JP2005197510A - 電磁波シールドケースおよびその製造方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】 省接地占有面積でありながら従来にない大きな弾性ばね変位が取れる超弾性フランジをシールドケースの周囲に一体に形成すること。
【解決手段】 回路基板1上の電子部品6を覆うように配設され、基板1上の接地導通部分3にシールドケース2と一体をなすフランジ7が弾性的に変形して接地することでシールドケース2外への電磁波漏洩を防止する電磁波シールドケース2であって、フランジ7が、金属ガラスを用いてシールドケース2と一体に作製されている。金属ガラスを用いて作製することにより、塑性変形とは異なる原子単位の粘性流動による変形を利用することができ、これによりスプリングバックのない寸法精度の高いフランジ7の成形を達成することができる。
【選択図】 図2

Description

携帯電話機やコンピュータなどに使用される回路基板(プリント基板)上の電子部品を覆うように配設される電磁波シールドケースおよびその製造方法に関する。
回路基板上において、発振回路などの電磁波を発生させる部品が存在する場合、電磁波によって他の回路素子に対する影響、具体的には輻射ノイズの発生を防止することを目的として、電子部品を導体である金属を素材としている電磁波シールドケースによって包囲し、かつ発生する電磁波が外部へ伝播しないようにシールド(遮蔽)することが従来技術として採用されている。
このような電磁波シールドケースを回路基板に配設する場合には、図17のように回路基板1にシールドケース2の下端縁に対応する領域および当該領域の周囲において、金属製のグラウンド線3(接地導通部分)を形成し、当該グラウンド線3とシールドケース2の下端の一部または全てとの間において、半田接合4を行っている。
しかしながら、この半田接合法は以下に示す課題を有していることが知られている。
すなわち、半田接合法は、
a.半田付け時の加熱に基づくプリント基板や電子部品への悪影響(変形または部分的な破損)があること、
b.使用年限を過ぎた回路基板1において、シールドケース2を再資源として利用する場合に、金属ケース2から半田を除去しなければならないという作業場の非効率性があること、
c.半田付け前後における洗浄などの処理を行うことによる煩雑性があること、
d.半田付け作業の段階におけるフラックスおよびはんだ自体の飛散や飛散に伴う回路素子への付着があること、
e.シールドケース2内の電子部品を交換する場合にはおいて、半田による接着を破壊しなければならないことによる作業の煩雑さがあること、
等の課題を有している。
そこで従来、前記課題を解決すべく種種の技術が試みられている。
従来技術1は、前記課題eを解決するためのもので、図18に示すように、半田付け4でトラス状の枠組5をグラウンド線3に接合し、この枠組5と着脱可能な上蓋6を結合するような所謂2ピースタイプのシールドケース2を採用するものである。
また、従来技術2は、前記課題a〜eを解決するために本発明者等により開発されたもので、半田付けを行うことなく、シールドケースと一体形成した曲げ弾性を有するアンカーピンが基板に設けたスルーホールと弾性的に接合するシールドケースの設置構造を採用するものである(例えば、特許文献1参照)。
さらに、従来技術3は、前記課題a〜eを解決するために本発明者等により開発されたもので、半田付けを行うことなく、シールドケースの背面側に一体形成した曲げ弾性を有するロックピンが回路基板を覆う筐体に弾性的に結合され、グラウンド線へはシールドケースの下端縁の一部が電気的に接するシールドケースの設置構造を採用するものである(例えば、特許文献2参照)。
またさらに、従来、本発明者等により開発された大きな非晶質形成能と強度・靱性に優れたZr系非晶質合金(金属ガラス)が知られている(例えば、特許文献3、4参照)。
特開2003−179378号公報 特開2003−179379号公報 特開2000−129378号公報 特開2000−178700号公報
しかしながら、従来技術1は、背高が高くなりがちで、回路基板1上の構成の薄型化を阻害し、更には製造コストの高騰を招くという課題を有している。
また、従来技術2は、急速に小型化が進む携帯電話やコンピュータなどでは、電子部品配設によるスペースの制約を受けたり、両面実装基板の普及によって基板裏面側にも電子部品が搭載されるなどにより、もはや回路基板に必要十分な数のスルーホールを設けることすら許されなくなりつつあるという、新たな課題が生まれつつある。
さらに、従来技術3は、回路基板にスルーホールを設ける必要はないが、信頼性ある電気的接続を実現するためには次のような新たな課題を有している。
すなわち、従来技術3は、より薄型化する筐体やプリント基板のたわみを吸収し、信頼性ある電気的接続を実現するためにはグラウンド線と接地するための弾性ばね変位をより大きく取る必要があること、および無線通信などに利用される周波数帯域がますます高周波化(短波長化)されつつあるため、接地間隔をより密に取らねばならないことの2つの要件を満たすためには、弾性ばねの接地に要するスペースの制約を受けながら、グラウンド線との接地を極めて密にし、シールドケースと一体に形成することになり、従来の金属をプレス打抜きした後に曲げ成形する所謂板金加工方法では、設計に無理が生じるという新たな課題が生じている。
すなわち、プレス打抜きと曲げ成形によるシールドケースの量産加工性と、高接地密度・省接地占有面積かつ大きな弾性ばね変位を与えるシールドケースの設計の両立は困難を極めるようになってきている。
また、シールドケースを製作するためには、従来の結晶金属材料を塑性変形による曲げ成形または深絞り成形する方法では、弾性フランジの張り出し幅と曲げ半径を小さく保ちながら、十分な弾性変位を稼ぐ設計には限界がある。
そこで、本発明者等は、種種検討した結果、前記金属ガラスを用い、塑性変形とは異なる原子単位の粘性流動による変形を利用することで、スプリングバックのない寸法精度の高いフランジ成形を達成し得ることの知見を得、この知見に立脚して本発明を完成したものである。
本発明は、従来からの課題a〜eを解決するためのみならず、従来技術1〜3の新たな課題を解決するため、スルーホールが要らず、省接地占有面積でありながら従来にない大きな弾性ばね変位が取れる超弾性フランジをシールドケースの周囲に一体に形成してなる電磁波シールドケースおよびその製造方法を提供することを目的としている。
前記目的を達成するために、請求項1の発明は、回路基板上の電子部品を覆うように配設され、基板上の接地導通部分にシールドケースと一体をなすフランジが弾性的に変形して接地することでシールドケース外への電磁波漏洩を防止する電磁波シールドケースであって、
前記フランジが、破壊強度/弾性定数が0.01以上となる金属を用いて前記シールドケースと一体に作製されていることを特徴とする。
ここで、破壊強度とは、機械強度試験での降伏応力あるいは弾性限界となる応力で定義する破壊強度のことであり、弾性定数とは、弾性限界内の応力と歪みとの間の比例定数で定義される弾性定数のことである。
このため請求項1の電磁波シールドケースは、破壊強度/弾性定数が0.01以上となる金属を用いて作製することにより、塑性変形とは異なる原子単位の粘性流動による変形を利用することができ、これによりスプリングバックのない寸法精度の高いフランジ成形を達成することができる。
また、請求項2の発明は、請求項1に記載の電磁波シールドケースであって、
前記フランジが、1mm以下の張り出し幅を有して形成されていることを特徴とする。
このため請求項2の発明では、相互に隣接する2個のシールドケースの間隔を、最大でも2mmまで狭めることができる。
また、請求項3の発明は、請求項1または2に記載の電磁波シールドケースであって、
前記フランジに、少なくとも1個の切り込みが幅方向に設けられていることを特徴とする。
このため請求項3の発明では、フランジのばね定数を切り込みの個数により制御することができる。
また、請求項4の発明は、請求項1〜3のいずれか1項に記載の電磁波シールドケースであって、
前記フランジが、非直線的形状の外周縁部を有して形成されていることを特徴とする。
このため請求項4の発明では、フランジの外周縁部を非直線的な形状にすることによって周長が長くなり、これによって接地導通部分(グラウンド線)との摩擦力を大きくし、フランジの横滑りを防止することができる。
また、請求項5の発明は、回路基板上の電子部品を覆うように配設され、基板上の接地導通部分にシールドケースと一体をなすフランジが弾性的に変形して接地することでシールドケース外への電磁波漏洩を防止する電磁波シールドケースであって、
前記フランジが、金属ガラスを用いて前記シールドケースと一体に作製されていることを特徴とする。
このため請求項5の電磁波シールドケースは、金属ガラスを用いて作製することにより、塑性変形とは異なる原子単位の粘性流動による変形を利用することができ、これによりスプリングバックのない寸法精度の高いフランジ成形を達成することができる。
また、請求項6の発明は、請求項5に記載の電磁波シールドケースであって、
前記フランジが、1mm以下の張り出し幅を有して形成されていることを特徴とする。
このため請求項6の発明では、相互に隣接する2個のシールドケースの間隔を、最大でも2mmまで狭めることができる。
また、請求項7の発明は、請求項5または6に記載の電磁波シールドケースであって、
前記フランジに、少なくとも1個の切り込みが幅方向に設けられていることを特徴とする。
このため請求項7の発明では、フランジのばね定数を切り込みの個数により制御することができる。
また、請求項8の発明は、請求項5〜7のいずれか1項に記載の電磁波シールドケースであって、
前記フランジが、非直線的形状の外周縁部を有して形成されていることを特徴とする。
このため請求項8の発明では、フランジの外周縁部を非直線的な形状にすることによって周長が長くなり、これによって接地導通部分(グラウンド線)との摩擦力を大きくし、フランジの横滑りを防止することができる。
また、請求項9の発明は、請求項5〜8のいずれか1項に記載の電磁波シールドケースの製造方法であって、
前記電磁波シールドケースが、前記金属ガラスの過冷液体温度域における加圧成形によって製作されることを特徴とする。
また、請求項10の発明は、請求項5〜8のいずれか1項に記載の電磁波シールドケースの製造方法であって、
前記電磁波シールドケースが、前記金属ガラスのガラス転移温度と結晶化温度との間の温度域で、温間プレスすることによって製作されることを特徴とする。
また、請求項11の発明は、請求項9または10に記載の電磁波シールドケースの製造方法であって、
前記金属ガラスは、ジルコニウム基を有する非晶質合金であることを特徴とする。
このため請求項9、10、あるいは11の電磁波シールドケースの製造方法では、単ロール法による箔材を深絞り成形する方法に限ることはなく、金型鋳造法や高圧射出成形法に代表されるさまざまな成形方法を選択することができ、これによりシールドケースは、箱型形状に限定されることなく、ドーム形状のものや、非対称の形状を含むその他の形状のもの、あるいは非直線的形状の外周縁部を有するフランジを備えたもの等を容易に成形可能である。
以上説明したように、請求項1の発明によれば、破壊強度/弾性定数が0.01以上となる金属を用いて作製することにより、スプリングバックのない寸法精度の高いフランジ成形を達成することができ、これにより従来必要としたスルーホールが要らず、省接地占有面積でありながら従来にない大きな弾性ばね変位が取れる超弾性フランジをシールドケースの周囲に一体に形成してなる電磁波シールドケースを提供することができる。
また、請求項2の発明によれば、相互に隣接する2個のシールドケースの間隔を、最大でも2mmまで狭めることができ、これにより請求項1の発明の効果に加えて、回路基板上のスペース制約に対処することができる。
また、請求項3の発明によれば、フランジのばね定数を切り込みの個数により制御することができ、これにより請求項1または2に記載の発明の効果に加えて、フランジとグラウンド線との接地をより完全なものとすることができると共に、回路基板およびシールドケースを収容する筐体の着脱の容易化をも図ることができる。
また、請求項4の発明によれば、フランジの外周縁部を非直線的な形状にすることによって周長が長くなり、これにより請求項1〜3のいずれか1項に記載の発明の効果に加えて、接地導通部分(グラウンド線)との摩擦力を大きくし、フランジの横滑りを防止することができる。
また、請求項5の発明によれば、金属ガラスを用いて作製することによりスプリングバックのない寸法精度の高いフランジ成形を達成することができ、これにより従来必要としたスルーホールが要らず、省接地占有面積でありながら従来にない大きな弾性ばね変位が取れる超弾性フランジをシールドケースの周囲に一体に形成してなる電磁波シールドケースを提供することができる。
また、請求項6の発明によれば、相互に隣接する2個のシールドケースの間隔を、最大でも2mmまで狭めることができ、これにより請求項5の発明の効果に加えて、回路基板上のスペース制約に対処することができる。
また、請求項7の発明によれば、フランジのばね定数を切り込みの個数により制御することができ、これにより請求項5または6に記載の発明の効果に加えて、フランジとグラウンド線との接地をより完全なものとすることができると共に、回路基板およびシールドケースを収容する筐体の着脱の容易化をも図ることができる。
また、請求項8の発明によれば、フランジの外周縁部を非直線的な形状にすることによって周長が長くなり、これにより請求項5〜7のいずれか1項に記載の発明の効果に加えて、接地導通部分(グラウンド線)との摩擦力を大きくし、フランジの横滑りを防止することができる。
また、請求項9、10、あるいは11の電磁波シールドケースの製造方法によれば、単ロール法による箔材を深絞り成形する方法に限ることはなく、金型鋳造法や高圧射出成形法に代表されるさまざまな成形方法を選択することができ、これによりシールドケースの形状を、箱型形状に限定することなく、ドーム形状のものや、非対称の形状を含むその他の形状のもの、あるいは非直線的形状の外周縁部を有するフランジを備えたもの等を容易に成形可能である。
以下、本発明を、実施の形態に基づいて具体的に説明する。なお、図17および図18に示す構成要素と同一のものは、同一符号を付してその説明を簡略にすることにする。
図1および図2は、本発明の一実施形態としての電磁波シールドケース2を示す。このシールドケース2は、回路基板1上の電子部品6を覆うように配設され、基板1上のグラウンド線(接地導通部分)3にシールドケース2と一体をなすフランジ7が弾性的に変形して接地することでシールドケース2外への電磁波漏洩を防止するように構成されている。
このときフランジ7は、破壊強度/弾性定数が0.01以上となる金属を用いてシールドケース2と一体に作製されている。
具体的には、シールドケース2は、薄肉の金属箔で形成されており、小幅の帯状の一体フランジ7がその開口端の全周に亘って形成されていて、電子機器の筐体8の内部に収まった回路基板1上のグラウンド線3の上に置かれている。シールドケース2は、例えば、55Zr−30Cu−5Ni−10Al合金(数字は原子比率)で製作され得るが、必ずしもこれに限らず、破壊強度(σf)/弾性定数(E)の比が0.01以上となる金属であれば良い。
ここで破壊強度(σf)とは、機械強度試験での降伏応力あるいは弾性限界となる応力で定義する破壊強度のことであり、弾性定数(E)とは、弾性限界内の応力と歪みとの間の比例定数で定義されるヤング率のことである。
シールドケース2は、予め角度を設けてあるフランジ7のばね性によって浮き上がっている(図2参照)。この状態では、基板1のたわみ等によってグラウンド線3とフランジ7とが電気的に接続していない箇所が存在し得る。
図3は、回路基板1上に置かれたシールドケース2の上から、さらに筐体9を被せた場合を示しており、電子機器は通常この状態で使用される。筐体8、9の一部に押圧されたシールドケース2は、フランジ7の弾性変形によって、フランジ7の周囲をグラウンド線3に接地させることができる。シールドケース2は、筐体9の内面に設けられた凸部9aによりその天井部が押圧されている。
図4は、このときのフランジ7の作動を説明する。図4(a)は、筐体9で押圧する前の、回路基板1上に載置されたシールドケース2を示し、フランジ7はその先端をグラウンド線3に当接させると共に、その付け根部を変位dだけグラウンド線3から離隔させた状態になっている。図4(b)は、筐体9で押圧されたシールドケース2を示し、フランジ7はその先端から付け根部までの全体をグラウンド線3に当接させた状態になっている。図4(c)は、筐体9を取り外してシールドケース2に対する押圧を解除した状態を示し、フランジ7は図4(a)の状態に復元する。このようにフランジ7は、超弾性を有するため、破壊したり永久変形することなく容易に筐体8、9を着脱することができる。
また、シールドケース2は、前記作動を奏するようにするため、破壊強度(σf)/弾性定数(E)の比が0.01以上となる金属を用いて作製される。
すなわち、ステンレス、チタン、あるいはアルミニウム合金等の構造用金属材料の多くは、図5に示すように、破壊強度(σf)と弾性定数(E)とのチャート上で見た場合、σf/E<0.01の範囲で点在する。これらの材料を選択して、当該業者が常識的に用いている厚さ0.1mmから0.3mm程度のシールドケース2を成形する場合、1mm幅のフランジ7の曲げ加工を行う際に曲げR部にクラックが生じることが判った。もちろんブロック素材から切削してシールドケース2を製作することもできるが、非効率である。
これに対して本発明の金属は、σf/E>0.01の範囲(図5中、斜線を付して示す)に点在しており、この金属を用いてシールドケース2を製作することにより、塑性変形とは異なる原子単位の粘性流動による変形を利用することができ、これによりスプリングバックのない寸法精度の高いフランジ7の成形を曲げR部にクラックの生じること無く達成することができる。本発明の金属を例示すると、Ni−Nb−Zr−Ti合金、Cu−Zr−Ti−Be合金、Cu−Zr−Ti合金、Zr−Cu−Ni−Al合金(金属ガラス)、Mgガラス、あるいはβ−Ti合金等である。
また、ばね定数の小さな金属材料のほうが微小な張り出しを持つ鋭角的なフランジ7の成形をするのに有利である。そこで次にばね特性の観点から、本発明に適用される金属の限定理由を説明する。
図6は、金属材料の弾性変形曲線(応力−歪曲線)を示しており、先に示した多くの構造用金属材料(ステンレス、チタン、りん青銅、あるいはアルミニウム合金)は、僅かな弾性歪み(弾性歪みεとは外力を加えて起こる弾性変位ΔSをもとの長さSで割った量の自然対数を取ったもの;ε=Ln{ΔS/S})しか得られないで永久変形してしまう。図6中、○印は弾性限界点を示す。
これに対して本発明の金属は、σf/E>0.01の範囲、すなわちσf/E=0.01に相当するσ−ε線以下の範囲(図6中、斜線を付して示す)に点在しており、この金属によれば、前記した構造用金属材料よりも充分大きい弾性歪みを奏することができる。
したがって、図7に示すように、前記した構造用金属材料を用いて、厚さ0.1mmから0.3mmのシールドケース20(比較例)を製作し、その開口部の周縁部に張り出しを1mmとした針状弾性ばね21を、図7(a)に示すように放射状に形成すると、僅かなばね変位しか得られないか、あるいはばね変位が得られる前に永久変形してしまう。他方、図7(b)に示すように、シールドケース30(比較例)を製作し、針状弾性ばね21に替えて十分長いL字形状弾性ばね31を形成すれば前記した構造用金属材料でも永久変形することなく十分な変位が得られるが、この場合、前述した従来技術2の新たな課題である高接地密度化を解決するものとはならない。
これに対しシールドケース2は、σf/E≧0.01を満足する金属や金属ガラスで製作されるものであるから、厚さが0.1〜0.3mm程度で、張り出し幅が1mm以内の超弾性を有する帯状のフランジ7を容易に製作することができる。
また好ましくは、シールドケース2は、フランジ7が、1mm以下の張り出し幅を有して形成される。
シールドケース2は、図8に示すように、基板1上の機能領域毎に複数のケース2、2…が隣接して配設されることも多い。この場合、従来技術において半田接合に必要な接合代は幅1mmが既に達成されており、互いに隣接する2つのシールドケース2、2の間隔tは2mmまで狭められている。このときフランジ7の張り出し幅は、基板1上のスペース制約を考慮すれば1mm以上に許容されることはなく、1mm以下でないとメリットがない。
シールドケース2は、σf/E≧0.01を満足する金属または金属ガラスで製作することにより、張り出し幅1mm以下のフランジ7を有するものとして十分設計製作できる。
また好ましくは、図9に示すように、フランジ7に、少なくとも1個の切り込み10が幅方向に設けられる。
この構成では、フランジ7のばね定数を切り込み10の個数により制御することができ、これによりグラウンド線3との接地をより完全なものとすることができると共に、回路基板1およびシールドケース2を収容する筐体8、9の着脱の容易化をも図ることができる。
また好ましくは、図10に示すように、フランジ7が、非直線的形状の外周縁部11を有して形成される。このときの外周縁部11は、図示例の単純な非線形に限らず、幾何学的な模様であってもよく、さらにはグラウンド線3と接するフランジ7の周長が長くなるような立体構造を形成しても良い。
この構成では、フランジ7の外周縁部11を非直線的な形状にすることによって周長が長くなり、これによってグラウンド線3との摩擦力が大きくなり、ひいてはフランジ7の横滑りを防止することができる。これによりシールドケース2の位置決めが達成できる。
さらに図11〜図14に、シールドケース2の変形例を示す。これらのシールドケース2のいずれもが、本発明に属するものであることは勿論である。
図11のシールドケース2は、全体が非対称の形状をしているが、σf/E≧0.01を満足する金属または金属ガラスを用いることにより容易に製作することができるばかりでなく、さらに箱型形状でなくともドーム型、あるいはその他の形状であっても製作できることは勿論である。
図12のシールドケース2は、フランジ7に外方へ突出させて形成した取付片12に、基板1との位置決め用の穴13を設けた例である。シールドケース2は、位置決め用の穴13を介して、基板1にネジ固定したり、基板1あるいは筐体8(あるいは筐体9)側に設けたボス(図示せず)を挿入して位置決めすることもできる。
図13のシールドケース2は、天井面に粘着テープ14を貼り、筐体9に固定することで位置決めするものである。
図14のシールドケース2は、その天井面に微小な凹凸模様15を多数形成することによって表面積を大きくした例で、シールドケース2に覆われたパワーアンプ等の電子部品6からの発熱を、効率良く放熱する役割をも兼ね備えている。
また、図15は、シールドケース2の位置決め手段の別例を示す。このときの位置決め手段は、筐体9側に設けた、シールドケース2の天井部分の面積分の凹み16で構成されている。シールドケース2は、その天井部分を凹み16に嵌入させた状態で筐体8、9により押圧される。
次に電磁波シールドケースの製造方法について説明する。
この製造方法は、電磁波シールドケースを、金属ガラスの過冷液体温度域における加圧成形によって製作するものである。
換言すれば、この製造方法は、電磁波シールドケースを、金属ガラスのガラス転移温度と結晶化温度との間の温度域で、温間プレスすることによって製作するものである、とすることもできる。
また、このときの金属ガラスは、ジルコニウム基を有する非晶質合金である。
具体的には、単ロール法などによって得られた厚さ0.1mmの55Zr−30Cu−5Ni−10Al(数字は原子比率)金属ガラスの箔材を、非晶質構造を維持できる過冷液体温度域であって、なおかつ非晶質構造が失われる上限温度となる結晶化温度に達しない温度条件を選び、金型を用いた深絞り成形によりシールドケースを製作する。液体を過冷するためには、液体を冷却する過程で結晶核の生成や成長を抑制する必要があるので、前記した温度条件の選択が必要となるのである。
ここで、単ロール法とは、電気炉あるいは高周波炉により合金を溶解し、その溶融合金をガス圧によりるつぼの先端孔から噴出させ、回転する冷却用回転体の表面上で接触凝固させる金属箔の製造方法のことである。
このとき、過冷液体温度域での成形が行われれば、単ロール法による箔材を深絞り成形する方法に限ることはなく、金型鋳造法や高圧射出成形法に代表されるさまざまな成形方法が選択されて良い。
表1は、実施例と比較例のシールドケースを、フランジの成形性、得られる最大変位、およびシールド性能を基準にして比較した結果を示す。
Figure 2005197510
表1中、フランジ成形性は、クラックの入ることなく0.7mm幅のフランジが成形できるか否かで判定した。シールド性能は、0.1〜6GHzの高周波に対する実効シールド量SE<−60dBの場合を◎(良好)、−60dB<SE<−30dBの場合を△(問題あり)、−30dB<SEを×(不良)として判断した。
実施例1から実施例8のシールドケースは、図1に示すシールドケース2であり、長手33mm、短手23mm、肉厚0.1mm、ケースの下端周囲に幅0.7mmの一体フランジを形成したシールドケースである。
そして実施例1から実施例7のシールドケースは、単ロール法で作った金属ガラス(ジルコニウム基を有する非晶質合金)の箔材を過冷液体温度域で温間プレス成形して製作した。また、実施例8のシールドケースは、β−Ti合金の箔材を用いて、深絞り加工により製作した。
比較例1から比較例4のシールドケースは、図1に示すシールドケース2のように一体フランジ7を形成することができないので、図7(a)に示すシールドケース20のように針状弾性ばね21を1mm間隔で板金加工で形成した。
またシールド性能は、図16に示す測定装置40を用いて測定した。すなわち測定装置40は、ケーシング41で覆われた電波暗室42と、この電波暗室42内に対向して設けられた送信アンテナ43および受信アンテナ44と、中央に開けた穴45aを送信アンテナ43と受信アンテナ44との対向間に位置させて電波暗室42内に配置された回路基板45と、穴45aを覆うように配設された供試用シールドケースAと、送信アンテナ43から出射する高周波を制御すると共に供試用シールドケースAから洩れた前記高周波を受信アンテナ44を介して測定するネットワークアナライザ46とから構成されている。図16中、符号47は信号回路である。
そしてシールド性能は、測定装置40を用いて、回路基板45の中央に開けた穴45aを覆うように供試用シールドケースAを配設し、このケースAの配設されたのと反対側の送信アンテナ43から0.1〜6GHzの高周波を試験的に入射し、ケースAの外へ漏れる高周波の量を受信アンテナ44を介して計測する方法で評価した。
この測定に際しては、実施例1から8の供試用シールドケースAは、フランジの変位0.5mm内でケースAを基板45に押圧して固定した。一方、比較例1から4においては、ばね片に永久変位が生じて破壊しない範囲でケースAを基板45に僅かに押圧して固定した。
表1から明らかなように、実施例1〜8のシールドケースは、その全てにおいて、−60dBの良好な実効シールド量(SE)が得られたが、比較例1〜4のシールドケースは、その全てにおいて、十分なシールド効果を得ることはできなかった。
このことにより、シールドケース2は、破壊強度(σf)/弾性定数(E)が0.01以上となる金属、あるいは金属ガラスを用いて作製することが如何に有用かが理解できる。
具体的には、本実施形態によれば、背高が低く、フランジ7が僅かな張り出し幅を要するのみで従来の半田接合よりも密に隣接した複数の電磁波シールドケース2を配設することができる。
また、フランジ7は、信頼性あるシールドの為の接地に必要な大きな変位を得ることができ、確実な接地が得られた結果として良好な電磁波シールド性能を得ることができる。
さらに言うまでもなく、シールドケース2の配設に、従来必要としたスルーホールが要らず、着脱が容易であり、配設に際しては複雑な工程を要することがなく、安価であり、再資源としてのリサイクル利用が容易にできる。
本発明の一実施形態としての電磁波シールドケースの装着状態を示す、一部省略した概略斜視図である。 図1のII−II線に沿う概略断面図である。 図1のII−II線に対応する概略断面図で、上側および下側筐体で挟持された電磁波シールドケースの装着状態を示す。 本発明の一実施形態としての電磁波シールドケースのフランジの作動説明図で、(a)は筐体で押圧する前の回路基板上に載置されたシールドケースを示し、(b)は筐体で押圧されたシールドケースを示し、(c)は筐体を取り外してシールドケースに対する押圧を解除した状態を示す。 金属材料の破壊強度と弾性定数との関係を示すグラフである。 金属材料の応力と歪との関係を示すグラフである。 (a)、(b)は、2例の比較例としてのシールドケースの斜視図である。 シールドケースの回路基板上の配置例を示す概略斜視図である。 本発明の他の実施形態としての電磁波シールドケースの要部斜視図である。 本発明の他の実施形態としての電磁波シールドケースの要部斜視図である。 本発明の他の実施形態としての電磁波シールドケースの要部斜視図である。 本発明の他の実施形態としての電磁波シールドケースの要部斜視図である。 本発明の他の実施形態としての電磁波シールドケースの要部斜視図である。 本発明の他の実施形態としての電磁波シールドケースの要部斜視図である。 本発明の他の位置決め手段を示す概略断面図である。 シールド性能の測定系の説明図である。 従来の電磁波シールドケースの接地状態の説明図である。 従来の他の電磁波シールドケースの接地状態の説明図である。
符号の説明
1 基板(回路基板)
2 シールドケース(電磁波シールドケース)
3 グラウンド線(接地導通部分)
6 電子部品
7 フランジ
10 切り込み

Claims (11)

  1. 回路基板上の電子部品を覆うように配設され、基板上の接地導通部分にシールドケースと一体をなすフランジが弾性的に変形して接地することでシールドケース外への電磁波漏洩を防止する電磁波シールドケースであって、
    前記フランジが、破壊強度/弾性定数が0.01以上となる金属を用いて前記シールドケースと一体に作製されていることを特徴とする電磁波シールドケース。
  2. 請求項1に記載の電磁波シールドケースであって、
    前記フランジが、1mm以下の張り出し幅を有して形成されていることを特徴とする電磁波シールドケース。
  3. 請求項1または2に記載の電磁波シールドケースであって、
    前記フランジに、少なくとも1個の切り込みが幅方向に設けられていることを特徴とする電磁波シールドケース。
  4. 請求項1〜3のいずれか1項に記載の電磁波シールドケースであって、
    前記フランジが、非直線的形状の外周縁部を有して形成されていることを特徴とする電磁波シールドケース。
  5. 回路基板上の電子部品を覆うように配設され、基板上の接地導通部分にシールドケースと一体をなすフランジが弾性的に変形して接地することでシールドケース外への電磁波漏洩を防止する電磁波シールドケースであって、
    前記フランジが、金属ガラスを用いて前記シールドケースと一体に作製されていることを特徴とする電磁波シールドケース。
  6. 請求項5に記載の電磁波シールドケースであって、
    前記フランジが、1mm以下の張り出し幅を有して形成されていることを特徴とする電磁波シールドケース。
  7. 請求項5または6に記載の電磁波シールドケースであって、
    前記フランジに、少なくとも1個の切り込みが幅方向に設けられていることを特徴とする電磁波シールドケース。
  8. 請求項5〜7のいずれか1項に記載の電磁波シールドケースであって、
    前記フランジが、非直線的形状の外周縁部を有して形成されていることを特徴とする電磁波シールドケース。
  9. 請求項5〜8のいずれか1項に記載の電磁波シールドケースの製造方法であって、
    前記電磁波シールドケースが、前記金属ガラスの過冷液体温度域における加圧成形によって製作されることを特徴とする電磁波シールドケースの製造方法。
  10. 請求項5〜8のいずれか1項に記載の電磁波シールドケースの製造方法であって、
    前記電磁波シールドケースが、前記金属ガラスのガラス転移温度と結晶化温度との間の温度域で、温間プレスすることによって製作されることを特徴とする電磁波シールドケースの製造方法。
  11. 請求項9または10に記載の電磁波シールドケースの製造方法であって、
    前記金属ガラスは、ジルコニウム基を有する非晶質合金であることを特徴とする電磁波シールドケースの製造方法。
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US11/025,794 US7626832B2 (en) 2004-01-08 2004-12-29 Electromagnetic wave shield case and a method for manufacturing electromagnetic wave shield case
DE602005005366T DE602005005366T2 (de) 2004-01-08 2005-01-05 Elektromagnetisches Abschirmgehäuse und Verfahren zur Herstellung
EP05000119A EP1553814B1 (en) 2004-01-08 2005-01-05 Electromagnetic wave shield case and a method for manufacturing electromagnetic wave shield case
KR1020050001461A KR100648162B1 (ko) 2004-01-08 2005-01-07 전자파 차폐 케이스 및 그 제조 방법
CNB2005100038086A CN100566531C (zh) 2004-01-08 2005-01-10 电磁波屏蔽罩

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007299799A (ja) * 2006-04-27 2007-11-15 Kyocera Corp 電子機器
JP2011209683A (ja) * 2010-03-12 2011-10-20 Sumitomo Electric Device Innovations Inc 光トランシーバ
JP2014225515A (ja) * 2013-05-15 2014-12-04 富士通株式会社 シールドケースおよび電子機器
JP2019145576A (ja) * 2018-02-16 2019-08-29 トヨタ自動車株式会社 放熱筐体構造

Families Citing this family (38)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10223170A1 (de) * 2002-05-24 2003-12-18 Siemens Ag EMV-Abschirmung für elektronische Bauelemente und EMV-Gehäuse
DE10309949A1 (de) * 2003-03-07 2004-09-16 Robert Bosch Gmbh HF-Modul und Verfahren zu dessen Aufbau
FI20035178A (fi) * 2003-10-03 2005-04-04 Nokia Corp Häiriösuojattu matkaviestin sekä vastaava menetelmä ja järjestely matkaviestimen häiriösuojauksessa
TWI283806B (en) * 2005-06-07 2007-07-11 Htc Corp Portable electronic device
KR100719478B1 (ko) * 2005-08-08 2007-05-18 기가 바이트 테크놀러지 컴퍼니 리미티드 전자파 간섭 억제 모듈
US7310067B1 (en) * 2006-05-23 2007-12-18 Research In Motion Limited Mobile wireless communications device with reduced interfering RF energy into RF metal shield secured on circuit board
FR2904752B1 (fr) * 2006-08-03 2014-07-11 Johnson Controls Tech Co Boitier de composants electroniques et procede de montage du boitier
CN200947722Y (zh) * 2006-08-29 2007-09-12 洪进富 防电磁干扰的遮蔽装置
KR100829754B1 (ko) * 2007-03-02 2008-05-15 삼성에스디아이 주식회사 섀시 베이스와 회로기판의 체결구조 및 이를 구비한디스플레이 장치
US8218335B2 (en) * 2007-07-11 2012-07-10 Finisar Corporation Spider clip for securing a circuit board within a communications module
US8018734B2 (en) * 2007-08-24 2011-09-13 Novatel Wireless, Inc. Electronic device and method of forming same
US7751204B2 (en) * 2007-08-24 2010-07-06 Clint Wilber Electromagnetic isolation shield
JP5252264B2 (ja) * 2007-10-12 2013-07-31 Smc株式会社 流体用積層構造体
US20090231825A1 (en) * 2008-03-14 2009-09-17 Universal Scientific Industrial Co., Ltd. Electromagnetic shielding device
US20100019977A1 (en) * 2008-07-28 2010-01-28 Auden Techno Corporation Antenna test apparatus
CN101729087A (zh) * 2008-10-21 2010-06-09 深圳富泰宏精密工业有限公司 无线通信装置
JP5442990B2 (ja) * 2008-12-24 2014-03-19 京セラ株式会社 回路装置の製造方法及び電子機器の製造方法
JP5593714B2 (ja) * 2010-01-29 2014-09-24 富士通株式会社 電子素子のシールド構造及びこれを備えた電子装置
KR101483811B1 (ko) * 2010-03-19 2015-01-16 주식회사 엘지화학 고강도의 벌크 비정질 합금 셀 커버 및 이를 포함하는 전지팩
US8638568B2 (en) * 2010-08-27 2014-01-28 Steering Solutions Ip Holding Corporation Mounted circuit card assembly
TW201225752A (en) * 2010-12-10 2012-06-16 Askey Computer Corp Printed circuit board grounding structure for use with communication apparatus
JP5830858B2 (ja) * 2010-12-24 2015-12-09 株式会社豊田自動織機 電子機器
KR20130025118A (ko) * 2011-09-01 2013-03-11 현대자동차주식회사 전자파 차단 케이스
US9155188B2 (en) * 2011-11-04 2015-10-06 Apple Inc. Electromagnetic interference shielding techniques
US9531058B2 (en) * 2011-12-20 2016-12-27 Pulse Finland Oy Loosely-coupled radio antenna apparatus and methods
KR20140142600A (ko) * 2013-06-04 2014-12-12 삼성전자주식회사 전자 기기의 보호 장치 및 그를 구비하는 전자 기기
TWI572150B (zh) * 2014-10-20 2017-02-21 財團法人資訊工業策進會 信號發射裝置、訊息產生系統與信號功率調整方法
JP6626130B2 (ja) * 2015-06-04 2019-12-25 華為技術有限公司Huawei Technologies Co.,Ltd. モバイル端末および放熱とシールド構造
KR20170012960A (ko) 2015-07-27 2017-02-06 삼성전자주식회사 전자파 차폐 박막 및 그 형성방법
EP3352243A4 (en) * 2015-12-09 2018-10-17 LG Chem, Ltd. Battery pack and vehicle having the battery pack
KR102452781B1 (ko) 2015-12-15 2022-10-12 삼성전자주식회사 차폐 구조를 포함하는 전자 장치
CN205430760U (zh) * 2016-02-02 2016-08-03 京东方科技集团股份有限公司 一种印刷线路板的支撑结构
CN105704273B (zh) * 2016-03-31 2019-05-21 努比亚技术有限公司 一种屏蔽框及终端
DE102016211018A1 (de) * 2016-06-21 2017-12-21 Continental Teves Ag & Co. Ohg Verfahren zur Herstellung eines Behälters
CN106170199B (zh) * 2016-08-31 2023-01-20 广东虹勤通讯技术有限公司 一种散热屏蔽系统及通信产品
KR102553021B1 (ko) * 2018-12-18 2023-07-07 삼성전자주식회사 전자장치 하우징 및 이를 구비하는 전자 시스템
JP7425432B2 (ja) * 2019-01-28 2024-01-31 国立研究開発法人宇宙航空研究開発機構 メッシュ構造体およびその製造方法、アンテナ反射鏡、電磁シールド材、導波管
JP7381219B2 (ja) * 2019-04-23 2023-11-15 日立Astemo株式会社 電子制御装置

Family Cites Families (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4340770A (en) * 1979-09-21 1982-07-20 Allied Corporation Enhancement of the magnetic permeability in glassy metal shielding
EP0092091B2 (en) 1982-04-15 1991-01-30 Allied Corporation Apparatus for the production of magnetic powder
US5045637A (en) * 1988-01-14 1991-09-03 Nippon Steel Corp. Magnetic shielding material
US5536905A (en) * 1994-04-04 1996-07-16 Motorola, Inc. Self secured housing for electronics
EP0727932B1 (en) * 1994-11-28 1999-04-07 Kabushiki Kaisha Toshiba Electromagnetic shielded casing
US5521609A (en) * 1995-01-13 1996-05-28 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Magnetic antenna using metallic glass
FR2737068B1 (fr) * 1995-07-18 1997-10-03 Alcatel Mobile Comm France Appareil de communication avec protection electrostatique
US5748455A (en) * 1996-04-23 1998-05-05 Ericsson, Inc. Electromagnetic shield for a radiotelephone
DE69706850T2 (de) * 1996-06-13 2002-05-16 Siemens Ag Artikel mit schutzschicht, enthaltend eine verbesserte verankerungsschicht und seine herstellung
JPH1112490A (ja) 1997-06-27 1999-01-19 Nittetsu Mining Co Ltd グリーン色系顔料及びその製造方法
JPH1171656A (ja) 1997-08-29 1999-03-16 Alps Electric Co Ltd 電磁シールド用網および電磁シールド用シート
JP3852809B2 (ja) 1998-10-30 2006-12-06 独立行政法人科学技術振興機構 高強度・高靭性Zr系非晶質合金
JP3916332B2 (ja) 1998-12-15 2007-05-16 独立行政法人科学技術振興機構 高耐食性Zr系非晶質合金
SE515448C2 (sv) 1999-02-09 2001-08-06 Ericsson Telefon Ab L M Anordning för elektromagnetisk skärmning i en elektrisk enhet
US6292373B1 (en) * 1999-07-23 2001-09-18 3Com Corporation Electromagnetic interference (EMI) shield for a disk drive
US6271465B1 (en) * 1999-08-31 2001-08-07 Nokia Mobile Phones Limited Low cost conformal EMI/RFI shield
FR2806019B1 (fr) 2000-03-10 2002-06-14 Inst Nat Polytech Grenoble Procede de moulage-formage d'au moins une piece en un verre metallique
AU2001268480A1 (en) 2000-06-20 2002-01-02 Laird Technologies, Inc. Shielding cover with integral resilient ribs
WO2002052916A1 (en) 2000-12-21 2002-07-04 Shielding For Electronics, Inc. Emi and rfi containment enclosure for electronic devices
US20020113380A1 (en) * 2001-02-02 2002-08-22 Clark Cary R. Hybrid superelastic shape memory alloy seal
US6524120B2 (en) * 2001-03-22 2003-02-25 Mobicom Corp. Article comprising EMI shielding
WO2003013207A1 (en) 2001-07-26 2003-02-13 Rosti, A/S Shields for components on circuit boards
JP2003179379A (ja) 2001-12-11 2003-06-27 Ngk Insulators Ltd 筐体付き回路基板におけるシールドケースの設置構造
JP2003179378A (ja) 2001-12-11 2003-06-27 Ngk Insulators Ltd シールドケースの回路基板における設置構造
US6683796B2 (en) * 2002-01-09 2004-01-27 Sun Microsystems, Inc. Apparatus for containing electromagnetic interference
JP3960156B2 (ja) * 2002-07-19 2007-08-15 千住金属工業株式会社 板状基板封止用リッドの製造方法
US7090733B2 (en) * 2003-06-17 2006-08-15 The Regents Of The University Of California Metallic glasses with crystalline dispersions formed by electric currents
US7507078B2 (en) * 2006-12-21 2009-03-24 The Goodyear Tire & Rubber Company Flexible molding device for molding a sunk groove, a sunk blade, and a large keyhole sipe in tire tread

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007299799A (ja) * 2006-04-27 2007-11-15 Kyocera Corp 電子機器
JP2011209683A (ja) * 2010-03-12 2011-10-20 Sumitomo Electric Device Innovations Inc 光トランシーバ
JP2014225515A (ja) * 2013-05-15 2014-12-04 富士通株式会社 シールドケースおよび電子機器
JP2019145576A (ja) * 2018-02-16 2019-08-29 トヨタ自動車株式会社 放熱筐体構造
JP7197274B2 (ja) 2018-02-16 2022-12-27 トヨタ自動車株式会社 放熱筐体構造

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Publication number Publication date
DE602005005366T2 (de) 2009-04-16
CN100566531C (zh) 2009-12-02
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US20050162842A1 (en) 2005-07-28

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