JP4766472B1 - 非破壊検査装置及び非破壊検査方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】被検査配管の欠陥を非破壊検査する非破壊検査装置であって、前記被検査配管を挿通し、当該被検査配管に対して当該被検査配管中心軸方向に平行な磁束を発生させる複数の励磁コイルと、前記複数の励磁コイルの各々と対となるように配置され、前記複数の励磁コイルにより発生した前記被検査配管中心軸方向の磁場を検出する複数の検出コイルと、当該複数の検出コイルにおける各検出コイル間からの検出コイル信号の差を取得し、当該取得した検出コイル信号の差より前記複数の励磁コイルと同じ周波数の信号を検波するロックイン検波手段と、当該ロックイン検波手段の出力信号の信号強度と位相変化を解析する信号解析手段と、を備えた。
【選択図】図1
Description
被検査配管の欠陥を非破壊検査する非破壊検査装置であって、
前記被検査配管を挿通し、当該被検査配管に対して当該被検査配管中心軸方向に平行な磁束を発生させる2つの励磁コイルと、
前記2つの励磁コイルの各々と一対となるように同軸上に配置され、前記2つの励磁コイルにより発生した前記被検査配管中心軸方向の磁場を検出する2つの検出コイルと、から構成された2組の相互誘導コイルと、
前記2つの検出コイルにおける各検出コイル間からの検出コイル信号の差を取得し、当該取得した検出コイル信号の差より前記2つの励磁コイルと同じ周波数で位相が互いに直交する2つの信号に検波するロックイン検波手段と、
当該ロックイン検波手段の出力信号における信号強度と位相変化を解析する信号解析手段と、を備え、
前記2組の相互誘導コイルにおける一方の励磁コイルと他方の励磁コイルは、前記被検査配管に対して同じ方向に磁場を印加するように同じ巻き方向とするとともに、前記一方の励磁コイルと前記他方の励磁コイルを直列接続し、
前記2組の相互誘導コイルにおける一方の検出コイルと他方の検出コイルは、それぞれが逆方向の磁場を検出するように反対巻き方向とするとともに、前記一方の検出コイルと前記他方の検出コイルを直列接続し、
前記信号解析手段は、前記ロックイン検波手段により検波された2つの信号によって、前記被検査配管上の所定の位置における磁場の大きさのデータと前記位相のデータを算出し、当該位相に対して校正用の補正位相を加えたデータの正弦値あるいは余弦値を求め、前記磁場の大きさのデータと前記正弦値あるいは前記余弦値との積を求め、前記所定の位置における前記積の値を用いて欠陥を特定し、
前記校正用の補正位相は、前記所定の位置における前記位相に対して共通して加えることで前記位相を調整する共通の調整位相であり、
前記所定の位置における前記積の値は、前記共通の調整位相を任意に変化させて求められる前記所定の位置における前記積の値のうち、前記欠陥による磁場変化のみが抽出され得る共通の調整位相の時の前記所定の位置における前記積の値である非破壊検査装置である。
前記被検査配管は、断熱配管である非破壊検査装置である。
前記相互誘導コイルにおける励磁コイルと検出コイルの各々のコイル円周上における所定位置で各々のコイルを分割及び接続可能な電気的接続コネクタを設けた非破壊検査装置である。
前記断熱配管の円周上に沿うように所定の曲率を持った複数の長方形状の励磁コイルを並設し、当該並設された励磁コイルにおける前記断熱配管中心軸に平行なコイル配線部分の隣り合う同士を近接するあるいは重なり合うようにして、前記並設された励磁コイルのうち任意の励磁コイルに電流を流すための電流切換手段を設けるとともに、前記並設された励磁コイルにおける前記断熱配管円周方向に平行なコイル配線部分と近接するあるいは重なり合うように2つの検出コイルを設けた非破壊検査装置である。
前記断熱配管を挿通可能である円筒状の円筒母材を備え、
前記円筒母材は、
当該円筒母材の一部を軸方向に沿って分割して前記断熱配管の長手方向における任意の位置に取付け可能であるとともに、前記並設された励磁コイルの長手方向両端に前記2つの検出コイルを設け、前記円筒母体の分割位置を前記電気的接続コネクタの分割及び接続可能である部分と一致するように構成した非破壊検査装置である。
請求項1に記載の非破壊検査装置を用いて、
前記被検査配管の欠陥を非破壊検査する非破壊検査方法であって、
前記2つの励磁コイルに前記被検査配管を挿通し、前記2つの励磁コイルにより前記被検査配管に対して前記被検査配管中心軸方向に平行な磁束を発生させる工程と、
前記2つの励磁コイルにより発生した前記被検査配管中心軸方向の磁場を前記2つの検出コイルにより検出する工程と、
前記ロックイン検波手段により前記2つの検出コイルにおける各検出コイル間からの検出コイル信号の差を取得し、当該取得した検出コイル信号の差より前記2つの励磁コイルと同じ周波数で位相が互いに直交する2つの信号を検波して、前記信号解析手段に入力する工程と、
前記信号解析手段により前記検波された2つの信号によって、前記被検査配管上の所定の位置における磁場の大きさのデータと前記位相のデータを算出し、当該位相に対して校正用の補正位相を加えたデータの正弦値あるいは余弦値を求め、前記磁場の大きさのデータと前記正弦値あるいは前記余弦値との積を求め、前記所定の位置における前記積の値を用いて欠陥を特定する工程と、を有し、
前記欠陥を特定する工程において、
前記校正用の補正位相は、前記所定の位置における前記位相に対して共通して加えることで前記位相を調整する共通の調整位相であり、
前記所定の位置における前記積の値は、前記共通の調整位相を任意に変化させて求められる前記所定の位置における前記積の値のうち、前記欠陥による磁場変化のみが抽出され得る共通の調整位相の時の前記所定の位置における前記積の値である非破壊検査方法である。
また、励磁コイルと検出コイルを一体化した2組の相互誘導コイルの差を取得するとともに、2つの励磁コイルは同方向に磁場を印加するので、被検査配管により大きな磁場をかけることができる。また、2つの検出コイルは互いに逆方向の磁場を検出するので被検査配管全体の信号は除去でき、欠陥による信号変化分だけを抽出することができる。
また、同様の用途及び機能を有する部材には同符号を付してその説明を省略する。
磁束探傷装置10は、被検査配管である断熱配管1(図6参照)に流れる磁束の変化を検出することにより断熱配管1の欠陥を探傷する非破壊検査装置であり、図1に示すように、検査部2、ロックイン検波手段であるロックイン検波器7、信号解析手段である信号解析装置8及び表示機構9を主に具備している。
なお、本実施例においては、検査部母材2−1を用いた構成としているが、特に限定するものではなく、検査部母材2−1を用いないで検査部2を構成とすることもできる。
なお、本実施例では、励磁コイルと検出コイルとを並行して配設し、相互誘導コイルを構成しているが、特に限定するものではなく、例えば、検出コイルの上部に励磁コイルを、あるいは励磁コイルの上部に検出コイルを配設するように構成してもかまわない。また、励磁コイル3−1と3−2を逆向きにした場合には、検出コイル4−1と4−2を同じ巻き方向にした組み合わせでもかまわない。
また、信号解析装置8には、前記校正用の補正位相を入力する入力手段(図示せず)が接続されている。
ここで、前記校正用の補正位相とは、磁場検出手段である検出コイル4−1、4−2の校正を行う際に、当該検出コイル4−1、4−2に対して共通して適用される位相調整用の位相のことである(以下、共通の調整位相αという)。
なお、上述した共通の調整位相αを変化させて、欠陥位置や大きさを検出するための最適なBxi・SIN(θi+α)を求める方法としては、Bxi・SIN(θi+α)として所定の閾値を予め設定しておき、信号解析装置8が有する図示しない演算手段により所定のプログラムを実行して最適なBxi・SIN(θi+α)を自動的に求めることも可能である。
なお、前記共通の調整位相αとしては、磁束探傷装置10に設けられた図示しない入力手段により任意の値を信号解析装置8に入力することが可能である。
例えば、従来の貫通型の相互誘導コイルにおいては、断熱配管に相互誘導コイルを導入すべき端部がない場合、断熱配管を切り離さないとを設置することができないが、本発明の相互誘導コイルを適用することにより断熱配管のどの部分でも、相互誘導コイルを分割して断熱配管に取り付けることができる。
このように検出コイル4−3、4−4が有するコイル部分を同じ向きに巻回し、励磁コイル13への通電時において電流の流れが逆方向となることで励磁コイル13の長手方向両端部のコイル部分は実質的に2つコイルを形成し、検出コイル4−3、4−4により微分コイルを構成し、検出コイル4−3と検出コイル4−4の間から検出コイル信号の差を取得することにより断熱配管1全体に由来する磁場信号を減衰させ、断熱配管1が有する欠陥由来の信号を精度よく検出することができる。また、検出コイル4−3、4−4は、ロックイン検波器7に接続されており、検出コイル4−3、4−4の出力はロックイン検波器7に入力される。
なお、本実施例では、励磁コイル13の長手方向両端部と検出コイル4−3、4−4とを並行かつ近接して配設し、相互誘導コイルを構成しているが、特に限定するものではなく、例えば、検出コイル4−3、4−4の上部に励磁コイルの長手方向両端部の円周方向に平行なコイル部分を、あるいは当該コイル部分の上部に検出コイル4−3、4−4を重ねるように配設する構成としてもかまわない。
2 検査部
2−1 検査部母材
3−1 励磁コイル
3−2 励磁コイル
4−1 検出コイル
4−2 検出コイル
5 励磁コイル用電源
6 発信器
7 ロックイン検波器
8 信号解析装置
9 表示機構
10 磁束探傷装置
11−1 コイル接続コネクタ
11−2 コイル接続コネクタ
Claims (6)
- 被検査配管の欠陥を非破壊検査する非破壊検査装置であって、
前記被検査配管を挿通し、当該被検査配管に対して当該被検査配管中心軸方向に平行な磁束を発生させる2つの励磁コイルと、
前記2つの励磁コイルの各々と一対となるように同軸上に配置され、前記2つの励磁コイルにより発生した前記被検査配管中心軸方向の磁場を検出する2つの検出コイルと、から構成された2組の相互誘導コイルと、
前記2つの検出コイルにおける各検出コイル間からの検出コイル信号の差を取得し、当該取得した検出コイル信号の差より前記2つの励磁コイルと同じ周波数で位相が互いに直交する2つの信号に検波するロックイン検波手段と、
当該ロックイン検波手段の出力信号における信号強度と位相変化を解析する信号解析手段と、を備え、
前記2組の相互誘導コイルにおける一方の励磁コイルと他方の励磁コイルは、前記被検査配管に対して同じ方向に磁場を印加するように同じ巻き方向とするとともに、前記一方の励磁コイルと前記他方の励磁コイルを直列接続し、
前記2組の相互誘導コイルにおける一方の検出コイルと他方の検出コイルは、それぞれが逆方向の磁場を検出するように反対巻き方向とするとともに、前記一方の検出コイルと前記他方の検出コイルを直列接続し、
前記信号解析手段は、前記ロックイン検波手段により検波された2つの信号によって、前記被検査配管上の所定の位置における磁場の大きさのデータと前記位相のデータを算出し、当該位相に対して校正用の補正位相を加えたデータの正弦値あるいは余弦値を求め、前記磁場の大きさのデータと前記正弦値あるいは前記余弦値との積を求め、前記所定の位置における前記積の値を用いて欠陥を特定し、
前記校正用の補正位相は、前記所定の位置における前記位相に対して共通して加えることで前記位相を調整する共通の調整位相であり、
前記所定の位置における前記積の値は、前記共通の調整位相を任意に変化させて求められる前記所定の位置における前記積の値のうち、前記欠陥による磁場変化のみが抽出され得る共通の調整位相の時の前記所定の位置における前記積の値であることを特徴とする非破壊検査装置。 - 前記被検査配管は、断熱配管であることを特徴とする請求項1に記載の非破壊検査装置。
- 前記相互誘導コイルにおける励磁コイルと検出コイルの各々のコイル円周上における所定位置で各々のコイルを分割及び接続可能な電気的接続コネクタを設けたことを特徴とする請求項1または請求項2に記載の非破壊検査装置。
- 前記断熱配管の円周上に沿うように所定の曲率を持った複数の長方形状の励磁コイルを並設し、当該並設された励磁コイルにおける前記断熱配管中心軸に平行なコイル配線部分の隣り合う同士を近接するあるいは重なり合うようにして、前記並設された励磁コイルのうち任意の励磁コイルに電流を流すための電流切換手段を設けるとともに、前記並設された励磁コイルにおける前記断熱配管円周方向に平行なコイル配線部分と近接するあるいは重なり合うように2つの検出コイルを設けたことを特徴とする請求項3に記載の非破壊検査装置。
- 前記断熱配管を挿通可能である円筒状の円筒母材を備え、
前記円筒母材は、
当該円筒母材の一部を軸方向に沿って分割して前記断熱配管の長手方向における任意の位置に取付け可能であるとともに、前記並設された励磁コイルの長手方向両端に前記2つの検出コイルを設け、前記円筒母体の分割位置を前記電気的接続コネクタの分割及び接続可能である部分と一致するように構成したことを特徴とする請求項4に記載の非破壊検査装置。 - 請求項1に記載の非破壊検査装置を用いて、
前記被検査配管の欠陥を非破壊検査する非破壊検査方法であって、
前記2つの励磁コイルに前記被検査配管を挿通し、前記2つの励磁コイルにより前記被検査配管に対して前記被検査配管中心軸方向に平行な磁束を発生させる工程と、
前記2つの励磁コイルにより発生した前記被検査配管中心軸方向の磁場を前記2つの検出コイルにより検出する工程と、
前記ロックイン検波手段により前記2つの検出コイルにおける各検出コイル間からの検出コイル信号の差を取得し、当該取得した検出コイル信号の差より前記2つの励磁コイルと同じ周波数で位相が互いに直交する2つの信号を検波して、前記信号解析手段に入力する工程と、
前記信号解析手段により前記検波された2つの信号によって、前記被検査配管上の所定の位置における磁場の大きさのデータと前記位相のデータを算出し、当該位相に対して校正用の補正位相を加えたデータの正弦値あるいは余弦値を求め、前記磁場の大きさのデータと前記正弦値あるいは前記余弦値との積を求め、前記所定の位置における前記積の値を用いて欠陥を特定する工程と、を有し、
前記欠陥を特定する工程において、
前記校正用の補正位相は、前記所定の位置における前記位相に対して共通して加えることで前記位相を調整する共通の調整位相であり、
前記所定の位置における前記積の値は、前記共通の調整位相を任意に変化させて求められる前記所定の位置における前記積の値のうち、前記欠陥による磁場変化のみが抽出され得る共通の調整位相の時の前記所定の位置における前記積の値であることを特徴とする非破壊検査方法。
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