JP2007537543A - 内部電圧発生器方式及び電力管理方法 - Google Patents

内部電圧発生器方式及び電力管理方法 Download PDF

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Abstract

集積回路内で内部電圧を発生させる装置及び方法を開示する。電流ドライバは、回路の電力要求と、動作モード(例えば、アクティブ、スタンバイ、ディープパワーダウン、及びその他)とに応答して、外部電源から内部電源ラインへ電流を流すよう構成される。望ましくは、電流ドライバは、内部電圧供給ラインの電圧範囲にある又はその外側にあるスイッチング閾値を有する。単一の電流ドライバは、望ましくは、内部電圧供給ラインと基準電圧との比較結果に応答して、1又はそれ以上の内部供給ラインで調節されうる。更なる実施例は、集積回路の動作モードに応答して内部電圧供給ラインの電力を制御するよう単独で又は一緒に切り替えられる、望ましくは異なる電流搬送能力を設定された並列電流ドライバについて記述する。本発明は、特に、スタンバイ及びパワーダウン動作モードの下で、電力浪費及び電流漏出の両方を低減し、雑音感受性を下げることを目的とする。

Description

本発明は、概して、集積回路に関し、更に具体的には、集積回路内の内部電圧変換器に関する。
内部電圧変換器(IVC)は、信頼性及び電力低減のためにチップの動作電圧を制御するようVLSI設計において幅広く使用されている。動作電圧は、外部供給電圧から集積回路内の内部電圧供給ラインで制御される。
明らかなように、集積回路デバイス配置が小さくなるほど、回路密度は増大し、電力消費は低減する。しかし、これらのデバイスは、より低い電圧で動作することを強いられ、あるいは、少なくとも、望ましくは、電力浪費を低減するよう、低減された電圧レベルで動かされる。例えば、(デバイス信頼性を保証する)最大電圧が3.3Vよりも小さいところの0.13μm技術により集積回路が製造されている状態で、外部システム電圧が3.3Vである場合を考える。この場合に、チップの動作電圧は、3.3Vよりも低くされるべきであり、一方、それは、尚も、外部システム電圧で動作するデバイスと整合すべきである。当然のことながら、チップの電圧を低くすることは、電力消費を然るべく低減することを可能にする。一例として、3.3Vから1.3Vへ内部動作電圧を下げることは、およそ60%だけ電力消費を下げることをもたらしうる。
このような場合に、内部電圧変換器(IVC)は、例えば、図1の従来のIVC方式によって表されるような、所要の内部電圧を発生させるための機構を提供する。従来のIVC方式は、ドライバ(mpdrv1)、誤差検出器(AMP1)及び基準電圧(Vref1)から構成されており、内部電圧(IVCC)のレベルを制御する。
外部電圧(EVCC)は、IVCに電力を供給し、通常は、IVCによって発生する内部電圧(IVCC)よりも高い電圧であり、IVCのソースへ結合する。発生電圧IVCCは、図1の論理ブロック内の論理回路のソースへ結合し、回路動作のために電流を供給する。IVCレベルは、基準電圧(Vref1)によって決定される。IVCCレベルがVref1を超えて始動する場合に、ノードN1の電圧は、ドライバmpdrv1をオフとするために急速に増大して、外部電源(EVCC)から内部電源(IVCC)へと流れる電流を低減する。回路動作の幾つかのサイクルの後、IVCCが下がり、Vref1よりも低くなる場合には、ノードN1の電圧は、ドライバをオンとして、低下したレベルを回復するよう低くなる。従って、フィードバックループ内にドライバを有することにより、基準電圧Vref1に関して内部電圧IVCCを保持することが可能となる。
しかし、図1に示される従来のIVC方式は、多数の欠点を有する。第1の欠点は、電気雑音がEVCCに存在する場合の電力雑音に対する脆弱性である。EVCCがPMOSドライバmpdrv1のソースであるので、電圧IVCCはEVCCの変動に応答して出力されて、電源での雑音はIVCCへ直接的に伝送される。第2の欠点は、ディープパワーダウンモードに存在する漏れ電流である。たとえPMOSドライバmpdrv1がオフであっても、そのドライバを流れる漏れ電流は無視できず、デバイスがディープパワーダウンモードにある場合に、漏れ電流全体の大部分を表す。
従って、従来のIVC実施の雑音及び漏れの問題に影響されることなく、デバイスの異なる内部電圧を効果的にサポートすることができる内部電圧変換器が必要とされる。
特に、スタンバイ時又はパワーダウン動作モードで、改善された雑音排除性及び低減されたパワーダウン漏出を有する安定した内部電圧を供給するよう、様々な集積回路内で実施可能な内部電圧変換器(IVC)について記載される。IVCは、例えば、デプレッション及び/又はエンハンスメント型MOSFETのようなFETトランジスタを有する電流ドライバを用いて実施され、NMOSパストランジスタを伴う使用に適する。当然のことながら、当該装置及び方法は、幅広い様々なトランジスタを伴う実施例の可能性を有しており、特定の形式のトランジスタを伴う使用に限定されない。
全般的に内部電圧変換器について記述されるが、多数の特有のIVCの実施例もまた教示される。限定ではなく一例として、例えば、演算増幅器(又は、より望ましくはないが、比較器又は弁別器の形)によるスイッチングのアナログ制御を用いるIVCと、動作モードに従って並列パストランジスタを単独で又は組み合わせて切り替えるIVCとが教示される。スタンバイIVC(SIVC)及びアクティブIVC(AIVC)の、2つの一般的なIVC様式についても記載される。スタンバイIVCは、IVCCレベルを保持するために、チップ電力がオンとなり、チップがスタンバイモードになった後に、オンに切り替わる。対照的に、アクティブIVC(AIVC)は、IVCCを保持するよう、チップ動作中に作動する。
IVCデバイスは、一般的に、例えば、1又はそれ以上の内部電圧供給ラインで検出されるような検出電力要求に応答して、あるいは動作モードに応答して制御される少なくとも1つの電流通過素子を有する。一組の実施例で、電力要求は、電圧誤差検出器によって検出される。もう一組の実施例は、単独で又は協働して電流ドライバを作動させるところの集積回路デバイスの動作モードに基づいて電力要求を決定する。本発明の範囲内で、電力要求を検出するための手段及び電流ドライバの構成及び形態は、他に類がなく、従来のIVCデバイスに関して多数の利点をもたらす。
本発明は、以下を含むが、限定されない、多数の方法で具体化される可能性を有する。本発明の一実施例は、概して、外部供給電圧から集積回路内の内部電圧供給ラインで電圧を発生させる装置として記載され、当該装置は、(a)集積回路の外部電源入力と少なくとも1つの内部電源ラインとの間に所望レベルの電流を流す電流ドライバであって、(b)前記内部電圧供給ラインで利用可能な電圧の範囲にある、又は更に望ましくはその外側にあるスイッチング閾値を設定された電流ドライバと、(c)前記集積回路の動作モード(例えば、アクティブ、スタンバイ、パワーダウン、ディープパワーダウン)のための前記内部電圧供給ラインで検出された電力要求に応答してスイッチング状態を制御するよう前記電流ドライバのゲート電圧を調節する手段と、を有する。
1又は複数の前記電流ドライバは、如何なるFETトランジスタ、又はトランジスタ回路を有しても良い。NMOSデプレッション又はエンハンスメント型トランジスタは、1つにはそれらのより小さなフットプリントに起因して、漏れ電流を低減し、雑音排除性を向上させるよう、1つの好ましい実施例に従って用いられる。また、留意すべきは、前記内部電圧供給ラインの範囲にある、又は更に望ましくはその外側にある電圧によりトランジスタを駆動することによって、雑音及び漏れが低減される点である。
一実施例で、前記ゲート電圧を調節する手段は、基準電圧に関して前記内部電圧供給ラインで電圧誤差を検出するよう構成された誤差検出器回路を有する。望ましくは、前記誤差検出器回路は、演算増幅器、又は類似するものを有する。他の実施例で、複数の並列電流経路が設けられ、それらの作動及び非作動は、前記集積回路の動作モードに従って単独で又は一緒に制御される。この実施例で、前記電流ドライバは、少なくとも2つの並列トランジスタ回路を有し(即ち、異なる電流レベルを切り替える能力を有し)、前記ゲート電圧を調節する手段は、前記内部電圧供給を供給するために前記並列トランジスタ回路を単独で、又は協働して作動させる論理回路を有する。また、当然のことながら、前出の2つのアプローチは、1つの回路で組み合わせることが可能であり、この場合に、並列電流ドライバは、単独で、又はアナログフィードバック信号と組み合わせて制御される。全体としては、当然のことながら、前出の実施例の態様は、本発明の技術的範囲を逸脱することなく、単独で、若しくは互いと組み合わせて、及び/又は当業者に周知であるものと組み合わせて実施されることが可能である。
これらの実施例において好ましくは、前記外部供給電圧は、前記電流ドライバ回路(即ち、例えばNMOS又はPMOSトランジスタのような単一のMOSFETトランジスタ)の閾値電圧に等しい又はそれを超える量だけ、前記内部供給電圧を超える。前記電流ドライバは、前記内部電圧供給の範囲に等しい若しくはそれを超える電圧範囲、又は更に望ましくは、前記外部供給電圧の範囲にある若しくはそれを超える電圧範囲によって駆動される。実施例は、単一の内部電圧供給ラインと、相反する正及び負の供給ラインと、複数の内部電圧供給ライン(正及び/又は負)を制御することについて記述しており、幅広い範囲の集積回路応用をサポートすることができる。
更なる電力制御回路は、例えば、スタンバイ又はパワーダウンモードに入った場合のように、前記集積回路の動作モードに応答して前記電流ドライバの動作を制御するよう結合される。
本発明の実施例は、また、外部供給電圧から集積回路内の内部電圧供給ラインで電圧を発生させる装置としても記述され、当該装置は、(a)外部電源と、集積回路の内部供給ラインとの間に結合された電流ドライバであって、(b)前記内部供給ラインで利用可能な電圧の範囲にある又はその外側にあるスイッチング閾値を設定された電流ドライバと、(c)前記内部電圧供給ラインと基準電圧との間で検出された電圧誤差に応答して前記電流ドライバのゲート電圧を調節するよう構成された誤差検出器と、を有する。当然のことながら、内部電圧は、望ましくは、基準電圧と直接的に比較されるが、それは、基準電圧の増減された又はオフセットを取られたものと比較されても良い。結果として、本発明は、この比較が、どのように、スイッチングフィードバックを提供するために基準電圧に対してなされるかを限定しない。
前記誤差検出器(即ち、演算増幅器)は、前記電流ドライバのスイッチングを制御するよう、前記内部供給ラインで利用可能な電圧の範囲の十分に外側にある出力電圧振幅を設定される。更なる回路は、前記集積回路の動作モードに応答して前記電流ドライバのゲート電圧を調節するよう組み込まれうる。このような回路は、前記電流ドライバを流れる電流レベルを変更又は切り替えて、スタンバイ、ディープパワーダウンモード、及びその他に応答して不必要な回路を停止させる(非作動とする)ことに備える。
本発明の実施例は、また、異なる電力モードで動作するよう構成された集積回路内で内部電圧供給を制御する装置としても記述され、当該装置は、(a)前記集積回路の1又はそれ以上の内部電圧供給ラインへ電流を供給する複数の並列スイッチングデバイスであって、(b)異なる電流駆動能力を有するよう構成された並列スイッチングデバイスと、(c)該スイッチングデバイスの夫々へ結合され、前記集積回路内の電力モードに応答して夫々のスイッチングデバイスの動作を制御するよう構成されたスイッチングデバイスドライバと、を有する。
この実施例において、前記並列スイッチングデバイスの少なくとも一部は、前記内部電圧供給ラインの範囲にある又はその外側にあるスイッチング閾値を設定される。前記複数の並列スイッチングデバイスは、複数の正、複数の負、正及び負、又は複数の正及び負の内部電圧供給ラインの夫々へ電流を供給するよう結合された並列スイッチングデバイスを有する。前記スイッチングデバイスドライバは、前記集積回路内の動作モード(例えば、アクティブ、スタンバイ、及びディープパワーダウン)に応答して前記内部電圧供給ラインのうちの1又はそれ以上で電流を供給するよう、選択された並列スイッチングデバイスを作動させるよう構成される。
本発明の実施例は、また、集積回路の内部電圧を発生させる方法としても記述され、当該方法は、(a)回路デバイスへ、内部電圧供給ラインで供給される電圧の範囲にある又はその外側にある閾値電圧を有する少なくとも1つの電流パストランジスタを結合するステップと、(b)前記集積回路の現在の動作モードのための前記内部電圧供給ラインでの電力要求を検出するステップと、(c)前記内部電圧供給ラインでの前記検出された電力要求に応答して、前記電流駆動(パス)トランジスタのスイッチング状態を駆動するステップとを有し、(d)前記電流駆動トランジスタは、前記内部電圧供給ラインの範囲の外側の電圧によりそのゲートを駆動することによって、作動させられる又はオフに切り替えられる、ことを特徴とする。
一実施例に従って、前記電力要求の検出ステップは、基準電圧と比べて前記内部電圧供給ラインでの電圧誤差を検出するステップを有する。その場合に、前記スイッチング状態は、前記内部電圧供給ラインで所望の電圧レベルを保持するよう、このフィードバックによって駆動される。他の実施例では、前記電力要求の検出ステップは、前記集積回路の動作モードに応答して、選択された電流パストランジスタを作動させるステップを有する。いずれの実施例でも、電流ドライバのスイッチング閾値は、望ましくは前記内部電圧供給ラインの範囲にある、又は更に望ましくはその外側にある。この場合に、制御回路は、前記内部供給電圧の範囲の外側にある制御電圧を発生させるべきである。このような実施例において、電流ドライバのスイッチング状態は、前記集積回路内の電力モード選択に応答して変更されうる。
本発明の実施例は、また、集積回路内の内部電圧ラインに電圧を発生させる方法としても記述され、当該方法は、(a)外部供給電圧と、集積回路内の内部電圧供給ラインとの間に、異なる電流レベルを通すよう構成された複数の並列電流通過スイッチを結合するステップと、(b)前記集積回路内のスタンバイ及びパワーダウンモードに応答して前記電流通過スイッチのうちの選択されたスイッチを非作動とするステップと、を有する。
本実施例は、正及び負の内部電圧供給ラインに前記電流通過スイッチを流れる電流を供給するステップを更に有し、一方、複数の正の内部電圧供給ライン、複数の負の内部電圧供給ライン、又は複数の正及び負の内部電圧供給ラインが、また、容易にサポートされる。
以下の事項を含むが、必ずしもそれらに限定されない多数の有利な新規態様が、本願には記載されている。
本発明の態様は、誤差検出器回路によって駆動されるNMOSトランジスタを用いる内部電圧変換器(IVC)である。
本発明の他の態様は、アクティブ及び/又はスタンバイ電圧変換をサポートするIVCである。
本発明の他の態様は、1つ又は複数のエンハンスメント若しくはデプレッション型NMOSトランジスタのいずれかを用いるIVCである。
本発明の他の態様は、例えばNMOSトランジスタのような、IVCの電流通過素子の両端の電圧降下を補償し、外部電圧又は昇圧電圧を有し、1又は複数のNMOSトランジスタを用いるIVCである。
本発明の他の態様は、例えば、スタンバイ又は停止状態へ入ったことに応答するように、回路動作モードに応答して停止されたその誤差検出器を有するよう構成されたIVCである。
本発明の他の態様は、第1の回路モードの組の範囲内では誤差検出器によって制御され、第2の回路モードの組では前記誤差検出器から以外の回路信号によって制御される電流通過素子により構成されたIVCである。
本発明の他の態様は、電圧が、アクティブモードでの電圧閾値降下の問題を伴わずに内部電圧レベルを提供するよう昇圧され、他のモードでは自己反転バイアスをかけられるところのゲートにより構成され、NMOSドライバ、即ち、電流通過デバイスを有するIVCである。
本発明の他の態様は、デバイスの動作モードに従って異なる特性を有する電力通過素子を用いる電力制御装置である。
本発明の尚更なる態様は、動作モードに応答してデバイス内で発生した電圧を制御する方法である。
本発明の更なる態様は、本願明細書の以下の部分で明らかにされる。なお、詳細な記載は、本発明を限定するためではなく、本発明の好ましい実施例を十分に開示する目的のためである。
本発明は、説明目的のために過ぎない以下の図面を参照して、より十分に理解されるであろう。
更に具体的に図面を参照すると、説明目的のために、本発明は、概して図2から図6で示されている装置で具体化される。本願で開示されるような基本概念から逸脱することなく、当該装置は、構成に関して、及び部分の詳細に関して変化しても良く、当該方法は、特定のステップ及びシーケンスに関して変化しても良いことは明らかである。
〔1.アクティブIVC発生器〕
図2は、一例として、従来のPMOSドライバの代わりにNMOSドライバ(mndrv21)を含む電流通過素子を有する本発明に従うIVC発生器を表す。この新規な配置は、幾分直感で分かるものではなく、当該産業によって採用されていない。しかし、この新規なIVC発生器回路は、漏れ電流を低減することに加えて、電力ラインでの雑音効果を抑制する能力を提供する。本実施例でのNMOSトランジスタは、デバイスプロセス技術に依存して、デプレッション又はエンハンスメント型の1又は複数のトランジスタを有することができる。好ましい構成は、単一のNMOSドライバトランジスタの使用を記述するが、当然のことながら、複数の素子が使用されても良い。デバイス(mnctrl22)は、例えばNMOSドライバのゲート入力へ結合されて、NMOSドライバを制御するよう構成されても良い。誤差検出器AMP2は、ドライバへ結合されており、デバイスの動作モード及び適用に従って制御される。留意すべきは、誤差検出器は、従来のPMOSドライバに関連して逆方向で本実施例では構成されている点である。
通常モードでは、新規なIVCは、図1に示されている従来の方式と類似した方法で動作する。内部電圧(IVCC)レベルがVref2よりも高い場合に、ノードN2の電圧は、ドライバをオフとするために減少して、外部電力から内部電力への電流フローを低減する。IVCCレベルがVref2よりも低い場合に、ノードN2の電圧は、ドライバをオンとするために増大して、外部電力から内部電力への電流フローを増大させる。
回路応用に従って、IVCは、概して、少なくとも2つのモードに分類される。1つは、本願では、スタンバイIVC(SIVC)発生と呼ばれ、他は、アクティブIVC(AIVC)発生と呼ばれる。SIVCは、チップ電力がオンとなり、且つ、チップがスタンバイモードとなった後に、オンとされ、十分に安定した動作モード内でIVCCレベルを保持するよう構成される。AIVCは、チップのアクティブ動作の間に必要な場合にはオンとされて、通常は事実上より動的である更に強い電流要求に関わらずIVCCを保持する。従って、SIVC及びAIVCにおける静的及び能動的な電圧変換は、デバイスの所与の動作モードに応答して適切に制御されるべきである。従って、図2に示されるAIVCは、スタンバイ及びディープパワーダウンモードでオフにされる必要があり、一方、SIVCは、ディープパワーダウンモードにある場合にのみオフにされる。
望ましくは、AIVCは、例えば、図に表されるようなスタンバイ(ST)及びディープパワーダウン(DPD)によって例示されるような、動作モード信号によって制御される。好ましい実施例において、NMOSドライバを制御する誤差検出器は、内部電圧(IVCC)よりも十分に高い電圧を供給して、NMOSトランジスタの使用によるVtの降下を解消するよう構成される。例えば、EVCCが1.5Vであって、目標IVCCレベルが1.2Vであって、NMOSトランジスタのVtが0.7Vである場合に、mndrv21のゲート電圧、即ち、ノードN2の電圧は、IVCCノードへ1.2Vを供給することを実現するよう1.9V(=1.2+0.7)であるべきである。電圧EVCCが電圧IVCCよりも十分に高く、例えば、EVCCが3.3V、IVCCが1.2V、Vtが0.7Vであるならば、EVCCは、AMP2のソース電圧に使用可能である。電圧EVCCが十分でないならば、他の昇圧された電圧が、内部で発生、又は外部電源から供給されるべきである。
スタンバイ又はディープパワーダウンモードで、NMOSドライバは、例えばmnctrl22のような他のデバイスによりオフとされうる。スタンバイ又はディープパワーダウンモードで、ノードC2は、mnctrl22をオンとするよう高電位となり、N2ノードは、VSSとなり、NMOSドライバをオフとする。更に、望ましくは、信号C2は、如何なる電力消費もなくすようAMP2をオフとするために使用される。ノードN2をVSSへプルダウンすることにより、mndrv21のVgsは、内部電圧レベルIVCCがアクティブモードでVDDであると仮定すると、−VDD(0−VDD=−VDD)となり、PMOS論理トランジスタのVgsは、(例えば、図1の論理ブロックで示される第1のPMOSトランジスタを考えると)零となる。
mndrv21は、図1の従来のIVCに示される論理PMOSトランジスタよりも十分に強い逆バイアスを受けるので、mndrv21を流れる漏れ電流は、結果として、PMOS論理トランジスタの漏れ電流よりもずっと小さい。なお、IVCCレベルは僅かに下がる。従って、論理PMOSトランジスタは、また、逆バイアスをかけられる。従って、mndrv21及びPMOS論理トランジスタを含む全てのトランジスタは、逆バイアスをかけられ、NMOSドライバ、即ち、mndrv21を流れる漏れ電流は、従来の方式の漏れ電流に比べて著しく抑制されうる。故に、新規なIVC方式で、NMOSドライバを用いることは、電力雑音排除性の改善をもたらし、一方、IVCCよりも高い電圧の使用は、アクティブモードで如何なる電圧降下の問題も伴わずに達成可能であり、NMOSドライバ及びPMOS論理トランジスタは、両方とも、スタンバイ及びディープパワーダウンモードで逆バイアスをかけられるので、漏れ電流は著しく抑制される。
〔2.スタンバイIVC発生器(様式1)〕
図3は、第1の様式(様式1)のスタンバイIVC発生器(SIVC)の実施例である。当然のことながら、スタンバイ(SIVC)は、図2に示されたアクティブ(AIVC)回路とは異なる。SIVC発生器は、チップがスタンバイモードにある場合にオンにされるべきであり、この場合に、SIVCは、図3に示されるようなデバイスパワーダウン(DPD)制御信号に応答して制御される。認識されるべきは、SIVCは、代替的に、スタンバイモードに関連する同様の信号又は信号群により制御されても良い点である。図3の実施例で、チップがスタンバイモードにある場合に、AMP3は、IVCCノードで如何なる電圧降下をも検出し、且つ、その降下されたレベルを目標レベルへ回復するようオンとされる。しかし、回路は、NMOSドライバ及びAMP3が、デバイスがディープパワーダウンモードにある場合にはオフとされるように構成される。
〔3.スタンバイIVC発生器(様式2)〕
図3に表された新規なSIVC方式による1つの問題は、スタンバイモードの間の誤差検出器AMP3の電力消費である。IVCCレベルの電圧降下は、スタンバイモードの間に、検出されて、Vref3と比較されるので、AMP3はオンとされるべきであり、電力を消費する。
図4は、低減されたスタンバイ電流レベルで動作するSIVCの第2の様式(様式2)を表す。図から明らかなように、更なる制御回路は、スタンバイ及びディープパワーダウンの両モードでドライバ及びAMP4の動作を制御するためにSIVCへ結合されることが示されている。明らかなように、ディープパワーダウンモードでは、誤差検出器AMP4及びドライバmndrv41は、図2及び図3の他のIVC方式と同じくオフとされる。
しかし、図4では、構成は、AMP4がスタンバイモードではオフとされる点で異なっており、例えばmpctrl43のような他のスイッチ手段は、ドライバmndrv41の動作を制御するよう作動する。当然のことながら、トランジスタmpctrl43はPMOSトランジスタとして表されているが、NMOSトランジスタにより置き換えられても良い。mpctrl43をオンにすることにより、IVCCレベルは、EVCC−Vtnと等しくされる。ここで、Vtnはmndrv41の閾値電圧である。結果として、この新しいSIVC回路では、誤差検出器の電力消費は、スタンバイモード時に排除されうる。
認識されるべきは、これらの実施例は、外部から利用可能な電圧から内部回路デバイス電圧を発生させる新しい方法を表す点である。この方法の簡単な実施例は、(a)回路デバイスへ、内部供給電圧ラインで供給される電圧の範囲にある又はその外側の閾値電圧を有する少なくとも1つの電流パストランジスタを結合するステップと、(b)内部電圧供給ラインでの電圧変動を検出するステップと、(c)電圧変動(即ち、基準電圧に関する電圧誤差)に応答して電流ドライバ(パストランジスタ)のゲートを駆動するステップとを有し、ゲート駆動は、回路デバイスへ供給される電圧の範囲にある又はその外側にありうる、ことを特徴とする内部電圧発生方法として説明されうる。
一実施例において、NMOSトランジスタは、外部VCC(EVCC)から内部VCC(IVCC)へと通常結合されているPMOSトランジスタに取って代わり、内部供給電圧によって供給される範囲外で駆動される少なくとも1つの供給レールと、反対の検知を有する検出器回路とによって駆動される。更に、少なくとも1つの更なるトランジスタは、電流パストランジスタのゲートへ結合されて、例えばスタンバイ及びパワーダウンモードのような、回路デバイスの動作モードに応答して駆動レベルを調節することができる。更に、回路デバイスのモードを制御する信号は、誤差検出器が作動するか否かを選択することができる。また更に、1又はそれ以上の更なるトランジスタは、例えば、外部電源ラインとドライバトランジスタとの間で、ドライバへ結合されて、誤差検出器が停止している集積回路モード(即ち、スタンバイ又はパワーダウン)に応答してドライバ動作を制御することができる。認識されるべきは、当該装置及び方法は、様々に変形されても良く、当業者には明白である多種多様な方法で実施可能であり、図2から図4に例示された実施例に限定されない点である。
〔4.電力管理様式1及び2〕
図5及び図6は、デバイスの特定の動作モードに従う方法でデバイス電力を供給する集積回路内の電力管理機構を表す。図5において、トランジスタMN1、MN2、MN3及びMN4は、VDD電源から2つの別個の内部電圧供給へと受け取られる電力を制御し、一方、トランジスタMP1、MP2、MP3及びMP4は、夫々、他の2つの内部電圧供給からのVSS出力を制御する。本発明において好ましくは、トランジスタMN1、MP1、MN2及びMP2は、MN3、MP3、MN4及びMP4よりも高い電流駆動能力を設定される。更に、ソーストランジスタMN2及びMP2のみがIVCC2及びIVSS2へ接続されて、夫々、それらのゲート電圧が、劣化を伴わずに、VDD及びVSS出力レベルを搬送するよう制御される。論理ブロックのスタンバイモードでの論理状態も、図5に示される。
アクティブモードで、全てのトランジスタ、この場合にはMN1、MN2、MN3、MN4、MP1、MP2、MP3及びMP4は、論理ブロックがその最大速度で実行することを可能にするよう作動している。スタンバイモードで、トランジスタMN5、MP6、MN7及びMP8は、図5に示される論理状態を保持するようオンにされる。従って、トランジスタMN1、MN4、MP1及びMP4はオフにされる。当然のことながら、論理回路の状態のみがスタンバイモードで保持される必要があるので、トランジスタMN2及びMP2はオフとされても良く、トランジスタMN3及びMP3のみがアクティブ状態に保たれる。アクティブスタンバイモードで、図5に表された論理状態は反転され、ハイ(H)がロー(L)になり、逆もまた同様である。従って、アクティブスタンバイモードでは、トランジスタMP5、MN6、MP7及びMN8はオンにされる。この場合に、MN1及びMP1はオフにされ、例えばMN4及びMP4のような小さなトランジスタは、漏れ電流を抑制するようオンにされうる。これらのトランジスタの動作は、C1、C1B、C11、C11B、C21、C21B、C22及びC22Bと表される多数の制御信号により制御されうる。明らかなように、全てのソーストランジスタは、デバイスがディープパワーダウンモードに入る場合にはオフにされうる。図5の実施例のトランジスタの特性及び動作状態は、表1にまとめられている。
Figure 2007537543

当然のことながら、この電力管理機構及び方法に対する多数の代替案が実施可能である。例えば、異なる数及びレベル及び種類のトランジスタが、本発明の技術から離れることなく利用されうる。
図6は、電力が図5に示されたのと同様の方法で本発明に従って管理されるところの論理回路の実施例を表す。しかし、夫々のトランジスタ素子は、その相補物により置換されることは明らかであり、具体的には、PMOSトランジスタはVDD制御に使用され、NMOSトランジスタはVSS制御に使用される。図6のトランジスタ特性及び動作状態は、表2にまとめられる。
Figure 2007537543

認識されるべきは、これらの電力管理の実施例は、外部から利用可能な電圧から内部回路素子電圧を制御する新しい方法と考えられうる点である。この方法の簡単な実施例は、(a)回路素子へ外部電源と内部供給電圧との間に複数の並列電流通過スイッチを結合するステップと、(b)回路素子の所望の電力モードに応答して選択された通過スイッチを作動させるステップとを有する回路素子電力管理方法として記述されうる。望ましくは、複数の電流通過スイッチは、異なる電流駆動能力を提供するよう、異なるサイズ、構成又は配置で作られる。当該方法の1つのモードに従って、電流通過スイッチは、外部供給電圧の正負両方の出力と内部供給電圧との間に結合される。この新規な電力管理方法は、それらの動作モードに応答して異なる供給電圧状態下で動作するよう構成された集積回路による使用に特に良く適する。当業者には明らかであるように、本願で説明される装置及び方法の新規な態様は、本発明から逸脱することなく幅広い様々な方法で実施可能である。一例として、デバイス回路は、如何なる所望の数の内部供給電圧によっても供給される電力に応答する内部回路とともに、スタンバイ及びパワーダウンモード並びにそれらの如何なる所望の変形物をも含むモードで動作可能である。
当然のことながら、デバイス回路の拡張された(即ち、オン及びオフを超える)動作電力モードは、スタンバイ及びパワーダウン又はディープパワーダウンとして例示されてきたが、それらは一例として提供されている。本発明の装置及び方法は、何をそれらが特に対象としているか、又は、どの程度それらが集積回路デバイス内の電力浪費及び動作を制限するかとは無関係に、様々な電力関連モードにより実施されうる。
上記記載は多くの詳細を含むが、これらは、本発明の適用範囲を限定するように解釈されるべきではなく、本発明の目下好ましい実施例の幾つかの説明を提供しているに過ぎない。従って、明らかなように、本発明の適用範囲は、当業者には明らかである他の実施例を十分に包含しており、従って、本発明の適用範囲は、添付の特許請求の範囲以外の何ものによっても限定されない。特許請求の範囲において、単数での要素に対する言及は、明示的に述べならない限りは、「1つ」及び「唯一」を意味しているわけではく、むしろ「1つ又はそれ以上」を意味する。当業者に周知である上記好ましい実施例の要素に対して全ての構造的及び機能的に等価なものは、言及することによって本願で明示的に組み込まれており、特許請求の範囲に含まれると意図される。更に、デバイス及び方法が、特許請求の範囲に含まれる、本発明によって解決されようとしている夫々及び全ての問題に取り組むことは必要ではない。更に、本開示の要素、部品又は方法ステップは、要素、部品又は方法ステップが特許請求の範囲に明示的に挙げられているかどうかに関わらず、公衆に捧げられることを意図されるわけではない。本願で請求項にない要素は、その要素が「のための手段」というフレームを用いて明示的に挙げられていない限り、合衆国法典第35巻第112条第6段落の規定の下では認められるべきではない。
本願は、その全体を参照することにより本願に援用される、2004年5月14日に出願された米国仮出願整理番号60/571,063明細書からの優先権を主張する。
本特許明細書における構成要素の一部は、アメリカ合衆国及び他国の著作権法の下での著作権保護の対象となる。著作権の所有者は、特許明細書又は本開示が米国特許商標局において公衆に利用可能なファイル又は記録とみなされるので、特許明細書又は本開示の第三者による複製物に対して異議を申し立てない。しかし、その他の点では、全ての著作権を少しも留保しない。これにより、著作権者は、C.F.R(米国特許法施行規則)第37巻1.14章に従ってその権利を無制限に含む、秘密に保持された本特許文献を有するようその権利のいずれも放棄することはしない。
論理ブロックに電力を供給する電圧変換部により示された従来の内部Vcc変換器(IVC)の図である。 制御論理入力に応答して電圧を能動的に変換するよう示された本発明の実施例に従うIVC発生器の図である。 本発明の実施例に従うスタンバイIVC(SIVC)発生器(様式1)の図である。 本発明の実施例に従う他のスタンバイIVC(SIVC)発生器(様式2)の図である。 本発明の実施例に従う第1の様式の電力管理の図である。 本発明の実施例に従う第2の様式の電力管理の図である。

Claims (37)

  1. 外部供給電圧から集積回路内の内部電圧供給ラインで電圧を発生させる装置であって、
    ゲートを有し、集積回路の外部電源入力と少なくとも1つの内部電源ラインとの間に所望レベルの電流を流すよう構成され、前記内部電圧供給ラインで利用可能な電圧の範囲にある又はその外側にあるスイッチング閾値を設定された電流ドライバと、
    前記集積回路の動作モードのための前記内部電圧供給ラインで検出された電力要求に応答してスイッチング状態を制御するよう前記電流ドライバのゲート電圧を調節する手段と、
    を有する装置。
  2. 前記電流ドライバは、NMOSデプレッション又はエンハンスメント型トランジスタを有する、ことを特徴とする請求項1記載の装置。
  3. 前記ゲート電圧を調節する手段は、基準電圧に関して前記内部電圧供給ラインで電圧誤差を検出するよう構成された誤差検出器回路を有し、
    該誤差検出器回路は、演算増幅器を有する、ことを特徴とする請求項1記載の装置。
  4. 前記電流ドライバは、少なくとも2つの並列トランジスタ回路を有し、
    前記ゲート電圧を調節する手段は、前記内部電圧供給を供給するために前記並列トランジスタ回路を単独で、又は協働して作動させる論理回路を有する、ことを特徴とする請求項1記載の装置。
  5. 前記並列トランジスタ回路の夫々は、前記内部電圧供給への、又はそれからの異なる電流レベルを切り替えるよう構成される、ことを特徴とする請求項4記載の装置。
  6. 前記ゲート電圧を調節する手段は、前記電流ドライバの閾値電圧に等しい量だけ前記内部電圧供給ラインで利用可能な電圧の範囲の外側にあるゲート電圧を供給するよう構成される、ことを特徴とする請求項1記載の装置。
  7. 前記外部供給電圧は、前記電流ドライバの閾値電圧に等しい又はそれを超える量だけ前記内部供給電圧を超え、
    前記外部供給電圧は、前記電流ドライバを駆動する手段へ電力を供給するために結合される、ことを特徴とする請求項6記載の装置。
  8. 前記外部供給電圧は、前記電流ドライバの閾値電圧に等しい又はそれを超える量だけ前記内部供給電圧を超えず、
    十分な電圧を外部又は内部で発生させる電圧供給源は、前記電流ドライバを駆動する手段へ結合される、ことを特徴とする請求項6記載の装置。
  9. 前記電流ドライバは、正の外部供給電圧から正の内部供給電圧までの間に結合される、ことを特徴とする請求項1記載の装置。
  10. 前記電流ドライバへ結合され、集積回路の動作モードに応答してゲート電圧を調節するための電力制御回路を更に有する、請求項1記載の装置。
  11. 前記電力制御回路は、前記電流ドライバのゲートへ結合され、スタンバイ又はパワーダウンモードに応答して前記ゲート電圧を調節するためのトランジスタを有する、ことを特徴とする請求項10記載の装置。
  12. 前記電力制御回路は、スタンバイ又はパワーダウンモードに応答して前記ゲート電圧を調節するための手段を停止させるよう構成される、ことを特徴とする請求項10記載の装置。
  13. 外部供給電圧から集積回路内の内部電圧供給ラインで電圧を発生させる装置であって、
    ゲートを有し、外部電源と、集積回路の内部供給ラインとの間に結合され、前記内部供給ラインで利用可能な電圧の範囲にある又はその外側にあるスイッチング閾値を設定された電流ドライバと、
    前記内部電圧供給ラインと基準電圧との間で検出された電圧誤差に応答して前記電流ドライバのゲート電圧を調節するよう構成された誤差検出器と、
    を有する装置。
  14. 前記誤差検出器は、前記電流ドライバのスイッチングを制御するよう、前記内部供給ラインで利用可能な電圧の範囲の十分に外側にある出力電圧振幅を設定される、ことを特徴とする請求項13記載の装置。
  15. 前記誤差検出器は、演算増幅器を有する、ことを特徴とする請求項14記載の装置。
  16. 前記電流ドライバのゲート電圧へ結合され、前記集積回路の動作モードに応答して前記ゲート電圧を調節するための回路を更に有する、請求項13記載の装置。
  17. 前記回路は、前記集積回路の動作モード制御信号によってゲート制御されるトランジスタを有する、ことを特徴とする請求項16記載の装置。
  18. 前記誤差検出器は、前記集積回路からのパワーダウン制御信号の受信に応答して非作動となるよう構成される、ことを特徴とする請求項13記載の装置。
  19. 異なる電力モードで動作するよう構成された集積回路内で内部電圧供給を制御する装置であって、
    前記集積回路の1又はそれ以上の内部電圧供給ラインへ電流を供給するよう構成され、異なる電流駆動能力を有するよう構成された複数の並列スイッチングデバイスと、
    該スイッチングデバイスの夫々へ結合され、前記集積回路内の電力モードに応答して夫々のスイッチングデバイスの動作を制御するよう構成されたスイッチングデバイスドライバと、
    を有する装置。
  20. 前記並列スイッチングデバイスの少なくとも一部は、前記内部電圧供給ラインの範囲にある又はその外側にあるスイッチング閾値を設定される、ことを特徴とする請求項19記載の装置。
  21. 前記複数の並列スイッチングデバイスは、複数の正、複数の負、正及び負、又は複数の正及び負の内部電圧供給ラインの夫々へ電流を供給するよう結合された並列スイッチングデバイスを有する、ことを特徴とする請求項19記載の装置。
  22. 前記スイッチングデバイスドライバは、前記集積回路内の動作モードに応答して前記内部電圧供給ラインのうちの1又はそれ以上で電流を供給するよう、選択された並列スイッチングデバイスを作動させるよう構成される、ことを特徴とする請求項19記載の装置。
  23. 前記動作モードは、原則的にアクティブ、スタンバイ、及びディープパワーダウンから成る動作電力モードのグループから選択される、ことを特徴とする請求項22記載の装置。
  24. 集積回路の内部電圧を発生させる方法であって、
    回路デバイスへ、内部電圧供給ラインで供給される電圧の範囲にある又はその外側にある閾値電圧を有する少なくとも1つの電流パストランジスタを結合するステップと、
    前記集積回路の動作モードのための前記内部電圧供給ラインでの電力要求を検出するステップと、
    前記内部電圧供給ラインでの前記検出された電力要求に応答して、前記電流パストランジスタのスイッチング状態を駆動するステップとを有し、
    前記電流パストランジスタは、前記内部電圧供給ラインの範囲の外側の電圧によりそのゲートを駆動することによって、作動させられる又はオフに切り替えられる、
    ことを特徴とする方法。
  25. 前記電力要求の検出ステップは、基準電圧と比べて前記内部電圧供給ラインでの電圧誤差を検出するステップを有し、
    前記スイッチング状態は、前記内部電圧供給ラインで所望の電圧レベルを保持するよう駆動される、
    ことを特徴とする請求項24記載の方法。
  26. 前記電力要求の検出ステップは、前記集積回路の動作モードに応答して、選択された電流パストランジスタを作動させるステップを有する、ことを特徴とする請求項24記載の方法。
  27. 並列スイッチングデバイスの少なくとも一部は、前記内部電圧供給ラインの範囲にある又はその外側にあるスイッチング閾値を設定される、ことを特徴とする請求項24記載の方法。
  28. 前記集積回路内の電力モードの変化に応答して前記電流パストランジスタのスイッチング状態を調節するステップを更に有する、請求項27記載の方法。
  29. 前記電流パストランジスタは、NMOSエンハンスメント又はデプレッション型電界効果トランジスタを有することを特徴とする、請求項24記載の方法。
  30. 前記電流パストランジスタのスイッチング状態は、前記内部電圧供給ラインの範囲の外側にある少なくとも1つの供給電圧を設定された演算増幅器により駆動され、
    前記演算増幅器は、1つの前記内部電圧供給ラインでの電圧と基準電圧とを検知するための入力により構成される、
    ことを特徴とする請求項24記載の方法。
  31. 前記集積回路がスタンバイ又はパワーダウンモードに入ることに応答して前記演算増幅器を非作動とするステップを更に有する、請求項30記載の方法。
  32. 集積回路内の内部電圧ラインに電圧を発生させる方法であって、
    外部供給電圧と、集積回路内の内部電圧供給ラインとの間に、異なる電流レベルを通すよう構成された複数の並列電流通過スイッチを結合するステップと、
    前記集積回路内のスタンバイ及びパワーダウンモードに応答して前記電流通過スイッチのうちの選択されたスイッチを非作動とするステップと、
    を有する方法。
  33. 正及び負の内部電圧供給ラインに前記電流通過スイッチを流れる電流を供給するステップを更に有する、請求項32記載の方法。
  34. 複数の正の内部電圧供給ライン、複数の負の内部電圧供給ライン、又は複数の正及び負の内部電圧供給ラインへ前記電流通過スイッチを流れる電流を供給するステップを更に有する、請求項32記載の方法。
  35. 前記電流通過スイッチの少なくとも一部のスイッチングは、前記内部電圧供給ラインによって供給される電圧範囲の外側にある電圧によって制御される、ことを特徴とする請求項32記載の方法。
  36. 前記集積回路の少なくとも一部は、前記集積回路の動作電力モードの変化に応答して異なる内部電圧供給ラインからの作動のために構成される、ことを特徴とする請求項32記載の方法。
  37. 電流パストランジスタは、異なるサイズ、構造又は配置で作られることに応じて、異なる電流レベルを通すよう構成される、ことを特徴とする請求項32記載の方法。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010534992A (ja) * 2007-07-27 2010-11-11 コミシリア ア レネルジ アトミック 高速応答電源スイッチング装置およびかかるスイッチを含む電源ネットワーク
JP2015207151A (ja) * 2014-04-21 2015-11-19 旭化成エレクトロニクス株式会社 レギュレータ回路

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100907454B1 (ko) * 2006-12-13 2009-07-13 삼성전자주식회사 안정된 내부 파워를 형성할 수 있는 내부 전압 제어기 및그것을 포함하는 스마트 카드
US7737720B2 (en) * 2007-05-03 2010-06-15 Arm Limited Virtual power rail modulation within an integrated circuit
CN101814321B (zh) * 2009-02-23 2015-11-25 台湾积体电路制造股份有限公司 存储器功率选通电路及方法
WO2012079090A2 (en) 2010-12-10 2012-06-14 Marvell World Trade Ltd Fast power up comparator
TWI575858B (zh) * 2015-10-07 2017-03-21 晨星半導體股份有限公司 切換式電壓轉換器
KR102132402B1 (ko) * 2018-07-11 2020-07-10 고려대학교 산학협력단 이중모드 ldo 레귤레이터 및 그 동작 방법
KR20210093606A (ko) 2020-01-20 2021-07-28 삼성전자주식회사 메모리 장치의 전압 발생 회로 및 그것의 동작 방법

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05334879A (ja) * 1991-10-30 1993-12-17 Nec Ic Microcomput Syst Ltd 半導体記憶装置
JPH0685179A (ja) * 1991-10-23 1994-03-25 Internatl Business Mach Corp <Ibm> ラッチアップ保護回路、調整/保護組み合わせ回路及びオンチップラッチアップ保護回路
JPH1074394A (ja) * 1996-08-30 1998-03-17 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置
JPH113586A (ja) * 1997-06-12 1999-01-06 Nec Corp 半導体集積回路
JP2000163141A (ja) * 1998-11-26 2000-06-16 Nec Corp 降圧電源回路
JP2003338178A (ja) * 2002-05-20 2003-11-28 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置
JP2004139594A (ja) * 2002-10-15 2004-05-13 Samsung Electronics Co Ltd 内部供給電圧のパワーアップ傾きを制御するための内部電圧変換器構造

Family Cites Families (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE69328253T2 (de) * 1993-12-31 2000-09-14 Stmicroelectronics S.R.L., Agrate Brianza Spannungsregler zum Programmieren nichtflüchtiger und elektrisch programmierbarer Speicherzellen
JP3725911B2 (ja) * 1994-06-02 2005-12-14 株式会社ルネサステクノロジ 半導体装置
US5631606A (en) * 1995-08-01 1997-05-20 Information Storage Devices, Inc. Fully differential output CMOS power amplifier
US5828245A (en) * 1996-10-24 1998-10-27 Stmicroelectronics, Inc. Driver circuit including amplifier operated in a switching mode
TW365007B (en) * 1996-12-27 1999-07-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd Driving method of semiconductor integrated circuit and the semiconductor integrated circuit
IT1296486B1 (it) * 1997-11-21 1999-06-25 Ses Thomson Microelectronics S Regolatore di tensione per circuiti di memoria a singola tensione di alimentazione, in particolare per memorie di tipo flash.
JPH11231954A (ja) * 1998-02-16 1999-08-27 Mitsubishi Electric Corp 内部電源電圧発生回路
JP4390304B2 (ja) * 1998-05-26 2009-12-24 株式会社ルネサステクノロジ 半導体集積回路装置
KR100298584B1 (ko) * 1998-09-24 2001-10-27 윤종용 내부전원전압발생회로
IT1304046B1 (it) * 1998-12-22 2001-03-07 St Microelectronics Srl Regolatore di tensione per una pluralita' di carichi,in particolareper memorie di tipo flash
US6351360B1 (en) * 1999-09-20 2002-02-26 National Semiconductor Corporation Apparatus for selective shutdown of devices of an integrated circuit in response to thermal fault detection
DE19950541A1 (de) * 1999-10-20 2001-06-07 Infineon Technologies Ag Spannungsgenerator
JP2002064150A (ja) * 2000-06-05 2002-02-28 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置
FR2811090B1 (fr) * 2000-06-28 2002-10-11 St Microelectronics Sa Integration d'un regulateur de tension
JP3548115B2 (ja) * 2000-12-26 2004-07-28 株式会社東芝 半導体集積回路及び半導体集積回路装置
US6832356B1 (en) * 2001-05-04 2004-12-14 Ixys Corporation Gate driver for power device
US6946901B2 (en) * 2001-05-22 2005-09-20 The Regents Of The University Of California Low-power high-performance integrated circuit and related methods
JP5041631B2 (ja) * 2001-06-15 2012-10-03 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体記憶装置
JP2003168735A (ja) * 2001-11-30 2003-06-13 Hitachi Ltd 半導体集積回路装置
US6978388B1 (en) * 2002-01-18 2005-12-20 Apple Computer, Inc. Method and apparatus for managing a power load change in a system
JP4052923B2 (ja) * 2002-10-25 2008-02-27 株式会社ルネサステクノロジ 半導体装置
US6940163B2 (en) * 2002-12-31 2005-09-06 Intel Corporation On die voltage regulator
JP4184104B2 (ja) * 2003-01-30 2008-11-19 株式会社ルネサステクノロジ 半導体装置
JP4435553B2 (ja) * 2003-12-12 2010-03-17 パナソニック株式会社 半導体装置
US7015680B2 (en) * 2004-06-10 2006-03-21 Micrel, Incorporated Current-limiting circuitry

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0685179A (ja) * 1991-10-23 1994-03-25 Internatl Business Mach Corp <Ibm> ラッチアップ保護回路、調整/保護組み合わせ回路及びオンチップラッチアップ保護回路
JPH05334879A (ja) * 1991-10-30 1993-12-17 Nec Ic Microcomput Syst Ltd 半導体記憶装置
JPH1074394A (ja) * 1996-08-30 1998-03-17 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置
JPH113586A (ja) * 1997-06-12 1999-01-06 Nec Corp 半導体集積回路
JP2000163141A (ja) * 1998-11-26 2000-06-16 Nec Corp 降圧電源回路
JP2003338178A (ja) * 2002-05-20 2003-11-28 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置
JP2004139594A (ja) * 2002-10-15 2004-05-13 Samsung Electronics Co Ltd 内部供給電圧のパワーアップ傾きを制御するための内部電圧変換器構造

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010534992A (ja) * 2007-07-27 2010-11-11 コミシリア ア レネルジ アトミック 高速応答電源スイッチング装置およびかかるスイッチを含む電源ネットワーク
JP2015207151A (ja) * 2014-04-21 2015-11-19 旭化成エレクトロニクス株式会社 レギュレータ回路

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