CN103077674B - 液晶显示器断线检测电路及检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种液晶显示器断线检测电路及检测方法，该电路中，每个第一晶体管的栅极与每条栅极信号线连接，源极与每条数据信号线连接，每条数据信号线的第一端通过对应的数据引线与数据焊点连接，每条栅极信号线的第一端直接通过对应的栅极引线与栅极焊点连接，每个第二晶体管的源极与对应的栅极信号线的第二端连接，每个第二晶体管的漏极通过对应的栅极引线与栅极焊点连接，多个第二晶体管的栅极串联成一条引线与外围焊点连接。采用本发明可以检测出信号线有无断线及断线的具体位置。

Description

液晶显示器断线检测电路及检测方法

技术领域

本发明涉及液晶显示领域的检测电路，尤其涉及一种液晶显示器双向驱动的断线检测电路及检测方法。

背景技术

目前大尺寸的薄膜晶体管液晶显示器（ThinFilmTransistor—LiquidCrystalDisplay，TFT-LCD）设计中，经常会采用双向驱动的设计方法，以保证大尺寸显示区像素充电均匀。故采用的信号线数量多，一般在设计双向电路时要对其信号线进行检测，判断是否存在断线，以提高液晶显示器的显示质量。

目前的液晶显示器双驱动电路的检测电路，如图1所示，多条栅极信号线15及多条数据信号线16，多个第一晶体管11，其栅极、源极分别与栅极信号线15和数据信号线16连接。栅极信号线15通过栅极引线17，18与连接在栅极焊点23，24上的栅极短路棒19，20，21，22连接。数据信号线16通过数据引线10与连接在数据焊点25，26，27上的数据短路棒110，120，130连接。该栅极短路棒19，20，21，22为多条栅极引线17，18短路连接而成，该数据短路棒110，120，130为多条数据引线10短路连接而成。图中标号12，13为栅极集成电路的安装位置，14为数据集成电路的安装位置。

阵列检测设备在左右两侧的栅极焊点23、24中扎针注入波形信号，该波形信号分别通过短路棒19、21、20、22及栅极引线17，18进入显示区，同时数据焊点25、26、27扎针注入该波形信号，分别通过短路棒110、120、130及数据引线10进入显示区逐个对第一晶体管11充电。阵列检测设备逐个检测该第一晶体管11对应的像素电压是否为第一晶体管11正常工作时的像素电压，以确定每个第一晶体管11是否正常工作。若该某一个第一晶体管11未正常工作，则确定与该第一晶体管连接的栅极信号线15发生断线。

现有的液晶显示器双驱动检测电路中，如果显示区中任意一条信号线发生断路，因阵列检测设备在两侧栅极焊点都会注入波形信号，所以断路位置两侧都可以接收信号并传输至第一晶体管11，使其正常工作；即使仅在一侧栅极焊点23，24中注入信号，断路的栅极信号线15与其他栅极信号线15通过两侧的短路棒19，20，21，22形成回路，断路位置的两侧同样可以接收信号并传输至第一晶体管11，使其正常工作，导致阵列检测设备检测出的该第一晶体管11对应的像素电压为正常值，信号线断路问题无法检出。虽然断路位置两侧信号因RCdelay会出现信号电压差异，此信号电压差异较小，阵列检测设备并不会判定为断路。

如图2所示，若栅极信号线15上任意位置150发生断路，栅极信号线15通过栅极短路棒21，22与栅极信号线15形成环路，当阵列检测设备在单侧的栅极焊点23，24注入信号时，该发生断路的栅极信号线15仍然全部可接收到信号，并传输至每一个第一晶体管11上，对其充电，使其正常工作。阵列检测设备逐一检测出第一晶体管11对应的像素电压为其正常工作时的像素电压，故不能检测出信号线是否断路。

发明内容

本发明的主要目的在于针对现有技术中存在的液晶显示器采用双向驱动的检测电路无法检出断线情况的缺陷，提出了一种可检测出断线的检测电路及检测方法。

本发明提供一种液晶显示器断线检测电路及检测方法，该检测电路包括：多条栅极信号线和多条数据信号线、多个第一晶体管、多条数据引线、多条栅极引线、多个数据焊点、多个栅极焊点、多个第二晶体管、外围焊点；所述每个第一晶体管的栅极与所述每条栅极信号线连接，源极与所述每条数据信号线连接，所述每条数据信号线的第一端直接通过对应的数据引线与所述数据焊点连接，所述每条栅极信号线的第一端直接通过对应的栅极引线与所述栅极焊点连接，所述每个第二晶体管的源极与对应的栅极信号线的第二端连接，所述每个第二晶体管的漏极通过对应的栅极引线与所述栅极焊点连接，所述多个第二晶体管的栅极串联成一条引线与所述外围焊点连接。

上述的液晶显示器断线检测电路中，在所述数据焊点和所述栅极焊点中分别注入波形信号，关闭所述多个第二晶体管时，该波形信号仅由所述每条栅极信号线的第一端传输至每个第一晶体管进行充电，使每个第一晶体管对应的像素电压值在预定范围内，若有至少一个像素电压值超出预定范围，则确定与该至少一个像素电压值对应的第一晶体管连接的栅极信号线发生断线。

上述的液晶显示器断线检测电路中，在通过所述外围焊点输入信号使所述多个第二晶体管都导通时，所述每条栅极信号线两端均传输该波形信号至每个第一晶体管。

上述的液晶显示器断线检测电路中，更包括多个第三晶体管，所述每个第三晶体管的源极通过对应的数据引线与所述数据焊点连接，漏极与所述内条数据信号线的第二端连接，且所述多个第三晶体管的栅极串联成一条引线与所述外围焊点连接。

上述的液晶显示器断线检测电路中，在数据焊点和栅极焊点中分别注入波形信号，关闭所述多个第二和/或第三晶体管时，该波形信号仅由所述每条栅极信号线和/或数据信号线的第一端传输至每个第一晶体管进行充电，使每个第一晶体管对应的像素电压值在预定范围内，若有至少一个像素电压值超出预定范围，则与该至少一个像素电压值对应的第一晶体管连接的栅极信号线和/或数据信号线发生断线。

上述的液晶显示器断线检测电路中，在通过所述外围焊点输入信号使所述多个第二和/或第三晶体管都导通时，所述每条栅极信号线和/或所述每条数据信号线两端均传输该波形信号至每个第一晶体管。

一种液晶显示器断线检测方法，包括以下步骤：

提供一液晶显示器断线检测电路，该液晶显示器断线检测电路包括：多条栅极信号线和多条数据信号线、多个第一晶体管、多条数据引线、多条栅极引线、多个数据焊点、多个栅极焊点、多个第二晶体管、外围焊点；所述每个第一晶体管的栅极与所述每条栅极信号线连接，源极与所述每条数据信号线连接，所述每条数据信号线的第一端直接通过对应的数据引线与所述数据焊点连接，所述每条栅极信号线的第一端直接通过对应的栅极引线与所述栅极焊点连接，所述每个第二晶体管的源极与对应的栅极信号线的第二端连接，所述每个第二晶体管的漏极通过对应的栅极引线与所述栅极焊点连接，所述多个第二晶体管的栅极串联成一条引线与所述外围焊点连接；

在所述每条栅极信号线和所述每条数据信号线中输入波形信号；

关闭所述多个第二晶体管，使该波形信号仅由所述每条栅极信号线的第一端传输至所述每个第一晶体管；

逐一检测所述每个第一晶体管对应的像素电压值，判断该像素电压值是否在预定范围内，若至少一个像素电压值超出预定范围，则确定与该像素电压值对应的第一晶体管连接的栅极信号线发生断线。

上述的液晶显示器断线检测方法中，该断线检测方法提供的液晶显示器断线检测电路还包括：多个第三晶体管，所述每个第三晶体管的源极通过所述数据引线与所述数据焊点连接，漏极与所述数据信号线第二端连接，且所述多个第三晶体管的栅极串联成一条引线与所述外围焊点连接。

上述的液晶显示器断线检测方法中还包括：

在所述每条栅极信号线和所述每条数据信号线中输入波形信号；

关闭所述多个第二和/或第三晶体管，使该波形信号仅在所述每条栅极信号线和/或数据信号线的第一端传输至所述每个第一晶体管；

逐一检测所述每个第一晶体管对应的像素电压值，判断该像素电压值是否在预定范围内，若至少一个像素电压值超出预定范围，则确定与该像素电压值对应的第一晶体管连接的栅极信号线发生断线。

实施本发明液晶显示器断线检测电路及检测方法的有益效果在于：采用增加一组第二晶体管和/或第三晶体管控制一侧信号线的信号传输，在阵列检测时，关闭所有的第二晶体管和/或第三晶体管，则与该第二晶体管和/或第三晶体管连接的一侧信号线不能传输信号，则该侧的第一晶体管不能充电，导致阵列检测设备检测出该第一晶体管对应的像素电压异常，根据该第一晶体管的位置可判断出断线位置。还可在需要双驱动的光配向制程中，打开所有的第二晶体管和/或第三晶体管，形成双向电路。采用这种电路在阵列检测时可检出大尺寸双向驱动信号线中的断路位置，并进行修补，提升产品质量，降低断路漏放率。

附图说明

下面将结合附图及实施例对本发明液晶显示器断线检测电路及检测方法作进一步说明，附图中：

图1为现有技术中液晶显示器断线检测电路图；

图2为图1所示检测电路的简化图；

图3为本发明提供的液晶显示器断线检测电路第一较佳实施例图；

图4为图3所示检测电路的简化图；

图5为本发明提供的液晶显示器断线检测电路第二较佳实施例图。

具体实施方式

对于一般大尺寸的屏幕，栅极信号线较长且打开第一晶体管所需的电压较高（一般是27V或33V），电阻电容延迟效应明显；数据信号线长度较短，电压较低（一般是0至14V），电阻电容延迟效应影响较小，一般采用栅极双向、数据单向驱动电路。而对于特大尺寸的屏幕，所需要的数据信号线较长，故采用栅极双向、数据双向驱动电路。所以本发明提供的液晶显示器双向驱动的断线检测电路，包括栅极双向、数据单向驱动的断线检测电路和栅极双向、数据双向驱动的断线检测电路。

参考图3至图4，本发明提供的液晶显示器断线检测电路的第一较佳实施例图，为栅极双向、数据单向驱动的断线检测电路。图4为图3所示检测电路图的简化图。该电路包括：多条栅极信号线15、多条数据信号线16、多个第一晶体管11、多条数据引线10、多条栅极引线17，18、多个数据焊点25，26，27、多个栅极焊点23，24、多个第二晶体管28、外围焊点31、多个栅极短路棒19，20，21，22、多个数据短路棒110，120，130。该多条栅极信号线15、多条数据信号线16、多个第一晶体管11可以为现有技术中液晶显示器的元件。每个第一晶体管11的栅极与每条栅极信号线15连接、源极与每条数据信号线16连接。每个第二晶体管28的源极与每条栅极信号线15的一端连接（可将此端命名为第二端）。每个第二晶体管28的漏极通过每条栅极引线17与连接在栅极焊点23，24上的栅极短路棒19，21连接。所有的第二晶体管28的栅极串联成一条引线30与外围焊点31连接。每条栅极信号线15的另一端（此端命名为第一端）通过每条栅极引线18与连接在栅极焊点23，24上的栅极短路棒20，22连接。每条数据信号线16的一端（此端命名为第一端）通过每条数据引线10与连接在数据焊点25，26，27上的数据短路棒110，120，130连接。该栅极短路棒19，20，21，22为多条栅极引线17，18短路连接而成，该数据短路棒110，120，130为多条数据引线10短路连接而成。图中标号12，13为栅极集成电路的安装位置，14为数据集成电路的安装位置。

阵列检测时，阵列检测设备的探针在左右两侧的数据焊点25，26，27和栅极焊点23，24中注入波形信号。外围焊点31中不注入信号，所有的第二晶体管28的关闭。与第二晶体管28相连的栅极信号线15的第二端无法传递该波形信号，只能由栅极信号线15的第一端传递该波形信号至每个第一晶体管11。如图4所示，若栅极信号线15在150位置发生断路，此时仅150位置右侧的栅极信号线151有波形信号输入，而150位置左侧的栅极信号线152因第二晶体管28的关闭而无法接收到该波形信号。此时，150位置右侧的栅极信号线能将波形信号逐一传输至第一晶体管11，使其打开充电，则与每个第一晶体管11对应的像素电压值正常，即在预定范围内；而150位置左侧的第一晶体管11因未接收到波形信号而无法充电，则与该第一晶体管11对应的像素电压值异常，即超出预定范围。阵列检测设备通过检测第一晶体管11对应的像素电压是否为正常值（第一晶体管11正常工作时的像素电压），以此确定第一晶体管11是否正常工作，从而确定该栅极信号线15有无断线以及断点的位置。

在光配向制程中需要双向电路，在外围焊点31中注入信号，较佳为高压信号，该信号由引线30传输至第二晶体管28，使所有的第二晶体管28导通。此时在左右两侧的栅极焊点23，24及数据焊点25，26，27中注入波形信号，每条栅极信号线15均可从两侧传输该波形信号至每一个第一晶体管11，形成双向电路进行光配向。

参考图5，为本发明提供的液晶显示器断线检测电路的第二较佳实施例图，为栅极双向、数据双向驱动电路提供的断线检测电路。与上述断线检测电路不同之处在于，在上述检测电路的基础上，增加第三晶体管29，所述每个第三晶体管29的源极通过所述数据引线10与所述数据焊点25，26，27连接，漏极与所述数据信号线16的第二端连接。所有的第三晶体管29的栅极串联成引线30，连接到外围焊点31。数据信号线16的第一端直接通过数据引线10与数据短路棒180，190，200连接，该数据短路棒180，190，200两侧均连接数据焊点25，26，27。而栅极短路棒19，20，21，22的两端均连接栅极焊点23，24。从而使栅极信号线15从左下、右下、左上、右上四个方向均连接有栅极焊点23，24；使数据信号线16从左下、右下、左上、右上四个方向均连接有数据焊点25，26，27。在数据信号线16的第一端也设置一个数据集成电路安装位置32。

阵列检测时，阵列检测设备的探针向所有的栅极焊点23，24和数据焊点25，26，27注入波形信号，而所有的外围焊点31中均不注入信号。此时，所有的第二晶体管28和第三晶体管29均关闭，左上侧及右下侧的波形信号不能传输至栅极信号线15，左下侧及右下侧的波形信号不能传输至数据信号线16，从而形成了只有右侧的栅极信号线15和上侧的数据信号线16能将该波形信号逐一传输至第一晶体管11。若在栅极信号线15和数据信号线16上出现断点，则断点右侧的第一晶体管11能逐一打开充电，但断点左侧的所有的第一晶体管11不能充电。如栅极信号线断点和数据信号线断点位置相同，则断点上侧的第一晶体管11逐一打开充电，则该第一晶体管11对应的像素电压值正常，断点下侧所有的第一晶体管11不能充电，则其对应的像素电压值异常。阵列检测设备逐一检测第一晶体管11对应的像素电压是否为第一晶体管11正常值，以判断第一晶体管11是否正常工作，从而确定栅极信号线或数据信号线有无断线，以及断线的位置。

在光配向制程中需要双向电路，在所有的外围焊点31中注入信号，较佳为高压信号，该信号由引线30传输至所有的第二晶体管28和第三晶体管29，使所有的第二晶体管28和第三晶体管29呈导通状态，此时在所有的栅极焊点23，24及数据焊点25，26，27中注入波形信号，则左右两侧的栅极信号线15以及上下两侧的数据信号线16均可将波形信号传输至第一晶体管11，形成双向电路进行光配向。

本发明根据上述的断线检测电路还提供了使用该电路的方法，该方法包括以下步骤：

阵列检测设备在两侧的栅极焊点23，24和数据焊点25，26，27中针扎注入波形信号，该波形信号经栅极引线17，18和数据引线10传输至每一条栅极信号线15和每一条数据信号线16；

关闭所有的第二晶体管28，使该波形信号仅由每条栅极信号线15的第一端传输至每个第一晶体管11；

阵列检测设备逐一检测第一晶体管11对应的像素电压是否在预定范围内，以此确定第一晶体管11是否正常工作。若某一个第一晶体管11未正常工作，则确定与该第一晶体管11连接的栅极信号线15发生断线。还可根据该未正常工作的第一晶体管11的位置确定该发生断线的栅极信号线15的断点位置。

还包括以下步骤：

关闭所有的第二晶体管28和第三晶体管29，使波形信号仅由每条栅极信号线15和/或数据信号线16的第一端传输至每一个第一晶体管11。

阵列检测设备逐一检测第一晶体管11对应的像素电压是否在预定范围内，以此确定第一晶体管11是否正常工作。若某一个第一晶体管11未正常工作，则确定该第一晶体管11连接的栅极信号线15和/或数据信号线16发生断线。还可根据该未正常工作的第一晶体管11的位置确定该发生断线的栅极信号线15和/或数据信号线16的断点位置。

应当理解的是，对本领域普通技术人员来说，可以根据上述说明加以改进或变换，而所有这些改进和变换都应属于本发明所附权利要求的保护范围。

Claims (8)

1.一种液晶显示器断线检测电路，用于检测一液晶显示器双向驱动电路是否断线，其特征在于，包括：

多条栅极信号线和多条数据信号线、多个第一晶体管、多条数据引线、多条栅极引线、多个数据焊点、多个栅极焊点、多个第二晶体管、外围焊点；所述每个第一晶体管的栅极与所述每条栅极信号线连接、源极与所述每条数据信号线连接，所述每条数据信号线的第一端直接通过对应的数据引线与所述数据焊点连接，所述每条栅极信号线的第一端直接通过对应的栅极引线与所述栅极焊点连接，所述每个第二晶体管的源极与对应的栅极信号线的第二端连接，所述每个第二晶体管的漏极通过对应的栅极引线与所述栅极焊点连接，所述多个第二晶体管的栅极串联成一条引线与所述外围焊点连接，所述栅极引线与所述栅极信号线之间设置有栅极集成电路，所述数据引线与所述数据信号线之间设置有数据集成电路；

在所述数据焊点和所述栅极焊点中分别注入波形信号，关闭所述多个第二晶体管时，该波形信号仅由所述每条栅极信号线的第一端传输至每个第一晶体管进行充电，使每个第一晶体管对应的像素电压值在预定范围内，若有至少一个像素电压值超出预定范围，则确定与该至少一个像素电压值对应的第一晶体管连接的栅极信号线发生断线。

2.根据权利要求1所述的液晶显示器断线检测电路，其特征在于，在通过所述外围焊点输入信号使所述多个第二晶体管都导通时，所述每条栅极信号线两端均传输该波形信号至每个第一晶体管。

3.根据权利要求1所述的液晶显示器断线检测电路，其特征在于，更包括多个第三晶体管，所述每个第三晶体管的源极通过对应的数据引线与所述数据焊点连接，漏极与所述每条数据信号线的第二端连接，且所述多个第三晶体管的栅极串联成一条引线与所述外围焊点连接。

4.根据权利要求3所述的液晶显示器断线检测电路，其特征在于，在数据焊点和栅极焊点中分别注入波形信号，关闭所述多个第二晶体管时，该波形信号仅由所述每条栅极信号线的第一端传输至每个第一晶体管进行充电，使每个第一晶体管对应的像素电压值在预定范围内，若有至少一个像素电压值超出预定范围，则与该至少一个像素电压值对应的第一晶体管连接的栅极信号线发生断线；或者，关闭所述多个第二和第三晶体管时，该波形信号仅由所述每条栅极信号线和数据信号线的第一端传输至每个第一晶体管进行充电，使每个第一晶体管对应的像素电压值在预定范围内，若有至少一个像素电压值超出预定范围，则与该至少一个像素电压值对应的第一晶体管连接的栅极信号线和/或数据信号线发生断线。

5.根据权利要求4所述的液晶显示器断线检测电路，其特征在于，在通过所述外围焊点输入信号使所述多个第二和/或第三晶体管都导通时，所述每条栅极信号线和/或所述每条数据信号线两端均传输该波形信号至每个第一晶体管。

6.一种液晶显示器断线检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

提供一液晶显示器断线检测电路，该液晶显示器断线检测电路包括：多条栅极信号线和多条数据信号线、多个第一晶体管、多条数据引线、多条栅极引线、多个数据焊点、多个栅极焊点、多个第二晶体管、外围焊点；所述每个第一晶体管的栅极与所述每条栅极信号线连接，源极与所述每条数据信号线连接，所述每条数据信号线的第一端直接通过对应的数据引线与所述数据焊点连接，所述每条栅极信号线的第一端直接通过对应的栅极引线与所述栅极焊点连接，所述每个第二晶体管的源极与对应的栅极信号线的第二端连接，所述每个第二晶体管的漏极通过对应的栅极引线与所述栅极焊点连接，所述多个第二晶体管的栅极串联成一条引线与所述外围焊点连接，所述栅极引线与所述栅极信号线之间设置有栅极集成电路，所述数据引线与所述数据信号线之间设置有数据集成电路；

在所述每条栅极信号线和所述每条数据信号线中输入波形信号；

关闭所述多个第二晶体管，使该波形信号仅由所述每条栅极信号线的第一端传输至所述每个第一晶体管；

逐一检测所述每个第一晶体管对应的像素电压值，判断该像素电压值是否在预定范围内，若至少一个像素电压值超出预定范围，则确定与该像素电压值对应的第一晶体管连接的栅极信号线发生断线。

7.根据权利要求6所述的液晶显示器断线检测方法，其特征在于，该断线检测方法提供的液晶显示器断线检测电路还包括：多个第三晶体管，所述每个第三晶体管的源极通过对应的数据引线与所述数据焊点连接，漏极与所述每条数据信号线的第二端连接，且所述多个第三晶体管的栅极串联成一条引线与所述外围焊点连接。

8.根据权利要求7所述的液晶显示器断线检测方法，其特征在于，还包括：

在所述每条栅极信号线和所述每条数据信号线中输入波形信号；

关闭所述多个第二晶体管，使该波形信号仅在所述每条栅极信号线的第一端传输至所述每个第一晶体管；或者，关闭所述多个第二和第三晶体管，使该波形信号仅在所述每条栅极信号线和数据信号线的第一端传输至所述每个第一晶体管；

逐一检测所述每个第一晶体管对应的像素电压值，判断该像素电压值是否在预定范围内，若至少一个像素电压值超出预定范围，则确定与该像素电压值对应的第一晶体管连接的栅极信号线发生断线。