JP2009527106A - 多層フレキシブルプリント回路基板及びその製造方法 - Google Patents

多層フレキシブルプリント回路基板及びその製造方法 Download PDF

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Abstract

【課題】多層フレキシブル回路基板及びその製造方法に関する。
【解決手段】多層フレキシブル回路基板及びその製造方法を提供する。多層フレキシブル回路基板は、加圧/加熱領域がカットされた接着シートと、加圧/加熱領域がカットされ、前記接着シート上(on)に付着された上部ベース層と、前記接着シートが付着された下部ベース層と、を含む。
【選択図】図7

Description

本発明は、多層フレキシブル回路基板及びその製造方法に関する。
最近、電子部品と部品内蔵技術の発達及び電子製品の軽薄短小化につれて、多層フレキシブルプリント回路基板(FPCB:Flexible Printed Circuits Board)の需要は成長し続けている。
前記多層フレキシブル回路基板は、耐熱性、耐曲性、耐薬品性が強く、高密度配線が可能で組立が良好な特徴を有しているから、カメラ、コンピュータ及びその周辺機器、移動通信端末機、ビデオ及びオーディオ機器、LCD、衛星装備、医療装備などに広く用いられている。
一般的な多層フレキシブルプリント回路基板の生産方式は、ベースフィルムに銅箔の形成された銅箔積層板にドライフィルムをラミネートした後、露光、現像及びエッチング工程により所定の回路パターンを形成し、以後カバーレイフィルムを接着する。
図1は、従来の多層フレキシブル回路基板の断面図である。
図1に示すように、多層フレキシブル回路基板10は、ベースフィルム11、銅箔層12、ビアホール14、メッキ層15、16、上部フィルム18を含む。
前記ベースフィルム11は、ポリイミド(polyimide)フィルムからなる。前記ベースフィルム11の上面には、銅箔層12が接着剤13により接着され、前記銅箔層12にドライフィルムをラミネートした後、露光、現像及びエッチング工程により所定の回路パターンを形成する。
前記ベースフィルム11及び銅箔層12の内部にビアホール14を形成した後、前記銅箔層12の上面及びビアホール14に無電解銅メッキ層15を形成し、無電解銅メッキ層の上面及びビアホール14に電解銅メッキ層16を形成するようになる。
このような電解銅メッキ層16の上面にポリイミド材質の上部フィルム18を接着剤17で接着する。
このような製造工程により完成されたFPCBの上部フィルム18の上面に異方性導電フィルム(ACF:Anisotropic Conductive Film)を融着して、各種の電子製品と電気的に接続される。ここで、ACFは、金属コーティングされたプラスチック粒子と金属粒子などの微粒子形態の導電性粒子、接着剤、そして添加剤(分散剤)などを混合して、薄膜のフィルム形態で導電接着層を形成させたものである。
このようなACFを上部フィルム18の上面に薄く融着し、高熱、加圧して電子機器の端子に接合することで、ACFに分散されている導電性粒子が上部フィルム18の面と電子機器の端子間に保護され、導電性が得られる。また、隣接する上部フィルム18の面と電子機器の端子との間には接着剤が充填されて、導電粒子が互いに独立的に存在するため、高い絶縁性が得られる。
しかしながら、前記ACFを利用してFPCBを電子機器、例えば、カメラモジュールに接続する場合、FPCB自体の厚さとACFの厚さによって薄く接合するのに難しさがある。また、FPCBの厚さが厚くなる分だけ加熱温度と加圧圧力は高まり、ボンディング時間は増加するようになって、カメラモジュールに悪影響を及ぼすようになり、結果的にカメラモジュールの不良率を増加させるようになる。
本発明は、多層フレキシブル回路基板及びその製造方法を提供する。
本発明は、上部ベース層及び接着シートの加圧/加熱領域を除去して、多層フレキシブル回路基板を薄く具現できるようにした多層フレキシブル回路基板及びその製造方法を提供する。
また、本発明は、加圧/加熱領域が除去された多層フレキシブル回路基板の加圧圧力、加圧温度、ボンディング時間を下げるようにした多層フレキシブル回路基板及びその製造方法を提供する。
本発明に係る多層フレキシブル回路基板は、加圧/加熱領域がカットされた接着シートと、加圧/加熱領域がカットされ、前記接着シート上(on)に付着された上部ベース層と、前記接着シートが付着された下部ベース層と、を含む。
本発明に係る多層フレキシブル回路基板の製造方法は、接着シート上に上部ベース層を付着するステップと、前記接着シート及び上部ベース層から加圧/加熱領域をカットして除去するステップと、下部ベース層に前記接着シートを接着するステップと、前記上/下部ベース層に所定の回路パターンを各々形成するステップと、を含む。
本発明は、多層フレキシブル回路基板の加圧/加熱領域を従来より薄く形成することによって、熱伝度効率を改善することができる。
また、多層フレキシブル回路基板を対象モジュールの基板に接合する時に必要な加圧時間を、従来の基板より40%以上減らすことができる。
また、多層フレキシブル回路基板がボンディングされる対象モジュールの不良率を減らすことができる。
以下、本発明の実施の形態に係る多層フレキシブル回路基板に対して、添付した図面を参照して説明する。
図2〜図5は、本発明の実施の形態に係る多層フレキシブル回路基板の製造過程を示した図である。
図2及び図3に示すように、上部ベース層110は、第1絶縁層111及び第1銅箔層112を含む。前記第1絶縁層111は、ポリイミドフィルム、FR−4(Flame Retardant type 4)のような絶縁材質からなり、上面に第1銅箔層112が接着剤で接着される。
前記上部ベース層110は、パターン形成領域Aと加圧/加熱領域B、Cに区分され、前記パターン形成領域Aは、微細回路パターン(例:グラウンドパターン)が形成される領域であり、前記加圧/加熱領域B、Cは、ACF(Anisotropic Conductive Film)とのボンディングのために加熱、加圧される領域である。
前記上部ベース層110の第1絶縁層111は、接着シート(bonding sheet)130の上面に接着される。ここで、接着シート130は、プリプレグ(prepreg)、ボンディングシート(bonding sheet)などの樹脂材質からなることができる。
図3に示すように、前記上部ベース層110と接着シート130とが接着されると、上部ベース層110及び接着シート130のパターン形成領域Aは残し、加圧/加熱領域B、Cはカットして除去する。
そして、図4のように、接着シート130の下面には、下部ベース層120が接着される。ここで、加圧/加熱領域は、下部ベース層120の上面領域のうち、接着シート130が接着されない両側領域になる。
前記下部ベース層120は、第2絶縁層121及び第2銅箔層122を含み、前記第2絶縁層121は、ポリイミドフィルム、FR−4などの絶縁材質からなり、接着シート130が接着される。前記第2絶縁層121の下面に微細回路パターンを具現する第2銅箔層122が接着剤で接着される。
前記接着シート130は、上面に加圧/加熱領域B、Cが除去された上部ベース層110が接着され、下面に加圧/加熱領域B、Cを備えた下部ベース層120が接着される。ここで、加圧/加熱領域B、Cは、加熱圧着ジグの圧着部に対応する大きさに形成されることができる。
以後、第1銅箔層112の上部に感光性のあるエッチングレジストである上部ドライフィルム140をラミネート(laminating)し、第2銅箔層122の下部に下部ドライフィルム141をラミネートする。
前記上部及び下部ドライフィルム140、141が第1及び第2銅箔層112、122上にラミネートされれば、露光器(Stepper)を利用して露光処理し現像液で現像した後、エッチング液で第1及び第2銅箔層112、122をエッチング処理して、上部及び下部ドライフィルム140、141を除去することによって、第1及び第2銅箔層112、122に回路パターンを形成するようになる。ここで、第1銅箔層112は、グラウンドパターンで形成されることができる。
また、前記第1及び第2銅箔層112、122間を電気的に接続するために、NCドリル又はレーザードリルを使用してビアホールを加工し、前記ビアホールの内部に無電解銅メッキと電解銅メッキをそれぞれ実施して、第1及び第2銅箔層112、122、ビアホールの表面に銅箔層を形成することもできる。
図5に示すように、前記第1及び第2銅箔層112、122には、上/下部カバーレイフィルム(Coverlay film)150、160を塗布するようになる。前記上/下部カバーレイフィルム150、160は、ポリイミドフィルムと接着剤からなり、前記銅箔層112、122の回路パターンを保護し電気的にパターンを隔離(短絡防止)させる。例えば、上部及び下部カバーレイフィルム150、160は、1μmの厚さに塗布され、CVD(Chemical Vapor Deposition)又はLB(Langmuir−Blodgett)法を利用する。
ここで、上部カバーレイフィルム150は、前記第1銅箔層112が除去された部分と除去されない第1銅箔層の上部に塗布され得、下部カバーレイフィルム160は、第2銅箔層122の下面に回路パターンの一部がオープンされるウィンドウ領域122aとラインパターン122bを除いた領域又は回路パターン間を電気的に隔離させるために塗布される。このような上部及び下部カバーレイフィルム150、160は、塗布しなくても良い。
そして、上部及び下部カバーレイフィルム150、160の表面を平坦にするための平坦化処理がさらに実行されることができる。このような過程により、多層フレキシブル回路基板100が完成される。ここで、本発明は、接着シート130の上面に付着される上部ベース層110及び上部カバーレイフィルム150が複数層で積層されることもできる。
ここで、本発明の多層フレキシブル回路基板100の厚さがd1と形成されるが、この中で加圧/加熱領域B、Cの厚さd3は、加圧/加熱領域B、Cが除去された厚さd2分だけ薄くなる。すなわち、ボンディングシート及び上部ベース層の加圧/加熱領域B、Cが除去されることにより、下部ベース層の厚さが加圧/加熱領域の厚さd3になるので、従来の加圧/加熱領域の厚さより1/2以下に薄くなる。
このような多層フレキシブル回路基板100の第2銅箔層122及び下部カバーレイフィルム160の下面には、異方性導電接着手段としてACF170が付着される。ここで、ACF170は、第2銅箔層122及び下部カバーレイフィルム160の下面に接着され、対象モジュールの基板と電気的に接続させる機能を果たす。そして、前記対象モジュールは、一例として携帯端末機に備えられたカメラモジュールになることができる。
図6は、本発明の実施の形態に係る多層フレキシブル回路基板の正面図及び背面図を示す図である。
図6の(a)に示すように、上部ベース層110は、両側に一定の大きさの加圧/加熱領域B、Cが除去された状態であり、上部カバーレイフィルム150は、加圧/加熱領域を除いた回路パターン間及び上部全体領域に塗布されている。
図6の(b)に示すように、下部ベース層120には、回路パターンのうちの一部がオープンされるウィンドウ領域122aとラインパターン122bが露出し、下部カバーレイフィルム160は、ウィンドウ領域122aとラインパターンを除いた全領域に塗布される。このとき、塗布される高さは、ウィンドウ領域の高さと同一又は少し低い高さに形成される。
図7は、図5の多層フレキシブル回路基板がカメラモジュールに装着される一例を説明するための図である。
図7に示すように、固定ジグフレーム300の内部固着部301にカメラモジュール200を装着するようになる。前記カメラモジュール200は、基板210の内側にイメージセンサ220が接続され、前記イメージセンサ220は、CMOS又はCCDからなる。このとき、イメージセンサ220の領域は、加圧/加熱領域と互いに重複しないように配置することもできる。
前記カメラモジュール200の基板210と多層フレキシブル回路基板100との間にACF170を付着する。ここで、多層フレキシブル回路基板100の下部にACF170をまず付着した後、カメラモジュール200の基板210に付着できる。
そして、加熱圧着ジグ(jig)400を駆動して、圧着部401を下部ベース層120の絶縁層121の加圧/加熱領域B、Cに密着させる。そして、圧着部401を介して下部ベース層120に所定の温度、圧力、ボンディング時間で加熱、圧着される。これにより、下部ベース層120の第2銅箔層122は、基板210の背面211に接着され、第2銅箔層122の回路パターンが基板210の背面回路パターンと電気的に接続される。
このとき、加熱圧着ジグ400は、多層フレキシブル回路基板100の薄くなった加圧/加熱領域B、Cに加熱、加圧するようになるので、圧力伝達率、熱伝達率が従来より高まる。すなわち、熱伝達率は、従来より40%以上改善されることができ、また、従来と同じ温度に加熱しても、ボンディング時間を40%程度減らすことができる。例えば、従来の基板の加熱温度が200℃であるとき、ボンディング時間が7秒であれば、本発明は、200℃の加熱温度で4.2秒以内でボンディングすることができる。
ここで、パターン形成領域Aの上部カバーレイフィルム150と加熱圧着ジグ400との間に所定のエアーギャップ(air gap)(図示せず)を備えて、熱圧着による衝撃を解消することができる。
そして、前記第1及び第2絶縁層111、121、上/下部カバーレイフィルム150、160は、圧力が伝達される時にカメラモジュール200のイメージセンサ220に伝達される圧力を緩衝させることによって、圧力伝達による衝撃を緩和させることができる。
図8は、本発明の実施の形態に係る多層フレキシブル回路基板の製造及び実装過程を示したフローチャートである。
図8に示すように、絶縁層の上面に銅箔層を接着して、上/下部ベース層を各々形成する(S101)。
このとき、上部ベース層の下面に接着シートを付着し(S103)、前記接着シートと上部ベース層の加圧/加熱領域をカットして除去し(S105)、前記下部ベース層の加圧/加熱領域の間に接着シートの下面を接着する(S107)。
そして、上/下部ベース層の銅箔層に回路パターンを各々形成し(S109)、前記上/下部ベース層の銅箔層の回路パターンを保護するために、上/下部カバーレイフィルムを塗布する(S111)。このような過程により、多層フレキシブル回路基板を完成する。
前記多層フレキシブル回路基板の下部ベース層とモジュール基板との間にACFを付着し(S113)、下部ベース層の加圧/加熱領域を介して加熱圧着ジグで加圧、加熱して、モジュール基板とACFにボンディングされる(S115)。
本発明は、多層フレキシブル回路基板の加圧/加熱領域を従来より薄く形成することによって、熱伝度効率を改善することができる。
また、多層フレキシブル回路基板を対象モジュールの基板に接合する時に必要な加圧時間を、従来の基板より40%以上減らすことができる。
また、多層フレキシブル回路基板のボンディングによる対象モジュールの不良率を減らすことができる。
本発明の技術思想は、上述の好ましい実施の形態にしたがって具体的に記述されたが、上述の実施の形態は、その説明のためのものであり、その制限のためのものではないことに注意すべきである。また、本発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者であれば、本発明の技術的思想を逸脱しない範囲内で、様々な実施が可能であることを理解することができるはずである。
従来のフレキシブル回路基板の断面図である。 本発明の実施の形態に係る多層フレキシブル回路基板において、上部ベース層及び接着シートの結合前断面図である。 本発明の実施の形態に係る多層フレキシブル回路基板において、上部ベース層及び接着シートの結合断面図である。 本発明の実施の形態に係る多層フレキシブル回路基板において、上部/下部ベース層の接合断面図である。 本発明の実施の形態に係る多層フレキシブル回路基板を示した断面図である。 (a)及び(b)は、本明の実施の形態に係る多層フレキシブル回路基板の正面図及び背面図である。 図5の多層フレキシブル回路基板がカメラモジュールに装着される例を説明するための図である。 本発明の実施の形態に係る多層フレキシブル回路基板の製造及びボンディング過程を示したフローチャートである。
符号の説明
110 上部ベース層、 111 第1絶縁層、 112 第1銅箔層、 120 下部ベース層、 121 第2絶縁層、 122 第2銅箔層、 130 接着シート、 140 上部ドライフィルム、 141 下部ドライフィルム、 150 上部カバーレイフィルム、 160 下部カバーレイフィルム。

Claims (18)

  1. 加圧/加熱領域がカットされた接着シートと、
    加圧/加熱領域がカットされ、前記接着シート上(on)に付着された上部ベース層と、
    前記接着シートが付着された下部ベース層と、を含む多層フレキシブル回路基板。
  2. 前記接着シートは、プリプレグ又はボンディングシートを含む請求項1に記載の多層フレキシブル回路基板。
  3. 前記上部ベース層は、前記接着シート上に付着された第1絶縁層と、前記第1絶縁層上に回路パターンが形成された第1銅箔層とを含み、
    前記下部ベース層は、前記接着シートが付着された第2絶縁層と、前記第2絶縁層下に回路パターンが形成された第2銅箔層と、を含む請求項1に記載の多層フレキシブル回路基板。
  4. 前記第1及び第2絶縁層は、FR−4又はポリイミドフィルムを含むことを特徴とする請求項3に記載の多層フレキシブル回路基板。
  5. 前記第1銅箔層に塗布された上部カバーレイフィルムを含む請求項3に記載の多層フレキシブル回路基板。
  6. 前記第2銅箔層の回路パターン間の短絡防止のために塗布された下部カバーレイフィルムを含む請求項3に記載の多層フレキシブル回路基板。
  7. 前記下部ベース層の加圧/加熱領域は、加熱圧着ジグの圧着部に対応する請求項1に記載の多層フレキシブル回路基板。
  8. 前記下部ベース層の加圧/加熱領域は、接着シートが接着されない領域を含む請求項1に記載の多層フレキシブル回路基板。
  9. 前記下部ベース層は、導電性接着部材を利用して対象モジュールの基板と接合される請求項7に記載の多層フレキシブル回路基板。
  10. 前記導電性接着部材は、異方性導電フィルム(ACF:Anisotropic Conductive Film)を含む請求項9に記載の多層フレキシブル回路基板。
  11. 前記対象モジュールは、携帯端末機のカメラモジュールである請求項9に記載の多層フレキシブル回路基板。
  12. 前記下部ベース層の加圧/加熱領域の厚さは、接着シートが接着された領域での全体厚に比べて1/2以下である請求項1に記載の多層フレキシブル回路基板。
  13. 接着シート上に上部ベース層を付着するステップと、
    前記接着シート及び上部ベース層から加圧/加熱領域をカットして除去するステップと、
    下部ベース層に前記接着シートを接着するステップと、
    前記上/下部ベース層に所定の回路パターンを各々形成するステップと、を含む多層フレキシブル回路基板の製造方法。
  14. 前記上/下部ベース層は、積層構造で接着された絶縁層及び銅箔層を含む請求項13に記載の多層フレキシブル回路基板の製造方法。
  15. 前記回路パターンが形成された上部ベース層又は/及び下部ベース層にカバーレイフィルムを塗布するステップを含む請求項13に記載の多層フレキシブル回路基板の製造方法。
  16. 前記塗布されたカバーレイフィルムを平坦にするための平坦化ステップを含むことを特徴とする請求項15に記載の多層フレキシブル回路基板の製造方法。
  17. 前記下部ベース層の下部に異方性導電フィルムを付着した後、下部ベース層の加圧/加熱領域を介して加熱圧着ジグで加圧及び加熱するステップと、
    前記加圧及び加熱動作により、下部ベース層が対象モジュールの基板にボンディングされるステップと、を含むことを特徴とする請求項13に記載の多層フレキシブル回路基板の製造方法。
  18. 前記回路パターン形成ステップは、
    前記上部ベース層の上面及び下部ベース層の底面に各々上部及び下部ドライフィルムをラミネートするステップと、
    前記上部ドライフィルム及び下部ドライフィルムに対して露光処理を行うステップと、
    前記露光処理された上部及び下部ドライフィルムに対してエッチング処理を行うステップと、を含むことを特徴とする請求項13に記載の多層フレキシブル回路基板の製造方法。
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