JP2009133837A - 放射線検出装置の製造方法、放射線検出装置及び放射線撮像システム - Google Patents
放射線検出装置の製造方法、放射線検出装置及び放射線撮像システム Download PDFInfo
- Publication number
- JP2009133837A JP2009133837A JP2008273193A JP2008273193A JP2009133837A JP 2009133837 A JP2009133837 A JP 2009133837A JP 2008273193 A JP2008273193 A JP 2008273193A JP 2008273193 A JP2008273193 A JP 2008273193A JP 2009133837 A JP2009133837 A JP 2009133837A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- radiation detection
- layer
- detection apparatus
- electromagnetic shield
- scintillator
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims abstract description 194
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 32
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims description 8
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims abstract description 59
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 52
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 52
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 165
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 23
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 14
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 9
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 4
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 3
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 197
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 description 18
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 13
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 13
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 9
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 9
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 9
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 9
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 9
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 9
- 239000010408 film Substances 0.000 description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 description 6
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 6
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 5
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 4
- 239000002346 layers by function Substances 0.000 description 4
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 3
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 3
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 2
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 2
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 2
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 2
- 239000012943 hotmelt Substances 0.000 description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 2
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 2
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 2
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 2
- 239000013585 weight reducing agent Substances 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 1
- JOYRKODLDBILNP-UHFFFAOYSA-N Ethyl urethane Chemical compound CCOC(N)=O JOYRKODLDBILNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N Selenium Chemical compound [Se] BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910007541 Zn O Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001336 alkenes Chemical class 0.000 description 1
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 1
- 238000002059 diagnostic imaging Methods 0.000 description 1
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- JRZJOMJEPLMPRA-UHFFFAOYSA-N olefin Natural products CCCCCCCC=C JRZJOMJEPLMPRA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- 229920001225 polyester resin Polymers 0.000 description 1
- 239000004645 polyester resin Substances 0.000 description 1
- 229920005672 polyolefin resin Polymers 0.000 description 1
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 description 1
- 229920005749 polyurethane resin Polymers 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 230000002250 progressing effect Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 229910052711 selenium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011669 selenium Substances 0.000 description 1
- 229920005992 thermoplastic resin Polymers 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14643—Photodiode arrays; MOS imagers
- H01L27/14658—X-ray, gamma-ray or corpuscular radiation imagers
- H01L27/14663—Indirect radiation imagers, e.g. using luminescent members
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Light Receiving Elements (AREA)
Abstract
【解決手段】 放射線検出装置の製造方法は、基板と、前記基板上に配置された絶縁層と、前記絶縁層上に配置された、入射した放射線又は光を電気信号に変換する変換素子を有する複数の画素と、を有するマトリクスアレイを準備する工程と、前記マトリクスアレイの前記基板側とは反対側に、前記複数の画素を覆う可撓性支持体を固定する工程と、前記マトリクスアレイから前記基板を剥離する工程と、を有する。
【選択図】 図4
Description
以下、本発明の第1の実施形態である放射線検出装置の可撓性を有するマトリクスパネル(ここでは可撓性放射線検出パネル)について、図面を用いて説明する。
まず、本発明の第2の実施形態である放射線検出装置について、図面を用いて説明する。本実施形態の放射線検出装置の平面図、及びその動作原理については第1の実施形態と同様であるため、ここでは説明を省略する。
以下、本発明の第3の実施形態である放射線検出装置について、図面を用いて説明する。本実施形態の放射線検出装置の平面図、及びその動作原理については第1の実施形態と同様であるため、ここでは説明を省略する。
本応用例においては、放射線検出パネルにガラスのような絶縁基板を使用しないため、軽量でコンパクトな、更に薄型のハンディー型の放射線検出装置が実現可能となっている。被検体である患者は、放射線検出装置を脇に挟み、患者の側方からX線が当てられる。放射線検出装置が薄いため装置を容易に脇に挟むことができ、更に軽量であるため撮影中の装置の固定が容易になる。また脇に挟まれる側は、図1において周辺回路が接続されない側であるため、放射線検出パネルの端部まで画素の配置が可能であり、装置端部まで画像が取得できる。
図18は、本発明の放射線検出装置へのX線の入射方向を説明する1画素の断面図である。
図19は、本発明の第3の応用例である曲面型の放射線検出装置を説明する概略図である。
図21は、本発明の放射線検出装置を放射線撮像システムへ適用した場合の応用例を示す図である。放射線撮像システムは、放射線検出装置と、次の放射線源、信号処理手段、表示手段、伝送手段及び記憶手段の少なくとも1つを有する。
11 画素
12 MIS型光電変換素子
13 TFT(薄膜トランジスタ)
14 ゲート線(Vg線)
15 信号線(Sig線)
16 バイアス線(Vs線)
23 駆動回路接続手段
33 読み出し回路接続手段
24,34 接続電極
25,35 接続部
115,123,143 電磁シールド層
133 第1の電磁シールド層
134 第2の電磁シールド層
113,141 シンチレータ層
121,131 第1のシンチレータ層
125,136 第2のシンチレータ層
210 マトリクスアレイ
211,221,231,241 可撓性マトリクスアレイ
242 発光板
Claims (30)
- 基板と、前記基板上に配置された絶縁層と、前記絶縁層上に配置された、入射した放射線又は光を電気信号に変換する変換素子を有する複数の画素と、を有するマトリクスアレイを準備する工程と、
前記マトリクスアレイの前記基板側とは反対側に、前記複数の画素を覆う可撓性支持体を固定する工程と、
前記マトリクスアレイから前記基板を剥離する工程と、
を有することを特徴とする放射線検出装置の製造方法。 - 前記可撓性支持体は、第1の電磁シールド層であり、
前記可撓性支持体を固定する工程は、第1のシンチレータ層を複数の画素上に固定し、前記第1のシンチレータ層の上に前記第1の電磁シールド層を固定して、前記複数の画素、前記第1のシンチレータ層、前記第1の電磁シールド層の順の積層構成とすることを特徴とする請求項1に記載の放射線検出装置の製造方法。 - 前記可撓性支持体は、第1の電磁シールド層であり、
前記可撓性支持体を固定する工程は、予め互いに固定された第1のシンチレータ層と前記第1の電磁シールド層の前記第1のシンチレータ層側を、前記複数の画素上に固定して、前記複数の画素、前記第1のシンチレータ層、前記第1の電磁シールド層の順の積層構成とすることを特徴とする請求項1に記載の放射線検出装置の製造方法。 - 前記可撓性支持体は、第1のシンチレータ層であり、
前記可撓性支持体を固定する工程は、前記第1のシンチレータ層を複数の画素上に固定し、前記第1のシンチレータ層の上に第1の電磁シールド層を固定して、前記複数の画素、前記第1のシンチレータ層、前記第1の電磁シールド層の順の積層構成とすることを特徴とする請求項1に記載の放射線検出装置の製造方法。 - 前記可撓性支持体は、第1のシンチレータ層であり、
前記可撓性支持体を固定する工程は、予め互いに固定された前記第1のシンチレータ層と第1の電磁シールド層の前記第1のシンチレータ層側を、前記複数の画素上に固定して、前記複数の画素、前記第1のシンチレータ層、前記第1の電磁シールド層の順の積層構成とすることを特徴とする請求項1に記載の放射線検出装置の製造方法。 - 前記絶縁層の前記基板が前記剥離された側の表面に、第2のシンチレータ層を固定する工程を更に有すること特徴とする請求項2から5のいずれか1項に記載の放射線検出装置の製造方法。
- 前記絶縁層の前記基板が剥離された側の表面に、第2のシンチレータ層を固定し、前記第2のシンチレータ層の上に第2の電磁シールド層を固定する工程を更に有すること特徴とする請求項2から5のいずれか1項に記載の放射線検出装置の製造方法。
- 前記絶縁層の前記剥離した前記基板側の表面に、予め互いに固定された第2のシンチレータ層と第2の電磁シールド層の前記第2のシンチレータ層側を固定する工程を更に有すること特徴とする請求項2から5のいずれか1項に記載の放射線検出装置の製造方法。
- 前記変換素子と前記第2のシンチレータ層との距離が100nm以上、50μm以下であることを特徴とする請求項6から8のいずれか1項に記載の放射線検出装置の製造方法。
- 前記マトリクスアレイは、前記複数の画素の周辺部に配置された接続電極を更に有することを特徴とする請求項1から9のいずれか1項に記載の放射線検出装置の製造方法。
- 前記可撓性支持体は、更に前記接続電極を覆うことを特徴とする請求項10に記載の放射線検出装置の製造方法。
- 前記接続電極に外部回路を接続する工程を更に有することを特徴とする請求項10に記載の放射線検出装置の製造方法。
- 前記可撓性支持体は、前記外部回路の少なくとも一部を更に覆うことを特徴とする請求項12に記載の放射線検出装置の製造方法。
- 前記外部回路を接続する工程は、前記基板を剥離する工程の後に前記絶縁層側から行うことを特徴とする請求項12に記載の放射線検出装置の製造方法。
- 前記電磁シールド層を前記外部回路の接地電極と電気的に接続する工程を有することを特徴とする請求項12から14のいずれか1項に記載の放射線検出装置の製造方法。
- 前記絶縁層の前記剥離した前記基板側の表面に、可撓性光源を固定する工程を有することを特徴とする請求項1に記載の放射線検出装置の製造方法。
- 絶縁層と、前記絶縁層上に配置された、入射した光又は放射線を電気信号に変換する変換素子を有する複数の画素と、を有する可撓性マトリクスアレイと、
前記可撓性マトリクスアレイの前記複数の画素の側に配置された、の前記複数の画素を覆う可撓性支持体と、を有する放射線検出装置。 - 前記可撓性支持体は、第1の電磁シールド層を含むことを特徴とする請求項17に記載の放射線検出装置。
- 前記第1の電磁シールド層と前記複数の画素との間に配置された第1のシンチレータ層を有する請求項18に記載の放射線検出装置。
- 前記可撓性支持体は、第1のシンチレータ層を含むことを特徴とする請求項17に記載の放射線検出装置。
- 前記マトリクスアレイは、前記複数の画素の周辺部に配置された接続電極をさらに有することを特徴とする請求項17から20のいずれか1項に記載の放射線検出装置。
- 前記可撓性支持体は、更に前記接続電極を覆うことを特徴とする請求項21に記載の放射線検出装置。
- 前記接続電極と電気的に接続された外部回路を更に有し、前記可撓性支持体は、更に外部回路の少なくとも一部を覆うことを特徴とする請求項22に記載の放射線検出装置。
- 前記電磁シールド層は、外部回路の接地電極と電気的に接続されていることを特徴とする請求項23に記載の放射線検出装置。
- 更に、第2のシンチレータ層を有し、前記第2のシンチレータ層、前記可撓性マトリクスアレイ、前記第1のシンチレータ層、前記第1の電磁シールド層の順の積層構成を有すること特徴とする請求項19に記載の放射線検出装置。
- 更に第2の電磁シールド層を有し、前記第2の電磁シールド層、前記第2のシンチレータ層、前記可撓性マトリクスアレイ、前記第1のシンチレータ層、前記第1の電磁シールド層の順の積層構成を有すること特徴とする請求項25に記載の放射線検出装置。
- 前記変換素子と前記第2のシンチレータ層との距離が100nm以上、50μm以下であることを特徴とする請求項25又は26に記載の放射線検出装置。
- 前記可撓性マトリクスアレイの前記可撓性支持体側とは反対側に配置された、可撓性光源を有することを特徴とする請求項17に記載の放射線検出装置。
- 前記変換素子は、入射した放射線を直接電気信号に変換する素子であり、前記可撓性支持体は絶縁層であることを特徴とする請求項17に記載の放射線検出装置。
- 請求項17から29のいずれかに記載の放射線検出装置と、
前記放射線検出装置からの信号を処理する信号処理手段と、
前記信号処理手段からの信号を記録するための記録手段と、
前記信号処理手段からの信号を表示するための表示手段と、
前記信号処理手段からの信号を伝送するための伝送手段と、
前記放射線を発生させるための放射線源とを具備することを特徴とする放射線撮像システム。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008273193A JP5142943B2 (ja) | 2007-11-05 | 2008-10-23 | 放射線検出装置の製造方法、放射線検出装置及び放射線撮像システム |
CN2008801140098A CN101842901B (zh) | 2007-11-05 | 2008-11-04 | 放射线检测装置的制造方法、放射线检测装置和放射线成像装置 |
EP08848253A EP2223339A2 (en) | 2007-11-05 | 2008-11-04 | Manufacturing method of radiation detecting apparatus, and radiation detecting apparatus and radiation imaging system |
KR1020107011741A KR101135797B1 (ko) | 2007-11-05 | 2008-11-04 | 방사선 검출 장치의 제조 방법, 방사선 검출 장치 및 방사선 촬상 시스템 |
US12/676,352 US8440977B2 (en) | 2007-11-05 | 2008-11-04 | Manufacturing method of radiation detecting apparatus, and radiation detecting apparatus and radiation imaging system |
PCT/JP2008/070370 WO2009060968A2 (en) | 2007-11-05 | 2008-11-04 | Manufacturing method of radiation detecting apparatus, and radiation detecting apparatus and radiation imaging system |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007287402 | 2007-11-05 | ||
JP2007287402 | 2007-11-05 | ||
JP2008273193A JP5142943B2 (ja) | 2007-11-05 | 2008-10-23 | 放射線検出装置の製造方法、放射線検出装置及び放射線撮像システム |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009133837A true JP2009133837A (ja) | 2009-06-18 |
JP2009133837A5 JP2009133837A5 (ja) | 2011-12-08 |
JP5142943B2 JP5142943B2 (ja) | 2013-02-13 |
Family
ID=40626313
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008273193A Active JP5142943B2 (ja) | 2007-11-05 | 2008-10-23 | 放射線検出装置の製造方法、放射線検出装置及び放射線撮像システム |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8440977B2 (ja) |
EP (1) | EP2223339A2 (ja) |
JP (1) | JP5142943B2 (ja) |
KR (1) | KR101135797B1 (ja) |
CN (1) | CN101842901B (ja) |
WO (1) | WO2009060968A2 (ja) |
Cited By (32)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010085266A (ja) * | 2008-09-30 | 2010-04-15 | Fujifilm Corp | 放射線検出装置及び放射線撮影システム |
WO2011043133A1 (ja) * | 2009-10-05 | 2011-04-14 | コニカミノルタエムジー株式会社 | 放射線画像検出カセッテ |
WO2011161897A1 (en) * | 2010-06-23 | 2011-12-29 | Canon Kabushiki Kaisha | Radiation image pickup apparatus, radiation image pickup system, and method for manufacturing radiation image pickup apparatus |
JP2012023346A (ja) * | 2010-06-18 | 2012-02-02 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 光センサ、光センサを搭載した半導体装置、および光センサによる光の測定方法 |
JP2012105879A (ja) * | 2010-11-18 | 2012-06-07 | Fujifilm Corp | 放射線画像撮影装置 |
CN102650698A (zh) * | 2011-02-24 | 2012-08-29 | 富士胶片株式会社 | 放射图像检测设备和放射摄影成像盒 |
WO2012115039A1 (ja) * | 2011-02-21 | 2012-08-30 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像検出装置及び放射線撮影装置 |
US20120217407A1 (en) * | 2011-02-25 | 2012-08-30 | Fujifilm Corporation | Radiological image detection apparatus and method of manufacturing the same |
JP2012168010A (ja) * | 2011-02-14 | 2012-09-06 | Fujifilm Corp | 放射線画像検出装置及びその製造方法 |
JP2012173276A (ja) * | 2011-02-24 | 2012-09-10 | Fujifilm Corp | 放射線画像検出装置及びその製造方法 |
CN102683367A (zh) * | 2011-03-17 | 2012-09-19 | 佳能株式会社 | 半导体装置及其制造方法 |
JP2012189385A (ja) * | 2011-03-09 | 2012-10-04 | Fujifilm Corp | 放射線画像検出装置の保守方法 |
JP2012256819A (ja) * | 2010-09-08 | 2012-12-27 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置 |
JP2013011490A (ja) * | 2011-06-28 | 2013-01-17 | Toshiba Corp | 放射線検出器及びその製造方法 |
JP2013064727A (ja) * | 2011-08-26 | 2013-04-11 | Fujifilm Corp | 放射線検出器および放射線画像撮影装置 |
JP2013174465A (ja) * | 2012-02-23 | 2013-09-05 | Canon Inc | 放射線検出装置 |
JP2015149497A (ja) * | 2010-01-15 | 2015-08-20 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置 |
JP2015179864A (ja) * | 2010-01-15 | 2015-10-08 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置 |
JP2016118527A (ja) * | 2014-12-22 | 2016-06-30 | キヤノン株式会社 | 放射線検出装置、及び放射線撮像システム |
JP2016136160A (ja) * | 2012-09-27 | 2016-07-28 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像検出装置 |
US9562979B2 (en) | 2009-07-30 | 2017-02-07 | Carestream Health, Inc. | Radiographic detector formed on scintillator |
KR101735479B1 (ko) * | 2015-06-25 | 2017-05-16 | 한국과학기술원 | 플렉서블 반도체 방사선 검출기의 제조방법, 이를 이용한 플렉서블 반도체 방사선 검출기 및 이를 포함하는 방사선 영상장치 |
JP2019520105A (ja) * | 2016-04-26 | 2019-07-18 | ソウル ナショナル ユニバーシティ ホスピタル | リアルタイム立体視のためのx線透視装置 |
WO2019181570A1 (ja) | 2018-03-19 | 2019-09-26 | 富士フイルム株式会社 | 放射線検出器、放射線画像撮影装置、及び製造方法 |
WO2019187923A1 (ja) * | 2018-03-26 | 2019-10-03 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像撮影装置 |
WO2019187921A1 (ja) * | 2018-03-26 | 2019-10-03 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像撮影装置 |
JP2021071379A (ja) * | 2019-10-30 | 2021-05-06 | キヤノン株式会社 | 放射線検出装置の製造方法 |
JP2021183964A (ja) * | 2020-05-22 | 2021-12-02 | 睿生光電股▲ふん▼有限公司InnoCare Optoelectronics Corporation | X線装置およびその製造方法 |
US11428827B2 (en) | 2018-11-22 | 2022-08-30 | Fujifilm Corporation | Radiation detector, radiographic imaging apparatus, and manufacturing method |
JP2023503529A (ja) * | 2019-12-09 | 2023-01-30 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ | X線検出器 |
TWI802655B (zh) * | 2018-03-26 | 2023-05-21 | 日商富士軟片股份有限公司 | 放射線圖像攝影裝置 |
US11802981B2 (en) | 2019-02-08 | 2023-10-31 | Fujifilm Corporation | Method of manufacturing radiation detector and radiographic imaging apparatus |
Families Citing this family (29)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2256814B1 (en) | 2009-05-29 | 2019-01-16 | Semiconductor Energy Laboratory Co, Ltd. | Oxide semiconductor device and method for manufacturing the same |
WO2011013523A1 (en) | 2009-07-31 | 2011-02-03 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and method for manufacturing the same |
KR102526493B1 (ko) | 2009-07-31 | 2023-04-28 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 반도체 디바이스 및 그 형성 방법 |
JP5693174B2 (ja) * | 2010-11-22 | 2015-04-01 | キヤノン株式会社 | 放射線検出装置及び放射線検出システム |
JP5460572B2 (ja) * | 2010-12-27 | 2014-04-02 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像検出装置及びその製造方法 |
JP2012145537A (ja) * | 2011-01-14 | 2012-08-02 | Canon Inc | 放射線検出装置、放射線検出システム、及び放射線検出装置の製造方法 |
JP5874201B2 (ja) * | 2011-05-30 | 2016-03-02 | ソニー株式会社 | 放射線撮像装置および放射線撮像表示システム |
CN102262313B (zh) * | 2011-08-02 | 2014-03-05 | 深超光电(深圳)有限公司 | 一种液晶显示装置及其制造方法 |
KR101358849B1 (ko) * | 2012-01-30 | 2014-02-05 | 주식회사 레이언스 | 방사선 검출 패널 |
FR2996954B1 (fr) * | 2012-10-15 | 2014-12-05 | Commissariat Energie Atomique | Detecteur courbe de particules gazeux |
TWI559064B (zh) | 2012-10-19 | 2016-11-21 | Japan Display Inc | Display device |
KR101420250B1 (ko) * | 2012-11-26 | 2014-07-17 | 한국전기연구원 | 플렉서블 엑스레이 디텍터의 제조 방법 및 플렉서블 엑스레이 디텍터를 갖는 방사선 검출 장치 |
US9935152B2 (en) | 2012-12-27 | 2018-04-03 | General Electric Company | X-ray detector having improved noise performance |
US9917133B2 (en) * | 2013-12-12 | 2018-03-13 | General Electric Company | Optoelectronic device with flexible substrate |
US10732131B2 (en) * | 2014-03-13 | 2020-08-04 | General Electric Company | Curved digital X-ray detector for weld inspection |
EP3038349B1 (en) * | 2014-12-22 | 2018-03-14 | Canon Kabushiki Kaisha | Radiation detection apparatus and radiation imaging system |
CN107300712B (zh) * | 2016-04-14 | 2021-08-17 | 中国辐射防护研究院 | 一种可同时测量β、γ能谱的层叠型闪烁体探测器的测量方法 |
JP2017203672A (ja) * | 2016-05-11 | 2017-11-16 | 東芝電子管デバイス株式会社 | 放射線検出器 |
CN106291654B (zh) * | 2016-08-31 | 2018-04-06 | 京东方科技集团股份有限公司 | 辐射检测器及其制造方法 |
CN110100311B (zh) * | 2016-12-27 | 2023-06-27 | 夏普株式会社 | 摄像面板及其制造方法 |
CN107507844A (zh) * | 2017-06-06 | 2017-12-22 | 上海奕瑞光电子科技有限公司 | 柔性x射线成像传感器及其制备方法 |
CN107742628A (zh) * | 2017-09-12 | 2018-02-27 | 奕瑞影像科技(太仓)有限公司 | 柔性闪烁屏、放射线图像传感器及其制备方法 |
US10353083B2 (en) * | 2017-09-12 | 2019-07-16 | Palo Alto Research Center Incorporated | Monolithic digital x-ray detector stack with energy resolution |
CN108010928A (zh) * | 2017-11-02 | 2018-05-08 | 上海奕瑞光电子科技股份有限公司 | 一种柔性x射线传感器闪烁体层的直接生长方法 |
CN113725309B (zh) * | 2020-05-22 | 2024-07-30 | 睿生光电股份有限公司 | X射线装置及其制造方法 |
CN114023845B (zh) * | 2020-07-17 | 2024-08-20 | 睿生光电股份有限公司 | X射线装置及其制造方法 |
US11843022B2 (en) * | 2020-12-03 | 2023-12-12 | Sharp Kabushiki Kaisha | X-ray imaging panel and method of manufacturing X-ray imaging panel |
JP2022092708A (ja) * | 2020-12-11 | 2022-06-23 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置の製造方法および放射線撮像装置 |
US11916094B2 (en) * | 2021-08-02 | 2024-02-27 | Sharp Display Technology Corporation | Photoelectric conversion panel and method for manufacturing photoelectric conversion panel |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1998032179A1 (fr) * | 1997-01-21 | 1998-07-23 | Thomson Tubes Electroniques | Procede de scellement etanche d'un detecteur de rayonnement et detecteur obtenu par ce procede |
JP2001330678A (ja) * | 2000-05-19 | 2001-11-30 | Hamamatsu Photonics Kk | 放射線検出器 |
JP2002148343A (ja) * | 2000-11-07 | 2002-05-22 | Canon Inc | 放射線検出器及びそれを用いた放射線撮像システム |
WO2004079396A1 (ja) * | 2003-03-07 | 2004-09-16 | Hamamatsu Photonics K.K. | シンチレータパネルおよび放射線イメージセンサの製造方法 |
JP2005172511A (ja) * | 2003-12-09 | 2005-06-30 | Canon Inc | 放射線検出装置、その製造方法、および放射線撮像システム |
JP2005201807A (ja) * | 2004-01-16 | 2005-07-28 | Fuji Photo Film Co Ltd | 放射線画像記録読取装置および画像表示装置並びにそれらの製造方法 |
Family Cites Families (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3957803B2 (ja) * | 1996-02-22 | 2007-08-15 | キヤノン株式会社 | 光電変換装置 |
EP1758169A3 (en) | 1996-08-27 | 2007-05-23 | Seiko Epson Corporation | Exfoliating method, transferring method of thin film device, and thin film device, thin film integrated circuit device, and liquid crystal display device produced by the same |
US6127199A (en) * | 1996-11-12 | 2000-10-03 | Seiko Epson Corporation | Manufacturing method of active matrix substrate, active matrix substrate and liquid crystal display device |
JP3869952B2 (ja) * | 1998-09-21 | 2007-01-17 | キヤノン株式会社 | 光電変換装置とそれを用いたx線撮像装置 |
US6847039B2 (en) * | 2001-03-28 | 2005-01-25 | Canon Kabushiki Kaisha | Photodetecting device, radiation detecting device, and radiation imaging system |
US6765187B2 (en) * | 2001-06-27 | 2004-07-20 | Canon Kabushiki Kaisha | Imaging apparatus |
US7351300B2 (en) * | 2001-08-22 | 2008-04-01 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Peeling method and method of manufacturing semiconductor device |
US7034309B2 (en) * | 2001-11-13 | 2006-04-25 | Canon Kabushiki Kaisha | Radiation detecting apparatus and method of driving the same |
US7214945B2 (en) * | 2002-06-11 | 2007-05-08 | Canon Kabushiki Kaisha | Radiation detecting apparatus, manufacturing method therefor, and radiation image pickup system |
US7078702B2 (en) * | 2002-07-25 | 2006-07-18 | General Electric Company | Imager |
EP1420453B1 (en) * | 2002-11-13 | 2011-03-09 | Canon Kabushiki Kaisha | Image pickup apparatus, radiation image pickup apparatus and radiation image pickup system |
JP4522044B2 (ja) * | 2002-11-15 | 2010-08-11 | キヤノン株式会社 | 放射線撮影装置 |
US7193218B2 (en) * | 2003-10-29 | 2007-03-20 | Canon Kabushiki Kaisha | Radiation detection device, method of producing the same, and radiation image pick-up system |
CN101002110B (zh) * | 2004-08-10 | 2010-12-08 | 佳能株式会社 | 放射线探测装置、闪烁体板及其制造方法和放射线探测系统 |
JP2008514965A (ja) * | 2004-09-30 | 2008-05-08 | スタンフォード ユニバーシティ | 半導体結晶高解像度撮像装置 |
JP5207583B2 (ja) * | 2005-07-25 | 2013-06-12 | キヤノン株式会社 | 放射線検出装置および放射線検出システム |
US7696481B2 (en) * | 2005-11-22 | 2010-04-13 | General Electric Company | Multi-layered detector system for high resolution computed tomography |
DE102005056048B4 (de) * | 2005-11-24 | 2012-08-09 | Siemens Ag | Flachbilddetektor |
JP4875349B2 (ja) | 2005-11-24 | 2012-02-15 | キヤノン株式会社 | 放射線検出装置、放射線撮像システム、および検出装置 |
JP4920994B2 (ja) * | 2006-03-02 | 2012-04-18 | キヤノン株式会社 | シンチレータパネル、放射線検出装置及び放射線検出システム |
-
2008
- 2008-10-23 JP JP2008273193A patent/JP5142943B2/ja active Active
- 2008-11-04 CN CN2008801140098A patent/CN101842901B/zh active Active
- 2008-11-04 KR KR1020107011741A patent/KR101135797B1/ko active IP Right Grant
- 2008-11-04 EP EP08848253A patent/EP2223339A2/en not_active Withdrawn
- 2008-11-04 US US12/676,352 patent/US8440977B2/en active Active
- 2008-11-04 WO PCT/JP2008/070370 patent/WO2009060968A2/en active Application Filing
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1998032179A1 (fr) * | 1997-01-21 | 1998-07-23 | Thomson Tubes Electroniques | Procede de scellement etanche d'un detecteur de rayonnement et detecteur obtenu par ce procede |
JP2001330678A (ja) * | 2000-05-19 | 2001-11-30 | Hamamatsu Photonics Kk | 放射線検出器 |
JP2002148343A (ja) * | 2000-11-07 | 2002-05-22 | Canon Inc | 放射線検出器及びそれを用いた放射線撮像システム |
WO2004079396A1 (ja) * | 2003-03-07 | 2004-09-16 | Hamamatsu Photonics K.K. | シンチレータパネルおよび放射線イメージセンサの製造方法 |
JP2005172511A (ja) * | 2003-12-09 | 2005-06-30 | Canon Inc | 放射線検出装置、その製造方法、および放射線撮像システム |
JP2005201807A (ja) * | 2004-01-16 | 2005-07-28 | Fuji Photo Film Co Ltd | 放射線画像記録読取装置および画像表示装置並びにそれらの製造方法 |
Cited By (59)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010085266A (ja) * | 2008-09-30 | 2010-04-15 | Fujifilm Corp | 放射線検出装置及び放射線撮影システム |
US9562979B2 (en) | 2009-07-30 | 2017-02-07 | Carestream Health, Inc. | Radiographic detector formed on scintillator |
JP5672234B2 (ja) * | 2009-10-05 | 2015-02-18 | コニカミノルタ株式会社 | 放射線画像検出カセッテ |
WO2011043133A1 (ja) * | 2009-10-05 | 2011-04-14 | コニカミノルタエムジー株式会社 | 放射線画像検出カセッテ |
CN102549455A (zh) * | 2009-10-05 | 2012-07-04 | 柯尼卡美能达医疗印刷器材株式会社 | 放射线图像检测盒 |
US10095076B2 (en) | 2010-01-15 | 2018-10-09 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device having a backlight and light-receiving element |
US9575381B2 (en) | 2010-01-15 | 2017-02-21 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and method for driving the same |
JP2015149497A (ja) * | 2010-01-15 | 2015-08-20 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置 |
US9871526B2 (en) | 2010-01-15 | 2018-01-16 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and electronic device including analog/digital converter |
JP2015179864A (ja) * | 2010-01-15 | 2015-10-08 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置 |
JP2012023346A (ja) * | 2010-06-18 | 2012-02-02 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 光センサ、光センサを搭載した半導体装置、および光センサによる光の測定方法 |
KR101937124B1 (ko) * | 2010-06-18 | 2019-01-11 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 광 센서, 광 센서를 탑재한 반도체 장치, 및 광 센서에 의한 광의 측정 방법 |
US9142569B2 (en) | 2010-06-18 | 2015-09-22 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Photosensor, semiconductor device including photosensor, and light measurement method using photosensor |
US9059343B2 (en) | 2010-06-23 | 2015-06-16 | Canon Kabushiki Kaisha | Radiation image pickup apparatus, radiation image pickup system, and method for manufacturing radiation image pickup apparatus |
WO2011161897A1 (en) * | 2010-06-23 | 2011-12-29 | Canon Kabushiki Kaisha | Radiation image pickup apparatus, radiation image pickup system, and method for manufacturing radiation image pickup apparatus |
JP2012256819A (ja) * | 2010-09-08 | 2012-12-27 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置 |
JP2012105879A (ja) * | 2010-11-18 | 2012-06-07 | Fujifilm Corp | 放射線画像撮影装置 |
JP2012168010A (ja) * | 2011-02-14 | 2012-09-06 | Fujifilm Corp | 放射線画像検出装置及びその製造方法 |
WO2012115039A1 (ja) * | 2011-02-21 | 2012-08-30 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像検出装置及び放射線撮影装置 |
JP2012173128A (ja) * | 2011-02-21 | 2012-09-10 | Fujifilm Corp | 放射線画像検出装置及び放射線撮影装置 |
US8803101B2 (en) | 2011-02-21 | 2014-08-12 | Fujifilm Corporation | Radiological image detection apparatus and radiation imaging apparatus |
JP2012173276A (ja) * | 2011-02-24 | 2012-09-10 | Fujifilm Corp | 放射線画像検出装置及びその製造方法 |
US8642967B2 (en) | 2011-02-24 | 2014-02-04 | Fujifilm Corporation | Radiological image detection apparatus and method of manufacturing the same |
US8861680B2 (en) | 2011-02-24 | 2014-10-14 | Fujifilm Corporation | Radiological image detection apparatus and radiographic imaging cassette |
JP2012173275A (ja) * | 2011-02-24 | 2012-09-10 | Fujifilm Corp | 放射線画像検出装置及び放射線撮影用カセッテ |
CN102650698A (zh) * | 2011-02-24 | 2012-08-29 | 富士胶片株式会社 | 放射图像检测设备和放射摄影成像盒 |
JP2012177624A (ja) * | 2011-02-25 | 2012-09-13 | Fujifilm Corp | 放射線画像検出装置及び放射線画像検出装置の製造方法 |
US8704184B2 (en) * | 2011-02-25 | 2014-04-22 | Fujifilm Corporation | Radiological image detection apparatus and method of manufacturing the same |
US20120217407A1 (en) * | 2011-02-25 | 2012-08-30 | Fujifilm Corporation | Radiological image detection apparatus and method of manufacturing the same |
JP2012189385A (ja) * | 2011-03-09 | 2012-10-04 | Fujifilm Corp | 放射線画像検出装置の保守方法 |
US8680459B2 (en) | 2011-03-09 | 2014-03-25 | Fujifilm Corporation | Maintenance method of radiological image detection apparatus |
CN102683367A (zh) * | 2011-03-17 | 2012-09-19 | 佳能株式会社 | 半导体装置及其制造方法 |
US8508011B2 (en) | 2011-03-17 | 2013-08-13 | Canon Kabushiki Kaisha | Semiconductor apparatus and method of manufacturing the same |
JP2013011490A (ja) * | 2011-06-28 | 2013-01-17 | Toshiba Corp | 放射線検出器及びその製造方法 |
JP2013064727A (ja) * | 2011-08-26 | 2013-04-11 | Fujifilm Corp | 放射線検出器および放射線画像撮影装置 |
US9182504B2 (en) | 2011-08-26 | 2015-11-10 | Fujifilm Corporation | Radiation detector and radiological image radiographing apparatus |
US9784853B2 (en) | 2011-08-26 | 2017-10-10 | Fujifilm Corporation | Radiation detector and radiological image radiographing apparatus |
JP2013174465A (ja) * | 2012-02-23 | 2013-09-05 | Canon Inc | 放射線検出装置 |
JP2016136160A (ja) * | 2012-09-27 | 2016-07-28 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像検出装置 |
JP2016118527A (ja) * | 2014-12-22 | 2016-06-30 | キヤノン株式会社 | 放射線検出装置、及び放射線撮像システム |
KR101735479B1 (ko) * | 2015-06-25 | 2017-05-16 | 한국과학기술원 | 플렉서블 반도체 방사선 검출기의 제조방법, 이를 이용한 플렉서블 반도체 방사선 검출기 및 이를 포함하는 방사선 영상장치 |
US10722202B2 (en) | 2016-04-26 | 2020-07-28 | Seoul National University Hospital | X-ray apparatus for real-time three-dimensional view |
JP2019520105A (ja) * | 2016-04-26 | 2019-07-18 | ソウル ナショナル ユニバーシティ ホスピタル | リアルタイム立体視のためのx線透視装置 |
WO2019181570A1 (ja) | 2018-03-19 | 2019-09-26 | 富士フイルム株式会社 | 放射線検出器、放射線画像撮影装置、及び製造方法 |
US11630221B2 (en) | 2018-03-19 | 2023-04-18 | Fujifilm Corporation | Radiation detector, radiographic imaging device, and manufacturing method |
WO2019187921A1 (ja) * | 2018-03-26 | 2019-10-03 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像撮影装置 |
TWI802655B (zh) * | 2018-03-26 | 2023-05-21 | 日商富士軟片股份有限公司 | 放射線圖像攝影裝置 |
JPWO2019187923A1 (ja) * | 2018-03-26 | 2020-12-03 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像撮影装置 |
JPWO2019187921A1 (ja) * | 2018-03-26 | 2020-12-03 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像撮影装置 |
WO2019187923A1 (ja) * | 2018-03-26 | 2019-10-03 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像撮影装置 |
US11415715B2 (en) | 2018-03-26 | 2022-08-16 | Fujifilm Corporation | Radiation image capturing apparatus |
US11520057B2 (en) | 2018-03-26 | 2022-12-06 | Fujifilm Corporation | Radiation image capturing apparatus |
US11428827B2 (en) | 2018-11-22 | 2022-08-30 | Fujifilm Corporation | Radiation detector, radiographic imaging apparatus, and manufacturing method |
US11802981B2 (en) | 2019-02-08 | 2023-10-31 | Fujifilm Corporation | Method of manufacturing radiation detector and radiographic imaging apparatus |
JP2021071379A (ja) * | 2019-10-30 | 2021-05-06 | キヤノン株式会社 | 放射線検出装置の製造方法 |
JP7337663B2 (ja) | 2019-10-30 | 2023-09-04 | キヤノン株式会社 | 放射線検出装置の製造方法 |
JP2023503529A (ja) * | 2019-12-09 | 2023-01-30 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ | X線検出器 |
JP2021183964A (ja) * | 2020-05-22 | 2021-12-02 | 睿生光電股▲ふん▼有限公司InnoCare Optoelectronics Corporation | X線装置およびその製造方法 |
US11681057B2 (en) | 2020-05-22 | 2023-06-20 | Innocare Optoelectronics Corporation | X-ray device and manufacturing method thereof |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2009060968A3 (en) | 2009-12-23 |
KR20100072363A (ko) | 2010-06-30 |
WO2009060968A2 (en) | 2009-05-14 |
US20100193691A1 (en) | 2010-08-05 |
CN101842901B (zh) | 2012-03-28 |
KR101135797B1 (ko) | 2012-04-16 |
CN101842901A (zh) | 2010-09-22 |
US8440977B2 (en) | 2013-05-14 |
EP2223339A2 (en) | 2010-09-01 |
JP5142943B2 (ja) | 2013-02-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5142943B2 (ja) | 放射線検出装置の製造方法、放射線検出装置及び放射線撮像システム | |
JP5693174B2 (ja) | 放射線検出装置及び放射線検出システム | |
US8067743B2 (en) | Imaging apparatus and radiation imaging apparatus | |
JP4845352B2 (ja) | 放射線撮像装置、その製造方法及び放射線撮像システム | |
US8680472B2 (en) | Radiation detecting apparatus and radiation imaging system | |
JP5693173B2 (ja) | 放射線検出装置及び放射線検出システム | |
JP5043374B2 (ja) | 変換装置、放射線検出装置、及び放射線検出システム | |
JP5043373B2 (ja) | 変換装置、放射線検出装置、及び放射線検出システム | |
JP4908947B2 (ja) | 変換装置、放射線検出装置、及び放射線検出システム | |
WO2011148943A1 (ja) | 放射線画像撮影装置 | |
US9177922B2 (en) | Electric device, method for manufacturing the same, and radiation inspection apparatus | |
JP5403848B2 (ja) | 放射線検出装置及び放射線検出システム | |
JP2004015000A (ja) | 放射線検出装置及び放射線撮像システム | |
JP2006186031A (ja) | 光電変換装置及び放射線撮像装置 | |
JP2004303925A (ja) | 撮像用基板 | |
JP2002289824A (ja) | 光検出装置、放射線検出装置および放射線撮像システム | |
JP2003014854A (ja) | 放射線検出装置 | |
JP2006128645A (ja) | 撮像装置、放射線撮像装置、及び放射線撮像システム | |
JP2002139572A (ja) | 放射線検出装置及び放射線撮像システム | |
JP2005136330A (ja) | 撮像装置及び放射線撮像システム | |
JP2007103577A (ja) | 電磁波検出装置及び放射線撮像システム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20100201 |
|
RD01 | Notification of change of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421 Effective date: 20100630 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20111021 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20111021 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120424 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120621 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20121023 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20121120 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151130 Year of fee payment: 3 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 5142943 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |