JP2010093698A - 固体撮像装置及び撮像装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】
垂直信号線190に有効画素と黒潰れ判定電圧生成回路230とが接続され、黒潰れ判定電圧生成回路230と垂直信号線190とを接続する経路には、有効画素の信号読出期間にオフとなり、その後の黒潰れ判定期間中にオフからオンになるトランジスタ233が挿入されている。さらに、垂直信号線190には、有効画素の信号読出期間に有効画素から出力された信号を読み出し、黒潰れ判定期間に有効画素の出力信号のレベルと黒潰れ判定電圧生成回路230の出力信号のレベルとを比較する信号増幅回路兼黒潰れ判定回路240とを備える。
【選択図】図2
Description
従来のCMOSイメージセンサは、複数の画素を2次元方向に配列した画素領域100と、画素を選択する垂直走査回路110と、黒潰れ補正部及び縦筋補正部を共通化した補正部120と、画素信号読み出し回路130と、水平走査回路140と、アナログフロントエンド(AFE)150と、A/Dコンバータ(ADC)160と、出力処理部170と、タイミング制御部180とを有する。
また、垂直走査回路110は、各画素トランジスタに対し、転送パルス(TRG)、選択パルス(SEL)、リセットパルス(RSE)等を供給し、フォトダイオード101によって得られた信号電荷を画素信号(SIG)に変換して垂直信号線190に出力するよう制御する。なお、垂直信号線190は画素列毎に設けられ、それぞれ電流源回路191が接続され、出力端が画素信号読み出し回路130に接続されている。
図10、図11はゲイン性の縦筋を補正する場合の水平期間タイミングを示している。
まず、画素ダミー選択トランジスタ122により画素ダミー行が選択された後、リセット信号(RST)が入り、無信号期間となる。このとき、無信号時でのバイアス設定値(VDD付近)が画素ダミー増幅トランジスタ121のゲートに入力される。
図10は従来の実施形態の有効期間での黒潰れ補正としての水平期間タイミングを示している。無信号期間にのみクランプ動作するため、画素ダミー増幅トランジスタ121のゲートレベルに画素信号SIGでのクランプレベル+ソースフォロアによる電圧落ち分(約Vth)のレベルが印加される。電圧落ち分は画素ダミー増幅トランジスタ121の基板バイアスによるVth変化であるため、約Vthレベルとする。また、信号出力期間では、この黒潰れ補正部をオフするために図10では画素ダミー増幅トランジスタ121のゲートレベルとしてトランジスタがオフするようなレベル(例えばGNDレベル)がかかる。
しかし、従来技術の構成では、各画素列に黒潰れ補正部を設けたことに起因して、画素列毎に異なる固定ノイズ(いわゆる縦筋ノイズ)が発生する場合があるという課題を有していた。
<概略構成>
以下、図面を参照しながら、本発明の実施形態に係る固体撮像装置について説明する。
図1は、本発明の第1の実施形態に係る固体撮像装置の概略構成図である。
図1より、固体撮像装置は、複数の画素を行列状に配列した画素領域100と、画素行を選択する垂直走査回路110と、有効画素切り離しトランジスタ220と、黒潰れ判定電圧生成回路230と、ダミー画素切り離しトランジスタ233と、電流源回路191と、信号増幅回路兼黒潰れ判定回路240と、信号処理回路250と、水平走査回路140と、アナログフロントエンド、A/Dコンバータ(ADC)、出力処理部等から構成される出力回路200と、黒潰れ判定電圧生成回路に基準電圧を供給するバイアス回路123と、タイミング制御部180を有する。有効画素切り離しトランジスタ220、黒潰れ判定電圧生成回路230、ダミー画素切り離しトランジスタ233、電流源回路191、信号増幅回路兼黒潰れ判定回路240、信号処理回路250は、それぞれ画素列毎に設けられている。
<詳細構成>
次に、図2を用いて、図1の詳細構成を説明する。
また、垂直走査回路110は、各画素トランジスタに対し、転送信号(TRG)、選択信号(SEL)、リセット信号(RST)等を供給し、フォトダイオード101によって得られた信号電荷を画素信号(SIG)に変換して垂直信号線190に出力するよう制御する。なお、垂直信号線190は画素列毎に設けられ、それぞれ有効画素切り離しトランジスタ220が接続される。有効画素切り離しトランジスタ220の出力端は黒潰れ判定電圧生成回路230、電流源回路191、信号増幅回路兼黒潰れ判定回路240に接続される。信号増幅回路兼黒潰れ判定回路240により増幅された信号は信号処理回路250に入力される。
黒潰れ判定電圧生成回路230(以下、「ダミー画素」と称する場合がある)は、画素ダミー増幅トランジスタ231及び画素ダミー選択トランジスタ232から構成される。画素ダミー増幅トランジスタ231のゲートにはバイアス回路123が接続されており、各画素列に共通にバイアス電圧VBIASが入力される。画素ダミー選択トランジスタ232のゲートには選択パルス(DummySEL)が供給される。ダミー画素は、ダミー画素切り離しトランジスタ233を介して垂直信号線190に接続される。
また、信号増幅回路兼黒潰れ判定回路240の出力端となるノード193は、アンプ負荷カットトランジスタ246及び黒潰れ信号置換回路252に接続される。アンプ負荷カットトランジスタ246及び黒潰れ信号置換回路252の出力端は共に信号保持容量251に接続される。信号保持容量251に保持された信号のレベルは、水平選択トランジスタ257を介して水平信号線256に順次読み出される。
黒潰れ信号置換回路252は黒潰れ判定回路240が黒潰れと判定した場合に信号保持容量251に保持された信号レベルをフォトダイオード101の飽和信号VSAT以上のレベルVCLIPに置き換える回路である。
トランジスタ253およびトランジスタ254は黒潰れ信号置換回路252の動作/非動作を制御するトランジスタである。トランジスタ254はリセットトランジスタであり、置換動作を行うときにのみトランジスタをオフする。置換動作を行わないときはトランジスタ254をオンし、かつトランジスタ253をオフすることでトランジスタ255を常にオフし、置換動作が行われないようにする。
図4は、図3に示した固体撮像装置に本実施形態の構成を追加した回路構成を示すものである。図4より、垂直信号線190と電流源回路191の間に有効画素切り離しトランジスタ220、黒潰れ判定電圧生成回路230、及びダミー画素切り離しトランジスタ233を設け、電流源回路191とカラム処理部326との間に信号増幅兼黒潰れ判定回路240を設けることで黒潰れ判定を行うことができる。
有効画素の信号読出期間には、信号増幅回路兼黒潰れ判定回路240から有効画素の信号レベルが出力される。比較器352は有効画素の信号レベルを保持する。
<動作>
次に、本実施形態に係る固体撮像装置の動作を説明する。
ダミー選択信号(DummySEL)は選択信号(SEL)と同様にパルス印加してもよいが、本実施例ではハイレベルで固定とする。
まず、黒潰れ現象が発生していない状態について説明する。
時刻t01からt02の期間では、有効画素にリセット信号(RST)が印加され、増幅トランジスタ103のゲートのレベルはVDDとなる。増幅トランジスタ103はソースフォロア回路になっているため、増幅トランジスタ103のソースレベルはゲートレベルVGより約トランジスタの閾値Vth分降下したレベルになり、ソースフォロワの出力端となるノード192に出力される信号としてはさらに選択トランジスタ105及び有効画素切り離しトランジスタ220のVDSをさらに差し引いたレベルとなる(VDD−VTH−VDS)。ここでは、電源電圧をVDD、信号をVSIG、選択トランジスタ105および有効画素切り離しトランジスタ220での電圧降下をまとめてVDSとし、式を簡略化するためトランジスタの基板バイアス効果を無視し、ソースフォロア動作による増幅トランジスタ103のゲート、ソース間の電圧落ちをVTH(VTHはおよそトランジスタの閾値電圧Vthとなる)で定義する。なお、この期間はアンプクランプ信号(AMPCL)が印加されていることから、ノード193の信号レベルは反転増幅器241のリセットレベルにクランプされている。
時刻t03からt05の期間は黒潰れ判定期間である。信号(RS2)をローレベルにすることで、ゲイン切り替えスイッチ245がオフし、反転増幅器241は数十から数百倍の高いゲインとなる。この状態でアンプクランプ信号(AMPCL)を印加することで、ノード192のVSIGのレベルをクランプし、ノード193のレベルは再び反転増幅器241のリセットレベルにクランプされる。
信号(SELA)をローレベルにするとほぼ同時に信号(SELB)をハイレベルにすることで、ダミー画素切り離しトランジスタ233をオンにする。ダミー画素切り離しトランジスタ233をオンすることで、黒潰れ判定電圧(VDD−VBIAS−VTH−VDS)のレベルがノード192に読み出される。ここで、画素ダミー増幅トランジスタ231のゲートには、(VDD−VBIAS)のレベルがバイアス回路から供給されているものとする。
次に、信号(RS1)をハイレベルにすることで、黒潰れ信号置換回路252を動作させる。
また、黒潰れ判定期間t03からt05の期間、信号(SELC)はローレベルになることから、アンプ負荷カットトランジスタ246はオフ状態である。アンプ負荷カットトランジスタ246がオフであることから、反転増幅器241の負荷容量が低減され、短期間で反転増幅器241から黒潰れ信号置換回路252に黒潰れ判定信号を出力することができる。
次に、黒潰れ現象が発生する状態について説明する。
時刻t11からt12の期間ではリセット信号の読み出し動作が行われるが、黒潰れ現象により、信号(RST)印加後に大量の信号電荷がフォトダイオード101からあふれることで、増幅トランジスタ103のゲートのレベルが大幅に下がる。リセット信号の読み出し動作が終わるt12の時点でノード192の信号レベルはGND近くまで下がる。
時刻t13からt14の期間では信号レベル(VDD−VTH−VDS−VSIG)がクランプされていることから、信号レベル(VDD−VTH−VDS−VSIG)と信号レベル(VDD−VBIAS−VTH−VDS)の差分(VSIG−VBIAS)の電圧振幅に反転増幅器241のゲインを乗じた信号レベルが出力される。ノード192の信号レベルは反転増幅器241のリセットレベルに(VSIG−VBIAS)*GAIN2が付与されたレベルとなる。上述の通りGAIN2は数十から数百倍の高いゲインをとる。
次に、信号(RS1)をハイレベルにすることで、黒潰れ信号置換回路252を動作させる。
時刻t05からt06の期間では信号保持容量251に保持された信号レベルVCLIPが順次水平転送され、出力回路200へ信号レベルVCLIPが出力される。このようにして黒潰れ補正を行うことができる。
<対比>
従来の固体撮像装置では、各画素列の画素ダミー増幅トランジスタ121の特性にばらつきがあれば、同じ列の画素信号に共通のノイズが重畳し、いわゆる縦筋ノイズと呼ばれる固体パターンノイズが生じてしまう。一方、本発明の固体撮像装置では、各画素列の画素ダミー増幅トランジスタ231の特性にばらつきがあっても、縦筋ノイズを低減することができ、画質の向上を実現することができる。以下に、その理由を説明する。
次に、本発明が画素ダミー増幅トランジスタの特性のばらつきよる縦筋ノイズを低減することができる理由を、黒潰れ判定電圧生成回路230の構成を用いて説明する。
VDD−VSIG−VTH−VDS (式1)
一方、黒潰れ判定期間では有効画素切り離しトランジスタ220をオフして、垂直信号線190とノード192を電気的に切り離すことで、ノード192の負荷容量を低減する。
VDD−VBIAS−VTH2−VDS2 (式2)
本発明の黒潰れ判定は有効画素からノード192に出力される画素信号の信号レベルと、ダミー画素からノード192に出力される黒潰れ判定レベルを時系列的に比較することで、有効画素の黒潰れの有無を判定する。
VSIG+VTH+VDS−(VBIAS+VTH2+VDS2) (式3)
なお、(式3)から分かるとおり、画素信号VSIGと黒つぶれ判定レベルVBIASを精度よく比較するためには、トランジスタの閾値VTHとVTH2およびトランジスタのVDS、VDS2は一致した方がよい。
なお、「同種」とは、プロセス工程が同一であることであり、例えばイオン種などが同一であるようなトランジスタを意味する。また、チャネルの幅(W)と長さ(L)のサイズ比を同じにすることによって、VTH、VDSも同じにすることができる。
VSIG−VBIAS (式4)
VSIGは有効画素から出力された信号のレベルを表すものであるが、フォトダイオード101から出力される最大信号(飽和信号)をVSATと定義すると黒潰れが発生していない状態のVSIGの範囲は0≦VSIG≦VSATと表すことができる。
つまり、黒潰れ判定電圧VBIASをVSAT<VBIAS<VSAT+VBLACKの範囲に設定することで、黒潰れ判定を行うことができる。
すなわち、本発明の実施形態に係る固体撮像装置は、黒潰れ判定は有効画素からノード192に出力される画素信号の信号レベルと、黒潰れ判定電圧生成回路230からノード192に出力される黒潰れ判定電圧を時系列的に比較することで、有効画素の黒潰れの有無を判定することができる。
また、本実施形態では、有効画素の読み出し動作と黒潰れ判定の動作とを時系列に行うことで、従来技術で課題となる無信号時および信号読出時の垂直信号線の電位差を発生させることなく黒潰れ判定を行うことができる。そのため、垂直信号線の電位変動に起因する縦筋ノイズの発生を抑制することができる。
このように、本発明の第1の実施形態に係る固体撮像装置は、従来技術の固体撮像装置では対処できない黒潰れ補正手段のトランジスタばらつきよる縦筋ノイズを低減することができ、画質の向上を実現することができる。さらに、縦筋ノイズを低減することで、別途縦筋補正回路を設けることが不要になり、面積の縮小化、回路削減による低消費電力を実現することができる。
(第2の実施形態)
次に、本発明の第2の実施形態に係る固体撮像装置について説明する。第1の実施形態と同様の構成については説明を省略する。
第1の実施形態と異なるところは、有効画素およびダミー画素の構成である。第1の実施形態では選択トランジスタ105,232が備えられているが、第2の実施形態では選択トランジスタ105,232が備えられていない。有効画素は画素電源をパルス駆動することで選択される。
次に、第2の実施形態ではW/Lサイズは有効画素と同一サイズにし、トランジスタ数を増やす理由について説明する。
VDD−VSIG−(VTH+VTHB)−VDS (式5)
上記のとおり、黒潰れ現象が発生していない状況では、選択行の増幅トランジスタ103には高いレベルが印加され、非選択行の増幅トランジスタ103には0.1V〜1V程度の低いレベルが印加される。つまり、非選択行の増幅トランジスタ103はトランジスタの弱反転領域で動作しており、選択行の増幅トランジスタ103に対してオン抵抗が非常に高くなり、VTH>>VTHBとなり、VTHBの項は無視することができる。
以上まで説明したことをまとめると、ノード192の信号レベルは黒潰れ現象が発生しない状態では、以下のように表される。
VDD−VSIG−VTH−VDS (式6)
また、黒潰れ現象が発生する状態では、以下のように表される。
VDD−VSIG−VTHB−VDS (式7)
第1の実施形態でも説明したとおり、画素信号VSIGと黒潰れ判定電圧VBIASを精度よく比較するためにはトランジスタの閾値VTHBとVTH2およびトランジスタのVDS、VDS2は一致した方がよい。具体的には画素ダミー増幅トランジスタ231と全ての有効画素の増幅トランジスタ103との組、ダミー画素切り離しトランジスタ233と有効画素切り離しトランジスタ220との組では、それぞれ同種のトランジスタを用いた方がよい。ここでの同種とは、プロセス工程が同一であることであり、例えばイオン種などが同一であるようなトランジスタを意味する。
具体的には、画素ダミー増幅トランジスタ231のチャネルの幅(W)と長さ(L)のサイズは有効画素の増幅トランジスタ103と同じであり、かつトランジスタの数を同一列の有効画素のトランジスタの数に近い数を設けることである。本構成によりVTHB、VDSも同じにすることができる。
なお、画素ダミー増幅トランジスタ231の数が十分でない場合、VTHBとVTH2とは完全には一致しないが、その電位差に相当する電位差ΔVTHBをVBIASに付与することで黒潰れ判定を行うことができる。
また、ΔVTHAとΔVTHBは有効画素で構成されるソースフォロア回路出力とダミー増幅トランジスタで構成されるソースフォロア回路出力の差分を検出してバイアス回路123にフィードバックしてもよい。また、簡易的にはプロセスばらつきで見込まれるΔVTHAおよびΔVTHBの最大値を見積もり、VBIASは固定値として設定し、回路規模を縮小してもよい。
(1)第1の実施形態では、有効画素内に選択トランジスタ105を設け、ダミー画素内には画素ダミー選択トランジスタ232を設けている。しかしながら、本発明はこれに限られない。例えば、有効画素内に選択トランジスタ105を設け、その一方でダミー画素内には画素ダミー選択トランジスタ232を設けないという構成としてもよい。これは、画素ダミー選択トランジスタ232での電圧降下VDSは画素ダミー増幅トランジスタ231の電圧降下VTHに対して小さく、黒潰れ判定の精度に与える影響も小さいからである。画素ダミー選択トランジスタ232を省略した分だけ、画素ダミー増幅トランジスタ231の面積を大きくとることができる。
(2)実施形態では、有効画素切り離しトランジスタ220とダミー画素切り離しトランジスタ233とを設けているが、有効画素切り離しトランジスタ220については必ずしも設けなくてもよい。ただし、黒潰れ判定期間の長さを短縮したり、黒潰れ判定期間に有効画素からの出力の影響を削減したりするには、実施形態のように有効画素切り離しトランジスタ220を設けるほうが有利である。
(3)実施形態では、反転増幅器241の構成を明らかにしていないが、これについてはどのような構成でも適用可能である。例えば、図7に示すように、最も簡単なソース接地アンプの構成でも構わない。なお、一般的には、ゲインを高くするためにカスコードを設けられている。また、差動アンプの構成を採用しても構わない。
(4)実施形態では、信号増幅機能と黒潰れ判定機能との両方をサポートする信号増幅回路兼黒潰れ判定回路240を採用しているが、このような回路構成とする必要はない。例えば、信号増幅機能が不要であれば、フィードバック容量243を持たないアンプにより黒潰れ判定回路を構成してもよいし、差動アンプを用いた比較回路を構成するなど、時系列に画素信号と黒潰れ判定生成信号を比較する回路構成をとればよく、本実施形態で説明した回路構成にとらわれない。
(5)実施形態では、出力回路200はアナログフロントエンド、A/Dコンバータ(ADC)、出力処理部等から構成されると説明したが、A/Dコンバータを内蔵しない場合はアナログアンプを含む出力処理部のみでもよい。また、図4に示すようにデジタル出力の構成をとってもよい。
(6)以下に、固体撮像装置の応用例として、撮像装置の構成を説明する。撮像装置は、具体的には、固体撮像装置、デジタル信号処理部、光学系がまとめてパッケージ化されたモジュールや、これを備えたカメラ、携帯電話機などである。本明細書では、CMOSイメージセンサの機能を単体で有する構成を固体撮像装置といい、固体撮像装置と他の要素(制御回路、操作部、表示部、さらにはデータ蓄積機能、通信機能等)と一体化された構成を撮像装置というものとする。
図8において、撮像部410は、例えば、上記実施形態に示した固体撮像装置である。撮像部410は、撮像信号をメイン基板に搭載されたシステムコントロール部420に映像データを出力する。すなわち、撮像部410では、上述したCMOSイメージセンサの出力信号に対し、AGC(自動利得制御)、OB(オプティカルブラック)クランプ、CDS(相関二重サンプリング)、AD変換といった処理を行い、デジタル信号である映像データを生成して出力する。
また、システムコントロール部420には、CPU421、ROM422、RAM423、DSP424、外部インターフェース425等が設けられている。
DSP424は、撮像部410から出力された映像データに対して各種の信号処理を行うことにより、所定のフォーマットによる静止画または動画の映像データ(例えばYUV信号等)を生成する。
ディスプレイ460は、カメラに組み込まれた例えば液晶パネル等の小型表示器であり、撮像した画像を表示する。なお、このようなカメラ装置に組み込まれた小型表示器に加えて、外部の大型表示装置に映像データを伝送し、表示できる構成とすることも勿論可能である。
操作パネル部450は、カメラで撮影作業を行うに際し、ユーザが各種の指示を行うための入力キーを設けたものであり、CPU421は、この操作パネル部450からの入力信号を監視し、その入力内容に基づいて各種の動作制御を実行する。
100 画素領域
101 フォトダイオード
102 転送トランジスタ
103 増幅トランジスタ
104 リセットトランジスタ
105 選択トランジスタ
110 垂直走査回路
120 補正部
121 画素ダミー増幅トランジスタ
122 画素ダミー選択トランジスタ
123 バイアス回路
130 画素信号読み出し回路
140 水平走査回路
150 AFE
160 A/Dコンバータ
170 出力処理部
180 タイミング制御部
190 垂直信号線
191 電流源回路
192 ソースフォロワの出力端となるノード
193 反転増幅器の出力端となるノード
194 信号保持容量の入力端となるノード
200 出力回路
220 有効画素切り離しトランジスタ
230 判定電圧生成回路
231 画素ダミー増幅トランジスタ
232 画素ダミー選択トランジスタ
233 ダミー画素切り離しトランジスタ
240 黒潰れ判定回路
241 反転増幅器
242 アンプ入力容量
243 フィードバック容量
244 アンプリセットスイッチ
245 ゲイン切り替えスイッチ
246 アンプ負荷カットトランジスタ
250 信号処理回路
251 信号保持容量
252 黒潰れ信号置換回路
253 トランジスタ
254 トランジスタ
255 トランジスタ
256 水平信号線
257 水平選択トランジスタ
325 カラムAD変換部
326 カラム処理部
327 参照信号生成部
352 比較器
356 メモリ
357 アップダウンカウンタ
358 スイッチ
400 光学系
401 ズームレンズ
402 絞り機構
410 撮像部
420 システムコントロール部
421 CPU
422 ROM
423 RAM
424 DSP
425 外部インターフェース
430 駆動制御部
440 メモリ媒体
441 メモリ媒体コントローラ
450 操作パネル部
460 ディスプレイ
Claims (11)
- 複数の垂直信号線を備え、各垂直信号線に有効画素と黒潰れ判定電圧生成回路とが接続された固体撮像装置であって、
前記有効画素は、光電変換部、転送トランジスタ、リセットトランジスタ、及び第1の増幅トランジスタを備え、前記第1の増幅トランジスタのゲートは前記転送トランジスタを介して前記光電変換部に接続されると共に前記リセットトランジスタを介して電源に接続され、前記第1の増幅トランジスタのドレインは電源に接続され、前記第1の増幅トランジスタのソースは前記垂直信号線に接続され、
前記黒潰れ判定電圧生成回路は、第2の増幅トランジスタを備え、前記第2の増幅トランジスタのゲートは黒潰れ判定の基準となるバイアス電圧を出力するバイアス回路に接続され、前記第2の増幅トランジスタのドレインは電源に接続され、前記第2の増幅トランジスタのソースは前記垂直信号線に接続され、
前記第2の増幅トランジスタのソースと前記垂直信号線とを接続する経路には、有効画素の信号読出期間にオフとなり、その後の黒潰れ判定期間中にオフからオンになるスイッチトランジスタが挿入され、
各垂直信号線には、さらに、有効画素の信号読出期間に前記有効画素から出力された信号を読み出し、黒潰れ判定期間に前記有効画素から出力された信号のレベルと前記黒潰れ判定電圧生成回路から出力された信号のレベルとを比較する比較部が接続されていること
を特徴とする固体撮像装置。 - 有効画素の信号読出期間中の第1のタイミングで前記リセットトランジスタが一時的にオンとなり、その後の第2のタイミングで前記転送トランジスタが一時的にオンとなり、
前記比較部は、
有効画素の信号読出期間において、前記第1のタイミングから前記第2のタイミングまでの間に前記有効画素から出力されている信号のレベルをサンプリングし、前記第2のタイミング以降に前記有効画素から出力されている信号のレベルをサンプリングすることにより、有効画素から出力された信号の読み出しを行い、
その後の黒潰れ判定期間において、前記スイッチトランジスタがオンになるまでに前記有効画素から引き続き出力されている信号のレベルをサンプリングし、前記スイッチトランジスタがオンのときに前記黒潰れ判定電圧生成回路から出力された信号のレベルをサンプリングすることにより比較を行うこと
を特徴とする請求項1に記載の固体撮像装置。 - 前記比較部は、前記垂直信号線にクランプ容量を介して接続された反転増幅回路と、前記反転増幅回路のフィードバック経路にフィードバック容量と共に直列に挿入されたスイッチ素子とを備え、前記スイッチ素子は、有効画素から出力された信号を読み出すときにはオンとなり、比較をするときにはオフとなること
を特徴とする請求項2に記載の固体撮像装置。 - 各垂直信号線には、前記黒潰れ判定電圧生成回路が前記スイッチトランジスタを介して接続されているノードと前記有効画素が接続されたノードとの間にスイッチ素子が挿入されていること
を特徴とする請求項1〜3までのいずれかに記載の固体撮像装置。 - 前記第1の増幅トランジスタと前記第2の増幅トランジスタとが同じ種類のトランジスタであること
を特徴とする請求項1〜4までのいずれかに記載の固体撮像装置。 - 前記有効画素は、さらに、前記第1の増幅トランジスタのソースと前記垂直信号線とを接続する経路に挿入された第1の選択トランジスタを備え、
前記黒潰れ判定電圧生成回路は、さらに、前記第2の増幅トランジスタのソースと前記垂直信号線とを接続する経路に挿入された第2の選択トランジスタを備え、
前記第1の選択トランジスタと前記第2の選択トランジスタとが同じ種類のトランジスタであること
を特徴とする請求項1〜5までのいずれかに記載の固体撮像装置。 - 前記黒潰れ判定電圧生成回路は、さらに、前記第2の増幅トランジスタに並列に接続された、少なくともひとつの第3の増幅トランジスタを備えること
を特徴とする請求項1〜6までのいずれかに記載の固体撮像装置。 - さらに、有効画素の信号読出期間に前記比較部により読み出された信号のレベルを保持する信号保持容量と、前記比較部により得られた比較結果が黒潰れを示す場合に前記信号保持容量に保持された信号のレベルを所定のレベルに置き換える置換回路とを備えること
を特徴とする請求項1〜7までのいずれかに記載の固体撮像装置。 - さらに、有効画素の信号読出期間に前記比較部により読み出された信号のレベルを保持する信号保持容量と、前記信号保持容量に保持された信号のレベルをアナログデジタル変換するAD変換回路と、前記AD変換回路により得られたデジタル情報を保持するメモリと、前記比較部により得られた比較結果が黒潰れを示す場合に前記メモリに保持されたデジタル情報を所定値に置き換える置換回路とを備えること
を特徴とする請求項1〜7までのいずれかに記載の固体撮像装置。 - 前記比較部は、前記AD変換回路が前記信号保持容量に保持された信号のレベルをアナログデジタル変換している間に、比較を行うこと
を特徴とする請求項9に記載の固体撮像装置。 - 被写体の撮像を行うための固体撮像装置と、前記固体撮像装置の画素領域に被写体像を結像させる光学系と、前記光学系を駆動する駆動制御部と、前記固体撮像装置からの出力信号を信号処理し、映像データを生成する信号処理部と、前記信号処理部によって生成された映像データを記録する記録部と、前記信号処理部によって生成された映像データを出力する出力部と、撮像動作を制御するための各種入力信号を入力する操作部とを有し、
前記固体撮像装置は、
複数の垂直信号線を備え、各垂直信号線に有効画素と黒潰れ判定用の黒潰れ判定電圧生成回路とが接続され、
前記有効画素は、光電変換部、転送トランジスタ、リセットトランジスタ、及び第1の増幅トランジスタを備え、前記第1の増幅トランジスタのゲートは前記転送トランジスタを介して前記光電変換部に接続されると共に前記リセットトランジスタを介して電源に接続され、前記第1の増幅トランジスタのドレインは電源に接続され、前記第1の増幅トランジスタのソースは前記垂直信号線に接続され、
前記黒潰れ判定電圧生成回路は、第2の増幅トランジスタを備え、前記第2の増幅トランジスタのゲートは黒潰れ判定の基準となるバイアス電圧を出力するバイアス回路に接続され、前記第2の増幅トランジスタのドレインは電源に接続され、前記第2の増幅トランジスタのソースは前記垂直信号線に接続され、
前記第2の増幅トランジスタのソースと前記垂直信号線とを接続する経路には、有効画素の信号読出期間にオフとなり、その後の黒潰れ判定期間中にオフからオンになるスイッチトランジスタが挿入され、
各垂直信号線には、さらに、有効画素の信号読出期間に前記有効画素から出力された信号を読み出し、黒潰れ判定期間に前記有効画素から出力された信号のレベルと前記黒潰れ判定電圧生成回路から出力された信号のレベルとを大小比較する比較部が接続されていること
を特徴とする撮像装置。
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