JP2003530705A - チューニング可能なフィルタ構成 - Google Patents

チューニング可能なフィルタ構成

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JP2003530705A JP2001574976A JP2001574976A JP2003530705A JP 2003530705 A JP2003530705 A JP 2003530705A JP 2001574976 A JP2001574976 A JP 2001574976A JP 2001574976 A JP2001574976 A JP 2001574976A JP 2003530705 A JP2003530705 A JP 2003530705A
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Abstract

(57)【要約】 本発明は、互いに接続され、その少なくとも1つはチューニング可能な容量を有するキャパシタと接続された、少なくとも2つの共振器を有するチューニング可能なフィルタ構成を示す。共振器の電気特性、および全体のフィルタ特性はキャパシタの容量における変化による変化する。さらに、このようなフィルタ構成を有する送信機、受信機、移動電話機器、無線データ伝送システムがチューニング可能なバルク音響波共振器とともに開示される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】 本発明は、チューニング可能なフィルタ構成に関する。この発明はさらに、チ
ューニング可能なフィルタ構成、およびチューニング可能なバルク音響波共振器
を有する送信機、受信機、移動電話装置、コードレスデータ送信システムに関す
る。
【0002】 移動電話技術の分野の非常に急速な発展およびコードレス電話装置の絶え間の
ない小型化により、個々の構成要素に課せられる要求は増加して来ている。この
ようにして、他のシステムによる数が増加している潜在的な干渉信号から受信機
を保護するために、高周波数領域での高い選択性が必要になっている。これは、
例えば、限られた帯域の周波数のみを通過させ、その帯域よりも上あるいは下の
すべての周波数を抑制する帯域フィルタにより達成される。
【0003】 現在、セラミック電磁共振器を備えたフィルタが、高周波領域でこの目的のた
めに使用されている。しかし、これらのフィルタの小型化は、電磁波長によって
制限されている。表面音響波(SAW)フィルタは、実質的に小さくなるように
構成することができる。これは、音響波長が電磁波長よりも4〜5桁小さいため
である。しかし、短所は、表面音響波フィルタは、多くの場合に構造が複雑で、
複雑なハウジングで保護しなけれならないことである。
【0004】 代わりの物がバルク音響波(BAW)フィルタで作られる。バルク音響波フィ
ルタは、その大きさ、パワー、およびIC適合性に関しては有利である。
【0005】 原理的には、バルク音響波共振器は、3つの構成要素から作られる。第1の構
成要素は圧電層を含み、音響波を発生する。圧電層の上と下に構成された2つの
電極が、第2の構成要素である。第3の構成要素は、圧電層で発生された振動か
らキャリア基板を音響的に絶縁する働きをする。
【0006】 共振器あるいはフィルタの特性は変化しうることが興味深い観点である。これ
は例えば、バリキャップダイオードを共振器やフィルタに結合させることにより
成される。能動要素と受動要素とを組み合わせることは、共振器あるいはフィル
タの製造中に受動要素の材料により能動要素が汚染されるという不利な点がある
【0007】 代替的な可能性は米国特許5,446,306号に開示されている。これは半
導体バルク音響波共振器および、半導体基板、第1および第2の電極、その間に
位置するAlNまたはZnOの圧電層を有する半導体バルク音響波フィルタを開
示する。この共振器の共振周波数はDC電圧が電極に印加されることにより変化
する。
【0008】 本発明は、簡単で安価に製造することのできるチューニング可能なフィルタ構
成を提供することを目的としている。
【0009】 この目的は、基板と、少なくとも1つがチューニング可能な容量を有するキャ
パシタに接続された少なくとも2つの相互接続され、前記半導体基板上に設けら
れた共振器の構成、を備えたチューニング可能なフィルタ構成により達成される
【0010】 DC電圧が共振器の第1および第2の電極に印加されたとき、共振器の電気特
性、共振周波数、および非共振周波数は変化する。もし共振器がフィルタ構成中
にあるときは、上述のことは全体のフィルタ特性に影響を与える。キャパシタは
調整可能、すなわち、変化しうる容量値を有しているので、これらの変化は程度
の差こそあれ、強く影響される。
【0011】 キャパシタは電圧依存性のある相対誘電率εを有する誘電材料を有しているこ
とが好ましい。
【0012】 ある材料は印加された電圧に強い依存性を有する誘電率εを有している。電圧
依存性の誘電率εを有しているキャパシタの第1および第2の電極にDC電圧を
印加したとき、誘電率の値は低下し、そして、キャパシタの容量も低下する。こ
のことは接続されるべき共振器の電気特性に対するキャパシタの影響も変化させ
る。
【0013】 電圧依存性誘電率εを有する材料は、次の群、 La,NbまたはMnのドーパントを含みまたは含まず、過剰の鉛を含みまた
は含まないPbTi1−xZr(0≦x≦1),ドーパントを含みまたは
含まないBaTiO,ドーパントを含みまたは含まないSrTiO,Caお
よびPbドーパントを含みまたは含まないBa1−xSrTiO(0 1),Ba1−xSrTiO(01)+MgO,Ba1−xSr
iO−Pb1−yCaTiO(01,01),Biがドープ
されたCaTiO,Srn+1Ti3n+1(05),Pb1−x CaTiO(01),VO(12.5)および/またはSi
を含みまたは含まないBa1−xSrTiO(01),ドーパン
トを含みまたは含まないBa1−xSrZrTi1−y(01,
1),過剰の鉛を含みまたは含まないBa1−xPbTiO(01),Ba1−xCaTiO(01),ドーパントを含みまたは
含まないSrZrTi1−x(01),[Pb(Mg1/3Nb /3 )Ox−[PbTiO1−x(01),(Pb,Ba,Sr
)(Mg1/3Nb2/3Ti(Zn1/3Nb2/31−y(0 1,01),Pb1−xCaTiO(01),過剰のN
を含みまたは含まない(Ba1−x+y/8Srx+y/8Na1−y Nb15(01,01),過剰のKを含みまたは含まない(
Ba1−xSr1−3ySENb15(01,0
)ここでSEは希土類から選択されたイオン,SrBaTiNb30 ,VO(12.5)および/またはCuOドーパントを含みまたは含ま
ないBiNbO,(Bi2−xZn)(Nb2−yZn)O,Bi
Zn1/3Nb2/3, a)Pb(Mg1/21/2)O, b)Pb(Fe1/2Nb1/2)O, c)Pb(Fe2/31/3)O, d)Pb(Ni1/3Nb2/3)O, e)Pb(Zn1/3Nb2/3)O, f)Pb(Sc1/2Ta1/2)O, およびa)からf)までの化合物と過剰の鉛およびBa1−xZrTiO
1)を含みあるいは含まないPbTiOおよび/またはPb(Mg /3 Nb2/3)Oの組み合わせ から選択されることが特に好ましい。
【0014】 これらの材料は、その誘電率が印加された電圧に特に強く依存することを示す
【0015】 共振器がバルク音響波共振器、表面音響波共振器、およびLC共振器の群から
選択されたものであることが好ましい。
【0016】 バルク音響波共振器あるいは表面音響波共振器を含むフィルタ構成は、高い品
質係数Qおよび高い結合係数kをもって製造することができる。LC共振器は単
純な方法で製造することができる。
【0017】 共振器が薄膜技術で構成されたものであることが特に好ましい。
【0018】 基板上に薄膜技術で共振器を形成することはこのようなフィルタ構成を小さい
寸法で得ることを可能にする。
【0019】 バルク音響波共振器のそれぞれは、下部および上部電極とその間に配置された
圧電層を有する共振器ユニットと、前記電極と前記共振器ユニット間に位置する
反射要素を備えたことが特に好ましい。
【0020】 このようなバルク音響波共振器は煩雑なリソグラフィプロセスなしに製造でき
る。これは共振器の共振周波数は圧電層の厚さにより決まるからである。さらに
、このようなバルク音響波共振器は他の形式のバルク音響波共振器、例えば、単
結晶共振器、膜を有する共振器、エアーギャップを有する共振器よりも明らかに
堅牢である。
【0021】 好ましい実施形態では、チューニング可能な容量を有するキャパシタに接続さ
れた前記共振器は他のキャパシタにも接続されている。
【0022】 この実施形態では、少なくとも一つのキャパシタが、前記共振器に並列接続さ
れた少なくとも一つのキャパシタに直列に接続されたことが特に好ましい。
【0023】 この実施形態ではフィルタ特性の特に広い範囲の可能性を提供する。
【0024】 本発明はさらに、基板と、少なくとも1つがチューニング可能な容量を有する
キャパシタに接続された少なくとも2つの相互接続され、前記半導体基板上に設
けられた共振器の構成、をその上に備えた送信機、受信機、移動電話装置、無線
データ送信システムに関する。
【0025】 本発明はさらに、基板と、その上に設けられ、下部および上部電極との間に配
置された圧電層と、前記電極と前記共振器ユニット間に位置する反射要素とを備
え、チューニング可能な容量値を有るキャパシタに接続されたバルク音響波共振
器にも関する。
【0026】 共振器をチューニング可能なキャパシタに接続することによって、バルク音響
波共振器の電気的特性を広い範囲にわたって調整できる。
【0027】 この発明は、4つの図面と4つの実施の形態により以下に詳細に説明される。
【0028】 図1において、バルク音響波フィルタの構成は、例えば、セラミック材料、ガ
ラス平坦化層を有するセラミック材料、ガラス−セラミック材料、ガラス材料、
シリコン、GaAsまたはサファイアで作られたキャリア基板1を含む。シリコ
ンまたはGaAsがキャリア基板1として使用される場合には、例えばSiO またはガラスの不動態化層がさらに形成される。重合体および多孔質物質を含む
グループからの音響反射物質の層である反射要素2が、キャリア基板1上に形成
される。使用される可能性のある音響反射物質は、例えば、エーロゲル、キセロ
ゲル、ガラス発泡体、発泡型接着剤、発泡合成樹脂または低密度の合成樹脂であ
る。使用される可能性のあるエーロゲルは、例えば、シリカゲルまたは多孔質S
iO構造体で作られた無機エーロゲル、または例えば、レゾシノール−ホルム
アルデヒドエーロゲル、メラミン−ホルムアルデヒドエーロゲルまたはフェノー
ル−ホルムアルデヒドエーロゲルのような有機エーロゲルである。使用される可
能性のあるキセロゲルは、例えば、高濃縮ポリ珪酸のような無機キセロゲル、に
かわまたは寒天のような有機キセロゲルである。使用される可能性のある発泡物
質は、例えば、ポリスチロール、ポリカーボネート、ポリ塩化ビニル、ポリウレ
タン、ポリイソシアネート、ポリイソシアヌレート、ポリカルボジイミド、ポリ
メタクリルイミド、ポリアクリルイミド、アクリル−ブタジエン−スチロール共
重合体、ポリプロピレンまたはポリエステルのような化学的に発泡された重合体
または物理的に発泡された重合体である。さらに、例えば、フェノール−ホルム
アルデヒド樹脂またはフラン樹脂のような発泡合成樹脂が使用される可能性があ
り、これらは炭化により高い多孔度を持つ。使用される可能性のある低密度の合
成樹脂は、例えば、架橋ポリビニルエーテル、架橋ポリアリールエーテル、ポリ
テトラフルオロエチレン、ポリ(p−キシリレン)、ポリ(2−クロロ−p−キ
シリレン)、ポリ(ジクロロ−p−キシリレン)、ポリベンゾシクロブテン、ス
チロール−ブタジエン共重合体、エチレン−酢酸ビニル重合体または有機シロキ
サン共重合体である。
【0029】 共振器ユニットおよびキャパシタユニットは、反射要素の上に設けられる。共
振器ユニットは、第1の電極5、圧電層6、および第2の電極7を有する。電極
電極5および7は、低音響減衰の良導電性材料で作られるのが好ましく、例えば
、Ag1−xPt(01),50nm〜1μm厚のPt,1〜20nm
厚のTi/20〜600nm厚のPt,1〜20nm厚のTi/20〜600n
m厚のPt/1〜20nm厚のTi,Al,数パーセントのCuがドープされた
Al,数パーセントのSiがドープされたAl,数パーセントのMgがドープさ
れたAl,W,Ni,Mo,Au,Cu,Ti/Pt/Al,Ti/Ag,Ti
/Ag/Ti,Ti/Ag/Ir,Ti/Ir,Ti/Pd,Ti/Ag1−x Pt(01),Ti/Ag1−xPd(01),Ti/Pt −x Al(01),Pt1−xAl(01),Ti/Ag/P
1−xAl(01),Ti/Ag/Ru,Ti/Ag/Ir/IrO (02),Ti/Ag/Ru/RuO(02),Ti/Ag/
Ru/RuPt1−x(01),Ti/Ag/Ru/RuPt1−x /RuO(01,02),Ti/Ag/Ru/RuO/Ru Pt1−y(02,01),Ti/Ag/RuPt1−x(01),Ti/Ag/PtAl1−x(01),PtAl1−x
Ag/PtAl1−y(01,01),Ti/Ag/Pt(R
hO1−y(02,01),Ti/Ag/Rh/RhO(0 2),Ti/Ag/PtRh1−x(01),Rh,Rh/Rh
,Ti/Ag/Pt(RhO1−y/PtRh1−z(0
,01,01),Ti/AgPt1−x/Ir(01),
Ti/AgPt1−x/Ir/IrO(01,02),Ti/
AgPt1−x/PtAl1−y(01,01),Ti/Ag Pt1−x/Ru(01),Ti/AgPt1−x/Ru/RuO (01,02),Ti/Ag/Cr,Ti/Ag/Ti/ITO,
Ti/Ag/Cr/ITO,Ti/Ag/ITO,Ti/Ni/ITO,Ti/
Ni/Al/ITO,Ti/Ni,Ti/W/Ti,WTi1−x(0 1),WTi1−x/Al(Cu)(01),WTi1−x/Al(
Si)(01),WTi1−x/Al(01),またはTi/C
uを含む可能性がある。
【0030】 圧電層6に使用される材料は、例えば、AlN,ZnO,LaまたはMnのド
ーパントを含みまたは含まないPbTi1−xZr(01),Li
NbO,LiTaO,PbNb,Pb1−xCaTiO(0 1),[Pb(Mg1/3Nb2/3)Ox−[PbTiO1−x
1),BaTiO,K1−xNaNbO(01),(Cd
,Na)NbO,(Bi,Na)TiO,(Bi,Na,Pb,Ba)Ti
,BiTiNbO21,(Ba1−xSrNaNb15(0 1),(Ba1−xSrKNb15(01),
a)Pb(Mg1/21/2)O, b)Pb(Fe1/2Nb1/2)O, c)Pb(Fe2/31/3)O, d)Pb(Ni1/3Nb2/3)O, e)Pb(Zn1/3Nb2/3)O, f)Pb(Sc1/2Ta1/2)O, およびa)からf)までの化合物と過剰の鉛を含みあるいは含まないPbTiO およびPb(Mg1/3Nb2/3)Oの組み合わせ、およびポリビニルフ
ロライド(PVDF)である可能性がある。
【0031】 2つのキャパシタCおよびCは反射要素2の上で共振器ユニットの近くに
設けられる。キャパシタCはチューニング可能な容量を有しており、電圧依存
性の誘電率εを持つ誘電体8を有している。キャパシタCはチューニング可能
な容量を有している必要はなく、誘電体4を有している 共振器の電極5および7は、キャパシタCおよびCの一方の電極を形成す
るときに同時に形成される。
【0032】 したがって、電極7は、チューニング可能な容量を有するキャパシタCの下
部電極を形成するように構成されていてもよい。誘電体8はキャパシタCの下
部電極の上に設けられ、上部電極9はキャパシタCの上部電極を形成するよう
に、誘電体8の上に設けられる。
【0033】 誘電体8は電圧依存性の誘電率εを持つ、例えば次の群、 La,NbまたはMnのドーパントを含みまたは含まず、過剰の鉛を含みまた
は含まないPbTi1−xZr(0≦x≦1),ドーパントを含みまたは
含まないBaTiO,ドーパントを含みまたは含まないSrTiO,Caお
よびPbドーパントを含みまたは含まないBa1−xSrTiO(0 1),Ba1−xSrTiO(01)+MgO,Ba1−xSr
iO−Pb1−yCaTiO(01,01),Biがドープ
されたCaTiO,Srn+1Ti3n+1(05),Pb1−x CaTiO(01),VO(12.5)および/またはSi
を含みまたは含まないBa1−xSrTiO(01),ドーパン
トを含みまたは含まないBa1−xSrZrTi1−y(01,
1),過剰の鉛を含みまたは含まないBa1−xPbTiO(01),Ba1−xCaTiO(01),ドーパントを含みまたは
含まないSrZrTi1−x(01),[Pb(Mg1/3Nb /3 )Ox−[PbTiO1−x(01),(Pb,Ba,Sr
)(Mg1/3Nb2/3Ti(Zn1/3Nb2/31−y(0 1,01),Pb1−xCaTiO(01),過剰のN
を含みまたは含まない(Ba1−x+y/8Srx+y/8Na1−y Nb15(01,01),過剰のKを含みまたは含まない(
Ba1−xSr1−3ySENb15(01,0
)ここでSEは希土類から選択されたイオン,SrBaTiNb30 ,VO(12.5)および/またはCuOドーパントを含みまたは含ま
ないBiNbO,(Bi2−xZn)(Nb2−yZn)O,Bi
Zn1/3Nb2/3, a)Pb(Mg1/21/2)O, b)Pb(Fe1/2Nb1/2)O, c)Pb(Fe2/31/3)O, d)Pb(Ni1/3Nb2/3)O, e)Pb(Zn1/3Nb2/3)O, f)Pb(Sc1/2Ta1/2)O, およびa)からf)までの化合物と過剰の鉛およびBa1−xZrTiO
1)を含みあるいは含まないPbTiOおよび/またはPb(Mg /3 Nb2/3)Oの組み合わせ から選択される。
【0034】 キャパシタCの電極9は、例えば、次の材料、 Ag1−xPt(01),50nm〜1μm厚のPt,1〜20nm厚
のTi/20〜600nm厚のPt,1〜20nm厚のTi/20〜600nm
厚のPt/1〜20nm厚のTi,Al,数パーセントのCuがドープされたA
l,数パーセントのSiがドープされたAl,数パーセントのMgがドープされ
たAl,W,Ni,Mo,Au,Cu,Ti/Pt/Al,Ti/Ag,Ti/
Ag/Ti,Ti/Ag/Ir,Ti/Ir,Ti/Pd,Ti/Ag1−x
(01),Ti/Ag1−xPd(01),Ti/Pt1− Al(01),Pt1−xAl(01),Ti/Ag/Pt1−x Al(01),Ti/Ag/Ru,Ti/Ag/Ir/IrO (02),Ti/Ag/Ru/RuO(02),Ti/Ag/R
u/RuPt1−x(01),Ti/Ag/Ru/RuPt1−x
RuO(01,02),Ti/Ag/Ru/RuO/Ru
1−y(02,01),Ti/Ag/RuPt1−x(0 1),Ti/Ag/PtAl1−x(01),PtAl1−x/A
g/PtAl1−y(01,01),Ti/Ag/Pt(Rh
1−y(02,01),Ti/Ag/Rh/RhO(02),Ti/Ag/PtRh1−x(01),Rh,Rh/RhO ,Ti/Ag/Pt(RhO1−y/PtRh1−z(02,
1,01),Ti/AgPt1−x/Ir(01),T
i/AgPt1−x/Ir/IrO(01,02),Ti/A
Pt1−x/PtAl1−y(01,01),Ti/Ag Pt1−x/Ru(01),Ti/AgPt1−x/Ru/RuO
1,02),Ti/Ag/Cr,Ti/Ag/Ti/ITO,T
i/Ag/Cr/ITO,Ti/Ag/ITO,Ti/Ni/ITO,Ti/N
i/Al/ITO,Ti/Ni,Ti/W/Ti,WTi1−x(0
),WTi1−x/Al(Cu)(01),WTi1−x/Al(S
i)(01),WTi1−x/Al(01),Al,Cuをドー
プしたAl,MgをドープしたAl,SiをドープしたAl,またはTi/Cu
を含む可能性がある。
【0035】 他のキャパシタCは下部電極3,誘電体4,および上部電極5を有している
。共振器の下部電極5は例えば、このキャパシタの上部電極を形成するのと同じ
ように構成することができる。
【0036】 キャパシタCの誘電体4は例えば、次の材料、 例えばSiO2、Si、Ta、Si(01,0 1,01)、SiO/Si/SiO,Ba1−xSr TiO(01),Mnドーパントを含みあるいは含まないSrTi1− Zr(01),BaO−Ln−TiO(Ln=La.C
e,Nd,SmまたはEu),Al,BaTi20,Mnドーパン
トを含みあるいは含まないBaTi9−xZr20(01),Ba
Ti11,BaTi,Nb,TiO,(Ta−(
Al1−x(01),(Ta.(TiO1−x
1),(Ta−(Nb1−x(01),(T
−(SiO1−x(01),(Sr,Ca)(Ti,Z
r)O,BaO−SrO−Nd−Gd−Nb−TiO
CaSmTi14,Zr(Ti,Sn)O,BaO−PbO−CaO−
Nd−Pr−Bi−TiO,Ba(Zr,Zn,Ta)O ,CaTiO−LaAlO,(Bi(NiNb)O1−x(Bi (ZnNb2(1+d)y3+6y+5yd(01,0.5 1.5,−0.050.05),VO(02.5)のドーパン
トを含みあるいは含まないBiNbO,Ba(Zr,Ta)O,(Bi2− Zn)(Zn2−yNb)O(01,01)あるいはBi (Zn1/3Nb2/3 で構成されても良い。
【0037】 下部電極3は例えば、次の材料、 Ag1−xPt(01),50nm〜1μm厚のPt,1〜20nm厚
のTi/20〜600nm厚のPt,1〜20nm厚のTi/20〜600nm
厚のPt/1〜20nm厚のTi,Al,数パーセントのCuがドープされたA
l,数パーセントのSiがドープされたAl,数パーセントのMgがドープされ
たAl,W,Ni,Mo,Au,Cu,Ti/Pt/Al,Ti/Ag,Ti/
Ag/Ti,Ti/Ag/Ir,Ti/Ir,Ti/Pd,Ti/Ag1−x
(01),Ti/Ag1−xPd(01),Ti/Pt1− Al(01),Pt1−xAl(01),Ti/Ag/Pt1−x Al(01),Ti/Ag/Ru,Ti/Ag/Ir/IrO (02),Ti/Ag/Ru/RuO(02),Ti/Ag/R
u/RuPt1−x(01),Ti/Ag/Ru/RuPt1−x
RuO(01,02),Ti/Ag/Ru/RuO/Ru
1−y(02,01),Ti/Ag/RuPt1−x(0 1),Ti/Ag/PtAl1−x(01),PtAl1−x/A
g/PtAl1−y(01,01),Ti/Ag/Pt(Rh
1−y(02,01),Ti/Ag/Rh/RhO(02),Ti/Ag/PtRh1−x(01),Rh,Rh/RhO ,Ti/Ag/Pt(RhO1−y/PtRh1−z(02,
1,01),Ti/AgPt1−x/Ir(01),T
i/AgPt1−x/Ir/IrO(01,02),Ti/A
Pt1−x/PtAl1−y(01,01),Ti/Ag Pt1−x/Ru(01),Ti/AgPt1−x/Ru/RuO
1,02),Ti/Ag/Cr,Ti/Ag/Ti/ITO,T
i/Ag/Cr/ITO,Ti/Ag/ITO,Ti/Ni/ITO,Ti/N
i/Al/ITO,Ti/Ni,Ti/W/Ti,WTi1−x(0
),WTi1−x/Al(Cu)(01),WTi1−x/Al(S
i)(01),WTi1−x/Al(01),Al,Cuをドー
プしたAl,MgをドープしたAl,SiをドープしたAl,またはTi/Cu
を含む可能性がある。
【0038】 代替的に、キャパシタCの下部電極、およびキャパシタCの上部電極は、
異なる導電層を堆積させたものであっても良い。
【0039】 有機または無機材料、あるいはこれらの材料の組み合わせでなる保護層10を
、フィルタ構成全体の上に形成することができる。使用される有機材料は、例え
ば、ポリベンゾシクロブテンまたはポリイミドである可能性があり、および使用
される無機材料は、例えば、Si、SiOまたはSi(01,01,01)である可能性がある。
【0040】 保護層10を貫通して電極3、5,7および第2の電極に達するコンタクト孔
かエッチングにより開けられる。例えば、Cr/CuまたはCr/Cu/Ni/
Auがコンタクト孔内で成長される。フィルタ入力、フィルタ出力、および接地
へのコンタクトはバンプエンドコンタクトによりなされる。さらに、1ないし1
00Vの範囲のDC電圧は誘電体8の層厚に応じて、キャパシタCの2つの電
極7、9に印加される。
【0041】 共振器ユニットおよびキャパシタは、共振器ユニットの圧電層6、キャパシタ
およびCの誘電層4,8のバイアを通して、電気的に内部接続される。
【0042】 代替として、反射要素2および6は、交互に高インピーダンスと低インピーダ
ンスである、各層が共振波長λの1/4の厚さを有するいくつかの層で構成する
ことができる。低音響インピーダンスの材料は、例えば、有機または無機のエー
ロゲル、有機または無機のキセロゲル、ガラス発泡体、発泡型接着剤、発泡合成
樹脂または低密度の合成樹脂、またはSiOである可能性がある。高音響イン
ピーダンスの材料は、例えば、HfO、Mo、Au、Ni、Cu、W、Ti/
W/Ti、WTi1−x(01)、ダイアモンド、AlN,Ta 、Pt、Ti/Pt、または例えば高密度ポリエチレン(HDPE)のような高
密度の合成樹脂である可能性がある。共振器の下部電極5を同時に反射要素2の
λ/4層の上部層とすることもできる。
【0043】 本発明の更なる実施形態においては、第2の反射要素をバルク音響波共振器の
上部電極7の上に設けることができる。
【0044】 更なる代替例として、例えばアクリル酸にかわまたはエポキシドにかわで作ら
れた追加の接着層を、反射要素2とキャリア基板1の間に形成する。アクリル酸
にかわは、例えば、接着工程中に重合するアクリルまたはメタクリル単量体を含
むことができる。
【0045】 さらに、層の厚さが30から300nmの間であるSiOの層を、多孔質S
iOで作られた反射要素2の上および/または下に形成することができる。こ
れらのSiO層、反射要素2,および第2の反射要素は基板1の全領域上、あ
るいは共振ユニットの領域のように部分的に設けることができる。
【0046】 さらに、全体のフィルタ構成に、少なくとも1つの第1および第2の電流供給
用コンタクトを設けることができる。電流供給コンタクトは例えば、Cr/Cu
、Ni/SnまたはCr/Cu、Cu/Ni/SnまたはCr/Ni、Pb/S
n、またはCr/Cu,Ni/Auの電気メッキSMDエンドコンタクトまたは
Cr/CuあるいはCr/Cu/Ni/Auのバンプエンドコンタクト、または
コンタクトパッドとして用いることができる。
【0047】 もし望むならば、例えば、単結晶共振器、膜を備えた共振器またはエアギャッ
プを有する共振器などをバルク音響波共振器の代わりに用いることができ、また
、表面音響波フィルタをチューニング可能なフィルタ構成内に電極3,5および
圧電層4の設計を対応して変えるならば用いることができる。コイルとキャパシ
タより構成されるLC共振器を用いることも可能である。
【0048】 構成および集積についての代替的な実施形態は当業者に知られている。したが
って、例えば、チューニング可能なフィルタ構成は、2つ以上の共振器を有する
ことも可能である。2つ以上の共振器がチューニング可能なフィルタ構成中のチ
ューニング可能な容量値を持つキャパシタと接続されるようにすることもできる
。共振器が複数のキャパシタと接続されるときには、キャパシタは多くの回路の
変形例において共振器と接続されることができる。
【0049】 図2は2つの共振器R1およびR2を持つ構成を示す。このフィルタ構成は本
発明の多くの可能な実施形態から一つだけを抜き出したもので、フィルタ入力1
1とフィルタ出力12との間に接続された直列共振器R1と並列共振器R2を有
している。キャパシタC1は共振器R1に並列に接続され、キャパシタC2は共
振器R1の下流側でキャパシタC2に直列に接続されている。キャパシタC3は
並列共振器R2に直列に下流側で接続され、キャパシタC4は共振器R2に並列
に接続されている。直列キャパシタC3の第2の端子は接地されている。キャパ
シタC1およびC3はトリミング可能な容量値を有している。
【0050】 図3は図2にしたがった回路を有するフィルタ構成および電極3、5、7、9
誘電体4、8および圧電層6の可能な設計を示す模式的平面図である。
【0051】 本発明が実際にどのように実現しているかを示す例を表した本発明の実施の形
態が以下に詳細に説明される。
【0052】 実施形態1 アクリル酸にかわの接着層がガラス基板の上に存在し、その上に300nm厚
のSiO層、多孔質SiO層の反射要素、および30nm厚のSiO層が
存在する。Pt/Tiの電極5がSiO層上に存在する。PbZr0.35
0.65の圧電層6が第1の電極5の上に位置し、Ti/Pt電極7が圧
電層6の上に設けられている。圧電層6および2つの電極5,7は堆積され、2
つの共振器R1およびR2が形成されるように構成されている。電極5は共振器
R2に隣接するキャパシタC4の上部電極をも構成するように堆積され、構成さ
れている。電極7はバルク音響波共振器R2の領域においてキャパシタC2の上
部電極とともにキャパシタC1の下部電極を形成するように、およびバルク音響
波共振器R2の領域においてキャパシタC3の下部電極を形成するように堆積さ
れ、構成される。5%のランタンドーピングを含むPbZr0.53Ti0.4 の誘電体8がキャパシタC1,C3の下部電極の上にあり、Pt/Tiの
上部電極9はそれぞれの誘電体8の上に設けられている。キャパシタC2および
C4のそれぞれはPt/Tiの上部電極に加えてSiの誘電体および4%
のCuがドープされたAl下部電極3を備えている。
【0053】 SiOの保護層10が、フィルタ構成全体の上に設けられている。電極3,
5,7,9へのコンタクトホールが、エッチングにより保護層10に開けられて
いる。Cr/Cu/NI/Auのバンプエンドコンタクトがコンタクトホール内
に成長している。
【0054】 共振器R1の領域中の電極5に対するバンプエンドコンタクトは、フィルタ構
成のフィルタ入力11に対するコンタクトとして作用し、共振器R2の領域にお
ける電極3に対するそれぞれのバンプエンドコンタクトはフィルタ構成のフィル
タ出力12に対するコンタクトとして作用する。さらに、キャパシタC3の領域
中の電極9に対するバンプエンドコンタクトは接地されている。
【0055】 キャパシタC1,C2,C3,C4および共振器R1およびR2は圧電層6,
誘電体8,および誘電体4中の適当なバイアを通して電気的に内部接続される。
キャパシタC1は共振器R1に並列接続されるが、キャパシタC2は共振器R1
の下流側で直列に接続される。キャパシタC3は共振器R2の下流側で直列に接
続され、キャパシタC4は共振器R2に並列に接続される。
【0056】 2つの共振器R1およびR2は、共振器R1の共振周波数が共振器R2の非共
振周波数に対応するように、チューニングされる。フィルタ構成のフィルタ特性
はキャパシタC1、C2にDC電圧を印加することにより変化する。これは誘電
体8中の誘電材料の相対誘電率εが変化するためである。数ボルトのDC電圧の
印加はキャパシタC1およびC3の容量値を係数10まで減少させることができ
る。その結果、共振器R1およびR2の共振周波数および非共振周波数はシフト
され、フィルタ構成のフィルタ曲線は数%シフトする。キャパシタC1およびC
3の電極7および9にはDC電圧がバンプエンドコンタクトを介して印加される
【0057】 図4はこのようなシフトの例を示す。直列共振器R1は1GHzの共振周波数
を有し、並列共振器R2は共振周波数0.95035GHzを有している。キャ
パシタC1およびC3の電極にDC電圧が印加されないときの4つのキャパシタ
は次の容量値を有している:C1=2pF,C2=100pF,C3=100p
F,C4=10pF。このフィルタ構成のフィルタ特性は曲線13により示され
ている。20VのDC電圧が印加された後には、C1およびC3の容量値は係数
10で減少し、フィルタの帯域は高周波領域にシフトする。曲線14はこの新た
なフィルタ特性に関連する。
【0058】 結果として得られるフィルタ構成は、移動電話で、フィルタ帯域が変化しうる
チューニング可能な帯域フィルタとして使用される。
【0059】 実施形態2 アクリル酸にかわの接着層がガラス基板の上に存在し、その上に300nm厚
のSiO層、多孔質SiO層の反射要素、および30nm厚のSiO層が
存在する。Pt/Tiの電極5がSiO層上に存在する。AlNの圧電層6が
第1の電極5の上に位置し、Ti/Pt電極7が圧電層6の上に設けられている
。圧電層6および2つの電極5,7は堆積され、直列共振器R1および並列共振
器R2を有するフィルタ構成が形成されるように構成されている。電極5は共振
器R2に隣接するキャパシタC4の上部電極をも構成するように堆積され、構成
されている。電極7はバルク音響波共振器R2の領域においてキャパシタC2の
上部電極とともにキャパシタC1の下部電極を形成するように、およびバルク音
響波共振器R2の領域においてキャパシタC3の下部電極を形成するように堆積
され、構成される。5%のランタンドーピングを含むPbZr0.53Ti0. 47の誘電体8がキャパシタC1,C3の下部電極の上にあり、Pt/Ti
の上部電極9はそれぞれの誘電体8の上に設けられている。キャパシタC2およ
びC4のそれぞれはPt/Tiの上部電極に加えてSiの誘電体および4
%のCuがドープされたAl下部電極3を備えている。
【0060】 SiOの保護層10が、フィルタ構成全体の上に設けられている。電極3,
5,7,9へのコンタクトホールが、エッチングにより保護層10に開けられて
いる。Cr/Cu/NI/Auのバンプエンドコンタクトがコンタクトホール内
に成長している。
【0061】 共振器R1の領域中の電極5に対するバンプエンドコンタクトは、フィルタ構
成のフィルタ入力11に対するコンタクトとして作用し、共振器R2の領域にお
ける電極3に対するそれぞれのバンプエンドコンタクトはフィルタ構成のフィル
タ出力12に対するコンタクトとして作用する。さらに、キャパシタC3の領域
中の電極9に対するバンプエンドコンタクトは接地されている。
【0062】 キャパシタC1,C2,C3,C4および共振器R1およびR2は圧電層6,
誘電体8,および誘電体4中の適当なバイアを通して電気的に内部接続される。
キャパシタC1は共振器R1に並列接続されるが、キャパシタC2は共振器R1
の下流側で直列に接続される。キャパシタC3は共振器R2の下流側で直列に接
続され、キャパシタC4は共振器R2に並列に接続される。
【0063】 2つの共振器R1およびR2は、共振器R1の共振周波数が共振器R2の非共
振周波数に対応するように、チューニングされる。フィルタ構成のフィルタ特性
はキャパシタC1、C2にDC電圧を印加することにより変化する。これは誘電
体8中の誘電材料の相対誘電率εが変化するためである。数ボルトのDC電圧の
印加はキャパシタC1およびC3の容量値を係数10まで減少させることができ
る。その結果、共振器R1およびR2の共振周波数および非共振周波数はシフト
され、フィルタ構成のフィルタ曲線は数%シフトする。キャパシタC1およびC
3の電極7および9にはDC電圧がバンプエンドコンタクトを介して印加される
【0064】 結果として得られるフィルタ構成は、移動電話で、フィルタ帯域が変化しうる
チューニング可能な帯域フィルタとして使用される。
【0065】 実施形態3 ガラス基板上にAlNおよびSiOの交番λ/4層の反射要素2が存在する
。Pt/Tiの電極5が反射要素2の上に存在する。AlNの圧電層6が電極5
の上に位置し、Ti/Pt電極7が圧電層6の上に設けられている。圧電層6お
よび2つの電極5,7は堆積され、直列共振器R1および並列共振器R2を有す
るフィルタ構成が形成されるように構成されている。電極5は共振器R2に隣接
するキャパシタC4の上部電極をも構成するように堆積され、構成されている。
電極7はバルク音響波共振器R2の領域においてキャパシタC2の上部電極とと
もにキャパシタC1の下部電極を形成するように、およびバルク音響波共振器R
2の領域においてキャパシタC3の下部電極を形成するように堆積され、構成さ
れる。5%のランタンドーピングを含むPbZr0.53Ti0.47の誘
電体8がキャパシタC1,C3の下部電極の上にあり、Pt/Tiの上部電極9
はそれぞれの誘電体8の上に設けられている。キャパシタC2およびC4のそれ
ぞれはPt/Tiの上部電極に加えてSiの誘電体および4%のCuがド
ープされたAl下部電極3を備えている。
【0066】 Siの保護層10が、フィルタ構成全体の上に設けられている。電極3
,5,7,9へのコンタクトホールが、エッチングにより保護層10に開けられ
ている。Cr/Cu/NI/Auのバンプエンドコンタクトがコンタクトホール
内に成長している。
【0067】 共振器R1の領域中の電極5に対するバンプエンドコンタクトは、フィルタ構
成のフィルタ入力11に対するコンタクトとして作用し、共振器R2の領域にお
ける電極3に対するそれぞれのバンプエンドコンタクトはフィルタ構成のフィル
タ出力12に対するコンタクトとして作用する。さらに、キャパシタC3の領域
中の電極9に対するバンプエンドコンタクトは接地されている。
【0068】 キャパシタC1,C2,C3,C4および共振器R1およびR2は圧電層6,
誘電体8,および誘電体4中の適当なバイアを通して電気的に内部接続される。
キャパシタC1は共振器R1に並列接続されるが、キャパシタC2は共振器R1
の下流側で直列に接続される。キャパシタC3は共振器R2の下流側で直列に接
続され、キャパシタC4は共振器R2に並列に接続される。
【0069】 2つの共振器R1およびR2は、共振器R1の共振周波数が共振器R2の非共
振周波数に対応するように、チューニングされる。フィルタ構成のフィルタ特性
はキャパシタC1、C2にDC電圧を印加することにより変化する。これは誘電
体8中の誘電材料の相対誘電率εが変化するためである。数ボルトのDC電圧の
印加はキャパシタC1およびC3の容量値を係数10まで減少させることができ
る。その結果、共振器R1およびR2の共振周波数および非共振周波数はシフト
され、フィルタ構成のフィルタ曲線は数%シフトする。キャパシタC1およびC
3の電極7および9にはDC電圧がバンプエンドコンタクトを介して印加される
【0070】 結果として得られるフィルタ構成は、移動電話で、フィルタ帯域が変化しうる
チューニング可能な帯域フィルタとして使用される。
【0071】 実施形態4 ガラス基板上にTaおよびSiOの交番λ/4層の反射要素2が存在
する。Pt/Tiの電極5が反射要素2の上に存在する。AlNの圧電層6が電
極5の上に位置し、Ti/Pt電極7が圧電層6の上に設けられている。圧電層
6および2つの電極5,7は堆積され、直列共振器R1および並列共振器R2を
有するフィルタ構成が形成されるように構成されている。電極5は共振器R2に
隣接するキャパシタC4の上部電極をも構成するように堆積され、構成されてい
る。電極7はバルク音響波共振器R2の領域においてキャパシタC2の上部電極
とともにキャパシタC1の下部電極を形成するように、およびバルク音響波共振
器R2の領域においてキャパシタC3の下部電極を形成するように堆積され、構
成される。5%のランタンドーピングを含むPbZr0.53Ti0.47 の誘電体8がキャパシタC1,C3の下部電極の上にあり、Pt/Tiの上部電
極9はそれぞれの誘電体8の上に設けられている。キャパシタC2およびC4の
それぞれはPt/Tiの上部電極に加えてSiの誘電体および4%のCu
がドープされたAl下部電極3を備えている。
【0072】 Siの保護層10が、フィルタ構成全体の上に設けられている。電極3
,5,7,9へのコンタクトホールが、エッチングにより保護層10に開けられ
ている。Cr/Cu/NI/Auのバンプエンドコンタクトがコンタクトホール
内に成長している。
【0073】 共振器R1の領域中の電極5に対するバンプエンドコンタクトは、フィルタ構
成のフィルタ入力11に対するコンタクトとして作用し、共振器R2の領域にお
ける電極3に対するそれぞれのバンプエンドコンタクトはフィルタ構成のフィル
タ出力12に対するコンタクトとして作用する。さらに、キャパシタC3の領域
中の電極9に対するバンプエンドコンタクトは接地されている。
【0074】 キャパシタC1,C2,C3,C4および共振器R1およびR2は圧電層6,
誘電体8,および誘電体4中の適当なバイアを通して電気的に内部接続される。
キャパシタC1は共振器R1に並列接続されるが、キャパシタC2は共振器R1
の下流側で直列に接続される。キャパシタC3は共振器R2の下流側で直列に接
続され、キャパシタC4は共振器R2に並列に接続される。
【0075】 2つの共振器R1およびR2は、共振器R1の共振周波数が共振器R2の非共
振周波数に対応するように、チューニングされる。フィルタ構成のフィルタ特性
はキャパシタC1、C2にDC電圧を印加することにより変化する。これは誘電
体8中の誘電材料の相対誘電率εが変化するためである。数ボルトのDC電圧の
印加はキャパシタC1およびC3の容量値を係数10まで減少させることができ
る。その結果、共振器R1およびR2の共振周波数および非共振周波数はシフト
され、フィルタ構成のフィルタ曲線は数%シフトする。キャパシタC1およびC
3の電極7および9にはDC電圧がバンプエンドコンタクトを介して印加される
【0076】 結果として得られるフィルタ構成は、移動電話で、フィルタ帯域が変化しうる
チューニング可能な帯域フィルタとして使用される。
【0077】 実施形態5 SiOパッシベーション層を有するシリコン基板上にTaおよびSi
の交番λ/4層の反射要素2が存在する。Ti/Ptの電極5が反射要素2
の上に存在する。AlNの圧電層6が電極5の上に位置し、Ti/Pt電極7が
圧電層6の上に設けられている。圧電層6および2つの電極5,7は堆積され、
直列共振器R1および並列共振器R2を有するフィルタ構成が形成されるように
構成されている。電極5は共振器R2に隣接するキャパシタC4の上部電極をも
構成するように堆積され、構成されている。電極7はバルク音響波共振器R2の
領域においてキャパシタC2の上部電極とともにキャパシタC1の下部電極を形
成するように、およびバルク音響波共振器R2の領域においてキャパシタC3の
下部電極を形成するように堆積され、構成される。5%のランタンドーピングを
含むPbZr0.53Ti0.47の誘電体8がキャパシタC1,C3の下
部電極の上にあり、Pt/Tiの上部電極9はそれぞれの誘電体8の上に設けら
れている。キャパシタC2およびC4のそれぞれはPt/Tiの上部電極に加え
てSiの誘電体およびTi/Ptの下部電極3を備えている。
【0078】 Siの保護層10が、フィルタ構成全体の上に設けられている。電極3
,5,7,9へのコンタクトホールが、エッチングにより保護層10に開けられ
ている。Cr/Cu/NI/Auのバンプエンドコンタクトがコンタクトホール
内に成長している。
【0079】 共振器R1の領域中の電極5に対するバンプエンドコンタクトは、フィルタ構
成のフィルタ入力11に対するコンタクトとして作用し、共振器R2の領域にお
ける電極3に対するそれぞれのバンプエンドコンタクトはフィルタ構成のフィル
タ出力12に対するコンタクトとして作用する。さらに、キャパシタC3の領域
中の電極9に対するバンプエンドコンタクトは接地されている。
【0080】 キャパシタC1,C2,C3,C4および共振器R1およびR2は圧電層6,
誘電体8,および誘電体4中の適当なバイアを通して電気的に内部接続される。
キャパシタC1は共振器R1に並列接続されるが、キャパシタC2は共振器R1
の下流側で直列に接続される。キャパシタC3は共振器R2の下流側で直列に接
続され、キャパシタC4は共振器R2に並列に接続される。
【0081】 2つの共振器R1およびR2は、共振器R1の共振周波数が共振器R2の非共
振周波数に対応するように、チューニングされる。フィルタ構成のフィルタ特性
はキャパシタC1、C2にDC電圧を印加することにより変化する。これは誘電
体8中の誘電材料の相対誘電率εが変化するためである。数ボルトのDC電圧の
印加はキャパシタC1およびC3の容量値を係数10まで減少させることができ
る。その結果、共振器R1およびR2の共振周波数および非共振周波数はシフト
され、フィルタ構成のフィルタ曲線は数%シフトする。キャパシタC1およびC
3の電極7および9にはDC電圧がバンプエンドコンタクトを介して印加される
【0082】 結果として得られるフィルタ構成は、移動電話で、フィルタ帯域が変化しうる
チューニング可能な帯域フィルタとして使用される。
【0083】 実施形態6 SiOパッシベーション層を有するシリコン基板上にTaおよびSi
の交番λ/4層の反射要素2が存在する。Ti/Ptの電極5が反射要素2
の上に存在する。AlNの圧電層6が電極5の上に位置し、Ti/Pt電極7が
圧電層6の上に設けられている。圧電層6および2つの電極5,7は堆積され、
直列共振器R1および並列共振器R2を有するフィルタ構成が形成されるように
構成されている。電極5は共振器R2に隣接するキャパシタC4の上部電極をも
構成するように堆積され、構成されている。電極7はバルク音響波共振器R2の
領域においてキャパシタC2の上部電極とともにキャパシタC1の下部電極を形
成するように、およびバルク音響波共振器R2の領域においてキャパシタC3の
下部電極を形成するように堆積され、構成される。5%のランタンドーピングを
含むPbZr0.53Ti0.47の誘電体8がキャパシタC1,C3の下
部電極の上にあり、Pt/Tiの上部電極9はそれぞれの誘電体8の上に設けら
れている。キャパシタC2およびC4のそれぞれはPt/Tiの上部電極に加え
てSiの誘電体、および別に堆積され、4%のCuがドープされたAl下
部電極3を備えている。
【0084】 Siの保護層10が、フィルタ構成全体の上に設けられている。電極3
,5,7,9へのコンタクトホールが、エッチングにより保護層10に開けられ
ている。Cr/Cu/NI/Auのバンプエンドコンタクトがコンタクトホール
内に成長している。
【0085】 共振器R1の領域中の電極5に対するバンプエンドコンタクトは、フィルタ構
成のフィルタ入力11に対するコンタクトとして作用し、共振器R2の領域にお
ける電極3に対するそれぞれのバンプエンドコンタクトはフィルタ構成のフィル
タ出力12に対するコンタクトとして作用する。さらに、キャパシタC3の領域
中の電極9に対するバンプエンドコンタクトは接地されている。
【0086】 キャパシタC1,C2,C3,C4および共振器R1およびR2は圧電層6,
誘電体8,および誘電体4中の適当なバイアを通して電気的に内部接続される。
キャパシタC1は共振器R1に並列接続されるが、キャパシタC2は共振器R1
の下流側で直列に接続される。キャパシタC3は共振器R2の下流側で直列に接
続され、キャパシタC4は共振器R2に並列に接続される。
【0087】 2つの共振器R1およびR2は、共振器R1の共振周波数が共振器R2の非共
振周波数に対応するように、チューニングされる。フィルタ構成のフィルタ特性
はキャパシタC1、C2にDC電圧を印加することにより変化する。これは誘電
体8中の誘電材料の相対誘電率εが変化するためである。数ボルトのDC電圧の
印加はキャパシタC1およびC3の容量値を係数10まで減少させることができ
る。その結果、共振器R1およびR2の共振周波数および非共振周波数はシフト
され、フィルタ構成のフィルタ曲線は数%シフトする。キャパシタC1およびC
3の電極7および9にはDC電圧がバンプエンドコンタクトを介して印加される
【0088】 結果として得られるフィルタ構成は、移動電話で、フィルタ帯域が変化しうる
チューニング可能な帯域フィルタとして使用される。
【0089】 第1の電極3および反射要素2のある部分の上に存在する。Pt/Tiの第2の
電極5が圧電層4および反射要素2のある部分上に設けられている。圧電層4お
よび2つの電極3、5は堆積され、図2にしたがった2つの共振器3,5が形成
されるように構成されている。SiOの保護層7が、フィルタ構成全体の上に
設けられている。第1の電極および第2電極5へのコンタクトホールを、エッチ
ングを用いて保護層7に開けられている。Cr/Cu/NI/Auのバンプエン
ドコンタクトがコンタクトホール内に成長している。共振器R1の領域中の電極
5に対するバンプエンドコンタクトは、フィルタ構成の入力8に対するコンタク
トとして作用し、共振器R1の領域共振器R2の領域における電極3に対するそ
れぞれのバンプエンドコンタクトはフィルタ構成の出力9に対するコンタクトと
して作用する。さらに、共振器R2の領域中の電極5に対するバンプエンドコン
タクトは接地されている。DC電圧がこれらのバンプエンドコンタクトを介して
電極3、5に印加されている。
【0090】 2つの共振器R1およびR2は、共振器R1の共振周波数が共振器R2の非共
振周波数に対応するように、チューニングされる。フィルタ構成のフィルタ特性
は2つの共振器にDC電圧を印加することにより変化する。これは圧電層4中の
誘電材料の誘電率εが減少するためである。チューニング可能な共振器の共振周
波数および非共振周波数はそれによってシフトする。
【0091】 結果として得られるフィルタ構成は、移動電話でチューニング可能な帯域フィ
ルタとして使用される。
【図面の簡単な説明】
【図1】 2つのキャパシタに接続されたチューニング可能なフィルタ構成のバルク音響
波共振器を示す断面図である。
【図2】 チューニング可能なフィルタ構成の実施形態を示す回路図である。
【図3】 図2に示す回路構成を有するチューニング可能なフィルタ構成を示す平面図で
ある。
【図4】 チューニング可能なフィルタ構成のフィルタ曲線を示すグラフである。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ロバート、エフ.ミルソン オランダ国5656、アーアー、アインドーフ ェン、プロフ.ホルストラーン、6 (72)発明者 ハンス、ピー.レーブル オランダ国5656、アーアー、アインドーフ ェン、プロフ.ホルストラーン、6 (72)発明者 ライナー、キーウィット オランダ国5656、アーアー、アインドーフ ェン、プロフ.ホルストラーン、6 (72)発明者 ウベ、マッケンス オランダ国5656、アーアー、アインドーフ ェン、プロフ.ホルストラーン、6 (72)発明者 マルティヌス、エイチ.ダブリュ.エム. バン、デルデン オランダ国5656、アーアー、アインドーフ ェン、プロフ.ホルストラーン、6 (72)発明者 ウイルヘルム、ジー.ハーマン オランダ国5656、アーアー、アインドーフ ェン、プロフ.ホルストラーン、6 (72)発明者 オラフ、ウニッケ オランダ国5656、アーアー、アインドーフ ェン、プロフ.ホルストラーン、6 Fターム(参考) 5J024 AA02 BA04 DA01 DA25 EA03 5J108 AA02 BB04 CC11 EE03 JJ02

Claims (13)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板と、 少なくとも1つがチューニング可能な容量を有するキャパシタに接続された少
    なくとも2つの相互接続され、前記半導体基板上に設けられた共振器の構成、 を備えたチューニング可能なフィルタ構成。
  2. 【請求項2】 前記キャパシタは電圧依存性誘電率を有する材料でなる誘電体を備えたことを
    特徴とする請求項1に記載のチューニング可能なフィルタ構成。
  3. 【請求項3】 前記電圧依存性誘電率を有する材料でなる誘電体は、次の群、 La,NbまたはMnのドーパントを含みまたは含まず、過剰の鉛を含みまた
    は含まないPbTi1−xZr(0≦x≦1),ドーパントを含みまたは
    含まないBaTiO,ドーパントを含みまたは含まないSrTiO,Caお
    よびPbドーパントを含みまたは含まないBa1−xSrTiO(0 1),Ba1−xSrTiO(01)+MgO,Ba1−xSr
    iO−Pb1−yCaTiO(01,01),Biがドープ
    されたCaTiO,Srn+1Ti3n+1(05),Pb1−x CaTiO(01),VO(12.5)および/またはSi
    を含みまたは含まないBa1−xSrTiO(01),ドーパン
    トを含みまたは含まないBa1−xSrZrTi1−y(01,
    1),過剰の鉛を含みまたは含まないBa1−xPbTiO(01),Ba1−xCaTiO(01),ドーパントを含みまたは
    含まないSrZrTi1−x(01),[Pb(Mg1/3Nb /3 )Ox−[PbTiO1−x(01),(Pb,Ba,Sr
    )(Mg1/3Nb2/3Ti(Zn1/3Nb2/31−y(0 1,01),Pb1−xCaTiO(01),過剰のN
    を含みまたは含まない(Ba1−x+y/8Srx+y/8Na1−y Nb15(01,01),過剰のKを含みまたは含まない(
    Ba1−xSr1−3ySENb15(01,0
    )ここでSEは希土類から選択されたイオン,SrBaTiNb30 ,VO(12.5)および/またはCuOドーパントを含みまたは含ま
    ないBiNbO,(Bi2−xZn)(Nb2−yZn)O,Bi
    Zn1/3Nb2/3, a)Pb(Mg1/21/2)O, b)Pb(Fe1/2Nb1/2)O, c)Pb(Fe2/31/3)O, d)Pb(Ni1/3Nb2/3)O, e)Pb(Zn1/3Nb2/3)O, f)Pb(Sc1/2Ta1/2)O, およびa)からf)までの化合物と過剰の鉛およびBa1−xZrTiO
    1)を含みあるいは含まないPbTiOおよび/またはPb(Mg /3 Nb2/3)Oの組み合わせ、 から選択されたものであることを特徴とする請求項2に記載のチューニング可
    能なフィルタ構成。
  4. 【請求項4】 前記共振器がバルク音響波共振器、表面音響波共振器、およびLC共振器の群
    から選択されたものであることを特徴とする請求項1に記載のチューニング可能
    なフィルタ構成。
  5. 【請求項5】 前記共振器が薄膜技術で構成されたものであることを特徴とする請求項4に記
    載のチューニング可能なフィルタ構成。
  6. 【請求項6】 前記バルク音響波共振器のそれぞれは、下部および上部電極とその間に配置さ
    れた圧電層を有する共振器ユニットと、前記電極と前記共振器ユニット間に位置
    する反射要素を備えたことを特徴とする請求項4に記載のチューニング可能なフ
    ィルタ構成。
  7. 【請求項7】 チューニング可能な容量を有するキャパシタに接続された前記共振器は他のキ
    ャパシタにも接続されていることを特徴とする請求項1に記載のチューニング可
    能なフィルタ構成。
  8. 【請求項8】 少なくとも一つのキャパシタが、前記共振器に並列接続された少なくとも一つ
    のキャパシタに直列に接続されたことを特徴とするチューニング可能なフィルタ
    構成。
  9. 【請求項9】 基板と、少なくとも1つがチューニング可能な容量を有するキャパシタに接続
    された少なくとも2つの相互接続され、前記半導体基板上に設けられた共振器の
    構成、をその上に備えた移動電話装置。
  10. 【請求項10】 基板と、少なくとも1つがチューニング可能な容量を有するキャパシタに接続
    された少なくとも2つの相互接続され、前記半導体基板上に設けられた共振器の
    構成、をその上に備えた送信機。
  11. 【請求項11】 基板と、少なくとも1つがチューニング可能な容量を有するキャパシタに接続
    された少なくとも2つの相互接続され、前記半導体基板上に設けられた共振器の
    構成、をその上に備えた受信機。
  12. 【請求項12】 基板と、少なくとも強誘電性材料でなる圧電部品を含み、DC電源が接続され
    た、相互接続された少なくとも2つの共振器をその上に備えたチューニング可能
    なフィルタ構成とを備えた無線データ送信システム。
  13. 【請求項13】 基板と、その上に設けられ、下部および上部電極との間に配置された圧電層と
    、前記電極と前記共振器ユニット間に位置する反射要素とを備え、チューニング
    可能な容量値を有るキャパシタに接続されたバルク音響波共振器。
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