DE102004054262B4 - Vorrichtung zur Untersuchung und Manipulation von mikroskopischen Objekten - Google Patents

Vorrichtung zur Untersuchung und Manipulation von mikroskopischen Objekten Download PDF

Info

Publication number
DE102004054262B4
DE102004054262B4 DE102004054262.7A DE102004054262A DE102004054262B4 DE 102004054262 B4 DE102004054262 B4 DE 102004054262B4 DE 102004054262 A DE102004054262 A DE 102004054262A DE 102004054262 B4 DE102004054262 B4 DE 102004054262B4
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
manipulation
light beam
illumination
light
mirror
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE102004054262.7A
Other languages
English (en)
Other versions
DE102004054262A1 (de
Inventor
Jürgen Riedmann
Ingo Böhm
Volker Leimbach
Dr. Ulrich Heinrich
Dr. Birk Holger
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Leica Microsystems CMS GmbH
Original Assignee
Leica Microsystems CMS GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Leica Microsystems CMS GmbH filed Critical Leica Microsystems CMS GmbH
Priority to DE102004054262.7A priority Critical patent/DE102004054262B4/de
Priority to US11/265,875 priority patent/US8587865B2/en
Publication of DE102004054262A1 publication Critical patent/DE102004054262A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE102004054262B4 publication Critical patent/DE102004054262B4/de
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/32Micromanipulators structurally combined with microscopes
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/06Means for illuminating specimens

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Abstract

Vorrichtung zur Untersuchung und Manipulation von mikroskopischen Objekten, mit einem Mikroskop, mit einer zur Beleuchtung des Objekts dienenden Lichtquelle, die einen entlang eines Beleuchtungsstrahlengangs verlaufenden Beleuchtungslichtstrahl (1) erzeugt, der mittels einer Strahlablenkeinrichtung über und/oder durch das Objekt führbar ist, mit einem Detektor zur Detektion des von dem Objekt ausgehenden Lichts, das entlang eines Detektionstrahlengangs verläuft, mit einem Hauptstrahlteiler und mit einer zur Manipulation des Objekts dienenden Lichtquelle, die einen entlang eines Manipulationsstrahlengangs verlaufenden Manipulationslichtstrahl (3) erzeugt, wobei im Beleuchtungsstrahlengang zusätzlich zu der Strahlablenkeinrichtung und dem Hauptstrahlteiler eine Einrichtung zur Einkopplung des Manipulationslichtstrahls (3) vorgesehen ist, dadurch gekennzeichnet, dass die Einrichtung zur Einkopplung des Manipulationslichtstrahls (3) als Spiegel (2) mit nachgeschalteter Spreizoptik (4) ausgeführt ist, wobei der Spiegel (2) beabstandet zum Beleuchtungslichtstrahl (1) angeordnet ist und die Spreizoptik (4) derart justierbar ist, dass der Strahlwinkel zwischen Beleuchtungslichtstrahl (1) und Manipulationslichtstrahl (3) veränderbar ist.

Description

  • Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Untersuchung und Manipulation von mikroskopischen Objekten, mit einem Mikroskop, mit einer zur Beleuchtung des Objekts dienenden Lichtquelle, die einen entlang eines Beleuchtungsstrahlengangs verlaufenden Beleuchtungslichtstrahl erzeugt, der mittels einer Strahlablenkeinrichtung über und/oder durch das Objekt führbar ist, mit einem Detektor zur Detektion des von dem Objekt ausgehenden Lichts, das entlang eines Detektionstrahlengangs verläuft, mit einem Hauptstrahlteiler und mit einer zur Manipulation des Objekts dienenden Lichtquelle, die einen entlang eines Manipulationsstrahlengangs verlaufenden Manipulationslichtstrahl erzeugt.
  • In der Scanmikroskopie werden zu untersuchende Objekte mit einem Beleuchtungslichtstrahl beleuchtet und das von dem Objekt emittierte Reflexions- oder Fluoreszenzlicht beobachtet. Der Fokus des Beleuchtungslichtstrahls wird mit Hilfe einer steuerbaren Strahlablenkeinrichtung, im Allgemeinen durch Verkippen zweier Spiegel, in einer Objektebene bewegt, wobei die Ablenkachsen im Allgemeinen senkrecht aufeinanderstehen, so dass ein Spiegel in x-, der andere in y-Richtung ablenkt. Die Verkippung der Spiegel wird beispielsweise mit Hilfe von Galvanometer-Stellelementen bewerkstelligt. Die Leistung des vom Objekt ausgehenden Lichts wird in Abhängigkeit von der Abtastposition des Beleuchtungslichtstrahls gemessen.
  • Speziell in der konfokalen Scanmikroskopie wird ein Objekt mit dem Fokus eines Lichtstrahls in drei Dimensionen abgetastet.
  • Ein konfokales Scanmikroskop umfasst im Allgemeinen eine Lichtquelle, eine Fokussieroptik, mit der das Licht der Quelle auf eine Lochblende – die sog. Anregungsblende – fokussiert wird, einen Hauptstrahlteiler, eine Strahlablenkeinrichtung zur Strahlsteuerung, eine Detektionsblende und mindestens einen Detektor zum Nachweis des von dem Objekt emittierten Reflexions- und/oder Fluoreszenzlichts. Der Hauptstrahlteiler, über den der Beleuchtungslichtstrahl eingekoppelt wird, ist derart ausgeführt, dass das Beleuchtungslicht im Wesentlichen reflektiert wird, wohingegen das vom Objekt kommende Reflexions- und/oder Fluoreszenzlicht den Hauptstrahlteiler im Wesentlichen passiert.
  • Vorrichtungen der gattungsbildenden Art, die die Möglichkeit der Objektmanipulation bieten, werden insbesondere in der Zellbiologie eingesetzt, um beispielsweise das Innere ungeöffneter Zellen ungehindert zu manipulieren. Hierbei sind vor allem zwei unterschiedliche Manipulationsvorgänge üblich. Einerseits werden Objekte oder Objektbereiche mit fokussiertem Infrarotlicht beleuchtet, wodurch einzelne Partikel der Objekte bzw. Objektbereiche in der Nähe des Manipulationsfokus eingefangen und bei Veränderung der Position des Manipulationsfokus in der Fokalebene mit dem Fokus mitbewegt werden (optische Pinzette), so dass diese beispielsweise mit einer Kraft beaufschlagbar sind. Wird ein Objektbereich mit gepulstem, fokussiertem UV-Licht beaufschlagt, so kann biologisches Material aufgrund einer hohen Energiedichte des UV-Lichts mit hoher räumlicher Auflösung zerschnitten oder perforiert werden (Nano-Skalpell).
  • Eine Vielzahl weiterer Anwendungen, bei der in der Scanmikroskopie zusätzlich zu dem Beleuchtungslichtstrahl ein Manipulationslichtstrahl zur Objektmanipulation eingesetzt wird, ist bekannt.
  • In der DE 100 39 520 A1 ist eine Vorrichtung zur Untersuchung und Manipulation von mikroskopischen Objekten beschrieben, bei der der Manipulationslichtstrahl und der Beleuchtungslichtstrahl mittels eines Scanspiegels einer Strahlablenkeinrichtung zusammengeführt werden. Der Scanspiegel ist dabei für das Licht der Manipulationslichtquelle transparent ausgeführt und reflektiert das Licht der Beleuchtungslichtquelle. Die bekannte Vorrichtung ist dahingehend nachteilig, dass insgesamt zwei Strahlablenkeinrichtungen erforderlich sind, wobei die eine Strahlablenkeinrichtung den Manipulationslichtstrahl und die andere Strahlablenkeinrichtung den Beleuchtungslichtstrahl steuert. Die Notwendigkeit zweier Strahlablenkeinrichtungen macht die bekannte Vorrichtung zum einen teuer in der Herstellung und zum anderen aufwendig in der Bedienung, da die beiden Strahlablenkeinrichtungen exakt synchronisiert werden müssen, um den Strahlwinkel zwischen Manipulationslichtstrahl und Beleuchtungslichtstrahl über den gesamten Scanvorgang hinweg konstant zu halten.
  • Aus der DE 102 33 549 A1 ist ebenfalls ein Scanmikroskop mit Manipulations- und Beleuchtungslichtstrahl bekannt, wobei die Vereinigung beider Lichtstrahlen hier mit Hilfe des Hauptstrahlteilers vorgenommen wird. Der Hauptstrahlteiler dient in erster Linie zur Separation von Beleuchtungslichtstrahl und Detektionslichtstrahl. Dazu ist der Hauptstrahlteiler im Allgemeinen entweder als Bandpass- oder Kantenfilter oder als teildurchlässige Neutralteiler ausgebildet, die das Licht des Beleuchtungslichtstrahls reflektieren und das Licht des Detektionslichtstrahls passieren lassen. Da die spektralen Kanten des Strahlteilers nicht unendlich steil sind, sondern einen gewissen Anstieg aufweisen, können bei einer zusätzlichen Einkopplung des Manipulationslichtstrahls die Wellenlängen bzw. Wellenlängenbereiche des Beleuchtungslichts, des Detektionslichts sowie des Manipulationslichts unter Umständen nur aus einem eng begrenzten Bereich ausgewählt werden, um exakt auf die spektralen Eigenschaften des Hauptstrahlteilers abgestimmt zu sein.
  • Aus der DE 102 47 249 A1 ist eine Vorrichtung zur Untersuchung und Manipulation von mikroskopischen Objekten bekannt, bei der eine Einrichtung zur Einkopplung eines Manipulationslichtstrahls als ein in den Beleuchtungsstrahlengang geführt einbringbarer Klappspiegel ausgeführt ist. Der Klappspiegel ist als dielektrisch beschichteter Spiegel ausgeführt, der den Beleuchtungslichtstrahl im Wesentlichen ungehindert passieren lässt, so dass dieser gemeinsam mit dem Manipulationslichtstrahl zur Probe gelangt.
  • Aus der DE 100 43 986 A1 ist ein konfokales Scan-Mikroskop bekannt, mit einer Strahlablenkungseinrichtung, einem Hauptstrahlteiler sowie einem Beleuchtungslichtstrahl. Zusätzlich weist das Mikroskop einen Manipulationslichtstrahl auf, der gezielt zugeschaltet werden kann und der mit Hilfe eines unmittelbar im Strahlengang angeordneten Strahlteilers bzw. Strahlvereinigers mit dem Beleuchtungslichtstrahl vereinigt wird.
  • Aus der DE 100 33 269 A1 ist eine Vorrichtung bekannt zum Einkoppeln von Licht mindestens einer Wellenlänge einer Laserlichtquelle in einen optischen Aufbau, umfassend eine Strahlablenkeinrichtung und einen Hauptstrahlteiler.
  • Der vorliegenden Erfindung liegt nunmehr die Aufgabe zugrunde, eine Vorrichtung zur Untersuchung und Manipulation von mikroskopischen Objekten anzugeben, die bei einfacher Konstruktion und mit geringem Justageaufwand eine flexible und zuverlässige Objektmanipulation ermöglicht.
  • Die erfindungsgemäße Vorrichtung zur Untersuchung und Manipulation von mikroskopischen Objekten löst die voranstehende Aufgabe einerseits durch die Merkmale des Patentanspruchs 1. Danach ist die eingangs genannte Vorrichtung, bei der im Beleuchtungsstrahlengang zusätzlich zu der Strahlablenkeinrichtung und dem Hauptstrahlteiler eine Einrichtung zur Einkopplung des Manipulationslichtstrahls vorgesehen ist, dadurch gekennzeichnet, dass die Einrichtung zur Einkopplung des Manipulationslichtstrahls als Spiegel mit nachgeschalteter Spreizoptik ausgeführt ist, wobei der Spiegel beabstandet zum Beleuchtungslichtstrahl angeordnet ist und die Spreizoptik derart justierbar ist, dass der Strahlwinkel zwischen Beleuchtungslichtstrahl und Manipulationslichtstrahl veränderbar ist.
  • In erfindungsgemäßer Weise ist zunächst erkannt worden, dass im Hinblick auf die Objektmanipulation eine hohe Flexibilität dadurch erreichbar ist, dass die Einkopplung des Manipulationslichtstrahls – räumlich und funktional – von der Strahlablenkeinrichtung und dem Hauptstrahlteiler separiert wird. In weiter erfindungsgemäßer Weise wird eine derartige Separierung dadurch erreicht, dass im Beleuchtungsstrahlengang eine zusätzliche Einrichtung vorgesehen ist, die speziell zur Einkopplung des Manipulationslichtstrahls dient. Somit ist es bspw. möglich, die spektralen Eigenschaften des Manipulationslichtstrahls in einem weiten Bereich frei zu wählen, ohne dabei die spektrale Zusammensetzung des Beleuchtungs- und des Detektionslichts berücksichtigen zu müssen.
  • Erfindungsgemäß ist die Einrichtung zur Einkopplung des Manipulationslichtstrahls als Spiegel mit nachgeschalteter Spreizoptik ausgeführt. Durch eine derartige Ausgestaltung lassen sich störende Einflüsse, wie beispielsweise Teilreflexionen, Abbildungsfehler, Geisterbilder, Interferenzen, etc., die beim Einsatz eines Strahlteilers sowohl für den transmittierten als auch für den reflektierten Lichtstrahl auftreten können, weitestgehend vermeiden. Zur Vermeidung einer störenden Beeinflussung des Beleuchtungslichtstrahls durch den Spiegel kann dieser derart positioniert sein, dass er den Manipulationslichtstrahl in einer Weise umlenkt, die eine Positionierung des Spiegels in einem genügend großen Abstand zur optischen Achse erlaubt. Die dem Spiegel nachgeschaltete Spreizoptik, die im Wesentlichen eine Anordnung mehrerer Linsen umfasst, kann dann derart ausgeführt sein, dass sie den Strahlwinkel zwischen Beleuchtungslichtstrahl und Manipulationslichtstrahl in einem gewünschten Maß verkleinert.
  • Weiter erfindungsgemäß ist eine Justierbarkeit der Spreizoptik vorgesehen, so dass sich eine Einstellbarkeit des Strahlwinkels zwischen den aus der Spreizoptik austretenden Lichtstrahlen ergibt. So könnte die Spreizoptik beispielsweise entlang der optischen Achse verschiebbar ausgeführt sein. Eine Veränderung des Strahlwinkels bewirkt gleichzeitig eine Veränderung des Abstandes auf dem Objekt, mit dem der Manipulationslichtstrahl dem Beleuchtungslichtstrahl bspw. vorauseilt.
  • Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform kann zudem auch eine Justierbarkeit des Spiegels vorgesehen sein, derart, dass der Strahlwinkel zwischen Beleuchtungslichtstrahl und Manipulationslichtstrahl veränderbar ist. Beispielsweise könnte der Spiegel rotierbar ausgeführt sein.
  • Die eingangs genannte Aufgabe wird des Weiteren durch eine Vorrichtung mit den Merkmalen des Patentanspruchs 3 gelöst. Danach ist die eingangs genannte Vorrichtung dadurch gekennzeichnet, dass der Manipulationslichtstrahl mittels eines akustooptischen Elements einkoppelbar ist, wobei das akustooptische Element als Bestandteil des Hauptstrahlteilers im Beleuchtungsstrahlengang angeordnet ist.
  • In erfindungsgemäßer Weise ist zunächst erkannt worden, dass eine hohe Flexibilität im Hinblick auf die Einkopplung des Manipulationslichtstrahls auch ohne zusätzliches Bauteil erreicht werden kann, nämlich dann, wenn im Beleuchtungslichtstrahl ein akustooptisches Element zur Separation des Beleuchtungslichtstrahls und des Detektionslichtstrahls vorgesehen ist. In weiter erfindungsgemäßer Weise ist sodann erkannt worden, dass das akustooptische Element derart geschaltet werden kann, dass es – über die eigentliche Funktion der Separation des Beleuchtungslichtstrahls und des Detektionslichtstrahls hinaus – zur Einkopplung des Manipulationslichtstrahls dient. Dabei macht sich die erfindungsgemäße Vorrichtung u.a. die Tatsache zunutze, dass das akustooptische Element keine „Kantenfiltercharakteristik“ aufweist und somit eine hochauflösende Steuerung der Lichtstrahlen ermöglicht.
  • In vorteilhafter Weise handelt es sich bei dem akustooptischen Element um einen AOBS (acousto optical beam splitter).
  • In einer bevorzugten Ausführungsform ist vorgesehen, dass der AOBS derart schaltbar ist, dass der Manipulationslichtstrahl nach Passieren des AOBS – bei geeigneter Einkopplung in den AOBS – auf der optischen Achse des Mikroskops liegt. Auf diese Weise kann an dem Scanmikroskop ein zusätzlicher Port für sichtbares Licht bereitgestellt werden. Dieser Port weist eine AOBS-Charakteristik auf und kann entsprechend den Anforderungen konkreter Anwendungen konfiguriert werden.
  • Es gibt nun verschiedene Möglichkeiten, die Lehre der vorliegenden Erfindung in vorteilhafter Weise auszugestalten und weiterzubilden. Dazu ist einerseits auf die den Patentansprüchen 1 und 3 nachgeordneten Patentansprüche, andererseits auf die nachfolgende Erläuterung bevorzugter Ausführungsbeispiele der Erfindung anhand der Zeichnung zu verweisen. In Verbindung mit der Erläuterung der bevorzugten Ausführungsbeispiele der Erfindung anhand der Zeichnung werden auch im Allgemeinen bevorzugte Ausgestaltungen und Weiterbildungen der Lehre erläutert. In der Zeichnung zeigen
  • 1 eine schematische Darstellung eines ersten Ausführungsbeispiels einer erfindungsgemäßen Vorrichtung zur Untersuchung und Manipulation von mikroskopischen Objekten und
  • 2 eine schematische Darstellung eines zweiten Ausführungsbeispiels einer erfindungsgemäßen Vorrichtung mit einem akustooptischen Strahlteiler.
  • 1 zeigt schematisch einen Teil einer erfindungsgemäßen Vorrichtung zur Untersuchung und Manipulation von mikroskopischen Objekten. Ein von einem Hauptstrahlteiler (nicht gezeigt) kommender Beleuchtungslichtstrahl 1 ist mit einer durchgezogenen Linie dargestellt. In einem Abstand zum Beleuchtungslichtstrahl 1 ist ein Spiegel 2 angeordnet, wobei der Abstand so gewählt ist, dass der Beleuchtungslichtstrahl 1 nicht beeinflusst wird. Ein Manipulationslichtstrahl 3, der zur Manipulation des zu untersuchenden Objekts dient, wird von dem Spiegel 2 reflektiert und auf eine Spreizoptik 4 gelenkt. Die Spreizoptik 4 umfasst eine Anzahl von Linsen, die derart angeordnet sind, dass sie den Beleuchtungslichtstrahl 1 und den Manipulationslichtstrahl 3 aufweiten und gleichzeitig den Strahlwinkel zwischen dem Beleuchtungslichtstrahl 1 und dem Manipulationslichtstrahl 3 verkleinern. Der Beleuchtungslichtstrahl 1 und der Manipulationslichtstrahl 3 treten somit unter einem kleinen Strahlwinkel aus der Spreizoptik 4 aus, wobei der Manipulationslichtstrahl 3 dem Beleuchtungslichtstrahl 1 vorauseilt. Beide Lichtstrahlen 1, 3 werden einer Strahlablenkeinrichtung (nicht gezeigt) zugeführt, mit der die Lichtstrahlen 1, 3 über bzw. durch das zu untersuchende Objekt geführt werden.
  • Es sei angemerkt, dass der Strahlwinkel und damit der Abstand der beiden Lichtstrahlen 1, 3 auf dem Objekt in Abhängigkeit von den Anforderungen der jeweiligen konkreten Anwendung veränderbar sind. Dazu kann entweder der Spiegel 2 rotiert oder die Spreizoptik 4 bzw. einzelne Linsen der Spreizoptik 4 entlang der optischen Achse 5 verschoben werden.
  • 2 zeigt in einer schematischen Darstellung wiederum den Beleuchtungslichtstrahl 1 (durchgezogene Linie) sowie den einzukoppelnden Manipulationslichtstrahl 3 (gestrichelte Linie). Im Strahlengang des Beleuchtungslichtstrahls 1 ist ein akustooptisches Element 6 angeordnet, welches als AOBS 7 ausgeführt ist. In Abhängigkeit von der an das akustooptische Element 6 angelegten Hochfrequenz 8 können bestimmte Wellenlängen oder Wellenlängenbereiche gezielt beeinflusst werden, während andere Wellenlängen oder Wellenlängenbereiche das akustooptische Element 6 ungehindert passieren. In der in 2 dargestellten Vorrichtung ist der AOBS 7 derart abgestimmt, dass der Beleuchtungslichtstrahl 1 und der Manipulationslichtstrahl 3 den AOBS 7 unter einem kleinen relativen Strahlwinkel verlassen, wobei wiederum der Manipulationslichtstrahl 3 dem Beleuchtungslichtstrahl 1 vorauseilt.
  • Bezugszeichenliste
  • 1
    Beleuchtungslichtstrahl
    2
    Spiegel
    3
    Manipulationslichtstrahl
    4
    Spreizoptik
    5
    optische Achse
    6
    akustooptisches Element
    7
    AOBS
    8
    Hochfrequenz

Claims (5)

  1. Vorrichtung zur Untersuchung und Manipulation von mikroskopischen Objekten, mit einem Mikroskop, mit einer zur Beleuchtung des Objekts dienenden Lichtquelle, die einen entlang eines Beleuchtungsstrahlengangs verlaufenden Beleuchtungslichtstrahl (1) erzeugt, der mittels einer Strahlablenkeinrichtung über und/oder durch das Objekt führbar ist, mit einem Detektor zur Detektion des von dem Objekt ausgehenden Lichts, das entlang eines Detektionstrahlengangs verläuft, mit einem Hauptstrahlteiler und mit einer zur Manipulation des Objekts dienenden Lichtquelle, die einen entlang eines Manipulationsstrahlengangs verlaufenden Manipulationslichtstrahl (3) erzeugt, wobei im Beleuchtungsstrahlengang zusätzlich zu der Strahlablenkeinrichtung und dem Hauptstrahlteiler eine Einrichtung zur Einkopplung des Manipulationslichtstrahls (3) vorgesehen ist, dadurch gekennzeichnet, dass die Einrichtung zur Einkopplung des Manipulationslichtstrahls (3) als Spiegel (2) mit nachgeschalteter Spreizoptik (4) ausgeführt ist, wobei der Spiegel (2) beabstandet zum Beleuchtungslichtstrahl (1) angeordnet ist und die Spreizoptik (4) derart justierbar ist, dass der Strahlwinkel zwischen Beleuchtungslichtstrahl (1) und Manipulationslichtstrahl (3) veränderbar ist.
  2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Spiegel (2) derart justierbar ist, dass der Strahlwinkel zwischen Beleuchtungslichtstrahl (1) und Manipulationslichtstrahl (3) veränderbar ist.
  3. Vorrichtung zur Untersuchung und Manipulation von mikroskopischen Objekten, mit einem Mikroskop, mit einer zur Beleuchtung des Objekts dienenden Lichtquelle, die einen entlang eines Beleuchtungsstrahlengangs verlaufenden Beleuchtungslichtstrahl (1) erzeugt, der mittels einer Strahlablenkeinrichtung über und/oder durch das Objekt führbar ist, mit einem Detektor zur Detektion des von dem Objekt ausgehenden Lichts, das entlang eines Detektionstrahlengangs verläuft, mit einem Hauptstrahlteiler und mit einer zur Manipulation des Objekts dienenden Lichtquelle, die einen entlang eines Manipulationsstrahlengangs verlaufenden Manipulationslichtstrahl (3) erzeugt, dadurch gekennzeichnet, dass der Manipulationslichtstrahl (3) mittels eines akustooptischen Elements (6) einkoppelbar ist, wobei das akustooptische Element (6) als Bestandteil des Hauptstrahlteilers im Beleuchtungsstrahlengang angeordnet ist.
  4. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass es sich bei dem akustoopischen Element (6) um einen AOBS (7) handelt.
  5. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass der AOBS (7) derart schaltbar ist, das der Manipulationslichtstrahl (3) nach Passieren des AOBS (7) auf der optischen Achse (5) des Mikroskops liegt.
DE102004054262.7A 2004-11-09 2004-11-09 Vorrichtung zur Untersuchung und Manipulation von mikroskopischen Objekten Expired - Fee Related DE102004054262B4 (de)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102004054262.7A DE102004054262B4 (de) 2004-11-09 2004-11-09 Vorrichtung zur Untersuchung und Manipulation von mikroskopischen Objekten
US11/265,875 US8587865B2 (en) 2004-11-09 2005-11-03 Device for examining and manipulating microscopic objects with coupled illumination and manipulation light beams

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102004054262.7A DE102004054262B4 (de) 2004-11-09 2004-11-09 Vorrichtung zur Untersuchung und Manipulation von mikroskopischen Objekten

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE102004054262A1 DE102004054262A1 (de) 2006-05-11
DE102004054262B4 true DE102004054262B4 (de) 2016-08-18

Family

ID=36217290

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE102004054262.7A Expired - Fee Related DE102004054262B4 (de) 2004-11-09 2004-11-09 Vorrichtung zur Untersuchung und Manipulation von mikroskopischen Objekten

Country Status (2)

Country Link
US (1) US8587865B2 (de)
DE (1) DE102004054262B4 (de)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102007028337B4 (de) 2007-06-15 2019-08-29 Leica Microsystems Cms Gmbh Strahlvereiniger und eine Lichtquelle mit einem derartigen Strahlvereiniger
DE102013227105A1 (de) * 2013-09-03 2015-03-05 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskop und akustooptischer Strahlvereiniger für ein Mikroskop

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10033269A1 (de) * 2000-07-10 2002-01-31 Leica Microsystems Vorrichtung zum Einkoppeln von Licht mindestens einer Wellenlänge einer Laserlichtquelle in einen optischen Aufbau
DE10043986A1 (de) * 2000-09-05 2002-03-14 Leica Microsystems Verfahren zur Untersuchung einer Probe und konfokales Scan-Mikroskop
DE10233549A1 (de) * 2002-07-23 2004-02-12 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Scanmikroskop mit Manipulationslichtstrahl
DE10247249A1 (de) * 2002-10-10 2004-04-22 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Scanmikroskop mit einem Spiegel zur Einkopplung eines Manipulationslichtstrahls

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3214268A1 (de) * 1982-04-17 1983-10-20 Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim Optisches justierelement
DE4300698A1 (de) * 1993-01-13 1994-07-14 Raimund Schuetze Vorrichtung und Verfahren zur Handhabung, Bearbeitung und Beobachtung kleiner Teilchen, insbesondere biologischer Teilchen
JP3917731B2 (ja) * 1996-11-21 2007-05-23 オリンパス株式会社 レーザ走査顕微鏡
DE19936573A1 (de) * 1998-12-22 2001-02-08 Zeiss Carl Jena Gmbh Anordnung zur Separierung von Anregungs- und Emissionslicht in einem Mikroskop
DE10038049A1 (de) * 2000-08-02 2002-02-14 Leica Microsystems Optische Anordnung zur Selektion und Detektion des Spektalbereichs eines Lichtstrahls
DE10039520A1 (de) 2000-08-08 2002-02-21 Leica Microsystems Vorrichtung zur Untersuchung und Manipulation von mikroskopischen Objekten
ITTO20020602A1 (it) * 2002-07-10 2004-01-12 Infm Istituto Naz Per La Fisi Microscopio ottico atto ad operare una modulazione tridimensionale rapida della posizione del punto di osservazione

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10033269A1 (de) * 2000-07-10 2002-01-31 Leica Microsystems Vorrichtung zum Einkoppeln von Licht mindestens einer Wellenlänge einer Laserlichtquelle in einen optischen Aufbau
DE10043986A1 (de) * 2000-09-05 2002-03-14 Leica Microsystems Verfahren zur Untersuchung einer Probe und konfokales Scan-Mikroskop
DE10233549A1 (de) * 2002-07-23 2004-02-12 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Scanmikroskop mit Manipulationslichtstrahl
DE10247249A1 (de) * 2002-10-10 2004-04-22 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Scanmikroskop mit einem Spiegel zur Einkopplung eines Manipulationslichtstrahls

Also Published As

Publication number Publication date
US8587865B2 (en) 2013-11-19
DE102004054262A1 (de) 2006-05-11
US20060098275A1 (en) 2006-05-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1058101B1 (de) Auswahl von Spektralbereichen durch eine Spiegelblende
DE19758745C5 (de) Laser-Scanning-Mikroskop
EP1178345B1 (de) Spektroskopische Anordnung in einem konfokalen Mikroskop
EP1164406B1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Beleuchtung eines Objekts
EP2823347B1 (de) Lichtrastermikroskop mit spektraler detektion
DE102012019472B4 (de) Optische Filtervorrichtung, insbesondere für Mikroskope, und Mikroskop
EP2423727B1 (de) Vorrichtung zum zeitlichen Verschieben von Weißlichtlaserpulsen
DE20012378U1 (de) Anordnung zur spektral empfindlichen Auf- und Durchlichtbeleuchtung
EP2181352B1 (de) Mikroskop mit innenfokussierung
DE10038622A1 (de) Scan-Mikroskop,optische Anordnung und Verfahren zur Bildaufnahme in der Scan-Mikroskopie
WO2013007591A1 (de) Konfokales auflicht-rastermikroskop
DE102007002583A1 (de) Optische Anordnung und Verfahren zum Steuern und Beeinflussen eines Lichtstrahls
EP1141763B1 (de) Anordnung zur separierung von anregungs- und emissionslicht in einem mikroskop
DE102005037818A1 (de) Mikroskop
DE102006019384A1 (de) Mikroskop und Mikroskopierverfahren zur Messung des Oberflächenprofils eines Objekts
EP3992687A1 (de) Mikroskop und verfahren zur lichtfeldmikroskopie mit lichtblattanregung sowie zur konfokalen mikroskopie
DE102014110606B4 (de) Mikroskop mit einer Strahlteileranordnung
EP3475750B1 (de) Beleuchtungsvorrichtung für ein mikroskop
DE10024135B4 (de) Mikroskop
LU93022B1 (de) Verfahren und Mikroskop zum Untersuchen einer Probe
DE10156695A1 (de) Scanmikroskop, Verfahren zur Scanmikroskopie und Bandpassfilter
DE102004054262B4 (de) Vorrichtung zur Untersuchung und Manipulation von mikroskopischen Objekten
DE102011077327B4 (de) Lichtrastermikroskop mit Strahlkombinierer zum Kombinieren von zwei jeweils eigenständig gescannten Beleuchtungsstrahlen
DE102004029733A1 (de) Rastermikroskop und Verfahren zur Rastermikroskopie
DE102004031049A1 (de) Optische Anordnung zum spektralselektiven Nachweis von Licht eines Lichtstrahls

Legal Events

Date Code Title Description
R012 Request for examination validly filed

Effective date: 20111005

R002 Refusal decision in examination/registration proceedings
R125 Request for further processing filed
R126 Request for further processing allowed
R018 Grant decision by examination section/examining division
R020 Patent grant now final
R119 Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee