CN102947690B - 自动分析装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供自动分析装置,其具备检测散射光的光检测器,并且通过减少噪声分量的影响来得到可靠性高的分析结果。在浓度运算前,推算多个光检测器所检测到的散射光的相关性,利用相关高的散射光来进行浓度分析,从而能够进行噪声分量的影响少的、可靠性高的浓度分析。

Description

自动分析装置
技术领域
本发明涉及向测定对象照射光而对由测定对象散射的光进行测定的自动分析装置,尤其涉及配置两个以上检测器的自动分析装置。
背景技术
作为对样品(试料、检测体)所含有的成分量进行分析的样品分析装置,广泛使用如下自动分析装置,即,向样品、或者混合有样品与试剂的反应液照射来自光源的光,对其结果得到的单一或者多个波长的透过光量进行测定并计算吸光度,根据Lambert-Beer的法则,从吸光度与浓度的关系算出成分量。
这些装置中,反复进行旋转与停止的容器盘上,圆周状地并列有保持反应液的多个容器,在容器盘旋转过程中,利用预先配置的透过光测定部,以约10分钟、一定的时间间隔来测定吸光度的经时变化。
自动分析装置具备测量透过光量的系统,另一方面,反应液的反应中大概使用基质与酵素的呈色反应、以及抗原与抗体的凝结反应这两种反应。
前者是生物化学分析,作为检查项目有LDH(乳酸脱氢酶)、ALP(碱性磷酸酶)、AST(谷草转氨酶)等。后者是免疫分析,作为检查项目有CRP(C反应蛋白)、IgG(免疫球蛋白)、RF(类风湿因子)等。
后者的免疫分析所测定的测定物质中,血中浓度低而要求高灵敏度。以往,实现了如下利用乳胶免疫凝结法的高敏感度化,即,对乳胶粒子的表面使用使抗体产生变态反应(结合)的试剂,识别样品中所含有的成分并使之凝结,此时,对反应液投光,通过对不在乳胶凝结块散射而透过的光量进行测定,来对样品中所含有的成分量进行定量。
另外,作为自动分析装置,也尝试不测定透过光量、而利用测定散射光量的高灵敏度化。例如公开有:使用隔膜而将透过光与散射光分离、且同时测定吸光度与散射光的系统(专利文献1);将在随着进行凝结反应的结果而形成的大的凝结块的反射散射光测量在高浓度侧的精度提高的构成(专利文献2);以及在反应容器前后使用积分球来测定前方散射光与后方散射光各自的平均光量、并对由容器位置偏移引起的浊度变化进行修正的方法(专利文献3)等。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2000-307117号公报
专利文献2:日本特愿2006-180338号公报
专利文献3:日本特愿平9-153048号公报
发明内容
发明所要解决的课题
在使用了检测散射光的检测器的自动分析装置中,在测定对象混入有气泡等异物的情况、反应容器的损伤、或者反应容器内附着有伤痕的情况下,作为噪声成分而影响测定结果。
为了减少该噪声的影响,有通过对来自检测器的输出进行一定时间积分来改善S/N比特性的方法,但不仅积分时间被测定对象的时间的变化制约,且在反应容器内附着有气泡等异物的情况下,无法得到S/N比特性的改善效果。另外,专利文献3中公开了如下技术,即,通过对散射光积分且实施平均化处理,来减少S/N比。
然而,在对测定对象物照射光而对其散射的光进行检测的散射光度计中,原理上难以对反应容器的伤痕或反应容器内附着的气泡、与测定对象物进行划分。
并且,反应容器内附着的气泡多会在反应容器内的特定的部位附着,并且反应容器的损伤也多会在反应容器的特定部位。因此,若能在浓度运算前除去特定的方向上散射的光,则能够使用噪声成分少的散射光的光检测信号而得到可靠性高的结果。
因此,本发明的目的在于提供如下自动分析装置,即,即使在散射光所含有的噪声、光检测系统的光通过的路径中途存在妨碍散射光的通过的障碍,也能够得到可靠性高的分析的结果。
用于解决课题的方法
本发明的特征在于,从多方向对来自测定对象的散射光量进行测定,求出测定方向相互间的所测定散射光量的相关系数,并将符合比基准相关系数高的上述相关系数的测定方向的散射光量用于上述测定对象的分析。
发明的效果
根据本发明,由于使用相关系数高的散射光量来进行测定对象的分析,从而能够向临床方面提供可靠性高的测定结果。
附图说明
图1是表示本发明的实施例的自动分析装置的整体构成的系统框图。
图2是本发明的实施例、是对来自测定对象的散射光进行检测的光检测系统的系统构成图。
图3是本发明的实施例的光检测系统的光检测器(θ1、θ2)所检测到的散射光的测定结果。
图4是本发明的实施例、是光检测系统所检测到的散射光的信号成分与噪声成分的关系的图。
图5是本发明的实施例、是相对于透过光轴的倾斜角度设为不同的多个光检测器(θ1、θ2)所检测到的散射光的相关图。
图6是本发明的实施例、与图5相同,是多个光检测器(θ1、θ3)所检测到的散射光的相关图。
图7是本发明的实施例、与图5相同,是多个光检测器(θ1、θ4)所检测到的散射光的相关图。
图8是本发明的实施例、是表示使多个光检测器(θ1、θ2)所检测到的散射光规格化而平均化的光量的图。
图9是本发明的实施例、是表示对多个光检测器所检测到的散射光的数据进行处理的处理流程的图。
图10是本发明的实施例、是自动分析装置的显示装置所显示的分析的参数的设定画面。
具体实施方式
以下,根据附图对本发明的实施例进行说明。
以下,使用图1~图6,对本发明的一个实施方式的自动分析系统的构成以及动作进行说明。
最初,使用图1,对本实施方式的自动分析系统的整体构成进行说明。图1是表示本发明的实施方式的自动分析系统的整体构成的系统框图。
图1表示自动分析装置的整体构成。在设为能够间歇旋转的反应盘1上,沿圆周安装有由透光性材料构成的多个反应容器2。反应容器2由恒温槽3维持为规定的温度(例如37℃)。恒温槽3内的流体由恒温维持装置4调整温度。
在样品盘5上载置多个检体容器6,该多个检体容器6收容有血液或者尿之类的生物体样品。安装于可动臂7的移液器喷嘴8从位于样品盘5的吸入位置的检体容器6吸入规定量的样品,且将其样品向位于反应盘1上的排出位置的反应容器2内排出。
在分别配置在试剂保冷库9A、9B内的试剂盘上,载置多个试剂瓶10A、10B,该多个试剂瓶10A、10B贴有条形码之类的表示试剂识别信息的标签。在这些试剂瓶中收容有与由分析装置分析得到分析项目对应的试剂液。当登记试剂时,各试剂保冷库9A、9B所附属的条形码读取装置34A、34B对在各试剂瓶的外壁表示的条形码进行读取。读取的试剂信息与试剂盘上的位置信息一起被登记入后述的存储器11。
各试剂分注机构12A、12B的试剂用移液器喷嘴从位于反应盘1上的试剂接受位置的、与检查项目对应的试剂瓶吸入试剂液,并向相当的反应容器2内排出。
收容在反应容器2内的样品与试剂的混合物被搅拌机构13A、13B搅拌。反应容器2列旋转移动,以使通过介于光源14与散射光度计15之间的测光位置。散射光度计15也可以在同轴光轴上具备多波长吸光光度计,也可以使用散射光与透过光双方来进行浓度运算。此外,光源14与散射光度计15构成光检测系统。下面使用图2对散射光度计15内的光检测器的配置进行说明。
然后,在反应盘1的旋转动作中,每当在散射光度计15前横穿,对各反应容器2内的样品与试剂的反应液进行测光。向A/D变换器16输入每个样品所测定的散射光的模拟信号。配置于反应盘1的附近的反应容器清洗机构17通过对使用完毕的反应容器2的内部进行清洗,能够反复使用反应容器。
接下来,简单地对图1的分析装置的控制系统以及信号处理系统进行说明。
计算机18经由接口19而与样品分注控制部20、试剂分注控制部21、A/D变换器16连接。计算机18对样品分注控制部20发送指令,从而对样品的分注动作进行控制。另外,计算机18对试剂分注控制部21发送指令,从而对试剂的分注动作进行控制。
被A/D变换器16变换为数字信号的测光值被计算机18获取。
接口19与用于印字的打印机22、作为存储装置的存储器11或外部输出媒介23、用于输入操作指令等的键盘24、以及用于显示画面的CRT显示器(显示装置)25连接。作为显示装置,除CRT显示器以外可以采用液晶显示器等。存储器11例如由硬盘存储器或者外部存储器构成。在存储器11中,存储各操作员的密码、各画面的显示等级、分析参数、分析项目委托内容、校准结果、分析结果等信息。
接下来,对图1的自动分析装置的样品的分析动作进行说明。
对于能够由自动分析装置分析的项目相关的分析参数而言,预先经由键盘24之类的信息输入装置而输入、并存储于存储器11。操作员使用后述的操作功能画面来选择各样品所委托的检查项目。
此时,也从键盘24输入患者ID等信息。为了对相对于各样品而指示的检查项目进行分析,移液器喷嘴8根据分析参数从检体容器6向反应容器2分注规定量的样品。
接受了样品的反应容器由于反应盘1的旋转而被转移,并在试剂接受位置停止。试剂分注机构12A、12B的移液器喷嘴根据相当的检查项目的分析参数而向反应容器2分注规定量的试剂液。样品与试剂的分注顺序也可以与该例子相反,先分注试剂后分注样品。
之后,利用搅拌机构13A、13B,进行样品与试剂的搅拌,并使它们混合。当该反应容器2横穿测光位置时,利用散射光度计15对反应液的散射光进行测光。测光后的散射光被A/D变换器16变换为与光量成比例的数值,并经由接口19而被计算机18获取。
使用该变换后的数值,基于由每个检查项目指定的分析法所预先测定的标准曲线,而变换为浓度数据。作为各检查项目的分析结果的成分浓度数据在打印机22、CRT25的画面输出。
在执行以上的测定动作之前,操作员经由CRT25的操作画面进行分析测定所需要的各种参数的设定、试料的登记。另外,操作员通过CRT25上的操作画面对测定后的分析结果进行确认。
接下来,使用图2,对图1中的光源14以及散射光度计15的详细构成进行说明。
图2是表示光源/反应容器/散射光度计的整体构成的系统框图。
从光源201入射的光向分注有测定对象物的反应容器202入射。测定对象包括测定对象物、反应容器202。利用散射光度计15对在测定对象散射的散射光进行光检测。
散射光度计15具有4个光检测器(204、205、206、207)。光检测器使用光电二极管。4个光检测器(204、205、206、207)配置为相对于在入射光轴的延长线上存在的透过光轴(角度0°)的倾斜度不同。
光检测器204的倾斜度是θ1。θ1例如能够选择30°至20°的任意角度。光检测器205的倾斜度是θ2,是比θ1大的倾斜度。θ2与θ1的角度差例如能够选择30°至20°的任意角度。
光检测器206的倾斜度是θ3。θ3例如能够选择–30°至–20°的任意角度。
光检测器207的倾斜度是θ4。光检测器207的倾斜度是θ4,是比θ3大的倾斜度。θ3例如能够选择30°至20°的任意角度。多个光检测器的配置是相对于入射光轴而在Z轴方向上倾斜度不同的配置,但也可以在X轴、Y轴方向、倾斜方向上改变角度地配置。并且,不需要离散地配置光检测器,也可以连续地配置光检测器。
然后,入射的光在反应容器202内与测定对象物碰撞且散射。散射的光被光检测器204(θ1)、光检测器205(θ2)、光检测器206(θ3)、光检测器207(θ1)检测。当进行该检测时,在从反应容器至光检测器的路径中途例如有气泡、伤痕203的情况下,被相对于透过光轴(0°)而位于θ4的位置的光检测器207受光的散射光不会受到影响。
接下来,对图3所示的输出信号的测定进行说明。
该测定是以光检测器204~205所检测到的散射光的输出信号来表示测定对象物的反应过程的一例。是用测定点(横轴)、输出信号(纵轴)的关系所表示的反应过程的图。
即,该反应过程是在配置于反应盘的圆周上的反应容器每以一定时间在光度计前通过时、经时地多次将检测到测定对象的测定开始直至结束为止的反应的进行情况作成曲线。此处,在从测定点19至测定点34为止的时间推移划分内用光检测器(204、205)的输出信号来表示反应过程。测定点按照光度计所检测到的顺序号,随着测定点数量的增加而增加时间的推移。时间推移划分能够在任意的测定点、任意的划分范围内选择。
一般,相对于透过光轴的倾斜角度大的散射光的光量少,图3中,光检测器204(θ1、倾斜角度小)的输出值的光量多,光检测器205(θ2、倾斜角度大)的输出值的光量少。
接下来,对图4所示的光检测器所检测的信号与噪声进行说明。
图4是示意地表示光检测器受光的信号分量的信号分量(来自本来的测定对象物的散射光)与噪声分量(随机产生的信号分量)的关系的图。
光检测器所受光的散射光的信号量是信号分量与噪声分量加在一起的信号量。信号分量若例如在理想的状态下以100±α所示的数值来表示,则来自相同的测定对象物的散射光的由任意光检测器取得散射光的信号应该均是100±α。另一方面,噪声分量由于随机受到光检测器的受光的散射光的信号的影响从而能够具有正负的值。另外,若光检测器不同,则会受到其配置、光检测器自身的差异的影响。
并且,关于信号分量,在具有图3所示的203之类的附着于反应容器的气泡或伤痕等、在特定方向妨碍某些散射光的重要因素的情况下能够变动。
由图4(1)、图4(2)所示的图、数值能够明确,光检测器(204、205)的S/N比低,光检测器(206、207)的S/N比高,认为光检测器(206、207)受到噪声的影响多。
接下来,对光检测器所检测的散射光量的相关性进行说明。
图5表示光检测器204(θ1)与光检测器205(θ2)所检测到的散射光量的相关性。以图3所示的散射光的输出信号〔光检测器204(θ1)、光检测器205(θ2)〕为基础来推算相关性。
根据光检测器204(θ1)与光检测器205(θ2)所检测到的散射光量的回归曲线以最小平方法来计算1次回归曲线(直线)。该1次回归曲线(直线)的表示相关关系的式子为y=1.6776x–0.5637。另外,对光检测器204(θ1)与光检测器205(θ2)所检测到的散射光量彼此的相关关系进行计算,统计地计算作为贡献率而公知的R2、以及回归直线的倾斜度与截距。贡献率R2相当于相关系数。倾斜度与截距是回归直线的系数。
光检测器204(θ1)与光检测器205(θ2)所检测到的散射光量的相关系数是0.9929而接近(1),表示高的相关关系。
图6表示光检测器204(θ1)与光检测器206(θ3)所检测到的散射光量的相关性。基于该光检测器204(θ1)与光检测器206(θ3)所检测到的散射光量的相关系数(R2)是0.9314。表明光检测器204(θ1)与光检测器206(θ3)的相关关系比光检测器204(θ1)与光检测器205(θ2)的相关关系低。
图7表示光检测器204(θ1)与光检测器207(θ4)所检测到的散射光量的相关性。基于该光检测器204(θ1)与光检测器207(θ4)所检测到的散射光量的相关系数(R2)是0.8691。表明光检测器204(θ1)与光检测器207(θ4)的相关关系比光检测器204(θ1)与光检测器206(θ3)的相关关系更低。
这样,光检测器204(θ1)与光检测器207(θ4)、以及光检测器204(θ1)与光检测器206(θ3)的相关关系比光检测器204(θ1)与光检测器205(θ2)的相关关系低,这是由散射光所包括的噪声、在光检测系统的光通过的路径中途存在的气泡或伤痕等障碍带来的影响所引起的。
除去这样的噪声、气泡或伤痕等影响高的散射光,选择对其影响少的散射光进行检测的光检测器204(θ1)与光检测器205(θ2)的检测信号而进行样品的浓度分析,从而能够得到可靠性高的浓度分析的结果,进而能够向临床方面提供可靠性高的浓度分析的结果。
此外,光检测器204(θ1)在观察相关关系方面是基准的光检测器。也能够将光检测器204(θ1)以外选择为基准的光检测器,但作为基准的光检测器优选在能够进行稳定的散射光的检测、难以产生噪声、气泡或伤痕等影响的位置配置。因此,基准的光检测器能够进行散射光的稳定的检测,并且能适当地选择不产生噪声、气泡或伤痕等影响的倾斜角度而进行设定。
接下来,结合图8,对光检测器204(θ1)与光检测器205(θ2)所检测到的输出结果(散射光量)的规格化进行说明。
对于图8所示的输出结果的规格化而言,横轴表示测定点,纵轴表示平均化光量。图8所示的测定点、平均化光量与上述的图3的测定点(横轴)、输出信号(纵轴)对应。
图8所示的例子中,在使θ1(光检测器204)方向的输出值与θ2(光检测器205)方向的输出结果规格化的情况下,使用上述的回归直线的系数(倾斜/截距)使一方规格化为另一方(特定的光检测器侧)的输出结果。
图8所示的例子中,成为回归直线,对2次、3次等表示以多个角度取得的散射光量的数据的相关关系的式子进行计算而能够规格化即可,能够作为任意的式子。并且,用光检测器检测散射光而获取的时机优选为多次。
这样,通过照射预先测定了平均化光量的标准曲线而进行浓度分析,能够得到精度更好的可靠性更高的分析结果,其中,平均化光量是使具有相关关系高的关系的多个光检测器所检测到的散射光量规格化的量。
接下来,结合图9,对使用图1~图8而说明的处理散射光的数据的处理流程进行说明。
首先,开始自动分析装置的浓度分析(步骤301)。接着,利用多个光检测器(204、205、206、207)来取得倾斜度不同的多角度数据(散射光的检测)(步骤302)。
步骤302中,多个光检测器(204、205、206、207)在包括测光点19-34的大范围内对根据时间推移而反应变化的浓度的数据进行检测来作为散射光量的变化。从该大范围的测光点取出指定区间数据(步骤303)。
选择浓度分析所需要的任意的划分范围来进行该指定区间数据的取出。由于能够在任意的划分范围内对根据时间推移而反应变化的任意的测定点进行选择,从而能够适宜地且适当地实施浓度分析。
根据在步骤303选择的多个光检测器(204、205、206、207)所检测到的散射光量来求出高角度的数据的相关系数(步骤304)。对于相关系数(贡献率、R2)而言,如上所述,离(1)越近,相关关系越高,离(0)越近,相关关系越低。
以步骤304的相关系数为基础地取出相关系数高的数据(步骤305)。通过该取出,从多个光检测器(204、205、206、207)所检测到的散射光量选择相关系数高的光检测器(204、205)的散射光量。除去相关系数比操作人员预先输入的基准相关系数(阈值)低的散射光量,选择相关系数高的散射光量。
此处,对于基准相关系数而言,估算低的值也为0.94左右。若将基准相关系数定为0.9300,则也不除去光检测器206所检测的散射光量,而将其选择为相关系数高的散射光量。基准相关系数的值优选根据其浓度分析所要求的精度等级而适当地设定。
在步骤305判定为相关性低的角度数据的数据不作为浓度分析的数据来使用(步骤306)。相反,对于判定为相关性高的角度数据的数据而言,将相关性高的角度数据规格化处理为基准角度的输出值(步骤307)。规格化处理使用如上所述地在求出相关系数(贡献率、R2)时同时计算出的回归直线的系数(倾斜度/截距),规格化为特定的光检测器所检测到的散射光量的值。
使规格化后的散射光平均化(步骤308),最后,根据平均化后的散射光量进行浓度分析的运算(步骤309),直至结束数据处理(步骤310)。
接下来,对进行浓度分析的参数的设定进行说明。
图10表示浓度分析的参数的设定画面。该参数的设定画面在CRT显示器(显示装置)25上显示。
如上所述,对于浓度分析而言,从多方向(多角度)测定并取得来自测定对象的散射光量,从该取得的散射光量的数据中取舍选择具有可靠性的数据,而规格化为指定的角度的散射光的值。
因此,如图10所示,从分析参数的设定画面、即从多个角度(θ1、θ2、θ3、θ4)的选择画面(401)选择用于使散射光规格化的基准角度(402)。由此,能够相对于来自任意的角度的散射光而使来自其它的角度的散射光规格化。
另外,将在反应过程的数据中比较相关关系的区间内开始比较的比较设定为开始点(403),并将结束比较的比较设定为结束点(404),由此能够从自动分析装置的分析条件设定画面进行浓度分析的设定。优选能够考虑其浓度分析所需要的精度等级、根据时间推移而变化的样品的反应过程等,而以任意的时间推移划分来选择该开始点(403)与结束点(404)的设定。
此外,浓度分析条件的设定不一定必须从自动分析装置的设定画面进行设定,若为固定的条件则也可以使用预先存储于自动分析装置的存储区域的参数值。
符号的说明
1—反应盘,2—反应容器,3—恒温槽,4—恒温维持装置,5—样品盘,6—检体容器,7—可动臂,8—移液器喷嘴,9A、9B—试剂保冷库,12A、12B—试剂用移液器喷嘴,15—散射光度计,18—计算机,19—接口,204—光检测器(θ1),205—光检测器(θ2),206—光检测器(θ3),207—光检测器(θ4),201—光源,202—反应容器,203—气泡或伤痕。

Claims (13)

1.一种自动分析装置,其具备向测定对象照射光从而产生散射光的光源、从多个测定方向对来自该测定对象的散射光的光量进行测定的多个光检测器、以及取得由上述光检测器所测定的散射光量的数据并进行处理的计算机,该自动分析装置的特征在于,
上述计算机决定上述多个光检测器中作为基准的光检测器,基于上述作为基准的光检测器的输出结果和其它的光检测器的输出结果,求出上述多个测定方向相互间的所测定的上述散射光量的相关系数,并将符合比预先输入到上述计算机中的基准相关系数高的上述相关系数的测定方向的散射光量用于上述测定对象的分析。
2.一种自动分析装置,其具备向测定对象照射光从而产生散射光的光源、从多个测定方向对来自随着时间推移而变化的该测定对象的散射光的光量进行测定的多个光检测器、以及取得由上述光检测器所测定的散射光量的数据并进行处理的计算机,该自动分析装置的特征在于,
上述计算机决定上述多个光检测器中作为基准的光检测器,基于上述作为基准的光检测器的输出结果和其它的光检测器的输出结果,求出上述多个测定方向相互间的所测定的上述散射光量的相关系数,并将符合比预先输入到上述计算机中的基准相关系数高的上述相关系数的测定方向的散射光量用于上述测定对象的分析。
3.一种自动分析装置,其具备向测定对象照射光从而产生散射光的光源、从多个测定方向对来自测定对象的散射光量进行测定的多个光检测器、以及取得由上述光检测器所测定的散射光量的数据并进行处理的计算机,该自动分析装置的特征在于,
上述光检测器配置为相对于透过上述测定对象的透过光轴的倾斜角度不同,
上述计算机决定上述多个光检测器中作为基准的光检测器,基于上述作为基准的光检测器的输出结果和其它的光检测器的输出结果,求出上述光检测器相互间的所检测散射光量的相关系数,并将符合比预先输入到上述计算机中的基准相关系数高的上述相关系数的光检测器的散射光量用于上述测定对象的分析。
4.一种自动分析装置,其具备向测定对象照射光从而产生散射光的光源、从多个测定方向对来自随着时间推移而变化的测定对象的散射光量进行测定的多个光检测器、以及取得由上述光检测器所测定的散射光量的数据并进行处理的计算机,该自动分析装置的特征在于,
上述光检测器配置为相对于透过上述测定对象的透过光轴的倾斜角度不同,
上述计算机决定上述多个光检测器中作为基准的光检测器,基于上述作为基准的光检测器的输出结果和其它的光检测器的输出结果,求出上述光检测器相互间的所检测散射光量的相关系数,并将符合比预先输入到上述计算机中的基准相关系数高的上述相关系数的光检测器的散射光量用于上述测定对象的分析。
5.根据权利要求3或4所述的自动分析装置,其特征在于,
倾斜角度不同的上述多个光检测器的倾斜方向相对于上述透过光轴而成为上下、左右、或者倾斜中任意状态。
6.根据权利要求3或4所述的自动分析装置,其特征在于,
上述多个光检测器相对于上述透过光轴而配置为同心圆状。
7.一种自动分析装置,其具备向测定对象照射光从而产生散射光的光源、从多个测定方向对来自测定对象的散射光量进行测定的多个光检测器、以及取得由上述光检测器所测定的散射光量的数据并进行处理的计算机,该自动分析装置的特征在于,
上述光检测器配置为相对于透过上述测定对象的透过光轴的倾斜角度不同,
上述计算机决定上述多个光检测器中作为基准的光检测器,基于上述作为基准的光检测器的输出结果和其它的光检测器的输出结果,根据检测到的散射光量的回归曲线来求出各光检测器相互间的散射光量的相关系数,
使用除相关系数比预先输入到上述计算机中的基准相关系数值低的散射光量之外,相关系数比上述基准相关系数高的上述散射光量来进行上述测定对象的浓度分析。
8.一种自动分析装置,其具备向测定对象照射光从而产生散射光的光源、从多个测定方向对来自随着时间推移而变化的测定对象的散射光量进行测定的多个光检测器、以及取得由上述光检测器所测定的散射光量的数据并进行处理的计算机,该自动分析装置的特征在于,
上述光检测器配置为相对于透过上述测定对象的透过光轴的倾斜角度不同,
上述计算机决定上述多个光检测器中作为基准的光检测器,基于上述作为基准的光检测器的输出结果和其它的光检测器的输出结果,根据检测到的散射光量的回归曲线来求出各光检测器相互间的散射光量的相关系数,
使用除相关系数比预先输入到上述计算机中的基准相关系数值低的散射光量之外,相关系数比上述基准相关系数高的上述散射光量来进行上述测定对象的浓度分析。
9.根据权利要求7或8所述的自动分析装置,其特征在于,
使用在求出上述相关系数比上述基准相关系数高的上述散射光量的相关系数时计算出的回归直线的系数,对特定的光检测器所检测到的散射光量的值进行规格化处理。
10.根据权利要求2、4或8所述的自动分析装置,其特征在于,
上述散射光量能够在被测定的时间推移的范围内以任意的时间推移划分来选择上述散射光量。
11.根据权利要求7或8所述的自动分析装置,其特征在于,
在求出上述相关系数时,能够任意选择上述散射光量的回归曲线。
12.根据权利要求10所述的自动分析装置,其特征在于,
具备显示包括操作画面、设定画面在内的各种画面的显示装置,
在上述设定画面上显示用于进行上述选择的参数。
13.根据权利要求11所述的自动分析装置,其特征在于,
具备显示包括操作画面、设定画面在内的各种画面的显示装置,
在上述设定画面上显示用于进行上述任意选择的参数。
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Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5822534B2 (ja) * 2011-05-13 2015-11-24 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
JP5897323B2 (ja) * 2011-12-26 2016-03-30 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置および測定値異常検出方法
JP6013796B2 (ja) * 2012-06-25 2016-10-25 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置及び試料測定方法
JP5984290B2 (ja) * 2012-07-20 2016-09-06 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
JP6138564B2 (ja) * 2013-04-18 2017-05-31 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
JP6134210B2 (ja) * 2013-06-19 2017-05-24 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置及び自動分析方法
JP6567873B2 (ja) * 2015-05-22 2019-08-28 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
JP2017116351A (ja) * 2015-12-22 2017-06-29 三菱重工業株式会社 再循環サンプスクリーンのバイパス異物量の評価方法
CN111094993B (zh) 2017-12-26 2021-10-22 株式会社日立高新技术 自动分析装置以及自动分析方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1318743A (zh) * 2000-04-18 2001-10-24 中国石油化工集团公司 沥青中蜡含量的测定方法
JP2003130784A (ja) * 2001-10-24 2003-05-08 Mikuni Kikai Kk 流体中の微粒子検出装置
JP2009281930A (ja) * 2008-05-23 2009-12-03 Yokogawa Electric Corp 粒子濃度測定装置
CN101718774A (zh) * 2009-11-09 2010-06-02 东南大学 在线采集水质数据有效性的诊断方法

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3315456C2 (de) * 1983-04-28 1986-10-16 Khaled Dipl.-Ing. 7500 Karlsruhe Sakbani Vorrichtung zur Bestimmung von Partikelgrößen
US5291422A (en) * 1992-01-28 1994-03-01 Sgi International Broadband instrument for nondestructive measurement of material properties
EP0770219B1 (en) * 1994-07-08 1999-10-20 Forskningscenter Riso An optical measurement method and apparatus
US5506679A (en) * 1994-09-08 1996-04-09 Hach Company Nephelometer instrument
JPH09153048A (ja) 1995-12-01 1997-06-10 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 情報検索方法及び装置
SE506546C2 (sv) * 1996-03-07 1998-01-12 Octagon Ab Bubbeldetektor
JP3312691B2 (ja) 1999-04-19 2002-08-12 セイコーインスツルメンツ株式会社 半導体装置
EP1364200A2 (de) * 2000-05-25 2003-11-26 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Verfahren und vorrichtung zur unterdrückung der mehrfachstreuung bei untersuchungen an trüben medien mittels dreidimensionaler kreuzkorrelationstechnik
JP3839703B2 (ja) * 2001-11-05 2006-11-01 浜松ホトニクス株式会社 樹脂硬化度測定装置
US20040016686A1 (en) * 2002-07-24 2004-01-29 Wyatt Philip J. Absolute measurement centrifuge
JP4066192B2 (ja) 2004-12-24 2008-03-26 日立金属株式会社 チップアンテナ及びそれを用いたアンテナ装置並びに無線通信装置
JP4740952B2 (ja) * 2005-09-27 2011-08-03 オリンパス株式会社 光信号解析装置および光信号解析方法
US20090046274A1 (en) * 2007-08-16 2009-02-19 Mchugh Mark A Light Scattering Methods and Systems Using Supercritical Fluid Solvents to Measure Polymer Molecular Weight and Molecular Weight Distribution

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1318743A (zh) * 2000-04-18 2001-10-24 中国石油化工集团公司 沥青中蜡含量的测定方法
JP2003130784A (ja) * 2001-10-24 2003-05-08 Mikuni Kikai Kk 流体中の微粒子検出装置
JP2009281930A (ja) * 2008-05-23 2009-12-03 Yokogawa Electric Corp 粒子濃度測定装置
CN101718774A (zh) * 2009-11-09 2010-06-02 东南大学 在线采集水质数据有效性的诊断方法

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Publication number Publication date
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JP5296015B2 (ja) 2013-09-25
WO2011162113A1 (ja) 2011-12-29

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