JP2010032517A - 試料試験管を取り扱う方法および研究室システム並びに画像解析ユニット - Google Patents
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Abstract
【解決手段】試料試験管を収容している搬入一次ラックPRを、移送ユニットにより画像解析ユニット310に移送する段階、画像解析ユニットにおいて、一次ラックに収容されている少なくとも1つの試料試験管の形状についてのパラメータを画像解析により判定する段階、識別・割当ユニットにおいて、各々の試料試験管について、判定された形状についてのパラメータを予め決められた形状基準と比較して、試料試験管の形状が予め決められた形状基準を満たしているか否かを識別する段階からなる。
【選択図】図2
Description
26 キャッピングステーション
310 画像解析ユニット
314 カメラ
318 バックライト
511、512、513、514、515 映像区画
520 位置合わせされたフィン
Claims (15)
- 試料試験管(1、2、3、4、5)を収容している搬入一次ラック(PR)を移送するための移送ユニット、画像解析ユニット(310)および識別・割当ユニットを有する研究室システムの研究室試料試験管を取り扱う方法において、
−試料試験管(1、2、3、4、5)を収容している搬入一次ラック(PR)を、前記移送ユニットにより前記画像解析ユニット(310)に移送する段階と、
−前記画像解析ユニット(310)において、前記一次ラックに収容されている少なくとも1つの試料試験管の形状についてのパラメータを画像解析により判定する段階と、
−前記識別・割当ユニットにおいて、各々の試料試験管について、前記判定された形状についてのパラメータを予め決められた形状基準と比較して、前記試料試験管の形状が前記予め決められた形状基準を満たしているか否かを識別する段階と、
−満たしている場合に、前記試料試験管をシステム適合に分類する段階と、
−そうでない場合には、前記試料試験管をシステム非適合に分類する段階とを含み、
システム適合と判定された各々の試料試験管は、さらなる処理に回され、また、システム非適合と判定された各々の試料試験管は、エラー処理に回されることを特徴とする方法。 - 前記予め決められた基準は、試験管の径、試験管の高さ、一次ラックの収容位置にあるときの角度、試験管用蓋の存在および/または剥れそうなバーコードラベルからなる群のいずれか1つの基準を含むことを特徴とする請求項1記載の方法。
- 前記試料試験管が予め決められた基準の少なくとも1つを満たしていないことが確認された場合、前記試料試験管に非適合の符号を割り当てる段階をさらに含むことを特徴とする請求項1または2記載の方法。
- 前記非適合の符号は、前記試料試験管に蓋が付いていないことが確認された場合には、無蓋の符号であることを特徴とする請求項3記載の方法。
- 無蓋の符号の試料試験管を収容している一次ラックは、前記試料試験管に対する自動的な再閉蓋のためにキャッピングステーション(26)に移送されることを特徴とする請求項4記載の方法。
- システム適合と判定された試料試験管は、連続画像ユニット(310)により検査されることを特徴とする請求項1記載の方法。
- 非適合の符号が割り当てられた場合、対応する一次ラックは(PR)は、その後の手作業による取扱いのためにエラー位置に移送されることを特徴とする請求項3または4記載の方法。
- システム適合と判定された試料試験管は、把持部により前記一次ラック(PR)から取り出されることを特徴とする請求項1記載の方法。
- システム適合と判定された試料試験管は、二次ラックに仕分けされることを特徴とする請求項8記載の方法。
- 研究室試料試験管を取り扱う研究室システムにおいて、試料試験管(1、2、3、4、5)を収容している搬入一次ラック(PR)を移送するための移送ユニットと、試料試験管を分析するための画像解析ユニット(310)と、前記画像解析ユニット(310)のデータに基づいて、各々の試料試験管(1、2、3、4、5)について試料試験管の形状が予め決められた基準を満たすか否かを判定して、前記判定の結果により各々の試料試験管を各々システム適合またはシステム非適合に分類する識別・割当ユニットとを有し、システム適合と判定された各々の試料試験管は、さらなる処理に回され、また、システム非適合と判定された各々の試料試験管は、エラー処理に回されることを特徴とする研究室システム。
- 前記予め決められた基準は、試験管の径、試験管の高さ、一次ラックの収容位置にあるときの角度、試験管用蓋の存在および/または剥れそうなバーコードラベルからなる群のいずれか1つの基準を含むことを特徴とする請求項10記載の研究室システム。
- 蓋が付いていないと判定された少なくとも1つの試料試験管を収容している一次ラック(PR)が前記試料試験管に対する自動的な再閉蓋のために移送されるキャッピングステーション(26)をさらに有することを特徴とする請求項10または11記載の研究室システム。
- ラック(PR)に収容された研究室試料試験管用の画像解析ユニット(310)において、バックライト(318)前方の、前記ラック(PR)の検査位置と、少なくとも2つの試料試験管を収容している前記ラックの写真を撮るためのカメラ(314)とを有し、前記バックライト(318)は、前記カメラ(314)に向けて光を放射していることを特徴とする画像解析ユニット(310)。
- 試料試験管(1、2、3、4、5)の映像区画(511、512、513、514、515)を画成する位置決めされた一式のフィン(520)をさらに有することを特徴とする請求項13記載の画像解析ユニット(310)。
- 前記フィン(520)は、前記カメラ(314)の光路に位置が合わされていることを特徴とする請求項14記載の画像解析ユニット(310)。
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