JP2002368422A - 多層セラミック基板及びその製造方法 - Google Patents
多層セラミック基板及びその製造方法Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 信頼性を高くし、不具合を抑えることを実現
できる配線導体を備える多層セラミック基板及びその製
造方法を提供する。 【解決手段】 機能セラミック層2となるべき複数の機
能グリーンシートと機能セラミック層2に含まれるセラ
ミック機能材料の焼結温度では焼結しないセラミック材
料を含む、収縮抑制用支持体3となるべき収縮抑制用グ
リーンシートと、金属箔、金属線、薄膜導体から選ばれ
る金属導体からなる第1の配線導体4と、厚膜導体から
なる第2の配線導体5とを備える、生の複合積層体を用
意し、これを焼成することによって、多層セラミック基
板1を得る。
できる配線導体を備える多層セラミック基板及びその製
造方法を提供する。 【解決手段】 機能セラミック層2となるべき複数の機
能グリーンシートと機能セラミック層2に含まれるセラ
ミック機能材料の焼結温度では焼結しないセラミック材
料を含む、収縮抑制用支持体3となるべき収縮抑制用グ
リーンシートと、金属箔、金属線、薄膜導体から選ばれ
る金属導体からなる第1の配線導体4と、厚膜導体から
なる第2の配線導体5とを備える、生の複合積層体を用
意し、これを焼成することによって、多層セラミック基
板1を得る。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、焼成工程において
主面方向の収縮を実質的に生じさせないようにすること
ができる、いわゆる無収縮プロセスを適用して製造され
る多層セラミック基板及びその製造方法に関する。
主面方向の収縮を実質的に生じさせないようにすること
ができる、いわゆる無収縮プロセスを適用して製造され
る多層セラミック基板及びその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】無収縮プロセスを適用して製造される多
層セラミック基板は、特開平7−86743号公報で提
案されているように、低温焼成ガラスセラミックからな
る複数のセラミック層と、そのセラミック層の焼成温度
では焼結しない無機組成物からなる複数の拘束層とが積
層された積層体を備える。そして、これらセラミック層
と拘束層との間における特定の界面や積層体の外表面に
は、適宜の配線導体が形成されている.。この場合、配
線導体は、低温焼成ガラスセラミックからなる複数のセ
ラミック層の焼成温度で収縮しない金属箔を、所望のパ
ターンにエッチング処理することによって構成される。
層セラミック基板は、特開平7−86743号公報で提
案されているように、低温焼成ガラスセラミックからな
る複数のセラミック層と、そのセラミック層の焼成温度
では焼結しない無機組成物からなる複数の拘束層とが積
層された積層体を備える。そして、これらセラミック層
と拘束層との間における特定の界面や積層体の外表面に
は、適宜の配線導体が形成されている.。この場合、配
線導体は、低温焼成ガラスセラミックからなる複数のセ
ラミック層の焼成温度で収縮しない金属箔を、所望のパ
ターンにエッチング処理することによって構成される。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
たように、セラミック層の焼成温度で収縮しない金属導
体で構成される配線導体には、以下のような解決される
べき問題点がある。
たように、セラミック層の焼成温度で収縮しない金属導
体で構成される配線導体には、以下のような解決される
べき問題点がある。
【0004】金属導体は既に緻密な膜であるため、占有
面積が大きいパターン、例えばグランド電極に用いる場
合には、焼成の際にセラミックグリーンシートのバイン
ダ成分の分解ガスが抜ける隙間がない。そのため、金属
導体周辺にボイドや残留カーボンが残りやすく、多層セ
ラミック基板の信頼性が低下することがある。
面積が大きいパターン、例えばグランド電極に用いる場
合には、焼成の際にセラミックグリーンシートのバイン
ダ成分の分解ガスが抜ける隙間がない。そのため、金属
導体周辺にボイドや残留カーボンが残りやすく、多層セ
ラミック基板の信頼性が低下することがある。
【0005】また、薄い金属導体は膜強度が弱いため、
取り扱い上ある程度の厚みが必要となる。これら金属導
体は焼成時に圧縮されることなく、柔らかいセラミック
グリーンシートが押しつぶされ、占有面積が大きいパタ
ーンの所は密度が高く、占有面積が小さいパターン、例
えばインダクタ電極または信号ラインなどの所は粗にな
り、積層体内で密度差ができる。そのため、占有面積が
大きいパターンが多く形成されている回路基板の場合、
内部の応力歪も大きくなり、変形やクラックが発生する
など不具合が発生することがある。
取り扱い上ある程度の厚みが必要となる。これら金属導
体は焼成時に圧縮されることなく、柔らかいセラミック
グリーンシートが押しつぶされ、占有面積が大きいパタ
ーンの所は密度が高く、占有面積が小さいパターン、例
えばインダクタ電極または信号ラインなどの所は粗にな
り、積層体内で密度差ができる。そのため、占有面積が
大きいパターンが多く形成されている回路基板の場合、
内部の応力歪も大きくなり、変形やクラックが発生する
など不具合が発生することがある。
【0006】本発明は、このような問題点を解決するた
めになされたものであり、信頼性を高くし、不具合を抑
えることを実現できる配線導体を備える多層セラミック
基板及びその製造方法を提供することを目的とする。
めになされたものであり、信頼性を高くし、不具合を抑
えることを実現できる配線導体を備える多層セラミック
基板及びその製造方法を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】上述する問題点を解決す
るため本発明の多層セラミック基板は、セラミック機能
材料を含む複数の機能セラミック層と、前記機能セラミ
ック層の特定のものに接するように配置され、前記セラ
ミック機能材料の焼成温度では焼結しないセラミック材
料を含むシート状の収縮抑制用支持体と、前記機能セラ
ミック層に接するように配置され、かつ金属箔、金属
線、あるいは薄膜導体から選ばれる金属導体からなる第
1の配線導体と、前記機能セラミック層に接するように
配置され、かつ厚膜導体からなる第2の配線導体とを備
えることを特徴とする。
るため本発明の多層セラミック基板は、セラミック機能
材料を含む複数の機能セラミック層と、前記機能セラミ
ック層の特定のものに接するように配置され、前記セラ
ミック機能材料の焼成温度では焼結しないセラミック材
料を含むシート状の収縮抑制用支持体と、前記機能セラ
ミック層に接するように配置され、かつ金属箔、金属
線、あるいは薄膜導体から選ばれる金属導体からなる第
1の配線導体と、前記機能セラミック層に接するように
配置され、かつ厚膜導体からなる第2の配線導体とを備
えることを特徴とする。
【0008】また、本発明の多層セラミック基板は、前
記第1及び第2の配線導体は、前記収縮抑制用支持体に
接するように配置されることを特徴とする。
記第1及び第2の配線導体は、前記収縮抑制用支持体に
接するように配置されることを特徴とする。
【0009】また、本発明の多層セラミック基板は、前
記第1の配線導体をなす金属導体は、厚みが100μm
以下であることを特徴とする。
記第1の配線導体をなす金属導体は、厚みが100μm
以下であることを特徴とする。
【0010】また、本発明の多層セラミック基板は、前
記機能セラミック層の焼成前の前記第1の配線導体をな
す金属導体は、気孔率が10%以下であることを特徴と
する。
記機能セラミック層の焼成前の前記第1の配線導体をな
す金属導体は、気孔率が10%以下であることを特徴と
する。
【0011】また、本発明の多層セラミック基板は、第
1の前記配線導体をなす金属導体は、体積抵抗率が2.
5Ω・cm以下、表面粗さが5μm以下であることを特
徴とする。
1の前記配線導体をなす金属導体は、体積抵抗率が2.
5Ω・cm以下、表面粗さが5μm以下であることを特
徴とする。
【0012】また、本発明の多層セラミック基板は、前
記第1の配線導体をなす金属導体は、前記機能セラミッ
ク層に対する平面方向の面積占有率が90%以下である
ことを特徴とする。
記第1の配線導体をなす金属導体は、前記機能セラミッ
ク層に対する平面方向の面積占有率が90%以下である
ことを特徴とする。
【0013】また、本発明の多層セラミック基板は、前
記第2の配線導体は導電性ペーストからなり、前記機能
セラミック層の焼成後の前記第2の配線導体の厚みが3
0μm以下であることを特徴とする。
記第2の配線導体は導電性ペーストからなり、前記機能
セラミック層の焼成後の前記第2の配線導体の厚みが3
0μm以下であることを特徴とする。
【0014】また、本発明の多層セラミック基板は、前
記第1の配線導体は、少なくともインダクタ電極あるい
は信号ラインとして用いられることを特徴とする。
記第1の配線導体は、少なくともインダクタ電極あるい
は信号ラインとして用いられることを特徴とする。
【0015】また、本発明の多層セラミック基板は、前
記第2の配線導体は、少なくともグランド電極として用
いられることを特徴とする。
記第2の配線導体は、少なくともグランド電極として用
いられることを特徴とする。
【0016】また、本発明の多層セラミック基板の製造
方法は、セラミック機能材料を含む複数の機能グリーン
シートと、前記機能グリーンシートの特定のものに接す
るように配置され、かつ前記セラミック機能材料の焼成
温度では焼結しないセラミック材料を含む収縮抑制用グ
リーンシートと、前記機能グリーンシートに接するよう
に配置され、かつ金属箔、金属線、あるいは薄膜導体か
ら選ばれる金属導体からなる第1の配線導体と、前記機
能グリーンシートに接するように配置され、かつ導電性
ペーストからなる第2の配線導体とを備える生の複合積
層体を用意する工程と、前記生の複合積層体を焼成する
工程とを備えることを特徴とする。
方法は、セラミック機能材料を含む複数の機能グリーン
シートと、前記機能グリーンシートの特定のものに接す
るように配置され、かつ前記セラミック機能材料の焼成
温度では焼結しないセラミック材料を含む収縮抑制用グ
リーンシートと、前記機能グリーンシートに接するよう
に配置され、かつ金属箔、金属線、あるいは薄膜導体か
ら選ばれる金属導体からなる第1の配線導体と、前記機
能グリーンシートに接するように配置され、かつ導電性
ペーストからなる第2の配線導体とを備える生の複合積
層体を用意する工程と、前記生の複合積層体を焼成する
工程とを備えることを特徴とする。
【0017】本発明の多層セラミック基板及びその製造
方法によれば、機能セラミック層に接するように配置さ
れ、かつ金属箔、金属線、あるいは薄膜導体から選ばれ
る金属導体からなる第1の配線導体と、機能セラミック
層に接するように配置され、かつ厚膜導体からなる第2
の配線導体とを備えているため、占有面積が小さいパタ
ーンには金属箔、金属線、あるいは薄膜導体から選ばれ
る金属導体からなる第1の配線導体、占有面積が大きい
パターンには導電性ペーストからなる第2の配線導体
と、配線導体を構成する素材を使い分けることができ
る。
方法によれば、機能セラミック層に接するように配置さ
れ、かつ金属箔、金属線、あるいは薄膜導体から選ばれ
る金属導体からなる第1の配線導体と、機能セラミック
層に接するように配置され、かつ厚膜導体からなる第2
の配線導体とを備えているため、占有面積が小さいパタ
ーンには金属箔、金属線、あるいは薄膜導体から選ばれ
る金属導体からなる第1の配線導体、占有面積が大きい
パターンには導電性ペーストからなる第2の配線導体
と、配線導体を構成する素材を使い分けることができ
る。
【0018】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施例を説明する。図1は、本発明の多層セラミック基板
の一実施例を示す一部断面図である。多層セラミック基
板1は、セラミック機能材料を含む、複数の機能セラミ
ック層2を備えている。
施例を説明する。図1は、本発明の多層セラミック基板
の一実施例を示す一部断面図である。多層セラミック基
板1は、セラミック機能材料を含む、複数の機能セラミ
ック層2を備えている。
【0019】機能セラミック層2に含まれるセラミック
機能材料は、例えば、誘電性、絶縁性あるいは磁性のよ
うな特定の電気的機能を有しているもので、多層セラミ
ック基板1において必要とする電気的機能に応じて、そ
の材料が選ばれる。また、複数の機能セラミック層2
は、互いに同じセラミック機能材料をもって構成されて
いても、互いに異なるセラミック機能材料をもって構成
されていてもよい。
機能材料は、例えば、誘電性、絶縁性あるいは磁性のよ
うな特定の電気的機能を有しているもので、多層セラミ
ック基板1において必要とする電気的機能に応じて、そ
の材料が選ばれる。また、複数の機能セラミック層2
は、互いに同じセラミック機能材料をもって構成されて
いても、互いに異なるセラミック機能材料をもって構成
されていてもよい。
【0020】さらに、機能セラミック層2に含まれるセ
ラミック機能材料は、低温で焼結可能であることが好ま
しい。そのため、セラミック機能材料は、結晶化ガラ
ス、あるいはガラスとセラミックとの混合物を含むこと
が好ましい。
ラミック機能材料は、低温で焼結可能であることが好ま
しい。そのため、セラミック機能材料は、結晶化ガラ
ス、あるいはガラスとセラミックとの混合物を含むこと
が好ましい。
【0021】多層セラミック基板1は、シート状の収縮
抑制用支持体3を備えている。収縮抑制用支持体3は、
機能セラミック層2の特定のものに接するように配置さ
れる。この実施例では、機能セラミック層2のすべての
ものにそれぞれ接するように、収縮抑制用支持体3が配
置されている。
抑制用支持体3を備えている。収縮抑制用支持体3は、
機能セラミック層2の特定のものに接するように配置さ
れる。この実施例では、機能セラミック層2のすべての
ものにそれぞれ接するように、収縮抑制用支持体3が配
置されている。
【0022】収縮抑制用支持体3は、機能セラミック層
2に含まれるセラミック機能材料の焼成温度では焼結し
ないセラミック材料を含んでいる。このセラミック材料
としては、例えば、アルミナ、あるいはジルコニアが有
利に用いられる。
2に含まれるセラミック機能材料の焼成温度では焼結し
ないセラミック材料を含んでいる。このセラミック材料
としては、例えば、アルミナ、あるいはジルコニアが有
利に用いられる。
【0023】また、収縮抑制用支持体3には、この多層
セラミック基板1を得るための焼成の結果、機能セラミ
ック層2に含まれる材料、例えばガラスの一部が浸透し
ている。
セラミック基板1を得るための焼成の結果、機能セラミ
ック層2に含まれる材料、例えばガラスの一部が浸透し
ている。
【0024】さらに、多層セラミック基板1は、第1及
び第2の配線導体4,5を備えている。第1及び第2の
配線導体4,5は、特定の機能セラミック層2に接する
ように配置される。そして、占有面積が小さいパター
ン、例えばインダクタ電極あるいは信号ラインなどに
は、例えば銅、銀、金からなり、薄膜導体、金属箔、ま
たは金属線から選ばれる金属導体で構成された第1の配
線導体4、占有面積が大きいパターン、例えばグランド
電極などには、銅粉末、銀粉末、金粉末のような粉末状
導電成分及び有機ビヒクルを含む導電性ペーストからな
る厚膜導体で構成された第2の配線導体5が使用され
る。
び第2の配線導体4,5を備えている。第1及び第2の
配線導体4,5は、特定の機能セラミック層2に接する
ように配置される。そして、占有面積が小さいパター
ン、例えばインダクタ電極あるいは信号ラインなどに
は、例えば銅、銀、金からなり、薄膜導体、金属箔、ま
たは金属線から選ばれる金属導体で構成された第1の配
線導体4、占有面積が大きいパターン、例えばグランド
電極などには、銅粉末、銀粉末、金粉末のような粉末状
導電成分及び有機ビヒクルを含む導電性ペーストからな
る厚膜導体で構成された第2の配線導体5が使用され
る。
【0025】図2は、多層セラミック基板1を製造する
ための方法を説明するためのものであり、この製造方法
に含まれるいくつかの代表的な工程を図示している。
ための方法を説明するためのものであり、この製造方法
に含まれるいくつかの代表的な工程を図示している。
【0026】まず、図2(a)に示すように、機能セラ
ミック層2となるべき、セラミック機能材料を含む、機
能グリーンシート6が複数用意される。セラミック機能
材料としては、BaO−Al2O3−SiO2系低温焼結
セラミック機能材料が用いられる。なお、図2(a)で
は、機能グリーンシート6を1枚のシートとして図示し
ているが、通常、1つの機能セラミック層2は、複数の
機能グリーンシート6の積層体から与えられ、必要とす
る厚みが与えられる。
ミック層2となるべき、セラミック機能材料を含む、機
能グリーンシート6が複数用意される。セラミック機能
材料としては、BaO−Al2O3−SiO2系低温焼結
セラミック機能材料が用いられる。なお、図2(a)で
は、機能グリーンシート6を1枚のシートとして図示し
ているが、通常、1つの機能セラミック層2は、複数の
機能グリーンシート6の積層体から与えられ、必要とす
る厚みが与えられる。
【0027】次いで、図2(b)に示すように、機能グ
リーンシート6上に、収縮抑制用支持体3となるべき、
機能セラミック層2に含まれるセラミック機能材料の焼
成温度では焼結しないセラミック材料を含む、収縮抑制
用グリーンシート7が形成され、それによって、機能グ
リーンシート6と収縮抑制用グリーンシート7とを重ね
たグリーンシート複合体8が作製される。機能セラミッ
ク層2に含まれるセラミック機能材料の焼成温度では焼
結しないセラミック材料としては、たとえば、アルミナ
あるいはジルコニアが用いられる。また、収縮抑制用グ
リーンシート7についても、複数のシートからなる積層
体から構成されてもよい。なお、グリーンシート複合体
8は、収縮抑制用グリーンシート7上に、機能グリーン
シート6を形成することによって、作製されてもよい。
リーンシート6上に、収縮抑制用支持体3となるべき、
機能セラミック層2に含まれるセラミック機能材料の焼
成温度では焼結しないセラミック材料を含む、収縮抑制
用グリーンシート7が形成され、それによって、機能グ
リーンシート6と収縮抑制用グリーンシート7とを重ね
たグリーンシート複合体8が作製される。機能セラミッ
ク層2に含まれるセラミック機能材料の焼成温度では焼
結しないセラミック材料としては、たとえば、アルミナ
あるいはジルコニアが用いられる。また、収縮抑制用グ
リーンシート7についても、複数のシートからなる積層
体から構成されてもよい。なお、グリーンシート複合体
8は、収縮抑制用グリーンシート7上に、機能グリーン
シート6を形成することによって、作製されてもよい。
【0028】他方、図2(c)に示すように、基材フィ
ルム9上に、銅、銀あるいは金からなる金属箔である金
属導体10がめっきなどにより形成される。
ルム9上に、銅、銀あるいは金からなる金属箔である金
属導体10がめっきなどにより形成される。
【0029】次いで、図2(d)に示すように金属導体
10がエッチング処理されることによって、第1の配線
導体4が形成される。なお、エッチング処理としては、
ドライエッチング法、ウェットエッチング法のどちらで
も構わない。
10がエッチング処理されることによって、第1の配線
導体4が形成される。なお、エッチング処理としては、
ドライエッチング法、ウェットエッチング法のどちらで
も構わない。
【0030】次いで、図2(e)に示すように、グリー
ンシート複合体8の収縮抑制用グリーンシート7上に第
1の配線導体4が接するように基材フィルム9が重ねら
れ、その後、図2(f)に示すように、基材フィルム9
を剥がすことによって、第1の配線導体4が基材フィル
ム9からグリーンシート複合体8の主面上へ転写され
る。
ンシート複合体8の収縮抑制用グリーンシート7上に第
1の配線導体4が接するように基材フィルム9が重ねら
れ、その後、図2(f)に示すように、基材フィルム9
を剥がすことによって、第1の配線導体4が基材フィル
ム9からグリーンシート複合体8の主面上へ転写され
る。
【0031】次いで、図2(g)に示すように、グリー
ンシート複合体8の収縮抑制用グリーンシート7上に、
銅粉末、銀粉末、金粉末のような粉末状導電成分及び有
機ビヒクルを含む導電性ペーストを、所望のパターンを
もって印刷し、乾燥することによって、厚膜導体からな
る第2の配線導体5がグリーンシート複合体8の主面上
に形成される。
ンシート複合体8の収縮抑制用グリーンシート7上に、
銅粉末、銀粉末、金粉末のような粉末状導電成分及び有
機ビヒクルを含む導電性ペーストを、所望のパターンを
もって印刷し、乾燥することによって、厚膜導体からな
る第2の配線導体5がグリーンシート複合体8の主面上
に形成される。
【0032】なお、第2の配線導体5は、グリーンシー
ト複合体8の機能グリーンシート6の主面上へ転写ある
いは印刷されてもよい。
ト複合体8の機能グリーンシート6の主面上へ転写ある
いは印刷されてもよい。
【0033】次いで、複数のグリーンシート複合体8が
積み重ねられ、それによって、生の複合積層体が作製さ
れる。このとき、グリーンシート複合体7の特定のもの
の主面上には、図2(f)及び図2(g)に示すよう
に、第1及び第2の配線導体4,5が配置されている。
積み重ねられ、それによって、生の複合積層体が作製さ
れる。このとき、グリーンシート複合体7の特定のもの
の主面上には、図2(f)及び図2(g)に示すよう
に、第1及び第2の配線導体4,5が配置されている。
【0034】次いで、この生の複合積層体は、例えば、
N2−H2O雰囲気中において950℃の温度で焼成さ
れ、それによって図1に示すような多層セラミック基板
1が完成される。
N2−H2O雰囲気中において950℃の温度で焼成さ
れ、それによって図1に示すような多層セラミック基板
1が完成される。
【0035】このような焼成工程において、複数のグリ
ーンシート複合体8が積み重ねられた生の複合積層体を
焼成すると、機能グリーンシート6および第2の配線導
体5は焼結され、収縮抑制用グリーンシート7は、そこ
に含まれる機能グリーンシート6に含まれるセラミック
機能材料の焼成温度では焼結しないセラミック材料を未
焼結状態のまま残し、それ自身が焼結しないため、機能
グリーンシート6の主面方向での収縮を抑制する。この
ことから、第1及び第2の配線導体4,5に対して収縮
による悪影響が及ぼされることなく、第1及び第2の配
線導体4,5として金属導体、導体ペーストを問題なく
用いることができるようになる。
ーンシート複合体8が積み重ねられた生の複合積層体を
焼成すると、機能グリーンシート6および第2の配線導
体5は焼結され、収縮抑制用グリーンシート7は、そこ
に含まれる機能グリーンシート6に含まれるセラミック
機能材料の焼成温度では焼結しないセラミック材料を未
焼結状態のまま残し、それ自身が焼結しないため、機能
グリーンシート6の主面方向での収縮を抑制する。この
ことから、第1及び第2の配線導体4,5に対して収縮
による悪影響が及ぼされることなく、第1及び第2の配
線導体4,5として金属導体、導体ペーストを問題なく
用いることができるようになる。
【0036】上記の製造方法に基づき作製したの多層セ
ラミック基板の諸特性を測定し、その結果を表1に示
す。
ラミック基板の諸特性を測定し、その結果を表1に示
す。
【0037】
【表1】
【0038】表1の結果から以下のことがわかった。 (1)金属導体の気孔率は10%より多くなると、機能
セラミック層の焼成後の金属導体中にクラックが発生す
る。 (2)金属導体の機能セラミック層に対する平面方向の
面積占有率は90%よりも多くなると、機能セラミック
層の焼成後に基板の割れが発生する。 (3)厚膜導体をなす導電性ペーストの焼成後の厚みは
30μmよりも厚くなると、積層一体化時に密度差が生
じ、デラミネーションが発生する。好ましくは、0.5
〜20μmの厚みである。
セラミック層の焼成後の金属導体中にクラックが発生す
る。 (2)金属導体の機能セラミック層に対する平面方向の
面積占有率は90%よりも多くなると、機能セラミック
層の焼成後に基板の割れが発生する。 (3)厚膜導体をなす導電性ペーストの焼成後の厚みは
30μmよりも厚くなると、積層一体化時に密度差が生
じ、デラミネーションが発生する。好ましくは、0.5
〜20μmの厚みである。
【0039】以上から、表1で示す試料番号3〜6、1
0〜12のものが金属導体中のクラック発生、基板割
れ、厚膜導体のデラミネーションのいずれも発生せず好
ましいことがわかる。
0〜12のものが金属導体中のクラック発生、基板割
れ、厚膜導体のデラミネーションのいずれも発生せず好
ましいことがわかる。
【0040】なお、金属導体の厚みは100μmよりも
厚くなると、積層一体化時に隙間やクラックが発生する
ため、好ましくは、5〜35μmの厚みがよい。
厚くなると、積層一体化時に隙間やクラックが発生する
ため、好ましくは、5〜35μmの厚みがよい。
【0041】また、金属導体の体積抵抗値は2.5Ω・
cmよりも高くなると導体損失が増え、表面粗さは5μ
mよりも高くなると高周波の表皮伝播において損失が増
えてしまう。
cmよりも高くなると導体損失が増え、表面粗さは5μ
mよりも高くなると高周波の表皮伝播において損失が増
えてしまう。
【0042】以上、本発明を図示した実施例に関連して
説明したが、本発明の範囲において、その他、いくつか
の変形例が可能である。
説明したが、本発明の範囲において、その他、いくつか
の変形例が可能である。
【0043】例えば、図1に示した多層セラミック基板
1において、機能セラミック層2と収縮抑制用支持体3
との積層順序は、適宜変更することができる。2つ以上
の機能セラミック層2を互いに接するように積層しても
よく、また、図1に示した多層セラミック基板1におい
て、最も下の機能セラミック層2の下面に接するように
収縮抑制用支持体3がさらに積層されてもよい。
1において、機能セラミック層2と収縮抑制用支持体3
との積層順序は、適宜変更することができる。2つ以上
の機能セラミック層2を互いに接するように積層しても
よく、また、図1に示した多層セラミック基板1におい
て、最も下の機能セラミック層2の下面に接するように
収縮抑制用支持体3がさらに積層されてもよい。
【0044】また、上述のように、機能セラミック層2
と収縮抑制用支持体3との積層順序は、適宜変更するこ
とができるため、第1及び第2の配線導体4,5を配置
する位置も任意に変更することができる。図1では、第
1及び第2の配線導体4,5が機能セラミック層2と収
縮抑制用支持体3との間に挟まれるように配置された
が、例えば、2つ以上の機能セラミック層2が互いに接
するように積層される場合、これら機能セラミック層2
間の界面に沿って第1及び第2の配線導体4,5が配置
されてもよい。また、多層セラミック基板1の外表面上
に第1及び第2の配線導体4,5が配置されてもよい。
と収縮抑制用支持体3との積層順序は、適宜変更するこ
とができるため、第1及び第2の配線導体4,5を配置
する位置も任意に変更することができる。図1では、第
1及び第2の配線導体4,5が機能セラミック層2と収
縮抑制用支持体3との間に挟まれるように配置された
が、例えば、2つ以上の機能セラミック層2が互いに接
するように積層される場合、これら機能セラミック層2
間の界面に沿って第1及び第2の配線導体4,5が配置
されてもよい。また、多層セラミック基板1の外表面上
に第1及び第2の配線導体4,5が配置されてもよい。
【0045】また、上述のように、第1の配線導体4
は、金属箔をエッチング処理により所望の回路パターン
を与えるようにパターニングして得られた金属導体だけ
でなく、金属箔をレーザーやパンチングなどの手段によ
り打ち抜いて形成された金属導体によって構成されても
よい。
は、金属箔をエッチング処理により所望の回路パターン
を与えるようにパターニングして得られた金属導体だけ
でなく、金属箔をレーザーやパンチングなどの手段によ
り打ち抜いて形成された金属導体によって構成されても
よい。
【0046】また、第1の配線導体4は、金属線を所望
の回路パターンになるように折曲げ加工することにより
得られた金属導体によって構成されてもよい。さらに、
第1の配線導体4は、アディティブめっき法、蒸着など
で形成された薄膜導体である金属導体によって構成され
てもよい。
の回路パターンになるように折曲げ加工することにより
得られた金属導体によって構成されてもよい。さらに、
第1の配線導体4は、アディティブめっき法、蒸着など
で形成された薄膜導体である金属導体によって構成され
てもよい。
【0047】また、多層セラミック基板の製造方法に関
して、複数の機能グリーンシートを用意した後、これと
収縮抑制用グリーンシートとを重ねる前に、機能グリー
ンシートの特定のものの一方の主面上に第1及び第2の
配線導体を配置するようにしてもよい。この場合、第1
及び第2の配線導体を配置した後、機能グリーンシート
と収縮抑制用グリーンシートとを重ねたグリーンシート
複合体が作製されるが、この工程において、収縮抑制用
グリーンシートは、機能グリーンシートの第1及び第2
の配線導体が配置された側の主面上に重ねられても、第
1及び第2の配線導体が配置されない側の主面上に重ね
られてもよい。そして、この変形例においても、生の複
合積層体を得るため、最終的には、複数のグリーンシー
ト複合体が積み重ねられる。
して、複数の機能グリーンシートを用意した後、これと
収縮抑制用グリーンシートとを重ねる前に、機能グリー
ンシートの特定のものの一方の主面上に第1及び第2の
配線導体を配置するようにしてもよい。この場合、第1
及び第2の配線導体を配置した後、機能グリーンシート
と収縮抑制用グリーンシートとを重ねたグリーンシート
複合体が作製されるが、この工程において、収縮抑制用
グリーンシートは、機能グリーンシートの第1及び第2
の配線導体が配置された側の主面上に重ねられても、第
1及び第2の配線導体が配置されない側の主面上に重ね
られてもよい。そして、この変形例においても、生の複
合積層体を得るため、最終的には、複数のグリーンシー
ト複合体が積み重ねられる。
【0048】また、生の複合積層体において、収縮抑制
用グリーンシートが、その積層方向における両端部にの
み配置し、焼成工程の後、これら収縮抑制用グリーンシ
ートからなる収縮抑制用支持体を除去するようにしても
よい。
用グリーンシートが、その積層方向における両端部にの
み配置し、焼成工程の後、これら収縮抑制用グリーンシ
ートからなる収縮抑制用支持体を除去するようにしても
よい。
【0049】
【発明の効果】本発明の多層セラミック基板及びその製
造方法によれば、機能セラミック層に接するように配置
され、かつ金属導体からなる第1の配線導体と、機能セ
ラミック層に接するように配置され、かつ導電性ペース
トからなる第2の配線導体とを備えているため、占有面
積が小さいパターンには金属導体からなる第1の配線導
体、占有面積が大きいパターンには導電性ペーストから
なる第2の配線導体と、配線導体を構成する素材を使い
分けることができる。
造方法によれば、機能セラミック層に接するように配置
され、かつ金属導体からなる第1の配線導体と、機能セ
ラミック層に接するように配置され、かつ導電性ペース
トからなる第2の配線導体とを備えているため、占有面
積が小さいパターンには金属導体からなる第1の配線導
体、占有面積が大きいパターンには導電性ペーストから
なる第2の配線導体と、配線導体を構成する素材を使い
分けることができる。
【0050】したがって、信頼性を高くし、不具合を抑
えることを実現できる配線導体を備える多層セラミック
基板及びその製造方法を提供することができる。
えることを実現できる配線導体を備える多層セラミック
基板及びその製造方法を提供することができる。
【図1】本発明の多層セラミック基板の一実施例を示す
要部断面図である。
要部断面図である。
【図2】図1に示した多層セラミック基板を製造するた
めの方法に含まれるいくつかの典型的な工程を説明する
ための断面図である。
めの方法に含まれるいくつかの典型的な工程を説明する
ための断面図である。
1 多層セラミック基板 2 機能セラミック層 3 収縮抑制用支持体 4 第1の配線導体 5 第2の配線導体 6 機能グリーンシート 7 収縮抑制用グリーンシート 8 グリーンシート複合体 9 基材フィルム 10 金属導体
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 4G055 AA08 AC09 BA14 5E346 AA24 AA38 BB01 CC18 CC32 CC38 CC39 DD02 DD12 DD32 DD34 EE24 GG03 GG06 HH07 HH33
Claims (10)
- 【請求項1】 セラミック機能材料を含む複数の機能セ
ラミック層と、 前記機能セラミック層の特定のものに接するように配置
され、前記セラミック機能材料の焼成温度では焼結しな
いセラミック材料を含むシート状の収縮抑制用支持体
と、 前記機能セラミック層に接するように配置され、かつ金
属箔、金属線、あるいは薄膜導体から選ばれる金属導体
からなる第1の配線導体と、 前記機能セラミック層に接するように配置され、かつ厚
膜導体からなる第2の配線導体とを備えることを特徴と
する多層セラミック基板。 - 【請求項2】 前記第1及び第2の配線導体は、前記収
縮抑制用支持体に接するように配置されることを特徴と
する請求項1に記載の多層セラミック基板。 - 【請求項3】 前記第1の配線導体をなす金属導体は、
厚みが100μm以下であることを特徴とする請求項1
または請求項2に記載の多層セラミック基板。 - 【請求項4】 前記機能セラミック層の焼成前の前記第
1の配線導体をなす金属導体は、気孔率が10%以下で
あることを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか
に記載の多層セラミック基板。 - 【請求項5】 第1の前記配線導体をなす金属導体は、
体積抵抗率が2.5Ω・cm以下、表面粗さが5μm以
下であることを特徴とする請求項1乃至請求項4のいず
れかに記載の多層セラミック基板。 - 【請求項6】 前記第1の配線導体をなす金属導体は、
前記機能セラミック層に対する平面方向の面積占有率が
90%以下であることを特徴とする請求項1乃至請求項
5のいずれかに記載の多層セラミック基板。 - 【請求項7】 前記第2の配線導体は導電性ペーストか
らなり、前記機能セラミック層の焼成後の前記第2の配
線導体の厚みが30μm以下であることを特徴とする請
求項1乃至請求項6のいずれかに記載の多層セラミック
基板。 - 【請求項8】 前記第1の配線導体は、少なくともイン
ダクタ電極あるいは信号ラインとして用いられる請求項
1乃至請求項7のいずれかに記載の多層セラミック基
板。 - 【請求項9】 前記第2の配線導体は、少なくともグラ
ンド電極として用いられる請求項1乃至請求項8のいず
れかに記載の多層セラミック基板。 - 【請求項10】 セラミック機能材料を含む複数の機能
グリーンシートと、前記機能グリーンシートの特定のも
のに接するように配置され、かつ前記セラミック機能材
料の焼成温度では焼結しないセラミック材料を含む収縮
抑制用グリーンシートと、前記機能グリーンシートに接
するように配置され、かつ金属箔、金属線、あるいは薄
膜導体から選ばれる金属導体からなる第1の配線導体
と、前記機能グリーンシートに接するように配置され、
かつ導電性ペーストからなる第2の配線導体とを備える
生の複合積層体を用意する工程と、 前記生の複合積層体を焼成する工程とを備えることを特
徴とする多層セラミック基板の製造方法。
Priority Applications (3)
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JP2002002577A JP2002368422A (ja) | 2001-04-04 | 2002-01-09 | 多層セラミック基板及びその製造方法 |
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8386047B2 (en) | 2010-07-15 | 2013-02-26 | Advanced Bionics | Implantable hermetic feedthrough |
US8552311B2 (en) | 2010-07-15 | 2013-10-08 | Advanced Bionics | Electrical feedthrough assembly |
CN108763608A (zh) * | 2018-03-23 | 2018-11-06 | 江苏理工学院 | 一种基于发生函数法的复合材料层合板可靠性评估方法 |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3656484B2 (ja) * | 1999-03-03 | 2005-06-08 | 株式会社村田製作所 | セラミック多層基板の製造方法 |
JP3633435B2 (ja) * | 2000-04-10 | 2005-03-30 | 株式会社村田製作所 | 多層セラミック基板、その製造方法および設計方法、ならびに電子装置 |
JP2002368422A (ja) * | 2001-04-04 | 2002-12-20 | Murata Mfg Co Ltd | 多層セラミック基板及びその製造方法 |
CN1533618A (zh) * | 2002-03-14 | 2004-09-29 | ���µ�����ҵ��ʽ���� | 制造聚合物电解质型燃料电池的方法和聚合物电解质膜型燃料电池 |
JP2004186665A (ja) * | 2002-10-09 | 2004-07-02 | Murata Mfg Co Ltd | 多層構造部品およびその製造方法 |
JP2005268692A (ja) * | 2004-03-22 | 2005-09-29 | Mitsubishi Electric Corp | 多層基板の製造方法 |
US20060162844A1 (en) * | 2005-01-26 | 2006-07-27 | Needes Christopher R | Multi-component LTCC substrate with a core of high dielectric constant ceramic material and processes for the development thereof |
CN101371352B (zh) * | 2006-02-14 | 2010-11-10 | 株式会社村田制作所 | 多层陶瓷电子部件和多层陶瓷基片以及多层陶瓷电子部件的制造方法 |
JP2009064909A (ja) * | 2007-09-05 | 2009-03-26 | Alps Electric Co Ltd | 多層セラミック配線板およびその製造方法 |
JP5539902B2 (ja) * | 2008-01-23 | 2014-07-02 | エプコス アクチエンゲゼルシャフト | 圧電多層構成要素 |
CN101978519B (zh) * | 2008-01-23 | 2013-12-18 | 埃普科斯股份有限公司 | 压电多层部件 |
CN101978520B (zh) | 2008-01-23 | 2014-01-29 | 埃普科斯股份有限公司 | 压电多层部件 |
WO2011122407A1 (ja) * | 2010-03-30 | 2011-10-06 | 株式会社村田製作所 | 金属ベース基板 |
SG11201601437UA (en) * | 2013-08-29 | 2016-03-30 | Alpha Metals | Composite and multilayered silver films for joining electrical and mechanical components |
JP6728859B2 (ja) * | 2016-03-25 | 2020-07-22 | 日立金属株式会社 | セラミック基板およびその製造方法 |
Family Cites Families (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62188399A (ja) * | 1986-02-14 | 1987-08-17 | 日本電気株式会社 | セラミツク配線基板 |
US4871608A (en) * | 1986-12-10 | 1989-10-03 | Ngk Spark Plug Co., Ltd. | High-density wiring multilayered substrate |
US5102720A (en) * | 1989-09-22 | 1992-04-07 | Cornell Research Foundation, Inc. | Co-fired multilayer ceramic tapes that exhibit constrained sintering |
US5176772A (en) * | 1989-10-05 | 1993-01-05 | Asahi Glass Company Ltd. | Process for fabricating a multilayer ceramic circuit board |
US5085720A (en) * | 1990-01-18 | 1992-02-04 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Method for reducing shrinkage during firing of green ceramic bodies |
US5254191A (en) * | 1990-10-04 | 1993-10-19 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Method for reducing shrinkage during firing of ceramic bodies |
JP2551224B2 (ja) * | 1990-10-17 | 1996-11-06 | 日本電気株式会社 | 多層配線基板および多層配線基板の製造方法 |
JP2966972B2 (ja) * | 1991-07-05 | 1999-10-25 | 株式会社日立製作所 | 半導体チップキャリアとそれを実装したモジュール及びそれを組み込んだ電子機器 |
JP2610375B2 (ja) * | 1992-02-27 | 1997-05-14 | 富士通株式会社 | 多層セラミック基板の製造方法 |
JPH0645759A (ja) * | 1992-07-22 | 1994-02-18 | Fujitsu Ltd | 多層セラミック回路基板の製造方法 |
JP3351043B2 (ja) | 1993-09-10 | 2002-11-25 | 松下電器産業株式会社 | 多層セラミック基板の製造方法 |
JPH0855648A (ja) * | 1994-08-12 | 1996-02-27 | Shinano Polymer Kk | エラストマーコネクター |
US5601672A (en) * | 1994-11-01 | 1997-02-11 | International Business Machines Corporation | Method for making ceramic substrates from thin and thick ceramic greensheets |
JPH08204314A (ja) | 1995-01-20 | 1996-08-09 | Sumitomo Metal Mining Co Ltd | ガラスセラミック基板 |
US5858145A (en) * | 1996-10-15 | 1999-01-12 | Sarnoff Corporation | Method to control cavity dimensions of fired multilayer circuit boards on a support |
US6241838B1 (en) * | 1997-09-08 | 2001-06-05 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Method of producing a multi-layer ceramic substrate |
JP3601671B2 (ja) * | 1998-04-28 | 2004-12-15 | 株式会社村田製作所 | 複合積層体の製造方法 |
JP4204150B2 (ja) * | 1998-10-16 | 2009-01-07 | パナソニック株式会社 | 多層回路基板 |
JP3656484B2 (ja) * | 1999-03-03 | 2005-06-08 | 株式会社村田製作所 | セラミック多層基板の製造方法 |
US6139666A (en) * | 1999-05-26 | 2000-10-31 | International Business Machines Corporation | Method for producing ceramic surfaces with easily removable contact sheets |
JP3601679B2 (ja) * | 1999-07-27 | 2004-12-15 | 株式会社村田製作所 | 複合積層体の製造方法 |
JP3666321B2 (ja) * | 1999-10-21 | 2005-06-29 | 株式会社村田製作所 | 多層セラミック基板およびその製造方法 |
JP3554962B2 (ja) * | 1999-10-28 | 2004-08-18 | 株式会社村田製作所 | 複合積層体およびその製造方法 |
JP3633435B2 (ja) * | 2000-04-10 | 2005-03-30 | 株式会社村田製作所 | 多層セラミック基板、その製造方法および設計方法、ならびに電子装置 |
JP2002368422A (ja) * | 2001-04-04 | 2002-12-20 | Murata Mfg Co Ltd | 多層セラミック基板及びその製造方法 |
DE60220687T2 (de) * | 2001-10-01 | 2007-12-27 | Heraeus, Inc. | Ungesintertes niedertemperaturglaskeramikband für elektronische mikrobauteile, verfahren zur herstellung und verwendung |
-
2002
- 2002-01-09 JP JP2002002577A patent/JP2002368422A/ja active Pending
- 2002-04-04 US US10/116,646 patent/US6891109B2/en not_active Expired - Lifetime
-
2005
- 2005-02-03 US US11/050,519 patent/US20050126682A1/en not_active Abandoned
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8386047B2 (en) | 2010-07-15 | 2013-02-26 | Advanced Bionics | Implantable hermetic feedthrough |
US8552311B2 (en) | 2010-07-15 | 2013-10-08 | Advanced Bionics | Electrical feedthrough assembly |
CN108763608A (zh) * | 2018-03-23 | 2018-11-06 | 江苏理工学院 | 一种基于发生函数法的复合材料层合板可靠性评估方法 |
CN108763608B (zh) * | 2018-03-23 | 2022-05-13 | 江苏理工学院 | 一种基于发生函数法的复合材料层合板可靠性评估方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US6891109B2 (en) | 2005-05-10 |
US20050126682A1 (en) | 2005-06-16 |
US20020166694A1 (en) | 2002-11-14 |
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