JP2006042137A - ドライバ回路、半導体装置、及び電子機器 - Google Patents

ドライバ回路、半導体装置、及び電子機器 Download PDF

Info

Publication number
JP2006042137A
JP2006042137A JP2004221674A JP2004221674A JP2006042137A JP 2006042137 A JP2006042137 A JP 2006042137A JP 2004221674 A JP2004221674 A JP 2004221674A JP 2004221674 A JP2004221674 A JP 2004221674A JP 2006042137 A JP2006042137 A JP 2006042137A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
driving
driver circuit
transistors
level
signal line
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2004221674A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4536449B2 (ja
Inventor
Noriyuki Tokuhiro
宣幸 徳廣
Kunihiro Ito
邦洋 伊藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP2004221674A priority Critical patent/JP4536449B2/ja
Priority to EP04026767A priority patent/EP1622268B1/en
Priority to US10/986,154 priority patent/US7362127B2/en
Publication of JP2006042137A publication Critical patent/JP2006042137A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4536449B2 publication Critical patent/JP4536449B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/0005Modifications of input or output impedance
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/0175Coupling arrangements; Interface arrangements
    • H03K19/0185Coupling arrangements; Interface arrangements using field effect transistors only
    • H03K19/018585Coupling arrangements; Interface arrangements using field effect transistors only programmable

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computing Systems (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)

Abstract

【課題】 回路規模の小さなドライバ回路で駆動能力の調整を可能とする。
【解決手段】 Pチャネル型MOSトランジスタ11、13、15、及び17並びNチャネル型MOSトランジスタ21、23、25、及び27は、どちらもトランジスタが各々1個、2個、4個、及び8個互いに並列に接続されている。Pチャネル型MOSトランジスタ11、13、15、及び17のうち電源側制御信号線170への印加信号に応じてNORゲート51、53、55、及び57によって選択されたものと、Nチャネル型MOSトランジスタ21、23、25、及び27のうちグランド側制御信号線180への印加信号に応じてNANDゲート61、63、65、及び67によって選択されたものとが、各々プレドライバ12、14、16、18、22、24、26、28のうちのいずれかによって駆動され、出力信号線130に接続される他の装置の駆動に関与する。
【選択図】図1

