JP2002303845A - パネル内配線の欠陥をテストするための液晶表示装置 - Google Patents
パネル内配線の欠陥をテストするための液晶表示装置Info
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 パネル内のデータラインまたはゲートライン
或いは共通電圧ラインを、パネルの外部に設けたジグザ
グ形態の配線を介して各パッドに連結することによっ
て、信号の印加時、配線の短絡及びショートを検出でき
る、パネル内配線の欠陥をテストするための液晶表示装
置を提供する。 【解決手段】 本発明に係るパネル内配線の欠陥をテス
トするための液晶表示装置は、多数個のゲートラインと
多数個のデータラインがマトリックス形態で構成され、
かつ、ゲートラインとデータラインが交差する部分にＴ
ＦＴトランジスタを具備したＴＦＴアレイ部と、多数個
のデータラインに共通に連結され、データラインを駆動
する信号を受信するデータパッド部と、データパッド部
とデータラインとの間にそれぞれ接続され、データライ
ン各々の断線及びショートを検出するデータライン欠陥
検出用配線部とを備える。
或いは共通電圧ラインを、パネルの外部に設けたジグザ
グ形態の配線を介して各パッドに連結することによっ
て、信号の印加時、配線の短絡及びショートを検出でき
る、パネル内配線の欠陥をテストするための液晶表示装
置を提供する。 【解決手段】 本発明に係るパネル内配線の欠陥をテス
トするための液晶表示装置は、多数個のゲートラインと
多数個のデータラインがマトリックス形態で構成され、
かつ、ゲートラインとデータラインが交差する部分にＴ
ＦＴトランジスタを具備したＴＦＴアレイ部と、多数個
のデータラインに共通に連結され、データラインを駆動
する信号を受信するデータパッド部と、データパッド部
とデータラインとの間にそれぞれ接続され、データライ
ン各々の断線及びショートを検出するデータライン欠陥
検出用配線部とを備える。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示装置に関
し、特にパネル内配線の欠陥をテストできる液晶表示装
置に関するものである。
し、特にパネル内配線の欠陥をテストできる液晶表示装
置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来の液晶表示装置の構成について簡単
に説明する。図１、図２、及び図３は、一般的な液晶表
示装置のモジュール構成を示す図である。図１に示され
たように、液晶表示装置は、グラフィック信号をパネル
１に供給するＸ−ＰＣＢ２と、ＴＦＴ駆動信号を印加す
るＹ−ＰＣＢ４と、各ＰＣＢを連結するフレキシブルプ
リント回路（ＦＰＣ：Ｆｌｅｘｉｂｌｅ Ｐｒｉｎｔｅ
ｄＣｉｒｃｕｉｔ）７とで構成されている。そして、図
２に示すように、ＦＰＣ７を除去した方式が開発され、
図３に示すように、Ｙ−ＰＣＢ４を除去し、パネル１内
に配線を介してゲート駆動集積回路を駆動するのに必要
な各種信号を印加する方式が開発された。ここで、各モ
ジュールを構成するためのパネルの構造は、お互いに異
なる形態を有し、ゲート駆動集積回路を駆動するための
配線がパネルのアレイ基板上部に形成される。
に説明する。図１、図２、及び図３は、一般的な液晶表
示装置のモジュール構成を示す図である。図１に示され
たように、液晶表示装置は、グラフィック信号をパネル
１に供給するＸ−ＰＣＢ２と、ＴＦＴ駆動信号を印加す
るＹ−ＰＣＢ４と、各ＰＣＢを連結するフレキシブルプ
リント回路（ＦＰＣ：Ｆｌｅｘｉｂｌｅ Ｐｒｉｎｔｅ
ｄＣｉｒｃｕｉｔ）７とで構成されている。そして、図
２に示すように、ＦＰＣ７を除去した方式が開発され、
図３に示すように、Ｙ−ＰＣＢ４を除去し、パネル１内
に配線を介してゲート駆動集積回路を駆動するのに必要
な各種信号を印加する方式が開発された。ここで、各モ
ジュールを構成するためのパネルの構造は、お互いに異
なる形態を有し、ゲート駆動集積回路を駆動するための
配線がパネルのアレイ基板上部に形成される。
【０００３】図４は、従来のパネルテスト方法を説明す
るための液晶表示装置の構成図である。図４に示したよ
うなパネル１０のテスト方法では、データラインＤ１、
Ｄ２…Ｄｎのうち奇数番目のラインをデータ奇数パッド
１７ａに連結させ、前記データラインＤ１、Ｄ２…Ｄｎ
のうち偶数番目のラインをデータ偶数パッド１７ｂに連
結させる。同じく、ゲートラインＧ１、Ｇ２…Ｇｎのう
ち奇数番目のラインをゲート奇数パッド１５ａに、偶数
番目のラインをゲート偶数パッド１５ｂにそれぞれ連結
させる。また、Ｖｃｏｍパッド１３は、パネル上のＴＦ
Ｔアレイ１１のすべての画素に連結されており、パネル
１０の上端には、その端部に配線２０が形成されてい
る。前述したように、形成された５個のパッドに信号を
印加し、単位画素が正常に動作するか否かをテストする
ことになる。すなわち、ゲート奇数パッド１５ａ、ゲー
ト偶数パッド１５ｂ、データ奇数パッド１７ａ、データ
偶数パッド１７ｂ及びＶｃｏｍパッド１３に電圧を印加
した後、それぞれのライン及び画素間のショートをテス
トすることができる。
るための液晶表示装置の構成図である。図４に示したよ
うなパネル１０のテスト方法では、データラインＤ１、
Ｄ２…Ｄｎのうち奇数番目のラインをデータ奇数パッド
１７ａに連結させ、前記データラインＤ１、Ｄ２…Ｄｎ
のうち偶数番目のラインをデータ偶数パッド１７ｂに連
結させる。同じく、ゲートラインＧ１、Ｇ２…Ｇｎのう
ち奇数番目のラインをゲート奇数パッド１５ａに、偶数
番目のラインをゲート偶数パッド１５ｂにそれぞれ連結
させる。また、Ｖｃｏｍパッド１３は、パネル上のＴＦ
Ｔアレイ１１のすべての画素に連結されており、パネル
１０の上端には、その端部に配線２０が形成されてい
る。前述したように、形成された５個のパッドに信号を
印加し、単位画素が正常に動作するか否かをテストする
ことになる。すなわち、ゲート奇数パッド１５ａ、ゲー
ト偶数パッド１５ｂ、データ奇数パッド１７ａ、データ
偶数パッド１７ｂ及びＶｃｏｍパッド１３に電圧を印加
した後、それぞれのライン及び画素間のショートをテス
トすることができる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来技
術による液晶表示装置では、パネル上部に形成されてい
る配線の場合、断線やショートなどを確認することがで
きず、配線の不良可否を検査するために、別途のテスト
装備を備えなければならないという不都合がある。した
がって、本発明は、前記問題点を解決するためになされ
たもので、本発明の目的は、パネル内のデータラインま
たはゲートライン或いは共通電圧ラインを、パネルの外
部に設けたジグザグ形態の配線を介して各パッドに連結
することによって、信号の印加時、配線の断線及びショ
ートを検出できる、パネル内配線の欠陥をテストするた
めの液晶表示装置を提供することである。
術による液晶表示装置では、パネル上部に形成されてい
る配線の場合、断線やショートなどを確認することがで
きず、配線の不良可否を検査するために、別途のテスト
装備を備えなければならないという不都合がある。した
がって、本発明は、前記問題点を解決するためになされ
たもので、本発明の目的は、パネル内のデータラインま
たはゲートライン或いは共通電圧ラインを、パネルの外
部に設けたジグザグ形態の配線を介して各パッドに連結
することによって、信号の印加時、配線の断線及びショ
ートを検出できる、パネル内配線の欠陥をテストするた
めの液晶表示装置を提供することである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本願発明の一態様に係るパネル内配線の欠陥をテス
トするための液晶表示装置は、多数個のゲートラインと
多数個のデータラインがマトリックス形態で構成され、
かつ、ゲートラインとデータラインが交差する部分にＴ
ＦＴトランジスタを具備したＴＦＴアレイ部と、多数個
のデータラインに共通に連結され、データラインを駆動
する信号を受信するデータパッド部と、データパッド部
とデータラインとの間にそれぞれ接続され、データライ
ン各々の断線及びショートを検出するデータライン欠陥
検出用配線部とを備えることを特徴とする。また、デー
タパッド部は、多数個のデータラインのうち奇数番目の
データラインに共通に連結され、奇数番目のデータライ
ンを駆動する信号を受信する第１データパッド部と、多
数個のデータラインのうち偶数番目のデータラインに共
通に連結され、偶数番目のデータラインを駆動する信号
を受信する第２データパッド部とを備える。また、デー
タライン欠陥検出用配線部は、第１データパッド部と奇
数番目のデータラインとの間にそれぞれ接続され、奇数
番目のデータライン各々の断線及びショートを検出する
第１データライン欠陥検出用配線部と、第２データパッ
ド部と偶数番目のデータラインとの間にそれぞれ接続さ
れ、偶数番目のデータライン各々の断線及びショートを
検出する第２データライン欠陥検出用配線部とを備え
る。また、第１及び第２データライン欠陥検出用配線部
は、ジグザグ形態を有する。
に、本願発明の一態様に係るパネル内配線の欠陥をテス
トするための液晶表示装置は、多数個のゲートラインと
多数個のデータラインがマトリックス形態で構成され、
かつ、ゲートラインとデータラインが交差する部分にＴ
ＦＴトランジスタを具備したＴＦＴアレイ部と、多数個
のデータラインに共通に連結され、データラインを駆動
する信号を受信するデータパッド部と、データパッド部
とデータラインとの間にそれぞれ接続され、データライ
ン各々の断線及びショートを検出するデータライン欠陥
検出用配線部とを備えることを特徴とする。また、デー
タパッド部は、多数個のデータラインのうち奇数番目の
データラインに共通に連結され、奇数番目のデータライ
ンを駆動する信号を受信する第１データパッド部と、多
数個のデータラインのうち偶数番目のデータラインに共
通に連結され、偶数番目のデータラインを駆動する信号
を受信する第２データパッド部とを備える。また、デー
タライン欠陥検出用配線部は、第１データパッド部と奇
数番目のデータラインとの間にそれぞれ接続され、奇数
番目のデータライン各々の断線及びショートを検出する
第１データライン欠陥検出用配線部と、第２データパッ
ド部と偶数番目のデータラインとの間にそれぞれ接続さ
れ、偶数番目のデータライン各々の断線及びショートを
検出する第２データライン欠陥検出用配線部とを備え
る。また、第１及び第２データライン欠陥検出用配線部
は、ジグザグ形態を有する。
【０００６】本願発明の他の態様に係るパネル内配線の
欠陥をテストするための液晶表示装置は、多数個のゲー
トラインと多数個のデータラインがマトリックス形態で
構成され、かつ、ゲートラインとデータラインが交差す
る部分にＴＦＴトランジスタを具備したＴＦＴアレイ部
と、多数個のゲートラインに共通に連結され、ゲートラ
インを駆動する信号を受信するゲートパッド部と、ゲー
トパッド部とゲートラインとの間にそれぞれ接続され、
ゲートライン各々の断線及びショートを検出するゲート
ライン欠陥検出用配線部とを備える。また、ゲートパッ
ド部は、多数個のゲートラインのうち奇数番目のゲート
ラインに共通に連結され、奇数番目のゲートラインを駆
動する信号を受信する第１ゲートパッド部と、多数個の
ゲートラインのうち偶数番目のゲートラインに共通に連
結され、偶数番目のゲートラインを駆動する信号を受信
する第２ゲートパッド部とを備えることを特徴とする。
また、ゲートライン欠陥検出用配線部は、第１ゲートパ
ッド部と奇数番目のゲートラインとの間にそれぞれ接続
され、奇数番目のゲートライン各々の断線及びショート
を検出する第１ゲートライン欠陥検出用配線部と、第２
ゲートパッド部と偶数番目のゲートラインとの間にそれ
ぞれ接続され、偶数番目のゲートライン各々の断線及び
ショートを検出する第２ゲートライン欠陥検出用配線部
とを備える。また、第１及び第２ゲートライン欠陥検出
用配線部は、ジグザグ形態を有する。
欠陥をテストするための液晶表示装置は、多数個のゲー
トラインと多数個のデータラインがマトリックス形態で
構成され、かつ、ゲートラインとデータラインが交差す
る部分にＴＦＴトランジスタを具備したＴＦＴアレイ部
と、多数個のゲートラインに共通に連結され、ゲートラ
インを駆動する信号を受信するゲートパッド部と、ゲー
トパッド部とゲートラインとの間にそれぞれ接続され、
ゲートライン各々の断線及びショートを検出するゲート
ライン欠陥検出用配線部とを備える。また、ゲートパッ
ド部は、多数個のゲートラインのうち奇数番目のゲート
ラインに共通に連結され、奇数番目のゲートラインを駆
動する信号を受信する第１ゲートパッド部と、多数個の
ゲートラインのうち偶数番目のゲートラインに共通に連
結され、偶数番目のゲートラインを駆動する信号を受信
する第２ゲートパッド部とを備えることを特徴とする。
また、ゲートライン欠陥検出用配線部は、第１ゲートパ
ッド部と奇数番目のゲートラインとの間にそれぞれ接続
され、奇数番目のゲートライン各々の断線及びショート
を検出する第１ゲートライン欠陥検出用配線部と、第２
ゲートパッド部と偶数番目のゲートラインとの間にそれ
ぞれ接続され、偶数番目のゲートライン各々の断線及び
ショートを検出する第２ゲートライン欠陥検出用配線部
とを備える。また、第１及び第２ゲートライン欠陥検出
用配線部は、ジグザグ形態を有する。
【０００７】本願発明のさらに他の態様に係るパネル内
配線の欠陥をテストするための液晶表示装置は、多数個
のゲートラインと多数個のデータラインがマトリックス
形態で構成され、かつ、ゲートラインとデータラインが
交差する各画素にＴＦＴトランジスタを具備したＴＦＴ
アレイ部と、各画素に連結した共通電圧ラインに共通電
圧を印加する共通電圧パッド部と、共通電圧ラインと共
通電圧パッド部との間にそれぞれ接続され、共通電圧ラ
インの断線及びショートを検出する共通電圧ライン欠陥
検出用配線部とを備えることを特徴とする。また、共通
電圧パッド部は、多数個の共通電圧ラインのうち奇数番
目の共通電圧ラインに共通に連結され、奇数番目の共通
電圧ラインを駆動する信号を受信する第１共通電圧パッ
ド部と、多数個の共通電圧ラインのうち偶数番目の共通
電圧ラインに共通に連結され、偶数番目の共通電圧ライ
ンを駆動する信号を受信する第２共通電圧パッド部とを
備える。また、共通電圧ライン欠陥検出用配線部は、第
１共通電圧パッド部と奇数番目の共通電圧ラインとの間
にそれぞれ接続され、奇数番目の共通電圧ライン各々の
断線及びショートを検出する第１共通電圧ライン欠陥検
出用配線部と、第２共通電圧パッド部と偶数番目の共通
電圧ラインとの間にそれぞれ接続され、偶数番目の共通
電圧ライン各々の断線及びショートを検出する第２共通
電圧ライン欠陥検出用配線部とを備える。また、第１及
び第２共通電圧ライン欠陥検出用配線部は、ジグザグ形
態を有する。本発明によれば、既存のパネルテスト方法
を用いて、パネル内に形成された配線の不良をも検査す
ることができるので、パネルの信頼性をより一層向上さ
せることができる。
配線の欠陥をテストするための液晶表示装置は、多数個
のゲートラインと多数個のデータラインがマトリックス
形態で構成され、かつ、ゲートラインとデータラインが
交差する各画素にＴＦＴトランジスタを具備したＴＦＴ
アレイ部と、各画素に連結した共通電圧ラインに共通電
圧を印加する共通電圧パッド部と、共通電圧ラインと共
通電圧パッド部との間にそれぞれ接続され、共通電圧ラ
インの断線及びショートを検出する共通電圧ライン欠陥
検出用配線部とを備えることを特徴とする。また、共通
電圧パッド部は、多数個の共通電圧ラインのうち奇数番
目の共通電圧ラインに共通に連結され、奇数番目の共通
電圧ラインを駆動する信号を受信する第１共通電圧パッ
ド部と、多数個の共通電圧ラインのうち偶数番目の共通
電圧ラインに共通に連結され、偶数番目の共通電圧ライ
ンを駆動する信号を受信する第２共通電圧パッド部とを
備える。また、共通電圧ライン欠陥検出用配線部は、第
１共通電圧パッド部と奇数番目の共通電圧ラインとの間
にそれぞれ接続され、奇数番目の共通電圧ライン各々の
断線及びショートを検出する第１共通電圧ライン欠陥検
出用配線部と、第２共通電圧パッド部と偶数番目の共通
電圧ラインとの間にそれぞれ接続され、偶数番目の共通
電圧ライン各々の断線及びショートを検出する第２共通
電圧ライン欠陥検出用配線部とを備える。また、第１及
び第２共通電圧ライン欠陥検出用配線部は、ジグザグ形
態を有する。本発明によれば、既存のパネルテスト方法
を用いて、パネル内に形成された配線の不良をも検査す
ることができるので、パネルの信頼性をより一層向上さ
せることができる。
【０００８】
【発明の実施の形態】以下、添付の図面を参照しながら
本発明の好ましい実施例を詳細に説明する。図５は、本
実施の形態に係るパネル内配線の欠陥をテストするため
の液晶表示装置の構成図であり、図６は、図５に示す液
晶表示装置のパネル内配線のテスト方法を説明するため
の図である。
本発明の好ましい実施例を詳細に説明する。図５は、本
実施の形態に係るパネル内配線の欠陥をテストするため
の液晶表示装置の構成図であり、図６は、図５に示す液
晶表示装置のパネル内配線のテスト方法を説明するため
の図である。
【０００９】図５に示されたように、パネル１０内のＴ
ＦＴアレイ部１１と、前記ＴＦＴアレイ部から延設した
複数個のゲートラインＧ１、Ｇ２…Ｇｎ及びデータライ
ンＤ １、Ｄ２…Ｄｎが配置されている。前記ゲートライ
ンＧ１、Ｇ２…Ｇｎのうち奇数番目のゲートラインをゲ
ート奇数パッド１５ａに連結させ、偶数番目のゲートラ
インをゲート偶数パッド１５ｂに連結させる。同じく、
前記データラインＤ１、Ｄ２…Ｄｎのうち奇数番目のデ
ータラインをデータ奇数パッド１７ａに、偶数番目のデ
ータラインを偶数パッド１７ｂにそれぞれ連結させる。
また、前記パネル１０の上部に設けられたジグザグ連結
配線３０ａを、データ奇数パッド１７ａの第１ラインＤ
１に直列に連結させる。
ＦＴアレイ部１１と、前記ＴＦＴアレイ部から延設した
複数個のゲートラインＧ１、Ｇ２…Ｇｎ及びデータライ
ンＤ １、Ｄ２…Ｄｎが配置されている。前記ゲートライ
ンＧ１、Ｇ２…Ｇｎのうち奇数番目のゲートラインをゲ
ート奇数パッド１５ａに連結させ、偶数番目のゲートラ
インをゲート偶数パッド１５ｂに連結させる。同じく、
前記データラインＤ１、Ｄ２…Ｄｎのうち奇数番目のデ
ータラインをデータ奇数パッド１７ａに、偶数番目のデ
ータラインを偶数パッド１７ｂにそれぞれ連結させる。
また、前記パネル１０の上部に設けられたジグザグ連結
配線３０ａを、データ奇数パッド１７ａの第１ラインＤ
１に直列に連結させる。
【００１０】図６に示されたように、前記図５と同様の
テスト構造を形成し、但し、分離したジグザグ連結配線
３０ｂで配線を形成した後、データ奇数パッド１７ａの
第１ラインＤ１とデータ偶数パッド１７ｂの第１ライン
Ｄ２に直列に連結する。前記テストのための信号をデー
タ奇数パッド１７ａとデータ偶数パッド１７ｂに印加す
ると、配線の断線だけでなく、配線間のショートをも検
出することができる。ショートが発生した場合には、デ
ータ奇数パッド１７ａに信号を印加しても、データ奇数
ライン１７ａだけでなく、信号を印加しないデータ偶数
ライン１７ｂのＴＦＴさえ動作することになる。
テスト構造を形成し、但し、分離したジグザグ連結配線
３０ｂで配線を形成した後、データ奇数パッド１７ａの
第１ラインＤ１とデータ偶数パッド１７ｂの第１ライン
Ｄ２に直列に連結する。前記テストのための信号をデー
タ奇数パッド１７ａとデータ偶数パッド１７ｂに印加す
ると、配線の断線だけでなく、配線間のショートをも検
出することができる。ショートが発生した場合には、デ
ータ奇数パッド１７ａに信号を印加しても、データ奇数
ライン１７ａだけでなく、信号を印加しないデータ偶数
ライン１７ｂのＴＦＴさえ動作することになる。
【００１１】図７、及び図８は、本発明に係るパネル内
配線の断線及びショート検出を説明するための図面であ
る。図７に示されたように、パネル内の配線中に断線が
発生した場合、断線された配線がデータ奇数パッド１７
ａの第１ラインＤ１に連結されているので、前記データ
奇数パッド１７ａに信号が印加される場合、断線が発生
した第１ラインＤ１のＴＦＴが動作せず、他のＤ３、Ｄ
５…ラインのＴＦＴは正常に動作することになる。
配線の断線及びショート検出を説明するための図面であ
る。図７に示されたように、パネル内の配線中に断線が
発生した場合、断線された配線がデータ奇数パッド１７
ａの第１ラインＤ１に連結されているので、前記データ
奇数パッド１７ａに信号が印加される場合、断線が発生
した第１ラインＤ１のＴＦＴが動作せず、他のＤ３、Ｄ
５…ラインのＴＦＴは正常に動作することになる。
【００１２】図８は、パネル内の配線間にショートが発
生した場合、その不良を検出する方法を示すもので、シ
ョートによってデータ奇数パッド１７ａに連結した配線
とデータ偶数パッド１７ｂに連結した配線とが連結され
ているから、データ奇数パッド１７ａに信号を印加した
場合、第１データラインＤ１のＴＦＴだけでなく、偶数
番目に属する第２データラインＤ２のＴＦＴも同時に動
作することになる。このように同時に動作する場合、シ
ョート不良と判断して検出することができる。図示して
はいないが、前述したような本発明の方法を、ゲート奇
数パッド１５ａとゲート偶数パッド１５ｂに適用して
も、不良を検出することができる。また、共通電圧Ｖｃ
ｏｍパッド１３に、ジグザグ連結配線３０ａを直列に連
結しても、不良を検出することができる。
生した場合、その不良を検出する方法を示すもので、シ
ョートによってデータ奇数パッド１７ａに連結した配線
とデータ偶数パッド１７ｂに連結した配線とが連結され
ているから、データ奇数パッド１７ａに信号を印加した
場合、第１データラインＤ１のＴＦＴだけでなく、偶数
番目に属する第２データラインＤ２のＴＦＴも同時に動
作することになる。このように同時に動作する場合、シ
ョート不良と判断して検出することができる。図示して
はいないが、前述したような本発明の方法を、ゲート奇
数パッド１５ａとゲート偶数パッド１５ｂに適用して
も、不良を検出することができる。また、共通電圧Ｖｃ
ｏｍパッド１３に、ジグザグ連結配線３０ａを直列に連
結しても、不良を検出することができる。
【００１３】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によるパネ
ル内配線の欠陥をテストするための液晶表示装置は、パ
ネル内配線の不良を検出するために、配線をジグザグで
連結したり、分離してジグザグで連結した後、ゲートパ
ッドとデータパッド及び共通電圧Ｖｃｏｍパッドに直列
に連結することにより、既存のパネルのテスト方法を用
いてパネル内の配線の不良をも検出することができると
いう効果を奏する。また、本発明の液晶表示装置は、Ｆ
ＰＣ（Ｆｌｅｘｉｂｌｅ ＰｒｉｎｔｅｄＣｉｒｃｕｉ
ｔ）又はＰＣＢ（Ｐｒｉｎｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ Ｂ
ｏａｒｄ）を除去することができるので、製造コストを
低減することができ、製品のサイズを減少することがで
きる。本発明は、本発明の技術的思想から逸脱すること
なく、他の種々の形態で実施することができる。前述の
実施例は、あくまでも、本発明の技術内容を明らかにす
るものであって、そのような具体例のみに限定して狭義
に解釈されるべきものではなく、本発明の精神と特許請
求の範囲内で、いろいろと変更して実施することができ
るものである。
ル内配線の欠陥をテストするための液晶表示装置は、パ
ネル内配線の不良を検出するために、配線をジグザグで
連結したり、分離してジグザグで連結した後、ゲートパ
ッドとデータパッド及び共通電圧Ｖｃｏｍパッドに直列
に連結することにより、既存のパネルのテスト方法を用
いてパネル内の配線の不良をも検出することができると
いう効果を奏する。また、本発明の液晶表示装置は、Ｆ
ＰＣ（Ｆｌｅｘｉｂｌｅ ＰｒｉｎｔｅｄＣｉｒｃｕｉ
ｔ）又はＰＣＢ（Ｐｒｉｎｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ Ｂ
ｏａｒｄ）を除去することができるので、製造コストを
低減することができ、製品のサイズを減少することがで
きる。本発明は、本発明の技術的思想から逸脱すること
なく、他の種々の形態で実施することができる。前述の
実施例は、あくまでも、本発明の技術内容を明らかにす
るものであって、そのような具体例のみに限定して狭義
に解釈されるべきものではなく、本発明の精神と特許請
求の範囲内で、いろいろと変更して実施することができ
るものである。
【図１】一般的な液晶表示装置のモジュール構成を示す
図である。
図である。
【図２】一般的な液晶表示装置の他のモジュール構成を
示す図である。
示す図である。
【図３】一般的な液晶表示装置のさらに他のモジュール
構成を示す図である。
構成を示す図である。
【図４】従来のパネルテスト方法を説明するための液晶
表示装置の構成図である。
表示装置の構成図である。
【図５】本発明の実施の形態に係るパネル内配線の欠陥
をテストするための液晶表示装置の構成図である。
をテストするための液晶表示装置の構成図である。
【図６】図５に示す液晶表示装置のパネル内配線のテス
ト方法を説明するための図である。
ト方法を説明するための図である。
【図７】図６に示すパネル内配線の断線検出を説明する
ための図である。
ための図である。
【図８】図６に示すパネル内配線のショート検出を説明
するための図である。
するための図である。
１０ パネル １１ ＴＦＴアレイ部 １３ Ｖｃｏｍパッド １５ａ、１７ａ 奇数パッド １５ｂ、１７ｂ 偶数パッド ３０ａ ジグザグ連結配線 ３０ｂ 分離したジグザグ連結配線 Ｇ１、Ｇ２…Ｇｎ ゲートライン Ｄ１、Ｄ２…Ｄｎ データライン
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｇ０９Ｆ 9/35 Ｇ０９Ｆ 9/35 (72)発明者 金 永 求 大韓民国 ソウル市 瑞草区 傍輩洞 975−40 ジョンジン ビルラ 202 (72)発明者 李 建 昊 大韓民国 京畿道 利川市 増浦洞 大宇 １次アパート 101−502 Ｆターム(参考） 2G014 AA02 AA03 AB21 AC09 2H088 FA11 HA02 HA08 MA20 2H092 GA33 GA44 JA24 JB22 JB31 JB46 JB77 NA30 PA06 5C094 AA15 AA42 AA43 AA44 BA03 BA43 CA19 DB02 DB04 FA01 GB10 5G435 AA17 AA18 BB12 CC09 KK05
Claims (12)
- 【請求項１】 多数個のゲートラインと多数個のデータ
ラインがマトリックス形態で構成され、かつ、前記ゲー
トラインと前記データラインが交差する部分にＴＦＴト
ランジスタを具備したＴＦＴアレイ部と、 前記多数個のデータラインに共通に連結され、前記デー
タラインを駆動する信号を受信するデータパッド部と、 前記データパッド部と前記データラインとの間にそれぞ
れ接続され、前記データライン各々の断線及びショート
を検出するデータライン欠陥検出用配線部とを備えるこ
とを特徴とするパネル内配線の欠陥をテストするための
液晶表示装置。 - 【請求項２】 前記データパッド部は、 前記多数個のデータラインのうち奇数番目のデータライ
ンに共通に連結され、前記奇数番目のデータラインを駆
動する信号を受信する第１データパッド部と、 前記多数個のデータラインのうち偶数番目のデータライ
ンに共通に連結され、前記偶数番目のデータラインを駆
動する信号を受信する第２データパッド部とを備えるこ
とを特徴とする請求項１に記載のパネル内配線の欠陥を
テストするための液晶表示装置。 - 【請求項３】 前記データライン欠陥検出用配線部は、 前記第１データパッド部と前記奇数番目のデータライン
との間にそれぞれ接続され、前記奇数番目のデータライ
ン各々の断線及びショートを検出する第１データライン
欠陥検出用配線部と、 前記第２データパッド部と前記偶数番目のデータライン
との間にそれぞれ接続され、前記偶数番目のデータライ
ン各々の断線及びショートを検出する第２データライン
欠陥検出用配線部とを備えることを特徴とする請求項２
に記載のパネル内配線の欠陥をテストするための液晶表
示装置。 - 【請求項４】 前記第１及び第２データライン欠陥検出
用配線部は、ジグザグ形態を有することを特徴とする請
求項３に記載のパネル内配線の欠陥をテストするための
液晶表示装置。 - 【請求項５】 多数個のゲートラインと多数個のデータ
ラインがマトリックス形態で構成され、かつ、前記ゲー
トラインと前記データラインが交差する部分にＴＦＴト
ランジスタを具備したＴＦＴアレイ部と、 前記多数個のゲートラインに共通に連結され、前記ゲー
トラインを駆動する信号を受信するゲートパッド部と、 前記ゲートパッド部と前記ゲートラインとの間にそれぞ
れ接続され、前記ゲートライン各々の断線及びショート
を検出するゲートライン欠陥検出用配線部とを備えるこ
とを特徴とするパネル内配線の欠陥をテストするための
液晶表示装置。 - 【請求項６】 前記ゲートパッド部は、 前記多数個のゲートラインのうち奇数番目のゲートライ
ンに共通に連結され、前記奇数番目のゲートラインを駆
動する信号を受信する第１ゲートパッド部と、 前記多数個のゲートラインのうち偶数番目のゲートライ
ンに共通に連結され、前記偶数番目のゲートラインを駆
動する信号を受信する第２ゲートパッド部とを備えるこ
とを特徴とする請求項５に記載のパネル内配線の欠陥を
テストするための液晶表示装置。 - 【請求項７】 前記ゲートライン欠陥検出用配線部は、 前記第１ゲートパッド部と前記奇数番目のゲートライン
との間にそれぞれ接続され、前記奇数番目のゲートライ
ン各々の断線及びショートを検出する第１ゲートライン
欠陥検出用配線部と、 前記第２ゲートパッド部と前記偶数番目のゲートライン
との間にそれぞれ接続され、前記偶数番目のゲートライ
ン各々の断線及びショートを検出する第２ゲートライン
欠陥検出用配線部とを備えることを特徴とする請求項６
に記載のパネル内配線の欠陥をテストするための液晶表
示装置。 - 【請求項８】 前記第１及び第２ゲートライン欠陥検出
用配線部は、ジグザグ形態を有することを特徴とする請
求項７に記載のパネル内配線の欠陥をテストするための
液晶表示装置。 - 【請求項９】 多数個のゲートラインと多数個のデータ
ラインがマトリックス形態で構成され、かつ、前記ゲー
トラインと前記データラインが交差する各画素にＴＦＴ
トランジスタを具備したＴＦＴアレイ部と、 前記各画素に連結した共通電圧ラインに共通電圧を印加
する共通電圧パッド部と、 前記共通電圧ラインと前記共通電圧パッド部との間にそ
れぞれ接続され、前記共通電圧ラインの断線及びショー
トを検出する共通電圧ライン欠陥検出用配線部とを備え
ることを特徴とするパネル内配線の欠陥をテストするた
めの液晶表示装置。 - 【請求項１０】 前記共通電圧パッド部は、 前記多数個の共通電圧ラインのうち奇数番目の共通電圧
ラインに共通に連結され、前記奇数番目の共通電圧ライ
ンを駆動する信号を受信する第１共通電圧パッド部と、 前記多数個の共通電圧ラインのうち偶数番目の共通電圧
ラインに共通に連結され、前記偶数番目の共通電圧ライ
ンを駆動する信号を受信する第２共通電圧パッド部とを
備えることを特徴とする請求項９に記載のパネル内配線
の欠陥をテストするための液晶表示装置。 - 【請求項１１】 前記共通電圧ライン欠陥検出用配線部
は、 前記第１共通電圧パッド部と前記奇数番目の共通電圧ラ
インとの間にそれぞれ接続され、前記奇数番目の共通電
圧ライン各々の断線及びショートを検出する第１共通電
圧ライン欠陥検出用配線部と、 前記第２共通電圧パッド部と前記偶数番目の共通電圧ラ
インとの間にそれぞれ接続され、前記偶数番目の共通電
圧ライン各々の断線及びショートを検出する第２共通電
圧ライン欠陥検出用配線部とを備えることを特徴とする
請求項１０に記載のパネル内配線の欠陥をテストするた
めの液晶表示装置。 - 【請求項１２】 前記第１及び第２共通電圧ライン欠陥
検出用配線部は、ジグザグ形態を有することを特徴とす
る請求項１１に記載のパネル内配線の欠陥をテストする
ための液晶表示装置。
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR2000-087509 | 2000-12-30 | ||
| KR10-2000-0087509A KR100494685B1 (ko) | 2000-12-30 | 2000-12-30 | 액정표시장치의 패널내 배선의 결함 테스트 방법 |
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002303845A true JP2002303845A (ja) | 2002-10-18 |
| JP4158848B2 JP4158848B2 (ja) | 2008-10-01 |
Family
ID=19704145
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001399026A Expired - Lifetime JP4158848B2 (ja) | 2000-12-30 | 2001-12-28 | パネル内配線の欠陥をテストするための液晶表示装置 |
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