JP2000200810A - プロ―バ - Google Patents

プロ―バ

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JP2000200810A
JP2000200810A JP11002258A JP225899A JP2000200810A JP 2000200810 A JP2000200810 A JP 2000200810A JP 11002258 A JP11002258 A JP 11002258A JP 225899 A JP225899 A JP 225899A JP 2000200810 A JP2000200810 A JP 2000200810A
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JP
Japan
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substrate
cassette
glass substrate
hand
transfer robot
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Application number
JP11002258A
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English (en)
Inventor
Katsumi Shiono
勝美 塩野
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Micronics Japan Co Ltd
Original Assignee
Micronics Japan Co Ltd
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Publication date
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  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 大型の矩形の基板を取り扱う場合に、搬送ロ
ボットにプリアライメント機構や基板認識装置を搭載し
て、プローバの占有面積を小さくする。また、昇降ステ
ージを工夫してカセットのパスラインを低くし、さら
に、ハンドの進退機構を工夫して進退ストロークを大き
くする。 【解決手段】 搬送ロボット上の基板認識センサ96で
カセットの各棚のガラス基板の有無を確認する。回転台
70を180度回転してから、ロード・ハンド88でカ
セット内のガラス基板を吸着する。その際、ロード・ハ
ンド88上の2個のセンサでガラス基板のθズレを検出
する。昇降ステージ74を下げてガラス基板を基板支持
装置98に載せ、ガラス基板のプリアライメントを実施
する。同時にID読取装置でガラス基板のID符号を読
み取る。次に、搬送ロボットをワークステージに対向さ
せて、ワークステージにガラス基板を受け渡し、ガラス
基板を電気的に検査する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、基板を電気的に検
査するプローバに関し、より具体的には、カセット内に
水平に収納された矩形の基板を搬送ロボットを用いて取
り出し、この基板を搬送ロボットでワークテーブル部に
搬送し、ワークテーブル部において基板の電気的検査を
実施するプローバに関する。
【0002】
【従来の技術】図17は従来のプローバの平面図であ
る。このプローバは、液晶表示パネルのガラス基板を電
気的に検査する装置である。このプローバは、後方にカ
セット設置部10があり、中央に搬送部12があり、前
方にワークテーブル部14とプリアライメント部16が
ある。カセット設置部10には二つのカセット18、1
9を配置でき、それぞれのカセットに多くのガラス基板
を水平に収納できる。搬送部12には搬送ロボット20
があり、この搬送ロボット20を用いてカセット18、
19とプリアライメント部16とワークテーブル部14
との間でガラス基板を搬送できる。ワークテーブル部1
4には、下方にワークステージ22があり、上方にプロ
ーブユニット23がある。プローブユニット23は複数
のプローブブロック24を備えている。プローブブロッ
ク24はガラス基板と電気的接触を行うための多数の探
針25を備えている。
【0003】図18は図17のプローバの背面図であ
る。二つのカセット18、19の間には基板認識装置2
6がある。この基板認識装置26は光学式のセンサであ
り、カセット18、19内のガラス基板28の有無を検
出することができる。基板認識装置26は昇降可能であ
り、昇降しながらガラス基板28の有無を検出できる。
これにより、検査をスタートする前に、あらかじめ、カ
セット18、19内のどの棚にガラス基板28が格納さ
れているかを把握することができる。
【0004】図20は搬送ロボット20(図17を参
照)の斜視図である。搬送ロボット20のY移動台30
はY方向に移動できる。Y移動台30上の回転台32は
Z軸(上下方向に延びる軸)の周りに回転できる。回転
台32上の昇降台34はZ方向(上下方向)に昇降す
る。昇降台34の上端には回転リンク式の二つのアーム
