JPH0736580A - 出力回路 - Google Patents

出力回路

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JPH0736580A
JPH0736580A JP20019593A JP20019593A JPH0736580A JP H0736580 A JPH0736580 A JP H0736580A JP 20019593 A JP20019593 A JP 20019593A JP 20019593 A JP20019593 A JP 20019593A JP H0736580 A JPH0736580 A JP H0736580A
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Abstract

(57)【要約】 【目的】ドライブ能力可変の出力端子におけるグリッチ
発生を抑止する出力回路の提供。 【構成】最小ドライブ単位の2n(n=0,1,2,…)倍のド
ライブ能力をもつ出力トランジスタを並設し、ダミーバ
ッファ、比較器、アップダウンカウンタから成るドライ
ブ能力制御回路において、最小ドライブ能力をもつトラ
ンジスタとカウンタのLSBを冗長に設け、カウンタは
最小+1/−1の範囲でアップ/ダウンしてもLSB側
の冗長ドライバを用い桁上げを回避することにより、小
さな変化に対するバイナリ的な切り替え制御を廃し、グ
リッチの発生を抑止した出力回路。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、集積回路の出力回路に
関し、特に出力端子のドライブ能力を可変に制御可能な
出力回路に関する。
【0002】
【従来の技術】
[出力バッファ]ディジタル集積回路における従来の出
力バッファについて以下に説明する。
【0003】ディジタル集積回路の出力は通常、電圧の
レベル又は電流の量を可変することで論理レベルを出力
する。通常のTTL論理集積回路では、出力端子が2.7
V以上を出力している場合に“H”レベルを示し、0.4
V以下を出力している時に“L”レベルを示す。
【0004】図3に従来の出力回路及び負荷の例を示
す。トランジスタ202は“H”レベルドライブ用、トラ
ンジスタ203は“L”レベルドライブ用である。出力端
子が“H”レベルの場合は、トランジスタ202をオン、2
03をオフとする。出力端子が“L”レベルの場合は、ト
ランジスタ202をオフ、203をオンとする。
【0005】通常の使用状態では、図2の集積回路の出
力206には、次段の論理集積回路の入力段が接続され
る。これを模式的に示すと負荷抵抗204と負荷容量205で
表わされる。
【0006】負荷容量が想定より重い場合には出力ディ
レイが大きくなり、逆に負荷容量が軽い場合は信号にオ
ーバーシュートやアンダーシュートが発生する。
【0007】[ドライブ能力可変出力ドライバ]図4
に、ドライブ能力が×1倍から×16倍まで可変とされた
出力ドライブ回路を示す。
【0008】図4において、トランジスタ306, 307, 30
8, 309は、Pチャンネルトランジスタで、出力をHレベ
ルにドライブする。また、トランジスタ314, 315, 316,
317は、Nチャンネルトランジスタで、出力をLレベル
にドライブする。図4において、Pチャンネル、Nチャ
ンネルの両方のトランジスタが同時にオンすることはな
い。
【0009】ここで、ドライブ能力を可変にするため、
Pチャンネル側、及びNチャンネル側のトランジスタを
複数組用意し、そのいくつかを選択的にドライブするこ
とで、総合的なドライブ能力を決定する。
【0010】出力のドライブ能力を効率的に均等に変化
させるには、トランジスタのドライブ能力について、ト
ランジスタ306のドライブ能力を最小単位とした場合、
トランジスタ307のドライブ能力をトランジスタ306の2
倍、トランジスタ308のドライブ能力を4倍、トランジ
スタ309のドライブ能力を8倍になるように定める。
【0011】同様にNチャンネル側もトランジスタ314
のドライブ能力を最小単位とした場合、トランジスタ31
5のドライブ能力を2倍、トランジスタ316のドライブ能
力を4倍、トランジスタ317のドライブ能力を8倍とす
