JP2010519810A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2010519810A5
JP2010519810A5 JP2009549617A JP2009549617A JP2010519810A5 JP 2010519810 A5 JP2010519810 A5 JP 2010519810A5 JP 2009549617 A JP2009549617 A JP 2009549617A JP 2009549617 A JP2009549617 A JP 2009549617A JP 2010519810 A5 JP2010519810 A5 JP 2010519810A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
analog
digital
converter
digital converter
output
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2009549617A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4987990B2 (ja
JP2010519810A (ja
Filing date
Publication date
Priority claimed from US12/069,216 external-priority patent/US7773020B2/en
Application filed filed Critical
Publication of JP2010519810A publication Critical patent/JP2010519810A/ja
Publication of JP2010519810A5 publication Critical patent/JP2010519810A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4987990B2 publication Critical patent/JP4987990B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Claims (21)

  1. 第一および第二のデジタル−アナログコンバータと、少なくとも3つのコンパレータと、少なくとも3つの識別しきい値が同時にテストされるような第一および第二のデジタル−アナログコンバータからの出力の組み合わせである、組み合わせ1から3という少なくとも3つの組み合わせを形成するための容量加算回路網を含むアナログ−デジタルコンバータ。
  2. 容量加算回路網が各デジタル−アナログコンバータの出力とそれぞれの加算ノードとの間に直列につながれたキャパシタを含むことを特徴とする、請求項1に記載のアナログ−デジタルコンバータ。
  3. 第二のデジタル−アナログコンバータが第一および第二の相補的出力を持つデュアルエンド型装置であることを特徴とする、請求項2に記載のアナログ−デジタルコンバータ。
  4. 第一および第二の相補的出力の内一つが第一キャパシタにより各加算ノードにつなげられ、第一および第二の相補的出力の内のもう一方もしくは第一および第二の相補的出力の内の同じものが第二キャパシタにより各加算ノードにつなげられることを特徴とする、請求項3に記載のアナログ−デジタルコンバータ。
  5. 第二のキャパシタが第一オフセットキャパシタの半分の静電容量を持つことを特徴とする、請求項4に記載のアナログ−デジタルコンバータ。
  6. Nは整数であって、N番目のコンパレータが、第一の電気抵抗により第一のアナログ−デジタルコンバータの第一出力につながれた第一入力を持ち、第二の電気抵抗により第二のアナログ−デジタルコンバータの第一出力につながれ、よって第一入力で生じる電圧が第一および第二のデジタル−アナログコンバータ出力の重みつき加算値であることを特徴とする、請求項1〜5のいずれかに記載のアナログ−デジタルコンバータ。
  7. N番目のコンパレータが、コンパレータの第一入力を第二のアナログ−デジタルコンバータの第二出力につなぐ第三電気抵抗を持つことを特徴とする、請求項6に記載のアナログ−デジタルコンバータ。
  8. 各コンパレータがそれぞれの識別しきい値をテストし、一度の判定で複数のビットを決定することを特徴とする、請求項1〜7のいずれかに記載のアナログ−デジタルコンバータ。
  9. T回目の変換からT+1回目の変換の間に、デジタル−アナログコンバータのアナログ出力電圧値が4分の3減らされることを特徴とする、請求項1〜8のいずれかに記載のアナログ−デジタルコンバータ。
  10. 冗長ビットを含むことを特徴とする、請求項1〜9のいずれかに記載のアナログ−デジタルコンバータ。
  11. 第一および第二のデジタル−アナログコンバータがスイッチキャパシタ型装置であることを特徴とする、請求項1〜10のいずれかに記載のアナログ−デジタルコンバータ。
  12. 第一のデジタル−アナログコンバータが少なくとも一つのキャパシタの上のアナログ値をサンプルするのに適していることを特徴とする、請求項11に記載のアナログ−デジタルコンバータ。
  13. T回目の判定で第一のデジタル−アナログコンバータに与えられた判定ワードの値がTの値によって変わる量だけ変更され、第一および第二のデジタル−アナログコンバータの出力の組み合わせが識別しきい値を形成するために加算回路網により結合されることを特徴とする、請求項1〜12のいずれかに記載のアナログ−デジタルコンバータ。
  14. 容量加算回路網が、デジタル−アナログコンバータの相対的な整合が同一の状態を維持するように、各デジタル−アナログコンバータを均一に読み込むことを特徴とする、請求項1〜13のいずれかに記載のアナログ−デジタルコンバータ。
  15. nが各ビット判定で決定されるビットの数である時、あるビット判定およびすぐ次のビット判定の間に、第二デジタル−アナログコンバータの出力が
    Figure 2010519810
    に減らされることを特徴とする、前記請求項のうちのいずれかに記載のアナログ−デジタルコンバータ。
  16. nが各ビット判定で決定されるビットの数であって、あるビット判定からすぐ次のビット判定に移る際、調査中の判定空間の大きさが
    Figure 2010519810
    に減らされることを特徴とする、請求項1〜15のいずれかに記載のアナログ−デジタルコンバータ。
  17. Tが正の整数であり、T回目の変換判定が少なくとも2つのビットを決定するアナログ−デジタル変換を実現させる方法であって、第一のデジタル−アナログコンバータの一つ目の値および第二のコンバータの二つ目の値を設定し組み合わせ装置の出力を結合させ少なくとも3つのしきい値を形成する前記方法。
  18. 同時に識別しきい値を形成するために、組み合わせ装置が複数の電圧分配器を含むことを特徴とする、請求項17に記載の方法。
  19. (T+1)回目の変換判定の間、第二のデジタル−アナログコンバータによる値がT回目の時の値の4分の1であることを特徴とする、請求項18に記載の方法。
  20. T回目の判定の間において、Tの関数として変化する値によってオフセットするために第一のデジタル−アナログコンバータの出力が変更されることを特徴とする、請求項17から19のいずれかに記載の方法。
  21. 第二のデジタル−アナログコンバータがデュアルエンド型装置で、その出力のうち第一の出力が第一のコンパレータに関連する加算ノードにつなげられるが第二の出力はつなげられず、その出力のうち第二の出力が第二のコンパレータに関連する加算ノードにつなげられるが第一の出力はつなげられないことを特徴とする、請求項1に記載のアナログ−デジタルコンバータ。
JP2009549617A 2007-02-15 2008-02-14 アナログ−デジタルコンバータ Expired - Fee Related JP4987990B2 (ja)

Applications Claiming Priority (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US90143607P 2007-02-15 2007-02-15
US60/901,436 2007-02-15
US12/069,216 US7773020B2 (en) 2007-02-15 2008-02-08 Analog to digital converter
US12/069,216 2008-02-08
PCT/US2008/001945 WO2008100561A1 (en) 2007-02-15 2008-02-14 Analog to digital converter

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2010519810A JP2010519810A (ja) 2010-06-03
JP2010519810A5 true JP2010519810A5 (ja) 2011-03-31
JP4987990B2 JP4987990B2 (ja) 2012-08-01

Family

ID=39429430

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009549617A Expired - Fee Related JP4987990B2 (ja) 2007-02-15 2008-02-14 アナログ−デジタルコンバータ

Country Status (6)

Country Link
US (1) US7773020B2 (ja)
EP (1) EP2119013B1 (ja)
JP (1) JP4987990B2 (ja)
CN (1) CN101657970B (ja)
AT (1) ATE551779T1 (ja)
WO (1) WO2008100561A1 (ja)

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102006015762B4 (de) * 2006-04-04 2013-05-08 Austriamicrosystems Ag Analog/Digital-Wandleranordnung und Verfahren
DE102006025116B4 (de) * 2006-05-30 2020-06-04 Austriamicrosystems Ag Einstellbare Analog-Digital-Wandleranordnung und Verfahren zur Analog-Digital-Wandlung
JP2008042885A (ja) * 2006-07-11 2008-02-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd Ad変換器
TWI342125B (en) * 2006-12-29 2011-05-11 Elan Microelectronics Corp Signal converting apparatus with built-in self test
JP2010063055A (ja) 2008-09-08 2010-03-18 Sony Corp 逐次比較型a/d変換器、逐次比較型a/d変換器の制御方法、固体撮像装置および撮像装置
US7924203B2 (en) * 2009-06-12 2011-04-12 Analog Devices, Inc. Most significant bits analog to digital converter, and an analog to digital converter including a most significant bits analog to digital converter
EP2288033B1 (en) * 2009-08-18 2014-12-31 STMicroelectronics Srl Successive approximation analog-to-digital converter
FR2962273B1 (fr) * 2010-06-30 2012-07-27 Inst Polytechnique Grenoble Convertisseur analogique-numerique sigma-delta muni d'un circuit de test
US8493250B2 (en) 2011-09-07 2013-07-23 International Business Machines Corporation Comparator offset cancellation in a successive approximation analog-to-digital converter
TWI434517B (zh) 2011-11-04 2014-04-11 Ind Tech Res Inst 數位類比轉換器的元素的權重的估算方法、裝置及應用其之逐次逼近暫存器類比數位轉換器
CN104113339B (zh) * 2013-12-03 2017-05-10 西安电子科技大学 高速异步逐次逼近型模数转换器
CN105245231B (zh) * 2015-10-08 2018-07-27 电子科技大学 一种流水线型逐次逼近模数转换器的前后级交换方法
JP6668677B2 (ja) 2015-10-22 2020-03-18 株式会社ソシオネクスト A/d変換器、a/d変換方法および半導体集積回路
CN108649958A (zh) * 2018-05-11 2018-10-12 成都华微电子科技有限公司 Sar型adc电容重分布阵列归一化桥接电容电路
CN108649949B (zh) * 2018-05-11 2022-04-12 成都华微电子科技股份有限公司 高精度转换器
CN108649957B (zh) * 2018-05-11 2022-04-15 成都华微电子科技股份有限公司 带校准型归一化桥接电容转换电路
CN109921795B (zh) * 2019-01-24 2023-06-09 北京大学(天津滨海)新一代信息技术研究院 逐次逼近型模数转换器、基于双比较器的纠错方法及装置

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5049882A (en) * 1990-12-20 1991-09-17 Burr-Brown Corporation High speed analog-to-digital converter
KR100318441B1 (ko) * 1997-12-30 2002-02-19 박종섭 아날로그-디지털변환장치및그변환방법
US6172630B1 (en) * 1998-08-18 2001-01-09 Tektronix, Inc. Extended common mode input range for a delta-sigma converter
US6124818A (en) * 1998-10-21 2000-09-26 Linear Technology Corporation Pipelined successive approximation analog-to-digital converters
US6674386B2 (en) * 2002-05-10 2004-01-06 Analog Devices, Inc. Dual channel analog to digital converter
US6611222B1 (en) * 2002-06-03 2003-08-26 Charles Douglas Murphy Low-complexity high-speed analog-to-digital converters
US6707403B1 (en) * 2002-11-12 2004-03-16 Analog Devices, Inc. Analog to digital converter with a calibration circuit for compensating for coupling capacitor errors, and a method for calibrating the analog to digital converter
US6828927B1 (en) * 2002-11-22 2004-12-07 Analog Devices, Inc. Successive approximation analog-to-digital converter with pre-loaded SAR registers
CN1561000B (zh) * 2004-03-02 2010-05-05 复旦大学 抑制输入共模漂移的流水线结构模数转换器
JP2006041993A (ja) * 2004-07-28 2006-02-09 Renesas Technology Corp A/d変換回路を内蔵した半導体集積回路および通信用半導体集積回路
US7199743B2 (en) * 2004-12-29 2007-04-03 Intel Corporation Cyclic digital to analog converter
US7405689B2 (en) * 2005-01-05 2008-07-29 Exar Corporation Predictive analog to digital converters and methods of using
US7274321B2 (en) * 2005-03-21 2007-09-25 Analog Devices, Inc. Analog to digital converter
US7250880B2 (en) * 2005-03-21 2007-07-31 Analog Devices, Inc. Analog to digital converter
DE602005017256D1 (de) * 2005-06-09 2009-12-03 St Microelectronics Srl Einschleifiger Sigma-Delta Analog/Digital-Wandler mit geschalteten Kondensatoren
US7218259B2 (en) * 2005-08-12 2007-05-15 Analog Devices, Inc. Analog-to-digital converter with signal-to-noise ratio enhancement
US7286075B2 (en) * 2005-11-14 2007-10-23 Analog Devices, Inc. Analog to digital converter with dither
US7477177B2 (en) * 2006-09-13 2009-01-13 Advantest Corporation A-D converter, A-D convert method, and A-D convert program
US7605738B2 (en) * 2006-09-13 2009-10-20 Advantest Corporation A-D converter and A-D convert method
US7432844B2 (en) * 2006-12-04 2008-10-07 Analog Devices, Inc. Differential input successive approximation analog to digital converter with common mode rejection

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2010519810A5 (ja)
KR101927272B1 (ko) 연속 근사 레지스터 아날로그 디지털 컨버터
EP2119013B1 (en) Analog to digital converter
EP3090488B1 (en) Combining a coarse adc and a sar adc
US8395538B2 (en) High speed resistor-DAC for SAR DAC
US10084470B2 (en) Analogue-digital converter of non-binary capacitor array with redundant bit and its chip
USRE45798E1 (en) Systems and methods for randomizing component mismatch in an ADC
JP5818170B2 (ja) A/d変換器、イメージセンサデバイス及びアナログ信号からディジタル信号を生成する方法
KR20140031869A (ko) Adc 교정
JP2010263399A5 (ja)
CN102223148B (zh) Ad转换器
KR101603892B1 (ko) 연속 근사 아날로그 디지털 변환기의 변환 방법
JP2017055382A5 (ja)
US8570204B2 (en) Folded reference voltage flash ADC and method thereof
JP3782911B2 (ja) Adコンバータ回路
JP3813614B2 (ja) エラー補正回路およびa/dコンバータ
JP5792644B2 (ja) 残差信号発生回路、逐次比較型ad変換器、パイプライン型ad変換器および無線受信機
JP2004289759A (ja) A/d変換器
JP6212694B2 (ja) A/d変換方法及び装置
KR102398446B1 (ko) 아날로그-디지털 변환기
RU2646356C1 (ru) Аналого-цифровой преобразователь
JP7075607B2 (ja) アナログデジタル変換器
US20160218729A1 (en) Adc and analog-to-digital converting method
RU63625U1 (ru) Аналого-цифровой преобразователь
RU2569809C1 (ru) Устройство конвейерного аналого-цифрового преобразования