04-11 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置及び分析方法 |
Cited By (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017211324A (ja) * | 2016-05-27 | 2017-11-30 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
CN109416319B (zh) * | 2016-07-19 | 2021-07-13 | 株式会社日立高新技术 | 自动分析装置及自动分析方法 |
US11674970B2 (en) | 2016-07-19 | 2023-06-13 | Hitachi High-Tech Corporation | Automatic analysis device and automatic analysis method |
JPWO2018016252A1 (ja) * | 2016-07-19 | 2019-05-16 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置及び自動分析方法 |
CN109416319A (zh) * | 2016-07-19 | 2019-03-01 | 株式会社日立高新技术 | 自动分析装置及自动分析方法 |
US10976333B2 (en) | 2016-07-19 | 2021-04-13 | Hitachi High-Tech Corporation | Automatic analysis device and automatic analysis method |
WO2018016252A1 (ja) * | 2016-07-19 | 2018-01-25 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置及び自動分析方法 |
US11971425B2 (en) | 2016-07-19 | 2024-04-30 | Hitachi High-Tech Corporation | Automatic analysis device and automatic analysis method |
WO2019130668A1 (ja) * | 2017-12-26 | 2019-07-04 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置および自動分析方法 |
JPWO2019130668A1 (ja) * | 2017-12-26 | 2020-10-22 | 株式会社日立ハイテク | 自動分析装置および自動分析方法 |
JP2021063817A (ja) * | 2017-12-26 | 2021-04-22 | 株式会社日立ハイテク | 自動分析装置および自動分析方法 |
US11187712B2 (en) | 2017-12-26 | 2021-11-30 | Hitachi High-Technologies Corporation | Automated analyzer and automated analysis method |
JP7130723B2 (ja) | 2017-12-26 | 2022-09-05 | 株式会社日立ハイテク | 自動分析装置および自動分析方法 |
CN111323393A (zh) * | 2020-04-07 | 2020-06-23 | 宁波普瑞柏生物技术股份有限公司 | 一种联合散射比浊法和透射比浊法的测量方法 |
WO2022138249A1 (ja) * | 2020-12-22 | 2022-06-30 | 株式会社日立ハイテク | 自動分析装置および分析方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP6104746B2 (ja) | 2017-03-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6104746B2 (ja) | 自動分析装置および分析方法 | |
JP6013796B2 (ja) | 自動分析装置及び試料測定方法 | |
JP5481402B2 (ja) | 自動分析装置 | |
US11971425B2 (en) | Automatic analysis device and automatic analysis method | |
JP5897323B2 (ja) | 自動分析装置および測定値異常検出方法 | |
JP5984290B2 (ja) | 自動分析装置 | |
JP5216051B2 (ja) | 自動分析装置および自動分析方法 | |
CN102947690B (zh) | 自动分析装置 | |
JP5932540B2 (ja) | 自動分析装置 | |
CN103238062B (zh) | 自动分析装置 | |
JP5952180B2 (ja) | 自動分析装置、プログラムおよび記録媒体ならびに検体の自動分析方法 | |
JP6211806B2 (ja) | 自動分析装置 | |
JP2021076524A (ja) | 検量線生成装置及び自動分析装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20160308 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20160308 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20160308 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20170208 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20170214 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20170301 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6104746 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |