JP2003115573A - デュアルダイパッケージ - Google Patents

デュアルダイパッケージ

Info

Publication number
JP2003115573A
JP2003115573A JP2002236998A JP2002236998A JP2003115573A JP 2003115573 A JP2003115573 A JP 2003115573A JP 2002236998 A JP2002236998 A JP 2002236998A JP 2002236998 A JP2002236998 A JP 2002236998A JP 2003115573 A JP2003115573 A JP 2003115573A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor chip
lead
die package
connecting portion
dual die
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2002236998A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4195804B2 (ja
Inventor
Ichiko Sai
一興 崔
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Samsung Electronics Co Ltd
Original Assignee
Samsung Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Samsung Electronics Co Ltd filed Critical Samsung Electronics Co Ltd
Publication of JP2003115573A publication Critical patent/JP2003115573A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4195804B2 publication Critical patent/JP4195804B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/02Bonding areas ; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L24/06Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of a plurality of bonding areas
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/495Lead-frames or other flat leads
    • H01L23/49503Lead-frames or other flat leads characterised by the die pad
    • H01L23/4951Chip-on-leads or leads-on-chip techniques, i.e. inner lead fingers being used as die pad
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/495Lead-frames or other flat leads
    • H01L23/49537Plurality of lead frames mounted in one device
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/495Lead-frames or other flat leads
    • H01L23/49575Assemblies of semiconductor devices on lead frames
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/02Bonding areas ; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L24/05Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/02Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L2224/04042Bonding areas specifically adapted for wire connectors, e.g. wirebond pads
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/02Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L2224/05Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
    • H01L2224/0554External layer
    • H01L2224/0555Shape
    • H01L2224/05552Shape in top view
    • H01L2224/05554Shape in top view being square
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/02Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L2224/05Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
    • H01L2224/0554External layer
    • H01L2224/0555Shape
    • H01L2224/05556Shape in side view
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/02Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L2224/05Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
    • H01L2224/0554External layer
    • H01L2224/05599Material
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/02Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L2224/06Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of a plurality of bonding areas
    • H01L2224/061Disposition
    • H01L2224/0612Layout
    • H01L2224/0613Square or rectangular array
    • H01L2224/06134Square or rectangular array covering only portions of the surface to be connected
    • H01L2224/06136Covering only the central area of the surface to be connected, i.e. central arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32245Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/4826Connecting between the body and an opposite side of the item with respect to the body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/484Connecting portions
    • H01L2224/48463Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond
    • H01L2224/48465Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond the other connecting portion not on the bonding area being a wedge bond, i.e. ball-to-wedge, regular stitch
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73201Location after the connecting process on the same surface
    • H01L2224/73215Layer and wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/85Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
    • H01L2224/8538Bonding interfaces outside the semiconductor or solid-state body
    • H01L2224/85399Material
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L24/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/00014Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01004Beryllium [Be]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01033Arsenic [As]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01047Silver [Ag]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01078Platinum [Pt]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01082Lead [Pb]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/013Alloys
    • H01L2924/014Solder alloys
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/19Details of hybrid assemblies other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/191Disposition
    • H01L2924/19101Disposition of discrete passive components
    • H01L2924/19107Disposition of discrete passive components off-chip wires

Abstract

(57)【要約】 【課題】 生産コストが低減されるデュアルダイパッケ
ージを提供する。 【解決手段】 デュアルダイパッケージ100は、第1
半導体チップ10に連結された第1リードフレーム20
及び第2半導体チップ30に連結された第2リードフレ
ーム40を有する。第1リードフレーム20の第1リー
ド21及び第二リードフレーム40の第2リード41
は、ワイヤーボンディング工程を用いて互いに電気的に
連結されている。そのため、デュアルダイパッケージ1
00の製造時、特別な装置を必要とせず、生産コストを
低減することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体パッケージ
に関するもので、より詳しくはデュアルダイパッケージ
(DDP)に関するものである。
【0002】
【従来の技術】最近、電子機器の発展に伴って、より小
型化及び軽量化された半導体パッケージが要求されてい
る。このような小型化及び軽量化された半導体パッケー
ジを満足させるために、複数の半導体ダイまたはチップ
を含む半導体パッケージ(mulit-chip packages)が開
発された。マルチチップパッケージは、ノート型コンピ
ュータ及び携帯電話のような様々な分野に広く用いられ
ている。マルチチップパッケージは、単一チップパッケ
ージに比べて、小型化、軽量化、高い実装密度の利点を
有する。例えば、フラッシュメモリチップ及びSRAM
を有する単一のTSOP(Thin Small Outline Packag
e)を使用するのが、フラッシュメモリチップを有する
半導体パッケージ及びSRAMチップを有する他の半導
体パッケージのように2つのパッケージを使用するもの
より有利である。
【0003】マルチチップパッケージは、垂直積層型ま
たは平行配列型のパッケージに分類することができる。
垂直積層型パッケージは、実装面積を減らすのに対し
て、平行配列型パッケージは、製造工程を簡略化し、パ
ッケージの厚さを減らす。一般に、小型化及び軽量化を
達成するためには、垂直積層型パッケージが使用されて
いる。
【0004】図1は、従来のデュアルダイパッケージ2
00を示した断面図であって、垂直積層型パッケージで
ある。デュアルダイパッケージ200は、第1半導体チ
ップ110及び第2半導体チップ130を有する。第1
半導体チップ110は活性面の中央部に電極パッド11
2を有し、第2半導体チップ130は活性面の中央部に
電極パッド132を有する。第2リード141は接着剤
152により第2半導体チップ130の活性面に機械的
に連結され、第1リード121は接着剤152により第
1半導体チップ110の活性面に機械的に連結されてい
る。
【0005】第2半導体チップ130は電極パッド13
2が向かい合った第2リード141の間に位置するよう
に第2リード141の底面に貼付けられ、第1半導体チ
ップ110は電極パッド112が向かい合った第1リー
ド121の間に位置するように第1リード121の底面
に貼付けられている。第1半導体チップ110及び第2
半導体チップ130は、それらの裏面が互いに対向し、
第1リード121と第2リード141の間に配置されて
いる。
【0006】第1リード121は、第1接続部123及
び第1連結部125を有する。第1連結部125は、第
1接続部123に階段式に連結されている。第2リード
は、第2接続部143及び第2連結部145を有する。
第2連結部145は、第2接続部143に階段式に連結
されている。
【0007】第1半導体チップ110の電極パッド11
2はボンディングワイヤー162により第1接続部12
3と電気的に連結され、第2半導体チップ130の電極
パッド132はボンディングワイヤー164により第2
接続部143と電気的に連結されている。第1半導体チ
ップ110、第2半導体チップ130及び電気的連結部
は、封止材により封止され、パッケージ胴体180を形
成する。
【0008】第1リード121の第1連結部125と、
第2リード141の第2連結部145とは、互いに機械
的に貼付けられ、互いに電気的に連結されている。第1
リード121の外部リード(図示せず)は切断されて除
去される。第2リード141の外部リード149は、実
装に適合するように所定の形状に折曲され、外部連結端
子として機能する。第1連結部125及び第2連結部1
45上に、はんだ又は銀のような金属からなる金属層1
70を形成した後、所定の温度及び圧力で熱圧着工程を
進行することにより、第1連結部125と第2連結部1
45とを貼付ける。熱圧着工程は、第1連結部125と
第2連結部145を機械的且つ電気的に連結する。
【0009】従来のデュアルダイパッケージ200の製
造方法では、第1リード121及び第2リード141上
に金属層170を形成する段階と、熱圧着工程を用い
て、第1リード121及び第2リード141を互いに貼
付ける段階とを実施するので、付加的な製造設備を必要
とし、生産コストが増加するという短所があった。
【0010】また、従来のデュアルダイパッケージ20
0の製造方法では、第1リードフレーム120の第1リ
ード121を第2リードフレーム140の第2リード1
41に貼付けるのに使用された熱圧着工程が、高信頼性
の貼付け技術を要求し、そのため、生産コストが増加す
ることになる。従って、改善されたデュアルダイパッケ
ージが要望されている。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、生産
コストが低減されるデュアルダイパッケージを提供する
ことにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明によると、デュア
ルダイパッケージは、裏面を有する第1半導体チップ
と、第1半導体チップの裏面に対向する裏面を有する第
2半導体チップと、第1半導体チップの活性面に配置さ
れ且つ第1半導体チップの活性面と電気的に連結された
複数の第1リードを有する第1リードフレームと、第2
半導体チップの活性面に配置され且つ第2半導体チップ
の活性面と電気的に連結された複数の第2リードを有す
る第2リードフレームと、第1リードと第2リードとを
電気的に連結するボンディングワイヤーとを備える。本
発明の他の実施例と利点は、以下の説明及び添付の図面
により明らかになる。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、添付の図面を参照して本発
明の実施例をより詳細に説明する。図2は、本発明の一
実施例によるデュアルダイパッケージ100のワイヤー
ボンディングされた状態を示す斜視図である。図3は、
デュアルダイパッケージ100を示す断面図である。
【0014】図2及び図3に示したように、デュアルダ
イパッケージ100は、第1半導体チップ10及び第2
半導体チップ30を有する。第1半導体チップ10は活
性面の中央部に位置した複数の電極パッド12を有し、
第2半導体チップ30は活性面の中央部に位置した複数
の電極パッド32を有する。第1半導体チップ10の裏
面は、第2半導体チップ30の裏面に対向し、実装され
ている。第1リードフレーム20の第1リード21は第
1半導体チップ10の活性面に貼付けられ、第2リード
フレーム40の第1リード41は第2半導体チップ30
の活性面に貼付けられる。第1リード21はボンディン
グワイヤー62により第1半導体チップ10の電極パッ
ド12に電気的に連結され、第2リード41はボンディ
ングワイヤー64により第2半導体チップ30の電極パ
ッド32に電気的に連結される。第1半導体チップ1
0、第2半導体チップ30及び電気的連結部は、液状の
成形樹脂により封止され、パッケージ胴体80を形成す
る。
【0015】より詳しく説明すると、第2半導体チップ
30の活性面を接着テープ52により第2リード41の
内部端子の下面に貼付け、第1半導体チップ10の活性
面を接着テープ52により第2リード21の内部端子の
下面に貼付ける。第2半導体チップ30の電極パッド3
2は向かい合った第2リード41の間に位置し、第1半
導体チップ10の電極パッド12は向かい合った第1リ
ード21の間に位置する。第1半導体チップ10の裏面
及び第2半導体チップ30の裏面を互いに対向させ、第
1半導体チップ10及び第2半導体チップ30を第1リ
ード21と第2リード41との間に位置させる。第1リ
ード21は第1接続部23及び第1連結部25を有し、
第2リード41は第2接続部43及び第2連結部45を
有する。
【0016】第1半導体チップ10の電極パッド12を
第1ボンディングワイヤー62により第1リード21の
第1接続部23と電気的に連結し、第2半導体チップ3
0の電極パッド32を第2ボンディングワイヤー64に
より第2リード41の第2接続部43と電気的に連結す
る。第1接続部23及び第2接続部43の表面を銀でメ
ッキすることができるので、第1及び第2のボンディン
グワイヤー62、64と第1及び第2の接続部23、4
2との間に、それぞれ優れたボンディング性を得ること
ができる。
【0017】図4は、図2のデュアルダイパッケージ1
00の底面図である。リードオンチップ(LOC)パッ
ケージ用の第1リードフレーム20は、連結パッド27
を有する。各連結パッド27は、対応する第1連結部2
5の側面から突出している。第1連結パッド27の外部
端子はサイドレール24に連結されている。接着層54
(図2参照)はリードフレーム20のサイドレール24
に沿って不連続的に形成されている。本実施例におい
て、サイドレール24はダムバー(dam bar)として機
能する。
【0018】図5は、図2のデュアルダイパッケージ1
00の平面図である。LOCパッケージ用の第2リード
フレーム40の構造は、外部リード49が第2連結部4
5の外側に形成されていることを除いて、第1リードフ
レーム20と同一である。すなわち、外部リード49
は、第2連結部45から離れて延びる。ダムバー46は
外部リード49の間に形成される。ダムバー46の両端
は第2リードフレーム40のサイドレール24に連結さ
れる。
【0019】第1半導体チップ10が貼付けられた第1
