JP2000339032A - 同期位置制御装置および方法 - Google Patents

同期位置制御装置および方法

Info

Publication number
JP2000339032A
JP2000339032A JP11146350A JP14635099A JP2000339032A JP 2000339032 A JP2000339032 A JP 2000339032A JP 11146350 A JP11146350 A JP 11146350A JP 14635099 A JP14635099 A JP 14635099A JP 2000339032 A JP2000339032 A JP 2000339032A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
position control
command value
axis
synchronous
target
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP11146350A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3755862B2 (ja
Inventor
Koji Ito
浩司 伊藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP14635099A priority Critical patent/JP3755862B2/ja
Priority to US09/577,607 priority patent/US6714842B1/en
Priority to KR10-2000-0028554A priority patent/KR100375266B1/ko
Publication of JP2000339032A publication Critical patent/JP2000339032A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3755862B2 publication Critical patent/JP3755862B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B19/00Programme-control systems
    • G05B19/02Programme-control systems electric
    • G05B19/18Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70216Mask projection systems
    • G03F7/70358Scanning exposure, i.e. relative movement of patterned beam and workpiece during imaging
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces
    • G03F7/70716Stages
    • G03F7/70725Stages control
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B19/00Programme-control systems
    • G05B19/02Programme-control systems electric
    • G05B19/18Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form
    • G05B19/414Structure of the control system, e.g. common controller or multiprocessor systems, interface to servo, programmable interface controller
    • G05B19/4142Structure of the control system, e.g. common controller or multiprocessor systems, interface to servo, programmable interface controller characterised by the use of a microprocessor
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B2219/00Program-control systems
    • G05B2219/30Nc systems
    • G05B2219/45Nc applications
    • G05B2219/45204Die, mould making
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B2219/00Program-control systems
    • G05B2219/30Nc systems
    • G05B2219/50Machine tool, machine tool null till machine tool work handling
    • G05B2219/50218Synchronize groups of axis, spindles

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Control Of Position Or Direction (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Machine Tool Units (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 目標値に対する応答性の調整の自由度を向上
させる。単なる位置決め制御の場合には、整定時間を短
くすることができるようにする。そして、容易に設計で
きるような構成にする。 【解決手段】 各軸についての位置フィードバックによ
る位置制御手段5a〜5cと、各位置制御手段に対する
目標位置指令値を発生する目標位置指令値生成手段1a
〜1cとを備えた複数軸についての同期位置制御装置に
おいて、各位置制御手段に対する目標位置指令値に対
し、所定の伝達関数に従った変換を施して各位置制御手
段に出力する変換手段3a〜3cを設け、その伝達関数
の特性を各軸について同一とし、その特性を高域遮断特
性とし、かつその遮断周波数を、いずれの位置制御手段
におけるサーボ帯域よりも小さく設定する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はスキャン方式の半導
体露光装置、工作機械等における2つ以上の対象物につ
いて位置の同期関係を高精度で維持する必要のある分野
で利用される同期位置制御装置および方法に関する。
【0002】
【従来の技術】例えば金型加工の工作機械においては、
自由曲面を高精度で切削する必要がある。このような制
御を輪郭制御というが、この制御において重要なこと
は、各軸間の位置の同期性が性能を決めるという点にあ
る。すなわち、通常の位置制御系においては、目標位置
に対する追従誤差が重要な制御指標であるが、輪郭制御
においては、目標位置に対する追従性能よりも各軸の同
期性の方がより重要な性能である。この点を、例を用い
て説明する。
【0003】図12は工作機械のXYテーブルを想定し
た、XY平面上直交2軸についての従来の同期位置制御
系を示す。同図(a)はX軸位置制御系、(b)はY軸
位置制御系を示すが、各位置制御系は、目標位置指令値
生成手段1aおよび1bが出力する目標位置指令値2a
および2bに対して一次遅れ特性を有している。それら
の遮断周波数を表す位置ループゲイン40aおよび40
bをWoxおよびWoyとする。図15は、Wox=W
oy=5Hzとし、XY平面上で直線経路を描いたとき
の平面上の軌跡、すなわち、低ゲインの同期位置制御系
の追従軌跡を示す。図16(a)および(b)は、この
ときのX軸およびY軸の追従誤差、すなわち低ゲインの
同期位置制御系の時間応答を示す。また、図17は、W
ox=10Hz、Woy=12Hzと高いゲインに設定
し、XY平面上で直線を描いたときの平面上の軌跡、す
なわち高ゲインの同期位置制御系の追従軌跡を示す。図
18(a)および(b)は、このときのX軸およびY軸
の追従誤差、すなわち高ゲインの同期位置制御系の時間
応答を示す。図15および図16に示されるように低ゲ
インの場合は、位置制御系の追従性能は悪いが、同期性
能は高いシステムとなる。これに対し、高ゲインの場合
は、図17および図18に示されるように、位置制御系
の追従性能は良いが、同期性能は低いシステムとなる。
両者を比較すると、図15および図16の応答性の低い
システムの方が、追従誤差は大きいにもかかわらず、目
標経路に対する経路誤差が小さいことが分かる。
【0004】この例からわかるように、同期性能を重視
するシステムにおいては、単純に位置制御系のゲインを
高くし、追従性能を高くするだけでは良好な制御性能を
得ることはできず、各制御軸間の位置制御特性を一致さ
せ、同期制御性能を高めることが重要である。このよう
に、輪郭制御を行う工作機械の位置制御においては、各
制御軸のサーボ特性を可能な限り同一の特性に設定し、
各軸の同期関係を維持する必要がある。各軸のサーボ特
性が異なると、各軸間の同期関係が崩れ、切削目標経路
と実際の切削経路に誤差が発生し、加工精度を悪化させ
る。
【0005】従来、このような各軸間の同期関係を維持
する同期位置制御系を構成するために、工作機械では、
図13に示すような位置制御系を構成している。このサ
ーボ系は内部にゲインの高い速度制御ループ43を有
し、外部にゲインの低い位置制御ループ44を有する。
このような構成にする目的は、速度制御ループによって
系の安定性の確保と外乱抑圧を行い、位置制御ループに
よって目標値に対する各軸の応答性、特に同期性を確保
することにある。例えば、金型加工機において、制御軸
をX、Y、Zの3軸とすると、3軸の位置制御ループの
ゲインは一致している必要がある。しかし、速度制御ル
ープのゲインは必ずしも一致させることはできない。こ
れは機械的な要因によって各軸の機械構造が異なるた
め、速度制御ループのゲインを決める機械共振点が異な
るからである。すなわち、外乱抑制の観点からは速度制
御ループのゲインは可能な限り高いことが望ましいが、
機械共振の制約から、軸の速度制御ループのゲインは異
なるのが普通である。したがって、位置制御ループのゲ
インを一致させても、各軸の速度制御ループのゲインは
必ずしも一致していないため、位置目標値に対する各軸
の応答性は異なる。しかし、工作機械の位置制御系にお
いては、位置制御ループのゲインは速度制御ループのゲ
インの1/10倍以下の低い値に設定される。このよう
な場合、位置目標値に対する位置制御系の応答性には、
速度制御ループの特性がほとんど現れない。このため、
図13のような制御系によって、各軸の同期位置制御系
を構成できることになる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来の同期位置制御系によれば、速度制御ループが
位置制御ループの内部ループとなっているため、両者の
ゲイン設定が干渉することがある。すなわち、従来の使
用方法により位置制御ループのゲインを速度制御ループ
のゲインの1/10以下に設定する場合は2つのループ
の特性はほぼ独立に設定可能であるが、応答性の観点か
ら位置ループのゲインを高く設定する必要がある場合に
は、2つのループのゲインを大きく離しておくことは困
難になる。つまり、位置制御ループのゲインが高くなる
と、速度制御ループの特性が、位置目標値に対する応答
に現れてくる。このとき、各軸の速度制御ループの特性
が異なると、同期位置制御特性が悪化する。
【0007】また、従来の構成では、目標値に対する応
答性は位置制御ループゲインに支配されるため、同期位
置制御する必要のない単なる位置決め制御の場合には、
整定時間が長くなるなどの問題もある。また、目標値に
対する応答性は位置ループゲインを遮断周波数とする一
次遅れ系で近似されるが、逆に一次遅れ特性以外の応答
性が望ましい場合への対応が困難であるなどの問題があ
る。さらに、同期性能を決める位置制御系の特性がフィ
ードバック系であるため、制御の知識のない設計者には
同期制御系の構成が困難であるなどのシステム設計上の
問題もある。
【0008】本発明の目的は、このような従来技術の問
題点に鑑み、同期位置制御装置および方法において、第
1に、目標値に対する応答性の調整の自由度を向上させ
ることにある。第2に、単なる位置決め制御の場合に
は、整定時間を短くすることができるようにすることに
ある。第3に、容易に設計できるような構成にすること
にある。
【0009】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
本発明の第1の同期位置制御装置は、各軸についての位
置フィードバックによる位置制御手段と、各位置制御手
段に対する目標位置指令値を生成する目標位置指令値生
成手段とを備えた複数軸についての同期位置制御装置に
おいて、各位置制御手段に対する目標位置指令値に対
し、所定の伝達関数に従った変換を施して各位置制御手
段に出力する変換手段を備え、その伝達関数の特性は各
軸について同一であり、その特性は高域遮断特性であ
り、かつその遮断周波数は、いずれの位置制御手段にお
けるサーボ帯域よりも小さいことを特徴とする。
【0010】また、本発明の第1の同期位置制御方法
は、各軸についての位置フィードバックによる位置制御
手段に対して目標位置指令値を付与して複数軸について
の同期位置制御を行う同期位置制御方法において、伝達
関数の特性が各軸について同一であり、その特性は高域
遮断特性であり、かつその遮断周波数は、いずれの位置
制御手段におけるサーボ帯域よりも小さい変換手段によ
って変換を施してから前記目標位置指令値を各位置制御
手段に対して付与することを特徴とする。
【0011】従来は比較的応答性の低い位置制御手段で
同期位置制御装置を構成していたのに対し、これら本発
明では、応答性の高い位置制御手段で同期位置制御装置
を構成し、かつ各位置制御装置の前段に高域遮断特性を
もつフィルタ(変換手段)を設け、このフィルタの特性
を全制御軸で同一とし、フィルタの遮断周波数を全軸の
位置制御ループゲインのいずれよりも低く設定するよう
にしている。このように、応答性の高い位置制御ループ
の前段にそのようなフィルタを用いると、位置指令値に
対する応答性はほぼ、このフィルタの応答性に支配され
る。したがって、このフィルタの特性を全軸で同じに設
定すると、位置指令値に対する応答性は全軸ほぼ同じに
なるため、同期性能の高い同期位置制御装置が容易に構
成できることになる。また、前記フィルタ(変換手段)
の特性は系の安定性とは無関係に設定できるため、位置
指令値に対する応答性の調整の自由度が大きくなる。さ
らに、応答性を決めるフィルタは単に目標位置指令値を
変換するだけであるから、同期制御が不要な単なる位置
決め制御の場合には、このフィルタを介さないで目標位
置指令値を与えるなどの処理が可能であるため、位置決
め性能の高いシステムとして用いることも容易である。
【0012】本発明の第2の同期位置制御装置は、各軸
についての目標加速度指令値を生成する加速度指令値生
成手段と、各目標加速度指令値に対して、所定の伝達関
数に従った変換を施し、変換加速度指令値として出力す
る変換手段と、各変換加速度指令値を2回積分すること
により位置指令値に変換して出力する積分手段と、各変
換加速度指令値に所定の補償を施し、これをフィードフ
ォワード信号として出力する補償手段と、各位置指令値
およびフィードフォワード信号に基づき、各軸について
の位置フィードバックによる位置制御を行う位置制御手
段とを備え、各変換手段の伝達関数の特性は各軸につい
て同一であり、その特性は高域遮断特性であり、かつそ
の遮断周波数は、いずれの位置制御手段におけるサーボ
帯域よりも小さいことを特徴とする。
【0013】また、本発明の第2の同期位置制御方法
は、各軸についての目標加速度指令値を生成する加速度
指令値生成工程と、各目標加速度指令値に対して、所定
の伝達関数に従った変換を施し、変換加速度指令値とし
て出力する変換工程と、各変換加速度指令値を2回積分
することにより位置指令値に変換して出力する積分工程
と、各変換加速度指令値に所定の補償を施し、これをフ
ィードフォワード信号として出力する補償工程と、各位
置指令値およびフィードフォワード信号に基づき、各軸
についての位置フィードバックによる位置制御を行う位
置制御工程とを備え、前記変換工程における伝達関数の
特性は各軸について同一であり、その特性は高域遮断特
性であり、かつその遮断周波数は、いずれの軸について
の位置制御工程におけるサーボ帯域よりも小さいことを
特徴とする。これら第2の発明では、目標値のフィード
フォワードループを設けることにより、目標値に対する
追従性能を向上させるようにしている。また、フィード
フォワードループにおける補償手段の構造は単純であ
り、実施は容易である。
【0014】
【発明の実施の形態】本発明の第1の同期位置制御装置
または同期位置制御方法の好ましい実施形態において
は、各位置制御手段または位置制御工程の前段に前置フ
ィルタを挿入し、各軸における前記前置フィルタと位置
制御手段を合わせた伝達特性が全軸でほぼ同一となるよ
うに前記前置フィルタの特性を設定して、同期制御特性
を、より向上させるようにしている。
【0015】また、本発明の第1または第2の同期位置
制御装置または同期位置制御方法をスキャン方式の半導
体露光装置におけるウエハステージおよびレチクルステ
ージの2軸についての同期位置制御に適用する場合は、
そのうちの一方の軸についての追従位置に所定の係数を
乗ずる係数倍手段と、この係数倍された追従位置と他方
の軸についての追従位置との差である同期誤差に基づ
き、いずれかの軸における前記位置指令位値に加算すべ
き補正値を求める補正手段と、前記補正値をいずれかの
軸における前記位置指令値に加算する加算手段とを設
け、これにより同期位置制御性能を向上させるようにし
ている。
【0016】
【実施例】[実施例1]図1は本発明の第1の実施例に
係る同期位置制御装置を示すブロック線図である。ここ
では、この装置を、金型を切削するX、Y、Zの直交3
軸を輪郭制御する工作機械に適用した場合を想定してい
る。X軸を第1軸とし、YおよびZ軸をそれぞれ第2軸
および第3軸としている。なお、図1では、第1軸、第
2軸および第3軸の各要素の符号における後部のa、b
およびcにより各軸を区別している。
【0017】この装置は、図1に示すように、目標位置
指令値生成手段1aが発生する目標位置指令値2aを、
指令値変換手段3aにより高周波振動成分が遮断された
変換位置指令値4aに変換し、位置制御手段5aに印加
するように構成している。第2軸、第3軸についても第
1軸と同様に構成している。全軸の変換手段3a、3b
および3cは、周波数特性が同じで、かつ高域遮断特性
をもつ2次のフィルタである。位置制御手段5aは、図
14に示すような、位置制御ループによる単一ループの
構成を有する。この構成における位置補償手段45はP
ID補償器としている。第2軸および第3軸の位置制御
手段5bおよび5cの構成も、同様である。
【0018】この構成において、位置制御手段5a、5
bおよび5cの位置ループゲインは各々80Hz、90
Hz、100Hzとする。また、変換手段3a、3bお
よび3cの遮断周波数は5Hzとし、各軸の位置制御手
段の位置ループゲインより十分小さい値とする。このよ
うに設定すると、各軸の目標指令値に対する応答はほぼ
5Hzの高域遮断フィルタ(変換手段3a〜3c)の応
答に支配されるため、各軸での位置の応答性はほぼ等し
くなり、各軸間の同期性の高いシステムを構成すること
ができる。
【0019】すでに説明したように、従来の同期位置制
御系における1軸の構成は、図13のような速度制御ル
ープを内部にもつ構成である。この系の位置ループゲイ
ンを全軸ともに5Hzとし、速度制御ループのゲインは
第1軸、第2軸および第3軸のそれぞれにおいて80H
z、90Hzおよび100Hzとすると、例えば第1軸
および第2軸間の同期誤差は図19のようになる。そし
て、本実施例の場合における第1軸および第2軸間の同
期誤差は図20のようになる。したがって、両者の同期
制御性能はほぼ同じになる。
【0020】したがって、本実施例によれば、制御特性
の異なる位置制御手段をもつ位置制御系に対して、制御
系の特性を変えることなく、位置制御手段の前段に変換
手段を挿入するだけで、同期位置制御系を構成すること
ができる。このため、各種システムヘの適用が容易であ
る。なお、ここでは3軸の同期位置制御装置の例を示し
たが、軸数が増えても、1軸相当の構成を必要な軸数分
増やすことにより、多軸の同期位置制御装置を容易に構
成することができる。
【0021】[実施例2]図2は本発明の第2の実施例
に係る同期位置制御装置を示すブロック線図である。こ
の装置では、位置制御手段の前段に前置フィルタを設け
ることにより、目標値に対する各軸の位置制御特性を同
一とし、同期位置制御特性を向上させるようにしてい
る。すでに説明したように、複数軸を目標位置指令値に
同期させて移動するためには、各制御軸の目標値に対す
る応答性を一致させる必要がある。このために、上述の
実施例では、位置指令値に対する応答性の異なる各位置
制御手段の前段に、同一の特性をもつ高域遮断フィルタ
(変換手段)を設置することにより位置制御の同期性を
高めている。本実施例ではさらに、前置フィルタと位置
制御手段を合わせた伝達特性が、全軸で一致するように
構成している。
【0022】すなわち、図2に示すように、位置制御手
段5a、5bおよび5cの伝達関数を各々G1、G2お
よびG3とし、前置フィルタ7a、7bおよび7cの伝
達関数をF1、F2およびF3とすれば、F1*G1=
F2*G2=F3*G3となるように前置フィルタ7
a、7bおよび7cを設定することにより、全軸につい
て前置フィルタ7a〜7c以降の位置制御手段5a〜5
cにおける位置目標値信号から追従位置への伝達関数が
すべて等しくなるようにしている。ここでは、伝達関数
F1は1とし、F2=G1/G2、F3=G1/G3と
定めてある。したがって、原理的には各軸間の同期位置
誤差は零である。実際には伝達関数G1、G2、G3等
は高次の伝達関数となり、高次の項の係数を求めること
は困難であり、また、係数が変動するなどの問題もある
ため、伝達関数F2およびF3を前記のように定めるこ
とは困難である。このため、これらの伝達関数を近似し
た形で補償器7bおよび7cの伝達関数F2およびF3
を定めることになるが、その場合でも、実施例1で示し
た系に比べ、同期制御特性が、より向上したものとな
る。
【0023】[実施例3]図3は本発明の第3の実施例
に係る同期位置制御装置を示すブロック線図である。こ
の例では、目標値のフィードフォワードループを設ける
ことにより、目標値に対する追従性能を向上させるよう
にしている。実施例2のような前置フィルタによる伝達
特性の変更では、前置フィルタの伝達関数が複雑にな
る。これに対し、本実施例のフィードフォワードループ
による方法は、補償器の構造が単純であり、実現が容易
である。
【0024】図3の装置における第1軸の動作を説明す
る。他の軸についても動作は同じである。同図に示すよ
うに、目標加速度指令値生成手段10aが生成する目標
加速度指令値11aは、変換手段3aにより高周波成分
が遮断され、変換加速度指令値12aになる。この変換
加速度信号12aは積分手段15aにより2回積分さ
れ、位置指令値16aになり、位置制御手段5aに印加
される。また、変換加速度信号12aは補償手段13a
によりフィードフォワード信号14aに変換されて位置
制御手段5aに印加される。位置制御手段5aは位置指
令値16aとフィードフォワード信号14aにより駆動
される。
【0025】図3ではフィード・フォワード処理の詳細
が分かりにくいため、図9に図3の第1軸の位置制御手
段5aの詳細な構成を示す。他の軸についても構成は同
じである。図9に示すように、位置指令値信号16aと
制御対象22aの追従位置6aとの差分により位置誤差
20aが求められる。位置補償器21aは位置誤差20
aに基づいて補償制御入力23aを計算する。位置補償
器21aは、通常はPID補償器である。そして、補償
手段13aにより出力されたフィードフォワード信号1
4aと補償制御入力23aとの和である制御入力24a
が、制御対象22aを駆動する。
【0026】フィードフォワード信号14aは制御対象
22aの特性により決定される。追従位置6aが目標位
置指令値16aに対して完全に追従するようにすると、
図9の構成の場合、フィードフォワード信号14aを計
算する補償手段13aの特性H1は、次のようにして求
めることができる。
【0027】
【数1】H1=(1/s^2)/S1
【0028】ここで、sはラプラス演算子である。制御
対象22aが図10のようなモデルで表される場合の補
償器13aの特性H1は、次のようにして求めることが
できる。図10は、アクチュエータとしてリニアモータ
を用いた簡単な機械系による制御対象を示す。図中、M
はステージ55の質量、Kiは電流増幅器51のゲイ
ン、Ktはリニアモータ53の推力定数である。この系
への制御入力は電流指令値50である。数1式に図10
のモデルの特性を代入すると、この例における補償器1
3aの特性は次のように求められる。
【0029】
【数2】H1=M/(Kt*Ki)
【0030】[実施例4]図4は本発明の第4の実施例
に係る同期位置制御装置を示すブロック線図である。こ
の例では、制御対象軸を2軸に限定し、この2軸間の同
期誤差に基づく補正を施すことにより同期位置制御性能
を向上させるようにしている。このような制御は、2つ
の制御対象の位置関係が比例関係にあることが望ましい
系で有効である。実際の対象としては、スキャン方式の
半導体露光装置におけるウエハステージとレチクルステ
ージの同期位置制御系や、門型の工作機械において2つ
のコラムを別個のアクチュエータで制御する場合等が該
当する。
【0031】図4の構成は、この同期補正を用いたシス
テムの基本的な構成である。この構成における動作を説
明する。目標位置生成手段1aが生成する目標位置指令
値2aは、フィルタ3aにおいて、高周波振動成分が遮
断され、新たな位置指令値4aとなる。この位置指令値
4aは、第1の位置制御手段5aへの位置指令値とな
る。また、第2軸に対する位置目標値生成手段1bが生
成する位置指令値2bは変換手段3bにより変換位置指
令値4bとなる。一方、第2の位置制御手段5bの追従
位置6bと、第1の位置制御手段の位置6aを所定の係
数Kだけ乗じた位置との差分より同期誤差33が求めら
れる。同期補正手段34は同期誤差33を入力とし、同
期補正値35を出力する。同期補正手段34はここでは
積分補償器とする。変換位置指令値4bと同期補正値3
5との和が、第2の位置制御手段5bに対する位置指令
値となる。
【0032】このように、2軸間の同期誤差を求めて補
償する制御ループを同期ループと呼ぶことにする。この
ような同期ループをもつ構成により、第1軸と第2軸の
追従位置に同期誤差が生じた場合でも、同期補償器34
によりこの誤差分だけ第2軸を移動することにより、2
軸の同期関係を維持することができる。
【0033】このような構成が実施例1〜3の同期ルー
プのない構成と最も異なる点は、外乱に対する特性であ
る。すなわち、同期ループのない構成では、各軸に入る
外乱は各軸のサーボ特性のみによって抑圧される。これ
に対し、同期ループをもつ構成では、第1軸に入った外
乱の抑圧できなかった分は、同期ループによって第2軸
を移動することにより低減することができる。このた
め、同期ループをもつ構成の方が同期ループのない構成
に比べて同期位置制御性能が高い。なお、本実施例では
同期補償器34として単純な積分補償器(I補償器)を
用いたが、この代わりにPI補償器、PID補償器等に
よって構成することもできる。
【0034】[実施例5]実施例4では第2軸の目標位
置指令値を独立に生成したが、図5に示す本発明の第5
の実施例のように、第1軸の位置目標値4aを係数倍手
段32によってK倍することにより第2軸の変換位置指
令値4bを求め、実施例4における第2軸の目標値生成
手段1bおよび変換手段3bを省略するようにしてもよ
い。
【0035】[実施例6]図6は図2の実施例2の構成
に同期補償のループを付加した第6の実施例に係る同期
位置制御装置を示すブロック線図である。実施例4また
は5の方法で十分な同期精度が得られない場合には、図
6の構成により同期性能を向上させることができる。こ
の構成においても、第2軸の目標指令値は実施例5で示
したように第1軸の位置指令値を係数倍することによっ
て求めている。
【0036】この装置では、実施例2で説明したよう
に、2軸の目標値に対する同期性能を向上させるため、
位置制御手段5aの前段に前置フィルタ7aを挿入して
ある。そして、第1軸および第2軸の位置制御手段の伝
達関数を、各々G1およびG2とし、各々の位置制御手
段5aおよび5bの前段に挿入する前置フィルタ7aお
よび7bの伝達関数をF1およびF2とすれば、F1*
G1=F2*G2となるようにF1とF2を設定する。
このとき、目標位置指令値に対する位置制御手段5aお
よび5bの追従特性はまったく同じになるため、目標位
置に対する同期誤差を零にすることができる。ただし、
外乱に対する同期誤差は前置フィルタ7aおよび7bで
は補償できないため、同期ループは外乱の影響を低減す
るために有効である。
【0037】[実施例7]図7は本発明の第7の実施例
に係る同期位置制御装置を示すブロック線図である。実
施例3において説明したように、実施例6の前置フィル
タを用いる方式は前置フィルタの構造が複雑になり、実
現が困難な場合がある。そこで、本実施例では、目標加
速度信号11aからフィードフォワード信号14aおよ
び14bを生成して位置制御手段5aおよび5bを駆動
するようにしており、実現が容易である。この装置の動
作は実施例3および4で説明したものとほぼ同じであ
る。
【0038】[実施例8]図11は本発明の第8の実施
例に係るスキャン方式の露光装置を示す側面図である。
実施例1〜7では特に対象を限定していなかったが、こ
こではこのスキャン方式の露光装置に対して本発明を適
用した例を示す。この露光装置では、レチクルステージ
55bを支持するレチクルステージ定盤71は、ウエハ
ステージ55aを支持する定盤92に立設されたフレー
ム94と一体となっている。またレチクルステージ55
b上のレチクルを経てウエハステージ55a上のウエハ
Wを露光する露光光は、破線で示す光源装置95から発
生される。フレーム94は、レチクルステージ定盤71
を支持するとともに、レチクルステージ55bとウエハ
ステージ55aの間において投影光学系96を支持す
る。レチクルステージ55bを加速および減速するリニ
アモータの固定子75がフレーム94と別体である支持
枠90によって支持されているため、レチクルステージ
55bのモータの駆動反力がウエハステージ55aに伝
わって、その駆動部の外乱となったり、あるいは投影光
学系96を振動させるおそれはない。
【0039】この構成において、ウエハステージ55a
は、駆動部によってレチクルステージ55bと同期して
走査移動される。レチクルステージ55bとウエハステ
ージ55aの走査移動中、両者の位置はそれぞれレーザ
干渉計98および97によって継続的に検出され、レチ
クルステージ55bとウエハステージ55aの駆動部に
それぞれフィードバックされる。これによって、両者の
走査開始位置を正確に同期させるとともに、定速走査領
域での走査速度を高精度で制御することができる。
【0040】この露光装置に対して第7の実施例をより
詳細に示した図8の制御系を適用した場合の動作を説明
する。ただしこの場合、ウエハステージ55aとレチク
ルステージ55bは、レンズ96の光学中心を原点とし
て、レンズ96の投影倍率に対応する位置関係で同期位
置制御される。したがって、図8の係数倍手段31およ
び32における比例定数Kは、ここではレンズの投影倍
率になり、この例では4倍である。また、制御対象であ
るウエハステージ55aおよびレチクルステージ55b
はともに図10で示される構成を有するものとする。ウ
エハステージ55aとレチクルステージ55bに係る部
分は、符号にそれぞれaおよびbを含めて区別してあ
る。
【0041】図8に示すように、目標加速度指令値生成
手段10aが生成するウエハステージ55aに対する加
速度指令値11aは、前置フィルタ3aにより高周波成
分の遮断された変換加速度信号12aとなり、積分手段
15aにより2回積分され、ウエハ位置制御手段5a
に、位置指令値16aとして与えられる。ウエハ位置制
御手段5aにおいては、位置指令値16aとレーザ干渉
計97により計測されたウエハ追従位置6aとの差分で
ある位置誤差20aが位置補償器21aに入力される。
また、変換加速度信号12aは補償手段13aによりフ
ィードフォワード信号14aに変換され、これと、位置
補償器21aの出力信号23aとの和である制御入力2
4aが制御対象22aに入力される。制御対象22aは
図10に示される構成を有する。すなわち、制御入力2
4aは電流指令値50として入力され、電流増幅器51
により増幅されて電流52となり、アクチュエータであ
るリニアモータ53に印加され、推力54を発生する。
この推力54によりウエハステージ55aが駆動され
る。このときの追従位置6aはレーザ干渉計97により
計測される。
【0042】レチクルステージ55bもウエハステージ
55aと同様にして駆動される。すなわち、ウエハステ
ージ55aへの位置指令値16aは、係数倍手段32に
よりレンズの投影倍率である4倍がなされて、レチクル
ステージ55bへの位置目標指令値16bとなる。ま
た、計測されたウエハ追従位置6aは、係数倍手段31
により投影倍率である4倍がなされ、レチクルステージ
55bの計測位置6bとの差分がとられて同期誤差33
が求められる。同期誤差33は補正手段34により補正
値信号35に変換される。そして、補正値信号35と、
ウエハ位置目標値16aの4倍された値との和よりレチ
クルステージ55bへの位置目標値16bが生成され
る。レチクル位置制御手段5bでは、位置指令値16b
とレーザ干渉計98により計測されたレチクル追従位置
6bとの差分である位置誤差20bが位置補償器21b
に入力される。また、変換加速度信号12aは係数倍手
段36により4倍され、補償手段13bによりフィード
フォワード信号14bに変換される。このフィードフォ
ワード信号14bと、位置補償器21bの出力である補
償制御入力23bとの和から制御対象22bに対する制
御入力24bが生成される。制御対象22bはウエハス
テージ55aの場合と同様に、図10に示される構成を
有する。したがって、制御入力24bは電流指令値50
として入力され、電流増幅器51により増幅されて電流
52となり、アクチュエータであるリニアモータ53に
印加され、推力54を発生する。この推力54によりレ
チクルステージ55bが駆動される。このときのレチク
ル追従位置6bは、レーザ干渉計98により計測され
る。なお、本実施例では第1軸をウエハステージ55
a、第2軸をレチクルステージ55bとしてシステムを
構成する場合の例を示したが、第1軸と第2軸が逆であ
っても同様にしてシステムを構成することができるのは
当然である。
【0043】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
目標位置指令値に対する変換手段を設け、その特性を、
各軸について同一でかつ高域遮断特性とし、かつ遮断周
波数をいずれの位置制御手段におけるサーボ帯域よりも
小さいものとしたため、目標位置指令値に対する応答性
を全軸ほぼ同一とし、同期性能の高い同期位置制御装置
を容易に設計して構成することができる。また、目標位
置指令値に対する応答性の調整の自由度を向上させるこ
とができる。さらに、同期制御が不要な単なる位置決め
制御の場合には、変換手段を介さないで目標位置指令値
を与える等により、位置決め性能の高いシステムとして
用いることも容易となる。
【0044】また、さらに、位置制御手段の前段に前置
フィルタを挿入し、各軸における前置フィルタと位置制
御手段を合わせた伝達特性が全軸でほぼ同一となるよう
に前置フィルタの特性を設定することにより、同期制御
特性をより向上させることができる。また、さらに、変
換加速度指令値に基づくフィードフォワード信号にも基
づいて位置制御を行うことにより、目標値に対する追従
性能をも向上させることができ、かつ装置をより容易に
構成することができる。また、2軸についての同期位置
制御に適用する場合は、同期ループを設けることによ
り、同期位置制御性能をさらに向上させることができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の第1の実施例に係る同期位置制御装
置を示すブロック線図である。
【図2】 本発明の第2の実施例に係る同期位置制御装
置を示すブロック線図である。
【図3】 本発明の第3の実施例に係る同期位置制御装
置を示すブロック線図である。
【図4】 本発明の第4の実施例に係る同期位置制御装
置を示すブロック線図である。
【図5】 本発明の第5の実施例に係る同期位置制御装
置を示すブロック線図である。
【図6】 本発明の第6の実施例に係る同期位置制御装
置を示すブロック線図である。
【図7】 本発明の第7の実施例に係る同期位置制御装
置を示すブロック線図である。
【図8】 本発明の第8の実施例に係る同期位置制御装
置を示すブロック線図である。
【図9】 図3の装置における位置制御手段の構成を示
すブロック線図である。
【図10】 図8および図9における制御対象の構成を
示すブロック線図である。
【図11】 本発明の第8の実施例に係るスキャン方式
の露光装置を示す側面図である。
【図12】 従来の同期位置制御系の構成を示すブロッ
ク線図である。
【図13】 従来の位置制御系の構成を示すブロック線
図である。
【図14】 図1の位置制御装置における位置制御手段
の構成を示すブロック線図である。
【図15】 図12の同期位置制御系による低ゲインの
場合の輪郭制御の特性を示す、追従軌跡のグラフであ
る。
【図16】 図12の同期位置制御系による低ゲインの
場合の輪郭制御の特性を示す、時間応答のグラフであ
る。
【図17】 図12の同期位置制御系による高ゲインの
場合の輪郭制御の特性を示す、追従軌跡のグラフであ
る。
【図18】 図12の同期位置制御系による高ゲインの
場合の輪郭制御の特性を示す、時間応答のグラフであ
る。
【図19】 図13の従来の位置制御系を用いた同期位
置制御系における同期誤差を示すグラフである。
【図20】 図1の同期位置制御装置における同期誤差
を示すグラフである。
【符号の説明】
1a〜1c:目標位置指令値生成手段、2a〜2c:目
標位置指令値、3a〜3c:変換手段、4a〜4c:変
換位置指令値、5a〜5c:位置制御手段、6a〜6
c:追従位置信号、7a〜7c:前置フィルタ、10a
〜10c:目標加速度指令値生成手段、11a〜11
c:目標加速度指令値、12a〜12c:変換加速度指
令値、13a〜13c:補償手段、14a〜14c:フ
ィードフォワード信号、15a〜15c:積分手段、1
6a〜16c:位置指令値、20a,20b:位置誤
差、21a,21b:位置補償手段、22a,22b:
制御対象、23a,23b:補償制御入力、24a,2
4b:制御入力、31:係数倍手段、32:係数倍手
段、33:同期誤差、34:補正手段、35:補正値信
号、36:係数倍手段、40,40a,40b:位置ル
ープゲイン、41:速度補償手段、42:制御対象、4
3:速度制御ループ、44:位置制御ループ、45:位
置補償手段、50:電流指令値、51:電流増幅器、5
2:電流、53:リニアモータ、54:推力、55:ス
テージ、56:位置信号、55a:ウエハステージ、5
5b:レチクルステージ、71:レチクルステージ定
盤、72:リニアモータベース、90:支持枠、92:
定盤、94:フレーム、95:光源装置、96:投影光
学系、97:ウエハステージ位置計測レーザ干渉計、9
8:レチクルステージ位置計測レーザ干渉計。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01L 21/68 B23Q 1/18 A Fターム(参考) 3C048 BB12 DD06 DD26 5F031 HA55 5F046 BA05 CC01 CC02 CC03 DA08 5H303 AA01 AA06 BB03 BB08 BB12 CC01 CC04 DD01 EE03 EE07 FF03 KK02 KK17 KK28 LL03 MM05

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 各軸についての位置フィードバックによ
    る位置制御手段と、各位置制御手段に対する目標位置指
    令値を発生する目標位置指令値生成手段とを備えた複数
    軸についての同期位置制御装置において、各位置制御手
    段に対する目標位置指令値に対し、所定の伝達関数に従
    った変換を施して各位置制御手段に出力する変換手段を
    備え、その伝達関数の特性は各軸について同一であり、
    その特性は高域遮断特性であり、かつその遮断周波数
    は、いずれの位置制御手段におけるサーボ帯域よりも小
    さいことを特徴とする同期位置制御装置。
  2. 【請求項2】 各位置制御手段の前段に前置フィルタを
    挿入し、各軸における前記前置フィルタと位置制御手段
    を合わせた伝達特性が全軸でほぼ同一となるように前記
    前置フィルタの特性を設定したことを特徴とする請求項
    1に記載の同期位置制御装置。
  3. 【請求項3】 各軸についての目標加速度指令値を生成
    する加速度指令値生成手段と、各目標加速度指令値に対
    して、所定の伝達関数に従った変換を施し、変換加速度
    指令値として出力する変換手段と、各変換加速度指令値
    を2回積分することにより位置指令値に変換して出力す
    る積分手段と、各変換加速度指令値に所定の補償を施
    し、これをフィードフォワード信号として出力する補償
    手段と、各位置指令値およびフィードフォワード信号に
    基づき、各軸についての位置フィードバックによる位置
    制御を行う位置制御手段とを備え、各変換手段の伝達関
    数の特性は各軸について同一であり、その特性は高域遮
    断特性であり、かつその遮断周波数は、いずれの位置制
    御手段におけるサーボ帯域よりも小さいことを特徴とす
    る同期位置制御装置。
  4. 【請求項4】 前記複数軸は2軸であり、そのうちの一
    方の軸についての追従位置に所定の係数を乗ずる係数倍
    手段と、この係数倍された追従位置と他方の軸について
    の追従位置との差である同期誤差に基づき、いずれかの
    軸における前記位置指令位値に加算すべき補正値を求め
    る補正手段と、前記補正値をいずれかの軸における前記
    位置指令値に加算する加算手段とを備えたことを特徴と
    する請求項1〜3のいずれか1項に記載の同期位置制御
    装置。
  5. 【請求項5】 前記一方の軸はスキャン方式の半導体露
    光装置のウエハステージであり、他方の軸はそのレチク
    ルステージであることを特徴とする請求項4に記載の同
    期位置制御装置。
  6. 【請求項6】 各軸についての位置フィードバックによ
    る位置制御手段に対して目標位置指令値を付与して複数
    軸についての同期位置制御を行う同期位置制御方法にお
    いて、伝達関数の特性が各軸について同一であり、その
    特性は高域遮断特性であり、かつその遮断周波数は、い
    ずれの位置制御手段におけるサーボ帯域よりも小さい変
    換手段によって変換を施してから前記目標位置指令値を
    各位置制御手段に対して付与することを特徴とする同期
    位置制御方法。
  7. 【請求項7】 各軸についての目標加速度指令値を生成
    する加速度指令値生成工程と、各目標加速度指令値に対
    して、所定の伝達関数に従った変換を施し、変換加速度
    指令値として出力する変換工程と、各変換加速度指令値
    を2回積分することにより位置指令値に変換して出力す
    る積分工程と、各変換加速度指令値に所定の補償を施
    し、これをフィードフォワード信号として出力する補償
    工程と、各位置指令値およびフィードフォワード信号に
    基づき、各軸についての位置フィードバックによる位置
    制御を行う位置制御工程とを備え、前記変換工程におけ
    る伝達関数の特性は各軸について同一であり、その特性
    は高域遮断特性であり、かつその遮断周波数は、いずれ
    の軸についての位置制御工程におけるサーボ帯域よりも
    小さいことを特徴とする同期位置制御方法。
JP14635099A 1999-05-26 1999-05-26 同期位置制御装置および方法 Expired - Fee Related JP3755862B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14635099A JP3755862B2 (ja) 1999-05-26 1999-05-26 同期位置制御装置および方法
US09/577,607 US6714842B1 (en) 1999-05-26 2000-05-25 Synchronous position control apparatus and method
KR10-2000-0028554A KR100375266B1 (ko) 1999-05-26 2000-05-26 동기위치제어장치 및 방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14635099A JP3755862B2 (ja) 1999-05-26 1999-05-26 同期位置制御装置および方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2000339032A true JP2000339032A (ja) 2000-12-08
JP3755862B2 JP3755862B2 (ja) 2006-03-15

Family

ID=15405734

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP14635099A Expired - Fee Related JP3755862B2 (ja) 1999-05-26 1999-05-26 同期位置制御装置および方法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US6714842B1 (ja)
JP (1) JP3755862B2 (ja)
KR (1) KR100375266B1 (ja)

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004343115A (ja) * 2003-05-13 2004-12-02 Asml Netherlands Bv 制御システム、リソグラフィ装置、デバイス製造方法、およびそれによって製造されたデバイス
JP2006302201A (ja) * 2005-04-25 2006-11-02 Mitsubishi Electric Corp サーボ制御装置
JP2007005796A (ja) * 2005-06-20 2007-01-11 Asml Netherlands Bv リソグラフィ装置、投影装置及びデバイス製造方法
JP2007173808A (ja) * 2005-12-22 2007-07-05 Asml Netherlands Bv リソグラフィ装置およびデバイス製造方法
JP2008004007A (ja) * 2006-06-26 2008-01-10 Nagaoka Univ Of Technology 位置制御装置、位置制御方法、ロボット制御装置およびロボット制御方法
JP2011086892A (ja) * 2009-10-19 2011-04-28 Canon Inc 位置制御装置、露光装置およびデバイス製造方法
CN103681429A (zh) * 2013-12-25 2014-03-26 武汉工程大学 一种芯片固晶机的控制方法及控制系统
US9772619B2 (en) 2014-01-23 2017-09-26 Mitsubishi Electric Corporation Motor control device
WO2019123998A1 (ja) 2017-12-18 2019-06-27 オムロン株式会社 同期制御装置

Families Citing this family (94)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1309289A2 (en) 2000-08-18 2003-05-14 Atritech, Inc. Expandable implant devices for filtering blood flow from atrial appendages
JP4261979B2 (ja) * 2003-05-12 2009-05-13 キヤノン株式会社 位置決め装置、露光装置およびデバイス製造方法
US7133115B2 (en) 2003-10-14 2006-11-07 Canon Kabushiki Kaisha Positioning device, exposure apparatus using the positioning device, and device production method
JP4236103B2 (ja) * 2003-11-25 2009-03-11 本田技研工業株式会社 アクチュエータの制御装置
US7329279B2 (en) 2003-12-23 2008-02-12 Sadra Medical, Inc. Methods and apparatus for endovascularly replacing a patient's heart valve
US8840663B2 (en) 2003-12-23 2014-09-23 Sadra Medical, Inc. Repositionable heart valve method
US8579962B2 (en) 2003-12-23 2013-11-12 Sadra Medical, Inc. Methods and apparatus for performing valvuloplasty
US7824443B2 (en) 2003-12-23 2010-11-02 Sadra Medical, Inc. Medical implant delivery and deployment tool
US8052749B2 (en) 2003-12-23 2011-11-08 Sadra Medical, Inc. Methods and apparatus for endovascular heart valve replacement comprising tissue grasping elements
US8603160B2 (en) * 2003-12-23 2013-12-10 Sadra Medical, Inc. Method of using a retrievable heart valve anchor with a sheath
US7780725B2 (en) 2004-06-16 2010-08-24 Sadra Medical, Inc. Everting heart valve
US20050137687A1 (en) 2003-12-23 2005-06-23 Sadra Medical Heart valve anchor and method
US9005273B2 (en) 2003-12-23 2015-04-14 Sadra Medical, Inc. Assessing the location and performance of replacement heart valves
US9526609B2 (en) 2003-12-23 2016-12-27 Boston Scientific Scimed, Inc. Methods and apparatus for endovascularly replacing a patient's heart valve
US7748389B2 (en) * 2003-12-23 2010-07-06 Sadra Medical, Inc. Leaflet engagement elements and methods for use thereof
US20120041550A1 (en) 2003-12-23 2012-02-16 Sadra Medical, Inc. Methods and Apparatus for Endovascular Heart Valve Replacement Comprising Tissue Grasping Elements
US20050137694A1 (en) 2003-12-23 2005-06-23 Haug Ulrich R. Methods and apparatus for endovascularly replacing a patient's heart valve
US8287584B2 (en) 2005-11-14 2012-10-16 Sadra Medical, Inc. Medical implant deployment tool
US20050137691A1 (en) * 2003-12-23 2005-06-23 Sadra Medical Two piece heart valve and anchor
EP2529696B1 (en) 2003-12-23 2014-01-29 Sadra Medical, Inc. Repositionable heart valve
US7445631B2 (en) * 2003-12-23 2008-11-04 Sadra Medical, Inc. Methods and apparatus for endovascularly replacing a patient's heart valve
US7381219B2 (en) 2003-12-23 2008-06-03 Sadra Medical, Inc. Low profile heart valve and delivery system
US8182528B2 (en) 2003-12-23 2012-05-22 Sadra Medical, Inc. Locking heart valve anchor
US8343213B2 (en) 2003-12-23 2013-01-01 Sadra Medical, Inc. Leaflet engagement elements and methods for use thereof
US20050137686A1 (en) * 2003-12-23 2005-06-23 Sadra Medical, A Delaware Corporation Externally expandable heart valve anchor and method
US7824442B2 (en) * 2003-12-23 2010-11-02 Sadra Medical, Inc. Methods and apparatus for endovascularly replacing a heart valve
US11278398B2 (en) 2003-12-23 2022-03-22 Boston Scientific Scimed, Inc. Methods and apparatus for endovascular heart valve replacement comprising tissue grasping elements
US7959666B2 (en) 2003-12-23 2011-06-14 Sadra Medical, Inc. Methods and apparatus for endovascularly replacing a heart valve
US7379156B2 (en) * 2004-12-29 2008-05-27 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
DE102005003632A1 (de) 2005-01-20 2006-08-17 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Katheter für die transvaskuläre Implantation von Herzklappenprothesen
US7962208B2 (en) 2005-04-25 2011-06-14 Cardiac Pacemakers, Inc. Method and apparatus for pacing during revascularization
US20060287668A1 (en) * 2005-06-16 2006-12-21 Fawzi Natalie V Apparatus and methods for intravascular embolic protection
US7712606B2 (en) 2005-09-13 2010-05-11 Sadra Medical, Inc. Two-part package for medical implant
US20080188928A1 (en) * 2005-09-16 2008-08-07 Amr Salahieh Medical device delivery sheath
US20070213813A1 (en) 2005-12-22 2007-09-13 Symetis Sa Stent-valves for valve replacement and associated methods and systems for surgery
EP1988851A2 (en) 2006-02-14 2008-11-12 Sadra Medical, Inc. Systems and methods for delivering a medical implant
JP4630853B2 (ja) * 2006-03-30 2011-02-09 日立ビアメカニクス株式会社 移動体の位置決め制御装置及びレーザ加工装置
EP1921502B1 (de) * 2006-11-08 2011-02-02 Integrated Dynamics Engineering GmbH Kombiniertes Motion-Control-System
US7896915B2 (en) 2007-04-13 2011-03-01 Jenavalve Technology, Inc. Medical device for treating a heart valve insufficiency
US9044318B2 (en) 2008-02-26 2015-06-02 Jenavalve Technology Gmbh Stent for the positioning and anchoring of a valvular prosthesis
WO2011104269A1 (en) 2008-02-26 2011-09-01 Jenavalve Technology Inc. Stent for the positioning and anchoring of a valvular prosthesis in an implantation site in the heart of a patient
JP2010021526A (ja) * 2008-06-11 2010-01-28 Canon Inc 位置決め装置、位置決め方法、露光装置、デバイス製造方法、並びに、位置決め装置及び露光装置の製造方法
EP3238661B1 (en) 2008-10-10 2019-05-22 Boston Scientific Scimed, Inc. Medical devices and delivery systems for delivering medical devices
US20100302526A1 (en) * 2008-11-13 2010-12-02 Nikon Corporation Drive control method for moving body, exposure method, robot control method, drive control apparatus, exposure apparatus and robot apparatus
JP5235707B2 (ja) * 2009-02-03 2013-07-10 キヤノン株式会社 制御装置
CA2799459A1 (en) 2010-05-25 2011-12-01 Jenavalve Technology Inc. Prosthetic heart valve and transcatheter delivered endoprosthesis comprising a prosthetic heart valve and a stent
EP4119107A3 (en) 2010-09-10 2023-02-15 Boston Scientific Limited Valve replacement devices, delivery device for a valve replacement device and method of production of a valve replacement device
EP4119095A1 (en) 2011-03-21 2023-01-18 Cephea Valve Technologies, Inc. Disk-based valve apparatus
EP2520251A1 (en) 2011-05-05 2012-11-07 Symetis SA Method and Apparatus for Compressing Stent-Valves
US20120319637A1 (en) * 2011-06-20 2012-12-20 Nikon Corporation Synchronization control devices and methods
US9131926B2 (en) 2011-11-10 2015-09-15 Boston Scientific Scimed, Inc. Direct connect flush system
US8940014B2 (en) 2011-11-15 2015-01-27 Boston Scientific Scimed, Inc. Bond between components of a medical device
US8951243B2 (en) 2011-12-03 2015-02-10 Boston Scientific Scimed, Inc. Medical device handle
US9510945B2 (en) 2011-12-20 2016-12-06 Boston Scientific Scimed Inc. Medical device handle
US9277993B2 (en) 2011-12-20 2016-03-08 Boston Scientific Scimed, Inc. Medical device delivery systems
US9883941B2 (en) 2012-06-19 2018-02-06 Boston Scientific Scimed, Inc. Replacement heart valve
US8870948B1 (en) 2013-07-17 2014-10-28 Cephea Valve Technologies, Inc. System and method for cardiac valve repair and replacement
CN105491978A (zh) 2013-08-30 2016-04-13 耶拿阀门科技股份有限公司 用于假体瓣膜的径向可折叠框架及其制造方法
US9901445B2 (en) 2014-11-21 2018-02-27 Boston Scientific Scimed, Inc. Valve locking mechanism
AU2015361260B2 (en) 2014-12-09 2020-04-23 Cephea Valve Technologies, Inc. Replacement cardiac valves and methods of use and manufacture
WO2016115375A1 (en) 2015-01-16 2016-07-21 Boston Scientific Scimed, Inc. Displacement based lock and release mechanism
US9861477B2 (en) 2015-01-26 2018-01-09 Boston Scientific Scimed Inc. Prosthetic heart valve square leaflet-leaflet stitch
US9788942B2 (en) 2015-02-03 2017-10-17 Boston Scientific Scimed Inc. Prosthetic heart valve having tubular seal
WO2016126524A1 (en) 2015-02-03 2016-08-11 Boston Scientific Scimed, Inc. Prosthetic heart valve having tubular seal
US10285809B2 (en) 2015-03-06 2019-05-14 Boston Scientific Scimed Inc. TAVI anchoring assist device
US10426617B2 (en) 2015-03-06 2019-10-01 Boston Scientific Scimed, Inc. Low profile valve locking mechanism and commissure assembly
US10080652B2 (en) 2015-03-13 2018-09-25 Boston Scientific Scimed, Inc. Prosthetic heart valve having an improved tubular seal
US10709555B2 (en) 2015-05-01 2020-07-14 Jenavalve Technology, Inc. Device and method with reduced pacemaker rate in heart valve replacement
EP3294220B1 (en) 2015-05-14 2023-12-06 Cephea Valve Technologies, Inc. Cardiac valve delivery devices and systems
US10195392B2 (en) 2015-07-02 2019-02-05 Boston Scientific Scimed, Inc. Clip-on catheter
WO2017004377A1 (en) 2015-07-02 2017-01-05 Boston Scientific Scimed, Inc. Adjustable nosecone
US10136991B2 (en) 2015-08-12 2018-11-27 Boston Scientific Scimed Inc. Replacement heart valve implant
US10179041B2 (en) 2015-08-12 2019-01-15 Boston Scientific Scimed Icn. Pinless release mechanism
US10779940B2 (en) 2015-09-03 2020-09-22 Boston Scientific Scimed, Inc. Medical device handle
US10342660B2 (en) 2016-02-02 2019-07-09 Boston Scientific Inc. Tensioned sheathing aids
US10583005B2 (en) 2016-05-13 2020-03-10 Boston Scientific Scimed, Inc. Medical device handle
EP4183371A1 (en) 2016-05-13 2023-05-24 JenaValve Technology, Inc. Heart valve prosthesis delivery system and method for delivery of heart valve prosthesis with introducer sheath and loading system
US10245136B2 (en) 2016-05-13 2019-04-02 Boston Scientific Scimed Inc. Containment vessel with implant sheathing guide
US10201416B2 (en) 2016-05-16 2019-02-12 Boston Scientific Scimed, Inc. Replacement heart valve implant with invertible leaflets
EP3471665B1 (en) 2016-06-17 2023-10-11 Cephea Valve Technologies, Inc. Cardiac valve delivery devices
EP4209196A1 (en) 2017-01-23 2023-07-12 Cephea Valve Technologies, Inc. Replacement mitral valves
JP7046078B2 (ja) 2017-01-23 2022-04-01 セフィア・バルブ・テクノロジーズ,インコーポレイテッド 置換僧帽弁
EP3573579B1 (en) 2017-01-27 2023-12-20 JenaValve Technology, Inc. Heart valve mimicry
US10828154B2 (en) 2017-06-08 2020-11-10 Boston Scientific Scimed, Inc. Heart valve implant commissure support structure
US10898325B2 (en) 2017-08-01 2021-01-26 Boston Scientific Scimed, Inc. Medical implant locking mechanism
US10939996B2 (en) 2017-08-16 2021-03-09 Boston Scientific Scimed, Inc. Replacement heart valve commissure assembly
EP3740160A2 (en) 2018-01-19 2020-11-25 Boston Scientific Scimed Inc. Inductance mode deployment sensors for transcatheter valve system
US11246625B2 (en) 2018-01-19 2022-02-15 Boston Scientific Scimed, Inc. Medical device delivery system with feedback loop
WO2019157156A1 (en) 2018-02-07 2019-08-15 Boston Scientific Scimed, Inc. Medical device delivery system with alignment feature
US11439732B2 (en) 2018-02-26 2022-09-13 Boston Scientific Scimed, Inc. Embedded radiopaque marker in adaptive seal
WO2019222367A1 (en) 2018-05-15 2019-11-21 Boston Scientific Scimed, Inc. Replacement heart valve commissure assembly
WO2019241477A1 (en) 2018-06-13 2019-12-19 Boston Scientific Scimed, Inc. Replacement heart valve delivery device
WO2020123486A1 (en) 2018-12-10 2020-06-18 Boston Scientific Scimed, Inc. Medical device delivery system including a resistance member
US11439504B2 (en) 2019-05-10 2022-09-13 Boston Scientific Scimed, Inc. Replacement heart valve with improved cusp washout and reduced loading

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3836835A (en) * 1971-04-19 1974-09-17 B Sawyer Multi axes linear movement positioning system
US4868474A (en) * 1986-11-20 1989-09-19 Westinghouse Electric Corp. Multiprocessor position/velocity servo control for multiaxis digital robot control system
US4972311A (en) * 1988-08-15 1990-11-20 Kulicke And Soffa Industries Inc. X-Y table error mapping apparatus and method
US5545962A (en) * 1992-08-18 1996-08-13 Canon Kabushiki Kaisha Positioning system
JPH07321024A (ja) * 1994-05-25 1995-12-08 Canon Inc 位置決め方法およびその装置ならびにこれらを用いた露光装置
JP3184044B2 (ja) * 1994-05-24 2001-07-09 キヤノン株式会社 微動位置決め制御装置
JPH08286758A (ja) * 1995-04-11 1996-11-01 Canon Inc 位置決め装置
JPH08336294A (ja) * 1995-06-08 1996-12-17 Minolta Co Ltd サーボ制御装置
JP3266515B2 (ja) 1996-08-02 2002-03-18 キヤノン株式会社 露光装置、デバイス製造方法およびステージ装置
JP3635600B2 (ja) 1996-08-29 2005-04-06 キヤノン株式会社 送り装置
JP3907252B2 (ja) 1996-12-05 2007-04-18 キヤノン株式会社 露光装置およびデバイス製造方法ならびにステージ装置および原点出し方法
US6028376A (en) 1997-04-22 2000-02-22 Canon Kabushiki Kaisha Positioning apparatus and exposure apparatus using the same
TW404089B (en) * 1997-11-25 2000-09-01 Ebara Corp Positioning device for testing stage
JP3773686B2 (ja) * 1999-02-17 2006-05-10 パイオニア株式会社 サーボ制御装置及びサーボ制御方法

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004343115A (ja) * 2003-05-13 2004-12-02 Asml Netherlands Bv 制御システム、リソグラフィ装置、デバイス製造方法、およびそれによって製造されたデバイス
JP2006302201A (ja) * 2005-04-25 2006-11-02 Mitsubishi Electric Corp サーボ制御装置
JP2007005796A (ja) * 2005-06-20 2007-01-11 Asml Netherlands Bv リソグラフィ装置、投影装置及びデバイス製造方法
JP2007173808A (ja) * 2005-12-22 2007-07-05 Asml Netherlands Bv リソグラフィ装置およびデバイス製造方法
JP4498346B2 (ja) * 2005-12-22 2010-07-07 エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. リソグラフィ装置
JP2008004007A (ja) * 2006-06-26 2008-01-10 Nagaoka Univ Of Technology 位置制御装置、位置制御方法、ロボット制御装置およびロボット制御方法
JP2011086892A (ja) * 2009-10-19 2011-04-28 Canon Inc 位置制御装置、露光装置およびデバイス製造方法
CN103681429A (zh) * 2013-12-25 2014-03-26 武汉工程大学 一种芯片固晶机的控制方法及控制系统
US9772619B2 (en) 2014-01-23 2017-09-26 Mitsubishi Electric Corporation Motor control device
WO2019123998A1 (ja) 2017-12-18 2019-06-27 オムロン株式会社 同期制御装置
US11012012B2 (en) 2017-12-18 2021-05-18 Omron Corporation Synchronization control device

Also Published As

Publication number Publication date
JP3755862B2 (ja) 2006-03-15
KR100375266B1 (ko) 2003-03-08
KR20010049414A (ko) 2001-06-15
US6714842B1 (en) 2004-03-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3755862B2 (ja) 同期位置制御装置および方法
US5504407A (en) Stage driving system
Erkorkmaz et al. High speed CNC system design. Part III: high speed tracking and contouring control of feed drives
JP5235707B2 (ja) 制御装置
JP5389251B2 (ja) 並列駆動システム
EP0737844B1 (en) Alignment apparatus and method
JP2009110492A (ja) 位置制御装置
Ishizaki et al. Cross Coupling Controller for Accurate Motion Synchronization of Dual Servo Systems.
JP2002242983A (ja) 能動的除振装置
JP2861277B2 (ja) 位置決め制御装置および位置決め制御方法
JP2006190074A (ja) 同期制御装置
JP2007072943A (ja) 位置制御装置
US20240004314A1 (en) Positioning apparatus, lithography apparatus and article manufacturing method
JP3943061B2 (ja) サーボ制御装置
JP5943557B2 (ja) 位置決め装置、露光装置およびデバイス製造方法
JP6049242B2 (ja) 制御装置、照射装置及び駆動装置
JPH11264444A (ja) 除振装置
JP3040448B2 (ja) 位置決め装置
JP2001345244A (ja) ステージ制御方法、ステージ装置、露光装置およびデバイス製造方法
JP4591136B2 (ja) 2次元位置決め装置
JP2000275370A (ja) ステージおよびアクティブ除振装置の補償パラメータ更新方法
JP2007293796A (ja) 移動体の位置決め制御装置及びレーザ加工装置
JP6391489B2 (ja) モータ制御装置
JP2016212923A (ja) 制御装置、照射装置及び駆動装置
JP3876010B2 (ja) サーボモータの加減速制御装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20040401

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20051012

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20051214

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20051219

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100106

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110106

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120106

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130106

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140106

Year of fee payment: 8

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees