JP2012080078A - タブテープおよびその製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明の製造方法は、ベースフィルムの上に入出力端子パターンを含む回路パターン領域を形成する回路パターン領域形成工程と、前記ベースフィルムに備えられるスプロケットホールを含む移送領域にベースフィルムの表面が露出する露出領域を形成する露出領域形成工程とを含んで構成される。本発明によると、ドライブIC、チップ/ドライブIC、およびパネルを組立てる処理の際に、駆動ローラによって摩擦が発生するスプロケットホール部位にCu又は金属パターン層が存在しないことから、Cuのパーティクルなどの異物が発生せず、回路パターンが形成されているところ以外の領域のベースフィルムを、回路パターンの形成された部分よりも相対的に薄くエッチングされた構造で形成することにより、回路パターンのショートを防止できる信頼性のある製品を提供できる。
【選択図】図4
Description
即ち、本発明のタブテープは、ベースフィルムの上に形成される入出力端子パターンを含む回路パターン領域と、前記ベースフィルムの両側に形成されるスプロケットホールを含む移送領域とを備え、前記移送領域は、前記ベースフィルムが露出する露出領域を含む構造を備えることができる。
また、ベースフィルムの露出部分の厚さが、露出しない部分の厚さよりも厚い構造で形成し、回路パターンの短絡の危険を除去することにより、信頼性のあるタブテープを実現できるという効果もある。
(1)回路パターンおよび移送領域の露出領域形成段階
具体的に、図4の工程図を参照すると、先ず、ベースフィルム110の上にシード金属層111又は導電金属層112を形成する。もちろん、この場合、機械的穿孔工程によってスプロケットホール(H)が形成された移送領域(X)までシード金属層111又は導電金属層112が形成される(S1段階)。 この場合、前記ベースフィルム110としては、ポリイミドフィルム、ポリイミドアミドフィルム、ポリエステルフィルム、ポリフェニレンサルファイドフィルム、ポリエステルイミドフィルムおよび液晶ポリマーフィルムなどが挙げられる。特に、本発明では、絶縁フィルム基板としてポリイミドフィルムを用いることが望ましい。ポリイミドフィルムのような絶縁フィルムは、シード金属層の形成時の熱による変形が小さく、また、エッチング時に使用されるエッチング液や、洗浄時に使用されるアルカリ溶液などにあまり浸食されないように耐酸性・耐アルカリ性を有し、また、シード金属層の形成時の加熱により変形されない程度の耐熱性を有している。
本発明の一実施例のように、シード金属層が備えられた構造では、図4のS4段階に示されたように、回路パターンの形成された部分以外のシード金属層を除去する工程が行われる。さらに、前記移送領域(X)はシード金属層を全て除去するか、或いは移送領域(X)に金属パターンのある場合には、この金属パターン以外の部分でシード金属層を除去してベースフィルムを露出させる。
(1)ベースフィルムのエッチング
上述したS4段階の工程により、本発明に係るタブテープの機械的強度を実現し、且つ金属異物の形成を最小化できる構造のタブテープを実現することができる。以下では、本発明に係る他の実施形態を説明する。即ち、本製造工程は、S4段階の工程以後にベースフィルムをエッチングする工程を追加して実施することができる。
120 インナーリード領域
130、140 出力および入力回路パターン
150、H スプロケットホール
160 露出領域
170 金属パターン
Claims (17)
- ベースフィルムの上に入出力端子パターンを含む回路パターン領域を形成する回路パターン領域形成工程と、
前記ベースフィルムに備えられるスプロケットホールを含む移送領域にベースフィルムの表面が露出する露出領域を形成する露出領域形成工程と、
を含むタブテープの製造方法。 - 前記回路パターン領域形成工程は、
a1)前記ベースフィルムの上にシード金属層又は導電金属層を積層する段階と、
a2)前記導電金属層を選択的にエッチングして回路パターンを形成する段階と、
を含んでなる請求項1に記載のタブテープの製造方法。 - 前記a2)段階以後に、
前記回路パターンが形成されているところ以外の領域で前記ベースフィルム上のシード金属層を除去するa3)段階をさらに含む、請求項2に記載のタブテープの製造方法。 - 前記a3)段階は、
エッチング液によってシード金属層を除去する段階で構成され、
前記エッチング液は、Ni又はCr成分を溶解させることができるエッチング液を用いる、請求項3に記載のタブテープの製造方法。 - 前記回路パターン領域および露出領域を形成する工程は、
フォトレジストを塗布し、前記回路パターン領域と前記移送領域に選択的除去領域パターンを備えたフォトマスクを用いて露光・現像し、
前記ベースフィルムの表面が露出する領域を同時に形成することで実施される、請求項3に記載のタブテープの製造方法。 - 前記露出領域形成工程は、
前記移送領域の前記スプロケットホールの外部に金属パターンを備えるために、前記シード金属層と導電金属層とをエッチングすることで実施される、請求項5に記載のタブテープの製造工程。 - 前記回路パターン領域および露出領域の形成工程以後に、
前記ベースフィルムの露出表面の一部をエッチングするエッチング液処理工程がさらに行われる、請求項1〜6のいずれか1項に記載のタブテープの製造工程。 - 前記ベースフィルムはポリイミドフィルムである、請求項7に記載のタブテープの製造工程。
- 前記回路パターン面にCu、Ni、Pd、Au、Sn、Ag、Coのうちいずれか1つ又はこれらの二元もしくは三元合金を用いて単層又は多層にメッキ処理層を形成する表面活性化工程をさらに含む、請求項7に記載のタブテープの製造方法。
- ベースフィルムの上に形成される入出力端子パターンを含む回路パターン領域と、
前記ベースフィルムの両側に形成されるスプロケットホールを含む移送領域と、
を備え、
前記移送領域は前記ベースフィルムが露出する露出領域を含むタブテープ。 - 前記回路パターン領域における前記ベースフィルムの露出領域の厚さ又は前記移送領域の露出領域の厚さは、前記ベースフィルムが露出しない領域の厚さより薄くされている、請求項10に記載のタブテープ。
- 前記回路パターンと前記ベースフィルムとの間にNi又はCrを含むシード金属層が備えられる、請求項11に記載のタブテープ。
- 前記回路パターン面にCu、Ni、Pd、Au、Sn、Ag、Coのうちいずれか1つ又はこれらの二元もしくは三元合金により形成された単層又は多層のメッキ処理層をさらに含む、請求項12に記載のタブテープ。
- 前記移送領域に備えられる露出領域は、前記スプロケットホールの外部領域に形成される金属パターンをさらに含む、請求項10〜13のいずれか1項に記載のタブテープ。
- 前記金属パターンは、前記スプロケットホールに隣接する構造で形成される金属パターンである、請求項14に記載のタブテープ。
- 前記金属パターンは、前記スプロケットホールと離隔される構造の金属パターンである、請求項14に記載のタブテープ。
- 前記金属パターンは、前記スプロケットホールと離隔されるライン構造の金属パターンを少なくとも1以上含む構造で形成される、請求項14に記載のタブテープ。
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