JP2003246680A - 多層セラミック基板の製造方法 - Google Patents
多層セラミック基板の製造方法Info
- Publication number
- JP2003246680A JP2003246680A JP2002050234A JP2002050234A JP2003246680A JP 2003246680 A JP2003246680 A JP 2003246680A JP 2002050234 A JP2002050234 A JP 2002050234A JP 2002050234 A JP2002050234 A JP 2002050234A JP 2003246680 A JP2003246680 A JP 2003246680A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- material powder
- substrate
- multilayer
- ceramic
- sintered
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/0011—Working of insulating substrates or insulating layers
- H05K3/0044—Mechanical working of the substrate, e.g. drilling or punching
- H05K3/0052—Depaneling, i.e. dividing a panel into circuit boards; Working of the edges of circuit boards
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B28—WORKING CEMENT, CLAY, OR STONE
- B28B—SHAPING CLAY OR OTHER CERAMIC COMPOSITIONS; SHAPING SLAG; SHAPING MIXTURES CONTAINING CEMENTITIOUS MATERIAL, e.g. PLASTER
- B28B11/00—Apparatus or processes for treating or working the shaped or preshaped articles
- B28B11/24—Apparatus or processes for treating or working the shaped or preshaped articles for curing, setting or hardening
- B28B11/243—Setting, e.g. drying, dehydrating or firing ceramic articles
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/48—Manufacture or treatment of parts, e.g. containers, prior to assembly of the devices, using processes not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326
- H01L21/4814—Conductive parts
- H01L21/4846—Leads on or in insulating or insulated substrates, e.g. metallisation
- H01L21/4857—Multilayer substrates
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/12—Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates
- H01L23/14—Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates characterised by the material or its electrical properties
- H01L23/15—Ceramic or glass substrates
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/48—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
- H01L23/488—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
- H01L23/498—Leads, i.e. metallisations or lead-frames on insulating substrates, e.g. chip carriers
- H01L23/49822—Multilayer substrates
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/095—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00 with a principal constituent of the material being a combination of two or more materials provided in the groups H01L2924/013 - H01L2924/0715
- H01L2924/097—Glass-ceramics, e.g. devitrified glass
- H01L2924/09701—Low temperature co-fired ceramic [LTCC]
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/03—Use of materials for the substrate
- H05K1/0306—Inorganic insulating substrates, e.g. ceramic, glass
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
- H05K2201/09—Shape and layout
- H05K2201/09009—Substrate related
- H05K2201/09036—Recesses or grooves in insulating substrate
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
- H05K2201/09—Shape and layout
- H05K2201/09009—Substrate related
- H05K2201/0909—Preformed cutting or breaking line
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
- H05K2203/30—Details of processes not otherwise provided for in H05K2203/01 - H05K2203/17
- H05K2203/308—Sacrificial means, e.g. for temporarily filling a space for making a via or a cavity or for making rigid-flexible PCBs
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/46—Manufacturing multilayer circuits
- H05K3/4611—Manufacturing multilayer circuits by laminating two or more circuit boards
- H05K3/4626—Manufacturing multilayer circuits by laminating two or more circuit boards characterised by the insulating layers or materials
- H05K3/4629—Manufacturing multilayer circuits by laminating two or more circuit boards characterised by the insulating layers or materials laminating inorganic sheets comprising printed circuits, e.g. green ceramic sheets
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/24—Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.]
- Y10T428/24479—Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.] including variation in thickness
- Y10T428/2457—Parallel ribs and/or grooves
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/24—Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.]
- Y10T428/24802—Discontinuous or differential coating, impregnation or bond [e.g., artwork, printing, retouched photograph, etc.]
- Y10T428/24926—Discontinuous or differential coating, impregnation or bond [e.g., artwork, printing, retouched photograph, etc.] including ceramic, glass, porcelain or quartz layer
Abstract
ック基板を取り出す際に、分割不良が発生せず、かつハ
ンドリング性にも優れた多層セラミック基板の製造方法
を提供する。 【解決手段】 セラミック絶縁材料粉末を含む生の多層
集合基板の上下両主面を、前記セラミック絶縁材料粉末
の焼結温度では焼結しない無機材料粉末を含む収縮抑制
層で挟んで生の複合積層体を作製し、前記生の複合積層
体の一方主面に、一方の収縮抑制層および生の多層集合
基板を貫通して他方の収縮抑制層に到達し、かつ前記生
の複合積層体の他方主面に届かない深さで、切り込み溝
を設け、前記切り込み溝が設けられた生の複合積層体
を、前記セラミック絶縁材料粉末は焼結するが前記無機
材料粉末は焼結しない条件下で焼成した後、上下の未焼
結の前記収縮抑制層を除去した焼結後の多層集合基板か
ら、前記切り込み溝に沿って分割された複数の多層セラ
ミック基板を取り出す。
Description
Cなどに用いる多層セラミック基板の製造方法に関し、
特に、大面積の多層集合基板を分割して得られる複数の
多層セラミック基板の製造方法に関する。
たセラミック層を備えており、種々の形態の配線導体が
設けられている。多層セラミック基板を、より多機能
化、高性能化するためには、高密度に配線を施すことが
有効である。
して焼成する際、セラミックの焼結による収縮から寸法
誤差が生じる。この寸法誤差は、多層セラミック基板に
形成された外部導体の位置精度の低下や内部導体の断線
という問題を発生させる。
用セラミックグリーンシートからなるセラミックグリー
ン層を有する生の多層セラミック基板の上下に、前記基
板用セラミックグリーンシートの焼成温度では焼結しな
い、収縮抑制用セラミックグリーンシートからなる収縮
抑制層を形成し、圧着し、この生の複合積層体を比較的
低温で焼成した後、収縮抑制層に由来する未焼結層を除
去する方法が提案されている。
ば、収縮抑制層がセラミックグリーン層を拘束するの
で、セラミックグリーン層の長さ(X)、幅(Y)方向
での収縮が生じにくい。その結果、焼成後の多層セラミ
ック基板の寸法精度を高くでき、基板の反りも軽減でき
る。そのため、高密度に配線を施しても、形成位置の精
度の低下や断線などの問題が生じにくい。
して、その製造効率を高めるため、所定の分割線に沿っ
て分割することによって複数の多層セラミック基板を取
り出すことができる大面積の多層集合基板を作製し、こ
の多層集合基板を前記分割線に沿って分割することによ
って、複数の多層セラミック基板を一挙に得る、いわゆ
る多数個取りによる方法が採用されている。
成の状態にあるときに、多層集合基板の所定の分割線の
位置に沿うように、カッター刃または金型などを用い
て、切り込み溝を設ける。焼成後、いわゆるチョコレー
トブレイク態様に基づいて多層集合基板を折り曲げるだ
けで、大面積の多層集合基板を所定の分割線に沿って分
割することができる。
中の段階で得られる大面積の生の複合積層体1の一部を
断面図で示したものである。なお、配線導体については
図示を省略し、厚み方向寸法を誇張して図示している。
粉末を含む複数のセラミックグリーン層2を積層した大
面積の生の多層集合基板3と、その両主面に形成された
前記セラミック絶縁材料粉末の焼結温度では焼結しない
無機材料粉末を含む収縮抑制層4a、4bと、を備えて
いる。さらに、生の複合積層体1の一方主面1aには、
所定の分割線5の位置に沿うように、一方の収縮抑制層
4aを貫通して、多層集合基板3の厚みの一部にまで届
く深さで、切り込み溝6が設けられている。
生の積層複合体1にあっては、焼成後に収縮抑制層4
a、4bを除去して、焼成後の多層集合基板3を分割し
ようとすると、切り込み溝6に沿って分割できず、切り
込み溝6以外で割れてしまうなど、分割不良が発生する
ことがあった。
分割して複数の多層セラミック基板を取り出す際に、分
割不良が発生せず、かつハンドリング性にも優れた多層
セラミック基板の製造方法を提供することである。
多層セラミック基板の製造方法は、セラミック絶縁材料
粉末を含む複数のセラミックグリーン層を積層して生の
多層集合基板を作製する工程と、前記生の多層集合基板
の上下両主面を、前記セラミック絶縁材料粉末の焼結温
度では焼結しない無機材料粉末を含む収縮抑制層で挟
み、積層方向に圧着して、生の複合積層体を作製する工
程と、前記生の複合積層体の一方主面に、一方の収縮抑
制層および生の多層集合基板を貫通して他方の収縮抑制
層に到達し、かつ前記生の複合積層体の他方主面に届か
ない深さで、切り込み溝を設ける工程と、前記切り込み
溝が設けられた生の複合積層体を、前記セラミック絶縁
材料粉末は焼結するが前記無機材料粉末は焼結しない条
件下で焼成し、前記収縮抑制層に挟まれた焼結後の多層
集合基板を得る工程と、前記焼結後の多層集合基板か
ら、上下に配置された未焼結の前記収縮抑制層を除去す
る工程と、前記焼結後の多層集合基板から、前記切り込
み溝に沿って分割された複数の多層セラミック基板を取
り出す工程と、を備えることを特徴とする。
板の製造方法は、前記切り込み溝が、互いにほぼ直交す
るように縦方向と横方向に配列されていることを特徴と
する。
板の製造方法は、前記セラミックグリーン層が、ガラス
または結晶化ガラスを含むことを特徴とする。
ば、作業時のハンドリング性に優れ、焼成後の分割不良
の発生も防止できる。
明するためのものであり、多層セラミック基板を製造す
る途中の段階で得られる大面積の生の複合積層体11を
示している。ここで、図1は、生の複合積層体11の一
部を示す断面図であり、厚み方向寸法が誇張されて図示
されており、また、配線導体の図示が省略されている。
料粉末を含む複数のセラミックグリーン層12を積層し
た大面積の生の多層集合基板13と、その両主面に形成
された前記セラミック絶縁材料粉末の焼結温度では焼結
しない無機材料粉末を含む収縮抑制層14a、14b
と、を備えている。さらに、生の複合積層体11の一方
主面11aには、所定の分割線15の位置に沿うよう
に、一方の収縮抑制層14aおよび生の多層集合基板1
3を貫通して、他方の収縮抑制層14bの厚みの一部に
まで届く深さで、切り込み溝16が設けられている。
製造方法について、図1、図2を参照しつつ説明する。
3を混合したガラス粉末と、アルミナ粉末を等重量比率
で混合したセラミック絶縁材料粉末に、有機バインダお
よび溶媒のトルエンを加え、ボールミルで混合し、減圧
下で脱泡処理してスラリーとする。
多層セラミック基板に用いられる通常の原料を使用すれ
ばよいが、ガラスまたは結晶化ガラスを含むとき、比較
的低温での焼結が可能となり、収縮抑制層14a、14
bに含まれる無機材料粉末の選択の幅が広がる。また、
有機バインダ、溶媒、可塑剤などの有機ビヒクル類につ
いても、通常用いられるものでよく、特別の限定を要し
ない。
を用いたキャスティング法によりキャリアフィルム上で
シート状に成形し、厚み0.1mmのセラミックグリー
ンシートを作製する。前記セラミックグリーンシートを
乾燥させた後、キャリアフィルムから剥がし、打ち抜い
て、平面寸法が100mm□のセラミックグリーンシー
トとする。なお、前記セラミックグリーンシートに含ま
れるセラミック絶縁材料粉末の焼結温度は850℃であ
った。
じて、配線導体となるAg、Ag−Pt、Ag−Pdな
どの導電性ペーストをスクリーン印刷等で塗布したり、
スルーホールを設けて、このスルーホールに導電性ペー
ストを充填したりする工程が実施される。
10枚積層して、セラミックグリーン層12を有する生
の多層集合基板13を作製する。
に、有機バインダおよび溶媒のトルエンを加え、ボール
ミルで混合し、減圧下で脱泡処理してスラリーとする。
クグリーン層12のためのセラミックグリーンシートに
含まれるセラミック絶縁材料粉末の焼結温度では焼結し
ないものを用いる。また、有機バインダ、溶媒、可塑剤
などの有機ビヒクル類については、通常用いられるもの
でよく、特別の限定を要しない。
ックグリーン層12のためのセラミックグリーンシート
と同様の要領で、無機材料グリーンシートを作製する。
なお、前記無機材料グリーンシートに含まれる無機材料
粉末の焼結温度は1600℃であった。
面に、前記無機材料グリーンシートをそれぞれ5枚ずつ
積層して、プレス成形して、切込み溝15形成前の、1
00mm□の大面積の生の複合積層体11を得る。
面11aに、複数の多層セラミツク基板を取り出すため
の分割線15の位置に沿って、切り込み溝16を設け
る。
割線15の位置に沿って、互いにほぼ直交するように縦
方向と横方向に格子状に配列される。なお、あらかじめ
短冊状の複合積層体11であれば、切り込み溝16は、
長さ方向と直交する方向にのみ設ければよい。
層14aおよび生の多層集合基板13を貫通して他方の
収縮抑制層14bに到達し、かつ前記生の複合積層体1
1の他方主面11bに届かない深さとする。好ましく
は、一方の収縮抑制層14aおよび生の多層集合基板1
3を貫通し、他方の収縮抑制層14bの厚みの1/10
〜4/10程度まで届くように形成する。そして、前記
切り込み溝16が設けられた生の複合積層体11を、焼
成用匣に配置し、前記セラミック絶縁材料粉末は焼結す
るが前記無機材料粉末は焼結しない条件下で焼成する。
具体的には、400℃まで1.5℃/分、400〜90
0℃まで5℃/分〜60℃/分の速度で昇温し、900
℃を5〜60分キープして焼成し、複合積層体11にお
ける多層集合基板13の部分のみを焼結させた。
上下に配置された未焼結の収縮抑制層14a、14bを
ブラシなどで除去して、焼結後の多層集合基板13を取
り出す。
の多層集合基板13であるが、切り込み溝16を多層集
合基板13を貫通するように設けたので、焼成後は、複
数の多層セラミック基板に分割されている。
体11に設ける切り込み溝16の深さを変化させて、多
層セラミック基板を製造し、作業性と焼成後の分割性を
調べた。
を貫通して、多層集合基板3の厚みの40%の深さまで
切り込み溝6を形成した生の複合積層体1を焼成したと
ころ、焼成後の分割時に、約10%の分割不良が発生し
た。
方法によれば、大面積の生の多層集合基板を収縮抑制層
で挟んだ大面積の生の複合積層体の一方主面に、一方の
収縮抑制層および生の多層集合基板を貫通して、他方の
収縮抑制層に到達する深さ(複合積層体の他方主面には
到達しないこととする)の切り込み溝を設けることによ
り、複合積層体は集合状態で取り扱えるので作業性に優
れ、焼成後は複数に分割されやすいので分割時の不良が
発生しない。
であり、多層セラミック基板を製造する途中の段階で得
られる大面積の複合積層体の一部を示す断面図である。
列を示す平面図である。
層セラミック基板を製造する途中の段階で得られる大面
積の複合積層体の一部を示す断面図である。
Claims (3)
- 【請求項1】 セラミック絶縁材料粉末を含む複数のセ
ラミックグリーン層を積層して生の多層集合基板を作製
する工程と、 前記生の多層集合基板の上下両主面を、前記セラミック
絶縁材料粉末の焼結温度では焼結しない無機材料粉末を
含む収縮抑制層で挟み、積層方向に圧着して、生の複合
積層体を作製する工程と、 前記生の複合積層体の一方主面に、一方の収縮抑制層お
よび生の多層集合基板を貫通して他方の収縮抑制層に到
達し、かつ前記生の複合積層体の他方主面に届かない深
さで、切り込み溝設ける工程と、 前記切り込み溝が設けられた生の複合積層体を、前記セ
ラミック絶縁材料粉末は焼結するが前記無機材料粉末は
焼結しない条件下で焼成し、前記収縮抑制層に挟まれた
焼結後の多層集合基板を得る工程と、 前記焼結後の多層集合基板から、上下に配置された未焼
結の前記収縮抑制層を除去する工程と、 前記焼結後の多層集合基板から、前記切り込み溝に沿っ
て分割された複数の多層セラミック基板を取り出す工程
と、を備えることを特徴とする多層セラミック基板の製
造方法。 - 【請求項2】 前記切り込み溝は、互いにほぼ直交する
ように縦方向と横方向に配列されていることを特徴とす
る請求項1記載の多層セラミック基板の製造方法。 - 【請求項3】 前記セラミックグリーン層は、ガラスま
たは結晶化ガラスを含むことを特徴とする請求項1また
は請求項2に記載の多層セラミック基板の製造方法。
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002050234A JP2003246680A (ja) | 2002-02-26 | 2002-02-26 | 多層セラミック基板の製造方法 |
GB0327298A GB2392312B (en) | 2002-02-26 | 2003-01-24 | Method for manufacturing ceramic multilayer substrate and green composite laminate |
AU2003248359A AU2003248359A1 (en) | 2002-02-26 | 2003-01-24 | Ceramic multilayer substrate manufacturing method and unfired composite multilayer body |
CNB038004003A CN1229209C (zh) | 2002-02-26 | 2003-01-24 | 陶瓷多层基板的制造方法和未烧成的复合叠层体 |
PCT/JP2003/000641 WO2003072325A1 (en) | 2002-02-26 | 2003-01-24 | Ceramic multilayer substrate manufacturing method and unfired composite multilayer body |
US10/476,155 US6942833B2 (en) | 2002-02-26 | 2003-01-24 | Ceramic multilayer substrate manufacturing method and unfired composite multilayer body |
TW092103080A TW577252B (en) | 2002-02-26 | 2003-02-14 | Ceramic multilayer substrate manufacturing method and un-sintered composite multilayer body |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002050234A JP2003246680A (ja) | 2002-02-26 | 2002-02-26 | 多層セラミック基板の製造方法 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009167375A Division JP2009234912A (ja) | 2009-07-16 | 2009-07-16 | 多層セラミック基板の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003246680A true JP2003246680A (ja) | 2003-09-02 |
Family
ID=27764281
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002050234A Pending JP2003246680A (ja) | 2002-02-26 | 2002-02-26 | 多層セラミック基板の製造方法 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6942833B2 (ja) |
JP (1) | JP2003246680A (ja) |
CN (1) | CN1229209C (ja) |
AU (1) | AU2003248359A1 (ja) |
GB (1) | GB2392312B (ja) |
TW (1) | TW577252B (ja) |
WO (1) | WO2003072325A1 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007109977A (ja) * | 2005-10-14 | 2007-04-26 | Murata Mfg Co Ltd | セラミック基板の製造方法 |
JP2009234912A (ja) * | 2009-07-16 | 2009-10-15 | Murata Mfg Co Ltd | 多層セラミック基板の製造方法 |
CN111391069A (zh) * | 2020-03-23 | 2020-07-10 | 东莞市唯美陶瓷工业园有限公司 | 一种陶瓷大板及其制造方法 |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003246680A (ja) | 2002-02-26 | 2003-09-02 | Murata Mfg Co Ltd | 多層セラミック基板の製造方法 |
AU2003236372A1 (en) * | 2002-04-26 | 2003-11-10 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Method of manufacturing ceramic laminated body |
EP1954111B1 (en) * | 2005-11-25 | 2011-12-14 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Process for producing multilayer ceramic substrate |
JP4803185B2 (ja) * | 2006-05-29 | 2011-10-26 | 株式会社村田製作所 | セラミック多層基板の製造方法及びセラミック多層基板の集合基板 |
US7799405B1 (en) * | 2006-12-01 | 2010-09-21 | Siemens Energy, Inc. | Three dimensional reinforced CMC articles by interlocking two dimensional structures |
EP2242154B1 (en) * | 2008-02-05 | 2017-12-06 | Murata Manufacturing Co. Ltd. | Esd protection device |
JP5327029B2 (ja) * | 2009-01-16 | 2013-10-30 | パナソニック株式会社 | 外装用筐体およびそれを用いた電気製品 |
CN106031317B (zh) * | 2014-02-28 | 2019-02-15 | 株式会社村田制作所 | 陶瓷基板以及模块器件的制造方法 |
BR202015022089U2 (pt) * | 2015-09-09 | 2018-05-29 | Moreira Meira Diesley | Disposição aplicada em compósito de matriz polimérica para a confecção de portas, divisórias, móveis e afins |
EP4212497A1 (en) * | 2017-05-16 | 2023-07-19 | Heraeus Deutschland GmbH & Co. KG | Ceramic-metal substrate with low amorphous phase |
CN107961593B (zh) * | 2017-12-18 | 2023-09-22 | 四会市华通金属筛网制品有限公司 | 多层金属复合烧结网 |
CN112589976B (zh) * | 2020-12-30 | 2021-12-07 | 瓷金科技(河南)有限公司 | 一种陶瓷封装基座用陶瓷片生产方法 |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60169126A (ja) | 1984-02-13 | 1985-09-02 | 関西日本電気株式会社 | 積層セラミツクコンデンサの製造方法 |
JPH0722222B2 (ja) | 1989-08-29 | 1995-03-08 | 太陽誘電株式会社 | セラミック積層板の分割方法 |
US5102720A (en) * | 1989-09-22 | 1992-04-07 | Cornell Research Foundation, Inc. | Co-fired multilayer ceramic tapes that exhibit constrained sintering |
US5254191A (en) * | 1990-10-04 | 1993-10-19 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Method for reducing shrinkage during firing of ceramic bodies |
JPH0746540B2 (ja) | 1991-07-24 | 1995-05-17 | 住友金属鉱山株式会社 | ガラスセラミック基板の製造方法 |
JP2785544B2 (ja) | 1991-10-04 | 1998-08-13 | 松下電器産業株式会社 | 多層セラミック基板の製造方法 |
EP0535711A3 (en) * | 1991-10-04 | 1993-12-01 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Method for producing multilayered ceramic substrate |
JPH06270122A (ja) | 1993-03-17 | 1994-09-27 | Taiyo Yuden Co Ltd | セラミックグリーンシート積層方法 |
JP3173213B2 (ja) | 1993-03-25 | 2001-06-04 | 松下電器産業株式会社 | セラミック多層配線基板の製造方法 |
JP2856045B2 (ja) | 1993-09-27 | 1999-02-10 | 住友金属鉱山株式会社 | セラミック基板の製造方法 |
US5708570A (en) * | 1995-10-11 | 1998-01-13 | Hughes Aircraft Company | Shrinkage-matched circuit package utilizing low temperature co-fired ceramic structures |
JP3780386B2 (ja) * | 1996-03-28 | 2006-05-31 | 株式会社村田製作所 | セラミック回路基板及びその製造方法 |
US6228196B1 (en) * | 1998-06-05 | 2001-05-08 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Method of producing a multi-layer ceramic substrate |
US6205032B1 (en) * | 1999-03-16 | 2001-03-20 | Cts Corporation | Low temperature co-fired ceramic with improved registration |
US6139666A (en) * | 1999-05-26 | 2000-10-31 | International Business Machines Corporation | Method for producing ceramic surfaces with easily removable contact sheets |
JP3785903B2 (ja) | 2000-07-21 | 2006-06-14 | 株式会社村田製作所 | 多層基板及びその製造方法 |
JP2003246680A (ja) | 2002-02-26 | 2003-09-02 | Murata Mfg Co Ltd | 多層セラミック基板の製造方法 |
-
2002
- 2002-02-26 JP JP2002050234A patent/JP2003246680A/ja active Pending
-
2003
- 2003-01-24 US US10/476,155 patent/US6942833B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2003-01-24 GB GB0327298A patent/GB2392312B/en not_active Expired - Lifetime
- 2003-01-24 WO PCT/JP2003/000641 patent/WO2003072325A1/ja active Application Filing
- 2003-01-24 CN CNB038004003A patent/CN1229209C/zh not_active Expired - Lifetime
- 2003-01-24 AU AU2003248359A patent/AU2003248359A1/en not_active Abandoned
- 2003-02-14 TW TW092103080A patent/TW577252B/zh not_active IP Right Cessation
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007109977A (ja) * | 2005-10-14 | 2007-04-26 | Murata Mfg Co Ltd | セラミック基板の製造方法 |
JP2009234912A (ja) * | 2009-07-16 | 2009-10-15 | Murata Mfg Co Ltd | 多層セラミック基板の製造方法 |
CN111391069A (zh) * | 2020-03-23 | 2020-07-10 | 东莞市唯美陶瓷工业园有限公司 | 一种陶瓷大板及其制造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2003072325A1 (en) | 2003-09-04 |
GB2392312A (en) | 2004-02-25 |
GB2392312B (en) | 2005-08-17 |
CN1229209C (zh) | 2005-11-30 |
TW200308193A (en) | 2003-12-16 |
CN1514764A (zh) | 2004-07-21 |
US20050008824A1 (en) | 2005-01-13 |
GB0327298D0 (en) | 2003-12-24 |
US6942833B2 (en) | 2005-09-13 |
AU2003248359A1 (en) | 2003-09-09 |
TW577252B (en) | 2004-02-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100451949B1 (ko) | 다층 세라믹 기판의 제조 방법 | |
EP2023701B1 (en) | Method for manufacturing ceramic multilayer substrate | |
US7569177B2 (en) | Method of producing ceramic multilayer substrates, and green composite laminate | |
JP2003246680A (ja) | 多層セラミック基板の製造方法 | |
JP2001358247A (ja) | 多層配線基板の製造方法 | |
US20030062111A1 (en) | Method of manufacturing glass ceramic multilayer substrate | |
EP2120522A1 (en) | Method for the production of laminated ceramic electronic parts | |
US6221193B1 (en) | Defect reduction method for screened greensheets and article produced therefrom | |
JP4595199B2 (ja) | 多層セラミック基板の製造方法 | |
JP4110536B2 (ja) | 多層セラミック集合基板および多層セラミック集合基板の製造方法 | |
JP4120270B2 (ja) | セラミック多層基板の製造方法 | |
JP4967628B2 (ja) | セラミック多層基板の製造方法 | |
JP4089356B2 (ja) | 多層セラミック基板の製造方法 | |
JP4038616B2 (ja) | 多層セラミック基板の製造方法 | |
JP4645962B2 (ja) | 多層セラミック基板 | |
JP4048796B2 (ja) | 多層セラミック基板の製造方法 | |
JP2009234912A (ja) | 多層セラミック基板の製造方法 | |
JP3876720B2 (ja) | キャビティ付き多層セラミック基板の製造方法 | |
JP2008159726A (ja) | 多層配線基板 | |
JP5051513B2 (ja) | 多層セラミック集合基板の製造方法 | |
JP4391284B2 (ja) | 多層基板の製造方法 | |
JPH11233944A (ja) | セラミック多層基板の製造方法 | |
JP2004296721A (ja) | 複数個取り用大型基板 | |
JPH0661649A (ja) | 多層セラミック基板の製造方法 | |
JP2004342683A (ja) | 多層セラミック基板の製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070821 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080205 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080326 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080909 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20081107 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20090421 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090716 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20090728 |
|
A912 | Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 Effective date: 20091023 |