JP2006156447A - 発光素子用配線基板ならびに発光装置およびその製造方法 - Google Patents

発光素子用配線基板ならびに発光装置およびその製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2006156447A
JP2006156447A JP2004340339A JP2004340339A JP2006156447A JP 2006156447 A JP2006156447 A JP 2006156447A JP 2004340339 A JP2004340339 A JP 2004340339A JP 2004340339 A JP2004340339 A JP 2004340339A JP 2006156447 A JP2006156447 A JP 2006156447A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
emitting element
light emitting
metal
wiring board
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2004340339A
Other languages
English (en)
Inventor
Yasuhiro Sasaki
康博 佐々木
Tomohide Hasegawa
智英 長谷川
Minako Izumi
美奈子 泉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kyocera Corp
Original Assignee
Kyocera Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kyocera Corp filed Critical Kyocera Corp
Priority to JP2004340339A priority Critical patent/JP2006156447A/ja
Priority to US11/568,258 priority patent/US20080043444A1/en
Priority to PCT/JP2005/006727 priority patent/WO2005106973A1/ja
Priority to TW094110792A priority patent/TW200541415A/zh
Publication of JP2006156447A publication Critical patent/JP2006156447A/ja
Priority to US13/071,431 priority patent/US8314346B2/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32225Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48225Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/48227Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73265Layer and wire connectors

Landscapes

  • Led Device Packages (AREA)
  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)

Abstract

【課題】熱放散性及び信頼性に優れた発光素子用配線基板並びに発光装置を提供する。
【解決手段】セラミックスからなる絶縁層1を複数積層してなる絶縁基体3と、該絶縁基体3の表面又は内部のうち少なくとも一方に形成された導体層3、7と、前記絶縁基体3を貫通して設けられた前記絶縁層1よりも高い熱伝導率を有する貫通金属体11と、発光素子25を搭載する搭載部15と、を具備する発光素子用配線基板17であって、該貫通金属体11の側面に段差部が形成されているとともに、前記絶縁層1の積層面に、前記段差部の端部から前記絶縁層1の積層面に金属層13が延設されていることを特徴とする。
【選択図】図1

Description

本発明は、例えば、発光ダイオード等の発光素子を搭載するための発光素子用配線基板ならびに発光装置およびその製造方法に関する。
従来、LEDを用いた発光装置は、非常に発光効率が高く、しかも、白熱電球などと比較すると発光に伴い発生する熱量が小さいために様々な用途に用いられてきた。しかしながら、白熱電球や蛍光灯などと比較すると発光量が小さいために、照明用ではなく、表示用の光源として用いられ、通電量も30mA程度と非常に小さいものであった。そして、その実装形態は通電量が小さく、発熱が小さいことから発光素子を樹脂に埋め込んだ、いわゆる砲弾型が主流を占めている(特許文献1参照)。
そして、近年では、発光素子を用いた発光装置の高輝度化、白色化に伴い、携帯電話や大型液晶TV等のバックライトに発光装置が多く用いられてきている。しかしながら、発光素子の高輝度化に伴い、発光装置から発生する熱も増加しており、温度上昇による発光素子の輝度の低下をなくす為には、このような熱を素子より速やかに放散する高い熱放散性を有する発光素子用配線基板が必要となっている(特許文献2、3参照)。
そして、発光素子用配線基板の放熱性を改善する手段として、発光素子用配線基板に放熱穴を形成するとともに、発光素子が形成される側の放熱穴を覆う補助セラミックシートを設け、この補助セラミックシートに発光素子を搭載することが提案されている。また、この手法では、放熱穴に金属ペーストを充填することも提案されている(特許文献4参照)。
特開2002−124790号公報 特開平11−112025号公報 特開2003−347600号公報 特許3469890号公報
しかしながら、特許文献4に記載の方法では、放熱穴を形成した場合においても放熱穴の内部は熱伝導性の悪い空気が存在するのみで、放熱性を格段に向上させることは望めない。
また、放熱穴に金属ペーストを充填したとしても、そもそも、金属ペーストの熱伝導率は金属よりも格段に低く、放熱性の劇的な改善は見込めない。しかも、発光素子用配線基板と導体ペーストの固定、接続の信頼性に関する問題が依然、解決されていないのである。
従って本発明は、熱放散性、信頼性に優れた発光素子用配線基板ならびに発光装置を提供することを目的とする。
本発明の発光素子用配線基板は、セラミックスからなる絶縁層を複数積層してなる絶縁基体と、該絶縁基体の表面又は内部のうち少なくとも一方に形成された導体層と、前記絶縁基体を貫通して設けられた前記絶縁層よりも高い熱伝導率を有する貫通金属体と、発光素子を搭載する搭載部と、を具備する発光素子用配線基板であって、該貫通金属体の側面に段差部が形成されているとともに、前記絶縁層の積層面に、前記段差部の端部から前記絶縁層の積層面に金属層が延設されていることを特徴とする。
また、本発明の発光素子用配線基板は、前記金属層の段差部端部からの延設距離が50μm以上であることが望ましい。
また、本発明の発光素子用配線基板は、前記貫通金属体が、該発光素子用配線基板に搭載される発光素子の搭載面積よりも大きな断面積を有することが望ましい。
また、本発明の発光素子用配線基板は、前記貫通金属体および前記金属層が、W、Mo、CuおよびAgのうち少なくとも1種を主成分とすることが望ましい。
また、本発明の発光素子用配線基板は、前記貫通金属体および前記金属層が、金属とセラミックスとを含有する複合体であることが望ましい。
また、本発明の発光素子用配線基板は、前記貫通金属体が、電気回路を形成していることが望ましい。
また、本発明の発光素子用配線基板は、前記絶縁基体の熱伝導率が30W/m・K以上、且つ熱膨張係数が8.5×10−6/℃以上であることが望ましい。
また、本発明の発光素子用配線基板は、前記絶縁基体が、MgOを主結晶相とするMgO質焼結体からなることが望ましい。
また、本発明の発光素子用配線基板は、前記絶縁基体が、Alを主結晶相とするAl質焼結体からなることが望ましい。
また、本発明の発光素子用配線基板は、前記発光素子用配線基板の主面に形成された、前記貫通金属体のメタライズ層と前記絶縁基板との境界を金属、セラミックス、樹脂のうち少なくとも1種を主成分とする被覆層により被覆したことが望ましい。
また、本発明の発光素子用配線基板は、前記発光素子用配線基板の搭載部が形成された側の主面に、枠体が形成されてなることが望ましい。
本発明の発光装置は以上説明した発光素子用配線基板の搭載部に発光素子を搭載してなることを特徴とする。
本発明の発光素子用配線基板の製造方法は、少なくとも、セラミックグリーンシートと略同一厚みの金属シートをセラミックグリーンシートを貫通するように形成して複合成形体を作製する工程と、金属粉末と樹脂とを含有する導体ペーストを前記複合積層体のセラミックグリーンシートと金属シートとの境界を覆うように形成する工程と、少なくとも異なる大きさの金属シートが埋め込まれた前記複合成形体同士を積層して段差のある金属シートを具備する積層体を作製する工程と、該積層体を焼成する工程と、を具備することを特徴とする。
本発明の発光素子用配線基板は、絶縁基体よりも、さらに高い熱伝導率を有する貫通金属体を、前記絶縁基体を貫通して設けることで、発光素子から発生する熱を更に速やかに発光素子用配線基板外へ放散することができるため、発光素子が過剰に加熱されることを防止できるため、輝度低下を防ぐ、あるいは、また、さらに高輝度にすることが可能となる。しかも、絶縁基体をセラミックスにより形成することにより、樹脂モールド基板より高い熱伝導率を有し、且つ長期間にわたって光源によって分子構造が変化することがないため、色調変化(黒色化など)や、特性の劣化がほとんど起こらず、高い信頼性を有している。
さらに、貫通金属体の側面に段差を設けることで、貫通金属体と絶縁基体との接触面積が増加するために両者の接着力が増加して、貫通金属体が抜け落ちることがなくなる。しかも、前記貫通金属体の端部から前記絶縁基体の積層面に金属層を延設することにより、前記貫通金属体と前記絶縁基体の両者の熱膨張係数の相違に起因して発生する応力が、前記貫通金属体端部近傍に集中することを緩和できるため、配線基板に外力や熱衝撃力が印加されても、クラックや剥離がほとんど発生せず、高い接合信頼性を得ることができる。
また、前記貫通金属体を、該発光素子用配線基板に搭載される発光素子の搭載面積よりも大きな断面積とすることにより、放熱部分が増加し、更に発光素子から発生する熱を速やかに放散することができる。
また、W、Mo、Cu、Agのうち少なくとも1種を主成分として前記貫通金属体および前記金属層を形成することで、絶縁基体との同時焼成による表面および内部配線形成が可能となり、且つ熱放散性に優れた安価な発光素子用配線基板を得ることができる。
また、前記貫通金属体および前記金属層を少なくとも金属材料とセラミック材料とを含有する複合体とすることにより、貫通金属体に所望の特性を制御することが容易となり、例えば、金属体との熱膨張係数を近づけた場合には、熱膨張のミスマッチによる金属体―発光素子用配線基板間でのクラック発生を抑制でき、且つセラミック材料が絶縁基体との接着強度を高めることができる。また、貫通金属体と絶縁基体とを同時焼成することが可能となり、工程を簡略化することもできる。
また、前記貫通金属体の少なくとも一方の端面を絶縁膜で覆うことにより、外部端子との短絡が防止でき、また、発光装置をプリント板などに実装する際に貫通金属体直下に配線を配すことが可能となるため機器を小型化することができる。また、絶縁膜を発光素子搭載側に形成した場合には、発光素子電極間の短絡を防止でき、発光素子のフリップチップ実装を簡便にすることができる。
また、前記貫通金属体の熱伝導率を80W/m・K以上とすることで、更に発光素子から発生する熱を速やかに放散することができ、且つ絶縁基体との熱膨張差Δαを4×10−6/℃以下とすることにより、絶縁基体との熱膨張差を小さくすることができるため、貫通金属体と絶縁基体との接合信頼性を向上させることができる。
また、前記貫通金属体に、電気回路としての機能を付与することにより、導通端子が不要となり、発光素子用配線基板の小型化が可能となる。
また、前記絶縁基体を、Alを主結晶相とするAl質焼結体により形成することで、安価な原料を使用できるため、安価な発光素子用配線基板を得ることができる。
また、絶縁基体の熱伝導率を30W/m・K以上とし、且つ熱膨張係数を8.5×10−6/℃以上とすることで、絶縁基体自体の放熱性を向上させることができ、貫通金属体との熱膨張差を小さくすることができるため、貫通金属体と絶縁基体との接合信頼性を向上させることができる。また、絶縁基体の熱膨張係数が大きくなっているため、貫通金属体の金属含有量も増加させることができ、貫通金属体の熱伝導率も高くすることができる。
また、絶縁基体を、MgOを主結晶相とするMgO質焼結体により形成することで、絶縁基体の熱膨張係数を10×10−6/℃程度に制御できるため、汎用品である10×10−6/℃以上の熱膨張係数を持つプリント基板への実装信頼性が向上できる。
また、前記発光素子用配線基板の主面に形成された、前記絶縁基板と前記貫通金属体との境界を、金属、セラミックス、樹脂のうち少なくとも1種を主成分とする被覆層により被覆することで金属体と絶縁基体との熱膨張差を緩衝し、境界間でのクラックの発生を抑制できる。
また、発光素子用配線基板の搭載部の主面に、発光素子を収納するための枠体を設けることで、発光素子を保護できるとともに、発光素子の周辺に蛍光体などを容易に配置することができる。
また、枠体により発光素子の発する光を反射させて所定の方向に誘導することもできる。
以上説明した本発明の発光素子用配線基板に発光素子を搭載した本発明の発光装置によれば、発光素子からの発熱を速やかに装置外に放出することができるため、発熱による輝度低下を抑制できる。
また、本発明の発光素子用配線基板の製造方法によれば、以上説明した発光素子用配線基板を容易に作製することができる。
本発明の発光素子用配線基板は、例えば、図1(a)に示すように、セラミックスにより形成された絶縁層1を積層して形成された絶縁基体3と、絶縁基体3の主面3aに形成された発光素子との接続端子5、絶縁基体3の他方の主面3bに形成された外部電極端子7、接続端子5と外部電極端子7とを電気的に接続するように、絶縁基体3を貫通して設けられた貫通導体9と、絶縁基体3を貫通して設けられた絶縁基体3よりも熱伝導率が高く側面に段差部が形成された貫通金属体11及び貫通金属体11の端部から絶縁基体3の積層面に延設された金属層13から形成され、一方の接続端子5aと他方の接続端子5bとの間には、発光素子を搭載するための搭載部15が形成されている。
また、例えば、本発明の発光素子用配線基板17は、図1(b)に示すように、搭載部15側に、搭載される発光素子から発せられる光を所定の方向に反射、誘導するための枠体19が形成されている。この枠体19は、金属や樹脂などからなる接着層21によって絶縁基体3に接続されている。また、あるいは、枠体19は、絶縁基体3と一体化して形成されていてもよい。
本発明の発光素子用配線基板17によれば、発光素子用配線基板17に搭載される発光素子からの熱を効率的に放熱するために、絶縁基体3よりも高い熱伝導率を有する貫通金属体11が、絶縁基体3を貫通して設けられてなることが重要である。
また、貫通金属体11は、図1(a)に示すように階段状の形態や、図1(b)に示すように貫通金属体11の露出面側を絞り込むような形状にすることにより、貫通金属体11と絶縁基体3との接触面積が増加するため、両者の固定がより容易となる。特に、図1(b)のように、絶縁基体3に埋設された部分の貫通金属体11が、絶縁基体3から露出した部分の貫通金属体11よりも大きくなるような形態では、貫通金属体11を物理的に強固に固定することができる。
また、本発明の発光素子用配線基板17によれば、段差部を設けた貫通金属体11の端部の近傍に集中する応力を緩和するために、貫通金属体11の段差部の端部から延設された金属層13を有することも重要である。
このように貫通金属体11を延設するように金属層13を設けることで、段差部に集中する応力を緩和することができ、貫通金属体11に段差部を設けた場合でも、絶縁基体3の積層面への亀裂の発生を抑制することができる。
すなわち、本発明の発光素子用配線基板17によれば、貫通金属体11に段差部を設けるとともに、この段差部から延設される金属層13を設けることで、格段に放熱性が高く、しかも、絶縁層1の積層面への亀裂の発生が抑制された信頼性に優れた発光素子用配線基板17となるのである。
また、金属層13の延設された幅Wは、応力緩和の観点から50μm以上とすることが望ましく、特に、200μm以上、さらには400μm以上とすることが望ましい。
また、貫通金属体11の貫通方向に直交する面の最小断面積を発光素子用配線基板17に搭載される発光素子の搭載面積よりも大きな断面積を有するものとすることが好ましい。貫通金属体11の断面積を大きくすることにより、放熱部分が増加し、更に発光素子から発生する熱を速やかに放散することができる。特に、断面積は1.1倍以上が良く、更に好適には1.2倍以上とすることが望ましい。
また、貫通金属体11およびこれらの配線回路を形成する配線層5、7、9を、W、Mo、Cu、Agのうち少なくとも1種を主成分として形成することで、絶縁基体3と同時焼成して、接続端子5、外部電極端子7、貫通導体9、貫通金属体11を形成することが可能となり、安価な発光素子用配線基板17を迅速に作製することができる。
なお、貫通金属体11には、上記の金属に加えて、貫通金属体11の熱膨張係数、焼結挙動を制御するために無機粉末を含有させることもできる。その含有量は、0〜5質量%の割合が望ましく、高熱伝導率を得るためには、0〜4質量%がより望ましく、好適には0〜3質量%が良い。
また、金属粉末と無機粉末との混合体を用いることで、例えば、セラミックグリーンシートに形成した貫通孔に、金属粉末と無機粉末との混合体を充填して、同時焼成することができ、絶縁基体3と貫通金属体11とが強固に接合された発光素子用配線基板17を容易に作製することができる。また、貫通金属体11は、金属粉末と樹脂との複合体によっても形成することもできるが、その場合には、同時焼成することはできず、熱伝導率の低い樹脂を用いるために貫通金属体11の熱伝導率も低下するという欠点がある。
貫通金属体11の熱膨張係数を制御する上では、貫通金属体11の熱膨張係数を絶縁基体3の熱膨張係数に近くすることが望ましく、両者の熱膨張ミスマッチを防ぐことで、さらに、高信頼性の発光素子用配線基板17とすることができる。特に、絶縁基体3と貫通金属体11との熱膨張係数差は4.0×10−6/℃以下が良く、更に好適には2.0×10−6/℃以下が良く、最も好適には1.0×10−6/℃以下が良い。
また、この貫通金属体11に、電気回路としての機能を付与した場合には、小型で、しかも放熱性に優れた発光素子用配線基板17となる。
また、この絶縁基体3として、Alを主結晶相とするAl質焼結体を用いた場合には、安価な原料を使用でき、安価な発光素子用配線基板17を得ることができる。
なお、Alを主結晶相とするAl質焼結体とは、例えば、X線回折によって、Alのピークが主ピークとして検出されるようなもので、Alの結晶を体積比率として、50体積%以上含有していることが望ましい。
また、このような焼結体は、例えば、平均粒径1.0〜2.0μmの純度99%以上のAl粉末に、平均粒径1.0〜2.0μmのMn、SiO、MgO、SrO、CaOの群から選ばれる少なくとも1種の焼結助剤を添加した成形体を1300〜1500℃の温度範囲で焼成することによって得られるものである。
そして、焼結助剤などのAl以外の組成物の添加量については、Alを主結晶とする緻密体を得るために、望ましくは15質量%以下、更に望ましくは、10質量%以下とすることが望ましい。特に、焼結助剤などのAl以外の組成物の添加量を15質量%以下とした場合には、得られる絶縁基体3の大部分をAl結晶により形成することができる。また、これらの焼結助剤は、焼成温度を低くするために5質量%以上、さらには7質量%以上添加することが望ましい。なお、絶縁基体3に用いるセラミックスとして、AlNやSiなどを主結晶とする焼結体を用いても良い。
また、この発光素子用配線基板17に用いる絶縁基体3の熱伝導率を30W/m・K以上、且つ熱膨張係数を8.5×10−6/℃以上とすることが望ましく、このような絶縁基板を用いた場合には、高熱伝導で、しかも、熱膨張係数の大きい貫通金属体11や外部のプリント基板などとの熱膨張差を小さくすることができるため、接続信頼性を格段に高くすることができる。また、搭載される発光素子を被覆するために設けられる樹脂などとの接合信頼性も同時に改善されることはいうまでもない。
そして、例えば、この絶縁基体3として、MgOを主結晶相とするMgO質焼結体を用いることで、絶縁基体の熱膨張係数を10×10−6/℃程度に制御できるため、汎用品である10×10−6/℃以上の熱膨張係数を持つプリント基板への実装信頼性が向上できる。また、熱伝導係数についても、30W/m・K以上を達成することができる。
なお、MgOを主結晶相とするMgO質焼結体とは、例えば、X線回折によって、MgOのピークが主ピークとして検出されるようなもので、MgOの結晶を体積比率として、50体積%以上含有していることが望ましい。
また、このような焼結体は、例えば、平均粒径0.1〜8μmの純度99%以上のMgO粉末に、平均粒径0.1〜8μmのYやYbなどの希土類元素酸化物、Al、SiO、CaO、SrO、BaO、B、ZrOの群から選ばれる少なくとも1種の焼結助剤を添加した成形体を1300〜1700℃の温度範囲で焼成することによって得られるものである。また、あるいは、MgOを含有するMgAlやMgO・SiO系の複合酸化物を添加してもよい。そして、焼結助剤などのMgO以外の組成物の添加量については、MgOを主結晶とする緻密体を得るために、望ましくは30質量%以下、更に望ましくは、20質量%以下とすることが望ましい。特に、焼結助剤などのMgO以外の組成物の添加量が10質量%以下とした場合には、得られる絶縁基体3の大部分をMgO結晶により形成することができる。また、これらの焼結助剤は、焼成温度を低くするために3質量%以上、さらには5質量%以上添加することが望ましい。なお、絶縁基体3に用いるセラミックスとして、AlNやSiなどを主結晶とする焼結体を用いても良い。
このようなMgOやAlを主成分とする組成物に、さらに、バインダー、溶剤を添加して、スラリーを作製し、例えば、ドクターブレード法により、シート状の成形体を作製し、さらに、その表面や、シート状の成形体に設けた貫通孔などに、少なくとも金属粉末を含有する導体ペーストを印刷、充填したのち、このシートを積層し、酸化雰囲気、還元雰囲気、あるいは不活性雰囲気で焼成することで、表面や内部に接続端子5や外部電極端子7や貫通導体9などの配線層が形成された発光素子用配線基板17を作製することができる。また、配線層は、薄膜法により絶縁基板1の表面に形成したり、金属箔を成形体の表面に転写するなどして形成できることはいうまでもない。
そして、このような絶縁基体3の表面あるいは内部に、接続端子5、外部電極端子7、貫通導体9、貫通金属体11を形成することで、発光素子用配線基板17に配線回路を形成することができる。
かかる貫通金属体11は、実質的に同一厚みのセラミックグリーンシートと、金属材料または、金属材料とセラミック材料からなる金属シートを作製する工程と、セラミックグリーンシートの所定箇所に貫通孔を形成する工程と、前記貫通孔を形成したセラミックグリーンシートに金属シートを積層する工程と、セラミックグリーンシートにおける貫通孔形成部分を金属シート側から押圧することによって、金属シートの一部を前記貫通孔内に埋め込み、セラミックグリーンシートと金属シートとを一体化した成形体を焼成することで形成できる。
なお、この金属シートは、例えば、金属粉末に、必要に応じて樹脂、溶剤やセラミック粉末などを添加したスラリーをドクターブレード法などにより成形することで容易に作製することができる。
例えば、先ず、図2(a)に示すように、貫通穴51が形成された下金型53にセラミックグリーンシート55を載置して、図2(b)に示すように、上金型57によりセラミックグリーンシート55に貫通孔59を形成した後、上金型57と不要なセラミックグリーンシート55bを除去する。
次に、図2(c)に示すように、貫通孔59が形成されたセラミックグリーンシート55bの上に、予め作製しておいたセラミックグリーンシート55bと略同じ厚みの金属シート61を載置する。
次に、上金型57により、貫通孔59と重なる部分の金属シート61aを、図2(d)に示すように、貫通孔59内に押し込み、図3(e)に示すように、上金型57と不要な金属シート61bとを除去することで、図3(f)に示すようなセラミックグリーンシート55aと金属シート61aとが一体した複合シート63を得ることができる。
次に、この複合シート63に対して、図3(g)に示すように、金属粉末と樹脂とを含有する導体ペーストを印刷して、焼成後に金属層となる金属層成形体65を形成する。
次に、このようにして作製した金属層成形体65、金属シート61aを備えた複合シート63を、図3(f)に示すように積層して作製した成形体を焼成することで図1に示すような発光素子用配線基板17を容易に作製することができる。
また、金属シート61aをセラミックグリーンシート55に押し込むにあたり、貫通孔59を形成する工程と、金属シート61aをセラミックグリーンシート55に押し込む工程とを同時に行っても良い。
また、図2、3では、貫通導体9については、触れていないが必要に応じ、貫通導体9を形成するための貫通孔を設け、導体ペーストをこの貫通孔に充填して、積層体を形成した後、焼成することで貫通導体9を形成することができるのはいうまでもない。
そして、これらの配線回路に用いる導体および貫通金属体11を、W、Mo、Cu、Agのうち少なくとも1種を主成分として形成することで、絶縁基体3と同時焼成して、接続端子5、外部電極端子7、貫通導体9、貫通金属体11を形成することが可能となり、安価な発光素子用配線基板17を得ることができる。
また、接続端子5および貫通金属体11の表面にAlやAgめっきを施すことにより、反射率を向上させることができる。
また、絶縁基体3の主面に形成された、絶縁基体3と貫通金属体11との境界を、金属、セラミックス、樹脂のうち少なくとも1種を主成分とする被覆層23により被覆することが望ましい。これらの被覆層23で貫通金属体11と絶縁基体3との境界を被覆することにより、両者の熱膨張差を緩衝し、境界でのクラックの発生を抑制することができる。
また、枠体19を、セラミックスにより形成することで、絶縁基体3と枠体19とを同時焼成することができ、工程が簡略化されるため、安価な発光素子用配線基板17を容易に作製することができる。また、セラミックスは耐熱性、耐湿性に優れているため、長期間の使用や、悪条件での使用にも、優れた耐久性を有する発光素子用配線基板17となる。
また、安価で、加工性に優れた金属により枠体19を形成することで、複雑な形状の枠体19であっても、容易に安価に製造することができ、安価な発光素子用配線基板17を供給することができる。この金属製の枠体19は、例えば、AlやFe−Ni−Co合金等などにより好適に形成することができる。また、枠体19の表面には、Ni、Au、Agなどからなるめっき層(図示せず)を形成してもよい。
なお、このように枠体19を金属により形成する場合には、予め、絶縁基体3の主面3aに金属パターン(図示せず)を形成し、この金属パターンと枠体19とを、例えば、共晶Ag−Cuろう材等からなるろう材(図示せず)を介して、ろう付けすることができる。
そして、以上説明した本発明の発光素子用配線基板17の搭載部15に、例えば、図4(a)に示すように発光素子25として、LEDチップ25などを搭載し、ボンディングワイヤ27により発光素子25に給電することにより、発光素子25を機能させることができ、発光素子25からの発熱を貫通金属体から速やかに放出するためことができるため、ヒートシンク等の放熱部材が不要となり、実装される電気機器の小型化に寄与できるとともに、熱膨張係数をプリント基板に近いものとすることにより、プリント基板やモールド材との熱膨張係数のミスマッチを抑制できるため、接合信頼性の高い発光装置29ができる。
この発光素子用配線基板17と発光素子25との接続には、金属や樹脂からなる接続層31が用いられる。特に、発光素子25の熱を貫通金属体11に効率よく伝達するという観点から、接続層31として半田、インジウム、AuSn合金などの金属を用いることが望ましい。
なお、本発明においてもヒートシンクを設けることで、更に放熱性が向上することはもちろんであり、例えば、ヒートシンクのような冷却装置を設けることを排除するものではない。
また、発光素子用配線基板17に形成された搭載部15に、例えば発光素子25として、LEDチップ25などを搭載し、ボンディングワイヤ27により、LEDチップ25と接続端子5と電気的に接続して、給電することにより、発光素子25の放射する光を絶縁基体3や枠体19に反射させ、所定の方向へと誘導することができるため、高効率の発光装置29となる。また、絶縁基体3並びに枠体19の熱伝導率が高いため、発光素子25からの発熱を速やかに放出することができ、発熱による輝度低下を抑制できる。
また、図4(b)に示すように、発光素子25を搭載した側の発光素子用配線基板17の主面3aに、枠体19を搭載した発光装置29では、枠体19の内側に発光素子25を収納することで、容易に発光素子25を保護することができる。
なお、図4(a)、(b)に示した例では、発光素子25は、接着剤29により発光素子用配線基板17に固定され、電力の供給はボンディングワイヤ27によりなされているが、発光素子用配線基板17との接続形態は、フリップチップ接続であってもよいことはいうまでもない。
また、発光素子25は、モールド材33により被覆されているが、モールド材33を用いずに、蓋体(図示せず)を用いて封止してもよく、また、モールド材33と蓋体とを併用してもよい。蓋体を用いる場合であって、発光素子25を用いる場合には蓋体は、ガラスなどの透光性の素材を用いることが望ましい。
なお、発光素子25を搭載する場合には、必要に応じて、このモールド材33に発光素子25が放射する光を波長変換するための蛍光体(図示せず)を添加してもよい。
また、以上説明した例では、貫通導体9を設けた例について説明したが、貫通導体9を設けない場合であってもよく、また、絶縁基体3が多層に積層されている形態であってもよいことは勿論である。
発光素子用配線基板の絶縁基体の原料粉末として純度99%以上、平均粒径が1μmのMgO粉末、純度99%以上、平均粒子径1μmのY粉末、純度99%以上、平均粒径1.5μmのAl粉末を用いて、表1に示す割合で原料粉末を混合し、成形用有機樹脂(バインダ)としてアクリル系バインダと、トルエンを溶媒として混合し、スラリーを調整した。しかる後に、ドクターブレード法にてMgOを主成分とするグリーンシートを作製した。
また、原料粉末として純度99%以上、平均粒径が1.5μmのAl粉末、純度99%以上、平均粒子径1.3μmのMn粉末、純度99%以上、平均粒径1.0μmのSiO粉末を用いて、表2に示す割合で原料粉末を混合し、成形用有機樹脂(バインダ)としてアクリル系バインダと、トルエンを溶媒として混合し、スラリーを調整した。しかる後に、ドクターブレード法にてAlを主成分とするグリーンシートを作製した。
これらの表1、2のA〜Hの組成を有するセラミック粉末を含有するグリーンシートに対して、それぞれ、表1、2に示す導体ペーストと金属シートを作製した。
導体ペーストは、平均粒子径2μmのW、Mo、Cu、Ag粉末およびセラミック材料として平均粒子径1.5μmのAl粉末を用いて、表1、2に示す割合で金属粉末と無機粉末とアクリル系バインダとアセトンとを溶媒として混合して調製した。
また、金属シートは、導体ペーストと同様の割合で、表1、2に示す金属粉末と無機粉末と成形用有機樹脂(バインダ)としてアクリル系バインダと、トルエンを溶媒として混合し、金属シートとなるスラリーを調整した。しかる後に、ドクターブレード法にてグリーンシートと実質的に同一厚みの金属シートを作製した。
次に、上記のセラミックグリーンシートに対して、打ち抜き加工を施し、直径が100μmのビアホールを形成し、このビアホール内に、導体ペーストをスクリーン印刷法によって充填するとともに、配線パターン状に印刷塗布した。
そして、セラミックグリーンシートの所定箇所に貫通孔を形成し、セラミックグリーンシートにおける貫通孔形成部分を金属シートから押圧することによって、金属シートの一部を貫通孔内に埋め込み、セラミックグリーンシートと金属シートとを一体化した。このセラミックグリーンシートと金属シートとを一体化したシートに、金属シートと同材質の導体ペーストを、焼成後に金属シートの端部から表3に示す所定量だけ、金属層が延設するようにスクリーン印刷法で塗布した。
このようにして作製した金属シートと一体化され、金属層となる導体ペーストを塗布されたグリーンシートを組み合わせ、位置合わせし、積層圧着し、焼成後に外形10mm×10mm×厚み0.6mmとなる積層体を作製した。
また、枠体をセラミックグリーンシートにより形成する試料については、絶縁基体と枠体とをグリーンシートにて一体物として形成し、同時焼成を行って作製した。
なお、その枠体と絶縁基体とを同時焼成して作製する試料については、焼成後に、10mm×10mm×2mmの外形寸法を有し、枠体の発光素子用配線基板の搭載部が形成された側に、絶縁基体と接する側の内径が4mm、逆側の内径が8mmのテーパー状の貫通穴を有する枠体を形成した。
そして、露点+25℃の窒素水素混合雰囲気にて脱脂を行った後、引き続き、露点+25℃の窒素水素混合雰囲気にて1300〜1500℃の最高温度で2時間焼成した。
こうして、図1(a)に示すような階段状の貫通金属体及び図1(b)に示すような側面が凸状の貫通金属体を有する発光素子用配線基板を作製した。
なお、本実施例においては、いずれも3層の絶縁層の積層体により、発光素子用配線基板を作製した。表3において、貫通金属体の形状が、階段状と記載したものは、搭載部側から、順に0.7〜1.2mm□、2mm□、2mm□の形状の貫通金属体を形成したものである。側面凸状と記載したものは、搭載部側から、順に1mm□、2mm□、1mm□の形状の貫通金属体を形成したものである。
また、比較例として、貫通金属遺体の側面に凹凸がなく、金属層もない試料も作製した。なお、比較例においては、絶縁層を3層構造とし、3層の貫通金属体を全て1mm□として作製した。
また、他の比較例として、貫通金属体を設けない試料も作製した。
その後、接続端子並びに外部電極端子の表面にNi、AuおよびAgめっきを順次施した。なお、MgOの耐薬品性がAlなどと比較すると低いため、めっき処理液の濃度を薄くし、めっき処理温度を低くして、発光素子用配線基板の表面状態が劣化しないようにして、本発明の発光素子用配線基板のめっき処理を行った。
なお、一部の試料については、焼成した後で、絶縁基体と貫通金属体との境界にエポキシ樹脂を塗布し、150℃、1時間の条件で硬化させ、約20μmの厚みの被覆層を形成した。
また、金属製の枠体としては、熱膨張係数が23×10−6/℃、熱伝導率が238W/m・KのAl製金属枠体と、熱膨張係数が6×10−6/℃、熱伝導率が17W/m・KのFe−Ni−Co合金製金属枠体とを用いた。また、金属製の枠体を設けた発光素子用配線基板については、接続端子並びに外部電極端子を形成する導体ペーストを用いて、絶縁基体の搭載部側の枠体が搭載される部分に金属層を形成したのち、共晶Ag−Cuのロウ材を用いて、850℃の条件で、枠体を絶縁基体に接合して作製した。
これらの発光素子用配線基板に接着剤として半田を用いて出力1.5Wの発光素子である1mm□のLEDチップを搭載部に実装し、ボンディングワイヤによりLEDチップと接続端子とを結線し、さらに、LEDチップと接続端子とを熱膨張係数が40×10−6/℃のエポキシ樹脂からなるモールド材で覆い、発光装置を得た。
得られた発光装置を、−55℃〜125℃の温度サイクル試験を500サイクル行い、100サイクルごとに基板を抜き取り、切断してSEM観察を行い貫通金属体と絶縁基体界面の接合状況を確認した。
また、発光装置に0.4Aの電流を通電し、全放射束測定を行った。
得られた絶縁基体を粉砕し、X線回折により絶縁基体の主結晶相を同定した。
また、絶縁基体及び貫通金属体の熱伝導率は、それぞれを個別に形成した試料を用いてレーザーフラッシュ法により測定し、熱膨張係数はTMAにより、25〜400℃の範囲で測定した。
また、一部の試料については、作製した発光素子用配線基板の絶縁基体と貫通金属体との接着状態を確認するため、押し抜き試験として、1mmΦの円柱棒を貫通導体のチップ側の端面に押し当てながらヘッドスピード0.5mm/minにて荷重をかけてゆき、貫通導体が押し抜かれたときの荷重を測定した。
なお、1mmΦの円柱棒の貫通導体と接する部分には、貫通導体よりも0.15mm小さい四角のアタッチメントを取り付けて、押し抜き加重を測定した。
以上の工程により作製した発光素子用配線基板の特性と、試験結果を表3に示す。
Figure 2006156447
Figure 2006156447
Figure 2006156447
表3に示すように、本発明の範囲外である貫通金属体がない試料No.23では、放熱性が劣るため、全放射束が160mwと低くなった。
また、本発明の範囲外である貫通金属体の側面に凹凸のない試料No.22では、放熱性に問題はないものの貫通金属体の押し抜き試験において200gの加重で貫通金属体が押し抜かれ、信頼性に難がある。
また、貫通金属体から延設された金属層がない本発明の範囲外の試料No.1、5は温度サイクル試験100サイクルにおいて、No.16は投入前の断面観察において、貫通金属体端部を起点に絶縁基体内部にクラックが発生していた。
一方、本発明の試料No.2〜4、6〜15、17〜21は、100サイクル経過後においても、貫通金属体と絶縁基体との界面にクラックや剥離といった異常はなく、LEDチップの過剰な加熱も発生せず、高い発光効率を実現することができた。
(a)は、本発明の発光素子用配線基板の断面図であり、(b)は、枠体を設けた本発明の発光素子用配線基板の断面図である。 は、本発明の発光素子用配線基板の製造方法を説明するための断面図である。 は、本発明の発光素子用配線基板の製造方法を説明するための断面図である。 (a)は、本発明の発光装置の断面図であり、(b)は、枠体を設けた本発明の発光装置の断面図である。
符号の説明
1・・・絶縁層
3・・・絶縁基体
5・・・接続端子
7・・・外部電極端子
9・・・貫通導体
11・・・貫通金属体
13・・・金属層
15・・・搭載部
17・・・発光素子用配線基板
19・・・枠体
19a・・・枠体の内壁面
25・・・発光素子
27・・・ボンディングワイヤ
29・・・発光装置

Claims (13)

  1. セラミックスからなる絶縁層を複数積層してなる絶縁基体と、該絶縁基体の表面又は内部のうち少なくとも一方に形成された導体層と、前記絶縁基体を貫通して設けられた前記絶縁層よりも高い熱伝導率を有する貫通金属体と、発光素子を搭載する搭載部と、を具備する発光素子用配線基板であって、該貫通金属体の側面に段差部が形成されているとともに、前記絶縁層の積層面に、前記段差部の端部から前記絶縁層の積層面に金属層が延設されていることを特徴とする発光素子用配線基板。
  2. 前記金属層の段差部端部からの延設距離が50μm以上であることを特徴とする請求項1に記載の発光素子用配線基板。
  3. 前記貫通金属体が、該発光素子用配線基板に搭載される発光素子の搭載面積よりも大きな断面積を有することを特徴とする請求項1または2に記載の発光素子用配線基板。
  4. 前記貫通金属体および前記金属層が、W、Mo、CuおよびAgのうち少なくとも1種を主成分とすることを特徴とする請求項1乃至3のうちいずれかに記載の発光素子用配線基板。
  5. 前記貫通金属体および前記金属層が、金属とセラミックスとを含有する複合体であることを特徴とする1乃至4のうちいずれかに記載の発光素子用配線基板。
  6. 前記貫通金属体が、電気回路を形成していることを特徴とする請求項1乃至5のうちいずれかに記載の発光素子用配線基板。
  7. 前記絶縁基体の熱伝導率が30W/m・K以上、且つ熱膨張係数が8.5×10−6/℃以上であることを特徴とする請求項1乃至6のうちいずれかに発光素子用配線基板。
  8. 前記絶縁基体が、MgOを主結晶相とするMgO質焼結体からなることを特徴とする請求項1乃至7のうちいずれかに記載の発光素子用配線基板。
  9. 前記絶縁基体が、Alを主結晶相とするAl質焼結体からなることを特徴とする請求項1乃至6のうちいずれかに記載の発光素子用配線基板。
  10. 前記発光素子用配線基板の主面に形成された、前記貫通金属体のメタライズ層と前記絶縁基板との境界を金属、セラミックス、樹脂のうち少なくとも1種を主成分とする被覆層により被覆したことを特徴とする請求項1乃至9のうちいずれかに記載の発光素子用配線基板。
  11. 前記発光素子用配線基板の搭載部が形成された側の主面に、枠体が形成されてなることを特徴とする請求項1乃至10のうちいずれかに記載の発光素子用配線基板。
  12. 請求項1乃至11のうちいずれかに記載の発光素子用配線基板の搭載部に発光素子を搭載してなることを特徴とする発光装置。
  13. 少なくとも、セラミックグリーンシートと略同一厚みの金属シートをセラミックグリーンシートを貫通するように形成して複合成形体を作製する工程と、金属粉末と樹脂とを含有する導体ペーストを前記複合積層体のセラミックグリーンシートと金属シートとの境界を覆うように形成する工程と、少なくとも異なる大きさの金属シートが埋め込まれた前記複合成形体同士を積層して段差のある金属シートを具備する積層体を作製する工程と、該積層体を焼成する工程と、を具備することを特徴とする発光素子用配線基板の製造方法。

JP2004340339A 2004-04-27 2004-11-25 発光素子用配線基板ならびに発光装置およびその製造方法 Pending JP2006156447A (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004340339A JP2006156447A (ja) 2004-11-25 2004-11-25 発光素子用配線基板ならびに発光装置およびその製造方法
US11/568,258 US20080043444A1 (en) 2004-04-27 2005-03-30 Wiring Board for Light-Emitting Element
PCT/JP2005/006727 WO2005106973A1 (ja) 2004-04-27 2005-03-30 発光素子用配線基板
TW094110792A TW200541415A (en) 2004-04-27 2005-04-06 Wiring board for light emitting element
US13/071,431 US8314346B2 (en) 2004-04-27 2011-03-24 Wiring board for light-emitting element

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004340339A JP2006156447A (ja) 2004-11-25 2004-11-25 発光素子用配線基板ならびに発光装置およびその製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2006156447A true JP2006156447A (ja) 2006-06-15

Family

ID=36634376

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004340339A Pending JP2006156447A (ja) 2004-04-27 2004-11-25 発光素子用配線基板ならびに発光装置およびその製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2006156447A (ja)

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008010486A (ja) * 2006-06-27 2008-01-17 Nichia Chem Ind Ltd 発光装置及びその製造方法
JP2009105153A (ja) * 2007-10-22 2009-05-14 Denki Kagaku Kogyo Kk 発光素子パッケージ用基板の製造方法および発光素子パッケージ
JP2010129727A (ja) * 2008-11-27 2010-06-10 Kyocera Corp 発光ランプ及び発光ランプを用いた照明装置
JP2010171157A (ja) * 2009-01-22 2010-08-05 Sanyo Electric Co Ltd 電子素子用パッケージ及び電子部品
JP2012044136A (ja) * 2010-08-13 2012-03-01 Samsung Electro-Mechanics Co Ltd セラミック基板の製造方法及びこれを用いたセラミック基板
WO2012070648A1 (ja) * 2010-11-25 2012-05-31 京セラ株式会社 発光素子実装用基体および発光装置
WO2015111452A1 (ja) * 2014-01-24 2015-07-30 旭硝子株式会社 発光素子用基板および発光装置
JP2015526908A (ja) * 2012-08-31 2015-09-10 エプコス アクチエンゲゼルシャフトEpcos Ag 発光ダイオード装置
JP2016500485A (ja) * 2012-12-21 2016-01-12 エプコス アクチエンゲゼルシャフトEpcos Ag コンポーネントキャリア及びコンポーネントキャリアアセンブリ
JP2016031977A (ja) * 2014-07-28 2016-03-07 旭硝子株式会社 発光素子用基板および発光装置
JP2016207761A (ja) * 2015-04-20 2016-12-08 三菱電機株式会社 実装用基板およびその製造方法
US10083889B2 (en) 2016-06-02 2018-09-25 Panasonic Corporation Electronic component package including sealing resin layer, metal member, ceramic substrate, and electronic component and method for manufacturing the same
JP2019192800A (ja) * 2018-04-25 2019-10-31 シャープ株式会社 発光素子モジュール

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03120791A (ja) * 1989-10-03 1991-05-22 Fujitsu Ltd 窒化アルミニウム基板のビア形成方法
JPH03272197A (ja) * 1990-03-22 1991-12-03 Fujitsu Ltd 多層ガラスセラミック回路基板の製造方法
JPH06237081A (ja) * 1993-02-10 1994-08-23 Matsushita Electric Ind Co Ltd 多層セラミック基板の製造方法
JPH09153679A (ja) * 1995-11-30 1997-06-10 Kyocera Corp 積層ガラスセラミック回路基板
JPH11103141A (ja) * 1997-09-26 1999-04-13 Kyocera Corp 配線基板
JP2001185838A (ja) * 1999-12-22 2001-07-06 Kyocera Corp セラミック配線基板
JP2002359403A (ja) * 2001-05-31 2002-12-13 Nichia Chem Ind Ltd 発光装置
JP2003258160A (ja) * 2002-03-04 2003-09-12 Hitachi Metals Ltd セラミック積層基板およびこれを用いたセラミック積層電子部品
JP2004111906A (ja) * 2002-07-25 2004-04-08 Matsushita Electric Works Ltd 光電素子部品
JP2004207678A (ja) * 2002-10-30 2004-07-22 Kyocera Corp 発光素子収納用パッケージおよび発光装置

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03120791A (ja) * 1989-10-03 1991-05-22 Fujitsu Ltd 窒化アルミニウム基板のビア形成方法
JPH03272197A (ja) * 1990-03-22 1991-12-03 Fujitsu Ltd 多層ガラスセラミック回路基板の製造方法
JPH06237081A (ja) * 1993-02-10 1994-08-23 Matsushita Electric Ind Co Ltd 多層セラミック基板の製造方法
JPH09153679A (ja) * 1995-11-30 1997-06-10 Kyocera Corp 積層ガラスセラミック回路基板
JPH11103141A (ja) * 1997-09-26 1999-04-13 Kyocera Corp 配線基板
JP2001185838A (ja) * 1999-12-22 2001-07-06 Kyocera Corp セラミック配線基板
JP2002359403A (ja) * 2001-05-31 2002-12-13 Nichia Chem Ind Ltd 発光装置
JP2003258160A (ja) * 2002-03-04 2003-09-12 Hitachi Metals Ltd セラミック積層基板およびこれを用いたセラミック積層電子部品
JP2004111906A (ja) * 2002-07-25 2004-04-08 Matsushita Electric Works Ltd 光電素子部品
JP2004207678A (ja) * 2002-10-30 2004-07-22 Kyocera Corp 発光素子収納用パッケージおよび発光装置

Cited By (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008010486A (ja) * 2006-06-27 2008-01-17 Nichia Chem Ind Ltd 発光装置及びその製造方法
JP2009105153A (ja) * 2007-10-22 2009-05-14 Denki Kagaku Kogyo Kk 発光素子パッケージ用基板の製造方法および発光素子パッケージ
JP2010129727A (ja) * 2008-11-27 2010-06-10 Kyocera Corp 発光ランプ及び発光ランプを用いた照明装置
JP2010171157A (ja) * 2009-01-22 2010-08-05 Sanyo Electric Co Ltd 電子素子用パッケージ及び電子部品
JP2012044136A (ja) * 2010-08-13 2012-03-01 Samsung Electro-Mechanics Co Ltd セラミック基板の製造方法及びこれを用いたセラミック基板
WO2012070648A1 (ja) * 2010-11-25 2012-05-31 京セラ株式会社 発光素子実装用基体および発光装置
JP5159985B2 (ja) * 2010-11-25 2013-03-13 京セラ株式会社 発光素子実装用基体および発光装置
TWI495170B (zh) * 2010-11-25 2015-08-01 Kyocera Corp A light-emitting element mounting substrate, and a light-emitting device
US9170003B2 (en) 2010-11-25 2015-10-27 Kyocera Corporation Light-emitting element mounting substrate and light-emitting device
EP2645435A4 (en) * 2010-11-25 2015-11-25 Kyocera Corp SUBSTRATE FOR MOUNTING LIGHT EMITTING ELEMENT, AND LIGHT EMITTING DEVICE
US9337408B2 (en) 2012-08-31 2016-05-10 Epcos Ag Light-emitting diode device
JP2015526908A (ja) * 2012-08-31 2015-09-10 エプコス アクチエンゲゼルシャフトEpcos Ag 発光ダイオード装置
JP2016500485A (ja) * 2012-12-21 2016-01-12 エプコス アクチエンゲゼルシャフトEpcos Ag コンポーネントキャリア及びコンポーネントキャリアアセンブリ
US10021776B2 (en) 2012-12-21 2018-07-10 Epcos Ag Component carrier and component carrier arrangement
JP2018139317A (ja) * 2012-12-21 2018-09-06 エプコス アクチエンゲゼルシャフトEpcos Ag コンポーネントキャリア及びコンポーネントキャリアアセンブリ
WO2015111452A1 (ja) * 2014-01-24 2015-07-30 旭硝子株式会社 発光素子用基板および発光装置
JPWO2015111452A1 (ja) * 2014-01-24 2017-03-23 旭硝子株式会社 発光素子用基板および発光装置
JP2016031977A (ja) * 2014-07-28 2016-03-07 旭硝子株式会社 発光素子用基板および発光装置
JP2016207761A (ja) * 2015-04-20 2016-12-08 三菱電機株式会社 実装用基板およびその製造方法
US10083889B2 (en) 2016-06-02 2018-09-25 Panasonic Corporation Electronic component package including sealing resin layer, metal member, ceramic substrate, and electronic component and method for manufacturing the same
JP2019192800A (ja) * 2018-04-25 2019-10-31 シャープ株式会社 発光素子モジュール
CN110400795A (zh) * 2018-04-25 2019-11-01 夏普株式会社 发光元件模块
JP7267683B2 (ja) 2018-04-25 2023-05-02 シャープ株式会社 発光素子モジュール
CN110400795B (zh) * 2018-04-25 2023-09-22 夏普株式会社 发光元件模块

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4789671B2 (ja) 発光素子用配線基板ならびに発光装置
US8314346B2 (en) Wiring board for light-emitting element
JP4804109B2 (ja) 発光素子用配線基板および発光装置並びに発光素子用配線基板の製造方法
JP2006093565A (ja) 発光素子用配線基板ならびに発光装置およびその製造方法
JP2008109079A (ja) 表面実装型発光素子用配線基板および発光装置
JP2006066519A (ja) 発光素子用配線基板ならびに発光装置
JP4780939B2 (ja) 発光装置
JP2006339559A (ja) Led部品およびその製造方法
JP4841284B2 (ja) 発光素子用配線基板ならびに発光装置
JP2006147999A (ja) 発光素子用配線基板並びに発光装置
JP2007273602A (ja) 発光素子用配線基板および発光装置
JP2006156447A (ja) 発光素子用配線基板ならびに発光装置およびその製造方法
JP2007273603A (ja) 発光素子用配線基板および発光装置
JP2007250899A (ja) 発光モジュールとこれを用いた表示装置及び照明装置
JP5046507B2 (ja) 発光素子用配線基板および発光装置
JP2007227737A (ja) 発光素子用配線基板ならびに発光装置
JP2007273592A (ja) 発光素子用配線基板および発光装置
JP2007227738A (ja) 発光素子用配線基板ならびに発光装置
JP2007149811A (ja) 発光素子用配線基板及び発光装置
JP2006128265A (ja) 発光素子用配線基板ならびに発光装置
JP2007123481A (ja) 発光素子用配線基板ならびに発光装置
JP2006066409A (ja) 発光素子用配線基板および発光装置ならびに発光素子用配線基板の製造方法
JP4699042B2 (ja) 発光素子用配線基板ならびに発光装置
JP2011205009A (ja) 表面実装型発光素子用配線基板および発光装置
JP4895777B2 (ja) 発光素子用配線基板ならびに発光装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070912

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100720

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100917

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20101026

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20101220

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20110208