リードフレーム20は第2半導体チップ30が貼付けら
れた第2リードフレーム40の上に積層され、第1半導
体チップ10の裏面は第2半導体チップ30の裏面と対
向する。接着層54を第1リードフレーム20のサイド
レール24と第2リードフレーム40のサイドレール4
4との間に挿入して、第1リードフレーム20を第2リ
ードフレーム40に機械的に連結する。接着層54は、
第1リードフレーム20のサイドレール24及び/又は
第2リードフレーム40のサイドレール44上に形成す
るすることができる。本実施例においては、接着層54
を第1リードフレーム20のサイドレール24に形成す
る。接着層54としては、液状接着剤または両面接着テ
ープを使用する。封止段階の後、サイドレール24、4
4を切断し、トリミング/フォーミング工程により除去
する。この際、第1連結部25を、第2連結部45と接
続しても良く、接続しなくても良い。
【0020】連結パッド27を第1連結部25上に形成
する。これにより、第3ボンディングワイヤー66によ
り第1連結部25と第2連結部45とを電気的に連結す
ることを可能とする。連結パッド27は、所定形状を有
し、対応する第1連結部25の側面から突出する。第2
連結部45を、第3ボンディングワイヤー66により、
対応する第1連結部25の対応する連結パッド27に電
気的に連結する。本実施例において、第3ボンディング
ワイヤー66をボールボンディング法により対応する連
結パッド27に連結し、ステッチ(stitch)ボンディン
グ法により対応する第2連結部45に連結する。本実施
例において、連結パッド27及び第2連結部45を銀で
メッキすることで、第3ボンディングワイヤー66との
優れたボンディング性を提供する。本実施例では、第3
ボンディングワイヤー66は、ボールボンディング法に
より連結パッド27に連結され、ステッチボンディング
法により第2連結部45に連結されているが、このよう
な連結方法を反対方向に行なうこともでき、またはボン
ディングワイヤーをウェッジボンディング法(wedge bo
nding method)により第2連結部に連結できるというこ
とは、当業者に自明なことである。
【0021】第1リードフレーム20及び第2リードフ
レーム40を接着層54により互いに貼付け、第1リー
ド21及び第2リード41を第3ボンディングワイヤー
66により互いに電気的に連結する。その結果、本実施
例のデュアルダイパッケージ100は第1リード21を
第2リード41に機械的、電気的に連結するのに使用さ
れた熱圧着工程を必要としないため、本実施例のデュア
ルダイパッケージ100は従来の製造装置、例えばワイ
ヤーボンディング装置を用いて製造することができる。
【0022】図3に示したように、第1半導体チップ1
0、第2半導体チップ30、ならびに第1ボンディング
ワイヤー、第2ボンディングワイヤー、及び第3ボンデ
ィングワイヤーを含む電気的連結部が封止され、パッケ
ージ胴体80を形成する。第2リード41の外部リード
49は、パッケージ胴体80から突出し、実装に適合す
るように所定の形状に折曲され、外部連結端子として機
能する。本実施例において、外部リード49は、ガルウ
ィング(gull wing)形状に折曲されている。
【0023】
【発明の効果】本発明の1つの利点は、第1リードフレ
ームを接着層によって第2リードフレームに固定するこ
とで、後続製造工程において安定性を提供できるので有
利であるということである。
【0024】本発明のもう1つの利点は、第1リードと
第2リードを貼付けるのに熱圧着工程が必要でないとい
うことである。第1リードと第2リードを、従来のワイ
ヤーボンディング装置を用いて第3ボンディングワイヤ
ーにより電気的に連結し、接着層により機械的に連結す
る。従って、本発明は、新規な製造装置が必要でないの
で、デュアルダイパッケージの生産コストを低減するこ
とができる。
【0025】また、第1リードフレームの第1リードを
第2リードフレームの第2リードに連結する従来の熱圧
着工程に比べて、ワイヤーボンディングを用いて第1リ
ードを第2リードに連結することがより容易で、その結
果、第1リードと第2リードの間の電気的連結をより信
頼することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来のデュアルダイパッケージの断面を示す模
式図である。
【図2】本発明の一実施例によるデュアルダイパッケー
ジにおいてワイヤーボンディングされた状態を示す概略
斜視図である。
【図3】図2に示すデュアルダイパッケージの断面を示
す模式図である。
【図4】図2に示すデュアルダイパッケージの底面図で
ある。
【図5】図2に示すデュアルダイパッケージの平面図で
ある。
【符号の説明】
10 第1半導体チップ 20 第1リードフレーム 30 第2半導体チップ 40 第2リードフレーム 52 接着テープ 54 接着層 62 第1ボンディングワイヤー 64 第2ボンディングワイヤー 66 第3ボンディングワイヤー 80 パッケージ胴体 100 デュアルダイパッケージ

Claims (19)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 活性面の中心部に位置した複数の第1電
    極パッドを有する第1半導体チップと、 前記第1半導体チップの活性面に配置された第1接続
    部、前記第1接続部に階段式に連結された第1連結部、
    及び前記第1連結部の側面から突出する連結パッドを含
    む複数の第1リードを有する第1リードフレームと、 前記第1電極パッドと前記第1接続部とを電気的に連結
    する第1ボンディングワイヤーと、 活性面の中心部に位置した複数の第2電極パッドを有
    し、裏面が前記第1半導体チップの裏面に貼付けられる
    第2半導体チップと、 前記第2半導体チップの活性面に配置された第2接続
    部、及び前記第2接続部に階段式に連結された第2連結
    部を含む複数の第2リードを有する第2リードフレーム
    と、 前記第2電極パッドと前記第2接続部とを電気的に連結
    する第2ボンディングワイヤーと、 前記第1リードの連結パッドと前記第2リードの第2連
    結部とを電気的に連結する第3ボンディングワイヤー
    と、 前記第1半導体チップ、前記第2半導体チップ、前記第
    1ボンディングワイヤー、前記第2ボンディングワイヤ
    ー、前記第3ボンディングワイヤー、前記第1リードの
    第1連結部、及び前記第2リードの第2連結部を封止す
    るパッケージ胴体と、 を備えることを特徴とするデュアルダイパッケージ。
  2. 【請求項2】 前記第2リードフレームは、前記第2連
    結部と一体に形成され且つパッケージ胴体から突出した
    外部リードを有することを特徴とする請求項1に記載の
    デュアルダイパッケージ。
  3. 【請求項3】 前記各連結パッド及び前記第2連結部
    は、銀でメッキされていることを特徴とする請求項1に
    記載のデュアルダイパッケージ。
  4. 【請求項4】 前記第1連結部の連結パッドは、対応す
    る第2リードの第2連結部に電気的に連結されているこ
    とを特徴とする請求項1に記載のデュアルダイパッケー
    ジ。
  5. 【請求項5】 複数の第1電極パッドを有する第1半導
    体チップと、 複数の第1リードを有する第1リードフレームと、 前記第1リードと第1電極パッドとを電気的に連結する
    第1ボンディングワイヤーと、 複数の第2電極パッドを有し、裏面が前記第1半導体チ
    ップの裏面に対向する第2半導体チップと、 複数の第2リードを有する第2リードフレームと、 前記第2電極パッドと前記第2リードに電気的とを連結
    する第2ボンディングワイヤーと、 前記第1リードと前記第2リードとを電気的に連結する
    第3ボンディングワイヤーと、 を備えることを特徴とするデュアルダイパッケージ。
  6. 【請求項6】 前記第2半導体チップの裏面は、前記第
    1半導体チップの裏面に貼付けられていることを特徴と
    する請求項5に記載のデュアルダイパッケージ。
  7. 【請求項7】 前記第1リードは、前記第1半導体チッ
    プの活性面上に配置された第1接続部と、前記第1接続
    部に連結された第1連結部と、前記第1連結部の側面か
    ら突出した連結パッドとを有することを特徴とする請求
    項5に記載のデュアルダイパッケージ。
  8. 【請求項8】 前記連結パッドは、銀でメッキされてい
    ることを特徴とする請求項7に記載のデュアルダイパッ
    ケージ。
  9. 【請求項9】 前記第2リードは、前記第2半導体チッ
    プの活性面上に配置された第2接続部と、前記第2接続
    部に連結された第2連結部とを有することを特徴とする
    請求項5に記載のデュアルダイパッケージ。
  10. 【請求項10】 前記第2連結部は、銀でメッキされて
    いることを特徴とする請求項9に記載のデュアルダイパ
    ッケージ。
  11. 【請求項11】 前記第1半導体チップ、前記第2半導
    体チップ、前記第1ボンディングワイヤー、前記第2ボ
    ンディングワイヤー、前記第3ボンディングワイヤー、
    前記第1リードの第1連結部、及び前記第2リードの第
    2連結部を封止するパッケージ胴体をさらに備えること
    を特徴とする請求項5に記載のデュアルダイパッケー
    ジ。
  12. 【請求項12】 裏面を有する第1半導体チップと、 前記第1半導体チップの裏面に対向する裏面を有する第
    2半導体チップと、 前記第1半導体チップの活性面上に配置され、前記第1
    半導体チップの活性面に電気的に連結される複数の第1
    リードを有する第1リードフレームと、 前記第2半導体チップの活性面上に配置され、前記第2
    半導体チップの活性面に電気的に連結される複数の第2
    リードを有する第2リードフレームと、 前記第1リードと前記第2リードとを電気的に連結する
    第1ボンディングワイヤーと、 を備えることを特徴とするデュアルダイパッケージ。
  13. 【請求項13】 前記第2半導体チップの裏面は、前記
    第1半導体チップの裏面に貼付けられていることを特徴
    とする請求項12に記載のデュアルダイパッケージ。
  14. 【請求項14】 前記第1リードは、複数の第2ボンデ
    ィングワイヤーにより前記第1半導体チップの活性面上
    の複数の第1電極と電気的に連結されていることを特徴
    とする請求項12に記載のデュアルダイパッケージ。
  15. 【請求項15】 前記第2リードは、複数の第2ボンデ
    ィングワイヤーにより前記第2半導体チップの活性面上
    の複数の第2電極と電気的に連結されていることを特徴
    とする請求項12に記載のデュアルダイパッケージ。
  16. 【請求項16】 前記第1リードフレームは接着剤によ
    り前記第1半導体チップに貼付けられ、前記第2リード
    フレームは接着剤により前記第2半導体チップに貼付け
    られていることを特徴とする請求項12に記載のデュア
    ルダイパッケージ。
  17. 【請求項17】 前記第1リードフレームは、接着剤に
    より前記第2リードフレームに貼付けられていることを
    特徴とする請求項12に記載のデュアルダイパッケー
    ジ。
  18. 【請求項18】 前記第1リードは対応する第1連結部
    の側面から突出した連結パッドを有し、前記第1ボンデ
    ィングワイヤーは対応する連結パッドに電気的に連結さ
    れていることを特徴とする請求項12に記載のデュアル
    ダイパッケージ。
  19. 【請求項19】 前記連結パッドは、銀でメッキされて
    いることを特徴とする請求項18に記載のデュアルダイ
    パッケージ。
JP2002236998A 2001-08-21 2002-08-15 デュアルダイパッケージ Expired - Fee Related JP4195804B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2001-0050302A KR100445073B1 (ko) 2001-08-21 2001-08-21 듀얼 다이 패키지
KR2001-50302 2001-08-21

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003115573A true JP2003115573A (ja) 2003-04-18
JP4195804B2 JP4195804B2 (ja) 2008-12-17

Family

ID=19713399

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002236998A Expired - Fee Related JP4195804B2 (ja) 2001-08-21 2002-08-15 デュアルダイパッケージ

Country Status (3)

Country Link
US (1) US6864566B2 (ja)
JP (1) JP4195804B2 (ja)
KR (1) KR100445073B1 (ja)

Families Citing this family (33)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7262074B2 (en) * 2002-07-08 2007-08-28 Micron Technology, Inc. Methods of fabricating underfilled, encapsulated semiconductor die assemblies
KR100470897B1 (ko) * 2002-07-19 2005-03-10 삼성전자주식회사 듀얼 다이 패키지 제조 방법
US20040061213A1 (en) * 2002-09-17 2004-04-01 Chippac, Inc. Semiconductor multi-package module having package stacked over die-up flip chip ball grid array package and having wire bond interconnect between stacked packages
US7205647B2 (en) * 2002-09-17 2007-04-17 Chippac, Inc. Semiconductor multi-package module having package stacked over ball grid array package and having wire bond interconnect between stacked packages
US7064426B2 (en) 2002-09-17 2006-06-20 Chippac, Inc. Semiconductor multi-package module having wire bond interconnect between stacked packages
US7034387B2 (en) * 2003-04-04 2006-04-25 Chippac, Inc. Semiconductor multipackage module including processor and memory package assemblies
AU2003298595A1 (en) * 2002-10-08 2004-05-04 Chippac, Inc. Semiconductor stacked multi-package module having inverted second package
JP5197961B2 (ja) * 2003-12-17 2013-05-15 スタッツ・チップパック・インコーポレイテッド マルチチップパッケージモジュールおよびその製造方法
US20050258527A1 (en) 2004-05-24 2005-11-24 Chippac, Inc. Adhesive/spacer island structure for multiple die package
US8552551B2 (en) 2004-05-24 2013-10-08 Chippac, Inc. Adhesive/spacer island structure for stacking over wire bonded die
US20050269692A1 (en) * 2004-05-24 2005-12-08 Chippac, Inc Stacked semiconductor package having adhesive/spacer structure and insulation
US7202105B2 (en) * 2004-06-28 2007-04-10 Semiconductor Components Industries, L.L.C. Multi-chip semiconductor connector assembly method
JP2006019652A (ja) * 2004-07-05 2006-01-19 Toshiba Corp 半導体装置
US7253511B2 (en) * 2004-07-13 2007-08-07 Chippac, Inc. Semiconductor multipackage module including die and inverted land grid array package stacked over ball grid array package
TWI423401B (zh) * 2005-03-31 2014-01-11 Stats Chippac Ltd 在上側及下側具有暴露基底表面之半導體推疊封裝組件
US7364945B2 (en) 2005-03-31 2008-04-29 Stats Chippac Ltd. Method of mounting an integrated circuit package in an encapsulant cavity
TWI442520B (zh) * 2005-03-31 2014-06-21 Stats Chippac Ltd 具有晶片尺寸型封裝及第二基底及在上側與下側包含暴露基底表面之半導體組件
US7354800B2 (en) * 2005-04-29 2008-04-08 Stats Chippac Ltd. Method of fabricating a stacked integrated circuit package system
US7429786B2 (en) * 2005-04-29 2008-09-30 Stats Chippac Ltd. Semiconductor package including second substrate and having exposed substrate surfaces on upper and lower sides
US7582960B2 (en) * 2005-05-05 2009-09-01 Stats Chippac Ltd. Multiple chip package module including die stacked over encapsulated package
US7394148B2 (en) * 2005-06-20 2008-07-01 Stats Chippac Ltd. Module having stacked chip scale semiconductor packages
SG130055A1 (en) * 2005-08-19 2007-03-20 Micron Technology Inc Microelectronic devices, stacked microelectronic devices, and methods for manufacturing microelectronic devices
SG130066A1 (en) 2005-08-26 2007-03-20 Micron Technology Inc Microelectronic device packages, stacked microelectronic device packages, and methods for manufacturing microelectronic devices
US7456088B2 (en) 2006-01-04 2008-11-25 Stats Chippac Ltd. Integrated circuit package system including stacked die
US7768125B2 (en) 2006-01-04 2010-08-03 Stats Chippac Ltd. Multi-chip package system
US7750482B2 (en) 2006-02-09 2010-07-06 Stats Chippac Ltd. Integrated circuit package system including zero fillet resin
US8704349B2 (en) 2006-02-14 2014-04-22 Stats Chippac Ltd. Integrated circuit package system with exposed interconnects
SG135979A1 (en) * 2006-03-08 2007-10-29 Micron Technology Inc Microelectronic device assemblies including assemblies with recurved leadframes, and associated methods
US7808088B2 (en) * 2006-06-07 2010-10-05 Texas Instruments Incorporated Semiconductor device with improved high current performance
SG139573A1 (en) 2006-07-17 2008-02-29 Micron Technology Inc Microelectronic packages with leadframes, including leadframes configured for stacked die packages, and associated systems and methods
TWI352416B (en) * 2006-09-12 2011-11-11 Chipmos Technologies Inc Stacked chip package structure with unbalanced lea
SG149726A1 (en) * 2007-07-24 2009-02-27 Micron Technology Inc Microelectronic die packages with metal leads, including metal leads for stacked die packages, and associated systems and methods
SG150396A1 (en) 2007-08-16 2009-03-30 Micron Technology Inc Microelectronic die packages with leadframes, including leadframe-based interposer for stacked die packages, and associated systems and methods

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3080323B2 (ja) * 1991-03-13 2000-08-28 株式会社日立製作所 半導体装置及び製造方法
JPH04320365A (ja) 1991-04-19 1992-11-11 Hitachi Ltd 樹脂封止型半導体装置およびメモリカード
JP2917575B2 (ja) 1991-05-23 1999-07-12 株式会社日立製作所 樹脂封止型半導体装置
JP2634516B2 (ja) * 1991-10-15 1997-07-30 三菱電機株式会社 反転型icの製造方法、反転型ic、icモジュール
JPH05291486A (ja) 1992-04-07 1993-11-05 Hitachi Ltd 樹脂封止型半導体装置
JPH08316403A (ja) 1995-05-19 1996-11-29 Hitachi Ltd リードフレームおよびそれを用いた半導体集積回路装置
KR100204753B1 (ko) * 1996-03-08 1999-06-15 윤종용 엘오씨 유형의 적층 칩 패키지
AU712769B2 (en) 1996-03-29 1999-11-18 Dow Chemical Company, The In situ block copolymer formation during polymerization of a vinyl aromatic monomer
KR0149271B1 (ko) 1996-06-04 1999-10-01 배순훈 냉장고의 도어
KR19980034119A (ko) * 1996-11-05 1998-08-05 김광호 반도체 칩 적층형 패키지
US6407333B1 (en) * 1997-11-04 2002-06-18 Texas Instruments Incorporated Wafer level packaging
KR100265091B1 (ko) 1997-07-01 2000-09-01 김영환 이중화 시간/주파수 발생 시스템의 시간 오차 제어 장치
JP3937265B2 (ja) * 1997-09-29 2007-06-27 エルピーダメモリ株式会社 半導体装置
KR100285664B1 (ko) * 1998-05-15 2001-06-01 박종섭 스택패키지및그제조방법
JP2000150572A (ja) 1998-11-06 2000-05-30 Nec Kyushu Ltd Bga型半導体パッケージ、その製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
US6864566B2 (en) 2005-03-08
JP4195804B2 (ja) 2008-12-17
US20030038348A1 (en) 2003-02-27
KR100445073B1 (ko) 2004-08-21
KR20030017676A (ko) 2003-03-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4195804B2 (ja) デュアルダイパッケージ
KR100277438B1 (ko) 멀티칩패키지
JP2000133767A (ja) 積層化半導体パッケ―ジ及びその製造方法
JP2003124433A (ja) マルチチップパッケージ
US20020130400A1 (en) Semiconductor package with lead frame
JP3540793B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置及びその製造方法
US6753597B1 (en) Encapsulated semiconductor package including chip paddle and leads
JP3497775B2 (ja) 半導体装置
JP2002093993A (ja) リードフレーム及びそれを用いた樹脂封止型半導体装置
KR20020054475A (ko) 반도체 칩 적층 패키지 및 그 제조 방법
US20090004782A1 (en) Method of fabricating a two-sided die in a four-sided leadframe based package
JPH0936300A (ja) 半導体装置およびその製造方法
US20080038872A1 (en) Method of manufacturing semiconductor device
JP2003347504A (ja) 半導体装置及びその製造方法
KR100639700B1 (ko) 칩 스케일 적층 칩 패키지
JPH08279575A (ja) 半導体パッケージ
JP3468447B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置及びその製造方法
KR0157882B1 (ko) 적층형 반도체 패키지 및 그 제조방법
KR20000003001A (ko) 양면 테이프를 이용한 멀티 칩 패키지
JP2000012771A (ja) 半導体装置
KR20020061444A (ko) 초박형 적층 반도체 칩 패키지 및 이에 사용되는 리드프레임
JP3434633B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置
KR20020005935A (ko) 멀티 칩 패키지와 그 제조 방법
KR20030070363A (ko) 멀티 칩 패키지
KR20020057350A (ko) 듀얼 다이 패키지

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050119

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20080121

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080123

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20080423

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20080428

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080514

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20080901

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20080929

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111003

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121003

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131003

Year of fee payment: 5

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees