JP2007005796A - リソグラフィ装置、投影装置及びデバイス製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】リソグラフィ装置は、基板テーブルの位置を制御するようになされた制御システムを備えており、制御システムは、投影システムの位置を表す投影システム位置信号を生成する第1の検出デバイスと、投影システム・フィードフォワード信号を生成する第2の検出デバイスと、基板テーブル位置基準信号から実際の基板テーブルの位置を表す信号を減算し、且つ、投影システム位置信号を加算することによってサーボ誤差信号を生成する比較ユニットと、サーボ誤差信号に基づいて第1の制御信号を生成する制御ユニットと、フィードフォワード信号と第1の制御信号を加算することによって第2の制御信号を生成する加算ユニットと、第2の制御信号に基づいて前記基板テーブルを所望の基板テーブル位置へ駆動するアクチュエータ・ユニットとを備えている。
【選択図】図3
Description
ステップ・モード:マスク・テーブルMT即ち「マスク・サポート」及び基板テーブルWT即ち「基板サポート」が基本的に静止状態に維持され、放射ビームに付与されたパターン全体が目標部分Cに1回で投影される(即ち単一静止露光)。次に、基板テーブルWT即ち「基板サポート」がX方向及び/又はY方向にシフトされ、異なる目標部分Cが露光される。ステップ・モードでは、露光視野の最大サイズによって、単一静止露光で画像化される目標部分Cのサイズが制限される。
走査モード:放射ビームに付与されたパターンが目標部分Cに投影されている間、マスク・テーブルMT即ち「マスク・サポート」及び基板テーブルWT即ち「基板サポート」が同期走査される(即ち単一動的露光)。マスク・テーブルMT即ち「マスク・サポート」に対する基板テーブルWT即ち「基板サポート」の速度及び方向は、投影システムPSの倍率(縮小率)及び画像反転特性によって決まる。走査モードでは、露光視野の最大サイズによって、単一動的露光における目標部分の幅(非走査方向の幅)が制限され、また、走査運動の長さによって目標部分の高さ(走査方向の高さ)が決まる。
その他のモード:プログラム可能パターニング・デバイスを保持するべくマスク・テーブルMT即ち「マスク・サポート」が基本的に静止状態に維持され、放射ビームに付与されたパターンが目標部分Cに投影されている間、基板テーブルWT即ち「基板サポート」が移動又は走査される。このモードでは、通常、パルス放射源が使用され、走査中、基板テーブルWT即ち「基板サポート」が移動する毎に、又は連続する放射パルスと放射パルスの間に、必要に応じてプログラム可能パターニング・デバイスが更新される。この動作モードは、上で参照したタイプのプログラム可能ミラー・アレイなどのプログラム可能パターニング・デバイスを利用しているマスクレス・リソグラフィに容易に適用することができる。
L=QF
AD 放射ビームの角強度分布を調整するためのアジャスタ
B 放射ビーム
BD ビーム引渡しシステム
C 制御ユニット
CO コンデンサ
er サーボ誤差
eu レンズ・トラッキング誤差(投影システム・トラッキング誤差)
F フィルタ・ユニット
IF 位置センサ
IL 照明システム(イルミネータ)
IN インテグレータ
L フィルタ
m 基板テーブルの質量(質量掛算器)
MA パターニング・デバイス(マスク)
MT マスク支持構造(マスク・テーブル)
M1、M2 マスク・アライメント・マーク
P 伝達関数
PM 第1の位置決めデバイス
PS 投影システム
PW 第2の位置決めデバイス
P1、P2 基板アライメント・マーク
Q フィードフォワード・フィルタ
r 基板テーブル位置基準信号
SO 放射源
u レンズの実際の位置を表す信号(レンズの位置)
W 基板
WT 基板テーブル
y 基板テーブルの実際の位置
Claims (18)
- パターン化された放射ビームを基板テーブルの上に支持されている基板の目標部分に投射するようになされた投影システムを備えたリソグラフィ装置であって、前記基板テーブルの位置を制御するようになされた制御システムを備え、前記制御システムが、
前記投影システムの位置を表す投影システム位置信号を生成するようになされた第1の検出デバイスと、
投影システム・フィードフォワード信号を生成するようになされた第2の検出デバイスと、
基板テーブル位置基準信号から実際の基板テーブルの位置を表す信号を減算し、且つ、前記投影システム位置信号を加算することによってサーボ誤差信号を生成するようになされた比較ユニットと、
前記サーボ誤差信号に基づいて第1の制御信号を生成するようになされた制御ユニットと、
前記投影システム・フィードフォワード信号と前記第1の制御信号を加算することによって第2の制御信号を生成するようになされた加算ユニットと、
前記第2の制御信号に基づいて前記基板テーブルを所望の基板テーブル位置へ駆動するようになされたアクチュエータ・ユニットとを備え、
前記制御システムが、前記基準基板テーブル位置信号への前記投影システム位置信号の加算に先立って前記投影システム位置信号をフィルタリングするようになされた投影システム位置信号フィルタ・ユニットをさらに備えたリソグラフィ装置。 - 前記投影システム位置信号フィルタ・ユニットが、前記サーボ誤差信号を最小化し、且つ/又は投影システム・トラッキング誤差を最小化するようになされた、請求項1に記載のリソグラフィ装置。
- 前記制御システムが、前記フィードフォワード信号を条件付けるようになされたフィードフォワード・フィルタ・ユニットを備え、前記投影システム位置信号フィルタ・ユニットの伝達関数の少なくとも一部が前記フィードフォワード・フィルタ・ユニットの伝達関数を含む、請求項1に記載のリソグラフィ装置。
- 前記制御システムが、前記第2の制御信号をフィルタリングするようになされた制御信号フィルタ・ユニットを備え、前記投影システム位置信号フィルタ・ユニットの伝達関数の少なくとも一部が前記制御信号フィルタ・ユニットの伝達関数を含む、請求項1に記載のリソグラフィ装置。
- 伝達関数1/ms2から逸脱するあらゆるシステム動特性が前記投影システム位置信号フィルタ・ユニットの伝達関数に実質的に包含された、請求項1に記載のリソグラフィ装置。
- 前記投影システム・フィードフォワード信号が前記投影システムの加速度を表す、請求項1に記載のリソグラフィ装置。
- 前記制御システムが、前記加算ユニットへの供給に先立って前記投影システム・フィードフォワード信号と前記基板テーブルのおおよその質量を掛算するようになされた掛算器ユニットを備えた、請求項6に記載のリソグラフィ装置。
- パターニング・デバイス・サポートの上に支持されているパターニング・デバイスによって付与されるパターン化放射ビームを投射するようになされた投影システムを備えたリソグラフィ装置であって、前記パターニング・デバイス・サポートの位置を制御するようになされた制御システムを備え、前記制御システムが、
前記投影システムの位置を表す投影システム位置信号を生成するようになされた第1の検出デバイスと、
投影システム・フィードフォワード信号を生成するようになされた第2の検出デバイスと、
パターニング・デバイス・サポート位置基準信号から実際のパターニング・デバイス・サポートの位置を表す信号を減算し、且つ、前記投影システム位置信号を加算することによってサーボ誤差信号を生成するようになされた比較ユニットと、
前記サーボ誤差信号に基づいて第1の制御信号を生成するようになされた制御ユニットと、
前記投影システム・フィードフォワード信号と前記第1の制御信号を加算することによって第2の制御信号を生成するようになされた加算ユニットと、
前記第2の制御信号に基づいて前記パターニング・デバイス・サポートを所望のパターニング・デバイス・サポート位置へ駆動するようになされたアクチュエータ・ユニットとを備え、
前記制御システムが、前記基準パターニング・デバイス・サポート位置信号への前記投影システム位置信号の加算に先立って前記投影システム位置信号をフィルタリングするようになされた投影システム位置信号フィルタ・ユニットをさらに備えたリソグラフィ装置。 - 第1のコンポーネント基準信号及び第2のコンポーネントの位置に基づいて第1のコンポーネントの位置を制御するようになされた制御システムを備えた投影装置であって、前記制御システムが、
前記第2のコンポーネントの位置を表す第2のコンポーネント位置信号を生成するようになされた第1の検出デバイスと、
第2のコンポーネント・フィードフォワード信号を生成するようになされた第2の検出デバイスと、
第1のコンポーネント位置基準信号から実際の第1のコンポーネントの位置を表す信号を減算し、且つ、前記第2のコンポーネント位置信号を加算することによってサーボ誤差信号を生成するようになされた比較ユニットと、
前記サーボ誤差信号に基づいて第1の制御信号を生成するようになされた制御ユニットと、
前記第2のコンポーネント・フィードフォワード信号と前記第1の制御信号を加算することによって第2の制御信号を生成するようになされた加算ユニットと、
前記第2の制御信号に基づいて前記第1のコンポーネントを所望の第1のコンポーネント位置へ駆動するようになされたアクチュエータ・ユニットとを備え、
前記制御システムが、前記基準第1コンポーネント位置信号への前記第2のコンポーネント位置信号の加算に先立って前記第2のコンポーネント位置信号をフィルタリングするようになされた第2のコンポーネント位置信号フィルタ・ユニットをさらに備えた投影装置。 - 基板テーブルの上に支持されている基板にパターン化された放射のビームを投射するために投影システムを使用するステップを含むデバイス製造方法であって、前記基板テーブルの位置を制御するようになされた制御システムが使用され、
前記投影システムの位置を表す投影システム位置信号が基板テーブル位置基準信号と実際の基板テーブルの位置の差に加算され、それにより制御ユニットの入力として使用されるサーボ誤差信号が得られ、フィードフォワード分岐内で投影システム・フィードフォワード信号が前記制御ユニットの第1の制御信号に加算され、それにより第2の制御信号が得られ、前記第2の制御信号を使用して前記基板テーブルが所望の基板テーブル位置へ駆動され、
前記基板テーブル位置基準信号と前記実際の基板テーブルの位置の前記差への加算に先立って投影システム位置信号フィルタ・ユニットによって前記投影システム位置信号がフィルタリングされるデバイス製造方法。 - 前記投影システム位置信号フィルタ・ユニットが、前記サーボ誤差信号を最小化し、且つ/又は投影システム・トラッキング誤差を最小化するようになされた、請求項10に記載の方法。
- 前記制御システムが、前記投影システム・フィードフォワード信号を条件付けるようになされたフィードフォワード・フィルタ・ユニットを備え、前記投影システム位置信号フィルタ・ユニットの伝達関数の少なくとも一部が前記フィードフォワード・フィルタ・ユニットの伝達関数を含む、請求項10に記載の方法。
- 前記制御システムが、前記第2の制御信号をフィルタリングするようになされた制御信号フィルタ・ユニットを備え、前記投影システム位置信号フィルタ・ユニットの伝達関数の少なくとも一部が前記制御信号フィルタ・ユニットの伝達関数に実質的に対応する、請求項10に記載の方法。
- 伝達関数1/ms2から逸脱するあらゆるシステム動特性が前記投影システム位置信号フィルタ・ユニットの伝達関数に実質的に包含された、請求項10に記載の方法。
- 前記投影システム・フィードフォワード信号が前記投影システムの加速度を表す、請求項10に記載の方法。
- 前記制御ユニットの前記制御信号への加算に先立って前記投影システム・フィードフォワード信号と実質的に前記基板テーブルの質量が掛算される、請求項15に記載の方法。
- パターニング・デバイス・サポートの上に支持されているパターニング・デバイスによってパターンが付与されるパターン化放射ビームを投射するために投影システムを使用するステップを含むデバイス製造方法であって、
前記パターニング・デバイス・サポートの位置を制御するようになされた制御システムが使用され、
前記投影システムの位置を表す投影システム位置信号がパターニング・デバイス・サポート位置基準信号と実際のパターニング・デバイス・サポートの位置の差に加算され、それにより制御ユニットの入力として使用されるサーボ誤差信号が得られ、
フィードフォワード分岐内で投影システム・フィードフォワード信号が前記制御ユニットの第1の制御信号に加算され、それにより第2の制御信号が得られ、
前記第2の制御信号を使用して前記パターニング・デバイス・サポートが所望のパターニング・デバイス・サポート位置へ駆動され、
前記パターニング・デバイス・サポート位置基準信号と前記実際のパターニング・デバイス・サポートの位置の前記差への加算に先立って投影システム位置信号フィルタ・ユニットによって前記投影システム位置信号がフィルタリングされるデバイス製造方法。 - 投影装置を使用するステップを含むデバイス製造方法であって、
第1のコンポーネント基準信号及び第2のコンポーネントの位置に基づいて第1のコンポーネントの位置を制御するようになされた制御システムが使用され、
前記第2のコンポーネントの位置を表す第2のコンポーネント位置信号が第1のコンポーネント位置基準信号と実際の第1のコンポーネントの位置の差に加算され、それにより制御ユニットの入力として使用されるサーボ誤差信号が得られ、
フィードフォワード分岐内で投影システム・フィードフォワード信号が前記制御ユニットの第1の制御信号に加算され、それにより第2の制御信号が得られ、
前記第2の制御信号を使用して前記第1のコンポーネントが所望の第1のコンポーネント位置へ駆動され、
前記第1のコンポーネント位置基準信号と前記実際の第1のコンポーネントの位置の前記差への加算に先立って第2のコンポーネント位置信号フィルタ・ユニットによって前記第2のコンポーネント位置信号がフィルタリングされるデバイス製造方法。
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