JP2011228462A5 - - Google Patents

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Claims (5)

  1. 基板上に、下部電極、誘電体層及び上部電極が順次形成された薄膜キャパシタにおいて、前記下部電極及び前記上部電極のうちなくとも前記上部電極Ptを含まない窒化物の層該層の上にあるPtを含まない金属の層とを含む積層電極である、ことを特徴とする薄膜キャパシタ。
  2. 前記窒化物が、高融点金属を含むことを特徴とする請求項1記載の薄膜キャパシタ。
  3. 前記窒化物の層と積層する前記金属の層が、前記窒化物に含まれる高融点金属と同じ金属を含むことを特徴とする請求項2記載の薄膜キャパシタ。
  4. 前記高融点金属が、Ta又はTiであることを特徴とする請求項2又は3記載の薄膜キャパシタ。
  5. 前記窒化物が、Siを含むことを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項に記載の薄膜キャパシタ。
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