JP2002082287A - 顕微鏡用物体の検査及び操作のための装置及び方法 - Google Patents

顕微鏡用物体の検査及び操作のための装置及び方法

Info

Publication number
JP2002082287A
JP2002082287A JP2001238639A JP2001238639A JP2002082287A JP 2002082287 A JP2002082287 A JP 2002082287A JP 2001238639 A JP2001238639 A JP 2001238639A JP 2001238639 A JP2001238639 A JP 2001238639A JP 2002082287 A JP2002082287 A JP 2002082287A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
microscope
operating
path
illumination
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2001238639A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5142431B2 (ja
Inventor
Werner Knebel
クネーベル ヴェルナー
Juergen Hofmann
ホフマン ユルゲン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Leica Microsystems CMS GmbH
Original Assignee
Leica Microsystems Heidelberg GmbH
Leica Microsystems CMS GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Leica Microsystems Heidelberg GmbH, Leica Microsystems CMS GmbH filed Critical Leica Microsystems Heidelberg GmbH
Publication of JP2002082287A publication Critical patent/JP2002082287A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5142431B2 publication Critical patent/JP5142431B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/008Details of detection or image processing, including general computer control
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0028Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders specially adapted for specific applications, e.g. for endoscopes, ophthalmoscopes, attachments to conventional microscopes
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0032Optical details of illumination, e.g. light-sources, pinholes, beam splitters, slits, fibers
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0052Optical details of the image generation
    • G02B21/0076Optical details of the image generation arrangements using fluorescence or luminescence
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/32Micromanipulators structurally combined with microscopes

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Ophthalmology & Optometry (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Surgery (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 光軸に沿ったその広がりが使用される顕微鏡
対物レンズの焦点深度より大きい三次元物体をも検査及
び操作すること。(その際三次元物体のあらゆる位置に
おける物体操作が可能とする。) 【解決手段】 (a)顕微鏡(2);(b)照明光線路
(5)を規定し、物体(1)を照明するための少なくと
も1つの第一光源(3、4);(c)検出光線路(7)
を規定し、物体(1)からの戻り光を検出するための検
出器(6);(d)操作光線路(9)を規定し、物体
(1)を操作するための第二光源(8)を有する顕微鏡
用物体の検査及び操作用の装置及びその操作方法におい
て、前記顕微鏡(2)は、共焦点走査型顕微鏡であり、
第一光線偏向装置(12)が、前記照明光線路(5)
に、第二光線偏向装置(16)が、前記操作光線路
(9)に夫々配されているとともに、該照明光線路
(5)における光の偏向は、該操作光線路(9)におけ
る光の偏向と独立に行われることを特徴とする

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、顕微鏡用物体(被
観察試料)の検査及び操作のための装置及び方法に関
し、特に、請求項1ないし請求項7の上位概念に対応す
るものに関する。
【0002】
【従来の技術及び問題点】この種の装置は、実務上以前
から既知である。ここでは、例えば、Karl OttoGreulic
h著“Micromanipulation by Light in Biology and Med
icine”, Birkhaeuser Verlag 1999を指摘するに留め
る。その記載によると、合焦されたレーザ光線を用いて
物体を顕微鏡で検査するとき、粒子(物体)に力が加わ
り、粒子は細かく砕かれたり、穴があけられたり、或い
は剥離されたりすることがある。
【0003】「ケージ化化合物」−結合(“Caged-Comp
ound”-Verbindungen)は、紫外線の照射により結合が
切れ、カルシウム又は遊離性グルタミン酸塩は、細胞内
で更なる反応を惹き起すことができる(光活性化)。光
活性化は、2光子過程によっても行うことができる。こ
れについては、例えば、走査型(ラスタ)顕微鏡におい
て蛍光着色物質による2光子吸収の使用が記載されてい
る米国特許US5,034,613及びドイツ特許DE44 14 940を指
摘するに留める。
【0004】現在では、物体操作用のレーザ光線は、伝
統的な光学顕微鏡の光線路に入射結合される。物体の操
作は、一般に、顕微鏡ステージで試料(物体)を移動さ
せることにより行われる。この時、物体の操作と物体の
検査ないし観察は、従来の顕微鏡の蛍光光線モード或い
は透過光線モードで行われる。
【0005】しかし物体に関するこれらの検査及び操作
は、伝統的な顕微鏡の結像特性のため、顕微鏡対物レン
ズの焦点深度(ないし被写界深度)の範囲内の物体領域
は二次元でしか結像されないという問題がある。
【0006】ここで、光軸に沿った−顕微鏡対物レンズ
の焦点深度と比べて−大きい広がりをもつ物体に対し検
査及び操作を行うものとすれば、一方では、前述の結像
問題が生じ、他方、顕微鏡対物レンズの焦平面に関し平
行な種々の面内で物体の操作を行うことは簡単にはでき
ない。その理由は、光軸に沿った種々の位置に関する複
数の物体部位へ同時に操作するために、操作されるべき
光の焦点(複数)をそれに応じて種々に調節しなけれけ
ればならないからであろうが、このことは現状では、物
体操作用の従来の装置では想定されていない。
【0007】超微細メス(ナノメータオーダのメス)に
対するレーザの使用は、三次元の物体へ円筒形の切片を
形成するには不利であり、そのためこの種の操作は多く
の使用に対し不適合である。
【0008】ドイツ特許DE 199 24 709から、構造体を
迅速に、高分解能でかつ正確に位置決めできる装置が既
知である。とりわけこの装置では顕微鏡の対物レンズレ
ボルバを光軸に沿って位置決めすることができる(対物
レンズレボルバスキャニング装置)。
【0009】DE 196 53 413ないしEP 0 753 779から、
コリメートされたレーザ光線が20〜50の照明光焦点
を以って顕微鏡の中間像面ないし物体面へ合焦できる装
置が既知である。光は、蛍光物体の2光子励起に適合す
るレーザ光線である。
【0010】DE 196 54 210 C2及びDE 100 33 549.7か
ら、互いに垂直をなす2つの方向で実質的に光線を偏向
するための、それ自体は好ましい装置が既知である。
【0011】DE 44 14 940及びUS 5,034,613から、蛍光
物体を2光子過程により励起して蛍光発光させる共焦点
走査型(ラスタ)顕微鏡が既知である。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】それゆえ本発明の課題
は、光軸に沿ったその広がりが使用される顕微鏡対物レ
ンズの焦点深度より大きい三次元物体をも検査及び操作
する装置及び方法を提供することであり、その際三次元
物体のあらゆる位置における物体操作が可能であるべき
である。
【0013】
【課題を解決するための手段】この課題は、装置の観点
では、請求項1の特徴により解決される。即ち、本発明
の第一の視点において、(a)顕微鏡;(b)照明光線
路を規定し、物体を照明するための少なくとも1つの第
一光源;(c)検出光線路を規定し、物体からの戻り光
を検出するための検出器;(d)操作光線路を規定し、
物体を操作するための第二光源を有する顕微鏡用物体の
検査及び操作用の装置において、顕微鏡は、共焦点走査
型顕微鏡であり、第一光線偏向装置が、照明光線路に配
され、第二光線偏向装置が、操作光線路に配されている
とともに、照明光線路における光の偏向は、操作光線路
における光の偏向と独立に行われることを特徴とする。
更に、方法の観点においては、上記課題は冒頭で述べた
課題は請求項7の特徴により解決される。即ち、本発明
の第二の視点において、(a)顕微鏡;(b)物体を照
明するための第一光源;(c)照明光線路;(d)物体
からの戻り光を検出するための検出器;(e)検出光線
路;(f)物体を操作するための第二光源;(g)操作
光線路を用いる顕微鏡用物体の検査及び操作方法におい
て、顕微鏡は、共焦点走査型顕微鏡であり、第一光線偏
向装置が、照明光線路に配され、第二光線偏向装置が、
操作光線路に配されているとともに、照明光線路におけ
る光の偏向は、操作光線路における光の偏向と独立に行
われることを特徴とする。
【0014】
【発明の実施の形態】装置は、操作光線路と検出/照明
光線路が、互いに大きく離隔しているとともに、検出/
照明光線路が、顕微鏡対物レンズを通過し、操作光線路
が、顕微鏡対物レンズの焦平面に関し顕微鏡対物レンズ
と対向配置される光学系を通過することをが好ましい。
装置は、操作光線路と検出/照明光線路が、ビームスプ
リッタを介して結合(光路の共通化)が可能であること
が好ましい。装置は、操作光線の合焦位置が、その光軸
に沿って変更可能であるとともに、合焦位置の変更は、
光源と物体との間で摺動可能に配される合焦手段により
行われることが好ましい。装置は、操作光線は、光学ピ
ンセットとして及び/又は超微細メス(ナノメータオー
ダのメス)として利用されること、及び操作光線の合焦
形態を変更するために、ズーム光学系が、操作光線路に
配されていることが好ましい。装置は、顕微鏡に、一又
は複数の光線偏向装置に結合可能な顕微鏡インターフェ
ースが配されていることが好ましい。方法は、物体の操
作が、共焦点的(コンフォカールな)物体検出と同時に
行われることが好ましい。前記方法は、物体が、操作中
において三次元的に検出されることが好ましい。前記方
法は、物体の操作が、三次元的に、(とりわけ顕微鏡対
物レンズの焦平面に平行な面内ないし面間で)行われる
ことが好ましい。前記方法は、操作光線が、蛍光着色物
質の消光及び/又ケージ化化合物−結合(Caged-Compou
nd-Verbindung)を誘導することが好ましい。前記方法
は、検出される物体が、操作部位と一緒に(好ましくは
モニタに)表示されるとともに、表示は二次元及び/又
は三次元で行われ、及び三次元の表示の遠近法的観察点
が任意に選択されることが好ましい。前記方法は、物体
は、複数の照明光焦点又は1つの線状の照明パターンで
走査されることが好ましい。これは迅速な撮像を行うこ
とに資する。
【0015】本発明において、第一に確認されているこ
とは、物体から生じかつ焦点深度範囲の外部に由来する
光(部分光)は、共焦点原理に基づき、有効に抑制ない
し阻止されうる(検出されない)ことである。更に共焦
点走査型顕微鏡の光軸に沿った分解能は、伝統的な光学
顕微鏡の対応する分解能より大きく、そのため一方で
は、操作されるべき物体の三次元での結像が可能であ
り、他方−物体の当該三次元情報に基づき−三次元での
物体操作が可能にされる。光軸に沿った高分解能での三
次元物体情報は、操作光線の正確な三次元制御のための
前提条件である。
【0016】具体的な実施形態においては、照明光線の
偏向は、光線偏向装置により行われる。操作光線も同様
に光線偏向装置により偏向される。照明光線の偏向は、
操作光線の偏向とは独立して行われる。というのは、一
般に、照明光線は物体の二次元又は三次元での検出に用
いられ、そして操作光線は物体ないし物体領域の操作に
用いられるので、照明光線を偏向するには別の偏向(操
作)が必須だからである。
【0017】有利な実施形態では、操作光線路と検出/
照明光線路とは互いに大きく離隔している。このため例
えば検出/照明光線は、顕微鏡対物レンズを通過するこ
とができかつ操作光線路は顕微鏡対物レンズの焦平面に
関し顕微鏡対物レンズと対向配置される光学系を通過で
きる。この光学系は、最も簡単な形態では、顕微鏡コン
デンサとして構成されうるであろうが、光学系として他
の顕微鏡対物レンズを使用することも同様に可能であ
る。
【0018】操作光線路と検出/照明光線路とが少なく
とも部分的に重なり合う場合は、操作光線路と検出/照
明光線路とがビームスプリッタにより結合(ほぼ同一の
光路を共有)可能にされている。この場合ビームスプリ
ッタは、クロイックビームスプリッタ(Farbstrahlteil
er)或いは偏光ビームスプリッタとして構成されうるで
あろう。
【0019】とりわけ有利な実施形態では、光軸に沿っ
た操作光線の合焦位置が変更(ないし調節)可能であ
る。これにより三次元での物体操作を行うことができる
とともに、操作光線の合焦位置を光軸に沿った種々の位
置で調節することができ、そのため物体操作は顕微鏡対
物レンズの瞬間的に調節されるその都度の所定焦点深度
範囲を越えた物体領域においても行うことができる。具
体的には、操作光線の合焦位置の変更は、光源と物体と
の間で摺動可能に配置された合焦手段により行うことが
できるであろう。
【0020】操作光線の合焦位置の変更は、好ましい実
施例においては、照明光線の合焦位置の変更を伴う。と
りわけ、両光線の合焦位置の変更が同時に行われること
が予定されている。この場合、合焦(位置)の変更は、
例えば、DE199 24 709から既知の共通の対物レンズレボ
ルバスキャン装置(Objectivrevolverscananordnung)
によって行うことができるであろう。この場合、検出/
照明光線路と操作光線路とは、対物レンズレボルバスキ
ャン装置によって作動される光学部材(例えば顕微鏡対
物レンズの形態で実施されている)によって共通に運動
する。
【0021】好ましい実施形態では、操作光線は、光学
ピンセット及び/又は超微細メス(ナノメータオーダの
メス:Nannoskalpell)として利用される。操作光線の
合焦形態を変更するために、ズーム光学系が操作光線路
内に配されている。そのため例えば操作光線の合焦半径
をズーム光学系により縮小又は拡大することができ、そ
れにより操作されるべき物体に作用する力の変更を惹き
起し、或いは超微細メスの形態を変更できる。
【0022】照明光線及び/又は操作光線の入射結合
(光路の共有:Einkoppeln)のために、少なくとも1つ
のスペクトル選択要素が配されている。このスペクトル
選択要素により、少なくとも1つの所定の波長の光を選
択しかつそれぞれの光線路へ結合すること及び/又は結
合されるべき光の光パワー(Lichtleistung)を変化す
ることができる。スペクトル選択要素は、AOTF(音
響光学的チューナブルフィルタ:Acousto-Optical-Tuna
ble-Filter)、AOBS(音響光学的ビームスプリッ
タ:Acousto-Optical-Beam-Splitter)、AOD(音響
光学的偏向器:Acousto-Optical-Deflector)、及び/
又はEOM(電子光学的モジュレータ:Electro-Optica
l-Modulator)を含みうるであろう。またスペクトル選
択要素は、制御コンピュータにより、好ましくは照明光
線位置及び/又は操作光線位置に依存して制御されうる
であろう。このため複数の波長の光を照明光線路及び/
又は操作光線路へ選択的に入射結合することができ、結
合される光パワーも対応する光線位置に応じて制御する
ことができる。とりわけこれにより操作光線の迅速なオ
ンオフ切替を実現することができるが、これは、1つの
操作光線で複数の操作部位を同時に操作する場合、一般
に必要である。
【0023】とりわけ有利な方法では、物体の操作は三
次元的に行われる。この場合とりわけ、顕微鏡対物レン
ズの焦平面に平行な面(複数)内においても、種々異な
る操作部位で物体を操作することが想定されている。
【0024】個々の物体ないし物体領域間の結合力を間
接的に測定することが、本発明の方法で行うことができ
る。このため、物体ないし物体領域と繋がっている少な
くとも2つの操作部位を光学ピンセットで捉え、かつそ
の捉えた状態でピンセットの操作を移動方向制御する
(auslenken)ことができる。
【0025】他の一方法では、物体ないし物体領域と繋
がっている少なくとも2つの操作部位が光学ピンセット
で捉えられる。物体を操作するとき、操作部位及び/又
は物体の変化が検出される。物体の操作は、この時、操
作光線で誘導できるであろう。操作光線は、例えば、蛍
光着色剤の消光又はケージ化化合物−結合(Caged-Comp
ound-Verbindung)の解離(ないし籠入物質の解放)を
誘導しうるであろう。
【0026】例えば、この方法により、筋肉繊維の収縮
力を間接的に測定することができる。そのために、ケー
ジ化化合物放出カルシウム(Caged-Compound-Release-C
alcium)を含む筋肉繊維を調製し、検査ないし操作のた
めに本発明の顕微鏡システムへ組込むことができる。物
体検出のために、筋肉繊維は連続的に波長が488nmの
照明光で走査される。筋肉繊維の領域でのみ、操作光線
路を介して紫外線(例えば365nm)が照射され、これ
によりケージ化化合物放出カルシウムは解放され、筋肉
繊維は収縮する。筋肉繊維の両末端部には、同様にアク
チン又はミオシンが予備的に結合された。アクチン又は
ミオシンは、前もって光学ピンセットで捉えられたもの
である。
【0027】更に、物体操作は、細胞間情報伝達の検査
のために利用されうることが想定されている。細胞間情
報伝達は、一方では電気的情報伝達により、他方では、
例えばカルシウムのような神経伝達物質により行われ
る。この検査は、例えばDE 19654 210又はDE 100 33 54
9の光線偏向装置で達成可能な迅速な物体検出を必要と
する。
【0028】操作部位とともに、検査及び操作の間に検
出された物体は、有利にはモニタに表示される。この場
合、二次元及び/又は三次元の表示が想定されている。
三次元表示は、有利には、遠近法的描写で行われ、遠近
法的描写点は、任意に選択される。この描写点の選択
は、例えばマウス又はジョイスティックのような入力装
置で行うことができるであろう。
【0029】物体を検査するために、物体からの及び場
合によっては更に操作部位からの蛍光光及び/又は反射
光が検出されることが想定されている。蛍光の励起は、
この場合、例えばドイツ特許DE 44 14 940又は米国特許
US 5,034,613に記載されているような多光子励起法でも
行うことができるであろう。
【0030】更なる変形例においては、例えば、「ミニ
ラボ(ミニ実験室:Mini-Labor)」を本発明の顕微鏡シ
ステムで実現することもできる。このミニラボは、物体
に種々の処理工程を施す種々の領域を物体撮像装置内に
有しうる。この種々の領域は、種々の周囲媒体ないし埋
込媒体を有し、そのため処理工程の各々に適合する境界
条件が存在しうるであろう。物体は、光学ピンセット
で、ある領域から他の領域へ移動させ、そこで例えば連
続的な物体検出を行う場合に、細胞の部分又は完全な細
胞核を細胞から切除し、更に、他の光学ピンセットで他
の領域へ移動させ、そこで切除された細胞核を更に処理
することもできるであろう。
【0031】物体を迅速に撮像するという観点から、物
体は、複数の照明光焦点又は1つの線状の照明パターン
で走査されかつそれに応じて検出される。複数の照明光
焦点で物体を走査するために、例えばDE 196 53 413又
はEP 0 753 779から既知の装置(この装置は、二光子−
蛍光励起と関連して作動する)を使用することができ
る。
【0032】とりわけ好ましい方法では、少なくとも1
つの、物体の二次元又は三次元部分領域が固定され、物
体は、大きい光子統計量(一定時間中に記録される光子
の数:Photonenstatistik)、低下された走査速度及び
/又はより大きい位置(ないし空間)分解能で検出する
ことができる。この部分領域は、有利には、物体の検査
されるべき部分領域であり、この領域は用途の各々に関
連している。(物体の)その他の領域はより低い光子統
計量、より大きい又は最大の走査速度及び/又はより低
い位置分解能で検出することができるであろう。
【0033】
【実施例】本発明の実施例を図面を参照して詳細に説明
する。
【0034】図1には、顕微鏡用物体(被観察試料)1
の検査及び操作のための装置が記載されている。この装
置は、(図1において)単に顕微鏡対物レンズとして描
かれた顕微鏡2、物体1の照明用の2つの光源3及び
4、照明光線路5、物体1からの戻り光を検出するため
の検出器6、検出光線路7、物体操作用の第二の光源8
及び操作光線路9を含む。
【0035】第一の光源3及び4の少なくとも1つから
の光は、ビームスプリッタ(Strahlteiler)10により
入射結合(光軸を共通に)され、ダイクロイックビーム
スプリッタ11の方向へ反射される。ダイクロイックビ
ームスプリッタ11で反射される第一の光源3及び4か
らの照明光は、光線偏向装置12により、互いに実質的
に垂直な2つの方向へ偏向される。そのために、カルダ
ン式に(kardanisch)懸架されかつ互いに垂直に配され
た2つの軸(不図示)周りに回転させられうるスキャニ
ングミラー13が設けられている。スキャニングミラー
13で反射された光は、模式的に描かれた顕微鏡2へ入
力結合(入射)され、照明光は顕微鏡対物レンズ2によ
り物体領域で合焦される。
【0036】本発明では、顕微鏡は、例えば、照明用ピ
ンホール14及びこれと光学的に共役するコンフォカー
ルな検出器用ピンホール15を有する共焦点走査型(ラ
スタ)顕微鏡である。
【0037】図1〜図3の実施例では、2つの光線偏向
装置12及び16が配されている。この場合、第1の光
線偏向装置12は、照明光線5を偏向し、第2の光線偏
向装置16は、操作光線9を偏向する。照明光線5の偏
向は、操作光線9の偏向とは独立に行われる。第1の光
線偏向装置12は、配線17を介して制御用コンピュー
タ18により制御される。第2の光線偏向装置16は、
制御線19を介して制御用コンピュータ18により制御
される。
【0038】図3(の実施例)では、操作光線路9は、
検出光線路7と照明光線路5とから遠く隔てられて配さ
れている。この場合、照明光線路5ないし検出光線路7
は、顕微鏡対物レンズ2を通過し、操作光線路9は、顕
微鏡対物レンズ2の焦平面に関し顕微鏡対物レンズ2と
対向する位置に配される第二の顕微鏡対物レンズ20を
通過する。
【0039】図1及び2には、操作光線路9と検出/照
明光線路7及び5とは、ビームスプリッタ21ないしス
キャニングミラー13を介して結合される(少なくとも
ビームスプリッタ21ないしスキャニングミラー13と
物体1との間においてほぼ同一の光路を共有させる)。
この場合、図2のビームスプリッタ21は、操作用光源
8からの光を顕微鏡対物レンズ2へ向けて反射しかつ照
明光5と検出光7に対しては透過性であるクロイックビ
ームスプリッタ(Farbstrahlteiler)として構成されて
いる。図1の光線偏向装置12のスキャニングミラー1
3は、照明/検出光線路5及び7と操作光線路9との結
合に使用される。この場合、スキャニングミラー13
は、操作用光源8からの光に対しては透過性であり、照
明/検出光5及び7に対しては、スキャニングミラー1
3で顕微鏡対物レンズ2へ向けて反射する。
【0040】本発明によれば、顕微鏡用物体1の検査及
び操作方法では、物体の操作は、コンフォーカルな(共
焦点的)物体検出と同時に行われる。物体操作の間、三
次元的物体検出が行われる。図4は、xy断面の形態で
検出された三次元物体データセットの部分図である。図
5は、yz断面の形態で検出された同一の(物体の)デ
ータセットの部分図である。この場合、物体操作は、一
方では二点鎖線で示されたxz操作面24において並び
に同様に二点鎖線で示されたxz操作面25において三
次元的に行われる。この2つの面24及び25は、顕微
鏡対物レンズ2の焦平面と平行である。
【0041】図4及び図5には、筋肉細胞26の収縮力
を求めるための実施された本発明の方法が記載されてい
る。この場合、筋肉細胞26と繋がっている2つの操作
部位29及び30は、2つの光学ピンセット27及び2
8で捉えられている。操作部位29及び30は、筋肉細
胞26とアクチン結合(Aktin-Verbindung)31を介し
てそれぞれ結合している。図示されていない他の操作光
線で物体を操作した後、筋肉細胞26内に調製されたケ
ージ化化合物放出カルシウム(Caged-Compound-Release
-Calcium)が遊離され、そのため筋肉細胞26は収縮す
るが、このことは、画像部分図22及び23内の2つの
矢印で示されている。筋肉細胞26は、物体操作前後及
び操作中、絶えず検出され、そのため筋肉細胞26の収
縮に基づき惹き起された操作部位29及び30の位置変
動も検出可能であり、収縮力(の大きさ)の定量も可能
である。
【0042】検出された物体1及び26は、操作部位2
9及び30とともに共焦点走査型顕微鏡の操作コンピュ
ータ32のモニタ31で表示される。この場合、表示
は、例えば図4及び図5のxy−及びyz−断面22及
び23の形態で二次元で行われる。図4には、合焦照明
光の走査パターンが模式的に描かれているが、より単純
な表示を行うために、y方向の走査パターンの走査間隔
は大きくされている。
【0043】図6には、3つの細胞33、34及び35
を収容するxy断面が記載されている。これらの細胞で
は、細胞から細胞へと伝えられる情報伝達が検査され
る。ここでは、細胞34及び35は、物体操作のため紫
外線でそれぞれ照射され、それにより各細胞の中に調製
されたケージ化カルシウム結合が開裂し、遊離するカル
シウムが、細胞34ないし35内で反応を惹き起す。所
定の時間窓ないし枠以内で、細胞34の刺激情報が細胞
33に入力されるとき、細胞35の反応は、細胞33に
生じる(伝わる)ことはできない。そのため2つの細胞
34及び35は、所定の時間間隔で紫外線照射される。
この時間間隔は、実験を繰り返すたびに徐々に短縮さ
れ、ついには2つの細胞34及び35はほぼ同時に紫外
線照射される。同様に細胞(複数)内に調製された蛍光
物質−カルシウム−インジケータ(Fluoreszenz-Calciu
m-Indikator)も、情報伝達の検出ができる。
【0044】最後にとりわけ注意すべきことは、上述の
実施例は単に特許請求された教示の説明のために過ぎ
ず、本発明を実施例に限定する意図はないことである。
また、請求の範囲に付した図面参照符号も、発明の理解
の容易化のために過ぎず、本発明を図示の態様に限定す
ることを意図しない。
【0045】
【発明の効果】本発明の各独立請求項1及び7によりそ
れぞれ対応する所定の課題として掲げる効果が達成され
る。即ち、光軸に沿ったその広がりが使用される顕微鏡
対物レンズの焦点深度より大きい三次元物体をも検査及
び操作をすることができ、また、三次元物体のあらゆる
位置における物体操作が可能である。各従属請求項によ
り、更に付加的な効果が、前述の通りそれぞれ達成され
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】顕微鏡用物体の検査及び操作用装置に関する本
発明の第一実施例の模式図。
【図2】顕微鏡用物体の検査及び操作用装置に関する本
発明の第二実施例の模式図。
【図3】顕微鏡用物体の検査及び操作用装置に関する本
発明の第三実施例の模式図。
【図4】筋肉細胞の収縮力を求めるための本発明の方法
の一過程の模式図。
【図5】図4に描かれた面に垂直な断面の模式図。
【図6】3つの細胞間での情報伝達を検査するための本
発明の一過程の模式図。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ユルゲン ホフマン ドイツ連邦共和国 D−65191 ヴィース バーデン ビーアシュタッター ヘーエ 63 Fターム(参考) 2H052 AA08 AA09 AB04 AB05 AC04 AC05 AC12 AC14 AC15 AC27 AC34 AF14 AF19

Claims (13)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】(a)顕微鏡(2);(b)照明光線路
    (5)を規定し、物体(1)を照明するための少なくと
    も1つの第一光源(3、4);(c)検出光線路(7)
    を規定し、物体(1)からの戻り光を検出するための検
    出器(6);(d)操作光線路(9)を規定する、物体
    (1)を操作するための第二光源(8)を有する顕微鏡
    用物体の検査及び操作用の装置において、 前記顕微鏡(2)は、共焦点走査型顕微鏡であり、 第一光線偏向装置(12)が、前記照明光線路(5)に
    配され、第二光線偏向装置(16)が、前記操作光線路
    (9)に配されているとともに、該照明光線路(5)に
    おける光の偏向は、該操作光線路(9)における光の偏
    向と独立に行われることを特徴とする装置。
  2. 【請求項2】前記操作光線路(9)と前記検出/照明光
    線路(7、5)は、互いに大きく離隔しているととも
    に、該検出/照明光線路(7、5)は、顕微鏡対物レン
    ズ(2)を通過し、該操作光線路(9)は、該顕微鏡対
    物レンズ(2)の焦平面に関し該顕微鏡対物レンズ
    (2)と対向配置される光学系(20)を通過すること
    を特徴とする請求項1に記載の装置。
  3. 【請求項3】前記操作光線路(9)と前記検出/照明光
    線路(7、5)は、ビームスプリッタ(21、13)を
    介して結合(光路の共通化)が可能であることを特徴と
    する請求項1又は2に記載の装置。
  4. 【請求項4】操作光線の合焦位置は、その光軸に沿って
    変更可能であるとともに、該合焦位置の変更は、光源
    (8)と物体(1)との間で摺動可能に配される合焦手
    段により行われることを特徴とする請求項1〜3の一に
    記載の装置。
  5. 【請求項5】前記操作光線は、光学ピンセット(27、
    28)として及び/又は超微細メス(ナノメータオーダ
    のメス)として機能すること、及び該操作光線の合焦形
    態を変更するために、ズーム光学系が、前記操作光線路
    (9)に配されていることを特徴とする請求項1〜4の
    一に記載の装置。
  6. 【請求項6】前記顕微鏡には、前記一又は複数の光線偏
    向装置(12、16)に結合可能な顕微鏡インターフェ
    ースが配されていることを特徴とする請求項1〜5の一
    に記載の装置。
  7. 【請求項7】(a)顕微鏡(2);(b)物体(1)を
    照明するための第一光源(3、4);(c)照明光線路
    (5);(d)物体(1)からの戻り光を検出するため
    の検出器(6);(e)検出光線路(7);(f)物体
    (1)を操作するための第二光源(8);(g)操作光
    線路(9)を用いる 顕微鏡用物体の検査及び操作方法において、 前記顕微鏡は、共焦点走査型顕微鏡であり、 第一光線偏向装置(12)が、前記照明光線路(5)に
    配され、第二光線偏向装置(16)が、前記操作光線路
    (9)に配されているとともに、該照明光線路(5)に
    おける光の偏向は、該操作光線路(9)における光の偏
    向と独立に行われることを特徴とする方法。
  8. 【請求項8】物体の操作は、共焦点的(コンフォカール
    な)物体検出と同時に行われることを特徴とする請求項
    7に記載の方法。
  9. 【請求項9】物体は、前記操作中において三次元的に検
    出されることを特徴とする請求項7又は8に記載の方
    法。
  10. 【請求項10】前記物体の操作は、三次元的に行われる
    ことを特徴とする請求項7〜9の一に記載の方法。
  11. 【請求項11】操作光線は、蛍光着色物質の消光及び/
    又はケージ化化合物−結合(Caged-Compound-Verbindun
    g)を誘導することを特徴とする請求項7〜10の一に
    記載の方法。
  12. 【請求項12】検出される物体(26)は、操作部位
    (29、30)と一緒に表示されるとともに、該表示は
    二次元及び/又は三次元で行われ、かつ三次元の表示の
    遠近法的観察点が任意に選択されることを特徴とする請
    求項11に記載の方法。
  13. 【請求項13】物体は、複数の照明光焦点又は1つの線
    状の照明パターンで走査されることを特徴とする請求項
    7〜12の一に記載の方法。
JP2001238639A 2000-08-08 2001-08-07 顕微鏡用物体の検査及び操作のための装置及び方法 Expired - Lifetime JP5142431B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE10039520.1 2000-08-08
DE10039520A DE10039520A1 (de) 2000-08-08 2000-08-08 Vorrichtung zur Untersuchung und Manipulation von mikroskopischen Objekten

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012087054A Division JP5087178B2 (ja) 2000-08-08 2012-04-06 顕微鏡用物体の検査及び操作のための装置及び方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002082287A true JP2002082287A (ja) 2002-03-22
JP5142431B2 JP5142431B2 (ja) 2013-02-13

Family

ID=7652278

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001238639A Expired - Lifetime JP5142431B2 (ja) 2000-08-08 2001-08-07 顕微鏡用物体の検査及び操作のための装置及び方法
JP2012087054A Expired - Lifetime JP5087178B2 (ja) 2000-08-08 2012-04-06 顕微鏡用物体の検査及び操作のための装置及び方法

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012087054A Expired - Lifetime JP5087178B2 (ja) 2000-08-08 2012-04-06 顕微鏡用物体の検査及び操作のための装置及び方法

Country Status (4)

Country Link
US (1) US6677566B2 (ja)
EP (1) EP1186930B1 (ja)
JP (2) JP5142431B2 (ja)
DE (2) DE10039520A1 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006030988A (ja) * 2004-07-16 2006-02-02 Carl Zeiss Jena Gmbh レーザ走査型顕微鏡
US7180661B2 (en) 2003-12-05 2007-02-20 Olympus Corporation Confocal scanning microscope
JP2007513374A (ja) * 2003-12-05 2007-05-24 ライカ マイクロシステムス ツェーエムエス ゲーエムベーハー 走査型顕微鏡
JP2010503884A (ja) * 2006-09-14 2010-02-04 パーキンエルマー・シンガポール・プライベート・リミテッド 走査型共焦点顕微鏡検査の改善、およびその関連技術

Families Citing this family (49)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1526373B1 (en) * 2002-06-21 2013-11-27 Olympus Corporation Biomolecule analyzer
DE10233549B4 (de) 2002-07-23 2021-10-14 Leica Microsystems Cms Gmbh Scanmikroskop mit Manipulationslichtstrahl und Verfahren zur Scanmikroskopie
DE10247249A1 (de) 2002-10-10 2004-04-22 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Scanmikroskop mit einem Spiegel zur Einkopplung eines Manipulationslichtstrahls
DE10300091A1 (de) * 2003-01-04 2004-07-29 Lubatschowski, Holger, Dr. Mikrotom
DE10335466B4 (de) * 2003-08-02 2005-09-01 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Rastermikroskop
ATE427515T1 (de) * 2003-09-25 2009-04-15 Leica Microsystems Mikroskop mit evaneszenter probenbeleuchtung
DE10350918B3 (de) * 2003-10-31 2005-04-14 Evotec Technologies Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur Messung der Transmission eines Objekts
DE102004011770B4 (de) * 2004-03-09 2005-12-15 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Mikroskop
DE102004016253B4 (de) 2004-04-02 2006-02-23 Leica Microsystems Cms Gmbh Rastermikroskop und Verfahren zur rastermikroskopischen Untersuchung einer Probe
DE102004032952A1 (de) 2004-07-07 2006-01-26 Leica Microsystems Cms Gmbh Rastermikroskop und Verfahren zur Untersuchung von biologischen Proben mit einem Rastermikroskop
DE102004034959A1 (de) 2004-07-16 2006-02-16 Carl Zeiss Jena Gmbh Lichtrastermikroskop mit punktförmiger Lichtquellenverteilung und Verwendung
DE102004034956A1 (de) 2004-07-16 2006-02-02 Carl Zeiss Jena Gmbh Verfahren zur Erfassung mindestens eines Probenbereiches mit einem Lichtrastermikroskop mit linienförmiger Abtastung
DE102004034968A1 (de) * 2004-07-16 2006-02-09 Carl Zeiss Jena Gmbh Lichtrastermikroskop mit linienförmiger Abtastung
DE102004034987A1 (de) * 2004-07-16 2006-02-02 Carl Zeiss Jena Gmbh Lichtrastermikroskop und Verwendung
DE102004034979A1 (de) * 2004-07-16 2006-02-16 Carl Zeiss Jena Gmbh Verfahren zur Erfassung mindestens eines Probenbereiches mit einem Lichtrastermikroskop mit punktförmiger Lichtquellenverteilung
DE102004034954A1 (de) * 2004-07-16 2006-02-02 Carl Zeiss Jena Gmbh Verfahren zur Erfassung mindestens eines Probenbereiches mit einem Lichtrastermikroskop
DE102004034961A1 (de) * 2004-07-16 2006-02-02 Carl Zeiss Jena Gmbh Lichtrastermikroskop mit linienförmiger Abtastung und Verwendung
DE102004035340B4 (de) * 2004-07-21 2020-01-16 Leica Microsystems Cms Gmbh Rastermikroskop mit einer Strahlablenkeinrichtung
GB0416498D0 (en) * 2004-07-23 2004-08-25 Council Cent Lab Res Councils Optically controllable device
GB0416496D0 (en) * 2004-07-23 2004-08-25 Council Of The Central Lab Of Imaging device
DE102004044626B4 (de) * 2004-09-13 2008-11-20 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren zur Untersuchung von Transportprozessen
DE102004054262B4 (de) 2004-11-09 2016-08-18 Leica Microsystems Cms Gmbh Vorrichtung zur Untersuchung und Manipulation von mikroskopischen Objekten
JP4258814B2 (ja) * 2004-11-11 2009-04-30 オリンパス株式会社 顕微鏡の照明装置
DE102005008925A1 (de) * 2005-02-24 2006-09-07 Leica Microsystems Cms Gmbh Laser-Mikrodissektionsgerät
ATE457070T1 (de) * 2005-03-18 2010-02-15 Univ Danmarks Tekniske Optisches manipulationssystem mit mehreren optischen fallen
EP1705509B1 (en) 2005-03-23 2009-09-16 Olympus Corporation Scanning examination apparatus
DE102005046638C5 (de) 2005-09-29 2024-02-15 Leica Microsystems Cms Gmbh Scanmikroskop und Verfahren zur Probenmanipulation mit einem Manipulationslichtstrahl in einem Scanmikroskop
US7397561B2 (en) * 2005-11-07 2008-07-08 Wafermasters, Incorporated Spectroscopy system
JP5095935B2 (ja) 2005-11-15 2012-12-12 オリンパス株式会社 顕微鏡装置
JP5132052B2 (ja) * 2005-11-30 2013-01-30 オリンパス株式会社 走査型レーザ顕微鏡の条件設定装置及び走査型レーザ顕微鏡システム
JP4912737B2 (ja) 2006-05-11 2012-04-11 オリンパス株式会社 レーザ走査型顕微鏡および顕微鏡観察方法
DE102006034910B4 (de) 2006-07-28 2019-05-02 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop umfassend einen Strahlvereiniger
DE102007011305A1 (de) * 2007-03-06 2008-09-11 Leica Microsystems Cms Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur Strahljustage in einem optischen Strahlengang
TWI354808B (en) * 2007-08-23 2011-12-21 Raydium Semiconductor Corp Optical tweezers controlling device
EP2042907A1 (en) * 2007-09-26 2009-04-01 Koninklijke Philips Electronics N.V. Device and method for optical micromanipulation
US8537356B2 (en) * 2008-02-28 2013-09-17 Lehigh University Opto-fluidic nanoparticle detection apparatus
US7903706B2 (en) * 2008-04-04 2011-03-08 O'shaughnessy John Compact, thermally stable multi-laser engine
US8975572B2 (en) 2008-04-04 2015-03-10 Cvi Laser, Llc Compact, thermally stable fiber-optic array mountable to flow cell
US10114213B2 (en) 2008-04-04 2018-10-30 Cvi Laser, Llc Laser systems and optical devices for manipulating laser beams
US9413130B2 (en) 2012-12-12 2016-08-09 Cvi Laser, Llc Optical systems
DE102009006729B4 (de) 2009-01-29 2021-12-23 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Laser-Scanning-Mikroskop
JP2015522850A (ja) * 2012-07-05 2015-08-06 ナショナル ユニバーシティ オブ シンガポール 光学顕微鏡およびその制御方法
DE102013106895B4 (de) * 2013-07-01 2015-09-17 Leica Microsystems Cms Gmbh Lichtmikroskopisches Verfahren zur Lokalisierung von Punktobjekten
EP2930496B8 (en) * 2014-04-10 2021-12-15 Horiba France SAS Raman micro-spectrometry system and method for analyzing microscopic objects in a fluidic sample
DE102014016850B9 (de) * 2014-11-13 2017-07-27 Carl Zeiss Meditec Ag Optisches System zur Fluoreszenzbeobachtung
DE202017102836U1 (de) 2017-05-11 2017-06-19 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Laser-Raster-Mikroskop
US11378808B2 (en) 2018-07-18 2022-07-05 Idex Health & Science Llc Laser systems and optical devices for laser beam shaping
DE102020006975A1 (de) * 2020-11-11 2022-05-12 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Laser-Scanning-Mikroskop und Verfahren zum Justieren eines Laser-Scanning-Mikroskops
CN112834410B (zh) * 2021-01-04 2022-09-13 桂林电子科技大学 基于双芯光纤光操控的片状光显微成像方法及装置

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1048102A (ja) * 1996-07-31 1998-02-20 Hitachi Ltd 光学ピンセット
JPH10206742A (ja) * 1996-11-21 1998-08-07 Olympus Optical Co Ltd レーザ走査顕微鏡
JPH11316344A (ja) * 1997-02-13 1999-11-16 Spectra Tech Inc 共焦点の顕微分光計システム

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4893886A (en) * 1987-09-17 1990-01-16 American Telephone And Telegraph Company Non-destructive optical trap for biological particles and method of doing same
US5034613A (en) 1989-11-14 1991-07-23 Cornell Research Foundation, Inc. Two-photon laser microscopy
JP3129471B2 (ja) * 1991-06-01 2001-01-29 科学技術振興事業団 マルチビーム微粒子操作方法
DE4414940C2 (de) 1994-04-28 1998-07-02 Pekka Haenninen Lumineszenz-Rastermikroskop mit zwei Photonen Anregung
US5717519A (en) 1995-07-13 1998-02-10 Yokogawa Electric Corporation Confocal microscope
JPH09325279A (ja) * 1996-06-04 1997-12-16 Nikon Corp タンデム走査型コンフォーカル顕微鏡
DE19653413C2 (de) 1996-12-22 2002-02-07 Stefan Hell Rastermikroskop, bei dem eine Probe in mehreren Probenpunkten gleichzeitig optisch angeregt wird
DE19654210C2 (de) 1996-12-24 1999-12-09 Leica Microsystems Optische Anordnung zum Scannen eines Strahls in zwei im wesentlichen senkrecht zueinander liegenden Achsen
US6139831A (en) * 1998-05-28 2000-10-31 The Rockfeller University Apparatus and method for immobilizing molecules onto a substrate
US6159749A (en) * 1998-07-21 2000-12-12 Beckman Coulter, Inc. Highly sensitive bead-based multi-analyte assay system using optical tweezers
US6067859A (en) * 1999-03-04 2000-05-30 The Board Of Regents, The University Of Texas System Optical stretcher
DE19924709B4 (de) 1999-05-28 2005-01-20 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Vorrichtung zur Feinpositionierung eines Bauteils
DE10033549A1 (de) 2000-07-11 2002-01-24 Leica Microsystems Optische Anordnung zum Ablenken eines Lichtstrahls insbesondere in zwei im wesentlichen senkrecht zueinander liegenden Richtungen

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1048102A (ja) * 1996-07-31 1998-02-20 Hitachi Ltd 光学ピンセット
JPH10206742A (ja) * 1996-11-21 1998-08-07 Olympus Optical Co Ltd レーザ走査顕微鏡
JPH11316344A (ja) * 1997-02-13 1999-11-16 Spectra Tech Inc 共焦点の顕微分光計システム

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7180661B2 (en) 2003-12-05 2007-02-20 Olympus Corporation Confocal scanning microscope
JP2007513374A (ja) * 2003-12-05 2007-05-24 ライカ マイクロシステムス ツェーエムエス ゲーエムベーハー 走査型顕微鏡
JP4820759B2 (ja) * 2003-12-05 2011-11-24 ライカ マイクロシステムス ツェーエムエス ゲーエムベーハー 走査型顕微鏡
JP2006030988A (ja) * 2004-07-16 2006-02-02 Carl Zeiss Jena Gmbh レーザ走査型顕微鏡
JP2012008603A (ja) * 2004-07-16 2012-01-12 Carl Zeiss Jena Gmbh レーザ走査型顕微鏡
JP2010503884A (ja) * 2006-09-14 2010-02-04 パーキンエルマー・シンガポール・プライベート・リミテッド 走査型共焦点顕微鏡検査の改善、およびその関連技術

Also Published As

Publication number Publication date
JP5087178B2 (ja) 2012-11-28
US6677566B2 (en) 2004-01-13
DE10039520A1 (de) 2002-02-21
JP2012141639A (ja) 2012-07-26
JP5142431B2 (ja) 2013-02-13
EP1186930A3 (de) 2002-06-05
DE50103520D1 (de) 2004-10-14
EP1186930A2 (de) 2002-03-13
US20020020800A1 (en) 2002-02-21
EP1186930B1 (de) 2004-09-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5142431B2 (ja) 顕微鏡用物体の検査及び操作のための装置及び方法
JP5636280B2 (ja) 光操作用の光学装置
US6614031B2 (en) Method for examining a specimen, and confocal scanning microscope
JP4500378B2 (ja) 共焦点顕微鏡による検査方法およびそのシステム構成
EP1584918B1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Fluoreszenz-Lebensdauer-Imaging-Nanoskopie
EP3899629B1 (de) Verfahren und vorrichtung zum punktförmigen beleuchten einer probe in einem mikroskop
US20090218527A1 (en) Confocal Microscopy with a Two-Dimensional Array of Light Emitting Diodes
US20070051869A1 (en) Scanning microscope and method for examining a sample by using scanning microscopy
US6738190B2 (en) Method for examining a specimen
WO2004036284A1 (ja) 共焦点顕微鏡、共焦点顕微鏡を用いた蛍光測定方法及び偏光測定方法
EP3206070A1 (de) Kombinationsmikroskopie
JP2007504499A (ja) 複数の微細構造光学要素を有する光源
JP2006119152A (ja) 照明された試料の波長依存特性把握のための方法および装置
JP2003270538A (ja) 顕微鏡システム
WO2006003178A1 (de) Rastermikroskop und verfahren zur untersuchung von biologischen proben mit einem rastermikroskop
EP3574333B1 (de) Vorrichtung und verfahren zum testen von photonischen integrierten schaltungen
KR101603726B1 (ko) 멀티모달 현미경
JP2004361087A (ja) 生体分子解析装置
EP1523667B1 (de) Dunkelfeld-abbildungsvorrichtung zur ortsaufgelösten dunkelfeldabbildung einer probe und untersuchungsverfahren
JP2004069428A (ja) 原子及び分子間力顕微鏡
Stimson et al. A unique optical arrangement for obtaining spectrally resolved confocal images
JP4633386B2 (ja) 走査型レーザ顕微鏡及びそれを用いたデータ取得方法
JPH10282120A (ja) 走査型近視野光学顕微鏡
DE102013222349B3 (de) Vorrichtung und verfahren zur erfassung eines materials
JPH1194645A (ja) 3次元スペクトル取得装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080527

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110517

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20110816

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20110819

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20110920

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20110926

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20111017

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20111020

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20111111

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20111206

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120406

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120516

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20120606

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20121023

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20121120

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151130

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5142431

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term