る。
【0012】MOSトランジスタでは、ドライブ能力を
最小ドライブ能力のトランジスタの2n倍とするには、
例えば、チャネル幅を最小ドライブ能力のトランジスタ
のチャネル幅Wrefの2n倍とする。
【0013】この出力ドライバは、ドライブ能力制御信
号301に対して、表1に示すようなドライブ能力を提供
できる。
【0014】
【表1】
【0015】[ドライブ能力自動補正回路]図5に、低
レベル電圧側のドライブ能力自動補正回路を示す。
【0016】トランジスタ409, 410, 411, 412は、ダミ
ーの出力ドライバを構成するものである。これらのトラ
ンジスタは、実際の出力ドライバと同じ大きさのトラン
ジスタ群から構成されている。
【0017】図5では、各々のトランジスタのディメン
ジョンを次のように決定する。
【0018】トランジスタ412は、4個のトランジスタ
のうち最も小さなドライブ能力を持ったトランジスタ
で、可変ドライブ能力の最小分解能のドライブ能力を持
つ。
【0019】また、トランジスタ411は、トランジスタ4
12の2倍のドライブ能力を持ち、トランジスタ410は、
トランジスタ412の4倍のドライブ能力を持ち、トラン
ジスタ409はトランジスタ412の8倍のドライブ能力を持
つようにする。
【0020】これらのトランジスタのドライブ能力の設
定は、前記ドライブ能力可変ドライバと同じ構成であ
る。
【0021】トランジスタ409, 410, 411, 412は、いず
れもソース端子を接地415に接続し、ドレインを出力端
子417に接続する。出力端子417は、出力回路がドライブ
するインピーダンスを代表するダミー抵抗413を介して
電源端子414に接続する。
【0022】ダミーの出力ドライバは出力時、ダミー抵
抗413をドライブし、出力端子417が低電圧レベルとな
る。出力端子417の出力電圧は、低域通過フィルタ405を
通して、高周波成分を除去した安定した低レベルドライ
ブ電圧が比較器406の一方の入力端子に入力される。
【0023】比較器406の他方の入力端子には、電源電
圧Vccを抵抗401, 402で分圧した参照電圧を与える。比
較器406は、低レベルドライブ電圧を参照電圧と比較
し、低レベルドライブ電圧が参照電圧より低い場合アッ
プカウント命令を出力し、逆に、低レベルドライブ電圧
が参照電圧より高い場合ダウンカウント命令を出力す
る。比較器406の出力信号は、アップカウント/ダウン
カウントのいずれか一方を指示する。
【0024】フリップフロップ408は、比較器406の出力
をクロックに同期してカウンタ407にコマンドとして与
える。
【0025】カウンタ407は、4ビットのアップダウン
バイナリカウンタで、フリップフロップ408の出力によ
って、カウントアップ又はカウントダウンする。
【0026】カウンタ407が、カウントアップした場
合、ダミードライバのドライブ能力が増加方向に変化
し、カウントダウンした場合、ダミードライバのドライ
ブ能力が減少方向に変化する。
【0027】ここで、カウンタの1インクリメント/デ
クリメントに対応するドライブ能力の変化を1ステッ
プ、即ちドライブ能力の最小分解能とする。
【0028】すなわち、本補正回路は、ダミー出力バッ
ファの出力端子417が参照電圧418に最も近接した電圧に
達するまで、カウンタを調整し続ける。これによって、
目的のドライブ能力に対して1ステップずつの変化で接
近する。
【0029】[ドライブ能力自動補正過程]図6に、参
照電圧502に出力電圧502が追従していく様子を示す。参
照電圧は、図5の418に示す電圧、出力電圧は図5の417
に示す電圧である。
【0030】図6は、出力ドライバが非常に理想的な動
作をしている場合の例を示している。出力電圧は、最小
ステップ電圧毎に変化して参照電圧に近付く方向に変化
する。図6に示すように変化単位は1ステップ毎であ
る。
【0031】図6において、当初、出力電圧より参照電
圧が低いので、カウンタはカウントダウンし、出力電圧
が低下する(図6の503)。
【0032】次に、出力電圧が参照電圧を超えるとカウ
ンタのカウント方向が変化し、出力電圧は、参照電圧を
はさんでアップダウンを繰り返す。
【0033】補正回路では、参照電圧をはさんでダミー
出力バッファの出力電圧が1ステップの変動を繰り返す
ところで安定となる。図6において、安定状態は504か
ら開始している。
【0034】また、途中で参照電圧が変化すると、出力
は、参照電圧の変化方向に追従するように変化する。図
6の505にその様子を示す。
【0035】[ダミーバッファの出力波形]自動補正回
路のダミー出力バッファの出力端子417は、一定の負荷
を与えられた出力ドライバの出力端子318の出力と同じ
である。したがって、この自動補正回路のドライブ能力
制御出力416を実際の出力ドライバのドライブ能力制御
信号301に与えると、出力ドライバの出力端子318には、
電源電圧/負荷の変動に対して適正なドライブ能力が得
られる。
【0036】この自動補正回路は、ドライブ出力を常に
変化させ最良の安定点を求めるように作動する。
【0037】しかしながら、自動補正回路は前述の回路
構成(図5参照)では、出力ドライバがバイナリ形式
(2n倍)で構成されているため、変化の途中でグリッ
チが発生するという問題を有する。すなわちドライブ能
力の最小分解能に相当する1ステップの変化であって
も、出力端子をドライブするトランジスタの変化如何に
よって、グリッチの起き易い組合せが存在する。
【0038】図4に示した4ビットのドライブ能力可変
バッファの場合の組合せを用いてグリッチの発生につい
て説明する。
【0039】図5において、出力端子417が低レベル電
圧を出力する場合について説明する。この場合、高イン
ピーダンス制御端子319が“1”レベルで且つ入力端子3
20が“1”レベルにある。
【0040】高インピーダンス制御端子319が“1”
で、入力端子320が“1”の状態では、ANDゲート322
の出力は“1”を出力する。ANDゲート322の出力
は、ドライブ能力制御信号301の各ビットに対応する信
号330, 331, 332, 333によりANDゲート310, 311, 31
2, 313においてマスクされ、ドライブ能力制御信号301
のうち“1”のビットに対応するトランジスタ314, 31
5, 316, 317の入力に“1”レベルが出力される。その
結果、トランジスタ314, 315, 316, 317のいずれかがオ
ン状態になる。
【0041】同時に、NANDゲート321では、入力端
子320をインバータ323により反転した信号と高インピー
ダンス制御端子319とを入力し、信号線324に“1”レベ
ルが出力される。信号線324は、ドライブ能力制御信号3
01の各信号値326, 327, 328,329と、ORゲート302, 30
3, 304, 305でマスクされる。しかし、信号線324が
“1”レベルにあるため、ORゲート302, 303, 304, 3
05の出力は全て“1”レベルになり、トランジスタ306,
307, 308, 309は全てオフ状態となる。
【0042】その結果、出力端子318は“0”レベル、
即ち低レベル電圧にドライブされる。
【0043】ここで、初期状態として、トランジスタ31
4, 315, 316がオンであるとする。その後、ドライブ能
力が増大する方に1ステップ変化すると、トランジスタ
314,315, 316はオフ、トランジスタ317がオンになる。
【0044】ここで、全てのトランジスタのオン及びオ
フが同時に起これば出力端子318には滑らかなドライブ
能力の変化が現れるはずである。
【0045】しかし、例えばトランジスタのオンになる
までの時間が早く、オフになるまでの時間がより遅い場
合の動作に付いて考えてみる。この仮定は、出力バッフ
ァのバラツキあるいはスキュー等の点から実際上生じう
るものである。図8を参照して、出力端子318の出力電
圧の変化を細かく見ると以下のようになる。
【0046】1.トランジスタ314, 315, 316がオン、3
17がオフの状態にありドライブ能力7で出力をドライブ
する(図8の701参照)。
【0047】2.ドライブ能力制御信号が7から8に変
化する。
【0048】3.変化直後はトランジスタ314, 315, 31
6はオンのまま、317はオンに変化する(図8の702参
照)。
【0049】4.トランジスタ314, 315, 316はオフ、3
17はオンに落ち着く(図8の704)。
