JP2006093705A - 半導体メモリ装置及びこの装置のパワーライン配置方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】複数のパッドを備えて、複数のパッドのそれぞれが上部パッド、及び上部パッドの下に配置された下部パッドを備えて、複数のパッドの下部パッドが配置された下に複数のパッドの中から同一レベルのパワーを伝送するパッドを接続するためにパッドを横切る方向にパッドパワーラインが配置され、パッドパワーラインと直交する方向にサブパッドパワーラインが追加で配置されることを特徴とする。従って、レイアウトの増加なしで、パッドがパワーラインとともに網形態をなすようになり、これにより安定的なパワーを供給することができる。
【選択図】 図3
Description
メモリセルアレイ10上の第1層に縦方向にアレイパワーラインAP1が配置され、ローデコーダ20上の第1層に縦方向に周辺回路パワーラインPPVDD1、PPVSS1が配置され、コラムデコーダ30及びデータ制御及び内部電圧発生器40上の第1層に横方向に周辺回路パワーラインPPVDD1、PPVSS1が配置される。
図2Bに示されたように、ダミー部と信号ライン部で構成され、ダミー部はメモリセルアレイ10及び周辺回路との段差を合わせるためにダミーディフュージョン層、絶縁層、及びダミーポリシリコン層からなる。ここで、周辺回路とはローデコーダ20、コラムデコーダ30、及びデータ制御及び内部電圧発生部40のことであり、メモリセルアレイ10を除いたその他のものを言う。信号ライン部は、第1層(1F)には下部金属パッドDPADが配置され、第2層(2F)には上部金属パッドUPADが配置される。そして、下部金属パッドDPADと上部金属パッドUPADとの間に下部金属パッドDPADと上部金属パッドUPADを電気的に接続するための導電層CODが配置される。導電層CODは半導体製造工程技術のうち、コンタクト形成技術を利用して形成される。すなわち、パッドは信号ライン部に配置された上部金属パッドUPAD、導電層COD、及び下部金属パッドDPADからなっていて、下部金属パッドDPADは導電層CODを形成する際の衝撃を吸収する機能を有する。
本発明の他の目的は、前記目的を果たすために半導体メモリ装置のパワーライン配置方法を提供することにある。
図3は本発明の半導体メモリ装置のパワーライン配置方法を説明する第1実施例のブロック図であり、図3に示された番号及び参照符号は図1に示された番号及び参照符号と同じ番号及び同じ参照符号は、同一の構成要素及びラインをそれぞれ示すものである。また、図3に示されたラインのハッチングは図1に示されたハッチングと同じ方法に形成されており、点で埋められたラインは第3層に配置されるラインを示す。
そして、上述した実施例では、外部から印加される二つのパワー、すなわち、電源電圧及び接地電圧パワーが印加される場合のパワーライン配置方法を説明したが、外部から三つ以上のパワー、すなわち、電源電圧、接地電圧、基板電圧、基準電圧、及び高電圧が印加される場合にも本発明のパワーライン配置方法を適用することができる。
20:ローデコーダ
30:コラムデコーダ
40:データ制御及び内部電圧発生器
AP1、AP2、AP3:アレイパワーライン
COD:導電層
DPAD:下部金属パッド
PPVDD、PPVSS、PPVPP:周辺回路パワーライン
PVDD:電源電圧印加パッド
PVSS:接地電圧印加パッド
UPAD:上部金属パッド
Claims (51)
- 複数のパッドを備え、
前記複数のパッドのそれぞれが、
上部パッドと、
前記上部パッドの下に配置された下部パッドと、を備え、
前記複数のパッドの前記下部パッドが配置された下に前記複数のパッドのうち、同一レベルのパワーを伝送するパッドを接続するために前記パッドを横切る方向にパッドパワーラインが配置されることを特徴とする半導体メモリ装置。 - 前記上部パッド、前記下部パッド、及び前記パッドパワーラインのそれぞれが金属からなっていることを特徴とする請求項1に記載の半導体メモリ装置。
- 前記上部パッド及び前記下部パッドは金属からなっていて、
前記パッドパワーラインはタングステンからなっていることを特徴とする請求項1に記載の半導体メモリ装置。 - 前記複数のパッドそれぞれの、前記上部パッドと前記下部パッドとが電気的に接続されて、
前記下部パッドと前記パッドパワーラインのうち、前記下部パッドと同一パワーを伝送するパワーラインとを電気的に接続することを特徴とする請求項1に記載の半導体メモリ装置。 - 前記パッドパワーラインは、
電源電圧パワー及び接地電圧パワーのうち、少なくとも一つ以上のパワーを伝送するラインであることを特徴とする請求項1に記載の半導体メモリ装置。 - 前記パッドパワーラインは、
電源電圧パワー、接地電圧パワー、基板電圧パワー、高電圧パワー及び基準電圧パワーのうち、少なくとも一つ以上のパワーを伝送するラインであることを特徴とする請求項1に記載の半導体メモリ装置。 - 複数のパッドを備え、
前記複数のパッドそれぞれが、
上部パッドと、
前記上部パッドの下に配置された下部パッドと、を備え、
前記複数のパッドの前記下部パッドが配置された下に、同一レベルのパワーを伝送するパッドを接続するために前記パッドを横切る方向にパッドパワーラインが配置されて、前記パッドパワーラインと直交する方向にサブパッドパワーラインがさらに配置されることを特徴とする半導体メモリ装置。 - 前記パッドパワーラインと前記サブパッドパワーラインとが同一レベルを伝送するパワーラインであり、前記パッドパワーラインと前記サブパッドパワーラインとが同一層に配置されることを特徴とする請求項7に記載の半導体メモリ装置。
- 前記上部パッド及び前記下部パッドは金属からなっていて、前記パッドパワーライン及び前記サブパッドパワーラインはタングステンからなっていることを特徴とする請求項8に記載の半導体メモリ装置。
- 前記上部パッド、前記下部パッド、前記パッドパワーライン、及び前記サブパッドパワーラインはそれぞれ金属からなっていることを特徴とする請求項8に記載の半導体メモリ装置。
- 前記パッドパワーラインと前記サブパッドパワーラインが互いに異なるレベルを伝送するパワーラインであり、前記パッドパワーラインが配置される層の下に前記サブパッドパワーラインが配置されることを特徴とする請求項7に記載の半導体メモリ装置。
- 前記パッドパワーライン、前記上部パッド、及び前記下部パッドはそれぞれ金属からなっていて、
前記サブパッドパワーラインはタングステンからなっていることを特徴とする請求項11に記載の半導体メモリ装置。 - 前記パッドパワーライン、前記サブパッドパワーライン、前記上部パッド、及び前記下部パッドはそれぞれ金属からなっていることを特徴とする請求項11に記載の半導体メモリ装置。
- 前記複数のパッドそれぞれの前記上部パッドと前記下部パッドとが電気的に接続されて、
前記下部パッドと前記パッドパワーライン及び前記サブパッドパワーラインのうち、前記下部パッドと同一パワーを伝送するパワーラインを電気的に接続することを特徴とする請求項7に記載の半導体メモリ装置。 - 前記パッドパワーラインは、
電源電圧パワー及び接地電圧パワーのうち、少なくとも一つ以上のパワーを伝送するラインであることを特徴とする請求項7に記載の半導体メモリ装置。 - 前記パッドパワーラインは、
電源電圧パワー、接地電圧パワー、基板電圧パワー、高電圧パワー及び基準電圧パワーのうち、少なくとも一つ以上のパワーを伝送するラインであることを特徴とする請求項7に記載の半導体メモリ装置。 - メモリセルアレイと、
前記メモリセルアレイに/からのデータの書込み/読出しを制御するための周辺回路と、
外部から印加されるパワーを供給受ける複数のパッドと、を備えて、
前記メモリセルアレイ及び前記周辺回路の上に前記メモリセルアレイ及び前記周辺回路にパワーを供給するためのアレイ及び周辺回路パワーラインが配置されて、
前記アレイ及び周辺回路パワーラインが配置される層と等しい二つの層に前記複数のパッドそれぞれの上部パッドと下部パッドが配置されて、
前記複数のパッドの前記下部パッドが配置された下に前記複数のパッドのうち、同一レベルのパワーを伝送するパッドを接続するために前記パッドを横切るパッドパワーラインが配置されることを特徴とする半導体メモリ装置。 - 前記アレイ及び周辺回路パワーラインが三つの層に直交するように配置されて、
前記パッドパワーラインは第1層に配置されて、前記下部パッドは第2層に配置されて、前記上部パッドは第3層に配置されることを特徴とする請求項17に記載の半導体メモリ装置。 - 前記パッドパワーラインと直交する方向にサブパッドパワーラインがさらに配置されて、
前記サブパッドパワーラインは前記メモリセルアレイ及び前記周辺回路との段差を合わせるために前記下部パッドの下に形成されるダミー部に配置されることを特徴とする請求項18に記載の半導体メモリ装置。 - 前記パッドパワーライン、前記上部パッド、及び前記下部パッドはそれぞれ金属からなっていて、
前記サブパッドパワーラインはタングステンからなっていることを特徴とする請求項19に記載の半導体メモリ装置。 - 前記アレイ及び周辺回路パワーラインが二つの層に配置されて、
前記パッドパワーラインは前記メモリセルアレイ及び前記周辺回路が形成される領域との段差を合わせるために前記下部パッドの下に形成されるダミー部に配置されることを特徴とする請求項17に記載の半導体メモリ装置。 - 前記上部パッド及び前記下部パッドは金属からなっていて、
前記パッドパワーラインはタングステンからなっていることを特徴とする請求項21に記載の半導体メモリ装置。 - 前記パッドパワーラインと直交する方向にサブパッドパワーラインがさらに配置されて、
前記パッドパワーライン、前記下部パッド、及び前記上部パッドが互いに異なる三つの層に配置されて、
前記サブパッドパワーラインのうち一部は前記パッドパワーラインと同一層に配置されて、前記サブパッドパワーラインのうち残りは前記パッドパワーライン、前記下部パッド、及び前記上部パッドのそれぞれと異なる層に配置されることを特徴とする請求項17に記載の半導体メモリ装置。 - 前記パッドパワーライン、前記上部パッド、前記下部パッド、及び前記サブパッドパワーラインはそれぞれ金属からなっていることを特徴とする請求項23に記載の半導体メモリ装置。
- 前記アレイ及び周辺回路パワーラインが少なくとも二つの層に重なって配置されて、
前記重なって配置されるパワーラインが互いに異なるパワーを伝送するラインであることを特徴とする請求項17に記載の半導体メモリ装置。 - 前記重なって配置されるパワーラインの一つと前記重なって配置されるパワーラインに隣接して重なって配置されるパワーラインの一つは同一パワーを伝送するラインで、前記同一パワーを伝送する重なって配置されるパワーラインの一つと前記隣接して重なって配置されるパワーラインの一つとは互いに異なる層に配置されることを特徴とする請求項25に記載の半導体メモリ装置。
- 前記周辺回路は、
互いに異なる内部電圧を発生する所定数の内部電圧発生器を備えて、
前記複数のパッドの上部パッドから前記所定数の内部電圧発生器のそれぞれにパワーを供給するための所定数のパッドパワーラインが、前記上部パッドが配置される層と同一層に配置されることを特徴とする請求項18に記載の半導体メモリ装置。 - 前記複数のパッドの下部パッドから前記所定数の内部電圧発生器のそれぞれにパワーを供給するための所定数のパッドパワーラインが、前記下部パッドが配置される層と同一層にさらに配置されることを特徴とする請求項27に記載の半導体メモリ装置。
- メモリセルアレイと、
前記メモリセルアレイに/からのデータの書込み/読出しを制御するための周辺回路と、
外部から印加されるパワーが供給される複数のパッドと、を備えて、
前記メモリセルアレイ及び前記周辺回路の上に前記メモリセルアレイ及び前記周辺回路にパワーを供給するためのアレイ及び周辺回路パワーラインが少なくとも三つ以上の層に直交するように配置されて、
前記三つ以上の層のうち、少なくとも二つ以上の層に配置される前記アレイ及び周辺回路パワーラインが重なって配置されて、
前記重なって配置されるパワーラインが互いに異なるパワーを伝送するラインであることを特徴とする半導体メモリ装置。 - 前記重なって配置されるパワーラインの一つと前記重なって配置されるパワーラインに隣接して重なって配置されるパワーラインの一つは同一パワーを伝送するラインで、前記同一パワーを伝送する重なって配置されるパワーラインの一つと前記隣接して重なって配置されるパワーラインの一つとは互いに異なる層に配置されることを特徴とする請求項29に記載の半導体メモリ装置。
- 前記アレイ及び周辺回路パワーラインが配置される層と等しい二つの層に前記複数のパッドそれぞれの上部パッドと下部パッドが配置されて、
前記複数のパッドの前記下部パッドが配置された下に前記複数のパッドのうち、同一レベルのパワーを伝送するパッドを接続するために前記パッドを横切るパッドパワーラインが配置されることを特徴とする請求項29に記載の半導体メモリ装置。 - 前記アレイ及び周辺回路パワーラインが三つの層に直交するように配置されて、
前記パッドパワーラインは第1層に配置されて、前記下部パッドは第2層に配置されて、前記上部パッドは第3層に配置されることを特徴とする請求項31に記載の半導体メモリ装置。 - 前記パッドパワーラインと直交する方向にサブパッドパワーラインがさらに配置されて、
前記サブパッドパワーラインは、前記メモリセルアレイ及び前記周辺回路との段差を合わせるために前記下部パッドの下に形成されるダミー部に配置されることを特徴とする請求項32に記載の半導体メモリ装置。 - 前記周辺回路は、
互いに異なる内部電圧を発生する所定数の内部電圧発生器を備えて、
前記複数のパッドの上部パッドから前記所定数の内部電圧発生器のそれぞれにパワーを供給するための所定数のパッドパワーラインが、前記上部パッドが配置される層と同一層に配置されることを特徴とする請求項31に記載の半導体メモリ装置。 - 前記複数のパッドの下部パッドから前記所定数の内部電圧発生器のそれぞれにパワーを供給するための所定数のパッドパワーラインが、前記下部パッドが配置される層と同一層にさらに配置されることを特徴とする請求項34に記載の半導体メモリ装置。
- メモリセルアレイと、
前記メモリセルアレイに/からのデータの書込み/読出しを制御するための周辺回路と、
外部から印加されるパワーを受ける複数のパッドと、を備えた半導体メモリ装置のパワーライン配置方法において、
前記メモリセルアレイ及び前記周辺回路のアレイ及び周辺回路パワーラインを少なくとも二つ以上の層に配置して、
前記アレイ及び周辺回路パワーラインが配置される層と等しい二つの層に前記複数のパッドそれぞれの上部パッドと下部パッドを配置して、
前記複数のパッドの前記下部パッドが配置された下に前記複数のパッドのうち、同一レベルのパワーを伝送するパッドを接続するために前記パッドを横切りながらパッドパワーラインを配置することを特徴とする半導体メモリ装置のパワーライン配置方法。 - 前記アレイ及び周辺回路パワーラインを三つの層に配置して、
前記パッドパワーラインは第1層に配置して、前記下部パッドは第2層に配置して、前記上部パッドは第3層に配置することを特徴とする請求項36に記載の半導体メモリ装置のパワーライン配置方法。 - 前記パッドパワーラインと直交する方向にサブパッドパワーラインをさらに配置して、
前記サブパッドパワーラインは、前記メモリセルアレイ及び前記周辺回路との段差を合わせるために前記下部パッドの下に形成されるダミー部に配置することを特徴とする請求項36に記載の半導体メモリ装置のパワーライン配置方法。 - 前記アレイ及び周辺回路パワーラインを二つの層に配置して、
前記パッドパワーラインを前記メモリセルアレイ及び前記周辺回路との段差を合わせるために前記下部パッドの下に形成されるダミー部に配置することを特徴とする請求項36に記載の半導体メモリ装置のパワーライン配置方法。 - 前記パッドパワーラインと直交する方向にサブパッドパワーラインをさらに配置して、
前記パッドパワーライン、前記下部パッド、及び前記上部パッドを互いに異なる三つの層に配置して、
前記サブパッドパワーラインのうち一部は前記パッドパワーラインと同一層に配置して、前記サブパッドパワーラインのうち残りは前記パッドパワーライン、前記下部パッド、及び前記上部パッドと異なる層に配置することを特徴とする請求項36に記載の半導体メモリ装置のパワーライン配置方法。 - 前記アレイ及び周辺回路パワーラインが少なくとも二つの層に重なって配置して、
前記重なって配置されるパワーラインが互いに異なるパワーを伝送するラインであることを特徴とする請求項36に記載の半導体メモリ装置のパワーライン配置方法。 - 前記重なって配置されるパワーラインの一つと前記重なって配置されるパワーラインに隣接して重なって配置されるパワーラインの一つは同一パワーを伝送するラインで、前記同一パワーを伝送する重なって配置されるパワーラインの一つと前記隣接して重なって配置されるパワーラインの一つとは互いに異なる層に配置されることを特徴とする請求項41に記載の半導体メモリ装置のパワーライン配置方法。
- 前記周辺回路が互いに異なる内部電圧を発生する所定数の内部電圧発生器を備える場合、
前記複数のパッドの上部パッドから前記所定数の内部電圧発生器のそれぞれにパワーを供給するための所定数のパッドパワーラインを前記上部パッドが配置される層と同一層に配置することを特徴とする請求項37に記載の半導体メモリ装置のパワーライン配置方法。 - 前記複数のパッドの下部パッドから前記所定数の内部電圧発生器のそれぞれにパワーを供給するための所定数のパッドパワーラインを前記下部パッドが配置される層と同一層にさらに配置することを特徴とする請求項43に記載の半導体メモリ装置のパワーライン配置方法。
- メモリセルアレイと、
前記メモリセルアレイに/からのデータの書込み/読出しを制御するための周辺回路と、
外部から印加されるパワーが供給される複数のパッドと、を備える半導体メモリ装置のパワーライン配置方法において、
前記メモリセルアレイ及び前記周辺回路の上に前記メモリセルアレイ及び前記周辺回路にパワーを供給するためのアレイ及び周辺回路パワーラインを少なくとも三つ以上の層に直交するように配置して、
前記三つ以上の層のうち、少なくとも二つ以上の層に配置される前記アレイ及び周辺回路パワーラインを重畳されるように配置して、
前記重なって配置されるパワーラインが互いに異なるパワーを伝送するラインであることを特徴とする半導体メモリ装置のパワーライン配置方法。 - 前記重なって配置されるパワーラインの一つと前記重なって配置されるパワーラインに隣接して重なって配置されるパワーラインの一つは同一パワーを伝送するラインで、前記同一パワーを伝送する重なって配置されるパワーラインの一つと前記隣接して重なって配置されるパワーラインの一つは互いに異なる層に配置されることを特徴とする請求項45に記載の半導体メモリ装置のパワーライン配置方法。
- 前記アレイ及び周辺回路パワーラインが配置される層と等しい二つの層に前記複数のパッドそれぞれの上部パッドと下部パッドを配置して、
前記複数のパッドの前記下部パッドが配置された下に前記複数のパッドのうち、同一レベルのパワーを伝送するパッドを接続するために前記パッドを横切りながらパッドパワーラインを配置することを特徴とする請求項45に記載の半導体メモリ装置のパワーライン配置方法。 - 前記アレイ及び周辺回路パワーラインを三つの層に直交するように配置して、
前記パッドパワーラインは第1層に配置して、前記下部パッドは第2層に配置して、前記上部パッドは第3層に配置することを特徴とする請求項47に記載の半導体メモリ装置のパワーライン配置方法。 - 前記パッドパワーラインと直交する方向にサブパッドパワーラインをさらに配置して、
前記サブパッドパワーラインは、前記メモリセルアレイ及び前記周辺回路との段差を合わせるために前記下部パッドの下に形成されるダミー部に配置することを特徴とする請求項48に記載の半導体メモリ装置のパワーライン配置方法。 - 前記周辺回路が互いに異なる内部電圧を発生する所定数の内部電圧発生器を備える場合、
前記複数のパッドの上部パッドから前記所定数の内部電圧発生器のそれぞれにパワーを供給するための所定数のパッドパワーラインを前記上部パッドが配置される層と同一層に配置されることを特徴とする請求項49に記載の半導体メモリ装置のパワーライン配置方法。 - 前記複数のパッドの下部パッドから前記所定数の内部電圧発生器のそれぞれにパワーを供給するための所定数のパッドパワーラインを前記下部パッドが配置される層と同一層にさらに配置することを特徴とする請求項50に記載の半導体メモリ装置のパワーライン配置方法。
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