JP2007132923A - 非破壊検査装置および非破壊検査装置のコイルの設計方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】非破壊検査装置10は、断熱材22に覆われた配管21に対して、断熱材22を介して配管21の上に載置されるセンサ11と、センサ11を駆動する測定装置19とを含む。センサ11は、所定の距離離れた位置にある配管21の腐食部の寸法を測定可能であり、測定装置19はセンサ11からの出力を入力して配管21の腐食部の厚さを演算するパソコン18を含む。
【選択図】図3
Description
図3は、無誘導方式において1つのセンサ11を用いた場合の非破壊検査装置10の概略構成を示すブロック図である。図3を参照して、非破壊検査装置10は、被測定物(ここでは配管21と断熱材22とを含む)20の外面に沿って図中矢印で示すように、配管20の円周方向(図中Bで示す方向)および長さ方向(図中Aで示す方向)に移動可能に設けられ、配管21の内部の肉厚を検出するセンサ11と、SQUID駆動装置として作動する測定装置19とを含む。
次に、誘導方式について説明する。図5は誘導方式において、単一のセンサ11を用いた場合の非破壊検査装置30を示す図である。図5を参照して、誘導方式においては、
被測定物にコイルを用いて電流を流し、その電流による磁場を用いて計測を行なう。そのために、外部から磁場を印加する手段(後に説明する磁場印加コイル)と、周辺の環境ノイズを除去する装置(後に説明するキャンセリングコイル)が加えられている。
Claims (12)
- 断熱材に覆われた被測定物に対して、前記断熱材を介して前記被測定物の上に載置されるSQUID探触子と、
前記SQUID探触子を駆動するSQUID駆動装置とを含み、
前記SQUID探触子は、磁場の変化に基づいて、所定の距離離れた位置にある前記被測定物の寸法を測定可能であり、
前記SQUID駆動装置は、前記SQUID探触子からの出力を解析して前記被測定物の内部の寸法を演算する演算手段を含む、非破壊検査装置。 - 前記SQUID探触子を前記断熱材の上で、前記被測定物に沿って移動する移動手段をさらに含む、請求項1に記載の非破壊検査装置。
- 前記SQUID探触子は前記被測定物の上に相互に間隔を開けて複数個載置され、前記移動手段は、前記複数のSQUID探触子を相互に間隔を開けて前記被測定物上を走査する、請求項1または2に記載の非破壊検査装置。
- 前記SQUID探触子は複数個準備され、
少なくとも1個のSQUID探触子は前記被測定物の上に載置され、
少なくとも他の1個のSQUID探触子は、前記被測定物の周囲環境の磁場を測定する、請求項1または2に記載の非破壊検査装置。 - 前記被測定物は配管であり、前記被測定物の内部の寸法は、前記配管の腐食部の厚さである、請求項1から4のいずれかに記載の非破壊検査装置。
- 前記被測定物は配管であり、前記被測定物の内部の寸法は、前記配管の穴の寸法である、請求項1から4のいずれかに記載の非破壊検査装置。
- 外部から磁場を印加する手段をさらに含む、請求項1から6のいずれかに記載の非破壊検査装置。
- 前記所定の距離yと、前記配管の計測可能な配管の穴の寸法は、
d>y/1000で表される、請求項6または7に記載の非破壊検査装置。 - 前記SQUID探触子は、相互に近接して配置された2個のコイルを含む、請求項1から8のいずれかに記載の非破壊検査装置。
- 相互に隣接して配置された一対のコイルを内蔵したSQUID探触子を用いて被測定物の欠陥を遠隔で検査する非破壊検査装置用のコイルの設計方法であって、
前記SQUID探触子と前記被測定物との間の距離に応じて、前記コイルに流す電流値と巻数との少なくともいずれか一方を変化させる、非破壊検査装置のコイルの設計方法。 - 相互に隣接して配置された一対のコイルを内蔵したSQUID探触子を用いて被測定物の欠陥を遠隔で検査する非破壊検査装置用のコイルの設計方法であって、
前記SQUID探触子と前記被測定物との間の距離に応じて、前記コイルの径を大きくする、非破壊検査装置のコイルの設計方法。 - 相互に隣接して配置された一対のコイルを内蔵したSQUID探触子を用いて被測定物の欠陥を遠隔で検査する非破壊検査装置用のコイルの設計方法であって、
前記SQUID探触子と前記被測定物との間の距離に応じて、前記一対のコイル間のコイル幅を広げる、非破壊検査装置のコイルの設計方法。
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