JP2008299961A - 光ディスク装置、およびフォーカス位置制御方法 - Google Patents

Abstract

【課題】光ディスクに傷等の外乱が存在しても、安定してレイヤージャンプ動作を行うこと。
【解決手段】受光素子の加算信号をハイパスフィルタ処理した信号の振幅を前記振幅が閾値αより大きいか否かを判別する判別部２０３と、加算信号をローパスフィルタ処理した信号の強度が閾値βより大きいか否かを判別する判別部２０４と、光ビームのフォーカス位置を制御するために前記駆動コイルに駆動電圧を供給する制御回路８７であって、振幅が閾値αより大きい場合、或いは前記振幅が前記閾値αより大きくなく、且つ前記強度が前記閾値βより小さい場合に、前記フォーカスエラー信号に応じた駆動電圧を前記駆動コイルに供給し、前記振幅が閾値αより大きくなく、且つ前記強度が閾値βより小さくない場合に前記フォーカスエラー信号に係わらず一定の電圧値の駆動電圧を前記駆動コイルに供給する前記フォーカス位置制御部８７とを具備する。
【選択図】 図３

Description

本発明は、複数の記録層を有する光ディスクに対して照射される光ビームのフォーカス位置を層間移動させる光ディスク装置およびフォーカス位置制御方法に関する。

ＤＶＤ（digital versatile disk）やＨＤ ＤＶＤ等は複数の記録層を有する。ある記録層から別の記録層の情報を再生する場合に、光ビームのフォーカス位置が層間移動する、所謂レイヤージャンプ動作が行われる。

特許文献１には、ＲＦ信号の振幅情報を監視し、レイヤージャンプ時にフォーカス位置が目標位置から外れてＲＦ信号の振幅が小さくなった場合に、強制的に目的の層に引き戻すためにヒステリシス動作を行う技術が開示されている。
特開平１１−２１９５３０号公報

光ディスクに傷部を光ビームが通過した場合に、ＲＦ信号の振幅は小さくなるので、ヒステリシス動作が起こってしまう。その結果、サーボが不安定になりレイヤージャンプ動作が終了するまでに時間かかかるということがある。

本発明の目的は、光ディスクに傷等の外乱があっても、安定してレイヤージャンプ動作を行うことが可能な光ディスク装置、およびフォーカス位置制御方法を提供することにある。

本発明の一例に係わる光ディスク装置は、光ディスクに記録された情報を光ビームを用いて検出してデータの再生または記録を行う光ディスク装置であって、光ディスクに対して前記光ビームを照射するための対物レンズと、前記対物レンズを前記光ビームの光軸方向に移動させるための駆動コイルと、前記光ディスクからの反射光、または透過光を分割して検出し、検出信号を出力する複数の受光素子を有する分割受光素子と、前記分割受光素子のそれぞれの受光素子の検出信号からフォーカスエラー信号を生成するフォーカスエラー検出器と、前記各受光素子の加算信号をハイパスフィルタ処理した信号の振幅を検出する振幅検出器と、前記各受光素子の加算信号をローパスフィルタ処理した信号の強度を検出する強度検出器と、前記振幅が第１閾値より大きいか否かを判別する振幅判別手段と、前記強度が第２閾値より大きいか否かを判別する強度判別手段と、前記光ビームのフォーカス位置を制御するために前記駆動コイルに駆動電圧を供給するフォーカス位置制御部であって、前記振幅が前記第１閾値より大きい場合、或いは前記振幅が前記第１閾値より大きくなく、且つ前記強度が前記第２閾値より小さい場合に、前記フォーカスエラー信号に応じた駆動電圧を前記駆動コイルに供給し、前記振幅が第１閾値より大きくなく、且つ前記強度が第２閾値より小さくない場合に前記フォーカスエラー信号に係わらず一定の電圧値の駆動電圧を前記駆動コイルに供給する前記フォーカス位置制御部とを具備することを特徴とする。

光ディスクに傷等の外乱が有っても、安定してレイヤージャンプ動作を行うことが可能になる。

本発明の実施の形態を以下に図面を参照して説明する。

図１は、本発明の一実施形態に係る光ディスク装置の構成を示すブロック図である。

光ディスク装置１１にセットされた光ディスク６１は、ユーザデータを記録可能な光ディスクあるいは読出し専用の光ディスクであるが、この実施形態では記録可能な多層構造の光ディスクとして説明する。なお、情報記録面を多層構造で有する光ディスクとしては、ＤＶＤ−Ｒ等が挙げられるが、これに限らず多層記録可能な光ディスクであればよい。

光ディスク６１の情報記録面には、スパイラル状にランドトラックおよびグルーブトラックが形成されている。この光ディスク６１はスピンドルモータ６３によって回転駆動される。

光ディスク６１に対する情報の記録、再生は、光ピックアップ６５（図中左側の破線で囲んだ部分）によって行われる。光ピックアップ６５は、スレッドモータ６６とギア等を含む連結部１０１を介して連結されており、このスレッドモータ６６はスレッドモータ制御回路６８により制御される。

図中のスレッドモータ６６の下部に位置する速度検出回路６９は、光ピックアップの移動速度を検出するものであり、上述のスレッドモータ制御回路６８に接続されている。速度検出回路６９により検出される光ピックアップ６５の速度信号がスレッドモータ制御回路６８に送られる。また、スレッドモータ６６の固定部に、図示しない永久磁石を設けており、駆動コイル６７がスレッドモータ制御回路６８によって励磁されることにより、光ピックアップ６５が光ディスク６１の半径方向に駆動する。

光ピックアップ６５には、図示しない例えばワイヤあるいは板バネによって支持された対物レンズ７０が設けられる。対物レンズ７０は、トラッキング駆動コイル７１の駆動によりトラッキング方向（レンズの光軸と直交する方向）への移動が可能である。また、対物レンズ７０は、フォーカシング駆動コイル７２の駆動によりトラッキング方向（レンズの光軸と直交する方向）およびフォーカシング方向（レンズの光軸方向）への移動が可能である。

変調回路７３は、光ディスク６１への情報記録する場合、ホスト装置９４からインターフェース回路９３およびバス８９を介して記録する情報信号を受け、これを光ディスク６１の規格に定められた変調方式（例えば８−１６変調）にて変調する。レーザ駆動回路７５は、光ディスク６１への情報記録時（マーク形成時）に、変調回路７３から供給される変調データに基づいて書込み用信号を半導体レーザダイオード７９に供給する。またレーザ駆動回路７５は、情報再生時には書込み用信号より小さい読取り用信号を半導体レーザダイオード７９に供給する。

半導体レーザダイオード７９は、レーザ駆動回路７５から供給される信号に応じてレーザ光を発生する。半導体レーザダイオード７９から発せられるレーザ光は、コリメータレンズ８０、ハーフプリズム８１、対物レンズ７０を介して光ディスク６１上に照射される。光ディスク６１からの反射光は、対物レンズ７０、ハーフプリズム８１、集光レンズ８２、シリンドリカルレンズ８３を介して光検出器８４に導かれる。

なお、半導体レーザダイオード７９は、それぞれＣＤ用（赤外：波長７８０ｎｍ）、ＤＶＤ用（赤：波長６５０ｎｍ）、ＨＤ ＤＶＤ用（青紫：波長４０５ｎｍ）のレーザ光を出射する３つの半導体レーザダイオードからなっている。これら半導体レーザダイオードは、同一ＣＡＮパッケージ内に収容されていてもよく、あるいは、独立した３つのＣＡＮパッケージ内にそれぞれ収容され、光ピックアップ６５のベース上に個別に配置されるものであっても良い。光学系は、半導体レーザの構成に応じて適宜、その構成・配置が変更される。

なお、光学系を構成する各部品のうち対物レンズは、ＨＤＤＶＤ用レーザ光を適正にディスク上に収束させ得るよう設計されている。また、光学系には、ＤＶＤ用レーザ光とＣＤ用レーザ光を使用する際に生じる収差を抑制するための収差補正素子（回折素子、位相補正素子、等）や、ＣＤ用レーザ光を使用する際に対物レンズに対する開口数を制限するための開口数制限素子（液晶シャッター、回折素子、等）が含まれている。

光検出器８４は、例えば４分割の光検出セル８４Ａ〜８４Ｄから構成されている。光検出器８４の各光検出セル８４Ａ〜８４Ｄの出力信号は、それぞれ電流／電圧変換用のアンプ８５Ａ〜８５Ｄを介して、光検出セル８４Ａと光検出セル８４Ｂの出力を加算する加算器８６Ａ、光検出セル８４Ｄと光検出セル８４Ｂの出力を加算する加算器８６Ｂ、光検出セル８４Ａと光検出セル８４Ｂの出力を加算する加算器８６Ｃ、光検出セル８４Ｄと光検出セル８４Ｂの出力を加算する加算器８６Ｄに供給される。加算器８６Ａ、８６Ｂの出力は差動アンプＯＰ２に供給され、加算器８６Ｃ、８６Ｄの出力はＯＰ１に供給される。

差動アンプＯＰ２は、加算器８６Ａ、８６Ｂの両出力信号の差に応じた、フォーカスエラー信号ＦＥを生成する。このフォーカスエラー信号ＦＥは、フォーカシング制御回路８７に供給される。フォーカシング制御回路８７の出力信号ＦＣは、フォーカシング駆動コイル７２に供給される。供給されたフォーカシング制御回路８７の出力信号ＦＣに基づいて、レーザ光が光ディスク６１の記録面上に常時ジャストフォーカスとなる制御がなされる。さらにフォーカシング制御回路８７は、フォーカスエラー信号ＦＥの振幅を測定する測定機能を有し、その測定値は、バス８９を介してＣＰＵ９０に出力される。

差動アンプＯＰ１は、加算器８６Ｃ、８６Ｄの両出力信号の差に応じたトラッキングエラー信号ＴＥを生成する。このトラッキングエラー信号ＴＥはトラッキング制御回路８８に供給され、トラッキング制御回路８８では、このトラッキングエラー信号ＴＥに応じてトラッキング駆動信号を生成する。トラッキング制御回路８８から出力されるトラッキング駆動信号は、対物レンズ７０を光軸と直交する方向へ駆動するトラッキング駆動コイル７１に供給される。供給されたトラッキング駆動信号に基づいて、レーザ光が光ディスク６１の記録面上の所定箇所に照射される制御がなされる。また、トラッキング制御回路８８で用いられるトラッキングエラー信号ＴＥが、スレッドモータ制御回路６８にも供給される。

以上のようにフォーカシング制御およびトラッキング制御がなされることで、光検出器８４の光検出セル８４Ａ〜８４Ｄの出力信号の和信号、つまり加算器８６Ｃ、８６Ｄの両出力信号を加算する加算器８６Ｅの出力和信号ＲＦによって、記録情報に忠実な信号を得ることができる。この出力和信号ＲＦは、データ再生回路７８に供給される。

演算増幅器ＯＰ３は、加算器８６Ｃ、８６Ｄの両出力信号を加算し、加算信号に対してハイパスフィルタ処理を行った信号を生成する。演算増幅器ＯＰ３の出力信号（ＲＦ信号）は、ＲＦ振幅検出回路１００に供給され、ＲＦ信号の振幅に比例したレベルの信号（ＲＦ Ｒｉｐｐｌｅ）が生成される。ＲＦ振幅検出回路１００は、ＲＦ信号のピーク値およびボトム値をそれぞれ検波して、その差分値を求める回路で構成されている。

演算増幅器ＯＰ４は、加算器８６Ｃ、８６Ｄの両出力信号を加算し（検出セル８４Ａ〜８４Ｄの出力の加算信号）、加算信号に対してローパスフィルタ処理を行う。そして、ローパスフィルタ処理が行われた加算信号の強度を検出することによって、強度に応じたＳＢＡＤ（sub-beam addion）信号を生成する。

次に、図１の最下部に位置するデータ再生回路７８は、ＰＬＬ回路７６からの再生用クロック信号に基づき、読み出された記録データを再生する。さらにデータ再生回路７８は、信号ＲＦの振幅を測定する測定機能を有し、その測定値は、バス８９を介してＣＰＵ９０に出力される。

スレッドモータ制御回路６８は、スレッドモータ６６を制御し、対物レンズ７０が光ピックアップ６５内の中心位置近傍に位置するように光ピックアップ６５の本体を移動させる。

また、モータ制御回路６４、スレッドモータ制御回路６８、変調回路７３、レーザ駆動回路７５、ＰＬＬ回路７６、データ再生回路７８、フォーカシング制御回路８７、トラッキング制御回路８８等は、１つのＬＳＩチップ内に構成することができ、これら回路は、バス８９を介してＣＰＵ９０によって制御される。ＣＰＵ９０は、インターフェース回路９３を介してホスト装置９４から供給される動作コマンドに従って、この光ディスク記録再生装置を総合的に制御する。またＣＰＵ９０は、ＲＡＭ９１を作業エリアとして使用し、ＲＯＭ９２に記録された本実施形態に係る処理を含むプログラムに従って、所定の制御を行う。

次に、レイヤージャンプ動作について説明する。本実施形態では、レイヤージャンプの制御に、フォーカスエラー信号ＦＥ、ＲＦ振幅情報ＲＦ Ｒｉｐｐｌｅ、およびＳＢＡＤ信号を用いる。

図２に、対物レンズ７０を下から上に上げたときの、各種信号の波形を示す。図２に示すように、信号の検出範囲は、ＳＢＡＤ＞ＦＥ＞ＲＦ Ｒｉｐｐｌｅであり、ＳＢＡＤ信号の検出範囲が最も広い。

本実施形態では、ＳＢＡＤ信号の検出範囲が広いという特性を利用して、レイヤージャンプ時に傷検出をして、レイヤージャンプ時のヒステリシス動作をさせないように制御する。

図３を参照して、レイヤージャンプを行うための構成を説明する。

レイヤージャンプを行うために、光ディスク装置は、差動アンプＯＰ２演算増幅器ＯＰ３、演算増幅器ＯＰ４、フォーカシング駆動コイル７２、フォーカシング制御回路８７、ＲＦ振幅検出回路１００、レイヤージャンプ制御部２００、目標範囲ＦＥ判定部２０１、ゼロクロス判定部２０２、ＲＦ Ｒｉｐｐｌｅ判定部２０３、ＳＢＡＤ判定部２０４、タイマ２０５等を有する。

なお、レイヤージャンプ制御部２００、目標範囲ＦＥ判定部２０１、ゼロクロス判定部２０２、ＲＦ Ｒｉｐｐｌｅ判定部２０３、ＳＢＡＤ判定部２０４、およびタイマ２０５は、ＣＰＵ９０によって実行されるプログラムである。

フォーカシング制御回路８７は、レジスタ８７Ａを有する。レジスタにはフォーカシング駆動コイル７２に供給される制御信号ＦＯの電圧値が格納される。フォーカシング制御回路８７は、レジスタ８７Ａに格納された値に応じた駆動電圧ＦＯをフォーカシング駆動コイル７２に供給する。

レイヤージャンプ制御部２００は、フォーカシング制御回路８７にレイヤージャンプ動作の開始／停止の指示、や目標範囲ＦＥ判定部２０１、ゼロクロス判定部２０２、ＲＦ Ｒｉｐｐｌｅ判定部２０３、ＳＢＡＤ判定部２０４、タイマ２０５等の処理結果に対して所定の処理を行う。

フォーカシング制御回路８７は、レイヤージャンプ制御部２００からレイヤージャンプ動作の開始が指示されると、フォーカスサーボをオフし、レジスタ８７Ａにジャンプパルス電圧の値を設定する。フォーカシング制御回路８７は、対物レンズ７０の移動速度が速くなるようにレジスタ８７Ａに格納される値を変化させる。

目標範囲ＦＥ判定部２０１は、レイヤージャンプ時のフォーカスエラー信号ＦＥが目標範囲内の値であるか否かを判別し、判別結果をレイヤージャンプ制御部２００に送る。レイヤージャンプ制御部２００は、目標範囲ＦＥ判定部２０１がフォーカスエラー信号ＦＥが目標範囲になったと判断したら、レイヤージャンプ制御部２００はフォーカシング制御回路８７に、ブレーキパルス電圧の供給を指示する。フォーカシング制御回路８７は、レジスタ８７Ａにブレーキパルス電圧の値を設定する。フォーカシング制御回路８７は、対物レンズ７０の移動速度が遅くなるようにレジスタ８７Ａに格納される電圧値の値を変化させる。

ゼロクロス判定部２０２は、ブレーキバルス電圧の供給後に実行される。ゼロクロス判定部２０２は、フォーカスエラー信号ＦＥがゼロクロスしたか否かを判別、判別結果をレイヤージャンプ制御部２００に送る。レイヤージャンプ制御部２００は、フォーカシング制御回路８７に、フォーカスサーボの実行を指示する。フォーカシング制御回路８７は、レジスタ８７Ａへのブレーキバルス電圧の値の格納を辞め、フォーカスエラー信号ＦＥに応じた電圧値を格納する。

ＲＦ Ｒｉｐｐｌｅ判定部２０３は、サーボオン後に実施される。ＲＦ Ｒｉｐｐｌｅ判定部２０３は、ＲＦ振幅が閾値αより大きいか否かを判別し、判別結果をレイヤージャンプ制御部２００に送る。ＲＦ振幅が閾値αより大きくない場合、レイヤージャンプ制御部２００は、タイマ２０５による時間測定を開始させる。タイマ２０５が計測を行っていれば、レイヤージャンプ制御部２００、時間測定を継続させる。また、レイヤージャンプ制御部２００は、タイマ２０５の測定時間Ｔｍを参照し、測定時間Ｔｍが設定時間Ｔｈより長いか否かを判別し、測定時間Ｔｍが設定時間Ｔｈより長い場合に、レイヤージャンプ動作を停止する処理を行う。レイヤージャンプ制御部２００は、ＲＦ振幅が閾値αより大きくない場合に、ＳＢＡＤ判定部２０４に、ＳＢＡＤ信号の判定処理を行わせる。

ＳＢＡＤ判定部２０４は、ＳＢＡＤ信号が閾値βより小さいか否かを判別し、判別結果をレイヤージャンプ制御部２００に送る。ＳＢＡＤ信号が閾値βより小さい場合、レイヤージャンプ制御部２００は、タイマ２０５による時間測定を開始させる。タイマ２０５が計測を行っていれば、レイヤージャンプ制御部２００、時間測定を継続させる。また、レイヤージャンプ制御部２００は、タイマ２０５の測定時間Ｔｍを参照し、測定時間Ｔｍが設定時間Ｔｈより長いか否かを判別し、測定時間Ｔｍが設定時間Ｔｈより長い場合に、レイヤージャンプ動作を停止する処理を行う。

ＳＢＡＤ信号が閾値βより大きい場合、レイヤージャンプ制御部２００は、フォーカス位置が目標層を通り過ぎたと判断して、フォーカシング制御回路８７にヒステリシス動作を指示する。フォーカシング制御回路８７は、フォーカスサーボを停止し、レジスタ８７Ａに格納されている値に応じた駆動電圧ＦＯをフォーカシング駆動コイル７２に供給し続ける。つまり、フォーカシング制御回路８７は、前にレジスタ８７Ａに設定された値に応じた駆動電圧ＦＯをフォーカシング駆動コイル７２に供給する。その結果、対物レンズ７０が目標層に引き戻される。

また、レイヤージャンプ制御部２００は、タイマ２０５の測定時間をリセットし、タイマ２０５による時間測定を停止させる。

次に、図４のフローチャートを参照してレイヤージャンプ時の処理の手順について説明する。

フォーカスサーボがＯＮになっているとき、レイヤージャンプ制御部２００は、フォーカシング制御回路８７によるフォーカスサーボをＯＦＦさせる（ステップＳ１１）。

フォーカスサーボがＯＦＦの状態で、フォーカシング制御回路８７は、出力信号ＦＣとしてジャンプパルス電圧をフォーカシング駆動コイル７２に出力する（ステップＳ１２）。ジャンプパルス電圧の供給によってフォーカシング駆動コイル７２は、対物レンズ７０の移動速度が増すように対物レンズ７０を移動させる。

目標ＦＥ判定部２０１は、フォーカスエラー信号ＦＥが目標範囲内であるか否かを判別する（ステップＳ１３）。目標範囲は、ジャンプする目的のレイヤに応じて設定される。

目標範囲内であると判断した場合（ステップＳ１３のＹｅｓ）、レイヤージャンプ制御部２００は、フォーカシング制御回路８７にブレーキパルス電圧の供給を指示する。フォーカシング制御回路８７は、ブレーキパルス電圧をフォーカシング駆動コイル７２に出力する（ステップＳ１４）。ジャンプパルス電圧の供給によってフォーカシング駆動コイル７２は、対物レンズ７０の移動速度が減ずるように対物レンズ７０を移動させる。移動速度を減少させることによって、オーバーシュートの大きさを抑制することができる。

ゼロクロス判定部２０２は、フォーカスエラー信号がゼロクロスしたか否かを判別する（ステップＳ１５）。フォーカスエラー信号がゼロクロスするまで、フォーカシング制御回路８７はブレーキパルス電圧をフォーカシング駆動コイル７２に供給し続ける。

ゼロクロスしたと判断した場合、レイヤージャンプ制御部２００は、タイマ２０５による時間測定を開始させる(ステップＳ１６)。レイヤージャンプ制御部２００はフォーカシング制御回路８７にフォーカスサーボの実行を指示し、フォーカシング制御回路８７はフォーカスサーボ動作を始める（ステップＳ１７）。

レイヤージャンプ制御部２００は、タイマ２０５の測定時間Ｔｍが設定時間Ｔｈより長いか否かを判別する（ステップＳ１８）。設定時間Ｔｈより長くないと判断した場合（ステップＳ１８のＮｏ）、ＲＦ ＲＩＰＰＬＥ判定部２０３は、ＲＦ振幅が閾値αより大きいか否かを判別する（ステップＳ１９）。閾値αより大きいと判断した場合（ステップＳ１９のＹｅｓ）、ステップＳ１８の処理に戻る。

閾値αより大きくないと判断した場合（ステップＳ１９のＮｏ）、ＳＢＡＤ判定部２０４はＳＢＡＤ信号が閾値βより小さいか否かを判別する（ステップＳ２０）。閾値βより小さいと判別した場合（ステップＳ２０のＹｅｓ）、傷によってＲＦ振幅が閾値αより大きくない状態になったと判断し、ステップＳ１８の処理に戻る。

閾値βより小さくないと判別した場合（ステップＳ１９のＮｏ）、レイヤージャンプ制御部２００は、フォーカシング制御回路８７にフォーカスサーボ動作の停止、およびヒステリシス動作を指令する（ステップＳ２１）。フォーカシング制御回路８７は、指令に応じて、フォーカスサーボ動作を停止し、レジスタ８７Ａに格納されている電圧値の駆動電圧ＦＯをフォーカシング駆動コイル７２に供給する。

ＲＦ ＲＩＰＰＬＥ判定部２０３は、ＲＦ振幅が閾値αより大きいか否かを判別する（ステップＳ２２）。閾値αより大きくないと判断した場合（ステップＳ２２のＮｏ）、ＳＢＡＤ判定部２０４はＳＢＡＤ信号が閾値βより小さいか否かを判別する（ステップＳ２３）。閾値βより小さくないと判別した場合（ステップＳ２３のＮｏ）、レイヤージャンプ制御部２００はステップＳ２２の処理を行う。

閾値αより大きいと判断した場合（ステップＳ２２のＹｅｓ）、或いは閾値βより小さいと判別した場合（ステップＳ２３のＹｅｓ）レイヤージャンプ制御部２００は、ステップＳ１８の処理に戻る。

ステップＳ１８において、設定時間Ｔｈより長いと判断した場合（ステップＳ１８のＹｅｓ）、レイヤージャンプ制御部２００は、レイヤージャンプ動作を終了させるための処理を行い、レイヤージャンプ動作が終了する。

上述した動作によれば、ＲＦ振幅とＳＢＡＤ信号を用いてヒステリシス動作を制御している。従来、ＲＦ振幅を参照して、ヒステリシス動作を制御していた。傷等のサーボの外乱となる場所を通過すると、ＲＦ振幅が小さくなり誤動作して、サーボがはずれてしまう。また、傷の位置を特定するため、ディスク１周分傷検出をするため、アクセス時間が余計にかかっていた。

本実施形態の場合、ＲＦ振幅が小さくなっても、ＳＢＡＤ信号を参照することによって、傷によってＲＦ振幅が小さくなったと判断して、ヒステリシス動作を行わない。ＲＦ振幅ががある閾値αより大きくなく、かつＳＢＡＤ信号がある閾値βより小さくない場合に限り、ヒステリシス動作を発動させる。

図５は、光ディスクの傷部通過した場合の、フォーカスエラー信号ＦＥ、ＳＢＡＤ信号ＳＢＡＤ、ＲＦ振幅情報ＲＦ Ｒｉｐｐｌｅ、および駆動電圧ＦＯの波形を示している。傷を通過しても、ヒステリシス電圧は印加していないことがみてとれる。結果、レイヤージャンプを安定して成功させることが可能となった。

なお、図６のフローチャートに示すように、ステップＳ１８およびステップＳ２２のＲＦ振幅と閾値αとの比較処理を省略し、ＳＢＡＤ信号の強度と閾値βとを比較するだけで、ヒステリシス動作を制御しても良い。

なお、本発明は、上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合せにより種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。更に、異なる実施形態に亘る構成要素を適宜組み合せてもよい。

本発明の一実施形態に係わる光ディスク装置の構成を示すブロック図。 対物レンズを下から上に上げたときの、ＳＢＡＤ信号、フォーカスエラー信号ＦＥ、ＲＦ振幅情報ＲＦ Ｒｉｐｐｌｅの波形を示す図。 光ディスク装置におけるレイヤージャンプ動作を行うための構成を示すブロック図。 レイヤージャンプ時の処理の手順を示すフローチャート。 光ディスクの傷部通過した場合の、フォーカスエラー信号ＦＥ、ＳＢＡＤ信号ＳＢＡＤ、ＲＦ振幅情報ＲＦ Ｒｉｐｐｌｅ、および駆動電圧ＦＯの波形を示す図。 レイヤージャンプ時の処理の手順を示すフローチャート。

符号の説明

１１…光ディスク装置，６１…光ディスク，６５…光ピックアップ，７０…対物レンズ，７２…フォーカシング駆動コイル，８４…光検出器，８４Ａ〜８４Ｄ…光検出セル，８７…フォーカシング制御回路，９０…ＣＰＵ，９１…ＲＡＭ，９２…ＲＯＭ，１００…ＲＦ振幅検出回路，ＯＰ３…演算増幅器，ＯＰ４…演算増幅器，２００…レイヤージャンプ制御部，２０１…目標範囲ＦＥ判定部，２０２…ゼロクロス判定部，２０３…ＲＩＰＰＬＥ判定部，２０４…ＳＢＡＤ判定部，２０５…タイマ。

Claims (12)

1. 光ディスクに記録された情報を光ビームを用いて検出してデータの再生または記録を行う光ディスク装置であって、
   光ディスクに対して前記光ビームを照射するための対物レンズと、
   前記対物レンズを前記光ビームの光軸方向に移動させるための駆動コイルと、
   前記光ディスクからの反射光、または透過光を分割して検出し、検出信号を出力する複数の受光素子を有する分割受光素子と、
   前記分割受光素子のそれぞれの受光素子の検出信号からフォーカスエラー信号を生成するフォーカスエラー検出器と、
   前記各受光素子の加算信号をハイパスフィルタ処理した信号の振幅を検出する振幅検出器と、
   前記各受光素子の加算信号をローパスフィルタ処理した信号の強度を検出する強度検出器と、
   前記振幅が第１閾値より大きいか否かを判別する振幅判別手段と、
   前記強度が第２閾値より大きいか否かを判別する強度判別手段と、
   前記光ビームのフォーカス位置を制御するために前記駆動コイルに駆動電圧を供給するフォーカス位置制御部であって、前記振幅が前記第１閾値より大きい場合、或いは前記振幅が前記第１閾値より大きくなく、且つ前記強度が前記第２閾値より小さい場合に、前記フォーカスエラー信号に応じた駆動電圧を前記駆動コイルに供給し、前記振幅が第１閾値より大きくなく、且つ前記強度が第２閾値より小さくない場合に前記フォーカスエラー信号に係わらず一定の電圧値の駆動電圧を前記駆動コイルに供給する前記フォーカス位置制御部と
   を具備することを特徴とする光ディスク装置。
2. 前記振幅判別手段と前記強度判別手段の処理は、レイヤージャンプ動作時に行われ、
   前記レイヤージャンプ動作以外の状態において、前記フォーカス位置制御部は、前記フォーカスエラー信号に応じた制御信号を前記駆動コイルに供給する
   ことを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
3. 前記レイヤージャンプ動作時に前記光ビームの焦点がジャンプする層を通過してからの時間をカウントするタイマと、
   前記タイマの測定時間が設定時間以上の場合に前記レイヤージャンプ動作が終了させる手段とを更に有することを特徴とする請求項２記載の光ディスク装置
4. 光ディスクに記録された情報を光ビームを用いて検出してデータの再生または記録を行う光ディスク装置であって、
   光ディスクに対して前記光ビームを照射するための対物レンズと、
   前記対物レンズを前記光ビームの光軸方向に移動させるための駆動コイルと、
   前記光ディスクからの反射光、または透過光を分割して検出し、検出信号を出力する複数の受光素子を有する分割受光素子と、
   前記分割受光素子のそれぞれの受光素子の検出信号からフォーカスエラー信号を生成するフォーカスエラー検出器と、
   前記各受光素子の加算信号をローパスフィルタ処理した信号の強度を検出する強度検出器と、
   前記強度が閾値より大きいか否かを判別する強度判別手段と、
   前記光ビームのフォーカス位置を制御するために前記駆動コイルに駆動電圧を供給するフォーカス位置制御部であって、前記強度が前記閾値より小さい場合に、前記フォーカスエラー信号に応じた駆動電圧を前記駆動コイルに供給し、前記強度が前記閾値より小さくない場合に前記フォーカスエラー信号に係わらず一定の電圧値の駆動電圧を前記駆動コイルに供給する前記フォーカス位置制御部と
   を具備することを特徴とする光ディスク装置。
5. 前記振幅判別手段と前記強度判別手段の処理は、レイヤージャンプ動作時に行われ、
   前記レイヤージャンプ動作以外の状態において、前記フォーカス位置制御部は、前記フォーカスエラー信号に応じた制御信号を前記駆動コイルに供給する
   ことを特徴とする請求項４記載の光ディスク装置。
6. 前記レイヤージャンプ動作時に前記光ビームの焦点がジャンプする層を通過してからの時間をカウントするタイマと、
   前記タイマの測定時間が設定時間以上の場合に前記レイヤージャンプ動作が終了させる手段とを更に有することを特徴とする請求項５記載の光ディスク装置
7. 光ディスクに記録された情報を光ビームを用いて検出してデータの再生または記録を行う光ディスク装置におけるフォーカス位置制御方法であって、
   光ディスクに対して対物レンズを介して光ビームを照射し、
   前記光ディスクからの反射光、または透過光を分割して検出し、検出信号を出力する複数の受光素子を有する分割受光素子で受光し、
   前記分割受光素子のそれぞれの受光素子の検出信号からフォーカスエラー信号を生成し、
   前記各受光素子の加算信号をハイパスフィルタ処理した信号の振幅を検出し、
   前記各受光素子の加算信号をローパスフィルタ処理した信号の強度を検出し、
   前記振幅が第１閾値より大きいか否かを判別し、
   少なくとも前記振幅が前記第１閾値より大きく無い場合に、前記強度が前記第２閾値より小さいか否かを判別し、
   前記振幅が前記第１閾値より大きい場合、或いは前記振幅が前記第１閾値より大きくなく、且つ前記強度が前記第２閾値より小さい場合に、前記対物レンズを前記光ビームの光軸方向に移動させるための駆動コイルに前記フォーカスエラー信号に応じた駆動電圧を供給し、
   前記振幅が前記第１閾値より大きくなく、且つ前記強度が前記第２閾値より小さくない場合に前記フォーカスエラー信号に係わらず一定の電圧値の駆動電圧を前記駆動コイルに供給する
   ことを特徴とするフォーカス位置制御方法。
8. 前記振幅と前記第１閾値との比較、前記強度と前記第２閾値との比較は、レイヤージャンプ動作時に行われ、
   前記レイヤージャンプ処理以外の状態において、前記フォーカスエラー信号に応じた前記制御信号が前記駆動コイルに供給される
   ことを特徴とする請求項７記載のフォーカス位置制御方法。
9. 前記レイヤージャンプ動作時に前記光ビームの焦点がジャンプする層を通過してからの時間をカウントし、
   前記カウント時間が設定時間以上の場合に前記レイヤージャンプ動作を終了させることを特徴とする請求項８記載のフォーカス位置制御方法。
10. 光ディスクに記録された情報を光ビームを用いて検出してデータの再生または記録を行う光ディスク装置におけるフォーカス位置制御方法であって、
    光ディスクに対して対物レンズを介して光ビームを照射し、
    前記光ディスクからの反射光、または透過光を分割して検出し、検出信号を出力する複数の受光素子を有する分割受光素子で受光し、
    前記分割受光素子のそれぞれの受光素子の検出信号からフォーカスエラー信号を生成し、
    前記各受光素子の加算信号をローパスフィルタ処理した信号の強度を検出し、
    前記強度が前記閾値より小さいか否かを判別し、
    前記強度が前記閾値より小さい場合に、前記対物レンズを前記光ビームの光軸方向に移動させるための駆動コイルに前記フォーカスエラー信号に応じた駆動電圧を供給し、
    前記強度が前記閾値より小さくない場合に前記フォーカスエラー信号に係わらず一定の電圧値の駆動電圧を前記駆動コイルに供給する
    ことを特徴とするフォーカス位置制御方法。
11. 前記強度と前記閾値との比較は、レイヤージャンプ動作時に行われ、
    前記レイヤージャンプ処理以外の状態において、前記フォーカスエラー信号に応じた前記制御信号が前記駆動コイルに供給される
    ことを特徴とする請求項１０記載のフォーカス位置制御方法。
12. 前記レイヤージャンプ動作時に前記光ビームの焦点がジャンプする層を通過してからの時間をカウントし、
    前記カウント時間が設定時間以上の場合に前記レイヤージャンプ動作を終了させることを特徴とする請求項１１記載のフォーカス位置制御方法。

Images