JP2007208235A - 基板搬送装置および基板支持体 - Google Patents

基板搬送装置および基板支持体 Download PDF

Info

Publication number
JP2007208235A
JP2007208235A JP2006292675A JP2006292675A JP2007208235A JP 2007208235 A JP2007208235 A JP 2007208235A JP 2006292675 A JP2006292675 A JP 2006292675A JP 2006292675 A JP2006292675 A JP 2006292675A JP 2007208235 A JP2007208235 A JP 2007208235A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pick
substrate
support
base
end portion
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2006292675A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4903027B2 (ja
Inventor
Seiji Okabe
星児 岡部
Kenji Amano
健次 天野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Electron Ltd
Original Assignee
Tokyo Electron Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Electron Ltd filed Critical Tokyo Electron Ltd
Priority to JP2006292675A priority Critical patent/JP4903027B2/ja
Priority to KR1020070001636A priority patent/KR100856588B1/ko
Priority to TW096100553A priority patent/TWI397495B/zh
Priority to CN200710001578.9A priority patent/CN1994841B/zh
Publication of JP2007208235A publication Critical patent/JP2007208235A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4903027B2 publication Critical patent/JP4903027B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67739Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber
    • H01L21/67742Mechanical parts of transfer devices
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/683Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L21/687Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches
    • H01L21/68707Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a robot blade, or gripped by a gripper for conveyance
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/683Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L21/687Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches
    • H01L21/68714Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a susceptor, stage or support
    • H01L21/6875Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a susceptor, stage or support characterised by a plurality of individual support members, e.g. support posts or protrusions

Abstract

【課題】 大型の基板を搬送する場合でも、基板を略水平状態に保持することが可能な基板搬送装置を提供する。
【解決手段】 ピック202は、その基端部において鉛直方向に引付ける引付け螺子210と、ピック202を鉛直方向に押付ける押付け螺子211とを用いて、ピックベース201に固定されており、その基端部側から先端部側へ向けて、水平軸に対して所定角度をなして斜め上方向に延び、先端部の高さ位置が、その基端部(ピックベース201による支持端)よりも上に位置している。
【選択図】 図7

Description

本発明は、基板搬送装置および基板支持体に関し、詳細には、例えばフラットパネルディスプレイ(FPD)用大型ガラス基板等の搬送に使用される基板搬送装置およびそれに用いる基板支持体に関する。
液晶ディスプレイ(LCD)に代表されるフラットパネルディスプレイ(FPD)の製造過程においては、真空下でガラス基板にエッチング、アッシング、成膜等の所定の処理を施す真空処理装置を複数備えた、いわゆるマルチチャンバタイプの真空処理システムが使用されている。
このような真空処理システムは、被処理基板であるガラス基板を搬送する搬送装置が設けられた搬送室と、その周囲に設けられた複数のプロセスチャンバとを有しており、搬送室内の搬送アームにより、被処理基板が各プロセスチャンバ内に搬入されるとともに、処理済みの基板が各真空処理装置のプロセスチャンバから搬出される。そして、搬送室には、ロードロック室が接続されており、大気側の基板の搬入出に際し、処理チャンバおよび搬送室を真空状態に維持したまま、複数の基板を処理可能となっている。
ところで、近時、LCDガラス基板に対する大型化の要求が強く、一辺が2mを超えるような巨大なものも出現するに至っており、これに対応して装置も大型化し、それに用いられる各種構成要素も大型化している。特に、基板を搬送する搬送装置において、基板の受け取り、受け渡しを行うための搬送アームと、搬送アームに配備された複数のピックを有する基板支持体は、ともに長尺化し、搬送アームを進出させた状態でその基端部から前記ピックの先端までの長さは優に数メートルに達する。
上記のように、搬送アームおよび基板支持体が長くなると、その自重によって基板を載置していない状態でも、搬送アームの基端部からピックの先端部へかけて弓状に撓みが生じてしまう。しかも、大型の基板を基板支持体上に載置した状態では、基板の荷重が加わる為、さらに撓みが大きくなって、基板支持体上に載置された基板を水平に維持することが困難になり、基板の受渡しに支障が生じたり、基板の載置位置にずれが発生したりして、高精度の処理ができなくなるという問題があった。
基板の大型化に伴い生じる基板支持体の撓みの問題を解決するため、基板を支持する基板支持体であるハンドをその基端部から先端部に沿って分割するとともに、複数の分割体を、連結軸を介して回動自在に順次連結し、各連結部にハンドの撓みを補正する複数の撓み補正機構を設けた基板搬送装置が提案されている(例えば、特許文献1)。
また、ハンドの撓みを考慮し、予めハンドを加熱成形したり、熱収縮率が異なる2種類の材料を貼り合わせた構造にしたりして、ハンドに上方への反りを持たせた基板搬送装置が提案されている(例えば、特許文献2)。
特開2005−286097号公報 実用新案登録第3080143号公報
上記特許文献1の基板搬送装置は、ハンド全体を略水平状態に維持する目的で多関節構造を採用しているため、ハンドの構造が複雑で、部品点数も多くなり、製造工数も多くなる。また、複雑な構造ゆえに故障も多くなり、メンテナンスの労力も増加する。さらに、基板に直接接触するハンドを多関節構造としているため、可動部(関節部分)の摩擦によってパーティクルが発生し、基板を汚染する危険性もある。また、上記特許文献2の基板搬送装置は、構造は簡易であるが、ハンドに予め加えられた反りの量が固定的であるため、実際の基板搬送の際に反り量を微調整できないという問題があった。
以上のように、基板の大型化に対応するため、基板支持体の構造を工夫することによって基板を水平に支持し、搬送しようとする提案がなされてはいるが、未だ満足のいくものではなかった。
本発明は、かかる事情に鑑みてなされたものであって、大型の基板を搬送する場合でも、基板を略水平状態に保持することが可能な基板搬送装置を提供することを目的とする。
上記課題を解決するため、本発明の第1の観点は、基板を搬送する基板搬送装置であって、
共通のピックベースに連結された複数のピックを備えて基板を支持する基板支持体と、
前記基板支持体をスライド可能に支持しつつ、自ら水平方向に進退可能な搬送アームと、
前記搬送アームを駆動する駆動部と、
を具備し、
前記ピックの先端部が、その基端部を超える高さに位置するように、前記ピックを傾斜させたことを特徴とする、基板搬送装置を提供する。
上記第1の観点においては、複数の前記ピックをそれぞれ独立した角度で傾斜させることが好ましい。また、前記ピックに基板を載置し、かつ前記搬送アームを最も進出させた状態で、基板が略水平になるような角度に前記ピックを傾斜させることが好ましい。
本発明の第2の観点は、基板を搬送する基板搬送装置であって、
共通のピックベースに連結された複数のピックを備えて基板を支持する基板支持体と、
前記基板支持体をスライド可能に支持しつつ、自ら水平方向に進退可能な搬送アームと、
前記搬送アームを駆動する駆動部と、
を具備し、
前記ピックの先端部が、その基端部を超える高さに位置するように、前記ピックをその基端部近傍において折曲させたことを特徴とする、基板搬送装置を提供する。
上記第2の観点においては、複数の前記ピックをそれぞれ独立した角度で折曲させることが好ましい。また、前記ピックに基板を載置し、かつ前記搬送アームを最も進出させた状態で、基板が略水平になるような角度に前記ピックを折曲させることが好ましい。
また、上記第1の観点および第2の観点において、前記ピックは、水平方向に対する前記ピックのなす角度を調節可能な固定手段を用いて前記ピックベースに連結されていることが好ましい。また、前記固定手段は、前記ピックの基端部と係合して、前記ピックに対し反対向きの力を加えて固定角度を調節するものであることが好ましい。この場合、前記固定手段は、前記ピックの基端部と係合し、前記ピックを、鉛直方向に引付ける螺子と鉛直方向に押付ける螺子からなるものであってもよい。
また、前記基板支持体の前記ピックベースは、前記搬送アームを移動可能なスライド部材に取付けられているとともに、その取付け角度を任意に調節可能な取付け角度調節機構を備えていることが好ましい。
また、前記ピックには、その幅方向に突出形成された支持軸が設けられており、該支持軸を支点として前記ピックを回動させることにより、その取付け角度が調節されるものであってもよい。この場合、前記支持軸を遊嵌可能で、かつその内径を調節可能な貫通孔を有する角度調節用部材をさらに備え、前記貫通孔に前記支持軸を挿入した状態で該貫通孔の内径を縮小させることにより、前記ピックの取付け角度が微調整されることが好ましい。
また、前記搬送アームは、真空チャンバ内に収容され、前記駆動部は、少なくともその下部が前記真空チャンバの外部に露出して配備されており、かつ、該下部において前記真空チャンバを載置する支持フレームに固定されていることが好ましい。この場合、前記真空チャンバの底板には開口部が形成されており、前記駆動部はその上部が該開口部内に挿入されるとともに該開口部との間はシール部材により遊びをもたせた状態で封止されていることが好ましい。また、前記基板は、大型ガラス基板であることが好ましい。
本発明の第3の観点は、基板搬送装置において基板を支持する基板支持体であって、
共通のピックベースに連結された複数のピックを備えてなり、前記ピックの先端部が、その基端部を超える高さに位置するように、前記ピックが傾斜していることを特徴とする、基板支持体を提供する。
上記第3の観点においては、複数の前記ピックをそれぞれ独立した角度で傾斜させることが好ましい。
また、本発明の第4の観点は、基板搬送装置において基板を支持する基板支持体であって、共通のピックベースに連結された複数のピックを備えてなり、前記ピックの先端部が、その基端部を超える高さに位置するように、前記ピックの基端部近傍が折曲していることを特徴とする、基板支持体を提供する。
上記第4の観点においては、複数の前記ピックをそれぞれ独立した角度で折曲させることが好ましい。
本発明によれば、共通のピックベースに連結された複数のピックを備えた基板支持体において、ピックの先端部が、その基端部を超える高さに位置するように、ピックを傾斜させ、または基端部近傍において折曲させたので、ピックに基板を支持した状態においても、基板が傾斜することを防ぎ、基板を略水平に維持した状態で搬送できる。特に大型の基板を搬送する基板搬送装置において、搬送アームの自重と基板の荷重によって傾斜が生じた場合でも、基板を水平に保持できる。
また、ピックを傾斜固定させ、または折曲させるという簡単な構造であるため、複雑な機構を必要とせず、しかも傾斜角度や折曲角度を任意に調節できるので、基板支持体を設置後の微調整も可能であるという利点を有する。
以下、添付図面を参照しながら、本発明の好ましい形態について説明する。ここでは、本発明の搬送装置をFPD用ガラス基板(以下、単に「基板」と記す)Sに対してプラズマ処理を行なうためのマルチチャンバタイプの真空処理システムに適用した例について説明する。ここで、FPDとしては、液晶ディスプレイ(LCD)、エレクトロルミネセンス(Electro Luminescence;EL)ディスプレイ、プラズマディスプレイパネル(PDP)等が例示される。
図1は本発明の一実施形態に係る搬送装置を備えた真空処理システムを概略的に示す斜視図、図2はその内部を概略的に示す水平断面図である。
この真空処理システム1においては、その中央部に搬送室20とロードロック室30とが連設されている。搬送室20の周囲には、3つのプロセスチャンバ10a,10b,10cが配設されている。
搬送室20とロードロック室30との間、搬送室20と各プロセスチャンバ10a,10b,10cとの間、およびロードロック室30と外側の大気雰囲気とを連通する開口部には、これらの間を気密にシールし、かつ開閉可能に構成されたゲートバルブ22がそれぞれ介挿されている。
ロードロック室30の外側には、2つのカセットインデクサ41が設けられており、その上にそれぞれ基板Sを収容するカセット40が載置されている。これらカセット40の一方には、例えば未処理基板を収容し、他方には処理済み基板を収容できる。これらカセット40は、昇降機構42により昇降可能となっている。
これら2つのカセット40の間には、支持台44上に搬送機構43が設けられており、この搬送機構43は上下2段に設けられたピック45,46、ならびにこれらを一体的に進出退避および回転可能に支持するベース47を具備している。
前記プロセスチャンバ10a,10b,10cは、その内部空間が所定の減圧雰囲気に保持されることが可能であり、その内部でプラズマ処理、例えばエッチング処理やアッシング処理が行なわれる。このように3つのプロセスチャンバを有しているため、例えばそのうち2つのプロセスチャンバをエッチング処理室として構成し、残りの1つのプロセスチャンバをアッシング処理室として構成したり、3つのプロセスチャンバ全てを、同一の処理を行なうエッチング処理室やアッシグ処理室として構成することができる。なお、プロセスチャンバの数は3つに限らず、4つ以上であってもよい。
搬送室20は、真空処理室であるプロセスチャンバ10a〜10cと同様に所定の減圧雰囲気に保持することが可能であり、その中には、図2に示すように、搬送装置50が配設されている。そして、この搬送装置50により、ロードロック室30および3つのプロセスチャンバ10a,10b,10cの間で基板Sが搬送される。搬送装置50については、後で詳細に説明する。
ロードロック室30は、各プロセスチャンバ10および搬送室20と同様所定の減圧雰囲気に保持されることが可能である。また、ロードロック室30は、大気雰囲気にあるカセット40と減圧雰囲気のプロセスチャンバ10a,10b,10cとの間で基板Sの授受を行うためのものであり、大気雰囲気と減圧雰囲気とを繰り返す関係上、極力その内容積が小さく構成されている。ロードロック室30は基板収容部31が上下2段に設けられており(図2では上段のみ図示)、各基板収容部31には、基板Sを支持する複数のバッファ32が設けられ、これらバッファ32の間には、スライドピック513,523(後述)の逃げ溝32aが形成されている。また、ロードロック室30内には、矩形状の基板Sの互いに対向する角部付近において位置合わせを行なうポジショナー33が設けられている。
真空処理システム1の各構成部は、制御部60に接続されて制御される構成となっている(図1では図示を省略)。制御部60の概要を図3に示す。制御部60は、CPUを備えたプロセスコントローラ61を備え、このプロセスコントローラ61には、工程管理者が真空処理システム1を管理するためにコマンドの入力操作等を行うキーボードや、真空処理システム1の稼働状況を可視化して表示するディスプレイ等からなるユーザーインターフェース62が接続されている。
また、制御部60は、真空処理システム1で実行される各種処理をプロセスコントローラ61の制御にて実現するための制御プログラム(ソフトウエア)や処理条件データ等が記録されたレシピが格納された記憶部63を有しており、この記憶部63はプロセスコントローラ61に接続されている。
そして、必要に応じて、ユーザーインターフェース62からの指示等にて任意のレシピを記憶部63から呼び出してプロセスコントローラ61に実行させることで、プロセスコントローラ61の制御下で、真空処理システム1での所望の処理が行われる。
前記制御プログラムや処理条件データ等のレシピは、コンピュータ読み取り可能な記憶媒体、例えばCD−ROM、ハードディスク、フレキシブルディスク、フラッシュメモリなどに格納された状態のものを利用したり、あるいは、他の装置から、例えば専用回線を介して随時伝送させてオンラインで利用したりすることも可能である。
次に、本実施形態に係る搬送装置について詳細に説明する。
図4は、搬送装置50を備えた搬送室20とその支持構造を示す垂直断面図である。この搬送装置50は、搬送動作を行う搬送ユニット501と、搬送ユニット501を駆動させる駆動ユニット502とを有している。また、図5は搬送装置50の搬送ユニット501を示す斜視図である。
搬送ユニット501は、スライドピックを2段に設けてそれぞれ独立して基板の出し入れが可能なタイプのものであり、上段搬送機構部510と下段搬送機構部520とを有している。
上段搬送機構部510は、ベース部511と、ベース部511にスライド可能に設けられたスライドアーム512と、このスライドアーム512の上にスライド可能に設けられた基板を支持する支持台としてのスライドピック513とを備えている。スライドピック513は、ピックベース201と、該ピックベース201に連結された複数(例えば4本)のピック202を備えている。
また、スライドアーム512の側壁には、スライドアーム512に対してスライドピック513がスライドするためのガイドレール515およびベース部511に対してスライドアーム512がスライドするためのガイドレール516が設けられている。そして、スライドピック513にはガイドレール515に沿ってスライドするスライダー517が設けられており、ベース511にはガイドレール516に沿ってスライドするスライダー518が設けられている。
下段搬送機構部520は、ベース部521と、ベース部521にスライド可能に設けられたスライドアーム522と、このスライドアーム522の上にスライド可能に設けられた基板を支持する支持台としてのスライドピック523とを備えている。スライドピック523は、ピックベース201と、該ピックベース201に連結された複数(例えば4本)のピック202を備えている。
また、スライドアーム522の側壁には、スライドアーム522に対してスライドピック523がスライドするためのガイドレール525およびベース部521に対してスライドアーム522がスライドするためのガイドレール526が設けられている。そして、スライドピック523にはガイドレール525に沿ってスライドするスライダー527が設けられており、ベース521にはガイドレール526に沿ってスライドするスライダー528が設けられている。
ベース部511とベース部521とは連結部531および532により連結されており、ベース部511,521、連結部531,532によりボックス状支持部530が構成されており、このボックス状支持部530は、支持板551上に回転可能に設けられ、ボックス状支持部530が回転することにより、上部搬送機構部510および下部搬送機構部520が回転する。
また、支持板551の下方には搬送装置50の駆動ユニット502が配備されている。駆動ユニット502には、前記スライドアーム512および522のスライド動作、前記ボックス状支持部530の回転動作、および搬送ユニット501の昇降動作を行なう各駆動ユニット(図示せず)が内蔵されている。
図4に示す如く、搬送室20は、床面Fに設置された支持フレーム101の上に載置されている。また、搬送室20の底板20aには、開口部20bが形成されており、該開口部20bに、駆動ユニット502に形成されたフランジ502aが接合することにより、駆動ユニット502の上部が搬送室20内に挿入され、その下部が搬送室20外に露出した状態となっている。開口部20bと駆動ユニット502のフランジ502aとの間には、上下2重にOリングなどのシール部材102,103が配備されており、これにより両部材の接合面の気密性を確保しつつ、遊びを持った状態で接合されている。
すなわち、駆動ユニット502はシール部材102,103によって搬送室20の底板20aの開口部20bに遊嵌された状態となっている。一方、駆動ユニット502は、搬送室20外(下方)に露出したその下部において、連結フレーム104を介して支持フレーム101に連結され、固定されている。
従来の搬送装置においては、搬送室の底板に連結され、駆動ユニットを含めた搬送装置の荷重が、搬送室の底板によって支えられる構造が採用されてきた。しかし、このような支持構造の場合、搬送室内が真空状態になると、搬送室内外の圧力差により、搬送室の底板が内側に向けて撓み、底板に連結されている搬送装置も全体として搬送室内に引き込まれるように上方へ僅かに移動する結果、搬送ユニットの高さ位置が変動し、基板Sの受渡し位置などに誤差が生じる原因となって搬送精度が損なわれることがあった。
そのため、本実施形態では、搬送装置50の荷重を、搬送室20の底板20aではなく、連結フレーム104を介して支持フレーム101によって支えることで、搬送室20内部が減圧排気され真空になった状態で、外部との圧力差により搬送装置50が上方、つまり搬送室20内、へ引き込まれることを防止している。駆動ユニット502のフランジ502aと搬送室20の底板20aとは、シール部材102,103により気密性が確保されつつ、遊びを持って接合されているので、図4中破線で示すように、底板20aが搬送室20内に引き込まれ撓みが生じても、搬送装置50の上下方向の位置は変化しない。
以上のような搬送装置50の支持構造を採用することにより、搬送室20内の圧力が変動しても搬送装置50における搬送ユニット501の高さが変動せず、一定に保つことができるので、基板Sの受渡し精度を確保できる。
下段搬送機構部520においては、駆動ユニット502からの動力がスライドアーム522に内蔵された複数のプーリおよびそれに巻き掛けられたベルト等を介して伝達されることにより、スライドアーム522およびスライドピック523が直線的にスライドする。この際に、プーリの径比を調整することにより、スライドアーム522の移動ストロークに対してスライドピック523の移動ストロークを大きくとることができ、大型基板に対応しやすくなる。
上部搬送機構部510においては、駆動ユニット502からの動力が、ベース部521、連結部531、ベース部511に内蔵されたプーリおよびベルト等からなる動力伝達機構により伝達され、さらにスライドアーム512に内蔵された複数のプーリおよびそれに巻き掛けられたベルト等を介して伝達されることにより、スライドアーム512およびスライドピック513が直線的にスライドする。下部搬送機構部520と同様に、プーリの径比を調整することにより、スライドアーム512の移動ストロークに対してスライドピック513の移動ストロークを大きくとることができる。
次に、基板支持体であるスライドピック513の構造について、図6〜図9を参照しながら説明を行なう。なお、スライドピック523は、スライドピック513と同様の構造であるため、説明を省略する。
図6は、スライドピック513の第1実施形態を示す側面図である。前記したように、本実施形態のスライドピック513は、ピックベース201とピック202とを有している。ピックベース201は、スライダー517に固定されている。ピックベース201は断面視コの字型に折曲げられたプレートにより構成されており、折曲げられた上下のプレートの間に複数のピック202(本実施形態では4本;図5参照)のそれぞれの基端部が挿入され、各ピック202の取付け角度を独立して調節可能な図示しない固定手段、例えば螺子等により固定されている。なお、ピックベース201として上下2枚のプレートを連結したものを用い、それらのプレート間にピック202の基端部を挟持するようにしてもよい。
各ピック202は、その基端部においてピックベース201に斜めに取付けられている。従って、ピック202は、その基端部側から先端部側へ水平軸hに対して所定角度θをなして斜め上方向に延び、ピック202の自重による撓み量を差し引いても、ピック202の先端部の高さ位置Pが、その基端部(ピックベース201による支持端)よりも上に位置している。なお、図6では実際よりも傾斜角度θを強調して描いている。
図7は、ピックベース201へのピック202の取付け構造およびスライダー517へのピックベース201の取付け構造を示している。
まず、ピック202は、ピックベース201に2種類の螺子を用いて連結されている。すなわち、ピック202は、該ピック202を鉛直方向に引付ける複数の引付け螺子210と、ピック202を鉛直方向に押付ける複数の押付け螺子211とを用い、ピックベース201に固定されている。そして、引付け螺子210による引付けと、押付け螺子211による押付けのバランスを図ることにより、ピックベース201に固定されたピック202の傾斜角度θを任意に調節できるようになっている。
また、スライダー517の裏側からスライダー517を貫通して、ピックベース201の下面を押圧するように、複数のピックベース角調節螺子212が配備されている。これらのピックベース角調節螺子212により、ピックベース201自体の取付け角度を微調整できる。なお、図7中、符号213はピックベース202をスライダー517に取付ける固定用螺子である。
そして、ピック202を傾斜させてピックベース201に取付け、ピック202の先端部の高さ位置Pを、その基端部(ピックベース201による支持端)の高さよりも上方に位置させたので、例えば図8に示すように、スライドピック513上に基板Sを載置し、かつ、スライドアーム512を最大限進出させた状態で、スライドアーム512がその自重で撓み、水平軸hに対して下方に角度θで傾斜が生じたような場合でも、ピック202の傾斜角度θ(図6参照)と相殺させることが可能になる。従って、基板Sを全体として略水平に支持することができる。
本実施形態のスライドピック513においては、以上のように簡易な構造でピック202に傾斜をもたせているので、部品点数が少なく、製造も容易である。また、故障やメンテナンスのための労力も少なく、部材間の摩擦などに起因するパーティクル発生の懸念も少ない。さらに、ピック202の傾斜角度θを容易、かつ任意に変更できるため、現場での微調整が可能である。
なお、ピック202の傾斜角度θは、ピック毎に設定できるので、例えば基板Sに、その自重によって搬送方向(図5のX軸方向)に対して直交する左右方向(図5のY軸方向)に撓みが生じた場合への対応も容易である。例えばスライドピック513の4本のピック202のうち、両端のピック202,202の傾斜角度を大きめに設定し、中間の2本のピック202,202の傾斜角度を小さく設定することにより、左右方向への基板Sの撓みや傾きについても矯正できる。
図9は、スライドピック513の第2実施形態を示している。なお、第1実施形態と同じ構成には同一の符号を付して説明を省略する。
ピック203は、その基端部近傍の折曲部203aにおいて折曲している。従って、ピック203は、その折曲部203aから先端部側へ向けて、水平軸に対して所定角度θをなして斜め上方向に延びている。従って、ピック203の自重による撓み量を差しひいても、ピック203の先端部の高さ位置Pが、その基端部(ピックベース201による支持端)よりも上に位置する。なお、図9では、実際よりも折曲角度を強調して描いている。
このように、ピック203を折曲させ、その先端部の高さ位置Pを、その基端部(ピックベース201による支持端)の高さより上に位置させることによって、第1実施形態(図6)と同様の作用効果が得られ、スライドピック513上に基板Sを載置し、かつ、スライドアーム512を最大限進出させた状態でも、基板Sを全体として略水平に支持することができる。第2実施形態のスライドピック513における、ピックベース201へのピック203の取付け構造およびスライダー517へのピックベース201の取付け構造は、第1実施形態と同様の構成を採用できるため説明を省略する。なお、第2実施形態で使用した折曲部203aを有するピック203を、第1実施形態のスライドピック513と同様に、その基端部においてピックベース201に所定の傾斜角度を持たせて連結させることも可能である。
また、ピック203の折曲角度は、ピック毎に設定できるので、例えば基板Sがその自重によって、搬送方向(図5のX軸方向)に対して直交する左右方向(図5のY軸方向)に撓みが生じた場合への対応も容易である。すなわち、スライドピック513の4本のピック203のうち、両側部のピック203,203の折曲角度を大きく設定し、中間の2本のピック202,202の傾斜角度を小さく設定することにより、左右方向における基板Sの撓みや傾きについても矯正できる。
図10(a)は、本発明の第3実施形態に係るスライドピック513の概略構成を示す斜視図である。なお、図10(a)において破線で示すA部においてピック204を拡大した状態を図10(b)に示す。このスライドピック513は、平板状のピックベース201と、このピックベース201に基端部が支持固定されたピック204とを備えている。また、このピック204には、その幅方向に突出した軸部材(支持軸204a)を有している。この支持軸204aは、ピック204本体を貫通して、基板Sを支持する基板支持面204bと平行な方向に突出形成されている。
図11は、図10(a)に破線で示すB部を拡大して示す要部平面図である。また、図12は図11のXII-XII線矢視の断面を示し、図13は図11のXIII-XIII線矢視の断面を示している。
ピック204の基端部は、固定部材220によってピックベース201に所定角度で固定されている。また、ピックベース201には、ピック204の支持軸204aを、その基端部からやや離れた位置で回動可能に支持する支持部230が設けられている。そして、ピック204の支持軸204aが支持部230に係合することにより、支持軸204aを支点としてピック204全体が僅かに回動するようになっている。
図11に示すように、固定部材220は、ピック204の基端部をピックベース201に向けて押し付ける方向にねじ止めする左右一対の押し螺子221と、これらの押し螺子221の両側に配備された3つの固定螺子222とを有している。
支持部230は、支持軸204aを固定するための左右一対の角度調節ブロック231と、これらの角度調節ブロック231の外側に設けられて支持軸204を保持する左右一対の軸受け部材232とを有している。
角度調節ブロック231は、図12に示すように貫通孔233を有しており、この貫通孔233に支持軸204aが挿通される。この角度調節ブロック231は、軸受け部材232を介して、ピックベース201に螺子234,235を用いて固定されるようになっている。また、角度調節ブロック231の側部(ピック204の先端側)には、切り欠き部236が形成されている。
軸受け部材232には、図13に示すように、ピック204の支持軸204aを略水平方向にスライドさせて嵌め込み可能な、弧状に陥入した陥入凹部237が形成されている。この陥入凹部237は、ピック204をピックベース201に装着する際に大まかな位置決めを行なうもので、支持軸204aが嵌め込まれた状態で若干の遊びを持つように、支持軸204aの径よりもやや大きめに形成されている。
固定部材220の押し螺子221は、これを締めることによって、ピック204の基端部がピックベース201に向けて押圧される。従って、支持部230と係合する支持軸204aを支点にしてピック204の基端部が下がり、逆にピック204の先端部が上昇して基端部よりも上方に位置するようにピック204が傾斜する。また、上記とは反対に、押し螺子221を緩めることにより、支持軸204aを支点にしてピック204の基端部が上がり、逆にピック204の先端部が下降して例えばピック204全体が水平な状態になる。
このように、押し螺子221による締め具合を調節することで、ピック204を所定角度に傾斜させることができる。そして、一対の押し螺子221を用いてピック204の先端部が基端部よりもやや上になるように傾斜させた状態で、3つの固定螺子222を締めることにより、ピック204の傾斜角度を固定することができる。このように、押し螺子221と固定螺子222とにより、ピック204を所定角度に固定した状態で保持できる。
また、角度調節ブロック231は、切り欠き部236を有することから、貫通孔233の径は、支持軸204aの径に比べて若干大きく、支持軸204aが挿入された状態で遊びをもつようになっている。そして、ピック204の支持軸204aを軸受け部材232に螺子234,235で固定する際、切り欠き部236側の螺子235の締め付け具合を調節して貫通孔233の内径を縮小させることによって、ピック204の支持軸204aの高さ位置を微調整しながら支持軸204aを固定できるようになっている。つまり、切り欠き部236により遊びを持たせることによって、螺子235によるねじ止めの際に、角度調節ブロック231の貫通孔233に挿入された支持軸204aの固定位置を若干上下に変位させることが可能になる。従って、ピック204の基端部を支点にして、ピック204の先端までの傾斜角度を極僅かな量で調整できる。
この第3実施形態のスライドピック513を用い、基板Sを支持することにより、上記第1実施形態および第2実施形態と同様に、スライドアーム512の進出状態でスライドアーム512が自重により撓むような場合でも、撓みによる下方への傾斜をピック204の傾斜角度と相殺させることが可能になる。従って、基板Sを全体として略水平に支持できる。
また、本実施形態のスライドピック513では、各ピック204に支持軸204aを設け、これを角度調節ブロック231と軸受け部材232で固定する構成としたので、各ピック204の傾斜角度の調整を容易に行なうことができるとともに、微調整が可能になる。
すなわち、ピック204の支持軸204aを軸受け部材232の陥入凹部237に挿入して仮位置決めした安定な状態で、固定部材220の押し螺子221および固定螺子222を調節することによりピック204の傾斜角度を決定できるため、位置ずれが生じ難く、傾斜角度の設定作業が非常に容易になり、設定時間を短縮できる。
さらに、切り欠き部236を有する角度調節ブロック231の螺子235の締め具合を調整することによって、ピック204の長手方向の傾斜角度を微調整できるので、高精度に角度設定を行なうことが可能である。
また、ピック204の左右両側に突出する支持軸204aと角度調節ブロック231によって、ピック204毎に幅方向の傾斜を補正できるため、各ピック204を幅方向に水平な状態に保ち、安定的に基板Sを支持できる。
以上の実施形態に示すように、スライドピック513において、ピック202やピック204のようにその取付け角度を任意に調節し、あるいはピック203のように折曲部203aを設けて任意の角度に折曲させることにより、搬送時の基板Sが傾いたり位置ずれしたりすることなく、その高さ位置が正しく保たれる。そして、例えば図14に示す如く、基板Sを略水平状態に保持しながらゲートバルブ22の開口部22a内を通過させて搬送できるので、ロードロック室30および各プロセスチャンバ10a〜10cとの間で基板Sの受渡しを確実に行なうことが可能になる。また、基板Sを搬送する際に、スライドピック513上での位置ズレが回避されるので、基板Sの破損なども防止され、さらにプロセスチャンバ10a〜10c内の正しい位置に基板Sを搬入して、精度の高い処理(例えばエッチングなど)を実施することが可能になる。
次に、以上のように構成された真空処理システム1の動作について説明する。
まず、搬送機構43の2枚のピック45、46を進退駆動させて、未処理基板を収容した一方のカセット40から2枚の基板Sをロードロック室30の上下2段の基板収容部31に搬入する。
ピック45,46が退避した後、ロードロック室30の大気側のゲートバルブ22を閉じる。その後、ロードロック室30内を排気して、内部を所定の真空度まで減圧する。真空引き終了後、ポジショナー33により基板を押圧することにより基板Sの位置合わせを行なう。
以上のように位置合わせされた後、搬送室20とロードロック室30との間のゲートバルブ22を開いて、搬送室20内の搬送装置50によりロードロック室30の基板収容部31に収容された基板Sを受け取り、プロセスチャンバ10a,10b,10cのいずれかに搬入する。また、プロセスチャンバ10a,10b,10cで処理された基板Sは、搬送装置50により搬出され、ロードロック室30を経て、搬送機構43によりカセット40に収容される。このとき、元のカセット40に戻してもよいし、他方のカセット40に収容するようにしてもよい。
また、ロードロック室30から基板Sを取り出す際には、搬送装置50における上段搬送機構部510のスライドピック513および/または下段搬送機構部520のスライドピック523をロードロック室30に挿入して、スライドピック513および/または523により基板Sを受け取る。スライドピック513および/または523は、受け取った基板Sをプロセスチャンバ10a,10b,10cのいずれかに搬入する。このとき、基板Sを搬入しようとするプロセスチャンバ内に既に処理済みの基板Sが存在する場合には、一方のスライドピックでその基板Sを搬出してから他方のスライドピックに載せられている基板Sをプロセスチャンバ内に挿入するようにすることができる。処理済みの基板Sは、スライドピック513および/または523により受け取られた後、ロードロック室30に受け渡される。
搬送室20内の搬送装置50により以上のような搬送を行う際には、回転駆動機構によりボックス状支持部530を介して上段搬送機構部510または下段搬送機構部520を回転させ、それらの位置合わせを行う。また、上下2段の搬送機構部510,520を有している関係上、図示しない昇降ユニットにより搬送ユニット501を昇降動作させてスライドピックの高さ位置を合わせる。
以上のように位置合わせした段階で、スライドアーム512,522、スライドピック513,523を進出または退入させることにより基板Sの搬送を行う。そして、前記のように、スライドピック513,523として、ピックベース201に対し傾斜させた状態で装着したピック202もしくはピック204、または折曲部203aにより折曲させたピック203を用いることによって、基板Sを略水平に支持した状態で搬送することが可能になり、基板Sの受渡しが確実に行なわれると共に、搬送に起因する基板Sの設置誤差などが防止される。
なお、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、種々の変形が可能である。例えば、上記実施形態では搬送機構として上下2段に直動式の搬送機構部を設けた場合について示したが、2段に限らず1段でも3段以上でもよく、直動式に限らず例えば多関節タイプのものであっても構わない。
また、スライドピック513,523におけるピックベース201へのピック202,203,204の取付け構造は、螺子に限らず、ピック202,203,204の取付け角度を任意に調節できる固定手段であればよい。
本発明の一実施形態に係る搬送装置を備えた真空処理システムを概略的に示す斜視図。 図1の真空処理システムの水平断面図。 制御部の概略構成を示すブロック図。 図1の真空処理システムにおける搬送室の垂直断面構造とその支持フレーム構造を説明する図面。 図4の搬送装置の搬送ユニットを示す斜視図。 本発明の第1実施形態に係るスライドピックの側面図。 ピックおよびピックベースの取付け構造を示す要部断面図。 スライドピックに基板を載置した状態を示す図面。 本発明の第2実施形態に係るスライドピックの側面図。 本発明の第3実施形態に係るスライドピックを示しており、(a)は外観斜視図、(b)はピック部分の要部斜視図である。 図10のスライドピックの要部平面図。 図11のXII-XII線矢視における断面図である。 図11のXIII-XIII線矢視における断面図である。 スライドピックに基板を載置して搬送している状態を示す図面。
符号の説明
1;真空処理システム
10a,10b,10c;プロセスチャンバ
20;搬送室
30;ロードロック室
50;搬送装置
60;制御部
201;ピックベース
202,203,204;ピック
210;引付け螺子
211;押付け螺子
501;搬送ユニット
502;駆動ユニット
510;上段搬送機構部
513;スライドピック
520;下段搬送機構部
523;スライドピック
530;ボックス状支持部

Claims (19)

  1. 基板を搬送する基板搬送装置であって、
    共通のピックベースに連結された複数のピックを備えて基板を支持する基板支持体と、
    前記基板支持体をスライド可能に支持しつつ、自ら水平方向に進退可能な搬送アームと、
    前記搬送アームを駆動する駆動部と、
    を具備し、
    前記ピックの先端部が、その基端部を超える高さに位置するように、前記ピックを傾斜させたことを特徴とする、基板搬送装置。
  2. 複数の前記ピックをそれぞれ独立した角度で傾斜させたことを特徴とする、請求項1に記載の基板搬送装置。
  3. 前記ピックに基板を載置し、かつ前記搬送アームを最も進出させた状態で、基板が略水平になるような角度に前記ピックを傾斜させたことを特徴とする、請求項1または請求項2に記載に基板搬送装置。
  4. 基板を搬送する基板搬送装置であって、
    共通のピックベースに連結された複数のピックを備えて基板を支持する基板支持体と、
    前記基板支持体をスライド可能に支持しつつ、自ら水平方向に進退可能な搬送アームと、
    前記搬送アームを駆動する駆動部と、
    を具備し、
    前記ピックの先端部が、その基端部を超える高さに位置するように、前記ピックをその基端部近傍において折曲させたことを特徴とする、基板搬送装置。
  5. 複数の前記ピックをそれぞれ独立した角度で折曲させたことを特徴とする、請求項4に記載の基板搬送装置。
  6. 前記ピックに基板を載置し、かつ前記搬送アームを最も進出させた状態で、基板が略水平になるような角度に前記ピックを折曲させたことを特徴とする、請求項4または請求項5に記載の基板搬送装置。
  7. 前記ピックは、水平方向に対する前記ピックのなす角度を調節可能な固定手段を用いて前記ピックベースに連結されていることを特徴とする、請求項1から請求項6のいずれか1項に記載の基板搬送装置。
  8. 前記固定手段は、前記ピックの基端部と係合して、前記ピックに対し反対向きの力を加えて固定角度を調節するものであることを特徴とする、請求項7に記載の基板搬送装置。
  9. 前記固定手段は、前記ピックの基端部と係合し、前記ピックを、鉛直方向に引付ける螺子と鉛直方向に押付ける螺子からなることを特徴とする、請求項7に記載の基板搬送装置。
  10. 前記基板支持体の前記ピックベースは、前記搬送アームを移動可能なスライド部材に取付けられているとともに、その取付け角度を任意に調節可能な取付け角度調節機構を備えていることを特徴とする、請求項1から請求項9のいずれか1項に記載の基板搬送装置。
  11. 前記ピックには、その幅方向に突出形成された支持軸が設けられており、該支持軸を支点として前記ピックを回動させることにより、その取付け角度が調節されることを特徴とする、請求項7に記載の基板搬送装置。
  12. 前記支持軸を遊嵌可能で、かつその内径を調節可能な貫通孔を有する角度調節用部材をさらに備え、前記貫通孔に前記支持軸を挿入した状態で該貫通孔の内径を縮小させることにより、前記ピックの取付け角度が微調整されることを特徴とする、請求項11に記載の基板搬送装置。
  13. 前記搬送アームは、真空チャンバ内に収容され、
    前記駆動部は、少なくともその下部が前記真空チャンバの外部に露出して配備されており、かつ、該下部において前記真空チャンバを載置する支持フレームに固定されていることを特徴とする、請求項1から請求項12のいずれか1項に記載の基板搬送装置。
  14. 前記真空チャンバの底板には開口部が形成されており、
    前記駆動部はその上部が該開口部内に挿入されるとともに該開口部との間はシール部材により遊びをもたせた状態で封止されていることを特徴とする、請求項13に記載の基板搬送装置。
  15. 前記基板は、大型ガラス基板であることを特徴とする、請求項1から請求項14のいずれか1項に記載の基板搬送装置。
  16. 基板搬送装置において基板を支持する基板支持体であって、
    共通のピックベースに連結された複数のピックを備えてなり、前記ピックの先端部が、その基端部を超える高さに位置するように、前記ピックが傾斜していることを特徴とする、基板支持体。
  17. 複数の前記ピックをそれぞれ独立した角度で傾斜させたことを特徴とする、請求項16に記載の基板支持体。
  18. 基板搬送装置において基板を支持する基板支持体であって、
    共通のピックベースに連結された複数のピックを備えてなり、前記ピックの先端部が、その基端部を超える高さに位置するように、前記ピックの基端部近傍が折曲していることを特徴とする、基板支持体。
  19. 複数の前記ピックをそれぞれ独立した角度で折曲させたことを特徴とする、請求項18に記載の基板支持体。
JP2006292675A 2006-01-06 2006-10-27 基板搬送装置および基板支持体 Active JP4903027B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006292675A JP4903027B2 (ja) 2006-01-06 2006-10-27 基板搬送装置および基板支持体
KR1020070001636A KR100856588B1 (ko) 2006-01-06 2007-01-05 기판 반송 장치 및 기판 지지체
TW096100553A TWI397495B (zh) 2006-01-06 2007-01-05 A substrate transfer device and a substrate support
CN200710001578.9A CN1994841B (zh) 2006-01-06 2007-01-08 基板搬送装置及基板支承体

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006001124 2006-01-06
JP2006001124 2006-01-06
JP2006292675A JP4903027B2 (ja) 2006-01-06 2006-10-27 基板搬送装置および基板支持体

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2007208235A true JP2007208235A (ja) 2007-08-16
JP4903027B2 JP4903027B2 (ja) 2012-03-21

Family

ID=38487395

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006292675A Active JP4903027B2 (ja) 2006-01-06 2006-10-27 基板搬送装置および基板支持体

Country Status (4)

Country Link
JP (1) JP4903027B2 (ja)
KR (1) KR100856588B1 (ja)
CN (1) CN1994841B (ja)
TW (1) TWI397495B (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008227491A (ja) * 2007-03-09 2008-09-25 Applied Materials Inc 基板移送用高温抗垂下エンドエフェクター
JP2012084725A (ja) * 2010-10-13 2012-04-26 Tokyo Electron Ltd 基板処理システム及び基板搬送方法
US10147633B2 (en) 2011-09-12 2018-12-04 Tokyo Electron Limited Transfer apparatus and plasma processing system

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101417747B (zh) * 2008-12-11 2011-11-23 友达光电股份有限公司 传送台机构
TW201135372A (en) * 2009-10-20 2011-10-16 Nikon Corp Substrate supporting apparatus, substrate supporting member, substrate transfer apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method
CN102534555A (zh) * 2011-12-31 2012-07-04 无锡市奥曼特科技有限公司 用于硅片自动上下料系统的出片机构
JP6799395B2 (ja) * 2016-06-30 2020-12-16 株式会社荏原製作所 基板ホルダ、電子デバイス製造装置において基板を搬送する搬送システム、および電子デバイス製造装置
CN111149059B (zh) * 2017-09-29 2022-08-26 株式会社尼康 基板搬运、曝光装置、方法、平板显示器及元件制造方法
WO2019064585A1 (ja) * 2017-09-29 2019-04-04 株式会社ニコン 基板搬送装置、露光装置、フラットパネルディスプレイの製造方法、デバイス製造方法、基板搬送方法、及び露光方法

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04336412A (ja) * 1991-05-13 1992-11-24 Mitsubishi Electric Corp 半導体製造装置のシール機構および半導体装置の製造方法
JPH0799225A (ja) * 1993-09-27 1995-04-11 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板搬送装置
JPH08148539A (ja) * 1994-11-25 1996-06-07 Sharp Corp 半導体製造装置
JPH11188681A (ja) * 1997-12-24 1999-07-13 Canon Inc 基板搬送用ハンド及びその吸着機構
JP2000200810A (ja) * 1999-01-07 2000-07-18 Micronics Japan Co Ltd プロ―バ
JP3080143U (ja) * 2001-03-08 2001-09-14 オリンパス光学工業株式会社 基板搬送装置
JP2002015989A (ja) * 1993-07-21 2002-01-18 Canon Inc 処理システム及びこれを用いた露光装置およびデバイス製造方法
JP2003136442A (ja) * 2001-10-29 2003-05-14 Aitec:Kk ワーク搬送ロボット
JP2004342933A (ja) * 2003-05-16 2004-12-02 Kondo Seisakusho:Kk ウエハハンド
JP2005286097A (ja) * 2004-03-30 2005-10-13 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板搬送ロボットおよび基板処理装置

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0380143U (ja) * 1989-12-05 1991-08-16
CN1165799C (zh) * 2001-04-27 2004-09-08 瀚宇彩晶股份有限公司 液晶显示器模组的外框置放架
JP2003060004A (ja) * 2001-08-20 2003-02-28 Yaskawa Electric Corp ロボットハンド
JP2003197728A (ja) * 2001-12-27 2003-07-11 Aitec:Kk 基板収納カセット
KR100479494B1 (ko) * 2002-09-18 2005-03-30 삼성전자주식회사 기판 반송 로봇
KR100596050B1 (ko) * 2002-10-31 2006-07-03 삼성코닝정밀유리 주식회사 유리기판의 이송시스템
JP4302575B2 (ja) * 2003-05-30 2009-07-29 東京エレクトロン株式会社 基板搬送装置および真空処理装置
DE112004001210T5 (de) * 2003-07-04 2006-06-08 Rorze Corp. Transportvorrichtung und Transportsteuerverfahren für eine dünne Platte

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04336412A (ja) * 1991-05-13 1992-11-24 Mitsubishi Electric Corp 半導体製造装置のシール機構および半導体装置の製造方法
JP2002015989A (ja) * 1993-07-21 2002-01-18 Canon Inc 処理システム及びこれを用いた露光装置およびデバイス製造方法
JPH0799225A (ja) * 1993-09-27 1995-04-11 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板搬送装置
JPH08148539A (ja) * 1994-11-25 1996-06-07 Sharp Corp 半導体製造装置
JPH11188681A (ja) * 1997-12-24 1999-07-13 Canon Inc 基板搬送用ハンド及びその吸着機構
JP2000200810A (ja) * 1999-01-07 2000-07-18 Micronics Japan Co Ltd プロ―バ
JP3080143U (ja) * 2001-03-08 2001-09-14 オリンパス光学工業株式会社 基板搬送装置
JP2003136442A (ja) * 2001-10-29 2003-05-14 Aitec:Kk ワーク搬送ロボット
JP2004342933A (ja) * 2003-05-16 2004-12-02 Kondo Seisakusho:Kk ウエハハンド
JP2005286097A (ja) * 2004-03-30 2005-10-13 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板搬送ロボットおよび基板処理装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008227491A (ja) * 2007-03-09 2008-09-25 Applied Materials Inc 基板移送用高温抗垂下エンドエフェクター
JP2012084725A (ja) * 2010-10-13 2012-04-26 Tokyo Electron Ltd 基板処理システム及び基板搬送方法
US10147633B2 (en) 2011-09-12 2018-12-04 Tokyo Electron Limited Transfer apparatus and plasma processing system

Also Published As

Publication number Publication date
CN1994841B (zh) 2014-02-12
TW200738539A (en) 2007-10-16
TWI397495B (zh) 2013-06-01
KR100856588B1 (ko) 2008-09-03
KR20070074496A (ko) 2007-07-12
JP4903027B2 (ja) 2012-03-21
CN1994841A (zh) 2007-07-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4903027B2 (ja) 基板搬送装置および基板支持体
JP5264050B2 (ja) 昇降機構および搬送装置
JP4849825B2 (ja) 処理装置、位置合わせ方法、制御プログラムおよびコンピュータ記憶媒体
US8590902B2 (en) Seal member, depressurized chamber, depressurizing processing apparatus, seal mechanism of depressurized chamber, and method of manufacturing a depressurized chamber
JP4754304B2 (ja) 基板処理装置、ロードロック室ユニット、および搬送装置の搬出方法
JP4642608B2 (ja) 基板処理装置および基板処理システム
JP5036290B2 (ja) 基板処理装置および基板搬送方法、ならびにコンピュータプログラム
KR101208644B1 (ko) 위치 이탈 방지 장치, 이를 구비한 기판 보지구, 기판 반송 장치 및 기판 반송 방법
KR100868110B1 (ko) 기판 검지 기구 및 기판 수용 용기
TWI555681B (zh) A position shift preventing device, a substrate holder including the same, a substrate handling device, and a substrate handling method
JP2008302487A (ja) 基板吸着装置及び基板搬送装置並びに外観検査装置
JP4642610B2 (ja) 基板位置合わせ装置および基板収容ユニット
JP3350234B2 (ja) 被処理体のバッファ装置、これを用いた処理装置及びその搬送方法
KR100872537B1 (ko) 감압 용기, 감압 처리 장치 및 감압 용기의 제조 방법
WO2014030432A1 (ja) 基板搬送装置および基板処理システム
CN101599449B (zh) 搬送装置以及处理装置
JP2012074498A (ja) 基板処理装置及び基板搬送方法並びにその方法を実施するためのプログラムを記憶する記憶媒体
JP2005096908A (ja) 基板の処理装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20090810

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100908

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20111011

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20111206

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20111227

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120104

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4903027

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150113

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250