KR101315407B1 - 에미터 랩 스루 태양 전지 및 이의 제조 방법 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 에미터 랩 스루 태양 전지 및 이의 제조 방법에 관한 것이다. 본 발명에 따른 태양 전지는 누설 전류의 발생이 최소화될 수 있을 뿐 아니라, 에너지 변환 효율의 측정시 오차 발생이 최소화될 수 있는 구조를 가진다. 또한, 본 발명에 따른 태양 전지의 제조 방법은 전극의 정렬 상태를 쉽게 확인할 수 있어 보다 향상된 생산성을 제공할 수 있다.
Description
본 발명은 에미터 랩 스루 구조를 갖는 백-컨택 태양 전지 및 이의 제조 방법에 관한 것이다.
일반적으로 태양 전지는 반도체 기판의 전면과 후면에 각각 전극이 구비되는 구조를 갖는데, 수광면인 전면에 전면극이 구비됨에 따라, 전면전극의 면적만큼 수광면적이 줄어들게 된다. 이와 같은 수광부 면적이 축소되는 문제를 해결하기 위해 백-컨택 태양 전지가 제안되었다.
백-컨택 태양 전지는 그 구조에 따라 MWA(Metallization Wrap Around), MWT(Metallization Wrap Through), EWT(Emitter Wrap Through), 백-정션(back-junction) 등으로 구분된다.
도 1은 일반적인 에미터 랩 스루 태양 전지(이하 'EWT 태양 전지'라 함)의 후면(즉, 정상 작동 중에 태양과 마주하도록 구성된 전면과 대향하는 면) 중 일부를 확대하여 나타낸 것이다. 도 1에 따르면, EWT 태양 전지의 후면에는 서로 다른 도전성을 갖는 베이스 전극(15)과 에미터 전극(25)이 모두 위치하며, 그 중 에미터 전극(25)은 p-n정션 분리를 위해 기판의 후면에 형성된 트렌치(trench) 내에 형성된다. 즉, 일반적인 EWT 태양 전지의 경우, 베이스 전극(15)과 에미터 전극(25)이 높이 차이를 갖는 구조(예를 들어, 베이스 전극이 에미터 전극 보다 약 10 내지 30㎛ 더 높은 구조)로 형성된다.
한편, 이러한 EWT 태양 전지의 에너지 변환 효율 측정은 전지의 후면에 균일한 압력이 가해질수록 그 오차를 최소화할 수 있는데, 상기와 같은 EWT 태양 전지의 구조적 특성(특히, 베이스 전극과 에미터 전극의 높이 차이)으로 인해 불균일한 밀착 압력이 발생하여 에너지 변환 효율 측정에 오차가 크게 나타나는 문제점이 있다.
그리고, 일반적인 EWT 태양 전지의 제조 과정에서, 베이스 전극과 에미터 전극은 각각의 전극 형성 물질을 기판의 대응 영역에 프린팅 또는 코팅하는 방법으로 형성되는데, 이와 같은 프린팅 또는 코팅 공정에서 각 전극이 정확한 위치에 형성되었는지, 그 정렬(alignment) 상태를 정확하게 확인하는데 한계가 있다.
또한, 상기와 같은 EWT 태양 전지의 구조적 특성상, p-n 정션의 분리에도 불구하고 베이스 전극과 에미터 전극 간의 거리가 가깝기 때문에 누설 전류가 발생하는 문제점이 있다.
본 발명은 베이스 전극과 에미터 전극이 보다 효과적으로 격리(isolation)되어 누설 전류 발생이 최소화될 수 있고, 에너지 변환 효율의 측정시 오차 발생이 최소화될 수 있는 구조를 갖는 EWT 태양 전지를 제공하기 위한 것이다.
또한, 본 발명은 베이스 전극과 에미터 전극의 정렬 상태를 보다 단순화된 방법으로 확인할 수 있는 상기 EWT 태양 전지의 제조 방법을 제공하기 위한 것이다.
본 발명의 일 구현예에 따르면,
정상 작동 중에 태양과 마주하는 전면과 상기 전면에 대향하는 후면을 가지며, 상기 후면 상에 제 1 트렌치(10) 및 제 2 트렌치(20)가 서로 물리적으로 분리되어 형성되어 있고, 상기 제 2 트렌치를 통해 기판을 관통하는 비아-홀(via-hole)(30)이 하나 이상 형성되어 있는 제 1 도전형의 반도체 기판(100); 및
상기 제 1 트렌치(10)의 내부에 형성된 제 1 도전형의 베이스 전극(15)과, 상기 제 2 트렌치(20) 및 비아-홀(30)의 내부에 형성된 제 2 도전형의 에미터 전극(25)
을 포함하는 EWT 태양 전지가 제공된다.
여기서, 상기 제 1 트렌치(10)와 제 2 트렌치(20)는 물리적으로 서로 분리되어 맞물려 있는(interdigitated) 구조를 가질 수 있다.
그리고, 상기 반도체 기판(100)은 p-형 도핑된 실리콘 웨이퍼일 수 있고; 상기 반도체 기판(100)의 전면은 요철 구조로 텍스쳐링(texturing)되어 있을 수 있다.
또한, 상기 제 1 트렌치(10) 및 제 2 트렌치(20)는 각각 독립적으로 상기 기판의 후면 상에 200 내지 700 ㎛의 폭 및 20 내지 _60_㎛의 깊이로 형성되어 있을 수 있다.
그리고, 상기 비아-홀(30)의 직경은 25 내지 100 ㎛일 수 있다.
한편, 본 발명의 다른 구현예에 따르면,
정상 작동 중에 태양과 마주하는 전면과 상기 전면에 대향하는 후면을 갖는 제 1 도전형의 반도체 기판(100)을 준비하는 단계;
상기 기판의 후면에 물리적으로 서로 분리된 제 1 트렌치(10) 및 제 2 트렌치(20)와, 상기 제 2 트렌치를 통해 기판을 관통하는 하나 이상의 비아-홀(30)을 형성하는 단계;
상기 기판의 전면, 제 2 트렌치(20)의 내부면 및 비아-홀(30)의 내부면 상에 각각 제 2 도전형의 에미터층(40)을 형성하는 단계;
상기 기판의 후면 및 제 1 트렌치(10)의 바닥면 상에 패시베이션층(60)을 형성하고, 상기 기판의 전면에 반사방지층(65)을 형성하는 단계; 및
상기 제 1 트렌치(10)의 내부에 제 1 도전형의 베이스 전극(15)을 형성하고, 상기 제 2 트렌치(20)와 비아-홀(30)의 내부에 제 2 도전형의 에미터 전극(25)을 형성하는 단계
를 포함하는 에미터 랩 스루 태양 전지의 제조 방법이 제공된다.
여기서, 상기 제 1 트렌치(10)와 제 2 트렌치(20)는 레이져 그루빙에 의해 형성될 수 있으며; 서로 분리되어 맞물려 있는(interdigitated) 형태로 형성될 수 있다.
그리고, 상기 비아-홀(30)은 레이져 드릴링 공정, 습식 에칭 공정, 건식 에칭 공정, 기계적 드릴링 공정, 워터젯 머시닝 공정 또는 이들의 혼합 공정에 의해 형성될 수 있다.
본 발명에 따른 EWT 태양 전지는 베이스 전극과 에미터 전극이 효과적으로 격리되어 있어 누설 전류의 발생이 최소화될 수 있을 뿐 아니라, 에너지 변환 효율의 측정시 오차 발생이 최소화될 수 있는 구조를 갖는다. 또한, 본 발명에 따른 상기 태양 전지의 제조 방법은 전극의 정렬 상태를 육안으로도 쉽게 확인할 수 있어 보다 향상된 생산성을 제공할 수 있다.
도 1은 일반적인 EWT 태양 전지의 후면 중 일부를 확대하여 나타낸 사시도이다.
도 2a와 도 2b 및 도 3a와 도 3b은 각각 본 발명의 일 구현예에 따른 EWT 태양 전지의 후면 중 일부를 확대하여 나타낸 (a) 사시도와 (b) 그 평면도다.
도 4는 본 발명의 일 구현예에 따른 EWT 태양 전지에 포함되는 반도체 기판의 일부 단면을 확대하여 나타낸 도면이다.
도 5는 본 발명의 일 구현예에 따른 EWT 태양 전지의 제조 방법을 대략적으로 나타낸 공정 순서도이다.
도 2a와 도 2b 및 도 3a와 도 3b은 각각 본 발명의 일 구현예에 따른 EWT 태양 전지의 후면 중 일부를 확대하여 나타낸 (a) 사시도와 (b) 그 평면도다.
도 4는 본 발명의 일 구현예에 따른 EWT 태양 전지에 포함되는 반도체 기판의 일부 단면을 확대하여 나타낸 도면이다.
도 5는 본 발명의 일 구현예에 따른 EWT 태양 전지의 제조 방법을 대략적으로 나타낸 공정 순서도이다.
이하, 본 발명의 구현예들에 따른 EWT 태양 전지 및 이의 제조 방법에 대하여 설명하기로 한다.
그에 앞서, 본 명세서 전체에서 명시적인 언급이 없는 한, 전문 용어는 단지 특정 구현예를 언급하기 위한 것이며, 본 발명을 한정하는 것을 의도하지 않는다.
그리고, 여기서 사용되는 단수 형태들은 문구들이 이와 명백히 반대의 의미를 나타내지 않는 한 복수 형태들도 포함한다.
또한, 명세서에서 사용되는 '포함'의 의미는 특정 특성, 영역, 정수, 단계, 동작, 요소 또는 성분을 구체화하며, 다른 특정 특성, 영역, 정수, 단계, 동작, 요소, 또는 성분의 부가를 제외시키는 것은 아니다.
또한, 본 명세서 전체에서 '내부에 형성'된다고 함은 임의의 구조에 의해 형성된 공간의 일부 또는 전부를 차지하는 형태로 충전되어 있는 상태를 의미한다. 일 예를 들면, 본 발명에 있어서, 제 1 트렌치의 내부에 형성된 제 1 도전형의 베이스 전극의 경우, 도 2a와 같이 베이스 전극(15)이 제 1 트렌치(10)의 일부를 차지하는 형태로 형성되어 있거나, 또는 도 3a와 같이 베이스 전극(15)이 제 1 트렌치(10)의 전부를 차지하는 형태로 형성되어 있는 것을 의미한다.
또한, 본 명세서 전체에서 '제 1' 또는 '제 2' 등과 같이 서수를 포함하는 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있으나, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되지 않는다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제 1 구성요소는 제 2 구성요소로도 명명될 수 있고, 유사하게 제 2 구성요소도 제 1 구성요소로 명명될 수 있다.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 구현예들에 대하여 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다.
본 발명자들은 EWT 태양 전지에 대한 연구 과정에서, 도 1과 같은 일반적인 EWT 태양 전지는 기판의 후면에 형성된 베이스 전극(15)과 에미터 전극(25)이 높이 차이를 갖는 구조로 형성됨에 따라, 에너지 변환 효율 측정시 오차가 크게 발생할 뿐만 아니라, 전극의 격리가 충분하지 않아 누설 전류가 발생하고, 그 제조 과정에서 전극의 정렬 상태를 정확하게 확인하는데 한계가 있음을 확인하였다.
이에, 본 발명자들은 상기 문제점들을 해결하기 위한 연구를 거듭하는 과정에서, 도 2a 또는 도 3a와 같이 기판(100)의 후면에 물리적으로 분리된 형태의 제 1 트렌치(10) 및 제 2 트렌치(20)를 형성하고, 상기 제 1 트렌치의 내부에 베이스 전극(15)을, 그리고 제 2 트렌치의 내부에 에미터 전극(25)을 각각 형성시킬 경우, 기판의 후면 굴곡을 없앨 수 있어 에너지 변환 효율 측정시 오차가 최소화될 수 있을 뿐 아니라, 전극이 보다 효과적으로 격리될 수 있어 누설 전류의 발생이 최소화될 수 있음을 확인하였다. 그리고, 상기와 같이 각 전극이 각각의 트렌치 내부에 형성됨에 따라, 그 제조 과정에서도 각 전극의 정렬 상태를 육안으로도 정확히 판별할 수 있음을 확인하였다.
이러한 본 발명의 일 구현예에 따르면,
정상 작동 중에 태양과 마주하는 전면과 상기 전면에 대향하는 후면을 가지며, 상기 후면 상에 제 1 트렌치(10) 및 제 2 트렌치(20)가 서로 물리적으로 분리되어 형성되어 있고, 상기 제 2 트렌치를 통해 기판을 관통하는 비아-홀(via-hole)(30)이 하나 이상 형성되어 있는 제 1 도전형의 반도체 기판(100); 및
상기 제 1 트렌치(10)의 내부에 형성된 제 1 도전형의 베이스 전극(15)과, 상기 제 2 트렌치(20) 및 비아-홀(30)의 내부에 형성된 제 2 도전형의 에미터 전극(25)
을 포함하는 EWT 태양 전지가 제공된다.
이하, 도 2a 내지 도 5를 참고하여 본 발명에 따른 EWT 태양 전지에 대하여 설명한다.
먼저, 본 발명에 따른 EWT 태양 전지는 반도체 기판(100)을 포함한다.
상기 반도체 기판(100)은 정상 작동 중에 태양과 마주하는 전면과 상기 전면에 대향하는 후면을 갖는 것으로서; 그 두께는 150 내지 220 ㎛ 일 수 있다. 다만, 상기 기판의 두께는 태양 전지에 요구되는 기계적 물성, 기판에 형성되는 트렌치의 깊이 등을 고려하여 결정될 수 있으므로, 상기 범위로 제한되는 것은 아니다.
그리고, 상기 반도체 기판(100)은 제 1 도전형을 갖는 것으로서, 여기서 제 1 도전형은 p형 또는 n형이고, 후술하는 제 2 도전형은 상기 제 1 도전형의 반대인 것을 의미한다. 비제한적인 예를 들면, 상기 반도체 기판(100)은 p형 도핑된 실리콘 웨이퍼일 수 있으며, 이 밖에도 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상적인 것이 적용될 수 있다.
상기 반도체 기판(100)의 전면은 정상 작동 중에 태양과 마주하는 면으로서, 입사되는 태양광의 흡수율을 향상시키기 위하여 요철 구조를 가지도록 텍스쳐링(texturing)되어 있을 수 있다. 여기서, 상기 요철 구조는 규칙적인 역 피라미드 패턴을 포함하는 다양한 형태를 가질 수 있다.
한편, 상기 반도체 기판(100)의 후면은 상기 전면에 대향하는 면으로서, 상기 후면 상에는 제 1 트렌치(10) 및 제 2 트렌치(20)가 서로 물리적으로 분리되어 형성되어 있고, 상기 제 2 트렌치를 통해 기판을 관통하는 비아-홀(30)이 하나 이상 형성되어 있을 수 있다. 그리고, 상기 제 1 트렌치(10)의 내부에는 제 1 도전형의 베이스 전극(15)이 형성되어 있을 수 있고, 상기 제 2 트렌치(20)와 비아-홀(30)의 내부에는 제 2 도전형의 에미터 전극(25)이 형성되어 있을 수 있다.
즉, 본 발명에 따른 EWT 태양 전지는, 도 1과 같이 기판의 후면 상에 하나의 트렌치가 형성되어 있고 그 내부에 에미터 전극이 형성되어 있는 이전의 EWT 태양 전지와 달리, 기판의 후면 상에 제 1 트렌치(10) 및 제 2 트렌치(20)가 서로 물리적으로 분리되어 형성되어 있고, 그 내부에 베이스 전극(15)과 에미터 전극(25)이 각각 형성되어 있는 구조를 갖는다.
그에 따라, 본 발명에 따른 EWT 태양 전지는 베이스 전극(15)과 에미터 전극(25)이 서로 물리적으로 분리되어 형성된 각각의 트렌치에 의해 보다 효과적으로 격리(isolation)될 수 있어, 태양 전지의 구동시 누설 전류의 발생이 최소화될 수 있다. 나아가, 이전의 EWT 태양 전지와 달리, 상기 베이스 전극(15)과 에미터 전극(25) 간에 높이 차이가 없어서(즉, 기판의 후면 굴곡을 없앨 수 있어서) 에너지 변환 효율의 측정시 오차가 최소화될 수 있다. 그 뿐 아니라, 상기 베이스 전극(15)과 에미터 전극(25)이 각각의 트렌치 내부에 형성됨에 따라, 그 제조 과정에서도 각 전극의 정렬 상태를 육안으로도 정확히 판별할 수 있어, 태양 전지의 생산성 향상을 가능케 한다.
본 발명에 따르면, 상기 제 1 트렌치(10)와 제 2 트렌치(20)는 기판의 후면 상에 물리적으로 서로 분리되어 연결되지 않는 형태로 형성되어 있으며, 그 형태는 특별히 제한되지 않는다. 다만, 본 발명에 따르면, 상기 제 1 트렌치(10)와 제 2 트렌치(20)는 서로 분리되어 맞물려 있는(interdigitated) 형태로 형성되는 것이 태양 전지의 효율 향상 측면에서 유리하다.
그리고 본 발명에 따르면, 상기 제 1 트렌치(10) 및 제 2 트렌치(20)는 각각 독립적으로 상기 기판의 후면 상에 200 내지 700 ㎛의 폭 및 20 내지 60㎛의 깊이로 형성될 수 있다. 이때 각 트렌치의 깊이 및 폭은 각 트렌치 내부에 형성되는 전극의 폭 및 깊이, 전극의 격리 효과, 기판의 두께 등을 고려하여 다양한 범위로 변경될 수 있으므로, 반드시 상기 예시된 범위로 제한되는 것은 아니다.
한편, 상기 반도체 기판(100)에는 상기 제 2 트렌치(20)를 통해 기판을 관통하는 비아-홀(30)이 하나 이상 형성되어 있다.
상기 비아-홀(30)은 에미터 전극(25)이 기판 전면의 에미터층(40)과 전기적으로 연결되도록 하는 매개 역할을 하는 것으로서, 도 4에 나타낸 바와 같이 상기 제 2 트렌치(20)를 통해 기판을 관통한다.
이때, 상기 비아-홀(30)의 형상은 일반적인 직선형일 수 있으며, 바람직하게는 기판의 전면으로 갈수록 비아-홀의 단면적이 계단식으로 또는 연속적으로 작아지는 형태인 것이 태양 전지의 제조 과정에서 에미터 전극(25)의 이격 현상을 최소화할 수 있고 기판 전면의 수광부 면적을 최대화할 수 있어 유리하다.
그리고, 본 발명에 따르면, 상기 비아-홀(30)의 직경은 25 내지 100 ㎛, 바람직하게는 30 내지 90 ㎛, 보다 바람직하게는 30 내지 80 ㎛일 수 있다. 상기 비아-홀(30)의 직경은 에미터 전극(25) 충진 공정의 효율성 및 기판 전면의 수광부 면적 등을 고려하여 상기 범위에서 조절되는 것이 유리하다.
한편, 본 발명에 따른 EWT 태양 전지는 상기 제 1 트렌치(10)의 내부에 형성된 제 1 도전형의 베이스 전극(15)과 상기 제 2 트렌치(20)와 비아-홀(30)의 내부에 형성된 제 2 도전형의 에미터 전극(25)을 포함한다.
본 발명에 있어서, 상기 베이스 전극(15)이 제 1 트렌치(10)의 내부에 형성되어 있다고 함은 제 1 트렌치(10)에 의해 형성된 공간의 일부 또는 전부를 차지하는 형태 형성되어 있음을 의미한다.
즉, 도 2a 및 도 2b와 같이, 상기 베이스 전극(15)은 제 1 트렌치(10)에 의해 형성된 공간의 일부를 차지하는 형태, 바람직하게는 제 1 트렌치(10)의 깊이와 동일한 높이로 형성되어 있을 수 있다. 또는, 도 3a 및 도 3b와 같이, 상기 베이스 전극(15)은 제 1 트렌치에 의해 형성된 공간의 전부를 차지하는 형태, 바람직하게는 제 1 트렌치(10)의 깊이와 동일한 높이로 형성되어 있을 수 있다. 마찬가지로, 상기 에미터 전극(25)은 제 2 트렌치(20)와 비아-홀(30)에 의해 형성된 공간의 일부 또는 전부를 차지할 수 있다.
다만, 본 발명에 따르면 각 전극은 도 2a 및 도 2b와 같은 형태로 구현되는 것이 생산 효율 등의 측면에서 보다 유리하다. 그리고, 도 2a 및 도 2b에서 각 전극과 기판 사이의 빈 공간의 넓이, 또는 도 3a 및 도 3b에서 각 전극이 각 트렌치 내에 모두 채워진 형태 등은 본 발명의 일 구현예를 설명하기 위해 과장하여 표현된 것으로서, 본 발명에 따른 EWT 태양 전지가 상기 각 도면에 구현된 예만으로 한정되는 것은 아니다.
본 발명에 따른 EWT 태양 전지는 상기와 같이 베이스 전극(15) 및 에미터 전극(25)이 각각의 트렌치 내부에 형성됨에 따라, 전극의 격리 효과가 우수하여 누설전류의 발생이 최소화될 수 있을 뿐 아니라, 전극간의 높이 차이가 없어 에너지 변환 효율의 측정시 오차 발생이 최소화될 수 있다.
여기서, 상기 베이스 전극(15)은 기판의 도전성과 같은 제 1 도전형일 수 있으며, 바람직하게는 p형일 수 있다. 또한, 상기 에미터 전극(25)은 상기 베이스 전극(15)과는 다른 제 2 도전형일 수 있으며, 바람직하게는 n 형일 수 있다.
그리고, 바람직하게는, 상기 베이스 전극(15) 및 에미터 전극(25)은 기판의 후면에 형성된 트렌치들의 구조와 마찬가지로, 서로 분리되어 맞물려 있는(interdigitated) 형태를 가질 수 있으며, 그에 따라 각각의 전극은 다수 개의 핑거 전극이 버스바 전극에 연결된 형태, 즉 어골(fish bone) 형태를 가질 수 있다.
한편, 본 발명의 다른 구현예에 따르면,
정상 작동 중에 태양과 마주하는 전면과 상기 전면에 대향하는 후면을 갖는 제 1 도전형의 반도체 기판(100)을 준비하는 단계;
상기 기판의 후면에 물리적으로 서로 분리된 제 1 트렌치(10) 및 제 2 트렌치(20)와, 상기 제 2 트렌치를 통해 기판을 관통하는 하나 이상의 비아-홀(30)을 형성하는 단계;
상기 기판의 전면, 제 2 트렌치(20)의 내부면 및 비아-홀(30)의 내부면 상에 각각 제 2 도전형의 에미터층(40)을 형성하는 단계;
상기 기판의 후면 및 제 1 트렌치(10)의 바닥면 상에 패시베이션층(60)을 형성하고, 상기 기판의 전면에 반사방지층(65)을 형성하는 단계; 및
상기 제 1 트렌치(10)의 내부에 제 1 도전형의 베이스 전극(15)을 형성하고, 상기 제 2 트렌치(20)와 비아-홀(30)의 내부에 제 2 도전형의 에미터 전극(25)을 형성하는 단계
를 포함하는 EWT 태양 전지의 제조 방법이 제공된다.
이하, 도 5를 참고로, 상기 구현예에 따른 EWT 태양 전지의 제조 방법에 대하여 설명한다.
먼저, 도 5의 (a)와 같이, 반도체 기판(100)을 준비한다. 상기 반도체 기판(100)은 정상 작동 중에 태양과 마주하는 전면과 상기 전면에 대향하는 후면을 갖는 것으로서; 그 두께는 150 내지 220 ㎛일 수 있다. 다만, 상기 기판의 두께는 태양 전지에 요구되는 기계적 물성, 기판에 형성되는 트렌치의 깊이 등을 고려하여 결정될 수 있으므로, 상기 범위로 제한되는 것은 아니다.
그리고, 상기 반도체 기판(100)은 제 1 도전형을 갖는 것으로서, 비제한적인 예를 들면 p형 도핑된 실리콘 웨이퍼일 수 있으며, 이 밖에도 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상적인 것이 적용될 수 있다.
도 5의 (a)에는 도시되어 있지 않으나, 도 2a와 같이 상기 반도체 기판(100)의 전면은 요철 구조를 가지도록 텍스쳐링(texturing)되어 있을 수 있다. 여기서, 상기 요철 구조는 규칙적인 역 피라미드 패턴을 포함하는 다양한 형태를 가질 수 있다.
상기 텍스쳐링은 기판 전면에서의 태양광 반사를 줄이기 위한 것으로서, 습식 식각 방법 또는 반응성 이온 식각 등의 건식 식각 방법을 적용하여 진행될 수 있다. 비제한적인 예를 들면, 상기 습식 식각 방법의 경우 수산화칼륨, 수산화나트륨, 수산화암모늄, 테트라히드록시메틸암모늄 및 테트라히드록시에틸암모늄으로 이루어진 군에서 선택되는 1종 이상의 알칼리 화합물을 포함하는 식각액 조성물이 사용될 수 있다. 그리고 상기 식각액 조성물에는 비점 100℃ 이상, 바람직하게는 150 내지 400℃인 고리형 화합물이 포함될 수 있다. 이때 상기 고리형 화합물은 조성물 전체 중량을 기준으로 0.1 내지 50 중량%, 바람직하게는 2 내지 30 중량%, 보다 바람직하게는 2 내지 10 중량%로 포함될 수 있다. 상기 고리형 화합물은 결정성 실리콘 표면의 젖음성을 개선시켜 상기 알칼리 화합물에 의한 과에칭을 방지할 수 있으며, 에칭되어 용해된 수소 버블을 빨리 떨어뜨림으로써 버블 스틱 현상이 발생하는 것을 방지하는 역할도 한다.
그리고, 도 5의 (b)와 같이, 상기 기판의 후면에 물리적으로 서로 분리된 제 1 트렌치(10) 및 제 2 트렌치(20)와, 상기 제 2 트렌치를 통해 기판을 관통하는 하나 이상의 비아-홀(30)을 형성하는 단계가 수행될 수 있다.
상기 제 1 트렌치(10) 및 제 2 트렌치(20)는 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상적인 방법에 의해 형성될 수 있으며, 바람직하게는 레이져 그루빙(grooving)을 이용하여 기판(100)의 후면에 그리드 라인을 그루빙하는 방법으로 형성될 수 있다.
본 발명에 따르면, 상기 제 1 트렌치(10)와 제 2 트렌치(20)는 기판의 후면 상에 물리적으로 서로 분리되어 연결되지 않는 형태로 형성될 수 있으며, 이때 그 형태는 특별히 제한되지 않으나, 서로 분리되어 맞물려 있는(interdigitated) 형태로 형성되는 것이 태양 전지의 효율 향상 측면에서 유리하다.
그리고 본 발명에 따르면, 상기 제 1 트렌치(10) 및 제 2 트렌치(20)는 각각 독립적으로 상기 기판의 후면 상에 200 내지 700 ㎛의 폭 및 20 내지 60 ㎛의 깊이로 형성될 수 있다. 이때 각 트렌치의 깊이 및 폭은 각 트렌치 내부에 형성되는 전극의 폭 및 깊이, 전극의 격리 효과, 기판의 두께 등을 고려하여 다양한 범위로 변경될 수 있으므로, 반드시 상기 예시된 범위로 제한되는 것은 아니다.
그리고, 상기 비아-홀(30)은 제 2 트렌치(20)를 통해 기판을 관통하도록 하나 이상 형성될 수 있다. 상기 비아-홀(30)을 형성하기 위해서는 레이져 드릴링 공정, 습식 에칭 공정, 건식 에칭 공정, 기계적 드릴링 공정, 워터젯 머시닝 공정 또는 이들의 혼합 공정 등이 적용될 수 있고, 그 중 레이져 드릴링 공정을 이용하는 것이 공정 효율 및 정밀도 향상 측면에서 유리하다. 비제한적인 예를 들면, 상기 레이져 드릴링 공정을 이용하는 경우, 0.5 내지 5 ms 정도의 시간에 하나의 홀이 형성될 수 있도록 충분한 강도의 레이져가 이용되는 것이 바람직하며, Nd:YAG 레이져 등이 이용될 수 있다. 이때, 상기 비아-홀(30)의 직경은 25 내지 100 ㎛, 바람직하게는 30 내지 90 ㎛, 보다 바람직하게는 30 내지 80 ㎛가 되도록 조절될 수 있다.
상기 예시와 같이 레이져를 이용하여 제 1 트렌치(10), 제 2 트렌치(20) 및 비아-홀(30)을 형성시킬 경우 기판의 열 손상(thermal damage)이 수반될 수 있는데, 이 경우 손상된 영역을 제거하기 위한 에칭 공정(damage removal etching)이 추가로 수행될 수 있다. 비제한적인 예를 들면, 상기 공정은 기판 표면의 버(burr)와 같은 손상 영역을 제거하기 위한 것으로서, 전술한 바와 같은 알칼리 화합물을 포함하는 식각액 조성물을 사용하여 70 내지 100 ℃의 온도 조건에서 1 내지 10 분 동안 수행될 수 있다.
이어서, 상기 기판의 전면, 제 2 트렌치(20)의 내부면 및 비아-홀(30)의 내부면 상에 각각 제 2 도전형의 에미터층(40)을 형성하는 단계가 수행될 수 있다.
상기 단계는 기판(100)의 전면과 에미터 전극(25)이 형성될 영역에 에미터층(40)을 형성하는 단계로서, 본 발명의 일 구현예에 따르면, 도 5의 (c) 내지 (f)의 순서로 수행될 수 있다.
도 5의 (c)는 기판의 둘레에 제 2 도전형의 에미터층(40)을 형성하는 공정으로서, 제 2 도전형 불순물을 포함하는 가스의 존재 하에 상기 반도체 기판(100)을 열처리하거나, 제 2 도전형 불순물을 함유하는 고체 상태의 소스 또는 스프레이 온 확산형 소스를 이용하여 수행될 수 있다. 일 예로, 기체상의 POCl3, P2O5, PH3, 또는 이들의 혼합물인 제 2 도전형 불순물을 불활성 기체의 캐리어 가스와 혼합하여 공급하고, 상기 반도체 기판(100)을 800 내지 900℃의 온도로 10 내지 60분 동안 열처리하는 방법으로 수행될 수 있다. 이때, 상기 제 2 도전형의 에미터층(40)은 20~60Ω/sq.의 면저항을 갖도록 하는 것이 태양 전지의 효율 측면에서 유리하다.
도 5의 (d)는 기판(100)의 후면에 형성된 에미터층을 제거하기 위하여 에칭-레지스트(50)를 형성하는 공정으로서, 상기 에칭-레지스트(50)는 기판(100)의 전면과 제 2 트렌치(20) 및 비아-홀(30)의 내부에 형성될 수 있다. 여기서, 상기 에칭-레지스트(50)의 형성에 사용되는 조성물은 반도체 기판의 에칭 과정에서 물리적 그리고 화학적으로 안정한 물질이면 족하므로, 그 구성이 특별히 제한되지 않는다. 그리고, 상기 에칭-레지스트(50)는 레지스트용 조성물을 잉크젯 프린팅, 마스킹, 스텐실, 스크린 프린팅과 같은 인쇄법으로 도포하여 형성될 수 있으며, 이때 레지스트용 조성물이 그리드 라인의 그루빙 폭(즉, 제 2 트렌치의 폭)을 넘지 않도록 한다.
도 5의 (e)는 에칭-레지스트가 형성되어 있지 않은 면의 에미터층(40)을 선택적으로 제거하는 공정으로서, 에칭 시간 등을 제어하여 제거하고자 하는 에미터층의 깊이만큼 에칭되도록 할 수 있다.
도 5의 (f)는 상기 에칭-레지스트를 제거하는 공정으로서, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상적인 방법을 이용하여 수행될 수 있다. 그리고, 상기 에칭-레지스트의 제거 공정 후, 암모니아수, 과산화수소 또는 이들의 혼합 용액을 사용하여 기판을 세척하는 단계가 추가로 수행될 수 있다.
상기와 같이, 도 5의 (c) 내지 (f)의 순서로 기판(100)의 전면과 에미터 전극(25)이 형성될 영역에 에미터층(40)을 형성시킬 수 있다. 다만, 상기 공정 순서 및 방법은 본 발명에 따른 일 구현예에 불과한 것으로서, 이 밖에도 다양한 공정들을 응용하여 도 5의 (f)와 같은 상태가 구현될 수 있다.
이어서, 도 5의 (g)와 같이, 상기 기판의 후면 및 제 1 트렌치(10)의 바닥면 상에 패시베이션층(60)을 형성하고, 상기 기판의 전면에 반사방지층(65)을 형성하는 단계가 수행될 수 있다.
상기 패시베이션층(60)은 기판 후면에서의 광발생 캐리어(photogenerated carriers)의 손실을 감소시키는 것을 돕고 션트 전류(shunt currents)로 인한 전기적 손실을 감소시키는 것을 돕는다.
그리고, 상기 반사방지층(65)은 기판의 전면에 형성된 에미터층(40) 상에 형성되는 유전체막으로서, 태양 전지의 내부로 수광된 빛이 태양 전지의 외부로 다시 빠져나가는 것을 방지하는 역할을 하며, 기판의 전면에서 전자의 트랩 싸이트(trap site)로 작용하는 표면 결함을 부동태화(passivation)시키는 역할을 수행할 수 있다.
상기와 같은 패시베이션층(60) 및 반사방지층(65)의 작용들은 단일 물질 또는 서로 다른 복수의 물질에 의해 나타날 수 있다. 그리고, 상기 반사방지층(65)은 단일 박막 또는 다층 박막일 수 있다. 비제한적인 예를 들면, 상기 패시베이션층(60) 및 반사방지층(65)은 각각 독립적으로 반도체 산화물, 반도체 질화물, 질소를 함유하는 반도체 산화물, 수소를 함유하는 반도체 질화물, Al2O3, MgF2, ZnS, MgF2, TiO2 및 CeO2로 이루어진 군에서 선택되는 1종 이상의 물질을 포함하는 단일 박막 또는 다층 박막일 수 있다.
상기 패시베이션층(60) 및 반사방지층(65)은 각각 반도체 패시베이션 공정에서 통상적으로 적용되는 박막 형성 방법을 적용하여 형성될 수 있으며, 일 예로, 물리적 증착(PVD), 화학적 증착(CVD), 플라즈마 증착(PECVD), 열적 증착(thermal evaporation) 등의 방법으로 형성될 수 있으며, 또는 잉크 혹은 페이스트를 사용한 일반적인 인쇄 공정에 의해 형성될 수 있다.
이어서, 도 5의 (h)와 같이, 상기 제 1 트렌치(10)의 내부에 제 1 도전형의 베이스 전극(15)을 형성하고, 상기 제 2 트렌치(20)와 비아-홀(30)의 내부에 제 2 도전형의 에미터 전극(25)을 형성하는 단계가 수행될 수 있다.
특히, 본 발명에 따른 EWT 태양 전지의 제조 방법은 상기와 같이 각 전극이 각각의 트렌치 내부에 형성됨에 따라, 상기 과정에서 각 전극의 정렬 상태를 육안으로도 정확히 판별할 수 있어 향상된 생산성을 제공할 수 있다.
본 발명에 따르면, 상기 베이스 전극(15)은 기판과 동일한 도전형을 갖는 p형일 수 있고, 상기 에미터 전극(25)은 그와 반대인 도전형을 갖는 n형일 수 있다.
그리고, 상기 베이스 전극(15) 및 에미터 전극(25)의 형성에 사용되는 조성물은 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상적인 것일 수 있으므로 그 구성이 특별히 제한되지 않는다. 다만, 바람직하게는, 상기 베이스 전극(15)은 알루미늄 계열의 조성물을 사용하여 형성될 수 있고, 상기 에미터 전극(25)은 실버 계열의 조성물을 사용하여 형성될 수 있다. 그리고, 상기 각각의 전극은 상기 조성물을 해당 영역에 프린팅하는 방법으로 형성될 수 있다.
이때, 상기 베이스 전극(15)은 도 2a 및 도 2b와 같이, 제 1 트렌치(10)에 의해 형성된 공간의 일부를 차지하는 형태로 형성될 수 있으며, 또는 도 3a 및 도 5의 (h)와 같이 제 1 트렌치(10)에 의해 형성된 공간의 전부를 차지하는 형태로 형성될 수 있다. 마찬가지로, 상기 에미터 전극(25)은 제 2 트렌치(20)와 비아-홀(30)에 의해 형성된 공간의 일부 또는 전부를 차지할 수 있다.
상기와 같은 방법으로 형성된 베이스 전극(15) 및 에미터 전극(25)은 기판의 후면에 형성된 트렌치들의 구조와 마찬가지로, 서로 분리되어 맞물려 있는(interdigitated) 형태를 가질 수 있으며, 그에 따라 각각의 전극은 다수 개의 핑거 전극이 버스바 전극에 연결된 형태, 즉 어골(fish bone) 형태를 가질 수 있다.
이하, 본 발명의 이해를 돕기 위하여 바람직한 실시예를 제시한다. 그러나 하기의 실시예는 본 발명을 예시하기 위한 것일 뿐, 본 발명을 하기 내용으로 한정하는 것은 아니다.
실시예
:
EWT
태양 전지의 제조
p형 도핑된 실리콘 웨이퍼(두께 약 180 ㎛) 상에 레이져 드릴링 장치(Nd-YAG 레이져)를 이용하여 약 180 ㎛의 깊이와 약 80 ㎛의 직경을 갖는 비아-홀(30)을 다수 개 형성시켰고, 이어서, 약 600 ㎛의 폭과 약 60 ㎛의 깊이를 갖는 제 1 트렌치(10) 및 약 400 ㎛의 폭과 약 60 ㎛의 깊이를 갖는 제 2 트렌치(20)를 형성시켜 도 5의 (b)와 같은 단면 형상을 갖는 기판을 얻었다.
그리고, 상기 기판을 POCl3 가스 분위기 및 약 850 ℃의 온도 조건 하에서 약 30분 동안 열처리하는 방법으로, 면저항 약 50Ω/□인 에미터층(40)을 형성시켰다.
이어서, 도 5의 (d)와 같이, 상기 기판 상에 에칭-레지스트(50)를 스크린 프린팅 방식으로 인쇄하였고, 상기 기판을 질산 및 불산을 포함하는 조성물에 약 3 분 동안 디핑하는 방법으로 도 5의 (e)와 같이 기판의 후면에 형성된 에미터층을 제거하였다. 그리고, 상기 기판을 메탄올 및 에탄올 등의 알코올을 포함하는 유기 용매에 약 1시간 동안 디핑하는 방법으로 에칭-레지스트를 제거하였다.
이어서, 플라즈마 증착법을 이용하여 상기 기판의 양면에 두께 약 80 nm의 실리콘 나이트라이드 막을 형성시켜 도 5의 (g)와 같은 형성의 기판을 얻었다(SiH4 및 NH3의 혼합 가스 사용, 증착시간 약 200초).
그 후, 상기 기판의 제 1 트렌치 내에 폭 약 400 ㎛로 알루미늄 계열의 페이스트를 인쇄하여 베이스 전극(15)을 형성시켰고; 비아-홀 내부와 제 2 트렌치 내에 폭 약 200 ㎛로 실버 계열의 페이스트를 인쇄하여 에미터 전극(25)을 형성시키는 방법으로 EWT 태양 전지를 제조하였다.
100: 반도체 기판
10: 제 1 트렌치 20: 제 2 트렌치 30: 비아-홀
15: 베이스 전극 25: 에미터 전극
40: 에미터층 50: 에칭-레지스트
60: 패시베이션층 65: 반사방지층
10: 제 1 트렌치 20: 제 2 트렌치 30: 비아-홀
15: 베이스 전극 25: 에미터 전극
40: 에미터층 50: 에칭-레지스트
60: 패시베이션층 65: 반사방지층
Claims (14)
- 정상 작동 중에 태양과 마주하는 전면과 상기 전면에 대향하는 후면을 가지며, 상기 후면 상에 제 1 트렌치(10) 및 제 2 트렌치(20)가 서로 물리적으로 분리되어 형성되어 있고, 상기 제 2 트렌치를 통해 기판을 관통하는 비아-홀(via-hole)(30)이 하나 이상 형성되어 있는 제 1 도전형의 반도체 기판(100); 및
상기 제 1 트렌치(10)의 내부에 형성된 제 1 도전형의 베이스 전극(15)과, 상기 제 2 트렌치(20) 및 비아-홀(30)의 내부에 형성된 제 2 도전형의 에미터 전극(25)
을 포함하는 에미터 랩 스루 태양 전지.
- 제 1 항에 있어서,
상기 제 1 트렌치(10)와 제 2 트렌치(20)는 물리적으로 서로 분리되어 맞물려 있는(interdigitated) 에미터 랩 스루 태양 전지.
- 제 1 항에 있어서,
상기 반도체 기판(100)은 p-형 도핑된 실리콘 웨이퍼인 에미터 랩 스루 태양 전지.
- 제 1 항에 있어서,
상기 반도체 기판(100)의 전면은 요철 구조로 텍스쳐링(texturing)되어 있는 에미터 랩 스루 태양 전지.
- 제 1 항에 있어서,
상기 반도체 기판(100)은 150 내지 220 ㎛의 두께를 갖는 에미터 랩 스루 태양 전지.
- 제 1 항에 있어서,
상기 제 1 트렌치(10) 및 제 2 트렌치(20)는 각각 독립적으로 상기 기판의 후면 상에 200 내지 700 ㎛의 폭 및 20 내지 60 ㎛의 깊이로 형성되어 있는 에미터 랩 스루 태양 전지.
- 제 1 항에 있어서,
상기 비아-홀(30)의 직경은 25 내지 100 ㎛인 에미터 랩 스루 태양 전지.
- 제 1 항에 있어서,
상기 베이스 전극(15)은 상기 제 1 트렌치(10)에 의해 형성된 공간의 전부를 차지하고, 상기 에미터 전극(25)은 상기 제 2 트렌치(20) 및 비아-홀(30)에 의해 형성된 공간의 전부를 차지하는 에미터 랩 스루 태양 전지.
- 정상 작동 중에 태양과 마주하는 전면과 상기 전면에 대향하는 후면을 갖는 제 1 도전형의 반도체 기판(100)을 준비하는 단계;
상기 기판의 후면에 물리적으로 서로 분리된 제 1 트렌치(10) 및 제 2 트렌치(20)와, 상기 제 2 트렌치를 통해 기판을 관통하는 하나 이상의 비아-홀(30)을 형성하는 단계;
상기 기판의 전면, 제 2 트렌치(20)의 내부면 및 비아-홀(30)의 내부면 상에 각각 제 2 도전형의 에미터층(40)을 형성하는 단계;
상기 기판의 후면 및 제 1 트렌치(10)의 바닥면 상에 패시베이션층(60)을 형성하고, 상기 기판의 전면에 반사방지층(65)을 형성하는 단계; 및
상기 제 1 트렌치(10)의 내부에 제 1 도전형의 베이스 전극(15)을 형성하고, 상기 제 2 트렌치(20)와 비아-홀(30)의 내부에 제 2 도전형의 에미터 전극(25)을 형성하는 단계
를 포함하는 에미터 랩 스루 태양 전지의 제조 방법.
- 제 9 항에 있어서,
상기 제 1 트렌치(10)와 제 2 트렌치(20)는 레이져 그루빙에 의해 형성되는 에미터 랩 스루 태양 전지의 제조 방법.
- 제 9 항에 있어서,
상기 제 1 트렌치(10)와 제 2 트렌치(20)는 물리적으로 서로 분리되어 맞물려 있는(interdigitated) 형태로 형성되는 에미터 랩 스루 태양 전지의 제조 방법.
- 제 9 항에 있어서,
상기 제 1 트렌치(10) 및 제 2 트렌치(20)는 각각 독립적으로 상기 기판의 후면에 200 내지 700 ㎛의 폭 및 20 내지 60 ㎛의 깊이로 형성되는 에미터 랩 스루 태양 전지의 제조 방법.
- 제 9 항에 있어서,
상기 비아-홀(30)은 레이져 드릴링 공정, 습식 에칭 공정, 건식 에칭 공정, 기계적 드릴링 공정, 워터젯 머시닝 공정 또는 이들의 혼합 공정에 의해 형성되는 에미터 랩 스루 태양 전지의 제조 방법.
- 제 9 항에 있어서,
상기 베이스 전극(15)은 상기 제 1 트렌치(10)에 의해 형성된 공간의 전체를 차지하도록 형성되고, 상기 에미터 전극(25)은 상기 제 2 트렌치(20) 및 비아-홀(30)에 의해 형성된 공간의 전체를 차지하도록 형성되는 에미터 랩 스루 태양 전지의 제조 방법.
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