JP2008512858A - エミッタラップスルーバックコンタクト太陽電池の製造プロセス及び製法 - Google Patents

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Abstract

裏面構造を含んだバックコンタクト太陽電池とその製法が開示されている。裏面はドープ処理されてnエミッタを形成し、その後に誘電層で被膜される。裏面の小領域がスクライブ処理され、p型コンタクトが領域に形成される。大きな導電グリッド領域がその誘電層を覆う。この製法はp型基板の裏面のp型コンタクト面積を最小化し、n型ドープ領域を最大化することで効率を高める。
【選択図】 図8

Description

本発明はバックコンタクトシリコン太陽電池の製法と製造プロセス並びに本発明の製法で製造された太陽電池に関する。
(関連出願)
本願は、2004年9月7日出願の米国仮特許願60/607984「エミッタラップスルーバックコンタクト太陽電池の改良プロセス及び製法」並びに2005年8月11日出願の米国仮特許願60/707648「エミッタラップスルーバックコンタクト太陽電池のさらなる改良プロセス及び製法」の優先権を主張する。本願はまた、2004年2月5日出願の米国仮特許願60/542390「バックコンタクトシリコン太陽電池の製造」及び2004年2月5日出願の米国仮特許願60/542454「自動ドープコンタクトを使用した埋込コンタクト電池の製造プロセス」の優先権を主張し、全て2005年2月3日出願された米国特許願11/050185「バックコンタクト太陽電池及び製法」、米国特許願11/050182「自動ドープコンタクトを備えた埋込コンタクト太陽電池」並びに米国特許願11/050184「エミッタラップスルーバックコンタクトシリコン太陽電池のコンタクト製造法」の一部継続出願でもある。
(背景技術)
前面及び裏面の両方にコンタクトを有した通常のシリコン太陽電池と較べてバックコンタクト太陽電池はいくつかの利点を備えている。まずコンタクト遮蔽損失(コンタクトグリッドから反射した太陽光は電気変換不能)が減少あるいは排除されるため、バックコンタクト電池は高い変換効率を有する。さらに両極性コンタクトが同一面に提供されるため、バックコンタクト電池を電気回路に組み込むことは容易であり、よって安価である。1例としては、光起電モジュール及び太陽電池回路を1ステップでカプセル化することでバックコンタクト電池は従来の光起電モジュール構造体と比較して大幅に向上したコスト削減を提供する。また均一な外見によって美観が向上している。建造物と一体化した光起電システム並びに乗用車の光起電サンルーフ等、利用形態によっては外観は非常に重要な要素である。
基本的なバックコンタクト太陽電池は図1に図示されている。このシリコン基板はn型であってもp型であってもよい。デザインによっては重(多量)ドープエミッタ(n++及びp++)の1つが省略されることがある。あるいは、デザインによっては重ドープエミッタは基板の裏面で互いに直接的に接触できる。裏面不活性化は裏面での光発生キャリアの損失の低減を助け、コンタクト間の非ドープ面でシャント(分流)電流による電気損失を低減化する。図面は裏面の特徴部のみを図示している。
バックコンタクトシリコン太陽電池を製造する幾つかの方法が存在する。それらは例えば、金属化ラップアラウンド(MWA)、金属化ラップスルー(MWT)、エミッタラップスルー(EWT)及びバックジャンクション構造を含む。MWAとMWTは集電グリッドを前面に有している。これらグリッドはバックコンタクト電池を製造するためにそれぞれエッジ周囲に巻きつけられ、あるいは孔部を通過して裏面に達している。EWT電池は集電ジャンクション(エミッタ)をシリコンウェハのドープされた導電チャンネル(溝)を介して前面から裏面に巻き付けている。“エミッタ”とは半導体デバイス(装置)の重ドープされた領域のことである。そのような導電チャンネルは、例えば、レーザでシリコン基板に孔部をドリル加工し、引き続いてエミッタを前面と裏面に形成すると同時にドリル孔部内にエミッタを形成することで提供される。バックジャンクション電池は太陽電池の裏面に負極集電ジャンクションと正極集電ジャンクションの両方を有している。ほとんどの光は前面付近で吸収され、ほとんどのキャリアが光発生するので、バックジャンクション電池はキャリアが裏側の集電ジャンクションで前面から裏面へ拡散するのに充分な時間を有することができるようにする高品質の材料を必要とする。一方、EWT電池は集電ジャンクションを前面に維持する。これは高集電効率には有利である。このEWT電池はジェームズ・M・ジーの米国特許5468652「バックコンタクト太陽電池の製造方法」で開示されている。様々な他のバックコンタクト電池デザインも多数の技術文献で解説されている。
米国特許5468652に加えて、ジーが共同発明者である他の2つの米国特許(米国特許5961786「バックコンタクト太陽電池を利用した積層光起電モジュール」及び米国特許5972732「モノリス型モジュール構造体の製造方法」)がバックコンタクト電池を使用したモジュール構造体と積層の製造方法を開示する。両特許は本発明で利用できる方法と特徴とを開示している。米国特許6384316「太陽電池とその製法」は別なバックコンタクト電池デザインを開示するが、MWTを利用しており、孔部やバイアスは比較的に離れて提供されており、前面には金属コンタクトが提供され、裏面に電流を導いており、孔部は金属で内側が被膜されている。
ドイツのミュンヘン市で2001年10月22日から26日にかけて開催された第17回欧州光起電太陽エネルギー会議で発表されたアイケルブームタの「構築された金属フォイル上の無ブスバエミッタラップスルー太陽電池のインターコネクション用導電性接着剤」は、共焼成Ag/Al合金のp型コンタクトを使用した太陽電池の製造方法を開示しており、図2から図5にかけて図示されており、以下のプロセスを有している。
1.p型シリコンウェハ2をエッチング及び洗浄する。
2.両面に軽POCl(n)拡散部4(100オーム/単位面積)を提供する。
3.HFエッチング及び洗浄する。
4.両面に拡散バリアとしてSiN層6を堆積する。この段階の太陽電池は図2に図示されている。
5.n型コンタクト用に孔部8をレーザドリル加工し、p型コンタクト用に溝10をスクライブする。
6.レーザ損傷エッチング及び洗浄する。この段階の太陽電池は図3に図示されている。
7.n++拡散部12を形成するためにリンを太陽電池内に拡散させる重POCl拡散を施す。
8.HFエッチングする
9.p型グリッド16用にAlペーストを印刷する。
10.n型グリッド18用に金属ペーストを印刷する。
11.コンタクトを共焼成する。pのAl合金ジャンクション20はp型コンタクト溝のn++拡散部をオーバドープする。この段階の太陽電池は図5に図示されている。
得られる電池は合金Alグリッドの非常に低い導電性を有するものである。
全てのバックコンタクトシリコン太陽電池の重大な課題は負極グリッドとジャンクション及び正極グリッドとジャンクションを電気的に隔離する低コストなプロセスの開発である。この技術課題はドープ層のパターン化、負コンタクト領域と正コンタクト領域との間の表面不活性化、並びに負極コンタクトと正極コンタクトの利用方法である。
本発明はバックコンタクト太陽電池の製法を提供する。この製法は第1導電型を含んだ半導体基板を提供するステップと、裏面に対極(反対極性)導電型を含んだ拡散部を提供するステップと、裏面に誘電層を堆積するステップと、基板の前面から裏面にまで延びる複数の孔部を形成するステップと、裏面の1または複数の領域から拡散部と誘電層とを除去するステップと、それぞれの領域に第1導電型を含んだコンタクトを提供するステップと、それらコンタクトと電気接触状態にて裏面に第1導電グリッドを堆積して提供するステップと、孔部内の拡散部と電気接触状態にて裏面に第2導電グリッドを提供するステップとを含んでいる。コンタクト提供ステップは好適には基板を、好適にはホウ素及びアルミニウムで成る群から選択される元素を含むドーパントでドープするステップを含んでいる。第1導電グリッドは好適にはそのドーパントを含まない。拡散部を提供するステップは好適には基板を好適にはPOClを含んだガスに曝露するステップを含んでいる。第1導電グリッドは好適には第2導電グリッドと櫛状に組み合わされている。
オプションでは、裏面に誘電層を堆積するステップは前面に誘電層を堆積するステップを含み、コンタクト提供ステップは孔部の内面に対極導電型を含む第2拡散部を同時的に提供するステップを含む。この製法はオプションで、好適には表面を酸化処理または表面に不活性層を堆積する方法を利用して、前面と裏面の一方または両方に不活性層を提供するステップをさらに含む。
この製法はオプションで孔部内面及び領域を好適にはニッケルを含んだメッキ金属コンタクト層で被膜するするステップをさらに含む。この被膜ステップはコンタクト提供ステップの後であって、導電グリッド提供ステップの前に実施される。コンタクト層は好適には無電メッキによりメッキされる。この製法はオプションで拡散部と誘電層の除去ステップの後で第2拡散部を提供するステップをさらに含む。第2拡散部は孔部の内面と領域に対極導電型を含んでおり、コンタクト提供ステップは第2拡散部をオーバドープするステップを含んでいる。
本発明は前述の方法のいずれかで製造されたバックコンタクト太陽電池をも提供する。本発明はさらに金属、好適にはニッケルを含んだ金属のメッキ層を含んだバックコンタクト太陽電池をも提供し、このメッキ層は基板のドープ領域と導電グリッドとの間に提供され、導電グリッドはその金属を含まない。
本発明はバックコンタクト太陽電池並びに、以下のステップを含んだ製法をも提供する。この製法は、第1導電型を含んだ半導体基板を提供するステップと、裏面にパターン化誘電層を堆積して提供するステップと、誘電層に覆われていない裏面の露出部分に対極導電型を含んだ拡散部を提供するステップと、露出部分並びに露出部分に隣接する誘電層に金属を被膜するステップと、その金属を焼成するステップとを含んでいる。誘電層を提供するステップは好適には誘電層のスクリーン印刷ステップを含んでいる。誘電層提供ステップはPOCl及びPHで成る群から選択されるガスを使用するステップを含んでいる。この金属は好適には第1導電型のドーパントを含んでいる。金属被膜ステップは好適にはその金属を含んだペーストをスクリーン印刷するステップを含んでいる。焼成ステップは好適には露出部分の拡散部をその金属でスパイキング(スパイク状)するステップを含んでいる。
本発明の1目的は、効率アップのために最小のp型コンタクト領域及び最大のn型拡散部またはnエミッタと組み合わせ、導電性を増強するために太いグリッドラインを含んだバックコンタクト太陽電池の裏面コンタクト構造物を提供することである。
本発明の利点は、高効率太陽電池を製造する低コスト加工ステップを有した製造プロセスを提供することである。
本発明の他の目的、利点並びに新規な特徴及び適用範囲は図面を利用した以下の詳細な説明により解説されている。
本発明はバックコンタクト太陽電池の改良された製法とプロセスを提供する。特に、低コストである製法とプロセスを提供する。ここでは異なる別々の製法が開示されているが、それらの組み合わせ及び変形は可能である。図並びに実施例のプロセスはバックコンタクトエミッタラップスルー電池の製法を解説するが、それらプロセスはMWT、MWAまたはバックジャンクション太陽電池のごとき他のバックコンタクト電池構造体の製造にも利用できる。
本発明のプロセスは好適にはp型コンタクトのパターン化において、所望パターンで提供される拡散バリア材料の印刷(すなわちスクリーン印刷)ではなくレーザ(レーザスクライビング)を利用する。スクリーン印刷拡散バリアのパターン化はシリコンウェハとの低品質インターフェース、例えば低品質の不活性化されたインターフェースを提供する。コンタクト領域のレーザスクライビングによって、蒸着またはCVDのごとき堆積プロセスが拡散層の堆積に使用でき、所望通りに調整されたシリコンとのインターフェースが提供される。また標準スクリーン印刷プロセスでは、拡散バリアは典型的にはリンまたはPOCl拡散部が提供される前に印刷される。拡散バリアをリン拡散処理後に堆積することで、エミッタはp型溝にまで完全に延びることができ、電池効率を大きく向上させる。スクライビングまたは直接パターン化の他の方法、例えば、ダイシングソー、ダイヤモンドスクライビングまたはスクリーン印刷あるいはインクジェット印刷で利用されるHFエチャントペーストをオプションで利用することができる。
p型コンタクトのパターン化にレーザを使用すると、他のいくつかの利点が得られる。まずレーザパターン化は大幅に向上した繊細な図形と解像度を提供する。解像度は好適には1μmから100μmであり、さらに好適には10μmから100μmであり、スクリーン印刷で達成できるものより大幅に向上している。特にシリコン太陽電池に典型的な粗面において向上している。これら繊細な図形の提供によりEWT電池の効率がp型コンタクトの面積最小化で最大化できる。さらに印刷ステップにおいて位置合わせ許容度が広くなる。Agグリッド(好適には100μmから1000μm幅、通常は400μm幅)はレーザドリル加工された孔部及びレーザスクライビングされた溝(10μmから100μm、通常は50μm)をカバーするだけであり、整合誤差の広い許容度を提供する。一方、全印刷プロセスはAgグリッドの150μmから300μm(通常は200μm)の拡散バリア露出部への整合を必要とする。この数字はAgグリッド幅に近く、誤差の許容度が相対的に狭い。
ここではp型コンタクトのドーピングにAl合金またはホウ素拡散部を使用するプロセスが開示されている。しかし、Ga及びIn等の他のp型ドーパントでも使用できる。同様に、リンに代わってどのようなn型ドーパントでも使用できる。本発明では好適にはp型コンタクトの重p型ドーピングが裏面のp型コンタクトをn型コンタクト拡散部から電気的に隔離するために使用される。ドーパントプロセスに関わる課題はそれらのジャンクションでのn型拡散部とp型拡散部のシャント問題の解消である。これはp型金属化に影響されるであろう。
図6から図8は次のホウ素拡散プロセスに従って製造された太陽電子を図示する。
1.ウェハをエッチング及び洗浄する。
2.両面に軽POCl拡散(好適には約70から140オーム/単位面積)処理する。
3.HFエッチング及び洗浄する。
4.酸化または不活性層を被膜する(オプション)。この層は前面、裏面、ウェハ面あるいはそれらの組み合わせにおいて望ましい。
5.両面に拡散バリアとしてSiN層を被膜する。
6.n型コンタクト用の孔部をレーザドリル加工し、p型コンタクト用の溝をスライビングする。
7.好適にはNaOHを使用してレーザダメージエッチング及び洗浄する。
8.p型溝またはピット内にホウ素含有ペースト24を印刷、乾燥及び焼成する。この段階の太陽電池は図6に図示されている。
9.n++拡散部12を形成するため、あるいはP含有ペーストを孔部に提供して拡散するために、リンを太陽電池内に拡散させるべく重POCl拡散処理(10から20オーム/単位面積)を施す。このホウ素は好適にはウェハに同時的に拡散し、p++層26を提供する。孔部にリンペーストではなくPOCl拡散を使用する1利点は、POClガスが孔部内にさらに均一な拡散部を提供するからである。この段階の太陽電池は図7に図示されている。
10.ホウ素含有ペースト及びP含有ペーストを除去するためにHFエッチングする(場合によってはオプション)。
11.櫛状になったAgのn型金属グリッド18並びにp型金属グリッド28を印刷し、n型領域とp型領域にそれぞれコンタクトを提供する。
12.コンタクトを共焼成する。この段階の太陽電池は図8に図示されている。
このプロセスではそれら2つのAg含有ペーストは好適には充分に低い活性を有し、SiN層にピンホール欠陥部を形成しないが、孔部と溝の内部でそれぞれn++層及びp++層に対して良好な電気接触を提供するには充分な活性を有している。SiN層はペーストがそれを貫通することを防止するのに必要な厚みで製造できる。SiN層は好適には約30nmから140nm厚であり、さらに好適には約80nm厚である。
コンタクト層はオプションでスパッタリング、CVCまたは蒸着のごとき薄膜被膜技術による高品質金属化を含む。これら技術はシリコンとコンタクトするための理想的な特性を備えた純粋金属の超薄膜を被膜させる。問題はこの薄膜被膜が非常にコスト高であり、個別パターン化ステップを必要とすることである。バックコンタクト太陽電池の薄膜並びにメッキ金属化を活用するプロセスはムリガン他(米国特許願「太陽電池の金属コンタクト構造とその製造方法」米国2004/0200520A1;2001年10月14日出願)により解説されている。
あるいはコンタクト層はニッケルメッキを含んでもよい。焼結Niコンタクトは焼成Agペーストコンタクトよりもずっと低い接触抵抗を有することができ、露出されたSi面に無電Niメッキにより容易に選択的堆積ができる。Niは焼結ステップ中に典型的には固化反応を行い、ケイ化ニッケルを形成する。その場合、ケイ化ニッケルはコンタクト層である。Niコンタクトは焼成Agコンタクトよりもジャンクションでシャントに関して少ない問題を提起するであろう。さらに、メッキプロセスを最良化することで、Niは存在するSiNまたは他の誘電層に堆積することを防止される。無電Niはメッキ金属化を全面的に使用するシリコン太陽電池で使用される。追加の利点は、NiメッキによってAg、Alまたは他のペーストが高集積度でコンタクトを形成するのに使用できるようにインターフェースが改善されることである。
全メッキ金属化電池技術の無電メッキの問題点は無電メッキ速度が非常に低速であることである。しかし本発明は電気接触には薄膜、好適には約10nmから1000nm(最適には約100nm)厚の膜を必要とするだけである。好適にはスクリーン印刷されたAgグリッドが導電体に適用される。この適用には好適には低温で焼成されるAgペーストが使用され、Niコンタクト及び下側のシリコンとの冶金作用を最小化する。CuはAgよりも容易に酸化するので好適には非酸化金属または酸化防止剤で被膜処理されるが、スクリーン印刷されたCuグリッドを代用することができる。あるいはNi等の基礎金属が印刷でき、導電性はAgまたはCu等のさらに導電性が高い金属を(無電または電気)メッキすることで増大する。
ニッケルメッキされたコンタクトを製造するためにホウ素拡散されたEWTプロセスにニッケルメッキが採用された場合、ステップ10のHFエッチング後に好適には以下のステップが実施される。
11.Niコンタクト層34をメッキ(好適には無電メッキ)及び好適には焼結する。この段階の太陽電池は図9に図示されている。
12.Agのn型グリッド18及びAgのp型グリッド36を印刷し(好適には両極性グリッド用の低温Agペースト使用)、コンタクトを焼成/焼結する。この実施例では、好適には同一金属がn型コンタクトとp型コンタクトの両方に使用される。あるいは異なる材料が使用できる。この段階の太陽電池は図10に図示されている。銀または他の金属の厚コンタクトが印刷できる。あるいは薄コンタクト、好適にはさらなる金属層が無電メッキまたは電気メッキを利用して印刷できる。続く金属化は印刷されたものと同一金属または合金を必ずしも含まない。
ニッケルメッキされたコンタクトも図11から図13に示すごとくAl合金p型ジャンクションと共に使用できる。好適ステップは次を含む。
1.ウェハのエッチング及び洗浄をする。
2.両面に軽POCl拡散(好適には約70から140オーム/単位面積)処理する。
3.HFエッチング及び洗浄する。
4.表面及び側部(オプション)を酸化または不活性化層を堆積する。
5.拡散バリアとして両面にSiNを堆積する。
6.n型コンタクトに孔部をレーザドリル加工し、p型コンタクトの溝またはピットをスクライビングする。
7.好適にはNaOHを使用してレーザダメージエッチング及び洗浄する。
8.重POCl拡散(好適には約10から30オーム/単位面積)を施し、またはP含有ペーストを孔部に適用し、拡散する。
9.p型グリッド16のAlペーストを印刷する。
10.pコンタクト溝またはピットにn++拡散部をオーバドープするジャンクション20を形成するように合金Alを適用する。この段階の太陽電池は図11に図示されている。
11.Al金属と表面酸化物を除去するためにHCl及びHFエッチングする。
12.(無電)Niメッキを実施する。
13.Niコンタクト34を形成するように焼結する。この段階の太陽電池は図12に図示されている。
14.Agのn型グリッド18とAgのp型グリッド36(好適には両極グリッド用に低温Agペーストを使用)を印刷し、コンタクトを焼成/焼結する(あるいは無電メッキまたは電気メッキ金属化により金属化)。この段階の太陽電池は図13に図示されている。
NiはドープされたSiに低抵抗コンタクトを提供し、p型コンタクト領域の最小化と低温Agの利用を可能にする。低活性AgペーストはSiN及びNiケイ化物層を貫通させないために望ましい。
本発明の方法では、重pコンタクト拡散部が裏面のn拡散部と接触しているポテンシャルシャントが存在する。図10と図13参照。さらに正極Agグリッドは裏面のn拡散部にコンタクトすることができ、太陽電池をシャントする。オプションでは2種の材料がP−N接合ダイオードを形成するのでシャントは存在しない。またスパイキングは存在せずに最低量のトンネル現象のみが存在する。しかしこれら諸問題は、好適にはスクリーン印刷のごとき低コストプロセスを使用して裏面n拡散部とpコンタクト拡散部との間に非ドープ領域を設置する追加ステップを含むことで完全に回避できる。プロセスの1例は次のごとくである。
1.ウェハをエッチング及び洗浄する。
2.誘電材料を形成するペーストを印刷する。
3.ペーストを焼成して誘電体を形成する。
4.表面を洗浄及びエッチングする(オプション)。
5.両面に軽(例えば、70から150オーム/単位面積)リン拡散を施す。
6.酸化物をエッチングする。
7.両面に窒化ケイ素を堆積する。大きな屈折率を有し、シリコンプロセスと両立でき、シリコンとの良好なインターフェース特性を有した他の誘電材料(TiOまたはTa等)が代用できる。
8.n型バイアス用の孔部をレーザドリル加工し、p型コンタクト用のピットまたは溝をスクライビングする。
9.レーザ除去された特徴部をエッチング及び洗浄する。
10.p型レーザ除去された特徴部にホウ素または他のp型ドーパント拡散ソースを印刷する。
11.好適には、n型バイアスのドープのために重(例えば5から30オーム/単位面積)リン拡散部を提供し、ホウ素をp型コンタクト露出部に打ち込む。
12.拡散ガラスをエッチングする。
13.負極グリット及び正極グリッドを利用して焼きなます。
シャントを回避するためにp領域とn領域とを分離する別方法は好適には次のステップを含む。
1.好適にはレーザでp型シリコンウェハに孔部をドリル加工する。
2.ウェハをエッチング及び洗浄する。このステップはアルカリエッチングを含み、オプションで、吸収性改善のために前面を酸エッチングする。
3.好適にはPOClまたは別のn型ソースを使用してn型層104の形成のためにウェハ表面を、好適には約45から140オーム/単位面積の範囲で拡散処理する。
4.拡散ガラスをエッチングする。
5.レーザ、エッチングペースト、物理手法その他を活用して裏面のpコンタクト用の露出部をスクライビングする。好適にはこのステップはシリコンに欠陥を導入しない。なぜなら、それらをエッチング除去する機会がない。
6.ウェハの前面と裏面にSiN、好適にはチタン酸化物またはタンタル酸化物等を含んだ、好適には約40nmから150nm厚のパターン化誘電層106を堆積する。この層は好適には裏面で金属化層及び拡散バリアとして作用し、前面と裏面で光学コーティングとしても作用する。この層は好適には孔部に提供されない。この段階の太陽電池は図14に図示する。
7.第1スクライブ部分と整合し、センタリングされているが、小径あるいは小幅の第2スクライブ部分を提供する。この段階の太陽電池は図15に図示されている。
8.ホウ素含有ペーストのごときp型ドーパントペースト124をスクライブ加工された領域にスクリーン印刷し、pコンタクト層126を第2スクライブ露出部に拡散または合金処理にて形成する。この段階の太陽電池は図16に図示する。
9.必要に応じてホウ素ガラスまたは他のp型ソースをエッチングする。
10.p型グリッド128とn型グリッド118を導電ペーストまたは金属メッキにより金属化する。この段階の太陽電池は図17に図示する。
あるいは、次の類似プロセスが利用できる。
1.ウェハをエッチング及び洗浄する。このステップは吸収性改善のために前面をアルカリエッチングまたはオプションで酸エッチングすることを含む。
2.好適にはPOClまたは別なn型ソースで、好適には約70から140オーム/単位面積の範囲でウェハ表面を軽拡散処理してn型層204を形成する。
3.拡散ガラスをエッチングする。
4.レーザ、エッチングペースト、物理的方法その他を活用して裏面のp型コンタクト露出部をスクライビングする。好適にはこのステップはシリコンに欠陥を導入しない。なぜなら、それらをエッチング除去する機会がないからである。
5.好適にはウェハの前面と裏面にSiNを含んだ、好適には約40nmから150nm厚の誘電層206を堆積する。この層は好適には裏面で金属化部及び拡散バリアとして作用し、両面で光学コーティングとしても作用する。この窒化ケイ素は好適にはアモルファス合金含有シリコン、窒素及び水素(時にはSiN:HまたはSiN;Hと呼称)としてプラズマ支援化学蒸着(PECVD)により堆積される。これらの膜は表面の不活性化及びバルク欠陥を提供し、シリコン太陽電池のエネルギー変換効率を改善することが知られている。
6.好適にはレーザを使用して孔部をドリル加工する。
7.好適にはNaOHを使用してレーザダメージエッチング及び洗浄する。
8.孔部に重POCl拡散部212(好適には約10から30オーム/単位面積)を提供する。あるいはP含有ペーストを孔部に提供し、拡散する。この段階の太陽電池は図18に図示する。
9.拡散ガラスをエッチングする。
10.第1スクライブ部と直接的に整合及びセンタリングされ、小径または小幅を有した第2スクライブ部提供する。この段階の太陽電池は図19に図示されている。
11.ホウ素含有ペーストのごときp型ドーパントペースト224をスクライブされた領域にスクリーン印刷し、拡散または合金によって第2スクライブ露出部にp型コンタクト層226を形成する。この段階の太陽電池は図20に図示される。
12.必要に応じてホウ素ガラスまたはp型ソースをエッチングする。
13.導電ペーストまたは金属メッキでp型グリッド228及びn型グリッド218を金属化する。この段階の太陽電池は図21に図示されている。
この製法は前述の関連製法よりも多くのプロセスを含むが、いくつかの利点を備えている。まず、選択的エミッタ構造(前面の軽拡散並びに孔部の重拡散)は電池効率を最大化させる。次に、PECVD堆積SiN:Hの利用が好適である。なぜなら水素は優れた表面不活性化を提供する。しかし、この材料は、特にスクリーン印刷によるパターン化が不可能ではないまでも非常に困難である。従って前述の製法の誘電体はSiNではなく、劣る不活性特性を有した別金属である可能性が高い。さらにスクリーン印刷は高価であり、正確なパターン化が困難である。しかし、これらの製法のどちらもp領域を提供する。これは第2スクライビングステップで提供されたウェハの小部分でのみ形成されるが、裏面のn領域から第1スクライブ内の誘電層のその部分で分離されている。
本発明の別な好適プロセスはp型コンタクト用の分離パターン化ステップを利用しない。p型コンタクト領域は、パターン化ステップがリン拡散部用に実施されるのと同時的に提供される。このプロセスは好適には次のステップを含む。
1.孔部をレーザドリル加工する。
2.ウェハをエッチング及び洗浄する。このステップはオプションで吸収改善のために前面をアルカリエッチングあるいはオプションで酸エッチングすることを含む。
3.拡散バリアパターン(孔部近辺ではない)を形成する誘電材料を裏面にスクリーン印刷する。これでリン拡散ステップ中にパターン化されたリン拡散部を形成する。好適にはこのパターンは、特に誘電拡散バリアが容易にエッチングできず。p型金属が拡散バリア及び裏面不活性材料を通って容易に焼成できないときには続くp型金属コンタクト用の露出部を含む。
4.誘電ペーストを焼きなます(例えば、約500℃から1000℃、約5分から30分)。
5.好適にはガス源(例えば、POCl、PH等)を使用してリン拡散を実行する。この拡散は好適には中間拡散である。すなわち、良好なスペクトルレスポンスを前面に提供するには充分に軽拡散であるが、n型コンタクトの充分なドーピングには充分に重拡散である。
6.拡散によって残された酸化リンガラスを除去すべくエッチングする。適したエチャントはよく知られており、水性HF化学エッチング、HF蒸気エッチングまたは様々なプラズマエチャント化学剤が含まれる。
7.約70nmから80nmの屈折率及び所望の色によって定まる厚みを有した反射防止コーティングを形成するために前面に窒化ケイ素層または他の高屈折材料(例えば、TiO及びTa)を堆積する。窒化ケイ素は好適にはプラズマ支援化学蒸着(PECVD)によりアモルファス合金含有シリコン、窒素及び水素(時にSiN:HまたはSiN:Hと呼称)として堆積される。これらの膜は表面の不活性化並びにバルク欠陥を提供し、シリコン太陽電池のエネルギー変換効率を改善することが知られている。
8.好適にはSiN:H(オプション)にて窒化ケイ素または他の誘電体層を裏面に堆積する。この層は裏面を不活性化し、太陽電池効率を高める。このステップはステップ7と同時的あるいはステップ10の後で実行できる。
9.p型コンタクト及びグリッド(p型金属)用に、好適にはペースト(好適にはAg−AlまたはオプションでAgまたはAl)にて金属をスクリーン印刷する。
10.p型金属を乾燥させる。
11.n型コンタクト及びグリッド(好適にはAg)用に金属を好適には約10ミクロン厚から50ミクロン厚でスクリーン印刷する。
12.金属を焼成する。
13.太陽電池をテストする。
この製法では、オームコンタクトを提供するためにp型金属は好適には誘電バリア露出部のリン(n)拡散部をスパイクする。そのような形状は図22で概略的に図示されている。このプロセスの従来に勝る利点は1つのリン拡散部のみが要求され、孔部がプロセス開始時にドリル加工され(レーザダメージエッチングステップを省略)、プロセスコストを低減させることである。
バックコンタクトEWT電池も自己ドーピング金属化を利用した埋込コンタクト電池の製造プロセスと類似した製造プロセスで製造できる。自己ドーピング金属化が溝と孔部とを充填し、直列抵抗が問題を提起しないことを確認しなければならない。そのようなプロセスの1例は次のごとくである。
1.Siウェハをエッチング及び洗浄する。
2.n型溝をレーザスクライビングし、裏面に孔部をレーザドリル加工する。
3.軽(80から120オーム/単位面積)リン拡散する。
4.拡散プロセスからリンガラスを除去するようにHFエッチングする。
低圧化学蒸着により窒化ケイ素を堆積する。
6.裏面にp型溝またはピットをレーザスクライビングする。
7.n型溝/孔部及びp型溝をn型自己ドーピング金属化及びp型自己ドーピング金属化でそれぞれ充填する。
8.金属化部を共焼成する。
前記の実施例の全てにおいて裏面の大面積のSiNまたは他の誘電体層は好適には櫛状であるコンタクトラインをシリコンウェハに実際には接触させずに可能な限りに太くできる(多量電流を流すため)。またp型コンタクト面積を最小に保ちつつnエミッタを最大化する。よってキャリア集電効率が向上する。
さらに本明細書中の全実施例において以下を含む多数の方法または変形が利用できる。バイアスはレーザドリル加工によって形成できる。化学エッチングまたはプラズマエッチングあるいは熱マイグレーション等の別方法でも可能である。それらの方法は米国特許願10/880190「薄シリコンウェハのエミッタラップスルーバックコンタクト太陽電池」、米国特許願10/606487「導電バイアスを提供するために熱マイグレーションを使用したバックコンタクト太陽電池の製法」及び国際特許願PCT/US04/20370「集積導電バイアスを備えたバックコンタクト太陽電池その製法」で解説されている。エッチングペーストは微細パターンを提供するようにスクリーン印刷できる。ボロシリケートガラスまたは他のp型ドーパントソースがpジャンクションの形成に使用できる。スクライビングされた溝のサイズの選択はコンタクト面積の減少並びに再結合速度の最小化との間をバランスさせるものでなければならない。最後に、選択的エミッタプロセスを利用することができる。ここでは拡散はバイアスまたは裏面よりも前面で軽い。このことは、例えば、前面に多孔質SiO層をスクリーン印刷することで達成される。これは孔部と裏面は重拡散され、例えばHFでエッチング除去されるが、前面でリン拡散を抑制する。あるいは、これは前面をPOCl炉内で1スロット(すなわちダブルローディング)で対面させてウェハをローディングすることでも達成できる。これで接触面の拡散部が減少する。
これら全てのプロセスはEWT電池に加えてバックジャンクションを提供するために使用できる。レーザはn型コンタクト用の孔部をドリル加工する代わりに簡単にピットまたは溝をスクライビングする。バックジャンクション太陽電池は負極及び正極の集電ジャンクションを裏面に有する。これら電池は前面近辺で吸収される光発生キャリアがデバイスの後部のジャンクションで収集されるデバイスの幅で拡散できるように高品質材料を必要とする。
(櫛状バックコンタクトグリッドパターンの直列抵抗の最小化)
バックコンタクトシリコン太陽電池は負極コンタクト及び正極コンタクト並びに集電グリッドを裏側に有しているので、負極グリッド及び正極グリッドは互いに電気的に絶縁されていなければならない。これらグリッドはボンディングパッドまたはブスバに電流を集めなければならない。典型的には金属リボンがボンディングパッドまたはブスバに取り付けられ、太陽電池を電気回路に接続する。
バックコンタクト電池のグリッドには2つの形状が存在する。櫛状バックコンタクト(IBC)形状では、負導電型グリッド及び正導電型グリッドは櫛状構造体を形成する(図23A及び23B参照)。この構造体は製造ラインで利用するのが容易であるが、断面積が小さく、長いグリッドラインであるために直列抵抗が高い。グリッドラインの長さ、すなわち直列抵抗の大きさはブスバの利用で低減することができる(図23)。しかしブスバは光電流収集がブスバ上の領域で減少するので有効活性面積を減少させる。また、隣接するバックコンタクト太陽電池同士を相互接続する形状も、電池エッジのボンディングパッドよりも電池の中央でブスバを有した電池でさらに複雑化する。IBCパターンはスクリーン印刷のごとき低コスト製造技術で容易に提供することができる。
バックコンタクト電池のグリッド用の第2形状は多層金属化部を利用する(図25)(リチャードMスワンソンの米国特許4234352、1980年11月18日発行「熱光起電コンバータ並びに使用する電池」)。金属層は堆積された電気絶縁を提供する誘電層と垂直に重ねられる。多層金属化形状は、金属が裏面全体を覆うためにIBC形状よりも直列抵抗が小さい。しかしこの構造は2つの誘電層堆積(第1相及び第2層)を必要とし、金属化ステップに加えてパターン化ステップを必要とする。さらに、多層金属化は誘電絶縁層で電気シャントを引き起こす可能性を秘めたピンホール欠陥を回避するためには非常に高価な薄膜処理技術を必要とする。
本発明はバックコンタクトシリコン太陽電池の櫛状バックコンタクトグリッドパターンの好適IBCグリッドパターン(ボンディングパッドは電池のエッジ)の直列抵抗を減少させる2つの実施例を提供する。
第1実施例ではグリッドラインは、電池のエッジに到達するまで電流方向で幅が増加するようにテーパ状に設けられる。これで直列抵抗は一定のグリッドカバー率で減少する。なぜならグリッド断面積はグリッドで運搬される電流が増加するのと同一の比率で増加するからである。正極集電グリッド510及び負極集電グリッド520のテーパ幅パターンの好適実施例が図26で示されている。図27はメッキ金属化された太陽電池505の裏面の図26で示すIBCグリッドの断面図である。すなわちコンタクト金属化部にメッキされた金属530である。
一般的に、最良テーパ度は経験的または計算により決定できる。さらに、金属カバー率並びに同一極性グリッド間のスペースも同様に変更できる。典型的な特性のIBC電池のシミュレーションではIBCグリッドの直列抵抗は125mmX125mmの電池用に計算された。同一極性グリッド間のスペースは2mmに選択され、金属カバー率は40%に選択された。グリッドラインは一定幅のIBC形状では400μmの幅であった。グリッドラインはテーパ形状では200μmから600μmに増加した。直列抵抗は一定幅IBC形状と比べてテーパ形状では36%少なかった。他のテーパ形状も必要に応じて利用できる。例えばグリッドラインは250μmから550μm幅のテーパを有することができる。
第2実施例ではグリッド抵抗はグリッドラインを太くすることで減少させることができる。スクリーン印刷されたAgペーストグリッドの太さはペーストとスクリーンの物理的特性により限定される。許容抵抗損失を伴う大きな寸法で電流を導くにために、エッジ集電をさせるIBCグリッドの好適形状(図23A)は典型的には比較的に太いグリッドライン(50μm以上)を必要とする。これは容易にスクリーン印刷されるものより太い。印刷されたAgのIBCグリッドのグリッドラインの太さを増加させる2つの好適方法は、IBC電池を溶融ハンダに浸す(スズディッピング)方法とグリッドラインに金属メッキ(電気メッキまたは無電メッキ)を施す方法とである。スズディッピングは従来のシリコン太陽電池の製造のためにシリコン太陽電池製造業者に利用されている方法である。溶融ハンダの温度はハンダの組成によるが、一般的には250℃以下である。1実施例では印刷されたAgグリッドラインの溶解を最小限とするためSn:Agハンダが採用される。
あるいは、多くの金属は電気メッキまたは無電メッキでメッキできる。CuとAgは特に有利である。それら金属はハンダが容易であり、優れた導電性を有している。メッキされたグリッドラインの別な利点は完成電池での減少した応力である。細い印刷Agラインが好適には使用される。なぜなら、最終導電性は連続する金属堆積ステップで決定されるからである。Agは高温で焼成される(一般的には700℃以上)。よって、この層を薄くしておくことは、高焼成温度による応力を減少させる。さらに、メッキは一般的に低温(100℃以下)で実施される。よってグリッド厚は低温で増加でき、完成電池の応力が小さくなる。
前述の実施例は一般的または特別に解説した反応物質及び/又は加工条件を他のものと置換することでも同様に可能であろう。プロセスの順序を変更したり、ステップを追加することも可能である。
以上、本発明を実施例を利用して解説したが、他の実施例でも同様な結果が得られよう。それらの変形や改良も本発明の想定内である。
図1は基本的バックコンタクト太陽電池の断面図である。 図2はアイケルブーム他の文献で解説されている方法に従って製造された太陽電池の断面図である。 図3はアイケルブーム他の文献で解説されている方法に従って製造された太陽電池の断面図である。 図4はアイケルブーム他の文献で解説されている方法に従って製造された太陽電池の断面図である。 図5はアイケルブーム他の文献で解説されている方法に従って製造された太陽電池の断面図である。 図6は本発明のホウ素拡散EWT電池製造プロセスによって製造された太陽電池の断面図である。 図7は本発明のホウ素拡散EWT電池製造プロセスによって製造された太陽電池の断面図である。 図8は本発明のホウ素拡散EWT電池製造プロセスによって製造された太陽電池の断面図である。 図9はメッキされたニッケル(Ni)コンタクトをさらに有した、本発明のホウ素拡散EWT電池プロセスによって製造された太陽電池の断面図である。 図10はメッキされたニッケル(Ni)コンタクトをさらに有した、本発明のホウ素拡散EWT電池プロセスによって製造された太陽電池の断面図である。 図11はNiコンタクトを有したAl合金p型ジャンクションを含んだ本発明の太陽電池の断面図である。 図12はNiコンタクトを有したAl合金p型ジャンクションを含んだ本発明の太陽電池の断面図である。 図13はNiコンタクトを有したAl合金p型ジャンクションを含んだ本発明の太陽電池の断面図である。 図14はダブルスクライビング法により製造された本発明の太陽電池の断面図である。 図15はダブルスクライビング法により製造された本発明の太陽電池の断面図である。 図16はダブルスクライビング法により製造された本発明の太陽電池の断面図である。 図17はダブルスクライビング法により製造された本発明の太陽電池の断面図である。 図18は別なダブルスクライビング法で製造された本発明の太陽電池の断面図である。 図19は別なダブルスクライビング法で製造された本発明の太陽電池の断面図である。 図20は別なダブルスクライビング法で製造された本発明の太陽電池の断面図である。 図21は別なダブルスクライビング法で製造された本発明の太陽電池の断面図である。 図22は本発明の1実施例の断面図であり、p型金属がn拡散部をスパイクしている。 図23Aは櫛状グリッドパターンの従来型バックコンタクト太陽電池の平面図である。異なる陰影のグリッドは負導電型と正導電型のグリッドを表す。ボンドパッドが電池エッジに提供され、太陽電池を電気回路に相互接続している。 図23Bは図15Aで図示するIBC電池の従来型櫛状グリッドの断面図である。 図24は電池のエッジと中央部にブスバを有したバックコンタクト太陽電池の従来型IBCグリッドパターンの平面図である。 図25はバックコンタクト太陽電池の従来型多層金属化部の断面図である。 図26は本発明のバックコンタクト太陽電池のIBCグリッドパターンの平面図である。 図27はメッキ金属化部を有したバックコンタクト太陽電池の断面図である。

Claims (24)

  1. バックコンタクト太陽電池の製法であって、
    第1導電型を含んだ半導体基板を提供するステップと、
    裏面に反対の導電型を含んだ拡散部を提供するステップと、
    裏面に誘電層を堆積するステップと、
    基板の前面から裏面に延びる複数の孔部を形成するステップと、
    裏面の領域から前記拡散部と誘電層とを除去するステップと、
    裏面の領域のそれぞれに前記第1導電型を含んだコンタクトを設けるステップと、
    前記コンタクトと電気的接触状態で裏面に第1導電グリッドを設置するステップと、
    前記孔部の前記拡散部と電気的接触状態で裏面に第2導電グリッドを設置するステップと、
    を含んでいることを特徴とする製法。
  2. コンタクトを設けるステップは基板をドーパントでドープするステップを含んでいることを特徴とする請求項1記載の製法。
  3. ドーパントはホウ素あるいはアルミニウムであることを特徴とする請求項2記載の製法。
  4. 第1導電グリッドはドーパントを含まないことを特徴とする請求項2記載の製法。
  5. 拡散部を提供するステップは基板をガスに曝露するステップを含んでいることを特徴とする請求項1記載の製法。
  6. ガスはPOClを含んでいることを特徴とする請求項5記載の製法。
  7. 第1導電グリッドは第2導電グリッドと櫛形態で組み合わされていることを特徴とする請求項1記載の製法。
  8. 誘電層を堆積するステップは誘電層を前面に堆積するステップを含んでおり、コンタクトを設けるステップは孔部の内面に反対導電型を含んだ第2拡散部を同時的に提供するステップを含んでいることを特徴とする請求項1記載の製法。
  9. 前面及び/又は裏面に不活性層を構築するステップをさらに含んでいることを特徴とする請求項1記載の製法。
  10. 不活性層を構築するステップは表面の酸化ステップあるいは不活性層の堆積ステップを含んでいることを特徴とする請求項9記載の製法。
  11. 孔部の内面と領域をメッキ金属コンタクト層で被膜するステップをさらに含んでおり、該被膜ステップはコンタクトを設けるステップの後で、グリッドを設置するステップの前に実施されることを特徴とする請求項1記載の製法。
  12. コンタクトの層はニッケルを含んでいることを特徴とする請求項11記載の製法。
  13. コンタクトの層は無電メッキでメッキされていることを特徴とする請求項11記載の製法。
  14. 拡散部及び誘電層の除去ステップの後で第2拡散部を提供するステップをさらに含んでおり、該第2拡散部は孔部の内面と領域に反対導電型を含んでおり、コンタクトを設けるステップは該第2拡散部をオーバドープするステップを含んでいることを特徴とする請求項11記載の製法。
  15. 請求項1記載の製法で製造されることを特徴とするバックコンタクト太陽電池。
  16. 金属を含んだメッキ層を含んでいるバックコンタクト太陽電池であって、該メッキ層は基板のドープ領域と導電グリッドの間に提供され、該導電グリッドは前記金属を含まないことを特徴とするバックコンタクト太陽電池。
  17. 金属はニッケルを含んでいることを特徴とする請求項16記載のバックコンタクト太陽電池。
  18. バックコンタクト太陽電池の製法であって、
    第1導電型を含んだ半導体基板を提供するステップと、
    裏面にパターン化された誘電層を堆積するステップと、
    前記誘電層で覆われていない裏面の露出部分に反対導電型を含んだ拡散部を提供するステップと、
    前記露出部分と該露出部分に隣接する前記誘電層に金属を提供するステップと、
    前記金属を焼成するステップと、
    を含んでいることを特徴とする製法。
  19. 誘電層を堆積するステップは誘電層をスクリーン印刷するステップを含んでいることを特徴とする請求項18記載の製法。
  20. 拡散部を提供するステップは、POClあるいはPHのガスを使用することを特徴とする請求項18記載の製法。
  21. 金属は第1導電型のドーパントを含んでいることを特徴とする請求項18記載の製法。
  22. 金属を提供するステップは該金属を含んだペーストをスクリーン印刷するステップを含んでいることを特徴とする請求項21記載の製法。
  23. 金属の焼成ステップは露出部分の拡散部を該金属でスパイキングするステップを含んでいることを特徴とする請求項18記載の製法。
  24. 請求項18記載の製法で製造されることを特徴とするバックコンタクト太陽電池。
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