36、37があり、一方のアーム36の先端にはロード
・ハンド38を固定してあり、他方のアーム37の先端
にはアンロード・ハンド39を固定してある。ハンド3
8、39の先端はバキューム吸着機構を備えている。ア
ーム36、37が伸長するとハンド38、39はX方向
に移動する。ハンド38、39は上下2段に配置してあ
り、上側のロード・ハンド38は未検査のガラス基板を
カセットからワークステージまで搬送するのに使い、下
側のアンロード・ハンド39は検査済みのガラス基板を
ワークステージからカセットに戻すのに使う。
【0005】図21はプリアライメント部16(図17
を参照)に設けてあるプリアライメント・ステージ40
の斜視図である。プリアライメント部は、ロード・ハン
ド38とガラス基板28との相対位置関係が、所定の誤
差範囲内に(ワークテーブル部においてファインアライ
メントが可能な程度までに)収まるように、ガラス基板
28を吸着し直すことを目的とするものである。
【0006】ロード・ハンド38によってプリアライメ
ント・ステージ40の上方にガラス基板28を持ってき
たら、三つのセンサ41、42、43を用いてガラス基
板28のプリアライメントを実施する。三つのセンサは
発光部と受光部を有する反射型の光センサであって、発
光部からの光がガラス基板28のエッジに当たると、そ
こからの反射光が受光部で検出される。まず、ロード・
ハンド38をY方向に動かす(図20に示すY移動台3
0をY方向に動かす)と、最初にセンサ42、43の一
方(例えばセンサ42)がガラス基板28のエッジ29
を検出し(そのときのY移動台のY座標はY1)、次
に、他方のセンサ(例えばセンサ43)がエッジ29を
検出する(そのときのY移動台のY座標はY2)。この
ときのΔY=Y2−Y1と、センサ42、43間のX方
向の距離とに基づいて、ガラス基板28の傾きΔθ(ガ
ラス基板28のエッジ29がX方向に対して傾斜してい
る角度)を求めることができる。そこで、このΔθだけ
ロード・ハンド38を回転させて(図20に示す回転台
32を回転する)、ガラス基板28の傾きを補正する。
次に、ロード・ハンド38をY方向に動かしてセンサ4
2、43で同時にエッジ29を検出したところでY方向
の移動を停止する。これにより、ガラス基板28のθズ
レとYズレが補正された。
【0007】次に、ロード・ハンド38をX方向に動か
し(図20に示すアーム36を伸長してロード・ハンド
38を前進させる)、センサ41がガラス基板28のエ
ッジ31を検出したところでX方向の移動を停止する。
これにより、Xズレも補正された。
【0008】その後、ロード・ハンド38を下げて(図
20に示す昇降台34を下げて)、ガラス基板28をプ
リアライメント・ステージ40の4個のチャックピン4
4でバキューム吸着して保持する。ロード・ハンド38
のバキュームは解除する。ロード・ハンド38はさらに
下がってからX方向に後退する。プリアライメント部に
はID読取装置(図示せず)があり、このID読取装置
でガラス基板のID符号を読み取る。
【0009】次に、ロード・ハンド38をガラス基板2
8の下方に挿入して、ロード・ハンド38を「基準状
態」に位置決めする。ロード・ハンド38の「基準状
態」とは、ロード・ハンド38がプリアライメント・ス
テージ40に対して所定の位置関係になった状態であ
る。この基準状態にするには、図20において、Y移動
台30を所定のプリアライメント位置に設定し、回転台
32を回転角180度に設定し(ハンド38、39がカ
セットに対向するときの回転台32の回転位置を0度と
している)、アーム36の伸長状態をプリアライメント
位置に設定する。その後、図21において、この基準状
態のロード・ハンド38を上昇させてガラス基板28を
吸着保持し、チャックピン44のバキュームを解除す
る。これにより、ロード・ハンド38とガラス基板28
との相対位置関係が所定の誤差範囲内に収まったことに
なる。
【0010】図22はワークステージ22の斜視図であ
る。ロード・ハンド38によってガラス基板28をワー
クステージ22の上方に持って来てから、これを下げる
と、ワークステージ22の4個のチャックピン46でガ
ラス基板28をバキューム吸着できる。ロード・ハンド
38のバキュームは解除する。ロード・ハンド38はさ
らに下がってからX方向に後退する。その後、チャック
ピン46を下げ、ガラス基板28をバキューム溝21に
よって吸着保持し、チャックピン46のバキュームを解
除する。ワークステージ22はXYZθ方向に移動が可
能であり、ガラス基板28をプローブユニット23(図
17を参照)に対してファインアライメントすることが
できる。
【0011】次に、従来のプローバの動作を説明する。
このプローバは次のような動作を順番に実行する。図1
7において、基板認識装置26が昇降してカセット1
8、19内の各棚におけるガラス基板の有無を確認す
る。搬送ロボット20がY方向に移動してカセット18
に対向する。回転台32(図20を参照)の角度が0度
に位置する。搬送ロボット20の昇降台34(図20を
参照)が昇降して、ロード・ハンド38の高さを、取り
出すガラス基板28の高さにする。アーム36が伸長し
てロード・ハンド38がX方向に前進し、カセット18
内の目的の未検査のガラス基板28の下にロード・ハン
ド38が入り込む。ロード・ハンド38が上昇してガラ
ス基板28を吸着し、ロード・ハンド38が後退する。
搬送ロボット20が図17の右方向に移動してから回転
台32が180度の位置まで回転する。これにより、図
19に示す位置(プリアライメント部16に対向する位
置)に搬送ロボット20が来る。アーム36が伸長して
ロード・ハンド38がX方向に前進し、プリアライメン
ト部16において図21で説明したようにガラス基板2
8のプリアライメントを実施する。プリアライメントが
完了したガラス基板28は再びロード・ハンド38で吸
着し、ロード・ハンド38が後退する。
【0012】搬送ロボット20が図19の左方向に移動
して、ワークステージ22に対向する位置に来る。ワー
クステージ22上に検査済みのガラス基板がある場合
は、アーム37が伸長してアンロード・ハンド39が前
進し、ワークステージ22上の検査済みのガラス基板を
受け取る。アンロード・ハンド39が後退する。アーム
36が伸長して、ロード・ハンド38で未検査のガラス
基板をワークステージ22に載せる。ロード・ハンド3
8が後退する。その後、次に説明する「検査動作」と
「検査中の搬送動作」とを並行して実施する。
【0013】「検査動作」は次のように進行する。ワー
クステージ22上のガラス基板をプローブユニット23
に対してファインアライメントする(このとき、ワーク
ステージ22はXYθ方向に微動する)。ワークステー
ジ22が上昇し、ガラス基板の電極がプローブブロック
24の探針25に接触する。ワークステージ22がさら
に上昇し、探針25にオーバードライブがかかる。ガラ
ス基板の電気的検査を実施する。
【0014】「検査中の搬送動作」は次のように進行す
る。回転台32(図20を参照)が0度の位置まで回転
し、搬送ロボット20がY方向に移動してカセット18
に対向する位置に来る。アーム37が伸長してアンロー
ド・ハンド39上の検査済みのガラス基板がカセット1
8内の元の位置に戻る。
【0015】以上で1サイクルが終了する。カセット1
8内の別の未検査ガラス基板に対しても同様のサイクル
を実施する。カセット18内のガラス基板をすべて検査
したら、今度は、もう一方のカセット19内のガラス基
板を検査する。
【0016】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のプロー
バは次の問題点がある。(1)ガラス基板が大型化する
とプローバの占有面積(設置に要する床面積。図17の
占有面積)が大きくなる。
【0017】(2)ガラス基板が大型化すると、カセッ
ト内でガラス基板を水平に支持したときの撓み量が増加
する。したがって、カセットの棚の間隔(スロットピッ
チ)を大きくする必要がある。これに応じてカセットの
ストローク(カセットの高さ。図18のH1)が高くな
る。その場合、図20の搬送ロボットの昇降台34の昇
降ストロークは少なくともH1が必要となる。その場
合、昇降台34が一番下がった状態でもハンド38、3
9の高さは床面からH1以上になる。ゆえに、図18に
おいて床面からカセットの下端までの高さH2(以下、
パスラインと呼ぶ。)もH1以上を確保する必要があ
る。このように、ガラス基板が大型化すると、カセット
のストロークH1が高くなり、それに応じてカセットの
パスラインH2も高くなる。パスラインが高くなると、
探針の測定位置も高くなる。それに従ってプローブユニ
ットの位置も高くなり、プローブユニットの交換作業が
困難になる。パスラインが高くなるのを避けて、かつ、
昇降台の昇降ストロークを確保しようとすれば、床を掘
り下げなければならない。
【0018】本発明は上述の問題点を解決するものであ
り、その目的は、占有面積が小さく、かつ、カセットの
パスラインが低いプローバを提供することにある。
【0019】
【課題を解決するための手段】本発明のプローバは、装
置の占有面積を小さくするために、次のような工夫をし
ている。(1)従来装置におけるプリアライメント部を
廃止した。その代わりに、搬送ロボットにプリアライメ
ント機能を持たせた。これにより、図17のプリアライ
メント部16が占める面積を減らすことができた。ま
た、カセットからプリアライメント部への基板の搬送、
及びプリアライメント部からワークステージへの搬送が
不要になるので、搬送時間が省略でき、検査のスループ
ットが向上した。(2)図17の基板認識装置26をカ
セット設置部10から取り除いた。その代わりに、搬送
ロボットに基板認識装置を搭載した。これにより、カセ
ット設置部の占有面積を小さくできた。
【0020】また、カセットのパスラインを低くするた
めに、次のような工夫をしている。(3)1本の昇降台
の上端にハンドを設ける構造をやめにした。その代わり
に、1対の支柱の間に昇降ステージを掛け渡して、支柱
の高さよりも低い位置まで昇降ステージを下げられるよ
うにした。これにより、カセットのストロークが高くな
っても、カセットのパスラインは低い状態を保つことが
できた。
【0021】そのほかに、大型のガラス基板をハンドリ
ングするために、次のような工夫をしている。(4)図
20の回転リンク式のアーム36、38をやめて、少な
くとも2重に組み合わされた直動式の進退機構でハンド
を進退させるようにした。これにより、比較的小さな寸
法の進退機構を用いて、ハンドの進退ストロークを大き
くとることができた。
【0022】以上の点をまとめると、本発明のプローバ
は、まず、搬送ロボットが基板認識装置とプリアライメ
ント機構とを備えている。また、搬送ロボットは1対の
支柱の間を昇降する昇降ステージを備えており、この昇
降ステージは、少なくとも2重に組み合わされた直動式
の進退機構を備えていて、この進退機構でハンドを進退
させている。搬送ロボットはまた、ガラス基板のID符
号を読み取るためのID読取装置を備えてもよい。
【0023】プリアライメント機構は、具体的には、次
のような構成とすることができる。2個のハンドの一方
に、基板のひとつのエッジを光学的に検出する2個のセ
ンサ(図7のX位置検出センサ92、93)を設ける。
この2個のセンサは、基板のθズレを検出することがで
き、また、基板のX方向の位置を確認するのに利用す
る。また、回転台には、基板の前記ひとつのエッジに直
交する別のエッジを光学的に検出する1個のセンサ(図
23のY位置検出センサ110)を設ける。このセンサ
は、基板のY方向の位置を確認するのに利用する。さら
に、基板のθズレを補正するために、基板を保持して水
平面内で回転できる回転機構(図23の第2の回転台1
04と4個のチャックピン108)を使う。また、前記
回転機構を基板の前記別のエッジに垂直な方向(図23
のY方向)に移動させる移動機構(図23の第2のY移
動台102)を用いることで、基板のYズレを補正でき
る。
【0024】ところで、本発明のプローバの構成のう
ち、個別の構成要素を取り出せば公知技術として知られ
ているものがある。これについて以下に説明する。1対
の支柱の間で昇降ステージを昇降させるようにした公知
文献としては特開平10-157847号公報がある。
搬送ロボットに基板認識装置を搭載した公知文献として
は特開平10-64990号公報や特開平9-27209
5号公報がある。搬送ロボットに基板のプリアライメン
ト機構を搭載した公知文献としては特開平9-1622
57号公報や特開平10-277986号公報がある。
搬送ロボットに直動式の進退機構を搭載した公知文献と
しては特開平10-64990号公報や特開平9-272
095号公報や特開平10-6166号公報があり、こ
れらの中には、搬送ロボット上でガラス基板を機械的に
位置決めする機能を備えたものもある。
【0025】しかしながら、本発明は、大型の矩形の基
板を検査するためのプローバにおいて、省スペース化、
低パスライン化、ハンドの長ストローク化、等の課題を
一挙に解決するために、各種の特徴を有機的に結合した
ものであって、このような装置構成としたことにより、
上述の個々の公知文献に示された従来装置と比較して、
非常に有用なプローバが実現したものである。
【0026】
【発明の実施の形態】図1は、本発明のプローバの第1
の実施形態を示す平面図であり、図2はその側面図、図
3は背面図である。図1では、カセット設置部50と搬
送部52は、上面カバーを取り外した状態を示してい
る。このプローバは、液晶表示パネルのガラス基板(電
気回路が形成されたもの)を電気的に検査する装置であ
る。検査するガラス基板は、大型の矩形の基板であり、
サイズは例えば800×950mmや、1100×11
00mmである。このプローバは、後方にカセット設置
部50があり、中央に搬送部52があり、前方にワーク
テーブル部54がある。カセット設置部50には二つの
カセット56、57を載せることができ、それぞれのカ
セットに多くのガラス基板28を水平に収納できる。カ
セット56、57は位置決めされた状態で(水平面内の
特定の2方向に押し付けられた状態で)カセット載置部
に載っている。搬送部52には搬送ロボット58があ
り、この搬送ロボット58はカセット56、57とワー
クテーブル部54との間でガラス基板28を搬送する。
ワークテーブル部54には、下方にワークステージ59
があり、上方にプローブユニット60がある。ワークス
テージ59はXYZθ方向の移動が可能であり、その上
にガラス基板をバキューム吸着できる。プローブユニッ
ト60は複数のプローブブロック62を備えている。プ
ローブブロック62はガラス基板と電気的接触を行うた
めの多数の探針64を備えている。
【0027】図4は搬送ロボット58(図1を参照)の
斜視図である。下方のY移動台66は1対のYレール6
8に沿ってY方向に移動できる。モータ67が回転する
とリードスクリュー69が回転し、このリードスクリュ
ー69に噛み合っているリードナット(及びそれに固定
されているY移動台66)がY方向に移動する。Y移動
台66の上には回転台70があり、この回転台70はZ
軸(上下方向に延びる軸)の周りに回転できる。回転台
70には1対の支柱72が立っている。これらの支柱7
2の間には昇降可能な昇降ステージ74がある。昇降ス
テージ74の左右の両端は、支柱72に形成された昇降
溝76に係合していて、昇降溝76に沿ってZ方向(上
下方向)に移動できる。昇降ステージ74の上面には1
対の第1アーム78を固定してある。
【0028】図7はハンドの進退機構を拡大して示す斜
視図である。1対の第1アーム78の内側には第1アー
ム78の長手方向(X方向)に延びる溝79が形成され
ている。この溝79に1対の第2アーム80がスライド
可能に係合している。1対の第2アーム80の内側に
は、第2アーム80の長手方向に延びる二つの溝81、
82を上下2段に形成してある。上側の溝81には上段
の移動板84がスライド可能に係合している。下側の溝
82には下段の移動板86(図5を参照)がスライド可
能に係合している。上段の移動板84にはロード・ハン
ド88を固定してあり、下段の移動板86にはアンロー
ド・ハンド90を固定してある。第1アーム78に対し
て第2アーム80が図の右下方向にスライドし、かつ、
第2アーム80に対して上段の移動板84または下段の
移動板86が図の右下方向にスライドすることで、ロー
ド・ハンド88またはアンロード・ハンド90は大きく
前進する。ハンド88、90の先端はバキューム吸着機
構を備えている。上側のロード・ハンド88は未検査の
ガラス基板をカセットからワークステージに搬送するの
に使い、下側のアンロード・ハンド90は検査済みのガ
ラス基板をワークステージからカセットに戻すのに使
う。
【0029】上述の図7は2重に組み合わされた進退機
構を示している。すなわち、第2アーム80が第1アー
ム78に対してスライドする構造が、直動式のひとつの
進退機構であり、上段の移動板84または下段の移動板
86が第2アーム80に対してスライドする構造が、直
動式のもうひとつの進退機構である。これらが直列に組
み合わされていることで2重の進退機構を構成してい
る。これにより、ハンド88、90の進退ストロークを
大きくとることができる。なお、3重以上に組み合わせ
た進退機構を用いてもよい。
【0030】ロード・ハンド88の根元付近には2個の
X位置検出センサ92、93がある。これらのセンサ9
2、93は、発光部と受光部を有する反射型の光センサ
であって、発光部からの光(上方に向かって発射され
る)が、ロード・ハンド88の上方にあるガラス基板の
エッジに当たると、そこからの反射光が受光部で検出さ
れるようになっている。
【0031】ロード・ハンド88の後端部にはセンサボ
ックス94があり、その中に基板認識センサ96を格納
してある。基板認識センサ96は回転可能なアーム97
の先端に固定してある。アーム97がエアーシリンダに
より90度回転すると、基板認識センサ96はセンサボ
ックス94の外部に露出する。基板認識センサ96は発
光部と受光部を有する反射型の光センサであり、発光部
からの光(水平に発射される)がカセット内のガラス基
板のエッジに当たると、そこからの反射光が受光部で検
出されるようになっている。これにより、ガラス基板の
有無を検出できる。
【0032】図4に戻って、回転台70の上には基板支
持装置98がある。図23は基板支持装置98の拡大斜
視図である。回転台70の上には第2のYレール100
を固定してある。この第2のYレール100に第2のY
移動台102がY方向にスライド可能に係合している。
第2のY移動台102には第2の回転台104が載って
おり、この第2の回転台104は第2のZ軸(上下方向
に延びる軸)の周りに回転できる。第2の回転台104
の上端には十字型のアーム106を固定してある。十字
型のアーム106の先端には4個のチャックピン108
を固定してある。これらのチャックピン108はガラス
基板をバキューム吸着できる。
【0033】また、回転台70の上にはY位置検出セン
サ110を固定してある。このセンサ110は、上述の
X位置検出センサ92、93(図7を参照)と同様に、
発光部と受光部を有する反射型の光センサである。発光
部からの光(上方に向かって発射される)が、チャック
ピン108で支持したガラス基板のエッジに当たると、
そこからの反射光が受光部で検出されるようになってい
る。
【0034】回転台70の上には、さらに、ID読取装
置112を固定してある。このID読取装置112は、
チャックピン108で支持したガラス基板にマーキング
されたID符号(識別符号)を読み取ることができる。
【0035】次に、このプローバの動作を説明する。図
1の搬送ロボット58は最初に図8の状態に移行する。
図8は搬送ロボット58の平面図である。図8の状態で
は、回転台70は180度の回転位置にある(ハンド8
8、90がカセットに対向するときの回転台70の回転
位置を0度としている)。二つのハンド88、90はい
ずれも最も後退した位置にある。基板認識センサ96の
アーム97を90度回転して基板認識センサ96をセン
サボックス94から露出させ、基板認識センサ96のセ
ンサ面をカセット56に対向させる。搬送ロボットの昇
降ステージ74(図4を参照)を昇降させながら、基板
認識センサ96を用いてカセット56の各棚におけるガ
ラス基板28の有無を確認する。この確認作業により、
検査をスタートする前に、あらかじめ、カセット56内
のどの棚にガラス基板28が格納されているかを把握す
ることができる。
【0036】次に、回転台70が180度回転して図9
の回転位置になる。昇降ステージ74(図4を参照)が
昇降してロード・ハンド88の高さが、カセット内の目
的のガラス基板28(取り出そうとするガラス基板)の
すぐ下に来るようにする。1対の第2アーム80がカセ
ットに向かってX方向に前進し、さらに、上段の移動板
84が第2アーム80に対してカセットに向かってX方
向に前進する。これにより、ロード・ハンド88が大き
く前進し、ガラス基板28の下に入る。ところで、ロー
ド・ハンド88が前進していくと、2個のX位置検出セ
ンサ92、93のうちの一方のセンサ(例えばセンサ9
2)が最初にガラス基板28のエッジ31を検出する
(そのときのロード・ハンド88のX座標はX1)。次
に、他方のセンサ(例えばセンサ93)がエッジ31を
検出する(そのときのロード・ハンド88のX座標はX
2)。このときの移動距離ΔX=X2−X1と、センサ
92、93間のY方向の距離とに基づいて、ガラス基板
28のXY座標軸からの傾きΔθ(エッジ31がY方向
に対して傾斜する角度)を求めることができる。このΔ
θが求まると、基板支持装置98(図23を参照)の第
2の回転台104がその原点位置からΔθだけ回転す
る。それから、ロード・ハンド88が上昇してガラス基
板28をバキューム吸着する。すなわち、ガラス基板は
上述のΔθだけ傾いた状態のままロード・ハンド88に
吸着されることになる。図5はロード・ハンド88が前
進した状態の搬送ロボットを示す斜視図である。
【0037】次に、ロード・ハンド88が図10に示す
位置までX方向に後退する。それから、図6に示すよう
に、昇降ステージ74が下降する。ロード・ハンド88
上のガラス基板28がチャックピン108に接触する
と、ロード・ハンド88のバキューム吸着を解除し、チ
ャックピン108でガラス基板28をバキューム吸着す
る。ロード・ハンド88はさらに下降してから一番後ろ
まで後退する。
【0038】次に、ガラス基板のプリアライメント動作
を説明する。図11はチャックピン108でガラス基板
28を支持した状態を示す側面図である。この図11と
図23を参照して説明する。チャックピン108でガラ
ス基板28を支持したら、第2の回転台104が原点位
置まで戻る(マイナスΔθだけ回転する)。第2の回転
台104は、あらかじめ、上述のようにガラス基板のθ
ズレの角度(Δθ)だけ回転してあったので、第2の回
転台104が原点位置まで戻ることで、ガラス基板28
のθズレが補正されることになる。その後、もし必要な
らば、第2の回転台104を90度あるいは180度回
転して、ガラス基板28の向きを変えることもできる。
【0039】次に、第2のY移動台102がY方向に移
動し、Y位置検出センサ110がガラス基板28のエッ
ジ29(このエッジ29は、図8のX位置検出センサ9
2、93で検出するエッジ31とは直交している。)を
検出したら、その位置で第2のY移動台102を停止す
る。これにより、ガラス基板28のYズレも補正され
た。その後、ID読取装置112でガラス基板28上の
ID符号を光学的に読み取る。なお、図10は、Y位置
検出センサ110とID読取装置112とチャックピン
108とガラス基板28との平面的な位置関係を示して
いる。
【0040】上述のYズレの補正が完了すると、ロード
・ハンド88がガラス基板28の下に入り込み、ロード
・ハンド88は図10に示すX方向位置で停止する。す
なわち、ロード・ハンド88上のX位置検出センサ9
2、93が同時にガラス基板28のエッジ31を検出し
たところでロード・ハンド88の動きを止める。以上の
動作により、ロード・ハンド88に対してガラス基板2
8がXYθ方向において所定の相対位置精度で位置決め
されたことになる。その後、ロード・ハンド88が上昇
してガラス基板28に接触したら、チャックピン108
のバキュームを解除し、ロード・ハンド88でガラス基
板28をバキューム吸着する。これで、プリアライメン
ト動作が完了する。
【0041】上述のプリアライメント動作において、ロ
ード・ハンド88上のX位置検出センサ92、93が同
時にガラス基板28のエッジ31を検出しなかった場合
は、ガラス基板28がまだθズレを生じていることにな
る。その場合は、二つのX位置検出センサ92、93を
用いて、再度、ガラス基板のθズレの角度を検出してか
ら、プリアライメント動作をやり直す。
【0042】プリアライメント動作が完了したら、昇降
ステージ74(図4を参照)が所定位置まで上昇し、こ
れにより、ガラス基板を吸着保持したロード・ハンド8
8が所定位置まで上昇する。回転台70が180度回転
し、かつ、Y移動台66がY方向に移動して、搬送ロボ
ット58は図12に示す位置(ワークステージ59に対
向する位置)に来る。ワークステージ59上に検査済み
のガラス基板がある場合は、ワークステージ59のチャ
ックピンが上昇して、検査済みのガラス基板を持ち上げ
る。アンロード・ハンド90(図7を参照)が前進して
ガラス基板の下に入り、それから上昇して、検査済みの
ガラス基板をバキューム吸着する。アンロード・ハンド
90が後退する。ロード・ハンド88が前進して、未検
査のガラス基板をワークステージ59のチャックピンに
載せる。チャックピンがガラス基板をバキューム吸着す
る。ロード・ハンド88が下がってから後退する。チャ
ックピンが下がってガラス基板をワークステージ59に
載せる。チャックピンのバキュームを解除する。ワーク
ステージ59がガラス基板をバキューム吸着する。以上
で、アンロード・ハンド90による検査済みガラス基板
の受け取りと、ロード・ハンド88による未検査ガラス
基板のワークステージ59への受け渡しが完了する。ワ
ークステージ59の構成は、図22に示す従来のワーク
ステージ22と同じである。
【0043】その後、次に説明する「検査動作」と「検
査中の搬送動作」とを並行して実施する。
【0044】「検査動作」は次のように進行する。図1
2において、ワークステージ59上のガラス基板をプロ
ーブユニット60に対してファインアライメントする。
ファインアライメントは、通常、2台のカメラを使って
実施する。すでにプリアライメントを実施してあるの
で、ガラス基板上の位置合わせマークがカメラの視野内
に入る程度に、ガラス基板は位置決めされている。ゆえ
に、ファインアライメントを自動的に実施できる。ファ
インアライメントが終了すると、ワークステージ59が
上昇し、ガラス基板の電極がプローブブロック62の探
針64に接触する。ワークステージ59がさらに上昇
し、探針64にオーバードライブがかかる。そして、ガ
ラス基板の電気的検査を実施する。
【0045】「検査中の搬送動作」は次のように進行す
る。図12において、回転台70が0度の位置まで回転
し、搬送ロボット58がY方向に移動してカセット56
に対向する位置に来る。アンロード・ハンド90が前進
して検査済みのガラス基板をカセット56内の元の位置
に戻す。
【0046】以上で1サイクルが終了する。次に、カセ
ット56内の別の未検査のガラス基板についても同様の
サイクルを実施する。カセット56内のガラス基板をす
べて検査したら、今度は、別のカセット57内のガラス
基板を検査する。
【0047】図13は、本発明のプローバの第2の実施
形態の平面図である。この実施形態では、搬送部52と
ワークテーブル部54とが左右に並んでいる。これによ
り、図1に示す第1の実施形態と比較して奥行方向が短
くなり、装置の占有面積がさらに小さくなっている。後
方のカセット設置部50には二つのカセット114、1
16があるが、これらは、後述のように、位置を入れ替
えることができる。搬送ロボット58は、Y方向の移動
機構(図4のYレール68、モータ67、リードスクリ
ュー69等)は備えていない。搬送ロボット58のそれ
以外の構造は図4に示すものと同じである。
【0048】図13のプローバは次のように動作する。
搬送ロボット58は最初に図8の状態に移行し、基板認
識センサ96でカセット114内のガラス基板28の有
無を確認する。次に、回転台70が180度回転して図
9の回転位置になり、ロード・ハンド88でガラス基板
28を取り出す。その際に、ガラス基板28のθズレ
(Δθ)を検出し、基板支持装置98(図23を参照)
の第2の回転台104をその原点位置からΔθだけ回転
する。次に、図23に示す基板支持装置98を用いてガ
ラス基板をプリアライメントする。その際に、この実施
形態では、ガラス基板の向きを時計方向に90度変え
る。その後、図14に示すように、回転台70が90度
だけ反時計方向に回転して、搬送ロボット58はワーク
ステージ59に対向する。そして、アンロード・ハンド
90で検査済みのガラス基板をワークステージ59から
受け取り、ロード・ハンド88で未検査のガラス基板を
ワークステージ59へ受け渡す。その後、ワークテーブ
ル部54においてガラス基板を検査し、それと並行し
て、搬送ロボット58で検査済みのガラス基板をカセッ
ト114に戻す。
【0049】以上で1サイクルが終了する。次に、カセ
ット114内の別の未検査のガラス基板についても同様
のサイクルを実施する。カセット114内のガラス基板
をすべて検査したら、カセット114をカセット設置部
50からカセット台車に引き取る。そして、左側のカセ
ット116(未検査のガラス基板を収納している)を右
方向に(カセット114のあった位置に)移動する。そ
の後、カセット116内のガラス基板を同様に検査す
る。その間に、左側のカセット載置部に新しいカセット
(未検査のガラス基板を収納している)をカセット台車
で運び込む。
【0050】図15と図16は図13のプローバにおけ
るカセットの交換作業を示したものであり、プローバの
背面側から見たものである。図15(A)において、カ
セット114は背面側から見て左側のカセット載置部に
載っており、カセット116は右側のカセット載置部に
載っている。左側のカセット114内のガラス基板につ
いてプローバで検査することになる。右側のカセット1
16は未検査のガラス基板を収納しており、待機状態に
ある。左側のカセット114のすべてのガラス基板の検
査を完了すると、カセット114をカセット台車で図の
手前方向に引き取る。その後、図15(B)に示すよう
に、カセット移送装置118が右側のカセット116を
持ち上げて、さらに、図16(A)に示すように、レー
ル120に沿って左方向に移送する。そして、図16
(B)に示すように左側のカセット載置部にカセット1
16を載せる。右側の空いたカセット載置部には新しい
カセットをカセット台車で運び込む。カセット移送装置
118は右側の位置に戻す。これで、図15(A)の状
態に戻る。以下、同じ動作を繰り返す。
【0051】これまでの説明では、大型の矩形の基板の
例として、液晶表示パネルのガラス基板について説明し
てきたが、本発明のプローバは、これ以外の矩形基板の
検査にも利用できる。例えば、プラズマ・ディスプレイ
・パネルなどのその他のフラット・ディスプレイ・パネ
ルの基板を検査することが考えられる。
【0052】
【発明の効果】本発明のプローバは、大型の矩形の基板
を取り扱うにあたって、次のような効果を奏する。搬送
ロボットにプリアライメント機構や基板認識装置を搭載
したので、プローバの占有面積を小さくできる。また、
1対の支柱の間で昇降ステージが昇降するようにしたの
で、カセットのパスラインを低くできる。さらに、少な
くとも2重に組み合わされた直動式の進退機構を用いて
ハンドを進退させるようにしたので、ハンドの進退スト
ロークを大きくとることができる。そして、これらの構
成を有機的に結合することで、非常に有用なプローバを
実現できた。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のプローバの第1の実施形態を示す平面
図である。
【図2】図1のプローバの側面図である。
【図3】図1のプローバの背面図である。
【図4】図1のプローバで使用する搬送ロボットの斜視
図である。
【図5】図4の搬送ロボットの別の状態を示す斜視図で
ある。
【図6】図4の搬送ロボットのさらに別の状態を示す斜
視図である。
【図7】図4の搬送ロボットのハンドの進退機構を拡大
して示す斜視図である。
【図8】図4の搬送ロボットの平面図である。
【図9】図8の搬送ロボットの別の状態を示す平面図で
ある。
【図10】図8の搬送ロボットのさらに別の状態を示す
平面図である。
【図11】図4の搬送ロボットの基板支持装置の側面図
である。
【図12】図1のプローバの別の状態を示す平面図であ
る。
【図13】本発明のプローバの第2の実施形態の平面図
である。
【図14】図13のプローバの別の状態を示す平面図で
ある。
【図15】図13のプローバのカセット交換作業を示す
背面図である。
【図16】図13のプローバのカセット交換作業の別の
状態を示す背面図である。
【図17】従来のプローバの平面図である。
【図18】図17のプローバの背面図である。
【図19】図17のプローバの別の状態を示す平面図で
ある。
【図20】従来のプローバで使用する搬送ロボットの斜
視図である。
【図21】従来のプローバで使用するプリアライメント
・ステージの斜視図である。
【図22】従来のプローバで使用するワークステージの
斜視図である。
【図23】図4の搬送ロボットの基板支持装置の斜視図
である。
【符号の説明】
28 ガラス基板 50 カセット設置部 52 搬送部 54 ワークテーブル部 56、57 カセット 58 搬送ロボット 59 ワークステージ 66 Y移動台 70 回転台 72 支柱 74 昇降ステージ 78 第1アーム 80 第2アーム 88 ロード・ハンド 90 アンロード・ハンド 92、93 X位置検出センサ 96 基板認識センサ 98 基板支持装置 100 第2のYレール 102 第2のY移動台 104 第2の回転台 108 チャックピン 110 Y位置検出センサ 112 ID読取装置

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 カセット内に水平に収納された矩形の基
    板を搬送ロボットを用いて取り出し、この基板を搬送ロ
    ボットでワークテーブル部に搬送し、ワークテーブル部
    において基板の電気的検査を実施するプローバにおい
    て、次の(イ)〜(ホ)の構成を有することを特徴とす
    るプローバ。 (イ)前記搬送ロボットは、上下方向に延びる軸の周り
    に回転可能な回転台と、この回転台上に固定された1対
    の支柱と、これらの支柱の間を昇降できる昇降ステージ
    とを備えている。 (ロ)前記昇降ステージは、前記カセット内に収納され
    た基板の有無を検出するための基板認識装置を備えてい
    る。 (ハ)前記昇降ステージは、少なくとも2重に組み合わ
    された直動式の進退機構を備えていて、この進退機構に
    は、基板を保持できる2個のハンドが取り付けられてい
    る。 (ニ)前記2個のハンドは上下2段に配置されていて、
    前記進退機構の全ストロークのうちの少なくとも一部分
    の領域において前記2個のハンドは互いに独立して進退
    できる。 (ホ)前記搬送ロボットは、前記ハンドとこのハンドが
    保持する基板とを所定の相対位置関係に位置決めするた
    めのプリアライメント機構を備えている。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載のプローバにおいて、前
    記プリアライメント機構は、前記2個のハンドの一方に
    設けられていて基板のひとつのエッジを光学的に検出す
    る2個のセンサと、前記回転台に設けられていて基板の
    前記ひとつのエッジに直交する別のエッジを光学的に検
    出する1個のセンサと、基板を保持して水平面内で回転
    できる回転機構と、前記回転機構を基板の前記別のエッ
    ジに垂直な方向に移動させる移動機構とを備えているこ
    とを特徴とするプローバ。
  3. 【請求項3】 請求項1または2に記載のプローバにお
    いて、前記搬送ロボットは、基板にマーキングされたI
    D符号を読み取ることができるID読取装置を備えてい
    ることを特徴とするプローバ。
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