【0050】図7に、実際の最悪の場合のダミー出力バ
ッファの出力端子417に発生する出力波形を示す。これ
は、ドライブ能力制御端子が、ドライブ能力7と8の間
を変化する場合の例である。図7は、出力端子の電圧を
時間を追って観測した場合の波形である。ドライブ能力
制御信号が、一定の数値の間で変化する場合、グリッチ
603が発生する。
【0051】次に、高インピーダンス制御端子319が
“1”レベルで、入力端子320が“0”レベルにある場
合について説明する。
【0052】この場合は、ANDゲート322の出力325は
“0”レベルとなり、ビットマスク用のANDゲート31
0, 311, 312, 313でマスクされ、全ての出力が“0”と
なり、出力ドライブトランジスタ314, 315, 316, 317は
オフ状態となる。
【0053】また、NANDゲート321の出力324は、
“0”レベルになり、ORゲート302,303, 304, 305で
マスクされ、ドライブ能力制御信号301のうち“0”レ
ベルであるビットに対応するトランジスタの入力に
“0”レベルが出力され、トランジスタ306, 307, 308,
309のうち対応するものをオンにし、出力端子318を
“1”レベルにドライブする。
【0054】高インピーダンス制御端子319が“0”に
なった場合は、信号線324が“1”、信号線325が“0”
となり、全てのドライブトランジスタ306, 307, 308, 3
09, 314, 315, 316, 317をオフにし、出力端子318を高
インピーダンス状態にする。
【0055】
【発明が解決しようとする課題】図4に示したようなバ
イナリ形式の出力バッファを用いる場合、最も簡単にド
ライブ能力の変更を制御することが出来るが、バイナリ
形式においては、ドライブ能力が1ステップ変化する場
合でも、その変化がドライブ能力と所定の関係にある場
合、出力端子にはグリッチが発生する。
【0056】特に、図4に示したような制御回路を用い
ることにより出力回路のドライブ能力の制御を行なう場
合には、安定状態時においても、1ステップの増減が恒
常的に発生するため、そのドライブ能力がある特定のパ
ターンにある場合、常にグリッチが発生することにもな
る。
【0057】ここで発生したグリッチはシステム内で発
生するノイズとなり、システム全体の誤動作を引き起こ
すことさえある。
【0058】したがって本発明は前記問題を解消し、ド
ライブ能力可変の出力回路において出力ドライバの切り
替えにより発生するグリッチを抑止する回路を提供する
ことを目的とする。
【0059】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明は、ドライブ能力可変の出力回路のドライブ
能力を自動補正する制御回路において、出力端子に、最
小ドライブ能力の2n(n=0,1,2…)倍のドライブ能力を
有する出力トランジスタを複数並設して成る出力トラン
ジスタ群を接続し、前記出力トランジスタ群は前記最小
ドライブ能力を有する出力トランジスタを少くとも2個
含み、前記複数の出力トランジスタをそれぞれ独立に制
御するように構成したドライブ能力制御回路を提供す
る。
【0060】また、本発明は、ドライブ能力可変の出力
回路であって、出力端子をドライブする出力トランジス
タ群を備え、前記出力トランジスタ群は、最小ドライブ
能力の2n(n=0,1,2…)倍のドライブ能力を有する複数
の出力トランジスタを並列に接続して成ると共に、前記
最小ドライブ能力の出力トランジスタを少くとも2個含
み、前記出力端子のドライブ能力が、請求項1記載の前
記ドライブ能力制御回路に設けられた前記複数の出力ト
ランジスタを制御する信号によって補正される出力回路
を提供する。
【0061】さらに、本発明は、ドライブ能力が可変な
出力回路において、出力トランジスタ群、比較器、カウ
ンタ、ゲート手段から構成されたドライブ能力制御回路
の好ましい実施態様を実装した出力回路として、請求項
3以下に記載された出力回路を提供する。
【0062】
【作用】本発明の作用を以下に説明する。本発明におい
ては、出力回路のドライブ能力を補正するためのドライ
ブ能力自動補正回路において、ダミー出力バッファ及び
出力端子ドライバに冗長ビットを設け、桁上げを回避す
るような構成にすることで安定状態時におけるグリッチ
の発生を抑止することができる。
【0063】すなわち、本発明においては、出力回路は
最小ドライブ能力の2n(n=0,1,2,…)倍のドライブ能
力をもつ出力トランジスタを並設し、更にダミー出力バ
ッファ、比較器、アップダウンカウンタから成るドライ
ブ能力制御回路において、最小ドライブ能力をもつトラ
ンジスタと、カウンタの最下位ビットを少くとも2ビッ
トとして冗長に設け、カウンタが最小+1/−1の範囲
でアップ/ダウンした場合にも最下位ビットに対応した
冗長ドライバを用いることにより桁上げを回避し、安定
状態時において小さな変化に対してバイナリ的な切り替
えにより発生するグリッチを抑止している。
【0064】
【実施例】図面を参照して、本発明の実施例を以下に説
明する。
【0065】
【実施例1】 [実施例の全体の概説]図1及び2に、本発明の一実施
例を示す。
【0066】図1は、低レベルのドライブ能力補正回路
で、図2は高レベルのドライブ能力補正回路である。図
1と図2に分割して示された低レベルのドライブ補正回
路と高レベルのドライブ補正回路とはクロック信号Cl
k115と低レベルドライブ能力制御信号を介して互いに
接続されており全体で出力ドライブの補正回路を構成す
る。
【0067】本実施例に係るドライブ能力補正回路にお
いて、前述した従来例と同じ構成を持つ全体の構成の説
明は省略し、その特徴部を以下に説明する。
【0068】図1に、本実施例の低レベル側の補正回路
を示す。ダミー出力バッファ172の出力はダミー出力抵
抗167を介して電源168に接続される。ダミー出力抵抗16
7とダミー出力バッファ172によって生成された低レベル
電圧は、低域通過フィルタ107で濾波され、比較器109
で、低レベル電圧の参照電圧と比較される。
【0069】低レベル電圧の参照電圧は、電源電圧177
を抵抗101と抵抗102で所望の電圧に分圧して生成され
る。
【0070】比較器109は、低レベル電圧が参照電圧よ
り低い場合、“1”を出力し、低レベル電圧が参照電圧
より高い場合、“0”を出力する。
【0071】この出力を、エッジトリガフリップフロッ
プ111でクロック115に同期化し、冗長型アップダウンカ
ウンタ113, 170のアップ/ダウン制御入力に入力する。
【0072】すなわち、ダミー出力バッファ172の出力
である低レベル電圧が、参照電圧より低い場合、カウン
タ113, 170はクロック115に従ってカウントアップし、
参照電圧より高い場合は、カウントダウンする。カウン
タ出力はダミー出力バッファ172のドライブ能力制御入
力128, 129, 130, 131, 132に入力され、出力ドライブ
能力を制御する。
【0073】ここで、本発明の特徴部を為すダミー出力
バッファ172について説明する。このバッファは、それ
ぞれドライブ能力が最小ドライブ能力の2n倍(n=0,1,
2,…)となるような複数トランジスタから成るトランジ
スタ群に最小のドライブ能力を持つトランジスタを1つ
冗長に備えて構成している。
【0074】実際上は、トランジスタ150, 151が最小単
位のドライブ能力即ち1倍のドライブ能力とすると、ト
ランジスタ152は2倍、トランジスタ153は4倍、トラン
ジスタ154は8倍のドライブ能力になるように設定する
ことになる。
【0075】図2は、高レベル側のドライブ能力補正回
路である。ブロック174は低レベルドライブ補正回路の
ダミー出力バッファ172と同様の回路であり、低レベル
ドライブ能力補正回路で、補正された能力で低電圧側に
ドライブする。
【0076】ブロック173は、高電圧側ドライブ用のダ
ミー出力バッファであり、高電圧側の補正に用いる。ブ
ロック173, 174で、各々高レベル/低レベルのドライブ
により分圧された電圧は、図1の低レベル補正回路と同
じように低域通過フィルタ108を介し、内部抵抗103, 10
4で分圧生成された参照電圧と比較器110にて比較され
る。そして比較器110の出力に基づき、前記低レベルド
ライブ回路と同様に、出力ドライブの補正を行い、高レ
ベルのドライブ能力を決定する。
【0077】[ダミーバッファ]本実施例におけるドラ
イバは、各々のドライブ能力について複数の表現法を持
つ。表2に所定のレベルのドライブ能力を有するトラン
ジスタの組合せを示す。表2において、組合せの欄に記
載された信号名に対応するトランジスタがアクティブに
なることを意味する。
【0078】
【表2】
【0079】本実施例におけるバッファは、隣合ったド
ライブ能力(例えば7, 8)の間の変化が繰り返し起こ
った場合において、グリッチの発生を抑止できることを
特徴としている。
【0080】前述したように、従来の回路では、ドライ
ブ能力制御端子のバイナリ数に桁上げが発生した場合に
グリッチが発生する。
【0081】本発明においては、ドライブ能力制御端子
に冗長性を持たせ、桁上げを回避するような構成にする
ことで、グリッチの発生を抑えている。ドライブ能力制
御端子の出力が大きく変化する場合には、なおもグリッ
チが発生する可能性はあるが、前記従来例で説明した桁
上げに起因するグリッチの発生は抑止され、特に、従来
出力電圧が参照電圧をはさんで1ステップの変動を繰り
返す安定状態において発生したグリッチは抑止される。
【0082】[カウンタ制御回路]次にダミー出力バッ
ファを駆動するためのカウンタについて説明する。この
カウンタは、最下位ビットとして冗長なビットを持つカ
ウンタである。
【0083】カウンタ冗長部170の遷移表を表3に示
す。表3の遷移表では、入力端子のアップ/ダウン, 現
在の状態のQ×1A, Q×1Bから、次の状態のN×1A,
N×1B, キャリーが決定される。
【0084】
【表3】
【0085】次にカウンタの通常カウント部113の遷移
表を表4示す。
【0086】
【表4】
【0087】[カウンタの動作例]ここで、カウンタ全
体の動作を例に基づき説明する。まず補正回路が安定状
態に入っているとする。
【0088】仮に、ドライブ能力が7, 8の間に安定し
ているものとし、ある時点のドライブ能力が7であると
する。その時点における状態は、Q×8, Q×4, Q×2,
Q×1A, Q×1B=0, 1, 1, 1, 0と表せる。
【0089】ドライブ能力が8に変化する時、アップダ
ウン入力はアップ状態され、次のクロックでは、Q×8,
Q×4, Q×2, Q×1A, Q×1B=0, 1, 1, 1,
1に変化することができる。
【0090】次に補正回路はアップダウン入力をダウン
状態に変化し、ドライブ能力が7に変化するように制御
する。ここで、カウンタは、Q×8, Q×4, Q×2, Q
×1A, Q×1B=0, 1, 1, 1, 0に戻る。
【0091】この時、実際上スイッチングするトランジ
スタは、Q×1Bに対応するトランジスタだけである。
Q×1Bに対応するトランジスタ154は、最小単位のドラ
イブ能力を有し、このトランジタ154のオン/オフに伴
う出力端子の変化は最小電圧ステップとなる。
【0092】このようにカウンタを制御することで、桁
上げに伴うドライブ段の出力トランジスタの変化を抑止
し、グリッチの発生を防いでいる。
【0093】[出力ドライバ]出力端子のドライブ能力
制御入力は、ダミー出力バッファの制御入力端子と並列
に接続して制御される。これによってダミー出力バッフ
ァに接続した抵抗負荷に対して最も適切なドライブ能力
で集積回路の全出力端子をドライブすることができる。
【0094】
【発明の効果】以上説明したとおり、本発明によれば、
ドライブ能力が可変な出力回路のドライブ能力を補正す
るためのドライブ能力自動補正回路において、ダミー出
力バッファ及び出力ドライバに冗長ビットを設け、桁上
げを回避するような構成にすることにより、出力ドライ
バの切り替え時におけるグリッチの発生を抑止すること
ができる。
【0095】また、本発明においては、最小ドライブ能
力をもつ出力ドライバとカウンタの最下位ビットを冗長
に設け、カウンタが最小+1/−1の範囲でアップ/ダ
ウンした場合にも最下位ビットに対応した冗長ドライバ
を用いることにより、特に、安定状態時において桁上げ
により発生するグリッチを抑止するという利点を有す
る。
【0096】さらに、本発明においては、ダミー出力バ
ッファに接続した抵抗負荷に対して最も適切なドライブ
能力で集積回路の全出力端子をドライブすることができ
るという利点を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例における低レベルのドラ
イブ能力補正回路の構成を示すブロック図である。
【図2】本発明の第1の実施例における高レベルのドラ
イブ能力補正回路の構成を示すブロック図である。
【図3】標準TTLのドライブ出力の回路構成図であ
る。
【図4】可変ドライブ能力出力ドライバの構成を示す図
である。
【図5】従来のドライブ能力自動補正回路図である。
【図6】可変ドライブ能力ドライバの出力ドライブ能力
の調整過程を示すタイミング図である。
【図7】可変ドライブ能力出力ドライバの出力電圧にお
いてグリッチの発生の様子を示す図である。
【図8】可変ドライブ能力出力ドライバの出力電圧を示
す図である。
【符号の説明】
101, 102, 103, 104 集積回路内部の抵抗 105, 107, 106, 108 低域通過フィルタ 109, 110 比較器 111, 112 エッジトリガD型フリップフロップ 113, 114 3ビットアップダウンカウンタ 118, 119, 120, 121, 122 低レベル電圧ドライブ能力
出力端子 128, 129, 130, 131, 132 ダミー出力バッファの低レ
ベル電圧ドライブ能力制御入力端子 133, 165, 166 接地 135, 136, 137, 138, 139 2入力ANDゲート 140, 141, 142, 143, 144 2入力ORゲート 145, 146, 147, 148, 149 2入力ANDゲート 150 Nチャンネル出力ドライバ(ドライブ能力×8) 151 Nチャンネル出力ドライバ(ドライブ能力×4) 152 Nチャンネル出力ドライバ(ドライブ能力×2) 153, 154 Nチャンネル出力ドライバ(ドライブ能力×
1) 155 Pチャンネル出力ドライバ(ドライブ能力×8) 156 Pチャンネル出力ドライバ(ドライブ能力×4) 157 Pチャンネル出力ドライバ(ドライブ能力×2) 158, 159 Pチャンネル出力ドライバ(ドライブ能力×
1) 160 Nチャンネル出力ドライバ(ドライブ能力×8) 161 Nチャンネル出力ドライバ(ドライブ能力×4) 162 Nチャンネル出力ドライバ(ドライブ能力×2) 163, 164 Nチャンネル出力ドライバ(ドライブ能力×
1) 167 ダミー出力インピーダンス設定外部抵抗 168, 169 電源 170, 171 冗長アップダウンカウンタ 172, 173, 174 ダミー出力バッファ 177 電源電圧 201 TTL集積回路 202, 203 NPNトランジスタ 204 負荷抵抗 205 負荷容量 206 出力端子 207 抵抗 208 ダイオード 301 ドライブ能力制御入力 302, 303, 304, 305 2入力ORゲート 306 Pチャンネル出力ドライバ(ドライブ能力×1) 307 Pチャンネル出力ドライバ(ドライブ能力×2) 308 Pチャンネル出力ドライバ(ドライブ能力×4) 309 Pチャンネル出力ドライバ(ドライブ能力×8) 310, 311, 312, 313 2入力ANDゲート 314 Nチャンネル出力ドライバ(ドライブ能力×1) 315 Nチャンネル出力ドライバ(ドライブ能力×2) 316 Nチャンネル出力ドライバ(ドライブ能力×4) 317 Nチャンネル出力ドライバ(ドライブ能力×8) 318 出力端子 319 高インピーダンス制御端子 320 出力バッファ入力端子 321 2入力NANDゲート 322 2入力ANDゲート 326, 327, 328, 329 高レベルドライブ能力制御信号 330, 331, 332, 333 低レベルドライブ能力制御信号 401, 402 抵抗 403 発振回路 404, 405 フィルタ 406 電圧比較器 407 アップダウンカウンタ 408 エッジトリガDタイプフリップフロップ 409 Nチャンネル出力ドライバ(ドライブ能力×8) 410 Nチャンネル出力ドライバ(ドライブ能力×4) 411 Nチャンネル出力ドライバ(ドライブ能力×2) 412 Nチャンネル出力ドライバ(ドライブ能力×1) 413 ダミー抵抗 414 電源 415 接地 416 ドライブ能力制御出力 501 出力電圧 502 参照電圧 503 ダミーバッファ出力電圧 504 調整回路のロック開始点 505 参照電圧の変化 506 再安定化 507 カウンタのアップダウン入力 508 クロック 601 電圧 602 ドライブ制御入力 603 グリッチ 701 出力ドライブ7の電圧 702 出力ドライブ15に変化 703 出力ドライブ8に変化 704 出力ドライブの8で安定

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】ドライブ能力可変の出力回路のドライブ能
    力を自動補正する制御回路において、 出力端子に、最小ドライブ能力の2n(n=0,1,2…)倍の
    ドライブ能力を有する出力トランジスタを複数並設して
    成る出力トランジスタ群を接続し、 前記出力トランジスタ群は前記最小ドライブ能力を有す
    る出力トランジスタを少くとも2個含み、 前記複数の出力トランジスタをそれぞれ独立に制御する
    ように構成したドライブ能力制御回路。
  2. 【請求項2】ドライブ能力可変の出力回路であって、 出力端子をドライブする出力トランジスタ群を備え、 前記出力トランジスタ群は、最小ドライブ能力の2n(n
    =0,1,2…)倍のドライブ能力を有する複数の出力トラン
    ジスタを並列に接続して成ると共に、前記最小ドライブ
    能力の出力トランジスタを少くとも2個含み、 前記出力端子のドライブ能力が、請求項1記載の前記ド
    ライブ能力制御回路に設けられた前記複数の出力トラン
    ジスタを制御する信号によって補正される出力回路。
  3. 【請求項3】ドライブ能力可変の出力回路において、 出力端子をドライブする出力トランジスタ群であって、 最小ドライブ能力の2n(n=0,1,2…)倍のドライブ能力
    を有する複数の出力トランジスタを並列に接続して成る
    と共に、前記最小ドライブ能力の出力トランジスタを少
    くとも2個含む出力トランジスタ群と、 前記複数の出力トランジスタを個別に駆動するゲート手
    段と、 前記出力端子のドライブ能力を補正するカウンタと、 一の入力端子には出力ドライバの前記出力端子が接続さ
    れ、他の入力端子には所定の参照電圧が接続された比較
    器と、を備え、 前記カウンタは、最下位ビットを除くビットをカウント
    アップまたはカウントダウンする第1のカウンタと、最
    下位ビットを制御する第2のカウンタから構成され、 前記第2のカウンタは、前記最小ドライブ能力を有する
    出力トランジスタと同数の少くとも2ビットから成り、
    前記最小ドライブ能力を有する出力トランジスタを制御
    するゲート手段に接続され、 前記第1のカウンタの出力は最小ドライブ能力の2n
    (但し、nは0を除く)のドライブ能力を有する出力ト
    ランジスタを制御するゲート手段にそれぞれ接続され、 前記比較器は、その出力が前記カウンタのアップ/ダウ
    ン制御入力端子に接続され、前記出力端子のドライブ能
    力を前記参照電圧と比較し、 前記比較器の出力信号により前記カウンタをカウントア
    ップまたはカウントダウンして出力端子のドライブ能力
    を補正するようにした出力回路。
  4. 【請求項4】前記第2のカウンタが複数のレジスタから
    構成され、カウントアップ時においては、レジスタを1
    つずつセットし、全てのレジスタがセット状態にある時
    には該全てのレジスタをリセットすると共に前記第1の
    カウンタをカウントアップし、カウントダウン時におい
    ては、レジスタを1つずつリセットし、全てのレジスタ
    がリセット状態にある時には、該全てのレジスタをセッ
    トすると共に前記第1のカウンタをカウントダウンする
    ことを特徴とする請求項3記載の出力回路。
  5. 【請求項5】前記第1のカウンタの出力が、その最上位
    ビット側から下位ビット側へ、前記出力トランジスタ群
    のうち最もドライブ能力の高い出力トランジスタを制御
    するゲート手段からドライブ能力の低い出力トランジス
    タを制御するゲート手段へ、順次接続されて成る請求項
    3記載の出力回路。
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