JP2008260675A - 高純度多結晶シリコンの製造装置および製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】縦型反応器1にはシリコン塩化物Bの気化装置8から供給されてくるシリコン塩化物ガスと、亜鉛の溶融蒸発装置5から供給されてくる亜鉛ガスAとを、縦型反応器1内にそれぞれ供給するノズル2及び3を備え、また、縦型反応器1には排気ガス抜き出しパイプ4を備えていることを特徴とし、亜鉛の溶融蒸発装置5には、蒸発器の上部に接続された主縦筒部と、その内方に挿入された固形分分離パイプに斜めに接続された亜鉛導入用パイプと、固形分分離パイプの下端開口部を囲繞するように配置された、シールポットと、主縦筒部の誘導加熱装置と、蒸発器の側壁に接続されたガス抜き用パイプと、を備えていることを特徴とする。
【選択図】図2
Description
文献1参照)。
および還元剤の水素(H2)を下方から導入してシリコン塩化物を還元し、生成したシリ
コンが選択的に種棒50の表面に付着することにより、棒状の多結晶シリコンが得られる。このシーメンス法は、原料ガスが比較的低温度で気化するという利点以外にも、反応器30そのものは水冷するため、雰囲気のシールが容易であるという装置上の利点があることから、これまでに広く普及し、採用されてきた。
)。具体的には、1000℃程度に加熱した石英製の横型反応器の中に、四塩化珪素および亜鉛(Zn)のガスを供給することにより、反応器内に多結晶シリコンを成長させる方法である。
素に分離し、得られた亜鉛を再び還元剤として用いるとともに、得られた塩素を安価な金属シリコンと反応させることにより四塩化珪素を合成し、原料ガスとして用いることができれば、循環型のプロセスが構築されるため、多結晶シリコンを安価に製造できる可能性がある。
に同じ容器内でガス化させるのが一般である(例えば、特許文献4参照)。
このような方法で亜鉛をガス化させる場合には、亜鉛ガスの生産効率が悪く、また、沸点以上に加熱された容器内に亜鉛粒体を投入した場合に、粉末または粒状の亜鉛が容器内で部分的に燃焼してしまう虞がある。また、追加亜鉛の投入量の加減も困難で、その量が多すぎると、容器内の溶融温度が大幅に低下してしまい、安定した亜鉛ガスの蒸発量が得られないなどの問題が生じていた。
シリコン塩化物の気化装置と、
亜鉛の溶融蒸発装置と、
外周面に加熱手段が具備された縦型反応器と、
前記シリコン塩化物の気化装置と前記縦型反応器との間を接続するように配置され、前記シリコン塩化物の気化装置から供給されてくるシリコン塩化物ガスを、前記縦型反応器内に供給するシリコン塩化物ガス供給ノズルと、
前記亜鉛の溶融蒸発装置と前記縦型反応器との間を接続するように配置され、前記亜鉛の溶融蒸発装置から供給されてくる亜鉛ガスを、前記縦型反応器内に供給する亜鉛ガス供給ノズルと、
前記縦型反応器に接続された排気ガス抜き出しパイプとを備え、
前記亜鉛の溶融蒸発装置は、
蒸発器と、
前記蒸発器の上部に接続された主縦筒部と、
前記主縦筒部の内方に挿入された固形分分離パイプと、
前記固形分分離パイプに斜めに接続された亜鉛導入用パイプと、
前記固形分分離パイプの下端開口部を囲繞するように配置され、前記固形分分離パイプの底面を構成するシールポットと、
前記主縦筒部の外周面に装着され、温度調整可能な誘導加熱装置と、
前記蒸発器の側壁に接続されたガス抜き用パイプと、
を備えたことを特徴としている。
さらに、本発明では、前記蒸発器の外側には、均熱補強材が装着されていることが好ましい。
また、本発明によれば、シリコン塩化物ガス供給ノズルの先端部に成長する多結晶シリコンは、反応器の器壁に接触しない状態で略下方に向かって成長するので、高純度のシリコンを連続的に製造することができる。
ここで、前記シールポットは前記固形分分離パイプに取り付けられていることが好ましい。
このような構成であれば、切欠き溝を介して溶融した亜鉛を下方に落下させることができる。
また、本発明では、前記固形分分離パイプおよび前記主縦筒部には、不活性ガス導入パイプが接続されていることが好ましい。
本発明に係る高純度多結晶シリコンの製造方法は、前記いずれかに記載の亜鉛溶融蒸発装置を用いた高純度多結晶シリコンの製造方法であって、
前記縦型反応器内に、シリコン塩化物ガス供給ノズルからシリコン塩化物ガスと、前記亜鉛ガス供給ノズルから亜鉛ガスとを供給し、
シリコン塩化物ガスと亜鉛ガスとの反応によりシリコン塩化物ガス供給ノズルの先端部に、下方に向かって、略管状に凝集した多結晶シリコンを生成させることを特徴としている。
るため、ノズルの詰まり等が生じることもない。また、本発明によって得られる多結晶シリコンは、適当な長さに成長させた後、振動や掻き取り等の機械的な方法で落とすことも可能である。
また、亜鉛ガス供給ノズルの開口端を、シリコン塩化物ガス供給ノズルの開口端よりも上方に配置することにより、亜鉛ガス供給ノズルの開口端に多結晶シリコンを成長させることなく還元剤ガスをシリコン塩化物ガスに対して効率的に反応させることができる。
先ず、本発明の高純度多結晶シリコンの製造装置で採用された亜鉛の溶融蒸発装置について説明する。
この亜鉛溶融蒸発装置5では、蒸発器24が略閉塞された略円筒状で、外周部分に、例えば、カーボン製の均熱補強材26が装着されることにより、表面が均等に加熱される。また、この均熱補強材26を装着した蒸発器24は、図示しない電気炉内に収容されている。
このような電気炉内で蒸発器24内を所定の温度に加熱してから、例えば、亜鉛導入用パイプ36のホッパー36aから、亜鉛粒体が投入される。これにより、亜鉛粒体は亜鉛導入用パイプ36から固形分分離パイプ32内に導入される。
を調整することができる。したがって、亜鉛をガス化するための装置の小型化が達成されるとともにエネルギーロスを少なくすることができる。
図2は本発明の一実施例に係る高純度多結晶シリコンの製造装置の基本構成を示した模式図である。しかしながら、本発明は、これらの記載に限定されるものではなく、いわゆる当業者が本明細書全体の記載に基づいて適宜改変等を加えることができる範囲をも包含するものである。
図2に示したように、金属亜鉛Aを上記の亜鉛溶融蒸発装置5によってガス化するとともに、シリコン塩化物Bを気化装置8等によってガス化する。ガス化された亜鉛Aおよびシリコン塩化物Bは、反応器1前段の過熱器7により還元反応に適した温度である800〜1200℃に加熱された後、反応器加熱炉9によって800〜1200℃に加熱された反応器1に供給する。なお、原料ガス加熱ゾーンが設けられた反応器を用いる場合には、前記温度より低い温度で供給し、内部で反応に適する温度にまで加温することも可能である。
却・粉砕装置60に設けられたシャッター型の弁などによって反応器の系外に排出することができる。または、反応器下部をシリコンの融点である1420℃以上に加熱することにより、シリコンを融解した状態(シリコン融液の状態)で反応器の系外へ取り出すこともできる。
還元剤ガスとしては、亜鉛(Zn)の他、ナトリウム(Na)、カリウム(K)、マグネシウム(Mg)などを採用することもでき、また、水素ガス(H2)を用いることができ
る。
3 亜鉛ガス供給ノズル
5 溶融蒸発装置
8 気化装置
24 蒸発器
26 均熱補強材
28 主縦筒部
31 蓋体
32 固形分分離パイプ
34 シールポット
36 亜鉛導入用パイプ
36a ホッパー
38 温度計
40 ガス抜き用パイプ
42 連結管
44 安全装置
60 冷却・粉砕装置
A 亜鉛ガス
B シリコン塩化物
Claims (6)
- シリコン塩化物の気化装置と、
亜鉛の溶融蒸発装置と、
外周面に加熱手段が具備された縦型反応器と、
前記シリコン塩化物の気化装置と前記縦型反応器との間を接続するように配置され、前記シリコン塩化物の気化装置から供給されてくるシリコン塩化物ガスを、前記縦型反応器内に供給するシリコン塩化物ガス供給ノズルと、
前記亜鉛の溶融蒸発装置と前記縦型反応器との間を接続するように配置され、前記亜鉛の溶融蒸発装置から供給されてくる亜鉛ガスを、前記縦型反応器内に供給する亜鉛ガス供給ノズルと、
前記縦型反応器に接続された排気ガス抜き出しパイプとを備え、
前記亜鉛の溶融蒸発装置は、
蒸発器と、
前記蒸発器の上部に接続された主縦筒部と、
前記主縦筒部の内方に挿入された固形分分離パイプと、
前記固形分分離パイプに斜めに接続された亜鉛導入用パイプと、
前記固形分分離パイプの下端開口部を囲繞するように配置され、前記固形分分離パイプの底面を構成するシールポットと、
前記主縦筒部の外周面に装着され、温度調整可能な誘導加熱装置と、
前記蒸発器の側壁に接続されたガス抜き用パイプと、
を備えたことを特徴とする高純度多結晶シリコンの製造装置。 - 前記蒸発器の外側には、均熱補強材が装着されていることを特徴とする請求項1に記載の高純度多結晶シリコンの製造装置。
- 前記シールポットは前記固形分分離パイプに取り付けられていることを特徴とする請求項1に記載の高純度多結晶シリコンの製造装置。
- 前記シールポットの上部開口縁には、切欠き溝が形成されていることを特徴とする請求項1または3に記載の高純度多結晶シリコンの製造装置。
- 前記固形分分離パイプおよび前記主縦筒部には、それぞれ不活性ガス導入パイプが接続されていることを特徴とする請求項1に記載の高純度多結晶シリコンの製造装置。
- 前記請求項1〜5のいずれかに記載の高純度多結晶シリコンの製造装置を用いた高純度多結晶シリコンの製造方法であって、
前記縦型反応器内に、シリコン塩化物ガス供給ノズルからシリコン塩化物ガスと、前記亜鉛ガス供給ノズルから亜鉛ガスとを供給し、
シリコン塩化物ガスと亜鉛ガスとの反応によりシリコン塩化物ガス供給ノズルの先端部に、下方に向かって、略管状に凝集した多結晶シリコンを生成させることを特徴とする高純度多結晶シリコンの製造方法。
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Cited By (1)
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---|---|---|---|---|
DE102006050901A1 (de) * | 2005-11-17 | 2007-05-31 | Solarworld Industries Deutschland Gmbh | Verfahren zum Herstellen eines Halbleiterkörpers und zum Herstellen einer Halbleitervorrichtung |
US7922814B2 (en) * | 2005-11-29 | 2011-04-12 | Chisso Corporation | Production process for high purity polycrystal silicon and production apparatus for the same |
US20100034526A1 (en) * | 2008-08-07 | 2010-02-11 | Martin Kleemann | Steam generator |
CN102361688A (zh) * | 2009-03-20 | 2012-02-22 | 株式会社水星技术 | 热转换反应密封容器 |
EP2481707A1 (en) * | 2009-09-25 | 2012-08-01 | JX Nippon Oil & Energy Corporation | Method for manufacturing silicon tetrachloride and method for manufacturing silicon for use in a solar cell |
CN103466634B (zh) * | 2013-09-03 | 2015-07-15 | 新特能源股份有限公司 | 一种多晶硅生产中原料混合氯硅烷节能回收工艺 |
CN106861557B (zh) * | 2017-04-24 | 2023-03-10 | 中国科学技术大学 | 一种用于cvd固态源的挥发装置 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003054933A (ja) * | 2001-06-05 | 2003-02-26 | Tokuyama Corp | シリコン生成用反応装置 |
JP2004284935A (ja) * | 2003-03-19 | 2004-10-14 | Takayuki Shimamune | シリコンの製造装置及び製造方法 |
JP2007145663A (ja) * | 2005-11-29 | 2007-06-14 | Chisso Corp | 高純度多結晶シリコンの製造方法 |
JP2008184641A (ja) * | 2007-01-29 | 2008-08-14 | Chisso Corp | 金属の溶融蒸発装置 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3041145A (en) * | 1957-07-15 | 1962-06-26 | Robert S Aries | Production of pure silicon |
JPS60161327A (ja) | 1984-01-31 | 1985-08-23 | Ube Ind Ltd | 高純度マグネシア微粉末の製造法 |
JP2867306B2 (ja) | 1991-11-15 | 1999-03-08 | 三菱マテリアルポリシリコン株式会社 | 半導体級多結晶シリコンの製造方法とその装置 |
CN1092602C (zh) * | 1996-10-14 | 2002-10-16 | 川崎制铁株式会社 | 多晶硅的制造方法和装置 |
JP2003034519A (ja) | 2001-07-18 | 2003-02-07 | Yutaka Kamaike | シリコンの製造方法 |
JP2003342016A (ja) | 2002-05-24 | 2003-12-03 | Takayuki Shimamune | 多結晶シリコンの製造方法 |
US7538044B2 (en) * | 2002-09-12 | 2009-05-26 | Kinotech Solar Energy Corporation | Process for producing high-purity silicon and apparatus |
JP2007051026A (ja) * | 2005-08-18 | 2007-03-01 | Sumco Solar Corp | シリコン多結晶の鋳造方法 |
US7922814B2 (en) * | 2005-11-29 | 2011-04-12 | Chisso Corporation | Production process for high purity polycrystal silicon and production apparatus for the same |
-
2008
- 2008-02-20 JP JP2008038880A patent/JP5040716B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2008-03-11 DE DE102008013543A patent/DE102008013543A1/de not_active Withdrawn
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-
2010
- 2010-07-22 US US12/841,452 patent/US8273317B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003054933A (ja) * | 2001-06-05 | 2003-02-26 | Tokuyama Corp | シリコン生成用反応装置 |
JP2004284935A (ja) * | 2003-03-19 | 2004-10-14 | Takayuki Shimamune | シリコンの製造装置及び製造方法 |
JP2007145663A (ja) * | 2005-11-29 | 2007-06-14 | Chisso Corp | 高純度多結晶シリコンの製造方法 |
JP2008184641A (ja) * | 2007-01-29 | 2008-08-14 | Chisso Corp | 金属の溶融蒸発装置 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2012073712A1 (ja) * | 2010-11-30 | 2012-06-07 | Jnc株式会社 | 亜鉛ガスの供給方法および供給装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW200838799A (en) | 2008-10-01 |
CN101311113A (zh) | 2008-11-26 |
US20100284886A1 (en) | 2010-11-11 |
US8273317B2 (en) | 2012-09-25 |
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US7785546B2 (en) | 2010-08-31 |
US20080233037A1 (en) | 2008-09-25 |
DE102008013543A1 (de) | 2008-10-02 |
CN101311113B (zh) | 2013-01-09 |
JP5040716B2 (ja) | 2012-10-03 |
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