JP2006172702A - 半導体メモリ装置のカラム選択線信号生成装置 - Google Patents

半導体メモリ装置のカラム選択線信号生成装置 Download PDF

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Abstract

【課題】 半導体メモリ装置のカラム選択線信号生成装置を提供することにある。
【解決手段】 半導体メモリ装置のカラム選択線信号生成装置において、コマンドがライト命令に連続して印加される場合には第1動作モードを有し、前記コマンドが前記ライト命令に連続して印加されない場合には第2動作モードを有し、カラム選択線イネーブル信号によりカラム選択線信号がイネーブルされ、前記カラム選択線信号の動作区間は前記第1及び第2動作モードで互いに異なることを特徴とする。
【選択図】 図2

Description

本発明は、半導体メモリ装置に係るもので、詳しくは、半導体メモリ装置のカラム選択線信号生成装置に関する。
半導体メモリ装置の動作特性を表す要素の中にtRDLというアクティブ・コマンドパラメーターがある。tRDLは時間的な面からみたときにカラム選択線信号(CSL)のサイクル数と密接に関連する。即ち、カラム選択線信号の以前のいくつかのサイクルの間に継続的にデータをライトする途中で、進行しているライト動作がロープリチャージ命令によりインターラプトされたとき、最後のデータが完全にライトされ、且つロープリチャージ命令が入力されるためには最低でもtRDL区間が存在すべきであることを示す。
図6はtRDLを説明するためのタイミング図である。
図6を参照すると、tRDLはライト命令によりデータDb0,Db1,Db2,Db3のうち最後のデータDb3がビットラインに印加されてからロープリチャージ命令RPCが印加される時点までの時間である。
図7は従来の半導体メモリ装置でのカラム選択経路を示すブロック図である。
図7を参照すると、コマンドバッファ22、カラム選択線イネーブル部24、カラム選択線ディスエーブル部25、カラム選択線ドライバ26、PDT発生器27、IOドライバ/MUX28、ビットラインセンスアンプ29、及びメモリセルMCが図示される。
コマンドバッファ22はコマンドCMDが動作クロックCLKに応ずるようにして動作活性化信号PWAXまたはPCAを出力する。
カラム選択線イネーブル部24は動作活性化信号PWAXまたはPCAを受信してカラム選択線イネーブル信号PCSLEを出力する。
カラム選択線ディスエーブル部25は動作活性化信号PWAXまたはPCAを受信した後、動作クロックサイクルの次の動作クロックサイクルに応じてカラム選択線ディスエーブル信号PCSLDを生成する。
カラム選択線ドライバ26はカラム選択線イネーブル信号PCSLE及びカラム選択線ディスエーブル信号PCSLDの制御を受けてカラム選択線信号CSLを出力する。
PDT発生器27はカラム選択線信号CSLを受信してIOドライバ/MUX28のイネーブル信号PDTを出力する。
ライトされるデータは、カラム選択線信号CSLがハイ状態にある場合にはトランジスタTR1がオン状態となり、IOドライバ/MUX28もPDT信号によりイネーブルされて、ビットラインセンスアンプ29によりセンシングされビットラインBL/BLBに印加される。そして、前記データは最終的にメモリセルMCにライトされる。
図8は図7のカラム選択線信号CSLが生成される過程を示すタイミング図である。
図8を参照すると、動作クロックCLK、コマンドWR1,WR2,RD、動作活性化信号PWAX,PCA、カラム選択線イネーブル信号PCSLE、カラム選択線ディスエーブル信号PCSLD、及びカラム選択線信号CSLが図示される。コマンドは図7でのCMDであり、図8では具体的な動作のライトWR1,WR2またはリードRDとして示す。
まず、ライト命令WR1が印加され、動作クロックCLKでの動作クロックサイクルに応じてライト活性化信号PWAXが生成される。
ライト活性化信号PWAXに応じてカラム選択線イネーブル信号PCSLEが生成され、カラム選択線イネーブル信号PCSLEによりカラム選択線信号CSLが活性化される。
動作クロックサイクルよりも1動作クロックサイクル以後の第2動作クロックサイクルに応じてカラム選択線ディスエーブル信号PCSLDが生成され、カラム選択線ディスエーブル信号PCSLDによりカラム選択線信号CSLが非活性化される。
次いで、ライト命令WR2が印加された後、ライト命令WR1が応ずる動作クロックサイクルよりも2動作サイクル以後の第3動作クロックサイクルに応じてライト活性化信号PWAXが生成されて、ライト命令WR1が印加された場合と同一な過程によりカラム選択線信号CSLが生成される。
第3動作クロックサイクル以後の動作クロックサイクルに応じてリード活性化信号PCAが生成される場合、リード活性化信号PCAに応じてカラム選択線イネーブル信号PCSLEが生成される。そして、カラム選択線イネーブル信号PCSLEに応じてカラム選択線信号CSLが活性化される。
第3動作クロックサイクル以後の動作クロックサイクルよりも1動作クロックサイクル以後の動作クロックサイクルに応じてカラム選択線ディスエーブル信号PCSLDが生成され、カラム選択線ディスエーブル信号PCSLDによりカラム選択線信号CSLは非活性化される。
リード活性化信号PCAの代わりにライト活性化信号PWAXが生成される場合、即ち、リード命令RDの代わりにライト命令が印加される場合にはカラム選択線イネーブル信号の生成がライト活性化信号PWAXに応じて生成されることを除き、カラム選択線信号CSLは同一な過程により活性化され非活性化される。
上述のように、カラム選択線信号はカラム選択線イネーブル信号に応じて活性化され、カラム選択線イネーブル信号が生成される動作クロックサイクルよりも1動作クロックサイクル後の第2動作クロックサイクルに応じて生成されたカラム選択線ディスエーブル信号により非活性化される形態の単一動作モードだけを有する。
ところが、ライト命令以後にビットラインプリチャージが行われる場合において、メモリセルにライトされるデータ中で最後のデータがビットラインに印加された後、メモリセルに完全にライトされる以前にメモリセルのワードラインがディスエーブルされて、メモリセルに最後のデータが正しくライトされないとの問題点があった。これはビットラインセンスアンプの駆動能力がIOドライバのそれよりも劣るからである。従って、駆動能力が優秀なIOドライバによる駆動時間を一層増加させなければならない。
そこで、本発明の目的は、カラム選択線信号がコマンドの印加形態に従い互いに異なった形態の動作モードを有することができるカラム選択線信号生成装置及び方法を提供することにある。
本発明の他の目的は、従来のメモリセルに完全にライトされる以前にビットラインのプリチャージが行われることにより、メモリセルに最後のデータが正しくライトされないとの問題を改善することができるカラム選択線信号生成装置及び方法を提供することにある。
本発明のまた他の目的は、プリチャージ以前のライト動作整理時間tRDLは速くすることにより、プリチャージ前のライト動作整理時間のマージンが広くなってメモリセルにライトされるデータの損失を減らし得るカラム選択線信号生成装置及び方法を提供することにある。
本発明のまた他の目的は、コマンドがライト命令に連続して印加される場合にカラム選択線信号の幅を広くして、IOドライバの駆動時間を長くし、メモリセルにデータライトが速く行われるようにして、ロープリチャージ時点を速くすることができるカラム選択線信号生成装置及び方法を提供することにある。
本発明のまた他の目的は、ロープリチャージ時点を速くすることにより、高速動作を可能にするカラム選択回路を備えた半導体メモリ装置を提供することにある。
このような目的を達成するために本発明の好適な一実施形態による半導体メモリ装置のカラム選択線信号生成装置は、コマンドがライト命令に連続して印加される場合には第1動作モードを有し、前記コマンドが前記ライト命令に連続して印加されない場合には第2動作モードを有し、イネーブル信号が入力された場合には第1,2区間制御信号に応じて前記第1,2動作モードで互いに異なったパルス区間を有するカラム選択線信号を生成するカラム選択線信号生成部と、前記第1動作モードではコマンド活性化信号により前記第1区間制御信号を出力し、前記第2動作モードではカラム選択線ディスエーブル信号により前記第1区間制御信号の遷移時点とは異なった前記第2区間制御信号を出力する区間制御信号生成部と、を備えることを特徴とする。
ここで、前記イネーブル信号は動作クロックサイクルに応じて印加された前記コマンドにより生成された動作活性化信号に応じて生成されることができる。
また、前記第1区間制御信号の遷移時点は前記第2区間遷移時点よりも早いことが好ましい。
また、前記第1区間制御信号は前記コマンドに応じて遷移されることが好ましい。
また、前記第2区間制御信号は前記動作クロックサイクルの次の動作クロックサイクルの第2動作クロックサイクルにより生成されたディスエーブル信号に応じて遷移されることが好ましい。
また、前記コマンドは前記第1動作モードで前記第2動作クロックサイクルの次の動作クロックサイクルの第3動作クロックサイクルに応じて印加されることが好ましい。
また、前記コマンドは前記第2動作モードで前記第3動作クロックサイクル後の第4動作クロックサイクルに応じて印加されることが好ましい。
本発明の好適な他の実施形態による半導体メモリ装置のカラム選択線信号生成装置は、コマンドがライト命令に連続して印加される場合には第1動作モードを有し、前記コマンドが前記ライト命令に連続して印加されない場合には第2動作モードを有し、前記コマンドにより生成されるイネーブル信号が入力された場合に第1,2区間制御信号に応じて前記第1,2動作モードで互いに異なったパルス区間を有するカラム選択線信号を生成するカラム選択線信号生成部と、前記第1動作モードでは前記コマンドが印加される動作クロックサイクルの次の動作クロックサイクルと遷移時点が略一致するプリコマンドパルスに応じて前記第1区間制御信号を出力し、前記第2動作モードではディスエーブル信号に応じて前記第2区間制御信号を前記第1区間制御信号の遷移時点とは異なるように出力する区間制御信号生成部と、を備える。
ここで、前記プリコマンドパルスは前記第1動作モードで前記ディスエーブル信号に先立って生成されることが好ましい。
また、前記プリコマンドパルスは前記第2動作モードで前記ディスエーブル信号よりも遅く生成されることが好ましい。
また、前記第1区間制御信号の遷移時点は前記第2区間遷移時点よりも早いことが好ましい。
本発明の好適な更に他の実施形態による半導体メモリ装置は、一つのアクセストランジスタとストレージキャパシタからなる単位メモリセルが行と列の交差点にマトリックス形態に連結されたメモリブロックを複数として有するメモリセルアレイと、前記メモリセルの行を選択するためのロー選択回路と、コマンドがライト命令に連続して印加される場合には第1動作モードを有し、前記コマンドが前記ライト命令に連続して印加されない場合には第2動作モードを有し、イネーブル信号が入力される場合には第1,2区間制御信号に応じて前記第1,2動作モードで互いに異なったパルス区間を有するカラム選択線信号を生成するカラム選択線信号生成部と、前記第1動作モードでは前記第1区間制御信号を出力し、前記第2動作モードでは前記第1区間制御信号の遷移時点とは異なった前記第2区間制御信号を出力する区間制御信号生成部と、を備えて、前記メモリセルの列を選択するためのカラム選択回路を有することを特徴とする。
ここで、前記区間制御信号生成部は、前記第1動作モードではコマンド活性化信号により第1区間制御信号を出力し、第2動作モードではカラム選択線ディスエーブル信号により第2区間制御信号を出力することが好ましい。
本発明の好適な更に他の実施形態に従い、データアクセスのためにメモリセルと連結されるカラムラインを選択するためにカラム選択線信号を用いる半導体メモリ装置でのカラム線選択信号生成回路は、前記データアクセスのためのコマンドが設定された連続ウィンド区間内でライト命令に連続して印加されるかどうかをチェックする連続判定部と、前記連続判定部に動作的に連結され、連続されるかどうかに従い互いに異なったパルス区間を有するカラム選択線信号を差別的に生成する信号生成部と、を備えることを特徴とする。
ここで、前記連続ウィンド区間は前記コマンドが応答する動作クロックサイクルから、該動作クロックサイクルよりも2サイクル以前の動作クロックサイクルに応じてライト命令が入力される区間であることが好ましい。
このような目的を達成するために本発明の好適な更に他の実施形態により、データアクセスのためにメモリセルと連結されるカラムラインを選択するカラム選択回路を備えた半導体メモリ装置でのカラム選択線信号生成方法は、前記データアクセスのためのコマンドが設定された連続ウィンド区間内でライト命令に連続して印加されるかどうかに従い、互いに異なったパルス区間を有するカラム選択線信号を差別的に生成することを特徴とする。
本発明は、改善されたカラム選択線信号生成装置を提供することにより、カラム選択線信号がコマンドの印加形態に従い互いに異なった形態の動作モードを有するという効果がある。
また、本発明は、カラム選択線信号生成装置は改善されたカラム選択線信号発生装置を提供することにより、最後のデータがメモリセルにライトされる前に前記ビットラインのプリチャージが行われる問題を減少させて前記メモリセルに最後のデータまで損傷されずにライトされることができるとの効果がある。
また、本発明は、改善されたカラム選択信号生成装置を提供することにより、プリチャージ前のライト動作整理時間tRDLを速く持ってくるようにし、前記プリチャージ前ライト動作整理時間のマージンが広くなってメモリセルにライトされるデータの損失を減らし得るとの効果がある。
また、本発明は、改善されたカラム選択信号生成装置を提供して、コマンドがライト命令に連続して印加される場合にカラム選択線信号の幅を広くし且つメモリセルにデータライトが速く行われるすることにより、ロープリチャージ時点を速くし、半導体メモリ装置の高速動作を可能にするとの効果がある。
以下、本発明の好ましい実施形態を添付図を用いて詳しく説明する。多様な実施形態での説明は当業者に本発明の徹底した理解を助けるための意図のほか、別の意図なしに例示的に図示され限定されたものにすぎないため、本発明の範囲を制限するものとして使用されてはならない。
図1は本発明の好適な一実施形態による半導体メモリ装置でのカラム選択経路を概略的に示すブロック図である。
図1を参照すると、コマンドバッファ122、カラム選択線イネーブル部124、カラム選択線ディスエーブル部125、PDT発生器127、IOドライバ/MUX128、ビットラインセンスアンプ129、メモリセルMC、及びカラム選択線信号生成装置201が図示される。カラム選択信号生成装置201は遅延セル130及び可変カラム選択線ドライバ200を含む。
コマンドバッファ122はコマンドCMDを受信し、動作クロックCLKに応じて動作活性化信号PWAX,PCAを出力する。
カラム選択線イネーブル部124は動作活性化信号PWAX,PCAを受信してカラム選択線イネーブル信号PCSLEを生成する。即ち、カラム選択線イネーブル部124は動作活性化信号PWAX,PCAに応じてカラム選択線イネーブル信号PCSLEを生成する。
カラム選択線ディスエーブル部125は動作活性化信号PWAX,PCAを受信し、動作クロックサイクルの次の動作クロックサイクルに応じてカラム選択線ディスエーブル信号PCSLDを生成する。即ち、カラム選択線ディスエーブル部125は動作クロックサイクルの次の動作クロックサイクルの第2動作クロックサイクルに応じてカラム選択線ディスエーブル信号PCSLDを生成する。
カラム選択線信号生成装置201における可変カラム選択線ドライバ200は、カラム選択線イネーブル信号PCSLEが入力される場合、第1,2区間制御信号に応じて第1,2動作モードで互いに異なったパルス区間を有するカラム選択線信号CSLを生成する。即ち、カラム選択線信号装置により、コマンドCMDがライト命令に連続して印加される場合には第1動作モードを有し、コマンドCMDがライト命令に連続して印加されない場合には第2動作モードを有するカラム選択線信号CSLを生成する。詳しくは、第1区間制御信号は動作活性化信号(ライトの場合にPWAX1)に応じて遷移され、第1区間制御信号はカラム選択線ディスエーブル信号PCSLDにより遷移される。ここで、カラム選択線信号の活性化は第1,2動作モードの全てにおいて動作活性化信号PWAX1に応じて活性化されたカラム選択線イネーブル信号PCSLEによりなされる。第2動作モードにおいてライト命令後にリード命令が入力された場合、動作活性化信号PCA1に応じて活性化されたカラム選択線イネーブル信号PCSLEによりカラム選択線信号CSLが活性化される。
カラム選択線信号生成装置201における遅延セル130は、第2区間制御信号を生成するためにカラム選択線ディスエーブル信号PCSLDを遅延させる。遅延セル(DC)130としては、通常使用される遅延回路(例えば、1つ或いはそれ以上のインバーター回路)を使用することができる。
PDT発生器127はカラム選択線信号CSLを受信してIOドライバ/MUX128のイネーブル信号であるPDT信号を出力する。
ライトされるデータは、カラム選択線信号がハイ状態にある場合にはトランジスタTR10がオン状態となり、IOドライバ/MUX128もPDT信号によりイネーブルされて、データはビットラインBL/BLBに印加される。そして、データは最終的にメモリセルMCにライトされる。
図2は図1のカラム選択線信号生成装置の等価回路図である。
図2を参照すると、カラム選択線信号生成部210及び区間制御信号生成部220が図示される。
カラム選択線信号生成部210は、コマンドがライト命令に連続して印加される場合には第1動作モードを有し、コマンドがライト命令に連続して印加されない場合には第2動作モードを有するカラム選択線信号を生成する。そして、カラム選択線信号CSLはイネーブル信号であるカラム選択線イネーブル信号PCSLEが入力された場合に第1,2区間制御信号に応じて第1,2動作モードで互いに異なったパルス区間を有する。
区間制御信号生成部220は第1動作モードでは動作活性化信号PWAX1に応じて第1区間制御信号を出力し、第2動作モードではカラム選択線ディスエーブル信号PCSLDに応じて第1区間制御信号の遷移時点とは異なった第2区間制御信号を出力する。
データアクセスのためにコマンドCMDが設定された連続ウィンド区間内でライト命令WR1,WR2に連続的に印加されるかどうかをチェックする連続判定部は、動作活性化信号PWAX,PCAがカラム選択線ディスエーブル信号PCSLDに先立って印加されるかどうかを判断する部分である。即ち、連続判定部は区間制御信号生成部220としてみることができる。そして、連続判定部に動作的に連結され、連続されるかどうかに従い互いに異なったパルス区間を有するカラム選択線信号を差別的に生成する信号生成部はカラム選択線信号生成部210としてみることができる。つまり、連続ウィンド区間はコマンドCMDが応答する動作クロックサイクルよりも2サイクル以前の動作クロックサイクルに応じてライト命令が入力される区間になる。
以下、カラム選択線信号生成部210及び区間制御信号生成部220によりカラム選択線信号CSLが生成される過程を説明する。
まず、カラム選択線イネーブル信号PCSLEがANDゲートAND1にハイ状態として入力されると、NORゲートNOR2の入力INPUT1はハイ状態になり、インバーターINV2を経て最終的に出力されるカラム選択線信号CSLはNORゲートNOR2の他の入力INPUT2の論理状態にかかわらずにハイ状態になる。即ち、カラム選択線イネーブル信号PCSLEに応じてカラム選択線信号CSLが活性化される。
次いで、カラム選択線イネーブル信号PCSLEがロー状態で、区間制御信号生成部220のNORゲートNOR1にコマンドCMDにより生成されたリード活性化信号PCA及びライト活性化信号PWAXのうちいずれ1つの信号、またはカラム選択線ディスエーブル信号PCSLDが遅延セル130を経由して入力されると、NORゲートNOR1の出力信号はロー状態になる。そして、ロー状態の信号はインバーターINV1により反転されてNORゲートNOR3に入力される。この場合、NORゲートNOR3による出力信号はロー状態になる。そこで、カラム選択線信号生成部210のNORゲートNOR2に入力される2個の入力信号INPUT1,INPUT2は全てロー状態であるため、NORゲートNOR2の出力信号はハイ状態になる。NORゲートNOR2の出力信号はインバーターINV2を経て反転されて、最終的なカラム選択線信号CSLはロー状態になる。即ち、カラム選択線信号CSLはカラム選択線イネーブル信号PCSLEにより活性化されて、コマンドCMDにより生成されたリード活性化信号PCA、ライト活性化信号PWAXのうちいずれ1つの信号PCA,PWAX及びカラム選択線ディスエーブル信号PCSLDのうち早い信号に応じて非活性化される。ここで、遅延されたカラム選択線ディスエーブル信号(図1のPCSLD_D)により遷移される場合には入力信号INPUT2が第2区間制御信号を有する状態であり、リード活性化信号PCAまたはライト活性化信号PWAXにより遷移される場合には入力信号INPUT2が第1区間制御信号を有する状態である。
図3は図2のカラム選択線信号生成装置の動作を説明するための動作タイミング図である。
図3を参照すると、動作クロックCLK、動作活性化信号のライト活性化信号PWAX及びリード活性化信号PCA、カラム選択線イネーブル信号PCSLE、カラム選択線ディスエーブル信号PCSLD及びカラム選択線信号CSL、第1動作モードM1及び第2動作モードM2が図示される。コマンドCMDは具体的な動作命令のライト命令WR1,WR2及びリード命令RDで示す。
メモリセルにデータがライトされるためにはライト命令WR1が印加され、動作クロックCLKでの動作クロックサイクル1TCKに応じてライト活性化信号PWAXが生成される。
ライト活性化信号PWAXに応じてカラム選択線イネーブル信号PCSLEが生成され、カラム選択線イネーブル信号PCSLEによりカラム選択線信号CSLが活性化される。カラム選択線イネーブル信号PCSLEに応じてカラム選択線信号CSLが活性されることは第1動作モードM1と第2動作モードM2において同一である。
そして、動作クロックサイクルよりも1動作クロックサイクル以後の第2動作クロックサイクルに応じてクロック選択線ディスエーブル信号PCSLDが生成される。
まず、コマンドCMDがライト命令WR1に連続して印加される場合に第1動作モードM1は、ライト命令WR1が応ずる動作クロックサイクル1TCKより2動作クロックサイクル以後の第3動作クロックサイクル3TCKに応じてライト活性化信号PWAXが生成されるモードである。即ち、第1動作モードM1はライト命令WR2が印加され、第3動作クロックサイクル3TCKに応じてライト活性化信号PWAXが生成される場合、ライト活性化信号PWAXに応じてカラム選択線信号が遷移されるモードである。第1区間制御信号はライト活性化信号PWAXにより生成された信号(図2のINPUT2)であり、カラム選択線信号CSLの第1動作モードのパルス区間を決定する。
第3動作クロックサイクル3TCKはライト命令WR2が応ずる動作クロックサイクルであるため、続くリード命令RDとの関係では第1動作クロックサイクル1TCKと同一視することができる。即ち、第2動作モードM2では第1動作クロックサイクル1TCKとして見ることができる。図3で第2動作モードM2と関係する動作クロックサイクル1TCK,2TCK,3TCK,4TCKはそのような意味で用いた。
次いで、コマンドCMDがライト命令WR2に連続して印加されない場合の第2動作モードM2は第3動作クロックサイクル以後の第4動作クロックサイクルに応じてコマンドCMD(図3のRD)が印加されるモードである。即ち、第2動作モードはライト命令WR2が印加された後、ライト命令WR2が応ずる動作クロックサイクルの次の動作クロックサイクル2TCKに応じて生成されたディスエーブル信号のカラム選択線ディスエーブル信号PCSLDにより遷移されるモードである。ここで、第2区間制御信号はカラム選択線ディスエーブル信号PCSLDにより生成された信号であって、カラム選択線信号CSLの第2動作モードM2のパルス区間を決定する。カラム選択線ディスエーブル信号PCSLDは追加的な遅延回路を含んでもよい。
図4は本発明の好適な他の実施形態によるカラム選択線信号生成装置の動作を説明するための動作タイミング図である。
図4を参照すると、カラム選択線信号生成装置はプリコマンドパルスPWAX_Pre,PCA_Preに応じて第1区間制御信号を出力し、カラム選択線ディスエーブル信号に応じて第2区間制御信号を出力する区間制御信号生成部を備える。即ち、カラム選択線信号生成装置でのカラム選択線信号生成部はコマンド(図1のCMD)がライト命令WR1に連続して印加される場合には第1動作モードM1を有し、コマンド(図1のCMD)がライト命令WR2に連続して印加されない場合には第2動作モードM2を有し、コマンド(図1のCMD)により生成されたイネーブル信号が入力される場合、第1,2区間制御信号に応じて第1,2動作モードM1,M2で互いに異なったパルス区間を有するカラム選択線信号を生成する。そして、カラム選択線信号生成装置での区間制御信号生成部は第1動作モードM1ではコマンドCMDが印加される動作クロックサイクル1TCKの次の動作クロックサイクルの第2動作クロックサイクル2TCKと遷移時点が大抵一致するプリコマンドパルスPWAX_Pre,PCA_Preに応じて第1区間制御信号を出力し、第2動作モードM2ではディスエーブル信号に応じて第2区間制御信号を第1区間制御信号の遷移時点とは異にして出力する。ディスエーブル信号は第2動作クロックサイクル2TCKに応じて生成されるカラム選択線ディスエーブル信号PCSLDである。
第1動作モードM1でプリコマンドパルスPWAX_Pre,PCA_Preはカラム選択線ディスエーブル信号PCSLDよりも先に生成されることが好ましい。そこで、カラム選択線ディスエーブル信号PCSLDは遅延セルDCによりプリコマンドパルスPWAX_Pre,PCA_Preよりも遅く生成されることが好ましい。
第2動作モードM2でプリコマンドパルスPWAX_Pre,PCA_Preはカラム選択線ディスエーブル信号PCSLDよりも遅く生成されることが好ましい。これはカラム選択線信号CSLの遷移がプリコマンドパルスPWAX_Pre,PCA_Preとカラム選択線ディスエーブル信号のうち早い信号に応じて遷移されるからである。
そして、第2区間制御信号の遷移時点は第1区間遷移時点よりも一層遅くなるため、カラム選択線信号CSLのパルス幅は第2動作モードM2で一層広くなる。
本発明の好適な更に他の実施形態は一つのアクセストランジスタとストレージキャパシタからなる単位メモリセルが行と列の交差点にマトリックス形態に連結されたメモリブロックを複数個だけ有するメモリセルアレイと、メモリセルの行を選択するためのロー選択回路と、コマンドCMDがライト命令WR1,WR2に連続して印加される場合には第1動作モードM1を有し、コマンドCMDがライト命令WR1,WR2に連続して印加されない場合には第2動作モードM2を有し、イネーブル信号が入力される場合に第1,2区間制御信号に応じて第1,2動作モードM1,M2で互いに異なったパルス区間を有するカラム選択線信号を生成するカラム選択線信号生成部と、第1動作モードM1では第1区間制御信号を出力し、第2動作モードM2では第1区間制御信号の遷移時点とは異なった第2区間制御信号を出力する区間制御信号生成部と、を備えて、メモリセルの列を選択するためのカラム選択回路を有する半導体メモリ装置として具体化される。ここで、イネーブル信号は動作クロックサイクルに応じて印加されたコマンドCMDにより生成される動作活性化信号PWAX,PCAに応じて生成されるカラム選択線イネーブル信号PCSLEである。そして、第1区間制御信号はコマンドに応じて遷移され、第2区間制御信号は動作クロックサイクルの次の動作クロックサイクルの第2動作クロックサイクルにより生成されたディスエーブル信号のカラム選択線ディスエーブル信号PCSLDに応じて遷移される。そして、コマンドは第1動作モードM1で第2動作クロックサイクルの次の動作クロックサイクルの第3動作クロックサイクルに応じて印加され、第2動作モードM2で第3動作クロックサイクル以後の第4動作クロックサイクルに応じて印加される。
本発明の好適な更に他の実施形態によるデータアクセスのためにメモリセルと連結されるカラムラインを選択するカラム選択回路を備えた半導体メモリ装置でのカラム選択線信号生成方法は、データアクセスのためのコマンドCMDが設定された連続ウィンド区間内でライト命令に連続して印加されるかどうかに従い、互いに異なったパルス区間を有するカラム選択線信号を差別的に生成する。ここで、連続ウィンド区間はコマンドが応答する動作クロックサイクルから動作クロックサイクルよりも2サイクル以前の動作クロックサイクルに応じてライト命令が入力される区間である。
図5は図2によるカラム選択線信号生成装置により、従来よりも速くなったメモリセルへのデータライト時点を示す動作タイミング図である。
図5を参照すると、コマンド(例えばライトWR)が印加されて動作クロックCLKに応じてカラム選択線信号CSLが生成される。具体的な内部応答及び信号生成の関係は図3または図4での説明と同様なので省略する。
カラム選択線信号CSLによりIOドライバ/MUXのイネーブル信号のPDT信号が生成される。そして、コマンドが応答する動作クロックサイクルよりも1サイクル以後の動作クロックサイクルに応じてカラム選択線信号CSLが遷移される。カラム選択線信号CSLの遷移時点が図3及び図4に説明したように第1動作モード801と第2動作モード802で互いに異なる。その結果、IOドライバ/MUX経路が連結される時間が更に長くなる。従って、メモリセルに最後のデータがライトされる時点が第1動作モード時803と第2動作モード時813において異なる。即ち、第2動作モード時に最後データが更に速くライトされる。よって、最後データがメモリセルに完全にライトされた後にビットラインのプリチャージが行われることにより、データの損傷が減少する。
本発明の好適な実施形態による半導体メモリ装置のカラム選択線信号生成装置は上記の実施形態に限定されず、本発明の基本原理を逸脱しない範囲内で多様に設計され且つ応用されることは、当業者には自明な事実である。
本発明の好適な一実施形態による半導体メモリ装置でのカラム選択経路を概略的に示すブロック図である。 図1のカラム選択線信号装置の等価回路図である。 図2のカラム選択線信号生成装置の動作を説明するための動作タイミング図である。 本発明の好適な他の実施形態によるカラム選択線信号生成装置の動作を説明するための動作タイミング図である。 図2のカラム選択線信号生成装置により従来よりも速くなったメモリセルへのデータライト時点を示す動作タイミング図である。 tRDLを説明するためのタイミング図である。 従来の半導体メモリ装置でのカラム選択経路を概略的に示すブロック図である。 図7のカラム選択線信号が生成される過程を示すタイミング図である。
符号の説明
122:コマンドバッファ
124:カラム選択線イネーブル部
125:カラム選択線ディスエーブル部
CMD:コマンド
127:PDT発生器
128:IOドライバ/MUX
129:ビットラインセンスアンプ
MC:メモリセル
201:カラム選択線信号生成装置
200:可変カラム選択線ドライバ
130:遅延セル
DC:遅延セル
M1:第1動作モード
M2:第2動作モード
PWAX:ライト活性化信号
PCA:リード活性化信号
PWAX_Pre,PCA_Pre:プリコマンドパルス

Claims (23)

  1. 半導体メモリ装置のカラム選択線信号生成装置において、
    コマンドがライト命令に連続して印加される場合には第1動作モードを有し、前記コマンドが前記ライト命令に連続して印加されない場合には第2動作モードを有し、カラム選択線イネーブル信号によりカラム選択線信号がイネーブルされ、前記カラム選択線信号の動作区間は前記第1及び第2動作モードで互いに異なることを特徴とするカラム選択線信号生成装置。
  2. 前記カラム選択線イネーブル信号は動作クロックサイクルに応じて印加された前記コマンドにより生成された動作活性化信号に応じて生成されることを特徴とする請求項1に記載のカラム選択線信号生成装置。
  3. 前記カラム選択線信号生成装置は、前記カラム選択線イネーブル信号が入力された場合に第1、第2区間制御信号に応じて互いに異なった動作区間を有するカラム選択線信号を生成するカラム選択線信号生成部と、
    前記第1動作モードでは前記動作活性化信号に応じて前記第1区間制御信号を出力し、前記第2動作モードではカラム選択線ディスエーブル信号に応じて前記第1区間制御信号の遷移時点よりも遅い前記第2区間制御信号を出力する区間制御信号生成部と、を備えることを特徴とする請求項2に記載のカラム選択線信号生成装置。
  4. 前記カラム選択線ディスエーブル信号は前記動作クロックサイクルの次の動作クロックサイクルの第2動作クロックサイクルにより活性化されることを特徴とする請求項3に記載のカラム選択線信号生成装置。
  5. 前記コマンドは前記第1動作モードで前記第2動作クロックサイクルの次の動作クロックサイクルの第3動作クロックサイクルに応じて印加されることを特徴とする請求項4に記載のカラム選択線信号生成装置。
  6. 前記コマンドは前記第2動作モードで前記第3動作クロックサイクル以後の第4動作クロックサイクルに応じて印加されることを特徴とする請求項5に記載のカラム選択線信号生成装置。
  7. 半導体メモリ装置のカラム選択線信号生成装置において、コマンドがライト命令に連続して印加される場合には第1動作モードを有し、前記コマンドが前記ライト命令に連続して印加されない場合には第2動作モードを有し、前記コマンドにより生成されたカラム選択線イネーブル信号が入力される場合に第1,2区間制御信号に応じて前記第1,2動作モードで互いに異なったパルス区間を有するカラム選択線信号を生成するカラム選択線信号生成部と、
    前記第1動作モードでは前記コマンドが印加される動作クロックサイクルの次の動作クロックサイクルの遷移時点と略一致するプリコマンドパルスに応じて前記第1区間制御信号を出力し、前記第2動作モードではディスエーブル信号に応じて前記第2区間制御信号を前記第1区間制御信号の遷移時点とは異にして出力する区間制御信号生成部と、を備えることを特徴とするカラム選択線信号生成装置。
  8. 前記プリコマンドパルスは前記第1動作モードで前記ディスエーブル信号よりも先に形成されることを特徴とする請求項7に記載のカラム選択線信号生成装置。
  9. 前記プリコマンドパルスは前記第2動作モードで前記ディスエーブル信号よりも遅く生成されることを特徴とする請求項8に記載のカラム選択線信号生成装置。
  10. 前記第1区間制御信号の遷移時点は前記第2区間遷移時点よりも早いことを特徴とする請求項7に記載のカラム選択線信号生成装置。
  11. 前記ディスエーブル信号は遅延セルにより前記プリコマンドパルスよりも遅く生成されることを特徴とする請求項8に記載のカラム選択線信号生成装置。
  12. 1つのアクセストランジスタとストレージキャパシタからなる単位メモリセルが行と列の交差点にマトリックス形態に連結されるメモリブロックを複数個だけ有するメモリセルアレイと、
    前記メモリセルの行を選択するためのロー選択回路と、
    コマンドがライト命令に連続して印加される場合には第1動作モードを有し、前記コマンドが前記ライト命令に連続して印加されない場合には第2動作モードを有し、カラム選択線イネーブル信号によりイネーブルされ、前記第1及び第2動作モードで互いに異なった動作区間を有するカラム選択線信号により前記メモリセルの列を選択するためのカラム選択回路を有することを特徴とする半導体メモリ装置。
  13. 前記イネーブル信号は動作クロックサイクルに応じて印加される前記コマンドにより生成される動作活性化信号に応じて生成されることを特徴とする請求項12に記載の半導体メモリ装置。
  14. 前記カラム選択線イネーブル信号が入力される場合に第1,2区間制御信号に応じて互いに異なった動作区間を有するカラム選択線信号を生成するカラム選択線信号生成部と、
    前記第1動作モードでは前記動作活性化信号に応じて前記第1区間制御信号を出力し、前記第2動作モードではカラム選択線ディスエーブル信号に応じて前記第1区間制御信号の遷移時点よりも遅い前記第2区間制御信号を出力する区間制御信号生成部と、を備えることを特徴とする請求項13に記載の半導体メモリ装置。
  15. 前記カラム選択線ディスエーブル信号は前記動作クロックサイクルの次の動作クロックサイクルの第2動作クロックサイクルにより活性化されることを特徴とする請求項14に記載の半導体メモリ装置。
  16. 前記コマンドは前記第1動作モードで前記第2動作クロックサイクルの次の動作クロックサイクルの第3動作クロックサイクルに応じて印加されることを特徴とする請求項15に記載の半導体メモリ装置。
  17. 前記コマンドは前記第2動作モードで前記第3動作クロックサイクル以後の第4動作クロックサイクルに応じて印加されることを特徴とする請求項16に記載の半導体メモリ装置。
  18. データアクセスのためにメモリセルと連結されるカラムラインを選択するためのカラム選択線信号を使用する半導体メモリ装置でのカラム線選択信号生成回路において、
    前記データアクセスのためのコマンドが設定された連続ウィンド区間内でライト命令に連続して印加されるかどうかをチェックする連続判定部と、
    前記連続判定部に動作的に連結され、前記連続するかどうかに従い互いに異なったパルス区間を有するカラム選択線信号を差別的に生成する信号生成部と、を備えることを特徴とするカラム線選択信号生成回路。
  19. 前記連続ウィンド区間は前記コマンドが応ずる動作クロックサイクルから前記動作クロックサイクルよりも2サイクル以前の動作クロックサイクルに応じてライト命令が入力される区間であることを特徴とする請求項18に記載のカラム選択線信号生成回路。
  20. データアクセスのためにメモリセルと連結されるカラムラインを選択するカラム選択回路を備える半導体メモリ装置でのカラム選択線信号生成方法において、
    前記データアクセスのためのコマンドが設定された連続ウィンド区間内でライト命令に連続して印加されるかどうかに従い、互いに異なったパルス区間を有するカラム選択線信号を差別的に生成することを特徴とするカラム選択線信号生成方法。
  21. 前記連続ウィンド区間は前記コマンドが応ずる動作クロックサイクルから前記動作クロックサイクルよりも2サイクル以前の動作クロックサイクルに応じてライト命令が入力される区間であることを特徴とする請求項20に記載のカラム選択線信号生成方法。
  22. 前記コマンドはリード命令、ライト命令、及びロープリチャージ命令のうちいずれ1つであることを特徴とする請求項1に記載のカラム選択線信号生成装置。
  23. 前記カラム選択線信号のディスエーブルは前記第1動作モードでは前記コマンドにより生成される動作活性化信号により制御され、前記第2動作モードではカラム選択線ディスエーブル信号により制御されることを特徴とする請求項1に記載のカラム選択線信号生成装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100821573B1 (ko) * 2006-04-05 2008-04-15 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리의 컬럼 선택신호 생성장치
DE102006029169B4 (de) * 2006-06-24 2009-03-26 Qimonda Ag Speicherbaustein mit veränderbarer Spaltenselektionsdauer
KR100868251B1 (ko) * 2007-03-22 2008-11-12 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리장치
KR100852002B1 (ko) * 2007-05-14 2008-08-13 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치의 컬럼 선택신호의 펄스 폭 제어회로
KR100881134B1 (ko) * 2007-06-27 2009-02-02 주식회사 하이닉스반도체 컬럼 엑세스 제어 장치
KR100924347B1 (ko) * 2008-01-03 2009-10-30 주식회사 하이닉스반도체 컬럼 선택 신호 제어 장치 및 방법
KR100967112B1 (ko) * 2008-11-10 2010-07-05 주식회사 하이닉스반도체 출력 인에이블 신호 생성회로
KR100980061B1 (ko) 2008-12-23 2010-09-03 주식회사 하이닉스반도체 제어신호 생성회로
KR101020290B1 (ko) * 2009-01-12 2011-03-07 주식회사 하이닉스반도체 버스트모드 제어회로
KR101047003B1 (ko) 2009-06-26 2011-07-06 주식회사 하이닉스반도체 프리차지신호 생성회로 및 반도체 메모리 장치
KR101052078B1 (ko) * 2010-02-26 2011-07-27 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치 및 그 동작 방법
US9563253B2 (en) 2013-03-12 2017-02-07 Intel Corporation Techniques for power saving on graphics-related workloads
US9715909B2 (en) 2013-03-14 2017-07-25 Micron Technology, Inc. Apparatuses and methods for controlling data timing in a multi-memory system
KR102686058B1 (ko) * 2016-09-06 2024-07-17 에스케이하이닉스 주식회사 반도체장치
US11462261B2 (en) * 2019-10-10 2022-10-04 Micron Technology, Inc. Methods of activating input/output lines of memory devices, and related devices and systems
US11715503B2 (en) 2021-03-26 2023-08-01 Changxin Memory Technologies, Inc. Signal generation circuit and memory
CN116072170A (zh) 2021-11-03 2023-05-05 长鑫存储技术有限公司 存储器读写电路、存储器控制方法及电子设备
CN116072169A (zh) * 2021-11-03 2023-05-05 长鑫存储技术有限公司 存储器读写电路、存储器控制方法及电子设备
TWI849542B (zh) * 2022-10-20 2024-07-21 晶豪科技股份有限公司 適應性產生行選擇線訊號的方法及電路

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09167489A (ja) * 1995-11-13 1997-06-24 Samsung Electron Co Ltd カラム選択信号制御回路
JP2003331579A (ja) * 2002-04-27 2003-11-21 Samsung Electronics Co Ltd 同期式半導体メモリ装置のカラムデコーダ・イネーブルタイミングの制御方法及びその装置

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6038176A (en) * 1997-12-10 2000-03-14 Winbond Electronics Corporation Presettable semiconductor memory device
JPH11306758A (ja) * 1998-04-27 1999-11-05 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体記憶装置
JP2000021198A (ja) * 1998-06-30 2000-01-21 Mitsubishi Electric Corp 同期型半導体集積回路装置
JP2003059264A (ja) * 2001-08-08 2003-02-28 Hitachi Ltd 半導体記憶装置
US6972978B1 (en) * 2002-03-15 2005-12-06 Integrated Device Technology, Inc. Content addressable memory (CAM) devices with block select and pipelined virtual sector look-up control and methods of operating same
ITMI20021540A1 (it) 2002-07-12 2004-01-12 St Microelectronics Srl Regolatore di tensione multifase di tipo buck
JP2004178729A (ja) * 2002-11-28 2004-06-24 Hitachi Ltd 半導体記憶装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09167489A (ja) * 1995-11-13 1997-06-24 Samsung Electron Co Ltd カラム選択信号制御回路
JP2003331579A (ja) * 2002-04-27 2003-11-21 Samsung Electronics Co Ltd 同期式半導体メモリ装置のカラムデコーダ・イネーブルタイミングの制御方法及びその装置

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