Description

本発明は、後段の装置・回路へ信号を伝送するインタフェース部の出力段に設けられて当該後段の装置・回路をドライブ(駆動)するドライバ回路、及び当該ドライバ回路を備える半導体装置、並びに当該半導体装置を用いる電子機器において用いられる技術に関し、特に、当該ドライバ回路による当該後段の装置・回路の駆動能力の調整を可能とする技術に関する。
ドライバ回路において駆動能力の調整を行えるようにする必要があるものとして、例えばJEDEC(Joint Electron Device Engineering Council )によって策定されたDDR2(Double Data Rate 2)規格に準拠したメモリのインタフェースがある。
メモリインタフェースにおけるドライバ回路の駆動能力の調整について、図3を参照しながら説明する。
このメモリインタフェースでは、コントローラ100に設けられていてメモリ200をドライブするドライバ回路101の電源側(Pチャネル型MOSトランジスタ側)及びグランド側(Nチャネル型MOSトランジスタ側)の双方ともに4ビットの制御信号が入力されており、駆動能力を各々4ビット(16段階)で調整できるようにすることが求められている。
このような駆動能力の調整を可能とする従来のドライバ回路の構成例を図4に示す。
この構成例では、ソース端子とドレイン端子とが直列接続されている2個1組のPチャネル型MOSトランジスタが電源線110と出力信号線130との間にn組備えられており、更に、ソース端子とドレイン端子とが直列接続されている2個1組のNチャネル型MOSトランジスタがグランド線120と出力信号線130との間にn組備えられている。
信号入力線140はプレドライバ150の入力に接続されており、プレドライバ150の出力はPチャネル型MOSトランジスタ(以下、「P型トランジスタ」と称することとする)111−1、111−2、…、111−n及びNチャネル型MOSトランジスタ(以下、「N型トランジスタ」と称することとする)121−1、121−2、…、121−nの全てのゲート端子に共通に接続されている。従って、プレドライバ150は、信号入力線140へ入力されたデジタル信号(伝送信号)の論理に応じ、これらの各MOSトランジスタ(以下、単に「トランジスタ」と称することとする)のオン/オフを一括して制御している。
ドライバ回路101の電源側の駆動能力を調整するための制御信号は、電源側制御信号線170を経てP型トランジスタ112−1、112−2、…、112−nのゲート端子に各々接続され、グランド線側の駆動能力を調整するための制御信号は、グランド側制御信号線180を経てN型トランジスタ122−1、122−2、…、122−nのゲート端子に各々接続されている。これらのトランジスタは電源側制御信号線170及びグランド側制御信号線180に入力される制御信号に応じてそのオン/オフが制御される。
ここで、この制御信号によって同時にオンとされるトランジスタの個数は制御信号の値(16段階のうちのいずれかの値)に応じて設定される。こうすることにより、出力信号線130に接続されるメモリ200の駆動に関与するトランジスタの個数が、この制御信号の値によって制御されるので、ドライバ回路101の駆動能力が調整される。
なお、後段の回路の駆動に関与するトランジスタの数を制御して出力信号線130に接続されるメモリ200の駆動に関与するトランジスタの個数、すなわち、電源線110若しくはグランド線120から各トランジスタを経て出力信号線130へと至る経路の数が、この制御信号の値によって制御されるので、ドライバ回路101の駆動能力が調整される。
なお、P型トランジスタ及びN型トランジスタを電源線と出力信号線との間及びグランド線と出力信号線との間に各々備えてドライバ回路を構成する技術は、例えば特許文献1、特許文献2、及び特許文献3に開示されている。これらの文献のうち特許文献1及び特許文献2には、後段の回路の駆動に関与するトランジスタの数を増減する制御を行うことによってドライバ回路の駆動能力を調整する技術が開示されている。
特開2003−218689号公報 特開2001−196916号公報 特開2002−190729号公報
図4においては、出力信号線130の1本毎に、直列接続した2個1組のP型トランジスタ及び直列接続した2個1組のN型トランジスタを並列に並べるため、ドライバ回路101を構成するには多量のトランジスタを必要としていた。そのため、ドライバ回路101を半導体基板上で構成すると広大な面積を必要としていた。
また、ドライバ回路101の駆動能力を指示する制御信号がパラレルデータで与えられる場合には、そのパラレルデータを変換してP型トランジスタ112−1、112−2、…、112−n及びN型トランジスタ122−1、122−2、…、122−nの各ゲート端子へ印加する信号を生成する回路も必要であった。
本発明は上述した問題に鑑みてなされたものであり、その解決しようとする課題は、回路規模の小さなドライバ回路で駆動能力の調整を可能とすることである。
本発明の態様のひとつであるドライバ回路は、互いに並列に接続されている複数の駆動用トランジスタと、極性の等しい当該駆動用トランジスタが2のべき乗の個数ずつ属して構成されている複数のグループであって各グループに属している駆動用トランジスタの個数が他のどのグループとも異なっている当該複数のグループから1以上のグループを選択する選択手段と、当該選択手段によって選択されたグループに属している駆動用トランジスタを駆動させる駆動手段と、を有することを特徴とするものである。
この構成によれば、上記の1以上のグループの選択を変更する制御を行うことによって他の装置の駆動に関与する駆動用トランジスタの個数が増減するので、ドライバ回路の駆動能力が変化する。
なお、上述した本発明に係るドライバ回路において、上記の駆動用トランジスタは、電源線と出力信号線との間で互いに並列に接続されているPチャネル型MOSトランジスタ、及びグランド線と出力信号線との間で互いに並列に接続されているNチャネル型MOSトランジスタであり、当該Pチャネル型MOSトランジスタと当該Nチャネル型MOSトランジスタとは両者の駆動抵抗値を一致させるように形成されているようにしてもよい。
こうすることにより、半導体基板上での駆動用トランジスタ周辺の物理的な接続が容易なものとなる。
また、前述した本発明に係るドライバ回路において、上記の駆動手段が、上記の駆動用トランジスタの各々に1つずつ個別に設けられているようにしてもよい。
こうすることにより、ドライバ回路の出力におけるスルーレートが良好なものとなる。
また、前述した本発明に係るドライバ回路において、上記の駆動用トランジスタのうちで上記のグループのいずれにも属していないものを駆動させるオフセット駆動手段を更に有するように構成してもよい。
この構成によれば、ドライバ回路の駆動能力の変化範囲がシフトされる。
また、前述した本発明に係るドライバ回路を単一の半導体基板上に形成した半導体装置も本発明に係るものである。
この半導体装置においては、ドライバ回路の駆動能力の変化の直線性が向上する。
また、前述した本発明に係るドライバ回路が単一の半導体基板上に形成されており、上記のPチャネル型MOSトランジスタと上記のNチャネル型MOSトランジスタとが、両者の当該半導体基板上におけるサイズを異ならせることで両者の駆動抵抗値を一致させるように形成されている半導体装置も本発明に係るものである。
この半導体装置によれば、半導体基板上での駆動用トランジスタ周辺の物理的な接続が容易なものとなる。
また、上述した本発明に係る半導体装置を有することを特徴とする電子機器も本発明に係るものである。
以上のように、本発明によれば、回路規模の小さなドライバ回路で駆動能力の調整が可能となるという効果を奏する。
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
図1は本発明を実施するドライバ回路10の構成を示している。同図において、前述した図4に示したものと同一の線路には同一の符号を付している。
なお、本実施形態においては、このドライバ回路10を、半導体装置1における単一の半導体基板上に形成する。なお、この半導体装置1は例えばCPU(中央演算装置)であり、例えばコンピュータなどの電子機器2に設けられる。
同図において、P型トランジスタ11、13、15、17、及び31並びにN型トランジスタ21、23、25、27、及び41は、半導体装置1の外部において出力信号線130と接続される他の装置(例えば半導体メモリ)をドライブする駆動用トランジスタである。
図1において、これらの駆動用トランジスタのうち、P型トランジスタ11、13、15、及び17並びにN型トランジスタ21、23、25、及び27の各シンボルの右横に各々記されている「×1」、「×2」、「×4」、「×8」の文字は、これらの駆動用トランジスタと、当該駆動用トランジスタの各々のゲート端子に1個ずつ個別に接続されて設けられているインバータであるプリドライバ12、14、16、及び18並びに22、24、26、及び28とからなる、駆動用トランジスタとプリドライバとの組み合わせの組数を示している。
ここで図2について説明する。同図は、図1において破線で囲まれている領域である「A」部の具体的構成を示している。この図2の例を用いて上記の文字の意味を説明する。
図1において、「A」部内に含まれているP型トランジスタ15及びN型トランジスタ25の右横には、そのどちらにも「×4」の文字が付されている。これは、P型トランジスタ15と当該P型トランジスタ15を個別に駆動させる駆動手段であるプリドライバ16との組み合わせ、及びN型トランジスタ25と当該N型トランジスタ25を個別に駆動させる駆動手段であるプリドライバ26との組み合わせがどちらも4組設けられていることを示している。つまり、図1におけるP型トランジスタ15とプリドライバ16との組み合わせは、図2におけるP型トランジスタ15−1とプリドライバ16−1との組み合わせ、P型トランジスタ15−2とプリドライバ16−2との組み合わせ、P型トランジスタ15−3とプリドライバ16−3との組み合わせ、及びP型トランジスタ15−4とプリドライバ16−4との組み合わせとなり、そして、図1におけるN型トランジスタ25とプリドライバ26との組み合わせは、図2におけるN型トランジスタ25−1とプリドライバ26−1との組み合わせ、N型トランジスタ25−2とプリドライバ26−2との組み合わせ、N型トランジスタ25−3とプリドライバ26−3との組み合わせ、及びN型トランジスタ25−4とプリドライバ26−4との組み合わせとなる。
ここで、P型トランジスタ11、13、15、17、及び31はゲート端子−ソース端子間が互いに並列に接続されており、またN型トランジスタ21、23、25、27、及び41もゲート端子−ソース端子間が互いに並列に接続されている。
図2においては、P型トランジスタ15−1、15−2、15−3、及び15−4は、全てのドレイン端子が電源線110に共通に接続されており、また全てのソース端子が出力信号線130に共通に接続されている。従って、P型トランジスタ15−1、15−2、15−3、及び15−4、更には図1における「A」部以外のP型トランジスタ11、13、17、及び31は、いずれも電源線110と出力信号線130との間で互いに並列に接続されている。
また、図2に示されているように、N型トランジスタ25−1、25−2、25−3、及び25−4は、全てのドレイン端子が出力信号線130に共通に接続されており、また全てのソース端子がグランド線120に共通に接続されている。従って、N型トランジスタ25−1、25−2、25−3、及び25−4、更には図1における「A」部以外のN型トランジスタ21、23、27、及び41は、いずれもグランド線120と出力信号線130との間で互いに並列に接続されている。
なお、図2に示されているプリドライバ16−1、16−2、16−3、及び16−4の入力はNORゲート55の出力に共通に接続されている。従って、P型トランジスタ15−1、15−2、15−3、及び15−4のオン/オフは、NORゲート55の出力によって共通に制御される。また、図2に示されているプリドライバ26−1、26−2、26−3、及び26−4の入力はNANDゲート65の出力に共通に接続されている。従って、N型トランジスタ25−1、25−2、25−3、及び25−4のオン/オフは、NANDゲート65の出力によって共通に制御される。
図1における「×1」、「×2」、「×8」の文字についても「×4」の文字と同様の意味であり、図2と同様の接続がなされている駆動用トランジスタとプリドライバとの組み合わせがそれぞれ1組、2組、あるいは8組設けられていることを示している。つまり、言い換えれば、P型トランジスタ11、13、15、及び17並びにN型トランジスタ21、23、25、及び27は、それぞれ極性(P型若しくはN型の種別)の等しい駆動用トランジスタが2のべき乗(すなわち、20 、21 、22 、23 )の個数ずつ属して構成されている駆動用トランジスタのグループを各々示している。なお、これらのグループは、各グループに属している駆動用トランジスタの個数が他のどのグループとも異なっているという特徴を有している。
また、図1において、P型トランジスタ31及びN型トランジスタ41の各シンボルの右横には「Off Set」の文字が記されている。詳細は後述するが、この文字は、出力信号線130に接続される他の装置を、電源側制御信号線170及びグランド側制御信号線180の信号レベルのハイ・ローとは無関係にドライブする駆動用トランジスタ(P型トランジスタ31若しくはN型トランジスタ41)と、当該駆動用トランジスタの各々のゲート端子に1個ずつ個別に接続されて設けられており、当該駆動用トランジスタを個別に駆動させるオフセット駆動手段であるインバータ(プリドライバ32若しくは42)とからなる、駆動用トランジスタとプリドライバとの組み合わせ数を示すものである。なお、図1においては、P型トランジスタ31及びN型トランジスタ41の各シンボルの右横には同一の「Off Set」の文字が記されているが、この文字が同一の組み合わせ数を示しているとは必ずしも限らない。
なお、駆動用トランジスタであるP型トランジスタとN型トランジスタとは、駆動抵抗値を等しくするようにする。本実施形態においては、P型トランジスタとN型トランジスタとの双方の半導体基板上でのゲート幅をその特性に応じて異なるものとなるように形成する。また、極性の等しい駆動用トランジスタは各々の駆動抵抗値を揃えるようにする。本実施形態においては、極性の等しい駆動用トランジスタの各々を単一の半導体基板上に形成し、更に、極性の等しい駆動用トランジスタの各々を当該半導体基板上で同一の形状・大きさとなるように形成する。このときに、当該半導体基板上で同極性の駆動用トランジスタを各々近傍に配置すると、駆動用トランジスタの駆動抵抗値を極めて良好に揃えることができる。
図1に示されている出力制御線90は、出力信号線130のトライ・ステートの状態制御を行うために設けられている。
同図において、出力制御線90の信号レベルをLレベル(ローレベル)からHレベル(ハイレベル)へと遷移させると、インバータ73を介して接続されているNANDゲート52、54、56、58、及び72の出力は、信号入力線140の信号レベルのハイ・ローとは無関係に常にHレベルとなるので、NORゲート51、53、55、57、及び71の出力が常にLレベルとなる結果、その出力が個々に入力されているプリドライバ12、14、16、18、及び32の出力、すなわちP型トランジスタ11、13、15、17、及び31の各ゲート端子の信号レベルはいずれもHレベルとなる。また、このとき、出力制御線90が直接接続されているNORゲート62、64、66、68、及び82の出力は常にLレベルとなるので、NANDゲート61、63、65、67、及び81の出力が常にHレベルとなる結果、その出力が個々に入力されているプリドライバ22、24、26、28、及び42の出力、すなわちN型トランジスタ21、23、25、27、及び41の各ゲート端子の信号レベルはいずれもLレベルとなる。
従って、このとき、P型トランジスタ11、13、15、17、及び31並びにN型トランジスタ21、23、25、27、及び41はいずれもオフとなるので、出力信号線130はトライ・ステート(高インピーダンス状態)となる。
なお、以下の説明においては、出力信号線90の信号レベルをLレベルに維持しているものとする。
信号入力線140に入力される信号の信号レベルがHレベルのとき、NORゲート62、64、66、68、及び82の出力はいずれもLレベルとなる。するとこのとき、NANDゲート61、63、65、67、及び81の出力がいずれもHレベルとなる結果、N型トランジスタ21、23、25、27、及び41は全てオフとなる。その一方で、このときにはNANDゲート52、54、56、58、及び72の出力はいずれもLレベルとなるので、P型トランジスタ11、13、15、17、及び31の各々のオン/オフの状態は、NORゲート51、53、55、57、及び71の入力のうちNANDゲート52、54、56、58、及び72の出力が接続されていない側の入力の信号レベルのハイ・ローによって決定される。
ここで、NANDゲート72の出力が接続されていない側のNORゲート71の入力はグランド線120に接続されている。よって、NORゲート71の当該入力にはLレベルの信号レベルが加えられていることとなる。従って、このときP型トランジスタ31がオンとなるので、P型トランジスタ11、13、15、17で示されるいずれのグループにも属していない、「Off Set」の文字で示される個数のP型トランジスタ(駆動用トランジスタ)が、出力信号線130に接続されている他の装置の駆動に関与する。
また、NORゲート51、53、55、及び57の入力のうちNANDゲート52、54、56、及び58の出力が接続されていない側の入力には、ドライバ回路10の駆動能力を指示する制御信号が4ビット2進のパラレルデータで与えられる。
例えば、この制御信号が「1101」なる4ビット2進のパラレルデータ(すなわち10進数における16段階のうちの13)である場合、電源側制御信号線170−4にはLレベルの信号レベルが、電源側制御信号線170−3にはLレベルの信号レベルが、電源側制御信号線170−2にはHレベルの信号レベルが、そして、電源側制御信号線170−1にはLレベルの信号レベルが、それぞれ与えられる。するとこのとき、P型トランジスタ17、15、及び11はオンとなり、P型トランジスタ13はオフとなる。
ここで、前述したように、図1におけるP型トランジスタ17の実体は8個のP型トランジスタからなるグループであり、P型トランジスタ15の実体は4個のP型トランジスタからなるグループであり、そしてP型トランジスタ11の実体は1個のP型トランジスタからなるグループである。従って、NORゲート51、53、55、及び57によって制御信号に応じて選択されたこれらのグループに属している合計13個のP型トランジスタと、前述した「Off Set」の文字で示される個数のP型トランジスタとが、出力信号線130に接続されている他の装置の駆動に関与する。
ここで、例えば、この制御信号を「0110」なる4ビット2進のパラレルデータ(すなわち10進数における16段階のうちの6)に変化させた場合、電源側制御信号線170−4にはHレベルの信号レベルが、電源側制御信号線170−3にはLレベルの信号レベルが、電源側制御信号線170−2にはLレベルの信号レベルが、そして、電源側制御信号線170−1にはHレベルの信号レベルが、それぞれ与えられる。するとこのとき、P型トランジスタ15及び13はオンとなり、P型トランジスタ17及び11はオフとなる。
ここで、図1におけるP型トランジスタ15の実体は4個のP型トランジスタからなるグループであり、そしてP型トランジスタ13の実体は2個のP型トランジスタからなるグループである。従って、NORゲート51、53、55、及び57によって制御信号に応じて選択されたこれらのグループに属している合計6個のP型トランジスタと、前述した「Off Set」の文字で示される個数のP型トランジスタとが、出力信号線130に接続されている他の装置の駆動に関与する。
以上のように、図1に示したドライバ回路10では、信号入力線140に入力される信号の信号レベルがHレベルのとき、4ビット2進のパラレルデータで与えられる駆動能力を指示する制御信号を変更すると、その制御信号の変更に応じて出力信号線130に接続されている他の装置の駆動に関与するP型トランジスタの個数が増減するので、ドライバ回路10の駆動能力が変化する。なお、ここで、「Off Set」の文字で示される個数のP型トランジスタは、ドライバ回路10の駆動能力にオフセットを持たせる(駆動能力の変化範囲をシフトさせる)効果をもたらしている。
以上の説明は、信号入力線140に入力される信号の信号レベルがHレベルのときの動作を説明したものであるが、次に説明する、信号入力線140に入力される信号の信号レベルがLレベルのときの動作も上述したものと似た動作となる。
信号入力線140に入力される信号の信号レベルがLレベルのとき、NANDゲート52、54、56、58、及び72の出力はいずれもHレベルとなる。するとこのとき、NORゲート51、53、55、57、及び71の出力がいずれもLレベルとなる結果、P型トランジスタ11、13、15、17、及び31は全てオフとなる。その一方で、このときにはNORゲート62、64、66、68、及び82の出力はいずれもHレベルとなるので、N型トランジスタ21、23、25、27、及び41の各々のオン/オフの状態は、NANDゲート61、63、65、67、及び81の入力のうちNORゲート62、64、66、68、及び82の出力が接続されていない側の入力の信号レベルのハイ・ローによって決定される。
ここで、NORゲート82の出力が接続されていない側のNANDゲート81の入力は電源線110に接続されている。よって、NANDゲート81の当該入力にはHレベルの信号レベルが加えられていることとなる。従って、このときN型トランジスタ41がオンとなるので、N型トランジスタ21、23、25、27で示されるいずれのグループにも属していない、「Off Set」の文字で示される個数のN型トランジスタ(駆動用トランジスタ)が、出力信号線130に接続されている他の装置の駆動に関与する。
また、NANDゲート61、63、65、及び67の入力のうちNORゲート62、64、66、及び68の出力が接続されていない側の入力には、ドライバ回路10の駆動能力を指示する制御信号が4ビット2進のパラレルデータで与えられる。
例えば、この制御信号が「1101」なる4ビット2進のパラレルデータ(すなわち10進数における16段階のうちの13)である場合、グランド側制御信号線180−4にはHレベルの信号レベルが、グランド側制御信号線180−3にはHレベルの信号レベルが、グランド側制御信号線180−2にはLレベルの信号レベルが、そして、グランド側制御信号線180−1にはHレベルの信号レベルが、それぞれ与えられる。するとこのとき、N型トランジスタ27、25、及び21はオンとなり、N型トランジスタ23はオフとなる。
ここで、前述したように、図1におけるN型トランジスタ27の実体は8個のN型トランジスタからなるグループであり、N型トランジスタ25の実体は4個のN型トランジスタからなるグループであり、そしてN型トランジスタ21の実体は1個のN型トランジスタからなるグループである。従って、NANDゲート61、63、65、及び67によって制御信号に応じて選択されたこれらのグループに属している合計13個のN型トランジスタと、前述した「Off Set」の文字で示される個数のN型トランジスタとが、出力信号線130に接続されている他の装置の駆動に関与する。
ここで、例えば、この制御信号を「0110」なる4ビット2進のパラレルデータ(すなわち10進数における16段階のうちの6)に変化させた場合、グランド側制御信号線180−4にはLレベルの信号レベルが、グランド側制御信号線180−3にはHレベルの信号レベルが、グランド側制御信号線180−2にはHレベルの信号レベルが、そして、グランド側制御信号線180−1にはLレベルの信号レベルが、それぞれ与えられる。するとこのとき、N型トランジスタ25及び23はオンとなり、N型トランジスタ27及び21はオフとなる。
ここで、図1におけるN型トランジスタ25の実体は4個のN型トランジスタからなるグループであり、そしてN型トランジスタ23の実体は2個のN型トランジスタからなるグループである。従って、NANDゲート61、63、65、及び67によって制御信号に応じて選択されたこれらのグループに属している合計6個のN型トランジスタと、前述した「Off Set」の文字で示される個数のN型トランジスタとが、出力信号線130に接続されている他の装置の駆動に関与する。
以上のように、図1に示したドライバ回路10では、信号入力線140に入力される信号の信号レベルがLレベルのとき、4ビット2進のパラレルデータで与えられる駆動能力を指示する制御信号を変更すると、その制御信号の変更に応じて出力信号線130に接続されている他の装置の駆動に関与するN型トランジスタの個数が増減するので、ドライバ回路10の駆動能力が変化する。なお、ここで、「Off Set」の文字で示される個数のN型トランジスタは、ドライバ回路10の駆動能力にオフセットを持たせる(駆動能力の変化範囲をシフトさせる)効果をもたらしている。
以上の説明を纏めると、図1に示したドライバ回路10では、4ビット2進のパラレルデータで与えられる駆動能力を指示する制御信号を変更すると、その制御信号の変更に応じて出力信号線130に接続されている他の装置の駆動に関与する駆動用トランジスタの個数が増減するので、ドライバ回路10の駆動能力が変化する。つまり、ドライバ回路10は駆動能力の調整が可能である。
ここで、図1のドライバ回路10と前述した図4に示した従来のドライバ回路101とを対比すると、例えば16段階(4ビット2進)の駆動能力の調整を行うためには、駆動能力のオフセット分の提供のために用いられる駆動用トランジスタの数を除くと、従来のドライバ回路では4×(16−1)=60個の駆動用トランジスタが用いられていたのに対し、図1に示したドライバ回路10は(8+4+2+1)×2=30個の駆動用トランジスタを用いて構成されており、回路規模が大幅に削減されている。
なお、図1のドライバ回路10は、駆動用トランジスタであるP型トランジスタとN型トランジスタとは、駆動抵抗値を等しくするように形成されている。従来は、半導体基板上におけるレイアウトの容易さを優先し、P型トランジスタとN型トランジスタとの半導体基板上での形状が同一となるように形成されていた。そのため、P型トランジスタとN型トランジスタとの駆動抵抗値が大きく異なっており、このアンバランスを解消するためにP型トランジスタとN型トランジスタとの個数を異ならせていた。このことは、半導体基板上での駆動用トランジスタ周辺の物理的な接続を複雑なものとしていた。これに対し、図1のドライバ回路10では、P型トランジスタとN型トランジスタとの駆動抵抗値を等しくするように形成されているので、上述の物理的な接続が容易なものとなっている。
また、図1のドライバ回路10は、駆動用トランジスタの各々にプリドライバが1つずつ個別に設けられているので、プリドライバの負担が軽くなる分駆動用トランジスタの駆動タイミングのずれが少なくなる結果、このドライバ回路10の出力(出力信号線)におけるスルーレートが良好なものとなる。
また、図1のドライバ回路10は、極性の等しい駆動用トランジスタの各々の駆動抵抗値を揃えるように形成されているので、制御信号の変化に対するドライバ回路10の駆動能力の変化の直線性が向上する。
その他、本発明は、上述した実施形態に限定されることなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内で種々の改良・変更が可能である。
本発明を実施するドライバ回路の構成を示す図である。 図1における「A」部の具体的構成を示す図である。 メモリインタフェースにおけるドライバ回路の駆動能力の調整を説明する図である。 駆動能力の調整が可能なドライバ回路の構成を示す図である。
符号の説明
1 半導体装置
2 電子機器
10、101 ドライバ回路
11、13、15、15−1、15−2、15−3、15−4、17、31、111−1、111−2、…、111−n、112−1、112−2、…、112−n Pチャネル型MOSトランジスタ
12、14、16、16−1、16−2、16−3、16−4、18、32、22、24、26、26−1、26−2、26−3、26−4、28、42 プレドライバ
21、23、25、25−1、25−2、25−3、25−4、27、41、121−1、121−2、…、121−n、122−1、122−2、…、122−n Nチャネル型MOSトランジスタ
51、53、55、57、62、64、66、68、71、82 NORゲート
52、54、56、58、61、63、65、67、72、81 NANDゲート
73 インバータ
90 出力制御線
100 コントローラ
110 電源線
120 グランド線
130 出力信号線
140 信号入力線
150 プレドライバ
160 プレドライバ出力線
170、170−1、170−2、170−3、170−4 電源側制御信号線
180、180−1、180−2、180−3、180−4 グランド側制御信号線
200 メモリ

Claims (7)

  1. 互いに並列に接続されている複数の駆動用トランジスタと、
    極性の等しい前記駆動用トランジスタが2のべき乗の個数ずつ属して構成されている複数のグループであって各グループに属している駆動用トランジスタの個数が他のどのグループとも異なっている当該複数のグループから1以上のグループを選択する選択手段と、
    前記選択手段によって選択されたグループに属している駆動用トランジスタを駆動させる駆動手段と、
    を有することを特徴とするドライバ回路。
  2. 前記駆動用トランジスタは、電源線と出力信号線との間で互いに並列に接続されているPチャネル型MOSトランジスタ、及びグランド線と出力信号線との間で互いに並列に接続されているNチャネル型MOSトランジスタであり、当該Pチャネル型MOSトランジスタと当該Nチャネル型MOSトランジスタとは両者の駆動抵抗値を一致させるように形成されていることを特徴とする請求項1に記載のドライバ回路。
  3. 前記駆動手段は、前記駆動用トランジスタの各々に1つずつ個別に設けられていることを特徴とする請求項1に記載のドライバ回路。
  4. 前記駆動用トランジスタのうちで前記グループのいずれにも属していないものを駆動させるオフセット駆動手段を更に有することを特徴とする請求項1に記載のドライバ回路。
  5. 請求項1に記載のドライバ回路を単一の半導体基板上に形成したことを特徴とする半導体装置。
  6. 請求項2に記載のドライバ回路が単一の半導体基板上に形成されており、
    前記Pチャネル型MOSトランジスタと前記Nチャネル型MOSトランジスタとは、両者の前記半導体基板上におけるサイズを異ならせることで両者の駆動抵抗値を一致させるように形成されている、
    ことを特徴とする半導体装置。
  7. 請求項5または6に記載の半導体装置を有することを特徴とする電子機器。
JP2004221674A 2004-07-29 2004-07-29 ドライバ回路、半導体装置、及び電子機器 Expired - Fee Related JP4536449B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004221674A JP4536449B2 (ja) 2004-07-29 2004-07-29 ドライバ回路、半導体装置、及び電子機器
EP04026767A EP1622268B1 (en) 2004-07-29 2004-11-11 Driver circuit
US10/986,154 US7362127B2 (en) 2004-07-29 2004-11-12 Driver circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004221674A JP4536449B2 (ja) 2004-07-29 2004-07-29 ドライバ回路、半導体装置、及び電子機器

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006042137A true JP2006042137A (ja) 2006-02-09
JP4536449B2 JP4536449B2 (ja) 2010-09-01

Family

ID=35344686

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004221674A Expired - Fee Related JP4536449B2 (ja) 2004-07-29 2004-07-29 ドライバ回路、半導体装置、及び電子機器

Country Status (3)

Country Link
US (1) US7362127B2 (ja)
EP (1) EP1622268B1 (ja)
JP (1) JP4536449B2 (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007228585A (ja) * 2006-02-22 2007-09-06 Hynix Semiconductor Inc 半導体記憶装置のデータ出力ドライブ回路
JP2008206307A (ja) * 2007-02-20 2008-09-04 Seiko Epson Corp 集積回路装置及び電子機器
US7760561B2 (en) 2006-02-09 2010-07-20 Hynix Semiconductor Inc. Circuit and method for outputting data in semiconductor memory apparatus
JP2011124683A (ja) * 2009-12-09 2011-06-23 Toshiba Corp 出力バッファ回路、入力バッファ回路、及び入出力バッファ回路
JP2013507886A (ja) * 2009-10-12 2013-03-04 サイクロス セミコンダクター, インコーポレイテッド インダクタオーバーヘッドなしで共振クロック分配ネットワークの固有周波数を選択する方法
EP2645573A2 (en) 2012-03-27 2013-10-02 Fujitsu Limited Driver circuit and semiconductor device
JP2016537862A (ja) * 2013-10-17 2016-12-01 クゥアルコム・インコーポレイテッドQualcomm Incorporated 強化された信頼性及び密度を有する較正出力ドライバ

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100533383B1 (ko) * 2004-03-12 2005-12-06 주식회사 하이닉스반도체 출력 드라이버 회로
US7646229B2 (en) * 2006-11-03 2010-01-12 Micron Technology, Inc. Method of output slew rate control
US7902875B2 (en) * 2006-11-03 2011-03-08 Micron Technology, Inc. Output slew rate control
US7656209B2 (en) * 2006-11-03 2010-02-02 Micron Technology, Inc. Output slew rate control
US7550993B2 (en) * 2007-08-21 2009-06-23 Texas Instruments Incorporated Glitch reduced compensated circuits and methods for using such
KR100956781B1 (ko) * 2008-09-10 2010-05-12 주식회사 하이닉스반도체 데이터 출력회로
KR101145314B1 (ko) * 2010-07-06 2012-05-15 에스케이하이닉스 주식회사 반도체 메모리 장치의 데이터 출력회로
US9083330B2 (en) * 2013-10-17 2015-07-14 Qualcomm Incorporated Output driver with slew rate calibration
US9911469B1 (en) * 2016-11-10 2018-03-06 Micron Technology, Inc. Apparatuses and methods for power efficient driver circuits
US10528515B2 (en) * 2017-06-27 2020-01-07 Intel Corporation Memory channel driver with echo cancellation
JP2022033513A (ja) 2020-08-17 2022-03-02 キオクシア株式会社 半導体装置及びメモリシステム

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0736580A (ja) * 1993-07-21 1995-02-07 Nec Corp 出力回路
JPH0758620A (ja) * 1993-08-09 1995-03-03 Kawasaki Steel Corp 半導体装置

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5764589A (en) * 1997-03-28 1998-06-09 International Business Machines Corporation Array row and column decoder apparatus and method
JPH10290147A (ja) * 1997-04-14 1998-10-27 Mitsubishi Electric Corp 遅延量可変回路
US6087847A (en) * 1997-07-29 2000-07-11 Intel Corporation Impedance control circuit
US6288563B1 (en) * 1998-12-31 2001-09-11 Intel Corporation Slew rate control
JP3374820B2 (ja) 1999-01-08 2003-02-10 セイコーエプソン株式会社 出力バッファ回路
US6636069B1 (en) * 2000-03-22 2003-10-21 Intel Corporation Method and apparatus for compensated slew rate control of line termination
JP2002190729A (ja) 2000-08-24 2002-07-05 Seiko Epson Corp 出力回路の電流制御装置及びドライバ回路の電流制御装置
US6586964B1 (en) * 2001-12-10 2003-07-01 Xilinx, Inc. Differential termination with calibration for differential signaling
JP3786879B2 (ja) 2002-01-24 2006-06-14 松下電器産業株式会社 出力回路

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0736580A (ja) * 1993-07-21 1995-02-07 Nec Corp 出力回路
JPH0758620A (ja) * 1993-08-09 1995-03-03 Kawasaki Steel Corp 半導体装置

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7760561B2 (en) 2006-02-09 2010-07-20 Hynix Semiconductor Inc. Circuit and method for outputting data in semiconductor memory apparatus
US8077529B2 (en) 2006-02-09 2011-12-13 Hynix Semiconductor Inc. Circuit and method for outputting data in semiconductor memory apparatus
JP2007228585A (ja) * 2006-02-22 2007-09-06 Hynix Semiconductor Inc 半導体記憶装置のデータ出力ドライブ回路
JP2008206307A (ja) * 2007-02-20 2008-09-04 Seiko Epson Corp 集積回路装置及び電子機器
US7602216B2 (en) 2007-02-20 2009-10-13 Seiko Epson Corporation Integrated circuit device and electronic instrument
JP2013507886A (ja) * 2009-10-12 2013-03-04 サイクロス セミコンダクター, インコーポレイテッド インダクタオーバーヘッドなしで共振クロック分配ネットワークの固有周波数を選択する方法
JP2013507885A (ja) * 2009-10-12 2013-03-04 サイクロス セミコンダクター, インコーポレイテッド プログラム可能な駆動回路を備えた共振クロック分配ネットワークアーキテクチャ
JP2011124683A (ja) * 2009-12-09 2011-06-23 Toshiba Corp 出力バッファ回路、入力バッファ回路、及び入出力バッファ回路
EP2645573A2 (en) 2012-03-27 2013-10-02 Fujitsu Limited Driver circuit and semiconductor device
US8854090B2 (en) 2012-03-27 2014-10-07 Fujitsu Limited Driver circuit and semiconductor device
JP2016537862A (ja) * 2013-10-17 2016-12-01 クゥアルコム・インコーポレイテッドQualcomm Incorporated 強化された信頼性及び密度を有する較正出力ドライバ

Also Published As

Publication number Publication date
EP1622268A1 (en) 2006-02-01
EP1622268B1 (en) 2011-08-31
US7362127B2 (en) 2008-04-22
US20060022713A1 (en) 2006-02-02
JP4536449B2 (ja) 2010-09-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4536449B2 (ja) ドライバ回路、半導体装置、及び電子機器
US6218858B1 (en) Programmable input/output circuit for FPGA for use in TTL, GTL, GTLP, LVPECL and LVDS circuits
US10825485B2 (en) Apparatuses and methods for power efficient driver circuits
US20190018063A1 (en) Programmable integrated circuits with in-operation reconfiguration capability
KR20050020698A (ko) 반도체 집적 회로
CN1855724A (zh) 缓冲电路
US20090243667A1 (en) Output driving device
US8004314B2 (en) Semiconductor device
US8749266B2 (en) Data output circuit responsive to calibration code and on die termination code
US9984734B2 (en) Programmable integrated circuits with in-operation reconfiguration capability
JPH1197998A (ja) 出力回路
KR100432573B1 (ko) 임피던스 조절이 가능한 출력 구동 회로를 갖는 반도체 장치
CN110838316B (zh) 芯片外驱动器
US8717064B2 (en) Semiconductor integrated circuit
US5495182A (en) Fast-fully restoring polarity control circuit
JP7251624B2 (ja) 半導体集積回路
KR102214629B1 (ko) 오프 칩 드라이버
KR20020049200A (ko) 출력 드라이버 회로
JPS63111720A (ja) 出力バツフア回路
KR100642637B1 (ko) 신호 구동 회로
JPH10275895A (ja) 半導体集積回路装置
JP2006140328A (ja) 半導体集積回路
KR19990048858A (ko) 반도체 메모리 소자의 출력 버퍼
JP2006311236A (ja) 半導体集積回路装置およびそのインタフェース方法
KR20030002229A (ko) 면적 소모가 적은 레벨 쉬프터

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070705

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20091127

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100105

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100305

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100615

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100616

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130625

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4536449

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130625

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees