JP2012007896A - 自動分析装置 - Google Patents
自動分析装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2012007896A JP2012007896A JP2010141430A JP2010141430A JP2012007896A JP 2012007896 A JP2012007896 A JP 2012007896A JP 2010141430 A JP2010141430 A JP 2010141430A JP 2010141430 A JP2010141430 A JP 2010141430A JP 2012007896 A JP2012007896 A JP 2012007896A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- scattered light
- amount
- correlation coefficient
- automatic analyzer
- photodetector
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/49—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid
- G01N21/51—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid inside a container, e.g. in an ampoule
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
- G01N35/02—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
- G01N35/025—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations having a carousel or turntable for reaction cells or cuvettes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N2021/4704—Angular selective
- G01N2021/4711—Multiangle measurement
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/75—Systems in which material is subjected to a chemical reaction, the progress or the result of the reaction being investigated
- G01N21/77—Systems in which material is subjected to a chemical reaction, the progress or the result of the reaction being investigated by observing the effect on a chemical indicator
- G01N21/82—Systems in which material is subjected to a chemical reaction, the progress or the result of the reaction being investigated by observing the effect on a chemical indicator producing a precipitate or turbidity
- G01N2021/825—Agglutination
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
Abstract
【解決手段】複数の光検出器で検出した散乱光の相関を濃度演算する前に算定し、相関の高い散乱光で濃度分析を行うことでノイズ成分の影響が少ない信頼性が高い濃度分析をすることができる。
【選択図】図2
Description
インターフェース19には、印字するためのプリンタ22、記憶装置であるメモリ11や外部出力メディア23、操作指令等を入力するためのキーボード24、画面表示するためのCRTディスプレイ(表示装置)25が接続されている。表示装置としては、CRTディスプレイの他に液晶ディスプレイなどを採用できる。メモリ11は、例えばハードディスクメモリ又は外部メモリにより構成される。メモリ11には、各操作者のパスワード、各画面の表示レベル、分析パラメータ、分析項目依頼内容、キャリブレーション結果、分析結果等の情報が記憶される。
相関関係を示す式で、y=1.6776x−0.5637である。さらに光検出器204(θ1)と光検出器205(θ2)が検出した散乱光量同士の相関関係を算出し、統計的に寄与率として知られているR2と回帰直線の傾きと切片を算出する。寄与率R2は相関係数に相当する。傾きと切片は回帰直線の係数である。
変化として検出する。この広範囲の測光ポイントから指定区間データの取り出しをする(ステップ303)。
Claims (13)
- 測定対象からの散乱光量を多方向から測定し、測定方向の相互間で測定した散乱光量の相関係数を求め、基準相関係数より高い前記相関係数に該当する測定方向の散乱光量を前記測定対象の分析に使うことを特徴とする自動分析装置。
- 時間経過で変化する測定対象からの散乱光量を多方向から測定し、測定方向の相互間で測定した散乱光量の相関係数を求め、基準相関係数より高い前記相関係数に該当する測定方向の散乱光量を前記測定対象の分析に使うことを特徴とする自動分析装置。
- 測定対象からの散乱光量を測定する自動分析装置において、
前記測定対象を透過する透過光軸に対し傾き角度を異にする複数の光検出器を備え、
各光検出器の相互間で検知した散乱光量の相関係数を求め、基準相関係数より高い前記相関係数に該当する光検出器の散乱光量を前記測定対象の分析に使うことを特徴とする自動分析装置。 - 時間経過で変化する測定対象からの散乱光量を測定する自動分析装置において、
前記測定対象を透過する透過光軸に対し傾き角度を異にする複数の光検出器を備え、
各光検出器の相互間で検知した散乱光量の相関係数を求め、基準相関係数より高い前記相関係数に該当する光検出器の散乱光量を前記測定対象の分析に使うことを特徴とする自動分析装置。 - 請求項3または4記載の自動分析装置にあって、
傾き角度が異なる前記複数の光検出器の傾き方向は、前記透過光軸に対して上下、左右、ないし斜めの何れかであることを特徴とする自動分析装置。 - 請求項3または4記載の自動分析装置にあって、
前記複数の光検出器が前記透過光軸に対して同心円状に配置されていることを特徴とする自動分析装置。 - 測定対象からの散乱光量を測定する自動分析装置において、
前記測定対象を透過する透過光軸に対し傾き角度を異にする複数の光検出器を備え、
検出した散乱光量の回帰曲線より各光検出器相互間での散乱光量の相関係数を求め、
基準相関係数値より低い相関係数の散乱光量を除く高い相関係数の前記散乱光量を使って前記測定対象の濃度分析をすることを特徴とする自動分析装置。 - 時間経過で変化する測定対象からの散乱光量を測定する自動分析装置において、
前記測定対象を透過する透過光軸に対し傾き角度を異にする複数の光検出器を備え、
検出した散乱光量の回帰曲線から各光検出器相互間での散乱光量の相関係数を求め、
基準相関係数値より低い相関係数の散乱光量を除く高い相関係数の前記散乱光量を使って前記測定対象の濃度分析をすることを特徴とする自動分析装置。 - 請求項7または8記載の自動分析装置において、
前記高い相関係数の前記散乱光量の相関係数を求めた際に算出した回帰直線の係数を使い特定の光検出器が検出した散乱光量の値を規格化処理することを特徴とする自動分析装置。 - 請求項2、4または8記載の自動分析装置において、
前記散乱光量は測定された時間経過の範囲内を任意の時間経過区分で選択することができることを特徴とする自動分析装置。 - 請求項7または8記載の自動分析装置において、
前記相関係数を求める際に前記散乱光量の回帰曲線を任意に選択することができることを特徴とする自動分析装置。 - 請求項3または4記載の自動分析装置において、
前記複数の光検出器に基準とする光検出器を定め、
前記相関係数の求めは、基準の光検出器と他の光検出器との対で行い、
基準の光検出器は、前記傾き角度を任意に選択できることを特徴とする自動分析装置。 - 請求項10〜12のいずれかに記載の自動分析装置において、
操作画面、設定画面を含む各種の画面を表示する表示装置を備え、
前記任意に選択するためのパラメータを前記設定画面上に表示することを特徴とする自動分析装置。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010141430A JP5296015B2 (ja) | 2010-06-22 | 2010-06-22 | 自動分析装置 |
EP11797999.7A EP2587250B1 (en) | 2010-06-22 | 2011-06-13 | Automatic analysis device |
CN201180030416.2A CN102947690B (zh) | 2010-06-22 | 2011-06-13 | 自动分析装置 |
US13/805,594 US20130108509A1 (en) | 2010-06-22 | 2011-06-13 | Automatic analysis device |
PCT/JP2011/063443 WO2011162113A1 (ja) | 2010-06-22 | 2011-06-13 | 自動分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010141430A JP5296015B2 (ja) | 2010-06-22 | 2010-06-22 | 自動分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012007896A true JP2012007896A (ja) | 2012-01-12 |
JP5296015B2 JP5296015B2 (ja) | 2013-09-25 |
Family
ID=45371307
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010141430A Active JP5296015B2 (ja) | 2010-06-22 | 2010-06-22 | 自動分析装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20130108509A1 (ja) |
EP (1) | EP2587250B1 (ja) |
JP (1) | JP5296015B2 (ja) |
CN (1) | CN102947690B (ja) |
WO (1) | WO2011162113A1 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014211336A (ja) * | 2013-04-18 | 2014-11-13 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
JP2016217921A (ja) * | 2015-05-22 | 2016-12-22 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5822534B2 (ja) * | 2011-05-13 | 2015-11-24 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
JP5897323B2 (ja) * | 2011-12-26 | 2016-03-30 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置および測定値異常検出方法 |
JP6013796B2 (ja) * | 2012-06-25 | 2016-10-25 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置及び試料測定方法 |
JP5984290B2 (ja) * | 2012-07-20 | 2016-09-06 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
JP6134210B2 (ja) | 2013-06-19 | 2017-05-24 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置及び自動分析方法 |
JP2017116351A (ja) * | 2015-12-22 | 2017-06-29 | 三菱重工業株式会社 | 再循環サンプスクリーンのバイパス異物量の評価方法 |
EP3734288B1 (en) | 2017-12-26 | 2023-11-08 | Hitachi High-Tech Corporation | Automated analyzer and automated analysis method |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07507133A (ja) * | 1992-01-28 | 1995-08-03 | エスジーアイ インターナショナル | 物質特性の非破壊測定のための広帯域測定装置 |
JPH10503279A (ja) * | 1994-07-08 | 1998-03-24 | フォースクニングスセンター・リセー | 光学的測定方法および装置 |
JP2000506271A (ja) * | 1996-03-07 | 2000-05-23 | オクタゴン、アーベー | 気泡検出器 |
JP2003130784A (ja) * | 2001-10-24 | 2003-05-08 | Mikuni Kikai Kk | 流体中の微粒子検出装置 |
JP2003139697A (ja) * | 2001-11-05 | 2003-05-14 | Hamamatsu Photonics Kk | 樹脂硬化度測定装置 |
JP2004502927A (ja) * | 2000-05-25 | 2004-01-29 | フラウンホッファー−ゲゼルシャフト ツール フェルデルング デル アンゲヴァンテン フォールシュング イー.ヴィ. | 混濁媒体の三次元相互相関技術による検査時に多重散乱を抑える方法および装置 |
WO2007037253A1 (ja) * | 2005-09-27 | 2007-04-05 | Olympus Corporation | 光信号解析装置および光信号解析方法 |
JP2009281930A (ja) * | 2008-05-23 | 2009-12-03 | Yokogawa Electric Corp | 粒子濃度測定装置 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3315456C2 (de) * | 1983-04-28 | 1986-10-16 | Khaled Dipl.-Ing. 7500 Karlsruhe Sakbani | Vorrichtung zur Bestimmung von Partikelgrößen |
US5506679A (en) * | 1994-09-08 | 1996-04-09 | Hach Company | Nephelometer instrument |
JPH09153048A (ja) | 1995-12-01 | 1997-06-10 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 情報検索方法及び装置 |
JP3312691B2 (ja) | 1999-04-19 | 2002-08-12 | セイコーインスツルメンツ株式会社 | 半導体装置 |
CN1125330C (zh) * | 2000-04-18 | 2003-10-22 | 中国石油化工集团公司 | 沥青中蜡含量的测定方法 |
US20040016686A1 (en) * | 2002-07-24 | 2004-01-29 | Wyatt Philip J. | Absolute measurement centrifuge |
JP4066192B2 (ja) | 2004-12-24 | 2008-03-26 | 日立金属株式会社 | チップアンテナ及びそれを用いたアンテナ装置並びに無線通信装置 |
US20090046274A1 (en) * | 2007-08-16 | 2009-02-19 | Mchugh Mark A | Light Scattering Methods and Systems Using Supercritical Fluid Solvents to Measure Polymer Molecular Weight and Molecular Weight Distribution |
CN101718774B (zh) * | 2009-11-09 | 2012-11-28 | 东南大学 | 在线采集水质数据有效性的诊断方法 |
-
2010
- 2010-06-22 JP JP2010141430A patent/JP5296015B2/ja active Active
-
2011
- 2011-06-13 EP EP11797999.7A patent/EP2587250B1/en active Active
- 2011-06-13 WO PCT/JP2011/063443 patent/WO2011162113A1/ja active Application Filing
- 2011-06-13 CN CN201180030416.2A patent/CN102947690B/zh active Active
- 2011-06-13 US US13/805,594 patent/US20130108509A1/en not_active Abandoned
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07507133A (ja) * | 1992-01-28 | 1995-08-03 | エスジーアイ インターナショナル | 物質特性の非破壊測定のための広帯域測定装置 |
JPH10503279A (ja) * | 1994-07-08 | 1998-03-24 | フォースクニングスセンター・リセー | 光学的測定方法および装置 |
JP2000506271A (ja) * | 1996-03-07 | 2000-05-23 | オクタゴン、アーベー | 気泡検出器 |
JP2004502927A (ja) * | 2000-05-25 | 2004-01-29 | フラウンホッファー−ゲゼルシャフト ツール フェルデルング デル アンゲヴァンテン フォールシュング イー.ヴィ. | 混濁媒体の三次元相互相関技術による検査時に多重散乱を抑える方法および装置 |
JP2003130784A (ja) * | 2001-10-24 | 2003-05-08 | Mikuni Kikai Kk | 流体中の微粒子検出装置 |
JP2003139697A (ja) * | 2001-11-05 | 2003-05-14 | Hamamatsu Photonics Kk | 樹脂硬化度測定装置 |
WO2007037253A1 (ja) * | 2005-09-27 | 2007-04-05 | Olympus Corporation | 光信号解析装置および光信号解析方法 |
JP2009281930A (ja) * | 2008-05-23 | 2009-12-03 | Yokogawa Electric Corp | 粒子濃度測定装置 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014211336A (ja) * | 2013-04-18 | 2014-11-13 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
JP2016217921A (ja) * | 2015-05-22 | 2016-12-22 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP2587250B1 (en) | 2018-03-14 |
EP2587250A4 (en) | 2016-06-01 |
CN102947690B (zh) | 2015-03-11 |
EP2587250A1 (en) | 2013-05-01 |
WO2011162113A1 (ja) | 2011-12-29 |
CN102947690A (zh) | 2013-02-27 |
JP5296015B2 (ja) | 2013-09-25 |
US20130108509A1 (en) | 2013-05-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5296015B2 (ja) | 自動分析装置 | |
JP6013796B2 (ja) | 自動分析装置及び試料測定方法 | |
JP5216051B2 (ja) | 自動分析装置および自動分析方法 | |
JP5897323B2 (ja) | 自動分析装置および測定値異常検出方法 | |
EP2667182B1 (en) | Automatic analysis device taking into account thermal drift | |
US11971425B2 (en) | Automatic analysis device and automatic analysis method | |
JP5984290B2 (ja) | 自動分析装置 | |
EP2650673B1 (en) | Automatic analytical apparatus | |
JP5952180B2 (ja) | 自動分析装置、プログラムおよび記録媒体ならびに検体の自動分析方法 | |
JP6313960B2 (ja) | 自動分析装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20120227 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130312 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130508 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130604 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130612 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5296015 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |