JP2008159248A - 半導体メモリ装置のセンスアンプ回路及びその動作方法 - Google Patents
半導体メモリ装置のセンスアンプ回路及びその動作方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008159248A JP2008159248A JP2007330481A JP2007330481A JP2008159248A JP 2008159248 A JP2008159248 A JP 2008159248A JP 2007330481 A JP2007330481 A JP 2007330481A JP 2007330481 A JP2007330481 A JP 2007330481A JP 2008159248 A JP2008159248 A JP 2008159248A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- bit line
- sense amplifier
- inverter
- semiconductor memory
- memory device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/06—Sense amplifiers; Associated circuits, e.g. timing or triggering circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/409—Read-write [R-W] circuits
- G11C11/4091—Sense or sense/refresh amplifiers, or associated sense circuitry, e.g. for coupled bit-line precharging, equalising or isolating
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C5/00—Details of stores covered by group G11C11/00
- G11C5/14—Power supply arrangements, e.g. power down, chip selection or deselection, layout of wirings or power grids, or multiple supply levels
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/06—Sense amplifiers; Associated circuits, e.g. timing or triggering circuits
- G11C7/065—Differential amplifiers of latching type
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/12—Bit line control circuits, e.g. drivers, boosters, pull-up circuits, pull-down circuits, precharging circuits, equalising circuits, for bit lines
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C2207/00—Indexing scheme relating to arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C2207/005—Transfer gates, i.e. gates coupling the sense amplifier output to data lines, I/O lines or global bit lines
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Dram (AREA)
- Read Only Memory (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
Abstract
【課題】半導体メモリ装置のセンスアンプ回路及びその動作方法を提供する。
【解決手段】ビットラインに接続され、ビットラインの信号を感知増幅するビットラインセンスアンプ及びビットラインセンスアンプのロジック臨界値に基づいてビットライン電圧レベルを較正するための較正回路を備え、ビットライン電圧レベルの較正後、ビットラインセンスアンプがビットラインの信号を感知増幅する。ビットラインセンスアンプは二段カスケード型ラッチを備え、二段カスケード型ラッチは、その入力端子がビットラインに接続される第1インバータ、及びその入力端子は第1インバータの出力端子に接続され、その出力端子はビットラインに接続され、センシング制御信号に応答してイネーブル/ディセーブルされる第2インバータで構成され、較正回路は第1インバータの出力端子とビットラインとの間に接続され、較正制御信号に応答してターンオン/ターンオフされるスイッチ素子で構成される。
【選択図】図6
【解決手段】ビットラインに接続され、ビットラインの信号を感知増幅するビットラインセンスアンプ及びビットラインセンスアンプのロジック臨界値に基づいてビットライン電圧レベルを較正するための較正回路を備え、ビットライン電圧レベルの較正後、ビットラインセンスアンプがビットラインの信号を感知増幅する。ビットラインセンスアンプは二段カスケード型ラッチを備え、二段カスケード型ラッチは、その入力端子がビットラインに接続される第1インバータ、及びその入力端子は第1インバータの出力端子に接続され、その出力端子はビットラインに接続され、センシング制御信号に応答してイネーブル/ディセーブルされる第2インバータで構成され、較正回路は第1インバータの出力端子とビットラインとの間に接続され、較正制御信号に応答してターンオン/ターンオフされるスイッチ素子で構成される。
【選択図】図6
Description
本発明は、半導体装置に係り、より詳細には、半導体メモリ装置のセンスアンプ回路及びビットラインセンシング方法に関する。
半導体メモリ装置は、メモリセルに保存されているデータを感知増幅するためのビットラインセンスアンプ回路を備える。
通常のビットラインセンスアンプのセンシング方法は、差動対センシング(Differential pair sensing)であって、最も普遍的に使われるセンスアンプは、クロスカップルドラッチ型(Cross−coupled latch)センスアンプである。
通常のビットラインセンスアンプのセンシング方法は、差動対センシング(Differential pair sensing)であって、最も普遍的に使われるセンスアンプは、クロスカップルドラッチ型(Cross−coupled latch)センスアンプである。
クロスカップルドラッチ型センスアンプの場合、センスアンプを構成する素子(例えば、トランジスタ)間のミスマッチ(例えば、スレショルド電圧のミスマッチなど)が存在する場合、有効ではないセンシング(すなわち、無効データのセンシング)を引き起こしうる。
一方、半導体メモリ装置のビットラインの構造は、大きくフォルド型(folded)構造とオープン型(open)構造とがある。
一方、半導体メモリ装置のビットラインの構造は、大きくフォルド型(folded)構造とオープン型(open)構造とがある。
図1は、通常のフォルド型ビットライン構造を概略的に表わし、図2は、通常のオープンビットライン構造を概略的に表わす。図1を参照すれば、フォルド型ビットライン構造を使う半導体メモリ装置のセンスアンプブロック110(S/A)は、二つのメモリセルブロック(例えば、100L、100R)によって共有されうる。メモリセルは、ワードラインWLとビットライン対BL_L、/BL_L、BL_R、/BL_Rとの交差点ごとに形成することができず、従って、フォルド型ビットライン構造のメモリセルアレイのサイズは後述されるオープンビットライン構造に比べて相対的に大きい。
センスアンプブロック110(S/A)は、メモリセルブロック100Lのメモリセルデータを感知増幅する場合には、メモリセルブロック100Lに沿っているビットライン対BL_L、/BL_Lに接続されて、ビットライン対BL_L、/BL_Lの信号を差動対センシング方式で感知増幅する。このとき、ビットライン対BL_L、/BL_Lのうち一つのビットラインBL_Lまたは/BL_Lには、メモリセルのデータによる電圧が加えられ、他のビットラインは基準電圧ラインとして作用する。
図2を参照すれば、オープンビットライン構造を使う半導体メモリ装置のセンスアンプブロック210(S/A)も二つのメモリセルブロック(例えば、200L、200R)によって共有される。メモリセルは、ワードラインWLとビットライン対BL_L、/BL_L、BL_R、/BL_Rとの交差点ごとに形成される。したがって、図2に図示すように、オープンビットライン構造を採用すると、フォルド型ビットライン構造を採用したのに比べてメモリセルアレイのサイズが減少する。
センスアンプブロック210(S/A)は、メモリセルブロック200Lのメモリセルデータを感知増幅する場合に、一つのメモリセルブロック100LのビットラインBL_Lと他のメモリセルブロック100RのビットラインBL_Rとに接続され、二つのビットラインBL_L、BL_Rの信号を差動対センシング方式で感知増幅する。このとき、二つのビットラインBL_L、BL_Rのうち一つのビットラインBL_Lには、メモリセルのデータによる電圧が加えられ、他の一つのビットラインBL_Rは、基準電圧ラインとして作用する。したがって、オープンビットライン構造では、エッジ側メモリセルブロックにダミーセル(dummycell)が存在する。ダミーセルとは、正常に動作可能なメモリセルにもかかわらず、使えないメモリセルを意味する。したがって、オープンビットライン構造は、フォルド型ビットライン構造に比べて、メモリセルアレイのサイズは減るが、使えないダミーセルが発生するという短所がある。
図3は、フォルド型ビットライン構造に対応する通常のクロスカップルドラッチ型センスアンプの回路図である。
これを参照すれば、センスアンプブロック110は、センスアンプ310、隔離トランジスタ331L、331R、332L、332R及びプリチャージ回路320を備える。
これを参照すれば、センスアンプブロック110は、センスアンプ310、隔離トランジスタ331L、331R、332L、332R及びプリチャージ回路320を備える。
隔離トランジスタ331L、331R、332L、332Rは、センスアンプブロック110を基準に何れか一側(例えば、左側)に配されたメモリセルブロックと他側(例えば、右側)に配されたメモリセルブロックとをセンスアンプブロック110に選択的に連結するためのトランジスタである。第1隔離信号ISO_Lが活性化されれば、第1隔離トランジスタ群331L、332Lがターンオンされて左側メモリセルブロックをセンスアンプブロック110に接続させることによって、センスアンプ310は、左側メモリセルブロックのデータを感知増幅する。センスアンプ310は、クロスカップルドラッチ型センスアンプであって、ビットライン対BL、/BLを差動対センシング方式で感知増幅する。
第2隔離信号ISO_Rが活性化されれば、第2隔離トランジスタ群331R、332Rがターンオンされて右側メモリセルブロックをセンスアンプブロック110に接続させることによって、センスアンプ310は、右側メモリセルブロックのデータを感知増幅する。すなわち、センスアンプ310は、右側メモリセルブロックのビットライン対BL_R、/BL_Rを差動対センシング方式で感知増幅する。
前述したように、フォルド型ビットライン構造では、センスアンプ310は、左側メモリセルブロックと右側メモリセルブロックとに選択的に接続されるので、隔離トランジスタ331L、331R、332L、332Rが必要である。
プリチャージ回路320は、プリチャージ制御信号EQに応答して、ビットライン対BL、/BLを所定のプリチャージ電圧VBLでプリチャージ及びイコライジングする。
センスアンプブロック110は、ビットライン対BL、/BLをデータ入出力ライン対IO、/IOと選択的に連結するためのスイッチング素子341、342とをさらに備えることもできる。
プリチャージ回路320は、プリチャージ制御信号EQに応答して、ビットライン対BL、/BLを所定のプリチャージ電圧VBLでプリチャージ及びイコライジングする。
センスアンプブロック110は、ビットライン対BL、/BLをデータ入出力ライン対IO、/IOと選択的に連結するためのスイッチング素子341、342とをさらに備えることもできる。
図4は、オープン型ビットライン構造に対応する通常のクロスカップルドラッチ型センスアンプの回路図である。
図4のセンスアンプブロック210は、図3のセンスアンプブロック110と同様に、センスアンプ310及びプリチャージ回路320を備える。しかし、図3のセンスアンプブロック110と異なって、隔離トランジスタ331L、331R、332L、332Rを備えない。
センスアンプ310は、センスアンプブロック210を基準に何れか一側(例えば、左側)に配されたメモリセルブロックのビットラインBL_Lと他側(例えば、右側)に配されたメモリセルブロックのビットラインBL_Rとを差動対センシング方式で感知増幅する。
図4のセンスアンプブロック210は、図3のセンスアンプブロック110と同様に、センスアンプ310及びプリチャージ回路320を備える。しかし、図3のセンスアンプブロック110と異なって、隔離トランジスタ331L、331R、332L、332Rを備えない。
センスアンプ310は、センスアンプブロック210を基準に何れか一側(例えば、左側)に配されたメモリセルブロックのビットラインBL_Lと他側(例えば、右側)に配されたメモリセルブロックのビットラインBL_Rとを差動対センシング方式で感知増幅する。
前述したように、通常のクロスカップルドラッチ型センスアンプ310は、差動対センシング方式でデータを感知増幅するので、基準信号(Reference)を必要とする。基準信号との相対的比較を通じてデータを感知増幅するセンスアンプ310は、センスアンプを構成する素子間のミスマッチに脆弱である。すなわち、センスアンプ310を構成するトランジスタ間のスレショルド電圧ミスマッチ、トランジスタ間のトランスコンダクタンスミスマッチ、ビットラインロードキャパシタンスミスマッチなどによってデータセンシングにエラーが発生しうる。
したがって、前述したオープンビットライン構造でダミーセルが発生する問題点とクロスカップルドラッチ型センスアンプで素子間のミスマッチによる無効データセンシング可能性の問題点とを克服するための新たなビットラインセンスアンプ回路が必要である。
本発明の技術的課題は、データセンシング特性を向上させ、ダミーセルを除去するか減らして、チップサイズを縮めることのできる半導体メモリ装置のビットラインセンスアンプ回路及びその動作方法を提供することである。
前記のような目的を果たすための本発明の望ましい一側面による半導体メモリ装置のセンスアンプ回路は、ビットラインに接続され、前記ビットラインの信号を感知増幅するビットラインセンスアンプと、前記ビットラインセンスアンプのロジック臨界値に基づいて前記ビットライン電圧レベルを較正するための較正回路と、を備える。前記ビットラインの電圧レベルの較正後、前記ビットラインセンスアンプが前記ビットラインの信号を感知増幅する。
前記ビットラインセンスアンプは、二段カスケード型ラッチを備えることができ、前記二段カスケード型ラッチは、その入力端子が前記ビットラインに接続される第1インバータと、その入力端子は前記第1インバータの出力端子に接続され、その出力端子は前記ビットラインに接続され、センシング制御信号に応答してイネーブル/ディセーブルされる第2インバータと、を備えることができる。前記較正回路は、前記第1インバータの出力端子と前記ビットラインとの間に接続されて、較正制御信号に応答してターンオン/ターンオフされるスィッチ素子を備えることができる。
前記のような目的を果たすための本発明の望ましい一側面による半導体メモリ装置は、第1メモリセルアレイと、前記第1メモリセルアレイに亙って伸びている第1ビットラインと、前記第1ビットラインに接続されて前記第1ビットラインの信号を感知増幅するビットラインセンスアンプと、前記ビットラインセンスアンプのロジック臨界値に基づいて前記ビットライン電圧レベルを較正するための較正回路と、を備える。前記ビットライン電圧レベルの較正後、前記ビットラインセンスアンプが前記ビットラインの信号を感知増幅する。
前記のような目的を果たすための本発明の望ましい一側面による半導体メモリ装置の動作方法は、メモリセルに選択的に接続されるビットラインを既定のビットラインプリチャージ電圧でプリチャージするビットラインプリチャージ段階と、前記ビットラインに接続されたビットラインセンスアンプのロジック臨界値に基づいて前記ビットライン電圧レベルを較正する較正段階と、ワードラインをイネーブルして、前記メモリセルと前記ビットラインとを接続して前記メモリセルと前記ビットラインとの間の電荷共有を発生させる電荷共有(charge sharing)段階と、前記ビットラインセンスアンプをイネーブルして、前記ビットライン信号を感知増幅する感知増幅段階と、を備える。
本発明によれば、センスアンプ回路を構成する素子(例えば、トランジスタ)の工程散布やミスマッチによる影響を受けることが少なくなるため、データセンシングにおけるエラー可能性が減ってデータセンシング特性が向上する効果がある。また、本発明によるセンスアンプ回路は、基準となる他のビットラインを要しないので、ダミーメモリセルが発生しない。したがって、メモリセルアレイのサイズを縮少することができる。
以下、添付図面を参照して、本発明の望ましい実施形態を説明することによって、本発明を詳しく説明する。各図面に付された同一参照符号は、同一部材を表わす。
図5は、本発明の実施形態による半導体メモリ装置でのメモリセルブロックとビットラインセンスアンプブロックとの間の連結関係を概略的に表わす図である。
図5は、本発明の実施形態による半導体メモリ装置でのメモリセルブロックとビットラインセンスアンプブロックとの間の連結関係を概略的に表わす図である。
これを参照すれば、メモリセルブロックの間に位置したビットラインセンスアンプブロック(例えば、310a)は、少なくとも二つのメモリセルブロック(例えば、300L、300R)に接続される。さらに具体的には、ビットラインセンスアンプブロック310aは、第1メモリセルブロック300Lのセルアレイに沿って伸びている第1ビットラインBLiと第2メモリセルブロック300Rのセルアレイに沿って伸びている第2ビットラインBLjとに接続され、第1ビットラインBLiまたは第2ビットラインBLjの信号を選択的に感知増幅できる。
第1メモリセルブロック300Lのワードラインがイネーブルされる時、ビットラインセンスアンプブロック310aは、第1ビットラインBLiの信号を感知増幅し、第2メモリセルブロック300Rのワードラインがイネーブルされる時、ビットラインセンスアンプブロック310aは、第2ビットラインBLjの信号を感知増幅する。ビットラインセンスアンプブロック310aは、第1ビットラインまたは第2ビットライン信号を感知増幅する時、他のビットライン電圧を基準にせず、自らの値を基準に増幅する。
すなわち、ビットラインセンスアンプブロック301a、310bは、図3及び図4に図示されたクロスカップルドラッチ型センスアンプと異なって、基準となるビットライン(あるいは、相補ビットライン)を要しない。
したがって、本発明のビットラインセンスアンプブロックは、セルアレイのエッジに位置したビットラインセンスアンプブロック(例えば、310b)のように一つのメモリセルブロックに接続されて該当のセルアレイに沿って伸びている第3ビットラインBLkの信号を感知増幅できる。したがって、本発明のビットラインセンスアンプブロックが使われる場合には、エッジ側メモリセルブロックにダミーセルが発生しない。
したがって、本発明のビットラインセンスアンプブロックは、セルアレイのエッジに位置したビットラインセンスアンプブロック(例えば、310b)のように一つのメモリセルブロックに接続されて該当のセルアレイに沿って伸びている第3ビットラインBLkの信号を感知増幅できる。したがって、本発明のビットラインセンスアンプブロックが使われる場合には、エッジ側メモリセルブロックにダミーセルが発生しない。
図6は、本発明の実施形態によるビットラインセンスアンプブロックの回路図である。
図6に図示されたビットラインセンスアンプブロック310aは、二つのメモリセルブロックに選択的に接続されるように具現された例である。したがって、図5に図示されたように、ビットラインセンスアンプブロック310aは、二つのメモリセルブロックの間に配されて二つのメモリセルブロックのデータを選択的に感知増幅するのに使うことができる。
図6に図示されたビットラインセンスアンプブロック310aは、二つのメモリセルブロックに選択的に接続されるように具現された例である。したがって、図5に図示されたように、ビットラインセンスアンプブロック310aは、二つのメモリセルブロックの間に配されて二つのメモリセルブロックのデータを選択的に感知増幅するのに使うことができる。
これを参照すれば、センスアンプブロック310aは、センスアンプ回路、選択的接続回路640L、640R及びプリチャージ回路630L、630Rを備える。センスアンプ回路は、ビットラインセンスアンプ611、612及び較正回路620を備える。
ビットラインセンスアンプ611、612は、二段カスケードラッチ(2−stage cascade latch)として具現可能である。二段カスケードラッチは、カスケードに接続される第1及び第2インバータ611、612として具現可能である。
ビットラインセンスアンプ611、612は、二段カスケードラッチ(2−stage cascade latch)として具現可能である。二段カスケードラッチは、カスケードに接続される第1及び第2インバータ611、612として具現可能である。
第1インバータ611は、その入力端子N1がビットラインBLに接続されることによって、ビットラインBLの信号を受信してビットライン信号を反転して出力する。
第1インバータ611は、第1電源電圧LAとその出力端子N2との間に接続され、そのゲートはビットラインBLに接続される第1プルアップトランジスタPT1と、その出力端子N2と第2電源電圧LABとの間に接続され、そのゲートはビットラインBLに接続される第1プルダウントランジスタNT1として具現可能である。
第1インバータ611は、第1電源電圧LAとその出力端子N2との間に接続され、そのゲートはビットラインBLに接続される第1プルアップトランジスタPT1と、その出力端子N2と第2電源電圧LABとの間に接続され、そのゲートはビットラインBLに接続される第1プルダウントランジスタNT1として具現可能である。
較正回路620は、センスアンプ611、612のオフセット較正時には、較正制御信号CALSに応答してイネーブル(ターンオン)されて第1インバータ611の出力端子N2をビットラインBLに接続して、第1インバータ611の出力端子と入力端子とを相互接続させる。すなわち、較正回路620は、第1インバータ611の出力が再び入力にフィードバックされる負帰還(negative feedback)を形成することでビットラインBLの電圧レベルが第1インバータ611のロジック臨界値(logic threshold)レベルに近く較正されるようにする。
ロジック臨界値とは、出力信号のロジックレベルを遷移させうる入力信号の臨界値を言う。すなわち、入力信号のレベルがロジック臨界値を超えれば、その出力信号のロジックレベルが変わる。例えば、第1インバータ611の入力電圧が0.5Vより大きい時、その出力がロジックローレベルであり、0.5Vより少ない時、その出力がロジックハイレベルであれば、第1インバータ611のロジック臨界値は、0.5Vと言える。
較正回路620は、ビットラインBL(あるいは、第1インバータの入力端子、N1)と第1インバータの出力端子N2との間に接続されて較正制御信号CALSに応答してターンオン/ターンオフされるスィッチ素子として具現可能である。スィッチ素子は、伝送ゲートあるいはトランジスタとして具現可能である。
第2インバータ612は、その入力端子N2は第1インバータ611の出力端子N2に接続され、その出力端子N3はビットラインBLに接続され、センシング制御信号SAP、SANに応答してイネーブル/ディセーブルされる。
具体的には、第2インバータ612は、第1電源電圧LAに接続され、そのゲートには第1センシング制御信号SAPを受信する第1センシング制御トランジスタPT2、第2電源電圧LABに接続され、そのゲートには第2センシング制御信号SANを受信する第2センシング制御トランジスタNT3、第1センシング制御トランジスタPT2と第2インバータ612の出力端子N3との間に接続され、そのゲートには第1インバータ611の出力信号を受信する第2プルアップトランジスタPT3及び第2インバータ612の出力端子N3と第2センシング制御トランジスタNT3との間に接続され、そのゲートには第1インバータ611の出力信号を受信する第2プルダウントランジスタNT2を含みうる。
第1及び第2センシング制御信号SAP、SANは、第2インバータ612のイネーブル/ディセーブルを制御するための信号であって、半導体メモリ装置の内部で適切な時点に発生しうる。第1及び第2センシング制御信号SAP、SANのタイミングは、図10を参照して後述する。
選択的接続回路640L、640Rは、ビットラインセンスアンプ回路611、612、620を第1及び第2メモリセルブロックに選択的に連結あるいは分離するための回路であって、隔離トランジスタ640L、640Rを含んで構成される。
選択的接続回路640L、640Rは、ビットラインセンスアンプ回路611、612、620を第1及び第2メモリセルブロックに選択的に連結あるいは分離するための回路であって、隔離トランジスタ640L、640Rを含んで構成される。
第1隔離信号ISO_Lが活性化されれば、第1隔離信号ISO_Lに応答する隔離トランジスタ640Lがターンオンされ、第1メモリセルブロックをセンスアンプ回路611、612、620に接続させることによって、センスアンプ回路611、612、620は、第1メモリセルブロックBLKiから選択されたメモリセルMCiのデータ、すなわち、第1ビットラインBLiの信号を感知増幅する。
第2隔離信号ISO_Rが活性化されれば、第2隔離信号ISO_Rに応答する隔離トランジスタ640Rがターンオンされ、第1メモリセルブロックをセンスアンプ回路611、612、620に接続させることによって、センスアンプ回路611、612、620は第2メモリセルブロックBLKjから選択されたメモリセル(図示せず)のデータ、すなわち、第2ビットラインBLjの信号を感知増幅する。
プリチャージ回路630L、630Rは、プリチャージモードでビットラインBLをビットラインプリチャージ電圧VBLに設定するための回路であって、ビットラインBLとビットラインプリチャージ電圧VBLラインとの間に接続され、プリチャージ制御信号EQに応答してイネーブル/ディセーブルされる。
センスアンプブロック310bは、前述した構成要素の以外に他の構成要素(例えば、ビットラインBLをデータ入出力ラインと選択的に連結するためのスイッチング回路(図示せず)をさらに備えることもできる。
センスアンプブロック310bは、前述した構成要素の以外に他の構成要素(例えば、ビットラインBLをデータ入出力ラインと選択的に連結するためのスイッチング回路(図示せず)をさらに備えることもできる。
図7は、本発明の他の実施形態によるビットラインセンスアンプブロックの回路図である。
図7に図示されたビットラインセンスアンプブロック310bは、一つのメモリセルブロックと接続されるように具現された例である。したがって、図5に図示されたように、ビットラインセンスアンプブロック310bは、メモリセルアレイのエッジ側に配されてエッジ側メモリセルブロックのデータを感知増幅するのに使われる。
図7に図示されたビットラインセンスアンプブロック310bは、一つのメモリセルブロックと接続されるように具現された例である。したがって、図5に図示されたように、ビットラインセンスアンプブロック310bは、メモリセルアレイのエッジ側に配されてエッジ側メモリセルブロックのデータを感知増幅するのに使われる。
図7に図示されたビットラインセンスアンプブロック310bの構成は、図6に図示されたビットラインセンスアンプブロック310aの構成とほぼ同一である。但し、二つのメモリセルブロックではなく、一つのメモリセルブロックにのみ接続されるので、図6に図示された第2選択的接続回路640Rとプリチャージ回路630Rとは図7に図示されたビットラインセンスアンプブロック310bには必要ではない。また、第1選択的接続回路640Lも必要ではないこともある。このような差異点を除いては、図6に図示されたビットラインセンスアンプブロック310bの構成及び動作と類似しているので、図7に図示されたビットラインセンスアンプブロック310bについての詳細な説明は省略する。
図8は、図6に図示されたセンスアンプブロック310aのデータセンシング動作を説明するための図である。図10は、図6に図示されたビットラインセンスアンプブロック310aの動作を説明するための信号タイミング図である。図8及び図10では、第1メモリセルブロックBLKiがアクティブブロックに選択された場合を仮定する。
図6、図8及び図10を参照すれば、まず、アクティブ動作前のスタンバイ状態(a)では、プリチャージ制御信号EQが第1ロジックレベル(例えば、ロジックハイレベル)で活性化されてビットラインBLはプリチャージ電圧VBLにプリチャージされる。
次に、ワードラインWLiがイネーブルされる前にセンスアンプのオフセット較正(offset calibration、あるいはoffset cancellationとも言う)がなされる(b)。センスアンプのオフセット較正とは、センスアンプの特性を変化させることではなく、センスアンプのロジック臨界値に基づいてビットライン電圧レベルを変化させることを意味する。
オフセット較正段階(b)では、較正制御信号CALSが第1ロジックレベルで活性化され、第1ロジックレベルで活性化された較正制御信号CALSに応答して較正回路620のトランジスタがターンオンされることによって、第1インバータ611の入力端子N1と出力端子N2とが相互接続される。すなわち、第1インバータ611の出力端子N2がその入力端子N1に負帰還されることによって、ビットラインBLの電圧レベルが第1インバータ611のロジック臨界値に近接する。
前述したように、ロジック臨界値は、出力電圧のロジックレベルが一つの状態で他の状態に遷移される時点の入力電圧のレベルを言う。ところが、各センスアンプブロックの第1インバータのロジック臨界値は、工程によって互いに少しずつ異なりうる。したがって、センスアンプのオフセット較正過程を経た後にビットライン電圧は、第1インバータ611のオフセット電圧によってプリチャージ電圧より増加することもあり、プリチャージ電圧より減少することもある。すなわち、ビットライン電圧は、“プリチャージ電圧VBL+オフセット電圧=第1インバータのロジック臨界値”になる。オフセット電圧は正の値となったり、負の値となったりする。
較正回路620をターンオフ(c)した後、選択されたワードラインWLiをイネーブルする(d)。次いで、ビットラインBLと選択されたメモリセルMCiとの間の電荷共有がなされる。電荷共有がなされるによって、ビットライン電圧は、“プリチャージ電圧VBL+オフセット電圧”、すなわち、第1インバータのロジック臨界値レベルで増加するか又は減少する。
このように、電荷共有がなされた状態(d)で第1及び第2センシング制御信号SAP、SANをイネーブルして第2インバータ612をイネーブルさせる(e)。第2インバータ612がイネーブルされれば、正の帰還(positive feedback)がなされる(e)。すなわち、第1及び第2インバータ611、612がカスケードに連結され、第2インバータ612の出力端子N3は第1インバータ611の入力端子N1と接続される。したがって、第1及び第2インバータ611、612で構成された2段カスケード型ラッチによってビットライン信号の感知増幅がなされる(e)。
図10では、選択されたメモリセルMCiに保存されたデータがロジックハイレベルデータD1であり、第1インバータ611が所定の正のオフセット電圧−Vtを有する波形D1/−Vtと、選択されたメモリセルMCiに保存されたデータがロジックローレベルデータD0であり、第1インバータ611が所定の正のオフセット電圧+Vtを有する波形D0/+Vtが図示される。
前者の波形D1/−Vtの場合、オフセット較正段階で、負のオフセット電圧−Vtによって第1インバータ611の出力信号SA1_OレベルとビットラインBLの信号レベルすべてがプリチャージ電圧VBLレベルで若干落ちる。しかし、電荷共有がなされれば、ビットラインBLの信号レベルはロジックハイレベルデータD1によって上がって、感知増幅段階ではビットラインの信号レベルは急激にハイレベルで増加する。
一方、後者の波形D0/+Vtの場合には、オフセット較正段階では、正のオフセット電圧+Vtによって第1インバータ611の出力信号SA1_OレベルとビットラインBLの信号レベルすべてがプリチャージ電圧VBLレベルで若干増加する。しかし、電荷共有がなされれば、ビットラインBLの信号レベルはロジックローレベルデータD0によって落ちて、感知増幅段階ではビットラインの信号レベルは急激にローレベルに落ちる。
前述した過程を経て選択されたメモリセルMCiのデータが感知増幅される。
前述した過程を経て選択されたメモリセルMCiのデータが感知増幅される。
図9は、図6に図示されたセンスアンプブロック310aのデータセンシングを完了した後、プリチャージ動作を説明するための図である。
図6、図9及び図10を参照すれば、センスアンプブロック310aのデータセンシングを完了した後、プリチャージ動作は、前述したセンスアンプブロック310aのデータセンシング動作の逆の順序になされる。
図6、図9及び図10を参照すれば、センスアンプブロック310aのデータセンシングを完了した後、プリチャージ動作は、前述したセンスアンプブロック310aのデータセンシング動作の逆の順序になされる。
データのセンシング(e)が完了すれば、イネーブルされたワードラインWLiがディセーブル(WL shutdown)される(f)。次に、第1及び第2センシング制御信号SAP、SANをディセーブルして、第2インバータ612をディセーブルさせてデータセンシングを中断する(g)。その次に、較正制御信号CALSが再び第1ロジックレベルで活性化され、第1ロジックレベルで活性化された較正制御信号CALSに応答して較正回路620のトランジスタがターンオンされることによって、第1インバータ611の入力端子N1と出力端子N2とが相互接続される(h)。これと同時に、ビットラインプリチャージ電圧VBLがビットラインBLに印加されることによって、オフセット較正とビットラインプリチャージとが同時に実行される(h)。オフセット較正とともにビットラインプリチャージを実行すれば、ビットラインの電圧をより迅速にプリチャージ電圧レベルに近接させることができる。
較正制御信号CALSを第2ロジックレベル(例えば、ロジックローレベル)で非活性化させて較正回路620をディセーブルし、ビットラインプリチャージ電圧VBLは、ビットラインBLに印加し続けてビットラインの電圧をビットラインプリチャージ電圧VBLレベルにするプリチャージが実行される(i及びj)。
前述したように、本発明の実施形態によれば、ワードラインがイネーブルされる前に第1インバータに負帰還を形成してビットライン電圧を第1インバータのロジック臨界値に近くなるように設定するセンスアンプのオフセット較正がなされる。ビットラインの電圧を第1インバータのロジック臨界値に近接するように設定した後、ワードラインをイネーブルすれば、電荷共有によってビットライン電圧レベルがわずかに変わっても第1インバータの出力信号のレベルは急激に変わりうる。以後、二段カスケードラッチがビットライン信号を増幅すれば、より早い時間内にビットライン信号を感知されたデータに相応する電圧レベルに復旧させうる。したがって、本発明によれば、データセンシング速度が向上する。
前述したように、本発明の実施形態によれば、ワードラインがイネーブルされる前に第1インバータに負帰還を形成してビットライン電圧を第1インバータのロジック臨界値に近くなるように設定するセンスアンプのオフセット較正がなされる。ビットラインの電圧を第1インバータのロジック臨界値に近接するように設定した後、ワードラインをイネーブルすれば、電荷共有によってビットライン電圧レベルがわずかに変わっても第1インバータの出力信号のレベルは急激に変わりうる。以後、二段カスケードラッチがビットライン信号を増幅すれば、より早い時間内にビットライン信号を感知されたデータに相応する電圧レベルに復旧させうる。したがって、本発明によれば、データセンシング速度が向上する。
また、本発明の実施形態によれば、センスアンプのオフセット較正過程を経ることによって、センスアンプを構成する素子(例えば、トランジスタ)間のミスマッチによる影響を減らすことができる。
図11及び図12は、図6に図示されたセンスアンプブロック310aのシミュレーション結果を表わすグラフである。
図11及び図12は、図6に図示されたセンスアンプブロック310aのシミュレーション結果を表わすグラフである。
図11は、センスアンプブロック310aのデータセンシング動作を1回シミュレーションした結果を表わし、図12は、センスアンプブロック310aのデータセンシング動作を100回シミュレーションした結果を表わす。図12を参照すれば、オフセット較正後、該較正されたビットライン電圧レベルの分布が広い。これは、センスアンプのオフセット電圧の分布が広いということを意味し、これは、またセンスアンプを構成する素子の特性が工程散布によって変わることを意味する。すなわち、工程散布(process variation)によって素子間のミスマッチが多く発生しうるということである。このように、工程散布によって素子の特性が変わるにもかかわらず、図11及び図12を参照すれば、データセンシングは、エラーなしになされるということが分かる。
図13は、本発明の実施形態によるセンスアンプ回路と通常のクロスカップルドラッチ型センスアンプ回路のシミュレーション結果を比べて表わすグラフである。
図13で、‘910’は、通常のクロスカップルドラッチ型センスアンプ回路がロジックローレベルデータD0を感知増幅した場合、‘920’は、本発明の実施形態によるセンスアンプ回路がロジックローレベルデータD0を感知増幅した場合、‘930’は、通常のクロスカップルドラッチ型センスアンプ回路がロジックハイレベルデータD1を感知増幅した場合、‘940’は、本発明の実施形態によるセンスアンプ回路がロジックハイレベルデータD1を感知増幅した場合を表わす。
図13で、‘910’は、通常のクロスカップルドラッチ型センスアンプ回路がロジックローレベルデータD0を感知増幅した場合、‘920’は、本発明の実施形態によるセンスアンプ回路がロジックローレベルデータD0を感知増幅した場合、‘930’は、通常のクロスカップルドラッチ型センスアンプ回路がロジックハイレベルデータD1を感知増幅した場合、‘940’は、本発明の実施形態によるセンスアンプ回路がロジックハイレベルデータD1を感知増幅した場合を表わす。
これを参照すれば、通常のクロスカップルドラッチ型センスアンプ回路の場合、データを感知増幅する速度の分布がかなり広い。すなわち、工程散布によってデータの感知増幅速度がかなり遅くなることが分かる。
一方、本発明の実施形態によるセンスアンプ回路の場合、データを感知増幅する速度の分布が相対的に狭い。すなわち、本発明の実施形態によるセンスアンプ回路は、工程散布にあまり敏感ではないということが分かる。したがって、センスアンプを構成する素子(例えば、トランジスタ)間のミスマッチにも影響を受けることが少ない。
一方、本発明の実施形態によるセンスアンプ回路の場合、データを感知増幅する速度の分布が相対的に狭い。すなわち、本発明の実施形態によるセンスアンプ回路は、工程散布にあまり敏感ではないということが分かる。したがって、センスアンプを構成する素子(例えば、トランジスタ)間のミスマッチにも影響を受けることが少ない。
本発明は、図面に図示された実施形態を参考にして説明されたが、これは例示的なものに過ぎず、当業者ならば、これより多様な変形及び均等な他実施形態が可能であるという点を理解できるであろう。したがって、本発明の真の保護範囲は、特許請求の範囲によって決まるべきである。
本発明は、半導体メモリ装置のセンスアンプ回路及びその動作方法に適用されうる。
310a、310b:ビットラインセンスアンプブロック
300L:第1メモリセルブロック
300R:第2メモリセルブロック
611:第1インバータ
612:第2インバータ
620:較正回路
630L、630R:プリチャージ回路
640L、640R:隔離トランジスタ
300L:第1メモリセルブロック
300R:第2メモリセルブロック
611:第1インバータ
612:第2インバータ
620:較正回路
630L、630R:プリチャージ回路
640L、640R:隔離トランジスタ
Claims (19)
- ビットラインに接続され、前記ビットラインの信号を感知増幅するビットラインセンスアンプと、
前記ビットラインセンスアンプのロジック臨界値に基づいて前記ビットラインの電圧レベルを較正するための較正回路と、を備え、
前記ビットラインの電圧レベルの較正後、前記ビットラインセンスアンプが前記ビットラインの信号を感知増幅することを特徴とする半導体メモリ装置のセンスアンプ回路。 - 前記ビットラインセンスアンプは、
二段カスケード型ラッチを備えることを特徴とする請求項1に記載の半導体メモリ装置のセンスアンプ回路。 - 前記二段カスケード型ラッチは、
その入力端子が前記ビットラインに接続される第1インバータと、
その入力端子は前記第1インバータの出力端子に接続され、その出力端子は前記ビットラインに接続され、センシング制御信号に応答してイネーブル/ディセーブルされる第2インバータと、を備えることを特徴とする請求項2に記載の半導体メモリ装置のセンスアンプ回路。 - 前記較正回路は、
前記第1インバータの出力端子と前記ビットラインとの間に接続され、較正制御信号に応答してターンオン/ターンオフされるスィッチ素子を備えることを特徴とする請求項3に記載の半導体メモリ装置のセンスアンプ回路。 - 前記スィッチ素子は、
トランジスタ及び伝送ゲートのうち一つを含むことを特徴とする請求項4に記載の半導体メモリ装置のセンスアンプ回路。 - 前記第1インバータは、
第1電源電圧と前記第1インバータの出力端子との間に接続され、そのゲートは前記ビットラインに接続される第1プルアップトランジスタと、
前記第1インバータの出力端子と第2電源電圧との間に接続され、そのゲートは前記ビットラインに接続される第1プルダウントランジスタと、を含むことを特徴とする請求項5に記載の半導体メモリ装置のセンスアンプ回路。 - 前記センシング制御信号は第1及び第2センシング制御信号を含み、
前記第2インバータは、
第1電源電圧に接続され、そのゲートには第1センシング制御信号を受信する第1センシング制御トランジスタと、
第2電源電圧に接続され、そのゲートには第2センシング制御信号を受信する第2センシング制御トランジスタと、
前記第1センシング制御トランジスタと前記第2インバータの出力端子との間に接続され、そのゲートには前記第1インバータの出力信号を受信する第2プルアップトランジスタと、
前記第2インバータの出力端子と前記第2センシング制御トランジスタとの間に接続され、そのゲートには前記第1インバータの出力信号を受信する第2プルダウントランジスタと、を含むことを特徴とする請求項6に記載の半導体メモリ装置のセンスアンプ回路。 - 第1メモリセルアレイと、
前記第1メモリセルアレイに沿って伸びている第1ビットラインと、
前記第1ビットラインに接続され、前記第1ビットラインの信号を感知増幅するビットラインセンスアンプと、
前記ビットラインセンスアンプのロジック臨界値に基づいて前記ビットライン電圧レベルを較正するための較正回路と、を備え、
前記ビットライン電圧レベルの較正後、前記ビットラインセンスアンプが前記ビットラインの信号を感知増幅することを特徴とする半導体メモリ装置。 - 前記ビットラインセンスアンプは、
その入力端子が前記ビットラインに接続される第1インバータと、
その入力端子は前記第1インバータの出力端子に接続され、その出力端子は前記ビットラインに接続され、センシング制御信号に応答してイネーブル/ディセーブルされる第2インバータと、を備えることを特徴とする請求項8に記載の半導体メモリ装置。 - 前記較正回路は、
前記第1インバータの出力端子と前記ビットラインとの間に接続され、較正制御信号に応答してターンオン/ターンオフされるスィッチ素子を備えることを特徴とする請求項9に記載の半導体メモリ装置。 - 前記半導体メモリ装置は、
第2メモリセルアレイと、
前記第2メモリセルアレイに沿って伸びている第2ビットラインと、をさらに備え、
前記ビットラインセンスアンプは、前記第1ビットラインの信号と前記第2ビットラインの信号とを選択的に感知増幅することを特徴とする請求項9に記載の半導体メモリ装置。 - 前記半導体メモリ装置は、
プリチャージ制御信号に応答して、前記第1及び第2ビットラインを既定のビットラインプリチャージ電圧でプリチャージするプリチャージ回路をさらに備えることを特徴とする請求項11に記載の半導体メモリ装置。 - 前記半導体メモリ装置は、
第1隔離信号に応答して、前記第1ビットラインを前記ビットラインセンスアンプと選択的に接続させる第1選択的接続回路と、
第2隔離信号に応答して、前記第2ビットラインを前記ビットラインセンスアンプと選択的に接続させる第2選択的接続回路と、をさらに備えることを特徴とする請求項11に記載の半導体メモリ装置。 - メモリセルに選択的に接続されるビットラインを既定のビットラインプリチャージ電圧でプリチャージするビットラインプリチャージ段階と、
前記ビットラインに接続されたビットラインセンスアンプのロジック臨界値に基づいて前記ビットライン電圧レベルを較正する較正段階と、
ワードラインをイネーブルして、前記メモリセルと前記ビットラインとを接続して前記メモリセルと前記ビットラインとの間の電荷共有を発生させる電荷共有段階と、
前記ビットラインセンスアンプをイネーブルして、前記ビットライン信号を感知増幅する感知増幅段階と、を備えることを特徴とする半導体メモリ装置の動作方法。 - 前記ビットラインセンスアンプは、第1及び第2インバータがカスケードに連結される二段カスケードラッチを含み、
前記較正段階は、前記第1インバータの入力端子と出力端子とをいずれも前記ビットラインに接続させる段階を備えることを特徴とする請求項14に記載の半導体メモリ装置の動作方法。 - 前記感知増幅段階は、
前記第2インバータの入力端子を前記第1入力端子の出力端子に接続させ、前記第2インバータの出力端子を前記ビットラインに接続させる段階を備えることを特徴とする請求項15に記載の半導体メモリ装置の動作方法。 - 前記半導体メモリ装置の動作方法は、
前記較正段階後と前記感知増幅段階前とに、前記第1インバータの出力端子を前記ビットラインから電気的に分離する段階をさらに備えることを特徴とする請求項16に記載の半導体メモリ装置の動作方法。 - 前記半導体メモリ装置の動作方法は、
前記ワードラインをディセーブルする段階と、
前記第2インバータをディセーブルする段階と、
前記第1インバータの入力端子と出力端子とをいずれも前記ビットラインに接続し、前記ビットラインに前記ビットラインプリチャージ電圧を印加するオフセット較正とビットラインプリチャージ同時実行段階と、をさらに備えることを特徴とする請求項16に記載の半導体メモリ装置の動作方法。 - 前記プリチャージ段階は、
前記オフセット較正とビットラインプリチャージ同時実行段階以後になされることを特徴とする請求項18に記載の半導体メモリ装置の動作方法。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020060133208A KR100871673B1 (ko) | 2006-12-22 | 2006-12-22 | 반도체 메모리 장치의 센스 앰프 회로 및 그 동작 방법 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008159248A true JP2008159248A (ja) | 2008-07-10 |
Family
ID=39510060
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007330481A Pending JP2008159248A (ja) | 2006-12-22 | 2007-12-21 | 半導体メモリ装置のセンスアンプ回路及びその動作方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7570529B2 (ja) |
JP (1) | JP2008159248A (ja) |
KR (1) | KR100871673B1 (ja) |
CN (1) | CN101241749A (ja) |
DE (1) | DE102007063215A1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013109817A (ja) * | 2011-10-24 | 2013-06-06 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体メモリ装置およびその駆動方法 |
Families Citing this family (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8351285B2 (en) | 2009-07-02 | 2013-01-08 | Micron Technology, Inc. | Systems, memories, and methods for repair in open digit memory architectures |
TW201142869A (en) | 2010-02-09 | 2011-12-01 | Samsung Electronics Co Ltd | Memory device from which dummy edge memory block is removed |
TWI539456B (zh) * | 2010-10-05 | 2016-06-21 | 半導體能源研究所股份有限公司 | 半導體記憶體裝置及其驅動方法 |
JP6088201B2 (ja) * | 2012-10-24 | 2017-03-01 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置 |
KR102076602B1 (ko) | 2013-02-19 | 2020-02-13 | 삼성전자주식회사 | 센스앰프회로 및 반도체 메모리 장치 |
KR102070626B1 (ko) * | 2013-06-26 | 2020-01-30 | 삼성전자주식회사 | 반도체 메모리 장치 및 이를 포함하는 메모리 시스템 |
KR102161737B1 (ko) * | 2013-12-02 | 2020-10-05 | 삼성전자주식회사 | 반도체 메모리 장치의 비트라인 센싱 방법 |
KR20160069146A (ko) * | 2014-12-08 | 2016-06-16 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 메모리 장치 |
KR20170030304A (ko) | 2015-09-09 | 2017-03-17 | 삼성전자주식회사 | 스위처블 감지 증폭기를 갖는 메모리 장치 |
JP2017070047A (ja) * | 2015-09-29 | 2017-04-06 | 株式会社日立製作所 | 電源装置 |
KR102507170B1 (ko) * | 2016-02-29 | 2023-03-09 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 센스 앰프 및 이를 포함하는 반도체 장치의 입/출력 회로 |
TWI584302B (zh) * | 2016-08-15 | 2017-05-21 | 円星科技股份有限公司 | 用於半導體記憶體的控制裝置 |
KR102319710B1 (ko) * | 2016-11-21 | 2021-10-29 | 매그나칩 반도체 유한회사 | 센스 앰프 구동 장치 |
KR20180076842A (ko) | 2016-12-28 | 2018-07-06 | 삼성전자주식회사 | 오프셋 제거 기능을 갖는 감지 증폭기 |
US11594264B1 (en) * | 2021-11-15 | 2023-02-28 | Ghangxin Memory Technologies, Inc. | Readout circuit layout structure and method of reading data |
CN116129960A (zh) * | 2021-11-15 | 2023-05-16 | 长鑫存储技术有限公司 | 读出电路的版图结构和数据读出方法 |
US11830569B2 (en) | 2021-11-15 | 2023-11-28 | Changxin Memory Technologies, Inc. | Readout circuit, memory, and method of reading out data of memory |
CN116417026A (zh) * | 2021-12-31 | 2023-07-11 | 长鑫存储技术有限公司 | 一种控制放大电路、灵敏放大器和半导体存储器 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0554652A (ja) | 1991-08-29 | 1993-03-05 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置 |
US6052321A (en) * | 1997-04-16 | 2000-04-18 | Micron Technology, Inc. | Circuit and method for performing test on memory array cells using external sense amplifier reference current |
KR100206408B1 (ko) | 1996-06-27 | 1999-07-01 | 김영환 | 반도체 메모리 장치의 데이터 라인 프리차지회로 |
KR100608338B1 (ko) * | 1998-10-27 | 2006-10-24 | 주식회사 하이닉스반도체 | 코어 접지 전압 발생 회로 |
KR100381023B1 (ko) * | 1999-05-13 | 2003-04-23 | 주식회사 하이닉스반도체 | 비트라인 차지펌핑 회로를 갖는 강유전체기억소자 |
JP3651767B2 (ja) | 2000-04-24 | 2005-05-25 | シャープ株式会社 | 半導体記憶装置 |
US6704218B2 (en) * | 2002-04-02 | 2004-03-09 | Agilent Technologies, Inc. | FeRAM with a single access/multiple-comparison operation |
US6804141B1 (en) * | 2003-05-20 | 2004-10-12 | Agilent Technologies, Inc. | Dynamic reference voltage calibration integrated FeRAMS |
KR101010175B1 (ko) | 2004-04-23 | 2011-01-20 | 주식회사 하이닉스반도체 | 센스앰프 및 그 센스앰프를 이용한 불휘발성 상 변환메모리 장치 |
-
2006
- 2006-12-22 KR KR1020060133208A patent/KR100871673B1/ko active IP Right Grant
-
2007
- 2007-07-30 US US11/830,142 patent/US7570529B2/en active Active
- 2007-12-20 DE DE102007063215A patent/DE102007063215A1/de not_active Withdrawn
- 2007-12-21 JP JP2007330481A patent/JP2008159248A/ja active Pending
- 2007-12-24 CN CNA2007101997898A patent/CN101241749A/zh active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013109817A (ja) * | 2011-10-24 | 2013-06-06 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体メモリ装置およびその駆動方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US7570529B2 (en) | 2009-08-04 |
KR100871673B1 (ko) | 2008-12-05 |
CN101241749A (zh) | 2008-08-13 |
DE102007063215A1 (de) | 2008-07-17 |
KR20080058950A (ko) | 2008-06-26 |
US20080151664A1 (en) | 2008-06-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100871673B1 (ko) | 반도체 메모리 장치의 센스 앰프 회로 및 그 동작 방법 | |
US7502269B2 (en) | Semiconductor memory device capable of controlling drivability of overdriver | |
KR100571648B1 (ko) | 반도체 메모리 소자의 오버 드라이버 제어신호 생성회로 | |
KR102163523B1 (ko) | 증폭기 회로 및 이를 포함하는 반도체 메모리 장치 | |
KR20170143125A (ko) | 기준전압을 생성하기 위한 메모리 셀을 포함하는 메모리 장치 | |
US20070263465A1 (en) | Precharge circuit of semiconductor memory apparatus | |
KR100881197B1 (ko) | 프리차지 시간을 감소시키는 반도체 메모리 장치 | |
US6411559B1 (en) | Semiconductor memory device including a sense amplifier | |
US20020003734A1 (en) | Semiconductor memory device having sense amplifier and method for driving sense amplifier | |
JPH0531238B2 (ja) | ||
JP2004111031A (ja) | 能動負荷回路を具備する半導体メモリ装置及びそれに関連した方法 | |
US6519196B1 (en) | High sensitive data signal amplifying circuit | |
US7940589B2 (en) | Bit line sense amplifier of semiconductor memory device and control method thereof | |
US7447090B2 (en) | Semiconductor memory device | |
KR100425476B1 (ko) | 안정적인 입출력라인 센싱제어 스킴을 갖는 반도체메모리장치 및 이의 센싱제어 방법 | |
KR100505454B1 (ko) | 반도체 장치의 데이터 출력 회로 및 방법 | |
KR20100107345A (ko) | 반도체 메모리 장치 | |
KR20000062905A (ko) | 반도체 기억 장치 및 그 제어 방법 | |
KR100587051B1 (ko) | 반도체 메모리 장치 | |
KR100743621B1 (ko) | 저 전력용 감지증폭기 | |
KR20010047531A (ko) | 데이타 센스앰프 구동장치 | |
KR101132802B1 (ko) | 비트라인제어회로 및 반도체메모리장치 | |
KR20080057525A (ko) | 타이밍 제어 로직을 구비하는 반도체 메모리 장치 | |
KR20070039804A (ko) | 반도체 메모리 장치 | |
KR19980037920A (ko) | 반도체 메모리 장치의 입출력라인 프리챠지 회로 |