TWI416233B - 顯示面板 - Google Patents

Description

顯示面板

本發明是有關於一種顯示面板，且特別是有關於一種具有測試墊的顯示面板。

現今市面上常見的顯示面板，如液晶顯示面板，可分為顯示區(display region)與週邊線路區(peripheral circuit region)，其中在顯示區內配置陣列排列的多個畫素單元，以藉由畫素單元顯示圖框畫面。週邊線路區內設置電性連接該些畫素單元的驅動器以及測試線路等，以驅動該些畫素單元或對該些畫素單元進行電性檢測。藉由電性檢測，可判斷畫素單元可否正常運作。當畫素單元無法正常運作時，便可對於不良的元件(如薄膜電晶體或畫素電極等)或線路進行修補。

電性檢測的方式通常是以探針接觸測試線路的測試墊，以輸入測試訊號至各畫素單元，並觀察各畫素單元是否正常運作。然而，限於現有的測試墊結構，在探針與測試墊接觸時，容易使探針在測試墊表面滑動偏擺而移出測試墊之外，導致基板表面的元件被探針撞擊損壞或是基板表面的線路被探針刮傷等意外。

本發明提供一種顯示面板，係對測試墊的結構進行改 動，以穩定探針在測試墊上的位置，並有助於提高測試良率及測試準確度。

為具體描述本發明之內容，在此提出一種顯示面板，包括一基板、一畫素陣列以及一測試墊。基板具有一承載面，且基板可劃分一顯示區以及位於顯示區外圍的一周邊線路區。畫素陣列配置於承載面上，且位於顯示區內。測試墊配置於承載面上，且位於周邊線路區內。測試墊電性連接至畫素陣列。測試墊包括一中央部分以及圍繞中央部分的一外圍部分，其中外圍部分的高度大於中央部分的高度，且外圍部分具有多個第一溝槽。第一溝槽暴露出承載面。

在本發明之一實施例中，所述顯示面板更包括多個止擋肋條，配置於承載面上，且位於測試墊的外側。

在本發明之一實施例中，止擋肋條的高度大於測試墊的外圍部分的高度。

在本發明之一實施例中，測試墊與其相鄰的每一止擋肋條之間具有一第二溝槽，且第二溝槽暴露出承載面。

在本發明之一實施例中，止擋肋條相互平行，且沿測試墊的一側邊設置。

在本發明之一實施例中，相互平行的兩個止擋肋條之間具有一第三溝槽暴露出承載面。

在本發明之一實施例中，測試墊包括一第一金屬層、一閘絕緣層、一第二金屬層以及一透明電極層。第一金屬層配置於承載面上，且第一金屬層包括一第一部分以及圍 繞第一部分的一第二部分。閘絕緣層配置於第一金屬層的第二部分上，並且暴露出第一金屬層的第一部分。第二金屬層配置於閘絕緣層上。透明電極層覆蓋第二金屬層以及第一金屬層的第一部分。

在本發明之一實施例中，止擋肋條包括一第一金屬層、一閘絕緣層、一半導體層、一第二金屬層、一保護層以及一透明電極層。第一金屬層配置於承載面上。閘絕緣層配置於第一金屬層上。半導體層配置於閘絕緣層上。第二金屬層配置於半導體層上。保護層配置於第二金屬層上。透明電極層覆蓋第二金屬層。

在本發明之一實施例中，所述止擋肋條的閘絕緣層更延伸覆蓋第一金屬層的兩個相對側壁以及兩相對側壁外的部分承載面。

在本發明之一實施例中，所述止擋肋條的保護層更延伸覆蓋第二金屬層的兩個相對側壁、半導體層的兩個相對側壁、位於第一金屬層的兩個相對側壁上的閘絕緣層以及位於承載面上的閘絕緣層。

基於上述，本發明在測試墊的外圍部分設置多個暴露承載面的第一溝槽，用以避免探針與接觸墊接觸時滑出接觸墊之外而破壞基板上的其他元件。此外，本發明還可以在測試墊的外側設置多個止擋肋條，以藉由止擋肋條與測試墊之間的高度斷差以及位於止擋肋條與測試墊之間的第二溝槽以及第三溝槽來加強對探針的拘束效果。藉此，可有效提高測試良率及測試準確度。

為讓本發明之上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。

本發明的顯示面板可以是液晶顯示面板、有機電激發光面板等藉由畫素陣列來顯示圖框畫面的各類型顯示面板。以下將以液晶顯示面板為例來說明將本發明的測試墊設計應用於其上的實際架構。

圖1為依照本發明之一實施例的一種液晶顯示面板的示意圖及其局部放大圖。如圖1所示，液晶顯示面板100具有顯示區102以及位於顯示區102外圍的周邊線路區104。顯示區102內具有由多個畫素單元112構成的畫素陣列110，而周邊線路區104內具有電性連接至畫素陣列110的一或多個測試墊120。

一般而言，液晶顯示面板100是由薄膜電晶體陣列基板、對向基板以及夾置於兩基板間的液晶層所組成，而前述的畫素單元112可包括位於薄膜電晶體陣列基板上的薄膜電晶體、畫素電極、液晶層內的液晶分子以及對向基板上的共用電極等。本技術領域中具有通常知識者理當能理解前述組成元件的結構與作動方式，此處不逐一贅述。

在進行檢測時，探針P接觸測試墊120，以輸入測試訊號至畫素陣列110中的各畫素單元112，並觀察各畫素單元112是否正常運作。

下文以單一個測試墊120做進一步說明。圖2A為圖 1之測試墊120的上視圖，而圖2B為測試墊120的剖面圖。如圖2A與2B所示，測試墊120配置於基板190的承載面192。此基板190例如是薄膜電晶體陣列基板側的玻璃基板，而所述測試墊120例如是與薄膜電晶體陣列基板上的各元件共同製作。換言之，在基板190上沉積多個材料層並對該些材料層進行圖案化(光罩)製程，以形成薄膜電晶體以及畫素電極的同時，也在周邊線路區104內選擇性地堆疊該些材料層，以構成本實施例的測試墊120。

請再參考圖2A與2B，本實施例的測試墊120包括一中央部分122以及圍繞中央部分122的一外圍部分124。外圍部分124的高度H2大於中央部分122的高度H1，以形成中央凹陷的結構，且外圍部分124具有多個第一溝槽152。該些第一溝槽152會貫穿測試墊120的外圍部分124，而暴露出基板190的承載面192。

中央部分122相對凹陷的測試墊120可在一定程度上穩定探針P的位置，且由於本實施例在測試墊120的外圍部分124設置多個第一溝槽152，而第一溝槽152的深度直抵基板190的承載面192，因此可在測試墊120的表面地形上形成足夠的高度差。當探針P在接觸墊120表面向外滑動時，探針P的尖端會進入第一溝槽152內，而藉由第一溝槽152產生一定程度的拘束效果。

此外，本實施例更可選擇性地在測試墊120外側的承載面192上設置多個止擋肋條130。所述止擋肋條130的高度H3至少大於或等於測試墊120的外圍部分124的高 度H2，因此即使探針P克服了第一溝槽152的拘束效果，仍可藉由止擋肋條130來阻止探針P繼續向測試墊120外部移動。再者，測試墊120與其相鄰的止擋肋條130之間具有第二溝槽154。此第二溝槽154也會暴露出基板190的承載面192，以提供與前述第一溝槽152類似的拘束效果。

另一方面，本發明並不限制止擋肋條130的位置以及數量。在本實施例中，止擋肋條130的延伸方向會與測試墊120的邊緣實質上相互平行，且測試墊120的同一側邊上設置兩個以上且相互平行的止擋肋條130。其中，相互平行的兩個止擋肋條130之間會形成第三溝槽156。所述第三溝槽156也會暴露出基板190的承載面192，以提供與前述第一溝槽152以及第二溝槽154類似的拘束效果。

另外，如前文所提，本實施例的測試墊120可與薄膜電晶體陣列基板上的各元件共同製作，以節省製程道次。即，本實施例的測試墊120可由現有薄膜電晶體陣列基板製程中的各材料層所組成。舉例而言，本實施例的測試墊120便包括了第一金屬層210、閘絕緣層220、第二金屬層230以及透明電極層240。第一金屬層210對應於薄膜電晶體中的閘極材料層，配置於基板190的承載面192上。第一金屬層210包括第一部分212以及圍繞第一部分212的第二部分214。閘絕緣層220對應於薄膜電晶體中覆蓋閘極的閘絕緣層。閘絕緣層220配置於第一金屬層210的第二部分214上，並且暴露出第一金屬層210的第一部分 212。第二金屬層230對應於薄膜電晶體中的源極材料層，且第二金屬層230配置於閘絕緣層220上。透明電極層240對應於薄膜電晶體陣列基板上的畫素電極層，且透明電極層240覆蓋第二金屬層230以及第一金屬層210的第一部分212。藉此，可構成測試墊120。換言之，測試墊120的中央部分122是由第一金屬層210以及透明電極層240堆疊而成，而測試墊120的外圍部分124是由第一金屬層210、閘絕緣層220、第二金屬層230以及透明電極層240堆疊而成，因此兩者具有不同的高度。

此外，止擋肋條130也可以與薄膜電晶體陣列基板上的各元件共同製作，而由現有薄膜電晶體陣列基板製程中的各材料層所組成。本實施例的止擋肋條130包括前述第一金屬層210、前述閘絕緣層220、一半導體層250、前述第二金屬層230、一保護層260以及前述透明電極層240。為了提高止擋肋條130的高度H3，本實施例除了測試墊120的外圍部分124所具有的膜層之外，更在疊層中增加了半導體層250以及保護層260。半導體層250對應於薄膜電晶體中的主動層，且半導體層250配置於閘絕緣層220與第二金屬層230之間。保護層260對應於薄膜電晶體陣列基板中用以覆蓋薄膜電晶體的保護層，且保護層260配置於第二金屬層230與透明電極層240之間。

本實施例的測試墊120的外圍部分124具有多個暴露承載面192的第一溝槽152，用以避免探針P與接觸墊120接觸時滑出接觸墊120之外而破壞基板190上的其他元 件。此外，本實施例還可在測試墊120的外側設置多個止擋肋條130，以藉由止擋肋條130與測試墊120之間的高度斷差以及位於止擋肋條130與測試墊120之間的第二溝槽154以及第三溝槽156來加強對探針P的拘束效果。藉此，可有效提高測試良率及測試準確度。

圖3A與圖3B更分別繪示依照本發明之另一實施例的測試墊的上視圖與剖面圖。本實施例的測試墊320與前述實施例的測試墊120類似，除了：本實施例為了避免外界水氣或異物造成止擋肋條330的金屬層氧化或其他膜層變質，在定義止擋肋條330的閘絕緣層420以及保護層460時，更使閘絕緣層420以及保護層460分別覆蓋下方膜層的側壁。更具體而言，止擋肋條330的閘絕緣層420會延伸覆蓋第一金屬層410的兩個相對側壁412以及兩相對側壁412外的基板390的部分承載面392。此外，止擋肋條330的保護層460會延伸覆蓋第二金屬層430的兩個相對側壁432、半導體層450的兩個相對側壁452、位於第一金屬層410的兩個相對側壁412上的閘絕緣層420以及位於基板390的承載面392上的閘絕緣層420。

藉由閘絕緣層420以及保護層460的延伸部分可以使第一金屬層410、第二金屬層430以及半導體層450與外界隔離，以保護止擋肋條330。

當然，本實施例的測試墊320的其他部分也可以採用相同的設計，使閘絕緣層420以及保護層460延伸覆蓋需要保護的特定膜層，以維持測試墊320的正常運作。

雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，故本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

100‧‧‧液晶顯示面板

102‧‧‧顯示區

104‧‧‧周邊線路區

110‧‧‧畫素陣列

112‧‧‧畫素單元

120‧‧‧測試墊

122‧‧‧測試墊的中央部分

124‧‧‧測試墊的外圍部分

130‧‧‧止擋肋條

152‧‧‧第一溝槽

154‧‧‧第二溝槽

156‧‧‧第三溝槽

190‧‧‧基板

192‧‧‧基板的承載面

H1‧‧‧測試墊的中央部分的高度

H2‧‧‧測試墊的外圍部分的高度

H3‧‧‧止擋肋條的高度

P‧‧‧探針

210‧‧‧第一金屬層

220‧‧‧閘絕緣層

230‧‧‧第二金屬層

240‧‧‧透明電極層

250‧‧‧半導體層

260‧‧‧保護層

320‧‧‧測試墊

330‧‧‧止擋肋條

390‧‧‧基板

392‧‧‧基板的承載面

410‧‧‧第一金屬層

412‧‧‧第一金屬層的側壁

420‧‧‧閘絕緣層

430‧‧‧第二金屬層

432‧‧‧第二金屬層的側壁

450‧‧‧半導體層

452‧‧‧半導體層的側壁

460‧‧‧保護層

圖1為依照本發明之一實施例的一種液晶顯示面板的示意圖及其局部放大圖。

圖2A為圖1之測試墊的上視圖。

圖2B為圖1之測試墊的剖面圖。

圖3A與圖3B分別繪示依照本發明之另一實施例的測試墊的上視圖與剖面圖。

120‧‧‧測試墊

122‧‧‧測試墊的中央部分

124‧‧‧測試墊的外圍部分

130‧‧‧止擋肋條

152‧‧‧第一溝槽

154‧‧‧第二溝槽

156‧‧‧第三溝槽

Claims (10)

1. 一種顯示面板，包括：一基板，具有一承載面，該基板具有一顯示區以及位於該顯示區外圍的一周邊線路區；一畫素陣列，配置於該承載面上，且位於該顯示區內；以及一測試墊，配置於該承載面上，且位於該周邊線路區內，該測試墊電性連接至該畫素陣列，該測試墊包括一中央部分以及圍繞該中央部分的一外圍部分，其中該外圍部分的高度大於該中央部分的高度，且該外圍部分具有多個第一溝槽，該些第一溝槽暴露出該承載面。
2. 如申請專利範圍第1項所述的顯示面板，更包括多個止擋肋條，配置於該承載面上，且位於該測試墊的外側。
3. 如申請專利範圍第2項所述的顯示面板，其中該些止擋肋條的高度大於測試墊的該外圍部分的高度。
4. 如申請專利範圍第2項所述的顯示面板，其中該測試墊與其相鄰的每一止擋肋條之間具有一第二溝槽，該第二溝槽暴露出該承載面。
5. 如申請專利範圍第2項所述的顯示面板，其中部分的該些止擋肋條相互平行，且沿該測試墊的一側邊設置。
6. 如申請專利範圍第5項所述的顯示面板，其中相互平行的兩個止擋肋條之間具有一第三溝槽暴露出該承載面。
7. 如申請專利範圍第1項所述的顯示面板，其中該測 試墊包括：一第一金屬層，配置於該承載面上，該第一金屬層包括一第一部分以及圍繞該第一部分的一第二部分；一閘絕緣層，配置於該第一金屬層的該第二部分上，並且暴露出該第一金屬層的該第一部分；一第二金屬層，配置於該閘絕緣層上；以及一透明電極層，覆蓋該第二金屬層以及該第一金屬層的該第一部分。
8. 如申請專利範圍第2項所述的顯示面板，其中該止擋肋條包括：一第一金屬層，配置於該承載面上；一閘絕緣層，配置於該第一金屬層上；一半導體層，配置於該閘絕緣層上；一第二金屬層，配置於該半導體層上；一保護層，配置於該第二金屬層上；以及一透明電極層，覆蓋該第二金屬層。
9. 如申請專利範圍第8項所述的顯示面板，其中該閘絕緣層更延伸覆蓋該第一金屬層的兩個相對側壁以及該兩相對側壁外的部分該承載面。
10. 如申請專利範圍第9項所述的顯示面板，其中該保護層更延伸覆蓋該第二金屬層的兩個相對側壁、該半導體層的兩個相對側壁、位於該第一金屬層的該兩個相對側壁上的該閘絕緣層以及位於該承載面上的該閘絕緣層。