JP2006030988A - レーザ走査型顕微鏡 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】顕微鏡、特にレーザ走査型顕微鏡であって、対物レンズOの瞳Pに配置されており、少なくとも1個の反射する第1の部分と少なくとも1つの通過させる第2の部分とからなり、反射する部分は照明光を結合する役目をし、また通過させる部分は検出する方向への検出光の通路の役目をする、あるいは通過させる部分は照明光を結合する役目をし、反射する部分は検出光を分離する役目をするようなビームスプリッタSTを通る試料PRの照明と第1のスキャン装置SCとを備え、その際に検出光路に少なくとも照明および検出用のもう1つのスキャン装置を挿入するための手段を備える。
【選択図】図1
Description
ラインスキャナの場合、試料に線状の焦点(たとえばX軸に沿って)が当てられ、試料はこの線と垂直のY軸方向に移動する。そのために光源を光学系によって顕微鏡装置の中間像面に線状に合焦させる。たとえば円柱レンズを用いて中間像においてY方向に焦点を合わせることにより、試料上にX方向に沿って回折限界による線状の強度分布が生じる。さらなる光学系により光は顕微鏡装置の瞳に結像する。その際に顕微鏡装置の瞳面に線状の焦点が生じる。瞳面とスキャナは互いに、また対物レンズの後方の焦点面に対して、共役の顕微鏡瞳面であり、したがってスキャナは線状で回折限界により合焦した強度分布をそれに対して垂直に(試料のY方向に)動かすことができる。試料への結像はスキャン光学系、鏡筒レンズ、対物レンズにより行われる。中継光学系は顕微鏡装置の共役瞳面を作る。試料の相互作用の性質の故に、たとえば蛍光励起あるいはルミネセンス励起の場合に、試料から放出される光は空間的コヒーレンスが少ない。すなわち試料において励起された各点が隣の点とは本質的に独立して点光源としてあらゆる方向に放射する。光学系(たとえば顕微鏡の対物レンズ)は鏡筒レンズTLと共に顕微鏡装置の中間像面ZBに個々の点光源を結像する。その際に瞳Pは本質的にインコヒーレントな、様々な拡散方向を持つ波面により均等に照射される(波線で示した光路)。瞳には検出光から励起光を分離する素子がある。光路はDEで記述するように構成されている。
試料から来る光(破線で示す)は、細い伝送領域に至るまで検出方向に反射するビームスプリッタにより、交換可能なフィルタFならびに検出光学系POを通って検出器DE1の方向に偏向される。検出器にはスリットダイヤフラムを配置しておくこともできる。
DE…に記載のように色収差のないビームスプリッタを用いることにより、LQ1およびLQ2の両方の光源に同じ波長を使うことができ、割当てによって1個の同じ光源を形成することができる、という利点がある。中間像ZBとZB1は互いに共役な平面である。さらに顕微鏡装置の瞳面Pは互いに共役な平面である。各共役平面はそれぞれの間にある光学系(中継光学系として働く、光路は単純化して描かれている)の作用によって作られる。
LQ2の照明光は別のスキャン光学系SO2およびスキャナSC1(X/Yスキャナが好適である)を通ったあと、通常の2色性のカラースプリッタFT1を経由してラインスキャナの検出光路に挿入され、スプリッタSTの反射領域を通って試料PRの方向に向かう。
ビームスプリッタSTの反射領域をもうひとつのスキャン光路の構成に使える利点がある。
試料から来る光は一方では検出器DE1に、また他方ではカラースプリッタFT1の設計によってもうひとつのカラースプリッタFT2を通って第2の検出器DE2の方向に向かう。
たとえば試料から来る光はLQ1によって励起された蛍光により、そのようにFT1が設計されている場合は検出器DE1に到達し、一方でポイントスキャナLQ2の反射光は検出器DE2に到達する。
さらにまたLQ1およびLQ2により励起された様々な波長の蛍光は別々の検出器DE1とDE2に到達できる。
これはスキャナSC1がスキャナSC2に比べてゆっくり動く場合は容易に実現できる。
LQ2によって励起された蛍光はまたライン検出器DE1に導くことができる。
スキャナ2の位置に従って蛍光スポットはライン検出器DE1の上に逸れて移動する。つまり光はその場合スキャナ2の前でDE1の方向に分離される。
SC1はすでに述べたラインスキャナを含んでいても良く、またSC2はスポットスキャンおよび操作あるいはそのいずれかのためのポイントスキャナを含んでいても良い。
SC1とSC2はインタフェースのところでKS1に結合できる。
さらにKS1ではいくつかの互いに共役な中間像ZBが利用できる(光学系L1、L2を経由して)。
それぞれの共役な平面はその間にある光学系の作用により形成される(光路は単純化してある)。
たとえば蛍光のようにSC1によって試料で励起された光はST1において下方に反射され、その光の一部分を通すように構成されているFT3を通って、また何度も偏向するリフレクタRFを経由してST1の他の側に到達する。この光はST1によりSTを通って検出器DE1の方向に偏向される。
ラインスキャナにより励起され、ST1で側方に反射される蛍光が全幅で再びDE1の方向の光路に向けられる利点がある。
FT3を通してもうひとつのスキャナSC2を利用することができ、その際にFT3、これは交換可能であってもよい、の設計に対応して様々な波長の蛍光がDE1および/またはDE2に到達できる。使用法は上記と同様である。
図2とは違ってここではスキャナ1と2は互いに独立して動作することができる利点がある。
ZB 中間像面
ZL 円柱レンズ
P 瞳
O 対物レンズ
PR 試料
F フィルタ
ST 無色収差カラースプリッタ
LQ 光源
SC P/スキャナ
DE1 検出器
S スタンド
KS 結合部
Claims (4)
- 顕微鏡、特にレーザ走査型顕微鏡であって、
対物レンズの瞳に配置されており、少なくとも1個の反射する第1の部分と少なくとも1個の通過させる第2の部分とからなり、反射する部分は照明光を結合する役目をし、また通過させる部分は検出する方向への検出光の通路の役目をする、あるいは通過させる部分は照明光を結合する役目をし、反射する部分は検出光を分離する役目をするようなビームスプリッタを通る試料の照明と
第1のスキャン装置とを備え、その際に検出光の光路に少なくとも照明および検出用のもう1つのスキャン装置を挿入するための手段を備えている顕微鏡。 - 顕微鏡であって、対物レンズの瞳に配置されており、少なくとも1個の反射する第1の部分と少なくとも1個の通過させる第2の部分とからなり、反射する部分は照明光を結合する役目をし、また通過させる部分は検出する方向への検出光の通路の役目をする、あるいは通過させる部分は照明光を結合する役目をし、反射する部分は検出光を分離する役目をするようなビームスプリッタを通る試料の照明と
第1のスキャン装置とを備え、その際にビームスプリッタを通して少なくとももう1つのスキャン装置が結合されており、また偏向手段を通して試料光の一部の偏向をビームスプリッタの試料から離反した側に行い、それによって試料光が最初のスキャン装置の検出ユニットの方向に向うように構成されている顕微鏡。 - 顕微鏡であって、対物レンズの瞳に配置されており、少なくとも1個の反射する第1の部分と少なくとも1個の通過させる第2の部分とからなり、反射する部分は照明光を結合する役目をし、また通過させる部分は検出する方向への検出光の通路の役目をする、あるいは通過させる部分は照明光を結合する役目をし、反射する部分は検出光を分離する役目をするようなビームスプリッタを通る試料の照明と
少なくとも1個のスキャンミラーを有する第1のスキャン装置とを備え、その際にビームスプリッタを通して少なくとももう1つのスキャン装置が結合されており、偏向手段によって少なくとも試料光の一部がスキャンミラーの金属被膜を施した裏側に偏向されてそこから検出の方向に向うように構成されている顕微鏡。 - 顕微鏡であって、対物レンズの瞳に配置されており、少なくとも1個の反射する第1の部分と少なくとも1個の通過させる第2の部分とからなり、反射する部分は照明光を結合する役目をし、また通過させる部分は検出する方向への検出光の通路の役目をする、あるいは通過させる部分は照明光を結合する役目をし、反射する部分は検出光を分離する役目をするようなビームスプリッタを通る試料の照明と
第1のスキャン装置とを備え、ビームスプリッタを通して少なくとももう1つのスキャン装置が結合されており、通過路のないビームスプリッタを通った試料光がスキャナにより検出されるように構成されている顕微鏡。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102004034983.5 | 2004-07-16 | ||
DE102004034983A DE102004034983A1 (de) | 2004-07-16 | 2004-07-16 | Lichtrastermikroskop |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011212572A Division JP5167468B2 (ja) | 2004-07-16 | 2011-09-28 | レーザ走査型顕微鏡 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006030988A true JP2006030988A (ja) | 2006-02-02 |
JP4899001B2 JP4899001B2 (ja) | 2012-03-21 |
Family
ID=35134713
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005179338A Expired - Fee Related JP4899001B2 (ja) | 2004-07-16 | 2005-06-20 | レーザ走査型顕微鏡 |
JP2011212572A Expired - Fee Related JP5167468B2 (ja) | 2004-07-16 | 2011-09-28 | レーザ走査型顕微鏡 |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011212572A Expired - Fee Related JP5167468B2 (ja) | 2004-07-16 | 2011-09-28 | レーザ走査型顕微鏡 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (3) | US7301696B2 (ja) |
EP (1) | EP1617269A1 (ja) |
JP (2) | JP4899001B2 (ja) |
DE (1) | DE102004034983A1 (ja) |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102004034983A1 (de) * | 2004-07-16 | 2006-02-02 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Lichtrastermikroskop |
DE102004034968A1 (de) * | 2004-07-16 | 2006-02-09 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Lichtrastermikroskop mit linienförmiger Abtastung |
EP2126629A4 (en) * | 2007-03-13 | 2011-12-21 | Univ Houston | DEVICE AND METHOD FOR THE PRODUCTION OF A PARTICLE FILTER WITH MICROPORES DISTRIBUTED IN EQUIVALENT DISTRIBUTION |
DE102008054317A1 (de) | 2008-11-03 | 2010-05-06 | Carl Zeiss Microlmaging Gmbh | Kombinationsmikroskopie |
DE102008059328A1 (de) * | 2008-11-27 | 2010-06-02 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Auflösungsgesteigerte Mikroskopie |
DE102009043747A1 (de) | 2009-09-30 | 2011-03-31 | Carl Zeiss Microlmaging Gmbh | Verfahren zur Erzeugung eines Mikroskopbildes und Mikroskop |
DE102011077327B4 (de) | 2011-06-09 | 2022-03-03 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Lichtrastermikroskop mit Strahlkombinierer zum Kombinieren von zwei jeweils eigenständig gescannten Beleuchtungsstrahlen |
DE102011077269A1 (de) | 2011-06-09 | 2012-12-13 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Hochauflösende Lumineszenzmikroskopie |
DE102011084315A1 (de) | 2011-10-12 | 2013-04-18 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Hochauflösende Lumineszenzmikroskopie |
CN104181110B (zh) * | 2014-08-15 | 2016-08-24 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 一种基于显微镜的激光双调制反射光谱检测系统 |
WO2018089839A1 (en) | 2016-11-10 | 2018-05-17 | The Trustees Of Columbia University In The City Of New York | Rapid high-resolution imaging methods for large samples |
US10097920B2 (en) * | 2017-01-13 | 2018-10-09 | Bose Corporation | Capturing wide-band audio using microphone arrays and passive directional acoustic elements |
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Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US4991953A (en) * | 1989-02-09 | 1991-02-12 | Eye Research Institute Of Retina Foundation | Scanning laser vitreous camera |
JP2724502B2 (ja) * | 1989-06-19 | 1998-03-09 | 東京エレクトロン株式会社 | 走査型顕微鏡装置 |
GB9408688D0 (en) * | 1994-04-30 | 1994-06-22 | Medical Res Council | Scanning confocal optical microscope |
DE19801139B4 (de) * | 1998-01-14 | 2016-05-12 | Till Photonics Gmbh | Punktabtastendes Luminiszenz-Mikroskop |
JP3560123B2 (ja) * | 1998-03-17 | 2004-09-02 | 横河電機株式会社 | 共焦点装置 |
US6134002A (en) * | 1999-01-14 | 2000-10-17 | Duke University | Apparatus and method for the rapid spectral resolution of confocal images |
US6947127B2 (en) * | 2001-12-10 | 2005-09-20 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Arrangement for the optical capture of excited and/or back scattered light beam in a sample |
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DE102004034983A1 (de) * | 2004-07-16 | 2006-02-02 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Lichtrastermikroskop |
DE102004034957A1 (de) * | 2004-07-16 | 2006-02-02 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Anordnung zur mikroskopischen Beobachtung und/oder Detektion und Verwendung |
-
2004
- 2004-07-16 DE DE102004034983A patent/DE102004034983A1/de not_active Ceased
- 2004-10-19 US US10/967,321 patent/US7301696B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2005
- 2005-06-15 EP EP05012840A patent/EP1617269A1/de not_active Withdrawn
- 2005-06-20 JP JP2005179338A patent/JP4899001B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2007
- 2007-10-19 US US11/976,001 patent/US20080088920A1/en not_active Abandoned
-
2009
- 2009-01-23 US US12/320,331 patent/US7688504B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2011
- 2011-09-28 JP JP2011212572A patent/JP5167468B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10206742A (ja) * | 1996-11-21 | 1998-08-07 | Olympus Optical Co Ltd | レーザ走査顕微鏡 |
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20060012865A1 (en) | 2006-01-19 |
US20090161207A1 (en) | 2009-06-25 |
US20080088920A1 (en) | 2008-04-17 |
JP5167468B2 (ja) | 2013-03-21 |
EP1617269A1 (de) | 2006-01-18 |
JP2012008603A (ja) | 2012-01-12 |
DE102004034983A1 (de) | 2006-02-02 |
US7301696B2 (en) | 2007-11-27 |
US7688504B2 (en) | 2010-03-30 |
JP4899001B2 (ja) | 2012-03-21 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080424 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110331 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20110608 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20110613 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20110722 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20110727 |
|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20110913 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110928 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20110913 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20111025 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20111122 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20111207 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20111207 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4899001 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150113 Year of fee payment: 3 |
|
S633 | Written request for registration of reclamation of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313633 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150113 Year of fee payment: 3 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |