JP2011205009A - 表面実装型発光素子用配線基板および発光装置 - Google Patents

表面実装型発光素子用配線基板および発光装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2011205009A
JP2011205009A JP2010072782A JP2010072782A JP2011205009A JP 2011205009 A JP2011205009 A JP 2011205009A JP 2010072782 A JP2010072782 A JP 2010072782A JP 2010072782 A JP2010072782 A JP 2010072782A JP 2011205009 A JP2011205009 A JP 2011205009A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light emitting
emitting element
insulating layer
metal body
wiring board
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2010072782A
Other languages
English (en)
Inventor
Hidehiro Arikawa
秀洋 有川
Tomohide Hasegawa
智英 長谷川
Minako Izumi
美奈子 泉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kyocera Corp
Original Assignee
Kyocera Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kyocera Corp filed Critical Kyocera Corp
Priority to JP2010072782A priority Critical patent/JP2011205009A/ja
Publication of JP2011205009A publication Critical patent/JP2011205009A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Led Device Packages (AREA)

Abstract

【課題】 電極の引き回し自由度を向上できるとともに、高い光反射率を有し、熱放熱性に優れた表面実装型発光素子用配線基板および発光装置を提供する。
【解決手段】 金属体1が厚み方向に貫通して設けられたセラミックスからなる絶縁基部3と、該絶縁基部3の上面に積層された、発光素子13が搭載される搭載部15を有するセラミックスからなる上側表層絶縁層5と、該上側表層絶縁層5の上面に形成された接続電極7とを具備する表面実装型発光素子用配線基板であって、上側表層絶縁層5が、上側緻密質部5aと、該上側緻密質部5aよりも緻密度が低い上側多孔質部5bとからなり、搭載部15が上側緻密質部5aの上面に位置するとともに、上側緻密質部5aが金属体1の上面に位置している。
【選択図】 図1

Description

本発明は、例えば、発光ダイオード等の発光素子を搭載するための表面実装型発光素子用配線基板および発光装置に関する。
近年では、発光素子(以下LED素子ということがある)を用いた発光装置の高輝度、白色化に伴い、携帯電話や大型液晶ディスプレイ等のバックライトに発光装置が多く用いられてきているが、発光素子の輝度が向上するにつれて、発光装置から発生する熱も増加しており、高い熱放散性を有する発光素子用配線基板が要求されている。
近年においては、発光素子からの熱をプリント基板等の2次実装基板側に逃がすため、発光素子用配線基板を貫通するように貫通金属が設けられた表面実装型の発光素子用配線基板が知られている(例えば、特許文献1参照)。しかしながら、この特許文献1では、貫通金属が発光素子用配線基板表面に露出しており、発光素子に接続される接続電極の配線基板表面における引き回しが制限されるという問題があった。
このため、従来では、配線基板内に金属体を埋設し、金属体表面に絶縁層を有する発光素子用配線基板が提供されている(例えば、特許文献2参照)。この特許文献2の発光素子用配線基板では、配線基板表面における電極の引き回しの自由度を向上できる。
特開2006−93565号公報 特開2008−109079号公報
特許文献2の発光素子用配線基板では、基板表面における電極の引き回しの自由度が向上するものの、金属体を介しての発光素子からの熱の熱放散性を向上させるべく、発光素子が搭載される基板表面の表面層の緻密度を向上させると、発光素子の周囲の基板表面において発光素子からの光の反射率が低下し、発光装置の発光効率が低下し、逆に、発光素子からの光の反射率を向上すべく、基板表面の表面層の緻密度を低下させると、金属体を介しての熱放散性が低下するという問題があった。
すなわち、基板の緻密度を上げると、発光素子の搭載部分における基板の熱放散性が向上するが、発光素子周囲の基板における光の屈折が少なくなり、発光素子からの光が基板内に透過し易くなり、発光素子からの光の基板表面における反射率が低下する。逆に、基板の緻密度を下げると、基板ではボイドが多く、もしくは大きなボイドが存在するため、発光素子からの光が基板に進入した際に、基板におけるボイド部分で乱反射を生じ、発光素子からの光の基板表面における反射率が向上するが、基板の緻密度が低いため発光素子の搭載部分における基板の熱放散性が低下するという問題があった。
本発明は、電極の引き回し自由度を向上できるとともに、高い光反射率を有し、熱放熱性に優れた表面実装型発光素子用配線基板および発光装置を提供することを目的とする。
本発明の表面実装型発光素子用配線基板は、金属体が厚み方向に貫通して設けられたセ
ラミックスからなる絶縁基部と、該絶縁基部の上面に積層された、発光素子が搭載される搭載部を有するセラミックスからなる上側表層絶縁層と、該上側表層絶縁層の上面に形成された接続電極とを具備する表面実装型発光素子用配線基板であって、前記上側表層絶縁層が、上側緻密質部と、該上側緻密質部の周囲に形成され前記上側緻密質部よりも緻密度が低い上側多孔質部とからなり、前記搭載部が前記上側緻密質部の上面に位置するとともに、前記上側緻密質部が前記金属体の上面に位置していることを特徴とする。
このような表面実装型発光素子用配線基板では、金属体が厚み方向に貫通して設けられた絶縁基部の上面に上側表層絶縁層が積層され、金属体が上側表層絶縁層で覆われているため、上側表層絶縁層の上面に接続電極を自由に形成することができ、接続電極の引き回し自由度を向上できる。
さらに、上側表層絶縁層が、上側緻密質部と、該上側緻密質部の周囲に形成され前記上側緻密質部よりも緻密度が低い上側多孔質部とからなり、搭載部が上側緻密質部上面に位置するとともに、上側緻密質部が金属体の上面に位置しているため、発光素子からの熱が、上側表層絶縁層の上側緻密質部を介して、金属体から十分に熱放散することができ、さらに、上側表層絶縁層の搭載部から離れた部分は上側多孔質部とされているため、搭載部から離れた部分では上側表層絶縁層中のボイド粒界で発光素子からの光が乱反射することにより、基板表面における反射率を向上し、発光装置の発光効率を向上できる。
また、本発明の表面実装型発光素子用配線基板は、前記金属体の上面の一部に前記上側緻密質部が位置し、該上側緻密質部の上面の一部が前記搭載部とされていることを特徴とする。
このような表面実装型発光素子用配線基板では、発光素子からの熱が、発光素子が搭載される搭載部よりも広い上側表層絶縁層の上側緻密質部に伝導し、この上側緻密質部から、上側緻密質部よりも広い上面を有する金属体に伝導し、発光素子からの熱が、搭載部から次第に広がって拡散し、発光素子からの熱放散性を向上できる。
また、本発明の表面実装型発光素子用配線基板は、前記絶縁基部の下面に積層されたセラミックスからなる下側表層絶縁層を具備するとともに、該下側表層絶縁層の表面に、前記接続電極と電気的に接続された外部接続端子が形成されており、前記下側表層絶縁層が、下側緻密質部と、該下側緻密質部の周囲に形成され前記下側緻密質部よりも緻密度が低い下側多孔質部とからなり、前記下側緻密質部が前記金属体の下面に位置していることを特徴とする。
このような表面実装型発光素子用配線基板では、下側表層絶縁層の下面に外部接続端子を自由に形成することができるとともに、金属体を伝導してきた熱は、金属体の下面に位置する下側表層絶縁層の下側緻密質部を介して、十分に熱を放散することができる。
本発明の発光装置は、上記の表面実装型発光素子用配線基板の前記搭載部に前記発光素子を搭載してなることを特徴とする。このような発光装置では、簡単な構造で発光効率を向上できる。
本発明によれば、上側表層絶縁層の上面に接続電極を自由に形成することができ、接続電極の引き回し自由度を向上できるとともに、発光素子からの熱が、上側表層絶縁層の上側緻密質部を介して、金属体から十分に熱放散することができ、さらに、発光素子の搭載部から離れた部分では発光素子からの光を十分に反射し、基板表面における反射率を向上し、発光装置の発光効率を向上できる。
(a)は、表面実装型発光素子用配線基板の縦断面図であり、(b)は、(a)の平面図である。 枠体を有する表面実装型発光素子用配線基板の縦断面図である。 金属体を多段に形成した表面実装型発光素子用配線基板の縦断面図である。 下側表層絶縁層を形成していない表面実装型発光素子用配線基板を示す縦断面図である。 導体層を有しない表面実装型発光素子用配線基板を示す縦断面図である。 導体層の形成面積よりも狭い緻密部を有する表面実装型発光素子用配線基板を示す縦断面図である。
表面実装型発光素子用配線基板(以下、配線基板ということがある)は、例えば、図1に示すように、金属体1が厚み方向に貫通して設けられたセラミックスからなる絶縁基部3と、該絶縁基部3の上面に積層された上側表層絶縁層5と、該上側表層絶縁層5の上面に形成された接続電極7と、絶縁基部3の下面に積層された下側表層絶縁層9と、下側表層絶縁層9の下面に形成された外部接続端子11とを具備して構成されている。
上側表層絶縁層5の上面には発光素子13が搭載される搭載部15を有しており、接続電極7と外部接続端子11とは、ビアホール導体17により接続されている。
そして、本形態では、上側表層絶縁層5が、上側緻密質部5aと、上側緻密質部5aの周囲に形成された上側緻密質部5aよりも緻密度が低い上側多孔質部5bとからなり、発光素子13の搭載部15が上側緻密質部5a上面の一部に位置するとともに、上側緻密質部5aが金属体1の上面に位置している。上側緻密質部5aと金属体1の上面との間には導体層(以下、ランドということがある)19が形成されている。
言い換えれば、金属体1と上側緻密質部5aとの間に導体層19が設けられており、搭載部15直下の導体層19と搭載部15の間に介在する上側表層絶縁層の部分が、他の上側表層絶縁層5の部分より緻密化されている。
この形態では、配線基板を上方から見た場合に、図1(b)に示すように、搭載部15の形成面積よりも上側緻密質部5aの形成面積が大きく、上側緻密質部5aの形成面積よりも金属体1の上面の面積が小さくされている。また、この形態では、図示しないが、配線基板を上方から見た場合に、導体層19の形成面積よりも上側緻密質部5aの形成面積が僅かに大きくなっている。これは、後述するように、導体層19を形成する導体ペースト中に、上側表層絶縁層5の焼結性を向上させる焼結助剤成分を含有させ、焼成時に導体層19から上側表層絶縁層5に焼結助剤成分を押し出し、この焼結助剤成分が押し出された部分の焼結性が向上し、ボイド率が小さくなるため、導体層19の形成面積よりも上側緻密質部5aの形成面積が僅かに大きくなる。
従って、上側緻密質部5aの形成位置、形成領域は、導体層19とほぼ同一となり、導体層19の形成位置、領域を変更することにより、上側緻密質部5aの形成位置、形成領域を変更できる。また、導体層19を形成する導体ペースト中の焼結助剤成分の含有量により、焼結性を変化させることができるため、上側緻密質部5aの緻密度を変更することができる。よって、上側緻密質部5aと上側多孔質部5bとの境界部分は明確に規定できない場合がある。本形態では、発光素子13からの光が照射される部分が上側多孔質部5bであれば良い。
金属体1と導体層19の形成材料は同一材料からなることが、製法上望ましいが、特に同一材料から形成する必要はない。
上側表層絶縁層5は、上側緻密質部5aと、該上側緻密質部5aよりも緻密度が低い上側多孔質部5bとを有しているが、上側緻密質部5aは、上側多孔質部5bよりもボイド率が2%以上少なくされている。ボイド率を2%以上小さくすることで、発光素子13から金属体1への熱を速やかに拡散することができる。特に3.0%以上小さくすることが望ましい。
また、絶縁基部3と、上側表層絶縁層5と、下側表層絶縁層9とを同一材料で形成する場合には、製法上容易となるが、それらは、基板実装時の応力や発光素子の実装時など、実使用に耐えうる基板強度を確保するという観点から、相対密度は95%以上であることが望ましい。
逆に、上側表層絶縁層5を絶縁基部3とは異なる材料で形成することができ、この場合には、上側緻密質部5aと上側多孔質部5bとのボイド率の差を大きくすることができ、さらに、上側緻密質部5aからの熱伝導を向上できるとともに、上側表層絶縁層5による光の反射率を向上できる。上側表層絶縁層5を絶縁基部3とは異なる材料で形成する場合には、導体層19からの焼結助剤成分の拡散によって上側緻密質部5aを形成する必要はなく、上側緻密質部5aと上側多孔質部5bの形成材料を異ならせて、上側多孔質部5bよりも緻密な上側緻密質部5aを形成することができる。
以上のように構成された表面実装型発光素子用配線基板では、金属体1が厚み方向に貫通して設けられた絶縁基部3の上面に上側表層絶縁層5が積層され、金属体1が上側表層絶縁層5で覆われているため、上側表層絶縁層5の上面に接続電極7を自由に形成することができ、接続電極7の引き回し自由度を向上できる。
さらに、上側表層絶縁層5が、上側緻密質部5aと、上側緻密質部5aの周囲に形成された該上側緻密質部5aよりも緻密度が低い上側多孔質部5bとを有しており、搭載部15が上側緻密質部5a上面に位置するとともに、上側緻密質部5aが金属体1の上面に位置しているため、発光素子13からの熱が、上側表層絶縁層5の上側緻密質部5aを介して、金属体1に十分に熱放散することができ、さらに、上側表層絶縁層5の搭載部15から離れた部分は上側多孔質部5bとされているため、搭載部15から離れた部分では上側表層絶縁層5中のボイド粒界で発光素子13からの光が乱反射し、基板表面における反射率を向上し、発光装置の発光効率を向上できる。
言い換えれば、一般にセラミックスの焼結体では緻密化することで熱伝導率を向上できる反面、緻密化したことにより光の屈折が少なくなり、光を透過しやすくなるため、発光素子13の搭載部15以外の部分においては発光素子13から発する光を透過し、反射率が低くなり発光効率が下がる要因となる。一方、ボイド径が大きく、またはボイドが多く存在する場合は、セラミックスに進入した光がボイド粒界で乱反射することで光が透過しにくくなり、高い反射率が得られる反面、存在するボイドの影響で熱伝導性が阻害され、その結果、効率よく放熱することができなくなる。
そのため、反射率に影響しない搭載部15直下の上側表層絶縁層5の部分を、他の領域より緻密化することにより、搭載部15直下の上側表層絶縁層5の部分における熱伝導が向上し、その他の部分における反射率を低下させることなく、発光素子13より発せられた熱を効率よく金属体1へ伝えることができる。
すなわち、金属体1が搭載部15の直下に埋設され、さらに搭載部15直下の上側表層
絶縁層5の部分が緻密質であることにより、発光素子13から発生した熱を速やかに金属体1に伝達させることで、発光素子13の温度が過剰に上昇することを防ぎ、発光素子13の輝度低下を抑制し、さらには高輝度化を実現することができる。
また、金属体1が埋設されることにより、金属体1と接続電極7や実装部品との間に上側表層絶縁層5が介在するため、金属体1が表面実装型発光素子用配線基板の上面に露出することがなくなり、接続電極7や実装部品の配置を自由に設計することができる。
さらに、発光素子13の搭載側と反対の下面においては、金属体1と外部接続端子9との間に下側表層絶縁層9が介在するため、金属体1が表面実装型発光素子用配線基板の下面に露出することがなくなり、外部接続端子11を自由に設計することができる。これらのことは、表面実装型発光素子用配線基板の小型化に寄与し、接続信頼性や実装信頼性を考慮した配線設計を行うこともできる。
また、金属体1と外部接続端子11とが表面実装型発光素子用配線基板の厚み方向で上下に重なって配置されている、言い換えれば、外部接続端子11の一部が下から見て金属体1と重なっている場合は、発光素子13から発生し、熱伝導率の高い金属体1に伝達された熱が熱伝導率の高い外部接続端子11を通って系外へ放出されるため、発光素子13の過度な発熱を防止することが可能となる。
さらに、金属体1の発光素子13側と、上側表層絶縁層5との間に、金属体1の上面の面積よりも広く導体層19を形成したので、金属体1と上側表層絶縁層5との応力を緩和し、熱膨張差などによるクラックの発生を抑制することができる。
また、金属体1と接続電極7、外部接続端子11との間の上側表層絶縁層5、下側表層絶縁層9の厚みを50μm以上とすることによって、金属体1と接続電極7、外部接続端子11との絶縁信頼性を確保することができ、また200μm以下にすることによって金属体1と接続電極7、外部接続端子11との距離を短くすることができるため、放熱経路を短くすることができる。そのため、金属体1と接続電極7、外部接続端子11との間の上側表層絶縁層5、下側表層絶縁層9の厚みは特に60〜150μm、さらに好適には80〜100μmであることが望ましい。
また、絶縁基部3、上側表層絶縁層5、下側表層絶縁層9として、15W/(m・K)以上の熱伝導率を有する材料を用いることで、表面実装型発光素子用配線基板の放熱性をさらに高めることができる。
本発明の表面実装型発光素子用配線基板においては、これらの要件を総合的に備えた場合、すなわち、絶縁基部3を形成するセラミックスの熱伝導率が15W/(m・K)以上、上側表層絶縁層5、下側表層絶縁層9の厚みが50〜200μmであり、金属体1の下面の30%以上が外部接続端子11と上下に重なって配置されている場合に、優れた放熱効果を発揮する。
絶縁基部3、上側表層絶縁層5、下側表層絶縁層9を形成するセラミック材料として、Alを主結晶相とするAl質焼結体を用いた場合には、安価な原料を使用でき、安価な表面実装型発光素子用配線基板を得ることができる。
なお、Alを主結晶相とするAl質焼結体とは、例えば、X線回折によって、Alのピークが主ピークとして検出されるようなもので、Alの結晶を体積比率として、50体積%以上含有していることが望ましい。
また、このような焼結体は、例えば、平均粒径1.0〜2.0μmの純度99%以上のAl粉末に、平均粒径1.0〜2.0μmのMn、SiO、MgO、CaO、SrOの群から選ばれる少なくとも1種の焼結助剤を添加した成形体を1300〜1600℃の温度範囲で焼成することによって得られるものである。
そして、焼結助剤などのAl以外の組成物の添加量については、Alを主結晶とする緻密体を得るために、望ましくは15質量%以下、更に望ましくは、10質量%以下とすることが望ましい。
特に、焼結助剤などのAl以外の組成物の添加量を15質量%以下とした場合には、得られる配線基板の大部分をAl結晶により形成することができる。
また、これらの焼結助剤は、焼成温度を低くするために5質量%以上、さらには7質量%以上添加することが望ましい。
なお、絶縁基部3と、上側表層絶縁層5、下側表層絶縁層9に用いるセラミックスとして、ガラスセラミックス、酸化マグネシウム、酸化ジルコニウム、窒化アルミニウム、窒化珪素、ムライト、コーディエライトなどを主結晶とする焼結体を用いても良い。
また、金属体1として、絶縁基部3と、上側表層絶縁層5、下側表層絶縁層9に用いるセラミックスよりも熱伝導率の高い材料を用いることが望ましく、金属体1の熱伝導率は、特に、150W/(m・K)以上であることが望ましい。これにより、金属体1のヒートシンクとしての効果をさらに高め、高い放熱性を得ることができる。具体的には、Cu、Cu−W、Ag、Alなどを用いることができる。
そして、金属体1の構造は直方体形状、円柱形状、さらには多段形状であってもよい。金属体1が直方体形状の場合、金属体1の体積を最大限に大きくすることができ、高い放熱性を実現する。円柱形状の場合、応力集中を防ぎ、高信頼性を持たせることができる。図1では円柱状とした。
また、図2に示すように、発光素子13からの光を誘導するため、あるいは発光素子13を保護するために、上側表層絶縁層5の上面に枠体27を設けてもよい。この枠体27により、発光素子13を保護できるとともに、発光素子13の周辺に蛍光体などを容易に配置することができる。また、枠体27により発光素子13の発する光を反射させて所定の方向に誘導することもできる。枠体27の内壁面27aは、上側表層絶縁層5の上面に対して垂直であっても良いし、傾斜していても良い。枠体27の内壁面27aが外部に向かって傾斜している場合は、光の取り出し効率がさらに上昇する。
枠体27は、セラミックスでも金属でもよく、絶縁基部3等と同じ材料を用いた場合は、絶縁基部3等との高い信頼性を得られ、高熱伝導材料や高反射率材料のセラミックスまたは金属を用いることにより、より高い放熱性や光取り出し効率を得ることができる。
次に、本形態における表面実装型発光素子用配線基板の製造方法について具体的に説明する。まず、以下に説明するように、セラミックグリーンシート、金属シート、ビアホール導体17、接続電極7用の導体ペースト、導体層19用の導体ペーストを作製する。
セラミックグリーンシートは、セラミック粉末と樹脂と溶剤とを所定の割合で混合して調整したセラミックスラリーから、従来周知のドクターブレード法などによりシート上に形成する。また、金属シートも、金属粉末、樹脂および溶剤などから形成される金属スラリーからドクターブレード法などによりシート状に形成する。なお、金属スラリーには必要に応じてセラミック粉末を含有させてもよい。セラミックグリーンシート並びに金属シ
ートに用いるセラミック粉末、金属粉末の粒径は平均粒径で0.01〜10μm程度のものが好適に用いられ、特に、1〜5μmの範囲の粉末が取り扱いや焼結性に優れている。
また、望ましくはCuおよびAgのうち少なくとも1種を主成分とする導体ペーストを作製する。必要に応じてセラミック粉末を含有させてもよい。
また、金属体1と上側表層絶縁層5との間の導体層19を形成する導体ペーストは、金属体1と同一の金属粉末を主成分として、上側表層絶縁層5の焼結助剤成分を添加して作製する。
焼結助剤成分を添加することで、焼成過程において焼結助剤成分が導体パターン直上の上側表層絶縁層5中に拡散し、この焼結助剤成分が拡散した部分の焼結性が限定的に促進され、緻密化させ、上側緻密質部5aを形成できる。この現象は助剤成分(ガラス成分)より融点の低いCu、Cu−W、Ag、Alが融点以上の温度で焼成する場合に、溶融した金属が助剤成分を上側表層絶縁層5側に押し出すためである。
また、金属体1と下側表層絶縁層9との間にも、図3に示すように、導体層19を設けても良く、これにより導体層19から助剤成分が下側表層絶縁層9内に拡散することにより、下側表層絶縁層9の導体層19に面した部分が緻密化し、下側緻密質部9aを形成でき、この下側緻密質部9aを介して外部への熱の放散がより効率よく行える。下側緻密質部9aの周囲には、下側緻密質部9aよりも緻密度が低い下側多孔質部9bが形成されている。なお、図3は、金属体1を多段形状とした場合であり、この場合には、絶縁基体1との接触面積が大きいため、絶縁基体1との接合信頼性を高くすることができる。
このとき、導体層19用の導体ペースト中の焼結助剤成分の含有量は2〜20体積%の範囲とすることが好ましい。
そして、セラミックグリーンシートにマイクロドリルやレーザー等によりビアホールを形成し、印刷等の方法でこのビアホールにビアホール導体用の導体ペーストを充填し、また、セラミックグリーンシート表面に導体ペーストを印刷して接続電極となる配線層を形成する。
また、セラミックグリーンシートの所定箇所に貫通穴を形成した後、貫通穴を形成したセラミックグリーンシートに金属シートを積層し、セラミックグリーンシートにおける貫通穴形成部分を金属シート側から押圧することによって、金属シートの一部を貫通穴内に埋め込み、セラミックグリーンシートと金属シートとを一体化する。なお、このときセラミックグリーンシートと金属シートの合計厚みは略同一厚みであることが望ましい。
そして、セラミックグリーンシートと金属シートが一体化した複合体の発光素子搭載側の表面に導体層19用の導体ペーストを印刷し、導体パターンを形成する。
また、導体層19用の導体ペーストは複合体の発光素子搭載部とは反対側の面にも形成しても良い。
このシートを複数積層し、酸化雰囲気、還元雰囲気、あるいは不活性雰囲気で焼成することで、接続電極9、外部接続端子11、ビアホール導体17、導体層19および金属体1が形成された表面実装型発光素子用配線基板を作製することができる。
そして、図2に示したような枠体27は、セラミックグリーンシートを打ち抜き加工し、上側表層絶縁層5のセラミックグリーンシートに積層し、同時焼成を行うことによって
形成することができる。
また、切削やエッチングによりAlやFe−Ni−Co合金等の金属を枠状に形成し、焼結した絶縁基体1にロウ剤や樹脂を用いて接着することも可能である。
また、接続電極7、および枠体27の表面にNi、Au、AlやAgなどからなるめっき層(図示せず)を形成して、反射率を高め、発光素子13から生じる光の取り出し効率を向上させてもよい。
そして、例えば、表面実装型発光素子用配線基板の搭載部15に、発光素子13を金属や樹脂からなる接続層を用いて搭載し、この発光素子13の端子と、接続電極7とをボンディングワイヤで接続、またはフリップチップにより実装し、発光素子13をモールド材などの透光性の封止樹脂等で覆うことで、発光装置となる。
また、発光素子13は、一般に、封止樹脂により被覆されているが、封止樹脂を用いずに、蓋体(図示せず)を用いて封止してもよく、また、封止樹脂27と蓋体とを併用してもよい。この場合に用いられる蓋体としては、ガラスなどの透光性の素材を用いることが望ましい。
なお、必要に応じて、この封止樹脂に発光素子が放射する光を波長変換するための蛍光体(図示せず)を添加してもよい。また、ヒートシンクを設けることで、更に放熱性が向上することはもちろんであり、例えば、ヒートシンクのような冷却装置を設けることを排除するものではない。さらに、表面実装型発光素子用配線基板における接続電極7と外部接続端子11との電気的な接続は、ビアホール導体17による接続のみならず、外部配線による接続であってもよい。
これまで述べた形態では金属体1が基板に埋設されていたが、図4に示すように、金属体1の下面が露出していてもよい。この場合は、金属体1が下面に露出することで金属体1に伝わった熱を直接系外に伝えることができ、発光素子13から発せられた熱をより効率よく伝達することができる。なお、図3、図4については、接続電極7、外部接続端子11、ビアホール導体17については記載を省略した。
図5は他の形態を示すもので、この形態では、図1とは、導体層19が形成されておらず、上側緻密質部5aと上側多孔質部5bとが異なる材料で形成されている点で相違している。このような形態であっても、上側緻密質部5aと上側多孔質部5bとを異なる材料で形成するという点を除けば、図1の形態と同様の効果を得ることができる。
さらに、金属体1の上面の一部に上側緻密質部5aが位置し、上側緻密質部5aの上面の一部が搭載部15とされているため、発光素子13からの熱が、発光素子13が搭載される搭載部15よりも広い上側表層絶縁層5の上側緻密質部5aに伝導し、この上側緻密質部5aから、上側緻密質部5aよりも広い上面を有する金属体1に伝導し、発光素子13からの熱が、搭載部15から次第に広がって拡散し、発光素子13からの熱放散性を向上できる。
なお、この場合にも、金属体1と上側表層絶縁層5との間に発生する応力を緩和すべく、導体層を形成しても良い。
図6はさらに他の形態を示すもので、この形態では、導体層39が金属体1の上面よりも広く形成されているものの、上側緻密質部5aは、導体層39の形成面積よりも小さく形成されている。これは、導体層39を形成するための導体ペーストとして、上側緻密質
部5aを形成するために、上側表層絶縁層5の焼結助剤成分を含有する第1の導体ペーストと、焼結助剤成分を含有しない第2の導体ペーストの2種類を作製し、上側緻密質部5aを形成する部分には、焼結助剤成分を含有する第1の導体ペーストを塗布し、上側多孔質部5bを形成する部分には、焼結助剤成分を含有しない第2の導体ペーストを塗布し、焼成することにより、図6に示すような配線基板を作製することができる。
このような配線基板では、金属体1よりも広い導体層39により、金属体1と上側表層絶縁層5との間に発生する応力を緩和することができるとともに、上側多孔質部5b部分を増加でき、上側表層絶縁層5表面による光の反射を十分に行うことができる。なお、図6では、理解を容易にするために、導体層39に、第1の導体ペーストが塗布された部分と第2の導体ペーストを塗布された部分との境界を記載した。
表面実装型発光素子用配線基板の絶縁基体の原料粉末として、純度99%以上、平均粒径が1.5μmのAl粉末、純度99%以上、平均粒径1.0μmのSiO粉末、純度99%以上、平均粒径1.5μmのMn粉末を用い、Al粉末90質量%、SiO粉末5質量%、Mn粉末5質量%を混合し、成形用有機樹脂(バインダ)としてアクリル系バインダと、トルエンを溶媒として混合し、スラリーを調整した。しかる後に、ドクターブレード法にて絶縁基部となる厚み250μmと、表層絶縁層となる120μmのセラミックグリーンシートを作製した。
また、金属シートの原料粉末として、平均粒径2.0μmのWおよびCuを用い、Cu粉末30質量%、W粉末70質量%を混合し、成形用有機樹脂(バインダ)としてアクリル系バインダと、トルエンを溶媒として添加し、セラミックグリーンシートと同様に、金属シートとなるスラリーを調整後、ドクターブレード法にてセラミックグリーンシートと実質的に同一厚みとなる厚み250μmの金属シートを作製した。
また、平均粒径2μmのCu粉末30質量%、平均粒径2μmのW粉、アクリル系バインダとアセトンとを溶媒として混合し、溶剤を減圧過熱等によって除くことにより、接続電極用、外部接続端子用、ビアホール導体用の導体ペーストを調製した。
また、平均粒径2μmのCu粉末、平均粒径2μmのW粉、純度99%以上、平均粒径1.0μmのSiO粉末、純度99%以上、平均粒径1.5μmのMn粉末を用い、表1に示す組成比に従い、アクリル系バインダとアセトンとを溶媒として混合し、溶剤を減圧過熱等によって除くことにより、導体層(ランド)形成用の導体ペーストを調製した。
そして、上記の表層絶縁層となるセラミックグリーンシートに対して、打ち抜き加工を施し、直径が100μmのビアホールを形成し、このビアホール内に、導体ペーストをスクリーン印刷法によって充填するとともに、配線パターン状に印刷塗布した。
次に、絶縁基部となるセラミックグリーンシートの所定箇所に貫通穴を形成し、セラミックグリーンシートにおける貫通穴形成部分に金属シートを押圧することによって、金属シートを貫通穴内に埋め込み、セラミックグリーンシートと金属シートと一体化した。
さらに、セラミックグリーンシートと金属シートとの複合体の表面に金属シートの形状を覆う形状とした導体層のパターンを印刷塗布した。
また、導体層の形成位置は、表1に示すように、複合体の発光素子側、もしくは複合体の表面と裏面の両面に形成した。
このようにして作製したセラミックグリーンシートと金属シートの複合体を2層積層し、その上下面に表層絶縁層を形成するセラミックグリーンシートを積層し、圧着して積層体を作製した。
その後、露点+25℃の窒素水素混合雰囲気にて脱脂を行った後、引き続き、露点+25℃の窒素水素混合雰囲気にて1300℃の最高温度で2時間焼成し、表面実装型発光素子用配線基板を作製した。なお、接続電極、外部接続端子の厚みは20μmとした。また、試料No.7については、1400℃の最高温度で2時間焼成した。
作製した表面実装型発光素子用配線基板は4mm×4mmの板状であり、直径1.8mmで厚みが0.4mmの金属体を配置したもので、金属体と接続電極および金属体と外部接続端子間には0.1mmの表層絶縁層を設け、配線基板の総厚みを0.6mmとした。
これらの表面実装型発光素子用配線基板の搭載部に接着剤としてエポキシ樹脂を用いて出力1.5Wの発光素子であるLEDチップを実装し、ボンディングワイヤによりLEDチップと接続電極とを結線し発光装置を作製した。
焼成後の導体層の組成を、FIB(集束イオンビーム)により切り出し、ICP(Inductively Coupled Plasma)発光分析装置にて確認し、表1に記載した。
このようにして得られた発光装置を有機基板に半田にて実装し、発光装置に0.4Aの電流を通電し、1分後の素子温度をVf測定法により測定した。結果を表2に示す。
また、配線基板の反射率は、分光側色計により、反射率測定位置に何も設置しない場合を0とし、基板の反射出力との比を反射率の値とした。測定は以下の測定機器および条件にて測定した。
<測定機器> ミノルタ製CM−3700d
<基準光源> D65
<波長> 450nm
<視野> 10°
<測定反射率> 全反射率
また、ボイド率に関しては、評価対象の試料を樹脂に埋め込み、評価部位の断面が観察できるようにクロスセクションし、SEM観察をした。観察部位については、まず緻密化されている部分としては、金属体と搭載部との間の表層絶縁層において、搭載部の直下となる部分の領域をSEM観察した。一方、その他の領域として表層絶縁層の端の部分をSEM観察した。そして、それぞれの画像について二値化処理を行い、画像解析装置により、ボイド部分の面積比を求め、ボイド率を比較した。
Figure 2011205009
Figure 2011205009
表1、2によれば、助剤成分を含まない導体層形成用の導体ペーストを用いた試料No.1では、反射率は70%と高いものの、金属体直上(搭載部直下)の上側表面絶縁層の焼結性が十分ではないため、埋設された金属体へ熱を効率よく伝達できず、発光素子の温度が82℃まで上昇した。
また、絶縁基体全体を緻密質とした試料No.7では素子温度は70℃であったが、絶縁基体が光を透過しやすくなり、反射率が60%と低いものとなった。
これに対して、本発明の試料では、搭載部直下の焼結性が向上し、発光素子から金属体への熱伝導が良好に行われ、素子温度は76℃以下であり、反射率も68%以上となった。
1・・・金属体
3・・・絶縁基部
5・・・上側表層絶縁層
5a・・・上側緻密質部
5b・・・上側多孔質部
7・・・接続電極
9・・・下側表層絶縁層
9a・・・下側緻密質部
9b・・・下側多孔質部
11・・・外部接続端子
13・・・発光素子
15・・・発光素子の搭載部
19・・・導体層

Claims (4)

  1. 金属体が厚み方向に貫通して設けられたセラミックスからなる絶縁基部と、該絶縁基部の上面に積層された、発光素子が搭載される搭載部を有するセラミックスからなる上側表層絶縁層と、該上側表層絶縁層の上面に形成された接続電極とを具備する表面実装型発光素子用配線基板であって、前記上側表層絶縁層が、上側緻密質部と、該上側緻密質部の周囲に形成され前記上側緻密質部よりも緻密度が低い上側多孔質部とからなり、前記搭載部が前記上側緻密質部の上面に位置するとともに、前記上側緻密質部が前記金属体の上面に位置していることを特徴とする表面実装型発光素子用配線基板。
  2. 前記金属体の上面の一部に前記上側緻密質部が位置し、該上側緻密質部の上面の一部が前記搭載部とされていることを特徴とする請求項1に記載の表面実装型発光素子用配線基板。
  3. 前記絶縁基部の下面に積層されたセラミックスからなる下側表層絶縁層を具備するとともに、該下側表層絶縁層の表面に、前記接続電極と電気的に接続された外部接続端子が形成されており、前記下側表層絶縁層が、下側緻密質部と、該下側緻密質部の周囲に形成され前記下側緻密質部よりも緻密度が低い下側多孔質部とからなり、前記下側緻密質部が前記金属体の下面に位置していることを特徴とする請求項1または2に記載の表面実装型発光素子用配線基板。
  4. 請求項1乃至3のうちいずれかに記載の表面実装型発光素子用配線基板の前記搭載部に前記発光素子を搭載してなることを特徴とする発光装置。
JP2010072782A 2010-03-26 2010-03-26 表面実装型発光素子用配線基板および発光装置 Pending JP2011205009A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010072782A JP2011205009A (ja) 2010-03-26 2010-03-26 表面実装型発光素子用配線基板および発光装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010072782A JP2011205009A (ja) 2010-03-26 2010-03-26 表面実装型発光素子用配線基板および発光装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2011205009A true JP2011205009A (ja) 2011-10-13

Family

ID=44881330

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010072782A Pending JP2011205009A (ja) 2010-03-26 2010-03-26 表面実装型発光素子用配線基板および発光装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2011205009A (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014068013A (ja) * 2012-09-25 2014-04-17 Lg Innotek Co Ltd 発光素子パッケージ
WO2014073039A1 (ja) * 2012-11-06 2014-05-15 日本碍子株式会社 発光ダイオード用基板
WO2014073038A1 (ja) * 2012-11-06 2014-05-15 日本碍子株式会社 発光ダイオード用基板
JP2014120778A (ja) * 2012-12-14 2014-06-30 Lg Innotek Co Ltd 発光素子パッケージ
KR101902393B1 (ko) * 2011-12-09 2018-10-01 엘지이노텍 주식회사 발광소자 패키지
JP2018186284A (ja) * 2011-08-22 2018-11-22 エルジー イノテック カンパニー リミテッド 紫外線発光素子パッケージ

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
USRE48858E1 (en) 2011-08-22 2021-12-21 Suzhou Lekin Semiconductor Co., Ltd. Light emitting device package and light unit
JP2018186284A (ja) * 2011-08-22 2018-11-22 エルジー イノテック カンパニー リミテッド 紫外線発光素子パッケージ
KR101902393B1 (ko) * 2011-12-09 2018-10-01 엘지이노텍 주식회사 발광소자 패키지
US9831406B2 (en) 2012-09-25 2017-11-28 Lg Innotek Co., Ltd. Light emitting device package
JP2014068013A (ja) * 2012-09-25 2014-04-17 Lg Innotek Co Ltd 発光素子パッケージ
US9842975B2 (en) 2012-09-25 2017-12-12 Lg Innotek Co., Ltd. Light emitting device package
CN108520914A (zh) * 2012-09-25 2018-09-11 Lg伊诺特有限公司 发光器件封装
CN108538999A (zh) * 2012-09-25 2018-09-14 Lg伊诺特有限公司 发光器件封装
CN108520914B (zh) * 2012-09-25 2021-10-26 苏州乐琻半导体有限公司 发光器件封装
US9402300B2 (en) 2012-11-06 2016-07-26 Ngk Insulators, Ltd. Substrate for light-emitting diode
US9408295B2 (en) 2012-11-06 2016-08-02 Ngk Insulators, Ltd. Substrate for light-emitting diode
JPWO2014073038A1 (ja) * 2012-11-06 2016-09-08 日本碍子株式会社 発光ダイオード用基板
JPWO2014073039A1 (ja) * 2012-11-06 2016-09-08 日本碍子株式会社 発光ダイオード用基板
WO2014073038A1 (ja) * 2012-11-06 2014-05-15 日本碍子株式会社 発光ダイオード用基板
WO2014073039A1 (ja) * 2012-11-06 2014-05-15 日本碍子株式会社 発光ダイオード用基板
JP2014120778A (ja) * 2012-12-14 2014-06-30 Lg Innotek Co Ltd 発光素子パッケージ

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4789671B2 (ja) 発光素子用配線基板ならびに発光装置
JP4804109B2 (ja) 発光素子用配線基板および発光装置並びに発光素子用配線基板の製造方法
JP2008109079A (ja) 表面実装型発光素子用配線基板および発光装置
US9596747B2 (en) Wiring substrate and electronic device
JP2006093565A (ja) 発光素子用配線基板ならびに発光装置およびその製造方法
JP2011205009A (ja) 表面実装型発光素子用配線基板および発光装置
JP2006066519A (ja) 発光素子用配線基板ならびに発光装置
JP4841284B2 (ja) 発光素子用配線基板ならびに発光装置
JP4780939B2 (ja) 発光装置
JP2007273602A (ja) 発光素子用配線基板および発光装置
JP2007227737A (ja) 発光素子用配線基板ならびに発光装置
JP2007273592A (ja) 発光素子用配線基板および発光装置
JP5046507B2 (ja) 発光素子用配線基板および発光装置
JP2007227738A (ja) 発光素子用配線基板ならびに発光装置
JP2006156447A (ja) 発光素子用配線基板ならびに発光装置およびその製造方法
JP6125528B2 (ja) 発光ダイオード用基板および発光ダイオード用基板の製造方法
JP2007149811A (ja) 発光素子用配線基板及び発光装置
JP2007149810A (ja) 発光素子用配線基板および発光装置
JP4895777B2 (ja) 発光素子用配線基板ならびに発光装置
JP2006128265A (ja) 発光素子用配線基板ならびに発光装置
JP2006066409A (ja) 発光素子用配線基板および発光装置ならびに発光素子用配線基板の製造方法
JP2007123481A (ja) 発光素子用配線基板ならびに発光装置
JP2013229490A (ja) 配線基板および電子装置
JP2008159937A (ja) 発光素子用集合基板および発光装置集合基板
JP2011071554A (ja) 発光素子用配線基板ならびに発光装置