JP2009015893A - 光ディスク装置、および光ディスク装置の制御方法 - Google Patents

Abstract

【課題】層間クロストークノイズを抑制すること。
【解決手段】光ディスクに対してレーザ光を照射する半導体レーザダイオード７９と、に対して、半導体レーザダイオード７９から発振されるレーザ光をマルチモード化するために、設定された条件に応じた高周波が重畳された駆動電流を供給するレーザ駆動回路７５と、層間クロストーク量が少なくなる前記重畳される高周波の条件を探索する重畳周波数探索部２０１と、前記探索された条件を前記駆動回路に設定する重畳周波数設定部２０２とを具備する。
【選択図】図３

Description

本発明は、層間クロストークノイズを抑制するための光ディスク装置、および光ディスク装置の制御方法に関する。

複数の層で構成された光ディスクにおいて目的とする層を再生する場合、再生層の反射光に、他の層から反射した反射光が層間クロストークノイズとして加わることで再生信号のＳ／Ｎ低下が発生し、その結果読取り性能が悪化してしまう現象があった。

特許文献１には、目的の記録層からの反射光を集光して再生信号を検出する際に、収束した光束の周りに含まれる層間クロストーク信号を再生信号検出用受光部の周りに設けられた層間クロストーク検出用受光部で検出し、再生信号と差動演算することにより、層間クロストークをキャンセルする技術が開示されている。
特開２００２−３１９１７７号公報

上述した技術では、特別な再生信号検出用受光部の周りに設けられた層間クロストーク検出用受光部を有する光学素子を用意しなければならず、コストアップに繋がるという問題があった。

本発明の目的は、特別な光学素子を用意することなく層間クロストークノイズを抑制することができる光ディスク装置、および光ディスク装置の制御方法を提供することにある。

本発明の一例に係わる光ディスク装置は、光ディスクに対してレーザ光を照射するレーザダイオードと、前記レーザダイオードに対して、前記レーザダイオードから出力されるレーザ光をマルチモード化するために、設定された高周波電流の条件に応じた高周波電流が重畳されたレーザ駆動電流を供給するレーザ駆動回路と、層間クロストーク量が少なくなる前記重畳される高周波電流の周波数条件を探索する手段と、前記探索された高周波電流の条件を前記レーザ駆動回路に設定する手段とを具備することを特徴とする。

特別な光学素子を用意することなく層間クロストークノイズを抑制することができる。

本発明の実施の形態を以下に図面を参照して説明する。

図１は、本発明の一実施形態に係る光ディスク装置の構成を示すブロック図である。

光ディスク装置１１にセットされた光ディスク６１は、ユーザデータを記録可能な光ディスクあるいは読出し専用の光ディスクであるが、この実施形態では多層構造の光ディスクとして説明する。なお、情報記録面に多層構造を有する光ディスクとしては、ＤＶＤ−Ｒ等が挙げられるが、これに限らず多層構造を有する光ディスクであればよい。

光ディスク６１の情報記録面には、スパイラル状にランドトラックおよびグルーブトラックが形成されている。この光ディスク６１はスピンドルモータ６３によって回転駆動される。

光ディスク６１に対する情報の記録、再生は、ピックアップヘッド６５（図中左側の破線で囲んだ部分）によって行われる。ピックアップヘッド６５は、スレッドモータ６６とギア等を含む連結部１０３を介して連結されており、このスレッドモータ６６はスレッドモータ制御回路６８により制御される。

図中のスレッドモータ６６の下部に位置する速度検出回路６９は、光ピックアップの移動速度を検出するものであり、上述のスレッドモータ制御回路６８に接続されている。速度検出回路６９により検出されるピックアップヘッド６５の速度信号がスレッドモータ制御回路６８に送られる。また、スレッドモータ６６の固定部に、図示しない永久磁石を設けており、駆動コイル６７がスレッドモータ制御回路６８によって励磁されることにより、ピックアップヘッド６５が光ディスク６１の半径方向に駆動する。

ピックアップヘッド６５には、図示しない例えばワイヤあるいは板バネによって支持された対物レンズ７０が設けられる。対物レンズ７０は、トラッキング駆動コイル７１の駆動によりトラッキング方向（レンズの光軸と直交する方向）への移動が可能である。また、対物レンズ７０は、フォーカシング駆動コイル７２の駆動によりトラッキング方向（レンズの光軸と直交する方向）およびフォーカシング方向（レンズの光軸方向）への移動が可能である。

変調回路７３は、光ディスク６１への情報記録する場合、ホスト装置９４からインターフェース回路９３およびバス８９を介して記録する情報信号を受け、これを光ディスク６１の規格に定められた変調方式（例えば８−１６変調）にて変調する。レーザ駆動回路７５は、光ディスク６１への情報記録時（マーク形成時）に、変調回路７３から供給される変調データに基づいて書込み用信号を半導体レーザダイオード（レーザ発振器）７９に供給する。またレーザ駆動回路７５は、情報再生時には書込み用信号より小さい読取り用信号を半導体レーザダイオード７９に供給する。

半導体レーザダイオード７９は、レーザ駆動回路７５から供給される信号に応じてレーザ光を発生する。半導体レーザダイオード７９から発せられるレーザ光は、コリメータレンズ８０、ハーフプリズム８１、対物レンズ７０を介して光ディスク６１上に照射される。光ディスク６１からの反射光は、対物レンズ７０、ハーフプリズム８１、集光レンズ８２、シリンドリカルレンズ８３を介して光検出器８４に導かれる。

なお、半導体レーザダイオード７９は、それぞれＣＤ用（赤外：波長７８０ｎｍ）、ＤＶＤ用（赤：波長６５０ｎｍ）、ＨＤ ＤＶＤ用（青紫：波長４０５ｎｍ）のレーザ光を出射する３つの半導体レーザダイオードからなっている。これら半導体レーザダイオードは、同一ＣＡＮパッケージ内に収容されていてもよく、あるいは、独立した３つのＣＡＮパッケージ内にそれぞれ収容され、ピックアップヘッド６５のベース上に個別に配置されるものであっても良い。光学系は、半導体レーザの構成に応じて適宜、その構成・配置が変更される。

なお、光学系を構成する各部品のうち対物レンズは、ＨＤＤＶＤ用レーザ光を適正にディスク上に収束させ得るよう設計されている。また、光学系には、ＤＶＤ用レーザ光とＣＤ用レーザ光を使用する際に生じる収差を抑制するための収差補正素子（回折素子、位相補正素子、等）や、ＣＤ用レーザ光を使用する際に対物レンズに対する開口数を制限するための開口数制限素子（液晶シャッター、回折素子、等）が含まれている。

光検出器８４は、例えば４分割の光検出セル８４Ａ〜８４Ｄから構成されている。光検出セル８４Ａ〜８４Ｄのそれぞれは、受光した光強度に応じた電流値の信号を出力する。

光検出器８４の各光検出セル８４Ａ〜８４Ｄの出力信号は、それぞれ電流／電圧変換用の変換器を介してＲＦアンプ５１に入力される。

ＲＦアンプ５１は、光検出セル８４Ａ〜８４Ｄの出力信号を増幅し、フォーカスエラー信号ＦＥ、トラッキングエラー信号ＴＥ、ＲＦ信号、およびウォブル信号を生成する。各信号は、Ａ／Ｄ変換器５２によってデジタル値に変換される。

フォーカスエラー信号ＦＥは、（光検出セルＡの出力＋光検出セル８４Ｃの出力）−（光検出セルＢの出力＋光検出セル８４Ｄの出力）に応じた信号である。このフォーカスエラー信号ＦＥは、フォーカシング制御回路８７に供給される。フォーカシング制御回路８７は、フォーカスエラー信号ＦＥに応じた駆動信号をフォーカスアクチュエータ駆動回路１００に供給し、レーザ光が光ディスク６１の記録面上に常時ジャストフォーカスとなる制御がなされる。

トラッキングエラー信号ＴＥは、（光検出セルＡの出力＋光検出セル８４Ｄの出力）−（光検出セルＢの出力＋光検出セル８４Ｃの出力）に応じた信号である。このトラッキングエラー信号ＴＥはトラッキング制御回路８８に供給され、トラッキング制御回路８８では、このトラッキングエラー信号ＴＥに応じてトラッキング駆動信号を生成する。トラッキング制御回路８８から出力されるトラッキング駆動信号は、トラッキングアクチュエータ駆動回路１０１に供給される。トラッキングアクチュエータ駆動回路１０１は、トラッキング駆動信号に応じて、対物レンズ７０を光軸と直交する方向へ駆動するトラッキング駆動コイル７１を駆動し、レーザ光が光ディスク６１の記録面上の所定箇所に照射される制御がなされる。また、トラッキングエラー信号ＴＥが、スレッドモータ制御回路６８にも供給される。

ＲＦ信号は、（光検出セルＡの出力＋光検出セルＢの出力＋光検出セル８４Ｃの出力＋光検出セル８４Ｄの出力）に応じた信号である。ＰＬＬ（Phase Locked Loop ）制御回路７６は、ＲＦ信号から水晶振動子５３から供給されるクロック信号再生用クロック信号を抽出する。データ再生回路７８は、ＰＬＬ制御回路７６からの再生用クロック信号に基づき、ＲＦ信号を再生し、２値化信号を生成する。

２値化信号は、エラー訂正回路に供給される。エラー訂正回路は、誤り訂正処理を行うことにより、記録前の元のフォーマットのデータに変換する。

ＤＳＰは、ウォブル信号をその内部に設けられた中心周波数を２２．０５［Ｈｚ］とする±１［Ｈｚ］の範囲のバンドパスフィルタ回路を通すことにより当該ウォブル信号に含まれるウォブル成分を抽出すると共に、当該ウォブル成分にＦＭ復調処理を施す。そして、復調処理結果から、そのときビームスポットが位置している光ディスク６１上の絶対番地を検出し、これをアドレス情報信号としてＣＰＵ９０に送出する。

スレッドモータ制御回路６８は、スレッドモータ６６を制御し、対物レンズ７０がピックアップヘッド６５内の中心位置近傍に位置するようにピックアップヘッド６５の本体を移動させる。

また、Ａ／Ｄ変換器５２、データ再生回路７８、エラー訂正回路６２、ＰＬＬ制御回路７６、データ訂正回路６２、エラー訂正回路６２、ＣＰＵ９０、ＤＳＰ５４スレッドモータ制御回路６８、モータ制御回路６４、フォーカシング制御回路８７、およびトラッキング制御回路８８等は、１つのＬＳＩチップ内に構成することができる。ＣＰＵ９０は、インターフェース回路９３を介してホスト装置９４から供給される動作コマンドに従って、この光ディスク記録再生装置を総合的に制御する。またＣＰＵ９０は、ＲＡＭ９１を作業エリアとして使用し、ＲＯＭ９２に記録された本実施形態に係る処理を含むプログラムに従って、所定の制御を行う。

上述した光ディスク装置は、層間クロストークノイズを抑制するために、光ビームに高周波電流を重畳することによって、図２（Ａ）および図２（Ｂ）に示すように、半導体レーザダイオード７９から出力されるレーザ光をマルチモード化している。

層間クロストークノイズを抑制するための最適な条件は光ディスク毎に異なるので、本装置は装填された光ディスク毎に最適な条件を探索し、探索された条件に基づいて制御を行う。

図３に、層間クロストークノイズを抑制するための最適な高周波電流の周波数条件を探索し、探索された条件に基づいて制御を行うための構成を示す。

重畳周波数探索部２０１は、層間クロストークノイズを抑制するために、レーザ駆動電流に重畳される高周波電流の周波数を探索する。重畳周波数探索部２０１は、探索した周波数をＲＡＭ９１内のレジスタ２１０に格納する。

重畳周波数設定部２０２は、光ディスクの再生時にレジスタ２１０に格納された高周波電流の周波数条件をレーザ駆動回路７５の高周波重畳モジュール７５Ａに設定する。

ディスク種類判定部２０３は、装置に装填されている光ディスクの種類を判別する。ディスク種類判定部２０３は、種類を重畳周波数探索部２０１に通知する。

なお、重畳周波数探索部２０１、重畳周波数設定部２０２、およびディスク種類判定部２０３は、ＣＰＵ９０で実行されるプログラムである。

図４のフローチャートを参照して、層間クロストークノイズを抑制するための高周波電流の周波数条件を探索する処理の手順について説明する。

本実施形態では、層間クロストークノイズを抑制する最適な高周波電流の周波数条件を探索するために、レーザ駆動回路７５から半導体レーザダイオード７９に供給されるレーザ駆動電流に重畳される高周波の周波数を変化させる。なお、レーザ駆動電流に重畳する高周波電流の周波数の設定は、ｆ_HFM(1)＝３００ＭＨｚ、ｆ_HFM(2)＝３５０ＭＨｚ、ｆ_HFM(3)＝４００ＭＨｚ、ｆ_HFM(4)＝４５０ＭＨＺ、およびｆ_HFM(5)＝５００ＭＨｚの５種類である。

そして、各周波数毎に層間クロストーク量に対応するＲＦ信号のエンベロープを測定する。

また、ディスクの面振れ、偏芯の影響で再生信号のエンベローブが変化するため、層間クロストークの周波数成分と面振れ、偏芯による周波数成分とを分離するためにディスク１回転を複数の領域に分割して再生信号のエンベローブの測定を行う。本実施形態の場合、図５に示すように、光ディスクを周方向にＲ₍₁₎〜Ｒ₍₈₎の８つの領域に分割する。

まず、光ディスクが装置に装填されたら、ディスク種類判定部２０３は、挿入されたディスクの種類を判定するディスク判定処理を行う（ステップＳ１１）。そしてこのディスク判定処理が完了すると、挿入されたディスクが多層ディスクであるか単層ディスクであるかが判る。

重畳周波数探索部２０１は、レジスタ２１１に格納され、再生層もしくは記録層を表すｊの値を０にする（ステップＳ１２）。光ディスクがＨＤ ＤＶＤの場合、ｊは０、１、２の値を取り得る。また、光ディスクがＤＶＤまたはＢｌｕ-ｒａｙの場合、ｊは０、１の値を取り得る。

重畳周波数探索部２０１は、フォーカシング制御回路８７を制御し、再生層もしくは記録層Ｌｊにフォーカスオンする（ステップＳ１３）。重畳周波数探索部２０１は、レジスタ２１２に格納され、光ディスクに重畳する高周波電流の周波数を示すｎの値を１にする（ステップＳ１４）。重畳周波数探索部２０１は、レジスタ２１３に格納され、光ディスクの周方向の領域を表すｋの値を１にする。光ディスクの周方向の領域を示すｋの値を１にする（ステップＳ１５）。

そして、重畳周波数探索部２０１は、レーザ駆動回路７５内の高周波重畳モジュールにｆ_ＨＦＭ(n)の周波数をレーザ駆動電流に重畳するように指示する（ステップＳ１６）。

重畳周波数探索部２０１は、ＤＳＰ５４に光ディスクの領域Ｒkにおける層間クロストーク量Ｖ_cross(n,k)としてＲＦ信号のエンベロープを測定させる（ステップＳ１７）。層間クロストーク量Ｖ_cross(n,k)の測定が終了したら、周波数ｆ_ＨＦＭ(n)について光ディスクの全領域で層間クロストーク量Ｖ_cross(n,k)の測定が終了したかを判別するために、重畳周波数探索部２０１は、ｋの値が８より大きいか否かを判別する(ステップＳ１８)。

ｋの値が８より大きくないと判別した場合(ステップＳ１８のＮｏ）、次の領域で層間クロストーク量Ｖ_cross(n,k)の測定を行うために、重畳周波数探索部２０１は、レジスタ２１３に格納されているｋの値を＋１インクリメントする（ステップＳ２２）。そして、層間クロストーク量Ｖ_cross(n,k)の測定を行う。

ステップＳ１８において、ｋの値が８より大きいと判別した場合(ステップＳ１８のＹｅｓ）、光ディスクの全ての周波数について層間クロストーク量Ｖ_cross(n,k)の測定を終えたかを判断するために、重畳周波数探索部２０１は、レジスタ２１２に格納されているｎの値が５より大きいか否かを判別する（ステップＳ１９）。

ｎの値が５より大きくないと判別した場合（ステップＳ１９のＮｏ）、次の周波数ｆ_ＨＦＭ(n)で層間クロストーク量Ｖ_cross(n,k)の測定を各領域Ｒ(k)で行うために、重畳周波数探索部２０１は、レジスタ２１２に格納されているｎの値を１インクリメントする（ステップＳ２３）。重畳周波数探索部２０１は、レジスタ２１３に格納されている光ディスクの領域Ｒ(k)を表すｋの値を１にする（ステップＳ１５）。そして、重畳周波数探索部２０１は、レーザ駆動電流に重畳する周波数を変更して（ステップＳ１６）、層間クロストーク量Ｖ_cross(n,k)の測定を行う（ステップＳ１７）。

ステップＳ１９において、ｎの値が５より大きいと判別した場合（ステップＳ１９のＹｅｓ）、最適周波数探索部２０１は、記録層Ｌjにおける層間クロストーク量を抑制するための最適な周波数を決定する（ステップＳ２０）。この周波数の決定について説明する。最適周波数探索部２０１は、各領域について層間クロストーク量Ｖ_cross(n,k)を例えば、「（最大値−最小値）／最大値」のようにして演算する。そして、各領域の層間クロストーク量Ｖcross(n,k)の平均値を、周波数ｆＨＦＭ(n）での層間クロストーク量とする。そして各周波数ｆＨＦＭ(n)毎の層間クロストーク量が、最も小さい値となる重畳周波数の条件を最適周波数として決定する。重畳周波数探索部２０１は、決定した最適周波数をｆ_(j)としてＲＡＭ９１内に格納する。

次に、重畳周波数探索部２０１は、レジスタ２１１に格納されているｊの値が最大層数より大きいか否かを判別する（ステップＳ２１）。ｊの値が最大層数より大きくないと判別した場合（ステップＳ２１のＮｏ）、重畳周波数探索部２０１は、ｊの値を＋１インクリメントする（ステップＳ２４）。そして、重畳周波数探索部２０１は、フォーカシング制御回路８７を制御することによって、記録層Ｌ_(j)にレイヤジャンプさせ（ステップＳ１３）、ステップＳ１４からの処理を順次行って、最適周波数を決定する（ステップＳ２０）。

ステップＳ２１において、ｊの値が最大層数より大きいと判別した場合（ステップＳ２１のＹｅｓ）、ＣＰＵ９０は、周波数の探索を終了する。

以上の処理で再生層もしくは記録層毎に最適な周波数を探索することが出来る。

次に、決定後の重畳周波数の制御について説明する。

重畳周波数設定部２０２は、レジスタ２１１に格納され、フォーカスオン層を表すｊの値を０にする（ステップＳ３１）。重畳周波数設定部２０２は、ピックアップヘッド６５から照射されるレーザ光を再生層もしくは記録層Ｌ_(j)にフォーカスオンさせる（ステップＳ３２）。

重畳周波数設定部２０２は、レーザ駆動回路７５内の高周波重畳モジュールにｆ(j)の周波数を駆動電流に重畳するように指示する（ステップＳ３３）。

そして、再生中、重畳周波数設定部２０２は、再生層もしくは記録層Ｌ_(j)の再生が終了したか否かを判別する（ステップＳ３４）。再生層もしくは記録層Ｌ_(j)の再生が終了したと判別した場合、レジスタ２１１に格納されているｊの値を＋１インクリメントする。そして、重畳周波数設定部２０２は、ピックアップヘッド６５から照射されるレーザ光を再生層もしくは記録層Ｌ_(j)にフォーカスオンさせる（ステップＳ３２）。重畳周波数設定部２０２は、レーザ駆動回路７５内の高周波重畳モジュールにｆ(j)の周波数をレーザ駆動電流に重畳するように指示する（ステップＳ３３）。

ステップＳ３４において、再生層もしくは記録層Ｌ_(j)の再生が終了していないと判別した場合（ステップＳ３４のＮｏ）、重畳周波数設定部２０２は、全データの再生が終了したか否かを判別する（ステップＳ３５）。全データ再生が終了したと判別した場合（ステップＳ３５のＹｅｓ）、重畳周波数設定部２０２は、処理を終了する。

以上の処理で、層毎に最適な重畳周波数を設定することによって、層間クロストークノイズ量を軽減することができ、再生エラー率を下げることが出来る。また、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号へ漏れこむ層間クロストークノイズ量が軽減し、フォーカスサーボ、トラッキングサーボの安定性が向上するとともに各サーボの乱れから発生するアクチュエータの振動音が静かになる。

なお、マルチモードの条件を変えるために、高周波重畳電流の振幅を制御しても良いし、高周波重畳電流の振幅および周波数の両方を制御しても良い。

また、各高周波重畳の条件において測定する「層間クロストーク量（ＲＦ信号のエンベロープ）」と同時に「再生エラー率」またジッタ量も測定し、これら両者の測定結果を評価した結果が最も低くなる条件を探索し、制御することもある。ただし、ＲＦ信号のエンベロープの測定には、ＰＬＬ動作しない状態でも測定すること緒が出来るという利点がある。

なお、本発明は、上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合せにより種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。更に、異なる実施形態に亘る構成要素を適宜組み合せてもよい。

本発明の一実施形態に係わる光ディスク装置の概略構成を示すブロック図。 レーザがマルチモード化している状態を示す図。 層間クロストークノイズを抑制する条件を探索し、条件をレーザ駆動回路７５に設定するための構成を示すブロック図。 層間クロストークノイズを抑制する条件を探索する処理の手順を示すフローチャート。 光ディスクを複数の領域に分割する例を示す図。 再生時に層間クロストークノイズを抑制する条件を設定する処理の手順を示すフローチャート。

符号の説明

１１…光ディスク装置，５４…ＤＳＰ，６１…光ディスク，６５…ピックアップヘッド，７５…レーザ駆動回路，７５Ａ…高周波重畳モジュール，９１…ＲＡＭ，２０１…重畳周波数探索部，２０２…重畳周波数設定部，２０３…ディスク種類判定部。

Claims (12)

1. 光ディスクに対してレーザ光を照射するレーザダイオードと、
   前記レーザダイオードに対して、前記レーザダイオードから出力されるレーザ光をマルチモード化するために、設定された高周波電流の条件に応じた高周波電流が重畳されたレーザ駆動電流を供給するレーザ駆動回路と、
   層間クロストーク量が少なくなる前記重畳される高周波電流の周波数条件を探索する手段と、
   前記探索された高周波電流の条件を前記レーザ駆動回路に設定する手段と
   を具備することを特徴とする光ディスク装置。
2. 前記探索手段は、
   前記レーザ駆動電流に重畳される高周波電流の周波数または振幅をパラメータとして、複数の層間クロストーク量に対応する量を測定する測定手段と、
   前記測定手段によって測定された前記パラメータに対する前記複数の層間クロストーク量に対応する量から前記レーザ駆動電流に重畳される高周波電流の最適な周波数または振幅を求める手段と
   を具備することを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
3. 前記光ディスクを周方向に複数の領域に分割し、
   前記測定手段は、各領域毎に、前記レーザ駆動電流に重畳される高周波電流の周波数または振幅をパラメータとして、複数の層間クロストーク量に対応する量を測定することを特徴とする請求項２記載の光ディスク装置。
4. 前記層間クロストーク量に対応する量は、前記光ディスクの再生信号のエンベロープ量であることを特徴とする請求項２記載の光ディスク装置。
5. 前記層間クロストーク量に対応する量は、再生エラー率であることを特徴とする請求項２記載の光ディスク装置。
6. 前記探索手段による層間クロストーク量が少なくなる前記重畳される高周波電流の条件の探索は、前記光ディスクの１つ以上の層で行うことを特徴とする請求項１〜５の何れか１項に記載の光ディスク装置。
7. 光ディスクに対してレーザ光を照射するレーザダイオードと、前記ダイオードに対して、前記レーザダイオードから出力されるレーザ光をマルチモード化するために、設定された高周波電流の条件に応じた高周波電流が重畳されたレーザ駆動電流を供給するレーザ駆動回路とを具備する光ディスク装置の制御方法であって、
   層間クロストーク量が少なくなる前記重畳される高周波電流の条件を探索し、
   前記探索された条件を前記レーザ駆動回路に設定する
   をことを特徴とする光ディスク装置の制御方法。
8. 前記条件の探索は、
   前記レーザ駆動電流に重畳される高周波電流の周波数または振幅をパラメータとして、複数の層間クロストーク量に対応する量を測定し、
   前記測定手段によって測定された前記パラメータに対する前記複数の層間クロストーク量に対応する量から前記駆動電流に重畳される高周波電流の最適な周波数または振幅を求める
   ことを特徴とする請求項７記載の光ディスク装置の制御方法。
9. 前記光ディスクを周方向に複数の領域に分割し、
   前記測定は、各領域毎に、前記レーザ駆動電流に重畳される高周波電流の周波数または振幅をパラメータとして、複数の層間クロストーク量に対応する量を測定することを特徴とする請求項８記載の光ディスク装置の制御方法。
10. 前記層間クロストーク量に対応する量は、前記光ディスクの再生信号のエンベロープ量であることを特徴とする請求項８記載の光ディスク装置の制御方法。
11. 前記層間クロストーク量に対応する量は、再生エラー率であることを特徴とする請求項８記載の光ディスク装置の制御方法。
12. 前記探索手段による層間クロストーク量が少なくなる前記重畳される高周波電流の条件の探索は、前記光ディスクの１つ以上の層で行うことを特徴とする請求項７〜１１の何れか１項に記載の光ディスク装置の制御方法。

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