JP2003246680A - 多層セラミック基板の製造方法 - Google Patents

多層セラミック基板の製造方法

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JP2003246680A JP2002050234A JP2002050234A JP2003246680A JP 2003246680 A JP2003246680 A JP 2003246680A JP 2002050234 A JP2002050234 A JP 2002050234A JP 2002050234 A JP2002050234 A JP 2002050234A JP 2003246680 A JP2003246680 A JP 2003246680A
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multilayer
ceramic
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弘倫 川上
Yoshifumi Saito
善史 齋藤
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Murata Manufacturing Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 多層集合基板を分割して複数の多層セラミ
ック基板を取り出す際に、分割不良が発生せず、かつハ
ンドリング性にも優れた多層セラミック基板の製造方法
を提供する。 【解決手段】 セラミック絶縁材料粉末を含む生の多層
集合基板の上下両主面を、前記セラミック絶縁材料粉末
の焼結温度では焼結しない無機材料粉末を含む収縮抑制
層で挟んで生の複合積層体を作製し、前記生の複合積層
体の一方主面に、一方の収縮抑制層および生の多層集合
基板を貫通して他方の収縮抑制層に到達し、かつ前記生
の複合積層体の他方主面に届かない深さで、切り込み溝
を設け、前記切り込み溝が設けられた生の複合積層体
を、前記セラミック絶縁材料粉末は焼結するが前記無機
材料粉末は焼結しない条件下で焼成した後、上下の未焼
結の前記収縮抑制層を除去した焼結後の多層集合基板か
ら、前記切り込み溝に沿って分割された複数の多層セラ
ミック基板を取り出す。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、ハイブリッドI
Cなどに用いる多層セラミック基板の製造方法に関し、
特に、大面積の多層集合基板を分割して得られる複数の
多層セラミック基板の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】多層セラミック基板は、複数の積層され
たセラミック層を備えており、種々の形態の配線導体が
設けられている。多層セラミック基板を、より多機能
化、高性能化するためには、高密度に配線を施すことが
有効である。
【0003】一般に、セラミックグリーンシートを積層
して焼成する際、セラミックの焼結による収縮から寸法
誤差が生じる。この寸法誤差は、多層セラミック基板に
形成された外部導体の位置精度の低下や内部導体の断線
という問題を発生させる。
【0004】これを解決するため、低温焼成可能な基板
用セラミックグリーンシートからなるセラミックグリー
ン層を有する生の多層セラミック基板の上下に、前記基
板用セラミックグリーンシートの焼成温度では焼結しな
い、収縮抑制用セラミックグリーンシートからなる収縮
抑制層を形成し、圧着し、この生の複合積層体を比較的
低温で焼成した後、収縮抑制層に由来する未焼結層を除
去する方法が提案されている。
【0005】この多層セラミック基板の製造方法によれ
ば、収縮抑制層がセラミックグリーン層を拘束するの
で、セラミックグリーン層の長さ(X)、幅(Y)方向
での収縮が生じにくい。その結果、焼成後の多層セラミ
ック基板の寸法精度を高くでき、基板の反りも軽減でき
る。そのため、高密度に配線を施しても、形成位置の精
度の低下や断線などの問題が生じにくい。
【0006】他方、多層セラミック基板を製造するに際
して、その製造効率を高めるため、所定の分割線に沿っ
て分割することによって複数の多層セラミック基板を取
り出すことができる大面積の多層集合基板を作製し、こ
の多層集合基板を前記分割線に沿って分割することによ
って、複数の多層セラミック基板を一挙に得る、いわゆ
る多数個取りによる方法が採用されている。
【0007】具体的には、大面積の多層集合基板が未焼
成の状態にあるときに、多層集合基板の所定の分割線の
位置に沿うように、カッター刃または金型などを用い
て、切り込み溝を設ける。焼成後、いわゆるチョコレー
トブレイク態様に基づいて多層集合基板を折り曲げるだ
けで、大面積の多層集合基板を所定の分割線に沿って分
割することができる。
【0008】図3は、多層セラミック基板を製造する途
中の段階で得られる大面積の生の複合積層体1の一部を
断面図で示したものである。なお、配線導体については
図示を省略し、厚み方向寸法を誇張して図示している。
【0009】生の複合積層体1は、セラミック絶縁材料
粉末を含む複数のセラミックグリーン層2を積層した大
面積の生の多層集合基板3と、その両主面に形成された
前記セラミック絶縁材料粉末の焼結温度では焼結しない
無機材料粉末を含む収縮抑制層4a、4bと、を備えて
いる。さらに、生の複合積層体1の一方主面1aには、
所定の分割線5の位置に沿うように、一方の収縮抑制層
4aを貫通して、多層集合基板3の厚みの一部にまで届
く深さで、切り込み溝6が設けられている。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】しかし、図3に示した
生の積層複合体1にあっては、焼成後に収縮抑制層4
a、4bを除去して、焼成後の多層集合基板3を分割し
ようとすると、切り込み溝6に沿って分割できず、切り
込み溝6以外で割れてしまうなど、分割不良が発生する
ことがあった。
【0011】本発明の目的は、大面積の多層集合基板を
分割して複数の多層セラミック基板を取り出す際に、分
割不良が発生せず、かつハンドリング性にも優れた多層
セラミック基板の製造方法を提供することである。
【0012】
【課題を解決するための手段】この第1の発明にかかる
多層セラミック基板の製造方法は、セラミック絶縁材料
粉末を含む複数のセラミックグリーン層を積層して生の
多層集合基板を作製する工程と、前記生の多層集合基板
の上下両主面を、前記セラミック絶縁材料粉末の焼結温
度では焼結しない無機材料粉末を含む収縮抑制層で挟
み、積層方向に圧着して、生の複合積層体を作製する工
程と、前記生の複合積層体の一方主面に、一方の収縮抑
制層および生の多層集合基板を貫通して他方の収縮抑制
層に到達し、かつ前記生の複合積層体の他方主面に届か
ない深さで、切り込み溝を設ける工程と、前記切り込み
溝が設けられた生の複合積層体を、前記セラミック絶縁
材料粉末は焼結するが前記無機材料粉末は焼結しない条
件下で焼成し、前記収縮抑制層に挟まれた焼結後の多層
集合基板を得る工程と、前記焼結後の多層集合基板か
ら、上下に配置された未焼結の前記収縮抑制層を除去す
る工程と、前記焼結後の多層集合基板から、前記切り込
み溝に沿って分割された複数の多層セラミック基板を取
り出す工程と、を備えることを特徴とする。
【0013】この第2の発明にかかる多層セラミック基
板の製造方法は、前記切り込み溝が、互いにほぼ直交す
るように縦方向と横方向に配列されていることを特徴と
する。
【0014】この第3の発明にかかる多層セラミック基
板の製造方法は、前記セラミックグリーン層が、ガラス
または結晶化ガラスを含むことを特徴とする。
【0015】この多層セラミック基板の製造方法によれ
ば、作業時のハンドリング性に優れ、焼成後の分割不良
の発生も防止できる。
【0016】
【発明の実施の形態】図1は、この発明の実施形態を説
明するためのものであり、多層セラミック基板を製造す
る途中の段階で得られる大面積の生の複合積層体11を
示している。ここで、図1は、生の複合積層体11の一
部を示す断面図であり、厚み方向寸法が誇張されて図示
されており、また、配線導体の図示が省略されている。
【0017】生の複合積層体11は、セラミック絶縁材
料粉末を含む複数のセラミックグリーン層12を積層し
た大面積の生の多層集合基板13と、その両主面に形成
された前記セラミック絶縁材料粉末の焼結温度では焼結
しない無機材料粉末を含む収縮抑制層14a、14b
と、を備えている。さらに、生の複合積層体11の一方
主面11aには、所定の分割線15の位置に沿うよう
に、一方の収縮抑制層14aおよび生の多層集合基板1
3を貫通して、他方の収縮抑制層14bの厚みの一部に
まで届く深さで、切り込み溝16が設けられている。
【0018】以下、本発明による多層セラミック基板の
製造方法について、図1、図2を参照しつつ説明する。
【0019】まず、SiO2、CaO、Al23、B2
3を混合したガラス粉末と、アルミナ粉末を等重量比率
で混合したセラミック絶縁材料粉末に、有機バインダお
よび溶媒のトルエンを加え、ボールミルで混合し、減圧
下で脱泡処理してスラリーとする。
【0020】なお、セラミック絶縁材料粉末としては、
多層セラミック基板に用いられる通常の原料を使用すれ
ばよいが、ガラスまたは結晶化ガラスを含むとき、比較
的低温での焼結が可能となり、収縮抑制層14a、14
bに含まれる無機材料粉末の選択の幅が広がる。また、
有機バインダ、溶媒、可塑剤などの有機ビヒクル類につ
いても、通常用いられるものでよく、特別の限定を要し
ない。
【0021】次に、前記スラリーを、ドクターブレード
を用いたキャスティング法によりキャリアフィルム上で
シート状に成形し、厚み0.1mmのセラミックグリー
ンシートを作製する。前記セラミックグリーンシートを
乾燥させた後、キャリアフィルムから剥がし、打ち抜い
て、平面寸法が100mm□のセラミックグリーンシー
トとする。なお、前記セラミックグリーンシートに含ま
れるセラミック絶縁材料粉末の焼結温度は850℃であ
った。
【0022】セラミックグリーンシートには、必要に応
じて、配線導体となるAg、Ag−Pt、Ag−Pdな
どの導電性ペーストをスクリーン印刷等で塗布したり、
スルーホールを設けて、このスルーホールに導電性ペー
ストを充填したりする工程が実施される。
【0023】そして、前記セラミックグリーンシートを
10枚積層して、セラミックグリーン層12を有する生
の多層集合基板13を作製する。
【0024】次に、無機材料粉末であるアルミナ粉末
に、有機バインダおよび溶媒のトルエンを加え、ボール
ミルで混合し、減圧下で脱泡処理してスラリーとする。
【0025】なお、無機材料粉末は、前述したセラミッ
クグリーン層12のためのセラミックグリーンシートに
含まれるセラミック絶縁材料粉末の焼結温度では焼結し
ないものを用いる。また、有機バインダ、溶媒、可塑剤
などの有機ビヒクル類については、通常用いられるもの
でよく、特別の限定を要しない。
【0026】次に、前記スラリーから、前述したセラミ
ックグリーン層12のためのセラミックグリーンシート
と同様の要領で、無機材料グリーンシートを作製する。
なお、前記無機材料グリーンシートに含まれる無機材料
粉末の焼結温度は1600℃であった。
【0027】そして、生の多層集合基板13の上下両主
面に、前記無機材料グリーンシートをそれぞれ5枚ずつ
積層して、プレス成形して、切込み溝15形成前の、1
00mm□の大面積の生の複合積層体11を得る。
【0028】さらに、前記生の複合積層体11の一方主
面11aに、複数の多層セラミツク基板を取り出すため
の分割線15の位置に沿って、切り込み溝16を設け
る。
【0029】切り込み溝16は、図2に示すように、分
割線15の位置に沿って、互いにほぼ直交するように縦
方向と横方向に格子状に配列される。なお、あらかじめ
短冊状の複合積層体11であれば、切り込み溝16は、
長さ方向と直交する方向にのみ設ければよい。
【0030】切り込み溝16の深さは、一方の収縮抑制
層14aおよび生の多層集合基板13を貫通して他方の
収縮抑制層14bに到達し、かつ前記生の複合積層体1
1の他方主面11bに届かない深さとする。好ましく
は、一方の収縮抑制層14aおよび生の多層集合基板1
3を貫通し、他方の収縮抑制層14bの厚みの1/10
〜4/10程度まで届くように形成する。そして、前記
切り込み溝16が設けられた生の複合積層体11を、焼
成用匣に配置し、前記セラミック絶縁材料粉末は焼結す
るが前記無機材料粉末は焼結しない条件下で焼成する。
具体的には、400℃まで1.5℃/分、400〜90
0℃まで5℃/分〜60℃/分の速度で昇温し、900
℃を5〜60分キープして焼成し、複合積層体11にお
ける多層集合基板13の部分のみを焼結させた。
【0031】そして、焼結後の多層集合基板13から、
上下に配置された未焼結の収縮抑制層14a、14bを
ブラシなどで除去して、焼結後の多層集合基板13を取
り出す。
【0032】この焼結後の多層集合基板13は、大面積
の多層集合基板13であるが、切り込み溝16を多層集
合基板13を貫通するように設けたので、焼成後は、複
数の多層セラミック基板に分割されている。
【0033】さらに、比較例として、前記生の複合積層
体11に設ける切り込み溝16の深さを変化させて、多
層セラミック基板を製造し、作業性と焼成後の分割性を
調べた。
【0034】図3に示すように、一方の収縮抑制層4a
を貫通して、多層集合基板3の厚みの40%の深さまで
切り込み溝6を形成した生の複合積層体1を焼成したと
ころ、焼成後の分割時に、約10%の分割不良が発生し
た。
【0035】
【発明の効果】本発明による多層セラミック基板の製造
方法によれば、大面積の生の多層集合基板を収縮抑制層
で挟んだ大面積の生の複合積層体の一方主面に、一方の
収縮抑制層および生の多層集合基板を貫通して、他方の
収縮抑制層に到達する深さ(複合積層体の他方主面には
到達しないこととする)の切り込み溝を設けることによ
り、複合積層体は集合状態で取り扱えるので作業性に優
れ、焼成後は複数に分割されやすいので分割時の不良が
発生しない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一つの実施形態を説明するためのもの
であり、多層セラミック基板を製造する途中の段階で得
られる大面積の複合積層体の一部を示す断面図である。
【図2】図1の大面積の複合積層体における分割線の配
列を示す平面図である。
【図3】一つの従来例を説明するためのものであり、多
層セラミック基板を製造する途中の段階で得られる大面
積の複合積層体の一部を示す断面図である。
【符号の説明】
11 複合積層体 11a 一方主面 11b 他方主面 12 セラミックグリーン層 13 多層集合基板 14a、14b 収縮抑制層 15 分割線 16 切り込み溝
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) C04B 35/64 J B28B 11/00 Z

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 セラミック絶縁材料粉末を含む複数のセ
    ラミックグリーン層を積層して生の多層集合基板を作製
    する工程と、 前記生の多層集合基板の上下両主面を、前記セラミック
    絶縁材料粉末の焼結温度では焼結しない無機材料粉末を
    含む収縮抑制層で挟み、積層方向に圧着して、生の複合
    積層体を作製する工程と、 前記生の複合積層体の一方主面に、一方の収縮抑制層お
    よび生の多層集合基板を貫通して他方の収縮抑制層に到
    達し、かつ前記生の複合積層体の他方主面に届かない深
    さで、切り込み溝設ける工程と、 前記切り込み溝が設けられた生の複合積層体を、前記セ
    ラミック絶縁材料粉末は焼結するが前記無機材料粉末は
    焼結しない条件下で焼成し、前記収縮抑制層に挟まれた
    焼結後の多層集合基板を得る工程と、 前記焼結後の多層集合基板から、上下に配置された未焼
    結の前記収縮抑制層を除去する工程と、 前記焼結後の多層集合基板から、前記切り込み溝に沿っ
    て分割された複数の多層セラミック基板を取り出す工程
    と、を備えることを特徴とする多層セラミック基板の製
    造方法。
  2. 【請求項2】 前記切り込み溝は、互いにほぼ直交する
    ように縦方向と横方向に配列されていることを特徴とす
    る請求項1記載の多層セラミック基板の製造方法。
  3. 【請求項3】 前記セラミックグリーン層は、ガラスま
    たは結晶化ガラスを含むことを特徴とする請求項1また
    は請求項2に記載の多層セラミック基板の製造方法。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007109977A (ja) * 2005-10-14 2007-04-26 Murata Mfg Co Ltd セラミック基板の製造方法
JP2009234912A (ja) * 2009-07-16 2009-10-15 Murata Mfg Co Ltd 多層セラミック基板の製造方法
CN111391069A (zh) * 2020-03-23 2020-07-10 东莞市唯美陶瓷工业园有限公司 一种陶瓷大板及其制造方法

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003246680A (ja) 2002-02-26 2003-09-02 Murata Mfg Co Ltd 多層セラミック基板の製造方法
AU2003236372A1 (en) * 2002-04-26 2003-11-10 Murata Manufacturing Co., Ltd. Method of manufacturing ceramic laminated body
EP1954111B1 (en) * 2005-11-25 2011-12-14 Murata Manufacturing Co., Ltd. Process for producing multilayer ceramic substrate
JP4803185B2 (ja) * 2006-05-29 2011-10-26 株式会社村田製作所 セラミック多層基板の製造方法及びセラミック多層基板の集合基板
US7799405B1 (en) * 2006-12-01 2010-09-21 Siemens Energy, Inc. Three dimensional reinforced CMC articles by interlocking two dimensional structures
EP2242154B1 (en) * 2008-02-05 2017-12-06 Murata Manufacturing Co. Ltd. Esd protection device
JP5327029B2 (ja) * 2009-01-16 2013-10-30 パナソニック株式会社 外装用筐体およびそれを用いた電気製品
CN106031317B (zh) * 2014-02-28 2019-02-15 株式会社村田制作所 陶瓷基板以及模块器件的制造方法
BR202015022089U2 (pt) * 2015-09-09 2018-05-29 Moreira Meira Diesley Disposição aplicada em compósito de matriz polimérica para a confecção de portas, divisórias, móveis e afins
EP4212497A1 (en) * 2017-05-16 2023-07-19 Heraeus Deutschland GmbH & Co. KG Ceramic-metal substrate with low amorphous phase
CN107961593B (zh) * 2017-12-18 2023-09-22 四会市华通金属筛网制品有限公司 多层金属复合烧结网
CN112589976B (zh) * 2020-12-30 2021-12-07 瓷金科技(河南)有限公司 一种陶瓷封装基座用陶瓷片生产方法

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60169126A (ja) 1984-02-13 1985-09-02 関西日本電気株式会社 積層セラミツクコンデンサの製造方法
JPH0722222B2 (ja) 1989-08-29 1995-03-08 太陽誘電株式会社 セラミック積層板の分割方法
US5102720A (en) * 1989-09-22 1992-04-07 Cornell Research Foundation, Inc. Co-fired multilayer ceramic tapes that exhibit constrained sintering
US5254191A (en) * 1990-10-04 1993-10-19 E. I. Du Pont De Nemours And Company Method for reducing shrinkage during firing of ceramic bodies
JPH0746540B2 (ja) 1991-07-24 1995-05-17 住友金属鉱山株式会社 ガラスセラミック基板の製造方法
JP2785544B2 (ja) 1991-10-04 1998-08-13 松下電器産業株式会社 多層セラミック基板の製造方法
EP0535711A3 (en) * 1991-10-04 1993-12-01 Matsushita Electric Ind Co Ltd Method for producing multilayered ceramic substrate
JPH06270122A (ja) 1993-03-17 1994-09-27 Taiyo Yuden Co Ltd セラミックグリーンシート積層方法
JP3173213B2 (ja) 1993-03-25 2001-06-04 松下電器産業株式会社 セラミック多層配線基板の製造方法
JP2856045B2 (ja) 1993-09-27 1999-02-10 住友金属鉱山株式会社 セラミック基板の製造方法
US5708570A (en) * 1995-10-11 1998-01-13 Hughes Aircraft Company Shrinkage-matched circuit package utilizing low temperature co-fired ceramic structures
JP3780386B2 (ja) * 1996-03-28 2006-05-31 株式会社村田製作所 セラミック回路基板及びその製造方法
US6228196B1 (en) * 1998-06-05 2001-05-08 Murata Manufacturing Co., Ltd. Method of producing a multi-layer ceramic substrate
US6205032B1 (en) * 1999-03-16 2001-03-20 Cts Corporation Low temperature co-fired ceramic with improved registration
US6139666A (en) * 1999-05-26 2000-10-31 International Business Machines Corporation Method for producing ceramic surfaces with easily removable contact sheets
JP3785903B2 (ja) 2000-07-21 2006-06-14 株式会社村田製作所 多層基板及びその製造方法
JP2003246680A (ja) 2002-02-26 2003-09-02 Murata Mfg Co Ltd 多層セラミック基板の製造方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007109977A (ja) * 2005-10-14 2007-04-26 Murata Mfg Co Ltd セラミック基板の製造方法
JP2009234912A (ja) * 2009-07-16 2009-10-15 Murata Mfg Co Ltd 多層セラミック基板の製造方法
CN111391069A (zh) * 2020-03-23 2020-07-10 东莞市唯美陶瓷工业园有限公司 一种陶瓷大板及其制造方法

Also Published As

Publication number Publication date
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